DE19835335C1 - Infrarotoptischer Gassensor - Google Patents
Infrarotoptischer GassensorInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen bezüglich der Meßsignalqualität verbesserten infrarotoptischen Gassensor mit folgenden kennzeichnenden Merkmalen: DOLLAR A a) die als Referenz- und Meßstrahlungsdetektoren dienenden Infrarotstrahlungsdetektoren (4, 6) bestehen aus dünnen Schichten eines teiltransparenten Materials, das ein von der empfangenen Strahlungsintensität abhängiges elektrisches Meßsignal abgibt, DOLLAR A b) die Infrarotstrahlungsdetektoren sind übereinander gestapelt und mit je einem zwischengeschalteten, bei der Meßwellenlänge durchlässigen Schmalbandfilter (3, 5) angeordnet, DOLLAR A c) die Infrarotstrahlungsdetektoren sind an Ober- und Unterseite jeweils elektrisch leitfähig beschichtet und kontaktiert, DOLLAR A d1) der Meßstrahlungsdetektor (6) folgt auf den Referenzstrahlungsdetektor (4) in Strahlrichtung und DOLLAR A e1) der Referenzstrahlungsdetektor (4) ist zumindest für einen Teil der Meßstrahlung bei der Meßwellenlänge durchlässig, oder DOLLAR A d2) der Referenzstrahlungsdetektor folgt auf den Meßstrahlungsdetektor in Strahlrichtung und DOLLAR A e2) der Meßstrahlungsdetektor ist zumindest für einen Teil der Referenzstrahlung bei der Referenzwellenlänge durchlässig.
Description
Die Erfindung betrifft einen infrarotoptischen Gassensor gemäß Oberbegriff
von Anspruch 1 und 2.
Ein derartiger infrarotoptischer Gassensor geht beispielsweise aus der
DE 197 13 928 C1 hervor und enthält speziell zwei Strahlungsquellen und
zwei Strahlungsdetektoren sowie zugeordnete optische Konzentratoren und
einen Strahlenteiler.
Aus der EP 0 427 037 A2 ist ein infrarotoptischer Gasanalysator bekannt
geworden, welcher zwei hintereinander angeordnete, pneumatische Strahlungs
empfänger mit einem zwischengeschalteten Schmalbandfilter aufweist.
Ein wesentlicher Nachteil der bisher verwendeten infrarotoptischen Gassensoren
ist durch den relativ komplexen optischen Aufbau und die damit einhergehenden
Kosten für die optischen Bauelemente bedingt. Üblicherweise werden nämlich zur
Kompensation des Einflusses der Abnahme der Intensität der Strahlung der
Infrarotstrahlungsquelle durch deren Alterung oder durch die Verschmutzung
optischer Flächen im Strahlenweg zwei Wellenlängen verwendet, nämlich eine
Meßwellenlänge und eine Referenzwellenlänge. Dabei ist die Meßwellenlänge
(Meßstrahlung) so gewählt, daß das zugehörige Meßsignal eines Infrarot
strahlungsdetektors eine charakteristische Abhängigkeit von der Konzentration
des zu messenden Gases zeigt. Andererseits wird die Referenzwellenlänge
(Referenzstrahlung) so gewählt, daß das gemessene Referenzsignal möglichst
wenig durch das zu messende Gas beeinflußt wird. Der geometrische Aufbau des
Meß- und Referenzkanals erfolgt so, daß die Strahlung in der Meß- beziehungs
weise Absorptionsstrecke für beide Kanäle möglichst den gleichen optischen Weg
nimmt.
In einem meist gekapselten, vom zu messenden Gas nicht beeinflußten Bereich
wird die Strahlung auf zwei getrennte optische Wege für die Meßstrahlung und
die Referenzstrahlung aufgeteilt, insbesondere mittels eines Strahlenteilers.
Durch Division der Signalwerte von Meßkanal und Referenzkanal soll der Ein
fluß der oben genannten, sich auf beide Kanäle auswirkenden Intensitäts
änderungen der Strahlung eliminiert werden, während die Meßsignal
änderung der spektral schmalbandigen Absorption durch das Meßgas
erhalten bleibt.
Diese bisher üblichen Meßanordnungen und die zugehörigen Meßver
fahren sind mit dem prinzipiellen Nachteil behaftet, daß eine Änderung
in der Geometrie der Strahlverteilung auf Meß- und Referenzkanal zu
einer Drift beziehungsweise Verschlechterung des Meßsignals führt.
