DE19723445A1 - Tiefendosismeßvorrichtung - Google Patents
TiefendosismeßvorrichtungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine
Tiefendosismeßvorrichtung, um eine Tiefendosis in einem
menschlichen Körper zu messen, und wird verwendet, um
Operationsbedingungen einer Krebsheilungsvorrichtung unter
Verwendung von Teilchenstrahlen oder Körperstrahlungen, wie
z. B. einem Elektronenstrahl, Röntgenstrahlung o. ä. zu
bestimmen.
Fig. 8 zeigt ein Diagramm eines bekannten Verfahrens zum
Messen einer Tiefendosisverteilung. In der Zeichnung
bezeichnet die Bezugsziffer 104 ein in einem Container 105
untergebrachtes Wasserphantom, 102 bezeichnet eine im
Wasserphantom 104 angeordnete Ionisationskammer, 103
bezeichnet einen Verstärker, um ein absorbiertes Dosissignal
zu verstärken, das von der Ionisationskammer 102 erhalten
wird, und 101 bezeichnet einen Teilchenstrahl oder einen
Körperstrahl, mit dem das Wasserphantom 104 bestrahlt wird.
Bei der bekannten Tiefendosismeßvorrichtung mit der in Fig. 8
gezeigten Struktur mißt die im Wasserphantom 104 angeordnete
Ionisationskammer 102 eine absorbierte Dosis an einer
festgelegten Position. Die Ionisationskammer 102 wird in
einer Tiefenrichtung A und in einer Richtung senkrecht zur
Strahlachse C des Teilchenstrahls bewegt, d. h. in einer
horizontalen Richtung B, wobei die absorbierte
Dosisverteilung gemessen wird. Der Verstärker 103 wird
verwendet, um die Ionisationsmenge, die durch den
Teilchenstrahl 101 erhalten wird, der Luft in der im
Wasserphantom 104 angeordneten Ionisationskammer 102
ionisiert, zu verstärken und zu messen. Um die absorbierte
Dosisverteilung zu messen, wird die Ionisationskammer 102 in
der Tiefenrichtung A und in der horizontalen Richtung B
bewegt, und die Ionisationsmenge wird für jede Bewegung
gemessen.
Die bekannte Tiefendosismeßvorrichtung hat die obige
Struktur. Somit ist es zur Messung der Tiefendosisverteilung
nötig, die Ionisationskammer 102 im Wasserphantom 104 für
jede Messung zu bewegen, was zur Folge hat, daß eine extrem
lange Zeit und ein großer Arbeitsaufwand erforderlich ist.
Darüber hinaus erfordert eine dreidimensionale
Dosisverteilungsmessung einen überaus großen Zeit- und
Arbeitsaufwand.
Weiterhin, wenn eine Veränderung der Ausgabe einer
Teilchenstrahl-Bestrahlungsvorrichtung, wie z. B. einer
Elektronenstrahl-Bestrahlungsvorrichtung oder einer
Röntgenstrahlungs-Bestrahlungsvorrichtung bewirkt wird, muß
die Tiefenstrahlung von Anfang an wiederum gemessen werden.
Somit erfordert die Tiefendosismessung eine extrem lange Zeit
und einen großen Arbeitsaufwand.
Die vorliegende Erfindung wurde mit dem Ziel gemacht, die
Probleme der obigen bekannten Tiefendosismeßvorrichtung zu
vermeiden. Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine Tiefendosismeßvorrichtung bereitzustellen, mit der eine
Tiefendosis in einer kurzen Zeit gemessen werden kann und
eine Verteilung einer Tiefendosis mit einer hohen Genauigkeit
gemessen werden kann.
In Übereinstimmung mit einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung ist zur Lösung der obigen Aufgage
eine Tiefendosismeßvorrichtung bereitgestellt, die eine
Erfassungsvorrichtung enthält, um einen Teilchenstrahl als
eine Eingabe zu erhalten, und um ein durch den Teilchenstrahl
bewirktes Licht von einer Endoberfläche aus zugeben, eine
Lichterfassungsvorrichtung, um den von der
Erfassungsvorrichtung aus gegebenen Lichtstrahl zu erfassen,
und um ein Erfassungsergebnis aus zugeben, eine
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung, um das von der
Lichterfassungsvorrichtung aus gegebene Erfassungsergebnis zu
verarbeiten und eine Anzeigevorrichtung, um ein Ergebnis
einer in der Bildsignalverarbeitungsvorrichtung ausgeführten
Verarbeitung anzuzeigen. In der Tiefendosismeßvorrichtung
wird eine Messung eines Lichtes mit einer einem Spektrum des
in der Erfassungsvorrichtung bewirkten Lichtes entsprechenden
Wellenlänge durchgeführt.
