[go: up one dir, main page]

DE1728951U - Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen. - Google Patents

Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen.

Info

Publication number
DE1728951U
DE1728951U DE1956A0008614 DEA0008614U DE1728951U DE 1728951 U DE1728951 U DE 1728951U DE 1956A0008614 DE1956A0008614 DE 1956A0008614 DE A0008614 U DEA0008614 U DE A0008614U DE 1728951 U DE1728951 U DE 1728951U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
microscope
divisions
reading device
precision
graduations
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE1956A0008614
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Askania Werke AG
Original Assignee
Askania Werke AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Askania Werke AG filed Critical Askania Werke AG
Priority to DE1956A0008614 priority Critical patent/DE1728951U/de
Publication of DE1728951U publication Critical patent/DE1728951U/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

M 43580*46,56
ASKANlA-WERItE A.G. ^M^j BERLBN-FRIEDENAU
Pat/Seiffert/ΚΙ. 4. Juni 1956
Gebraachamusteranmeldunfi Sr« 3559 - A 1/5
AbIβseeinrichtung für Präzisionsteilungen·
Die Neuerung befaßt sioh mit einer Ableseeinriehtung für Präzisions— teilungen, wie sie in hochempfindlichen lleßinstrumenten (z.B· zur optischen Längenmessung o.a.) benutzt werden. In solchen Geräten sind Teilungen notwendig, deren Teilungsmarken mitunter nur Strichbreiten von wenigen Mikron und Strichtiefen von Bruchteilen der Breite aufweisen. Sie sind meist auf Glasplatten oder auch auf metallischen Trägern angebracht. Die Ablesung der Teilung erfolgt gewöhnlich mit Hilfe eines Mikroskops.
TSn bei diesem Verfahren die Teilstriche, insbesondere solche, die sioh auf einem gläsernen Träger befinden, genügend sichtbar zu. machen, müssen sie zwecke Erhöhung des Kontrastes besonders behandelt werden. In der Regel werden sie mit einer absorbierenden Substanz ausgelegt. Wegen der erwähnten geringen Strichtiefen ergeben sich für die Behandlung des Q!eilungsträgers Schwierigkeiten, da sich die Kontrastmittel bei Reinigung des Trägers aus den Markierungen herauswischen lassen. Infolgedessen sind besondere Einrichtungen zur Ablesung der Markierung notwendig, die auch ohne kontraststeigernde Auslegung der Teilstriche eine sichere Ablesung der Teilung zulassen.
Es wird deshalb neuerungsgemäß vorgeschlagen, ein an sich bekanntes Interferenzmikroskop zur Ablesung der Teilung zu benutzen.
Zur Punktion derartiger Mikroskope sei an einer Ausführung β art
- da sie an sich bekannt ist - nur folgendes ausgeführtt
Das Mikroskop enthält eine Leuchtquelle, deren lage in der Figur 1
- um eine Vorstellung zu vermitteln - mit (1 ) angedeutet ieto Im übrigen zeigt die Figur nur die Umrisse einer Ausführungsf ona dieäer Mikroskope, Am Ort (2) befindet sich eine Vergleichsepiegelfläche. Daneben besitzt das Mikroskop zwei untereinander gleiche optische abbildende Systeme, von denen die Lage des einen mit (3) gekennzeichnet ist. Das andere (4) befindet sich vor der Yergleiohsspiegelflache (2) und dient zur Betrachtung dieser Vergleichaflache*
Das System (3) ist auf daszu betrachtende Objekt (5) gerichtet. Yon (1) g&angt Licht über ein geeignet ausgebildetes physikalisches strahlenteilendes Mittel (6) sowohl zu (2) als auch zu (5), wird von beiden Flächen reflektiert undgelangt wieder über das * strahlenteilende Mittel (6) jetzt in die Objektebene dee eigentlichen Mikroskopes (7).
Bei entsprechender Justierung entstehen dort durch Vereinigung beider Strahlenbündel die bekannten Interferenzstreifen, die einen Schluß auf einzelne hervortretende Oberilächenteile in Bezug auf ihre Abweichung von benachbarten Teilen der Oberfläche des Objekts zulassen, da sich Inhomogenitäten in der Oberfläche in Wegdifferenzen des Lichtes bemerkbar machen.
Ea entsteht so z.B. beim Betrachten eines Teilstriches (8) unter Verwendung monochromatischen Lichtes ein Bild wie es die Pigur 2 die das Gesichtefeld des Mikroskopes zeigt, wiedergibt. Es lassen sich dort abwechselnd die bekannten hellen und dunklen Interferenzstreifen beobachten, die an Stellen, die dem Ort der Ϊeilungsmarkierung entsprechen, fransenförmige Ausbuchtungen aufweisen, deren Lage mit Hilfe eines Ableseindex (9) im Mikroskop eine genauere Lokalisierung des Teilstriches zulassen.
Die Ausbildung der Perm und Lage der oben erwähnten Fransen hängt von der Struktur des Teilstrichgrundes ab. Es ergeben sich demzufolge gewisse Unregelmäßigkeiten in Form und Lage, aus denen die Möglichkeit einer Mittelung über die Orte der einzelnen Pransen zwecks genauerer Lokal-isierung des Strichortes resultiert.
Die Einrichtung zur Ablesung von Teilungsmarkierungen mit Hilfe eines Interferenzmikroskopes erhält ihren Wert vermöge ihrer kontraststeigernden Wirkung an einem kontrastarmen Teilbereich der T eilstrichstruktur. Darüber hinaus ist die Ableseeinrichtung nicht anfällig gegenüber Beugung ©effekt en an allerfeinet en Teile-trichen.
Weiterhin ergibt sich die Möglichkeit, in Einrichtungen, in denen die Ablesung der Teilung mit Hilfe eines Interferensaaikroekopee erfolgt, Teilungen zu benutzen, deren Herstellung wesentlich einfacher ist als die Herstellung der bekannten Teilungen. So ist es z.B. überflüssig, die Teilung durch Ätzen - ein Verfahren, das die Teilstriche unnötig unscharf werden läßt - herzustellen, sondern es genügt vielmehr, die Teilung durch geringfügige Beschädigung der Oberfläche des Teilungsträgers zu erzeugen.