Hinzu kommt, daß der Meßeffekt, also die Änderung des Signalquotienten
durch Absorption, häufig sehr klein ist, so daß beispielsweise für einen
Methansensor aufgrund der geforderten Genauigkeit von 1% der unteren
Explosionsgrenze dieses einer Abweichung des Signalquotienten von 0,5%
entspricht. Derartige Abweichungen des Signalquotienten sind jedoch gleich
falls leicht möglich, wenn beispielsweise der Strahlenteiler in der optischen
Anordnung keine ideale Aufteilung der Strahlung auf die aktiven Flächen von
Meßstrahlungsdetektor und Referenzstrahlungsdetektor gewährleistet, oder
wenn durch Alterungseffekte in der Strahlungsquelle eine Verschiebung des
Bildes der Strahlungsquelle in der Ebene der Detektoren bewirkt wird. Bewegt
sich der Strahlfleck über den Rand der aktiven Detektorfläche, so verändert
sich das Detektorsignal. Eine leichte Unsymmetrie in der Ausleuchtung
erzeugt so im Signalquotienten eine unerwünschte Abweichung.
Ähnliche Abweichungen können auch durch thermische Verformungen des
Sensoraufbaus oder durch Schmutz oder Flüssigkeitstropfen im Strahlengang,
durch mechanische Erschütterungen oder andere Ursachen bewirkt werden.
Im Endeffekt werden so Strahlungsanteile ausgeblendet, die in Meß- und
Referenzkanal ungleich gewichtet sind.
Zur Vermeidung oder Reduzierung der vorstehend beschriebenen Einflüsse
werden aufwendige technische Maßnahmen ergriffen: So werden beispielsweise
Gehäuse und tragende Konstruktion aus hochwertigen metallischen Werkstoffen
gefertigt, präzisionsgearbeitete Passungen und winkeltreue Fassungen sowie
Justageschritte werden im Fertigungsprozeß vorgesehen. Weiterhin
werden strukturierte Intensitätsverteilungen in der wirksamen Detektor
fläche durch unscharfe Abbildung beziehungsweise durch gezielte
Streuung der Strahlung geglättet. Auch die Verwendung nur eines
Detektorelementes mit einem im Strahlenweg angeordneten beweglichen
Filterrad mit unterschiedlichen Interferenzfiltern ist bekannt.
Die Aufgabe der Erfindung besteht nun darin, einen einfachen Aufbau für
einen verbesserten infrarotoptischen Gassensor vorzuschlagen, der
stabilere Meßsignale liefert.
Die Lösung der Aufgabe erhält man für einen infrarotoptischen Gassensor
der eingangs genannten Art mit den kennzeichnenden Merkmalen von
Anspruch 1 oder für eine alternative Ausführungsform mit den kennzeich
nenden Merkmalen von Anspruch 2.
Ein wesentlicher Vorteil vorliegender Erfindung ergibt sich durch den kom
pakten, geschichteten Aufbau einer Mehrfachdetektoranordnung für die
Messung von mindestens zwei unterschiedlichen Wellenlängen, nämlich
einer Referenz- und einer Meßwellenlänge. Im einfachsten Fall kann der
Gassensor gemäß Erfindung so aufgebaut sein, daß die mit Meßgas
gefüllte Meßgasküvette ein innen reflektierendes Rohr ist, das an einer
Endfläche eine breitbandige Infrarotstrahlungsquelle und an der anderen,
gegenüberliegenden Endfläche eine erfindungsgemäße, geschichtete
Mehrfachdetektoranordnung aufweist. Ohne weitere abbildende Optik wird so
ein infrarotoptischer Gassensor mit stabilem Ausgangssignal bereitgestellt.
Der zylinderförmige Reflektor, also die Meßgasküvette, sorgt dabei für eine
erhöhte Strahlungsintensität auf der Mittellängsachse der Meßgasküvette
und damit auch im Eintrittsfenster der Mehrfachdetektoranordnung, welche
mittig in der einen Endfläche der Meßgasküvette montiert ist.