Darüber hinaus umfaßt in einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß der vorliegenden Erfindung die Erfassungsvorrichtung
einen Block, der erhalten wird, indem eine Vielzahl von
Scintillationsfasern in einem Bündel verbunden wird, ein von
einer Endoberfläche der Erfassungsvorrichtung ausgegebenes
Licht wird durch ein Spektroskop gestreut und eine Messung
einer Lichtmenge mit einer Wellenlänge, die dem
Emissionsspektrum der Scintillationsfasern entspricht, wird
vorgenommen.
Weiter wird in einer Tiefendosismeßvorrichtung nach der
vorliegenden Erfindung ein Bandpaßfilter entsprechend einer
Emissionswellenlänge von Scintillationsfasern verwendet, um
eine von einer Endoberfläche der Erfassungsvorrichtung
ausgegebene Lichtmenge zu messen.
Weiter schließt in einer Tiefendosismeßvorrichtung nach der
vorliegenden Erfindung die Erfassungsvorrichtung einen
Faserblock ein, der durch abwechselndes Anordnen einer
Vielzahl von Scintillationsfasern und einer Vielzahl von
normalen optischen Fasern erhalten wird, wobei von einer
ersten Endoberfläche der Erfassungsvorrichtung nur von den
Scintillationsfasern erhaltenes Licht ausgegeben wird, und an
einer zweiten Endoberfläche nur Licht ausgegeben wird, das
von den normalen optischen Fasern erhalten wird, und eine
Bildmeßvorrichtung umfaßt zwei Meßsysteme, um eine Differenz
zwischen dem von der ersten Endoberfläche erhaltenen Licht
und dem von der zweiten Endoberfläche erhaltenen Licht zu
berechnen.
Weiter werden in einer Tiefendosismeßvorrichtung nach der
vorliegenden Erfindung ein von einer Scintillationsfaser
erhaltenes Licht und ein von einer normalen optischen Faser
erhaltenes Licht von einer bestimmten Endoberfläche der
Erfassungsvorrichtung ausgegeben, eine Leuchtverteilung von
beiden Lichten wird von einer Bildmeßvorrichtung gemessen,
die als ein Bildmeßmittel wie z. B. eine Kamera dient, und
eine Bildverarbeitung wird durchgeführt, um eine Differenz
zwischen beiden Lichten zu berechnen.
Weiter wird in einer Tiefendosismeßvorrichtung nach der
vorliegenden Erfindung eine Messung eines von einer
Endoberfläche der Blocktyperfassungsvorrichtung einschließlich
einer Vielzahl von normalen optischen Fasern ausgegebenen
Lichtes vorgenommen.
Weiter sind in einer Tiefendosismeßvorrichtung nach der
vorliegenden Erfindung klare Plastikblöcke an beiden Enden
eines eine Vielzahl von kurzen Scintillationsfasern
umfassenden Blockes angeordnet, um die Erfassungsvorrichtung
zu bilden.
Weiter ist in einer Tiefendosismeßvorrichtung nach der
vorliegenden Erfindung ein die Erfassungsvorrichtung
bildender klarer Plastikblock so ausgebildet, daß er eine
Seite aufweist, die länger ist als eine Seite eines
Scintillationsfaserblocks, wodurch die Auswirkung eines
reflektierten Lichtes, das an dem Begrenzungsabschnitt oder
dem Endabschnitt des klaren Plastikblocks gebildet wird,
eliminiert wird.
Die obige und weitere Aufgaben und neue Merkmale der
Erfindung werden mit der folgenden detaillierten Beschreibung
offensichtlicher, wenn sie in Verbindung mit den begleitenden
Zeichnungen gelesen werden. Es wird ausdrücklich darauf
hingewiesen, daß die Zeichnungen nur zum Zwecke der
Veranschaulichung dienen, und nicht dazu vorgesehen sind, den
Umfang der Erfindung zu definieren.
