DE1214783C2 - Laseroszillator oder -verstaerker mit einem fabry-perot-resonator - Google Patents
Laseroszillator oder -verstaerker mit einem fabry-perot-resonatorInfo
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- DE1214783C2 DE1214783C2 DE19651214783 DE1214783A DE1214783C2 DE 1214783 C2 DE1214783 C2 DE 1214783C2 DE 19651214783 DE19651214783 DE 19651214783 DE 1214783 A DE1214783 A DE 1214783A DE 1214783 C2 DE1214783 C2 DE 1214783C2
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- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 64
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 45
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 32
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 19
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 17
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 6
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 6
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 6
- 230000006798 recombination Effects 0.000 claims description 6
- 238000005215 recombination Methods 0.000 claims description 6
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 4
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 2
- 241000931526 Acer campestre Species 0.000 claims 2
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 claims 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 11
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 11
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 229910000967 As alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000846 In alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 101150049168 Nisch gene Proteins 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 210000004709 eyebrow Anatomy 0.000 description 1
- VTGARNNDLOTBET-UHFFFAOYSA-N gallium antimonide Chemical compound [Sb]#[Ga] VTGARNNDLOTBET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002594 sorbent Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 210000002435 tendon Anatomy 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000005472 transition radiation Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005314 uranium glass Substances 0.000 description 1
- JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N uranium(0) Chemical compound [U] JFALSRSLKYAFGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
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-
- G—PHYSICS
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- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F3/00—Optical logic elements; Optical bistable devices
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- G02F3/026—Optical bistable devices based on laser effects
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0601—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium comprising an absorbing region
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
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Description
■.'.'■ 3 4 .
gibt. Wenn jedoch der Maser durch Anlegen eines niveaus' angehoben werden, wenn die Intensität der
starken Signalimpulses zur Strahlung auf höhere einfallenden Welle einen bestimmten Schwellenwert
Energieniveaus angeregt wird, so tritt in dem absor- übersteigt. Diese als Streuzentren wirkenden Elekbierenden
Kristall eine Sättigung der Absorptions- tronen besitzen in dem Falle einen relativ sehr
Zentren ein, und der Schwingungszustand bleibt er- 5 kleinen Wirkungsquerschnitt für die Absorption einhalten,
treffender Photonen, wenn sie sich bereits in diesen
Diese bekannte Anordnung unterscheidet sich von angeregten Zuständen befinden, so daß die Photonen
der eingangs beschriebenen dadurch, daß die Wellen- im wesentlichen hindurchgelangen können. Im ur-
länge des induziert emittierenden Übergangs nicht im sprünglichen Zustand hingegen besitzen diese Elek-
sichtbaren Bereich, sondern im Mikrowellenbereich io tronen einen hohen Wirkungsquerschnitt für ein-
des elektromagnetischen Spektrums liegt. Auf die fallende Photonen. Kurz gesagt, die optische Dichte
Möglichkeit ein logisches Element mit Hilfe eines eines Absorbermediums wird herabgesetzt, wenn sich
Lasers herzustellen, ist in diesem Aufsatz bereits die Elektronen in höheren Energiezuständen befin-
hingewiesen. den. Die Durchlässigkeit eines solchen Absorbers
Die vorgenannte neue Aufgabe wird bei einer An- 15 bleibt weiterhin in voller Höhe erhalten, solange die
Ordnung der eingangs beschriebenen Art auf tech- Intensität der einfällenden Welle ausreicht, um die
nisch fortschrittliche Weise dadurch gelöst, daß zum meisten Elektronen in diesen höheren Energieniveaus
multistabilen Laserbetrieb — d. h. zum Austritt zu halten, wobei berücksichtigt werden muß, daß in
von Laserstrahlen in jeweils eine von mehreren bestimmtem, wenn auch geringem Maße, Rekombiunterschiedlichen,
vorbestimmten, in einer Ebene 20 nation stattfindet. , . liegenden Richtungen — ein parallel zu der durch Der oben beschriebene Laseroszillator oder -verdie
Richtungen der Laserstrahlen gegebenen Ebene stärker kann bei entsprechender Vorspannung in
liegender Querschnitt des Strahlers die Gestalt eines Vorwärtsrichtung am PN-Übergang der als nichtregelmäßigen
Vielecks mit jeweils gegenüberliegenden linearer Absorber dienenden Halbleiterdiode durch
parallelen Seitenflächenpaaren aufweist, von denen 25 Lichteinwirkung, oberhalb eines bestimmten Schweljeweils
die eine Seitenfläche teilweise reflektierend lenwertes auf eine zur PN-Ubergangsebene senkrecht
und die andere durchlässig ausgebildet ist, daß den liegende Seitenfläche aus dem Zustand hohen Abdurchlässig
ausgebildeten Seitenflächen als umschalt- Sorptionsvermögens in den Zustand geringen Abb.arer
nichtlinearer Absorber jeweils eine Halbleiter- Sorptionsvermögens geschaltet werden. Die Halbdiode
zugeordnet ist, deren PN-Übergang in einer 30 leiterdiode ist durch einen Impuls in Sperrrichtung
Ebene senkrecht zu den genannten Seitenflächen des PN-Übergangs wieder in den Zustand hohen
