DE19536216C1 - Optoelektronisches Detektor-Bauelement und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents
Optoelektronisches Detektor-Bauelement und Verfahren zu seiner HerstellungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein optoelektronisches Detek
tor-Bauelement mit einem auf einem Sockelteil eines Bauele
mentgehäuses angeordneten Halbleiterdetektorchip, der elek
trisch mit wenigstens zwei durch das Bauelementgehäuse hin
durchgeführten Elektrodenanschlüssen verbunden ist, und einem
über dem Sockelteil des Bauelementgehäuses angeordneten und
das Detektor-Bauelement abschließenden Gehäuseoberteil, in
welchem ein dem Halbleiterdetektorchip zugeordnetes Fenster
element vorgesehen ist. Ein derartiges Bauelement ist aus
der US 47 06 106 bekannt. Außerdem betrifft die Erfindung
ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Detektor-
Bauelements.
Die bisherigen optoelektronischen UV-Detektor-Bauelemente
wurden im wesentlichen in hermetisch dichten TO-Metall-Bau
teilgehäusen eingebaut. Hierbei wurden als Chipträger aus Me
tall gefertigte Bodenplatten verwendet, die mit einer Metall
kappe mit eingeglastem Filter montiert wurden. Durch diese
Montage vermittels einem Metallgehäuse konnte zum einen ein
Eindringen von Feuchtigkeit verhindert werden, und zum ande
ren eine Eignung des optoelektronischen Detektor-Bauelementes
für bestimmte Hochtemperaturanwendungen zur Verfügung ge
stellt werden. Die Alterung des Halbleiterchips war bei einer
solchen Montageart gering, da aufgrund des verwendeten Gehäu
setyps im wesentlichen keine Belastung auf den Halbleiterchip
aufgrund von unmittelbar umgebendem Material vorlag. Norma
lerweise befindet sich bei den herkömmlichen Detektor-Halb
leiter-Bauelementen zwischen dem Detektorchip und dem Filter
glas ein gasförmiges Medium, da Kunststoffe UV-Licht in star
kem Maße absorbieren. Trotzdem treten hierbei Lichtverluste
durch Brechungsindexsprünge aufgrund des Materialübergangs
von Gas auf Filterglas und von Gas auf das Halbleiter-Mate
rial auf. Darüber hinaus ist es bekannt, das Filterelement in
die Filterkappe einzukleben, was bei entsprechender
Kappengestaltung möglich ist.
Weiterhin finden bei bekannten UV-Detektor-Bauelementen auch
Keramik-Gehäuse Anwendung.
Als wesentlicher Nachteil bei sämtlichen bisher hergestellten
optoelektronischen Halbleiter-Bauelementen sind die aufgrund
der relativ komplizierten Herstellung notwendigerweise
einhergehenden Kosten anzusehen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein
optoelektronisches Detektor-Bauelement zur Verfügung zu
stellen, welches bei hohen Anforderungen an die optischen
Eigenschaften, Zuverlässigkeit und Lebensdauer des
Bauelementes erheblich kostengünstiger hergestellt werden
kann.
Diese Aufgabe wird durch ein optoelektronisches Detektor-
Bauelement gemäß Anspruch 1 und ein Verfahren zur Herstellung
eines optoelektronischen Detektor-Bauelements nach Anspruch
12 gelöst.
Erfindungsgemäß ist vorgesehen, daß das dem Detektorchip
zugeordnete Fensterelement zur Begrenzung der Wellenlänge der
empfangenen Strahlung unmittelbar auf dem
Halbleiterdetektorchip montiert ist. Durch das unmittelbare
Aufbringen des Fensterelementes auf den Detektorchip ist ein
allenfalls sehr dünnes Medium zwischen Filter und Chip
gemeint, wobei in vorteilhafter Weise die Stärke des Mediums
zwischen Detektorchip und Fensterelement auf ein Minimum
reduziert werden kann, so daß Lichtverluste durch Dämpfung
verringert werden können. Durch geeignete Wahl des Mediums
zwischen Detektorchip und Fensterelement können darüber
hinaus die Verluste durch Brechungsindexsprünge aufgrund der
Materialunterschiede minimiert werden.
Das unmittelbar auf dem Halbleiter-Detektorchip befestigte
Fensterelement kann aus einem Material gefertigt sein,
das eine wellenselektive Durchlässigkeit, d. h. für bestimmte
Wellenlängenbereiche Filtereigenschaften besitzt. Bevorzugt
wird ein Material, welches insbesondere für UV-Strahlung
durchlässig ist. Ansonsten kommt für das Material des Fen
sterelementes Glas, Kunststoffmaterial, Quarzglas, aber auch
spezielle Gläser wie Farbgläser, Filtergläser, oder andere
wellenlängenselektive Materialien in Frage.
