DE19905975A1 - CT-Gerät und Verfahren zum Betrieb eines solchen CT-Geräts - Google Patents

Abstract

Die Erfindung betrifft ein CT-Gerät mit mehrzeiligem Detektorsystem (6), bei dem einzelne Spalten (8) von Detektorelementen (9) gegeneinander versetzt angeordnet sind. Das Detektorsystem (6) ist damit bei der Spiralabtastung eines Untersuchungsobjekts an einen gewünschten Pitch anpaßbar, so daß wenigstens im wesentlichen alle mit dem Detektorsystem (6) ermittelten Abtastwerte zur Rekonstruktion von Bildern verwendet werden können.

Description

Die Erfindung betrifft ein CT-Gerät mit einer Strahlungs­ quelle, welche zur Spiralabtastung eines Untersuchungsobjekts um eine Systemachse verlagerbar ist und ein Strahlenbündel aussendet, das auf ein aus einem Array von wenigstens einer Zeile und mehreren Spalten von Detektorelementen bestehendes Detektorsystem trifft, wobei eine Lagerungseinrichtung für das Untersuchungsobjekt und die Strahlungsquelle in Richtung der Systemachse relativ zueinander verstellbar sind, und die so gewonnenen Meßwerte einem von einer Vielzahl von Projekti­ onswinkeln und einer z-Position auf der Systemachse zugeord­ net sind und einem Rechner zugeführt sind, welcher daraus Bilder des Untersuchungsobjekts berechnet. Die Erfindung be­ trifft außerdem ein Verfahren zum Betrieb eines solchen CT- Geräts.

Es sind CT-Geräte bekannt, die eine Strahlungsquelle, z. B. eine Röntgenröhre, aufweisen, die ein kollimiertes, pyrami­ denförmiges Strahlenbündel durch das Untersuchungsobjekt, z. B. einen Patienten, auf ein aus mehreren Detektorelementen aufgebautes Detektorsystem richten. Die Strahlungsquelle und je nach Bauart des CT-Geräts auch das Detektorsystem sind auf einer Gantry angebracht, die um das Untersuchungsobjekt rotiert. Eine Lagerungseinrichtung für das Untersuchungsob­ jekt kann entlang der Systemachse relativ zur Gantry verscho­ ben bzw. bewegt werden. Die Position, ausgehend von welcher das Strahlenbündel das Untersuchungsobjekt durchdringt, und der Winkel, unter welchem das Strahlenbündel das Untersu­ chungsobjekt durchdringt, werden infolge der Rotation der Gantry ständig verändert. Jedes von der Strahlung getroffene Detektorelement des Detektorsystems produziert ein Signal, das ein Maß der Gesamttransparenz des Untersuchungsobjekts für die von der Strahlungsquelle ausgehenden Strahlung auf ihrem Weg zum Detektorsystem darstellt. Der Satz von Aus­ gangssignalen der Detektorelemente des Detektorsystems, der für eine bestimmte Position der Strahlungsquelle gewonnen wird, wird als Projektion bezeichnet. Eine Abtastung (Scan) umfaßt einen Satz von Projektionen, die an verschiedenen Po­ sitionen der Gantry und/oder verschiedenen Positionen der La­ gerungseinrichtung gewonnen wurden. Das CT-Gerät nimmt wäh­ rend eines Scans eine Vielzahl von Projektionen auf, um ein zweidimensionales Schnittbild einer Schicht des Untersu­ chungsobjekts aufbauen zu können. Mit einem aus einem Array von mehreren Zeilen und Spalten von Detektorelementen aufge­ bauten Detektorsystem können mehrere Schichten gleichzeitig aufgenommen werden.

