DE19626556A1 - Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Phase zwischen zwei interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur (SAR) erzeugten Aufnahmen - Google Patents
Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Phase zwischen zwei interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur (SAR) erzeugten AufnahmenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer abso
luten Phase zwischen zwei interferometrischen, mittels Radar
mit synthetischer Apertur (SAR) erzeugten Aufnahmen.
Radar mit synthetischer Apertur (SAR) ist ein aktives Mikro
wellen-Abbildungssystem, das auf bewegten Plattformen, wie ei
nem Flugzeug oder einem Satelliten, betrieben wird. Überfloge
ne Gebiete werden zweidimensional abgebildet, nämlich in Rich
tung der Entfernung und in Flugrichtung, der sogenannten Azi
mutrichtung. So gewonnene Abbildungen haben eine geometrische
Auflösung, die in der Entfernungsrichtung durch die Bandbreite
des Sendesignals und in der Azimutrichtung durch die Länge der
synthetisch aufgebauten Antennenapertur bestimmt wird. Durch
die SAR-Interferometrie läßt sich neben der zweidimensionalen
Abbildung ein sehr genaues Geländemodell des aufgenommenen Ge
biets bestimmen. Damit ermöglicht das interferometrische SAR
eine dreidimensionale Abbildung des überflogenen Gebiets.
Das interferometrische Verfahren basiert auf der Auswertung
der Phasendifferenz des Rückstreusignals zweier durch die Ba
sislinie voneinander getrennter Radarantennen.
Die Gewinnung der beiden Antennenrückstreusignale kann auf
folgende Art. Bei der Einpaß-Interferometrie hat das Radar
zwei Antennen; das entsprechende Radarrückstreusignalpaar wird
durch einen Überflug gewonnen.
Bei der Zweipaß-Interferometrie hat das Radar nur eine Anten
ne; das entsprechende Radarrückstreusignalpaar wird durch zwei
Überflüge gewonnen. Dabei sind beide Überflüge räumlich ver
setzt, damit eine Basislinie zwischen beiden Aufnahmen vorhan
den ist.
Die Verarbeitung der beiden Rückstreusignale zu einer Gelände-Modell
bestimmung wird, wie folgt, durchgeführt:
Das Rückstreusignal beider Radarantennen wird zur Gewinnung
der Entfernungs- und Azimutauflösung getrennt verarbeitet.
Hierdurch entstehen zwei komplexe, zweidimensionale
SAR-Bilder.
Um das komplexe Interferogramm zu ermitteln, wird eines der
Bilder mit der komplex konjugierten Form des anderen Bildes
multipliziert. Durch die komplex konjugierte Form eines der
beiden Bilder entspricht die Phase des komplexen Interfero
gramms der Phasendifferenz der beiden Bilder. Diese interfero
metrische Phase wird in der nachstehenden Beschreibung als
In-Phase bezeichnet.
Die In-Phase wird durch eine Arcustangent-Operation des kom
plexen Interferogramms ermittelt. Durch die Arcustangens-Operation
geht jedoch die Modulo-2π-Information verloren,
d. h. die ermittelte In-Phase liegt immer im Bereich von 0 bis
2 π, bzw. von 0° bis 360°. Die Phasen 0°, 360°, 720° usw.
werden immer als 0°-Phase dargestellt. Die ermittelte In-Phase
ist somit eine gefaltete In-Phase. (Siehe beispielsweise den
Phasenverlauf in Fig. 4b).
Durch ein Phasenentfaltungsverfahren wird die absolute In-Phase,
d. h. die entfaltete In-Phase, aus der vorstehend er
wähnten, gefalteten In-Phase gebildet. Dieses Phasenentfal
tungsverfahren wird als "phase unwrapping" bezeichnet.
Da die Aufnahmegeometrie der Radarantennen grundsätzlich be
kannt ist, läßt sich die Höhe als Funktion der Entfernungs-
und Azimutrichtung aus der absoluten Phase bestimmen. Damit
wird die dritte Dimension eines SAR-Bildes und somit ein Ge
ländemodell erhalten.
Der Schritt bei der Interferometrie-Verarbeitung, welcher mit
unter die meisten Schwierigkeiten bereitet, ist jedoch die
Phasenentfaltung. Beispielsweise ist beim Auftreten von Pha
senrauschen die Phasenentfaltung sehr rechenintensiv und funk
tioniert nur mangelhaft.
Hierbei erscheint das Phasenrauschen regelmäßig aus folgenden
Gründen:
- 1) Durch die Schrägsicht der Radar-Aufnahmegeometrie entstehen Schatten- und Überlappungs-(Layover-)Bereiche. In diesen Be reichen ist die In-Phase irreführend und weist keine Höhein formation des Geländes auf. Dieser Fehler wird daher als Pha senrauschen betrachtet, das lokale Fehler in der Phasenentfal tung verursacht.
- 2) Das thermische Rauschen des Radars ist hoch, so daß die In-Phase wiederum zusätzlich mit Phasenrauschen behaftet ist. Da die meisten Systeme stark genug senden, ist das Auftreten des thermischen Rauschens vernachlässigbar und wird hier nicht be rücksichtigt.
