DE1762795B2

DE1762795B2 - CIRCUIT ARRANGEMENT FOR REMOTE COMMUNICATION SYSTEMS WITH TEST CIRCUITS FOR INTERMEDIATE LINE TESTING

Info

Publication number: DE1762795B2
Application number: DE19681762795
Authority: DE
Inventors: Siegfried. Geißler Gunter 8000 München Thomasch
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1968-08-28
Filing date: 1968-08-28
Publication date: 1971-03-11
Also published as: NL6913106A; LU58395A1; BE732285A; NL156293B; DE1762795A1; AT299323B; CH498538A; GB1262113A; FR2019373A1

Description

Im Hauptpatent ist eine Schaltungsanordnung für Fernmeldevermittlungsanlagen erfaßt, die Prüfstromkreise aufweist, über die der Zustand von Zwischenleitungen eines Koppelfeldes vor einer Belegung der letzteren feststellbar ist. Hierzu wird an einem Ende einer zu prüfenden Zwischenleitung an deren Halteader ein sich von dem ihren Besetztzustand anzeigenden und über relativ niederohmige Widerstände wirksamen Potential unterscheidendes Prüfpotential hochohmig angeschaltet. An das andere Ende derselben Zwischenleitung, und zwar ebenfalls an deren Halteader, wird eine das hochohmig angeschaltete Prüfpotential auswertende Prüfschaltung angeschaltet. Es besteht nun die Aufgabe, eine derartige Schaltungsanordnung zur Suche eines durchzuschaltenden Verbindungsweges in einem vielstufigen Koppelfeld zu verwenden, wobei ein besonderes Wegesuchnetz, wie es sonst vielfach für die Suche von Verbindungswegen benutzt wird, nicht benötigt wird. Es ist zwar bereits bekannt, die Wegesuche ohne ein besonderes Wegesuchnetzwerk auszuführen (siehe z. B. deutsche Auslegeschriften 1 238 964 und 1 243 245). Es werden hierbei aber zum Teil außer den Halteadern auch die Ansprechadern benötigt. Die nachfolgend gezeigte Schaltungsanordnung für die Suche von Verbindungswegen ist von diesen einschränkenden Bedingungen frei. Dabei werden die Vorteile der im Hauptpatent erfaßten Schaltungsanordnung mit Prüf stromkreisen voll beibehalten, es wird nämlich z. B. die betreffende Zwischenleitung nicht nur auf ihren Zustand, ob frei oder belegt, geprüft, sondern auch in bezug auf die Funktionsfähigkeit ihrer Halteader. Ist die Halteader nicht unterbrochen, so kann in der Regel damit gerechnet werden, daß auch die übrigen zugehörigen Adern nicht unterbrochen sind.In the main patent, a circuit arrangement for telecommunications switching systems is recorded, the test circuits has, over which the state of intermediate lines of a switching network before an occupancy of the the latter is detectable. For this purpose, an intermediate line to be tested is attached to its holding wire at one end one of which indicates its occupied state and has relatively low resistance effective potential differentiating test potential switched on with high resistance. To the other At the end of the same intermediate line, also at its holding wire, one is switched on with high resistance Test circuit evaluating test potential switched on. There is now the task of such a Circuit arrangement for searching for a connection path to be switched through in a multi-stage To use switching matrix, with a special route search network, as it is otherwise often for the search used by connection paths is not required. It is already known how to find the way without running a special route search network (see e.g. German Auslegeschriften 1 238 964 and 1 243 245). In addition to the holding wires, some of the response wires are also required here. The circuit arrangement shown below for the search for connection paths is restrictive of these Conditions free. The advantages of the circuit arrangement covered in the main patent fully maintained with test circuits, namely it is z. B. the relevant intermediate line not only checked for their condition, whether free or occupied, but also with regard to functionality their holding headers. If the holding wire is not interrupted, it can usually be expected be that the other associated cores are not interrupted.

Die Erfindung geht also von einer Schaltungsanordnung für Fernmeldevermittlungsanlagen mit Prüfstromkreisen aus, über die der Zustand von Zwischenleitungen eines Koppelfeldes vor einer Belegung der letzteren feststellbar ist, wozu an einem Ende einer zu prüfenden Zwischenleitung an deren Halteadern ein sich von dem ihren Besetztzustand anzeigenden, über relativ niederohmige Widerstände wirksamen Potential unterscheidendes Prüfpotential hochohmig angeschaltet wird und an das andere Ende derselben Zwischenleitung ebenfalls an deren Halteader eine das hochohmig angeschaltete Prüfpotential auswertende Prüfschaltung angeschaltet wird, nach Patent 1276 116. Diese Schaltungsanordnung ist dadurch gekennzeichnet, daß sie unter fallweiser Anschaltung von Prüfpotential und Prüf schaltungen an jeweils für einen angeforderten Verbindungsweg in Frage kommende Koppelfeldteile zur Suche des durchzuschaltenden Verbindungsweges in einem vielstufigen Koppelfeld dient, dessen Wegeführung von den Koppelfeldeingängen und von den Koppelfeldausgängen fächerförmig über jeweils mindestens zwei Koppelstufen zu einer mittleren Koppelstufe führt, daß für die Wegesuche von Prüfschaltungen gefundene Auswerteergebnisse jeweils die Anschaltung von Prüfpotential an Zwischenleitungen, die jeweils in Richtung zur mittleren Koppelstufe hin versetzt sind, derartig mitbeeinflussen, daß dieses Prüfpotential nur an solche Zwischenleitungen angelegt wird, die ihrerseits von dem in Frage kommenden Koppelfeldeingang bzw. Koppelfeldausgang über belegbare Zwischenleitungen erreichbar sind, und daß der durchzuschaltende Verbindungsweg mittels einer Auswahl unter denjenigen Koppelvielfachen der mittleren Koppelstufe festgelegt wird, die an ihren Eingängen und Ausgängen angeschlossene Zwischenleitungen aufweisen, an denen das Prüfpotential auftritt und die daher belegbar sind.The invention is thus based on a circuit arrangement for telecommunications switching systems Test circuits, via which the state of intermediate lines of a switching network before an occupancy the latter can be determined, including at one end of a link to be tested at theirs Holding wires are one of their occupied state indicating, via relatively low resistance effective potential differentiating test potential is switched on with high resistance and to the other At the end of the same intermediate line, a high-resistance test potential is also connected to its holding wire evaluating test circuit is switched on, according to patent 1276 116. This circuit arrangement is characterized by the fact that it is Connection of test potential and test circuits to each for a requested connection path possible switching matrix parts to search for the connection path to be switched in a multi-level switching matrix is used, the routing of which is from the switching matrix inputs and from the Coupling network outputs fan-shaped over at least two coupling stages to a middle coupling stage leads that for the route search of test circuits found evaluation results in each case the connection of test potential on intermediate lines, each in the direction of the middle coupling stage are offset in such a way that this test potential is only applied to such intermediate lines which in turn depends on the switching matrix input or switching matrix output in question can be reached via assignable intermediate lines, and that the connection path to be switched through by means of a selection is set among those switching matrices of the middle switching stage, which have intermediate lines connected to their inputs and outputs to which the test potential occurs and which are therefore verifiable.