liegt und in Flußrichtung über gleichzeitig zur Zu- Absorptionsvermögens zurückschaltbar,
führung von : elektrischen Umschaltimpulsen zur Der Zusammenbau des oben beschriebenen Laser-Änderung des Absorptionsvermögens dienende Flä- Oszillators oder -Verstärkers kann in einfacher Weise chenelektroden nur so weit vorgespannt ist, daß ein 35 dadurch erfolgen, daß der als Strahler dienende im nichtstrahlenden Zustand vernachlässigbarer In- Kristall aus aktivem Laserwerkstoff und die als Abjektionsstrom fließt und die Halbeiterdiode sich im sorber dienenden Halbleiterdioden miteinander ver-Zustand hoher Absorption befindet, daß des weite- kittet sind. Ein besonders einfacher und vorteilhafter ren die Halbleiterdiode wahlweise durch Anlegen Aufbau ergibt sich dadurch, daß ein als Strahler dievon Lichtenergie und/oder elektrischer Energie ober- 40 nender, in Vorwärtsrichtung vorgespannter Halbhalb eines bestimmten Schwellenwertes in den Zu- leiterlaser und jeweils die als Absorber dienende stand geringen Absorptionsvermögens schaltbar ist Halbleiterdiode aus einem einzigen Halbleiterkörper (strahlender Zustand), daß die den durchlässig aufgebaut sind, dessen eine Zone in einem Oberausgebildeten Seitenflächen des Strahlers abge- flächenbereich entartet dotiert ist. Die Trennung zwiwandten, parallel gegenüberliegenden Seitenflächen 45 sehen Strahlerteil und jeweiligem Absorberteil erfolgt der Halbleiterdioden völlig reflektierend ausgebildet durch einen Einschnitt, dessen Tiefe größer oder sind und daß jeweils ein weiterer stabiler Zustand gleich der Dicke der entartet dotierten Zone ist; durch die Umschaltung einer Halbleiterdiode in den den beiden so gebildeten Oberflächenbereichen ist je Zustand niedrigen Absorptionsvermögens vorhan- eine Flächenelektrode zugeordnet. In vorteilhafter den ist. 50 Weise werden als Halbleitermaterialien dotierte
führung von : elektrischen Umschaltimpulsen zur Der Zusammenbau des oben beschriebenen Laser-Änderung des Absorptionsvermögens dienende Flä- Oszillators oder -Verstärkers kann in einfacher Weise chenelektroden nur so weit vorgespannt ist, daß ein 35 dadurch erfolgen, daß der als Strahler dienende im nichtstrahlenden Zustand vernachlässigbarer In- Kristall aus aktivem Laserwerkstoff und die als Abjektionsstrom fließt und die Halbeiterdiode sich im sorber dienenden Halbleiterdioden miteinander ver-Zustand hoher Absorption befindet, daß des weite- kittet sind. Ein besonders einfacher und vorteilhafter ren die Halbleiterdiode wahlweise durch Anlegen Aufbau ergibt sich dadurch, daß ein als Strahler dievon Lichtenergie und/oder elektrischer Energie ober- 40 nender, in Vorwärtsrichtung vorgespannter Halbhalb eines bestimmten Schwellenwertes in den Zu- leiterlaser und jeweils die als Absorber dienende stand geringen Absorptionsvermögens schaltbar ist Halbleiterdiode aus einem einzigen Halbleiterkörper (strahlender Zustand), daß die den durchlässig aufgebaut sind, dessen eine Zone in einem Oberausgebildeten Seitenflächen des Strahlers abge- flächenbereich entartet dotiert ist. Die Trennung zwiwandten, parallel gegenüberliegenden Seitenflächen 45 sehen Strahlerteil und jeweiligem Absorberteil erfolgt der Halbleiterdioden völlig reflektierend ausgebildet durch einen Einschnitt, dessen Tiefe größer oder sind und daß jeweils ein weiterer stabiler Zustand gleich der Dicke der entartet dotierten Zone ist; durch die Umschaltung einer Halbleiterdiode in den den beiden so gebildeten Oberflächenbereichen ist je Zustand niedrigen Absorptionsvermögens vorhan- eine Flächenelektrode zugeordnet. In vorteilhafter den ist. 50 Weise werden als Halbleitermaterialien dotierte
Die multistabile Betriebsweise wird dabei so ver- intermetallische Verbindungen der Gruppen Ani-Bv
standen, daß der Laseroszillator oder -verstärker, sei und An-Bv verwendet, insbesondere Galliumarsenid,
es durch elektrische Impulse, sei es durch Licht- dessen N-leitende Zone durch Dotieren mit Tellur
impulse, von einem stabilen Aus-Zustand in einen und dessen P-leitende Zone durch Dotieren mit Zink
stabilen Ein-Zustand umschaltbar ist, bei dem ein 55 entstanden ist derart, daß die P-leitende Zone in der
Austritt von Laserstrahlung in jeweils eine von meh- Nähe ihres Oberflächenbereichs eine P+-leitende
reren unterschiedlichen vorbestimmten in einer Zone aufweist.
Ebene liegenden Richtungen erfolgen kann. Ein weiterer Vorteil des oben beschriebenen Laser-
Bei nichtlinearen Absorptionseinrichtungen der Oszillators oder -Verstärkers wird darin gesehen, daß,
oben beschriebenen Art ist die Durchlässigkeit eine 60 gemessen in der Austrittsrichtung des Laserstrahls,
Funktion der Energie des einfallenden Lichts oder die Länge des Strahlers gleich der Länge des Aballgemein
einer elektromagnetischen Welle. Es ist sorbers öder kleiner ist.
dabei wichtig, daß die Quantenenergie der einfallen- Die reflektierenden Endflächen des oben beschrie-
den Welle etwas größer als der effektive Bandabstand benen Laseroszillators oder -Verstärkers werden in
des Absorbermediums ist. Ganz allgemein läßt sich 65 vorteilhafter Weise durch Abspalten gewonnen. Da
sagen, daß ein nichtlineares Absorbermedium aus dieses Abspalten zwangsweise in bestimmten kristal-
einem solchen Material besteht, bei dem die Streu- lographisehen Ebenen geschieht, kann eine voll-
zentren, nämlich die Elektronen, zu höheren Energie- kommene Parallelität der Flächen erreicht werden.
5 6
Die verschiedenen stabilen Zustände ergeben sich hierauf einfallenden Strahlung. Als Strahler 3 kann
nun wie folgt: ein Laseroszillator oder -verstärker bekannter Art
1. Stabiler Aus-Zustand: Der Halbleiterlaser über- diene*; Der nichtlineare Absorber 1 ist eine Halbträgt
kohärente Strahlung auf einen oder meh- kiterdiode, deren Bandabstand dem des Strahlers 3
rere Absorber, die aber alle infolge der ange- 5 an8ePaßt sem muß· Wird fur den Laseroszillator
legten, relativ geringen Vorspannung im Zu- ?der -verstärker als aktiver Laserwerkstoff em Feststand
hohen Absorptionsvermögens sind, so daß korPer T verwendet dann laßt sich der Strahler 3 mit