Bei einer besonders bevorzugten Ausführung der Erfindung ist
vorgesehen, daß das unmittelbar auf dem Halbleiterdetektor
chip montierte Fensterelement durch Klebe- oder Haftverbin
dung auf dem Detektor-Halbleiterchip befestigt ist, insbeson
dere vermittels einer dünnen Klebeschicht. Das Material der
Klebeschicht ist hierbei so beschaffen, daß der Übergang vom
Halbleiterdetektorchip auf das Fensterelement allenfalls ge
ringfügige Brechungsindexsprünge verursacht und/oder allen
falls ein geringfügiger Anteil der empfangenen Strahlung in
der dünnen Klebeschicht absorbiert wird. Ein solches Material
für die Klebeschicht kann ein an sich bekanntes Adhäsionsme
dium wie beispielsweise Polyimid oder Epoxidharz sein.
Bei dem erfindungsgemäßen optoelektronischen Detektor-Bau
element handelt es sich um einen solchen Detektor mit von der
einfallenden Strahlungsrichtung unabhängigen Detektion. Dies
bedingt ein makroskopisch dickes Fensterelement ohne jegliche
Interferenzwirkungen der einfallenden Lichtstrahlung. Im
Stand der Technik sind daneben richtungsabhängige UV-Detek
toren mit sogenannten Interferenzfiltern bekannt, bei dem auf
die Chipoberfläche aufgebrachte Dünnschichten mit Stärken von
einigen wenigen µm vorgesehen sind, deren Filtereigenschaft
aufgrund von Lichtinterferenz naturgemäß von der einfallenden
Strahlungsrichtung abhängt.
Bei einer weiterhin bevorzugten Ausführung der Erfindung ist
vorgesehen, daß der Halbleiterdetektorchip und das unmittel
bar auf dem Halbleiterchip montierte (makroskopische) Fenste
relement eine eigenständige, vormontierte Baueinheit bilden.
Hierdurch wird eine einfache Vormontage des optoelektroni
schen Detektor-Bauelementes ermöglicht, beispielsweise in so
genannter Chip-on-Wafer-Technik, oder auch auf anderem Wege,
beispielsweise durch zweimaliges Diebonden oder Wafer-Bon
ding. Die auf diese Weise vormontierte Hybrid-Baueinheit kann
auf einem separat gefertigten Sockelteil bzw. Chipträger auf
gebracht sein. Das Sockelteil bzw. Sockelteil mit Gehäuseo
berteil des Bauelementgehäuses können aus einem Kunststoff
material, insbesondere vermittels einem Spritzgußprozeß her
gestellten Material bestehen. Insbesondere kommen hierbei
Hochtemperaturthermoplaste zum Einsatz.
Die Hybrid-Montage kann wiederum in herkömmlicher Technik,
beispielsweise durch Kleben erfolgen. Nach einem Anschluß der
Anschlußkontakte des Detektorchips mit den Elektrodenan
schlüssen, beispielsweise durch Drahtbonden, erfolgt eine Um
hüllung des Bauelementes, welche vorzugsweise so erfolgen
soll, daß das Fensterelement nicht überdeckt wird.
Bei einer besonders bevorzugten Ausführung wird hierbei nach
dem Einbauen der Hybrid-Baueinheit bestehend aus Halbleiter
chip und Fensterelement in das Bauelementgehäuse wenigstens
ein Teil der verbleibenden Leerräume des Gehäuseoberteils des
Bauelementgehäuses mit einem wenigstens annähernd lichtdich
ten Material ausgefüllt. Das lichtdichte Material stellt in
besonders bevorzugter Weise ein Epoxidharz dar. Das wie eine
Blende für das einfallende Licht wirkende lichtdichte Materi
al kann ganz allgemein so gewählt werden, daß möglichst gün
stige Verhältnisse hinsichtlich der mechanischen Spannungen
auf das Fensterelement und den Halbleiterchip vorliegen.
Bei einer besonders bevorzugten Anwendung der Erfindung be
sitzt das Bauelementgehäuse bzw. die Elektrodenanschlüsse ei
ne sogenannte oberflächenmontierbare Anordnung bzw. Surface
Mounted Structure.
Weitere Vorteile und Zweckmäßigkeiten der Erfindung
ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung eines Ausfüh
rungsbeispiels anhand der Zeichnung. Die einzige Figur zeigt
eine schematische Schnittansicht eines optoelektronischen De
tektor-Bauelementes gemäß einem Ausführungsbeispiel der Er
findung.
