DE1148275B

DE1148275B - Circuit arrangement for telecommunication systems, in particular telephone systems with switching fields

Info

Publication number: DE1148275B
Application number: DES75743A
Authority: DE
Inventors: Dipl-Ing Klaus Frieser; Klaus Wierscher
Original assignee: Siemens Corp
Current assignee: Siemens Corp
Priority date: 1961-09-14
Filing date: 1961-09-14
Publication date: 1963-05-09

Description

Schaltungsanordnung für Fernmeldeanlagen, insbesondere Fernsprechanlagen mit Koppelfeldern Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung für Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen mit Koppelfeldern, die teilweise in erzwungener Wahl einzustellen sind und in denen die Ausgänge in Gruppen unterteilt sind, innerhalb derer die Prüfleitungen in möglicherweise mehrfacher Staffelung in Untergruppen zu individuellen Sammelprüfleitungen und möglicherweise in Untergruppen von Untergruppen zu weiteren, jeweils individuellen Sammelprüfleitungen zusammengeschaltet sind, welche entsprechend der Staffelung in mehreren Prüfstufen geprüft werden.Circuit arrangement for telecommunication systems, in particular telephone systems with switching matrices The invention relates to a circuit arrangement for telecommunications, in particular telephone systems with switching matrices, some of which are forced to choose and in which the outputs are divided into groups within those of the test leads in possibly multiple staggering in subgroups to individual collective test leads and possibly in subgroups of subgroups are interconnected to further, each individual collective test leads, which are tested in several test stages according to the graduation.

In bekannten Anordnungen der Art werden abgehende Verbindungsleitungen gleichzeitig über eine der Anzahl der Ausgänge entsprechende Anzahl von Prüfkreisen geprüft. Das erfordert eine relativ große Anzahl von Prüfrelais.In known arrangements of the type are outgoing connecting lines simultaneously via a number of test circuits corresponding to the number of outputs checked. This requires a relatively large number of test relays.

Ferner ist eine Schaltungsanordnung, insbesondere zum Zwecke der Identifizierung von Teilnehmern bekannt, in welcher Teilnehmerleitungen in drei Arten von Gruppen durch Kopplung derart zusammengefaßt sind, daß jeder Teilnehmer eindeutig durch seine Zugehörigkeit zu je einer der Gruppen jeder Art identifizierbar ist; durch Schrittschaltwähler werden hierzu jeweils sowohl alle Gruppen der ersten als auch der zweiten als auch der dritten Art nacheinander abgeprüft und der Teilnehmer durch die jeweilige Gruppenzugehörigkeit identifiziert. Eine derartige Schaltungsanordnung ist zur Anwendung in Koppelfeldern, welche insbesondere die Aufgabe erfüllen sollen, Verbindungen in kürzester Zeit durchzuschalten, ungeeignet, da zum Zwecke der Prüfung Schrittschaltwähler verwendet werden. Ferner liegt dieser bekannten Anordnung das Prinzip zugrunde, daß die Identität jeweils nur einer einzigen angeschalteten Leitung festzustellen ist, da mehr Leitungen als eine nicht angeschaltet werden können. Es werden daher auch in den Prüfvorgängen die gemeinsamen Prüfstromkreise jeweils aller Gruppen der genannten drei Arten von Gruppen uneingeschränkt nacheinander zur Prüfung angeschaltet, da eine Auswahl einer von mehreren, z. B. gleichzeitig belegbaren Leitungen nicht erforderlich und auch nicht möglich ist, wie es aber in bekannter Weise für Prüfschaltungen zum Zwecke von Leitungsdurchschaltungen erforderlich ist. Aus diesem Grunde ist die Anwendung einer derartigen, bekannten Schaltungsanordnung für Prüfvorgänge zum Prüfen, Auswählen und Sperren, insbesondere in Koppelfeldern, vollends ungeeignet.Furthermore, there is a circuit arrangement, in particular for the purpose of identification known from subscribers in which subscriber lines in three types of groups are combined by coupling in such a way that each participant clearly through his affiliation to one of the groups of each type can be identified; by Step-by-step selectors are used for this purpose in all groups of the first as well as the second as well as the third type checked one after the other and the participant through the respective group affiliation identified. Such a circuit arrangement is for use in switching matrices, which are supposed to fulfill the task in particular, To switch connections through in the shortest possible time, unsuitable as for the purpose of testing Step selector can be used. Furthermore, this known arrangement is the The principle is based on the fact that the identity of only a single connected line note that more lines than one cannot be switched on. The common test circuits are therefore also used in the test processes of all groups of the named three types of groups one after the other without restriction turned on for testing because a selection is one of several, e.g. B. at the same time assignable lines are not required and also not possible, as it is required in a known manner for test circuits for the purpose of line through-connections is. For this reason, the use of such a known circuit arrangement for test processes for testing, selecting and blocking, especially in switching networks, completely unsuitable.