- 3) Ferner besteht eine Zeitdekorrelation zwischen beiden Ra darrückstreusignalen. Die Zeitdekorrelation tritt allerdings nur bei der Zweipaß-Interferometrie auf, da beide Aufnahmen zeitversetzt erfolgen. Zu einer Zeitdekorrelation kommt es beispielsweise bei einer unterschiedlichen Wetterlage zwischen den beiden Aufnahmen. Bei der ersten Aufnahme ist der Boden beispielsweise trocken, während er bei der zweiten Aufnahme aufgrund eines Regenschauers naß ist. Ein Regenschauer verur sacht somit einen starken Rückstreuungsunterschied und bewirkt damit eine Dekorrelation zwischen beiden Aufnahmen. Die In-Phase ist daher fehlerbehaftet und enthält ein hohes Phasen rauschen.
Bei Wäldern ist eine Zeitdekorrelation fast immer vorhanden,
da sich die Rücksteuerungseigenschaften des Waldes speziell im
C- und X-Band mit der Bewegung von Blättern durch Wind stark
ändern. Bei Gewässern ist die Zeitdekorrelation für alle Ra
darfrequenzen am höchsten, da eine Wasseroberflächen-Bewegung
und mithin eine vollständige Rückstreuungsänderung immer vor
handen ist.
Das Phasenrauschen aufgrund von Zeitdekorrelation ist bei al
len Zweipaß-Aufnahmen vorhanden und ist die Hauptursache für
eine Fehlfunktion des Phasenentfaltungsverfahrens oder des ma
nuellen Eingriffs zur erfolgreichen Durchführung der Pha
senentfaltung.
Die Steigung der Phasenrauschstärke, d. h. die Steigung der
Amplitude des Phasenrauschens, verursacht ein Abnehmen der Ko
härenz zwischen den beiden Radarrückstreusignalen. Die Kohä
renz liegt immer im Bereich zwischen 0.0 und 1.0. Für den
idealen Fall, d. h. wenn beide Radarrückstreusignale voll kor
reliert sind, beträgt die Kohärenz 1.0. Falls beide Radar
rückstreusignale total dekorreliert sind, beträgt die Kohärenz
0.0.
Es gibt grundsätzlich zwei Klassen von Phasenentfaltungsver
fahren, nämlich das Residuenverfahren (siehe R. M. Goldstein,
H.A. Zebker and C. Werner, "Satellite radar interferometry:
two-dimensional phase unwrapping", Radio Sci., 23 (1988,
S. 713-720) und lineare Verfahren (siehe G. Fornaro, G. France
schetti, R. Lanari, "SAR Phase Unwrapping Using Green′s Formu
lation", IEEE Transactions for Geoscience and Remote Sensing,
May 1996, Vol. 34, Nr. 3, S. 720-727).
Bei dem Residuenverfahren wird die absolute In-Phase grund
sätzlich fehlerfrei berechnet. Dies erfordert fast immer einen
manuellen Eingriff, vor allen bei Szenen mit hoher Zeitdekor
relation oder niedriger Kohärenz; mit abnehmender Kohärenz
steigt jedoch die Rechenzeit enorm. Bei Schatten-, Überlap
pungs-(Layover) und total dekorrelierten Gebieten wird die
absolute Phase grundsätzlich nicht bestimmt und muß manuell
interpoliert werden.
Die linearen Verfahren benötigen eine wesentlich kürzere Re
chenzeit als die Residuenverfahren. Die absolute Phase wird
dabei geschätzt, sobald Phasenrauschen vorhanden ist. Auch bei
einer Kohärenz von 0.8, was für die Zweipaß-Interferometrie
ein sehr guter Wert ist und selten erreicht wird, ergeben sich
bei den linearen Verfahren bezüglich der absoluten Phase Feh
ler von ca. 30%. Dadurch wird beispielsweise ein 1000 m hoher
Berg mit einer Höhe von 700 m geschätzt. Auch Schatten- und
Überlappungsgebiete verursachen lokale und globale Fehler bei
der Schätzung der absoluten Phase. Der einzige große Vorteil
der linearen Verfahren gegenüber den Residuenverfahren ist,
wie vorstehend bereits ausgeführt, die Berechnungsgeschwindig
keit, die oft um einen Faktor 100 höher ist als bei den Resi
duenverfahren.
Es ist bisher noch kein Verfahren bekannt, mit welchem die
Phasenentfaltung schnell, fehlerfrei und ohne Bedienung
bei der Präsenz von Zeitdekorrelations-, Schatten- und Über
lappungsgebieten durchgeführt werden kann und welches auch
noch operationell eingesetzt werden kann.
Es gibt bis jetzt auch noch kein Verfahren, mit welchem die
In-Phase mit einer Kohärenz kleiner als 0.5 fehlerfrei entfal
tet werden kann. Bisher wird die In-Phase gefiltert, um eine
höhere Kohärenz zu erhalten. Bei der Filterung wird jedoch die
geometrische Auflösung stark verschlechtert. Dies führt dazu,
daß das Geländemodell nur mit einer großen Rasterweite berech
net werden kann. Daher sind noch immer Fehler im Geländemodell
vorhanden, die auf die Phasenentfaltung zurückzuführen sind.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine gemessene, ungefil
terte und gefaltete In-Phase so zu entfalten, daß die tatsäch
liche, absolute In-Phase (die sogenannte absolute Ist-In-Phase)
genau ermittelt werden kann.
