DE19949144C1 - Digitale Treiberschaltung - Google Patents
Digitale TreiberschaltungInfo
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- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
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- H03K19/0013—Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine digitale Treiberschaltung mit einem oder mehreren als Eingangsstufen vorgesehenen CMOS-Invertern, wobei bei den MOS-FETs der Inverter das Kanalweiten-/-längen-(W/L-)Verhältnis von Stufe zu Stufe zunimmt, einer Zwischenstufe mit zwei weiteren zwischen einer Versorgungsspannung Vcc und Masse verbundenen CMOS-Invertern, deren Eingänge jeweils mit dem Ausgangssignal des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen verbunden sind, einem dritten weiteren zwischen Vcc und Masse geschalteten CMOS-Inverter, dessen Eingang mit dem Ausgang der Eingangsstufen verbunden ist und dessen Ausgang mit dem Verbindungspunkt zwischen den beiden weiteren CMOS-Invertern verbunden ist, und einer Ausgangsstufe mit einem p-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des ersten weiteren CMOS-Inverters verbunden ist, und einem n-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des zweiten weiteren CMOS-Inverters verbunden ist, wobei die Drainanschlüsse der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe miteinander und mit dem Ausgang der Schaltung verbunden sind, das W/L-Verhältnis der beiden MOS-FETs das der MOS-FETs der Zwischenstufe übersteigt und das W/L-Verhältnis der MOS-FETs des dritten weiteren CMOS-Inverters so klein gewählt ist, daß das bei Änderung des digitalen Eingangssignals am Eingang der Schaltung erfolgende Umschalten der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe zeitlich gegeneinander versetzt erfolgt, wodurch die bei bisherigen Treiberschaltungen auftretenden ...
Description
Die Erfindung bezieht sich allgemein auf eine digitale
Treiberschaltung und insbesondere auf eine digitale
Treiberschaltung, die CMOS-Inverter verwendet.
Digitale Treiberschaltungen werden in integrierten Schaltungen
dazu benötigt, relativ große Kapazitäten, wie sie z. B. im
Zusammenhang mit Daten- und Taktzuführungen auftreten,
umzuladen. Dabei passen die Treiberschaltungen unter
Optimierung der Verzögerungszeit kleine kapazitive Lasten an
große kapazitive Lasten an. Ein weiteres Kriterium bei der
Optimierung von digitalen Treiberschaltungen ist der Verbrauch
an Chipfläche. Ein Beispiel für digitale Treiberschaltungen
sind Ausgangstreiberschaltungen, zu denen die Bus-Treiber
gehören.
Um die beim Umladen auftretende Verzögerungszeit, die die
gesamte Geschwindigkeit eines digitalen Systems negativ
beeinflussen kann, zu verringern, ist eine besonders einfache
digitale Treiberschaltung vorgeschlagen worden, die aus einer
Kette aus CMOS-Invertern besteht, bei denen das Verhältnis
zwischen Kanalweite (W) und Kanallänge (L) (das im folgenden
der Einfachheit halber als W/L-Verhältnis bezeichnet wird) der
MOS-FETs der CMOS-Inverter von Kettenglied zu Kettenglied
zunimmt. Huang Chang Lin und Loren W. Linholm beschreiben eine
derartige digitale Treiberschaltung in dem Artikel "An
Optimized Output Stage for MOS Integrated Circuits", IEEE
Journal of Solid-State Circuits, Vol. SC-10, No. 2, April 1975.
Das Ausmaß der Änderung des W/L-Verhältnisses zwischen den
einzelnen Kettengliedern wird dabei je nach Anwendung so
gewählt, daß die durch die Umladung auftretende
Verzögerungszeit minimiert wird.
Die Fig. 1 zeigt eine solche im Stand der Technik bekannte
digitale Treiberschaltung mit invertierender Funktion, die aus
drei hintereinandergeschalteten CMOS-Invertern besteht, deren
jeweiliger p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit einer
Versorgungsspannung und deren jeweiliger n-Kanal-MOS-FET an
seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist. Wird ein
digitales Eingangssignal mit der Spannung Ue, die die Zustände
0 V und Vcc annehmen kann, an den Eingang 1 der Schaltung
gelegt, so wird sie am Ausgang 2 der Schaltung in ein
invertiertes digitales Ausgangssignal mit der Spannung Ua
umgewandelt. Wie in der Fig. 1 angezeigt, nehmen die W/L-
Verhältnisse der p-Kanal-MOS-FETs der einzelnen Stufen vom
Eingang 1 der Schaltung zum Ausgang 2 der Schaltung von 20/1
über 200/1 auf 800/1 und die der n-Kanal-MOS-FETs von 10/1 über
100/1 auf 400/1 zu.
Im stationären Zustand, d. h., dann, wenn sich das digitale
Eingangssignal Ue der Schaltung im H- oder L-Zustand befindet,
ist der Energieverbrauch der Schaltung sehr gering, da in jedem
CMOS-Inverter ein MOS-FET gesperrt ist und einen Stromfluß
zwischen der Versorgungsspannungsklemme und der Masseklemme
verhindert. Wenn jedoch das digitale Eingangssignal seinen
Zustand ändert, d. h. vom H- in den L-Zustand oder vom L- in den
H-Zustand wechselt, sind beide MOS-Transistoren jeder
Inverterstufe während des Durchlaufens eines kleinen von der.
