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DE1283959B - Einrichtung zur Messung von Magnetfeldgradienten - Google Patents

Einrichtung zur Messung von Magnetfeldgradienten

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Publication number
DE1283959B
DE1283959B DE19631283959 DE1283959A DE1283959B DE 1283959 B DE1283959 B DE 1283959B DE 19631283959 DE19631283959 DE 19631283959 DE 1283959 A DE1283959 A DE 1283959A DE 1283959 B DE1283959 B DE 1283959B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
probes
semiconductor
magnetic field
parallel
bridges
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19631283959
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Phys Dr Herbert
Weiss
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DE19631283959 priority Critical patent/DE1283959B/de
Publication of DE1283959B publication Critical patent/DE1283959B/de
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/022Measuring gradient

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Description

  • Zur Messung von Magnetfeldgradienten ist bereits die Hallspannung von Halbleitersonden ausgenutzt worden. Diese Halbleitersonden, die im Gegensatz zum magnetfeldabhängigen Widerstand auch als »Hallgeneratoren« bezeichnet werden, sind in einem festen gegenseitigen Abstand angeordnet (vgl. deutsche Auslegeschrift 1 082344 und britische Patentschrift 822 210). In einem räumlich unveränderlichen, senkrecht zu den Hallgeneratorflächen gerichteten Magnetfeld weisen die Sonden voneinander verschiedene Hallspannungen auf. Die Differenz der Hallspannungen ist der Größe des Magnetfeldgradienten proportional.
  • Die Meßgenauigkeit dieser bekannten Einrichtungen leidet durch die Exemplarstreuung der einzelnen Hallgeneratoren, denn diese sind hinsichtlich ihrer Empfindlichkeit gegenüber Magnetfeldern und Temperaturänderungen nicht identisch. Wegen der Kleinheit des Halleffekts sind derartige Einrichtungen relativ kompliziert, unter anderem sind Verstärker erforderlich. Da die plättchenförmigen Hallgeneratoren bekannter Gradientenmeßgeräte, insbesondere bei der Ausmessung inhomogener Magnetfelder flach übereinanderliegen und zwischen ihnen ein (stützender) Isolierkörper erforderlich ist (vgl. deutsche Auslegeschrift 1 072316 a. E. und die britische Patentschrift 822210), ist zwischen den Einzelsonden immer eine relativ große Entfernung nötig, die durch die Dicke des Isolierkörpers vorgegeben ist. Sehr genaue Messungen steiler Magnetfeldgradienten können mit den bekannten Geräten daher nicht ausgeführt werden. Sind dagegen relativ flache Magnetfeldgradienten auszumessen, so stellt man die Hallgeneratoren in größerer Entfernung auf. In diesem Fall kann das Meßergebnis durch den nie ganz gleichen Temperaturgang der Einzelsonde verfälscht werden.
  • Weiterhin ist die Herstellung von Gradientensonden, in denen die Hallspannungen der Einzelsonden verglichen werden, kostspielig, da pro Hallgenerator vier Kontaktstellen - für die ganze Sonde also mindestens acht Kontaktstellen - erforderlich sind. Es kommt erschwerend hinzu, daß die Hallkontakte - also je zwei Kontakte pro Hallgenerator - punktförmig sein müssen, also besonders schwierig herstellbar sind. Außerdem machen diese Kontakte die bekannten Einrichtungen - sowohl bei nebeneinander als auch bei übereinander angeordneten Hallgeneratoren - zusätzlich kompakt, so daß an eine Einführung in sehr schmale Luftspalte von etwa unterhalb 1 mm Breite nicht zu denken ist.
  • Auch sind bekannte Gradientensonden nur zur Ausmessung von Magnetfeldern bzw. deren Komponenten geeignet, die senkrecht auf der Fläche der Hallgeneratoren stehen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Magnetfeldgradientensonde zu schaffen, bei der unter anderem das Meßergebnis weder durch Exemplarstreuung von Einzelsonden noch durch Temperaturunterschiede an den Orten der Einzelsonden verfälscht werden kann und deren Empfindlichkeit so groß ist, daß eine Verstärkung der Meßergebnisse überflüssig ist. Die neue Einrichtung soll auf einfache Weise mit exakten physikalischen und geometrischen Ausmaßen herstellbar und leicht handhabbar sein.