Diese und andere Aufgaben und Aspekte und Vorteile der
vorliegenden Erfindung werden mit der folgenden detaillierten
Beschreibung der vorliegenden Erfindung offensichtlicher,
wenn sie in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen
gesehen werden, in denen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß des ersten Ausführungsbeispiels der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 2 ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß des zweiten Ausführungsbeispiels der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 3 ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß des dritten Ausführungsbeispiels der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 4 ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß eines vierten Ausführungsbeispiels der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 5 ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß eines fünften Ausführungsbeispiels der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 6 ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß des sechsten Ausführungsbeispiels der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 7 ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß des siebten Ausführungsbeispiels der
vorliegenden Erfindung zeigt; und
Fig. 8 ein Blockdiagramm einer bekannten
Tiefendosismeßvorrichtung zeigt.
Andere Merkmale dieser Erfindung werden durch die folgende
Beschreibung von bevorzugten Ausführungsbeispielen
offensichtlich, die einer Veranschaulichung der Erfindung
dienen und deren Umfang nicht beschränken.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß der vorliegenden Erfindung werden nun mit Bezug auf die
Zeichnungen beschrieben.
Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm einer
Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des ersten
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. In der
Zeichnung bezeichnet eine Bezugsziffer 201 einen
Teilchenstrahl, wie zum Beispiel Elektronen, Röntgenstrahlen,
Protonen, Barionen und ähnliches, 202 bezeichnet einen
Detektor mit einer Blockform, der durch ein Verbinden von
Scintillationsfasern in einem Bündel erhalten wird, 203
bezeichnet ein optisches System, wie zum Beispiel eine Linse,
oder eine sich verjüngende Faser (Lichtführung), 204
bezeichnet ein Spektroskop, um vom Detektor 202 ausgegebenes
Licht 208 zu streuen, 205 bezeichnet eine Bildmeßvorrichtung,
wie zum Beispiel eine CCD-Kamera, um ein vom Spektroskop 208
ausgesendetes Licht zu messen, 206 bezeichnet eine
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (im weiteren als
Bildverarbeitungsvorrichtung abgekürzt) um als Eingabe von
der Bildmeßvorrichtung 205 übertragene Bildsignale
aufzunehmen und zu verarbeiten und 207 bezeichnet eine
Anzeigevorrichtung, um das Ergebnis einer durch die
Bildverarbeitungsvorrichtung 206 durchgeführten
Bildverarbeitung anzuzeigen, d. h. eine absorbierte
Dosisverteilung.
Nun wird der Betrieb der Tiefendosismeßvorrichtung des ersten
Ausführungsbeispiels mit der in Fig. 1 gezeigten Struktur
beschrieben.
Zuerst trifft der Teilchenstrahl 201 auf den Detektor 202,
und der auftreffende Teilchenstrahl 201 emittiert ein Licht
im Detektor 202. Als nächstes überträgt der Detektor 202 das
intern emittierte Licht an eine Endoberfläche des Detektors
202. Danach tritt das an die Endoberfläche des Detektors 202
übertragene Licht durch das optische System 203, das
Spektroskop 204, die Bildmeßvorrichtung 205 und die
Bildverarbeitungsvorrichtung 206, in dieser Reihenfolge.
Zuletzt zeigt die Anzeigevorrichtung 207 die absorbierte
Dosisverteilung an.
Der Detektor 202 emittiert intern ein Scintillationslicht,
dessen Menge proportional zu der in dem Detektor 202
absorbierten Energie ist, und ein Cerenkov-Licht in
Übereinstimmung mit der Geschwindigkeit, mit der der
Teilchenstrahl 201 durch den Detektor 202 tritt. Um eine
absorbierte Dosismenge genau zu messen ist es nötig, das
Cerenkov-Licht zu entfernen, wodurch nur das
Scintillationslicht gemessen wird.
Das Scintillationslicht emittiert ein Licht mit einer
Wellenlänge in Übereinstimmung mit einer Scintillator. Auf
der anderen Seite ist eine Wellenlängenverteilung des
Cerenkov-Lichtes invers proportional zu der Wurzel der
Wellenlänge und weist eine durchgehende Verteilung auf, die
von einem ultravioletten Bereich bis zu einem blauen Bereich
reicht.
Es kann ein Scintillator ausgewählt werden, der ein Licht in
einem Bereich mit einer längeren Wellenlänge als das des
blauen Bereichs emittiert, z. B. in einem grünen Bereich, und
der Scintillator kann in dem Detektor 202 verwendet werden.
In diesem Fall kann, da ein erhaltenes Scintillatorlicht und
das Cerenkov-Licht verschiedene Wellenlängen aufweisen, das
Spektroskop 204 dazu verwendet werden, einfach dazwischen zu
unterscheiden. Als eine Folge davon ist es möglich, eine
Tiefendosisverteilung genau zu messen.
