DE19608938A1 - Elektrische Schaltungsanordnung für den Betrieb von elektrischen Lampen - Google Patents
Elektrische Schaltungsanordnung für den Betrieb von elektrischen LampenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft elektrische Schaltungsanordnungen für den Betrieb
von elektrischen Lampen gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Diese Art von elektrischen Schaltungsanordnungen eignet sich sowohl zum
Betreiben von Entladungslampen, insbesondere von Leuchtstofflampen und
Hochdrucklampen als auch zum Betreiben von Glühlampen, z. B. Nieder
volt-Halogenglühlampen. Für den Betrieb von Entladungslampen nennt
man derartige Schaltungsanordnungen im allgemeinen "elektronische Vor
schaltgeräte" (EVG), während für den Betrieb von Niedervolt-Halogenglüh
lampen die Bezeichnung "elektronischer Transformator" oder "elektro
nischer Konverter" gebräuchlich ist.
Ohne entsprechende Gegenmaßnahmen erzeugen die genannten Schal
tungsanordnungen im Betrieb u. a. unerwünschte Funkstörungen. Ursache
hierfür sind meistens schnelle Potentialänderungen - im folgenden verkür
zend auch als HF-Potential bezeichnet - auf der Schaltungsplatine, z. B. durch
schnelle Schalttransistoren, gegenüber der geerdeten Gehäusemasse (Geräte
der Schutzklasse I) oder der Umgebung bzw. Erde (Geräte der Schutzklasse
II). Die mit den schnellen Potentialänderungen verbundenen elektrischen
HF-Felder können über kapazitive Kopplungen Gleichtakt-Störströme influ
enzieren, die beispielsweise auf den Netzzuleitungen fließen. Die Strom
schleife ist dabei über parasitäre Kapazitäten im wesentlichen zwischen der
Schaltungsanordnung und Erde geschlossen. Eine ausführliche Beschrei
bung der Entstehung von Funkstörungen findet sich beispielsweise in W.
Hirschmann und A. Hauenstein: "Schaltnetzteile", Siemens AG, Berlin, 1990,
S. 72ff. Bezüglich der Grenzwerte für Funkstörungen speziell bei elek
trischen Betriebsgeräten für Lampen ist die VDE 0875 - sie entspricht der
internationalen Norm CISPR 15 - einzuhalten.
Eine gebräuchliche Maßnahme zur Unterdrückung von Gleichtakt-
Störströmen besteht darin, ein Entstörfilter, z. B. eine stromkompensierte
Drossel in die Netzzuleitungen der Schaltungsanordnung zu schalten. Die
Auslegung stromkompensierter Drosseln ist beispielsweise in O. Kilgenstein:
"Schaltnetzteile in der Praxis", Vogel Buchverlag, Würzburg, 1986, S. 355ff
erläutert. Ihre Wirkung beruht darauf, daß der netzfrequente Nutzstrom un
gedämpft passieren kann. Hochfrequente Gleichtakt-Störströme werden
hingegen durch die hohe Induktivität der stromkompensierten Drossel aus
gefiltert. Einem kompakten Aufbau sind allerdings Grenzen gesetzt, da
durch unmittelbar benachbarte Bauteile und deren Störsignale die entstö
rende Wirkung einer stromkompensierten Drossel vermindert oder sogar -
insbesondere aufgrund magnetischer Störfelder - in eine gegenteilige Wir
kung umgekehrt werden kann.
Bei Geräten der Schutzklasse I können zusätzlich Y-Kondensatoren von den
Netzzuleitungen gegen den Schutz- bzw. Erdleiter geschaltet sein, wodurch
zumindest ein Teil der Gleichtakt-Störströme zur Erde abfließen kann. Bei
Geräten der Schutzklasse II besteht diese Möglichkeit nicht.
Die EP-PS 0264765 beschreibt einen elektronischen Konverter zum Betrieb
von Niedervolt-Halogenglühlampen, der eine stromkompensierte Drossel
zur Funkentstörung aufweist. Außerdem ist die Sekundärseite des Lei
stungsübertragers - dieser dient als Auskoppelkreis, der die getaktete Span
nung des Schaltteils auf die Nennspannung der angeschlossenen Niedervolt-
Halogenglühlampe transformiert - über einen Kondensator mit dem Plus-
oder Minuspol des Netzgleichrichters verbunden. Dadurch wird ein HF-
Kurzschluß erzeugt, der Störspannungen über dem Leistungsübertrager
klein hält. Diese Maßnahme ist allerdings auf elektronische Konverter be
schränkt.