Gemäß der Erfindung ist dies bei Verfahren zum Bestimmen der
absoluten Phase zwischen zwei interferometrischen, mittels SAR
erzeugten Aufnahmen durch die Merkmale in den Ansprüchen 1, 2
und 3 erreicht.
Gemäß der Erfindung wird eine Entfaltung einer gefalteten und
ungefilterten In-Phase so durchgeführt, daß die geometrische
Auflösung des Geländemodells nicht verschlechtert wird. In ei
nem ersten Entfaltungsverfahren gemäß Anspruch 1 wird die un
gefilterte und gefaltete In-Phase mit Zeitdekorrelation so
verarbeitet, daß eine absolute In-Phase erster Form ermittelt
wird, die von Fehlern aufgrund einer Zeitdekorrelation befreit
ist.
Bei einem zweiten Entfaltungsverfahren nach Anspruch 2 wird
die ungefilterte und gefaltete In-Phase mit Schatten- und
Überlappungs-(Layover-)Bereichen verarbeitet. Mittels diesem
zweiten Entfaltungsverfahren gemäß der Erfindung wird dann ei
ne absolute In-Phase erhalten, bei welcher Fehler aufgrund von
Schatten- und Überlappungsgebieten beseitigt sind.
Gemäß der Erfindung ist durch ein Verknüpfen der Entfaltungs
verfahren nach Anspruch 1 und Anspruch 2 erreicht, daß aus ei
ner ungefilterten und gefalteten In-Phase bei der Präsenz von
Zeitdekorrelation und von auf Schatten- sowie Überlappungsbe
reichen beruhenden Phasenfehlern eine absolute In-Phase ermit
telt bzw. berechnet wird, die weder Fehler aufgrund einer
Zeitdekorrelation noch Fehler aufgrund von Schatten- und Über
lappungsgebieten aufweist.
Gemäß der Erfindung wird somit trotz eines starken Phasenrau
schens bzw. einer niedrigen Kohärenz von bis zu 0,2 oder weni
ger trotz des Vorliegens einer Zeitdekorrelation oder/und
trotz der Präsenz von Schatten- und Überlappungsbereichen die
absolute Differenzphase sehr genau und mit nur geringem Re
chenaufwand ermittelt.
Mit Hilfe der erfindungsgemäßen Verfahren und einer Benutzung
der Zweipaß-Interferometrie könnten beispielsweise aus den
SAR-Daten von dem Europäischen Satelliten ERS-1/ERS-2 und al
len anderen satellitengetragenen SAR-Systemen hinsichtlich der
Höhengenauigkeit wesentlich verbesserte Geländemodelle ge
schaffen werden. Da bisher noch kein satellitengetragenes
SAR-System mit zwei Antennen ausgestattet ist, ist die Erfindung
für alle satellitengetragenen SAR-Systeme von großer Bedeu
tung.
Darüber hinaus ist die Erfindung auch zum Einsatz in der ope
rationellen Einpaß-Interferometrie sehr zweckmäßig, da die
Schatten- und Überlappungsbereiche kein Hindernis mehr zur Ge
ländemodell-Berechnung darstellen. Obendrein eröffnet die Er
findung einen neuen Anwendungsbereich vor allem in der Zwei
paß-Interferometrie, da diese bisher nicht operationell einge
setzt werden konnte.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand einer bevorzugten Aus
führungsform unter Bezugnahme auf die anliegenden Zeichnungen
im einzelnen erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 in Form eines Blockdiagramms (1000) eine Schrittfolge
eines Entfaltungsverfahrens gemäß der Erfindung für
eine gefaltete In-Phase nur mit Zeitdekorrelation;
Fig. 2 in Form eines weiteren Blockdiagramms (2000) eine wei
tere Schrittfolge eines Entfaltungsverfahrens gemäß
der Erfindung für eine gefaltete In-Phase nur mit
Schatten- und Überlappungsgebieten;
Fig. 3 noch eine weitere Schrittfolge eines Entfaltungsver
fahrens gemäß der Erfindung für eine gefaltete In-Phase
mit Zeitdekorrelation und mit Schatten- und
Überlappungsgebieten, und
Fig. 4a bis 4f Graphen verschiedener Phasenverlaufsformen in
Abhängigkeit von der Entfernung.
Zur Verdeutlichung der der Erfindung zugrundeliegenden Proble
matik, eine gemessene, gefaltete In-Phase zu entfalten, werden
als erstes Phasenverläufe anhand von Fig. 4a bis 4f erläutert.
Fig. 4a zeigt eine absolute tatsächliche In-Phase, d. h. eine
sogenannte absolute Ist-In-Phase eines Geländemodells, welche
jedoch in dieser Form nicht meßbar ist. Das in Fig. 4a wieder
gegebene Rauschen ist auf eine Zeitdekorrelation und auf
Schatten- und Überlappungsbereiche zurückzuführen.
Fig. 4b zeigt eine gefaltete Ist-In-Phase, d. h. die gefaltete
Phasenform der nicht meßbaren absoluten Ist-In-Phase von
Fig. 4a. Im Unterschied zu Fig. 4a ist die gefaltete
Ist-In-Phasenform meßbar.