Eingangsspannung Ue durchlaufenen Spannungsintervalls
durchgeschaltet, was zu einer Stromspitze führt. Die größte
Stromspitze wird dabei von dem die größte Leistung liefernden
letzten CMOS-Inverter erzeugt.
Diese Stromspitzen, die bei für kleine Leistungen entworfenen
Schaltungen unter Umständen wesentlich größer als die sonst
auftretenden Ströme sein können, sind unerwünscht und können zu
verschiedenen Problemen führen. So können Referenzschaltungen
und rauscharme Schaltungen durch die Stromspitzen gestört
werden. Ferner verursachen die Stromspitzen dann, wenn
Serienwiderstände zum Schutz gegen elektrostatische Entladungen
verwendet werden, einen starken Spannungsabfall an diesen
Widerständen.
Die Aufgabe der Erfindung liegt daher darin, eine einfach
aufgebaute und besonders kompakte digitale Treiberschaltung zu
schaffen, die die bei bisherigen derartigen Schaltungen bei der
Umschaltung des digitalen Eingangssignals auftretenden
Stromspitzen stark vermindert.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine digitale Treiberschaltung
mit
einer oder mehreren hintereinandergeschalteten Eingangsstufen, die jeweils aus einem CMOS-Inverter bestehen, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit einer Versorgungsspannung und dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei das Verhältnis zwischen Kanalweite (W) und Kanallänge (L) (W/L-Verhältnis) der MOS-FETs der CMOS-Inverter von Stufe zu Stufe in einem vorherbestimmten Maße zunimmt;
einer Zwischenstufe mit einem ersten CMOS-Inverter, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem zweiten CMOS- Inverter, dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Eingänge der beiden CMOS- Inverter der Zwischenstufe mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden sind, der Sourceanschluß des n-Kanal- MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe mit dem Sourceanschluß des p-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist und das vorherbestimmte W/L- Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe nicht kleiner als das der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen ist;
einer Verzögerungsstufe mit einem zwischen die Versorgungsspannung und Masse geschalteten CMOS-Inverter, dessen Eingang mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden ist und dessen Ausgang mit dem Sourceanschluß des n- Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist; und
einer Ausgangsstufe mit einem p-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem n-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Drainanschlüsse der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe miteinander und mit dem Ausgang der Schaltung verbunden sind und das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe und das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe bzw. das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe in einem vorherbestimmten Maße übersteigt;
wobei das W/L-Verhältnis der MOS-FETs des CMOS-Inverters der Verzögerungsstufe im Vergleich zu den W/L-Verhältnissen der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen, des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe so klein gewählt ist, daß das bei Änderung des digitalen Eingangssignals am Eingang der Schaltung erfolgende Umschalten der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe zeitlich gegeneinander versetzt erfolgt.
einer oder mehreren hintereinandergeschalteten Eingangsstufen, die jeweils aus einem CMOS-Inverter bestehen, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit einer Versorgungsspannung und dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei das Verhältnis zwischen Kanalweite (W) und Kanallänge (L) (W/L-Verhältnis) der MOS-FETs der CMOS-Inverter von Stufe zu Stufe in einem vorherbestimmten Maße zunimmt;
einer Zwischenstufe mit einem ersten CMOS-Inverter, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem zweiten CMOS- Inverter, dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Eingänge der beiden CMOS- Inverter der Zwischenstufe mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden sind, der Sourceanschluß des n-Kanal- MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe mit dem Sourceanschluß des p-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist und das vorherbestimmte W/L- Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe nicht kleiner als das der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen ist;
einer Verzögerungsstufe mit einem zwischen die Versorgungsspannung und Masse geschalteten CMOS-Inverter, dessen Eingang mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden ist und dessen Ausgang mit dem Sourceanschluß des n- Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist; und
einer Ausgangsstufe mit einem p-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem n-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Drainanschlüsse der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe miteinander und mit dem Ausgang der Schaltung verbunden sind und das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe und das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe bzw. das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe in einem vorherbestimmten Maße übersteigt;
wobei das W/L-Verhältnis der MOS-FETs des CMOS-Inverters der Verzögerungsstufe im Vergleich zu den W/L-Verhältnissen der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen, des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe so klein gewählt ist, daß das bei Änderung des digitalen Eingangssignals am Eingang der Schaltung erfolgende Umschalten der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe zeitlich gegeneinander versetzt erfolgt.
Die Reduzierung der Stromspitzen gelingt bei der
erfindungsgemäßen digitalen Treiberschaltung dadurch, daß bei
einer Änderung des digitalen Eingangssignals der p-Kanal-MOS-
FET und der n-Kanal-MOS-FET der Ausgangsstufe der Schaltung
zeitlich gegeneinander versetzt umgeschaltet werden, so daß der
bei bisherigen digitalen Treiberschaltungen beim Umschalten
zwischen der Versorgungsspannungsklemme und Masse vorliegende
Stromfluß nicht oder wesentlich kürzer und geringer als bisher
erfolgt.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den
Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung wird nun anhand der Zeichnungen beispielshalber
erläutert. In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 den Schaltplan einer zum Stand der Technik
gehörenden digitalen Treiberschaltung;
Fig. 2 den Schaltplan einer bevorzugten Ausführungsform
der erfindungsgemäßen digitalen Treiberschaltung; und
Fig. 3 Graphen, die die zeitliche Abfolge der an einzelnen
Schaltungspunkten der in der Fig. 2 dargestellten Schaltung
auftretenden Spannungssprünge bei Umschaltung des digitalen
Eingangssignals der Schaltung zeigen.