Es ist zwar bereits bekannt, einen durchzuschaltenden Verbindungsweg mittels einer Auswahl unter Koppelvielfachen einer einzigen Koppelstufe festzulegen, nämlich bei den bereits erwähnten bekannten Schaltungsanordnungen. Es ist außerdem bekannt, einen Verbindungsweg in Koppelfeldern mit fünf und mehr Koppelstufen festzulegen (s. Albis-Berichte, November 1967, S. 64/65, und deutsche Auslegeschrift 1262 361). Dort ist jedoch die gemäß der Erfindung mitbenutzte besonders günstige Methode nicht vorgesehen, lediglich Prüfstromkreise zu verwenden, die über die Halteader von Zwischenleitungen verlaufen, und außerdem dabei ein besonderes Wegesuchnetz völlig einzusparen.It is already known to select a connection path to be switched through by means of a selection under Establish switching matrices of a single switching stage, namely in the case of the known ones already mentioned Circuit arrangements. It is also known to have a connection path in switching matrices with five and determine more coupling levels (see Albis reports, November 1967, p. 64/65, and German interpretation 1262 361). However, there is the particularly favorable method also used according to the invention not intended to only use test circuits that are connected via the holding wires of intermediate lines run, and also completely save a special route search network.

Bei der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung ist vorgesehen, wie es an sich bereits bekannt ist, das Koppelfeld mit einer Wegeführung zu versehen, die von den Koppelfeldeingängen und von den Koppelfeldausgängen fächerförmig über jeweils mehrere Koppelstufen zu einer mittleren Koppelstufe führt. Eine derartige fächerförmige Wegeführung (s. Nachrichtentechnische Zeitschrift, 1965, S. 593 bis 597, insbesondere Bild 7) ist übrigens auch bei bekannten Koppelanordnungen mit sogenanntem Sternverhalten (s. deutsche Auslegeschrift 1262 361) vorhanden. Der Fachmann ist also ohne weiteres in der Lage, bei einer Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung eine derartige Wegeführung vorzusehen. In the circuit arrangement according to the invention it is provided, as is already known per se, to provide the switching matrix with routing from the switching matrix inputs and from the Coupling network outputs fan-shaped over several coupling stages to a middle coupling stage leads. Such a fan-shaped routing (see Nachrichtenentechnische Zeitschrift, 1965, p. 593 to 597, in particular Fig. 7) is also in known coupling arrangements with so-called Star behavior (see German interpretation 1262 361) available. The person skilled in the art is therefore readily able to provide such routing in a circuit arrangement according to the invention.

Dadurch, daß bei dieser Schaltungsanordnung Prüfpotential und Prüfschaltungen fallweise an jewails für einen angeforderten Verbindungsweg in Frage kommende Koppelfeldteile angeschaltet werden, ergibt sich, daß der Aufwand an Prüf schaltungen besonders gering ist, wie es an sich auch bereits bekannt ist (s. deutsche Auslegeschriften 1226165 und 1238 964).The fact that with this circuit arrangement test potential and test circuits are connected to each case on a case-by-case basis switching matrix parts that come into question for a requested connection path are switched on, it results that the cost of test circuits is particularly low, as it is already in itself is known (see German Auslegeschriften 1226165 and 1238 964).

Zur Durchschaltung des Verbindungsweges wird die zugehörige Ansprechader über dem Koppelfeldeingang, dem Koppelfeldausgang und dem ausgewählten Koppelvielfach der mittleren Koppelstufe zugeordnete Kontakte unter Strom gesetzt. Hierbei können den Koppelfeldeingängen bzw. Koppelfeldausgängen zugeordnete Kontakte durch solche vertreten sein, die vorgegebenen Gruppen von Koppelfeldeingängen bzw. Koppelfeldausgängen zugeordnet sind. In diesem Falle sind zur Beschränkung des Stromes auf die in Frage kommende Ansprechader zwischen den Koppelfeldeingängen bzw. Koppelfeldausgängen und der mittleren Koppelstufe weitere Kontakte vorzusehen, die nach Maßgabe der Gruppen und gegebenenfalls auch nach Maßgabe von Koppelvielfachen der mittleren Koppelstufe angeordnet sind und entsprechend zu betätigen sind. In diesem Fall läßt sich der Aufwand für die erwähnten Kontakte besonders klein halten, wie noch im einzelnen gezeigt werden wird.To switch through the connection path, the associated address wire is connected to the coupling field input, the switching matrix output and the selected switching matrix of the middle switching stage assigned contacts energized. The switching matrix inputs or switching matrix outputs assigned contacts be represented by those, the specified groups of switching matrix inputs or switching matrix outputs are assigned. In this case, to restrict the Current to the relevant contact wire between the switching matrix inputs or switching matrix outputs and the middle coupling stage to provide further contacts according to the groups and optionally also arranged in accordance with the switching matrices of the middle switching stage and are to be operated accordingly. In this case, the effort for the mentioned Keep contacts particularly small, as will be shown in detail.