Größere Volumina des Untersuchungsobjekts werden üblicher­ weise mittels Spiralabtastung (Spiralscan) aufgenommen. Dabei rotiert die Gantry mit der Strahlungsquelle kontinuierlich um das Untersuchungsobjekt, während die Lagerungseinrichtung und die Gantry kontinuierlich relativ zueinander entlang der Sy­ stemachse verschoben werden. Die Strahlungsquelle beschreibt so, bezogen auf das Untersuchungsobjekt, eine Spiralbahn, bis das vor der Untersuchung festgelegte Volumen abgetastet ist. Aus den so gewonnenen Spiraldaten werden dann Bilder einzelner Schichten errechnet.

Bei herkömmlichen CT-Geräten liegen die Zeilen der Detektor­ elemente des Detektorsystems rechtwinklig zur Systemachse. Alle Detektorelemente einer Zeile befinden sich an derselben z-Position.

Bei der Spiralabtastung mit mehrzeiligem Detektorsystem ist diese Detektoranordnung nicht optimal, da die Abtastpunkte nicht gleichmäßig über das Untersuchungsobjekt verteilt sind. Dies kann zu Artefakten im rekonstruierten Bild führen. Hier­ durch wird der maximal mögliche Pitch (Vorschub der Lage­ rungseinrichtung pro Umlauf der Strahlungsquelle um 360° (Vollumlauf) um das Untersuchungsobjekt, bezogen auf die Er­ streckung eines Detektorelements in z-Richtung, d. h. in Rich­ tung der Systemachse) beschränkt.

Bestimmte Rekonstruktionsverfahren für Aufnahmen mit einem herkömmlichen, mehrzeiligen Detektorsystem können zudem nicht alle Daten zur Rekonstruktion verwenden, die mit einem sol­ chen Detektorsystem aufgenommen wurden. Dies führt zu vermin­ derter Detektorsystemeffizienz und zu unnötigen Detektorsy­ stemkosten durch nicht genutzte Detektorelemente sowie zu ei­ ner Belastung des Untersuchungsobjekts mit ungenutzter Strah­ lendosis.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein CT-Gerät der eingangs ge­ nannten Art so auszubilden, daß dessen Detektorsystem verbes­ serte Eigenschaften aufweist. Es ist auch Aufgabe der Erfin­ dung, ein Verfahren zum Betrieb eines solchen CT-Geräts anzu­ geben.

Nach der Erfindung wird die ein CT-Gerät betreffende Aufgabe gelöst durch ein CT-Gerät mit einer Strahlungsquelle, welche zur Spiralabtastung eines Untersuchungsobjekts um eine Systemachse verlagerbar ist und ein Strahlenbündel aussendet, das auf ein aus einem Array von wenigstens einer Zeile und mehreren Spalten von Detektorelementen aufgebautes Detek­ torsystem trifft, wobei eine Lagerungseinrichtung für das Un­ tersuchungsobjekt und die Strahlungsquelle in Richtung der Systemachse relativ zueinander verstellbar sind, und die so gewonnenen Meßwerte einem von einer Vielzahl von Projektions­ winkeln und einer z-Position auf der Systemachse zugeordnet sind und einem Rechner zugeführt werden, welcher daraus Bil­ der des Untersuchungsobjekts berechnet, und wobei zumindest eine der Spalten von Detektorelementen des Detektorsystems gegenüber der in Drehrichtung der Strahlungsquelle benachbar­ ten Spalte in der Richtung, in der die Lagerungsvorrichtung entlang der Systemachse relativ zu der Strahlungsquelle be­ wegt wird (z-Richtung), versetzt ist.

Durch eine derartige Anordnung läßt sich eine gleichmäßige Spiralabtastung des Untersuchungsobjekts erreichen mit einer optimalen Ausnutzung aller vom Detektorsystem erfaßten Daten. Das Auftreten von Artefakten im rekonstruierten Bild, die bei nicht gleichmäßiger Abtastung entstehen, wird verhindert, und der maximal mögliche Pitch ist gegenüber herkömmlichen CT-Ge­ räten erhöht. Außerdem läßt sich mit einem Strahlenbündel mit an die Geometrie des erfinderischen Detektorsystems angepaß­ tem Querschnitt die dem Untersuchungsobjekt applizierte Strahlendosis minimieren, da stets nur die Bereiche des Un­ tersuchungsobjekts von Strahlung durchdrungen werden, deren Abtastwerte zur Rekonstruktion von Bildern verwendet werden.