Die Fig. 1 zeigt eine zum Stand der Technik gehörende und in
der Beschreibungseinleitung erläuterte digitale
Treiberschaltung.
Die Fig. 2 zeigt eine bevorzugte Ausführungsform einer
erfindungsgemäßen digitalen Treiberschaltung.
Die in der Fig. 2 dargestellte Treiberschaltung umfaßt zwei
Eingangsstufen 5 und 6, die jeweils aus einem CMOS-Inverter
bestehen. Der Eingang A der ersten Eingangsstufe 5 ist mit dem
Eingang 3 der digitalen Treiberschaltung verbunden, an dem ein
digitales Eingangssignal mit der Spannung Ue anliegt, die die
stationären digitalen Zustände Vcc (H-Zustand) und 0 V (Masse,
L-Zustand) annehmen kann.
Der CMOS-Inverter MP1, MN1 der ersten Eingangsstufe 5 umfaßt
einen p-Kanal-MOS-FET MP1, dessen Gateanschluß mit dem Eingang
3 der Treiberschaltung, dessen Sourceanschluß mit der
Versorgungsspannung Vcc, dessen Drainanschluß mit dem Ausgang
des CMOS-Inverters MP1, MN1 der ersten Eingangsstufe 5 und
dessen Substratanschluß mit der Versorgungsspannung Vcc
verbunden ist, und einen n-Kanal-MOS-FET MN1, dessen
Gateanschluß mit dem Eingang 3 der Treiberschaltung, dessen
Sourceanschluß mit Masse, dessen Drainanschluß mit dem Ausgang
des CMOS-Inverters MP1, MN1 der ersten Eingangsstufe 5 und
dessen Substratanschluß mit Masse verbunden ist.
Das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs MP1 beträgt 20/1, das
des n-Kanal-MOS-FETs MN1 10/1. Das W/L-Verhältnis des p-Kanal-
MOS-FETs MP1 ist, wie bei CMOS-Invertern üblich, größer als das
des n-Kanal-MOS-FETs MN1, um die geringere
Ladungsträgerbeweglichkeit im p-Kanal-MOS-FET MP1 auszugleichen
und so einen symmetrischen Störabstand der digitalen
Eingangssignale der Treiberschaltung zu den Kipppunkten des
CMOS-Inverters zu erzeugen. Üblicherweise werden zur Erreichung
dieses Effekts in der CMOS-Technik für den p-Kanal-MOS-FET MP1
Weitenvergrößerungsfaktoren in bezug auf die Weite des n-Kanal-
MOS-FETs MN1 gewählt, die zwischen 2 und 4 liegen. Bei der hier
beschriebenen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird
stets der Weitenvergrößerungsfaktor 2 gewählt.
Die MOS-FETs MP2 und MN2 des CMOS-Inverters MP2, MN2 der
zweiten Eingangsstufe 6 sind entsprechend den MOS-FETs MP1, MN1
des CMOS-Inverters MP1, MN1 der ersten Eingangsstufe 5
geschaltet, wobei der Ausgang des CMOS-Inverters MP1, MN1 der
ersten Eingangsstufe 5 mit dem Eingang B des CMOS-Inverters
MP2, MN2 der zweiten Eingangsstufe 6 verbunden ist. Die W/L-
Verhältnisse der beiden MOS-FETs MP2, MN2 des CMOS-Inverters
MP2, MN2 der zweiten Eingangsstufe 6 sind dabei um einen Faktor
10 größer als diejenigen des CMOS-Inverters MP1, MN1 der ersten
Eingangsstufe 5, so daß der CMOS-Inverter MP2, MN2 der zweiten
Eingangsstufe 6 eine größere Kapazität treiben kann als der
CMOS-Inverter MP1, MN1 der ersten Eingangsstufe 5.
Der Ausgang des CMOS-Inverters MP2, MN2 der zweiten
Eingangsstufe 6 ist zum einen mit dem Eingang eines im
folgenden als "Verzögerungsstufe" 7 bezeichneten CMOS-Inverters
MP3, MN3 verbunden und zum anderen über den Eingang C der
Verzögerungsstufe 7 mit dem Eingang einer Zwischenstufe 8
verbunden, die aus zwei CMOS-Invertern (MP4, MN4; MP5, MN5)
besteht.
Der erste CMOS-Inverter MP4, MN4 der Zwischenstufe besteht aus
einem p-Kanal-MOS-FET MP4, dessen Gateanschluß über den Eingang
der Verzögerungsstufe 7 mit dem Ausgang der zweiten
Eingangsstufe 6, dessen Sourceanschluß mit der
Versorgungsspannung Vcc, dessen Drainanschluß mit dem Ausgang
des ersten CMOS-Inverters MP4, MN4 der Zwischenstufe 8 und
dessen Substratanschluß mit der Versorgungsspannung Vcc
verbunden ist, und dem n-Kanal-MOS-FET MN4, dessen Gateanschluß
über den Eingang der Verzögerungsstufe 7 mit dem Ausgang der
zweiten Eingangsstufe 6, dessen Sourceanschluß mit dem die
beiden CMOS-Inverter der Zwischenstufe 8 verbindenden
Schaltungspunkt D, dessen Drainanschluß mit dem Ausgang des
ersten CMOS-Inverters MP4, MN4 der Zwischenstufe und dessen
Substratanschluß mit Masse verbunden ist.