keine Ausgangsstrahlung entstehen kann. de.r Halbleiterdiode 1 mit Hilfe eines geeigneten
2. Erster stabiler Ein-Zustand: Der Halbleiterlaser ' ^ttes 4 verbinden. Die Ausdehnung der Halbleiterüberträgt
kohärente Ausgangsstrahlung über 10 dlode ah A nichthnearer Absorber 1 in Richtung der
einen Absorber, der in den Zustand hohen einfallenden elektromagnetischen Energie muß größer
Durchlaßvermögens umgeschaltet ist, während a s die Absorptionslange oder zumindest dieser veralle
anderen Absorber auf Grund ihrer elektri- gleichbar sein damit die einfallende Strahlung absorschen
Vorspannung durch die kohärente Strah- biert werdfn kann Bei geringer Intensität der Einlung
nicht auf »durchsichtig« umgeschaltet wer- 15 gangsstrahlung wird die einfallende Strahlung absorden
können biert und darauf diffus abgestrahlt, so daß der für
3. Zweiter stabiler Ein-Zustand: Der erste Absor- kohärentes Licht wirksame Renexionskoeffizient R
ber ist in den Zustand hohen Absorptionsver- ziemlich gering ist. Bei sehr hoher Intensität der einmögens
zurückgeschaltet worden, während ein fallenden Strahlung hingegen entstehen genügend
anderer Absorber zur Umschaltung vorbereitet 20 ^ek A tr°nen und Löcher Defektelektronen), so daß
und umgeschaltet ist ^ Absorption der einfallenden Strahlung verringert
4. Weitere stabile Zustände ergeben sich durch und damit der effektive Reflexionskoeffizient R verentsprechende
Maßnahmen nach Punkt 3. 8rößert wird· In diesem Fal1 wird dann elektromagnetische Energie, dargestellt durch die Pfeile 70,
Mit dem oben beschriebenen Laseroszillator oder 25 von der Endfläche abgestrahlt, auf der sich der teil-Laserverstärker
steht somit eine multistabiles Spei- weise reflektierende Überzug 5 befindet. Die graphicherelement
zur Verfügung, das eine äußerst wirt- sehe Darstellung in Fig. IB zeigt den effektiven
schaftliche Herstellung gestattet und ohne großen Reflexionskoeffizienten R als Funktion der Intensizusätzlichen
Aufwand in der beschriebenen Weise tat /0 der einfallenden Strahlung. Die untere Grenze
betrieben werden kann, wobei die äußerst kurzen 30 für den ansteigenden Teil dieser Kurve ist dabei
Rekombinationszeiten eine entsprechend kurze Um- durch folgende Beziehung festgelegt:
schaltzeit gestatten, die sich für viele übliche Speicherelemente nur schwer erzielen läßt. D ^_ h~ h
schaltzeit gestatten, die sich für viele übliche Speicherelemente nur schwer erzielen läßt. D ^_ h~ h
Die oben beschriebene Anordnung und ihre Funk- ~~ / '
tionsweise werden an Hand der Zeichnungen erläu- 35 °
tert. Die Anordnungen nach den Fig. IA, 2A und worin Ic den bei sehr hoher Intensität der einfallen-
' 4 A dienen lediglich der Verdeutlichung des beim den Strahlung absorbierenden Intensitätsanteil dar-
Gegenstand des Patentbegehrens benutzten Prinzips; stellt. -
sie sind nicht Gegenstand der Erfindung. Es zeigt In Fig. 2A ist eine bistabile Vorrichtung gezeigt,
F i g· 1A eine Prinzipdarstellung der Funktion der 40 die aus einem prismenf örmigen rechtwinkligen GaAs-
oben beschriebenen Anordnung, Kristall 6 als Fabry-Perot-Resonator besteht. Hier
F i g. 1B eine graphische Darstellung des effektiven sind zwei gegenüberliegende Seitenflächen 7 und 8,
Reflexionsvermögens als Funktion der Intensität der die senkrecht zum PN-Übergang liegen, durch Sägen
einfallenden elektromagnetischen Welle für den Ab- aufgerauht, während die beiden anderen senkrecht
sorber, 45 zum PN-Übergang liegenden Seitenflächen 10 und 11
Fig. 2A einen Halbleiterlaser, bestehend aus durch Spalten optisch glatt und beispielsweise mit
Strahler- und Absorberteil, Silberbelag oder einer anderen geeigneten reflektie-
Fig. 2B eine graphische Darstellung zur Erläute- renden Schicht überzogen sind, um ein hohes opti-
rung der Betriebsweise der Anordnung, sches Reflexionsvermögen zu erhalten. Ein wesent-
Fig. 2C eine graphische Darstellung mit einer 50 liches Merkmal dieser Vorrichtung ist die Teilung
Kurvenschar, die die Laserstrahlung R (Photo- des Flächenkontaktes 20 an der P-leitenden Zone in
nen/sek) als Funktion der Photonenanzahl bei einem zwei elektrisch voneinander isolierte Elektroden,
einzigen Wellentyp für verschiedene Parameter (Fre- Der diese Elektroden trennende Einschnitt 14 ver-
quenz) angibt, läuft parallel zu den optisch glatten Seitenflächen 10
Fig. 3A eine Prinzipdarstellung einer multista- 55 und 11 des Kristalls 6, der als Einkristall ausgebil-
bilen Anordnung, ( det ist.
Fig. 3B eine multistabile Anordnung als Halb- Der Halbleiterkristall 6 enthält einen PN-Uber-
leitervorrichtung; gang 15, der eine P-Zone 16 von einer N-Zone 17
Fig. 4A zeigt das Prinzip einer Anregung mit trennt. Der PN-Übergang 15 verläuft dabei parallel
Licht an Hand einer bistabilen Anordnung, 60 zur größten Kristall-Oberfläche. Der PN-Übergang
Fig. 4B eine multistabile Anordnung bei Licht- 15 wird durch Eindiffundieren einer den einen Lei-
anregung des aktiven Laserwerkstoffs. tungtyp, in diesem Beispiel den P-Leitungstyp, be-
F i g. 1A zeigt eine bistabil arbeitende Kombina- stimmenden Verunreinigung in den Kristall 6 gebiltion
aus einem Strahler 3 und einem nichtlinearen det, der bereits eine den entgegengesetzten Leitungs-Absorber
1. Das effektive Reflexionsvermögen eines 65 typ bestimmende Verunreinigung enthält. In der in
als Absorber benutzten Halbleiterplättchens 1 mit Fig. 2 A gezeigten Vorrichtung entstehen die N-Zone
einer dahinterliegenden reflektierenden Schicht 2 ist 17 durch Dotieren mit Tellur und die P-Zone 16
gemäß Fig. IB eine Funktion der Intensität der durch Eindiffundieren von Zink in eine (lOO)-Ober-
7 ■■■■·■-. · Ζ' 8 ■■ ;
fläche des GaAs-Kristalls. Infolge der Eigenart der der Länge des Absorberteils 13 zu der des Strahler-Diffusion
von Zink als P-Verunreinigungsmaterial . teils 12 ist ein wichtiger Parameter der Vorrichtung,
entstehen zwei verschiedene P-leitende Zonen, näm- und es sollen, Werte von 7, die größer oder etwa
lieh P+ und P. Dann wird der Halbleiterkörper mit gleich eins sind, angestrebt werden.