In Fig. 4c bis 4e sind Zwischenergebnisse der nachstehend im
einzelnen erläuterten Phasen-Entfaltungsverfahren gemäß der
Erfindung dargestellt.
Fig. 4f gibt das Ergebnis der erfindungsgemäßen Entfaltungsver
fahren wieder, das dem Verlauf der absoluten Ist-In-Phase von
Fig. 4a sehr nahe kommt. Dieser Verlauf der absoluten Phase ist
proportional zur Geländehöhe.
Bei dem Beispiel in Fig. 4a wurde ein Berg mit einem Gebäude
links von der Bergspitze betrachtet. Hierbei lagen der Anfang
des Bergs bei der Entfernung null, die Spitze des Bergs bei
der Entfernung 250 und das Ende des Bergs bei der Entfernung
500. Das Gebäude links von der Bergspitze lag in einer Entfer
nung von etwa 130.
Bei der betrachteten Fluggeometrie entspricht ein Radian (1rd)
in der Wirklichkeit etwa 4 m. Das bedeutet, der Berg ist etwa
100 m und das Gebäude ist etwa 30 m hoch. Aufgrund der Beleuch
tungsgeometrie des Radars entstehen Überlappungsbereiche, die
in Fig. 4a auf der linken Seite unmittelbar neben dem Gebäude
eingetragen sind, und Schattenbereiche, die in Fig. 4a auf der
rechten Seite unmittelbar neben dem Gebäude zu erkennen sind.
In Fig. 1 ist ein mit einem Block 1000 bezeichneter Abschnitt
eines Entfaltungsverfahrens gemäß der Erfindung dargestellt,
bei welchem eine ungefilterte und gefaltete In-Phase ff mit
Zeitdekorrelation aus einem komplexen Interferogramm, dessen
Erzeugung in der Einleitung beschrieben ist, verarbeitet wird.
Bei den erfindungsgemäßen Entfaltungsverfahren werden als Ba
sis für eine Phasenentfaltung mehrmals in Aufbau und Funkti
onsweise identische, lineare Entfaltungsmodule 1240, 2140 bzw.
2240 verwendet, wobei jedes gut funktionierende, lineare Ent
faltungsmodul eingesetzt werden kann. (Siehe beispielsweise
das eingangs angeführte Verfahren von Fornaro et al).
Der erste Verfahrensabschnitt zum Bestimmen bzw. Berechnen ei
ner absoluten In-Phase erster Form wird anhand von Fig. 1 be
schrieben. Am Eingang des Blocks 1000 liegt die ungefilterte
und gefaltete In-Phase ff mit Zeitdekorrelation aus einem kom
plexen Interferogramm an, wobei mit ff Variable der ungefil
terten, gefalteten In-Phase bezeichnet sind. Beim Schritt 1100
wird eine Iteration initialisiert. Hierbei ist mit Sa der Wert
der letzten berechneten Standardabweichung bezeichnet, welcher
null gesetzt wird. Ferner ist mit ref der Wert der letzten be
rechneten, absoluten In-Phase bezeichnet; auch dieser Wert
wird beim Schritt 1100 null gesetzt.
Beim Schritt 1200 wird eine Entfaltung mit Hilfe der Variablen
ff und einer a-priori absoluten In-Phase ref durchgeführt. In
einem Subtrahierglied 1220 wird die Subtraktion (ff-ref) in
der komplexen Ebene ausgeführt, so daß der Wert am Ausgang des
Subtrahiergliedes 1220 den Restfehler zwischen ff und ref dar
stellt. Hierbei gilt, je näher der Wert ref der richtigen ab
soluten Phase kommt, desto niedriger ist der Wert am Ausgang
des Subtrahiergliedes 1220, d. h. desto weniger 2π-Faltungen
sind vorhanden. Das Ausgangssignal des Subtrahierglieds 1220
wird in einem nachgeordneten Tiefpaßfilter 1210 tiefpaßgefil
tert und anschließend durch ein lineares Entfaltungsverfahren
(Block 1240) entfaltet. Hierbei stellen das Subtrahierglied
1220 und das Tiefpaßfilter 1210 eine Hilfsfunktion für das
nachgeordnete Entfaltungsverfahren (Block 1240) dar.
Nach der Entfaltung wird die a-priori Information ref wieder
in einem Summierglied 1260 aufaddiert, so daß das Ausgangs
signal des Summierglieds 1260 und damit das Signal eine ent
faltete In-Phase uff darstellt; diese entfaltete In-Phase uff
liegt der idealen absoluten In-Phase näher als die a-priori
Information ref.
Aus dem beim Schritt 1200 erhaltenen Ausgangswert uff wird bei
einem Schritt 1300 die Standardabweichung Sn von (ref-uff)
ermittelt. Beim nächsten Schritt 1400 wird geprüft, ob die
Standardabweichung Sn kleiner als die vorher berechnete Stan
dardabweichung Sa ist oder nicht.
Wenn das Ergebnis beim Schritt 1400 ja ist, bedeutet dies, daß
die Iteration noch konvergiert und es wird zum Schritt 1500
übergegangen, bei welchem die a-priori absolute In-Phase ref
mit der letzten berechneten absoluten In-Phase uff geladen
wird. Gleichzeitig wird die alte Standardabweichung Sa mit der
neuen, im Block 1300 berechneten Standardabweichung Sn gela
den. Anschließend wird wieder auf den Schritt 1200 zurückge
gangen.