Im Gegensatz zu vorliegender Erfindung bringt ein üblicherweise bisher
verwendeter Doppeldetektor mit nebeneinander angeordneten Eintritts
fenstern hier Nachteile durch verminderte zeitliche und geometrische
Stabilität der bestrahlten wirksamen Detektorflächen sowie durch die
verminderte empfangene Strahlungsintensität aufgrund der nicht mög
lichen geometrisch identischen Anordnung beider Detektoren auf der
Mittellängsachse der Meßküvette. Die Vielfachreflektionen an der
zylindrischen Meßgasküvettenfläche führen zu einer Intensitätsverteilung
der Strahlung mit einem Maximum auf der Mittellängsachse und steilem
Intensitätsabfall in radialem Abstand. Somit liegen die strahlungsempfind
lichen Detektorflächen auf den Flanken dieser Intensitätsverteilung, so daß
die gemessene Strahlungsintensität stark von der Position der Infrarot
strahlungsdetektoren und deren Veränderung abhängig ist.
Die Unteransprüche geben vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung
gemäß Anspruch 1 oder 2 an.
Meß- und Referenzstrahlungsdetektor sind als dünne, teiltransparente
Schicht ausgelegt. Dies kann jeweils eine dünne planparallele Scheibe
oder Schicht eines pyroelektrischen Materials sein, die an Ober- und
Unterseite vorzugsweise transparent elektrisch leitfähig beschichtet und
kontaktiert ist. Geeignete pyroelektrische Materialien sind insbesondere
die kristallinen Stoffe Lithiumtantalat (LiTaO3), Strontium-Barium-Niobat (SBN),
Triglycinsulphat (TGS), Blei-Zirkon-Titanat (PZT) und das Polymer Polyvenyliden
fluorid (PVDF). Es sind auch Halbleiter verwendbar, die den inneren Photo
effekt zum Strahlungsnachweis nutzen, wie es für HgCdTe, PbS und PbSe
gegeben ist. Hier muß der Aufbau der Detektorelemente und die Kontaktierung
einen Durchtritt der Strahlung ohne Abschattung zulassen.
Transparente leitfähige Schichten sind insbesondere metallische Schichten mit
Dicken im Bereich weniger nm oder transparente Schichten wie ITO (Indium-
Zinn-Oxid).
Zwischen zwei Schichten wird jeweils ein Schmalbandfilter angeordnet,
das den spektralen Anteil der einfallenden Strahlung weiter einengt.
Vor der ersten strahlungsempfindlichen Schicht kann ebenfalls ein
Schmalbandfilter angeordnet sein, das den Spektralbereich durchläßt,
in dem die Meß- und die Referenzwellenlängen enthalten sind. Die Durch
laßbereiche der Filter müssen so ausgewählt werden, daß sie in mindestens
einem Teilbereich überlappen. Die Dicke der ersten strahlungsempfindlichen
Schicht muß so ausgelegt sein, daß ein genügender Anteil der Strahlung
sowohl absorbiert als auch transmittiert wird. Durch Polieren kristalliner
Materialien wie Lithiumtantalat (LiTaO3) sind Schichtdicken von 20 bis 30 µm
realisierbar. Folien aus Polyvenylidenfluorid (PVDF) in vergleichbarer
Schichtdicke sind Stand der Technik. Für Tryglycinsulphat (TGS) sind
Schichtdicken ab 1 µm realisiert worden.
Die Absorption von Strahlung in der durchlässigen Schicht wird dadurch
gesteigert, daß ein im Strahlengang nachfolgendes, vorzugsweise als
Interferenzfilter ausgebildetes Schmalbandfilter den Anteil der Strahlung
reflektiert, den es nicht durchläßt. Dieser Anteil durch
tritt erneut die erste Detektorschicht und kann absorbiert werden. Besteht
der Aufbau aus mehr als zwei Teildetektoren, so gilt dies auch für die nach
folgenden Teildetektoren.
Im Falle der Polymerschicht aus Polyvenylidenfluorid (PVDF) liegt eine
natürliche selektive Absorption im Bereich 3,3 µm vor, die durch Zumischung
von Kohlenwasserstoff-Monomeren noch gesteigert werden kann. Mit dieser
Schicht als erster Schicht im Lichtweg können Kohlenwasserstoffe selektiv
gemessen werden, ohne daß ein entsprechendes Schmalband vorgeschaltet
werden muß. Diese Schicht filtert gleichzeitig den Anteil des Spektrums der
einfallenden Strahlung heraus, den Kohlenwasserstoffe in der Atmosphäre
absorbieren. Dadurch empfängt die nachfolgende Detektorschicht den
Strahlungsanteil, der weitgehend unabhängig von Konzentrationsänderungen
von Kohlenwasserstoffen im Lichtweg ist. Hieraus ergibt sich eine besondere
Ausführung des Erfindungsgegenstands.
