DE1919879A1 - Vorrichtung zum Nachweisen von Oberflaechenfehlern - Google Patents
Vorrichtung zum Nachweisen von OberflaechenfehlernInfo
- Publication number
- DE1919879A1 DE1919879A1 DE19691919879 DE1919879A DE1919879A1 DE 1919879 A1 DE1919879 A1 DE 1919879A1 DE 19691919879 DE19691919879 DE 19691919879 DE 1919879 A DE1919879 A DE 1919879A DE 1919879 A1 DE1919879 A1 DE 1919879A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- devices
- scanning
- opening
- reflective
- mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 19
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 10
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 claims 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000011514 reflex Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 206010035148 Plague Diseases 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000607479 Yersinia pestis Species 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 229940028444 muse Drugs 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- GMVPRGQOIOIIMI-DWKJAMRDSA-N prostaglandin E1 Chemical compound CCCCC[C@H](O)\C=C\[C@H]1[C@H](O)CC(=O)[C@@H]1CCCCCCC(O)=O GMVPRGQOIOIIMI-DWKJAMRDSA-N 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Patentanwälte Dipl.-Ing. F. Weickmann, Ί9Ί98/9
Dipl.-Ing. H.Weickmann, Dipl.-Phys. Dr. K. Fincke
Dipl.-Ing. F. A.Weickmann, Dipl.-Chem. B. Huber
8 MÜNCHEN 27, DEN
MÖHLSTRASSE 22, RUFNUMMER 48 3921/22
RA/HI
Mandrel Industries Inc. Houston, Texas,County of Harris
USA
Vorrichtung zum Nachweisen von Oberflachenfehlern
Die vorliegende Erfindung "betrifft eine Vorrichtung zum
Nachweisen von Fehlern auf einer Oberfläche. Diese Vorrichtung ist insbesondere in Verbindung mit
Inspektions- oder Sortierungsvorrichtungen verwendbar.
Es sind verschiedene Vorrichtungstypen entwickelt worden, die zum Nachweisen von Pehlern wie Tupfen, Flecken
und Oberflächenstörungen (im folgenden allgemein ala Fehler bezeichnet) Lichtnachweistechniken verwenden,
wobei der von den Fehlern reflektierte Lichtbetrag von dem der umgebenden Oberfläche verschieden ist.
Eine Fehlernachweisvorrichtung kann in Verbindung mit Sortierungsvorrichtungen zum Sortieren von Objekten
verschiedener Gestalt verwendet werden, um jene Objekte auszusortieren, die unerwünschte Oberflächeneigenschaften
haben. Eine Fehlernachweiseihrichtung kann auch zur Inspektion von Heizfäden oder Streifen aus Materialien
wie Papier oder Garn oder Seilen verwendet werden.
909846/067$
Bekannte Nachweisvorrichtungen weisen, obwohl sie in
vielen Fällen zufriedenstellend sind, dennoch gewisse Unzulänglichkeiten auf. Beispielsweise wird bei -einem
bekannten Pehlernachweisvorrichtungstyp ein Schlitz oder eine längliche Öffnung verwendet, die so lang ist,
wie die zu untertauchende Oberfläche breit ist und die so breit ist, wie die Breite des kleinsten nachzuweisenden
Fehlers. Wenn das Objekt relativ zur Beobachtungsöffnung bewegt wird, kommt die vollständige
Oberfläche in das Blickfeld der Öffnung. Das Vorhandensein eines Fehlers in dem Bereich, der für die öffnung
sichtbar ist, verursacht eine Änderung der Beleuchtung, die zum Erzeugen eines das Vorhandensein
eines Fehlers anzeigenden Signals nachgewiesen wird. Wenn die Oberfläche groß ist und die Fehler relativ
klein, dann wird ein Schwanken des von der Oberfläche herkommenden Lichtes nachgewiesen, wobei Beleuchtungsänderungen oder eine sprunghafte Bewegung der Oberfläche
Signalschwankungen hervorrufen, die gleich oder größer den Signaländerungen sind, die vom Vorhandensein
eines Fehlers herrühren. Demzufolge werden ungewollte Signale erzeugt und ein Zurückweisen von
Objekten oder Heizfadenteilen verursacht, die nicht mit Fehlern behaftet sind.
Als anderes Beispiel für die bei bekannten Vorrichtungen
auftretenden Schwierigkeiten sei eine weitere bekannte Fehlernachweisvorrichtung erwähnt, bei der eine Matrix
kleiner Festkörperfotozellen verwendet wird, die so angeordnet sind, daß sie einen Beobachtungsbereich bilden,
der eine ähnliche Konfiguration hat wie der oben beschriebene Schlitz oder längliche Öffnung. Jede Zelle
sieht daher nur einen schmalen Streifen der zu untersuchenden Oberfläche, wenn die Oberfläche an der
BAD ORiStNAL 903846/067$
Matrix vorbeibewegt wird. Die Zellen sind so verbunden,
daß jede l^elle, die einen Fehler sieht, ein Auogamjssignal
erzeugen kann, das eine Zurückweiöungsvorriehtung
pder einen ähnlichen Mechanismus auslöst. Obwohl eine solche Vorrichtung eine cute Ansprechempfindlichkeit
ohne häufiges Auftreten eines ungewollten Ansprechens aufweist, sind Festkörperfotozellen dennoch viel su
kostspielig, vor allem da wu ein schnelles Ansprechen der Fotosellen erforderlich ist. Weiterhin sind die
teuren Silizium!"ectkörperfotozellen häufig gegen blaues
Licht relativ unempfindlich, so daß extrem starke Lichtquellen benötigt werden, wenn die Oberfläche mit
Licht einer .Spektralfarbe des blauen Endes des Lichtspektrums
untersucht wird.
Es sei als Beisuiel noch eine andere bekannte Vorrichtung
erwähnt. Bei einer solchen Vorrichtung wird ein Schlitz oder eine längliche Öffnung verwendet, wie in
der zuerst beschriebenen Vorrichtung, in Verbindung mit einer rotierenden Scheibe. Die Scheibe ist mit
einer Vielzahl Löchern versehen und wenn die Scheibe gegenüber dem Rahmen gedreht wird, wird der Schlitz
längsweise durch die Bewegung der Löcher in der Scheibe abgetastet. Zum Sammeln des die Löcher in der rotierenden
Scheibe durchdringenden Lichtes sind ein geeignetes Linsensystem und eine Fotozelle geeignet angeordnet.
Ein solches System gewährleistet eine hohe Empfindlichkeit ohne Erzeugen eines ungewollten Ansprechens. Jedoch,
ändert die Quelle des in das Linsensystem einfallenden Lichtes ihre Position über einen relativ großen
Bereich mit der Bewegung der Löcher, die das Licht durchdringt. Demzufolge muß gewöhnlich eine genügend
große Linse verwendet werden, die ein Bild mit sehr geringer Vignettierung oder Qualitäteveiringerung oder
Helligkeit über die Geeamtlänge des Schlitzes erzeugt.