Gold, Nickel und wieder mit Gold in der genannten 5 Aus der graphischen Darstellung nach Fig. 2B ist Reihenfolge elektroplattiert oder mit Gold und dann zu entnehmen, daß vor Einschalten des Injektionsmit Zinn überzogen. Die so gebildete Schicht 20 wird. Stroms die Vorrichtung im Auszustand 27 ist. Ein dann erhitzt, so daß ohmsche Kontakte an den ent- durch Rekombination von Elektronen und Löchern sprechenden N-und P-Flächen gebildet werden. Dies im Strahlerteil 12 entstehendes Lichtquaht, das in ist möglich, weil die P-Zone hochdotiert ist. Indium- 10 den Absorberteil 13 wandert,: wird dort absorbiert, kügelchen 18 und 19 werden an die elektroplattierte so daß dabei ein neues Elektronen-Loch-Paar entSchicht 20 angelegt, nachdem der Einschnitt 14 steht. Durch Rekombination dieses Paares wird durch die P+-Zone hindurchgeätzt worden ist. An Licht in zufälliger räumlicher Verteilung ausgedie als Legierungskontäkte zur Schicht 20 dienenden strahlt; das effektive Reflexionsvermögen R des Ab-Indiumkügelchen18, 19 werden die Anschlußleitun- 15 sorberteils 13 ist daher ziemlich gering, und es existiert gen 21 und 22 angebracht. Die Anschlußleitungen 21 ein hoher Schwellenwert für die Anregung einer und 22 werden in geeigneter Weise mit Stromquellen, Laserschwingung. Wenn jedoch eine genügende Andargestellt als Batterien 23, 23', veränderbare zahl von Leitungsbandelektronen im Absorberteil 13 Reihenwiderstände 24, 24' und Schalter 25, 25' ver- gebildet wird, wird das aus dem Strahlerteil 12 ein- ' bunden, die dazu dienen, den PN-Übergang 15 etwas 20 fallende Licht nicht so stark absorbiert, und ein Teil unterhalb des Schwellenwertes in Durchlaßrichtung davon wird dann durch die völlig reflektierende vorzuspannen. Außerdem sind Impulsgeneratoren 26, Seitenfläche 10 reflektiert. Auf diese Weise wird die 26' vorgesehen, die mit dem als Strahler dienenden Güte des optischen Resonators erhöht und der Abschnitt 12 des Halbleiterkörpers und mit dem als Schwellenwert für die Laserschwingung herabgesetzt. Absorber dienenden Abschnitt 13 des Halbleiterkör- 25 Um aber eine solche momentane Vermehrung der pers verbunden sind. Es sei noch darauf hingewiesen, Elektronenanzahl im Absorberteil 13 herbeizuführen, daß auch andere aktive Laserwerkstoffe in der An- kann ein zusätzlicher Stromimpuls 28 durch den Ordnung verwendet werden können. Kontakt 19 oder den Kontakt 18, ein auf den Ab-
Gold, Nickel und wieder mit Gold in der genannten 5 Aus der graphischen Darstellung nach Fig. 2B ist Reihenfolge elektroplattiert oder mit Gold und dann zu entnehmen, daß vor Einschalten des Injektionsmit Zinn überzogen. Die so gebildete Schicht 20 wird. Stroms die Vorrichtung im Auszustand 27 ist. Ein dann erhitzt, so daß ohmsche Kontakte an den ent- durch Rekombination von Elektronen und Löchern sprechenden N-und P-Flächen gebildet werden. Dies im Strahlerteil 12 entstehendes Lichtquaht, das in ist möglich, weil die P-Zone hochdotiert ist. Indium- 10 den Absorberteil 13 wandert,: wird dort absorbiert, kügelchen 18 und 19 werden an die elektroplattierte so daß dabei ein neues Elektronen-Loch-Paar entSchicht 20 angelegt, nachdem der Einschnitt 14 steht. Durch Rekombination dieses Paares wird durch die P+-Zone hindurchgeätzt worden ist. An Licht in zufälliger räumlicher Verteilung ausgedie als Legierungskontäkte zur Schicht 20 dienenden strahlt; das effektive Reflexionsvermögen R des Ab-Indiumkügelchen18, 19 werden die Anschlußleitun- 15 sorberteils 13 ist daher ziemlich gering, und es existiert gen 21 und 22 angebracht. Die Anschlußleitungen 21 ein hoher Schwellenwert für die Anregung einer und 22 werden in geeigneter Weise mit Stromquellen, Laserschwingung. Wenn jedoch eine genügende Andargestellt als Batterien 23, 23', veränderbare zahl von Leitungsbandelektronen im Absorberteil 13 Reihenwiderstände 24, 24' und Schalter 25, 25' ver- gebildet wird, wird das aus dem Strahlerteil 12 ein- ' bunden, die dazu dienen, den PN-Übergang 15 etwas 20 fallende Licht nicht so stark absorbiert, und ein Teil unterhalb des Schwellenwertes in Durchlaßrichtung davon wird dann durch die völlig reflektierende vorzuspannen. Außerdem sind Impulsgeneratoren 26, Seitenfläche 10 reflektiert. Auf diese Weise wird die 26' vorgesehen, die mit dem als Strahler dienenden Güte des optischen Resonators erhöht und der Abschnitt 12 des Halbleiterkörpers und mit dem als Schwellenwert für die Laserschwingung herabgesetzt. Absorber dienenden Abschnitt 13 des Halbleiterkör- 25 Um aber eine solche momentane Vermehrung der pers verbunden sind. Es sei noch darauf hingewiesen, Elektronenanzahl im Absorberteil 13 herbeizuführen, daß auch andere aktive Laserwerkstoffe in der An- kann ein zusätzlicher Stromimpuls 28 durch den Ordnung verwendet werden können. Kontakt 19 oder den Kontakt 18, ein auf den Ab-
Dazu gehören Galliumantimonid, Indiumphosphid, sorberteil 13 gerichteter äußerer Lichtimpuls oder
Indiumantimonid, Indiumarsenid sowie Legierungen 3° ein von außen zugeführter Lichtimpuls, der in Längsaus
Galliumarsenid und Galliumphosphid, die weni- richtung vom Strahlerteil 12 zum Absorberteil 13
ger als 50 °/o Galliumphosphid enthalten, und aktive wandert, verwendet werden. Der Strahlerteil 12
Halbleiter-Laserwerkstoffe der Gruppen II bis V. strahlt dann kohärentes Licht in den Absörberteil 13,
Wichtig ist nur, daß das vorgesehene Halbleiter- so daß kohärente Ausgängsstrahlen 71 von der teilmaterial
eine hohe Strahlungs-Rekombinationswahr- 35 weise reflektierenden Seitenfläche 11 abgestrahlt werscheinlichkeit
besitzt und somit eine geeignete Sub- den. Dies entspricht dann dem Ein-Zustand 29
stanz darstellt, in dei eine kohärente■. stimulierte (Fig. 2B) der Vorrichtung, der sich also gegenüber
Strahlung auftreten kann. dem Aus-Zustand durch Abgabe eines kohärenten
Gemäß Fig. 2A wird der linke. Abschnitt 12 der Ausgangsstrahls 71 unterscheidet. Dieser Ein-Zudurch
den Einschnitt 14 getrennten Abschnitte 12 40 stand 29 wird nach Abklingen des obenerwähnten
und 13 des Halbleiterkörpers elektrisch vorgespannt, Auslöseimpulses 28 beibehalten, da ein LichtwellenumElektronen
in den direkt darunter liegenden Teil typ äußerst starker Intensität entsteht, so daß der
der P-Zone 16 zu injizieren, so daß dieser als Strah- ; Absorberteil 13 im Zustand geringer Absorption
ler wirksam wird. Der rechte Abschnitt 13 hat eine bleibtundinfolgedessendiestimuliertekohärenteStrahetwas
geringere Vorspannung, so daß ein vernach- 45 lung des Strahlerteils 12 von der völlig reflektierenden
lässigbarer Injektionsstrom in diesem Teil wirksam . Endfläche 10 reflektiert wird und wieder in den Strahist
und dieser Teil als Absorber wirken kann. Die lerteil 12 eintritt. Die Rückstellung der Vorrichtung