Darüber hinaus kann sogar, wenn der Scintillator Licht mit
einer Wellenlänge im blauen Bereich emittiert, ein Vergleich
zwischen einer Lichtmenge vom Scintillator und einer Menge
von Cerenkov-Licht in der Nachbarschaft eines Scintillator-
Emissionswellenlängenbereichs vorgenommen werden, um die
Menge des Cerenkov-Lichts von der Lichtmenge des
Scintillatorlichtes zu substrahieren. Dadurch ist es möglich,
nur die Menge von Scintillationslicht zu erhalten. Als eine
Folge davon kann die Tiefendosisverteilung genau gemessen
werden.
Fig. 2 zeigt ein Blockdiagramm einer
Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des zweiten
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. In der
Zeichnung werden die gleichen Bezugsziffern für Bestandteile
verwendet, die mit denen des ersten, in Fig. 1 gezeigten
Ausführungsbeispiels identisch sind, und Beschreibungen davon
werden ausgelassen.
Die Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des zweiten
Ausführungsbeispiels unterscheidet sich von der
Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des in Fig. 1 gezeigten ersten
Ausführungsbeispiels dadurch, daß ersteres einen
Bandpaßfilter 209 aufweist, der zwischen einem optischen
System 203 und einer Bildmeßvorrichtung 205 anstatt dem
Spektroskop 204 angeordnet ist. Der Bandpaßfilter 209 kann
nur Licht eines Wellenlängenbereiches übertragen, der einen
Wellenlängenbereich der Emission des Scintillators in dem
Detektor 202 entspricht.
In der Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des zweiten
Ausführungsbeispiels mit der obigen Struktur kann von dem in
dem Detektor 202 emittierten Licht nur ein
Scintillationslicht auf die Bildmeßvorrichtung 205 durch den
Bandpaßfilter 209 auftreffen. Somit ist es möglich, die
Tiefendosisverteilung genau zu messen.
Fig. 3 zeigt ein Blockdiagramm einer
Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des dritten
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. In der
Zeichnung bezeichnet eine Bezugsziffer 222 einen Detektor.
Der Detektor 222 umfaßt einen durch Verbinden von sich
abwechselnden normalen optischen Fasern 211 und
Scintillationsfasern 212 in einem Bündel erhaltenen
Faserblock 222-1. Die gleichen Bezugsziffern werden für
Bestandteile verwendet, die identisch mit denen des in Fig. 1
gezeigten ersten Ausführungsbeispiels sind und eine
Beschreibung davon wird weggelassen.
Die normale optische Faser 211 ist vom gleichen Material wie
die Scintillationsfaser 212, unterscheidet sich jedoch von
der Scintillationsfaser 212 dadurch, daß zur letzteren
einfach fluorescentes Material hinzugefügt wird. Ein
Schutzfilm 210 ist an einem Ende des Detektors 222
vorgesehen. Der Schutzfilm 210 ermöglicht es einer
Meßvorrichtung 205a, nur von der Scintillationsfaser 212
ausgesendetes Licht zu messen. Weiter mißt eine
Bildmeßvorrichtung 205b nur von der normalen optischen Faser
211 ausgesendetes Licht.
Als nächstes subtrahiert eine Bilddifferenzvorrichtung 213
Bildausgaben, die von den Bildmeßvorrichtungen 205a und 205b
ausgegeben wurden. D.h. eine Menge von Cerenkov-Licht wird
von einer von der Scintillationsfaser 212 ausgesendeten
Lichtmenge subtrahiert. Dadurch ist es möglich, nur eine
Scintillationslichtmenge zu messen. Als eine Folge ist es
möglich, eine Tiefendosisverteilung genau zu messen und eine
erhaltene Tiefendosisverteilung auf der Anzeigevorrichtung
207 anzuzeigen.
Fig. 4 zeigt ein Blockdiagramm einer
Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des vierten
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. In der
Zeichnung bezeichnet eine Bezugsziffer 232 einen Detektor.
Der Detektor 232 schließt einen durch Verbinden von sich
abwechselnden normalen optischen Fasern 211 und
Scintillationsfasern 212 in einem Bündel erhaltenen
Faserblock ein. Die gleichen Bezugsziffern werden für
Bestandteile verwendet, die identisch denen des in Fig. 1
gezeigten ersten Ausführungsbeispiels sind und Beschreibungen
davon werden weggelassen.
