DE19900833A1 - Schwimmende Federdrucktestsondenhalterung - Google Patents
Schwimmende FederdrucktestsondenhalterungInfo
- Publication number
- DE19900833A1 DE19900833A1 DE19900833A DE19900833A DE19900833A1 DE 19900833 A1 DE19900833 A1 DE 19900833A1 DE 19900833 A DE19900833 A DE 19900833A DE 19900833 A DE19900833 A DE 19900833A DE 19900833 A1 DE19900833 A1 DE 19900833A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test
- plate
- probes
- probe
- probe plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07357—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with flexible bodies, e.g. buckling beams
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Input Circuits Of Receivers And Coupling Of Receivers And Audio Equipment (AREA)
Abstract
Testhalterung für eine bedruckte Schaltkreiskarte mit einer Anordnung von Testsonden und einer festen Sondenplatte und einer oberen Platte für eine Bewegung von der Sondenplatte weg und zur Sondenplatte hin. Die Sondenplatte und die obere Platte besitzen ausgewählte Anordnungen von Löchern für den Durchgang der Testsonden durch die Sondenplatte und die obere Platte zum Kontaktieren von Testpunkten auf der bedruckten Schaltkreiskarte, die auf einem Ende der Testhalterung gehalten wird. Eine Sondenhalteplatte ist unterhalb der oberen Platte im Bereich der Testsonden angeordnet, um zu verhindern, daß die Testsonden aus der Sondenplatte herauskommen. Die Halterung umfaßt ferner eine Abstandsplatte, die Schnittstellensonden umfaßt, um die Halterung von einer verdrahteten zu einer drahtlosen Testhalterung umzuwandeln.
Description
Die vorliegende Erfindung ist eine Teilfortführung der am 11. September 1997 ein
gereichten Anmeldung Nr. 08/927 191.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf eine Schaltkreistestvorrich
tung für bedruckte Schaltkreiskarten und insbesondere auf Schaltkreistesthalterungen mit
einer stationären Sondenplatte und einer beweglichen oberen Platte mit einer Mehrzahl
vorgespannter Federdrucktestsonden, die in der Halterung frei zwischen der zu testenden
Einheit und der Schnittstelle zur Testelektronik schwimmen.
Automatische Testeinrichtungen zum Prüfen von bedruckten Schaltkreiskarten
verwenden seit langer Zeit eine "Nagelbett"-Halterung, an der die Schaltkreiskarte wäh
rend des Testens montiert wird. Diese Testhalterung umfaßt eine große Zahl von vorge
spannten Federdrucktestsonden, die so angeordnet sind, daß sie unter dem Federdruck
einen elektrischen Kontakt mit vorgegebenen Testpunkten auf der zu testenden Schalt
kreiskarte bilden. Jeder vorgegebene Schaltkreis, der auf einer bedruckten Schaltkreiskarte
implementiert ist, ist wahrscheinlich von jedem anderen Schaltkreis verschieden, und folg
lich muß die Nagelbettanordnung zum Kontaktieren von Testpunkten einer vorgegebenen
Karte speziell für diese Karte angepaßt werden. Wenn der zu testende Schaltkreis entwor
fen wird, wird eine Anordnung von Testpunkten, die bei der Überprüfung der Karte ver
wendet werden, ausgewählt, und eine entsprechende Anordnung von Testsonden wird in
der Testhalterung angeordnet. Dies verlangt im allgemeinen das Präzisionsbohren einer
Löcheranordnung in einer Sondenplatte, die mit der Anordnung der Testsonden überein
stimmen sollen, und das anschließende Montieren der Testsonden in den Bohrlöchern der
Sondenplatte. Die Schaltkreiskarte wird dann auf der Halterung montiert und über der An
ordnung der Testsonden angeordnet. Während des Testens werden die vorgespannten
Federdrucktestsonden in einen durch die Federn erzeugten Druckkontakt mit den Test
punkten der zu testenden Karte und mit dem Äußeren der Halterung zur Kommunikation
mit einem sehr schnellen, elektronischen Testanalysator in Kontakt gebracht, der den
Durchgang oder das Fehlen des Durchgangs zwischen den verschiedenen Testpunkten in
den Schaltkreisen auf der Karte feststellt.
Verschiedene Lösungen wurden in Vergangenheit verwendet, um die Testsonden
in Druckkontakt mit der Schaltkreiskarte zum Schaltkreistesten zu bringen. Eine Klasse
von solchen Halterungen sind die verdrahteten Testhalterungen, bei denen die Testsonden
einzeln mit getrennten Schnittstellenkontakten verdrahtet sind, die bei der Übertragung von
Testsignalen von den Sonden zu dem externen Testanalysator verwendet werden. Diese
verdrahteten Testhalterungen werden oft als "Vakuumtesthalterungen" bezeichnet, da
während des Tests ein Vakuum an das Innere des Halterungsgehäuses angelegt wird, um
den Schaltkreis in Kontakt mit den Testsonden zu ziehen. Testhalterungen des pneumati
schen oder mechanischen Typs sind ebenfalls üblich. Bei einer Vakuumhalterung wird eine
bewegliche obere Platte über der stationären Sondenplatte montiert, und eine Vakuumdich
tung wird zwischen der oberen Platte und der Sondenplatte gebildet. Eine zweite Vakuum
dichtung wird über der oberen Platte montiert und besitzt eine ausreichende Höhe, um die
bedruckte Schaltkreistafel über den Sondenfedern zu halten, die durch in der oberen Platte
gebohrte Zugangslöcher vorstehen, um mit der Unterseite der Karte in Ausrichtung zu
kommen. Während der Verwendung wird das an den Bereich zwischen der Sondenplatte
und der oberen Platte angelegte Vakuum auch an die Unterseite der Karte angelegt. Dies
druckt beide Vakuumdichtungen zusammen und zieht die Karte nach unten gegen die Test
sonden und erreicht einen elektrischen Kontakt mit diesen. Durch Halten der Vakuumdich
tung werden die Sonden somit in einem Federdruckkontakt mit den Testpunkten auf der
Karte gehalten, während die Karte getestet wird.
Damit die Sonden mit den richtigen Testpunkten der Schaltkreiskarte in Kontakt
kommen, müssen die untere, stationäre Sondenplatte und die bewegliche, obere Platte, die
die Karte trägt, parallel zueinander bleiben, um die Karte flach zu halten, während ihre
Position senkrecht zum Sondenfeld verbleibt. Es ist also eine zuverlässiges Vakuumdich
tung vonnöten.
Eine weitere Klassen von Testhalterungen wird "festgeschaltete" Testhalterung,
auch als "Testhalterung des Gittertyps" bekannt, bezeichnet, bei der eine beliebige An
ordnung von Testpunkten auf einer Karte von Übertragungsstiften kontaktiert werden, die
Testsignale zu Schnittstellenstiften übertragen, die in einem Gittermuster in einem Emp
fänger angeordnet sind. Bei den Testern des Gittertyps ist die Halterung im allgemeinen
weniger kompliziert und einfacher als in den kundenspezifisch verdrahteten Testhalterun
gen; jedoch sind bei einem Gittersystem die Gitterschnittstellen und die Testelektronik
wesentlich komplizierter und teuerer. Die Schnittstellenstifte sind im allgemeinen einendige
Federdrucksonden, die in dem Empfänger gelagert sind.
Die Federdrucksonden der Vakuumhalterungen und der Gittertyphalterungen wer
den entsprechend zwei bekannten Verfahren in den Halterungen gehalten. Bei einem ersten
Verfahren umfaßt der Aufnehmer der Federdrucksonde einen Druckring und ist fest in
einem Loch in der Sondenplatte montiert. Der Druckring hält den Aufnehmer und folglich
die Federsonde in der Halterung fest. Arretierungen in dem Aufnehmer ermöglichen dem
Sondenkolben in dem Aufnehmer eingesetzt und aus diesem gelöst zu werden. Die elektri
sche Verbindung mit der Sondenanordnung wird allgemein unter Verwendung eines Wi
rewraps um einen in dem Aufnehmer angeordneten, quadratischen Stift durchgeführt. Wei
tere übliche elektrische Verbindungen werden mittels geklemmten Drähten, Druck
anschlüssen oder durch Löten der Drähte an den Aufnehmer durchgeführt. Doppelendige
Federdrucksonden werden ebenfalls beim Gittertesten verwendet, wobei der Aufnehmer
der doppelendigen Federdrucksonden fest durch einen Druckring an der Sondenplatte
befestigt ist. Die elektrische Verbindung mit der doppelendigen Federdrucksondenanord
nung wird im allgemeinen unter Verwendung einer intern angeordneten, bedruckten
Schaltkreiskarte erreicht. Die Sonde kontaktiert an einem Ende die zu testende Einheit,
während der andere Endkontakt der Sonde einen elektrischen Kontakt mit der festen, be
druckten Schaltkreiskarte bildet.