Potentialdifferenz über dem Halbleiterkörper liegt in den Aus-Zustand 27 erfolgt durch einen negativen
für GaAs in der Größenordnung von nur einem Auslöseimpuls 30 entweder über den Flächenkontakt
Zehntelvolt, und die erforderliche Wärmeableitung 50 18 oder den Flächenkontakt 19 oder aber durch
für die durch den zwischen den beiden positiven einen äußeren Lichtimpuls, der sich transversal durch
Kontaktelektroden 18 und 19 fließenden Strom her- den Strahlerteil 12 ausbreitet. Dieser transversale
vorgerufene Wärme bestimmt den Mindestwiderstand Lichtimpuls wird verstärkt und absorbiert so Energie
zwischen diesen Elektroden. Für die Wirkungsweise aus dem vorherrschenden longitudinalen Wellentyp,
der Vorrichtung ist es entscheidend, daß yorherr- 55 der sich im Ein-Zustand 29 ausbildet,
sehende Lichtwellentypen bei höchster Güte sowohl Mathematisch läßt sich die Bedingung für das bidurch den als Strahler wirkenden Abschnitt 12, im stabile Verhalten wie folgt beschreiben:
folgenden Strahlerteil genannt, als auch durch den Es wird von folgenden Beziehungen ausgegangen: als Absorberteil wirkenden Abschnitt 13, im folgen- , . η
sehende Lichtwellentypen bei höchster Güte sowohl Mathematisch läßt sich die Bedingung für das bidurch den als Strahler wirkenden Abschnitt 12, im stabile Verhalten wie folgt beschreiben:
folgenden Strahlerteil genannt, als auch durch den Es wird von folgenden Beziehungen ausgegangen: als Absorberteil wirkenden Abschnitt 13, im folgen- , . η
den Absorberteil genannt, des PN-Übergangs 15 ge- 60 —i- = -^
— ^ Smg(a), ne) , (la)
langen können, und daß das Licht in diesen Wellen- dt α τ ω ...■''■■
typen auf seinem Wege zwischen den beiden Teilen ,
12 und 13 nicht gestreut oder auch sonstwie unter- —^- = — — ]>) S10 g (ω, na), (Ib)
brachen wird. Weiterhin ist es auch erforderlich, daß τ ω
die Abmessungen und der Massewiderstand der P- 65 ,„ „
und N-Zonenl6 bzw. 17 so beschaffen bzw. gewählt ~~r~ = VESag(co,ne) + yVESmg(w,na) — — (Ic)
sind, daß kein größerer Injektionsstrom durch den . . τ<α
Absorberteil 13 fließen kann. Das Verhältnis y=!,,,/£<, worin ne,na gleichförmige Elektronendichten in den
aktiven Schichten der lichtemittierenden bzw. a
bierenden Bereiche sind,
bierenden Bereiche sind,
S01 = Anzahl der Photonen in den Fabry-Perotsehen
Wellentypen der
Frequenz co,
/ == Injektionsstroni pro Flächeneinheit,
d = Stärke der Zonen in der Diode,
τ = Elektronenrekombinationszeit,
g(cQ,ri) = Volumenhäufigkeit der stimulierten
Strahlung im ω-Welientyp bei einer
Elektroriendiehte n,
VE = Volumen der aktiven Schicht des lieht-,
emittierenden Bereichs,
γ = LJLe = Längenverhältnis des Absprberteils
zum Strahlerteil,
zum Strahlerteil,
τφ = charakteristische Pämpfungszeit des
ω-Wellentyps.
Zur Auswertung wird die rechte Seite der Gleir
phungen (1 a) und (1 b) gleich Null gesetzt und Gleichung
(1 c) nach
aufgelöst:
- VES,
,ne)
^a)] =F£ Μ-^-^-.y-ξΐ
Hierbei wird angenommen, daß überwiegend nur ein Wellentyp im EinrZustand angeregt wird, d.h. daß
nur ein 'S^ von Null verschieden ist. Die Quant>
tat R0, (S01) bestimmt dabei das Ausmaß der Laser-r
strahlung für die a^Wellentype, wenn eine Anzahl ,
vpn S^-Phptonen in dieser Wellentype, dagegen keine
in anderen Wellentypen auftreten. Jst dieser Betrag gleich S10Jr1 dann ergibt aμch die Gleichung (1 c) für
4S01/dt den Wert Null und damit eine stationäre Zustandslösung
aller Häufigkeitsgleichungen für den
Ein-Zustand. .
Die graphische Darstellung nach F i g. 2 C zeigt eine Kürvenschar, wobei auf der Abszisse die Phptonenanzahl
S und auf der Ordinate die Laserstrahl
lung/? in Photonen pro Sekunde aufgetragen ist, an
. Hand deren die obengenannten Lösungen diskutiert werden sollen. Wenn eine Funktion den mit ω0 be-r
zeichneten Verlauf und zwei Sehntapunkte mit der Geraden R = SZr01 hat, dann ist die zugeordnete
Betriebsweise der Anordnung bistabil. Wenn nämlich
der Augenbliekswert ypn S9 0 zwischen Nu}l und dem
Wert Sa des ersten Schnittpunkts liegtj ist die Häufigkeit
der Laserstrahlung kleiner als die Häufigkeit des
Verlustes, und S01Q fällt auf Null ab; dies entspricht
dem AusTZustancL Wenn aber S010 zwischen S9 und
S1, liegt, überschreitet die Häufigkeit der Laserstrahl
lung die Verlusthäufigkeit, und die Photonen-Besetzung in der Wellentype ω0 nimmt den Wert S^ an.
Dies ist der Ein-Zustand. Die Laserstrahlung muß natürlich für kleine Werte vpn S entsprephend einer
Gleichung höheren Grades anwachsen, d, h., damit die Vorrichtung im Aus-Zustand stabil ist, muß die
Funktion für kleine Werte ypn S01 bei allen Wellenr
typen unterhalb der Belastungsgeraden R = SJr01
liegen.
Eine Möglichkeit, um festzustellen, ob dies auch
tatsächlich der Fall ist, besteht darin, die Umhüllende der ^«(S^-Kurven für alle corWerte zu zeiche
nen und zu ermitteln, pb sic]i zwei Schnittpunkte mit der Belastungsgeraden R = S/ra ergeben.- Diese Analyse ist praktisch im Bereich der Temperatur des 6p
flüssigen Heliums und bei 80° K ausgeführt worden, um die bistabile Betriebsweise der hier beschriebenen
Vorrichtung zu prüfen.
Aus Fig. 3A ist.zu ersehen, wie zum Austritt von
Laserstrahlen in unterschiedliche, vorbestimmte, in einer Ebene liegende Richtungen ein zweiter nichtlinearer
Absorber 31 verwendet wird. Beide Absorber sind Halbleiterdipden, deren Übergänge und
Elektroden nicht besonders ,angegeben sind. Pigse Yprrichtung arbeitet in instabiler Betriebsweise, und
zwar sind zwei Ein^Zustäniie und ein Aus-Zustand
möglich, per eine Ein-Zustand kann wie in F i g. 1A
derart erreicht werden, daß der nichtlineare Absprber 32 in den nichtabsprbierenden Zustand ger
bracht und ein kohärenter Laserstrahl (dargestellt durch Pfeile 33) durch dip teilweise reflektierende
Schicht 34 austritt. Der nichtlineare Absorber 32 kann andererseits, wie beschrieben, durch geeignete
elektrische oder Lichtimpulse in den Zustand starker
Absorption gebracht werden. Wenn der nichüineare Absorber 31 mit Hilfe eines elektrischen oder Lichte
impulses in einen Zustand geringer Dämpfung ger
bracht wird, tritt durch die teilweise reflektierende Schicht 34 ein Laserstrahl aus, der durch die Pfeile
35 dargestellt ist. Dies entspricht dem zweiten stabilen
Zustand dieser instabilen Vorrichtung. Sind beide nichtlinearen Absorber 31 und 32 im Zustand
starker Dämpfung und ist der aktive Laserwerkstoff
36 unterhalb des Schwellenwertes vorgespannt, dann
wird der dritte stabile Zustand eingenommen. Der
aktive Laser\yerkstpff 36 kann natürlich aus jedem
beliebigen Material bestehen, das imstande ist, eine optische Strahlung vpn ausreichener Intensität auszustrahlen,
so daß die Halbleiterdioden 31, 32 entsprechend beeinflußt werden können.