Eine Bildmeßvorrichtung 205 mißt ein von einer Endoberfläche
des Detektors 232 ausgesendetes Licht. Als eine Folge wird
eine Differenz zwischen einer Lichtmenge an einer Position
der Scintillationsfaser 212 und einer Lichtmenge an einer
Position der normalen Faser 212 bewirkt. Die Differenz dient
als eine Differenz in einer Anzeigeposition im Bild, und
wird auf einer Anzeigevorrichtung 207 angezeigt.
Eine Bildverarbeitungsvorrichtung 206 zieht von einer
Lichtmenge an einem Abschnitt der Scintillationsfaser 212
eine Lichtmenge an einem Abschnitt der normalen optischen
Faser 211 in der Umgebung davon ab. Dadurch ist es möglich,
eine Menge von Cerenkov-Licht von der durch die
Scintillationsfaser 212 ausgesendeten Lichtmenge abzuziehen.
Als eine Folge davon ist es möglich, eine
Tiefendosisverteilung genau zu messen.
Fig. 5 zeigt ein Blockdiagramm einer
Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des fünften
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. In der
Zeichnung bezeichnet eine Bezugsziffer 242 einen durch
Verbinden von normalen optischen Fasern in einem Bündel
erhaltenen Blocktypdetektor. Die gleichen Bezugsziffern
werden für Bestandteile-verwendet, die identisch denen des in
Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiels sind, und eine
Beschreibung dafür wird ausgelassen.
In der Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des fünften
Ausführungsbeispiels mit der in Fig. 5 gezeigten Struktur
umfaßt der Detektor 242 eine Blockform, erhalten durch
Verbinden der normalen optischen Fasern in einem Bündel.
Somit kann der Detektor 242 nur ein Cerenkov-Licht messen und
mißt eine Tiefenverteilung des Cerenkov-Lichts. Es ist
möglich, eine Tiefendosisverteilung von einer Verteilung des
Cerenkov-Lichtes zu finden, abhängend von einer Korrelation
zwischen einer Cerenkov-Lichtverteilung, die vorhergehend von
der Verteilung des Cerenkov-Lichtes gefunden wurde, und einer
absorbierten Tiefendosisverteilung. Es ist möglich, die
Kosten für ein für den Detektor verwendetes Material zu
reduzieren, was eine Kostenreduktion für die Herstellung der
Tiefendosismeßvorrichtung bewirkt.
Fig. 6 zeigt ein Blockdiagramm einer Tiefendosismeßvorrichtung
gemäß des sechsten Ausführungsbeispiels der vorliegenden
Erfindung. In der Zeichnung bezeichnet eine Bezugsziffer 252
eine Bildmeßvorrichtung mit einem Detektor, der einen kurzen
Scintillationsfaserblock 215 und klare Plastikblöcke 216
umfaßt. Der kurze Scintillationsfaserblock 215 ist zwischen
den klaren Plastikblöcken 216 angeordnet. Die gleichen
Bezugsziffern werden für Bestandteile verwendet, die
identisch denen des in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiels
sind, und eine Beschreibung davon wird ausgelassen.
Der klare Plastikblock 216 ist vom gleichen Material wie der
Scintillationsfaserblock 215, und der Detektor 252 ist als
ein Ganzes homogen. Licht wird von einer Endoberfläche des
Scintillationsfaserblocks 215 zu der Bildmeßvorrichtung 205
durch den klaren Plastikblock 216 übertragen. Die
Bildmeßvorrichtung 205 empfängt und mißt das von der
Endoberfläche des Scintillationsfaserblocks 215 übertragene
Licht.
Mit der Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des sechsten
Ausführungsbeispiels ist es möglich, eine Positionsauflösung
einer absorbierten Dosis zu erhöhen, und Materialkosten für
den Scintillationsfaserblock 215 aufgrund des kurzen
Scintillationsfaserblocks 215 im Detektor 252 zu reduzieren.
Es ist sogar mit einem kurzen Scintillationsfaserblock 215
möglich, einen elektronischen Gleichgewichtszustand zu
erhalten, da klare Acrylblöcke einschließlich der klaren
Plastikblöcke 216 auf beiden Seiten des
Scintillationsfaserblocks angeordnet sind.
Fig. 7 zeigt ein Blockdiagramm eines Detektors in einer
Tiefendosismeßvorrichtung gemäß des siebten
Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung. In der
Zeichnung bezeichnet die Bezugsziffer 262 den Detektor.