Mehrzeilige Detektorsysteme sind üblicherweise wie folgt auf­ gebaut:
Die kleinste Einheit ist das Detektorelement. Mindestens eine Zeile und mehrere Spalten solcher Detektorelemente werden fertigungsbedingt üblicherweise zu Detektorgruppen (Detektor­ modulen) zusammengefaßt. Das Detektorsystem setzt sich damit aus mindestens einer Zeile und mehreren Spalten derartiger Detektorgruppen zusammen.

Analog dem Versatz der Spalten von Detektorelementen lassen sich nach der Erfindung auch einzelne Spalten von Detektor­ gruppen gegenüber benachbarten Detektorgruppen versetzen. Die Vorteile, die damit erzielt werden, sind die gleichen wie beim Versatz von Spalten einzelner Detektorelemente, mit dem weiteren Vorteil, daß durch den Aufbau des Detektorsystems aus Detektorgruppen sich diese relativ einfach und kostengün­ stig gegeneinander verschieben lassen.

Prinzipiell kann der Versatz benachbarter Detektorspalten bzw. Detektorgruppen beliebig sein. Ein Versatz um die Aus­ dehnung eines Detektorelements in z-Richtung oder ein ganz­ zahliges Vielfaches davon ist allerdings für die Rekonstruk­ tionsverfahren im allgemeinen von Vorteil. Je mehr versetzte Detektorspalten bzw. Detektorgruppen gebildet werden, desto geringer ist der bei bestimmten Rekonstruktionsverfahren nicht brauchbare Anteil von Detektorelementen am gesamten De­ tektorsystem.

Wird ein herkömmliches Detektorsystem in die Ebene proji­ ziert, so hat diese Projektion die Form eines Rechtecks. Hin­ gegen läßt sich die Projektion eines Detektorsystems nach der Erfindung näherungsweise von einem Parallelogramm mit zwei zur Systemachse parallelen Seiten umschreiben. Die Konstruk­ tion des Detektorsystems kann in Abhängigkeit des Pitch so optimiert werden, daß eine möglichst gleichmäßige Abtastung des Untersuchungsobjekts bei gleichzeitig maximaler Ausnut­ zung der Detekorsystemfläche erreicht wird.

Wird beispielsweise der Vorschub der Lagerungsvorrichtung während einer vollständigen Umdrehung der Gantry um das Un­ tersuchungsobjekt so gewählt, daß dieser der Erstreckung ei­ ner Detektorspalte in z-Richtung entspricht, so gilt für den Winkel α, den eine nicht zur Systemachse parallele Seite des Parallelogramms und eine in der Ebene liegende, zur System­ achse rechtwinklige Gerade einschließen:

tg α = Δz/2πR

wobei α der eingeschlossene Winkel, Δz die Erstreckung einer Detektorspalte in z-Richtung und R der Abstand des Detektor­ systems von der Systemachse sind.

Ein so konstruiertes Detektorsystem ist damit für einen be­ stimmten Pitch optimiert. Für davon abweichende Pitch-Werte lassen sich damit zwar noch bessere Ergebnisse als mit einem herkömmlichen Detektorsystem erzielen, das Detektorsystem ist dann jedoch nicht mehr optimal angepaßt.

Abhilfe schafft hier eine Variante der Erfindung, die vor­ sieht, das Detektorsystem so auszugestalten, daß der Versatz der Detektorelemente bzw. Detektorgruppen vor jeder Abtastung beliebig eingestellt werden kann. Damit läßt sich für jeden gewünschten Pitch eine optimierte Anpassung des Detektorsy­ stems erzielen. In diesem Fall gilt für den Winkel α:

tg α = nd/2πR

wobei n der Pitch, d die Erstreckung eines Detektorelements in z-Richtung und R der Abstand des Detektorsystems von der Systemachse sind.

