DE19852300A1 - AOW-Filter - Google Patents
AOW-FilterInfo
- Publication number
- DE19852300A1 DE19852300A1 DE19852300A DE19852300A DE19852300A1 DE 19852300 A1 DE19852300 A1 DE 19852300A1 DE 19852300 A DE19852300 A DE 19852300A DE 19852300 A DE19852300 A DE 19852300A DE 19852300 A1 DE19852300 A1 DE 19852300A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- reflectors
- piezoelectric substrate
- period
- filter according
- reflector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/64—Filters using surface acoustic waves
- H03H9/6423—Means for obtaining a particular transfer characteristic
- H03H9/6433—Coupled resonator filters
- H03H9/644—Coupled resonator filters having two acoustic tracks
- H03H9/6456—Coupled resonator filters having two acoustic tracks being electrically coupled
- H03H9/6459—Coupled resonator filters having two acoustic tracks being electrically coupled via one connecting electrode
- H03H9/6463—Coupled resonator filters having two acoustic tracks being electrically coupled via one connecting electrode the tracks being electrically cascaded
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein AOW-Filter (akustisches Ober
flächenwellenfilter) und insbesondere ein AOW-Filter vom Re
sonatortyp.
Allgemein kommen AOW-Filter als Hochbandpaßfilter zum
Einsatz. Da AOW-Filter mit geringerer Größe als LC-Filter
aufgebaut sind, werden AOW-Filter in vielen tragbaren elek
tronischen Geräten verwendet, z. B. in tragbaren Telefonen.
Als eine erste Quelle zum Stand der Technik offenbart
die JP-A-63-92123 in ihrer beigefügten Fig. 6 einige AOW-Fil
ter, die aus vier Resonanzelementen bestehen, von denen jedes
ein Paar Doppelkamm- bzw. Interdigitalelektroden sowie Re
flektoren aufweist, die beiderseits des Paars Interdigital
elektroden angeordnet sind und eine durch eine der Interdigi
talelektroden angeregte Oberflächenwelle reflektieren. In ih
rer Fig. 1 ist das Resonanzelement dargestellt. Da die Kombi
nationen aus Resonanzelementen geeignet ausgewählt sind, ha
ben die AOW der ersten Quelle Filterkennlinien, die nicht
durch die jeweiligen Resonanzelemente erhalten werden können.
Als eine zweite Quelle zum Stand der Technik offenbart
die JP-A-5251987 einige intern impedanzangepaßte akustische
Oberflächenwellenfilter, die in den beigefügten Fig. 1 und 3
gezeigt sind. Die Filter der zweiten Quelle weisen ebenfalls
vier Resonanzelemente auf und haben Vorteile, die in einem
kleinen Einfügungsverlust und einer kleinen Dämpfung beste
hen.
Als eine dritte Quelle zum Stand der Technik offenbart
die JP-A-7-254835 ein Longitudinalmodenfilter, das zwei Re
flektoren und ein Paar zwischen den Reflektoren angeordnete
Interdigitalelektroden gemäß der beigefügten Fig. 1 aufweist.
Eine durch die Eingangselektrode angeregte Oberflächenwelle
wird zwischen den Reflektoren eingeschlossen und durch die
Ausgangselektrode wirksam empfangen. Dadurch ist der Verlust
des Filters klein.
In Fig. 8 der JP-A-63-92123 als erster Quelle ist ein
kombinatorisches Filter unter Verwendung einer Longitudinal
modenresonanz offenbart.
Obwohl die Filter der Quellen zum Stand der Technik die
zuvor erläuterten Vorteile haben, sind die Filter wegen star
ker Streuung und kleiner Außenbanddämpfung nachteilig. Ande
rerseits hat ein transversalmodengekoppeltes Resonanzfilter
Vorteile einer schwachen Streuung und großen Außenbanddämp
fung. Daher findet das transversalmodengekoppelte Resonanz
filter breiten Einsatz. Gemäß Fig. 7 hat das transversalmo
dengekoppelte Resonanzfilter einen ersten Resonator im Ab
schnitt der oberen Hälfte von Fig. 7 und einen zweiten Reso
nator im Abschnitt der unteren Hälfte von Fig. 7. Der erste
Resonator hat eine Interdigitalelektrode 16 sowie Reflektoren
18 und 19, die beiderseits der Interdigitalelektrode 16 ange
ordnet sind. Die Reflektoren 18 und 19 reflektieren eine
durch die Interdigitalelektrode 16 angeregte Oberflächenwel
le. Der zweite Resonator ist wie der erste Resonator auf ge
baut. Der erste und zweite Resonator sind benachbart parallel
so angeordnet, daß ihre Laufrichtungen für eine Oberflächen
welle identisch werden. Gemeinsam sind eine Eingangserdelek
trode und eine Ausgangserdelektrode als gemeinsame Sammel
schiene 20 aufgebaut. Da die beiden Resonatoren benachbart
angeordnet sind, haben zwischen den Reflektoren der Resonato
ren eingeschlossene Oberflächenwellen eine symmetrische Reso
nanzmode und eine asymmetrische Mode. Bei der symmetrischen
Resonanzmode ist die Energieverteilung senkrecht zur Lauf
richtung der Oberflächenwelle symmetrisch. Bei der asymmetri
schen Resonanzmode ist die Energieverteilung senkrecht zur
Laufrichtung der Oberflächenwelle asymmetrisch. Die beiden
Moden werden als Transversalmoden bezeichnet. Bei richtiger
Auswahl einer Verzahnungsbreite der Interdigitalelektroden
und einer Dünnfilmdicke der Interdigitalelektroden kann die
symmetrische Mode S0 oder asymmetrische Mode A1 gemäß Fig. 3
selektiv angeregt werden. Fig. 8 zeigt ein Beispiel für eine
Frequenzkennlinie eines solchen Filters. In Fig. 8 stellt ei
ne Strichlinie eine mit einem 50-Ohm-System gemessene Kurve
dar, während eine Vollinie eine Kurve in einem impedanzange
paßten Zustand darstellt. Gemäß Fig. 8 liegt die Mode S0 bei
einer niedrigeren Frequenz als die Mode A1 vor. Bei Einsatz
dieses Filters in einem impedanzangepaßten Zustand läßt sich
eine Filterkennlinie mit einem Flachband gemäß der Darstel
lung durch die Vollinie erhalten.
Wie zuvor erläutert wurde, hängt eine Bandbreite dieses
Filters von der Differenz zwischen den beiden Resonanzfre
quenzen ab. Die Differenz zwischen den beiden Resonanzfre
quenzen hängt vom Abstand G zwischen den beiden Resonatoren
und der Verzahnungsbreite W jedes Resonators ab. Zur Verbrei
terung der Bandbreite sollten der Abstand G und die Verzah
nungsbreite W verringert sein. Bei Senkung der Verzahnungs
breite W der Resonatoren steigt aber die Impedanz des Fil
ters. Dadurch geht die Gebrauchseignung des Filters zurück.
Zur Senkung des Abstands G zwischen den Resonatoren muß eine
Breite der gemeinsamen Sammelschiene 20 verkleinert werden.
Dadurch steigt ein Widerstand der Sammelschiene 20, was den
Einfügungsverlustkennwert des Filters beeinträchtigt, und au
ßerdem verschlechtert sich die Frequenzkennlinie des gesamten
Filters mitunter spürbar. Somit ist es schwierig, die Band
breite des herkömmlichen transversalmodengekoppelten Filters
zu verbreitern.
Eine Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein AOW-Mehr
modenfilter bereit zustellen, dessen Bandbreite verbreitert
sein kann, ohne daß dazu die Verzahnungsbreite jedes Resona
tors und der Abstand zwischen den Resonatoren verringert wer
den müssen.
Gemäß einem ersten Aspekt der Erfindung wird ein AOW-
Filter bereitgestellt, das aufweist: ein piezoelektrisches
Substrat; eine erste Interdigitalelektrode, die eine Periode
L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat angeordnet ist,
zum Umwandeln einer Eingangsspannung in eine akustische Ober
flächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat; eine zweite
Interdigitalelektrode, die die Periode L hat und auf dem pie
zoelektrischen Substrat parallel zur ersten Interdigitalelek
trode im Hinblick auf eine Laufrichtung der akustischen Ober
flächenwelle angeordnet ist, zum Umwandeln der akustischen
Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat in eine
Spannung; ein Paar erste Reflektoren, die eine Periode L/2
haben und auf dem piezoelektrischen Substrat sowie beider
seits eines Paars der ersten und zweiten Interdigitalelektro
de in Laufrichtung unter Beibehaltung eines Abstands nL/2 +
0,5 L davon angeordnet sind, wobei n eine Ganzzahl ist, die
gleich oder größer als null ist; und mindestens einen zweiten
Reflektor, der die Periode L/2 hat und auf dem piezoelektri
schen Substrat sowie auf einer Außenseite eines der ersten
Reflektoren in Laufrichtung unter Beibehaltung eines Abstands
mL/2 + 0,75 L davon angeordnet ist, wobei m eine Ganzzahl
ist, die gleich oder größer als null ist.
Gemäß einem zweiten Aspekt der Erfindung wird ein AOW-
Filter bereitgestellt, das aufweist: ein piezoelektrisches
Substrat; eine erste Interdigitalelektrode, die eine Periode
L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat angeordnet ist,
zum Umwandeln einer Eingangsspannung in eine akustische Ober
flächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat; eine zweite
Interdigitalelektrode, die die Periode L hat und auf dem pie
zoelektrischen Substrat parallel zur ersten Interdigitalelek
trode im Hinblick auf eine Laufrichtung der akustischen Ober
flächenwelle angeordnet ist, zum Umwandeln der akustischen
Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat in eine
Spannung; ein Paar erste Reflektoren, die auf dem piezoelek
trischen Substrat und außerhalb eines Paars der ersten und
zweiten Interdigitalelektrode in Laufrichtung angeordnet
sind; und mindestens einen zweiten Reflektor, der zwischen
dem Paar der ersten und zweiten Interdigitalelektrode und ei
nem der ersten Reflektoren angeordnet ist.
Diese und weitere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der
Erfindung gehen aus der nachfolgenden näheren Beschreibung
ihrer bevorzugten Ausführungsformen anhand der beigefügten
Zeichnungen deutlicher hervor.
Fig. 1 ist eine schematische Darstellung des Aufbaus ei
nes AOW-Filters gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfin
dung;
Fig. 2 ist eine Kurve der Beziehung zwischen der Anzahl
von Reflektorelementen und der Differenz zwischen einer er
sten Resonanzfrequenz und einer zweiten Resonanzfrequenz;
Fig. 3 ist eine schematische Darstellung des Prinzips
einer Transversalmodenresonanz;
Fig. 4 ist eine Kurve von Resonanzfrequenzen des AOW-
Filters gemäß der ersten Ausführungsform der Erfindung, die
mit einem 50-Ohm-System gemessen werden;
Fig. 5 ist eine Kurve von Frequenzkennlinien, die in ei
nem impedanzangepaßten Zustand des AOW-Filters gemäß der er
sten Ausführungsform der Erfindung gemessen werden;
Fig. 6 ist eine schematische Darstellung des Aufbaus ei
nes AOW-Filters gemäß einer zweiten Ausführungsform der Er
findung;
Fig. 7 ist eine schematische Darstellung des Aufbaus ei
nes herkömmlichen Transversalmodenresonanzfilters; und
Fig. 8 ist eine Kurve der Resonanzfrequenzkennlinien des
herkömmlichen Transversalmodenresonanzfilters.
Im folgenden wird eine erste Ausführungsform der Erfin
dung anhand der beigefügten Zeichnungen erläutert.
Fig. 1 ist eine schematische Darstellung des Aufbaus ei
nes AOW-Filters gemäß der ersten Ausführungsform der Erfin
dung. Das AOW-Filter hat einen Resonator A (d. h. der Ab
schnitt über einer waagerechten Strichlinie in Fig. 1) und
einen Resonator B (d. h. der untere Abschnitt unter der waa
gerechten Strichlinie in Fig. 1), die auf einem piezoelektri
schen Substrat 100 angeordnet sind. Der Resonator A hat eine
Interdigitalelektrode 2, Reflektoren 4 und 5 sowie Reflekto
ren 6 und 7. Die Reflektoren 4 und 5 haben von der Interdigi
talelektrode 2 einen Abstand AL1 = 0,5 L, gemessen an der
Mitte der Fingerelektroden, wobei L das Intervall zweier be
nachbarter Finger ist. Die Reflektoren 6 und 7 haben von den
Reflektoren 4 bzw. 5 einen Abstand AL2 = 0,75 L, gemessen an
der Mitte der Elektroden. Der Aufbau des Resonators B gleicht
dem Aufbau des Resonators A. Die Resonatoren A und B sind be
nachbart parallel so angeordnet, daß ihre Laufrichtungen
identisch sind. Die Reflektoren 4, 5, 6 und 7 bestehen aus
Dünnfilmelektroden oder Nuten, die auf dem piezoelektrischen
Substrat 100 ausgebildet sind.
Als nächstes wird das Betriebsprinzip der Erfindung er
läutert. Eine Oberflächenwelle, die durch die auf dem piezo
elektrischen Substrat 100 angeordnete Interdigitalelektrode 2
angeregt wird, wird zwischen den Reflektoren 4 und 5 reflek
tiert. Somit ist die Energie der Oberflächenwelle einge
schlossen, wodurch eine stehende Welle erzeugt wird. Im fol
genden wird diese Erscheinung als erste Longitudinalresonanz
bezeichnet. Ist andererseits die Anzahl von Elektroden der
Reflektoren 4 und 5 richtig ausgewählt, tritt ein Teil der
Energie nach außen aus. Die ausgetretenen Wellen werden zwi
schen den Reflektoren 6 und 7 reflektiert, was eine weitere
stehende Welle erzeugt. Im folgenden wird diese Erscheinung
als zweite Longitudinalresonanz bezeichnet. Die erste und
zweite Longitudinalresonanz sind miteinander gekoppelt. Die
Kopplungsintensität hängt von der Anzahl von Elektroden der
Reflektoren 4 und 5 ab. Somit hängt die Differenz zwischen
der ersten und zweiten Longitudinalresonanzfrequenz von der
Anzahl der Elektroden der Reflektoren 4 und 5 ab. Fig. 2 ist
eine Kurve der Beziehung zwischen der Anzahl der Elektroden
der Reflektoren 4 und 5 sowie der Differenz zwischen der er
sten und zweiten Longitudinalresonanzfrequenz, wobei die An
zahl der Elektroden des Reflektors 4 gleich der Anzahl der
Elektroden des Reflektors 5 ist. Bei kleiner Anzahl von Elek
troden der Reflektoren 4 und 5 ist die Frequenzdifferenz
groß, da die beiden Longitudinalresonanzen stark gekoppelt
sind. Andererseits wird bei Erhöhung der Anzahl der Elektro
den der Reflektoren 4 und 5 die Kopplung schwach, wodurch die
Frequenzdifferenz klein wird.
Die Resonatoren A und B sind benachbart angeordnet. Wie
zuvor erläutert wurde, hat die durch den Resonator A angereg
te Resonanz zwei Moden, bei denen es sich um eine symmetri
sche Mode S0 und eine asymmetrische Mode A1 handelt. Die er
ste und zweite Longitudinalresonanz haben jeweils die symme
trische Mode S0 und asymmetrische Mode A1. Daher werden ins
gesamt vier Resonanzen erzeugt.
Die Intervalle zwischen den vier Resonanzfrequenzen las
sen sich durch Auswählen der Anzahl der Elektroden der Re
flektoren 4 und 5, des Abstands G zwischen den beiden Resona
toren A und B sowie der Verzahnungsbreite W der beiden Reso
natoren A und B zweckmäßig einstellen.
Fig. 4 ist eine Kurve einer mit einem 50-Ohm-System ge
messenen Filterkennlinie. Bei Messung der Filterkennlinie in
einem impedanzangepaßten Zustand erhält man ein Flachband ge
mäß Fig. 5. Ist also ein Filter so ausgebildet, daß es vier
Resonanzen verwendet, läßt sich eine breitere Bandbreite er
halten als bei einem transversalmodengekoppelten Filter, das
nur zwei Transversalmodenresonanzen nutzt.
Erfindungsgemäß sind der Abstand AL1 zwischen der Inter
digitalelektrode und den Reflektoren sowie der Abstand AL2
zwischen den Reflektoren nicht auf 0,5 L bzw. 0,75 L be
schränkt. Statt dessen können die Abstände AL1 und AL2 in den
nachfolgenden Bereichen variiert werden, um die Intensitäten
der Resonanzen einzustellen:
AL1 = nL/2 + 0,4 L bis nL/2 + 0,6 L, wobei n eine Ganz zahl ist, die größer als 0 ist,
AL2 = mL/2 + 0,65 L bis mL/2 + 0,85 L, wobei m eine Ganzzahl ist, die größer als 0 ist.
AL1 = nL/2 + 0,4 L bis nL/2 + 0,6 L, wobei n eine Ganz zahl ist, die größer als 0 ist,
AL2 = mL/2 + 0,65 L bis mL/2 + 0,85 L, wobei m eine Ganzzahl ist, die größer als 0 ist.
Die Optimalwerte für AL1 und AL2 betragen rund nL/2 +
0,5 L bzw. mL/2 + 0,75 L, und sie variieren in Abhängigkeit
von der Anzahl von Elektroden der Reflektoren 4 und 5.
Fig. 6 ist eine schematische Darstellung des Aufbaus ei
nes AOW-Filters gemäß einer zweiten Ausführungsform der Er
findung. Das Filter hat Interdigitalelektroden 8 und 9 in der
Mitte sowie sechs, d. h. drei Paare, Reflektoren 11, 12, 13,
14, 15 und 16 neben den Elektroden 8 und 9. In diesem Filter
werden drei Longitudinalresonanzen erzeugt, die jeweils zwi
schen den Reflektoren 10 und 11, zwischen den Reflektoren 12
und 13 oder zwischen den Reflektoren 14 und 15 vorliegen. Je
de Resonanz hat zwei Transversalmoden, bei denen es sich um
eine symmetrische Mode und eine asymmetrische Mode handelt,
deren Energieverteilung senkrecht zur Laufrichtung der Ober
flächenwelle symmetrisch bzw. asymmetrisch ist. Dadurch wer
den insgesamt sechs Resonanzen erzeugt. Folglich läßt sich
ein Filter mit einer größeren Bandbreite als in der ersten
Ausführungsform aufbauen. Die Reflektoren 11, 12, 13, 14, 15
und 16 bestehen aus Dünnfilmelektroden oder Nuten, die auf
dem piezoelektrischen Substrat ausgebildet sind.
Der Abstand zwischen dem Reflektor 13 und Reflektor 15
unterscheidet sich von der Periode des Reflektors 15. Ähnlich
unterscheidet sich der Abstand zwischen dem Reflektor 12 und
Reflektor 14 von der Periode des Reflektors 14.
Die Periode der Reflektoren in der ersten Ausführungs
form und zweiten Ausführungsform ist gleich L/2 oder unter
scheidet sich von L/2 um mehrere Prozent. Bei Änderung der
Periode der Reflektoren gegenüber L/2 um mehrere Prozent än
dern sich die Kennwerte, z. B. der Einfügungsverlust, nicht
oder werden in manchen Fällen verbessert. Wird aber die Peri
ode der Reflektoren gegenüber L/2 um mehr als einige Prozent
geändert, verschlechtern sich die Kennwerte.
Obwohl die Perioden der Reflektoren vorzugsweise iden
tisch sind, können sie sich geringfügig voneinander unter
scheiden. Unterscheiden sich die Perioden der Reflektoren in
einem gewissen Grad voneinander, verschlechtert sich die
Kennlinie nicht, während die Kennlinie bei einem großen Un
terschied beeinträchtigt wird.
In der ersten und zweiten Ausführungsform sind die Re
flektoren gegenüber den Interdigitalelektroden symmetrisch
angeordnet. Allerdings lassen sich die gleichen Wirkungen wie
in der ersten und zweiten Ausführungsform unabhängig davon
erhalten, ob die Anzahl von Reflektoren auf der linken Seite
gleich der Anzahl von Reflektoren auf der rechten Seite ist.
Somit können erfindungsgemäß zwei Reflektoren auf der linken
Seite und ein Reflektor auf der rechten Seite der Interdigi
talelektrode angeordnet sein. In diesem Fall kann davon aus
gegangen werden, daß ein Reflektor zusätzlich zwischen einem
der beiden äußersten Reflektoren und dem Paar Interdigitale
lektroden eingefügt ist. Ausführungsformen der Erfindung las
sen sich so verallgemeinern, daß ein Reflektor oder mehrere
Reflektoren zwischen den beiden äußersten Reflektoren und/oder
dem Paar Interdigitalelektroden eingefügt sind.
Da gemäß der vorstehenden Beschreibung erfindungsgemäß
ein Reflektor oder mehrere Reflektoren zwischen den beiden
äußersten Reflektoren und/oder dem Paar Interdigitalelektro
den eingefügt sind, werden mehrere Longitudinalresonanzen mit
Transversalmoden erzeugt, was bedeutet, daß mehr Resonanzen
als beim herkömmlichen Filter erzeugt werden können. Daher
läßt sich ein Transversalmodenresonanzfilter realisieren, oh
ne daß dazu die Verzahnungsbreite von Resonatoren und der Ab
stand zwischen den Resonatoren verkleinert werden müssen, wo
durch solche Vorteile des Transversalmodenresonanzfilters wie
große Außenbanddämpfung und schwache Streuung nicht beein
trächtigt sind.
Claims (15)
1. AOW-Filter, das aufweist:
ein piezoelektrisches Substrat;
eine erste Interdigitalelektrode, die eine Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat angeordnet ist, zum Umwandeln einer Eingangsspannung in eine akustische Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat;
eine zweite Interdigitalelektrode, die die Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat parallel zu der ersten Interdigitalelektrode im Hinblick auf eine Lauf richtung der akustischen Oberflächenwelle angeordnet ist, zum Umwandeln der akustischen Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat in eine Spannung;
ein Paar erste Reflektoren, die eine Periode L/2 haben und auf dem piezoelektrischen Substrat sowie beiderseits eines Paars der ersten und zweiten Interdigitalelektrode in Laufrichtung unter Beibehaltung eines Abstands nL/2 + 0,5 L davon angeordnet sind, wobei n eine Ganzzahl ist, die gleich oder größer als null ist; und
mindestens einen zweiten Reflektor, der die Periode L/2 hat und auf dem piezoelektrischen Substrat sowie auf ei ner Außenseite eines der ersten Reflektoren in Laufrich tung unter Beibehaltung eines Abstands mL/2 + 0,75 L da von angeordnet ist, wobei m eine Ganzzahl ist, die gleich oder größer als null ist.
ein piezoelektrisches Substrat;
eine erste Interdigitalelektrode, die eine Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat angeordnet ist, zum Umwandeln einer Eingangsspannung in eine akustische Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat;
eine zweite Interdigitalelektrode, die die Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat parallel zu der ersten Interdigitalelektrode im Hinblick auf eine Lauf richtung der akustischen Oberflächenwelle angeordnet ist, zum Umwandeln der akustischen Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat in eine Spannung;
ein Paar erste Reflektoren, die eine Periode L/2 haben und auf dem piezoelektrischen Substrat sowie beiderseits eines Paars der ersten und zweiten Interdigitalelektrode in Laufrichtung unter Beibehaltung eines Abstands nL/2 + 0,5 L davon angeordnet sind, wobei n eine Ganzzahl ist, die gleich oder größer als null ist; und
mindestens einen zweiten Reflektor, der die Periode L/2 hat und auf dem piezoelektrischen Substrat sowie auf ei ner Außenseite eines der ersten Reflektoren in Laufrich tung unter Beibehaltung eines Abstands mL/2 + 0,75 L da von angeordnet ist, wobei m eine Ganzzahl ist, die gleich oder größer als null ist.
2. AOW-Filter nach Anspruch 1, wobei die Anzahl der zweiten
Reflektoren zwei beträgt, wobei ein Paar der zweiten Re
flektoren mit der Periode L/2 auf dem piezoelektrischen
Substrat und auf Außenseiten des Paars der ersten Re
flektoren in Laufrichtung unter Beibehaltung des Ab
stands mL/2 + 0,75 L davon angeordnet ist, wobei m eine
Ganzzahl ist, die gleich oder größer als null ist.
3. AOW-Filter nach Anspruch 1 oder 2,
wobei der Abstand zwischen dem Paar der ersten und zwei
ten Interdigitalelektrode und dem Paar der ersten Re
flektoren in einem Bereich von nL/2 + 0,4 L bis nL/2 +
0,6 L variiert, wobei n eine Ganzzahl ist, die gleich
oder größer als null ist.
4. AOW-Filter nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
wobei der Abstand zwischen einem der ersten Reflektoren
und dem zweiten Reflektor in einem Bereich von mL/2 +
0,65 L bis mL/2 + 0,85 L variiert, wobei m eine Ganzzahl
ist, die gleich oder größer als null ist.
5. AOW-Filter nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
wobei die Periode des Paars der ersten Reflektoren ge
genüber L/2 um höchstens mehrere Prozent variiert.
6. AOW-Filter nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
wobei die Periode des zweiten Reflektors gegenüber L/2
um höchstens mehrere Prozent variiert.
7. AOW-Filter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei die
ersten Reflektoren und der zweite Reflektor aus Dünnfil
men bestehen.
8. AOW-Filter nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei die
ersten Reflektoren und der zweite Reflektor aus Nuten
bestehen, die auf dem piezoelektrischen Substrat ausge
bildet sind.
9. AOW-Filter nach einem der Ansprüche 1 bis 8, das ferner
aufweist:
mindestens einen dritten Reflektor, der die Periode L/2 hat und auf dem piezoelektrischen Substrat sowie auf ei ner Außenseite des zweiten Reflektors in der Laufrich tung unter Beibehaltung eines von der Periode L/2 abwei chenden Abstands angeordnet ist.
mindestens einen dritten Reflektor, der die Periode L/2 hat und auf dem piezoelektrischen Substrat sowie auf ei ner Außenseite des zweiten Reflektors in der Laufrich tung unter Beibehaltung eines von der Periode L/2 abwei chenden Abstands angeordnet ist.
10. AOW-Filter nach Anspruch 9,
wobei die Periode des dritten Reflektors gegenüber L/2
um höchstens mehrere Prozent variiert.
11. AOW-Filter nach Anspruch 9 oder 10, wobei der dritte Re
flektor aus einem Dünnfilm besteht.
12. AOW-Filter nach einem der Ansprüche 9 bis 11, wobei der
dritte Reflektor aus einer Nut besteht, die auf dem pie
zoelektrischen Substrat ausgebildet ist.
13. AOW-Filter, das aufweist:
ein piezoelektrisches Substrat;
eine erste Interdigitalelektrode, die eine Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat angeordnet ist, zum Umwandeln einer Eingangsspannung in eine akustische Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat;
eine zweite Interdigitalelektrode, die die Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat parallel zu der ersten Interdigitalelektrode im Hinblick auf eine Lauf richtung der akustischen Oberflächenwelle angeordnet ist, zum Umwandeln der akustischen Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat in eine Spannung;
ein Paar erste Reflektoren, die auf dem piezoelektri schen Substrat und außerhalb eines Paars der ersten und zweiten Interdigitalelektrode in Laufrichtung angeordnet sind; und
mindestens einen zweiten Reflektor, der zwischen dem Paar der ersten und zweiten Interdigitalelektrode und einem der ersten Reflektoren angeordnet ist.
ein piezoelektrisches Substrat;
eine erste Interdigitalelektrode, die eine Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat angeordnet ist, zum Umwandeln einer Eingangsspannung in eine akustische Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat;
eine zweite Interdigitalelektrode, die die Periode L hat und auf dem piezoelektrischen Substrat parallel zu der ersten Interdigitalelektrode im Hinblick auf eine Lauf richtung der akustischen Oberflächenwelle angeordnet ist, zum Umwandeln der akustischen Oberflächenwelle auf dem piezoelektrischen Substrat in eine Spannung;
ein Paar erste Reflektoren, die auf dem piezoelektri schen Substrat und außerhalb eines Paars der ersten und zweiten Interdigitalelektrode in Laufrichtung angeordnet sind; und
mindestens einen zweiten Reflektor, der zwischen dem Paar der ersten und zweiten Interdigitalelektrode und einem der ersten Reflektoren angeordnet ist.
14. AOW-Filter nach Anspruch 13,
wobei die Reflektoren aus Dünnfilmen bestehen.
15. AOW-Filter nach Anspruch 13 oder 14,
wobei die Reflektoren aus Nuten bestehen, die auf dem
piezoelektrischen Substrat ausgebildet sind.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31022197A JP3154402B2 (ja) | 1997-11-12 | 1997-11-12 | Sawフィルタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19852300A1 true DE19852300A1 (de) | 1999-06-02 |
Family
ID=18002659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19852300A Ceased DE19852300A1 (de) | 1997-11-12 | 1998-11-12 | AOW-Filter |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6140890A (de) |
| JP (1) | JP3154402B2 (de) |
| DE (1) | DE19852300A1 (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1480336B1 (de) * | 2002-02-27 | 2011-08-24 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Elastik-oberflächenwellenvorrichtung |
| DE102007047614B4 (de) * | 2007-10-04 | 2018-04-12 | Continental Automotive Gmbh | Sensor zum Erfassen von Partikeln |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001094394A (ja) * | 1999-09-20 | 2001-04-06 | Fujitsu Ltd | 弾性表面波反射器 |
| US6534896B2 (en) * | 2001-05-15 | 2003-03-18 | Nortel Networks Limited | Spatial harmonic transducers for surface wave devices |
| DE10206376B4 (de) * | 2002-02-15 | 2012-10-25 | Epcos Ag | Resonatorfilter mit verbesserter Nahselektion |
| JP4734436B2 (ja) * | 2008-04-11 | 2011-07-27 | 日本電波工業株式会社 | デュプレクサ |
Family Cites Families (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US33957A (en) * | 1861-12-17 | Improved mode of operating giffard s injector | ||
| GB1513466A (en) * | 1975-09-19 | 1978-06-07 | Mullard Ltd | Acoustic surface wave devices |
| JPS56122217A (en) * | 1980-02-28 | 1981-09-25 | Nec Corp | Elastic surface wave oscillator |
| US4370633A (en) * | 1981-01-19 | 1983-01-25 | U.S. Philips Corporation | Acoustic wave bandpass electrical filters |
| JPS5843609A (ja) * | 1981-09-09 | 1983-03-14 | Toshiba Corp | 弾性表面波装置 |
| JPS58127426A (ja) * | 1982-01-26 | 1983-07-29 | Nec Corp | 弾性表面波装置 |
| JPS58223912A (ja) * | 1982-06-23 | 1983-12-26 | Nec Corp | 弾性表面波フイルタ |
| JPS59131213A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-07-28 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 高周波狭帯域多重モ−ド・フイルタ |
| USRE33957E (en) | 1982-07-26 | 1992-06-09 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | High frequency narrow-band multi-mode filter |
| US4513261A (en) * | 1983-05-12 | 1985-04-23 | Trw Inc. | Low-loss acoustic wave filter device |
| DE3438246A1 (de) * | 1984-10-18 | 1986-04-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Akustisches wellenfilter |
| EP0187918B1 (de) * | 1984-12-17 | 1991-07-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrisches Oberflächenwellenfilter |
| NO855285L (no) * | 1985-01-22 | 1986-07-23 | Siemens Ag | Filter som arbeider med akustiske boelger. |
| JPS61208306A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-16 | Nec Kansai Ltd | 弾性表面波共振子 |
| US4635008A (en) * | 1985-11-19 | 1987-01-06 | Sperry Corporation | Dispersive SAW filter with tapered transducers |
| JPS62199111A (ja) * | 1986-02-27 | 1987-09-02 | Toyo Commun Equip Co Ltd | Idt励振横結合二重モ−ドフイルタ |
| JPH0654858B2 (ja) * | 1987-05-18 | 1994-07-20 | 日本電気株式会社 | 弾性表面波多重モ−ドフィルタ |
| JPS6423611A (en) * | 1987-07-18 | 1989-01-26 | Oki Electric Ind Co Ltd | Polarized type surface acoustic wave resonator filter |
| JPS6392123A (ja) * | 1987-09-24 | 1988-04-22 | Hitachi Ltd | 弾性表面波共振器複合型フィルタ |
| JP2709713B2 (ja) * | 1988-03-17 | 1998-02-04 | 東洋通信機株式会社 | 共振子フィルタ |
| JPH0817304B2 (ja) * | 1988-06-23 | 1996-02-21 | 東光株式会社 | 表面弾性波共振器および多重モードフィルタ |
| JP2632407B2 (ja) * | 1989-02-14 | 1997-07-23 | 国際電気株式会社 | 単一モード2端子対弾性表面波共振子 |
| DE3942148A1 (de) * | 1989-12-20 | 1991-06-27 | Siemens Ag | Oberflaechenwellen-reflektorfilter |
| JPH04249907A (ja) * | 1990-12-27 | 1992-09-04 | Murata Mfg Co Ltd | 弾性表面波フィルタ |
| JPH05251986A (ja) * | 1992-03-03 | 1993-09-28 | Kokusai Electric Co Ltd | 弾性表面波フィルタ |
| JP3199817B2 (ja) * | 1992-03-04 | 2001-08-20 | 株式会社日立製作所 | 内部整合形弾性表面波フィルタ |
| DE69319977T3 (de) * | 1992-08-24 | 2006-06-14 | Nihon Dempa Kogyo Co | Akustisches Oberflächenwellenresonatorfilter |
| JP3201017B2 (ja) * | 1992-11-13 | 2001-08-20 | 株式会社村田製作所 | 梯子型弾性表面波フィルタ |
| JP3532624B2 (ja) * | 1993-10-08 | 2004-05-31 | 松下電器産業株式会社 | 弾性表面波フィルタ |
| US5365138A (en) * | 1993-12-02 | 1994-11-15 | Northern Telecom Limited | Double mode surface wave resonators |
| JPH07183760A (ja) * | 1993-12-24 | 1995-07-21 | Seiko Epson Corp | 弾性表面波装置 |
| US5600287A (en) * | 1994-02-03 | 1997-02-04 | Motorola, Inc. | Acoustic wave filter with reduced bulk-wave scattering loss, ladder filter incorporating same and method |
| JPH07254835A (ja) * | 1994-03-15 | 1995-10-03 | Murata Mfg Co Ltd | 弾性表面波共振子フィルタ |
| DE19548042C2 (de) * | 1995-12-21 | 1999-11-04 | Siemens Matsushita Components | Mit akustischen Oberflächenwellen arbeitendes Filter -OFW-Filter- |
| US5760664A (en) * | 1996-11-26 | 1998-06-02 | Motorola Inc. | Acoustic wave filter with double reflective gratings and method for producing the same |
-
1997
- 1997-11-12 JP JP31022197A patent/JP3154402B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-11-10 US US09/188,935 patent/US6140890A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-12 DE DE19852300A patent/DE19852300A1/de not_active Ceased
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1480336B1 (de) * | 2002-02-27 | 2011-08-24 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Elastik-oberflächenwellenvorrichtung |
| DE102007047614B4 (de) * | 2007-10-04 | 2018-04-12 | Continental Automotive Gmbh | Sensor zum Erfassen von Partikeln |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11145776A (ja) | 1999-05-28 |
| JP3154402B2 (ja) | 2001-04-09 |
| US6140890A (en) | 2000-10-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1198881B1 (de) | Akustisches oberflächenwellenfilter | |
| EP0995265B1 (de) | Oberflächenwellenakustikfilter mit verbesserter flankensteilheit | |
| DE10135871B4 (de) | Wandler für Oberflächenwellen mit verbesserter Unterdrückung störender Anregung | |
| DE112009002361B4 (de) | Filtervorrichtung für elastische Wellen | |
| EP1340316A1 (de) | Bulk-acoustic-wave-filter | |
| EP1125364A1 (de) | Oberflächenwellenanordnung mit zumindest zwei oberflächenwellen-strukturen | |
| DE19838573B4 (de) | Oberflächenwellenfilter | |
| DE69901426T2 (de) | Resonatorfilter mit akustischen oberflächenwellen | |
| DE3723545C2 (de) | Akustischer Oberflächenwellenfilter | |
| DE19753664B4 (de) | Oberflächenwellen-Resonatorfilter | |
| DE10113607B4 (de) | Abzweigtyp-Akustikoberflächenwellenfilter mit Akustikoberflächenwellenresonatoren | |
| DE2739688C2 (de) | ||
| EP0638212B1 (de) | Gewichteter reflektor für eine oberflächenwellenanordnung | |
| DE602004011144T2 (de) | Oberflächenwellenfilter und Oberflächenwellenresonator | |
| DE10309250B4 (de) | Elektroakustischer Wandler für mit Oberflächenwellen arbeitendes Bauelement | |
| EP0213372A2 (de) | Dispersiver Interdigital-Wandler für mit akustischen Wellen arbeitenden Anordnung | |
| DE19852300A1 (de) | AOW-Filter | |
| DE69806668T2 (de) | Akustische Oberflächenwellenanordnung | |
| DE19744948C2 (de) | Akustisches Filter, insbesondere Oberflächenwellen-Filter | |
| DE69733237T2 (de) | Akustische Oberflächenwellenanordnung | |
| DE69937431T2 (de) | Breitbandoberflächenwellenfilter | |
| DE60036041T2 (de) | Kantenreflexions-Oberflächenwellenfilter | |
| DE10026074B4 (de) | Rekursives OFW-Filter mit geringer Chiplänge | |
| DE19516903C2 (de) | Resonatorfilter | |
| EP1342317A1 (de) | Transversal gekoppeltes resonatorfilter |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: NRS TECHNOLOGIES INC., HOKKAIDO, JP |
|
| 8131 | Rejection |