  • Die Erfindung betrifft nun eine Einrichtung zur Messung von Magnetfeldgradienten sowie deren höhere Ableitungen nach dem Ort durch mindestens zwei Halbleitersonden, die zu einer Brückenschaltung ergänzt sind. Die erfindungsgemäße Lösung besteht darin, daß langgestreckte Halbleitersonden mit magnetfeldabhängigem Widerstand mit der Längsrichtung parallel zueinander fest auf einem Träger angeordnet sind, daß die Halbleitersonden und sie verbindende Leitbrücken aus einem einzigen Halbleiterwerkstück bestehen, wobei die je zwei Halbleitersonden verbindenden Leitbrücken metallisiert sind, und daß in und/oder auf den Halbleitersonden parallel zueinander ausgerichtete elektrisch gut leitende Bereiche vorgesehen sind, die senkrecht zur Längsrichtung der Sonden verlaufen.
  • Die einzelnen Sonden bestehen also aus praktisch identischem Material und haben gleiche Empfindlichkeit gegenüber Magnetfeldern und Temperaturänderungen. Bei der Herstellung der erfindungsgemäßen Einrichtung werden zwei oder mehrere Sonden aus ein und demselben Stück Halbleitermaterial herausgeschnitten, und zwar so, daß zwischen den Einzelsonden Leitbrücken aus dem Halbleitermaterial bestehenbleiben. Die Leiterbrücken, die mit einem gut leitenden Material metallisiert sind, verbinden je ein Teilsondenpaar. Auf diese Weise kann man also Lötstellen sparen und eine Mehrfachsonde mit annähernd den gleichen Herstellungskosten erzeugen wie eine Einzelsonde, z. B. indem man die Form des Halbleiters mit Hilfe der Photoresisttechnik herausätzt oder die gewünschte Halbleiterform durch Ultraschallbehandlung heraus arbeitet.
  • Sollen sehr steile Magnetfeldgradienten ausgemessen werden, so ist es von großem Vorteil, wenn die Einzelsonden nur einen geringen Abstand haben.
  • Die parallelen Einzelsonden der Feldplatten nach der Erfindung lassen sich je nach Verwendungszweck mit einem Abstand bis herab zu 10 y herstellen; derart kleine Abstände sind mit getrennt erzeugten Einzelsonden nicht annähernd erreichbar, da dann die Parallelausrichtung große Schwierigkeiten macht.
  • Die erfindungsgemäßen Feldplatten können, da sie somit eine geringe Breite besitzen, auch quer, d. h. parallel zu den Magnetfeldlinien in den schmalen Luftspalt eines Magneten eingesetzt werden.
  • Zum besseren Verständnis der Erfindung werden im folgenden einige Ausführungsbeispiele beschrieben, die in der Zeichnung schematisch dargestellt sind.
  • Fig. 1 zeigt eine Gradientensonde. Der Halbleiterkörper, bestehend aus den streifenförmigen Sonden 1 und 2 und der Leitbrücke 18, liegt auf dem Träger 10, der aus einem magnetisch und elektrisch isolierenden Stoff besteht, z. B. aus Keramik. Die Anschlußkontakte (Löt- oder Legierungskontakte) am Halbleiterkörper sind mit 12, 13 und 16 bezeichnet. Befindet sich diese Feldsonde im homogenen Magnetfeld, so fließt der Strom aus der Stromquelle 11 über den Kontakt 16 in die Leitbrücke 18; dort verzweigt sich der Strom und fließt durch die Sonden 1 und 2 und die ohmschen Widerstände 5 und 6 zurück nach 11. Im homogenen Magnetfeld werden die Widerstände 5 und 6 so abgestimmt, daß das Gerät 9 in der Diagonale der Brückenschaltung stromlos bleibt. Ist nun das Magnetfeld am Ort der beiden Halbleitersonden 1 und 2 verschieden, so wird die Brückenschaltung verstimmt, und das Gerät 9 zeigt eine dem Gradienten des Feldes proportionale Spannung an.
  • Die Doppelgradientensonde in F i g. 2 besteht aus zwei Gradientensonden, wie sie in F i g. 1 dargestellt sind. 1 und 2 bzw. la und 2 a sind streifenförmige Sonden, die durch Leitbrücken 18 bzw. 18 a verbunden sind und auf dem Träger 10 liegen. Die ohmschen Widerstände 5 und 6 bzw. 5 a und 6 a werden im homogenen Magnetfeld wieder so abgestimmt, daß die Anzeigegeräte 9 und 9 a in den Brückenschaltungen stromlos bleiben. Befindet sich diese Doppelgradientensonde in einem inhomogenen Magnetfeld, so gibt die Differenz der Ausschläge der beiden Instrumente 9 und 9 a den Betrag der zweiten Ableitung des Feldes an.
  • In F i g. 3 ist eine Doppelgradientensonde gezeichnet, die aus der Darstellung in Fig. 1 hervorgeht, wenn man die dortigen ohmschen Widerstände 5 und 6 durch die magnetfeldabhängigen Sonden 1 a und 2 a, die durch die Leitbrücke 18 a verbunden sind, ersetzt. Das Sondenpaar la, 2 a liegt zusammen mit dem Sondenpaar 1, 2 (verbunden durch die Leitbrücke 18) auf einem Träger 10. Liegt eine solche Feldsonde in einem Magnetfeld mit räumlich konstantem Gradienten, so ist die Summe der Widerstände 1 und 2 a und 2 und la jeweils konstant. Nur wenn die zweite Ableitung des Magnetfeldes nach dem Ort ungleich Null ist, zeigt das Gerät 9 einen dieser Ableitung proportionalen Wert an.
