DE1473681A1 - Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen Materialien - Google Patents
Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen MaterialienInfo
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Description
- Verfahren zur optischen Fehlersuche, besonders an großflächigen Materialien Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur optischen Fehlersuche, inabesondere an blattförmigen Materialien, vorzugsweise photographischen Filmen unter Verwendung von Laserstrahlen.
- Bei den bekannten Verfahren zur optischen Fehlerauche wird das zu prüfende Material mit Lichtstrahlen abgetastet und die an den Fehlstellen auftretende Streustrahlung registriert.
- Trotz der prinzipiellen Eignung dieses Verfahrens ist die praktische Antendbarkeit begrenzt, da relativenergiereiche Lichtquellen erforderlich sind, um eine Streustrahlung adsreichender Intensität zu erhalten. Immerhin bleibt das Verfatxrin auf die Erkennbarkeit relativ großer Fehler beschränkt. Außerdem ist eine Fokussierung auf kleine Flächen nur mit relativ großer Apertur des Strahlenbündels möglich. Dadurch wird eine Abtastung großer Flächen mit einem fokussierten Lichtstrahl sehr schwierig, hohe Abtastgeschwindigkeiten sind nicht zu erreichen.
- Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Verfahren zur optischen Fehlersuche aufzufinden, die die oben genannten Bachteile der konventionellen Verfahren nicht besitzen.
- Es wurde nun überraschender Weise gefunden, daß eine außerordentlich genaue und schnelle Prüfung blattförmiger Materialien auf oberflächliche Fehler nach dem bekannten Prinzip möglich ist, wenn als Lichtquelle bei der Abtastung Laser benutzt werden. Geeignet sind kontinuierlich arbeitende Laser, und zwar sowohl Gaslaser als auch Festkörperlaser z. B.
- Helium-Neon-Laser oder Neodym-Laser.
- Das erfindungsgemäße Verfahren kann in der folgenden Weiße durchgeführt werden. Wie in Abbildung 1 dargestellt, wird das Laser-Lichtbündel, dessen Apertur sehr gering ist (Größenordnung 1 Bogenminute) mittels des Lasers (1) erzeugt und gegebenenfalls über eine langbrennweitige Linse (2) und einen rotierenden Spiegel oder ein rotierendes Prisma (3) auf die abzutastende Filmprobe (4) gerichtet. Selbst bei langen Lichtwegen, z.B. von einigen Metern, ist der Durchmesser des Licht fleckes auf der Probe sehr klein ( rJ mm2), dadurch wird die an Fehlern gestreute Lichtintensität groß. Es lassen sich Abtastgeschwindigkeiten des Lichtflecks auf dem Pilm von mehr als 100 m/sec erreichen, so daß z.B. bei einer Lichtfleckgröße von 1 mm2 und einer Breite der Filmbahn von 1 m in jeder Sekunde lo cm der gesamten Filmbahn lückenlos auf Fehler abgetastet werden können. Sie in Abbildung 2 dargestellt, kann das an der Fehlstelle (5) gestreute Licht durch eine geeignete Leitvorrichtung, wie einen totalreflektierenden Keil, z.B. aus Plexiglas oder Lichtleiter von dem zu untersuchenden Film zu dem Meßelement (7> geleitet werden.
- Für diese Zwecke ist praktisch jede Photozelle geeigneter spektraler Empfindlichkeit geeignet. Auf Grund der hohen Meßgeschwindigkeiten wird bevorzugt ein Sekundärelektronenvervielfacher verwendet.
- Mit der erfindungsgemäßen Methode können auch kleinste Fehler (Größenordnung o,i mm) über die ganze Filmbreite sicher ers kannt werden.
- Das erfindungsgemäße- Verfahren ist geeignet zur laufenden Produktionskontrolle photographischer Materialien, und zwar sowohl Aufnahme-, als auch Kopiermaterialien. Selbstverständlich muß in diesen Falle das zu messende Licht eine solche Wellenlänge besitzen, fur die das photographischer Material nicht empfindlich ist. Im wesentlichen handelt es sich dabei um ultrarotes Licht ; bevorzugt wird Licht aus des Bereich @ > ot verwendet. Die Durchlässigkeit des Lichtleiters und die spektrale Empfindlichkeit der Photozelle müssen dann dieser Wellenlänge angepaßt werden.
Claims (2)
- PatentansprAches 0 Verfahren zur optischen Fehlersuche an blattförmigen Materialien durch Abtastung des zu messenden Materials mit Licht und Registrierung des an den Fehlstellen gestreuten Lichtes, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtquelle ein kontinuierlich arbeitender Laser benutzt wird.
- 2. Verfahren zur optischen Fehlersuche an photographischen lichtempfindlichen Materialien durch Abtastung des zu messenden Materials mit Licht und Registrierung des an den Fehlstellen gestreuten Lichtes, dadurch gekennzeichnet, daß das zu prüfende photographische Material durch Laser Strahlen aus dem ultraroten Spektralgebiet abgetastet wird, wobei die Meßstrahlen durch einen kontinuierlich arbeitenden Laser erzeugt und gegebenenfalls über eine langbrennweitige Linse und einen rotierenden Spiegel oder rotierendes Prisma auf das zu messende Material geleitet werden und die an den Fehlstellen entstehende Streustrahlung mittels eines lichtleitenden Elementes einer Photozelle zugeleitet und dort registriert wird.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEA0050802 | 1965-11-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1473681A1 true DE1473681A1 (de) | 1969-02-06 |
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ID=6937591
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| DE19651473681 Pending DE1473681A1 (de) | 1965-11-17 | 1965-11-17 | Verfahren zur optischen Fehlersuche,besonders an grossflaechigen Materialien |
Country Status (3)
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|---|---|
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| NL (1) | NL6616121A (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4768878A (en) * | 1985-09-09 | 1988-09-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Test arrangement for non-contacting identification of defects in non-structured surfaces |
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1965
- 1965-11-17 DE DE19651473681 patent/DE1473681A1/de active Pending
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|---|---|---|---|---|
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| BE689709A (de) | 1967-05-16 |
| NL6616121A (de) | 1967-01-25 |
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