Obwohl der Detektor 262 in Fig. 7 vergrößert ist, sind
Bestandteile der Tiefendosismeßvorrichtung mit Ausnahme des
Detektors 262 identisch mit denen im in Fig. 6 gezeigten
fünften Ausführungsbeispiels und Beschreibungen davon werden
in Hinblick auf Einfachheit ausgelassen. In Fig. 7 bezeichnet
eine Bezugsziffer 262 den Detektor, 215 bezeichnet einen
Scintillationsfaserblock und 216 bezeichnet einen klaren
Plastikblock. Der Detektor 262 umfaßt den
Scintillationsfaserblock 215 und die klaren Plastikblöcke
216.
Wenn die Bildmeßvorrichtung 205, beispielsweise eine Kamera
verwendet wird, um von einer Endoberfläche des
Scintillationsfaserblocks 215 ausgehendes Licht zu messen,
wird ein von der Endoberfläche ausgegebenes Licht partiell
von Seitenoberflächen des klaren Plastikblocks 216
reflektiert. Somit ist der klare Plastikblock 216 so
ausgebildet, daß er eine Seite aufweist, die ungefähr 1 cm
länger ist als eine Seite des Scintillationsfaserblocks 215.
Dadurch ist es möglich, die Reflektionskomponenten zu
entfernen, die an den Seitenoberflächen des klaren
Plastikblocks 216 reflektiert werden. D.h., wenn die
Bildmeßvorrichtung 205, wie zum Beispiel eine Kamera, für ein
Aufnehmen verwendet wird, ist es möglich, die
Reflektionskomponenten zu entfernen, da die Seitenoberflächen
von einem Aufnahmebereich entfernt angeordnet sind. Als eine
Folge davon ist es möglich, nur von der Endoberfläche des
Scintillationsfaserblockes 215 ausgegebenes Licht mit hoher
Genauigkeit zu messen.
Wie oben ausgeführt, sind gemäß der Tiefendosismeßvorrichtung
der vorliegenden Erfindung die Vielzahl von
Scintillationsfasern in einem Bündel verbunden, um die
Blockform bereitzustellen, und das Spektroskop wird
verwendet, um das von der Endoberfläche des Detektors
aus gegebene Licht zu streuen, um so die Lichtmenge zu messen,
die die Wellenlänge gemäß des Emissionsspektrums der
Scintillationsfaser hat. Als eine Folge ist es möglich, das
Cerenkov-Licht zu entfernen, und die Tiefendosisverteilung
genau mit hoher Genauigkeit zu messen. Weiter wird gemäß der
Tiefendosismeßvorrichtung der vorliegenden Erfindung der
Bandpaßfilter gemäß der Wellenlänge der Emission der
Scintillationsfaser verwendet, um die von der Endoberfläche
des Detektors ausgegebene Lichtmenge zu messen. Als eine
Folge davon ist es möglich, nur das Cerenkov-Licht zu
entfernen und die Tiefendosisverteilung mit hoher Genauigkeit
zu messen.
Weiter umfaßt der Detektor gemäß der
Tiefendosismeßvorrichtung der vorliegenden Erfindung den
Faserblock, in dem die Scintillationsfasern und normalen
optischen Fasern abwechselnd angeordnet sind. Nur das von der
Scintillationsfaser ausgesendete Licht kann von einem Ende
des Detektors ausgesendet werden und nur das von der normalen
Faser ausgesendete Licht kann von dem anderen Ende davon
ausgegeben werden, was zwei Meßsysteme zur Folge hat. Weiter
wird eine Differenz zwischen den in beiden Meßsystemen
erhaltenen Signalen berechnet. Als eine Folge ist es möglich,
nur das Cerenkov-Licht zu entfernen und mit hoher Genauigkeit
die Tiefendosisverteilung zu messen.
Weiter können gemäß der Tiefendosismeßvorrichtung der
vorliegenden Erfindung sowohl das von der Scintillationsfaser
aus gegebene Licht als auch das von der normalen Faser
aus gegebene Licht von einem Ende des Detektors ausgegeben
werden. Die Leuchtverteilung davon wird durch die
Bildmeßvorrichtung, beispielsweise einer Kamera, gemessen, und
die Bildverarbeitung wird verwendet, um die Differenz
zwischen dem von der Scintillationsfaser ausgegebenen Licht
und dem von der normalen optischen Faser aus gegebenen Licht
zu berechnen. Als eine Folge davon ist es möglich, nur das
Cerenkov-Licht zu entfernen, und die Tiefendosisverteilung
mit hoher Genauigkeit zu messen.
