DE19710716C2 - Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen Bauelementen - Google Patents
Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen BauelementenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen
Bauelementen, vorzugsweise Hochleistungslaserdioden, die als eine
Mikrostrukturwärmesenke ausgebildet ist und eine Vielzahl von Einzelschichten
aufweist und wenigstens eine Mikrokanalplatte mit einer Vielzahl von Mikrokanälen
sowie einem Verteilerkanal, wenigstens eine Zwischenplatte mit einem oder
mehreren Verbindungskanälen und wenigstens eine Sammelplatte mit einem oder
mehreren Sammelkanälen vorsieht, wobei nach Aufeinanderfügen der
Mikrokanalplatte, der Zwischenplatte und der Sammelplatte sowie dem Vorsehen
einer die Einzelschichten abdeckende Deckel- und Grundplatte, abgeschlossene
Kühlkanäle entstehen, durch die ein Kühlmedium leitbar ist, wobei das Kühlmedium
durch eine Zulauföffnung in die Mikrostrukturwärmesenke hineingeleitet und durch
eine Ablauföffnung aus dieser wieder hinausgeleitet wird.
Die vorstehend genannte Kühlvorrichtung ist insbesondere im Zusammenhang mit
wärmeerzeugenden Hochleistungsbauelementen zu sehen, insbesondere
Laserstrahlquellen, die derzeit an der Schwelle zu einem Generationswechsel hin zu
preisgünstigen Halbleiterlasern mit höheren Wirkungsgraden stehen. Gaslaser- und
Lampen-gepumpte Festkörperlaser werden in vielen Anwendungsbereichen abgelöst
durch sogenannte Hochleistungsdiodenlaser, abgekürzt HLDL, sowie Dioden-
gepumpte Festkörperlaser, abgekürzt DPSSL. Leistungsstarke Diodenlaser setzen
eine effiziente Abfuhr der bei der Anregung des aktiven Mediums entstehenden
Verlustwärme von ca. 60% voraus. Dazu werden sogenannte aktiv gekühlte, d. h. von
Wasser als Kühlmedium durchflossene Mikrostrukturkühler eingesetzt, auf die der
eigentliche Diodenlaserbarren aufgelötet wird. Die Geometrie zur Führung des
Kühlwasserstroms innerhalb der Mikrokühler läßt sich dabei in folgende Abschnitte
unterteilen:
- - Die Zu- und Ablauföffnungen des Mikrokühlers, der in der Fachliteratur auch als Mikrokanalwärmesenke bezeichnet wird,
- - denjenigen Teil, in dem der Großteil der Verlustwärme von dem Kühlkörper auf das Kühlwasser übertragen wird, im folgenden Mikrostruktur genannt, sowie
- - diejenigen Strukturen, die die Zu- und Ablaufstellen mit den Mikrostrukturen verbinden, wie die sogenannten Versorgungsstrukturen oder Verbindungskanäle.
Aus der DE 43 15 580 A1 ist eine gattungsgemäße Mikrokanalwärmesenke
beschrieben, die den vorstehend genannten Aufbau zeigt. Die aus einer Vielzahl von
einzelnen Lagen bzw. Schichten bestehenden Kühlkörper sind vorzugsweise aus
einzelnen strukturierten übereinander angeordneten, 300 µm starken Kupferfolien
gefertigt, die in geeigneter Weise übereinander geschichtet und miteinander
verschweißt sind.
Der maximal mit einem derartigen Mikrokühler abführbare Wärmestrom bei einer
gegebenen Grenztemperatur für den Laserdiodenbarren hängt unter anderem stark
von dem zur Verfügung stehenden Kühlwasserdurchsatz durch die Mikrostruktur ab.
Der Druckverlust über den Mikrostrukturkühler steigt in erster Näherung mit dem
Quadrat der Durchflußmenge und ist entscheidend von der geometrischen
Ausführung der Versorgungsstrukturen bzw. der Verbindungskanäle des
Mikrokanalkühlers abhängig. Die Druckversorgung wird in der Regel durch externe
Umwälzpumpen gewährleistet. Die äußeren Abmessungen des Mikrostrukturkühlers
sind stark begrenzt und durch die entsprechende Größe der verwendeten
Laserdioden bestimmt. Will man den Kühleffekt einer bekannten
Mikrostrukturwärmesenke durch Steigerung der Kühlflüssigkeitsdurchsatzmenge
erhöhen, so wird schnell die endliche Dichtigkeit des Kühlsystems erreicht, zumal
Mikrokühler in an sich bekannter Weise aus einzelnen, übereinander gefügten
Schichten bzw. Lagen zusammengesetzt sind deren gegenseitige Lagenverbindung nur
eine endliche Festigkeit aufweist. Jede einzelne Lage bzw. Schicht der bekannten
Mikrokanalwärmesenken weist eine festgelegte Schichtstärke auf und kann nur
zweidimensional strukturiert werden. Erst durch die Schichtung verschiedener Lagen
wird eine dreidimensionale Struktur erreicht, die sich jedoch durch scharfe Kanten
und abrupte Übergänge in den Übergängen zwischen den einzelnen Lagen
auszeichnet. Versuche zeigten, daß derartige scharfe Kanten und abrupte
Übergänge 62% des Druckverlustes bei den herkömmlichen Wärmesenken
ausmachen. Die restlichen Anteile des Druckverlustes fallen auf Stoßverluste, mit
einem Beitrag von 26% und auf Reibungsverluste mit einem Beitrag von 13%.