Die mit einem Detektorsystem nach der Erfindung erreichbaren Ergebnisse werden um so genauer, je weniger die Form des in die Ebene projizierten Detektorsystems von einem Parallelo­ gramm abweicht, d. h., je mehr benachbarte Detektorspalten je­ weils gegeneinander versetzt sind und je geringer der Versatz im einzelnen ausfällt. Damit wird auch deutlich, daß für eine optimale Anpassung des Detektorsystems an einen gewünschten Pitch eine kontinuierliche Verstellbarkeit der Detektorspal­ ten von Vorteil ist, aus Kostengründen wegen der einfacheren Realisierbarkeit und zur Vereinfachung des Rekonstruktions­ verfahrens jedoch auch eine Verstellung um jeweils ganzzah­ lige Vielfache der Erstreckung eines Detektorelements in z- Richtung eine gute Alternative bietet.

Der ein Verfahren zum Betrieb eines CT-Geräts betreffende Teil der Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 8 gelöst.

Im Falle des erfindungsgemäßen Verfahrens zum Betrieb eines CT-Geräts wird also der Querschnitt des von der Strahlungs­ quelle ausgehenden Strahlenbündels so eingeblendet, daß im wesentlichen nur der Teil des Untersuchungsobjekts von Strah­ lung durchdrungen wird, aus dem das Detektorsystem Ab­ tastwerte erfaßt. Dies reduziert die Belastung des Untersu­ chungsobjekts mit nicht diagnostisch verwertbarer Strahlendo­ sis.

Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden nach­ folgend anhand von in den Zeichnungen dargestellten Ausfüh­ rungsbeispielen erläutert.

Es zeigen:

Fig. 1 in schematischer Darstellung ein CT-Gerät mit mehr­ zeiligem Detektorsystem,

Fig. 2 in schematischer Darstellung ein herkömmliches, mehr­ zeiliges Detektorsystem,

Fig. 3 in schematischer Darstellung ein herkömmliches, mehr­ zeiliges Detektorsystem mit der für einen bestimmten Pitch teilweise nicht nutzbaren Detektorfläche,

Fig. 4 ein mehrzeiliges Detektorsystem nach der Erfindung mit zwei um zwei Detektorelemente versetzten Detek­ torgruppen,

Fig. 5 ein mehrzeiliges Detektorsystem nach der Erfindung mit kontinuierlich versetzten Detektorspalten,

Fig. 6 in schematischer Darstellung ein mehrzeiliges Detek­ torsystem nach der Erfindung mit der für einen be­ stimmten Pitch teilweise nicht nutzbaren Detektorflä­ che.

In Fig. 1 ist grob schematisch ein CT-Gerät zur Spiralabta­ stung eines Untersuchungsobjekts 1 dargestellt, das eine Strahlungsquelle 2, z. B. eine Röntgenröhre, mit einem Fokus 3 aufweist, von dem ein durch eine röhrenseitige Strahlungs­ blende 4 eingeblendetes, pyramidenförmiges Strahlenbündel 5 ausgeht, welches das Untersuchungsobjekt 1, beispielsweise einen Patienten, durchsetzt und auf ein Detektorsystem 6 trifft. Dieses besteht aus einem Array aus mehreren paralle­ len Zeilen 7 und Spalten 8 von Detektorelementen 9. Bei dem dargestellten Detektorsystem sind gemäß der Erfindung ein­ zelne Detektorspalten in der gezeigten Weise gegenüber be­ nachbarten Spalten versetzt angeordnet. Die Strahlungsquelle 2 und das Detektorsystem 6 bilden ein Meßsystem, das um eine Systemachse 10 verlagerbar und entlang der Systemachse rela­ tiv zum Untersuchungsobjekt 1 verschiebbar ist, so daß das Untersuchungsobjekt unter verschiedenen Projektionswinkeln und verschiedenen z-Positionen entlang der Systemachse 10 durchstrahlt wird. Aus den dabei auftretenden Ausgangssigna­ len der Detektorelemente 9 des Detektorsystems 6 bildet ein Datenerfassungssystem 11 Meßwerte, die einem Rechner 12 zuge­ führt werden, der ein Bild des Untersuchungsobjekts 1 berech­ net, das auf einem Monitor 13 wiedergegeben wird.

