DE19832275A1 - Verfahren zur Rekonstruktion von Bildern aus mittels eines CT-Gerätes durch Spiralabtastung des Untersuchungsobjekts gewonnenen Meßwerten und CT-Gerät zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Rekonstruktion von Bildern aus mittels eines CT-Gerätes durch Spiralabtastung des Untersuchungsobjekts gewonnenen Meßwerten und CT-Gerät zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Rekonstruktion von Bildern einer eine Schichtdicke aufweisenden Schicht eines Untersuchungsobjekts bezüglich einer Bildebene aus mittels eines CT-Gerätes durch Spiralabtastung des Untersuchungsobjekts mit einer um das Untersuchungsobjekt rotierenden Röntgenstrahlenquelle und einem wenigstens eine Zeile von Detektorelementen aufweisenden Detektor gewonnenen Meßwerten. Dabei werden innerhalb einer maximalen Entfernung von der Bildebene liegende Meßwerte derart gewichtet in die Rekonstruktion einbezogen, daß eine gewünschte funktionelle Abhängigkeit der Schichtdicke vom Pitch vorliegt.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Rekonstruktion von
Bildern einer eine Schichtdicke aufweisenden Schicht eines
Untersuchungsobjekts bezüglich einer Bildebene aus mittels
eines CT-Gerätes durch Spiralabtastung des Untersuchungsob
jekts mit einer um das Untersuchungsobjekt rotierenden Rönt
genstrahlenquelle und eines wenigstens eine Zeile von Detek
torelementen aufweisenden Detektors gewonnenen Meßwerten, wo
bei die Meßwerte jeweils einem von einer Vielzahl von Projek
tionswinkeln α und einer z-Position auf der Längsachse der
Spiralabtastung zugeordnet sind und während der Spiralabta
stung ein konstanter, als Verhältnis der pro voller Umdrehung
der Röntgenstrahlenquelle um das Untersuchungsobjekt auftre
tenden Verschiebung des Untersuchungsobjekts einerseits und
der Röntgenstrahlenquelle und des Detektors andererseits
relativ zueinander in Richtung der Längsachse der Spiralab
tastung (z-Richtung) in mm zu der Breite einer Zeile des
Detektors in Richtung der Längsachse der Spiralabtastung in
mm definierter dimensionsloser Pitch p eingehalten wird. Die
Erfindung betrifft außerdem ein CT-Gerät zur Durchführung ei
nes solchen Verfahrens.
Bei der Rekonstruktion von Bildern aus durch Spiralabtastung
mit CT-Geräten mit einzeiligem Detektor gewonnenen Meßwerten
wird zur Erzeugung von berechneten Projektionen in der ge
wünschten Bildebene für jeden Projektionswinkel eine Inter
polation zwischen den vor und hinter der Bildebene liegenden
Meßwerten durchgeführt.
Am gebräuchlichsten sind heute zwei Interpolationsverfahren:
Beim ersten wird eine lineare Interpolation zwischen je zwei
der Bildebene am nächsten liegenden gemessenen Projektionen
vorgenommen, die beim gleichen Projektionswinkel α, aber in
verschiedenen Umläufen aufgenommen wurden. Diese Interpola
tionsart bezeichnet man als 360LI-Interpolation. Beim zweiten
Verfahren interpoliert man zwischen je zwei der Bildebene am
nächsten liegenden Projektionen, von denen die einen beim
Projektionswinkel αd, die anderen beim dazu komplementären
Projektionswinkel αc, aufgenommen wurden. Für das mittlere
Detektorelement des Detektors gilt αc = αd ± π. Diese Inter
polationsart bezeichnet man als 180LI-Interpolation. Sie lie
fert bei gleichem Pitch schmälere effektive Schichtbreiten
(z. B. gekennzeichnet durch die Halbwertsbreite FWHM (Full
Width at Half Maximum) des Schichtempfindlichkeitsprofils)
als die 360LI-Interpolation. Dafür ist bei gleicher Ausgangs
leistung (mA-Wert) der Röntgenstrahlenquelle, z. B. einer
Röntgenröhre, das Pixelrauschen im Vergleich zur 360LI-Inter
polation erhöht. Auch die Artefaktanfälligkeit ist größer.