Bei den herkömmlichen Mikrostrukturwärmesenken läßt sich bei einer Druckdifferenz
über den Mikrostrukturkühler von 4 bar ein Kühlwasserdurchfluß von 500 ml pro
Minute realisieren, wobei die maximale Wärmeabfuhr durch den Mikrostrukturkühler
und damit die Laserleistung des Hochleistungsdiodenlasers deutlich begrenzt ist.
Der Grund für die Durchfluß- und Leistungsbegrenzung liegt in der Gestaltung der
Strömungsführung in der Versorgungsstruktur innerhalb des Mikrostrukturkühlers.
Den vorstehenden Nachteil weisen auch die Kühlvorrichtungen für Laserdioden
gemäß der DE 43 15 581 A1 sowie DE 195 06 093 A1 auf.
So sieht das Kühlsystem der DE 43 15 581 A1 einen, als Deckelplatte ausgebildeten
Kühlkörper vor, zwischen dessen einzelnen Kühlrippen Kühlflüssigkeit geleitet wird.
Das in der DE 195 06 093 A1 dargestellte Kühlsystem besteht gemäß der Fig. 2 aus
einer Vielzahl übereinander angeordnetes Einzelschichten, die in entsprechender
Zusammensetzung einen, von einem Kühlmittel durchströmbaren Strömungskanal
einschließen. Jedoch treten innerhalb des Strömungskanal erhöhte
Strömungsverluste auf, wodurch die Kühlwirkung des Systems, herabgesetzt ist.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen
Bauelementen, vorzugsweise Hochleistungslaserdioden, die als eine
Mikrostrukturwärmesenke ausgebildet ist und eine Vielzahl von Einzelschichten
aufweist und wenigstens eine Mikrokanalplatte mit einer Vielzahl von Mikrokanälen
sowie einem Verteilerkanal, wenigstens eine Zwischenplatte mit einem oder
mehreren Verbindungskanälen und wenigstens eine Sammelplatte mit einem oder
mehreren Sammelkanälen vorsieht, wobei nach Aufeinanderfügen der
Mikrokanalplatte, der Zwischenplatte und der Sammelplatte sowie dem Vorsehen
einer die Einzelschichten abdeckenden Deckel- und Grundplatte, abgeschlossene
Kühlkanäle entstehen, durch die ein Kühlmedium leitbar ist, wobei das Kühlmedium
durch eine Zulauföffnung in die Mikrostrukturwärmesenke hineingeleitet und durch
eine Ablauföffnung aus dieser wieder hinausgeleitet wird, derart weiterzubilden, daß
bei Beibehaltung der äußeren Geometrie und unter Verwendung der bisher
verwendeten Mikrostrukturen der Druckverlust, den das Kühlmedium beim Passieren
durch die Mikrostrukturwärmesenke erfährt, erheblich gesenkt werden soll. Es soll
unter Beibehaltung der bisher verwendeten Kühlaggregate der Durchfluß durch eine
Wärmesenke erheblich gesteigert und der Wärmeübergangskoeffizient und damit der
thermische Gesamtwiderstand wesentlich verbessert werden. Insbesondere soll an
der bisher verwendeten Lagentechnik zum Aufbau derartiger
Mikrostrukturwärmesenken festgehalten werden.
Die Lösung der der Erfindung zugrundeliegenden Aufgabe ist im Anspruch 1
angegeben. Den Erfindungsgedanken vorteilhaft ausgestaltende Merkmale sind
Gegenstand der Ansprüche 2 ff.