Der zweite CMOS-Inverter MP5, MN5 der Zwischenstufe 8 besteht
aus dem p-Kanal-MOS-FET MP5, dessen Gateanschluß über den
Eingang der Verzögerungsstufe 7 mit dem Ausgang der zweiten
Eingangsstufe 6, dessen Sourceanschluß am Schaltungspunkt D mit
dem Sourceanschluß des n-Kanal-MOS-FETs MN4 des ersten CMOS-
Inverters der Zwischenstufe 8, dessen Drainanschluß mit dem
Ausgang des zweiten CMOS-Inverters MP5, MN5 der Zwischenstufe
und dessen Substratanschluß mit der Versorgungsspannung Vcc
verbunden ist, und dem n-Kanal-MOS-FET MN5, dessen Gateanschluß
über den Eingang der Verzögerungsstufe 7 mit dem Ausgang der
zweiten Eingangsstufe 6, dessen Sourceanschluß mit Masse,
dessen Drainanschluß mit dem Ausgang des zweiten CMOS-Inverters
MP5, MN5 der Zwischenstufe 8 und dessen Substratanschluß mit
Masse verbunden ist.
Die W/L-Verhältnisse der MOS-FETs MP4, MN4, MP5 und MN5 der
Zwischenstufe 8 entsprechen denen der entsprechenden MOS-FETs
MP2 und MN2 der zweiten Eingangsstufe 6 und betragen für den p-
Kanal-MOS-FET MP4, den n-Kanal-MOS-FET MN4, den p-Kanal-MOS-FET
MP5 und den n-Kanal-MOS-FET MN5 200/1, 100/1, 200/1 bzw. 100/1.
Die MOS-FETs MP3, MN3 der Verzögerungsstufe 7 sind entsprechend
den MOS-FETs MP1, MN1 des CMOS-Inverters der ersten
Eingangsstufe 5 geschaltet, wobei ihre W/L-Verhältnisse 10/1
bzw. 5/1 betragen und damit um den Faktor 20 kleiner sind als
die entsprechenden MOS-FETs der Nachbarstufen, d. h. die der
zweiten Eingangsstufe 6 und die der Zwischenstufe 8. Die
Verzögerungsstufe ist daher beim Umladen der kapazitiven
Ausgangslasten wesentlich langsamer als ihre beiden
Nachbarstufen. Der Ausgang des CMOS-Inverters MP3, MN3 der
Verzögerungsstufe 7 ist mit dem Schaltungspunkt D verbunden,
der den ersten CMOS-Inverter MP4, MN4 der Zwischenstufe mit dem
zweiten CMOS-Inverter MP5, MN5 der Zwischenstufe verbindet. Die
genaue Funktion der Verzögerungsstufe 7 wird unten näher
erläutert.
Schließlich umfaßt die in der Fig. 2 dargestellte
Treiberschaltung eine Ausgangsstufe 9, die aus einem p-Kanal-
MOS-FET MP6, dessen Gateanschluß E mit dem Ausgang des ersten
CMOS-Inverters MP4, MN4 der Zwischenstufe 8, dessen
Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung Vcc, dessen
Drainanschluß mit dem Ausgang der Ausgangsstufe 9 bzw. dem
Ausgang 4 der Treiberschaltung und dessen Substratanschluß mit
der Versorgungsspannung Vcc verbunden ist, und einem n-Kanal-
MOS-FET MN6 besteht, dessen Gateanschluß F mit dem Ausgang des
zweiten CMOS-Inverters MP5, MN5 der Zwischenstufe 8, dessen
Sourceanschluß mit Masse, dessen Drainanschluß mit dem Ausgang
der Ausgangsstufe 9 bzw. dem Ausgang 4 der Treiberschaltung und
dessen Substratanschluß mit Masse verbunden ist. Die W/L-
Verhältnisse des p-Kanal-MOS-FETs MP6 und des n-Kanal-MOS-FETs
MN6 der Ausgangsstufe 9 betragen 800/1 und 400/1 und sind damit
wesentlich größer als die der vorhergehenden Stufen. Die
Ausgangsstufe 9 besitzt also die größte Stromsteuerfähigkeit
der Treiberschaltung.
Am Ausgang 4 der digitalen Treiberschaltung tritt das digitale
Ausgangsspannungssignal Ua auf, das ebenfalls die Werte Vcc und
0 Volt (Masse) annehmen kann. Da die digitale Treiberschaltung
nichtinvertierend ist, entspricht der Signalverlauf des
Ausgangssignals Ua dem des Eingangssignals Ue.
Im folgenden wird die Funktionsweise der in der Fig. 2
dargestellten erfindungsgemäßen digitalen Treiberschaltung
anhand der Fig. 2 und 3 erläutert.