In der DE-OS 41 37 207 ist eine HF-Entstörung offenbart, die ebenfalls auf
einem HF-Kurzschluß beruht und prinzipiell sowohl bei EVG′s als auch bei
elektronischen Konvertern eingesetzt werden kann. Dazu wird ein HF-
Signal, im Falle eines EVG′s beispielsweise aus dem Serienresonanzkreis der
Entladungslampe ausgekoppelt und über einen Hochpaß mit einer in die
Netzzuleitungen geschalteten Entstördrossel verbunden. Bei optimaler Di
mensionierung des Hochpasses fließen nahezu keine Störströme über die
Netzzuleitungen. Allerdings ändert sich die HF-Impedanz der Ent
stördrossel in Abhängigkeit vom Wert des sie durchfließenden Ein
gangsstroms. Dadurch ändert sich die Entstörwirkung empfindlich mit der
angeschlossenen Last.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die genannten Nachteile zu be
seitigen und eine Schaltungsanordnung zum Betreiben elektrischer Lampen
anzugeben, die nur geringe Funkstörungen erzeugt und prinzipiell sowohl
für elektronische Konverter als auch für elektronische Vorschaltgeräte geeig
net ist. Ein weiterer Teil der Aufgabe ist es, eine besonders wirtschaftliche
Lösung mit möglichst wenigen zusätzlichen Bauteilen anzugeben.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merk
male des Anspruchs 1 gelöst. Weitere vorteilhafte Ausführungen der Erfin
dung sind in den Unteransprüchen erläutert.
Der Grundgedanke besteht darin, mittels einer oder mehrerer Äquipoten
tialflächen - eine Äquipotentialfläche ist eine elektrisch gut leitende Fläche,
z. B. eine Folie, Schicht oder Platte aus Metall oder einem anderen elektrisch
leitenden Material beispielsweise Kunststoff - die Entstehung uner
wünschter Störströme zu verhindern, oder zumindest deutlich zu redu
zieren. Dazu ist (sind) die Äquipotentialfläche(n) mit bezüglich der schnel
len Potentialänderungen ruhendem Potential auf der Leiterplatte verbunden.
Prinzipiell ist nahezu jeder Punkt der Schaltungsanordnung für die Verbin
dung mir der Äquipotentialfläche geeignet, sofern er die vorgenannte Be
dingung - vernachlässigbares HF-Potential - erfüllt. Allerdings ist darauf zu
achten, daß der "kurzgeschlossene" HF-Störstrom nicht unerwünscht über
Bauteile der Schaltungsanordnung abfließt und dadurch möglicherweise
Störungen verursacht. Aus diesem Grunde ist eine entsprechende Masselei
terbahn besonders geeignet.
Darüber hinaus ist (sind) die Äquipotentialfläche(n) gegenüber der Umge
bung elektrisch isoliert in der Nähe der Leiterbahnen und elektronischen
Bauteile mit HF-Potential angeordnet.
Hintergrund dieser Maßnahmen ist es - vereinfacht betrachtet - mit Hilfe
der Äquipotentialfläche(n) gezielt (mindestens) eine zusätzliche Kapazität
einzuführen. Die Zusatzkapazität fungiert quasi als möglichst niederohmi
ger "Kurzschluß" für die hochfrequente Funkstörquelle. Eine derartige
Äquipotentialfläche kann nämlich - ähnlich wie die Umgebungserde, z. B.
die geerdete Grundplatte einer Leuchte, in welche die Schaltungsanordnung
eingebaut ist - als die zu den Leiterbahnen der Leiterplatte korrespondie
rende Gegenhälfte eines Zusatzkondensators interpretiert werden. Die Ka
pazität dieses Zusatzkondensators ist bevorzugt größer, insbesondere viel
größer als die parasitäre Streukapazität der Leiterbahnen bezüglich der Er
de. Im letzteren Fall wirkt die Zusatzkapazität quasi wie ein Kurzschluß für
zeitlich schnell veränderliche, d. h. hochfrequente Störströme. Folglich wer
den die unerwünschten Störstrome gegen Erde entsprechend reduziert und
zwar im wesentlichen um so effizienter, je größer die Zusatzkapazität im
Vergleich zur parasitären Streukapazität ist.