Erfindungsgemäß ist eine Vorrichtung der vorgenannten Gattung dadurch
weitergebildet, daß in der Grundplatte die Zulauföffnung vorgesehen ist, daß sich an
der Zulauföffnung ein Zulauf-Kühlkanal anschließt, der einerseits durch die
Grundplatte und andererseits durch die Deckelplatte sowie die dazwischen
befindliche Sammelplatte, Zwischenplatte und Mikrokanalplatte begrenzt ist, wobei
die Sammelplatte sowie die Zwischenplatte im Zulauf-Kühlkanal jeweils eine Öffnung
als Verbindungskanal mit einer stufenhaften und/oder abgeschrägten Kante
aufweisen, die die Höhe des Zulauf-Kühlkanals durch den Betrag ihrer Dicken
verkleinern. Zwischen der Zwischenplatte und Deckelplatte ist die Mikrokanalplatte
eingebracht, die kammartig ausgebildete Mikrokanäle vorsieht, die unmittelbar an
den durch die Mikrokanalplatte und die Deckelplatte begrenzten Zulauf-Kühlkanal
anschließen. Ferner ist ein die Zwischenplatte durchsetzender Durchgangskanal
vorgesehen, der unmittelbar an die kammartig ausgebildeten Mikrokanäle angrenzt
und in der Ebene der Sammelplatte mündet. Im Anschluß an den Durchgangskanal
ist der Ablauf-Kühlkanal in der Ebene der Sammelplatte durch die Zwischenplatte
und die Grundplatte begrenzt. Schließlich weist Zwischenplatte sowie die
Mikrokanalplatte im Ablauf-Kühlkanal jeweils eine weitere Öffnung als
Verbindungskanal mit einer stufenhaften und/oder abgeschrägten Kante auf, die die
Höhe des Ablauf-Kühlkanals durch den Betrag ihrer Dicken vergrößern. In der
Deckelplatte ist letztlich die Ablauföffnung vorgesehen, die sich an den Ablauf-
Kühlkanal anschließt.
Der Erfindung liegt insbesondere die Erkenntnis zugrunde, daß der größte
Druckverlust, den die Kühlflüssigkeit beim Durchgang durch die
Mikrostrukturwärmesenke erleidet, im Bereich der Verteilerstrukturen bzw.
Verbindungskanäle auftritt. Erfindungsgemäß wird genau dieser Bereich der
Mikrostrukturwärmesenke durch entsprechende Ausbildung der Zwischenplatte
derart modifiziert, so daß die Zwischenplatte der die Mikrostrukturwärmesenke
durchfließenden Kühlflüssigkeit eine Stufe entgegensetzt, so daß der
Strömungsquerschnitt durch den Verbindungskanal durch entsprechende
Strukturierung der Zwischenplatte sukzessive vom großen Eintrittsquerschnitt hin
zum Querschnitt der Mikrostruktur überführt wird. Bei Verwendung von mehr als
einer Zwischenplatte, kann eine gleichmäßigere Anpassung der jeweiligen
Querschnittsüberführung durch unterschiedliche Ausbildung der Zwischenplatten
erfolgen.
Erfindungsgemäß sind wenigstens die Zwischenplatten derart strukturiert, daß sie
Öffnungen aufweisen, die sogenannten Verbindungskanäle, durch die die
Kühlflüssigkeit von einer Lage in die nächste der Mikrostrukturwärmesenke fließt und
die wenigstens eine Übergangsstruktur in Form einer Kante vorsehen, die geradlinig
oder gebogen ausgebildet ist. Die Öffnungsgröße sowie Form und Länge der Kante
jeder einzelnen Zwischenplatte variiert von einer Zwischenplatte zur unmittelbar
nächstliegenden Zwischenplatte in der Weise, daß Öffnungsgröße sowie Kantenform
und -länge entweder schrittweise vergrößert oder verkleinert werden.
Im Falle der Strömungsquerschnittsreduzierung vom Eintrittsquerschnitt hin zum
Mikrokanalquerschnitt wird der Strömungsquerschnitt von Lage zu Lage um jeweils
die Dicke einer Zwischenplatte multipliziert mit der Länge der von der Kühlflüssigkeit
überströmten Kante bzw. Übergangsstruktur reduziert.
Auch weisen vorzugsweise die Mikrokanalplatte sowie die Sammelplatte eine
Übergangsstruktur auf, die entsprechend an die Übergangsstrukturen der obersten
bzw. untersten Zwischenplatte angepaßt ist.
Ferner ist festgestellt worden, daß neben der sukzessiven
Strömungsquerschnittsanpassung zur Druckverlustreduzierung die
Übergangsstrukturen zur gezielten Bildung von Strömungswirbeln innerhalb des
Kühlflüssigkeitsstroms dienen, die bei geeigneter Positionierung und
Dimensionierung zu einer Verbesserung der Strömungseigenschaften der
Kühlflüssigkeit durch die Mikrostrukturwärmesenke beitragen können.