Ein zweites Verfahren zum Festhalten der Testsonden besteht in der Verwendung
einer Mylarfolie, wobei sich die Federdrucksonden durch Löcher in der Aufnahme- oder
Sondenplatte hindurchgehen und von der Mylarfolie gehalten werden, die fest unter der
Aufnahme- und Sondenplatte gehalten wird. Die Federdrucksonden umfassen eine breite
Vertiefung, die einen Ring mit verringertem Durchmesser auf der Sondentrommel bildet,
und die Mylarfolie paßt in die Vertiefung, was der Sonde ermöglicht, sich bezüglich der
Aufnahme- oder Sondenplatte entsprechend der Höhe der Vertiefung auf- und abzubewe
gen.
Diese beiden Typen von Federdrucksondenhaltesystemen haben Nachteile aufgrund
der derzeitigen Entwicklungen bei den Testverfahren für bedruckte Schaltkreiskarten. Ein
Problem ist die Tatsache, daß gegenwärtige Sonden/Aufnehmeranordnungen zu Ungenau
igkeiten neigen. Der Aufnehmer kann unter einem Winkel in dem Loch durch die Auf
nahme- oder Sondenplatte angeordnet sein ober kann um den Druckring in dem Loch kip
pen oder sich drehen. Weiterhin können Ungenauigkeiten entstehen aufgrund der Höhe, in
der der Druckring in der Aufnahme- oder Sondenplatte angeordnet ist. Zusätzlich ist die
Sonde in einer Trommel innerhalb des Aufnehmers angeordnet, was Ungenauigkeiten auf
grund von Materialänderungen und der Notwendigkeit eines Spiels für das Gleiten des
Sondenkolbens in der Trommel und das Gleiten der Trommel in dem Aufnehmer erzeugt.
Ein weiteres Problem besteht darin, daß durch die Tatsache, daß zwei Röhren konzentrisch
montiert sind, die verfügbare Fläche für die Feder verringert wird, was eine mögliche hö
here Federkraft und die Lebensdauer der Federn für die Sonden verringert. Weiterhin steht
die Verwendung von Federdrucksonden mit einem Aufnehmer mit einem Druckring dem
zunehmenden Miniaturisierungstrend entgegen. Die vorstehenden Druckringe auf den Auf
nehmern verringern die Möglichkeit eines geringen Abstands der Federdrucksonden, was
unerwünscht ist, wenn die erforderliche Stiftdichte erhöht werden muß, um mit der hohen
Dichte von Testpunkte in Übereinstimmung zu kommen.
Ein weiteres Problem besteht darin, daß doppelendige Federdrucksonden aufgrund
der geringen Größe der unteren Sonde und des Zusammensetzverfahrens leicht beschädigt
werden können. In den meisten Fällen werden die Platte, die die doppelendigen Sonden
hält, und die feste bedruckte Schaltkreistafel unter Verwendung von Stehstiften (Stand-
offs) montiert. Wenn die Schrauben, die die gedruckte Schaltkreistafel durch die Stehstifte
(Stand-offs) in ihre Position ziehen, nicht gleichmäßig angezogen werden, werden die Son
den beschädigt oder gehen kaputt. Das kann ein ernsthaftes Problem sein, wenn die draht
losen Befestigungen wieder demontiert werden müssen, um die zerbrochenen oder be
schädigten Federdrucksonden zu ersetzen.
Der gegenwärtige Miniaturisierungstrend hat dazu geführt, nicht reinigende Fluß
mittel für elektrische Verbindungen zu verwenden. Die Verwendung diese Typs von Fluß
mittels führt tendenziell zu einer höheren Verschmutzung, die die Testkarten bedeckt, was
das Erreichen eines zuverlässigen elektrischen Kontakts schwieriger macht. Die industrielle
Lösung besteht darin, eine höhere Federkraft und/oder schärfere Sonden zu verwenden. Es
ist jedoch leider schwierig, mit den herkömmlichen Federdrucksonden mit ihrem geringen
Durchmesser eine geeignete hohe Federkraft zu erreichen.
Ein weiteres Problem mit herkömmlichen Testhalterungen liegt aufgrund der ge
genwärtigen Verfahren zum Halten der Federdrucksonden in hohen Kosten. Die zusätzli
chen Herstellungsschritte, die zum Rollformen einer Vertiefung in der Trommel zur Ver
wendung mit einer Mylarfolie notwendig sind, oder die Herstellungsschritte für Druckringe
werden vervielfacht, wenn man die Tausenden von Testsonden betrachtet, die in einer
speziellen Testhalterung verwendet werden können. Zusätzlich sind doppelendige Sonden
von Natur aus teurer. Folglich besteht eine Notwendigkeit für ein verbessertes Verfahren
zum Halten von Testsonden innerhalb einer Testhalterung, das die Probleme, die bei den
Verfahren nach dem Stand der Technik auftreten, löst.
Diese und weiterer Probleme werden entsprechend der vorliegenden Erfindung
durch die in den beigefügten Patentansprüchen definierte Schaltkreistesthalterung zum
Testen von bedruckten Schaltkreiskarten gelöst.
Insbesondere schafft ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung eine
Schaltkreistesthalterung zum Testen von bedruckten Schaltkreiskarten. Die Halterung
besitzt eine Vakuumkammer zwischen einer stationären Sondenplatte und einer bewegli
chen, oberen Platte. Getrennte, einstellbare, lineare Lager, die sich in jedem Quadranten
der Halterung befinden, sorgen für eine parallele Ausrichtung zwischen der beweglichen,
oberen Platte und der Sondenplatte. Eine durchgehende, eingeschlossene Vakuumdich
tung, die sich zwischen der Sondenplatte und der oberen Platte befindet, umgeht die Lager,
so daß sich die Lager außerhalb der unter Vakuum stehenden Fläche befinden. Aufnehmer
lose Federdrucktestsonden erstrecken sich durch Löcher in der Probenplatte und die obere
Platte für einen Zugriff auf die bedruckte Schaltkreiskarte, die von einer zweiten Dichtung
auf der oberen Platte gehalten wird. Die Sonden erzeugen durch Federdruck einen elektri
schen Kontakt mit der Karte, wenn die obere Platte durch ein auf die Unterseite der oberen
Platte wirkendes Vakuum nach unten zu den Sonden bewegt wird. Die obere Platte wird
an der Sondenplatte durch getrennte, schnell öffnende Schnallen befestigt, die sich durch
die linearen Lager erstrecken. Das Lösen der Schnallenverbindungen an den Lagern er
möglicht der oberen Platte eine Bewegung in einer Ebene, die mit der Ebene der oberen
Platte zur Verwendung bei einer genauen Ausrichtung der zu testenden Karte mit dem
Sondenfeld aufgerichtet ist.
Eine getrennte Trägerplatte (beef plate) und eine Abstandsplatte sind unter der
Sondenplatte angeordnet und umfassen ebenfalls einer Mehrzahl von Löchern zum Führen
der Federdrucksonden. Ein Abstand besteht zwischen der unteren Oberfläche der Sonden
platte und der oberen Oberfläche der Trägerplatte (beef plate), in dem sich eine dünne,
flexible Sondenhaltefolie befindet, die vorzugsweise ein elastomere Material umfaßt und im
wesentlichen in einem Abstand zwischen der Sondenplatte und der Trägerplatte (beef pla
te) schwimmt. Die Sondenhaltefolie besitzt eine vorgefertigte Anordnung von Löchern, die
eine der Größe der Testsonden entsprechende Größe besitzen, die sich durch die Folie
erstrecken, was durch die elastomeren Eigenschaften der Folie um die Öffnungen herum
das natürliche Ausüben einer Druckkraft um die Testsonden herum bewirkt. Diese Druck
kraft hält die Sonden in der Halterung fest und ist unabhängig von den Halterungsplatten
beweglich, so daß die Druckkraft, die auf die Federdrucksonden wirkt, den Sonden er
möglicht, sich mit der Sondenfesthaltefolie unabhängig von den anderen Federdrucksonden
und der Sondenplatte der Halterung zu bewegen. Alternativ wird eine Stiftfesthalteplatte
mit einer in die Platte gebohrten Lochanordnung, die der Anordnung in den anderen Plat
ten der Halterung entspricht, über der Probenplatte zum Halten der Testsonden angeord
net.
Durch Beseitigen der Notwendigkeit für einen Aufnehmer für die Federdruckson
den wird eine höhere Genauigkeit ermöglicht, indem die bei dem Aufnehmer auftretenden
Probleme beim Zusammenbau und die durch das durch den Aufnehmer in Halterungen
nach dem Stand der Technik ermöglichte Kippen auftretenden Probleme beim Zusammen
bau beseitigt werden. Die Federdrucksonden sitzen jetzt in durch die Sondenplatte gebohr
ten Löchern, und ihre Anordnung ist so genau wird die gebohrten Löcher. Da kein Auf
nehmer mehr für die Sonden benötigt wird, ist das Spiel zwischen der Sondentrommel und
dem Aufnehmer beseitigt. Der zusätzliche Vorteil einer größeren Federkraft wird nun er
möglicht, da der Aufnehmer beseitigt worden ist, wodurch eine Vergrößerung der Sonden
ermöglicht wird, was das Erreichen einer größeren Federkraft und die Verwendung von
robusteren Sonden ermöglicht. Mit der Zunahme der Federkraft wird auch die Federle
bensdauer und somit die Sondenlebensdauer beträchtlich erhöht. Der hier vorgestellte Ent
wurf verringert auch die Kosten, indem die Notwendigkeit für doppelendige Federdruck
sonden oder die zusätzlichen Herstellungsschritte beseitigt werden, die mit dem Rollformen
einer Vertiefung in der Trommel oder den Druckringen verbunden sind. Zusätzlich ermög
licht die Testhalterung des hier vorgestellten Entwurfs, eine Halterung mit einem niedrige
ren Profil, die weniger Lagerplatz benötigt.