Eine weitere Ersparnis an Aufwand läßt sich dadurch erzielen, daß die Koppelvielfache der mittleren Koppelstufe in Gruppen unterteilt sind und daß die Auswahl eines derartigen Koppelvielfachs zunächst die Gruppen betrifft, dann Untergruppen in der aus-A further saving in effort can be achieved in that the coupling multiples of the middle Switching stage are divided into groups and that the selection of such a switching matrix first affects the groups, then subgroups in the selected

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gewählten Gruppe und schließlich Koppelvielfache weges werden Prüfpotential und vorgesehene Prüf-the selected group and finally the coupling path, the test potential and the intended test

in der ausgewählten Untergruppe. schaltungen an jeweils für einen angeforderten Ver-in the selected subgroup. connections to each for a requested connection

Die Erfindung wird im einzelnen an Hand meh- bindungsweg in Frage kommende KoppelfeldteileThe invention will be described in detail on the basis of switching network parts that come into question

rerer Figuren erläutert. Davon zeigt angeschaltet. Diese Koppelfeldteile entsprechen aberrerer figures explained. Of which shows switched on. However, these switching matrix parts correspond

Fig. 1 ein Beispiel für ein in Frage kommendes 5 nicht den bereits erwähnten Teilkoppelfeldern. Hierfünf stufiges Koppelfeld; zu dienende Einrichtungen sind unter anderem in Fig. 1 shows an example of a possible 5 not the already mentioned sub-switching networks. Here five-stage switching network; Facilities to be served include in

Fig. 2 zeigt die erfindungsgemäße Schaltungs- . der Fig. 2 gezeigt und sind dort mit Sabc und Scde Fig. 2 shows the circuit according to the invention. of Fig. 2 and are there with Sabc and Scde

anordnung mit Prüf Stromkreisen für eine sich über bezeichnet. Diese F i g. 2 zeigt ferner den Verlaufarrangement with test circuits for a designated over. This F i g. 2 also shows the course

das Koppelfeld erstreckende Halteader; einer Halteader,- die zu einem Verbindungsweg ge-retaining strands extending through the switching matrix; a holding wire - which becomes a connection path

F i g. 3 zeigt an Hand einer Ansprechader, wie io hört, der vom Koppelfeldeingang T zum Koppelfeld-F i g. 3 shows on the basis of a response wire how io hears from the switching matrix input T to the switching matrix

diese zur Durchschaltung des Verbindungsweges ausgang R führt. In dieser Halteader sind in an sichthis leads to the connection of the connection path output R. This holding headers are in per se

unter Strom gesetzt werden kann; bekannter Weise (siehe z. B. deutsche Auslegeschriftcan be electrified; known way (see e.g. German Auslegeschrift

Fig. 4 zeigt eine Variante hierzu, bei der vor- 1048 956, Fig. 10) die Haltewicklungen von Kop-Fig. 4 shows a variant of this, in which pre- 1048 956, Fig. 10) the holding windings of coping

gegebenen Gruppen von Koppelfeldeingängen zu- pelrelais eingefügt, die zu Relaiskopplern gehören,given groups of coupling field inputs, added relays belonging to relay couplers,

geordnete Kontakte vorgesehen sind. 15 sowie Arbeitskontakte dieser Koppelrelais. DieseOrderly contacts are provided. 15 as well as working contacts of these coupling relays. These