Die letzte Detektorschicht im Detektoraufbau erlaubt einen größeren
Gestaltungsspielraum. Bei pyroelektrischen Schichten kann die Eintrittsfläche
geschwärzt werden, um eine vollständige Absorption der restlichen Strahlung
zu erreichen. Die Elektroden müssen hier nicht transparent sein. Auch ein
komplexer Halbleiterdetektor mit pn-Übergang und rückseitig aufgebrachten
Elektrodenstrukturen ist einsetzbar.
Bei der Verwendung von pyroelektrischen Kristallen für die einzelnen
Detektorschichten ist der starke Einfluß des thermischen Umfelds auf das Signal
zu beachten. Ein direkter Kontakt des Kristalls oder der Folie mit einem
Schmalbandfilter führt zu einem deutlich veränderten Verhalten gegenüber einer
freitragenden Schicht vor allem im Bereich kleiner Frequenzen der Modulation
der Strahlung. Hier muß der Zwischenraum bezüglich der Wärmeleitung vom
pyroelektrischen Kristall an die Umgebung so ausgelegt sein, daß die Empfind
lichkeit der Schicht optimal wird. Dies erreicht man durch geeignete Substrat
materialien mit niedriger Wärmekapazität und Wärmeleitfähigkeit oder durch einen
Luftspalt. Die Dicke des Zwischenraums beträgt etwa 0,3 bis 1 mm.
Der gesamte Schichtaufbau kann in einem üblichen Standardgehäuse unter
gebracht werden, dessen Eintrittsöffnung eine Blende für die eintretende
Strahlung darstellt. Die oberste Schicht des Aufbaus kann als Eintrittsfenster
dienen, wobei diese Schicht zur Erreichung einer Gasdichtigkeit mit dem Gehäuse
verklebt oder verlötet wird. Die Blende sorgt unter anderem dafür, daß jeder
eintretende Lichtstrahl alle Schichten des Aufbaus durchlaufen muß. Auf diese
Weise wird ausgeschlossen, daß ein Strahlungsanteil nur einen der Teildetektoren
trifft und so bei einer Veränderung zu einer Drift des Signalquotienten führt.
Zur Kompensation des Einflusses sich ändernder Umgebungstemperaturen
können ein oder mehrere weitere pyroelektrische Elemente hinzukommen,
deren Signale zur Gegenkopplung genutzt werden. Zur Eliminierung einer
Empfindlichkeit auf die einfallende Strahlung werden solche Elemente vorzugs
weise mit einer Gold-Oberfläche versehen.
Für einen Doppeldetektor zur Messung von CO2 kann das Durchlaßfenster für das
Schmalbandfilter im Strahlungseintritt (Referenzfilter) den Bereich von 4,0 bis
4,4 µm abdecken. Das folgende Filter (Meßfilter) deckt dann die Absorptions
bande des CO2 um 4,24 µm mit einer Breite von 100 bis 200 nm ab. Alternativ
können beide Durchlaßbereiche so gewählt werden, daß sie nur in dem Bereich
der Absorptionsbande des CO2 überlappen, wobei aber das Referenzfilter einen
zusätzlichen Bereich beeinhalten muß, in welchem CO2 nicht absorbiert.
Die Schichtdicke der Infrarotstrahlungsdetektoren gemäß Erfindung beträgt
etwa 1 bis 30 Mikrometer, die Schichtdicke der Schmalbandfilter etwa 0,3
bis 1 mm.
Je nach spezieller Ausgestaltung der Erfindung sind die Schmalbandfilter
gemäß Hauptansprüchen vorzugsweise entweder als Interferenzfilter mit
schmalem Durchlaßbereich oder als Interferenzfilter mit schmalem Sperrbereich
oder als Absorptionsfilter mit schmalem Absorptionsbereich ausgebildet.
Beispielsweise ist der oder mehrere Schmalbandfilter gemäß Anspruch 1
vorzugsweise ein Interferenzfilter mit schmalem Durchlaßbereich, so daß
idealerweise nur Meßstrahlung mit der gasspezifischen Meßwellenlänge auf die
nachfolgende, den Meßstrahlungsdetektor bildende Schicht gelangt.
