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DE1110696B - Circuit arrangement for connecting a test device to a switching element in telecommunication systems, in particular telephone systems, which is occupied by an upstream selection stage - Google Patents

Circuit arrangement for connecting a test device to a switching element in telecommunication systems, in particular telephone systems, which is occupied by an upstream selection stage

Info

Publication number
DE1110696B
DE1110696B DEST16125A DEST016125A DE1110696B DE 1110696 B DE1110696 B DE 1110696B DE ST16125 A DEST16125 A DE ST16125A DE ST016125 A DEST016125 A DE ST016125A DE 1110696 B DE1110696 B DE 1110696B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
switching element
test
test device
circuit
tested
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEST16125A
Other languages
German (de)
Inventor
Dipl-Ing Peter Mueller
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alcatel Lucent Deutschland AG
Original Assignee
Standard Elektrik Lorenz AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Standard Elektrik Lorenz AG filed Critical Standard Elektrik Lorenz AG
Priority to DEST16125A priority Critical patent/DE1110696B/en
Publication of DE1110696B publication Critical patent/DE1110696B/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H47/00Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q3/00Selecting arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Description

Schaltungsanordnung zum Anschalten eines Prüfgerätes an ein über eine vorgeordnete Wahlstufe belegtes Schaltglied in Fernmelde., insbesondere Fernsprechanlagen Bei Prüfgeräten für Schaltglieder der Fermnelde-, insbesondere der Fernsprechtechnik tritt häufig die Aufgabe auf, sich störungslos an ein über eine vorgeordnete Wahlstufe belegtes Schaltglied anzuschalten und die Belegung dieses Schaltgliedes nach Auslösen der vorgeordneten Wahlstufe ohne Veränderung des Betriebszustandes des Schaltgliedes zu übernehmen. Es ist dabei erforderlich, daß einerseits die Potentialverhältnisse auf der Belegungsader des Schaltgliedes während des Bestehens der Verbindung über die vorgeordnete Wahlstufe nicht gestört werden, wenn das Prüfgerät sich anschaltet, und daß andererseits das Prüfgerät nach Auslösen der vorgeordneten Wahlstufe die Belegung ohne Auslösung des zu prüfenden Schaltgliedes übernimmt.Circuit arrangement for connecting a test device to a via a upstream selection level occupied switching element in telecommunication., especially telephone systems In testing devices for switching elements of the telephony technology, in particular telephony technology often occurs the task of having trouble-free access to an upstream electoral level to switch on the assigned switching element and the assignment of this switching element after triggering the upstream selection stage without changing the operating state of the switching element to take over. It is necessary that on the one hand the potential relationships on the occupancy wire of the switching element while the connection exists the upstream selection level is not disturbed when the test device switches on, and that, on the other hand, the tester after triggering the preceding election level Occupancy without triggering the switching element to be tested takes over.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsanordnung zum Anschalten eines Prüfgerätes an ein über eine vorgeordnete Wahlstufe belegtes Schaltglied ohne Potentialstörung und zur Übernahme der Belegung dieses Schaltgliedes durch das Prüfgerät nach Auslösen der vorgeordneten Wahlstufe in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen zu schaffen. Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß die Schaltmittel des das Anschalten des Prüfgerätes steuernden Prüfkreises als Spannungsteiler geschaltet sind, derart, daß das Potential am Anschaltpunkt des Prüfkreises dem am Anschaltpunkt des zu prüfenden Schaltgliedes vorhandenen Potential im Belegungsfall entspricht, und daß nach der Übernahme der Belegung des zu prüfenden Schaltgliedes durch das Prüfgerät der Belegungsstromkreis des Schaltgliedes nur über einen Teil des Prüfkreises aufrechterhalten wird. Gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung ist, daß das die Belegung des zu prüfenden Schaltgliedes aufrechterhaltende Relais mit zwei Wicklungen versehen ist, die gegeneinandergeschaltet sind und ein Ansprechen des Relais verhindern, solange eine vorgeordnete Wahlstufe an das zu prüfende Schaltglied angeschaltet ist.The invention is based on the object of a circuit arrangement for connecting a test device to one that is occupied by a preceding option level Switching element without potential interference and to take over the assignment of this switching element by the tester after triggering the preceding election level in telecommunications, in particular To create telephone systems. This is achieved according to the invention in that the Switching means of the test circuit controlling the switching on of the test device as a voltage divider are connected in such a way that the potential at the connection point of the test circuit to the Potential existing at the connection point of the switching element to be tested in the event of occupancy corresponds, and that after taking over the assignment of the switching element to be tested through the test device the assignment circuit of the switching element only over part of the circuit of the test circuit is maintained. According to a further embodiment of the invention, that the assignment of the switching element to be tested maintaining relay with two windings are provided, which are connected against each other and a response of the relay as long as an upstream selection stage is applied to the switching element to be tested is turned on.