Die Erfindung soll unter Verwendung eines Ausführungsbeispieles ohne
Beschränkung des allgemeinen Erfindungsgedankens anhand der nachstehenden
Figuren erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1 perspektivische Draufsicht auf eine Mikrokanalplatte mit
den darunter befindlichen Zwischenplatten,
Fig. 2 perspektivische Draufsicht auf eine Sammelplatte mit
den darunter befindlichen Zwischenplatten,
Fig. 3 Überlagerungsdarstellung von fünf erfindungsgemäß
ausgebildeten Zwischenplatten,
Fig. 4a und b Draufsicht auf eine Grund- und Deckelplatte,
Fig. 5 Verlauf des Strömungsquerschnittes in einer Wärmesenke und
Fig. 6 Druckverlustkennlinien von Standard- und optimierten
Mikrostrukturwärmesenken
Die in Fig. 1 dargestellte Mikrostrukturwärmesenke besteht im gezeigten
Ausführungsbeispiel aus einer Grundplatte 1, einer Sammelplatte 2, fünf
Zwischenplatten 3 bis 7 sowie einer Mikrokanalplatte 8.
Auf die Deckelplatte ist im gezeigten Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 verzichtet
worden, wodurch eine perspektivische Einsicht in den inneren Aufbau der
Mikrostrukturwärmesenke möglich ist. Die Grund- und Deckelplatte 1 und 13 sind in
den Fig. 4a und 4b dargestellt und weisen jeweils eine Öffnung auf, die
sogenannte Zulauföffnung 9 bzw. die Ablauföffnung 12.
Im dargestellten Beispiel der Fig. 1 wird Kühlflüssigkeit durch die Zulauföffnung 9
der Grundplatte 1 senkrecht zur Zeichenebene von unten nach oben in die
Mikrokanalwärmesenke eingeleitet und durch die nicht dargestellte Deckelplatte in
Richtung der stufenförmigen Kontur (siehe Pfeil) umgelenkt.
Die Kühlflüssigkeit fließt über die aufsteigende Treppenstruktur, die sich aus der
Übereinanderschichtung der Zwischenplatten 3 bis 7 ergibt, auf die oberste
Zwischenplatte 6 an der sie durch die nicht dargestellte Deckelplatte nach vorne in
Richtung der Mikrokanäle 10 umgelenkt wird. Die Mikrokanäle 10 sind als eine Art
Kammstruktur ausgebildet, in deren Zwischenräume die Kühlflüssigkeit eindringen
kann. Im hinteren Bereich der Kammstruktur ist unter dieser ein rechteckiger
Durchgangskanal 11 vorgesehen, der zum einen alle Zwischenplatten 3 bis 7
durchsetzt und in der Ebene der Sammelplatte 2 mündet. Wie später zu Fig. 2
ausgeführt wird, wird die durch den rechteckigen Durchgangskanal 11 nach unten
abfließende Kühlflüssigkeit durch die Grundplatte 1 in der Ebene der Sammelplatte
nach vorn umgelenkt, so daß die Kühlflüssigkeit durch den in Fig. 1 dargestellten
Austrittskanal 12 nach oben senkrecht zur Zeichenebene wieder austritt.
Zusätzlich zu den Zwischenplatten 3 bis 7 weist auch die Sammelplatte 2 einen
Verbindungskanal mit einer Übergangsstruktur als Kante auf, vergleichbar zu dem
aus Fig. 1 entnehmbaren Verbindungskanal der Mikrokanalplatte 8 (siehe Öffnung
des Austrittskanals 12).
Erfindungsgemäß weisen zumindest die Zwischenplatten Übergangskonturen auf,
die für die, die Mikrostrukturwärmesenke durchfließende Kühlflüssigkeit eine
Strömungsquerschnittsveränderung bewirken. Durch diese in der Fig. 1 sich
treppenförmig ergebende Kontur aus der Übereinanderfügung der Zwischenplatten 3
bis 7 wird der Eintrittsquerschnitt, der sich ergibt in Fig. 1 entlang der Schnittlinie A in
Blickrichtung zur Treppenstruktur (siehe hierzu auch eingetragene Pfeilrichtung)
sukzessive verringert, bis hin zum flach verlaufenden Strömungsquerschnitt oberhalb
der Zwischenplatte 7, der sich nunmehr ausschließlich aus der Höhe h der
Mikrokanäle sowie deren Gesamtbreite b ergibt. So wird der Eintrittsquerschnitt im
Bereich der Zulauföffnung, der in aller Regel eine Breite von 5 mm und eine Höhe
von 9 mm aufweist, durch die erfindungsgemäße Treppenstruktur sukzessive auf den
Strömungsquerschnitt im Bereich der Mikrostrukturplatte mit Abmessungen von einer
Breite von 10 mm und eine Höhe von 0,3 mm reduziert. Zwar wäre eine
kontinuierliche Überführung der Querschnitte der theoretisch optimale Weg, jedoch
ist dieser aufgrund der Lagenstruktur nicht möglich. Um die Querschnitte trotz
Lagenstruktur möglichst optimal zu verbinden, werden die wasserführenden
Strukturen innerhalb des Verbindungskanals derart ausgeführt, daß die Unterschiede
der einzelnen Strömungsquerschnitte nur gering ausfallen. Durch die Vorsehung
einer größeren Anzahl von wasserführenden Zwischenplatten kann der Unterschied
zwischen den einzelnen Querschnitten verkleinert werden, um so der idealen
Strömungsführung möglichst nahezukommen. Eine größere Anzahl von
Zwischenplatten kann entweder durch eine größere Gesamthöhe des Kühlers oder
durch eine Verkleinerung der Plattenstärke erzielt werden.