Dementsprechend sind die beiden anderen genannten Ausführungsformen für
Schmalbandfilter vorzugsweise für Varianten der Erfindung gemäß Anspruch 2
geeignet.
Die einzige Figur zeigt schematisch eine geschichtete Detektoranordnung eines
infrarotoptischen Gassensors gemäß der Erfindung.
Die Detektoranordnung befindet sich mittig symmetrisch zur Mittellängsachse
der durch die Eintrittsöffnung 1 eintretenden Strahlung (Pfeile) einer Infrarot
strahlungsquelle, und zwar nach Durchqueren des Meßgases, dessen Kon
zentration ermittelt werden soll.
Die Detektoranordnung setzt sich aus mehreren parallelen Schichten zusammen,
die in ein Gehäuse 2 eingebaut sind:
Im Ausführungsbeispiel sind ein dünnschichtiger pyroelektrischer
Referenzstrahlungsdetektor 4 mit einem vorgeschalteten Schmalbandfilter 3 sowie
ein darunterliegender Meßstrahlungsdetektor 6 mit einem zwischengeschalteten
Schmalbandfilter 5 gestapelt angeordnet. Im vorliegenden Beispiel besteht der
Meßstrahlungsdetektor 6 aus einem pyroelektrischen Material und ist in der
Strahleneintrittsfläche mit einer Absorptionsschicht 7 geschwärzt, um eine
vollständige Absorption der eintretenden Strahlung zu erreichen. Mittels der
Kontaktleitungen 8 und 9 werden die elektrischen Ausgangssignale der
Detektorschichten den Verstärkern 10 und 11 zugeleitet, deren Ausgangssignale
wiederum in einer an sich bekannten Auswerteelektronik 12 durch
Quotientenbildung aus Referenz- und Meßsignalen ausgewertet und letztlich als
Konzentrationswerte des gemessenen Gases ausgegeben und angezeigt werden.
Claims (13)
1. Infrarotoptischer Gassensor mit mindestens einer Infrarot
strahlungsquelle und mit mindestens einem Infrarotstrahlungs
detektor, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) die als Referenz- und Meßstrahlungsdetektor dienenden Infrarotstrahlungsdetektoren aus dünnen Schichten eines teiltransparenten Materials bestehen, das ein von der empfangenen Strahlungsintensität abhängiges elektrisches Meßsignal abgibt,
- b) die Infrarotstrahlungsdetektoren übereinander gestapelt und mit je einem zwischengeschalteten, bei der Meßwellenlänge durchlässigen Schmalbandfilter angeordnet sind,
- c) die Infrarotstrahlungsdetektoren an Ober- und Unterseite jeweils elektrisch leitfähig beschichtet und kontaktiert sind,
- d) der Meßstrahlungsdetektor auf den Referenzstrahlungsdetektor in Strahlrichtung folgt und
- e) der Referenzstrahlungsdetektor zumindest für einen Teil der Meßstrahlung bei der Meßwellenlänge durchlässig ist.
2. Infrarotoptischer Gassensor mit mindestens einer Infrarot
strahlungsquelle und mit mindestens einem Infrarotstrahlungs
detektor, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) die als Referenz- und Meßstrahlungsdetektor dienenden Infrarotstrahlungsdetektoren aus dünnen Schichten eines teiltransparenten Materials bestehen, das ein von der empfangenen Strahlungsintensität abhängiges elektrisches Meßsignal abgibt,
- b) die Infrarotstrahlungsdetektoren übereinander gestapelt und mit je einem zwischengeschalteten, bei der Meßwellenlänge sperrenden Schmalbandfilter angeordnet sind,
- c) die Infrarotstrahlungsdetektoren an Ober- und Unterseite jeweils elektrisch leitfähig beschichtet und kontaktiert sind,
- d) der Referenzstrahlungsdetektor auf den Meßstrahlungsdetektor in Strahlrichtung folgt und
- e) der Meßstrahlungsdetektor zumindest für einen Teil der Referenz strahlung bei der Referenzwellenlänge durchlässig ist.
3. Infrarotoptischer Gassensor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß mindestens ein Infrarotstrahlungsdetektor aus einem
pyroelektrischen Material besteht, insbesondere aus den Stoffen
Lithiumtantalat (LiTaO3), Strontium-Barium-Niobat (SBN), Triglycinsulphat
(TGS), Blei-Zirkon-Titanat (PZT), Polyvenylidenfluorid (PVDF).