Wenn das Ergebnis beim Schritt 1400 nein ist, bedeutet dies,
daß die Iteration nicht mehr konvergiert und das Verfahren
wird abgebrochen. Der Ausgangswert des ersten Verfahrensab
schnitts 1000 ist dann die absolute In-Phase ufabs, erster
Form die der letzten, berechneten entfalteten In-Phase uff
gleichwertig ist.
Die berechnete absolute In-Phase uffabs ist von Phasenfehlern
aufgrund einer Zeitdekorrelation befreit. Fig. 4c zeigt ein
Beispiel der absoluten In-Phase uffabs erster Form. Dadurch ist
die Form des Berges gut wiedergegeben. Aufgrund der Schatten-
und Überlappungsbereiche ist jedoch das Gebäude praktisch
vollkommen unterdrückt. Für den Fall einer Phase ohne Schat
ten- und Überlappungsgebiete würde das Ergebnis uffabs die end
gültige absolute In-Phase darstellen.
Falls die ungefilterte, gefaltete In-Phase ff keine Zeitdekor
relation enthält, sondern durch Schatten- und Überlappungsbe
reiche beeinträchtigt ist, wird die endgültige absolute In-Phase
mit Hilfe eines Entfaltungsverfahrens bestimmt und be
rechnet, das nachstehend anhand von Fig. 2 im einzelnen erläu
tert wird.
In einem im gestrichelt wiedergegebenen Block 2000 wiedergege
benen Verfahrensabschnitt sind zwei Entfaltungsmodule 2100 und
2200, welche die gleiche Funktion wie das Entfaltungsmodul
1200 des ersten durch den Block 1000 wiedergegebenen Verfah
rensabschnitts haben, sowie ein Kalman-Filter 2030 vorgesehen.
Am Eingang des Blocks 2000 liegt die ungefilterte und gefalte
te In-Phase ff mit Schatten- und Überlappungsgebieten aus ei
nem komplexen Interferogramm an, welche gleichzeitig an ein
Subtrahierglied 2120 im Entfaltungsmodul 2100 und an ein wei
teres Subtrahierglied 2220 im Entfaltungsmodul 2200 angelegt
wird.
Im Subtrahierglied 2120 wird, falls eine a-priori gefaltete
In-Phase ref vorhanden ist, von der gefalteten In-Phase ff
mit Schatten- und Überlappungsgebieten entsprechenden Phasen
fehlern die a-priori absolute Phase ref subtrahiert. Das Sub
traktionsergebnis am Ausgang des Subtrahiergliedes 2120 wird
einer starken Tiefpaßfilterung durch ein Tiefpaßfilter 2130
unterzogen und wird anschließend mittels eines linearen Ent
faltungsverfahrens (Block 2140) entfaltet. Die durch das li
neare Entfaltungsverfahren entfaltete Phase wird in einem Ad
dierglied 2160 zu der a-priori absoluten Phase ref addiert.
Wenn keine a-priori absolute Phase vorliegt, d. h. bei ref = 0
entfallen die Subtraktion (2120) und die Addition (2160).
Dadurch werden alle globalen Fehler, die aufgrund von Schat
ten- und Überlappungsgebieten entstehen, herausgefiltert. Das
Tiefpaßfilter 2130 filtert gleichzeitig auch die hochfrequente
Höheninformation der In-Phase heraus. Das Signal am Ausgang
des Entfaltungsmoduls 2100 wird an einen Eingang PL des Kalman-Filters
2030 und gleichzeitig an ein weiteres Tiefpaßfilter
2020 angelegt.
In Fig. 4d sind die vorstehend angeführten Eigenschaften der
Phase wiedergegeben. Das Phasenrauschen ist kaum mehr vorhan
den. Durch die starke Tiefpaßfilterung (Block 2130) wird die
Gebäudehöhe stark gedämpft.
Die absolute In-Phase am Ausgang des Entfaltungsmoduls 2100
ist nunmehr die Referenzphase für das zweite Entfaltungsmodul
2200. In dem Entfaltungsmodul 2200 ist ein als Restfehler bil
dende Einheit verwendetes Subtrahierglied 2220 und eine das
lineare Entfaltungsverfahren durchführende Einheit 2240 vorge
sehen.
Die absolute In-Phase des zweiten Entfaltungsmoduls 2200 ist
die Phase am Ausgang einer Summiereinheit 2260, welche keine
Verschlechterung der geometrischen Auflösung gegenüber der ur
sprünglichen gefalteten In-Phase hat, da es in der aus einem
Subtrahierglied 2220 und dem linearen Entfaltungsverfahren
2240 gebildeten Kette des zweiten Entfaltungsmoduls 2200 keine
Tiefpaßfilterung gibt. Da in dem zweiten Entfaltungsmodul 2200
kein Tiefpaßfilter vorgesehen ist, besitzt die absolute Phase
wiederum einen niederfrequenten Fehler, der zu einer falschen
Höhenberechnung führt.