Die Erfindung wird nun an Hand des in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles beschrieben. Es sind nur die zum Verständnis der Erfindung notwendigen Einzelheiten dargestellt.The invention will now be based on the illustrated in the drawing Embodiment described. There are only those for understanding the invention necessary details are shown.

Soll das zu prüfende Schaltglied (Prüfling PL) überprüft werden, das im Augenblick des Anschaltens des Prüfgerätes PG von der vorgeordneten Wahlstufe vW belegt ist, so darf bei der Anschaltung des Prüfgerätes PG in der c-Ader des Prüflings PL keine Potentialstörung auftreten.If the switching element to be tested (test item PL) is to be checked, which is occupied by the preceding selection level vW at the moment the test device PG is switched on, no potential interference must occur when connecting the test device PG in the c-wire of the test item PL.

Bei der Belegung durch die vorgeordnete Wahlstufe vW hat in bekannter Weise das Relais P angesprochen und sich mit seinem Kontakt p niederohmig geschaltet. Am Ausgangspunkt des Wählers dieser vorgeordneten Wahlstufe liegt also ein bestimmtes Potential, das allerdings je nach dem Leitungswiderstand der c-Ader in bestimmten Grenzen schwanken kann.When occupied by the upstream electoral level vW has in known Way, the relay P addressed and its contact p switched to low resistance. At the starting point of the voter of this upstream electoral level there is therefore a certain one Potential, which, however, depends on the line resistance of the c-core in certain Limits can fluctuate.

Der Prüfkreis des Prüfgerätes PG ist als Spannungsteiler aus den beiden Wicklungen 1 und II des Relais SP und aus dem Prüfrelais PR gebildet. Zur Anschaltung des Prüfgerätes an den Prüfling PL wird der Anschaltewähler AW in nicht näher dargestellter Weise auf den Prüfling PL eingestellt. Sodann werden in ebenfalls nicht dargestellter Weise die Kontakte cp 1 und cp 2 geschlossen. Der Prüfkreis wird jedoch erst dann an den Prüfling PL angeschaltet, wenn der Kontakt pr des Prüfrelais betätigt ist. Das Prüfrelais PR kann aber nur anziehen, wenn der Spannungsteiler überprüft ist, d. h. wenn nach Schließen des Kontaktes cp 1 die Leitung an keiner Stelle unterbrochen ist. Der Spannungsteiler ist dabei so aufgebaut, daß das Potential an dem Anschaltepunkt (c-AW) dem Potential des Prüflings PL entspricht, wenn der Prüfling durch eine vorgeordnete Wahlstufe vW belegt wird, d. h. wenn es dem Potential entspricht, das am Prüfling PL anliegt, wenn der Widerstand der c-Ader der vorgeordneten Wahlstufe vW groß ist. Hat jedoch die vorgeordnete Wahlstufe vW einen niedrigeren Widerstand in der c-Ader, so ist das Potential am Prüfling PL negativer als das am Anschaltepunkt des Prüfgerätes PG. Eine Rückwirkung dieses Potentials auf das Prüfrelais SP des Prüfgerätes ist jedoch durch den Gleichrichter Gr verhindert.The test circuit of the test device PG is formed as a voltage divider from the two windings 1 and II of the relay SP and from the test relay PR. To connect the test device to the test item PL, the connection selector AW is set to the test item PL in a manner not shown. Then the contacts cp 1 and cp 2 are closed in a manner also not shown. However, the test circuit is only connected to the test item PL when the contact pr of the test relay is actuated. The test relay PR can only pick up if the voltage divider has been checked, ie if the line is not interrupted at any point after the contact cp 1 has closed. The voltage divider is constructed in such a way that the potential at the connection point (c-AW) corresponds to the potential of the test item PL when the test item is occupied by an upstream selection level vW, ie when it corresponds to the potential that is applied to the test item PL when the resistance of the c-core of the preceding election level vW is high. However, if the upstream selection level vW has a lower resistance in the c-wire, the potential at the test object PL is more negative than that at the connection point of the test device PG. A reaction of this potential on the test relay SP of the test device is prevented by the rectifier Gr.