Dabei werden insbesondere die an den folgenden in der Fig. 2
markierten Schaltungspunkten auftretenden Signale betrachtet:
A: Eingang des CMOS-Inverters MP1, MN1 der ersten
Eingangsstufe 5,
B: Eingang des CMOS-Inverters MP2, MN2 der zweiten Eingangsstufe 6,
C: Eingang des CMOS-Inverters MP3, MN3 der Verzögerungsstufe 7,
D: Mit dem Ausgang des CMOS-Inverters MP3, MN3 der Verzögerungsstufe 7 verbundener Verbindungspunkt zwischen den Sourceanschlüssen des n-Kanal-MOS-FETs MN4 des ersten CMOS-Inverters MP4, MN4 der Zwischenstufe 8 und des p- Kanal-MOS-FETs MP5 des zweiten CMOS-Inverters MP5, MN5 der Zwischenstufe 8,
E: Gateanschluß des p-Kanal-MOS-FETs MP6 der Ausgangsstufe 9,
F: Gateanschluß des n-Kanal-MOS-FETs MN6 der Ausgangsstufe 9.
B: Eingang des CMOS-Inverters MP2, MN2 der zweiten Eingangsstufe 6,
C: Eingang des CMOS-Inverters MP3, MN3 der Verzögerungsstufe 7,
D: Mit dem Ausgang des CMOS-Inverters MP3, MN3 der Verzögerungsstufe 7 verbundener Verbindungspunkt zwischen den Sourceanschlüssen des n-Kanal-MOS-FETs MN4 des ersten CMOS-Inverters MP4, MN4 der Zwischenstufe 8 und des p- Kanal-MOS-FETs MP5 des zweiten CMOS-Inverters MP5, MN5 der Zwischenstufe 8,
E: Gateanschluß des p-Kanal-MOS-FETs MP6 der Ausgangsstufe 9,
F: Gateanschluß des n-Kanal-MOS-FETs MN6 der Ausgangsstufe 9.
Zunächst wird der stationäre Zustand der Schaltung betrachtet.
Liegt z. B. am Eingang 3 der in der Fig. 2 dargestellten
Treiberschaltung ein digitales Signal mit der Spannung Vcc (H-
Zustand) an, so liegt, wegen der Wirkung des CMOS-Inverters
MP1, MN1 der ersten Eingangsstufe 5 am Eingang des zweiten
CMOS-Inverters MP2, MN2 der zweiten Eingangsstufe 6 ein
invertiertes Signal von 0 V (L-Zustand) an. Der CMOS-Inverter
MP2, MN2 invertiert das Signal erneut, so daß am Eingang C des
CMOS-Inverters MP3, MN3 der Verzögerungsstufe 7 und an den
Eingängen der beiden CMOS-Inverter MP4, MN4 und MP5, MN5 der
Zwischenstufe 8 ein Signal mit der Spannung Vcc (H-Zustand)
anliegt. Die Verzögerungsstufe 7, deren eigentliche Funktion
erst unten im Zusammenhang mit der Erläuterung des dynamischen
Verhaltens der Treiberschaltung klar wird, invertiert dieses
Signal und lädt damit den Schaltungspunkt D auf die Spannung
0 V (Masse) um. Durch die beiden CMOS-Inverter MP4, MN4 und
MP5, MN5 der Zwischenstufe 8 wird an den Gateanschlüssen E bzw.
F der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe wiederum ein Signal mit
einer Spannung von 0 V (L-Zustand) erzeugt. Der p-Kanal-MOS-FET
MP6 befindet sich dadurch im durchgeschalteten, der n-Kanal-
MOS-FET MN6 im gesperrten Zustand, so daß am Ausgang 4 der
Treiberschaltung ein Signal mit der Spannung Vcc (H-Zustand)
anliegt. Die Schaltung wirkt also insgesamt nichtinvertierend.
In analoger Weise verhält sich die Treiberschaltung, wenn an
ihrem Eingang ein stationäres Signal von 0 V (L-Zustand)
anliegt. Im stationären Zustand ist der Energieverbrauch der
Schaltung minimal, da keine Strompfade zwischen der
Versorgungsspannungklemme und Masse auftreten.
Im folgenden wird das dynamische Verhalten der in der Fig. 2
dargestellten Treiberschaltung erläutert. Dabei wird
insbesondere Bezug auf die Fig. 3 genommen, in der die Zustände
der oben erwähnten Schaltungspunkte A, B, C, D, E, und F
dargestellt sind.
In der Fig. 3 ist der Fall dargestellt, daß das am Eingang 3
der Treiberschaltung anliegende digitale Eingangssignal Ue von
0 V (L-Zustand) auf Vcc (H-Zustand) umgeschaltet wird.
Zum unten in der Fig. 3 dargestellten Zeitpunkt t1 wird dann
das am Eingang des CMOS-Inverters MP1, MN1 der ersten
Eingangsstufe 5 anliegende Signal Ue auf Vcc (H-Zustand)
umgeschaltet. Der CMOS-Inverter MP1, MN1 invertiert dieses
Signal mit einer gewissen durch die Umladung bedingten
Verzögerungszeit, so daß das am Schaltungspunkt B, dem Eingang
des CMOS-Inverters MP2, MN2 der zweiten Eingangsstufe 6,
liegende Signal zum Zeitpunkt t2 auf 0 V (L-Zustand)
umgeschaltet wird. Der CMOS-Inverter MP2, MN2 der zweiten
Eingangsstufe 6 invertiert dieses Signal erneut, so daß nach
einer erneuten Verzögerungszeit zum Zeitpunkt t3 das Signal am
Eingang C des CMOS-Inverters MP3, MN3 der Verzögerungsstufe 7
und an den mit diesem verbundenen Eingängen der beiden CMOS-
Inverter MP4, MN4 und MP5, MN5 der Zwischenstufe 8 von 0 V (L-
Zustand) auf Vcc (H-Zustand) umgeschaltet wird.