F i g. 3 B zeigt ein Halbleiter-Ausführungsbeispiel dgr tristabijen Vorrichtung gemäß Fig. 3A, wobei
der nichüineare Absorber 37 senkrecht zum nicht linearen Absorber 38 liegt. Das Strahlerteil 39 der
Anordnung gleicht dem in F i g. 1A, und das vollständige
tristabile B auteil 40 kann \ ebenso aus einem Halbieiter-Plättchen herausgeschnitten werden, wie
das im Beispiel des bistabilen Bauteils 6, gemäß Fig. 2A im Prinzip gezeigt wurde. In den Halbr
leiterkristall 40 wird natürlich ein zusätzlicher Ehl·-
schnitt 41 eingeätzt, nachdem das, Herstellen des PN-Übergangs
42 in diesem neuen Halbleiterabsprber 37 vorher in derselben Weise, wie im Zusammenhang
mit dem bistabilen Bauteil 6 gemäß Fig. 2A ber
schrieben, vorgenommen worden ist. Auf die pla> tierte Fläche 44 des nichtlinearen Absorbers 37 wird
außerdem ein Kontakt 43 angebracht und die Änr Schlußleitung 45 daran befestigt. Die Vorspannung
an diesem Absorber 37 gleicht der am Absorber 38, Und zwar ist sie ebenfalls so eingestellt, daß nur ein
vernachlässigbarer Injektipnsstrpm durch den darunterliegenden
PN-Übergang 42 fließt. Die Seiten-
flächen 46 und 47 sind völlig bzw. teilweise reflektierend. Für den Strahler 39 und jeden Absorber 38, 37
sind Impulsgeneratoren 48, 48' bzw. 48" sowie Gleichstromquellen 49, 49' bzw. 49" vorgesehen.
Die tristabile Betriebsweise ergibt sich wie folgt: Der sich unter Einfluß des Absorbers 38 einstellende
Ein-Zustand läßt sich in der oben schon beschrie-. benen Weise herbeiführen. Dabei entsteht eine Laserstrahlung
72, die durch die teilweise reflektierende Schicht 50 austritt. Wenn dann über die Leitung 45
ein positiver Impuls dem Absorber 37 und über die Leitung 51 ein negativer Impuls dem Absorber 38
zugeführt werden, kehrt der Absorber 38 in seinen Zustand geringen Reflexionsvermögens zurück, aber
an der Seitenfläche 46 des jetzt umgeschalteten Absorbers
37 wird kohärentes Licht reflektiert. Infolgedessen tritt eine Laserstrahlung 73 durch die teilweise
reflektierende Seitenfläche 47 aus. Durch einen dem Kontakt 43 zugeführten negativen Impuls wird der
Absorber 37 in seinen Zustand niedrigen Reflexions-Vermögens zurückgebracht, so daß weder durch die
Fläche 50 noch durch die Fläche 47 ein Laserstrahl austritt. Die drei stabilen Zustände bei gleicher
Strahlenanregungsenergie sind also folgende:
1. Aus-Zustand, Betriebsart 1: Der Halbleiterlaser überträgt Laserstrahlung auf die Absorber 38
und 37, die aber beide im Zustand geringen Reflexionsvermögens sind, so daß keine Ausgangsstrahlung
entsteht.
2. Ein^Zustand, Betriebsart 2: Laserlichtausgang
durch die Seitenfläche 50. Der Absorber 38 befindet sich im Zustand hohen Reflexionsvermögens,
während der Absorber 37 im Zustand geringen Reflexionsvermögens ist.
3. Ein-Zustand, Betriebsart 3: Laserlichtausgang durch die Seitenfläche 47. Der Absorber 37 befindet
sich jetzt im Zustand hohen Reflexionsvermögens, während der Absorber 38 wieder im
Zustand geringen Reflexionsvermögens ist.
Fi g. 4 A zeigt zur Erklärung der Anregung durch Licht eine Kombination aus einem durch Licht angeregten
Laseroszillator oder -verstärker mit nichtlinearem Absorber, bestehend aus einer Halbleiterdiode.
Diese Anordnung arbeitet nur bistabil. In diesem Falle kann der Strahler ein Kristall, eine
Flüssigkeit oder ein Gas sein, wenn nur der Bandabstand des nichtlinearen Absorbers dem des Strahlers eng angepaßt ist. Weil durch Licht angeregte
Laseroszillatoren oder -verstärker diskrete Quantenzustände im Valenz- und im Leitungsband haben,
müssen für den Strahler und für den nichtlineraren Absorber verschiedene Medien verwendet werden.
Es können hier verschiedene feste aktive Laserwerkstoffe benutzt werden, wie z. B. Rubin, mit zweiwertigem
Samarium oder dreiwertigem Uran dotiertes Kalziumfluorid, mit sechswertigem Uran dotiertes
Lithiumfluorid mit Aktivatorionen dotierte Glasstäbe oder mit Neodym dotiertes Kalziumwolframat.
In dem in Fig. 4A dargestellten bevorzugten
Ausführungsbeispiel ist der Kristall 52 aus aktivem Laserwerkstoff als Prisma mit fechteckigem Querschnitt
ausgeführt, dessen Oberfläche geschliffen ist. Die Endflächen sind poliert und liegen völlig parallel
zueinander. Die Endfläche 53 ist mit einer teilweise reflektierenden Schicht überzogen, während die
andere Stirnfläche mit der Halbleiterdiode 54 mit Hilfe eines optischen Kitts 44 verbunden ist. Diese
Halbleiterdiode 54 gleicht der in Verbindung mit der Anordnung nach Fig. 2A beschriebenen, und zwar
besteht sie aus einem GaAs-Einkristall, der einen PN-Übergang 55 besitzt. Zur P-Zone führt ein plattierter
Kontakt 56, während die N-Zone geerdet ist. Eine durch die Batterie 57 und einen veränderbaren
Widerstand 58 dargestellte Gleichstromquelle ist mit ihrer positiven Klemme ebenso wie ein Impulsgenerator
59 zum Anlegen von Kippimpulsen an die P-Zone angeschlossen. Die Stirnfläche 61 des nichtlinearen Absorbers 54 ist durch Abspalten entstanden
und völlig reflektierend. Der Strahler 52 wird durch eine Lichtquelle 60, z. B. einer wendelförmig
um den Strahler 52 angebrachten Xenon-Blitzlampe, angeregt.
Die Wirkungsweise dieser bistabilen Vorrichtung ist der der Vorrichtung nach Fig. 2A analog mit
dem einzigen Unterschied, daß hier eine Lichtquelle zur Anregung der erforderlichen Besetzungsumkehr
verwendet wird.
Es sei lediglich noch bemerkt, daß die Rückführung der Vorrichtung in den Aus-Zustand durch
einen negativen Kippimpuls über die Kontaktelektrode
56 oder durch einen äußeren Lichtimpuls erfolgen kann, der sich transversal durch den Strahlerteil
52 ausbreitet.
Ein instabiler Betrieb im Sinne der Erfindung ist möglich, wenn ein weiterer nichtlinearer Absorber
63 angrenzend an den Kristall 64 aus aktivem Laserwerkstoff, aber senkrecht zum ersten nichtlinearen
Absorber 65 angeordnet wird, wie es Fig. 4B im
Prinzip zeigt. Die Endflächen 66, 67 sind durch Abspalten entstanden, während die wirksamen Seitenflächen
68, 69 teilweise reflektierend sind. Für die nichtlinearen. Halbleiterabsorber 63, 65 sind entsprechende
Gleichstromquellen 74 und Impulsgeneratoren 75, 75' vorgesehen.
