DE1287831B

DE1287831B -

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Publication number: DE1287831B
Application number: DES98277A
Authority: DE
Priority date: 1965-07-17
Publication date: 1969-01-23

Description

mation und das Verteilen derselben auf die einzelnen Speicherplätze des Arbeitsspeichers. In der Regel ist es erforderlich, Möglichkeiten zum Überwachen dieser Vorgänge vorzusehen.mation and distributing it to the individual Storage locations of the main memory. Usually it is necessary to have ways to monitor this Operations to be provided.

Nach der deutschen Auslegeschrift 1056 860 ist die Verwendung einer digitalen Prüfinformation bekannt, welche zum Vergleich mit der eigentlichen Arbeitsinformation gemäß deren jeweiliger QuerAccording to the German Auslegeschrift 1056 860, the use of digital test information is known, which for comparison with the actual work information according to their respective cross

lagerung von abgestuften Teilströmen arbeitenden io welche von einem Prüfspeicher 5 übernommen wird. Digital-Analog-Wandlern und eines Diff erenzverstär-.. Sodann wird der Lpchstreif enabtaster stillgesetzt, und kers miteinander verglichen werden. , i i i . ■ die,Abarbeitung dieser Information kann durch dieStorage of graduated partial flows working io which is taken over by a test memory 5. Digital-to-analog converters and a differential amplifier .. Then the Lpchstreif enabtaster is stopped, and kers can be compared with each other. , i i i. The processing of this information can be carried out by the

Bei datenverarbeitenden Einrichtungen wird ge- Werkzeugmaschine 1 erfolgen. Innerhalb des Blokwöhnlich zwischen äußerer und innerer Datenverar- kes 1 ist dies beispielsweise für die Schlittenbewegung beitung unterschieden. Während die äußere Daten- 15 in einer mit X bezeichneten Koordinatenrichtung verarbeitung sämtliche Vorgänge bis zur Erstellung näher angedeutet. Die dem Arbeitsspeicher 4 entdes Informationsträgers, beispielsweise eines Loch- nommene Weginformation wird als Sollwert einem Streifens oder eines Magnetbandes, umfaßt, erstreckt Vergleichsglied 6 zugeführt, dem außerdem als Istsich die innere Datenverarbeitung auf die als Lesen wert das Ausgangssignal einer mit dem Maschinenbezeichnete Abnahme der Information von dem 20 schlitten 7 gekuppelten Wegmeßeinrichtung 8 zuge-Informationsträger, auf das Entschlüsseln der Infor- leitet ist. Die Differenz zwischen Soll- und IstwertIn the case of data processing devices, machine tool 1 will take place. Within the block usually between external and internal data processing 1, a distinction is made, for example, for the carriage movement processing. While the outer data 15 processes in a coordinate direction denoted by X , all processes up to the creation are indicated in more detail. The path information taken from the main memory 4 ent of the information carrier, for example a hole, is included as a setpoint value for a strip or a magnetic tape, is supplied to comparison element 6, to which the internal data processing is also based on the output signal of a decrease in information marked with the machine Information carrier supplied by the distance measuring device 8 coupled to the slide 7, on which the information is decrypted. The difference between the setpoint and the actual value