4. Infrarotoptischer Gassensor nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein
Infrarotstrahlungsdetektor aus einem teiltransparenten Halbleitermaterial
besteht, insbesondere aus HgCdTe, PbS, PbSe.
5. Infrarotoptischer Gassensor nach einem der Ansprüche 1 und 3 oder
1 und 4, dadurch gekennzeichnet, daß auch dem Referenzstrahlungsdetektor
vorgeschaltet ein Schmalbandfilter angeordnet ist, welches in dem
Spektralbereich durchlässig ist, in dem die Meß- und Referenzwellenlängen
enthalten sind.
6. Infrarotoptischer Gassensor nach einem der Ansprüche 2 und 3 oder 2 und 4,
dadurch gekennzeichnet, daß auch dem Meßstrahlungsdetektor
vorgeschaltet ein Schmalbandfilter angeordnet ist, welches in dem Spektral
bereich durchlässig ist, in dem die Meß- und Referenzwellenlängen ent
halten sind.
7. Infrarotoptischer Gassensor nach mindestens einem der Ansprüche
2, 3 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Infrarot
strahlungsdetektor mit einem Schmalbandfilter in Form einer einzigen Schicht
aus einem pyroelektrischen Polymer mit natürlicher selektiver
Infrarotabsorption ausgeführt ist, insbesondere aus Polyvenylidenfluorid
(PVDF).
8. Infrarotoptischer Gassensor nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
der Meßstrahlungsdetektor mit nachgeschaltetem Schmalbandfilter aus
einer einzigen Schicht aus Polyvenylidenfluorid (PVDF) besteht, insbe
sondere mit zugemischten monomeren Kohlenwasserstoffen.
9. Infrarotoptischer Gassensor nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Schichtdicke der Infrarot
strahlungsdetektoren etwa 1 bis 30 Mikrometer beträgt.
10. Infrarotoptischer Gassensor nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßstrahlungsdetektor
aus einem pyroelektrischen Material besteht und die Strahleneintritts
fläche mit einer Strahlenabsorptionsschicht versehen ist.
11. Infrarotoptischer Gassensor nach mindestens einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der mindestens eine Infrarot
strahlungsdetektor vom zugehörigen vorgeschalteten Schmalbandfilter durch
einen Luftspalt oder durch ein teiltransparentes Substratmaterial mit
geringer Wärmeleitfähigkeit beabstandet ist.
12. Infrarotoptischer Gassensor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß mindestens ein Schmalbandfilter ein Interferenz
filter ist.
13. Infrarotoptischer Gassensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens ein Schmalbandfilter ein Absorptionsfilter ist.
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| DE19835335A DE19835335C1 (de) | 1998-08-05 | 1998-08-05 | Infrarotoptischer Gassensor |
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| FR9909304A FR2782164B1 (fr) | 1998-08-05 | 1999-07-13 | Detecteur de gaz optique a infrarouge |
| GB9916887A GB2340228B (en) | 1998-08-05 | 1999-07-19 | Infra-red optical gas sensor |
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| GB (1) | GB2340228B (de) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10228929A1 (de) * | 2002-06-28 | 2004-01-15 | Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG | Anordnung zur Messung des Nitratgehaltes in Flüssigkeiten |
| US7611337B2 (en) | 2003-12-19 | 2009-11-03 | Annovi Reverberi S.P.A. | Hydraulic pump |
| WO2010118749A1 (en) * | 2009-04-17 | 2010-10-21 | Danfoss Ixa A/S | Gas sensor with filtering sight glass |
| WO2010118748A1 (en) * | 2009-04-17 | 2010-10-21 | Danfoss Ixa A/S | Sensor utilizing band pass filters |
| DE102010024378A1 (de) | 2010-06-11 | 2011-12-15 | Dias Infrared Gmbh | Kompakter 2-Kanal-Sensor mit hoher Strahlungsausbeute |
