DE1728951U - Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen. - Google Patents
Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen.Info
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- DE1728951U DE1728951U DE1956A0008614 DEA0008614U DE1728951U DE 1728951 U DE1728951 U DE 1728951U DE 1956A0008614 DE1956A0008614 DE 1956A0008614 DE A0008614 U DEA0008614 U DE A0008614U DE 1728951 U DE1728951 U DE 1728951U
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Landscapes
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- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
M 43580*46,56
Pat/Seiffert/ΚΙ. 4. Juni 1956
AbIβseeinrichtung für Präzisionsteilungen·
Die Neuerung befaßt sioh mit einer Ableseeinriehtung für Präzisions—
teilungen, wie sie in hochempfindlichen lleßinstrumenten (z.B· zur
optischen Längenmessung o.a.) benutzt werden. In solchen Geräten sind Teilungen notwendig, deren Teilungsmarken mitunter nur Strichbreiten
von wenigen Mikron und Strichtiefen von Bruchteilen der Breite aufweisen. Sie sind meist auf Glasplatten oder auch auf metallischen
Trägern angebracht. Die Ablesung der Teilung erfolgt
gewöhnlich mit Hilfe eines Mikroskops.
TSn bei diesem Verfahren die Teilstriche, insbesondere solche, die
sioh auf einem gläsernen Träger befinden, genügend sichtbar zu.
machen, müssen sie zwecke Erhöhung des Kontrastes besonders behandelt
werden. In der Regel werden sie mit einer absorbierenden Substanz ausgelegt. Wegen der erwähnten geringen Strichtiefen ergeben
sich für die Behandlung des Q!eilungsträgers Schwierigkeiten,
da sich die Kontrastmittel bei Reinigung des Trägers aus den Markierungen herauswischen lassen. Infolgedessen sind besondere Einrichtungen
zur Ablesung der Markierung notwendig, die auch ohne kontraststeigernde Auslegung der Teilstriche eine sichere Ablesung
der Teilung zulassen.
Es wird deshalb neuerungsgemäß vorgeschlagen, ein an sich bekanntes
Interferenzmikroskop zur Ablesung der Teilung zu benutzen.
Zur Punktion derartiger Mikroskope sei an einer Ausführung β art
- da sie an sich bekannt ist - nur folgendes ausgeführtt
Das Mikroskop enthält eine Leuchtquelle, deren lage in der Figur 1
- um eine Vorstellung zu vermitteln - mit (1 ) angedeutet ieto Im
übrigen zeigt die Figur nur die Umrisse einer Ausführungsf ona dieäer
Mikroskope, Am Ort (2) befindet sich eine Vergleichsepiegelfläche. Daneben besitzt das Mikroskop zwei untereinander gleiche
optische abbildende Systeme, von denen die Lage des einen mit (3) gekennzeichnet ist. Das andere (4) befindet sich vor der Yergleiohsspiegelflache
(2) und dient zur Betrachtung dieser Vergleichaflache*
Das System (3) ist auf daszu betrachtende Objekt (5) gerichtet.
Yon (1) g&angt Licht über ein geeignet ausgebildetes physikalisches
strahlenteilendes Mittel (6) sowohl zu (2) als auch zu (5), wird von beiden Flächen reflektiert undgelangt wieder über das *
strahlenteilende Mittel (6) jetzt in die Objektebene dee eigentlichen
Mikroskopes (7).
Bei entsprechender Justierung entstehen dort durch Vereinigung beider Strahlenbündel die bekannten Interferenzstreifen, die einen
Schluß auf einzelne hervortretende Oberilächenteile in Bezug auf
ihre Abweichung von benachbarten Teilen der Oberfläche des Objekts
zulassen, da sich Inhomogenitäten in der Oberfläche in Wegdifferenzen des Lichtes bemerkbar machen.
Ea entsteht so z.B. beim Betrachten eines Teilstriches (8) unter
Verwendung monochromatischen Lichtes ein Bild wie es die Pigur 2 die das Gesichtefeld des Mikroskopes zeigt, wiedergibt. Es lassen
sich dort abwechselnd die bekannten hellen und dunklen Interferenzstreifen
beobachten, die an Stellen, die dem Ort der Ϊeilungsmarkierung
entsprechen, fransenförmige Ausbuchtungen aufweisen, deren
Lage mit Hilfe eines Ableseindex (9) im Mikroskop eine genauere Lokalisierung des Teilstriches zulassen.
Die Ausbildung der Perm und Lage der oben erwähnten Fransen hängt
von der Struktur des Teilstrichgrundes ab. Es ergeben sich demzufolge gewisse Unregelmäßigkeiten in Form und Lage, aus denen die
Möglichkeit einer Mittelung über die Orte der einzelnen Pransen
zwecks genauerer Lokal-isierung des Strichortes resultiert.
Die Einrichtung zur Ablesung von Teilungsmarkierungen mit Hilfe
eines Interferenzmikroskopes erhält ihren Wert vermöge ihrer kontraststeigernden
Wirkung an einem kontrastarmen Teilbereich der T eilstrichstruktur. Darüber hinaus ist die Ableseeinrichtung nicht
anfällig gegenüber Beugung ©effekt en an allerfeinet en Teile-trichen.
Weiterhin ergibt sich die Möglichkeit, in Einrichtungen, in denen die Ablesung der Teilung mit Hilfe eines Interferensaaikroekopee
erfolgt, Teilungen zu benutzen, deren Herstellung wesentlich einfacher ist als die Herstellung der bekannten Teilungen. So ist es
z.B. überflüssig, die Teilung durch Ätzen - ein Verfahren, das die Teilstriche unnötig unscharf werden läßt - herzustellen, sondern
es genügt vielmehr, die Teilung durch geringfügige Beschädigung der Oberfläche des Teilungsträgers zu erzeugen.
Claims (1)
- Bei der Bezifferung der Teilungen ist es zweckmäßig, die Ziffern auszulegen, damit keine Abweichungen von der Homogenität der Oberfläche am Ort der Ziffern auftreten. Das Bild würde Infolge dg*r durch diese Inhomogenitäten verursachten Interferenzersoheinongen unübersichtlich werden.Die Ableseeinrichtung läßt sich auch in den Fällen benutzen, in den es sich nicht um die Ablesung allerfeinater Teilstriche von Präzisionsteilungen handelt.SchutzanspruchAbleseeinrichtung mit Mikroskop für Teilungen, vorzugsweise für Präzisionsteilungen sehr geringer Strichbreite- und Tiefe» deren Teilstriche nicht mit einem kontrastfördernden Mittel auslegbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß das Mikroskop als ein an sich bekanntes Interferenzmikroskop ausgebildet ist.ASKANIA-WERKEA «owArTft
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1956A0008614 DE1728951U (de) | 1956-06-06 | 1956-06-06 | Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen. |
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| DE1728951U true DE1728951U (de) | 1956-08-30 |
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Country Status (1)
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1956
- 1956-06-06 DE DE1956A0008614 patent/DE1728951U/de not_active Expired
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