Die neuartigen Konzepte der vorliegenden Erfindung können auch bei Gittertestern
verwendet werden, um die Testsonden in dem Testblock oder Aufnehmer festzuhalten,
indem eine standardmäßige, einendige Federdrucksonde verwendet wird, die in der Gitter
anordnung von Löchern in dem Aufnehmer angeordnet sind und wahlweise von einer Son
denhaltefolie gehalten werden, die in dem Aufnehmer angeordnet ist. Die Sondenhaltefolie
würde in einem Zwischenraum zwischen der oberen und der unteren Platte des Aufnehmers
angeordnet sein. Das erfindungsgemäße Konzept kann auch auf verdrahtete Testhalterun
gen und umwandelbare verdrahtete/drahtlose Testhalterungen zur Testsondenhalterung
verwendet werden.
Diese und weitere Gesichtspunkte der vorliegenden Erfindung werden durch die
Bezugnahme auf die nachfolgende, detaillierte Beschreibung und die beigefügten Zeichnun
gen besser verdeutlicht.
Fig. 1 ist ein schematisches Diagramm, das in einer teilweise perspektivischen An
sicht eine Vakuum-Schaltkreistesthalterung nach den Prinzipien der vorliegenden Erfin
dung zeigt.
Fig. 1A ist eine teilweise perspektivische Ansicht der Halterung der Fig. 1, die eine
Stifthalteplatte anstelle einer Stifthaltefolie verwendet.
Fig. 1B ist eine teilweise Vorderansicht einer alternativen Stifthalteanordnung, die
speziell geformte Sondenspitzen und entsprechende Sondenlöcher in der oberen Platte
verwendet.
Fig. 2 ist eine schematische Ansicht einer ersten, alternativen Ausführungsform
einer verdrahteten Vakuumtesthalterung.
Fig. 2A eine schematische Ansicht einer zweiten, alternativen Ausführungsform
einer umwandelbaren verdrahteten/drahtlosen Testhalterung.
Fig. 3 ist ein teilweise Vorderansicht einer zweiten, alternativen Ausführungsform,
die das erfindungsgemäße Konzept zur Verwendung in einem Aufnehmer für einen uni
versellen Gittertester zeigt.
Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht, die eine Ausführungsform einer Testhalte
rung 10 nach den Prinzipien der vorliegenden Erfindung zeigt. Die Halterung umfaßt ein
rechtwinkliges Vakuumgehäuse mit einer Trägerplatte (beef plate) 12 und einer Vakuum
kammerunteranordnung 14, die über der Trägerplatte (beef plate) montiert ist. Auch wenn
die vorliegende Erfindung hier als eine Halterung des Vakuumtyps beschrieben ist, ist klar,
daß die Erfindung auch auf andere Typen von Kartenhalterungen, wie etwa pneumatisch
oder mechanisch betriebene Halterungen, Anwendung finden kann. Die Vakuumkammer
unteranordnung 14 umfaßt eine rechtwinklige Vakuumkammer, die durch eine aufrechte,
rechtwinklige Wand 16 geformt wird, die sich um den Umfang der Halterung 10 erstreckt.
Die Unterseite der Vakuumkammer wird durch eine stationäre, rechtwinklige, steife Son
denplatte 18 geformt, die die äußere Wand 16 einschließt. Die Unteranordnung umfaßt
außerdem eine flache, rechtwinklige, bewegliche, obere Platte 20, die auf einer Gehäuse
dichtung 22 innerhalb der Wand der Vakuumkammer aufliegt. Die obere Platte erstreckt
sich oberhalb und parallel zur Ebene der Sondenplatte 18. Eine Mehrzahl von aufnehmerlo
sen Federdrucktestsonden 24 (der Einfachheit halber sind nur ein paar gezeigt) sind durch
getrennte, durch die Trägerplatte (beef plate), die Sondenplatte und die bewegliche, obere
Platte gebohrte Löcher montiert. Die Löcher 26 sind durch die Platten der Halterung präzi
sionsgebohrt. Die Testsonden 24 erstrecken sind nach oben durch die bewegliche, obere
Platte und bilden Kontakte mit den Testkontaktpunkten auf der zu testenden Einheit 28.
Die Löcher in der Sondenplatte sind vorzugsweise im Durchmesser größer als der Durch
messer der Federdrucksonden. Die Löcher sind vorzugsweise größer, um zu verhindern,
daß die Federdrucksonden hängenbleiben, wenn es eine Fehlausrichtung zwischen der
Sondenplatte und der oberen Platte gibt.
Einige Merkmale einer Vakuumtesthalterung sind wohlbekannt und in der Technik
üblich, so daß sie hier nicht gezeigt sind. Diese umfassen eine Vakuumverbindung zum
Inneren der Halterung zum Erzeugen eines Vakuums in dem Vakuumkammerraum zwi
schen der beweglichen, oberen Platte und der stationären Sondenplatte. Die Halterung
umfaßt weiterhin lineare Lageranordnungen mit schnell öffnenden Laschen zum Bewegen
der oberen Platte, wie sie im Stand der Technik bekannt sind und in US-A-5 422 575 ge
zeigt und beschrieben sind. Die Offenlegung dieses Dokuments wird hierin durch Bezug
nahme mit aufgenommen.
Die zu testende Einheit 28 ist oberhalb der oberen Platte 20 angeordnet und liegt
auf einem weiteren Vakuumdichtungsgehäuse 30 auf (Es mag bestimmte Situationen ge
ben, bei denen die zu testende Einheit direkt auf der Oberseite der Testsonden angeordnet
wird und eine Kraft auf die zu testende Einheit wirkt, um eine elektrische Verbindung wäh
rend des Testens zu erzeugen.) Die gezeigte, zu testende Einheit ist eine bestückte Schalt
kreiskarte. Eine an der oberen Platte befestigte Vakuumdichtung 30 umgibt das Sondenfeld
und trägt die Karte oberhalb der Spitzen der Testsonden 24 und von diesen entfernt. Die
Sonden sind zum Kontakt mit den Testpunkten auf der zu testenden Einheit ausgerichtet,
und wenn in der Vakuumkammer ein Vakuum erzeugt wird, wirkt das Vakuum auch auf
den Zwischenraum unter der Karte und oberhalb der oberen Platte. Dies druckt die Karte
nach unten in einen elektrischen Kontakt mit den Testsonden zur Durchführung eines Leit
fähigkeitsdurchgangstests. Wie festgestellt, wird die obere Platte 20 für ihre Bewegung
von und zu der Sondenplatte auf einem System von aufrechten, linearen Lagern (nicht
gezeigt) gehalten, wobei sich die Lager vorzugsweise in um den Umfang der Testhalterung
herum angeordneten Quadranten befinden. In einer bevorzugten Anordnung befinden sich
die Lager in den vier Ecken der Sondenplatte 28. Die linearen Lager halten die obere Platte
in einer festen Position bezüglich der Sondenplatte, so daß die auf der oberen Platte gehal
tene Schaltkreiskarte genau mit dem Sondenfeld ausgerichtet ist.
Unterhalb der Trägerplatte (beef plate) ist eine Abstandsplatte 32 angeordnet, die
ebenfalls eine Mehrzahl von Löchern aufweist, die Abstandsstifte 34 enthalten. Betrachtet
man als zu testende Einheit eine bestückte Schaltkreiskarte, können die Testkontaktflecken
oder Testorte unterschiedliche Höhen entlang der zu testenden Einheit besitzen. Wenn alle
Federdrucksonden 24 dieselbe Lange besitzen, werden Abstandsstifte 34 unterschiedlicher
Länge verwendet, um die unterschiedlichen Höhen der Testorte auszugleichen. Alternativ
können Federdrucksonden 24 verschiedener Länge ohne die Abstandsstifte verwendet
werden und würden sich durch die Löcher in der Abstandsplatte erstrecken.
Die Abstandsstifte oder alternativ, wenn keine Abstandsstifte verwendet werden,
die Federdrucksonden stehen in elektrischem Kontakt mit einer bedruckten Schaltkreiskar
te 36, die sich unterhalb der Abstandsplatte befindet, die elektrisch mit einem externen
elektronischen Testanalysator (nicht gezeigt) verbunden ist, zum Leitfähigkeitsdurchgangs
testen auf der Karte auf in der Technik wohlbekannte Weise. Der Testanalysator enthält
elektronische Abfrageschaltkreise, um elektronisch getrennte Testpunkte auf der zu te
stenden Einheit abfragen zu können, um festzustellen, ob es eine elektrische Verbindung
zwischen zwei beliebigen, gegebenen Testorten gibt. Die festgestellten, elektrischen Ver
bindungen zwischen den Testpunkten auf der getesteten Karte werden elektronisch mit
gespeicherten Bezugsergebnissen verglichen, die von vorherigen Abfragen von Testpunk
ten oder einer fehlerfreien bedruckten Referenzschaltkreistafel erhalten wurden. Die gete
stete Karte ist gut, wenn die Testergebnisse mit den gespeicherten Referenzergebnissen
übereinstimmen. Wenn jedoch Probleme in den Schaltkreisen auf der Karte existieren, wird
das Problem durch die Testergebnisse festgestellt, und schlechte Karten können dann von
den guten Karten getrennt werden.