Claims (1)

  1. Bei der Bezifferung der Teilungen ist es zweckmäßig, die Ziffern auszulegen, damit keine Abweichungen von der Homogenität der Oberfläche am Ort der Ziffern auftreten. Das Bild würde Infolge dg*r durch diese Inhomogenitäten verursachten Interferenzersoheinongen unübersichtlich werden.
    Die Ableseeinrichtung läßt sich auch in den Fällen benutzen, in den es sich nicht um die Ablesung allerfeinater Teilstriche von Präzisionsteilungen handelt.
    Schutzanspruch
    Ableseeinrichtung mit Mikroskop für Teilungen, vorzugsweise für Präzisionsteilungen sehr geringer Strichbreite- und Tiefe» deren Teilstriche nicht mit einem kontrastfördernden Mittel auslegbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß das Mikroskop als ein an sich bekanntes Interferenzmikroskop ausgebildet ist.
    ASKANIA-WERKE
    A «owArT
    ft
DE1956A0008614 1956-06-06 1956-06-06 Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen. Expired DE1728951U (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1956A0008614 DE1728951U (de) 1956-06-06 1956-06-06 Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1956A0008614 DE1728951U (de) 1956-06-06 1956-06-06 Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1728951U true DE1728951U (de) 1956-08-30

Family

ID=32687177

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1956A0008614 Expired DE1728951U (de) 1956-06-06 1956-06-06 Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen.

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1728951U (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE940066C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung paralleler Kanten an fest-stehendem oder durchlaufendem Gut, vorzugsweise bandfoermigem Gut
DE1728951U (de) Ableseeinrichtung fuer praezisionsteilungen.
DE2236489A1 (de) Vorrichtung zum messen der bewegung eines koerpers gegenueber einem anderen koerper
DE814177C (de) Skalenanordnung
DE947026C (de) Winkelmessgeraet
DE553796C (de) Anzeigevorrichtung mit Lichtzeiger
DE934436C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung aequidistanter in gegenseitigem Abstand variabler Streifen
DE388740C (de) Vektorinstrument
DE821426C (de) UEbertragungsmassstab
DE443530C (de) Messgeraet mit zwei Spiegeln, insbesondere zum Messen der Hoehe des Fahrdrahts elektrischer Bahnen
DE1267877B (de) Innenablesesystem fuer optische Geraete, insbesondere fuer Ophthalmometer
DE1673822A1 (de) Sekundenzeiger fuer Stoppuhren
CH197901A (de) Winkelmessinstrument.
AT207580B (de) Gerät zur Kartierung von koordinatenmäßig gegebenen Punkten
DE713954C (de) Einrichtung zur parallaxfreien Skalenablesung
DE340140C (de) Hilfsvorrichtung fuer Entfernungsmesser mit zwei umwechselbaren Basislaengen
DE1235007B (de) Winkelmessgeraet
DE842547C (de) Nonius
DE564013C (de) Ablesemikroskop, insbesondere fuer Vermessungsgeraete und Messmaschinen
DE1843021U (de) Pruefstueck fuer messgeraete.
DE1773931C3 (de) Optische Meßeinrichtung zur digitalen Anzeige zweier koinzidierender Meßstellen
DE672321C (de) Einrichtung zur Erleichterung des Ablesens bei in das gleiche Blickfeld gespiegelten, einander gegenueberliegenden Teilkreisteilen
DE1623223C3 (de) Autokollimator zur Messung der Relativlage von zwei Reflexen
DE745885C (de) Polarisationsfilterpaare als Ersatz fuer Skalenstrich und Zeigermarke bei Mess- und Anzeigegeraeten
AT244074B (de) Einrichtung zur Messung der Verschiebungsgröße eines beweglichen Teiles