Das vergrößert in vielen Ftillen den Umfang und die
fco·ten jbeträchtlieh.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine zum Nachweisen von Fehlern auf einer Oberfläche
besser geeignete Vorrichtung anzugeben, die eine hohe Empfindlichkeit aufweist, die relativ unempfindlich
gegen Schwankungen des reflektierten Lichtes und ruckartige Bewegungen der zu untersuchenden Oberfläche
ist, bei der das Problem der Linsenvignettierung 'minimal ist, die billig ist, die ein rasches Ansprechen
gewährleistet und die, um den Schwankungen des reflektierten Lichtes Rechnung zu tragen, automatisch normierbar ist.
P Bei einer Vorrichtung zum Nachweisen von Fehlern auf einer Oberfläche wird die vorstehende Aufgabe
erfindungsgemäß gelöst durch Einrichtungen zum Erzeugen
einer Abbildung eines Bereiches der zu untersuchenden Oberfläche, deucert Bildfläche ungefähr die gleiche
Größe wie die Fläche des kleinsten nachzuweisenden Fehlers hat, durch Abtasteinrichtun^en zum Abtasten des
Beleuchungsgrades der erzeugten Abbildung, durch reflektierende Einrichtungen, die zum Bilden eines
Lichtweges' zwischen der Oberfläche und den Abtasteinrichtungen geeignet angeordnet sind, und durch
Einrichtungen zum Bewegen der reflektierenden Ein-
k richtungen in einem vorgegebenen Abtastmuster. · zum
Wechseln des den Abtasteinrichtungen sichtbaren Abbildungsbereiches der Oberfläche.
V/eitere Merkmale und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus den nachfolgenden Erläuterungen sowie der
Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der Figuren 1 bis 6.
In Figur 1 ist eine Vorrichtung gemäß der Erfindung schematisch dargestellt.
Figur 2 zeigt schematisch die Vorrichtung nach Figur von hinten gesehen.
909846/087« *»««"««.
Figur 3 stellt ein Blockschaltbild der in der Vorrichtung
gemäß der Erfindung verwendeten Schaltung dar.
Figur 4 zeigt eine Reihe von Kurven, die die Funktionsweise
der in Figur 3 dargestellten Schaltung veranschaulichen.
Figur 5 zeigt eine schematische Darstellung einer weiteren
Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Figur 6 stellt ein Blockschaltbild der in der Vorrichtung nach Figur 5 verwendeten elektrischen Schaltung
dar.
Die Fehlernachweisvorrichtung gemäß der Erfindung umfaßt im wesentlichen eine Einrichtung 11, die zum Erzeugen
eines Bildes eines Bereiches der zu untersuchenden Oberfläche 12 dient, dessen Bildfläche ungefähr
die gleiche Größe wie die Fläche des kleinsten nachzuweisenden Fehlers hat. Außerdem ist eine Abtasteinrichtung
vorgesehen, die zum Abtasten des Beleuchtungsgrades des erzeugten Bildes dient, Zudem sind reflektierende Einrichtungen
14 im Strahlengang derart angeordnet, daß der Strahlengang zwischen der Oberfläche und der
Abtasteinrichtung in geeigneter Weise umgelenkt wird. Weiterhin ist eine Einrichtung 16 vorgesehen, die zum Bewegen
der reflektierenden Einrichtungen dient in einem vorgegebenen Abtastmuster, um den Abbildungsbereich der
Oberfläche, den die Abtasteinrichtung sieht, zu wechseln.
Es folgt eine genauere Betrachtung der Figuren 1 und Die Bilderzeugungseinrichtung 11 umfaßt eine lichtundurchlässige
Platte 17 aus einem hierzu geeigneten Material, die einen Spalt 18 bildet. Eine Linse 19
ist gegenüber der Blende 18 so angeordnet, daß sie ein Bild der Oberfläche 12 in oder nahe der Ebene der mit der
909846/0676
Öffnung versehenen Platte 17 fokussiert. Wenn es gewünscht wird, kann statt der dargestellten Einzellinse H eine
Linsenkombination verwendet werden. Die Bilderzeugungseinrichtung
umfaßt außerdem einen Spiegel 21, der mit seiner reflektierenden Oberfläche in einem Winkel
von etwa 45 zur Linsen-Öffnungs-Achse angeordnet ist. Der Spiegel 21, die Linse 19 und die Öffnungsplatte
sind relativ zur Bewegung der Oberfläche 12 fixiert, wie noch beschrieben wird, und die Lichtstrahlen, die
durch die Öffnung 18 hindurchtreten, durchdringen immer denselben Linsenteil der Linse 19 und immer in der
gleichen Richtung. Das reduziert die an die zu verwendende Linse gestellten Anforderungen hinsichtlich
ihrer Große und Qualität stark und die Vignettierung des Bildes das die Öffnung passiert ist durch die
Linse minimal.
Um den Beleuchtungsgrad der durch die Apertur 18 definierten Abbildung abzutasten, ist die Abtasteinrichtung
1? hinter der Platte 17 gegenüber der Öffnung und der Linse 19 ausgerichtet angeordnet. Die Abtasteinrichtung
13 ist in 3?orm eines darin enthaltenen Fotomultipliers
jeder geeigneten Konstruktion dargestellt. Die Öffnung 18 hat eine Abmessung, deren Fläche ungefähr
der Fläche des kleinsten nachzuweisenden Fehlers entspricht. Demzufolge wird sich das Ausgangssignal
des Fotomultipliers entsprechend ändern, wenn während des weiter unten beschriebenen Abtastvorganges ein
Fehler in den Abbildungsbereich rückt, den die Abtasteinrichtung oder der Fotomultiplier 13 sieht. Dieses
Ausgangssignal wird, wie weiter unten beschrieben, mit
einem Vergleichspegel verglichen und wenn eine ausreichende Abweichung von diesem Vergleichspegel vorhanden ist, dann
wird ein Signal erzeugt, das eine geeignete, nicht dargestellte, Zurückweisungsvorrichtung in Tätigkeit setzt.
Um den Lichtweg von de.r Oberfläche 12 auf die Abtasteinrichtung
11 zu lenken, ist die reflektierende
9098A6/067S
Einrichtung 14 zwischen der Oberfläche und der Abtasteinrichtung angeordnet. Die reflektierende Einrichtung
v/ird in einem vorgegebenen Abtastmuster bewegt, qo daß
der abgebildete Bereich der Überfläche, den die Abtasteinrichtung 13 öureh die Öffnung 18 sieht, gewechselt
wird. In der dargestellten Vorrichtung enthält die reflektierende Einrichtung 14 einen opiegel, der eine Vielzahl ebener
"eile 22 besitzt, die um die Peripherie eines Tri'.gerteileü 2'j derart angeordnet sind, daß sie
eine achteckige reflektierende Außenfläche bilden. Der Trägerteil 23 wird mittels einer Riemenscheibe 24
gedreht, die über einen Treibriemen 26 mit der Antriebsscheibe 27 eines Motors 28 gekoppelt ist. Die Rotationsrichtung ist in Figur 1 durch den Pfeil am
Rotationsteil angedeutet.