Löst jetzt die vorgeordnete Wahlstufe v W aus, so fließt durch die Wicklung I des Prüfrelais SP des Prüfgerätes PG ein größerer Strom als durch die gegengeschaltete Wicklung II dieses Relais, da das Relais C des Prüflings PL dieser Wicklung 1I parallel geschaltet ist. Das Relais SP zieht jetzt an und übernimmt die Belegung des Relais C. Durch den Kontakt sp wird einerseits der Gleichrichter Gr überbrückt, andererseits werden das Relais PR und die Wicklung 1I des Relais SP stromlos. Damit ist das Kennzeichen gegeben, daß die Belegung des Prüflings PL vom Prüfgerät PG übernommen ist. Es kann jetzt die Prüfung durch das Prüfgerät stattfinden.If the upstream electoral stage v W now triggers, then flows through the Winding I of the test relay SP of the test device PG has a greater current than through the Opposite winding II of this relay, since the relay C of the test item PL of this Winding 1I is connected in parallel. The relay SP now picks up and takes over the assignment of relay C. On the one hand, the rectifier becomes through the contact sp Gr bypassed, on the other hand, the relay PR and winding 1I of the relay SP de-energized. This gives the indicator that the occupancy of the test item PL is accepted by the test device PG. The test can now be carried out by the test device.

Claims (4)

PATENTANSPRÜCHE: 1. Schaltungsanordnung zum Anschalten eines Prüfgerätes an ein über eine vorgeordnete Wahlstufe belegtes Schaltglied ohne Potentialstörung und zur Übernahme der Belegung dieses Schaltgliedes durch das Prüfgerät nach Auslösen der vorgeordneten Wahlstufe in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, dadurch gekenn- zeichnet, daß die Schaltmittel (SP, PR) des das Anschalten des Prüfgerätes steuernden Prüfkreises als Spannungsteiler geschaltet sind, derart, daß das Potential am Anschaltpunkt (c-AW) des Prüfkreises dem am Anschaltpunkt des zu prüfenden Schaltgliedes (PL) vorhandenen Potential im Belegungsfall entspricht, und daß nach der Übernahme der Belegung des zu prüfenden Schaltgliedes (PL) durch das Prüfgerät (PG) der Belegungsstromkreis des Schaltgliedes (PL) nur über einen Teil des Prüfkreises (SP 1) aufrechterhalten wird. CLAIMS: 1. A circuit arrangement features for connecting a test device to a filled via a pre-arranged selection stage switching element without potential interference and to assume the availability of this switching member by the tester after the triggering of the upstream selection stage in telecommunications, in particular telephone systems, marked by the fact that the switching means ( SP, PR) of the test circuit controlling the connection of the test device are connected as a voltage divider in such a way that the potential at the connection point (c-AW) of the test circuit corresponds to the potential at the connection point of the switching element to be tested (PL) in the case of occupancy, and that after Acceptance of the assignment of the switching element to be tested (PL) by the test device (PG) the assignment circuit of the switching element (PL) is only maintained over part of the test circuit (SP 1) . 2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das die Belegung des zu prüfenden Schaltgliedes (PL) aufrechterhaltende Relais (SP) mit zwei Wicklungen versehen ist, die gegeneinandergeschaltet sind und ein Ansprechen des Relais (SP) verhindern, solange eine vorgeordnete Wahlstufe (vW) an das zu prüfende Schaltglied (PL) angeschaltet ist. 2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the assignment of the switching element to be tested (PL) maintaining relay (SP) is provided with two windings which are connected against each other and prevent the relay (SP) from responding as long as there is an upstream selection level (vW) is connected to the switching element (PL) to be tested. 3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß in die Anschaltader des Prüfkreises ein stromrichtungsabhängiges Schaltmittel (Gr) derart eingefügt ist, daß es bei den im Belegungskreis des zu prüfenden Schaltgliedes (PL, vW) gegebenen und bei den unter Berücksichtigung aller vorhandenen Toleranzen im Prüfkreis (SP, PR) gewählten Potentialen während der Belegung des zu prüfenden Schaltgliedes (PL) durch die vorgeordnete Wahlstufe (vW) eine gegenseitige Beeinflussung der beiden Kreise verhindert. 3. Circuit arrangement according to claim 1 and 2, characterized in that a current-direction-dependent switching means (Gr) is inserted into the connecting wire of the test circuit in such a way that it is given in the assignment circuit of the switching element to be tested (PL, vW) and in the taking into account all existing tolerances in the test circuit (SP, PR) selected potentials during the occupancy of the switching element to be tested (PL) by the upstream selection stage (vW) prevents the two circuits from influencing each other. 4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß bei der Übernahme der Belegung des Schaltgliedes (PL) durch das Prüfgerät (PG) das stromrichtungsabhängige Schaltmittel (Gr) überbrückt wird.4. Circuit arrangement according to claim 3, characterized in that that when the assignment of the switching element (PL) is taken over by the test device (PG) the current direction-dependent switching means (Gr) is bridged.
DEST16125A 1960-02-17 1960-02-17 Circuit arrangement for connecting a test device to a switching element in telecommunication systems, in particular telephone systems, which is occupied by an upstream selection stage Pending DE1110696B (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1220491B (en) * 1962-07-25 1966-07-07 Sits Soc It Telecom Siemens Automatic test arrangement for troubleshooting in telecommunications systems

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