  • Eine weitere Vervollkommnung gegenüber der F i g. 3 zeigt die Fig. 4. Die Kontakte 12 und 13 a der Halbleitersonden 1 und 2 a sowie die Kontakte 13 und 12 a der Halbleitersonden 2 und la sind hier nicht mehr durch Drähte außerhalb der Sonde, sondern durch Leitbrücken 19 und 19 a verbunden. Wie in den übrigen Figuren stellt 18 eine Leitbrücke zwischen den Halbleitersonden 1 und 2 und 18 a eine Leitbrücke zwischen den Halbleitersonden 1 a und 2 a dar. Die ganze Feldsonde, die auf dem Träger 10 liegt, besteht also aus den magnetfeldabhängigen Sonden 1, 2, la, 2 a und den sie verbindenden Leitbrücken 18, 18 a, 19 und 19 a. Eine solche aus einem einzigen Halbleiterwerkstück geschnittene Feldsonde hat den Vorteil, daß ihre Elemente hinsichtlich ihrer Empfindlichkeit gegenüber Magnetfeldern und Temperatureinflüssen identisch sind. Außerdem hat die in Fig. 4 dargestellte Sonde nur vier Zuleitungen, nämlich zwei für die Versorgungsspannung 11 (Löt-oder Legierungskontakte 16 und 16 a) und zwei für das Meßinstrument 9 (Kontakte 20 und 20 a). Ebenso wie in den oben beschriebenen Anordnungen können auch hier die Leitbrücken 18 und 18 a bzw. 19 und 19 a zur Erniedrigung ihres elektrischen Widerstandes metallisiert werden. Die Metallisierung ist in allen vier Figuren durch Schraffierung der Leitbrücken angedeutet.
  • Für die Feldsonden eignen sich vor allem Halbleiterwerkstoffe mit hoher Trägerbeweglichkeit, z. B.
  • AlIIBv-Verbindungen (insbesondere Indiumantimonid). Um den magnetfeldabhängigen Halbleiterwiderständen eine hohe Empfindlichkeit zu geben, um also möglichst große Widerstandsänderungen bei Magnetfeldvariationen zu erhalten, kann man auf den Sonden (1, 1 a, 2, 2a in den Fig. 1 bis 4) - wie an sich bekannt - elektrisch gut leitende parallele Streifen anbringen, die zur Längsrichtung der Teilsonden senkrecht stehen. In F i g. 1 sind diese Streifen durch Querstriche auf den Halbleitersonden 1 und 2 angedeutet. Die Sonde ist dann gegenüber der auf der Trägerplatte 10 senkrecht stehenden Komponente des Magnetfeldes besonders empfindlich.
  • Diese elektrisch gut leitenden parallelen Streifen können z. B. aus Silber oder Indium bestehen, die elektrolytisch auf den Halbleiter aufgebracht werden.
  • Jedoch ist man nicht darauf beschränkt, solche gut leitenden Streifen auf der Oberfläche der Halbleiterwiderstände anzubringen. Man kann, wie an anderer Stelle vorgeschlagen, die Halbleiterstreifen auch mit parallel ausgerichteten Einschlüssen einer sehr gut leitenden Phase, insbesondere Nickelantimonid (NiSb), versehen. Diese Einschlüsse, die wie oben senkrecht zur Längsrichtung der Halbleiterstreifen liegen, können parallel zur Trägerplatte der Feldsonde oder senkrecht zu ihr stehen.
  • Liegen diese Einschlußnadeln parallel zur Trägerplatte, so wirken sie wie die vorher erwähnten und nachträglich aufgebrachten Streifen. Sind die parallelen Einschlußnadeln jedoch senkrecht zur Trägerplatte ausgerichtet, so kann man die räumlichen Änderungen des Magnetfeldes erfassen, dessen Induktion in der Ebene der Trägerplatte der Feldsonde liegt. Damit lassen sich Gradienten in Richtung des magnetischen Feldes erfassen, während mit Einschlußnadeln parallel zur Trägerplatte Gradienten der magnetischen Induktion senkrecht zur Richtung des magnetischen Feldes erfaßt werden können. -In F i g. 2 sind diese Einschlußnadeln, die auf dem Träger senkrecht stehen, schematisch durch Punkte auf den dort gezeichneten Halbleitersonden angedeutet.
  • Feldsonden dieser beiden Ausführungsarten - Einschlußnadeln parallel bzw. senkrecht zum Träger -können beide derart kleine räumliche Dimensionen besitzen, daß sie mit der Fläche ihrer Trägerplatte parallel oder sogar senkrecht zu dem schmalen Luftspalt eines Magneten in diesen einsetzbar sind. Damit hat man - eventuell durch Drehen der Feldsonden - die Möglichkeit, Magnetfeldgradienten in allen Richtungen bezüglich des Magnetfeldes genau und auf einfache Weise auszumessen.