bildet die Stellgröße für den Vorschubantrieb 9. Neben der Weginformation werden dem Arbeitsspeicher in der Regel noch weitere nicht im einzelnen 25 bezeichnete Informationen entnommen, welche z. B. die Größe der Geschwindigkeit, die Richtung des Vorschubs sowie beliebige andere Schalt-, Verriegelungs- und Steuerfunktionen festlegen; Jedem Ausgang eines Speicherplatzes 4 ist ein Eingang eines summe bewichtet wird, wodurch sich bei Abspeiche- 30 mit 10 bezeichneten Digital-Analog-Wandlers zugerung dieser Prüfinformation eine Ersparnis an ordnet, der jedem Speicherplatz bei dessen Belegung Speicherplätzen ergibt. Der Vergleich der Inhalte von eine entsprechend bewichtete analoge Größe zu-Prüfspeicher und Arbeitsspeicher kann gemäß der ordnet und sie auf den einen Eingang eines Verfranzösilschen Patentschrift 1 379 270 mittels zweier gleichsgliedes 11 gibt. Wenn nun jeder Information Digital-Analog-Wandler erfolgen, deren Ausgangs- 35 ein bestimmtes Gewicht zugeordnet ist, so ist deren ströme sich durch Überlagerung von abgestuften Summe charakteristisch für einen ganz bestimmten Teilströmen ergeben und die mittels eines Differenz- Informationsgehalt. Die Summe der einzelnen Geverstärkers voneinander subtrahiert werden. wichte der Steuerinformationen wird als zusätzlicheforms the manipulated variable for the feed drive 9. In addition to the path information, the main memory as a rule, further information not designated in detail 25 is taken, which z. B. the size of the speed, the direction of the feed as well as any other switching, interlocking and define control functions; Each output of a memory location 4 has an input of one sum is weighted, as a result of which a digital-to-analog converter, designated by 10, results in storage this check information is a saving that assigns each storage space when it is occupied Storage locations results. Comparing the contents of an appropriately weighted analog size to test memory and working memory can be arranged according to the order and they are sent to one input of a French Patent specification 1 379 270 by means of two equal members 11 are there. If now any information Digital-to-analog converters take place whose output 35 is assigned a certain weight, so is their flow through superposition of graduated sum characteristic of a very specific one Partial flows result and the means of a difference information content. The sum of the individual amplifiers subtracted from each other. weight of the tax information is given as additional

Bei derartigen Einrichtungen werden also aus den Prüfinformation im Lochstreifen 3 einprogrammiert Gewichtssummen der miteinander zu vergleichenden 40 und in den Prüfspeicher 5 eingegeben. An dessen Speicherinhalte analoge Stromsummen gebildet, deren Ausgang ist ebenfalls ein Digital-Analog-Wandler 12 einzelne Komponenten sich um Größenordnungen angeschlossen, dessen Ausgang auf den zweiten Einunterscheiden können. Geringfügige Potentialschwan- gang der Vergleichseinrichtung 11 geführt ist. Ist kungen der digitalen Speichersignale könnten deshalb nach Ende eines jeden Programmsatzes die in dem schon zu einem völlig falschen Vergleichsergebnis 45 Lochstreifen 3 enthaltene Information sowohl richtig führen. Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfin- abgelesen als auch richtig abgespeichert worden, soIn devices of this type, the test information is programmed into the punched tape 3 Weight sums of the 40 to be compared with one another and entered into the test memory 5. On whose Analog current sums are formed from memory contents, the output of which is likewise a digital-to-analog converter 12 individual components are connected by orders of magnitude, whose output differ on the second one can. Slight potential fluctuation of the comparison device 11 is performed. is Any changes in the digital memory signals could therefore, after the end of each program block, the information contained already for a completely wrong comparison result 45 punched tape 3 both correct to lead. It is the task of the present invention to be read and correctly stored, so

werden den beiden Eingängen der Vergleichseinrichtung 11 gleich große analoge Größen zugeführt. Im anderen Fall tritt an deren Ausgang ein Fehlersignal 50 auf, welches zur Beeinflussung des Steuerwerkes 13 verwendet werden kann. Auf das Fehlersignal hin kann der weitere Ablauf der Steuerung angehalten ■■-■ und die Fehlerursache ergründet werden.the two inputs of the comparison device 11 are supplied with analog quantities of the same size. in the In the other case, an error signal 50 occurs at the output thereof, which is used to influence the control unit 13 can be used. The further process of the control can be stopped in response to the error signal ■■ - ■ and the cause of the error is determined.