Der n-Kanal-MOS-FET MN5 des zweiten CMOS-Inverters MP5, MN5
erhält nun, da die W/L-Verhältnisse der sich entsprechenden
MOS-FETs der zweiten Eingangsstufe 6 und der Zwischenstufe 8
gleich sind und daher die Umladegeschwindigkeit relativ groß
ist, relativ schnell eine seine positive Schwellenspannung
überschreitende Gate-Source-Spannung Vcc, so daß er vom
gesperrten in den durchgeschalteten Zustand wechselt.
Gleichzeitig sperrt der p-Kanal-MOS-FET MP5 des zweiten CMOS-
Inverters MP5, MN5, da seine Gate-Source-Spannung sofort auf
null sinkt, wobei sie dann allmählich während des wegen des
geringen W/L-Verhältnisses der MOS-FETs des CMOS-Inverters der
Verzögerungsstufe 7 nur langsam erfolgenden Umladens des mit
dem Sourceanschluß des p-Kanal-MOS-FETs MP5 verbundenen
Schaltungspunktes D durch die Verzögerungsstufe 7 in den
positiven Bereich gerät, was aber am Zustand des p-Kanal-MOS-
FETs MP5 nichts mehr ändert. Der zweite CMOS-Inverter MP5, MN5
schaltet daher um, und lädt die Gatekapazität des mit dem
Ausgang des zweiten CMOS-Inverters MP5, MN5 verbundenen n-
Ranal-MOS-FETs MN6 der Ausgangsstufe 9, dessen Gate F dann zum
Zeitpunkt t4 eine Spannung von 0 V erhält. Dabei sinkt die
Gate-Source-Spannung des n-Kanal-MOS-FETs MN5 auf 0 V und
unterschreitet die Schwellenspannung des Transistors, woraufhin
dieser Transistor gesperrt wird.
Da der Schaltungspunkt D zum Zeitpunkt t4 wegen der geringen
Umladegeschwindigkeit des CMOS-Inverters MP3, MN3 der
Verzögerungsstufe 7 noch nicht auf 0 V umgeladen ist und sich
noch in der Nähe von Vcc befindet, überschreitet die Gate-
Source-Spannung des n-Kanal-MOS-FETs MN4 zu diesem Zeitpunkt
noch nicht die zum Durchschalten erforderliche
Schwellenspannung. Erst zum Zeitpunkt t5 ist der
Schaltungspunkt D soweit umgeladen worden, daß die
Schwellenspannung erreicht wird und der Transistor MN4
durchschaltet. Zu diesem Zeitpunkt sperrt der Transistor MP4,
so daß dann der CMOS-Inverter MP4, MN4 die Gatekapazität des
p-Kanal-MOS-FETs MF6 umlädt, wobei zum Zeitpunkt t6 der
Gateanschluß E des p-Kanal-MOS-FETs MP6 der Ausgangsstufe 9
eine Spannung von 0 V erreicht, woraufhin dieser Transistor
sperrt und am Ausgang 4 der Treiberschaltung die Spannung von 0
V (L-Zustand) auf Vcc (H-Zustand) ansteigt.
Das Umschalten der den größten Strom der Treiberschaltung
führenden MOS-FETs MP6, MN6 der Ausgangsstufe 9 erfolgt hier
also um die Differenz zwischen t6 und t4 zeitlich gegeneinander
versetzt, wodurch große Stromspitzen am Ausgang der
Treiberschaltung vermieden werden, da ein Strompfad zwischen
der Versorgungsspannungsklemme Vcc und Masse nur in sehr
geringem Maße oder überhaupt nicht mehr auftritt. Daß der
Ausgang 4 der Treiberschaltung dabei kurzzeitig hochohmig wird,
ist bei vielen Anwendungen tolerierbar.
Die Umschaltung des digitalen Eingangssignals Ue von Vcc (H-
Zustand) auf 0 V (L-Zustand) verläuft analog zur beschriebenen
Umschaltung von 0 V (L-Zustand) auf Vcc (H-Zustand), mit dem
Unterschied, daß dabei jetzt zunächst der p-Kanal-MOS-FET MP6
umgeschaltet wird, wobei er in dem Fall gesperrt wird, während
danach der n-Kanal-MOS-FET MN6 umgeschaltet wird, wobei dieser
in diesem Fall durchgeschaltet wird.
Ein besonderer Vorteil der erfindungsgemäßen digitalen
Treiberschaltung liegt darin, daß die durch die Einfügung der
Verzögerungsstufe zusätzliche erforderliche Chipfläche wegen
der geringen W/L-Verhältnisse der MOS-FETs der
Verzögerungsstufe 7 äußerst klein ist.