Das Testsondenhaltesystem nach der vorliegenden Erfindung umfaßt eine Sonden
haltefolie 38, die in einem Zwischenraum 40 zwischen der oberen Oberfläche der Träger
platte (beef plate) 12 und der unteren Oberfläche der Sondenplatte 18 angeordnet ist. Öff
nungen sind in der Sondenhaltefolie 38 entweder durch Bohren von Löchern oder durch
Schneiden von Schlitzen durch die Folie für die Federdrucksonden 24 geformt. Die Son
denfesthaltefolie umfaßt vorzugsweise eine dünne, flache, flexible Folie eines Gummimate
rials mit geschlossenen Zellen, welches entweder synthetischen Gummi oder Naturgummi
umfassen kann. Der bevorzugte Gummi ist ein Latexgummi, der sowohl einen natürlichen
als auch einen Kunstlatex umfassen kann. Auch wenn Gummi das bevorzugte Material für
die Sondenhaltefolie ist, können auch andere Materialien für die Folie verwendet werden,
solange das Material die Federdrucksonden in der Sondenplatte festhalten kann. Beispiele
solcher Materialien können offenzelliges Urethan, das allgemein unter dem Handelsnamen
Poron verkauft wird, zellenformiges Neopren oder Silikonschaum sein. Eine elastomere
Folie ist nützlich wegen ihrer Fähigkeit, eine elastische Druckkraft auf die Testsonden
auszuüben.
Die Halterung wird durch Drauflegen der Latexfolie auf die obere Oberfläche der
Trägerplatte (beef plate) innerhalb der Öffnung 40 zusammengesetzt, wobei der Latexfolie
ermöglicht wird, auf der oberen Oberfläche der Trägerplatte (beef plate) aufzuliegen, ohne
an der Trägerplatte (beef plate) zu haften. Die flexible, elastomere Folie haftet insbesonde
re dort nicht an der Trägerplatte (beef plate), wo die Testsonden durch die Folie gehen.
Die Folie ist daher frei beweglich oder "schwimmt" in der Öffnung mit den Testsonden von
der Trägerplatte (beef plate) weg oder zu ihr hin. Einstellstifte (tooling pins) (nicht gezeigt)
könnten zum Ausrichten der Stifthaltefolie verwendet werden und würden sich auf der
Trägerplatte (beef plate) befinden und durch eine oder mehrere Ecken der Folie gehen.
Die Öffnungen durch die Sondenhaltefolie sind so, daß sie der Anordnung der
durch die Trägerplatte (beef plate) und die Sondenplatte gebohrten Löcher entsprechen.
Die Federdrucksonden werden dann durch die Öffnungen in der Sondenhaltefolie einge
setzt. Die in der Folie gebohrten Löcher besitzen eine geringere Größe als der äußere
Durchmesser der Federsonden. Die Öffnungen in der Sondenhaltefolie werden mit einem
Standardbohrstift gebohrt, der keine kreisförmigen Löcher in der Folie sondern allgemein
S-förmige, geschlitzte Öffnungen (als irregulär geformte, geschlitzte Öffnungen bezeich
net) formt. Wenn sich der Bohrstift dreht, schneidet er in die Folie, und die Folie bewegt
sich weg, was die allgemein S-förmige Öffnung mit flexiblen, elastischen Flügeln auf ge
genüberliegenden Seiten übrigläßt. Die Flügel hängen elastisch an den Seiten der Testson
den und erzeugen die elastischen, komprimierenden Festhaltkräfte, die die Sonden auf
ihrem Platz halten. Die Öffnungen werden bezüglich des äußeren Durchmessers der Son
den als zu klein bezeichnet, da der Querschnitt der offenen Fläche der allgemein S-förmi
gen, geschlitzten Öffnungen geringer ist die Querschnittsfläche der Testsonden. Vorzugs
weise umfaßt die Sondenhaltefolie eine flexible Folie aus Naturlatex als elastomeren Gum
mi mit geschlossenen Zellen mit einer Dicke von etwa 0,020 bis etwa 0,040 Zoll (etwa
0,508 bis etwa 1,16 mm) und vorzugsweise mit einer Dicke von ungefähr 0,030 Zoll (un
gefähr 0,762 mm).
Die Vorteile einer Sondenhaltefolie nach der vorliegenden Erfindung liegen darin,
daß das elastomere Gummimaterial aus Latex eine hohe Reißfestigkeit und eine gute Ge
dächtnisfunktion (Rückrührkraft) besitzt und ein ausgesprochen preiswertes Material ist.
Während der Verwendung erzeugt das elastische Material auch einen hohen Wert von
seitlicher Haltekraft an den Seiten der Testsonden, die ausreicht, um die Sonden in der
Halterung auf ihrem Platz zu halten, und dies unabhängig von anderen strukturellen Kom
ponenten der Halterung. Die Haltefolie kann sich außerdem frei mit der Bewegung der
Testsonden, wenn als benachbarte Sonden benachbarte Kontaktflecken unterschiedlicher
Höhe auf der zu testenden Karte kontaktieren, nach oben und nach unten bewegen.
In bestimmten Fällen verhindert eine elastische Stifthaltefolie nicht, daß die Test
sonden in der Halterung angehoben werden, wenn sich die bewegliche, obere Platte nach
oben bewegt. Zum Beispiel kann die meißelförmige Spitze einer Sonde in einem Testpunkt,
der eine Lötkugel ist, oder in einem Durchgangsloch in der zu testenden Einheit festklem
men. In diesen Fälle ist ein sichereres Sondenhalteverfahren notwendig, um eine angemes
sene Stifthaltekraft auszuüben, um zu verhindern, daß die Sonden auf unerwünschte Weise
in der Halterung angehoben werden. Eine Lösung dieses Problems besteht in der in Fig. 1A
gezeigten Stifthalteplatte 42. Diese Platte 42 besteht vorzugsweise aus Lexan oder einem
g-10-Material und ist über der Sondenplatte 18 angeordnet und umfaßt eine Anordnung
von dadurch gebohrten Löchern, die der Lochanordnung in der Sondenplatte entspricht.
Die Löcher in der Halteplatte 42 sind etwas kleiner oder gleich dem Durchmesser der
Trommel 44 der Testsonden. Wenn die Löcher kleiner sind, sind die Trommeln unter der
Halteplatte 42 eingefangen, jedoch wird dem Kolben 46 der Testsonden ermöglicht, hin
durchzugehen, wodurch die Sonden in der Halterung festgehalten werden. Wenn die Lö
cher im Durchmesser gleich dem der Trommeln sind, ist es möglich, Sonden durch Drücken
oder Ziehen durch Löcher einzusetzen oder zu entfernen. Die geringe Reibung zwi
schen Sondentrommel und dem Loch kann manuell überwunden werden, ist aber immer
noch ausreichend, um zu verhindern, daß die Sonden während des Betriebs der Halterung
hinausgezogen werden.
Die Halteplatte 42 ist mittels Führungsstiften 43 und Federn 45 an der beweglichen,
oberen Platte befestigt. Die Führungsstifte 43 sind an der Unterseite der oberen Platte
festgeschraubt, und die Federn sind um einen Bereich mit verringertem Durchmesser der
Führungsstifte herum angeordnet. Der Bereich mit verringertem Durchmesser der Füh
rungsstifte erstreckt sich durch in der Halteplatte gebohrte Löcher, und der Bereich mit
vergrößertem Durchmesser der Führungsstifte erstreckt sich durch in der Sondenplatte 18
gebohrte Löcher. Ein Lager (rulon bearing) 47 ist in den Löchern in der Sondenplatte um
die Führungsstifte herum angeordnet. Die Halteplatte wird durch mehrere Federn gegen
die Sondenplatte gehalten. Die Federn legen ständig einen Druck nach unten an die Halte
platte an, und dies insbesondere dann, wenn sich die obere Platte nach oben bewegt, wenn
es also am dringendsten notwendig ist, ein Herausziehen der Sonden oder ein Festhängen
an der zu testenden Einheit zu verhindern. Die Halteplatte kann leicht von der Halterung
einfach durch Entfernen der oberen Platte entfernt werden. Alternativ kann die Halteplatte
42 in der Halterung gehalten werden, indem sie an die obere Oberfläche der Sondenplatte
18 geschraubt ist.