Zur weiteren Erläuterung sind die hierfür w^esent-For further explanation, the ^relevant

entgegengesetzt in Reihe geschaltete Dioden an eine 55 liehen Elemente der F i g. 1 bezüglich ihres inneren gemeinsame konstante Spannungsquelle angeschlos- Aufbaus detaillierter veranschaulicht, wobei die Besen sind, wobei der Verbindungspunkt der beiden zugszeichen aus Fig. 1 übernommen wurden. Im Dioden jeweils mit dem Ausgang, eines Speicher- dargestellten Beispiel enthält der Arbeitsspeicher platzes verbunden ist. 26 Speicherplätze, wobei, wie angedeutet, drei davonoppositely connected diodes in series to one of the 55 borrowed elements of FIG. 1 regarding your inner life common constant voltage source connected- construction illustrated in more detail, with the broom are, the connection point of the two train symbols from Fig. 1 have been taken over. in the Diodes each with the output, a memory example shown contains the main memory place is connected. 26 memory locations, three of which, as indicated

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nach- 60 für die Koordinatenrichtungen T, X und Z, neun folgend an Hand der Fig. 1 und 2 näher erläutert, Speicherplätze für neun verschiedene Geschwindigdas sich auf die numerische Steuerung einer Werk- ν keitsstufeii G, zwei Speicherplätze für zwei Vorschubzeugmaschine bezieht. richtungen V und zwölf Speicherplätze für die Vor-Die Steuerung für eine in dem mit 10 bezeichneten gäbe eines maximal dreidekadigen Wegsollwertes W Block angedeutete Werkzeugmaschine besteht aus 65 aufweisen. Es handelt sich dabei also um einen einem Lochstreifenabtaster 1, an den eine mit 2 be- Speicher einfachster Art zur Steuerung eines Mazeichnete Decodiereinrichtung angeschlossen ist, schinenschlittens in drei Koordinatenrichtungen. welche zur systemgerechten Entschlüsselung der in Die über die Decodiereinrichtung in den ArbeitsAn exemplary embodiment of the invention is explained in more detail below for the coordinate directions T, X and Z, nine following with reference to FIGS refers to two feed machine tools. directions V and twelve memory locations for the pre-control for a machine tool indicated in the block indicated by 10 with a maximum three-decade path setpoint value W block consists of 65. It is thus a matter of a punched tape scanner 1 to which a 2-way memory of the simplest type for controlling a drawing decoding device is connected, in three coordinate directions. which for the system-compatible decryption of the in die via the decoder in the work

dung, die bei derartigen digital-analogen Vergleichseinrichtungen in besonders hohem Maße erforderliche Genauigkeit auf relativ einfache Weise zu gewährleisten. that is required to a particularly high degree in such digital-analog comparison devices Ensuring accuracy in a relatively simple manner.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die entsprechend den einzelnen Gewichten abgestuften Widerstände zur Summierung der Teilströme der Digital-Analog-Wandler jeweils über zwei This object is achieved according to the invention in that the corresponding to the individual weights graded resistors for summing the partial currents of the digital-to-analog converter over two each

1 2β7 8311 2β7 831

3 4 . .3 4. .

speicher 4 einlaufenden digitalen Informationen ge- Programmsatz zusätzlich einprogrammiert und inmemory 4 incoming digital information- program block additionally programmed and in

langen nun mittels geeigneter Anwahlschaltungen auf den Prüfspeicher 5 übernommen worden. Auch dortlong has now been transferred to the test memory 5 by means of suitable selection circuits. Even there

die einzelnen Speicherplätze, so daß je nach Beauf- entstehen deshalb an den durch Sehr äffur hervor-the individual storage spaces, so that, depending on the load, the

schlagung derselben an deren Ausgänge entweder ein . gehobenen Speicherplätzen negative L-Signale. Fürstriking the same at their outputs either. raised memory locations negative L signals. For