Die erfindungsgemäße Treiberschaltung ist besonders für relativ
"langsame" Anwendungen mit niedrigen Frequenzen interessant, da
sie dann die größten Wirkungen in bezug auf die Reduzierung der
Ausgangsstromspitzen zeigt.
Für das Funktionieren der Verzögerungsstufe 7 ist entscheidend,
daß diese durch das gewählte W/L-Verhältnis ihrer MOS-FETs MP3
und MN3 so dimensioniert ist, daß ihre Umladegeschwindigkeit im
Verhältnis zu der der Nachbarstufen, d. h. der letzten Stufe 6
der Eingangsstufen 5 und 6 und der Zwischenstufe 8, so klein
ist, daß eine zeitliche Versetzung des Umschaltens der MOS-FETs
MP6 und MN6 der Ausgangsstufe 9 gewährleistet ist.
Für den Fachmann ist klar, daß es bei der Erfindung nicht
darauf ankommt, wieviele CMOS-Inverter in der Eingangsstufe
verwendet werden. Darüber hinaus kann die erfindungsgemäße
Schaltung in Abweichung zu der dargestellten Ausführungsform
natürlich auch invertierend sein.
Die dargestellten W/L-Verhältnisse sind ebenfalls nur
beispielhaft zu sehen, wobei sie je nach Anwendung
(Verzögerungszeit, Kapazitätsverhältnis zwischen Eingang und
Ausgang des Treibers, Chipfläche) unterschiedlich ausgewählt
werden werden. Zwischen den einzelnen Invertern der
Eingangsstufen wird man dabei jeweils einen Vergrößerungsfaktor
zwischen 3 und 10 wählen.
Die W/L-Verhältnisse der MOS-FETs MP4, MN4, MP5 und MN5 der
Zwischenstufe können natürlich auch anders gewählt werden als
bei dem oben beschriebenen und in der Fig. 2 dargestellten
Ausführungsbeispiel. Die W/L-Verhältnisse des p-Kanal-MOS-FETs
MP4 des ersten CMOS-Inverters (MP4, MN4) der Zwischenstufe und
des n-Kanal-MOS-FETs MN5 des zweiten CMOS-Inverters (MP5, MN5)
der Zwischenstufe werden dabei die W/L-Verhältnisse der
entsprechenden MOS-FETs des CMOS-Inverters der letzten
Eingangsstufe (in der Fig. 2 MP2 bzw. MN2) nicht
unterschreiten, um die von Stufe zu Stufe steigende oder
zumindest gleichbleibende Treiberfähigkeit in der
Treiberschaltung nicht zu unterbrechen. MP4 und MN5 können
natürlich auch größere W/L-Verhältnisse haben als die
entsprechenden MOS-FETs der letzten Eingangsstufe. Das W/L-
Verhältnis des zweiten n-Kanal-MOS-FETs MN4 des ersten CMOS-
Inverters der Zwischenstufe und das W/L-Verhältnis des ersten
p-Kanal-MOS-FETs MP5 der Zwischenstufe können jedoch auch
wesentlich kleiner als die W/L-Verhältnisse der entsprechenden
MOS-FETs des CMOS-Inverters der letzten Eingangsstufe sein. MN4
und MP5 unterstützen dann nämlich die Verzögerungswirkung der
Verzögerungsstufe, da sie die Einstellung der bei Umschaltung
des digitalen Eingangssignals sich an ihnen ändernden Gate-
Source-Spannungen verzögern. So können die W/L-Verhältnisse von
MN4 und MP5 in der Fig. 2 auch z. B. 10/1 und 5/1 betragen,
wodurch weitere Chipfläche gegenüber der in der Fig. 2
dargestellten Ausführungsform eingespart werden könnte. Dadurch
würde die zeitliche Verschiebung der Umschaltung der beiden
MOS-FETs der Ausgangsstufe gegeneinander noch verstärkt werden.
Die erfindungsgemäße digitale Treiberschaltung eignet sich
besonders für Anwendungen, bei denen geringes Rauschen
erwünscht ist. Sie eignet sich darüber hinaus insbesondere auch
für Referenzschaltungen und Treiberschaltungen für
Ladungspumpen.
Claims (5)
1. Digitale Treiberschaltung mit
einer oder mehreren hintereinandergeschalteten Eingangsstufen, die jeweils aus einem CMOS-Inverter bestehen, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit einer Versorgungsspannung und dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei das Verhältnis zwischen Kanalweite (W) und Kanallänge (L) (W/L-Verhältnis) der MOS-FETs der CMOS-Inverter von Stufe zu Stufe in einem vorherbestimmten Maße zunimmt;
einer Zwischenstufe mit einem ersten CMOS-Inverter, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem zweiten CMOS- Inverter, dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Eingänge der beiden CMOS- Inverter der Zwischenstufe mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden sind, der Sourceanschluß des n-Kanal- MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe mit dem Sourceanschluß des p-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist und das vorherbestimmte W/L- Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe nicht kleiner als das der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen ist;
einer Verzögerungsstufe mit einem zwischen die Versorgungsspannung und Masse geschalteten CMOS-Inverter, dessen Eingang mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden ist und dessen Ausgang mit dem Sourceanschluß des n- Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist; und
einer Ausgangsstufe mit einem p-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem n-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Drainanschlüsse der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe miteinander und mit dem Ausgang der Schaltung verbunden sind und das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe und das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe bzw. das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe in einem vorherbestimmten Maße übersteigt;
wobei das W/L-Verhältnis der MOS-FETs des CMOS-Inverters der Verzögerungsstufe im Vergleich zu den W/L-Verhältnissen der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen, des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe so klein gewählt ist, daß das bei Änderung des digitalen Eingangssignals am Eingang der Schaltung erfolgende Umschalten der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe zeitlich gegeneinander versetzt erfolgt.