Beide Interpolationsarten sind schematisch für den Pitch p =
2 in Fig. 2 veranschaulicht, die den Projektionswinkel α als
Funktion der Detektorposition in z-Richtung zeigt, wobei der
Projektionswinkel α über der auf die Breite b einer Zeile
des Detektors normierten Position auf der Längsachse der Spi
ralabtastung (z-Position) aufgetragen ist.
Gemeinsam ist allen herkömmlichen Interpolationsverfahren für
Spiralabtastung mit einem einzeiligen Detektor, daß die
Breite des Schichtempfindlichkeitsprofils (z. B. gekennzeich
net durch die Halbwertsbreite FWHM), mit zunehmendem Pitch p
wächst. Das ist für die 180LI- und die 360LI-Interpolation in
Fig. 3 dargestellt, die die Halbwertsbreite FWHM des
Schichtempfindlichkeitsprofils bezogen auf die kollimierte
Schichtdicke dcoll als Funktion des Pitch p zeigt. Der Zusam
menhang gemäß Fig. 3 verkompliziert die Bedienung gerade für
ungeübte Benutzer und bedeutet eine Einschränkung bei der
Wahl der Untersuchungsparameter.
Noch unübersichtlicher wird die Situation, wenn herkömmliche
Interpolationstechniken, z. B. die 360LI-oder die 180LI-Inter
polation, auf mit einem mehrzeiligen Detektor durchge
führte Spiralabtastungen übertragen werden. In Fig. 4 ist die
sich bei einer 360LI-und bei einer 180LI-Interpolation
ergebende Halbwertsbreite FWHM des Schichtempfindlichkeits
profils, wieder bezogen auf die kollimierte Schichtdicke dcoll,
als Funktion des Pitch p für ein einen fünfzeiligen Detektor
aufweisendes CT-Gerät dargestellt: die Halbwertsbreite ändert
sich jetzt nicht-monoton mit dem Pitch. Der Zusammenhang ist
nicht intuitiv und schwer verständlich: so kann z. B. bei zu
nehmendem Pitch p die Halbwertsbreite FWHM abnehmen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der
eingangs genannten Art so auszubilden, daß eine vereinfachte
Bedienung des CT-Gerätes möglich ist.
Nach der Erfindung wird diese Aufgabe gelöst durch ein Ver
fahren mit den Merkmalen des Patentanspruches 1.
Im Falle der Erfindung kann also der Zusammenhang zwischen
Pitch p und Schichtdicke leicht überblickt werden, da es sich
um einen funktionell definierten Zusammenhang handelt. Somit
ist ein entsprechendes CT-Gerät leicht bedienbar. Dies gilt
in besonderem Maße, wenn gemäß einer Variante der Erfindung
die funktionelle Abhängigkeit so gewählt ist, daß die
Schichtdicke, z. B. FWHM, vom Pitch p wenigstens im wesent
lichen unabhängig ist.
Eine weitere Bedienungsvereinfachung wird erreicht, wenn ge
mäß einer Ausführungsform der Erfindung die Ausgangsleistung
der Röntgenstrahlenquelle in Abhängigkeit vom Pitch p derart
eingestellt wird, daß das Pixelrauschen vom Pitch p wenig
stens im wesentlichen unabhängig ist. Es ist dann möglich
nicht nur das Schichtempfindlichkeitsprofil, sondern auch das
Pixelrauschen vom Pitch p unabhängig einzustellen.
Die im Falle der Erfindung erforderliche Einstellung der ge
wünschten Schichtdicke erfolgt nach einer Variante der Erfin
dung dadurch, daß die Breite der Gewichtungsfunktion, d. h.
der maximale Abstand der zu berücksichtigenden Meßdaten von
der Bildebene, in Abhängigkeit vom Pitch p verändert wird.
Der ein CT-Gerät betreffende Teil der Aufgabe wird durch die
Merkmale des Patentanspruches 5 gelöst.
Da das erfindungsgemäße CT-Gerät Mittel zur Einstellung eines
effektiven mAs-Produktes aufweist, über die ein tatsächliches
mAs-Produkt derart eingestellt wird, das es zu demjenigen
Pixelrauschen führt, das in einem einzeiligen Detektor gewon
nenen Bild der gleichen Schichtdicke bei dem effektiven
mAs-Produkt auftreten würde, ist eine Bedienperson in der Lage,
ein CT-Gerät mit mehrzeiligem Detektor auf ähnlich einfache
Weise wie ein CT-Gerät mit einzeiligem Detektor zu bedienen.