| EP3093633A1 (de) * | 2015-05-11 | 2016-11-16 | InfraTec GmbH | Vorrichtung zur gleichzeitigen bestimmung mehrerer unterschiedlicher stoffe und/oder stoffkonzentrationen |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9902689D0 (en) * | 1999-02-08 | 1999-03-31 | Novartis Ag | Organic compounds |
| DE10005923C2 (de) * | 2000-02-10 | 2002-06-27 | Draeger Safety Ag & Co Kgaa | Infrarotoptische Gasmessvorrichtung und Gasmessverfahren |
| JP3938147B2 (ja) * | 2003-04-08 | 2007-06-27 | 住友金属鉱山株式会社 | タンタル酸リチウム基板およびその製造方法 |
| US7044637B2 (en) * | 2003-09-04 | 2006-05-16 | Quartex A Division Of Primex, Inc. | Temperature measuring apparatus |
| US7132657B2 (en) * | 2004-02-09 | 2006-11-07 | Sensor Electronics Corporation | Infrared gas detector |
| WO2005119792A1 (en) * | 2004-05-27 | 2005-12-15 | Foveon, Inc. | Vertical color filter sensor group |
| DE102004028433B4 (de) * | 2004-06-14 | 2006-08-31 | Danfoss A/S | IR-Sensor, insbesondere CO2-Sensor |
| DE602005011342D1 (de) * | 2005-04-29 | 2009-01-08 | Ministerio De Defensa | Verfahren zum behandeln von ungekühlten, spektralselektiven bleiselenid-infrarotdetektoren |
| TWI291021B (en) * | 2005-11-11 | 2007-12-11 | Ind Tech Res Inst | Apparatus for sensing plural gases |
| GB201000756D0 (en) | 2010-01-18 | 2010-03-03 | Gas Sensing Solutions Ltd | Gas sensor with radiation guide |
| DE102010015084B4 (de) * | 2010-04-15 | 2020-12-10 | Schaeffler Technologies AG & Co. KG | Sensorteil für einen Infrarot-Sensor sowie Verfahren zu dessen Herstellung |
| US8785857B2 (en) | 2011-09-23 | 2014-07-22 | Msa Technology, Llc | Infrared sensor with multiple sources for gas measurement |
| WO2017203507A1 (en) * | 2016-05-23 | 2017-11-30 | Technion Research And Development Foundation Ltd. | A gas sensing device and a method for sensing gas |
| PL3455612T3 (pl) * | 2016-05-09 | 2025-09-15 | Infrasolid Gmbh | Urządzenie pomiarowe i sposób wykrywania różnych gazów i stężeń gazów |
| US10750984B2 (en) | 2016-12-22 | 2020-08-25 | Cercacor Laboratories, Inc. | Methods and devices for detecting intensity of light with translucent detector |
| DE102018128963A1 (de) * | 2018-11-19 | 2020-05-20 | Mann+Hummel Gmbh | Filterkörper, Filterelement und Filteranordnung |
| CN109946259A (zh) * | 2019-03-26 | 2019-06-28 | 翼捷安全设备(昆山)有限公司 | 一种单窗口双通道红外探测器及方法 |
| US11480519B2 (en) | 2020-04-24 | 2022-10-25 | Honeywell International Inc. | Methods, apparatuses, and systems for improving gas detecting devices |
| CN111678881B (zh) * | 2020-06-22 | 2023-04-25 | 浙江工业大学 | 一种基于石墨烯红外发射单元的空气污染物检测仪 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0427037A2 (de) * | 1989-11-08 | 1991-05-15 | Hartmann & Braun Aktiengesellschaft | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator zur gleichzeitigen Messung der Konzentration mehrerer Komponenten einer Gasprobe |
| DE19712823A1 (de) * | 1996-04-06 | 1997-10-30 | Horiba Ltd | Infrarot-Gasanalysator |
| DE19713928C1 (de) * | 1997-04-04 | 1998-04-09 | Draegerwerk Ag | Meßvorrichtung zur Infrarotabsorption |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2898800A (en) * | 1954-07-23 | 1959-08-11 | Bergson Gustav | Gas analyzing system of the radiant energy absorption type |
| DE1108459B (de) | 1955-09-16 | 1961-06-08 | Mudr Otakar Ruuzicka | Photokolorimetrischer Lichtabnehmer fuer Oxymeter |
| US3962578A (en) * | 1975-02-28 | 1976-06-08 | Aeronutronic Ford Corporation | Two-color photoelectric detectors having an integral filter |
| JPS60186512A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-24 | Kureha Chem Ind Co Ltd | ポリテトラフルオルエチレン透明薄膜およびその製造法 |
