DE1110321B - Legierungsverfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem Siliziumkoerper - Google Patents
Legierungsverfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem SiliziumkoerperInfo
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- H10W72/30—
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
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- H10P95/00—
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- H10W72/073—
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- H10W72/07336—
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- H10W72/352—
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
S60096Vmc/21g
BEKANNTMACHUNG
DER ANMELDUNG
UNDAUSGABEDER
AUSLEGESCHRIFT: 6. JULI 1961
DER ANMELDUNG
UNDAUSGABEDER
AUSLEGESCHRIFT: 6. JULI 1961
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem scheibenförmigen
Grundkörper aus Silizium mit mehreren Elektroden, von denen mindestens eine durch Einlegieren
einer Goldfolie geschaffen wird, und mit einer Trägerplatte aus Molybdän. Erfindungsgemäß
wird die Molybdänplatte mindestens auf einer Seite mit einer an sich bekannten Goldauflage versehen,
deren Dicke nicht mehr als etwa ein Fünfzigstel bis ein Dreißigstel der Dicke der zur Legierung der Siliziumscheibe
verwendeten Goldfolie beträgt, und die Goldelektrode der Siliziumscheibe und die vergoldete
Seite der Molybdänplatte werden bei einer Temperatur zwischen 400 und 450° C zusammenlegiert.
Die Erfindung beruht auf folgenden Überlegungen: Es ist bekannt, eine Legierungselektrode mittels Einlegierens
einer Dotierungsstoffi enthaltenden Goldfolie in den vorzugsweise einkristallinen, verhältnismäßig
schwach dotierten Siliziumgrundkörper bei einer Temperatur von etwa 400° C herzustellen. Dabei
wird ein Teil des Siliziumgrundkörpers gelöst und eine Gold-Silizium-Schmelze gebildet. Bei der Abkühlung
wird durch Rekristallisation Silizium aus der Schmelze wieder ausgeschieden und lagert sich an
das ursprünglich noch nicht gelöste Silizium, das dabei als Impfling wirkt, an. In das rekristallisierende
Silizium werden Atome des Dotierungsstoffes mit eingebaut, so daß ein hochdotierter Bereich und gegebenenfalls
beispielsweise bei einem p-leitenden Siliziumgrundkörper und einem η-Leitung erzeugenden
Dotierungsstoff ein p-n-Übergang an der Grenzfläche zwischen dem unverändert gebliebenen Teil des Siliziumgrundkörpers
und der rekristallisierten Siliziumschicht entsteht. Zur Wahrung einer möglichst großen
Diffusionslänge im Halbleiter muß man nun danach trachten, bei dessen thermischer Weiterverarbeitung
mit mögüchst niedrigen Temperaturen auszukommen. Es ist deshalb ohne weiteres nicht möglich, ein
Molybdänblech, das in an sich bekannter Weise als Trägerplatte verwendet werden soll, mit der goldhaltigen
Legierungselektrode zu verbinden, und zwar unter anderem schon aus dem Grunde, weil dazu eine
verhältnismäßig hohe Temperatur von etwa 900° C erforderlich wäre. Diese Schwierigkeit wird dadurch
umgangen, daß die Molybdänplatte zunächst für sich mit einer Goldauflage versehen und dann die so vorbereitete
Molybdänplatte mit der goldhaltigen Elektrode des Siliziumelementes durch erneute Wärmebehandlung
bei einer Temperatur von etwa 400 bis 450° C vereinigt wird, welche gerade ausreicht, das
Eutektikum Gold-Silizium aufzuschmelzen. Es ist an sich bekannt, die Molybdänplatte zu vergolden, je-Legierungsverfahren
zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem Siliziumkörper
Anmelder: Siemens-Schuckertwerke Aktiengesellschaft,
Berlin und Erlangen, Erlangen, Werner-von-Siemens-Str. 50
Dipl.-Phys. Reimer Emeis, Ebermannstadt (OFr.),
ist als Erfinder genannt worden
doch besteht in Verbindung mit der Verwendung einer goldhaltigen Elektrode die Gefahr einer merkliehen
Verlagerung der gegebenen Legierungsfronten, sobald die Dicke der Goldauflage der Molybdän-Trägerplatte
ein bestimmtes Verhältnis zur Dicke der Dotierungsstoff enthaltenden Goldfolie überschreitet.