Ein weiterer Entwurf zum Verhindern des Sondenherausziehens ist in Fig. 1B ge
zeigt. Bei diesem Aufbau umfassen die Testsonden 51 ein speziell geformte oder abgestufte
Sondenspitze 53. Die bewegliche, obere Platte 55 ist so durchbohrt, daß sie Löcher 57 mit
spezieller Formung oder Abstufung aufweist, um mit den speziell geformten Sondenspitzen
zusammenzuwirken, um die Testsonden in der Halterung zu halten. Bei diesem Aufbau ist
keine zusätzliche Halteplatte notwendig. Auch wenn die Verwendung von Halteplatten
oder speziell geformten Sondenspitzen und Löchern in der oberen Platte zum Halten der
Stifte in den aufnehmerfreien Halterungen nach der vorliegenden Erfindung gezeigt wurde,
ist klar, daß diese Konzepte zum Halten von Stiften gleichfalls in anderen Typen von Test
halterungen, die Testsonden mit Aufnehmern verwenden, angewendet werden können. Ein
weiterer Vorteil dieser Stifthaltekonzepte besteht darin, daß sie ermöglichen, daß die volle
Federkraft in den Testsonden für den Kontakt der Sonden sowohl mit der Spitze der Son
de, wo sie die zu testende Einheit kontaktiert, als auch mit der Unterseite der Sonde, wo
sie entweder einen weiteren Stift oder die untere bedruckte Schaltkreiskarte der Halterung
kontaktiert, zur Verfügung stellen.
Auch wenn die in den Fig. 1, 1A und 1B gezeigte Erfindung für die Verwen
dung in Verbindung mit einer drahtlosen Testhalterung ist, können die erfindungsgemäßen
Konzepte auch auf eine verdrahtete Testhalterung 50 angewendet werden, wie in Fig. 2
gezeigt ist. Die verdrahtete Halterung 50 umfaßt ein rechtwinkliges Vakuumgehäuse 52
mit einer rechtwinkligen Vakuumkammer, die durch eine aufrechte, rechtwinklige Wand 54
geformt wird, die sich um den Umfang der Halterung erstreckt. Die Unterseite der Vaku
umkammer wird von einer stationären, rechtwinkligen Gratsondenplatte (ridge probe plate)
56 innerhalb des Umfangs der äußeren Wand gebildet. Die Halterung umfaßt außerdem
eine bewegliche, obere Platte 58, die sich oberhalb und parallel zu der Sondenplatte er
streckt. Eine Mehrzahl von unter Federdruck stehenden Testsonden 60, von denen der
Einfachheit halber nur eine gezeigt ist, sind in der Halterung angeordnet und erstrecken
sich durch Löcher in der Sondenplatte und der beweglichen, oberen Platte. Die Testsonden
sind herkömmliche, unter Federdruck stehende Testsonden, wie sie in der Technik wohlbe
kannt sind. Die Testsonden erstrecken sich nach oben durch die obere Platte, um einen
elektrischen Kontakt mit Testkontaktflecken auf der zu testenden Einheit 62 zu bilden. Die
zu testende Einheit liegt auf einer Vakuumdichtung 64 auf, die auf der oberen Oberfläche
der oberen Platte angeordnet ist, und eine weitere Vakuumdichtung 66 ist zwischen der
unteren Oberfläche der oberen Platte und der oberen Oberfläche der Sondenplatte 56 an
geordnet.
Unterhalb der Sondenplatte ist eine Trägerplatte (beef plate) 67 angeordnet, die
von der Sondenplatte durch eine Gehäusedichtung 68 getrennt ist. Unterhalb der Träger
platte (beef plate) ist ein festgeschalteter Stiftrahmen 70 angeordnet, der eine Mehrzahl
von festgeschalteten Stiften 72 mit Stiftenden 74 umfaßt, die mit Stiftenden 76 der Test
sonden 60 verdrahtet sind. Die Stiftenden 74 stehen in elektrischem Kontakt mit einer
Mehrzahl von Federdrucksonden, die in der Testelektronik (nicht gezeigt) angeordnet sind,
wie es in der Technik üblich ist.
Die Testsonden 60 werden in der Sondenplatte durch eine Sondenhaltefolie 76,
vorzugsweise eine Latexfolie, wie sie hiervor im Zusammenhang mit der Testhalterung der
Fig. 1 diskutiert wurde, gehalten. Anders als in Fig. 1 ist die Sondenhaltefolie 76 in den X-
Y-Richtungen durch einen Paßstift 78 positioniert, der sich von der Trägerplatte (beef
plate) nach oben erstreckt, wobei ein getrennter Paßstift in der Trägerplatte (beef plate)
entsprechend jeder Ecke der Sondenhaltefolie angeordnet ist. Alternativ könnten die Test
sonden der Halterung der Fig. 1 oder der Fig. 2 zwischen der zu testenden Einheit und der
Schnittstelle zur Testelektronik ohne die Verwendung einer Sondenhaltefolie gehalten
werden.
Eines der einzigartigen Merkmale der vorliegenden Erfindung ist ihre Fähigkeit,
eine verdrahtete Testhalterung in eine drahtlose Testhalterung umzuwandeln. Wie in Fig.
2A gezeigt, ist die verdrahtete Testhalterung 90 im wesentlichen die drahtlose Testhalte
rung 10 der Fig. 1 ohne die bedruckte Schaltkreistafel der Halterung. Bislang gab es keine
Möglichkeit eine Umwandlung zwischen einer verdrahteten und einer drahtlosen Testhalte
rung zu erreichen. Bei der verdrahteten Testhalterung 90 umfaßt die Abstandsplatte 32
eine Mehrzahl von Löchern für die Anordnung von Stiften 92. Die Stifte 92 stellen einen
elektrischen Kontakt mit den Testsonden 34 her und besitzen ein Wirewrap-Ende 94 zur
Verbindung mit Drähten 96 an der Unterseite der Stifte. Wenn die Federdrucksonden zu
sammengedrückt werden, drücken sie nach unten gegen die in der Abstandsplatte angeord
neten Stifte 92. Da die Testsonden 34 in der Halterung schwimmen, wird die durch die
Testsonden erzeugte Federkraft gleichermaßen und in entgegengesetzter Richtung auf die
zu testende Einheit und die Stifte 94 in der Abstandsplatte angewandt. Dies erzeugt einen
zuverlässigen Strompfad. Das Einstellen der Stifthöhe bietet außerdem ein Mittel zum
Ändern der Einstellhöhe der Federsonden, wodurch eine erweiterte Reichweite oder Ein
stellungen bei der Testsondenkompression ermöglicht werden. Dieses einzigartige Um
wandlungsmerkmal (von verdrahtet zu drahtlos) wird durch Entfernen der bedruckten
Schaltkreistafel 36 (Fig. 1) und der Abstandsplatte zum Ersetzen der Abstandsstifte 24
durch die Stifte 94 erreicht. Die gesamte Halterung wird dann auf einem Rahmen 98 mon
tiert. Die Halterung wird im wesentliche wieder zurück in eine drahtlose Halterung umge
wandelt, indem die Abstandsstifte und die bedruckte Schaltkreistafel als Ersatz verwendet
werden. Dieses Merkmal der Umwandelbarkeit ist ein wesentlicher Vorteil, da bei vielen
Anwendungen eine Halterung durch viele Überarbeitungen geht, bevor das Design endgül
tig wird. Dieses Merkmal ermöglicht das schnelle Durchführen von Änderungen, indem die
Verdrahtung geändert wird, statt eine neue bedruckte Schaltkreiskarte für jede Ingenieurs
idee herzustellen oder zu versuchen, die bedruckte Schaltkreistafel selbst zu überarbeiten.
Sobald das Design endgültig ist, kann eine bedruckte Schaltkreistafel entsprechend den
Korrekturanweisungen hergestellt werden.
Fig. 3 zeigt, wie das Sondenhaltesystem nach der vorliegenden Erfindung zum
Halten von aufnehmerfreien Federdrucksonden in einem universellen Gitterklemmenhalte
rung (universal grid cartridge) in einem Gittertester zum Übersetzen von Testsignalen von
einer Testhalterung zur Testelektronik verwendet werden kann. In Fig. 3 umfaßt die uni
verselle Gitterklemmenhalterung eine obere Platte 72 und eine untere Platte 74. Ein Ab
standsstück 76 ist zwischen der oberen Platte und der unteren Platte durch eine Abstands
platte 78, das zwischen den Kanten der oberen und der unteren Platte angeordnet ist, ge
formt. Eine Mehrzahl von Federdrucksonden 80 ist in Löcher angeordnet, die sich durch
die obere und die untere Platte erstrecken, und werden in der universellen Gifterklemmen
halterung durch eine Sondenhaltefolie 82 gehalten, die in dem Zwischenraum 76 zwischen
der oberen und der unteren Platte angeordnet ist. Wiederum ist die Sondenhaltefolie 82
vorzugsweise eine Latexfolie, wie schon im Zusammenhang mit den Fig. 1 und 2 disku
tiert wurde.
Auch wenn die vorliegende Erfindung im Zusammenhang mit drei Ausführungs
formen derselben beschrieben und gezeigt wurde, ist klar, daß die Erfindung nicht auf diese
beschränkt ist, da weitere Änderungen und Modifikationen im Rahmen des Umfangs der
vorliegenden Erfindung, die durch die nachfolgenden Patentansprüche definiert ist, durch
geführt werden können.