Grundlage für die Einstellung eines vom Pitch p unabhängigen
Schichtempfindlichkeitsprofils ist ein verallgemeinertes Ge
wichtungsverfahren anstelle der üblichen Interpolation. Die
ses Gewichtungsverfahren erlaubt bei CT-Geräten mit M Zeilen
(M < 1) die vom Pitch p unabhängige Einstellung des
Schichtempfindlichkeitsprofils bis zum maximalen Pitch pmax =
2M. Dadurch ist der Pitch p kein die Auflösung in z-Richtung
bestimmender Parameter mehr: der Arzt kann die gewünschte
effektive Schichtdicke einstellen und trotzdem den Pitch p
frei wählen.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der beigefügten Zeich
nungen beispielhaft erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 in schematischer Darstellung ein zur Durchführung des
erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehenes CT-Gerät,
Fig. 2 ein die bei herkömmlichen Rekonstruktionsverfahren
für CT-Geräte mit einzeiligem Detektor üblichen
Interpolationsverfahren veranschaulichendes Diagramm,
Fig. 3 für ein einen einzeiligen Detektor aufweisendes her
kömmliches CT-Gerät die Schichtdicke bezogen auf die
kollimierte Schichtdicke als Funktion des Pitch,
Fig. 4 analog zur Fig. 3 das entsprechende Diagramm für ein
CT-Gerät mit fünfzeiligem Detektor für die beiden
Interpolationsverfahren gemäß Fig. 2,
Fig. 5 das mit einem einen fünfzeiligen Detektor aufweisen
den, nach dem erfindungsgemäßen Verfahren arbeitenden
CT-Gerät erzielbare Schichtempfindlichkeitsprofil für
zwei unterschiedliche Pitchwerte,
Fig. 6 das Diagramm von Fig. 4, in das zusätzlich zwei nach
dem erfindungsgemäßen Verfahren realisierbare
pitchunabhängige Schichtdicken eingetragen sind, und
Fig. 7 für ein einen fünfzeiligen Detektor aufweisendes,
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren arbeitendes
CT-Gerät die Varianz des Pixelrauschens bei konstantem
mA-Wert als Funktion des Pitch für zwei unterschied
liche pitchunabhängige Schichtdicken.
In Fig. 1 ist grob schematisch ein zur Durchführung des er
findungsgemäßen Verfahrens vorgesehenes CT-Gerät dargestellt,
das eine Röntgenstrahlenquelle 1, z. B. eine Röntgenröhre, mit
einem Fokus 2 aufweist, von dem ein durch eine nicht darge
stellte Blende eingeblendetes pyramidenförmiges Röntgenstrah
lenbündel 3 ausgeht, das ein Untersuchungsobjekt 4, bei
spielsweise einen Patienten, durchsetzt und auf einen Detek
tor 5 auftrifft. Dieser besteht aus mehreren parallelen
Detektorzeilen, von denen jede durch eine Reihe von Detek
torelementen gebildet ist. Der Röntgenstrahler 1 und der
Detektor 5 bilden ein Meßsystem, das um eine Systemachse 6
drehbar ist, so daß das Untersuchungsobjekt 4 unter verschie
denen Projektionswinkeln α durchstrahlt wird. Aus den dabei
auftretenden Ausgangssignalen der Detektorelemente des Detek
tors 5 bildet ein Datenerfassungssystem 7 im weiteren als ge
messene Projektionen bezeichnete Meßwerte, die einem Rechner
8 zugeführt sind, der ein Bild des Untersuchungsobjektes 4
berechnet, das auf einem Monitor 9 wiedergegeben wird.
Eine Abtastung größerer Volumen des Untersuchungsobjektes 4
ist möglich, indem das Meßsystem 1, 5 eine Spiralabtastung
des gewünschten Volumens vornimmt, wie dies in Fig. 1 durch
eine Spirale 10 veranschaulicht ist. Es erfolgt dabei eine
Relativbewegung zwischen der Meßanordnung aus Röntgenstrahler
1 und Detektor 5 einerseits und dem Untersuchungsobjekt 4
andererseits in Richtung der Systemachse 6, die somit zu
gleich die Längsachse der Spiralabtastung darstellt.