Während der Spiralabtastung bewegt sich das Meßsystem 2, 6 relativ zum Untersuchungsobjekt 1 kontinuierlich auf der Spi­ ralbahn 14, so lange, bis der zu rekonstruierende Bereich vollständig erfaßt ist. Dabei wird ein Volumendatensatz gene­ riert. Der Rechner 12 berechnet daraus mit einem Interpolati­ onsverfahren einen planaren Datensatz, aus dem sich dann die gewünschten Bilder rekonstruieren lassen.

Fig. 2 zeigt in schematischer Darstellung ein in die Ebene projiziertes, aus einem Array von mehreren Zeilen 7 und Spal­ ten 8 von Detektorelementen 9 gebildetes, herkömmliches De­ tektorsystem 6 in Form eines Rechtecks. Wird beispielsweise bei der Abtastung eines Untersuchungsobjekts der Lagerungs­ tisch für das Untersuchungsobjekt relativ zur Gantry, auf der die Strahlungsquelle und üblicherweise auch das Detektorsy­ stem 6 montiert sind, während einer vollständigen Umdrehung der Gantry um das Untersuchungsobjekt um die Breite Δz des Detektorsystems 6 entlang der Systemachse 10 in z-Richtung verlagert, dann liefern die Detektorelemente 9 des Detektor­ systems 6, die sich in den in Fig. 3 nicht schraffierten Be­ reichen befindenden, für bestimmte Rekonstruktionsverfahren teilweise nicht verwertbare Abtastwerte. Dies resultiert dar­ aus, daß die zugehörigen Bereiche des Untersuchungsobjekts bei jeweils zwei Umläufen des Detektorsystems 6 um das Unter­ suchungsobjekt abgetastet werden. Dies führt weiterhin dazu, daß das Untersuchungsobjekt mit nicht notwendiger, d. h. dia­ gnostisch nicht verwertbarer Strahlendosis belastet wird, daß einzelne Detektorelemente 9 des Detektorsystems 6 ineffizient verwendet werden und daß Artefakte im rekonstruierten Bild entstehen können.

Mit einem erfindungsgemäßes CT-Gerät, das ein Detektorsystem 6 der in der Fig. 4 dargestellten Art aufweist, lassen sich obige Nachteile vermeiden. Der Versatz einzelner Detektor­ spalten 8 in der gezeigten Weise ist einfach und kostengün­ stig zu erreichen, wenn wie im Beispiel gezeigt ganze Detek­ torgruppen 15, 15', aus denen das Detektorsystem 6 aufgebaut ist, gegeneinander versetzt werden. Der jeweilige Versatz um die Breite eines Detektorelements 9 in z-Richtung oder ein ganzzahliges Vielfaches davon (im Beispiel um die Breite von zwei Detektorelementen) ist aufgrund der einfacheren techni­ schen Realisierbarkeit und der Vereinfachung des Rekonstruk­ tionsverfahrens eine bevorzugte Variante der Erfindung. Bei einer weitere Variante der Erfindung ist der Versatz der De­ tektorspalten vor einer Abtastung einstellbar. Hierzu sind die im Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 4 schematisch darge­ stellten Stellmittel 19 vorgesehen. Weiterhin ist anhand von Fig. 4 zu erkennen, daß der dort dargestellten Projektion des Detektorsystems 6 in die Ebene näherungsweise ein Parallelo­ gramm 16 mit zwei zur z-Achse parallelen Seiten umschreibbar ist. Für den Winkel α, den eine nicht zur Systemachse 10 pa­ rallele Gerade des Parallelogramms 16 mit einer zur System­ achse 10 rechtwinkligen Geraden 17 einschließt, gilt für den bevorzugten Anwendungsfall, daß sich bei einer vollständigen Umdrehung der Gantry um das Untersuchungsobjekt der Lage­ rungstisch für das Untersuchungsobjekt entlang der System­ achse relativ zum Detektorsystem exakt um die Erstreckung ei­ ner Detektorspalte in z-Richtung bewegt:

tg α = Δz/2πR

wobei Δz die Erstreckung einer Detektorspalte in z-Richtung und R der Abstand des Detektorsystems von der Systemachse sind.

Es ist jedoch auch ein beliebiger, nicht der Ausdehnung eines Detektorelements in z-Richtung oder einem ganzzahligen Viel­ fachen davon entsprechender Versatz der Detektorspalten 8 wie in Fig. 5 dargestellt möglich. Der höhere Rechenaufwand bei der Rekonstruktion steht dann einer besseren Anpassung an die Idealform eines Parallelogramms 16 des in die Ebene proji­ zierten Detektorsystems 6 gegenüber.

Gemäß einer besonders bevorzugten Variante der Erfindung wird bei einem CT-Gerät gemäß Fig. 1 mit einem Detektorsystem 6 nach der Erfindung mit versetzt angeordneten Detektorspalten der Querschnitt des Strahlenbündels 5 an die Geometrie des erfinderischen Detektorsystems angepaßt. Dies geschieht im Beispiel durch Stellmittel 18, die auf die röhrenseitige Strahlungsblende 4 wirken. Damit läßt sich erreichen, daß we­ nigstens im wesentlichen nur Bereiche des Untersuchungsob­ jekts 1 mit Strahlendosis belastet werden, aus denen Detektorelemente 9 des Detektorsystems 6 Abtastwerte erfas­ sen.

Aus dem Vergleich mit Fig. 3 wird aus Fig. 6 die Verkleine­ rung der teilweise nicht nutzbaren Detektorfläche - in Fig. 6 ebenfalls nicht schraffiert dargestellt - eines Detektorsy­ stems 6 nach der Erfindung bei vorgegebenem Pitch ersicht­ lich.

Die Erfindung ist nicht auf die in den Zeichnungen darge­ stellten Ausführungsbeispiele beschränkt. Sie umfaßt ferner die Abtastung eines Untersuchungsobjekts mit einem anderen als den für ein Detektorsystem nach der Erfindung optimalen Pitch, sowie die Abtastung mit einem Detektorsystem, das vor einer Abtastung durch Versatz einzelner Detektorspalten bzw. Detektorgruppen im Sinne der Erfindung erst für einen ge­ wünschten Pitch optimierbar ist.

Weiterhin ist die Erfindung nicht auf die in den Beispielen beschriebene Ausführungsvariante beschränkt, bei der sich das Detektorsystem zusammen mit der Strahlungsquelle auf einer Gantry montiert um das Untersuchungsobjekt bewegt, sondern ist in analoger Weise auch für feststehende Detektorsysteme anwendbar.