Neben der Erkenntnis, daß Druckverluste durch eine stufenweise Anpassung der
Strömungsquerschnitte reduziert werden können, verursachen die einzelnen
Stufenabschnitte lokale Verwirbelungen innerhalb der Kühlflüssigkeit, die gezielt zu
einer optimalen Strömungsführung beitragen können.
In der gleichen Weise, wie der Eintrittsquerschnitt stufenweise an den
Strömungsquerschnitt in der Mikrokanalplatte angenähert wird, ist in Fig. 2
dargestellt, daß in ähnlicher Weise in der Ebene der Sammelplatte 2 der
Druckverlust in der Strömungsrückführung ebenso durch stufenweise Anpassung der
Strömungsquerschnitte reduziert werden kann. In Fig. 2 ist die Draufsicht auf die
Sammelplatte 2 dargestellt, wobei die Grundplatte 1 für den Einblick in die innere
Struktur weggelassen ist. Die unterste Lage bildet nun die Deckelplatte 13. Die
Ansicht der in Fig. 2 dargestellten Mikrostrukturwärmesenke ergibt sich aus der
umgekehrten Draufsicht verglichen mit der Darstellung in Fig. 1.
Die Kühlflüssigkeit tritt in der in Fig. 2 dargestellten Ansicht senkrecht nach oben aus
der Zeichenebene aus der rechteckigen Öffnung 11 heraus. Aufgrund der nicht
dargestellten Grundplatte 1 wird die Kühlflüssigkeit entlang des Sammelkanals 14 in
Richtung der abfallenden Stufenstruktur abgelenkt (siehe Pfeilrichtungen). Die
Stufenstruktur setzt sich wiederum zusammen aus der Übereinanderfügung der
entsprechend ausgebildeten Zwischenplatten 3 bis 7 sowie der untersten
Mikrostrukturplatte 8. Die Kühlflüssigkeit fließt sodann durch den Öffnungsbereich 12
senkrecht nach unten aus der Zeichenebene.
Zur besseren Sichtbarmachung der Strukturierung jeder der einzelnen
Zwischenplatten 3 bis 7 ist in Fig. 3 eine Darstellung in Überlagerungstechnik
gezeigt. Die einzelnen Zwischenplatten sind dabei von der Zwischenplatte 3 bis 7
von links nach rechts um ein Stück versetzt übereinandergezeichnet dargestellt. Zu
erkennen sind die stufenweise vergrößerten Verbindungskanäle für den
Zulaufbereich (3', 4', 5', 6', 7') sowie für der Ablaufbereich (3", 4", 5", 6", 7") sowie die
rechteckige Öffnung 11 in jeder einzelnen Zwischenplatte.
In Fig. 4a ist die Grundplatte 1 mit der Zulauföffnung 9 und in Fig. 4b ist die
Deckelplatte 13 mit der Ablauföffnung 12 dargestellt.
Mit der erfindungsgemäßen Ausgestaltung der Zwischenplatten und den sich daraus
ergebenden Versorgungsstrukturen bzw. Verbindungskanälen wird es ermöglicht,
unter Beibehaltung der äußeren Geometrie der Wärmesenken und unter
Verwendung der bisher verwendeten Mikrostrukturen den Druckverlust einer
einzelnen Wärmesenke um eine Größenordnung zu senken. Damit ist ein Betrieb
des Diodenlasers mit einfachen und preiswerten Peripherie-Aggregaten zur Kühlung
möglich geworden. Alternativ kann unter Beibehaltung der bisher verwendeten
Kühlaggregate der Durchfluß durch eine Wärmesenke erheblich gesteigert und der
Wärmeübergangskoeffizient, und damit der thermische Gesamtwiderstand,
wesentlich verbessert werden.
Durch speziell aufeinander abgestimmte und strukturierte Zwischenplatten kann die
bisher verwendete Lagentechnik ohne die eingangs erwähnten
strömungsmechanischen Nachteile beibehalten werden.