Claims (20)
1. Testhalterung (10, 90) geeignet zur Ausrichtung von Testsonden (24, 51, 60)
mit Testpunkten auf einer zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) zum Über
tragen von Testsignalen von den Testpunkten zu einer externen Elektronik, welche umfaßt:
eine stationäre Sondenplatte (18, 55, 56) mit einer Mehrzahl von sich durch diese erstreckenden Löchern;
eine Anordnung von Testsonden (24, 51, 60), die sich durch die Löcher in der Sondenplatte erstrecken und einzeln in einer axialen Richtung durch die Sondenplatte be weglich sind;
eine Vorrichtung (20, 58) zum beweglichen Halten der zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) im allgemeinen parallel zur Sondenplatte, so daß die Testsonden die Testpunkte kontaktieren können;
eine Vorrichtung (38, 42, 53, 57, 76) zum Verhindern, daß die Testsonden aus der Sondenplatte herauskommen; und
eine Schnittstelle (36, 72), die sich unterhalb der Sondenplatte befindet und in Kon takt mit den Testsonden ist, um die Testsignale auf eine externe Testelektronik zu über tragen, wenn die zu testende Karte und die Sondenplatte zueinander bewegt werden.
eine stationäre Sondenplatte (18, 55, 56) mit einer Mehrzahl von sich durch diese erstreckenden Löchern;
eine Anordnung von Testsonden (24, 51, 60), die sich durch die Löcher in der Sondenplatte erstrecken und einzeln in einer axialen Richtung durch die Sondenplatte be weglich sind;
eine Vorrichtung (20, 58) zum beweglichen Halten der zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) im allgemeinen parallel zur Sondenplatte, so daß die Testsonden die Testpunkte kontaktieren können;
eine Vorrichtung (38, 42, 53, 57, 76) zum Verhindern, daß die Testsonden aus der Sondenplatte herauskommen; und
eine Schnittstelle (36, 72), die sich unterhalb der Sondenplatte befindet und in Kon takt mit den Testsonden ist, um die Testsignale auf eine externe Testelektronik zu über tragen, wenn die zu testende Karte und die Sondenplatte zueinander bewegt werden.
2. Testhalterung nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung
zum Halten der zu testenden Karte eine obere Platte (20, 58) ist, die im allgemeinen par
allel zur Sondenplatte angeordnet ist und für eine Bewegung zur und von der Sondenplatte
geeignet ist, wobei die obere Platte weiterhin eine Mehrzahl von Löchern umfaßt, um die
Testsonden zu führen, die sich durch diese zu den Testpunkten erstrecken.
3. Testhalterung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schnittstelle
eine bedruckte Schaltkreiskarte (36) ist.
4. Testhalterung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schnittstelle
eine Mehrzahl von verdrahteten Stiften (72) ist.
5. Testhalterung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Löcher in der
Sondenplatte (18, 55, 56) einen größeren Durchmesser als die Testsonden (24, 51, 60)
besitzen.
6. Testhalterung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung
zum Verhindern, daß die Testsonden (24) aus der Sondenplatte herauskommen, eine Hal
teplatte (42) ist, die über der Sondenplatte angeordnet ist und eine Mehrzahl von Löchern
für die Testsonden aufweist, die eine solche Größe besitzen, daß sie die Testsonden in der
Sondenplatte halten.
7. Testhalterung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Halteplatte
(42) eine Vorrichtung (43, 45) zum Befestigen der Halteplatte an der oberen Platte besitzt.
8. Testhalterung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Befestigungs
vorrichtung wenigstens einen Führungsstift (43), der fest an der oberen Platte (20) be
festigt ist, und wenigstens eine Feder (45) umfaßt, die um den Führungsstift herum ober
halb der Halteplatte (42) angeordnet ist.
9. Testhalterung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Halteplatte
(42) entfernbar an der Sondenplatte (18) befestigt ist.
10. Testhalterung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung
(53, 57) zum Verhindern, daß die Testsonden aus der Sondenplatte herauskommen aus
besonders geformten Testsondenspitzen (53) besteht, die mit besonders geformten Füh
rungslöchern (57) in der Sondenplatte (55) zusammenwirken.
11. Testhalterung (10) geeignet zur Ausrichtung von Testsonden (24, 51, 60) mit
Testpunkten auf einer zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) zum Übertragen
von Testsignalen von den Testpunkten zu einer externen Elektronik, welche umfaßt:
eine stationäre Sondenplatte (18, 55, 56) mit einer Mehrzahl von sich durch diese erstreckenden Löchern;
eine Anordnung von Testsonden (24, 51, 60), die sich durch die Löcher in der Sondenplatte erstrecken sind;
eine Halteplatte (42), die über der Sondenplatte angeordnet ist und eine Mehrzahl von Löchern für die Testsonden aufweist, die eine solche Größe besitzen, daß sie die Test sonden in der Sondenplatte halten,
eine Vorrichtung (20, 58) zum beweglichen Halten der zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) im allgemeinen parallel zur Sondenplatte, so daß die Testsonden die Testpunkte kontaktieren können;
eine Schnittstelle (36, 72), die sich unterhalb der Sondenplatte befindet und in Kon takt mit den Testsonden ist, um die Testsignale auf eine externe Testelektronik zu über tragen, wenn die zu testende Karte und die Sondenplatte zueinander bewegt werden.
eine stationäre Sondenplatte (18, 55, 56) mit einer Mehrzahl von sich durch diese erstreckenden Löchern;
eine Anordnung von Testsonden (24, 51, 60), die sich durch die Löcher in der Sondenplatte erstrecken sind;
eine Halteplatte (42), die über der Sondenplatte angeordnet ist und eine Mehrzahl von Löchern für die Testsonden aufweist, die eine solche Größe besitzen, daß sie die Test sonden in der Sondenplatte halten,
eine Vorrichtung (20, 58) zum beweglichen Halten der zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) im allgemeinen parallel zur Sondenplatte, so daß die Testsonden die Testpunkte kontaktieren können;
eine Schnittstelle (36, 72), die sich unterhalb der Sondenplatte befindet und in Kon takt mit den Testsonden ist, um die Testsignale auf eine externe Testelektronik zu über tragen, wenn die zu testende Karte und die Sondenplatte zueinander bewegt werden.
12. Testhalterung nach Anspruch 11 dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung
zum Halten der zu testenden Karte eine obere Platte (20, 58) ist, die im allgemeinen par
allel zur Sondenplatte angeordnet ist und für eine Bewegung zur und von der Sondenplatte
geeignet ist, wobei die obere Platte weiterhin eine Mehrzahl von Löchern umfaßt, um die
Testsonden zu führen, die sich durch diese zu den Testpunkten erstrecken.
13. Testhalterung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Halteplatte
(42) eine Vorrichtung (43, 45) zum Befestigen der Halteplatte an der oberen Platte besitzt.
14. Testhalterung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Befesti
gungsvorrichtung wenigstens einen Führungsstift (43), der fest an der oberen Platte (20)
befestigt ist, und wenigstens eine Feder (45) umfaßt, die um den Führungsstift herum ober
halb der Halteplatte (42) angeordnet ist.
15. Testhalterung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Halteplatte
(42) entfernbar an der Sondenplatte (42) befestigt ist.
16. Testhalterung (10) geeignet zur Ausrichtung von Testsonden (24, 51, 60) mit
Testpunkten auf einer zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) zum Übertragen
von Testsignalen von den Testpunkten zu einer externen Elektronik, welche umfaßt:
eine stationäre Sondenplatte (18, 55, 56) mit einer Mehrzahl von sich durch diese erstreckenden Löchern;
eine Anordnung von Testsonden (24, 51, 60), die sich durch die Löcher in der Sondenplatte erstrecken und einzeln in einer axialen Richtung durch die Sondenplatte be weglich sind;
eine Vorrichtung (20, 58) zum beweglichen Halten der zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) im allgemeinen parallel zur Sondenplatte, so daß die Testsonden die Testpunkte kontaktieren können;
eine Vorrichtung (38, 42, 53, 57, 76) zum Halten der Testsonden in der Testhalte rung;
eine Abstandsplatte (32), die unter der Sondenplatte angeordnet ist und eine An ordnung von Schnittstellensonden (34) enthält, die sich durch die Abstandsplatte erstrecken und in elektrischem Kontakt mit der Anordnung von Testsonden stehen; und
eine Schnittstelle (36, 72), die sich unterhalb der Sondenplatte befindet und in Kon takt mit den Testsonden ist, um die Testsignale auf eine externe Testelektronik zu über tragen, wenn die zu testende Karte und die Sondenplatte zueinander bewegt werden.
eine stationäre Sondenplatte (18, 55, 56) mit einer Mehrzahl von sich durch diese erstreckenden Löchern;
eine Anordnung von Testsonden (24, 51, 60), die sich durch die Löcher in der Sondenplatte erstrecken und einzeln in einer axialen Richtung durch die Sondenplatte be weglich sind;
eine Vorrichtung (20, 58) zum beweglichen Halten der zu testenden, bedruckten Schaltkreiskarte (28, 62) im allgemeinen parallel zur Sondenplatte, so daß die Testsonden die Testpunkte kontaktieren können;
eine Vorrichtung (38, 42, 53, 57, 76) zum Halten der Testsonden in der Testhalte rung;
eine Abstandsplatte (32), die unter der Sondenplatte angeordnet ist und eine An ordnung von Schnittstellensonden (34) enthält, die sich durch die Abstandsplatte erstrecken und in elektrischem Kontakt mit der Anordnung von Testsonden stehen; und
eine Schnittstelle (36, 72), die sich unterhalb der Sondenplatte befindet und in Kon takt mit den Testsonden ist, um die Testsignale auf eine externe Testelektronik zu über tragen, wenn die zu testende Karte und die Sondenplatte zueinander bewegt werden.