Unter Umständen kann sogar die aus hochdotiertem Silizium bestehende Rekristallisationsschicht infolge
des Goldüberschusses vollständig in der Schmelze wieder gelöst und darüber hinaus noch weiteres Silizium
aus dem bisher unveränderten Basisbereich zur Legierungsbildung mit herangezogen werden. Auf
diese Weise kann sogar der p-n-Übergang durch Goldüberschuß zerstört werden, wenn z. B. in geringem
Abstand von ihm ein zweiter p-n-Übergang wie bei einem Transistor oder einem Vierschichtelement
(p-n-p-n) im Siliziumkörper vorhanden war und der Goldüberschuß ausreicht, das Zwischengebiet zu
durchstoßen. Ferner können von der vergoldeten Molybdänplatte her den Leitungstyp ändernde Verunreinigungen
oder Molybdän in die Rekristallisationsschicht gelangen. Letzteres verhindert überhaupt die
erneute Bildung einer Rekristallisationsschicht, da es mit Gold und Silizium eine Dreistofflegierung eingeht,
welche ohne Wiederausscheidung von Silizium erstarrt.
Diese Schwierigkeiten werden dadurch beseitigt, daß die Dicke der Goldauflage der Molybdänplatte
nicht mehr als ein Fünfzigstel bis ein Dreißigstel der Dicke der zur Legierung der Siliziumscheibe verwen-
109 620/349
deten Goldfolie beträgt. Damit ist es nach den vorhergehenden
Ausführungen ungefährlich und deshalb zulässig, billigeres Gold von normaler technischer
Reinheit als Auflage für die Molybdänplatte zu verwenden.
Zur besseren Haftung des Goldes können auf. die Molybdänplatte vor der Vergoldung zunächst eine
Nickel- und dann eine Silberschicht, vorteilhaft galvanisch, aufgebracht und jeweils durch Einbrennen
bei etwa 800° C in neutraler Atmosphäre, z. B. unter to Stickstoff, an das Molybdän gebunden werden. Auch
die anschließende Vergoldung erfolgt am besten galvanisch. Dadurch wird der Goldüberzug mit der
Silberschicht besonders innig verbunden. Bei der späteren Wärmebehandlung findet dann zunächst eine
weitgehende Mischkristallbildung aus beiden Schichten statt, welche bereits bei etwa 200° C einsetzt und
einen wesentlichen Beitrag zu der festen Verbindung mit der goldhaltigen Legierungselektrode des Siliziumelementes
durch den nachfolgenden Schmelzvorgang, wie oben beschrieben, liefert. Im galvanischen Bad
wird der Goldüberzug auf beiden Seiten des Molybdänbleches erzeugt, wenn nicht die eine Seite besonders
abgedeckt wird. Der beiderseitige Goldüberzug hat den Vorteil, daß die dem Silizium abgewandte
Seite des Molybdänbleches verhältnismäßig leicht, z. B. mittels Weichlötung, mit einem metallenen
Träger- oder Kühlkörper, Stromzuführung od. dgl. verbunden werden kann. Ferner ist dadurch die Molybdänplatte
gegen einen Ätzangriff von an sich bekannten Ätzmitteln, welche zwar Silizium, aber nicht
Gold angreifen, beispielsweise eine Mischung von Flußsäure und Salpetersäure im Mischungsverhältnis
1:1, geschützt.
Eine andere Möglichkeit zur Erzielung einer guten Haftwirkung der Goldauflage besteht darin, den unmittelbar
auf das Molybdänblech aufgebrachten Goldüberzug selbst einzubrennen, und zwar vorteilhaft
bei etwa 900° C in ebenfalls neutraler Atmosphäre. Zur Erhöhung der Dichte des Goldüberzuges
ist es zweckmäßig, ihn in mehreren Teilschichten auf das Molybdän aufzubringen und jeweils gesondert
einzubrennen.
In der Figur ist als Ausführungsbeispiel eine nach der Erfindung herzustellende Halbleiteranordnung in
einem Zwischenstadium veranschaulicht. Der p-leitende Basisbereich 10 eines vorgefertigten Siliziumelementes,
z. B. eines Transistors, grenzt über eine Dotierungsstoff, z. B. Antimon, enthaltende Rekristallisationsschicht
12 an eine beispielsweise antimonhaltige Gold-Silizium-Legierungsschicht 13. Zwischen
den Schichten 10 und 12 befindet sich ein p-n-Übergang 11. Die Schichten 12 und 13 bilden den Kollektor
des Transistors.