Die absolute In-Phase am Ausgang des Summierglieds 2260 und
damit des Entfaltungsmoduls 2200 wird an einen Eingang PH des
Kalman-Filters 2030 angelegt. Dies ist auch Fig. 4e zu entneh
men. Die absolute Phase des Bergs hat eine Neigung von etwa 20
rd, da der Berg links bei etwa 10 rd anfängt und rechts bei
etwa -10 rd endet. In Fig. 4e erscheint jedoch das Gebäudepro
fil sehr deutlich. In dem Kalman-Filter 2030 wird anschließend
die endgültige, absolute entfaltete In-Phase erzeugt, aus wel
cher anschließend unter Berücksichtigung der Fluggeometrie ein
exaktes Geländemodell berechenbar ist.
In Fig. 3 liegt am Eingang des Blocks 1000 und gleichzeitig am
Eingang des Blocks 2000 eine ungefilterte und gefaltete In-Phase
ff mit Phasenfehlern aufgrund einer Zeitdekorrelation
und aufgrund von Schatten- und Überlappungsgebieten an. Wie
anhand von Fig. 1 im einzelnen beschrieben ist, liegt am Aus
gang des Blocks 1000 die entfaltete absolute In-Phase uffabs
erster Form an, welche von den Phasenfehlern aufgrund der
Zeitdekorrelation befreit ist, allerdings noch durch Schatten-
und Überlappungsbetriebe hervorgerufene Phasenfehler enthält.
Die absolute In-Phase uffabs erster Form wird mittels eines
Tiefpaßfilters 3010 tiefpaßgefiltert und als Referenzwert im
Entfaltungsmodul 2100 des Blocks 2000 verwendet; hierbei wird
durch das Tiefpaßfilter 2130, wie bereits in Verbindung mit
Fig. 2 ausgeführt, eine starke Tiefpaßfilterung vor dem eigent
lichen linearen Entfaltungsverfahren (Block 4120) durchge
führt. Dadurch sind alle globalen Fehler, die auf Schatten-
und Überlappungsgebiete zurückzuführen sind, herausgefiltert.
Allerdings filtert das Tiefpaßfilter 2130, wie bereits in
Verbindung mit der Beschreibung der Fig. 2 ausgeführt ist,
gleichzeitig auch die hochfrequente Höheninformation der
In-Phase heraus.
Somit hat die absolute Phase am Ausgang des ersten Entfal
tungsmoduls, welche den in Fig. 4d wiedergegebenen Phasenver
lauf aufweist, den Vorteil, daß die lokalen Fehler aufgrund
der Schatten- und Überlappungsgebiete nicht mehr vorhanden
sind, d. h. der niederfrequente Anteil des Geländes ist genau
in der absoluten Phase wiedergegeben; allerdings hat die abso
lute Phase am Ausgang des ersten Entfaltungsmoduls 2100 den
Nachteil, daß der hochfrequente Anteil des Geländes weggefil
tert ist.
Die absolute Phase am Ausgang des zweiten Entfaltungsmoduls
2200, welche den in Fig. 4e wiedergegebenen Phasenverlauf auf
weist, hat den Vorteil, daß dieser Phasenverlauf den hochfre
quenten Anteil des Geländes genau wiedergibt; allerdings hat
dieser Phasenverlauf wiederum den Nachteil, daß er mit einem
niederfrequenten Phasenfehler behaftet ist. (Siehe die in
Fig. 4e wiedergegebene Neigung im Phasenverlauf).
Durch die Verwendung des Kalman-Filters 2030 wird somit der
niederfrequente Anteil der absoluten Phase am Ausgang des er
ste Entfaltungsmoduls 2100 (siehe Phasenverlauf in Fig. 4d) mit
dem hochfrequenten Anteil der absoluten Phase am Ausgang des
zweiten Entfaltungsmoduls 2200 (siehe Phasenverlauf in Fig. 4e)
fusioniert. Somit wird dann am Ausgang des Kalman-Filters 2030
eine endgültige absolute In-Phase erhalten, die folgende Ei
genschaften aufweist:
Es gibt keinen Einfluß durch eine Zeitdekorrelation bis zu ei
ner Kohärenz von 0,2. (Wirkung des ersten Verfahrensab
schnitts; Block 1000).
Es gibt keinen Einfluß der Schatten- und Überlappungsbereiche
(Wirkung des Entfaltungsmoduls 2100).
Es wird die höchstmögliche geometrische Auflösung erreicht
(Wirkung des Entfaltungsmoduls 2200).
Für den Fall einer ungefilterten gefalteten In-Phase, die nur
auf Zeitdekorrelation beruhende Fehler und keine auf Schatten-
oder Überlappungsgebiete zurückzuführende Fehler aufweist,
läßt sich eine korrekte absolute In-Phase allein mit den als
Blockschaltbild in Fig. 1 im gestrichelten Block 1000 zusammen
gefaßten und wiedergegebenen Entfaltungsverfahren bestimmen.
Für den Fall einer ungefilterten und gefalteten In-Phase mit
nur durch Schatten- und Überlappungsflächen hervorgerufenen
Phasenfehlern, die somit keine auf eine Zeitdekorrelation zu
rückzuführende Fehler aufweist, läßt sich die korrekte absolu
te In-Phase allein mit dem in Fig. 2 im gestrichelten Block
2000 zusammengefaßten Entfaltungsverfahren bestimmen.