Claims (8)

1. CT-Gerät mit einer Strahlungsquelle (2), welche zur Spi­ ralabtastung eines Untersuchungsobjekts (1) um eine System­ achse (10) verlagerbar ist und ein Strahlenbündel (5) aussen­ det, das auf ein aus einem Array von wenigstens einer Zeile (7) und mehreren Spalten (8) von Detektorelementen (9) beste­ hendes Detektorsystem (6) trifft, wobei eine Lagerungsein­ richtung für das Untersuchungsobjekt und die Strahlungsquelle in Richtung der Systemachse relativ zueinander verstellbar sind, und die so gewonnenen Meßwerte einem von einer Vielzahl von Projektionswinkeln und einer z-Position auf der System­ achse zugeordnet sind und einem Rechner (12) zugeführt sind, welcher daraus Bilder des Untersuchungsobjekts berechnet, und wobei zumindest eine der Spalten (8) von Detektorelementen (9) des Detektorsystems (6) gegenüber der in Drehrichtung der Strahlungsquelle benachbarten Spalte in der Richtung, in der die Lagerungsvorrichtung entlang der Systemachse relativ zu der Strahlungsquelle bewegt wird (z-Richtung), versetzt ist.

2. CT-Gerät mit einem Detektorsystem nach Anspruch 1, bei dem jeweils Arrays von Detektorelementen (9) zu Detektorgruppen (Detektormodulen) (15, 15') zusammengefaßt sind und das De­ tektorsystem (6) aus wenigstens einer Zeile und mehreren Spalten von Detektorgruppen (15, 15') besteht, und wobei zu­ mindest eine Detektorgruppe (15') des Detektorsystems (6) ge­ genüber der in Drehrichtung der Strahlungsquelle benachbarten Detektorgruppe (15) in z-Richtung versetzt ist.

3. CT-Gerät mit einem Detektorsystem nach Anspruch 1 oder 2, bei dem der Versatz der Ausdehnung eines Detektorelements in z-Richtung oder einem ganzzahligen Vielfachen davon ent­ spricht.

4. CT-Gerät mit einem Detektorsystem nach Anspruch 1 oder 2, bei dem der Versatz einem beliebigen, nicht mit der Ausdeh­ nung eines Detektorelements in z-Richtung oder einem ganzzah­ ligen Vielfachen davon übereinstimmenden Wert entspricht.

5. CT-Gerät mit einem Detektorsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem einer Projektion des Detektorsystems (6) in eine Ebene ein Parallelogramm (16) mit zwei zur Systemachse parallelen Seiten zumindest näherungsweise umschreibbar ist und für den Winkel α, den eine nicht zur Systemachse paral­ lele Seite des Parallelogramms und eine in der Ebene lie­ gende, zur Systemachse rechtwinklige Gerade (17) einschlie­ ßen, gilt:
tg α = Δz/2πR
wobei Δz die Erstreckung einer Detektorspalte in z-Richtung und R der Abstand des Detektorsystems von der Systemachse sind.

6. CT-Gerät mit einem Detektorsystem nach einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem der Versatz der Spalten von Detektorelemen­ ten bzw. Detektorgruppen vor einer Abtastung in Abhängigkeit des gewünschten Pitch einstellbar ist.

7. CT-Gerät mit einem Detektorsystem nach Anspruch 5, bei dem einer Projektion des Detektorsystems in eine Ebene ein Paral­ lelogramm (16) mit zwei zur Systemachse parallelen Seiten zu­ mindest näherungsweise umschreibbar ist und für den Winkel α, den eine nicht zur Systemachse parallele Seite des Paral­ lelogramms und eine in der Ebene liegende, zur Systemachse rechtwinklige Gerade (17) einschließen, gilt:
tg α = nd/2πR
wobei n der Pitch, d die Erstreckung eines Detektorelements in z-Richtung und R der Abstand des Detektorsystems von der Systemachse sind.

8. Verfahren zum Betrieb eines CT-Geräts nach einem der An­ sprüche 1 bis 7, bei dem der Querschnitt des von der Strah­ lungsquelle (2) ausgehenden Strahlenbündels (5) durch eine röhrenseitige Strahlungsblende (4) so eingeblendet wird, daß wenigstens im wesentlichen nur der Bereich des Untersuchungs­ objekts von der Strahlung durchdrungen wird, aus dem das De­ tektorsystem (6) Abtastwerte erfaßt.