Claims (5)

  1. Patentansprüche: 1. Einrichtung zur Messung von Magnetfeldgradienten sowie deren höhere Ableitungen nach dem Ort durch mindestens zwei Halbleitersonden, die zu einer Brückenschaltung ergänzt sind, dadurch gekennzeichnet, daß langgestreckte Halbleitersonden mit magnetfeldabhängigem Widerstand mit der Längsrichtung parallel zueinander fest auf einem Träger angeordnet sind, daß die Halbleitersonden und sie verbindende Leitbrücken aus einem einzigen Halbleiterwerkstück bestehen, wobei die je zwei Halbleitersonden verbindenden Leitbrücken metallisiert sind, und daß in und/oder auf den Halbleitersonden parallel zueinander ausgerichtete elektrisch gut leitende Bereiche vorgesehen sind, die senkrecht zur Längsrichtung der Sonden verlaufen.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1 zur Messung der zweiten Ableitung eines Magnetfeldes nach dem Ort, dadurch gekennzeichnet, daß sie aus zwei auf einem gemeinsamen Träger liegenden Sondenpaaren mit Leitbrücken besteht, daß je zwei der freien Enden der vier Halbleitersonden durch weitere Leitbrücken verbunden sind, daß zwischen den ersteren Leitbrücken die Versorgungsspannung liegt und daß zwischen die letzteren Leitbrücken das Meßgerät geschaltet ist (Fig. 4).
  3. 3. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleitersonden aus einer A1IJBvVerbindung, insbesondere Indiumantimonid (InSb), hergestellt sind.
  4. 4. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung der elektrisch gut leitenden Bereiche parallele Streifen aus elektrisch gut leitendem Material, insbesondere Silber (Ag) oder Indium (In), auf die Halbleitersonden aufgebracht sind und daß die parallelen Streifen senkrecht zur Längsrichtung der Sonden und parallel zum Träger ausgerichtet sind.
  5. 5. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung der elektrisch gut leitenden Bereiche die Halbleitersonden mit parallel ausgerichteten Einschlüssen aus elektrisch gut leitendem Material, insbesondere NiSb, versehen sind und daß die Einschlüsse senkrecht zur Längsrichtung der Sonden und parallel oder senkrecht zum Träger ausgerichtet sind.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3514457A1 (de) * 1985-04-22 1987-01-02 Messtechnik Mellenbach Betrieb Anordnung zur betrags- und richtungsmaessigen messung von magnetfeldern

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB822210A (en) * 1957-03-29 1959-10-21 Gen Electric Co Ltd Improvements in or relating to instruments for making magnetic measurements
DE1082344B (de) * 1957-07-16 1960-05-25 Siemens Ag Einrichtung zur Messung des Feldgradienten schwacher magnetischer Felder
DE1151882B (de) * 1959-05-06 1963-07-25 Texas Instruments Inc Anordnung der Schaltungselemente einer Signalumkehrschaltung mit Halbleiterbauelementen in einem kristallinen Halbleiterkoerper
DE1154834B (de) * 1960-05-02 1963-09-26 Texas Instruments Inc Verstaerkende, auf einem Kristall aufgebaute Halbleiterschaltungsanordnung

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