Aus dem oben Gesagten dürfte sich ohne weiteres ergeben, daß die Anordnung dieser tristabilen Vorrichtung
der nach F i g. 3 A vollständig entspricht. Weiter versteht sich, daß sich drei stabile Zustände
entsprechend der oben in Verbindung mit Fig. 3A und 3 B beschriebenen Art und Weise herbeiführen
lassen, wobei das Auftreten einer Laserstrahlung 76 oder 77 je einen Ein-Zustand und die Unterdrückung
der Strahlungen den Aus-Zustand darstellt.
Die den oben beschriebenen Vorrichtungen zugrunde liegende Vorstellung läßt sich natürlich auf
eine multistabile Vorrichtung mit η + 1 stabilen Zuständen verallgemeinern, wo η die Anzahl der Absorberteile
darstellt, indem der Strahlerteil die Form eines regelmäßigen Polygons mit 2 η wirksamen
Seitenflächen annimmt. Der nichtlineare Absorber in Form einer Halbleiterdiode ist dabei jeweils
auf einer Seite jeden Paars entgegengesetzter· Seitenflächen des Strahlerteils angeordnet, und es ist
sowohl die Außenfläche jeden Absorberteils mit einer völlig reflektierenden Schicht, als auch jede keinem
Absorberteil zugeordnete Seitenfläche des Strahlerteils mit einer teilweise reflektierenden Schicht überzogen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. ' ■ . - ■ 2
Halbleitermaterial Galliumarsenid verwendet ist,
Patentansprüche: dessen N-leitende Zone Tellur als Donator und
dessen P-leitende Zone Zink als Akzeptor ent-
1. Laseroszillator oder -verstärker mit einem hält, und daß die P-leitende Zone in der Nähe
Fabry-Perot-Resonator, der zwischen seinen 5 ihres Oberflächenbereichs eine P+-leitende Zone
reflektierenden Flächen einen Strahler aus akti- aufweist.
vem Laserwerkstoff und oinen nichtlinearen Ab- 5. Laseroszillator oder -verstärker nach einem
sorber einschließt, der durch einen Signalimpuls . der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
in einen Zustand so geringen Absorptionsver- daß, gemessen in der Austrittsrichtung des Laser-
mögens umschaltbar ist, daß ein Laserstrahl aus ίο Strahls, die Länge des Strahlers (39) gleich der
dem Resonator austritt, dadurch gekenn- Länge des Absorbers (37, 38) oder kleiner ist.
zeichnet, daß zum multistabilen Laserbetrieb 6. Laseroszillator oder -verstärker nach An-
— d.h. zum Austritt von Laserstrahlen in je- Spruch2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß
weils eine von mehreren unterschiedlichen, vor- die reflektierenden Endflächen des Halbleiterkör-
bestimmten, in einer Ebene liegenden Richtun- 15 pers durch Abspalten gewonnen sind,
gen ■— ein parallel zu der durch die Richtungen
gen ■— ein parallel zu der durch die Richtungen
der Laserstrahlen gegebenen Ebene liegender
Querschnitt des Strahlers (36, 39, 64) die Gestalt eines regelmäßigen Vielecks mit jeweils
gegenüberliegenden parallelen Seitenflächenpaaren 20 Die Erfindung betrifft einen Laseroszillator oder
aufweist, von denen jeweils die eine Seitenfläche -verstärker mit einem Fabry-Perot-Resonator, der
teilweise reflektierend und die andere durchlässig zwischen seinen reflektierenden Flächen einen Strahausgebildet
ist, daß den durchlässig ausgebildeten ler aus aktivem Laserwerkstoff und einen nichtSeitenflächen als umschaltbarer nichtlinearer Ab- linearen Absorber einschließt, der durch einen Sisorber
jeweils eine Halbleiterdiode (31, 32; 37, 25 gnalimpuls in einen Zustand so geringen Absorp-38;
63, 65) zugeordnet ist, deren PN-Übergang in tionsvermögens umschaltbar ist, daß ein Laserstrahl
einer Ebene senkrecht zu den genannten Seiten- aus dem Resonator austritt.
flächen liegt und in Flußrichtung über gleich- Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, einen
zeitig zur Zuführung von elektrischen Umschalt- einfachen, für multistabilen Betrieb geeigneten Laserimpulsen
zur Änderung des Absorptionsver- 30 oszillator oder -verstärker anzugeben, der als multimögens
dienende Flächenelektroden nur so weit stabiles Speicherelement mit extrem kurzen Umvorgespannt
ist, daß ein im nichtstrahlenden Zu- schaltzeiten verwendbar ist. Ein derartiges Speicherstand
vernachlässigbarer Injektionsstrom fließt element soll z.B. ebenfalls bei Raumtemperatur beund'die
Halbleiterdiode sich im Zustand hoher trieben werden können und keine komplizierte AnAbsorption
befindet, daß des weiteren die Halb- 35 Steuerungsanordnung benötigen,
leiterdiode wahlweise durch Anlegen von Licht- Zum Zwecke der digitalen Informationsverarbeienergie und/oder elektrischer Energie oberhalb tung werden in immer steigendem Maße Bauteile, eines bestimmten Schwellenwertes in den Zustand insbesondere Speicherbauteile, benötigt, die sich in geringen Absorptionsvermögens schaltbar ist äußerst kurzen Schaltzeiten von einem Speicherzu-(strahlender Zustand), daß die den durchlässig 40 stand in einen anderen umschalten lassen. Bei Halbausgebildeten Seitenflächen des Strahlers abge- leiterbauteilen, die in letzter Zeit eine immer größere wandten, parallel gegenüberliegenden Seiten- Anwendung finden, wird allerdings die Umschaltzeit flächen der Halbleiterdioden völlig, reflektierend durch die nicht zu umgehende Rekombinationszeit ausgebildet sind und daß jeweils ein weiterer der Ladungsträger nach unten begrenzt, die ohne stabiler Zustand durch die Umschaltung einer 45 weitere Maßnahmen wesentlich bestimmend ist.
Halbleiterdiode in den Zustand niedrigen Ab- Kurze Ümschaltzeiten, die in der Größenordnung Sorptionsvermögens vorhanden ist. von einer Nahosekunde liegen, lassen sich da-
leiterdiode wahlweise durch Anlegen von Licht- Zum Zwecke der digitalen Informationsverarbeienergie und/oder elektrischer Energie oberhalb tung werden in immer steigendem Maße Bauteile, eines bestimmten Schwellenwertes in den Zustand insbesondere Speicherbauteile, benötigt, die sich in geringen Absorptionsvermögens schaltbar ist äußerst kurzen Schaltzeiten von einem Speicherzu-(strahlender Zustand), daß die den durchlässig 40 stand in einen anderen umschalten lassen. Bei Halbausgebildeten Seitenflächen des Strahlers abge- leiterbauteilen, die in letzter Zeit eine immer größere wandten, parallel gegenüberliegenden Seiten- Anwendung finden, wird allerdings die Umschaltzeit flächen der Halbleiterdioden völlig, reflektierend durch die nicht zu umgehende Rekombinationszeit ausgebildet sind und daß jeweils ein weiterer der Ladungsträger nach unten begrenzt, die ohne stabiler Zustand durch die Umschaltung einer 45 weitere Maßnahmen wesentlich bestimmend ist.