Dargestellt ist ein optoelektronisches Detektor-Bauelement 1
mit einem auf einem Sockelteil 2 eines Bauelementgehäuses 3
angeordneten Halbleiterdetektorchip 4, welcher elektrisch mit
wenigstens zwei durch das Bauelementgehäuse 3 hindurchgeführ
ten Elektrodenanschlüssen 5 verbunden ist. Diese Verbindung
kann wie dargestellt durch einen Bonddraht 6 in an sich be
kannter Technik erfolgen. Des weiteren ist ein den Sockelteil
2 des Bauelementgehäuses 3 übergreifendes und das Detektor-
Bauelement 1 abschließendes Gehäuseoberteil 7 vorgesehen, in
welchem ein dem Halbleiterchip 4 zugeordnetes und die Wellen
länge der empfangenen Strahlung begrenzendes Fensterelement 8
vorgesehen ist. Erfindungsgemäß ist das aus
Glas- oder Kunststoffmaterial gefertigte Fensterelement 8 un
mittelbar auf dem Halbleiterchip 4 montiert, und zwar im dar
gestellten Ausführungsbeispiel vermittels einer dünnen Klebe
schicht 9 zwischen Fensterelement 8 und Halbleiterchip 4,
welche eine Stärke von allenfalls wenigen µm, etwa 5 bis 10 µ
m oder weniger besitzt und ein Adhäsionsmedium, im Ausführungs
beispiel Polyimid oder Epoxidharz, aufweist.
Fensterelement 8 und Halbleiterchip 4 werden als eigenständi
ge Baueinheit vormontiert und daran anschließend auf den
Chipträger, bestehend aus dem Sockelteil 2 und den Elektroden
anschlüssen 5, befestigt. Das Sockelteil 2 ist
aus einem hochtemperaturstabilen Kunststoffmaterial herge
stellt und besitzt die für eine oberflächenmontierbare Tech
nologie geeignete Formgebung. Das die äußeren Berandungen des
Bauelementgehäuses 3 festlegende Gehäuseoberteil 7 kann eben
falls aus einem hochtemperaturstabilen Kunststoffmaterial
hergestellt sein und gegebenenfalls einstückig mit dem Soc
kelteil 2 ausgebildet sein. Zur Erhöhung der Bauteilzuverläs
sigkeit und der Verringerung von Lichtverlusten werden die
verbleibenden Leerräume des Bauteil-Gehäuses 3 mit einem
lichtdichten Material 10 aufgefüllt, im Ausführungsbeispiel mit einem
im Ausdehnungskoeffizienten angepaßten Epoxidharz. Hierbei
kann durch entsprechend schräge oder beispielsweise abgesetz
te Seiten bei einer geeigneten Bauteilgestaltung erreicht
werden, daß das Fensterelement 8 durch die Umhüllung aufgrund
des lichtdichten Materials 10 bzw. die äußeren Wandungen des
Gehäuseoberteils 7 an den Halbleiterchip 4 gepreßt wird, wo
durch die Bauteilzuverlässigkeit weiterhin verbessert werden
kann.
Claims (17)
1. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) mit einem auf
einem Sockelteil (2) eines Bauelementgehäuses (3)
angeordneten Halbleiterdetektorchip (4), der elektrisch mit
wenigstens zwei durch das Bauelementgehäuse (3)
hindurchgeführten Elektrodenanschlüssen (5) verbunden ist,
und einem über dem Sockelteil (2) des Bauelementgehäuses (3)
angeordneten und das Detektor-Bauelement (1) abschließenden
Gehäuseoberteil (7), in welchem ein dem
Halbleiterdetektorchip (4) zugeordnetes Fensterelement (8)
vorgesehen ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
das dem Detektorchip (4) zugeordnete Fensterelement (8)
unmittelbar auf dem Halbleiterdetektorchip (4) montiert ist.
2. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß das unmittelbar auf dem
Halbleiterdetektorchip (4) montierte Fensterelement (8) durch
Klebe- oder Haftverbindung auf dem Detektorhalbleiterchip (4)
befestigt ist.
3. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch 1
oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das unmittelbar auf dem
Halbleiterdetektorchip (4) montierte Fensterelement (8)
vermittels einer dünnen Klebeschicht (9) auf dem
Halbleiterdetektorchip (4) befestigt ist.
4. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch
3, dadurch gekennzeichnet, daß das Material der Klebeschicht
(9) so beschaffen ist, daß der Übergang vom
Halbleiterdetektorchip (4) auf das Fensterelement (8)
allenfalls lediglich geringfügige Brechungsindexsprünge
verursacht.
5. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch 3
oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Material der
Klebeschicht (9) so beschaffen ist, daß allenfalls ein
geringfügiger Anteil der empfangenen Strahlung in der dünnen
Klebeschicht (9) absorbiert wird.
6. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch 2
bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Material der
Klebeschicht (9) Polyimid oder Epoxidharz aufweist.
7. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch 1
bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterdetektorchip
(4) und das unmittelbar auf dem Halbleiterchip (4) montierte
Fensterelement (8) eine eigenständige, vormontierte
Baueinheit bilden.
8. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch 1
bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein Teil der
verbleibenden Räume des Gehäuseoberteils (7) des
Bauelementgehäuses (3) mit einem wenigstens annähernd
lichtdichten Material (10) ausgefüllt sind.
9. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch
8, dadurch gekennzeichnet, daß das wenigstens annähernd
lichtdichte Material (10) zum Auffüllen der verbleibenden
Räume Epoxidharz aufweist.
10. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch
1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Sockelteil (2) des
Bauelementgehäuses (3) aus einem hochtemperaturstabilen
Kunststoffmaterial gefertigt ist.
11. Optoelektronisches Detektor-Bauelement (1) nach Anspruch
1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Bauelementgehäuse
(3) bzw. die Elektrodenanschlüsse (5) eine
oberflächenmontierbare Anordnung
besitzen.
12. Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen
Detektor-Bauelementes (1) mit einem auf einem Sockelteil (2)
eines Bauelementgehäuses (3) angeordneten
Halbleiterdetektorchip (4), der elektrisch mit wenigstens
zwei durch das Bauelementgehäuse (3) hindurchgeführten
Elektrodenanschlüssen (5) verbunden ist, und einem den
Sockelteil (2) des Bauelementgehäuses (3) übergreifenden und
das Detektor-Bauelement (1) abschließenden Gehäuseoberteil
(7), in welchem ein dem Halbleiterdetektorchip (4)
zugeordnetes Fensterelement (8) vorgesehen ist,
gekennzeichnet durch die Schritte:
- - Vorbereiten einer eigenständigen, vormontierten Hybrid- Baueinheit bestehend aus dem Halbleiterdetektorchip (4) und dem unmittelbar auf dem Halbleiterdetektorchip (4) befestigten Fensterelement (8), und
- - Einbauen der eigenständigen, vormontierten Hybrid-Bauein heit in das Bauelementgehäuse (3).
13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß
das Sockelteil (2) und die Elektrodenanschlüsse (5) des
Bauelementgehäuses (3) als eigenständiger, vormontierter
Chipträger gefertigt wird.
14. Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, dadurch
gekennzeichnet, daß nach dem Einbauen der Hybrid-Baueinheit
in das Bauelementgehäuse (3) wenigstens ein Teil der
verbleibenden Räume des Gehäuseoberteils (7) des
Bauelementgehäuses (3) mit einem wenigstens annähernd
lichtdichten Material (10) ausgefüllt wird.
15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß
das wenigstens annähernd lichtdichte Material (10) zum
Auffüllen der verbleibenden Räume Epoxidharz aufweist.
16. Verfahren nach Anspruch 12 bis 15, dadurch
gekennzeichnet, daß das Sockelteil (2) des Bauelementgehäuses
(3) aus einem hochtemperaturstabilen Kunststoffmaterial
gefertigt wird.
17. Verfahren nach Anspruch 12 bis 16, dadurch
gekennzeichnet, daß das Bauelementgehäuse (3) bzw. die
Elektrodenanschlüsse (5) eine oberflächenmontierbare
Anordnung besitzen.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19536216A DE19536216C1 (de) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | Optoelektronisches Detektor-Bauelement und Verfahren zu seiner Herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19536216A DE19536216C1 (de) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | Optoelektronisches Detektor-Bauelement und Verfahren zu seiner Herstellung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19536216C1 true DE19536216C1 (de) | 1996-07-11 |
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ID=7773506
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19536216A Expired - Fee Related DE19536216C1 (de) | 1995-09-28 | 1995-09-28 | Optoelektronisches Detektor-Bauelement und Verfahren zu seiner Herstellung |
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| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19536216C1 (de) |
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| DE10058622A1 (de) * | 2000-11-15 | 2002-05-29 | Vishay Semiconductor Gmbh | Gemouldetes elektronisches Bauelement |
| DE10128271C1 (de) * | 2001-06-12 | 2002-11-28 | Liz Electronics Corp | Verfahren zur Herstellung von Dioden |
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-
1995
- 1995-09-28 DE DE19536216A patent/DE19536216C1/de not_active Expired - Fee Related
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