Mikrostrukturkühler nach dem Stand der Technik haben, bei einer
abzutransportierenden Wärme von 70 Watt, folgende typische Betriebsdaten:
- - Druckverlust: 5 bar
- - Durchfluß: 500 ml/min
- - Wärmeübergangskoeffizient: 87500 W/m2K
- - Temperaturerhöhung: 29,99 K
- - Thermischer Gesamtwiderstand: 0,43 K/W
(bezogen auf die Aufstandsfläche des Diodenlaserbarrens)
Mikrostrukturkühler mit der erfindungsgemäßen Versorgungsstruktur haben bei 70
Watt Verlustwärme entweder folgende Betriebsdaten:
- - Druckverlust 0,5 bar
- - Durchfluß 500 ml/min
- - Wärmeübergangskoeffizient: 87500 W/m2K
- - Temperaturerhöhung: 29,99 K
- - Thermischer Gesamtwiderstand: 0,43 K/W
(bezogen auf die Aufstandsfläche des Diodenlaserbarrens)
oder:
oder:
- - Druckverlust 5 bar
- - Durchfluß 1200 ml/min
- - Wärmeübergangskoeffizient: 200000 W/m2K
- - Temperaturerhöhung: 21,7 K
- - Thermischer Gesamtwiderstand: 0,31 K/W
(bezogen auf die Aufstandsfläche des Diodenlaserbarrens)
Mit der erfindungsgemäßen Ausführung der Mikrostrukturwärmesenken kann die
Ursache für die strömungsmechanischen Widerstände der Versorgungsstruktur
deutlich gesenkt werden. Neben der Reduzierung der Verluste durch Umlenkungen
und unstetige Querschnittsänderungen konnte auch eine insgesamt geringere
Strömungslänge realisiert werden, welches eine Reduzierung der Reibungsverluste
zur Folge hat (siehe hierzu Fig. 5).
Der Diagrammverlauf gemäß der durchgezogenen Linie entspricht dem
Strömungsquerschnitt bezogen auf die Strömungslänge durch eine Standard-
Mikrostrukturwärmesenke. Der gepunktete Graph entspricht einer erfindungsgemäß
optimierten Mikrostrukturwärmesenke. Die Pfeile geben jeweils den Bereich der
Mikrokanäle an.
Durch die Reduzierung der Strömungswiderstände kann also entweder bei einem
Durchfluß von 500 ml/min und einem thermischen Gesamtwiderstand von 0,43 K/W
der Druckverlust um den Faktor 10 gesenkt werden oder aber bei einem
unveränderten Druckverlust der thermische Gesamtwiderstand auf 0,31 K/W gesenkt
werden.
Claims (4)
1. Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen Bauelementen, die als eine
Mikrostrukturwärmesenke ausgebildet ist und eine Vielzahl von Einzelschichten
aufweist und wenigstens
wobei in der Grundplatte (1) die Zulauföffnung (9) vorgesehen ist, an die sich ein Zulauf-Kühlkanal anschließt, der einerseits durch die Grundplatte (1) und andererseits durch die Deckelplatte (13) sowie die dazwischen befindliche Sammelplatte (2), Zwischenplatte (3) und Mikrokanalplatte (8) begrenzt ist, wobei die Sammelplatte (2) sowie die Zwischenplatte (3) im Zulauf-Kühlkanal jeweils eine Öffnung als Verbindungskanal mit einer stufenhaften und/oder abgeschrägten Kante aufweisen, die die Höhe des Zulauf-Kühlkanals durch den Betrag ihrer Dicken verkleinern, und
die zwischen der Zwischenplatte (3) und Deckelplatte (13) eingebrachte Mikrokanalplatte (8) kammartig ausgebildete Mikrokanäle vorsieht, die unmittelbar an den durch die Mikrokanalplatte (8) und die Deckelplatte (13) begrenzten Zulauf- Kühlkanal anschließen, wobei ferner ein die Zwischenplatte (3) durchsetzender Durchgangskanal (11) vorgesehen ist, der unmittelbar an die kammartig ausgebildeten Mikrokanäle (10) angrenzt und in der Ebene der Sammelplatte (2) mündet, und im Anschluß an den Durchgangskanal (11) der Ablauf-Kühlkanal in der Ebene der Sammelplatte (2) durch die Zwischenplatte (3) und die Grundplatte (13) begrenzt ist, und wobei schließlich die Zwischenplatte (3) sowie die Mikrokanalplatte (8) im Ablauf-Kühlkanal jeweils eine weitere Öffnung als Verbindungskanal mit einer stufenhaften und/oder abgeschrägten Kante aufweisen, die die Höhe des Ablauf-Kühlkanals durch den Betrag ihrer Dicken vergrößern, und in der Deckelplatte (13) die Ablauföffnung (12) vorgesehen ist, die sich an den Ablauf-Kühlkanal anschließt.