Lediglich für den Fall einer ungefilterten und gefalteten In-Phase,
die mit Phasenfehlern behaftet ist, die sowohl auf eine
Zeitdekorrelationals auch auf Schatten- und Überlappungsflä
chen zurückzuführen sind, muß die korrekte absolute In-Phase
mit Hilfe der beiden durch die Blöcke 1000 und 2000 wiederge
gebenen Verfahrensabschnitte berechnet werden, wie in Fig. 3
dargestellt ist.
Weitere Anwendungsmöglichkeiten der erfindungsgemäßen Verfah
ren sind deren Verwendung bei interferometrischen
LIDAR-Systemen sowie bei holographischen und interferometrischen
Vorwärtssicht-Radarsystemen (FLAR).
Claims (31)
1. Verfahren zum Bestimmen der absoluten Phase zwischen zwei
interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur
(SAR) erhaltenen Aufnahmen, wobei die folgenden Schritte
durchgeführt werden:
a₁) Nach Initialisierung einer Iteration (1100) wird in einer
ersten Schrittfolge (1200) eine Subtraktion (1220) zwischen
einer ungefilterten, gefalteten In-Phase ff mit Zeitdekorrela
tion und einer a-priori absoluten Phase ref durchgeführt;
b₁) das Subtraktionsergebnis (ff-ref) wird nach einer Tiefpaß
filterung (1210) mittels eines linearen Entfaltungsverfahrens
(1240) entfaltet und anschließend wird der entfalteten Phase
die a-priori absolute Phase ref wieder hinzuaddiert (1260);
c₁) mit Hilfe der ermittelten absoluten In-Phase uff wird eine
Standardabweichung Sn bezüglich der Differenz aus der absolu
ten In-Phase uff und der a-priori absoluten Phase ref festge
stellt (1300);
d₁) in Abhängigkeit von einem Vergleich (1400) der Standardab
weichung Sn mit einer vorher berechneten Standardabweichung Sa
wird die Iteration fortgesetzt, indem
d₁₁) die a-priori absolute Phase ref mit der letzten ermittel
ten absoluten In-Phase und gleichzeitig die alte Standardab
weichung Sa mit der neuen Standardabweichung Sn geladen werden
und dann wieder auf die erste Schrittfolge (1200) zurückgegan
gen wird, oder
d₁₂) die Interation abgebrochen wird, da eine absolute In-Phase
uffabs erster Form erreicht ist, die der letzten berechneten,
entfalteten In-Phase uff gleichwertig ist, und aus der an
schließend unter Berücksichtigung der Fluggeometrie ein exak
tes Geländemodell berechenbar ist.
2. Verfahren zum Bestimmen der absoluten Phase zwischen zwei
interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur
(SAR) erhaltenen Aufnahmen, wobei die folgenden Schritte
durchgeführt werden:
e₂) In einer zweiten Schrittfolge (in einem Entfaltungsmodul
2100) wird, falls eine a-priori absolute Phase ref vorhanden
ist, eine Subtraktion zwischen einer ungefilterten und gefal
teten In-Phase ff mit Schatten- und Überlappungsbereichen und
der a-priori absoluten Phase ref durchgeführt (2120);
f₂) das Subtraktionsergebnis (ff-ref) wird nach einer Tiefpaß filterung (2130) mittels eines linearen Entfaltungsverfahrens (2140) entfaltet;
f₂) das Subtraktionsergebnis (ff-ref) wird nach einer Tiefpaß filterung (2130) mittels eines linearen Entfaltungsverfahrens (2140) entfaltet;
g₂) anschließend wird zu der entfalteten Phase die a-priori
absolute Phase ref hinzuaddiert (2160) und das Additionsergeb
nis wird an einen ersten Eingang (PL) eines Kalman-Filters
(2030) angelegt;
h₂) gleichzeitig wird das Additionsergebnis in einer dritten
Schrittfolge (in einem zweiten Entladungsmodul 2200) nach ei
ner Tiefpaßfilterung (2020) in einem Subtrahierglied (2220)
von der ungefilterten und gefalteten In-Phase ff subtrahiert;
i₂) das Subtrahierergebnis wird wieder mittels eines linearen
Entfaltungsverfahrens (2240) entfaltet;
j₂) anschließend wird zu der entfalteten Phase das tiefpaßge
filterte Additionsergebnis am Ausgang des ersten Entfaltungs
moduls (2100) addiert und an einen zweiten Eingang (PH) des
Kalman-Filters (2030) angelegt, in welchem die endgültige, ab
solute entfaltete In-Phase erzeugt wird, aus welcher anschie
ßend unter Berücksichtigung der Fluggeometrie ein exaktes Ge
ländemodell berechenbar ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, bei welchem anstelle der Schrit
te e₂ bis h₂ die folgenden Schritte durchgeführt werden:
f₂₁) Falls keine a-priori absolute Phase ref vorhanden ist,
wird die ungefilterte und gefaltete In-Phase ff mit Schatten-
und Überlappungsgebieten in dem Tiefpaßfilter (2130) stark
tiefpaßgefiltert und anschließend mittels eines linearen Ent
faltungsverfahrens (2140) entfaltet;
g₂₁) die tiefpaßgefilterte und entfaltete Phase wird an den ei
nen Eingang (PL) des Kalman-Filters (2030) angelegt, und
h₂₁) wird gleichzeitig nach einer weiteren Tiefpaßfilterung
(2020) in dem Subtrahierglied (2220) von der ungefilterten und
gefalteten In-Phase ff subtrahiert.