Zwar ist in der DE 44 18 886 A1 bereits eine Schaltungsanordnung mit einer
Metallfläche zur Funkentstörung offenbart. Allerdings hat diese Metallfläche -
im Gegensatz zu vorliegenden Erfindung - ein zeitlich schnell veränderli
ches Potential. Genauer gesagt ist dieses Potential bezüglich dem Störsignal
zeitlich invertiert. Der Zweck dieser Maßnahme ist eine Kompensation der
Störsignale durch die dazu gegenphasigen, von der Metallfläche erzeugten
Signale. Ein Nachteil dieser Lösung ist, daß das Kompensationsprinzip eine
möglichst genaue Abstimmung der konkrete geometrische Gestalt der Me
tallfläche erfordert, um eine unerwünschte Unter- bzw. Überkompensation
zu vermeiden.
Im Gegensatz dazu ist bei der vorliegenden Erfindung die konkrete geome
trische Gestalt der Äquipotentialfläche(n) relativ unkritisch in Bezug auf die
prinzipielle Funktion. Eine aufwendige Abstimmung auf die jeweilige
Schaltung wie im Stand der Technik ist überflüssig. Solange der Wert der
Zusatzkapazität zumindest in der Größenordnung der parasitären Streuka
pazität der Schaltungsanordnung liegt, oder insbesondere größer als diese
ist - was in der Praxis problemlos realisierbar ist - wird eine gute Reduzie
rung von Funkstörungen erreicht.
Der konkrete Wert der erfindungsgemäßen Zusatzkapazität ist durch die
geometrische Gestalt der Äquipotentialfläche(n), insbesondere durch ihren
Flächeninhalt sowie durch den Abstand zu den Leiterbahnen beeinflußbar.
Innerhalb eines praktisch handhabbaren Bereichs nimmt der Wert zu mit
zunehmendem Flächeninhalt und abnehmendem Abstand. Bei zwei oder
mehr Äquipotentialflächen addieren sich die einzelnen Zusatzkapazitäten,
entsprechend der Parallelschaltung von Kapazitäten.
In einer ersten erfindungsgemäßen Ausführung ist die Äquipotentialfläche
auf der Oberseite der Leiterplatte angeordnet, also auf der Seite der Leiter
platte, auf der sich die Bauelemente befinden. In einer besonders bevorzug
ten Ausführung ist die gesamte Oberseite mit einer Kupferschicht bedeckt.
Ausgenommen sind selbstverständlich die Durchführungen der Bauelemen
te zur Unterseite der Leiterplatte, also auf die Seite der Leiterplatte, auf der
sich die Leiterbahnen - und ggf. direkt mit den Leiterbahnen verlötete
SMD(Surface Mounted Device)-Bauteile - befinden. Diese großflächige Kup
ferschicht hat den Vorteil, daß sämtliche mit Störungen belastete Leiterbah
nen von der Zusatzkapazität erfaßt werden. Außerdem wirkt sich dadurch
die konkrete Anordnung der einzelnen Bauelemente auf der Leiterplatte -
d. h. das Leiterplatten-Layout - weniger kritisch auf die Erzeugung von
Störsignalen aus.
Bevorzugt ist diese Ausführung mit Hilfe einer gebohrten, doppelseitig kup
ferkaschierten Leiterplatte realisiert. Dabei sind wie üblich die Leiterbahnen
aus der Kupferschicht der Unterseite der Leiterplatte mittels eines an sich
bekannten Ätzprozesses gebildet. Die Kupferschicht der Oberseite ist an
mindestens einer Stelle durch eine geeignete Bohrung in der Leiterplatte
hindurch mit einer Masseleiterbahn kontaktiert, beispielsweise mittels einer
Drahtbrücke. Der Vorteil dieser Lösung ist, daß außer der erwähnten elektri
schen Verbindung zwischen Kupferschicht und Masseleiterbahn keine wei
teren Maßnahmen oder zusätzliche Bauteile erforderlich sind. Die Masselei
terbahn ist gezielt so gewählt, daß sie sich während des Betriebs der Schal
tungsanordnung bezüglich schneller Potentialänderungen (HF-Potential) auf
ruhendem Potential befindet. Dabei hat ggf. eine relativ langsame bzw. stati
sche Potentialdifferenz zwischen der Masseleiterbahn und der Erde keinen
Einfluß auf die vorteilhafte Wirkung der Erfindung.