Weiter sind gemäß der Tiefendosismeßvorrichtung der
vorliegenden Erfindung die normalen optischen Fasern in einem
Bündel verbunden, um den Blocktypdetektor zu bilden und das
von der Endoberfläche des Detektors aus gegebene Licht wird
gemessen. Somit wird die Verteilung des Cerenkov-Lichtes
gemessen, und die Tiefendosisverteilung wird durch Verwendung
der Korrelation zwischen der Cerenkov-Lichtverteilung und der
vorhergehend gemessenen Tiefendosisverteilung gemessen. Es
ist möglich, Materialkosten für den Detektor zu verringern,
wodurch eine Kostenreduktion für eine Herstellung der
Tiefendosismeßvorrichtung bewirkt wird.
Weiter sind gemäß der Tiefendosismeßvorrichtung der
vorliegenden Erfindung die klaren Plastikblöcke an beiden
Enden des kurzen Scintillationsfaserblocks im Detektor
angeordnet. Als eine Folge ist es möglich, die
Positionsauflösung der absorbierten Dosis zu erhöhen und die
Materialkosten für den Scintillationsfaserblock zu
reduzieren.
Weiter ist gemäß der Tiefendosismeßvorrichtung der
vorliegenden Erfindung der klare Plastikblock größer
ausgebildet als der Scintillationsfaserblock. Dadurch ist es
möglich, nur die Reflektionskomponenten an den
Seitenoberflächen des klaren Plastikblocks zu entfernen. Als
eine Folge davon ist es möglich, die Tiefendosisverteilung
mit hoher Genauigkeit zu messen.
Obwohl das Obige eine vollständige und umfassende Offenbarung
der bevorzugten Ausführungsbeispiele der vorliegenden
Erfindung darstellt, können verschiedene Abwandlungen,
alternative Zusammenstellungen und Entsprechungen vorgenommen
werden, ohne von dem Grundgedanken und Bereich der Erfindung
abzuweichen. Daher sollten die obige Beschreibung und
Veranschaulichung nicht als eine Beschränkung des Umfangs der
Erfindung gesehen werden, die durch die angefügten Ansprüche
definiert ist.
Claims (9)
1. Eine Tiefendosismeßvorrichtung,
dadurch gekennzeichnet, daß
sie umfaßt:
eine Detektorvorrichtung (202), um einen Teilchenstrahl (201) als eine Eingabe zu erhalten, und um von einer Endoberfläche ein durch den Teilchenstrahl (201) bewirktes Licht aus zugeben;
eine Lichterfassungsvorrichtung (203, 204), um das von der Detektorvorrichtung (202) ausgegebene Licht zu erfassen und um ein erhaltenes Erfassungsergebnis aus zugeben;
eine Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206), um Signale zu verarbeiten, die als ein von der Lichterfassungsvorrichtung (203, 204) ausgegebenes Erfassungsergebnis dienen; und
eine Anzeigevorrichtung (207), um ein Ergebnis einer in der Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206) durchgeführten Verarbeitung anzuzeigen,
wobei eine Messung einer Lichtmenge mit einer Wellenlänge in Übereinstimmung mit einem Spektrum des in der Detektorvorrichtung (202) bewirkten Lichtes vorgenommen wird.
eine Detektorvorrichtung (202), um einen Teilchenstrahl (201) als eine Eingabe zu erhalten, und um von einer Endoberfläche ein durch den Teilchenstrahl (201) bewirktes Licht aus zugeben;
eine Lichterfassungsvorrichtung (203, 204), um das von der Detektorvorrichtung (202) ausgegebene Licht zu erfassen und um ein erhaltenes Erfassungsergebnis aus zugeben;
eine Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206), um Signale zu verarbeiten, die als ein von der Lichterfassungsvorrichtung (203, 204) ausgegebenes Erfassungsergebnis dienen; und
eine Anzeigevorrichtung (207), um ein Ergebnis einer in der Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206) durchgeführten Verarbeitung anzuzeigen,
wobei eine Messung einer Lichtmenge mit einer Wellenlänge in Übereinstimmung mit einem Spektrum des in der Detektorvorrichtung (202) bewirkten Lichtes vorgenommen wird.
2. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Detektorvorrichtung (202) einen Block umfaßt, der
durch ein Verbinden einer Vielzahl von
Scintillationsfasern in einem Bündel erhalten ist, die
Lichterfassungsvorrichtung ein Spektroskop (204)
einschließt, das von der Detektorvorrichtung (202)
ausgegebene Licht durch das Spektroskop (204) gestreut
wird, Signale, die als das Erfassungsergebnis dienen,
erhalten durch die Streuung, in die
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206) eingegeben
werden und eine Messung einer Lichtmenge mit einer
Wellenlänge in Übereinstimmung mit einem
Emissionsspektrum der Vielzahl von Scintillationsfasern
vorgenommen wird.
3. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Lichterfassungsvorrichtung (203, 209) einen einer
Emissionswellenlänge der Vielzahl von
Scintillationsfasern entsprechenden Bandpaßfilter (209)
umfaßt, und ein von der Endoberfläche der
Detektorvorrichtung (202) ausgegebenes Licht durch den
Bandpaßfilter (209) hindurchtritt, um in die
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206) eingegeben
zu werden.
4. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Detektorvorrichtung (222) einen Faserblock (222-1)
umfaßt, gebildet durch ein abwechselndes Anordnen einer
Vielzahl von Scintillationsfasern (212) und einer
Vielzahl von normalen optischen Fasern (211), wobei nur
ein von der Vielzahl von Scintillationsfasern (212)
ausgegebenes Licht von einer ersten Endoberfläche der
Detektorvorrichtung (222) ausgegeben wird, und nur ein
von der Vielzahl von normalen optischen Fasern (211)
ausgegebenes Licht von einer zweiten Endoberfläche der
Detektorvorrichtung (222) ausgegeben wird, die
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung eine erste
Signalverarbeitungsvorrichtung (205a) umfaßt, um das von
der ersten Endoberfläche ausgegebene Licht als eine
Eingabe zu empfangen und zu verarbeiten, eine zweite
Signalverarbeitungsvorrichtung (205b), um das von der
zweiten Endoberfläche aus gegebene Licht zu empfangen und
zu verarbeiten, und die
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205a, 205b, 213)
eine Differenz zwischen einem in der ersten
Signalverarbeitungsvorrichtung (205a) erhaltenen
Ergebnis und einem in der zweiten
Signalverarbeitungsvorrichtung (205b) erhaltenen Signal
berechnet.
5. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Detektorvorrichtung (232) einen Faserblock
einschließt, gebildet durch ein abwechselndes Anordnen
einer Vielzahl von Scintillationsfasern (212) und einer
Vielzahl von normalen optischen Fasern (211), und ein
erstes von der Vielzahl von Scintillationsfasern (212)
ausgegebenes Licht und ein zweites von der Vielzahl von
normalen optischen Fasern (211) ausgegebenes Licht von
einer ersten Endoberfläche der Detektorvorrichtung (232)
ausgegeben wird, eine Leuchtverteilung des ersten
Lichtes und des zweiten Lichtes durch eine
Bildmeßvorrichtung (205) gemessen wird, die durch die
Bildmeßvorrichtung (205) gemessenen Daten der
Leuchtverteilung an die
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (206) ausgegeben
werden und die Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (206)
eine Bildverarbeitung von Eingabedaten der
Leuchtverteilung des ersten Lichtes und der
Leuchtverteilung des zweiten Lichtes durchführt, und
eine Differenz der Leuchtverteilung zwischen dem ersten
Licht und dem zweiten Licht berechnet.
6. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Detektorvorrichtung (242) einen durch Verbinden einer
Vielzahl von normalen optischen Fasern in einem Bündel
erhaltenen Block umfaßt, ein von einer Endoberfläche der
Detektorvorrichtung (242) ausgegebenes Cerenkov-Licht zu
der Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206)
ausgegeben wird, und die
Bildsignalverarbeitungsvorrichtung (205, 206) eine
Tiefendosisverteilung erhält, abhängend von einer
Korrelation zwischen einer Verteilung des eingegebenen
Cerenkov-Lichts und einer vorhergehend gemessenen
absorbierten Tiefendosisverteilung.
7. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Detektorvorrichtung (252) einen
Scintillationsfaserblock (215) umfaßt, der durch eine
Vielzahl von Scintillationsfasern gebildet ist, und
klare Plastikblöcke (216), die an beiden Enden des
Scintillationsfaserblocks (215) angeordnet sind.
8. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Scintillationsfaserblock (215) kürzer als die
Vielzahl von Scintillationsfasern in der
Detektorvorrichtung nach Anspruch 2 sind.
9. Eine Tiefendosismeßvorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß
der klare Plastikblock (216) so ausgebildet ist, daß er
eine Seite aufweist, die länger als eine Seite des
Scintillationsfaserblocks (215) ist.
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