Bei Betrachtung der Figur 1 ist ersichtlich, daß, wenn der Trägerteil 23 rotiert, aufeinanderfolgend eine* der
Spiegelteile 22 in eine Stellung gebracht wird, in der ein Bild der Oberfläche 12 auf den Spiegel 21 reflektiert
wird und von diesem durch die Linse 19 und die Öffnung auf den Fotomultiplier 13 abgebildet wird. Wenn sich
die Winkelstellung der einzelnen Spiegelteile ändert, wird der Bildausschnitt, den der Fotomultiplier 13
durch die Öffnung 18 sieht, in Figur 1 von links nach rechts bewegt. Der besondere Lichtweg eines Bildes
von einem Bereich 24 auf der Oberfläche 12 ist mit den Linien 31, 32 und 33 aufgezeigt. Die Folge der Bewegung
des Spiegelteiles ist eine Verschiebung der Linie 31 in Richtung des sie kreuzenden Pfeiles. Die Folge
ist ein Abtasten von links nach rechts in Figur 1, wenn jedes nachfolgende Spiegelteil in die geeignete Stellung
hinein und durch diese hindurch bewegt wird. Gleichzeitig wird das Objekt 34, das die zu untersuchende
Oberfläche 12 aufv/eist, in einer Richtung· in die Zeichenebene von Figur 1 hinein bewegt mittels eines geebneten
Antriebes eines Fördergerätes 36, auf dem das Objekt liegt. Diese Bewegung ist so gewählt, daß die Oberfläche 12 -
BAD OBIGtNAL 909846/067S
aus Gründen, die nachfolgend erläutert werden - nicht mehr als um die Hälfte der Breite der öffnung 18
bei jeder links-rechts „Bewegung der optischen Bahn 31 verschoben wird, Vom Antriebsmotor 28 zum Förder-'gerät
36 verläuft eine Antriebsvorrichtung, die schematisch angedeutet und mit dem Bezugszeichen 35 versehen ist,
welche dazu dient, die Bewegungen beider in einer gewünschten Beziehung zu halten. Die Fördergerät bewegung
kann linear sein, wie dargestellt, sie kann aber auch jedes anderen zum Abtasten der zu untersuchenden
Oberfläche geeigneten Typs sein. Beispielsweise können zylindrische Objekte durch Verwendung
eines Fördergerätes urtersucht werden, das das Objekt um eine Rotationsachse des Trägerteils 23 rotiert.
Zum in Betrieb setzen der Nachweisvorrichtung, wenn ein zu untersuchendes Objekt vorhanden ist und zum Abschalten
des Betriebes, wenn die Untersuchung vollendet ist, können geeignete, nicht dargestellte Einrichtungen,
wie z.B. mechanische Kontaktschalter oder eine Fotozelle verwendet werden.
Um ein ungewolltes Ansprechen der Nachweisvorrichtung zu
vermeiden, ist es wichtig, daß die zu untersuchende Oberfläche während des Abtastens ausreichend und gleichmäßig
beleuchtet ist. Eine gleichmäßige Beleuchtung ist schwierig, wenn die zu untersuchende Oberfläche unregelmäßig
ist, wegen der Schwierigkeit einer Beleuchtung der in ihr vorhandenen Vertiefungen. Um das Problem der gleichmäßigen
Beleuchtung zu lösen, kann ein Linsen- und Spiegelsystem koiBfcruiert werden, das nach dem Reflexprinzip
arbeitet, um eine Beleuchtung zu erzeugen, die parallel zur Beobachtungslinie ist. Jedoch können in einem
Reflexsystem Verunreinigungen auf der Oberfläche des Spiegels 14 zu einem ungewollten Ansprechen führen,
wenn solche Verunreinigungen in den von der Oberfläche zur Öffnung 18 führenden Lichtpfad gelangen. Die nächstbeste
Lösung ist eine Beleuchtung vorzusehen, die einer
SQ984ß/QS7f
• idealen parallelen Beleuchtung so nahe wie möglich
kommt. Die meisten Lampenbirnen sind jedoch in der Anwendung aufgrund ihrer Glasumhüllung in dem Maße
beschränkt, wie dicht sie an den rotierenden Spiegel zur Erzielung des gewünschten Beleuchtungswinkels herangebracht
werden können.
Bei der in Figur 2 dargestellten Vorrichtung gemäß der Erfindung wird das vorstehend erörterte Beleuahtungaproblem
durch Verwendung eines G-lasprismenpaaree 37 und 38 gelöst, die an gegenüberliegenden Seiten dea
Rotationsteilas 23 angeordnet sind. Bas von einem
Lampenbirnenpaar 39 und 31 herrührende Licht wird-von
Kondensorlinaen 42 und 43 so gebündelt, daß die Lichtstrahlen
in die Prismen im wesentlichen parallel eintreten. Die Prismen reflektieren die Identstrahlen, so daß sie
auf die Oberfläche 12 an den mit den Bessugszeichen
und 46 versehenen Stellen projiziert werden. Durch eine
geeignete Konstruktion können die Prismen 37 und 38
sehr dißht an das Rotationsteil 23 herangebraoht werden,
so daß der Be^euchtungspfad immer parallel mit der
Betrachtungslinie ist. Mit zwei Lampen und zwai Prismen
werden die Schatten minimalisiert und die Vertiefungen und Hisse in der Oberfläch© 12 werden ausreichend
und gleichmäßig beleuchtet.
Es sei bessrkt, daJB, wenn eier Spiegel 14 rotisrt, aioh
dia länge des optischen Sweigas von der Linse 19 zur Oberfläche 12 ändert. Das bedingt eine Inderimg
des Brennpunktes des Bildes und damit des Yergrößerungsverhältnisses
der Abbildung. lieiM-uiöIge ist es ratsam»
eine Linse mit kleinem BurokaesBüi/ an verwenden,
UE den Defokussieruxigseffekt au verringern, der infolge
der Objektabstandsänderung auftritt. Is ist außerdem
ratsam, eine langbrennweitige Muse Qa versenden, um die
Vergrößerungsäiiderimg und die LiGhtteündelungeatärke
der Linse zu verringern, wenn sich der Objektabstand ändert.
- 1.0 -
Der rotierende Spiegel H ist an einem solchen Platz
im Strahlengang angeordnet, daß eine Abtastlänge erzeugt wird, die ein Mehrfaches der Länge des Objektes 34
beträgt, d.h. der links nach rechts Abmessung in Figur 1. Das hat den Zweck, daß eine Vignettierung, die auftritt,
wenn die Abbildung des Zwischenstückes zweier, benachbarter Teile 22 des Spiegels 14 sich der.Öffnung 18 "
nähert, nicht auftritt, wenn irgend eine der Ob,jektoberflachen sichtbar ist,, sondern nur dann auftritt,
wenn Bereiche außerhalb der Ob^ektobsrfläclia
nach beiden Seiten sichtbar sind. Auf dieses Überlappen an beiden Enden der Ablenkung wird mittels einer torgesteuerten
Einrichtung geachtet, die im folgenden beschrieben wird und die den ungewünschten Teil
der Ablenkung beseitigt.