Halbleiterdiode in den Zustand niedrigen Ab- Kurze Ümschaltzeiten, die in der Größenordnung Sorptionsvermögens vorhanden ist. von einer Nahosekunde liegen, lassen sich da-
2. Laseroszillator oder -verstärker nach' An- gegen durch geeignete Wahl beim Betrieb von
spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein als Laserwerkstoffen zur Erzeugung von Laserstrahlen
Strahler dienender, in Vorwärtsrichtung vorge- 50 erzielen, da hier die Rekombinationszeit der Laspannter
Halbleiterlaser und jeweils die als Ab- dungsträger äußerst gering ist.
sorber dienende Halbleiterdiode aus einem ein- Durch den in der Zeitschrift »Proceedings of die
zigen Halbleiterkörper aufgebaut sind, dessen IEEE«, Bd. 51, 1963, Nr. 6, auf den Seiten 934 bis
eine Zone in einem Oberflächenbereich entartet 935 veröffentlichten Aufsatz mit dem Titel »Operadotiert
ist; daß die Trennung zwischen Strahler- 55 tion of a Memory Element Based on the Maser Printeil
und jeweiligem Absorberteil durch einen ciple« ist bereits eine auf dem Molekularverstärker-Einschnitt
(41) erfolgt, dessen Tiefe größer oder prinzip beruhende bistabile Speichereinheit bekannt,
gleich der Dicke des entartet dotierten Zonen- die aus zwei mit Cr3+ bzw. Cu2+ dotierten TiO2-bereichs
ist, und daß den beiden so gebildeten ν Kristallen besteht, von denen der erste unter dem
Oberflächenbereichen je eine Flächenelektrode 60 Einfluß einer Pumpenergie elektromagnetische Strahzugeordnet
ist. lung emittiert und der zweite, der mit dem
3. Laseroszillator oder -verstärker nach An- ersten stirnseitig zusammengeklebt ist, hinsichtlich
spruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Halb- der emittierten Strahlung des ersten Kristalls absorleitermaterialien
dotierte intermetallische Verbin- bierende Eigenschaften hat. Die Wirkungsweise diedungen
der Gruppen Am-Bv und An-Bv verwen- 65 ser Anordnung besteht darin, daß im Aus-Zustand
det werden. die Anregung der Maserstrahlung unterbleibt, da der
4. Laseroszillator oder -verstärker nach An- absorbierende Kristall mehr Energie verbraucht als
spxuch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß als der emittierende bei niedrigen Energieniveaus ab-
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US36710664A | 1964-05-13 | 1964-05-13 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1214783C2 true DE1214783C2 (de) | 1973-10-11 |
| DE1214783B DE1214783B (de) | 1973-10-11 |
Family
ID=23445955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19651214783 Expired DE1214783C2 (de) | 1964-05-13 | 1965-05-11 | Laseroszillator oder -verstaerker mit einem fabry-perot-resonator |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3427563A (de) |
| JP (1) | JPS4225462B1 (de) |
| CH (1) | CH441534A (de) |
| DE (1) | DE1214783C2 (de) |
| FR (1) | FR1465389A (de) |
| GB (1) | GB1071434A (de) |
| NL (1) | NL6505869A (de) |
| SE (1) | SE329220B (de) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3768037A (en) * | 1965-11-26 | 1973-10-23 | Hitachi Ltd | Semiconductor diode laser device |
| US3508111A (en) * | 1966-09-21 | 1970-04-21 | Ibm | Light emitting semiconductor device with light emission from selected portion(s) of p-n junction |
| JPS5128972B1 (de) * | 1966-10-27 | 1976-08-23 | ||
| US3546495A (en) * | 1968-02-07 | 1970-12-08 | Rca Corp | Semiconductor laser logic apparatus |
| US3724926A (en) * | 1971-08-09 | 1973-04-03 | Bell Telephone Labor Inc | Optical pulse modulator |
| US3760201A (en) * | 1971-09-16 | 1973-09-18 | Semiconductor Res Found | Optical flip-flop element |
| US4562569A (en) * | 1982-01-05 | 1985-12-31 | California Institute Of Technology | Tandem coupled cavity lasers with separate current control and high parasitic resistance between them for bistability and negative resistance characteristics and use thereof for optical disc readout |
| EP0117734B1 (de) * | 1983-02-25 | 1989-04-26 | AT&T Corp. | Optische Einrichtung mit Vielfachresonator und Anwendungen dafür |
| US4748630A (en) * | 1985-01-17 | 1988-05-31 | Nec Corporation | Optical memory device comprising a semiconductor laser having bistability and two injection current sources for individually controlling the bistability |
| US4913548A (en) * | 1988-09-21 | 1990-04-03 | Rockwell International Corporation | Solid state fiber optic semiconductor ring laser gyro apparatus with non-optical readout |
| FR2673342B1 (fr) * | 1991-02-27 | 1994-04-08 | Alcatel Alsthom Cie Gle Electric | Dispositif a retroaction positive pour le traitement d'un signal optique. |
| JP3284491B2 (ja) * | 1997-07-08 | 2002-05-20 | 達治 増田 | Srフリップ・フロップ |
| US10283936B2 (en) * | 2015-07-30 | 2019-05-07 | Agilent Technologies, Inc. | Quantum cascade laser with serially configured gain sections |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1155916B (de) * | 1959-10-09 | 1963-10-17 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen von scheibenfoermigen Silizium- oder Germaniumkoerpern |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3270291A (en) * | 1962-10-22 | 1966-08-30 | Rca Corp | Laser control device using a saturable absorber |
| US3303431A (en) * | 1964-02-10 | 1967-02-07 | Ibm | Coupled semiconductor injection laser devices |
-
1964
- 1964-05-13 US US367106A patent/US3427563A/en not_active Expired - Lifetime
-
1965
- 1965-02-13 JP JP780365A patent/JPS4225462B1/ja active Pending
- 1965-04-30 GB GB18240/65A patent/GB1071434A/en not_active Expired
- 1965-05-10 NL NL6505869A patent/NL6505869A/xx unknown
- 1965-05-11 DE DE19651214783 patent/DE1214783C2/de not_active Expired
- 1965-05-12 FR FR16772A patent/FR1465389A/fr not_active Expired
- 1965-05-13 SE SE06243/65A patent/SE329220B/xx unknown
- 1965-05-13 CH CH667365A patent/CH441534A/de unknown
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1155916B (de) * | 1959-10-09 | 1963-10-17 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen von scheibenfoermigen Silizium- oder Germaniumkoerpern |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CH441534A (de) | 1967-08-15 |
| JPS4225462B1 (de) | 1967-12-05 |
| US3427563A (en) | 1969-02-11 |
| SE329220B (de) | 1970-10-05 |
| FR1465389A (fr) | 1967-01-13 |
| GB1071434A (en) | 1967-06-07 |
| NL6505869A (de) | 1965-11-15 |
| DE1214783B (de) | 1973-10-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
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