In einer zweiten Ausführung ist die Äquipotentialfläche auf der Unterseite
der Leiterplatte angeordnet, auf der sich die Leiterbahnen befinden, also auf
der Lötseite. Dazu ist eine flächige Kupferschicht auf der Leiterplatte zwi
schen den Leiterbahnen und von diesen elektrisch isoliert aufgebracht. Die
flächige Kupferschicht kann auch aus mehreren miteinander elektrisch lei
tend verbundenen Teilflächen bestehen. Die Verbindung mit einer Masselei
terbahn erfolgt beispielsweise über eine Lötbrücke. Diese Ausführung ist in
erster Linie für einseitig kupferkaschierte Leiterplatten vorgesehen, d. h.
wenn die Oberseite der Leiterplatte keine Kupferschicht aufweist.
In einer weiteren Ausführung ist die Äquipotentialfläche durch ein im Be
reich der Ober- und/oder Unterseite der Leiterplatte angeordnetes Kupfer
blech gebildet. Bevorzugt ist das bzw. sind die Kupferbleche mindestens so
groß wie die Leiterplatte und im wesentlichen parallel zur Leiterplatte ange
ordnet, z. B. auf der Innenseite des Gehäusedeckels bzw. -bodens der Schal
tungsanordnung. Außerdem ist das Kupferblech mit einer Masseleiterbahn
kontaktiert, z. B. mittels eines Kupferbandes.
Des weiteren sind auch beliebige Kombinationen der vorgenannten Ausfüh
rungen denkbar, insbesondere wenn erhöhte Anforderungen an die Störfrei
heit gestellt werden. Im Einzelfall ist dann die mögliche zusätzliche Verrin
gerung von Störsignalen gegen den ebenfalls zusätzlichen Aufwand und die
damit verbundenen Kosten abzuwiegen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand einiger Ausführungsbeispiele nä
her erläutert. Es zeigen
Fig. 1a eine schematische Darstellung der kapazitiven Kopplung zwischen
einer Leiterbahn mit HF-Potential und Erde, ohne Maßnahmen zur
Reduzierung von Funkstörungen,
Fig. 1b wie Fig. 1a, aber mit einer mit Massepotential verbundenen Kup
ferplatte zur Reduzierung von Funkstörungen,
Fig. 1c eine gegenüber Fig. 1b geänderte Anordnung einer mit Masse ver
bundenen Kupferplatte,
Fig. 2 eine Anordnung einer mit Massepotential verbundenen Kupfer
schicht auf einer Leiterplatte.
Die Fig. 1a-1c dienen im folgenden zur vereinfachenden Erläuterung
des Grundprinzips der Erfindung. Gleiche Merkmale sind dabei durch glei
che Ziffern bezeichnet. Eine Festlegung auf irgendeine theoretische Erklä
rung ist damit nicht beabsichtigt.
In Fig. 1a ist zunächst schematisch die kapazitive Kopplung zwischen einer
Leiterbahn 1 mit schnellen Potentialänderungen, d. h. mit HF-Potential und
Erde 2 dargestellt. Ohne Maßnahmen zur Reduzierung von Funkstörungen
fließt über die parasitäre Kapazität C₁ - symbolisiert durch einen gepunkte
ten Kondensator zwischen der Leiterbahn 1 und der Erde 2 - ein uner
wünschter Funkstörstrom i₁.
Die erfindungsgemäße Anordnung in Fig. 1b weist zusätzlich eine mit
Massepotential verbundene Kupferplatte 3 auf, die als Äquipotentialflä
che(n) mit bezüglich des HF-Potentials der Leiterbahn 1 ruhendem Potential
fungiert. Die Kupferplatte 3 ist auf der von der Erde 2 abgewandten Seite
der Leiterbahn 1 und im wesentlichen parallel dazu angeordnet. Aufgrund
geeigneter Dimensionierung und Anordnung der Kupferplatte 3 resultiert
eine parasitäre Kapazität C₂ zwischen der Kupferplatte 3 und der Leiter
bahn 1, die größer als die parasitäre Kapazität C₁ zwischen der Leiterbahn 1
und Erde 2 ist, d. h. C₂ < C₁, idealerweise ist C₂ » C₁. Unter der Vorausset
zung, daß C₂·U₂ < C₁·U₁ - dabei bezeichnen U₁, U₂ die in der Praxis nahezu
gleich großen HF-Spannungen über den parasitären Kapazitäten C₁ bzw. C₂ -
fließt folglich ein Großteil des Funkstörstroms i₂ über die Kapazität C₂ zur
Kupferplatte 3 und nur ein geringerer Teil i₁′ über die Kapazität C₁ zur Er
de 2 ab, d. h. i₂ < i₁′. Idealerweise ist i₁′ verschwindend gering, d. h. i₁′ ≈ 0.