einer oder mehreren hintereinandergeschalteten Eingangsstufen, die jeweils aus einem CMOS-Inverter bestehen, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit einer Versorgungsspannung und dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei das Verhältnis zwischen Kanalweite (W) und Kanallänge (L) (W/L-Verhältnis) der MOS-FETs der CMOS-Inverter von Stufe zu Stufe in einem vorherbestimmten Maße zunimmt;
einer Zwischenstufe mit einem ersten CMOS-Inverter, dessen p-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem zweiten CMOS- Inverter, dessen n-Kanal-MOS-FET an seinem Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Eingänge der beiden CMOS- Inverter der Zwischenstufe mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden sind, der Sourceanschluß des n-Kanal- MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe mit dem Sourceanschluß des p-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist und das vorherbestimmte W/L- Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe nicht kleiner als das der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen ist;
einer Verzögerungsstufe mit einem zwischen die Versorgungsspannung und Masse geschalteten CMOS-Inverter, dessen Eingang mit dem Ausgang der letzten Eingangsstufe verbunden ist und dessen Ausgang mit dem Sourceanschluß des n- Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe verbunden ist; und
einer Ausgangsstufe mit einem p-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit der Versorgungsspannung verbunden ist, und einem n-Kanal-MOS-FET, dessen Gateanschluß mit dem Ausgang des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und dessen Sourceanschluß mit Masse verbunden ist, wobei die Drainanschlüsse der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe miteinander und mit dem Ausgang der Schaltung verbunden sind und das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe und das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs der Ausgangsstufe das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe bzw. das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe in einem vorherbestimmten Maße übersteigt;
wobei das W/L-Verhältnis der MOS-FETs des CMOS-Inverters der Verzögerungsstufe im Vergleich zu den W/L-Verhältnissen der entsprechenden MOS-FETs des letzten CMOS-Inverters der Eingangsstufen, des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe und des n-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS- Inverters der Zwischenstufe so klein gewählt ist, daß das bei Änderung des digitalen Eingangssignals am Eingang der Schaltung erfolgende Umschalten der beiden MOS-FETs der Ausgangsstufe zeitlich gegeneinander versetzt erfolgt.
2. Digitale Treiberschaltung nach Anspruch 1, bei der das
W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des zweiten CMOS-Inverters
der Zwischenstufe und das W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs
des ersten CMOS-Inverters der Zwischenstufe im Vergleich zu dem
W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs des ersten CMOS-Inverters
der Zwischenstufe bzw. dem W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs
des zweiten CMOS-Inverters der Zwischenstufe klein ist, so daß
die Verzögerungswirkung der Verzögerungsschaltung unterstützt
wird.
3. Digitale Treiberschaltung nach einem der Ansprüche 1
oder 2, bei der das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs eines
CMOS-Inverters der Eingangsstufen und der Verzögerungsstufe im
Vergleich zu dem W/L-Verhältnis des n-Kanal-MOS-FETs desselben
CMOS-Inverters, und das W/L-Verhältnis des p-Kanal-MOS-FETs der
Ausgangsstufe im Vergleich zu dem W/L-Verhältnis des n-Kanal-
MOS-FETs der Ausgangsstufe um einen Faktor 2 bis 4 größer sind,
so daß ein symmetrischer Störabstand der digitalen
Eingangssignale zu den Kipppunkten des CMOS-Inverters bzw. der
Ausgangsstufe erzeugt wird.
4. Digitale Treiberschaltung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, bei der die W/L-Verhältnisse der MOS-FETs der
Eingangsstufen von Stufe zu Stufe zum Ausgang der Schaltung hin
um einen Faktor zunehmen, der zwischen 3 und 10 liegt.
5. Digitale Treiberschaltung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, bei der zwei Eingangsstufen vorgesehen sind.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| DE19949144A DE19949144C1 (de) | 1999-10-12 | 1999-10-12 | Digitale Treiberschaltung |
| US09/689,078 US6492847B1 (en) | 1999-10-12 | 2000-10-12 | Digital driver circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19949144A DE19949144C1 (de) | 1999-10-12 | 1999-10-12 | Digitale Treiberschaltung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19949144C1 true DE19949144C1 (de) | 2001-02-01 |
Family
ID=7925359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19949144A Expired - Fee Related DE19949144C1 (de) | 1999-10-12 | 1999-10-12 | Digitale Treiberschaltung |
Country Status (2)
| Country | Link |
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| US (1) | US6492847B1 (de) |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| 8100 | Publication of patent without earlier publication of application | ||
| D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
| 8381 | Inventor (new situation) |
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