Die torgesteuerte Einrichtung wird zum Beseitigen unerwünschter
Teile der Ablenkung mittels einer 1SqV- Lampe 47
und einer Tor- Fotozelle 48 ausgelöst* Die Tor- Lampe
ist in einem Gehäuse 49 angeordnet, das eine schmale öffnung 51 aufweist. Ähnlich ist die Tor-Fotozelle
in einem lichtundurqhlässigen Sehäuse 52 angeordnet,
das eine kleine öffnung 53 aufweist» Die zwei Öffnungen 51 und 53 sind ao angeordnet, daß die Tor=·
Fotozelle von der Tor- Lampe nur in einer bestimmten
Winkelstellung jedes Teiles 22 des Spiegels 14 Licht
empfängt. Wenn der Spiegel rotiert, wird Ton der Tor-Fotozelle
ein Impuls erzeugt, und zwar jedesmal, wenn ein Spiegelteil vorbeigeht. Dieser Impuls wird sum Starten
der Abtastperiode verwendet, indem der Abtastimpuls eher auftritt als das gewünschte Einsetzen ä&v Atotestperiode
und einen Verz8g@rungsmultivibrati>3? (weiter
unten beschrieben) betreibt, der die Startstellung der
Abtastperiode bestimmt. Auf diese Weise kann der Multivibrator rasch in die genaue Startstellung der Abtastpariods
eingestellt werden. Sin ähnlicher Multivibrator (unten beschrieben), der zu Beginn der Abtastperiode
- 11 -
angesteuert wird, kann zum Einstellen der Länge der Abtastperiode verwendet werden. Als eine Alternative
zu der vorausgehend beschriebenen Anordnung kann der Von der Fotozelle 48 erzeugte Impuls zum Starten der
Abtastperiode verwendet werden, indem der Impuls auftritt, wenn zu Beginn der Rand des Objektes durch
die Öffnung 18 in Sicht kommt.
In Figur 3 ist im wesentlichen die Anordnung des in der Erfindung verwendeten elektrischen Systems dargestellt.
Der Fotomultiplier 13, an dessen Stelle eine Pestkörperfotozelle verwendet werden kann, umfaßt eine Platte 54,
eine Primärkathode 56 und eine Vielzahl von Sekundärkathoden
oder Dynoden 57, die mit Punkten verbunden sind, die längs eines Spannungsteilers 58 verteilt
sind. Der Spannungsteiler 58 ist über einen verstellbaren
Abgriff 54 mit Erde verbunden und die an den Spannungsteiler 58 angelegte Spannung wird durch Einstellen
des Abgriffes 54 geregelt. Der Abgriff bildet einen Teil eines Potentiometers 61, das mit einem
Widerstand 62 zwischen einer Spannungsquelle 63 mit hohem
negativen Potential und Erde in Reihe geschaltet ist. Die Platte 54 ist über einen Widerstand 64 mit einer
positiven Spannungsquelle 66 \rerbunden. Die Platte
ist außerdem mit einem Fotoröhrenverstärker 67 verbunden.
Änderungen in der vom Fotomultiplier 13 nachgewiesenen Lichtmenge erzeugen entsprechende Änderungen in der
Höhe des an den Verstärker 67 angelegten Signals. Das Ausgangssignal des Verstärkers 67 wird über eine,
weiter unten ausführlicher beschriebene, Normierungsvorrichtung 68 einem Verstärker 69 zugeführt, der aus
noch zu erläuternden Gründen eine" relativ hohe Eingangsimpedanz hat. Das Ausgangssignal des Verstärkers 69
wird über ein Satter 70 in einen Spannungsdetektor 73 eingespeist. Das Gatter 70 umfaßt einen Widerstand 71
90S8A6/0&7S
und einen Verstärker 72, die zwischen dem Verstärker 69 und dem Spannungsdetektor 73 in Reihe geschaltet sind·
Der Verbindungspunkt zwischen dem Widerstand 71
v und dem Verstärker 72 ist über einen elektronischen
Schalter 76 geerdet. .
Der Spannungsdetektor 73 ist ein geeignetes spannungsempfindliches
Gerät, das seinen Zustand ändert, wenn das Eingangssignal einen vorgegebenen Wert übersteigt,
und ist durch ein geeignetes, schematisch dargestelltes Potentiometer 74 regelbar. Die Ausbildung des
Detektors ist abhängig von dem Signaltyp, der zum Antreiben der verwendeten speziellen Sortier- oder ZurückweiE3ungsvorrichtung
benötigt wird, die von der Natur des au untersuchenden Objektes oder der zu untersuchenden
Objekte abhängt. Venn das zu untersuchende Objekt kontinuierlich ist, wie z.B. ein ausgezogener Heizfaden
oder Streifen aus Papier oder Stoff, und wenn die Zurückweisungseinrichtung eine solche ist, die nur auf den
Teil des Streifens oder Heizfadens einwirkt, der einen Defekt hat } dann kann der Detektor eine Schmidt- Trigger-Schaltung
enthalten. Eine solche Schaltung stellt sich automatisch zurück, sobald der Defekt vorbeigelaufen ist.
Yfenn das zu untersuchende Objekt eines von vielen diskreten Objekten ist und wenn ein fehlerhaftes Objekt
individuell von einer geeigneten Ausrückvorrichtung ausgestoßen werden soll, dann kann der Detektor 73
eine rückstellbare bistabile Einrichtung enthalten, wie z.B. eine 3?lip- Plop- Stufe oder einen geeignet
verbundenen, gesteuerten Verstärker* Der Spannungedetektor
ändert dabei seinen Zustand, sobald ein Fehler festgestellt wird und verbleibt in diesem Zustand,
bis er rüekgestellt wird, nachdem das ganze Objikt
abgetastet worden ist, Wf Qpmmm$&&*ii9ktö2 75 fcfum
in seinen Hiöht^urüekireijsuiyiJBssiistand asiiruefcgfrirfctlit
werden» sobald ein abzutast;«nd»i änderte Objekt an einer
geeigneten Stelle erecheijiifc.
BAD ORlGtNAU
Wie bereits beschrieben, ist Vorsorge getroffen, daß die Schaltung in der Weise gesteuert wird, daß das
tatsächliche Abtasten nur während der Zeit stattfindet, während der die Oberfläche des Objektes an der
Bilderzeugungsvorrichtung vorbeigeführt wird. Das Steuern wird durch das Gatter 70 bewerkstelligt, das
den elektronischen Schalter 76 umfaßt, der an den Verbindungspunkt zwischen dem Widerstand 71 und dem
Eingang des Verstärkers 72 angeschlossen ist, um die Signale mit Erde nebenzuschließen. Der von der
Torsteuerfotozelle 48 erzeugte Impuls, der mit der Bewegung des'-Spiegels 14 synchronisiert ist, wird über
einen Verstärker 77 einen die Nachweisperiode startenden monostabilen Multivibrator 78 zugeführt. Der monostabile
Multivibrator 78 ist mit einer Verzögerung verbunden, die mittels einer 3chematisch dargestellten Potentiometereinrichtung
79 einstellbar ist. Auf einen Eingangsimpuls ansprechend liefert der monostabile Multivibrator
78 nach der eingestellten Verzögerungsdauer ein Ausgangssignal, das einen die Periodenlänge nachweisenden
monostabilen Multivibrator 81 zugeführt wird. Auf den Empfang dieses Impulses ansprechend liefert
der Multivibrator 81 ein Ausgangssignal, dessen Dauer durch ein geeignetes Potentiometer 82, das in den Figuren
schematisch dargestellt ist, einstellbar ist. Das Ausgangssignal des Multivibrators 81 wird dem elektronischen
Schalter 76-zugeführt, um den Schalter für die geeignete
Länge der Zeit für die Nachweisperiode während des Abtastens geöffnet zu halten.