Fig. 1c zeigt eine weitere erfindungsgemäße Anordnung in schematischer
Darstellung. Im Unterschied zur Anordnung in Fig. 1b ist hier die Kup
ferplatte 3 auf der der Erde 2 zugewandten Seite der Leiterbahn 1 angeord
net, d. h. zwischen Leiterbahn 1 und Erde 2. In der Praxis wird die Kupfer
platte 3 gezielt mit einer Masseleiterbahn verbunden, deren HF-
Potentialdifferenz zur Erde 2 im wesentlichen vernachlässigbar ist. Dadurch
fließt der Funkstörstrom nahezu vollständig über die Kupferplatte 3 ab.
Folglich ist der über die Erde 2 fließende Funkstörstrom i₄ vernachlässigbar
gering, in jedem Fall aber wesentlich kleiner als der über die Kupferplatte 3
abfließende Funkstörstrom i₃.
Fig. 2 zeigt den Längsschnitt einer erfindungsgemäßen Anordnung 4 in
schematischer Darstellung. Eine Leiterplatte 5 (dargestellt ist nur ein Teilbe
reich) ist auf ihrer Oberseite nahezu vollständig mit einer Kupferschicht 6
bedeckt. Die Kupferschicht 6 ist mit einer bezüglich schnellen Potentialände
rungen ruhenden Masseleiterbahn 7 verbundenen. Sie fungiert so als Funk
störungen reduzierende Äquipotentialfläche. Zu diesem Zweck ist eine
Drahtbrücke 8 in korrespondierenden Bohrungen 9, 9′ der Leiterplatte 5 bzw.
der Masseleiterbahn 7 angeordnet. Mittels zweier Lötpunkte 10, 11 sind die
beiden Enden der Drahtbrücke 8 mit der Kupferschicht 6 einerseits und der
Masseleiterbahn 7 andererseits verbunden. Weitere Bohrungen 12 in der
Leiterplatte 5 dienen in an sich bekannter Weise der Durchführung der An
schlüsse der elektronischen Bauelemente auf die Unterseite, d. h. die Lötseite
der Leiterplatte 5. Im Bereich der Bohrungen 9, 12 ist die Kupferschicht 6 mit
kreisförmigen Aussparungen 13 versehen, die unerwünschte Kontaktierun
gen zwischen den Anschlüssen und der Kupferschicht 6 verhindern. Die
Verhältnisse sind exemplarisch anhand eines Zweipols 14 dargestellt. Der
Zweipols 14 steht hier lediglich symbolisch für ein elektronisches Bauteil mit
schnellen Potentialänderungen. Die beiden Anschlüsse 15, 16 des Zwei
pols 14 sind durch die Aussparungen 13 und Bohrungen 12 hindurch auf die
Unterseite der Leiterplatte 5 geführt und dort mittels zweier Lötpunk
te 17, 18 mit entsprechenden Leiterbahnen 19, 20 verbunden.
Die Erfindung ist nicht auf die angegebenen Ausführungsbeispiele be
schränkt. Insbesondere können einzelne Merkmale unterschiedlicher Aus
führungsbeispiele auch miteinander kombiniert werden.