- - eine Mikrokanalplatte (8) mit einer Vielzahl von Mikrokanälen (10),
- - eine Zwischenplatte (3) und
- - eine Sammelplatte (2),
wobei in der Grundplatte (1) die Zulauföffnung (9) vorgesehen ist, an die sich ein Zulauf-Kühlkanal anschließt, der einerseits durch die Grundplatte (1) und andererseits durch die Deckelplatte (13) sowie die dazwischen befindliche Sammelplatte (2), Zwischenplatte (3) und Mikrokanalplatte (8) begrenzt ist, wobei die Sammelplatte (2) sowie die Zwischenplatte (3) im Zulauf-Kühlkanal jeweils eine Öffnung als Verbindungskanal mit einer stufenhaften und/oder abgeschrägten Kante aufweisen, die die Höhe des Zulauf-Kühlkanals durch den Betrag ihrer Dicken verkleinern, und
die zwischen der Zwischenplatte (3) und Deckelplatte (13) eingebrachte Mikrokanalplatte (8) kammartig ausgebildete Mikrokanäle vorsieht, die unmittelbar an den durch die Mikrokanalplatte (8) und die Deckelplatte (13) begrenzten Zulauf- Kühlkanal anschließen, wobei ferner ein die Zwischenplatte (3) durchsetzender Durchgangskanal (11) vorgesehen ist, der unmittelbar an die kammartig ausgebildeten Mikrokanäle (10) angrenzt und in der Ebene der Sammelplatte (2) mündet, und im Anschluß an den Durchgangskanal (11) der Ablauf-Kühlkanal in der Ebene der Sammelplatte (2) durch die Zwischenplatte (3) und die Grundplatte (13) begrenzt ist, und wobei schließlich die Zwischenplatte (3) sowie die Mikrokanalplatte (8) im Ablauf-Kühlkanal jeweils eine weitere Öffnung als Verbindungskanal mit einer stufenhaften und/oder abgeschrägten Kante aufweisen, die die Höhe des Ablauf-Kühlkanals durch den Betrag ihrer Dicken vergrößern, und in der Deckelplatte (13) die Ablauföffnung (12) vorgesehen ist, die sich an den Ablauf-Kühlkanal anschließt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Zwischenplatten (3-7) vorgesehen sind,
deren einzelne Öffnungen unterschiedlich groß ausgebildet sind, und daß die
unterschiedlichen Größen der Öffnungen derart aufeinander abgestimmt sind, so daß
sich nach Übereinanderfügen der Zwischenplatten (3-7) eine Stufenfolge mit
gleichbleibendem oder unterschiedlich großem Stufenabstand ergibt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kanten der Öffnungen der Zwischenplatten (3-7)
geradlinig oder gebogen verlaufen.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß das elektronische Bauelement eine
Hochleistungslaserdiode ist.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19710716A DE19710716C2 (de) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen Bauelementen |
| PCT/DE1998/000786 WO1998041076A2 (de) | 1997-03-14 | 1998-03-16 | Vorrichtung zum kühlen von elektronischen bauelementen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19710716A DE19710716C2 (de) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen Bauelementen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19710716A1 DE19710716A1 (de) | 1998-09-24 |
| DE19710716C2 true DE19710716C2 (de) | 2001-05-10 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19710716A Expired - Fee Related DE19710716C2 (de) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | Vorrichtung zum Kühlen von elektronischen Bauelementen |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19710716C2 (de) |
| WO (1) | WO1998041076A2 (de) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7061104B2 (en) | 2002-02-07 | 2006-06-13 | Cooligy, Inc. | Apparatus for conditioning power and managing thermal energy in an electronic device |
| US7156159B2 (en) | 2003-03-17 | 2007-01-02 | Cooligy, Inc. | Multi-level microchannel heat exchangers |
| US7188662B2 (en) | 2004-06-04 | 2007-03-13 | Cooligy, Inc. | Apparatus and method of efficient fluid delivery for cooling a heat producing device |
| US7201012B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-04-10 | Cooligy, Inc. | Remedies to prevent cracking in a liquid system |
| US7293423B2 (en) | 2004-06-04 | 2007-11-13 | Cooligy Inc. | Method and apparatus for controlling freezing nucleation and propagation |
| US7806168B2 (en) | 2002-11-01 | 2010-10-05 | Cooligy Inc | Optimal spreader system, device and method for fluid cooled micro-scaled heat exchange |
| US7836597B2 (en) | 2002-11-01 | 2010-11-23 | Cooligy Inc. | Method of fabricating high surface to volume ratio structures and their integration in microheat exchangers for liquid cooling system |