Die Beziehung der verschiedenen Impulse kann aus Figur durch Vergleichen der graphischen Darstellungen
A, B, G und H entnommen werden. Es ist ersichtlich, daß das Einsetzen des Ansteigens der Eingangsspannung
909846/067*
- 14 -
an dem Spannungsdetektor mit der Vorderflanke des, ._,,·.*....,..,.-.
Impulses des monostabilen Multivibrators 78 zeitlich.
übereinstimmt. Die Lage dieser Vorderflanke ist einstellbar, wie das mit Pfeilen angedeutet ist. Ähnlich wird
die Hinterflanke des Eingangs3Oannungssignals zum
Spannungsdetektor durch die Hinterflanke des rechteckwellenförmigen
Ausgangssignals des Multivibrators gesteuert, das einstellbar ist, wie das durch die
Pfeile in Figur 4C angedeutet ist. Für einen zuverlässigen und exakten Betrieb ist es
erwünscht, daß das Eingangssignal zum Spannungsdetektor 73 mit einem präzisen Bezugswert eichbar ist,
so daß die Dunkelheit der Fehler gegen ein unveränderliches Standard gemessen werden kann. Verschiedene Einflüsse
können au einem zeitlichen Wandern des Eotomultipliers führen. Wenn im Fördergerät zum Befördern der Objekte
eine transparente Flüssigkeit verwendet wird anstalt., eines Förderbandes oder eines beweglichen Tisches wie
bei den dargestellten Vorrichtungen, dann kann die Flüssigkeit verunreinigt und damit die lichtdurchlässigkeit
verringert werden. ,Die Lampenbirnen-39 "und
können zu einer mit dem Älter zunehmenden Verringerung der Lichtausbeute neigen und damit eine Verringerung
des Beleuchtungsgrades der zu untersuchenden Oberfläche bewirken. Das Ausgangssignal des Fotomultipliers 13 ,
kann unstabil sein oder sich in der Stärke ändern· Deshalb ist eine Normierungevorrichtung 67 und 69
vorgesehen, die von Zeit zu Zeit zum automatischen
Normieren oder Eichen des Fotomultipliers 13 dient·
Wenn die abzutastenden Objekte relativ kleine Oberflächen haben, ist es möglich, während der Zeit zwischen zwei
Objekten zu normieren oder nachzueiehen. Wenn die Oberfläche jedoch groß'ist, so daß mehrere Überstreichungen
9098A6/0S7S
- 15 -
der Oberfläche vorgenommen werden müssen, kann es erwünscht sein^ häufiger zu normieren* Die Normierungseinrichtung
68 der Erfindung umfaßt einen Widerstand und einen Kondensator 84» die zwischen aen Ausgang des
Verstärkers 67 und den Eingang des Verstärkers 69 mithoher Impedanz in Reihe geschaltet sind. Ein elektronischer
Schalter 86 ist von dem Verbindungspunkt zwischen
dem Kondensator 84 und dem Verstärker 69 mit dem veränderbaren Abgriff eines Potentiometers 87 verbunden.
Das Potentiometer 87 ist an einem Ende mit einer Vor— spannungsquelle 88 verbunden und ermöglicht eine Einstellung
der Vorspannung am Punkt 89 duroh den elektronischen Schalter 86, Der elektronische Schalter 86 ist bidirektional
und kann beispielsweise eine geeignete Feldeffektvorriehtung enthalten. Wenn der Schalter 86
eingeschaltet ist, ist der Punkt 89 über den variablen
Widerstand 87 mit der Vorspannungsquelle 88 verbunden* Unter solchen Umstanden nimmt der Kondensator
eine Ladung auf, die gleich, der Potentialdifferenz zwischen uem Ausgang des 3?otozellenverstärkers 67 und der Vorspannung
am Abgriff des Potentiometers 87 ist. Der Normierungsprozeßj der unten beschrieben wird,
findet statt während einem Überstreichen um das andere
der Abbildung auf der Oberfläche, Das ist möglich, weil, wie bereits erwähnt, das Fördergerät so betrieben
wird, daß es während jedes Überstreichens nicht mehr als um die Hälfte der Breite der Öffnung 18 wandert.
Der elektronische Schalter 86 wird in einer solchen Weise ein- und ausgeschaltet, daß er während einem
Überstreichen um das andere eingeschaltet ist· Um dies zu ermöglichen» ist der Uaehweisperiodenlängen multivibrator
81 mit dem Eingang oder der Trigger* verbindung einer biet&btXen Einrichtung odea? yiip*· llop
Stuf· 91 verbunden· B»r flip-* Plop 91 ist von dem 3?yp,
dtr nach dem Empfang γοη aufeinanderfolgenden Impulsen
Zustand In ein oder aus weofceelt oder Behaltet,
- 16 -
Der Ausgang des Hachweisperiodenlängenriiultivibrators 81
überbrückt außerdem den Flip- Flop 91 und ist mit dem Eingang eines. UHD-*Gatters 92 verbunden„ Der
Ausgang des "bistabilen Flip- Flop 91 ist mit dem
'anderen Eingang des UIJD-Gatters 92 verbunden» Der Ausgang des UIID-Gatters 92 ist mit dem bidirektionalen
Schalter 86 verbunden und wenn das UIiD- Gatter einen •Impuls dahin liefert, wird der Schalter 86 während der
Uachweisperiode geschlossen. Das UlCD- Gatter liefert jedoch nur dann ein Aus gang's signal, wenn an dessen beiden
Eingängen Signale gegenwärtig sind.
Infolgedessen liefert das UND- Gatter nur während einer liachweisperiode um die andere ein Ausgangssignal zum
Schließen des bidirektionalen Schalters 86«, Diese soeben beschriebene Betriebsweise läßt sich durch Vergleichen
der Kurven G, D una E der Figur 4 verstehen.