0-Signal oder ein L-Signal entsteht. Es ist nachzu- 5 die Äusgangsströme der beiden Digital^:Analog-A 0 signal or an L signal is generated. The output currents of the two digital ^: analogue

tragen, daß die Speichereinrichtung in an sich be- wandler 10 und 12 gilt dann beim vorgesehenenbear that the storage device in itself converters 10 and 12 then applies to the intended

kannter Weise als digitaler Baustein ausgeführt ist, Beispiel:
■so daß deren Ausgänge nur zweier Werte fähig sind,
wobei vorausgesetzt ist, daß einem O-Signal dasis designed as a digital module, for example:
■ so that their outputs are only capable of two values,
it is assumed that a 0 signal has the

Erd- oder Massepotential entsprechen soll und ein io __._ _ 29 · U Should correspond to earth or ground potential and an io __._ _ 29 · U

L-Signal ein gegenüber Masse negatives Potential auf- ι R
-weisen möge. Den einzelnen Speicherplätzen sind
die in ihnen eingetragenen Gewichte zugeordnet.,L signal has a negative potential with respect to ground ι R
- may wise. The individual memory locations are
assigned the weights entered in them.,

Aufgabe des dem Arbeitsspeicher nachgeschalteten Wenn beide Ausgangsströme der Digital-Analog-Digital-Analog-Wandlers 10 ist es, bei Auftreten 15 Wandler 10 und 12 gleich groß sind, so wird an der eines L-Signals an einem oder mehreren Speicher- mit S bezeichneten Ausgangsklemme der als Kippplätzen einen deren Gewichtssumme entsprechenden verstärker ausgeführten Vergleichseinrichtung 11 Ausgangsstrom L₁ hervorzurufen. Hierzu ist — wie kein Signal erscheinen, was als Kriterium für einen der Übersicht halber nur für wenige Speicherplätze ordnungsgemäßen Lese- und Abspeichervorgang dargestellt — jeder Speicherplatzausgang über eine 20 ausgewertet werden kann.Task of the working memory connected downstream. If both output currents are the digital-analog-digital-analog converter 10, when 15 converters 10 and 12 are the same size, then an L signal at one or more memories is denoted by S Output terminal of the comparison device 11, which is designed as tipping locations, to produce an amplifier corresponding to its total weight, output current L ₁ . For this purpose - such as no signal appear, which is shown as a criterion for a reading and storage process that is correct for the sake of clarity only for a few storage locations - each storage location output can be evaluated via a 20.