An den Rechner 8, der im Falle des beschriebenen Ausführungs
beispiels zugleich die Steuerung des CT-Gerätes übernimmt (es
ist auch möglich, hierzu einen separaten Rechner vorzusehen),
ist eine Tastatur 12 angeschlossen, die die Bedienung des
CT-Gerätes ermöglicht.
Insbesondere ist es möglich, über die Tastatur 12 den Pitch p
der Spiralabtastung einzustellen. Bei dem Pitch p handelt es
sich um den Quotienten aus dem während einer Umdrehung des
Meßsystems auftretenden Vorschub in z-Richtung F und der
Breite b einer Zeile des Detektors in z-Richtung. Der Rechner
8 dient insbesondere auch dazu, den Röhrenstrom, und damit
die Ausgangsleistung, der von einer Generatorschaltung 11
versorgten Röntgenstrahlenquelle 1 einzustellen.
Die Durchstrahlung unter unterschiedlichen Projektionswinkeln
α geschieht mit dem Ziel der Gewinnung von gemessenen Pro
jektionen. Dazu durchstrahlt die Röntgenstrahlenquelle 1 das
Untersuchungsobjekt 4 mit dem von aufeinanderfolgenden, auf
der Spirale 10 liegenden Positionen des Fokus 2 ausgehenden
Röntgenstrahlenbündel 3, wobei jede Position des Fokus 2
einem Projektionswinkel und einer z-Position bezüglich der
Systemachse 6 zugeordnet ist.
Infolge der Spiralabtastung kann bezüglich einer rechtwinklig
zu der Systemachse 6 verlaufenden Bildebene höchstens eine
gemessene Projektion existieren, die mit einer in dieser
Bildebene liegenden Position des Fokus 2 aufgenommen wurde.
Um dennoch ein Bild der zu der jeweiligen Bildebene gehörigen
Schicht des Untersuchungsobjekts 4 berechnen zu können, müs
sen also aus in der Nähe der Bildebene aufgenommenen gemesse
nen Projektionen durch geeignete Interpolationsverfahren in
der Bildebene liegende berechnete Projektionen gewonnen wer
den, wobei wie im Falle von gemessenen Projektionen jede be
rechnete Projektion einem Projektionswinkel α und einer
z-Position bezüglich der Systemachse 6 zugeordnet ist.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird im folgenden, ohne daß
dies eine Beschränkung der Allgemeingültigkeit des ihm zu
grundeliegenden Prinzips darstellt, am Beispiel eines einen
fünfzeiligen Detektor aufweisenden CT-Gerätes erläutert. Die
Anwendbarkeit auf andere Zeilenzahlen M ≠ 5 ist offensicht
lich.
Im folgenden wird die Berechnung eines Bildes für die Posi
tion zima der Bildebene auf der Längsachse der Spiralabtastung
im Einzelnen beschrieben. Dabei steht der Index ima für
image=Bild.
Für jeden Projektionswinkel αl berücksichtigt man die Bei
träge aller Meßwerte f (l, k, i, v) innerhalb einer gewissen, wähl
baren Maximalentfernung |zmax| von der Bildebene. l = 1, 2 . . .
NPπ ist die Projektionsnummer, wobei NPπ die Anzahl der wäh
rend eines halben Umlaufs der Röntgenstrahlenquelle 1 aufge
nommenen Projektionen ist, k ist der Detektorkanal,
i = 1, . . . M ist die Nummer der Detektorzeile und v ist die Num
mer der Halbumdrehung der Röntgenstrahlenquelle 1, aus der
die betreffende Projektion stammt.
Für jedes l werden alle verfügbaren Meßwerte gemäß ihrem Ab
stand Δzlkiv von der Bildebene bei zima gewichtet, und man er
hält als resultierende berechnete Gesamtprojektion P(l,k)
g(.) ist die Gewichtungsfunktion in z-Richtung. Die Division
durch die Summe aller Gewichte ist notwendig, denn für jeden
Projektionswinkel kann bei dieser Gewichtung eine unter
schiedliche Anzahl von Meßwerten beitragen, deren Gesamtge
wicht sich aber immer zu 1 ergeben muß.