Während des IJormierungsprozesses mit geschlossenem
bidirektionalen Schalter 86 ist die im Kondensator 84 während der liachweisperiode gespeicherte Ladung
ungefähr gleich dem Mittelwert dejf während geschlossenem
Schalter 86 empfangenen Lichtsignals. Dies wird durch eine solche Auswahl der Komponenten ausgeführt, aaß die
Zeitkonstante des Koppelkondensators 84 und des Reihenwiderstandes des Fotoröhrenverstärkers 67 und des
elektronischen Schalters 86 ungefähr gleich der zum Überstreichen der Oberfläche benötigten Zeit ist« Um die
auf dem Koppelkondensator 05 befindliche Ladung an einer
Änderung während der Zeit zu uindern, während der der Schalter 86 geöffnet ist, ist die Zeitkonstante des
Koppelkondensators und der Eingangsimpedanz des Verstärkers so ausgewählt, daß sie ausreichende Länge hat, um eine
Ladungsänderung in dem Koppelkondensator während zwei liachweisperioden zu verhindern.
Ja der Eingang des EormierungsVerstärkers 69 während
Ja der Eingang des EormierungsVerstärkers 69 während
909846/067$
- 17 -
einer ilachweisperiode um die andere mit der Vergleichsvorspannungsquelle
am Potentiometer 87 verbunden ist, ist jede Änderung der Lichtstärke ausgeschlossen,
die von Verunreinigungen der optischen Elemente oder der Bewegung des Objektes herrührt«
Die graphischen Darstellungen F, G und H der Figur 4 illustrieren den iiorinierungsbetrieb* Aus der Darstellung
F ist ersichxlich, daß das Fotomultiplierausgangssignal
mit den Spitzen 93 während jeder Machweisperiode das Vorhandensein eines Fehlers anzeigt. Ein
solcher Fehler, der sich wiederholende Anzeigen liefert, kann eine Linie sein, die transversal zur Überstreichungsrichtung
verläuft. Während der liormierungsperioden
ist das Ausgangssignal des Normierungsverstärkers 69 mit hoher Impedanz jedoch eben wie es das
Eingangssignal zum Spannungsdetektor 73 ist (Graphische Darstellung H) . Dieses Niveau, das durch Einstellen
des Vorspannungspotentiometers 87 ausgewählt ist, liegt unter dem Schaltniveau, das in der graphischen Darstellung
H durch die gestrichelte Linie angezeigt ist· Es sei an diesem Punkt außerdem bemerkt, daß der
elektronische Schalter 76 während der Normierungsperioden
die Eingangsspannung zum Spannungsdetektor 73 auf Null
absenkt. Während der Uichtnormierungsperioden kann auch beobachtet werden, daß das Fotomultiplierausgangssignal
die am Kondensator 84 liegende Spannung moduliert» Wie in der graphischen Darstellung H angezeigt ist, wird
das resultierende Signal von dem Verstärker 69 mit hoher Impedanz verstärkt und dem Spannungsdetektor 73
zugeführt. Die Spitze 93 ist während der Nichtnormierungsperiode
Vorhanden, und durch geeignete Einstellung des Vergleichsniveaus des Spannungsdetektors übersteigt
das Schaltniveau des Spannungsdetektors das Vergleiohsniveau. Das hat zur Folge, daß der Spannungsdetektor
ein Ausgangssignal zum Zurückweisen des entsprechenden Objektes oder Heizfadenteils oder Blattes liefert.
909846/Q67S
In Figur 5 ist eine weitere Vorrichtung gemäß der
Erfindung dargestellt. Die Vorrichtung nach. Figur 5 ist zum Abtasten von mehr als einer Oberfläche eines
Objektes geeignet, indem zwei Teile des Spiegels gleichzeitig verv/endet werden. In Figur 5 sind Teile
die in ihrer Funktion Teilen in Figur 1 ähnlich sind, mit dem gleichen Bezugszeichen versehen, denen eine 1
voraussteht. Folglich wird die Oberseite 112 eines auf einem Fördergerät 136 befindlichen Objektes 134 mit einem
Fotomultiplier 113 und den Bilderzeugungseinrichtungen 111 untersucht. Die Bilderzeugungseinrichtungen umfassen
eine mit einer Öffnung 118 versehene liehtundurchlässige
Platte 117, eine Linse 119 und ein Reflexionsprisma 121.
An dieser Stelle sei bemerkt, daß ein Spiegel statt des Prismas 121 verwendet werden kann und daß ein Prisma
durch den Spiegel 21 in der in Figur 1 dargestellten Vorrichtung ersetzt werden kann.
Der Drehspiegel 114 umfaßt acht Spiegelteile 122, die achteckförmig um die Peripherie des Drehteil3 123
angeordnet sind. Zur besseren Übersicht sind die Einrichtungen zum Drehen des Drehteiles 123 nicht dargestellt,
es können aber dieselben verwendet werden, die in der zuvor beschriebenen Vorrichtung verwendet worden sind. V/enn
der Spiegel rotiert, fungiert der Lichtpfad, der durch die Öffnung 118 hindurchtritt und durch die Linien 131,
132 und 133 dargestellt X3t, in einer ähnlichen V/eise, wie der in der vorhergehenden Vorrichtung, indem er über
die Oberfläche 112 von links nach rechts ausgelenkt wird«
Unter gewissen Umständen, z.B. durch unexaktes Platzieren der Objekte 134 auf dem Transportgerät 136, kann es
nicht möglich sein, das Absperren des Eingangs zum Spannungsdetektor auf das präzise Ende der ITachweisperiode
einzustellen. Eine Möglichkeit zum Vermeiden eines ungewollten Ansprechend unter solchen Umständen ist
909846/Q67S
ία _
in Figur 5 dargestellt. Ein beleuchtetes Teil, aas aus
einer Platte 201 aus diffusem Glas "besteht, ist so angeordnet,
daß, wenn sich der Spiegel in der von einem Schattenbild angezeigten stellung befindet und der
Lichtpfad datier keinen Teil der überfläche 112 ein; chließt, der Liciitpfad vom diffusen Glas 201
aufgefangen wird, ^as ist mit der gestrichelten
Erweiterung der Linie 131 angedeutet. Eine geeignete
Lampe 202 ist mit einem nicht dargestellten lietzausschluß
über eine variable Steuerung 203 verbundene Der Beleuchtungsgrad der Lampe ist so groß, daß die Oberfläche
des diffusen Glases ungefähr den gleichen Beleuchtungsgrad aufweist wie die Oberfläche 112 des
Objektes 134. Infolgedessen tritt in üer elektrischen Schaltung kein ungewolltes Ansprechen auf.