| US8602092B2 (en) | 2003-07-23 | 2013-12-10 | Cooligy, Inc. | Pump and fan control concepts in a cooling system |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4031903B2 (ja) | 1999-10-21 | 2008-01-09 | イェーノプティク アクチエンゲゼルシャフト | ダイオードレーザを冷却する装置 |
| DE10047780B4 (de) * | 1999-10-21 | 2010-08-05 | Jenoptik Ag | Einrichtung zur Kühlung von Diodenlasern |
| JP2003008273A (ja) * | 2001-06-25 | 2003-01-10 | Fanuc Ltd | 冷却装置及び光源装置 |
| US7278474B2 (en) * | 2001-10-09 | 2007-10-09 | Mikros Manufacturing, Inc. | Heat exchanger |
| DE10246990A1 (de) | 2002-10-02 | 2004-04-22 | Atotech Deutschland Gmbh | Mikrostrukturkühler und dessen Verwendung |
| DE102005033150A1 (de) | 2005-07-13 | 2007-01-25 | Atotech Deutschland Gmbh | Mikrostrukturierter Kühler und dessen Verwendung |
| DE102005034998B4 (de) * | 2005-07-27 | 2016-06-23 | Behr Industry Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung zur Kühlung von elektronischen Bauelementen sowie Vorrichtung zur Kühlung von elektronischen Bauelementen |
| DE102008026856A1 (de) * | 2008-06-05 | 2009-12-17 | Jenoptik Laserdiode Gmbh | Kühlelement für ein elektronisches Bauelement und Vorrichtung mit einem elektronischen Bauelement |
| WO2010020202A2 (de) | 2008-06-05 | 2010-02-25 | Dirk Lorenzen | Vorrichtung mit einer halbleiterbauelement-anordnung und einem kühlelement |
| CN105305225B (zh) * | 2015-11-04 | 2018-10-30 | 北京工业大学 | 一种半导体激光器冷却热沉装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4315580A1 (de) * | 1993-05-11 | 1994-11-17 | Fraunhofer Ges Forschung | Anordnung aus Laserdioden und einem Kühlsystem sowie Verfahren zu deren Herstellung |
| DE4315581A1 (de) * | 1993-05-11 | 1994-11-17 | Fraunhofer Ges Forschung | Laserdioden mit Kühlsystem |
| DE19506093A1 (de) * | 1995-02-22 | 1996-08-29 | Dilas Diodenlaser Gmbh | Diodenlaserbauelement |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4315225A (en) * | 1979-08-24 | 1982-02-09 | Mcdonnell Douglas Corporation | Heat sink laser diode array |
| FR2578099B1 (fr) * | 1985-02-26 | 1987-12-04 | Eurofarad | Substrat monolithique pour composant electronique de puissance, et procede pour sa fabrication |
| DE29601692U1 (de) * | 1996-01-26 | 1997-05-28 | Dilas Diodenlaser GmbH, 55129 Mainz | Kühlelement sowie Diodenlaser-Bauelement mit einem solchen Element |
-
1997
- 1997-03-14 DE DE19710716A patent/DE19710716C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-03-16 WO PCT/DE1998/000786 patent/WO1998041076A2/de not_active Ceased
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4315580A1 (de) * | 1993-05-11 | 1994-11-17 | Fraunhofer Ges Forschung | Anordnung aus Laserdioden und einem Kühlsystem sowie Verfahren zu deren Herstellung |
| DE4315581A1 (de) * | 1993-05-11 | 1994-11-17 | Fraunhofer Ges Forschung | Laserdioden mit Kühlsystem |
| DE19506093A1 (de) * | 1995-02-22 | 1996-08-29 | Dilas Diodenlaser Gmbh | Diodenlaserbauelement |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7061104B2 (en) | 2002-02-07 | 2006-06-13 | Cooligy, Inc. | Apparatus for conditioning power and managing thermal energy in an electronic device |
| US7806168B2 (en) | 2002-11-01 | 2010-10-05 | Cooligy Inc | Optimal spreader system, device and method for fluid cooled micro-scaled heat exchange |
| US7836597B2 (en) | 2002-11-01 | 2010-11-23 | Cooligy Inc. | Method of fabricating high surface to volume ratio structures and their integration in microheat exchangers for liquid cooling system |
| US7201012B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-04-10 | Cooligy, Inc. | Remedies to prevent cracking in a liquid system |
| US7278549B2 (en) | 2003-01-31 | 2007-10-09 | Cooligy Inc. | Remedies to prevent cracking in a liquid system |
| US7344363B2 (en) | 2003-01-31 | 2008-03-18 | Cooligy Inc. | Remedies to prevent cracking in a liquid system |
| US7402029B2 (en) | 2003-01-31 | 2008-07-22 | Cooligy Inc. | Remedies to prevent cracking in a liquid system |
| US7156159B2 (en) | 2003-03-17 | 2007-01-02 | Cooligy, Inc. | Multi-level microchannel heat exchangers |
| US8602092B2 (en) | 2003-07-23 | 2013-12-10 | Cooligy, Inc. | Pump and fan control concepts in a cooling system |
| US7188662B2 (en) | 2004-06-04 | 2007-03-13 | Cooligy, Inc. | Apparatus and method of efficient fluid delivery for cooling a heat producing device |
| US7293423B2 (en) | 2004-06-04 | 2007-11-13 | Cooligy Inc. | Method and apparatus for controlling freezing nucleation and propagation |
Also Published As
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