17. Testhalterung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Schnitt
stellensonden Abstandsstifte sind und daß die Schnittstelle eine bedruckte Schaltkreiskarte
(36) ist.
18. Testhalterung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Schnitt
stellensonden Testsonden (92) mit Wire-wrap-Enden (94) sind.
19. Testhalterung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung
zum Halten der Testsonden (24) in der Sondenplatte eine Halteplatte (42) ist, die Löcher
aufweist, die eine solche Größe besitzen, daß sie die Testsonden in der Sondenplatte hal
ten.
20. Testhalterung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Halteplatte
(42) an einer oberen Platte (20) befestigt ist.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/045,232 US6066957A (en) | 1997-09-11 | 1998-03-20 | Floating spring probe wireless test fixture |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19900833A1 true DE19900833A1 (de) | 1999-10-07 |
| DE19900833B4 DE19900833B4 (de) | 2007-05-16 |
Family
ID=21936732
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19900833A Expired - Fee Related DE19900833B4 (de) | 1998-03-20 | 1999-01-12 | Testhalterung |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6066957A (de) |
| DE (1) | DE19900833B4 (de) |
| FR (1) | FR2776390B1 (de) |
| GB (1) | GB2335548B (de) |
| IT (1) | IT1305735B1 (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009047160A3 (de) * | 2007-10-02 | 2009-06-25 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Vollrasterkassette für einen paralleltester zum testen einer unbestückten leiterplatte, federkontaktstift für eine solche vollrasterkassette sowie adapter für einen paralleltester zum testen einer unbestückten leiterplatte |
| WO2010112584A1 (de) | 2009-04-03 | 2010-10-07 | Dtg International Gmbh | Kontaktierungseinheit für eine testvorrichtung zum testen von leiterplatten |
Families Citing this family (63)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3104906B2 (ja) * | 1997-05-13 | 2000-10-30 | 日本電産リード株式会社 | 基板位置ずれ検出装置および基板位置ずれ検出方法 |
| US6359452B1 (en) * | 1998-07-22 | 2002-03-19 | Nortel Networks Limited | Method and apparatus for testing an electronic assembly |
| KR100295228B1 (ko) * | 1998-10-13 | 2001-07-12 | 윤종용 | 통합테스트시스템과그를이용한통합테스트공정수행방법 |
| US6265886B1 (en) | 1999-07-12 | 2001-07-24 | Micron Technology, Inc. | Conductive bump array contactors having an ejector and methods of testing using same |
| US6262571B1 (en) | 1999-11-17 | 2001-07-17 | Agilent Technologies, Inc. | Adjustable electrical connector for test fixture nest |
| US6384617B1 (en) * | 1999-11-17 | 2002-05-07 | Agilent Technologies, Inc. | Signal transfer device for probe test fixture |
| US6650134B1 (en) * | 2000-02-29 | 2003-11-18 | Charles A. Schein | Adapter assembly for connecting test equipment to a wireless test fixture |
| US6570399B2 (en) | 2000-05-18 | 2003-05-27 | Qa Technology Company, Inc. | Test probe and separable mating connector assembly |
| US6876530B2 (en) * | 2001-01-12 | 2005-04-05 | Qa Technology Company, Inc. | Test probe and connector |
| US6509752B1 (en) | 2001-03-05 | 2003-01-21 | Emc Corporation | Testing apparatus with mechanism for preventing damage to unit under test |
| US6551126B1 (en) | 2001-03-13 | 2003-04-22 | 3M Innovative Properties Company | High bandwidth probe assembly |
| US6964828B2 (en) | 2001-04-27 | 2005-11-15 | 3M Innovative Properties Company | Cathode compositions for lithium-ion batteries |
| US6628130B2 (en) | 2001-07-18 | 2003-09-30 | Agilent Technologies, Inc. | Wireless test fixture for printed circuit board test systems |
| US6667628B2 (en) | 2002-04-02 | 2003-12-23 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for the management of forces in a wireless fixture |
| US6784675B2 (en) * | 2002-06-25 | 2004-08-31 | Agilent Technologies, Inc. | Wireless test fixture adapter for printed circuit assembly tester |
| US6636061B1 (en) * | 2002-07-10 | 2003-10-21 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for configurable hardware augmented program generation |
| US6824427B1 (en) * | 2003-05-13 | 2004-11-30 | 3M Innovative Properties Company | Coaxial probe interconnection system |
| CA2470986C (en) * | 2003-06-19 | 2014-04-22 | Rematek Inc. | Vacuum-actuated test fixture for testing printed circuit boards |
| GB2405249B (en) * | 2003-08-22 | 2007-03-07 | Ipwireless Inc | Holder for module and method therefor |
| US7659739B2 (en) * | 2006-09-14 | 2010-02-09 | Micro Porbe, Inc. | Knee probe having reduced thickness section for control of scrub motion |
| US9476911B2 (en) | 2004-05-21 | 2016-10-25 | Microprobe, Inc. | Probes with high current carrying capability and laser machining methods |
| US8988091B2 (en) * | 2004-05-21 | 2015-03-24 | Microprobe, Inc. | Multiple contact probes |
| USRE43503E1 (en) | 2006-06-29 | 2012-07-10 | Microprobe, Inc. | Probe skates for electrical testing of convex pad topologies |
| US7759949B2 (en) * | 2004-05-21 | 2010-07-20 | Microprobe, Inc. | Probes with self-cleaning blunt skates for contacting conductive pads |
| US9097740B2 (en) | 2004-05-21 | 2015-08-04 | Formfactor, Inc. | Layered probes with core |
| US7301356B2 (en) * | 2004-10-28 | 2007-11-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Support for a receptacle block of a unit under test |
| US7227365B2 (en) * | 2004-10-28 | 2007-06-05 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Connector insertion apparatus for connecting a testing apparatus to a unit under test |
| CN100356184C (zh) * | 2005-02-03 | 2007-12-19 | 芽庄科技股份有限公司 | 实装板的测试设备 |
| US7649367B2 (en) * | 2005-12-07 | 2010-01-19 | Microprobe, Inc. | Low profile probe having improved mechanical scrub and reduced contact inductance |
| US7345492B2 (en) * | 2005-12-14 | 2008-03-18 | Microprobe, Inc. | Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a retention arrangement |
| US7312617B2 (en) | 2006-03-20 | 2007-12-25 | Microprobe, Inc. | Space transformers employing wire bonds for interconnections with fine pitch contacts |
| US7616019B2 (en) * | 2006-05-08 | 2009-11-10 | Aspen Test Engineering, Inc. | Low profile electronic assembly test fixtures |
| US8907689B2 (en) | 2006-10-11 | 2014-12-09 | Microprobe, Inc. | Probe retention arrangement |
| US7786740B2 (en) * | 2006-10-11 | 2010-08-31 | Astria Semiconductor Holdings, Inc. | Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a potting region |
| JP5190195B2 (ja) * | 2006-11-29 | 2013-04-24 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
| CN101201372B (zh) * | 2006-12-13 | 2011-06-29 | 英业达股份有限公司 | 电路板测试工具 |
| DE102006059429A1 (de) * | 2006-12-15 | 2008-06-26 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Modul für eine Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten |
| US7514948B2 (en) * | 2007-04-10 | 2009-04-07 | Microprobe, Inc. | Vertical probe array arranged to provide space transformation |
| CN101296604A (zh) * | 2007-04-24 | 2008-10-29 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 屏蔽箱体 |
| CA2592901C (en) * | 2007-07-13 | 2012-03-27 | Martin Blouin | Semi-generic in-circuit test fixture |
| US8723546B2 (en) | 2007-10-19 | 2014-05-13 | Microprobe, Inc. | Vertical guided layered probe |
| US8230593B2 (en) * | 2008-05-29 | 2012-07-31 | Microprobe, Inc. | Probe bonding method having improved control of bonding material |
| CN201348650Y (zh) * | 2009-01-16 | 2009-11-18 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 电路板测试治具 |
| US8073019B2 (en) * | 2009-03-02 | 2011-12-06 | Jian Liu | 810 nm ultra-short pulsed fiber laser |
| US8907694B2 (en) | 2009-12-17 | 2014-12-09 | Xcerra Corporation | Wiring board for testing loaded printed circuit board |
| US20130014983A1 (en) * | 2011-07-14 | 2013-01-17 | Texas Instruments Incorporated | Device contactor with integrated rf shield |