In Abhängigkeit vom Pitch p kann nun die Breite der Gewich
tungsfunktion g(.), also die Maximalentfernung |zmax|, so ein
gestellt werden, daß sich immer das gleiche effektive
Schichtempfindlichkeitsprofil ergibt, z. B. gekennzeichnet
durch die Halbwertsbreite FWHM. Die für den jeweiligen Wert
des Pitches p notwendige Gesamtbreite der Gewichtungsfunktion
kann jeweils vom Rechner 8 berechnet oder einer im Voraus be
rechneten, im Rechner 8 gespeicherten Tabelle entnommen wer
den.
Als Beispiel sind in Fig. 5 zwei mit linearer Gewichtung g(.)
gemäß Gleichung (1) berechnete Schichtempfindlichkeitsprofile
für mit einem fünfzeiligen Detektor durchgeführte Spiralab
tastungen gezeigt, das eine mit Pitch p = 3, das andere mit
Pitch p = 7. Beide Schichtempfindlichkeitsprofile sind im
Rahmen der Darstellungsgenauigkeit gleich. In dem Schichtemp
findlichkeitsprofil ist das von einem Objekt eines definier
ten Schwächungswertes verursachte Meßsignal als dimensions
lose Größe E über der z-Richtung aufgetragen, wobei z = 0 der
Lage der Bildebene in z-Richtung entspricht.
In Fig. 6 sind für mit einem fünfzeiligen Detektor durchge
führte Spiralabtastungen zwei mögliche pitchunabhängige Halb
wertsbreiten, nämlich FWHM = 1.27dcoll und FWHM = 2dcoll, (dcoll
ist die durch die Geometrie des Detektors 5 definierte in an
sich bekannter Weise mittels geeigneter Blenden und/oder Kol
limatoren eingestellte kollimierte Schichtdicke für eine
Detektorzeile), zusätzlich in die bereits in Fig. 4 gezeigte
Darstellung eingetragen.
Als Folge der im Falle der Erfindung vom Pitch unabhängigen
effektiven Schichtdicke ist nun - anders als bei einer her
kömmlichen Interpolation - bei fester Ausgangsleistung der
Röntgenstrahlenquelle 1 das Pixelrauschen vom Pitch p abhän
gig. Mit abnehmendem Pitch p nimmt auch das Pixelrauschen ab,
denn es fallen mehr Meßwerte in den z-Bereich [zima - zmax, zima +
zmax] und tragen durch die Gewichtung zum Bild bei. Das ist in
Fig. 7 schematisch mit einem fünfzeiligen Detektor durchge
führte Spiralabtastungen dargestellt. Aufgetragen ist die
relative Varianz V des Pixelrauschens als Funktion des Pitch
p bei konstanter Ausgangsleistung der Röntgenröhre
(konstantem mA-Wert). Die Varianz V ist in Fig. 7 so ska
liert, daß sich bei einer Spiralabtastung mit einem einzeili
gen Detektor mit 180LI-Interpolation bei gleicher kollimier
ter Schichtdicke und gleicher Röhrenleistung die Varianz V =
4/3 ergäbe.
Die beiden Kurven sind für FWHM = 1.27dcoll und FWHM = 2dcoll be
rechnet. Für FWHM = 1.27dcoll nimmt die Varianz bei Anwendung
des erfindungsgemäßen Verfahrens von V = 4/3 beim Pitch p =
2N = 10 bis auf V = 1/N.2/3 beim Pitch p = 1 ab. Das ent
spricht der N-fachen Dosisakkumulation im Vergleich zu einer
Spiralabtastung mit einem einzeiligen Detektor mit 360LI-Inter
polation. Mit abnehmendem Pitch p kann man also bei bei
behaltener Ausgangsleistung der Röntgenstrahlenquelle 1 die
applizierte Dosis (mAs-Produkt) erhöhen, oder aber man redu
ziert die Ausgangsleistung der Röntgenstrahlenquelle 1 ent
sprechend Fig. 7 und behält unabhängig vom Pitch p die glei
che Dosis bei.
Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich für CT-Geräte mit
einzeiligem oder mehrzeiligem Detektor. Da eine gewünschte
effektive Schichtdicke unabhängig vom Pitch p eingestellt
werden kann, ist die Bedienung eines erfindungsgemäßen CT-Ge
rätes erheblich vereinfacht, denn der Pitch p ist kein die
Auflösung in z-Richtung bestimmender Parameter mehr. Der Arzt
kann vielmehr mittels der Tastatur 12 die gewünschte effek
tive Schichtdicke deff, genauer die gewünschte Halbwertsbreite
FWHM des Schichtempfindlichkeitsprofils, einstellen und
trotzdem den Pitch p frei wählen.