| GB2164789B (en) * | 1984-09-19 | 1987-11-11 | Philips Electronic Associated | Pyroelectric infra-red detector |
| JPS61133841A (ja) | 1984-12-04 | 1986-06-21 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 赤外線分析計 |
| US5455421A (en) * | 1985-08-13 | 1995-10-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Infrared detector using a resonant optical cavity for enhanced absorption |
| GB2197753B (en) * | 1986-11-12 | 1990-01-24 | Philips Electronic Associated | Infrared radiation detection device |
| EP0304230A3 (de) * | 1987-08-21 | 1989-12-20 | The British Petroleum Company P.L.C. | Verfahren zur optischen Messung |
| EP0566569A1 (de) | 1990-06-09 | 1993-10-27 | Uvisol Limited | Lichtdetektor |
| US5311019A (en) * | 1992-04-14 | 1994-05-10 | Loral Electro-Optical Systems, Inc. | Pyroelectric hybridized long-wave infrared laser radiation detector assembly |
| US5631460A (en) | 1995-01-24 | 1997-05-20 | Satake Usa Inc. | Sorting machine using dual frequency optical detectors |
| FI107194B (fi) * | 1996-03-14 | 2001-06-15 | Instrumentarium Oy | Kaasuseosten analysointi infrapunamenetelmällä |
| US5808350A (en) * | 1997-01-03 | 1998-09-15 | Raytheon Company | Integrated IR, visible and NIR sensor and methods of fabricating same |
-
1998
- 1998-08-05 DE DE19835335A patent/DE19835335C1/de not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-05-19 US US09/314,406 patent/US6392234B2/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-07-13 FR FR9909304A patent/FR2782164B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1999-07-19 GB GB9916887A patent/GB2340228B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0427037A2 (de) * | 1989-11-08 | 1991-05-15 | Hartmann & Braun Aktiengesellschaft | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator zur gleichzeitigen Messung der Konzentration mehrerer Komponenten einer Gasprobe |
| DE19712823A1 (de) * | 1996-04-06 | 1997-10-30 | Horiba Ltd | Infrarot-Gasanalysator |
| DE19713928C1 (de) * | 1997-04-04 | 1998-04-09 | Draegerwerk Ag | Meßvorrichtung zur Infrarotabsorption |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10228929A1 (de) * | 2002-06-28 | 2004-01-15 | Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG | Anordnung zur Messung des Nitratgehaltes in Flüssigkeiten |
| US7611337B2 (en) | 2003-12-19 | 2009-11-03 | Annovi Reverberi S.P.A. | Hydraulic pump |
| WO2010118749A1 (en) * | 2009-04-17 | 2010-10-21 | Danfoss Ixa A/S | Gas sensor with filtering sight glass |
| WO2010118748A1 (en) * | 2009-04-17 | 2010-10-21 | Danfoss Ixa A/S | Sensor utilizing band pass filters |
| CN102460122A (zh) * | 2009-04-17 | 2012-05-16 | 丹佛斯Ixa股份有限公司 | 使用带通滤波器的传感器 |
| JP2012524244A (ja) * | 2009-04-17 | 2012-10-11 | ダンフォス・アイエックスエイ・エイ/エス | 帯域通過フィルタを用いたセンサ |
| CN102460122B (zh) * | 2009-04-17 | 2014-03-12 | 丹佛斯Ixa股份有限公司 | 使用带通滤波器的传感器 |
| US9329121B2 (en) | 2009-04-17 | 2016-05-03 | Danfoss Ixa A/S | Sensor utilizing band pass filters |
| DE102010024378A1 (de) | 2010-06-11 | 2011-12-15 | Dias Infrared Gmbh | Kompakter 2-Kanal-Sensor mit hoher Strahlungsausbeute |
| EP3093633A1 (de) * | 2015-05-11 | 2016-11-16 | InfraTec GmbH | Vorrichtung zur gleichzeitigen bestimmung mehrerer unterschiedlicher stoffe und/oder stoffkonzentrationen |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020011568A1 (en) | 2002-01-31 |
| US6392234B2 (en) | 2002-05-21 |
| GB9916887D0 (en) | 1999-09-22 |
| GB2340228A (en) | 2000-02-16 |
| FR2782164A1 (fr) | 2000-02-11 |
| GB2340228B (en) | 2000-08-30 |
| FR2782164B1 (fr) | 2001-09-21 |
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