Auf der Oberseite des Transistors befindet sich ein Emitter von ähnlicher Beschaffenheit wie der Kollektor,
jedoch kleinerer Fläche. Er besteht aus einer Legierungsschicht 18 und einer vorgelagerten Rekristallisationsschicht
19, die mit einem zweiten p-n-Übergang an den Basisbereich 10 angrenzt. 21 ist ein
ringförmiger Basiskontakt, der z. B. durch Einlegieren eines Goldringes mit Borzusatz hergestellt sein kann.
Das beschriebene Halbleiterelement ruht auf einer vorbehandelten Molybdän-Trägerplatte 14, auf welche
eine Nickelschicht IS, eine Silberschicht 16 und eine
Goldschicht 17 in der oben beschriebenen Weise aufgebracht sind.
Das Halbleiterelement und die Trägerplatte werden miteinander verbunden, indem durch Erhitzung auf
etwa 400 bis 450° C die Gold-Silizium-Schicht 13 mit der Goldschicht 17 zusammenlegiert wird.
Claims (5)
1. Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem scheibenförmigen Grundkörper
aus Silizium mit mehreren Elektroden, von denen mindestens eine durch Einlegieren
einer Goldfolie geschaffen wird, und mit einer Trägerplatte aus Molybdän, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Molybdänplatte mindestens auf einer Seite mit einer an sich bekannten Goldauflage
versehen wird, deren Dicke nicht mehr als etwa ein Fünfzigstel bis ein Dreißigstel der Dicke
der zur Legierung der Siliziumscheibe verwendeten Goldfolie beträgt, und daß die Goldelektrode
der Siliziumscheibe und die vergoldete Seite der Molybdänplatte bei einer Temperatur zwischen
400 und 450° C zusammenlegiert werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Goldüberzug direkt auf die
Molybdänplatte aufgebracht und bei etwa 900° C eingebrannt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf die Molybdänplatte vor der
Goldschicht zunächst eine Nickel- und eine Silberschicht aufgebracht werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Goldschicht auf die Molybdänplatte
in Teilschichten aufgebracht wird, die einzeln eingebrannt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Molybdänplatte durch galvanische
Vergoldung eine allseitige Goldauflage erhält.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1018 557;
französische Patentschrift Nr. 1153 475.
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1018 557;
französische Patentschrift Nr. 1153 475.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 109 620/349 6.61
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL242265D NL242265A (de) | 1958-09-30 | ||
| DES60096A DE1110321B (de) | 1958-09-30 | 1958-09-30 | Legierungsverfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem Siliziumkoerper |
| FR802976A FR1233332A (fr) | 1958-09-30 | 1959-08-17 | Procédé de fabrication d'un semi-conducteur à base de silicium |
| GB28189/59A GB914260A (en) | 1958-09-30 | 1959-08-18 | Improvements in or relating to the production of semi-conductor devices |
| CH7851659A CH372385A (de) | 1958-09-30 | 1959-09-22 | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung aus Silizium |
| US842775A US3093882A (en) | 1958-09-30 | 1959-09-28 | Method for producing a silicon semiconductor device |
| BE583120A BE583120A (fr) | 1958-09-30 | 1959-09-29 | Procédé de fabrication d'un semi-conducteur à base de silicium. |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| DES60096A DE1110321B (de) | 1958-09-30 | 1958-09-30 | Legierungsverfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einem Siliziumkoerper |
Publications (1)
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| DE1110321B true DE1110321B (de) | 1961-07-06 |
Family
ID=7493849
Family Applications (1)
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| CH (1) | CH372385A (de) |
| DE (1) | DE1110321B (de) |
| FR (1) | FR1233332A (de) |
| GB (1) | GB914260A (de) |
| NL (1) | NL242265A (de) |
Cited By (4)
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- NL NL242265D patent/NL242265A/xx unknown
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- 1958-09-30 DE DES60096A patent/DE1110321B/de active Pending
-
1959
- 1959-08-17 FR FR802976A patent/FR1233332A/fr not_active Expired
- 1959-08-18 GB GB28189/59A patent/GB914260A/en not_active Expired
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- 1959-09-29 BE BE583120A patent/BE583120A/fr unknown
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| BE583120A (fr) | 1960-03-29 |
| CH372385A (de) | 1963-10-15 |
| FR1233332A (fr) | 1960-10-12 |
| GB914260A (en) | 1963-01-02 |
| NL242265A (de) | 1900-01-01 |
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