Darüber hinaus kann der Arzt mittels der Tastatur 12 einen
effektiven mA-Wert, also eine effektive Ausgangsleistung der
Röntgenstrahlenquelle 1, so eingeben, wie er sie seiner Er
fahrung nach bei einem CT-Gerät mit einem einzeiligen Detek
tor bei der gleichen Schichtdicke wählen würde. Abhängig vom
Pitch p berechnet nun der Rechner 8 die tatsächlich einzu
stellende Ausgangsleistung der Röntgenstrahlenquelle 1, also
einen tatsächlichen mA-Wert, z. B. nach einer Kurve entspre
chend Fig. 7, so daß sich unabhängig vom Pitch p stets das
gleiche Pixelrauschen wie in einem mittels des erwähnten
CT-Gerätes mit einem einzeiligen Detektor gewonnenen Bild er
gäbe.
Im Falle des beschriebenen Ausführungsbeispiels handelt es
sich um ein CT-Gerät der dritten Generation. Auch CT-Geräte
der vierten Generation, die statt eines mit der Röntgenstrah
lenquelle rotierenden bogenförmigen Detektors einen stationä
ren ringförmigen Detektor aufweisen, können nach dem erfin
dungsgemäßen Verfahren arbeiten bzw. erfindungsgemäß aufge
baut sein.
Die vorliegende Erfindung kann bei medizinischen und nicht
medizinischen Anwendungen zum Einsatz kommen.
Claims (5)
1. Verfahren zur Rekonstruktion von Bildern einer eine
Schichtdicke aufweisenden Schicht eines Untersuchungsobjekts
bezüglich einer Bildebene aus mittels eines CT-Gerätes durch
Spiralabtastung des Untersuchungsobjekts mit einer um das
Untersuchungsobjekt rotierenden Röntgenstrahlenquelle und
eines wenigstens eine Zeile von Detektorelementen aufweisen
den Detektors gewonnenen Meßwerten, wobei die Meßwerte je
weils einem von einer Vielzahl von Projektionswinkeln und
einer z-Position auf der Längsachse der Spiralabtastung zuge
ordnet sind und während der Spiralabtastung ein konstanter,
als Verhältnis der pro voller Umdrehung der Röntgenstrahlen
quelle um das Untersuchungsobjekt auftretenden Verschiebung
des Untersuchungsobjekts einerseits und der Röntgenstrahlen
quelle und des Detektors andererseits relativ zueinander in
Richtung der Längsachse der Spiralabtastung zu der Breite
einer Zeile des Detektors in Richtung der Längsachse der Spi
ralabtastung in mm definierter Pitch eingehalten wird, auf
weisend die Verfahrensschritte, daß bezüglich jedes Projek
tionswinkels alle zu diesem Projektionswinkel gehörigen, in
nerhalb einer maximalen Entfernung von der Bildebene liegende
Meßwerte entsprechend ihres räumlichen Abstandes in Richtung
der Längsachse der Spiralabtastung von der Bildebene gemäß
einer Gewichtungsfunktion gewichtet in die Rekonstruktion
einbezogen werden, und daß die Gewichtungsfunktion derart ge
wählt wird, daß eine gewünschte funktionelle Abhängigkeit der
Schichtdicke vom Pitch vorliegt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die funktionelle Abhän
gigkeit so gewählt ist, daß die Schichtdicke vom Pitch wenig
stens im wesentlichen unabhängig ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, bei dem die Leistung der
Röntgenstrahlenquelle in Abhängigkeit vom Pitch derart einge
stellt wird, daß das Pixelrauschen vom Pitch wenigstens im
wesentlichen unabhängig ist.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem zur
Einstellung einer jeweils gewünschten Schichtdicke die Breite
der Gewichtungsfunktion in Abhängigkeit vom Pitch verändert
wird.
5. CT-Gerät zur Durchführung eines Verfahrens nach einem der
Ansprüche 1 bis 4, welches Mittel zur Einstellung eines
effektiven mA-Wertes aufweist, über die ein tatsächlicher
mA-Wert derart eingestellt wird, das es zu demjenigen Pixelrau
schen führt, das in einem einzeiligen Detektor gewonnenen
Bild der gleichen Schichtdicke bei dem eingestellten effekti
ven mA-Wert auftreten würde.
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