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DE1984796U - Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers. - Google Patents

Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers.

Info

Publication number
DE1984796U
DE1984796U DES62210U DES0062210U DE1984796U DE 1984796 U DE1984796 U DE 1984796U DE S62210 U DES62210 U DE S62210U DE S0062210 U DES0062210 U DE S0062210U DE 1984796 U DE1984796 U DE 1984796U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sample
rotating
vacuum
changer
water
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES62210U
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DES62210U priority Critical patent/DE1984796U/de
Publication of DE1984796U publication Critical patent/DE1984796U/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/24Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/065Field emission, photo emission or secondary emission cathodes

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

κ A. 500 620*30.8-67
SIEMEHS AKIIENGESEIISOHAFO! , * München, den 30..ÄUG.196?
pa 67/2772
Rotierende, wassergekühlte Erobe in Probenwechsler eines Vacuum-Spektrometers
Die Röntgenfluoreszenzanalyse wird in einem weiten Bereich der Uaterialuntersuehung benutzt? un- die Bestandteile von zu untersuchenden Eroten- zu bestinmen." Für Elemente" .höherer Ordnungszahlen ist diese Methode exakt und die Intensität der Söntgenfluoreszenzstrahlung genügend groß. Damit lassen sich die Untersuchungen wegen kurzer Zühlzeiten schnell durchführen» Für leichtere Elemente«, wie z.B. Aluminium oder
PA 9/510/2235 a; \ { _ ■ - - x ■; : 4.8.1967, SlAeI ! -2- :
PA 9/5IO/2235 a - 2 - ;
Natrium, wird diese Ilethode ungenau, da die Xntensitätsausbeute der Röntgenstrahlung mit abnehmender Ordnungszahl der Elemente abnimmt. Für Elemente mit Ordnungszahlen kleiner 9 ist die Methode praktisch unbrauchbar«. Aus diesem Grunde wird für die Anregung der leichteren Elemente zur Emission von Röntgenstrahlung ein Direktbeschuß der' Proben mit einem Elektronenstrahl angewandt. Strom und Beschleunigungsspannung des Elektronenstrahls können in weiten Grenzen variiert werden. Eine hohe Impulsrate für die selektierte Röntgenstrahlung vvird erhalten. Zur Untersuchung der Zusammensetzung von Proben ist es deshalb günstig, eine Röntgenröhre und eine Elektronenkanone in einem Gerät zusammenzufassen« derartig kombinierte Yacuum-Spektrometer sind allerdings bekannt. . ■ .- ■
■ ■ Beim Beschüß der Oberfläche von Proben mit Elektronen wird die Probe selbst stark erwärmt. Das Tacuum wird bei Vorhandensein einer glühenden Probe empfindlich gestört. Außerdem hängt die Ausbeute der,charakteristischen Röntgenstrahlung davon abs wie hoch die Probe mit Elektronen belastet werden kann. Zur Erzielung einer hohen Ausbeute ist es deshalb unbedingt erforderlich* die Probe zu kühlen.' Eine zusätzliche '. Rotation der Probe um eine Achse verstärkt den Kühlvorgang und gestattet gleichzeitig eine Mittelung über Inhcmogenitäten auf der Probenoberfläche. Damit ein stetiger Wechsel : von Probe zu Probe gewährleistet wird* ohne die Spektrometer in der Zwischenzeit zu belüften, ist ein automatischer Probenwechsler vergesehen, Er bringt die Proben· nacheinan- -
'■ ■ ' _3_
PA 9/5IO/2235 a _ 3 ■ - : I \
der oder in bestimmter Reihenfolge in den Strahlengang der Röntgenstrahlung bzw. des Elektronenstrahles.
Die Heuerung betrifft eine Vorrichtung an Vacuum-Spektrometern, in denen Proben von Röntgenstrahlen und/oder von Elektronen zur Emissien von charakteristischer Röntgen-, strahlung angeregt werden, und die dadurch gekennzeichnet ist, daß ein Probenwechsler vorgesehen ist, der automatisch rotierende und gekühlte Proben in den Strahlengang der' Röntgen- und/oder der Elektronenstrahlen dreht.
Die Neuerung wird anhand der Figuren 1 und 2S die ein - Ausführungsbeispiel darstellen^ näher erläutert.
Nach Figur 1 ist in einem Vaeuum-Spektrcmeter VS eine Röntgenröhre RR und eine Elektronenkanone EK angebracht. Die von der Röntgenröhre RR ausgehende Röntgenstrahlung 1 trifft auf eine Probe P. Der Elektronenstrahl 2, welcher in der Elektronenkanone EK erzeugt wird, trifft ebenfalls auf die Probe P. Die RöntgenflUOreszenzstrahlung bzw. die charakteristische Röntgenstrahlung 3> die von der Probe P emittiert wird, gelangt durch einen Kollimator Kf! über einen Analysator-Kristall AK, von dem die Röntgenstrahlung 3 selektiert wird, :■ zum Detektor· D. Die Röntgenröhre RR ist mit einer nicht nä-
her dargestellten Halterung befestigt. " ■
pa 9/510/2235 a : ■; ;- 4; - : ι
An der einen Seite des Vacuum-Spektrcmeters VS ist ein Probenwechsler PY/ angebracht und mit Hilfe der Figur 2 erklärt.
Der Probenwechsler PW besteht aus einem hochvacuumdichten Gehäuse G, in dessen Innern sich ein um "die Achse A., A^ drehbarer Probenteller T befindet» Der Probenteller T hat mehrere zylindrische löcher, ZoB. L^ bzw. Ip? ^ie zur Aufnahme der Proben P,,, P« bzw. P dienen. Die Drehachse A^Ag des Probentellers T ist an den Stellen 11 und 22,gelagert und beiH vacuumdicht (Hutmanschetten, Kammer aus Simmerringen) nach außen geführt. Er läßt sich axial absenken und anheben. In der gezeichneten Stellung ist er angehoben.
. Die Probe P. bzw. P befindet sich in Ließstellung, und die Probenkammer PK ist evakuiert. An den Stellen 3 und 4 ist die Probenkammer PK gegen die Probenschleuse PS abgedichtet. Zum Anpressen der dichtenden Ringplatte DP dient z.B. Preßluft oder ein Hebelmechanismu®. tTm einen Probenwechsel durch- zuführen» werden die Probenschleuse PS durch ein Ventil am Saugstutzen SS belüftet, der Deckel D geöffnet und die Pro·» be P2 eingelegt. Fach Schließen des Deckels D wird die Probenschleuse PS durch den Saugstutzen SS evakuiert. Unter Weg-= nähme des Preßluftdruckes aus der Federbalgkainmer ΓΚ wird die Eingplatte DP durch die Federkraft der Bälge von dem .
PA 9/510/2235 a ; : - 5 - ί ;
Probenteller T genommen, so dai3 jetzt die Fröbenschleuse PS mit der Probenkammer FK in Verbindung steht. Anschließend rar & der Probenteiler T etv,as abgesenkt, so daß auch die Dichtung bei 3 aufgehoben wird» Gleichzeitig hebt sich die Probe P-, von der Kühlplatte KP ab» Jetzt kann man den Probenteller T um die Achse A-A2 drehen und P2 in Meßstellung {gezeichnete Stellung von Probe P. t>£w. P) bringen» DasAbsen- ken des Probcntellers T geschieht deshalb, weil ein Gleiten über die Gummidichtung bei 3 zu deren schnellen Verschleiß führt und die Hochvacuumdichtigkeit nicht mehr garantiert ist. Das folgende Anheben des Probentellers 1 und der.Dichtplatte DP ergibt wieder die ursprüngliche ^gezeichnete) Stellung.
Probendrehung- und Kühlung geschieht durch die rotierende Kühlvorrichtung Γ.Κ. Sie ist bei. 5 vacuumdicht cn den Probenwechsler FW angeflanscht. In dem Gehäuse G-, befindet sich ein drehbares Rohr R1, das bei. 6 und 7 gelagert (Kugellager K. bzw. Kp) und vacuum- bzw. v.assergedichtet (Dichtung O^ bzw. Op) ist. Das Rohr B- ist in seinen unteren Teil stark erweitert und mit der Kühlplatte KP (z.B. aus Kupfer) dicht abgeschlossen. Ein dazwischen gefügter Federball F sorgt für den Anpreßdruck auf die Probe P-. In das Rohr.R- ragt ein zweites, feststehendes Rohr Bp. Pei 3^ wird nun das Kühlwasser oder die Kältemischung eingeleitet, gelang-t durch das Rohr Rp an die Kühlplatte KP, fließt durch das äußere Rohr R-
PA 9/5IO/2235 a ; τ 6 ..- ■; , :
in die Wasserkammer IK und bei B2 wieder ab» Das durch ei= nen Motor und Getriebe (nicht näher dargestellt) angetriebene, rotierende Kohr E- dreht die auf einen Kugellager K aufliegende Probe-P,ο Die zu untersuchende Probe nimnt'entweder die gesamte Größe ~vcn P- ein oder sie bildet nur einen Teil (z.B. Probe P) davon. In diesem Fall besteht der Eest der Probe - zwischen Probe P und Kühlplatte KP "=■ z.B. aus einem Kupferblock (gute Wärmeleitfähigkeit), in den die Probe P mit gutein Wärmekcntakt eingesetzt ist. Das Eohr E- und die Probe P., bzw. P sind an allen Stellen., wo sie mit dem geerdeten Gehäuse (G5 G-) in Peruhrung konmen, durch Kunststoffbuchsen elektrisch isoliert^ so daß der auf die . Probe P bzw. P^ fallende Ilektrcnenstrcn 2 gemessen werden kann. ■
1 Schutzanspruch
2 Bl, Zeichnungen

Claims (1)

  1. 620*30.8.67
    PA 9/510/2235 a ; - 1 - ; :
    Schutzanspruch
    Vorrichtung an Vacuum-Spektroineterns in denen Proben
    von Röntgenstrahlen und/oder von Ilektrcnen zur Irnlssionvon charakteristischer Röntgenstrahlung angeregt v;erden, dadurch gekennzeichnet, daß ein Probenwechsler·■ (PW) vorgesehen ist, der automatisch rotierende und gekühlte Proben (z.B. P1? P2 bzw» P)'in den Strahlengang von Röntgen- und/oder Elektronenstrahlen (1 cder 2) drehte
DES62210U 1967-08-30 1967-08-30 Rotierende, wassergekuehlte probe im probenwechsler eines vakuum-spektrometers. Expired DE1984796U (de)

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Publications (1)

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DE1984796U true DE1984796U (de) 1968-05-02

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19820321A1 (de) * 1998-05-07 1999-11-25 Bruker Axs Analytical X Ray Sy Kompaktes Röntgenspektrometer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19820321A1 (de) * 1998-05-07 1999-11-25 Bruker Axs Analytical X Ray Sy Kompaktes Röntgenspektrometer
US6233307B1 (en) 1998-05-07 2001-05-15 Bruker Axs Analytical X-Ray Systems Gmbh Compact X-ray spectrometer
DE19820321B4 (de) * 1998-05-07 2004-09-16 Bruker Axs Gmbh Kompaktes Röntgenspektrometer

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