An Hand der vorstehend angegebenen Figuren ist Haltewicklungen sind mit II Ka, ILKb, HKc, UKd ein Ausführungsbeispiel dafür gezeigt, wie die erfln- und II Ke bezeichnet. Die zugehörigen Kontakte sind dungsgemäße Schaltungsanordnung bei einem fünf- mit ka, kb, kc, kd, ke bezeichnet. In die Halteader stufigen Koppelfeld anzuwenden ist. Dieses in F i g. 1 eingefügte Vielf achschaltungszeichen weisen auf die gezeigte Koppelfeld weist die Koppelstufen v4, B, C, D 20 bei den Relaiskopplern vorhandenen Verzweigungen und E auf. Seine Wegeführung führt hier von den der Halteader hin. Das Vielf achschaltungszeichen i Koppelfeldeingängen, z. B. vom Koppelfeldeingang T, weist auf die Verzweigung von Zwischenleitungen und von den Koppelfeldausgängen, z. B. vom Kop- zwischen den Koppelstufen C und D hin. Ist ein pelfeldausgang R, fächerförmig über jeweils zwei Verbindungsweg zwischen dem Koppelfeldeingang T Koppelstufen, nämlich die Koppelstufen A und B 25 und dem Koppelfeldausgang R zu suchen, so wird bzw. D und E zur mittleren Koppelstufe C. Wegen z. B. durch einen hier nicht dargestellten zentralen dieser fächerförmigen Wegeführung besteht zwischen Markierer Prüfpotential und Prüfschaltungen mittels einem Koppelfeldeingang und einem Eingang eines der Anschalteeinrichtungen Sabc und Scde an die Koppelvielfaches der Koppelstufe C einerseits und Halteadern der Zwischenleitungen, zwischen den einem Koppelfeldausgang und einem Ausgang eines 30 Koppelstufen A und B bei der Koppelgruppe AB 1 Koppelvielfachs der Koppelstufe C andererseits je- und an die Zwischenleitungen zwischen den Koppelweils genau ein Weg (s. Nachrichtentechnische Zeit- stufen D und E bei der Koppelgruppe DEy angelegt, schrift, 1965, S.593). Ein derartiges Koppelfeld wird In der Fig. 2 sind von den hierzu erforderlichen auch als ein Koppelfeld mit Sternverhalten bezeich- Kontakten der Anschalteeinrichtungen Sabc und net (s. deutsche Auslegeschrift 1 262 361). Es kann 35 Scde jeweils nur die für eine dieser Zwischenleitundaher der durchzuschaltende Verbindungsweg mit- gen erforderlichen gezeigt. Das Vorhandensein der tels einer Auswahl unter Koppelvielfachen der übrigen Kontakte ist mit Hilfe von Vielfachschal-Koppelstufe C festgelegt werden. tungszeichen angedeutet. An die Halteader der inOn the basis of the figures given above, holding windings are shown with II Ka, ILKb, HKc, UKd, an embodiment of how the erfln- and II Ke are denoted. The associated contacts are the circuit arrangement according to the invention in the case of a five with ka, kb, kc, kd, ke . In the holding wire staged switching network is to be applied. This in FIG. 1 inserted multiple circuit symbols indicate the switching network shown has the switching stages v4, B, C, D 20 branches and E present in the relay couplers. Its routing leads here from that of the holding headers. The multiple circuit symbol i coupling field inputs, e.g. B. from the switching matrix input T, points to the branching of intermediate lines and from the switching matrix outputs, z. B. from Kop- between the coupling stages C and D out. If a field output R is to be searched in a fan shape over two connection paths between the coupling network input T coupling stages, namely the coupling stages A and B 25 and the coupling network output R , then D and E become the middle coupling stage C. B. through a central fan-shaped routing, not shown here, exists between the marker test potential and test circuits by means of a switching matrix input and an input of one of the connection devices Sabc and Scde to the coupling multiple of the switching stage C on the one hand and holding wires of the intermediate lines, between the one switching matrix output and one output of a 30 Coupling stages A and B in coupling group AB 1 switching matrix of coupling stage C on the other hand and exactly one path to the intermediate lines between the coupling points (see telecommunications time stages D and E created in coupling group DEy , Schrift, 1965, p.593) . Such a switching network is in the Fig. 2 are designated by the required therefor also as a switching network with star behavior contacts the Anschalteeinrichtungen Sabc and net (s. German Auslegeschrift 1,262,361). Only those required for one of these intermediate lines and therefore the connection path to be switched through can be shown in each case. The presence of the means of a selection under coupling multiples of the other contacts is to be determined with the help of multiple switching stage C. indicated. To the holding wires of the in