Bezugszeichenliste
Kennwort: "Schutzblech"
1 Leiterbahn
2 Erde
4 Schaltungsanordnung
5 Leiterplatte
6 Kupferschicht
7 Masseleiterbahn
8 Drahtbrücke
9 Bohrung (Leiterplatte)
9′ Bohrung (Masseleiterbahn)
10 Lötpunkt
11 Lötpunkt
12 Bohrungen (Leiterplatte)
13 Aussparungen
14 Bauteil (Zweipol)
15 Anschluß (Zweipol)
16 Anschluß (Zweipol)
17 Lötpunkt
18 Lötpunkt
19 Leiterbahn
20 Leiterbahn
1 Leiterbahn
2 Erde
4 Schaltungsanordnung
5 Leiterplatte
6 Kupferschicht
7 Masseleiterbahn
8 Drahtbrücke
9 Bohrung (Leiterplatte)
9′ Bohrung (Masseleiterbahn)
10 Lötpunkt
11 Lötpunkt
12 Bohrungen (Leiterplatte)
13 Aussparungen
14 Bauteil (Zweipol)
15 Anschluß (Zweipol)
16 Anschluß (Zweipol)
17 Lötpunkt
18 Lötpunkt
19 Leiterbahn
20 Leiterbahn
Claims (12)
1. Elektrische Schaltungsanordnung (4) für den Betrieb von elektrischen
Lampen mit einer Leiterplatte (5), auf der elektrische Bauteile (14) und
Leiterbahnen (7; 19; 20) angeordnet sind, wobei auf der Leiterplatte zeit
lich schnelle Potentialänderungen auftreten, sowie mit einer Äquipo
tentialfläche (6) zur Reduzierung der durch diese Potentialänderungen
verursachten Funkstörungen, dadurch gekennzeichnet, daß die Äqui
potentialfläche (6) mit bezüglich der schnellen Potentialänderungen
ruhendem Potential (7) auf der Leiterplatte (5) verbunden ist und daß
die Äquipotentialfläche (6) zumindest in der Nähe der Ober- oder Un
terseite der Leiterplatte (5) angeordnet ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Äquipotentialfläche (6) die Oberseite der Leiterplatte (5) zumindest
teilweise bedeckt, wobei diejenigen Bereiche (13) auf der Oberseite
ausgespart sind, in welchen die Anschlüsse (15, 16) der Bauteile (14)
durch die Leiterplatte (5) hindurch zu den auf der Unterseite der Lei
terplatte angeordneten Leiterbahnen (19; 20) geführt sind.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Äquipotentialfläche (6) mittels einer Löt- oder Drahtbrücke (8)
durch eine Bohrung (9) in der Leiterplatte (5) hindurch mit einer auf
der Unterseite der Leiterplatte (5) angeordneten Masseleiterbahn (7)
verbunden ist.
4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Äquipotentialfläche die Unterseite der Leiterplatte zumindest teil
weise bedeckt, wobei diejenigen Bereiche der Unterseite ausgespart
sind, in welchen Leiterbahnen verlaufen und/oder gegebenenfalls
weitere elektrische (SMD)Bauteile angeordnet sind.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Äquipotentialfläche mittels einer Löt- oder Drahtbrücke mit einer
auf der Unterseite der Leiterplatte angeordnete Masseleiterbahn ver
bunden ist.
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Äquipotentialfläche zwischen den Schichten einer mehrschichtigen
Leiterplatte angeordnet ist.
7. Schaltungsanordnung nach einem der vorstehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß die Äquipotentialfläche aus einer
Schicht (6) oder Platte (3) aus elektrisch gut leitendem Material besteht.
8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
die Platte in etwa die Fläche der Leiterplatte einnimmt.
9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeich
net, daß die Platte im wesentlichen parallel zur Leiterplatte angeordnet
ist.
10. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
die Äquipotentialfläche aus zwei oder mehreren Teilflächen besteht.
11. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
das Material aus Metall, insbesondere aus Kupfer, besteht.
12. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
das Material aus einem elektrisch leitfähigen Kunststoff besteht.
Priority Applications (6)
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|---|---|---|---|
| DE1996108938 DE19608938A1 (de) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Elektrische Schaltungsanordnung für den Betrieb von elektrischen Lampen |
| DE19700666A DE19700666A1 (de) | 1996-03-08 | 1997-01-10 | Elektrische Schaltungsanordnung für den Betrieb von elektrischen Lampen |
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| CA002199199A CA2199199C (en) | 1996-03-08 | 1997-03-05 | Electrical circuit arrangement for the operation of lamps |
| US08/811,794 US5880937A (en) | 1996-03-08 | 1997-03-06 | Electrical circuit arrangement having equipotential surface for reduced high-frequency interference |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1996108938 DE19608938A1 (de) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Elektrische Schaltungsanordnung für den Betrieb von elektrischen Lampen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19608938A1 true DE19608938A1 (de) | 1997-09-11 |
Family
ID=7787572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE1996108938 Withdrawn DE19608938A1 (de) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Elektrische Schaltungsanordnung für den Betrieb von elektrischen Lampen |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19608938A1 (de) |
-
1996
- 1996-03-08 DE DE1996108938 patent/DE19608938A1/de not_active Withdrawn
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