Die vertikale Oberfläche 204 des Objektes 134 wird durch einen lOtomultiplier 206 abgetastet. Der Fo tomultiplier
sieht einen kleinen Bereich der Oberfläche 204 durch eine Öffnung 207 in einer lichtundurchlässigen
Platte 208. Gegenüber der Öffnung 207 ist eine Linse angeordnet, v/v durch eine aer Bilderzeugungseinrichtung
ähnliehe Bilderzeugungseinrichtung 211 gebildet ist. Ein anderer der Einsätze oder Teile 122 des Spiegels
wird zum lieflektieren des Lichtes in ein Prisma 212
verwendet, welches wiederum das .Licht auf die Oberfläche reflektiert, wenn der Spiegel 114 gedreht wird, wird
der Lichtpfad über den abzutastenden Bereich der Oberfläche 204 geführt. In dieser Anordnung tr ;itt beim
Überstreichen icein ungewolltes Ansprechen auf, weil der Fotomultiplier 206 lediglich die Oberseite 112
des Objektes sieht, venn sieh der Spiegel in der im Schattenbild gezeigten Stellung befindet, in der das
Überstreichen des Lichtpfades erfolgt, wie das mit der gestrichelten Linie in Figur 5 angedeutet ist, wobei
die Oberfläcne im wesentlichen in demselben Grad beleuchtet wird wie die Oberfläche 204·
Die elektrische Schaltung für die Vorrichtung nach Figur ist in Figur 6 dargestellt. Jene Teile in Figur 6,
909846/067S
- 20 -
die identisch mit den teilen in Figur 3 sind, sind mit den gleichen Bezugszeichen versehen, wobei ihnen
eine 1 voraussteht. In der Einrichtung nach Figur 6 ist für das Seiteno.erfläclienabtasten ein zweiter
' Kanal vorgesehen, o^er zweite Kanal ist identisch mit
dem ersten und dessen Elemente sind daher mit den gleichen Bezugszeiclien versehen und mit einer voraus-.
stellenden 2. Für beide Kanäle wird eine, in Figur 5 nicht dargestellte, Einzeltorsteuerungsfotozelle 148
verwendet. Die !Eorsteuerungsfotozelle 148 liefert über einen Verstärker 177 an beide monostabilen Multi-
k vibratoren Signale. Die Ausgänge der Spannungsdetektoren
173 und 273 sind über ein ODER- Gatter 301 mit der, nicht dargestellten, Zurückweisungseinrichtung oder
ähnlichen Mechanismen verbunden. In dem Fall, in dem ein Dehler von einem der Abtastkanäle nachgewiesen wird,
wird ein Zurückweisungssignal erzeugte Die Beleuchtungseinrichtung für die Vorrichtungen nach
den Figuren 5 und 6, die nicht dargestellt ist, enthält geeignete Beleuchtungslampen in Verbindung mit
Kondensorlinsen und reflektierenden Prismen in der in Figur 2 dargestellten Weise,, Somit ist eine gleichmäßige
Beleuchtung der zu untersuchenden Oberflächen gewährleistet, obwohl in einer solchen Oberfläche Unregel-
" mäßigkeiten vorhanden sein können.
Es ist daher offensichtlich, daß die Vorrichtung gemäß der Erfindung eine empfindliche und exakte Einrichtung
zum Untersuchen von Oberflächen auf Fehler darstellt. Die Vorrichtung ist relativ billig, gewährleistet ein
rasches Ansprechen und ist, um lichtschwanlcungen Rechnung zu tragen, automatisch normierbar. Probleme, die im Zu~
sammenhang mit der Vignettierung von Linsen auftreten,,
sind minimalisiert und die Vorrichtung kann derart ausgebildet sein, daß sie sich zum gleichzeitigen
Abtasten mehrerer Seiten eines Objektes eignet.
- Patentansprüche — 909846/067E BADQRfGtNAL
- 21 -
Claims (1)
- Patentansprüche1. !Vorrichtung zum nachweisen von Fehlern auf einer ^-^ Oberfläche, gekennzeichnet durch Einrichtungen (11) zum Erzeugen einer Abbildung eines Bereiches der zu untersuchenden Oberfläche (12), dessen Bildfläche ungefähr die gleiche Größe wie die Fläche des kleinsten nachzuweisenden Fehlers hat, durch Abtasteinrichtungen (13) zum Abtasten des Beleuohtungsgrades der erzeugten Abbildung, durch reflektierende Einrichtungen (14)% die zum Bilden eines Lichtv/eges zwischen der Oberfläche (12) und den Abtasteinrichtungen (13) gaeignet angeordnet sind, und durch Einrichtungen (16) zum Bewegen der reflektierenden Einrichtungen (14) in einem vorgegebenen Abtastmuster zum Wechseln des den Abtasteinrichtungen (13) sichtbaren Abbildungsbereiches der Oberfläche (12).2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bilderzeugungseinrichtung (11) eine Linse (19) und eine Öffnung (18) umfaßt, die zueinander und gegenüber der Abtasteinrichtung (13) derart angeordnet sind, daß die Öffnung (18) den ,abzubildenden Bereich der Oberfläche (12) bestimmt.3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrichtung einen 3?oto— multiplier (13) umfaßt.4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die reflektierenden Einrichtungen einen Spiegel (14) umfassen, der aus einer Vielzahl ebener, um einen Trägerteil (23) herum angeordneter Teile (22) besteht, und daß die Bewegungseinrichtungen (16) Einrichtungen (249 26 s 27%S09846/Oi? Izum Drehen des Trägerteils (23) umfassen.5ο Vorrichtung nach einem der itiisprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß eine Lichtquelle (39» 41) und reflektierende Einrichtungen (37, 38) benachbart dem Trägerteil (23) angeordnet sind, um das zur Beleuchtung der Oberfläche (12) dienende Licht auf einen Einfallsv.'eg abzulenken, der nahezu parallel den optischen 7/eg ist.6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Bilderzeugungseinrichtung (11) eine v/eitere reflektierende Einrichtung (21) umfaßt, die zum Bilden eines Lichtveges zwischen der Linse (19) und den reflektierenden Einrichtungen (14) geeignet angeordnet ist.7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein beleuchtebes Teil (201) vorgesehen ist, das benachbart zur Oberfläche (12) so angeordnet ist, daß der Lichtpfad unterbrochen wird, wenn die reflektierenden Einrichtungen (14) so weit gedreht sind, daß der Lichtpfad die Oberfläche (12) verfehlt«.8„ Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7? dadurch gekennzeichnet, daß der Abtastabstand wesentlich größer ist als die Abmessungen der zu überstreichenden Oberfläche (12) und daß Einrichtungen (47, 48) vorgesehen sind, die zum Abschalten der Abtasteinrichtung (13) dienen während des Abtastens mit den reflektierenden Einrichtungen (14) außerhalb der Oberfläche (12).9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 Tbis O3, dadurch gekennzeichnet, daß das Abtastmuster der reflektierenden Einrichtungen (14) linear ist, und daß zum. BewegenBAD ORIGINAL09843/3S7S- 23der Oberfläche (12) in einer quer zur Abtastrichtung verlaufenden Richtung eine Fördereinrichtung (36) vorgesehen, ist.10c Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9» dadurch gekennzeichnet, daß die Fördereinrichtung (36) mit der Bewegung^einrichtung (16) synchronisiert ist.11, Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Fördereinrichtung (36) so ausgebildet ist, daß sie die Oberfläche (12) bei jedem Überstreichen axt den reflektierenden Einrichtungen (14-) über einen Abstand zu bewegen vermag, der ungefähr die Hälfte der Breite