Das in F i g. 1 gezeigte Koppelfeld ist im einzelnen F i g. 2 gezeigten und zwischen den Koppelstufen A derart aufgebaut, daß an die Eingänge und an die 40 und B liegenden Zwischenleitung wird über den geAusgänge der Koppelvielfache der Koppelstufe C zeigten Kontakt das Prüfpotential +17 über den über Zwischenleitungen jeweils zweistufige Koppel- Widerstand Wab angelegt und über den gezeigten gruppen angeschlossen sind. Hierzu sind an die Ein- entsprechenden Kontakt die Prüf schaltung Xab angänge von Gruppen von Koppelvielfachen der mitt- geschaltet. In entsprechender Weise wird auch an leren Koppelstufe, wozu z. B. die Koppelvielfache 45 die in F i g. 2 gezeigte Halteader einer zwischen den Cl...Cp gehören, jeweils eine Gruppe von Koppel- Koppelstufen D und E liegenden Zwischenleitung gruppen über Zwischenleitungen angeschlossen. An das Prüfpotential +U über den Widerstand Wde die Koppelvielfache Cl.. .Cp sind dementsprechend angelegt und die Prüfschaltung Xde angeschaltet, die Koppelgruppen ABl .. . ABm in dieser Weise Die Widerstände Wab und Wde haben einen Widerangeschlossen. An die Ausgänge der Koppelvielfache 50 standswert, der groß gegenüber dem Widerstandsder Koppelstufe C sind ebenfalls Koppelgruppen an- wert der Haltewicklungen II der Koppelrelais ist. Ingeschlossen, zu denen die Koppelgruppen DEl... folgedessen kann sich das Prüfpotential auf eine DjEn und ferner unter anderem die Koppelgruppen Prüfschaltung nur dann hinreichend auswirken, wenn DEy gehören. Diese sind hier über eine Mischanord- die betreffende Halteader zu einer freien Zwischennung von Zwischenleitungen angeschlossen. Es treten 55 leitung gehört, also zu einer Halteader, die nicht vom bei diesen Zwischenleitungen Verzweigungen auf, auf Haltestrom für die Haltewicklungen geschlossen die mittels der Hinweiszeichen i hingewiesen ist. Die wird. In diesem Fall ist nämlich das Potential der Fig. 1 zeigt noch, daß das gesamte Koppelfeld in Halteader negativ, da dann ein Stromweg vom Teilkoppelfelder gegliedert ist, die mit T 1...Tq Koppelfeldausgang R über geschlossene Arbeitsbezeichnet sind. Diese Gliederung ergibt sich hier 60 kontakte von Koppelrelais zum Koppelfeldeingang T durch die Einteilung der Koppelvielfache der Kop- und über den in diesem Fall geschlossenen HaltepelsrufeC in Gruppen. Zum Teilkoppelfeld Tl ge- kontakt ti zu der am Potential — U liegenden hört dementsprechend unter anderem die Gruppe Klemme besteht. Ist die zur betreffenden Halteader der Koppelvielfache Cl.. .Cp. Die einzelnen Kop- gehörende Zwischenleitung dagegen frei, so besteht pelgruppen des Koppelfeldes haben an sich bekann- 65 ein derartiger Stromweg nicht, und es kann sich das ten Aufbau (s. deutsche Auslegeschrift 1 048 956, positive Prüfpotential + U über den betreffenden Spalte 1). Widerstand auf die Prüfschaltung derartig auswirken,The in Fig. 1 is shown in detail F i g. 2 and set up between the coupling stages A in such a way that the inputs and the intermediate lines 40 and B are connected to the test potential +17 via the two-stage coupling resistor Wab and via the intermediate lines are connected to the groups shown. For this purpose, the test circuit Xab inputs from groups of switching matrices are switched to the corresponding contacts. In a corresponding manner is also on leren coupling stage, including z. B. the switching matrix 45 shown in FIG. 2 holding wires shown belong to one between the Cl ... Cp, each having a group of coupling coupling stages D and E lying intermediate line groups connected via intermediate lines. The coupling matrices Cl .. .Cp are accordingly applied to the test potential + U via the resistor Wde and the test circuit Xde is switched on, the coupling groups ABl ... ABm in this way The resistors Wab and Wde have a re-connected. At the outputs of the coupling matrices 50 the value that is large compared to the resistance of the coupling stage C are also coupling groups equivalent to the holding windings II of the coupling relays. Including, to which the coupling groups DEl ... consequently, the test potential can only have a sufficient effect on a DjEn and further, inter alia, the coupling group test circuit if DEy belong. These are connected here via a mixing arrangement to the relevant holding wire to a free interposition of intermediate lines. There occur 55 line belonging, that is to a holding wire that does not branch off from these intermediate lines, closed to holding current for the holding windings, which is indicated by means of the reference symbol i. Which will. In this case, the potential of FIG. 1 still shows that the entire switching matrix is negative in holding wires, since a current path is then subdivided from the sub-switching matrices, which are denoted by T 1 ... Tq switching matrix output R via closed working. This structure results from 60 contacts from coupling relays to coupling field input T by dividing the coupling multiples of the head and, in this case, the holding pel calls C into groups. Correspondingly, among other things, the group Terminal exists belongs to the sub-switching network Tl ge contact ti to the one at the potential - U. Is the coupling matrix Cl .. .Cp. On the other hand, the individual heads belonging to the intermediate line are free, so there is pelgroups of the coupling field do not know such a current path, and the structure can be (see German Auslegeschrift 1 048 956, positive test potential + U above the relevant column 1 ). Resistance affects the test circuit in such a way that

Zur Suche eines durchzuschaltenden Verbindungs- daß sie anspricht. Eine derartige Prüfschaltung kannTo search for a connection to be switched through that addresses them. Such a test circuit can

ζ. B. aus einem Relais mit einem vorgeschalteten Verstärker bestehen.ζ. B. consist of a relay with an upstream amplifier.

Sind nun die Zwischenleitungen nicht belegt, an die die Prüf schaltungen Xab und Xde angeschaltet werden, so sprechen diese Prüfschaltungen an und bringen ihre Arbeitskontakte xab und xde in Arbeitslage. Hierdurch wird über weitere zu den Anschalteeinrichtungen Sabc und Scde gehörende und bereits vorher geschlossene Anschaltekontakte über die Widerstände Wbc und Wde Prüfpotential +U an Halteadern von Zwischenleitungen angelegt, die von den Koppelstufen B und D zur Koppelstufe C führen. Es sind dies nun gerade solche Zwischenleituhgen, die ihrerseits von dem Koppelfeldeingang T bzw. von dem Koppelfeldausgang R über belegbare Zwischenleitungen erreichbar sind, also über Zwischenleitungen, die bis jetzt noch frei sind. Es sind dies darüber hinaus einerseits solche Zwischenleitungen, die von Koppelvielfachen der Koppelstufe B bei der Koppelgruppe Abi in Richtung zur Koppelstufe C abgehen, und andererseits solche Zwischenleitungen, die von Koppelstufe D bei der Koppelgruppe DEy in Richtung zur Koppelstufe C abgehen. In dieser Weise beeinflussen von den Prüfschaltungen Xab, Xde ... gefundene Auswerteergebnisse die Anschaltung von Prüfpotential + U an Zwischenleitungen, die in Richtung zur mittleren Koppelstufe hin versetzt sind. Mit Hilfe der Prüf schaltungen Xab ..., die an solche Zwischenleitungen angeschaltet wurden, die von demjenigen Koppelvielfach der Koppelstufe A abgehen, das den Koppelfeldeingang T aufweist, wurden solche Koppelvielfache der Koppelstufe B bei der Koppelgruppe AB 1 gefunden, die vom Koppelfeldeingang T über belegbare, also freie Zwischenleitungen erreichbar sind. Mit Hilfe der Arbeitskontakte xab ... wird dann Prüfpotential + U an die von diesen Koppelvielfachen in Richtung zur Koppelstufe C führenden Zwischenleitungen angelegt. In völlig analoger Weise wird Prüfpotential + U mit Hilfe von Arbeitskontakten xde... an vom Koppelfeldausgang R über belegbare Zwischenleitungen erreichbare Zwischenleitungen angelegt, die ihrerseits noch belegbar sind und zu Koppelvielfachen der Koppelstufe C von der Koppelstufe D aus hinführen.If the intermediate lines to which the test circuits Xab and Xde are connected are not used, these test circuits respond and bring their working contacts xab and xde into working position. As a result, test potential + U is applied to holding wires of intermediate lines via the resistors Wbc and Wde, which lead from the coupling stages B and D to the coupling stage C , via further connecting devices Sabc and Scde that have already been closed. These are just those Zwischenleituhgen, which in turn can be reached from the switching matrix input T or from the switching matrix output R via assignable intermediate lines, that is, via intermediate lines that are free up to now. There are also those intermediate lines on the one hand that branch off from switching multiples of switching stage B in coupling group Abi in the direction of coupling stage C, and on the other hand those intermediate lines that branch off from switching stage D in coupling group DEy in the direction of switching stage C. In this way influence from the test circuits Xab, Xde ... Evaluation results found the connection of test potential + U to intermediate lines that are offset in the direction of the middle coupling stage. With the help of the test circuits Xab ..., which were connected to those intermediate lines that originate from the switching matrix of the switching stage A that has the switching matrix input T , such switching matrices of the switching stage B were found in the switching group AB 1, which from the switching matrix input T via assignable, i.e. free intermediate lines can be reached. With the help of the working contacts xab ... test potential + U is then applied to the intermediate lines leading from these coupling matrices in the direction of the coupling stage C. In a completely analogous manner, test potential + U is applied with the help of normally open contacts xde ... to intermediate lines that can be reached from the switching matrix output R via assignable intermediate lines, which in turn can still be assigned and lead to the coupling multiples of the switching stage C from the switching stage D.