| US9274643B2 (en) | 2012-03-30 | 2016-03-01 | Synaptics Incorporated | Capacitive charge measurement |
| CN103777129B (zh) * | 2012-10-22 | 2016-05-25 | 昆山意力电路世界有限公司 | 无线双头探针功能测试仪 |
| CN103837818B (zh) * | 2012-11-26 | 2016-12-21 | 昆山威典电子有限公司 | Pcb板测试用无间隙两段式结构 |
| US9470715B2 (en) * | 2013-01-11 | 2016-10-18 | Mpi Corporation | Probe head |
| CN103983815A (zh) * | 2014-04-28 | 2014-08-13 | 昆山明创电子科技有限公司 | 一种pcb板小针测试治具 |
| CN104007380A (zh) * | 2014-05-30 | 2014-08-27 | 苏州锟恩电子科技有限公司 | 一种pcb板测试治具 |
| JP6407128B2 (ja) * | 2015-11-18 | 2018-10-17 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の評価装置および半導体装置の評価方法 |
| CN206096201U (zh) * | 2016-07-21 | 2017-04-12 | 梁永焯 | 用于半导体晶圆测试的系统、切线探针卡及其探头组件 |
| CN106353540A (zh) * | 2016-11-22 | 2017-01-25 | 贵州航天计量测试技术研究所 | 一种低通滤波器测试夹具 |
| TWI663799B (zh) * | 2017-10-06 | 2019-06-21 | 吳在淑 | 測試半導體晶片的連接器銷裝置及其製造方法 |
| KR102590407B1 (ko) | 2017-10-31 | 2023-10-16 | 폼팩터, 인크. | 디커플링된 전기 및 기계 프로브 연결들을 갖는 mems 프로브 카드 조립체 |
| CN108225235B (zh) * | 2018-04-19 | 2018-11-13 | 连晓芳 | 建筑监测用木板尺寸快速检测装置 |
| CN109975585A (zh) * | 2019-03-15 | 2019-07-05 | 华为技术有限公司 | 一种测试装置、测试针及测试针的安装结构 |
| US11293947B2 (en) | 2019-04-26 | 2022-04-05 | Formfactor, Inc. | Probe on carrier architecture for vertical probe arrays |
| US12184830B2 (en) * | 2019-11-01 | 2024-12-31 | Magna Electronics Inc. | Vehicular camera testing system using spring-loaded electrical connectors |
| US11818842B1 (en) * | 2020-03-06 | 2023-11-14 | Amazon Technologies, Inc. | Configurable circuit board for abstracting third-party controls |
| US12510562B2 (en) * | 2022-09-16 | 2025-12-30 | Ironwood Electronics, Inc. | Test socket with conductive compression contacts for integrated circuits |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1508884A (en) * | 1975-05-17 | 1978-04-26 | Int Computers Ltd | Apparatus for testing printed circuit board assemblies |
| US4352061A (en) * | 1979-05-24 | 1982-09-28 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers |
| US4866375A (en) * | 1984-06-22 | 1989-09-12 | Malloy James T | Universal test fixture |
| US4700132A (en) * | 1985-05-06 | 1987-10-13 | Motorola, Inc. | Integrated circuit test site |
| US4783624A (en) * | 1986-04-14 | 1988-11-08 | Interconnect Devices, Inc. | Contact probe devices and method |
| US4841240A (en) * | 1988-01-29 | 1989-06-20 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for verifying the continuity between a circuit board and a test fixture |
| WO1990006518A1 (en) * | 1988-11-28 | 1990-06-14 | Cimm, Inc. | Wireless test fixture |
| US4977370A (en) * | 1988-12-06 | 1990-12-11 | Genrad, Inc. | Apparatus and method for circuit board testing |
| US5157325A (en) * | 1991-02-15 | 1992-10-20 | Compaq Computer Corporation | Compact, wireless apparatus for electrically testing printed circuit boards |
| FR2692048B1 (fr) * | 1992-06-09 | 1996-09-06 | Everett Charles Tech | Montage d'essai. |
| US5510722A (en) * | 1992-12-18 | 1996-04-23 | Tti Testron, Inc. | Test fixture for printed circuit boards |
| EP0615131A1 (de) * | 1993-03-10 | 1994-09-14 | Co-Operative Facility For Aging Tester Development | Sonde für Halbleiterscheiben mit integrierten Schaltelementen |
| US5493230A (en) * | 1994-02-25 | 1996-02-20 | Everett Charles Technologies, Inc. | Retention of test probes in translator fixtures |
| US5485096A (en) * | 1994-04-05 | 1996-01-16 | Aksu; Allen | Printed circuit board tester having a test bed with spring probes and easily replaceable switch cards |
| US5543718A (en) * | 1994-04-08 | 1996-08-06 | Dcm Industries, Inc. | Cable testing device |
| US5945836A (en) * | 1996-10-29 | 1999-08-31 | Hewlett-Packard Company | Loaded-board, guided-probe test fixture |
| JPH10282172A (ja) * | 1997-04-07 | 1998-10-23 | Alps Electric Co Ltd | 電子機器、並びにその電子機器の測定方法 |
| US5945838A (en) * | 1997-06-26 | 1999-08-31 | Star Technology Group, Inc. | Apparatus for testing circuit boards |
-
1998
- 1998-03-20 US US09/045,232 patent/US6066957A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-12-15 GB GB9827487A patent/GB2335548B/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-12-31 IT IT1998TO001117A patent/IT1305735B1/it active
-
1999
- 1999-01-12 DE DE19900833A patent/DE19900833B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1999-03-10 FR FR9902957A patent/FR2776390B1/fr not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009047160A3 (de) * | 2007-10-02 | 2009-06-25 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Vollrasterkassette für einen paralleltester zum testen einer unbestückten leiterplatte, federkontaktstift für eine solche vollrasterkassette sowie adapter für einen paralleltester zum testen einer unbestückten leiterplatte |
| US8749259B2 (en) | 2007-10-02 | 2014-06-10 | Dtg International Gmbh | Full grid cassette for a parallel tester for testing a non-componented printed circuit board, spring contact pin for such a full grid cassette and adapter for a parallel tester for testing a non-componented printed circuit board |
| WO2010112584A1 (de) | 2009-04-03 | 2010-10-07 | Dtg International Gmbh | Kontaktierungseinheit für eine testvorrichtung zum testen von leiterplatten |
| US9013199B2 (en) | 2009-04-03 | 2015-04-21 | Dtg International Gmbh | Contact-connection unit for a test apparatus for testing printed circuit boards |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ITTO981117A1 (it) | 2000-07-01 |
| FR2776390A1 (fr) | 1999-09-24 |
| FR2776390B1 (fr) | 2001-12-14 |
| US6066957A (en) | 2000-05-23 |
| ITTO981117A0 (it) | 1998-12-31 |
| IT1305735B1 (it) | 2001-05-15 |
| DE19900833B4 (de) | 2007-05-16 |
| GB9827487D0 (en) | 1999-02-10 |
| GB2335548B (en) | 2000-01-26 |
| GB2335548A (en) | 1999-09-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE19900833A1 (de) | Schwimmende Federdrucktestsondenhalterung | |
| DE3812654C2 (de) | ||
| DE3038665C2 (de) | Prüfeinrichtung zum Überprüfen von mit Leiterbahnen versehenen Leiterplatten | |
| DE3249770C2 (en) | Device for testing electrical circuit boards | |
| DE2608430C3 (de) | Halterung für programmierbare Sonden zum Anschluß an ein in einer elektrischen Prüfung befindliches Bauteil | |
| DE3716240A1 (de) | Pruefadapter, insbesondere fuer eine integrierte schaltung | |
| DE8715288U1 (de) | Vorrichtung zur Aufnahme von Karten mit elektronischen Bauelementen | |
| DE112017005724T5 (de) | Sondenstruktur | |
| DE4401469A1 (de) | Testmodule mit expandierbarem Diaphragma und Steckverbinder | |
| DE8534841U1 (de) | Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten od. dgl. | |
| DE102008034918A1 (de) | Elektrische Prüfeinrichtung für die Prüfung eines elektrischen Prüflings sowie elektrisches Prüfverfahren | |
| DE2707900C3 (de) | Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen | |
| EP0278073B1 (de) | Prüfstift für einen Adapter eines Leiterplattenprüfgerätes | |
| EP0222345B1 (de) | Verfahren zur Prüfung einer Leiterplatte | |
| DE1800657C3 (de) | Kontaktvorrichtung, insbesondere zur elektrischen Prüfung der Leitungszüge gedruckter oder geätzter Schaltungsplatten | |
| EP0315707B1 (de) | Adapter für eine Vorrichtung zur elektronischen Prüfung von Leiterplatten | |
| DE112021002062T5 (de) | Magnetbefestigungseinrichtung | |
| DE60217619T2 (de) | Vorrichtung zur Abtastprüfung von Leiterplatten | |
| DE10012273B4 (de) | Anlage zur messtechnischen räumlichen 3D-Lageerfassung von Oberflächenpunkten | |
| DE3529207C1 (en) | Test device for electrical circuit boards | |
| DE68915781T2 (de) | Elektrische testsonde. | |
| EP0772048B1 (de) | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen | |
| DE3045882A1 (de) | Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe mit kontaktstiften sowie kontaktstift dafuer | |
| DE19707485A1 (de) | Umsetzervorrichtung mit eine Kraft anlegenden Blindstiften | |
| EP0994359A2 (de) | Testadapter |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |