DE1984796U - Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers. - Google Patents
Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers.Info
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
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Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
κ A. 500 620*30.8-67
SIEMEHS AKIIENGESEIISOHAFO! , * München, den 30..ÄUG.196?
pa 67/2772
Rotierende, wassergekühlte Erobe in Probenwechsler eines
Vacuum-Spektrometers
Die Röntgenfluoreszenzanalyse wird in einem weiten Bereich
der Uaterialuntersuehung benutzt? un- die Bestandteile von
zu untersuchenden Eroten- zu bestinmen." Für Elemente" .höherer
Ordnungszahlen ist diese Methode exakt und die Intensität der Söntgenfluoreszenzstrahlung genügend groß. Damit lassen
sich die Untersuchungen wegen kurzer Zühlzeiten schnell durchführen» Für leichtere Elemente«, wie z.B. Aluminium oder
PA 9/510/2235 a; \ { _ ■ - - x ■; :
4.8.1967, SlAeI ! -2- :
PA 9/5IO/2235 a - 2 - ;
Natrium, wird diese Ilethode ungenau, da die Xntensitätsausbeute
der Röntgenstrahlung mit abnehmender Ordnungszahl der Elemente abnimmt. Für Elemente mit Ordnungszahlen
kleiner 9 ist die Methode praktisch unbrauchbar«. Aus
diesem Grunde wird für die Anregung der leichteren Elemente zur Emission von Röntgenstrahlung ein Direktbeschuß der'
Proben mit einem Elektronenstrahl angewandt. Strom und Beschleunigungsspannung
des Elektronenstrahls können in weiten Grenzen variiert werden. Eine hohe Impulsrate für die
selektierte Röntgenstrahlung vvird erhalten. Zur Untersuchung der Zusammensetzung von Proben ist es deshalb günstig, eine
Röntgenröhre und eine Elektronenkanone in einem Gerät zusammenzufassen«
derartig kombinierte Yacuum-Spektrometer
sind allerdings bekannt. . ■ .- ■
■ ■ Beim Beschüß der Oberfläche von Proben mit Elektronen wird
die Probe selbst stark erwärmt. Das Tacuum wird bei Vorhandensein
einer glühenden Probe empfindlich gestört. Außerdem hängt die Ausbeute der,charakteristischen Röntgenstrahlung
davon abs wie hoch die Probe mit Elektronen belastet werden
kann. Zur Erzielung einer hohen Ausbeute ist es deshalb unbedingt erforderlich* die Probe zu kühlen.' Eine zusätzliche '.
Rotation der Probe um eine Achse verstärkt den Kühlvorgang und gestattet gleichzeitig eine Mittelung über Inhcmogenitäten
auf der Probenoberfläche. Damit ein stetiger Wechsel : von Probe zu Probe gewährleistet wird* ohne die Spektrometer
in der Zwischenzeit zu belüften, ist ein automatischer
Probenwechsler vergesehen, Er bringt die Proben· nacheinan- -
'■ ■ ' _3_
PA 9/5IO/2235 a _ 3 ■ - : I \
der oder in bestimmter Reihenfolge in den Strahlengang
der Röntgenstrahlung bzw. des Elektronenstrahles.
Die Heuerung betrifft eine Vorrichtung an Vacuum-Spektrometern,
in denen Proben von Röntgenstrahlen und/oder von Elektronen zur Emissien von charakteristischer Röntgen-,
strahlung angeregt werden, und die dadurch gekennzeichnet ist, daß ein Probenwechsler vorgesehen ist, der automatisch
rotierende und gekühlte Proben in den Strahlengang der' Röntgen- und/oder der Elektronenstrahlen dreht.
Die Neuerung wird anhand der Figuren 1 und 2S die ein
- Ausführungsbeispiel darstellen^ näher erläutert.
Nach Figur 1 ist in einem Vaeuum-Spektrcmeter VS eine Röntgenröhre
RR und eine Elektronenkanone EK angebracht. Die von der Röntgenröhre RR ausgehende Röntgenstrahlung 1 trifft
auf eine Probe P. Der Elektronenstrahl 2, welcher in der
Elektronenkanone EK erzeugt wird, trifft ebenfalls auf die Probe P. Die RöntgenflUOreszenzstrahlung bzw. die charakteristische
Röntgenstrahlung 3> die von der Probe P emittiert wird, gelangt durch einen Kollimator Kf! über einen Analysator-Kristall
AK, von dem die Röntgenstrahlung 3 selektiert wird, :■ zum Detektor· D. Die Röntgenröhre RR ist mit einer nicht nä-
her dargestellten Halterung befestigt. " ■
pa 9/510/2235 a : ■; ;- 4; - : ι
An der einen Seite des Vacuum-Spektrcmeters VS ist ein
Probenwechsler PY/ angebracht und mit Hilfe der Figur 2 erklärt.
Der Probenwechsler PW besteht aus einem hochvacuumdichten
Gehäuse G, in dessen Innern sich ein um "die Achse A., A^ drehbarer
Probenteller T befindet» Der Probenteller T hat mehrere
zylindrische löcher, ZoB. L^ bzw. Ip? ^ie zur Aufnahme
der Proben P,,, P« bzw. P dienen. Die Drehachse A^Ag des
Probentellers T ist an den Stellen 11 und 22,gelagert und
beiH vacuumdicht (Hutmanschetten, Kammer aus Simmerringen)
nach außen geführt. Er läßt sich axial absenken und anheben. In der gezeichneten Stellung ist er angehoben.
. Die Probe P. bzw. P befindet sich in Ließstellung, und die
Probenkammer PK ist evakuiert. An den Stellen 3 und 4 ist die Probenkammer PK gegen die Probenschleuse PS abgedichtet.
Zum Anpressen der dichtenden Ringplatte DP dient z.B. Preßluft oder ein Hebelmechanismu®. tTm einen Probenwechsel durch-
zuführen» werden die Probenschleuse PS durch ein Ventil am Saugstutzen SS belüftet, der Deckel D geöffnet und die Pro·»
be P2 eingelegt. Fach Schließen des Deckels D wird die Probenschleuse
PS durch den Saugstutzen SS evakuiert. Unter Weg-= nähme des Preßluftdruckes aus der Federbalgkainmer ΓΚ wird
die Eingplatte DP durch die Federkraft der Bälge von dem .
PA 9/510/2235 a ; : - 5 - ί ;
Probenteller T genommen, so dai3 jetzt die Fröbenschleuse PS
mit der Probenkammer FK in Verbindung steht. Anschließend
rar & der Probenteiler T etv,as abgesenkt, so daß auch die
Dichtung bei 3 aufgehoben wird» Gleichzeitig hebt sich die
Probe P-, von der Kühlplatte KP ab» Jetzt kann man den Probenteller
T um die Achse A-A2 drehen und P2 in Meßstellung {gezeichnete Stellung von Probe P. t>£w. P) bringen» DasAbsen-
ken des Probcntellers T geschieht deshalb, weil ein Gleiten über die Gummidichtung bei 3 zu deren schnellen Verschleiß
führt und die Hochvacuumdichtigkeit nicht mehr garantiert ist. Das folgende Anheben des Probentellers 1 und der.Dichtplatte DP ergibt wieder die ursprüngliche ^gezeichnete) Stellung.
Probendrehung- und Kühlung geschieht durch die rotierende
Kühlvorrichtung Γ.Κ. Sie ist bei. 5 vacuumdicht cn den Probenwechsler
FW angeflanscht. In dem Gehäuse G-, befindet sich ein drehbares Rohr R1, das bei. 6 und 7 gelagert (Kugellager
K. bzw. Kp) und vacuum- bzw. v.assergedichtet (Dichtung O^
bzw. Op) ist. Das Rohr B- ist in seinen unteren Teil stark
erweitert und mit der Kühlplatte KP (z.B. aus Kupfer) dicht abgeschlossen. Ein dazwischen gefügter Federball F sorgt
für den Anpreßdruck auf die Probe P-. In das Rohr.R- ragt
ein zweites, feststehendes Rohr Bp. Pei 3^ wird nun das Kühlwasser
oder die Kältemischung eingeleitet, gelang-t durch das
Rohr Rp an die Kühlplatte KP, fließt durch das äußere Rohr R-
PA 9/5IO/2235 a ; τ 6 ..- ■; , :
in die Wasserkammer IK und bei B2 wieder ab» Das durch ei=
nen Motor und Getriebe (nicht näher dargestellt) angetriebene, rotierende Kohr E- dreht die auf einen Kugellager K
aufliegende Probe-P,ο Die zu untersuchende Probe nimnt'entweder
die gesamte Größe ~vcn P- ein oder sie bildet nur einen
Teil (z.B. Probe P) davon. In diesem Fall besteht der Eest der Probe - zwischen Probe P und Kühlplatte KP "=■ z.B.
aus einem Kupferblock (gute Wärmeleitfähigkeit), in den die
Probe P mit gutein Wärmekcntakt eingesetzt ist. Das Eohr E-
und die Probe P., bzw. P sind an allen Stellen., wo sie mit
dem geerdeten Gehäuse (G5 G-) in Peruhrung konmen, durch
Kunststoffbuchsen elektrisch isoliert^ so daß der auf die . Probe P bzw. P^ fallende Ilektrcnenstrcn 2 gemessen werden
kann. ■
1 Schutzanspruch
2 Bl, Zeichnungen
Claims (1)
- 620*30.8.67PA 9/510/2235 a ; - 1 - ; :SchutzanspruchVorrichtung an Vacuum-Spektroineterns in denen Proben
von Röntgenstrahlen und/oder von Ilektrcnen zur Irnlssionvon charakteristischer Röntgenstrahlung angeregt v;erden, dadurch gekennzeichnet, daß ein Probenwechsler·■ (PW) vorgesehen ist, der automatisch rotierende und gekühlte Proben (z.B. P1? P2 bzw» P)'in den Strahlengang von Röntgen- und/oder Elektronenstrahlen (1 cder 2) drehte
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DES62210U DE1984796U (de) | 1967-08-30 | 1967-08-30 | Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| DES62210U DE1984796U (de) | 1967-08-30 | 1967-08-30 | Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1984796U true DE1984796U (de) | 1968-05-02 |
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ID=33383228
Family Applications (1)
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| DES62210U Expired DE1984796U (de) | 1967-08-30 | 1967-08-30 | Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers. |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE1984796U (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19820321A1 (de) * | 1998-05-07 | 1999-11-25 | Bruker Axs Analytical X Ray Sy | Kompaktes Röntgenspektrometer |
-
1967
- 1967-08-30 DE DES62210U patent/DE1984796U/de not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE19820321A1 (de) * | 1998-05-07 | 1999-11-25 | Bruker Axs Analytical X Ray Sy | Kompaktes Röntgenspektrometer |
| US6233307B1 (en) | 1998-05-07 | 2001-05-15 | Bruker Axs Analytical X-Ray Systems Gmbh | Compact X-ray spectrometer |
| DE19820321B4 (de) * | 1998-05-07 | 2004-09-16 | Bruker Axs Gmbh | Kompaktes Röntgenspektrometer |
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