Nach Abschluß dieser Vorgänge liegt an den Halteadern derjenigen Zwischenleitungen, die vom Koppelfeldeingang T und vom Koppelfeldausgang R erreichbar sind, die noch belegbar sind und die zu Koppelvielfachen der Koppelstufe C hinführen, das Prüf potential +U. Es wird z. B. zu einer solchen Halteader über den Arbeitskontakt xab über die Anschalteinrichtung Sabc und über den Widerstand Wbc angelegt. Zur Auswertung dieses gegebenenfalls an zu den Koppelvielfachen der Koppelstufe C hinführenden Zwischenleitungen auftretenden Prüfpotentials + U dienen nun UND-Glieder, von denen das UND-Glied V in Fig. 2 gezeigt ist. Diese UND-Glieder sind jeweils einem Koppelvielfach der Koppelstufe C zugeordnet und einerseits über Entkoppelgleichrichter G an die Halteadern von Zwischenleitungen angeschlossen, die zum betreffenden Koppelvielfach von der Koppelstufe B aus hinführen, und andererseits über Entkoppelgleichrichter G an Halteadern von Zwischenleitungen angeschlossen, die an das betreffende gleiche Koppelvielfach von der Koppelstufe D aus hinführen. Diese Anschlußweise an jeweils mehrere Halteadern von Zwischenleitungen ist mit Hilfe der Vielfachschaltungszeichen vb und ve angedeutet. An die Ausgänge der UND-Glieder, also auch des UND-Gliedes U, sind Prüfschaltungen angeschlossen, die ähnlich wie die bereits behandelten Prüfschaltungen arbeiten. An das UND-Glied U ist die Prüfschaltung Xc angeschlossen, welche einen Arbeitskontakt betätigt, der in die in F i g. 3 gezeigte Ansprechader eingefügt ist und mit xc bezeichnet ist. Auf Grund der bereitsAfter these processes have been completed, the holding wires of those intermediate lines which can be reached from the switching matrix input T and the switching matrix output R , which can still be assigned and which lead to the coupling multiples of the switching stage C, have the test potential + U. It is z. B. applied to such a holding wire via the normally open contact xab via the switching device Sabc and via the resistor Wbc . For evaluation of this occurring Prüfpotentials optionally substituted on afferent to the switching matrices of the coupling stage the intermediate lines C + U AND gates, of which the AND gate V is shown in Fig. 2 are now used. These AND elements are each assigned to a coupling matrix of the coupling stage C and are connected on the one hand via decoupling rectifiers G to the holding wires of intermediate lines that lead to the relevant switching matrix from the coupling stage B , and on the other hand connected via decoupling rectifiers G to holding wires of intermediate lines that are connected to the relevant Lead the same switching matrix from the switching stage D out. This type of connection to several holding wires of intermediate lines is indicated with the aid of the multiple circuit symbols vb and ve. Test circuits are connected to the outputs of the AND elements, including the AND element U, which operate in a similar way to the test circuits already discussed. The test circuit Xc is connected to the AND element U and actuates a normally open contact which is in the form shown in FIG. 3 is inserted and denoted by xc. Because of the already

ίο beschriebenen Vorgänge tritt nur bei solchen UND-Gliedern das Prüfpotential an beiden Eingängen auf, deren zugeordnete Koppelvielfache der Koppelstufe C über jeweils mindestens eine Zwischenleitung vom Koppelfeldeingang T aus erreichbar und über jeweils mindestens eine Zwischenleitung vom Koppelfeldausgang R aus erreichbar sind, wobei es sich um Zwischenleitungen handelt, die unmittelbar an das betreffende Koppelvielfach angeschlossen sind. Die Prüfschaltungen Xc gehören nun in an sich bekannter Weise zu einer Auswahlschaltung (siehe z. B. deutsche Auslegeschrift 1 238 964, Fig. 2), was zur Folge hat, daß nur einer der erwähnten zu diesen Prüfschaltungen gehörenden Arbeitskontakte betätigt wird, auch wenn mehreren dieser Prüfschaltungen über ihnen vorgeschaltete UND-Glieder das Prüfpotential + U zugeführt wird. Durch diese Auswahl wird zugleich einer von mehreren freien gefundenen Verbindungswegen zwischen dem Koppelfeldeingang T und dem Koppelfeldausgang R ausgewählt und auch eindeutig festgelegt. Die Suche des durchzuschaltenden Verbindungsweges ist damit beendet. The processes described only occur with those AND gates the test potential at both inputs, whose assigned switching matrices of the switching stage C can be reached via at least one intermediate line from the switching matrix input T and can be reached via at least one intermediate line from the switching matrix output R , whereby these are Intermediate lines are involved that are directly connected to the switching matrix in question. The test circuits Xc now belong in a manner known per se to a selection circuit (see e.g. German Auslegeschrift 1 238 964, Fig. 2), with the result that only one of the mentioned make contacts belonging to these test circuits is actuated, even if the test potential + U is supplied to several of these test circuits via AND gates connected upstream of them. This selection simultaneously selects one of several free connection paths found between the switching matrix input T and the switching matrix output R and also clearly defines it. The search for the connection path to be switched through is thus ended.

Vielfach ist die Anzahl von Koppelvielfachen in der Koppelstufe C recht groß, so daß es sich empßehlt, den Aufwand an Prüfschaltungen bei dieser Koppelstufe herabzusetzen. Hierzu werden die Koppelvielfache der mittleren Koppelstufe in Gruppe unterteilt. Die Auswahl eines derartigen Koppelvielfachs betrifft dann zunächst die Gruppen, danach eventuell auch Untergruppen in der ausgewählten Gruppe und dann erst Koppelvielfache in der ausgewählten Untergruppe. Es handelt sich dabei um die Maßnahme, die Auswahl in mehreren Abschnitten vorzunehmen, wie sie an sich bereits bekannt istIn many cases, the number of switching matrices in the switching stage C is quite large, so that it is advisable to reduce the cost of test circuits in this coupling stage. For this purpose, the Switching matrices of the middle switching stage divided into groups. The selection of such a matrix then affects the groups first, then possibly also subgroups in the selected one Group and then switching matrices in the selected subgroup. It's about the measure of making the selection in several sections, as is already known per se

(s. deutsche Auslegeschriften 1042 034, 1047 857, 1060 919). Zweckmäßigerweise wird dabei die bereits vorgesehene Einteilung der Koppelvielfache der mittleren Koppelstufe C in Gruppen im Zusammenhang mit den Teilkoppelfeldern Tl.. .Tq als Einteilung in Gruppen für die Auswahl mitbenutzt. Bei dem im Koppelfeld gemäß Fig. 1 ist dabei sogar wegen seines dort gezeigten Aufbaues eine Auswahl unter diesen Gruppen nicht erforderlich, da für einen Verbindungsweg von vornherein jeweils nur solche Koppel vielfache der Koppelstufe C in Frage kommen, die zum selben Teilkoppelfeld gehören. So kommen z. B. für einen Verbindungsweg, der zum Koppelfeldeingang T führt, offensichtlich nur die Koppelvielfache Cl... Cp in Frage.(see German regulations 1042 034, 1047 857, 1060 919). Appropriately, the already provided division of the switching matrices of the middle switching stage C into groups in connection with the sub-switching matrices Tl .. .Tq is also used as a division into groups for the selection. In the switching network according to FIG. 1, a selection from these groups is not necessary because of the structure shown there, since only those coupling multiples of the switching stage C that belong to the same sub-switching network are suitable for a connection path from the outset. So come z. B. for a connection path that leads to the switching matrix input T , obviously only the switching matrix Cl ... Cp in question.

In Fig. 3 ist der Verlauf derjenigen Ansprechader gezeigt, die der in F i g. 2 gezeigten Halteader zugeordnet ist. In diese Ansprechader sind in an sich bekannter Weise (s. deutsche Auslegeschrift 1048 956, Fig. 6) die Ansprechwicklungen der zu den verwendeten Relaiskopplern gehörenden Koppelrelais eingefügt. Sie sind mit IKa, 1Kb, IKc, IKd, IKe bezeichnet. Außerdem sind in an sich bekannter Weise zu den Relaiskopplern gehörende Entkoppelgleich-In FIG. 3, the course of that response artery is shown which corresponds to the one shown in FIG. 2 is assigned the holding wire shown. The response windings of the coupling relays belonging to the relay couplers used are inserted into this response wire in a manner known per se (see German Auslegeschrift 1048 956, Fig. 6). They are labeled IKa, 1Kb, IKc, IKd, IKe . In addition, in a manner known per se, the decoupling equalizers belonging to the relay couplers

Claims

judge added. In. F i g. 3 are finally just like in FIG. 2 multiple circuit symbols are shown, which indicate the branches in the relay couplers. On the basis of the connection request for a connection between the switching matrix input T and the switching matrix output R, the contact il assigned to the switching matrix input T and the contact r assigned to the switching matrix output R are initially closed with the aid of a marker (not shown). After the selection from the free connection paths found, the contact xc inserted at coupling stage C is closed. It belongs to contacts which are inserted into the response wires of the intermediate lines leading from the switching stage D to the switching stage C to the selected switching matrix of the switching stage C and which are closed at the same time when this switching matrix is selected. Since only a single connection path leads from the switching matrix input T to the switching matrix output R via this switching matrix, only the response windings of the coupling relays of the various relay couplers that switch this connection path are energized by closing these contacts, including contact xc. These coupling relays respond and operate their normally open contacts, which are shown in FIG. 2 are shown, whereby the associated holding wires are energized and whereby the associated intermediate lines are blocked against further assignment / The contacts il, r and xc can then be opened again, since it is sufficient to maintain the connection path if the holding windings of the associated coupling relays are energized. In an arrangement as shown in FIG. 3, in order to switch through the connection path, the associated response wire is energized, inter alia, via the switching matrix input T and the switching matrix output R, individually assigned contacts. These individually assigned contacts can also be represented by those that are assigned to predetermined groups of switching matrix inputs or switching matrix outputs. How this representation can be made in connection with switching network inputs is shown by means of FIG. Instead of the contact il, the contact mil is provided, which, as indicated by the multiple circuit symbol m, is common to the switching groups AB 1 ... AB m and is assigned to all those switching matrix inputs that are at the same point in all of these switching groups. To limit the current that is required for the coupling relay to respond to the relevant response wires between the coupling field inputs and the middle coupling stage, additional contacts must then be provided, which are arranged according to the groups and actuated accordingly. Such contacts could e.g. B. be inserted into the intermediate lines lying between the coupling stages B and C. Of these contacts, only those who belong to intermediate lines would then have to be actuated, which originate from that switching group to which the switching matrix input to be connected belongs. If the number of intermediate lines lying between the coupling stages B and C is small compared to the number of coupling field inputs, this measure allows savings to be made in terms of communication effort and control lines, etc. This measure can also be further developed in that the further contacts mentioned are also arranged in accordance with the coupling multiples of the central coupling stage and are actuated accordingly. This is also shown in FIG. 4 shown. It is also taken into account there that in this case the addressees, which run between the coupling stage B and the coupling stage C, can be combined in groups. This is indicated by the multiple circuit symbols jb and je, beyond which the additional connection contacts tx and xi are located. In the case of the multiple circuit symbol jb, the response wires of those intermediate lines which lead from the switching stage B to the switching stage C in the same sub-switching network are largely combined. In the case of multiple circuit symbols ever, this summary is partially reversed. The function of the otherwise existing individual holding wires is also taken over by the contact contacts to which the contact xc belongs. In any case, the use of such a technique results in the number of those wires into which contacts are inserted that are to be actuated according to the route search result so that the response wires belonging to the connection route found are energized is considerably reduced. The reduction in the number of these wires and thus the associated contacts means a reduction in effort and is therefore advantageous. The technique of reducing the number of these cores and the associated contacts can also be used if the route search result is obtained in a different way than that specified above. Appropriately, this new technology is adapted to the given configuration of the switching matrix.: - * ::: u ^ '\ 4, ° ".

1.Circuit arrangement for telecommunications switching systems with test circuits, via which the state of intermediate lines of a switching network can be determined before the latter is occupied, including a potential that differs from that which indicates its occupied state and is effective via relatively low resistance at one end of an intermediate line to be tested on its holding wire Test potential is switched on with high resistance and at the other end! Of the same intermediate line, also on the holding wire of which a test circuit evaluating the high resistance test potential is switched on, according to Patent 1276116, characterized in that it (with the occasional connection of test potential (+ U) and test circuits to each Switching matrix parts that come into question for a requested connection path are used to search for the connection path to be switched through in a multi-level switching matrix (ABCDE), the routing of which is routed from the switching matrix inputs (e.g. Γ) and from the switching matrix outputs (ζ. Β. R) fan-shaped over at least two coupling stages (A, B; D, E) leads to a middle coupling stage (C), that evaluation results found for the route search of test circuits (Xab, Xde)

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the connection of test potential (+ U) to ■:; Intermediate lines, which are each offset in the direction of the middle coupling stage (C); influence in such a way (via contacts xab, xde) that this test potential is only applied to intermediate lines which in turn can be reached from the relevant switching matrix input (T) or switching matrix output (R) via assignable intermediate lines, and that the connection path to be switched ίο (TR) is determined by means of a selection among those switching matrices of the middle switching stage (C) which have intermediate lines connected to their inputs and outputs ^ on which the test potential occurs and which can therefore be assigned. -

2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that two-stage coupling groups (ABl ... ABm, ...; DEl ... DEn,. ,.) are connected.

3. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that a group of coupling groups (ABl ... ABm) is connected via intermediate lines to the inputs of a group (Cl ... Cp) of switching matrices of the middle switching stage (C).

4. Circuit arrangement according to claim 1 or 2, characterized in that the relevant provided coupling groups (DEl ... DEn, ...) are connected to the outputs of the switching matrices of the middle switching stage (C) via a mixed arrangement of intermediate lines.

5. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that for the search for a connection path test potential ■ (+ U) and .Prüft: circuits (Xab, Xde) each only to the two; Coupling groups (/ 4Bl, DEy) are switched on, which have the switching matrix input to be connected (Γ) or the switching matrix output (R) to be connected, jj

6. Circuit arrangement according to one of the preceding claims, characterized in that for switching through the connection path the associated response wires via the switching matrix input (T), the switching matrix output (R) and the selected switching matrix of the middle switching stage (C) associated contacts (t, r, xc ) energized. _:

7. Circuit arrangement according to claim 6, characterized in that the switching matrix inputs or contacts assigned to switching matrix outputs are represented by those, the specified groups of switching matrix inputs or switching network outputs are assigned, and that to limit the current to the in Question coming address wires between the switching matrix inputs or switching matrix outputs and the middle coupling stage (C) further contacts are provided according to the Groups and possibly also in accordance with the switching multiples of the middle switching stage (C) are arranged and operated accordingly. . .;

8. Circuit arrangement according to one of the preceding claims, characterized in that that the switching matrices of the middle switching stage are divided into groups and that the selection of such a matrix first affects the groups, then subgroups in the selected group and ■ finally switching matrices in the selected Subgroup. '.' - ■; ■■

1 sheet of drawings