Halbleiterdiode mit einer Sammelschiene 14 und über Die Anwendung ist keineswegs auf das dargestellte eine weitere Halbleiterdiode mit einem Widerstand Ausführungsbeispiel beschränkt. Insbesondere ist die verbunden, wobei die anderen Enden sämtlicher Art der Bewichtung der einzelnen Speicherplätze des Widerstände gemeinsam an die Ausgangsklemme 15 Arbeitsspeichers 4 völlig beliebig, wobei es auch des Digitalanalogwandlers 10 geschaltet sind. Die 25 keine Rolle spielt, ob bei den Speicherplätzen meh-Widerstandswerte der einzelnen Widerstände ver- rere Gewichte gleichzeitig in Erscheinung treten, halten sich umgekehrt wie die Gewichte der ihnen stets wird die Summe der Gewichte einen für den zugeordneten Speicherplätze. Wird im dargestellten Informationsgehalt charakteristischen Wert aufBeispiel an die Sammelschiene 14 eine konstante weisen, der in erfindungsgemäßer Weise in einen Spannung — U gelegt, welche in bezug auf das Erd- 30 Prüfspeicher ebenfalls eingegeben wird und somit potential ein weniger negatives Potential aufweist als einen Kontrollvergleich erlaubt. Statt die Speicherdas jeweils an den Ausgängen der Speicherplätze platze für die Weginformation W, wie dargestellt, mögliche negative L-Signal, dann wird bei Auftreten tetraedisch im Aiken-Cod'e zu organisieren, kann eines L-Signals an irgendeinem beliebigen Speicher- selbstverständlich irgendein anderer beliebiger Code platz der ihm zugeordnete Widerstand durch die als 35 Verwendung rinden, ohne dadurch etwas am Wesen Schalter wirkenden Dioden praktisch mit der Span- der Erfindung und den sich bei ihrer Anwendung nungsquelle — U leitend verbunden und verursacht erzielbaren Vorteilen zu ändern,
einen dem Gewicht dieses Speicherplatzes entspre- Die Kapazität des Prüfspeichers würde beim dar-■chenden Betrag zum Ausgangsstrom I₁. Wesentlich gestellten Beispiel eine Erweiterung des Arbeitsist, daß die sich zu den Strömen I₁ und I₂ zusammen- 40 Speichers um mindestens sechs weitere Dekaden der setzenden Teilströme durch die einzelnen Gewichts- Sollwertinformation W oder eine entsprechende An-■widerstände nicht von den möglicherweise auftreten- zahl von zusätzlichen Speicherplätzen für weitere den Potentialschwankungen der an den Ausgängen Steuerfunktionen zulassen, wie dies beim Blockder zugeordneten Speicherplätze erscheinenden L-Si- symbol 4 gestrichelt angedeutet ist. Dies ergibt sich gnale abhängen, sonder lediglich durch die gemein- 45 daraus, daß der Prüfspeicher eine Zahl bis zu 99 same Spannungsquelle — U bestimmt sind. Es ergibt speichern kann und beispielsweise für jede Dekade sich damit eine große Zuverlässigkeit bei dem Ge- der Sollwertinformation W ein Gewicht von maxi- -wichtssummenvergleich der beiden Speicher. mal 9 vorzusehen ist. Kommt man jedoch beimSemiconductor diode with a busbar 14 and over The application is by no means restricted to the illustrated embodiment of a further semiconductor diode with a resistor. In particular, the is connected, with the other ends of all types of weighting of the individual memory locations of the resistor jointly to the output terminal 15 of the main memory 4, completely arbitrarily, with the digital-to-analog converter 10 also being connected. It does not matter whether the memory locations have more resistance values of the individual resistors at the same time, but inversely like the weights of them, the sum of the weights is always one for the assigned memory locations. If, in the information content shown, a constant value is given to the busbar 14, which is placed in a voltage - U in the manner according to the invention, which is also entered with respect to the earth test memory and thus potential has a less negative potential than a control comparison allows . Instead of the memory that is located at the outputs of the memory locations for the path information W, as shown, possible negative L-signal, then it is organized tetrahedically in Aiken-Cod'e when it occurs, an L-signal can be sent to any memory - of course any other arbitrary code space its associated resistor by the barks as 35 using, without thereby somewhat diodes acting on the switch being practically with the chip of the invention and to voltage source in their application - conductively connected to U and causes recoverable advantages to change,
The capacity of the test memory would result in the output current I ₁ . An essential example of an extension of the work is that the storage units combined to form the currents I ₁ and I ₂ by at least six further decades of the setting partial currents due to the individual weight setpoint information W or a corresponding resistance do not possibly occur - Allow number of additional memory locations for further fluctuations in potential of the control functions at the outputs, as indicated by dashed lines in the L-Si symbol 4 appearing in the block of the assigned memory locations. This arises from the fact that the test memory contains a number of up to 99 same voltage source U are determined solely by the common values. It can store and, for example, for each decade there is thus great reliability in the case of the setpoint information W a weight of maximum weight sum comparison of the two memories. times 9 is to be provided. But if you come to the

In ähnlicher Weise ist der Prüfspeicher 5 auf- Arbeitsspeicher mit den im Beispiel angegebenen gebaut. Er ist so ausgelegt, daß er die sich bei 50 Speicherplätzen aus, so kann die höherwertige DeBelegung sämtlicher Speicherplätze des Arbeits- kade des Prüfspeichers um einen oder zwei Speicherspeichers 4 ergebende Gewichtsquersumme aufneh- platze vermindert werden. In a similar way, the test memory 5 is based on working memory with the ones specified in the example built. It is designed in such a way that it takes up the 50 memory locations, so the higher-order de-allocation of all memory locations of the working sequence of the test memory can be reduced by one or two memory memories 4 resulting weight cross-sum.