4. Verfahren zum Bestimmen der absoluten Phase zwischen zwei
interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur
(SAR) erhaltenen Aufnahmen, wobei die folgenden Schritte
durchgeführt werden:
a′₁) nach Initialisierung einer Iteration (1100) wird in einer
ersten Schrittfolge (1200) eine Subtraktion (1220) zwischen
einer ungefilterten, gefalteten In-Phase ff mit Zeitdekorrela
tion und mit Schatten- und Überlappungsgebieten und einer
a-priori absoluten Phase ref durchgeführt;
b₁) das Subtraktionsergebnis (ff-ref) wird nach einer Tiefpaß
filterung (1210) mittels eines linearen Entfaltungsverfahrens
(1240) entfaltet und anschließend wird der entfalteten Phase
die a-priori absolute Phase ref wieder hinzuaddiert (1260);
c₁) mit Hilfe der ermittelten absoluten In-Phase uff wird eine
Standardabweichung Sn bezüglich der Differenz aus der absolu
ten In-Phase uff und der a-priori absoluten Phase ref festge
stellt (1300);
d₁) in Abhängigkeit von einem Vergleich (1400) der Standardab
weichung Sn mit einer vorher berechneten Standardabweichung Sa
wird die Iteration fortgesetzt, indem
d₁₁) die a-priori absolute Phase ref mit der letzten ermittel
ten absoluten In-Phase und gleichzeitig die alte Standardab
weichung Sa mit der neuen Standardabweichung Sn geladen werden
und dann wieder auf die erste Schrittfolge (1200) zurückgegan
gen wird, oder
d₁₂) die Iteration abgebrochen wird, da eine absolute In-Phase
uffabs erster Form erreicht ist;
k) die absolute In-Phase uffabs erster Form wird einer weiteren
Tiefpaßfilterung (3010) unterzogen;
e′₂) in einer zweiten Schrittfolge (in einem ersten Entfal
tungsmodul 2100) wird eine Subtraktion zwischen einer ungefil
terten, gefalteten In-Phase ff mit Zeitdekorrelation und mit
Schatten- und Überlappungsgebieten und der tiefpaßgefilterten
absoluten In-Phase uffabs′ durchgeführt;
f′₂) das Subtraktionsergebnis (ff-uffabs′) wird nach einer
Tiefpaßfilterung (2130) mittels eines linearen Entfaltungsver
fahrens (2140) entfaltet;
g₂) anschließend wird zu der entfalteten Phase die tiefpaßge
filterte absolute In-Phase uffabs′ hinzuaddiert (2160) und das
Additionsergebnis wird an einen ersten Eingang (PL) eines Kal
man-Filters (2030) angelegt;
h₂) gleichzeitig wird das Additionsergebnis in einer dritten
Schrittfolge (in einem zweiten Entladungsmodul 2200) nach ei
ner Tiefpaßfilterung (2020) in einem Subtrahierglied (2220)
von der ungefilterten und gefalteten In-Phase ff mit Zeitde
korrelation und mit Schatten- und Überlappungsgebieten subtra
hiert;
i₂) das Subtraktionsergebnis wird wieder mittels eines linearen
Entfaltungsverfahrens (2240) entfaltet;
j₂) anschließend wird zu der entfalteten Phase das tiefpaßge
filterte Additionsergebnis am Ausgang des ersten Entfaltungs
moduls (2100) addiert und an einen zweiten Eingang (PH) des
Kalman-Filters (2030) angelegt, in welchem die endgültige, ab
solute entfaltete In-Phase erzeugt wird, aus welcher anschlie
ßend unter Berücksichtigung der Fluggeometrie ein exaktes Ge
ländemodell berechenbar ist.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19626556A DE19626556C2 (de) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Phase zwischen zwei interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur (SAR) erzeugten Aufnahmen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19626556A DE19626556C2 (de) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Phase zwischen zwei interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur (SAR) erzeugten Aufnahmen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19626556A1 true DE19626556A1 (de) | 1998-01-15 |
| DE19626556C2 DE19626556C2 (de) | 1998-05-20 |
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ID=7798676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19626556A Expired - Fee Related DE19626556C2 (de) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | Verfahren zum Bestimmen einer absoluten Phase zwischen zwei interferometrischen, mittels Radar mit synthetischer Apertur (SAR) erzeugten Aufnahmen |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19626556C2 (de) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1996
- 1996-07-02 DE DE19626556A patent/DE19626556C2/de not_active Expired - Fee Related
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| CN116580284B (zh) * | 2023-07-14 | 2023-09-15 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 一种基于深度学习的干涉合成孔径雷达偏移量测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19626556C2 (de) | 1998-05-20 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: MOREIRA, JOAO R., DR.-ING., 82110 GERMERING, DE DE |
|
| 8381 | Inventor (new situation) |
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