der Öffnung (18) beträgt, unu daß Einrichtungen (68) zum Normieren der Abtasteinrichtung (13) auf einen Beaugspegel bei einem Überstreichen uiit den reflektierenden Einrichtungen (14) um das andere vorgesehen sind.12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Hcrmierunfseinrichtungen (68) Einrichtungen zum Synchronisieren mit der Bewegung der reflektierenden Einrichtungen (H) umfassen,13· Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet,, daß die Synchronisierungseinrichtung eine Steuerschaltung und optische Naoliweiseinrichtungen umfaßt, die auf eine bestimmte Stellung der reflektierenden Einrichtungen (14) zum Auslösen der Steuerschaltung ansprechen,,.14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 13» gekennzeichnet durch einen Fotomultiplier (13), durch eine deu Fotomultiplier (13) benachbart angeordnete909846/0675 BAD ORtQtNAL- 24 -■Platte (17), die eine öffnung (18) mit vorgegebenen Abmessungen aufweist*, durch einen Spiegel (14) ι eier zum Bilden eines Lichtpfades zwischen der Oberfläche (12) und der Öffnung (18) geeignet angeordnet ist, durch Einrichtungen (19, 21) zum Erzeugen einer Abbildung in der üffnungsebene, wobei die Öffnung ungefähr die gleiche Größe hat v/ie der Bereich des kleinsten nachzuweisenden Ji'ehlers, und durch Einrichtungen zum Bewegen des Spiegels (14) in einem bestimmten Abtastmuster, um den für den Fotomultiplier (13) sichtbaren jJij-dausschnitt der Oberfläche (12) zu wechseln.15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel (14) eine Vielzahl ebene, um ein Trägerteil (23) herum angeordnete Teile (22) umfaßt, uaß die Bewegungseinrichtungen (16) Einrichtungen (24, 26, 27, 28) zum Drehen des Trägerteils (23) umfassen, und daß Fördereinrichtungen (36) vorgesehen sind, die zum Bewegen der Oberfläche (12) in einer Richtung dienen, die ungefähr parallel zur Rotationsachse des Trägerteils (23) verläuft.16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß zum Erzeugen eines Bezugsspannungspegels eine liormierungsschaltung (68) vorgesehen ist, die einen in den Signalweg des optischen Abtasters (13) in Reihe geschalteten Koppelkondensator (84), eine Vorspannungsquelle (88) mit vorgegebener Höhe, einen elektronischen Schalter (86), der zum Verbinden der Quelle (88) und des Kondensators (84) dient, um die Ladung auf dem Kondensator in Beziehung zum Vorspannungspotential zu halten und eine Synchronisierungseinrichtung umfaßt, die zum periodischen Schließen des Schalters und damit zum Koppeln der Vorspannung mit dem Kondensator dien^ g g A g , Q 6 7 s
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US72279168A | 1968-04-19 | 1968-04-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1919879A1 true DE1919879A1 (de) | 1969-11-13 |
| DE1919879B2 DE1919879B2 (de) | 1972-12-14 |
Family
ID=24903400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19691919879 Granted DE1919879B2 (de) | 1968-04-19 | 1969-04-18 | Vorrichtung zum nachweisen von oberflaechenfehlern |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3521074A (de) |
| DE (1) | DE1919879B2 (de) |
| GB (1) | GB1220901A (de) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3668409A (en) * | 1971-02-26 | 1972-06-06 | Computer Indentics Corp | Scanner/decoder multiplex system |
| NO135609C (de) * | 1975-06-03 | 1977-05-11 | Tore Planke | |
| US4454029A (en) * | 1981-05-27 | 1984-06-12 | Delta Technology Corporation | Agricultural product sorting |
| US4626677A (en) * | 1984-09-27 | 1986-12-02 | Esm International, Inc. | Continuous normalizer for an electronic circuit that compensates for external and internal drifts factors |
| JPH0620922B2 (ja) * | 1984-10-19 | 1994-03-23 | 株式会社東芝 | 被検物の搬送装置 |
| US4723659A (en) * | 1985-06-28 | 1988-02-09 | Supernova Systems, Inc. | Apparatus for detecting impurities in translucent bodies |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL279098A (de) * | 1961-05-31 |
-
1968
- 1968-04-19 US US722791A patent/US3521074A/en not_active Expired - Lifetime
-
1969
- 1969-04-18 GB GB20013/69A patent/GB1220901A/en not_active Expired
- 1969-04-18 DE DE19691919879 patent/DE1919879B2/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE1919879B2 (de) | 1972-12-14 |
| GB1220901A (en) | 1971-01-27 |
| US3521074A (en) | 1970-07-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE19960653B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung für die Detektion oder Lagebestimmung von Kanten | |
| DE3123184C2 (de) | ||
| DE2522462A1 (de) | Verfahren zur guetekontrolle von behaeltern und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens | |
| DE2459119C2 (de) | Lichtempfindliche Sortiermaschine | |
| DE2549457A1 (de) | Einrichtung zur automatischen ueberwachung von fertigprodukten auf fabrikationsfehler | |
| DD274903A5 (de) | Optische oberflaechen-inspektionsvorrichtung | |
| DE2317428A1 (de) | Vorrichtung zum ueberwachen der lage eines fortlaufenden lichtundurchlaessigen bandmaterials | |
| DE102005061785B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Rissen in Silizium-Wafern | |
| DE2640442C3 (de) | Vorrichtung zur Ermittlung von extremen Dichtewerten | |
| DE102017110080B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Oberflächendefekten einer Oberfläche | |
| DE1919879A1 (de) | Vorrichtung zum Nachweisen von Oberflaechenfehlern | |
| DE2263616A1 (de) | Vorrichtung zur automatischen bildscharfeinstellung und fuer andere fotometrische zwecke | |
| DE69819034T2 (de) | Laufende faserbandüberwachung | |
| DE2718711C2 (de) | ||
| DE1622500C3 (de) | Vorrichtung zur Messung optischer Wegunterschiede nach der Schlierenmethode | |
| DE1473713A1 (de) | Vorrichtung zur Pruefung,Untersuchung oder UEberwachung einer sich bewegenden Materialbahn | |
| DE3786888T2 (de) | Detektor zum Abtasten der Grösse eines Dokuments für ein Kopiergerät. | |
| DE2655704C3 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fremdkörpern in Glasflaschen | |
| DE19634881C1 (de) | Optische Prüfvorrichtung | |
| DE2718086C2 (de) | Vorrichtung zur Feststellung von Oberflächenfehlern von Stahlteilen | |
| DE2430011B2 (de) | Zweistrahl-photometer mit interferenzfilter | |
| DE2258702A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der lichtablenkenden eigenschaft einer transparenten zone | |
| DE1548212C2 (de) | Meßvorrichtung zur berührungslosen Bestimmung der Höhe, der Parallelität und der Symmetrie der oberen Kantenlinie eines durchlaufenden Körpers | |
| DE2344743A1 (de) | Abtastapparatur | |
| DE1098739B (de) | Verfahren und Vorrichtung zur laufenden UEberwachung von Papier, Folien oder sonstigen Bahnen oder blattfoermigen Erzeugnissen auf optisch erkennbare Abweichungen |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) |