men kann. Im vorliegenden Fall ist diese zwei- Bildet man die Vergleichseinrichtung 11 nicht alsmen can. In the present case, this is two- If the comparison device 11 is not formed as

dekadisch, weshalb die Wertigkeit der Gewichte einer einen Kippverstärker aus, d. h. einen Verstärker, derdecadic, which is why the valence of the weights of a tilt amplifier, d. H. an amplifier that

Dekade sich von der der anderen Dekade um eine 55 schon auf Grund des kleinsten Unterschiedes seinerThe decade differs from that of the other decade by 55 due to the slightest difference between it

Zehnerpotenz unterscheiden. Die Zuordnung sowie beiden Eingangsgrößen I₁ und I₂ an die GrenzenDifferentiate powers of ten. The assignment and both input variables I ₁ and I ₂ to the limits

die Bemessung der Widerstände im Digital-Analog- seines Aussteuerbereiches gelangt, sondern als einenthe dimensioning of the resistances in the digital-analogue reaches its modulation range, rather than one

Wandler 12 erfolgt entsprechend der vorher be- stetigen Verstärker, so lassen sich aus der GrößeConverter 12 takes place in accordance with the previously established amplifier, so the size

schriebenen Weise. seines Ausgangssignals unter Umständen schonwrote way. of its output signal may be

Zur weiteren Veranschaulichung möge ein Zahlen- 60 Schlüsse auf Art und Ort des Fehlers ziehen, wasFor further illustration, a number may draw conclusions about the type and location of the error, what

Beispiel dienen. Es soll eine Vorschubbewegung in eine Fehlersuche erheblich abkürzen könnte.Serve as an example. It is supposed to shorten a feed movement considerably in a troubleshooting.

X-Richtung mit der Geschwindigkeitsstufe 7 in posi- Insgesamt gesehen, zeigt die Erfindung einen WegX-direction with the speed level 7 in positive overall, the invention shows a way

tiver Richtung um 746 Wegeinheiten erfolgen. Bei auf zur gesicherten Verarbeitung von in datenver-tive direction by 746 distance units. In the case of the secure processing of data stored in

richtiger Abspeicherung dieses Informationsgehaltes arbeitenden Einrichtungen eingegebener Informawird dann jeweils an den schraffiert kenntlich ge- 65 tionen. Bevorzugtes Anwendungsgebiet der Erfindungcorrect storage of this information content will be given to working institutions then indicated by the hatched lines. Preferred field of application of the invention

machten Speicherplätzen des Arbeitsspeichers 4 ein ist die numerische Steuerung von Werkzeugmaschi-made memory locations of the main memory 4 is the numerical control of machine tools

negatives L-Signal auftreten. Die Quersumme dieses nen, da sich hier Fehler bei der Datenverarbeitungnegative L signal occur. The checksum of this nen, since there are errors in the data processing

Informationsgehaltes beträgt 29. Dieser Wert ist im besonders verhängnisvoll auswirken können.Information content is 29. This value is particularly disastrous.

Claims

Claim:

Test circuit for reading and storage control of digital control information for data processing facilities with weighting and storage of each control information as well as input and storage of one of the weight sums, in particular the checksum of all control information corresponding test information, the memory contents corresponding to the control and test information by means of two with overlay of graduated Partial streams working digital-to-analog converter and one. Differential amplifiers are compared with one another, characterized in that the resistors graded according to the individual weights for summing the partial currents of the digital-to-analog converter are each connected to a common constant voltage source (-U) via two oppositely connected diodes in series, the connection point being the both diodes with the. Output of a memory location is connected.

1 sheet of drawings