Es ist eine weitere Schaltungsanordnung bekannt, in welcher von einer größeren Anzahl von Einrichtungen individuelle Meldeleitungen zweierlei Art individuell zusammenschalten; in dieser kann an der genannten Zusammenschaltung die sich meldende Einrichtung dadurch erkannt werden, d@aß ein Abtastpotential nacheinander an die Meldeleitungen der einen Art durch eine erste Zählkettensteuerschaltung angeschaltet wird, bis es mindestens über eine, dadurch ihre Gruppenzugehörigkeit kennzeichnende Einrichtung weitergeleitet wird, und daß die sich meldende Einrichtung in der betreffenden Gruppe in einem zweiten Bestimmungsvorgang unter Berücksichtigung von sich meldenden und zugleich auf Meldeleitungen der anderen Art auf Grund des ersten Bestimmungsvorganges gekennzeichneten Einrichtungen festgestellt wird. Diese letztgenannte Anordnung hat den Nachteil, daß sie auf Bildung von Gruppen von Melde- oder Prüfleitungen zweierlei Art beschränkt ist, ferner, daß durch die in den einzelnen Prüfstufen schrittweise nacheinander erfolgenden Prüfvorgänge der erforderliche Zeitaufwand für den gesamten Prüfvorgang relativ groß ist.There is a further circuit arrangement is known in which of one larger number of facilities individual reporting lines of two types individually interconnect; in this, the reporting person can use the interconnection mentioned Device can be recognized by d @ aß a sampling potential successively to the Signaling lines of one kind connected by a first counting chain control circuit will until there is at least one, thereby identifying their group affiliation Facility is forwarded, and that the reporting facility in the relevant Group in a second determination process, taking into account those reporting and at the same time on reporting lines of the other kind on the basis of the first determination process marked facilities is ascertained. This latter arrangement has the disadvantage that it entails the formation of groups of signaling or test lines is limited in two ways, furthermore that by the in the individual test stages test procedures taking place one after the other, the time required is relatively large for the entire test process.

Darüber hinaus ist eine Schaltungsanordnung insbesondere für Koppelfeldanordnungen bekannt, in welcher für den Fall, daß die Zahl der Abnehmerleitungen geringer als die Zahl der Zugänge zur letzten Koppelstufe ist, eine Aufteilung der einer Ausgangsgruppe zugehörigen Ausgänge in eine der Zahl der Abnehmerleitungen entsprechende Zahl von Untergruppen durchgeführt wurde. Da infolgedessen die Ausgänge der Untergruppen zusammengefaßt werden, sind entweder den Ausgängen zugeordnete, das gleichzeitige Prüfen mehrerer Prüfrelais auf eine Prüfleitung ermöglichende Hilfsschaltmittel erforderlich, oder es werden sich entsprechende Ausgänge aller Untergruppen einer Ausgangsgruppe gleichzeitig, dagegen aber die Ausgänge innerhalb jeder Ausgangsgruppe nacheinander geprüft.In addition, a circuit arrangement is particularly suitable for switching matrix arrangements known in which case the number of customer lines is less than the number of accesses to the last coupling stage is a division of that of an output group associated outputs into a number of corresponding to the number of subscriber lines Subgroups was carried out. As a result, the outputs of the subgroups are combined, are either assigned to the outputs, the simultaneous one Testing several test relays for one Auxiliary switching means enabling test lead required, or there will be corresponding outputs of all subgroups of a Output group at the same time, but the outputs within each output group checked one after the other.

Aufgabe der Erfindung ist, die genannten Nachteile zu vermeiden und eine Schaltung zu schaffen, die sowohl bei einer größeren Anzahl von Abnehmerleitungen nur eine geringere Anzahl von Prüfschalteinheiten und eine geringere Prüfzeit erfordert als auch bei einer geringeren Anzahl von Abnehmerleitungen das gleichzeitige Prüfen aller einer Ausgangsuntergruppe zugehörigen Prüfleitungen ermöglicht. Erfindungsgemäß wird dies erreicht durch gleichzeitig erfolgende Prüfung von Sammel- und Einzelprüfleitungen in jeder der Prüfstufen, durch aufeinanderfolgendes fortgesetztes Prüfen der Sammel- und Einzelprüfleitungen der verschiedenen Prüfstufen über jeweils dieselben Prüfstromkreise und durch das Prüfergebnis in jeweils einer Prüfstufe speichernde und den Prüfvorgang in der jeweils nächstfolgenden Prüfstufe bezüglich der Gesamtheit der Prüfleitungen eingrenzend steuernde Schaltmittel.The object of the invention is to avoid the disadvantages mentioned and to create a circuit that works with a larger number of subscriber lines only requires a smaller number of test switching units and a shorter test time as well as simultaneous testing with a smaller number of customer lines of all test leads belonging to an output subgroup. According to the invention this is achieved by testing collective and individual test lines at the same time in each of the test stages, by successive continued testing of the collective and individual test leads of the different test levels over the same test circuits and by storing the test result in one test stage and the test process in the next test stage in each case with regard to the entirety of the test leads limiting control switching means.

Ein Vorteil der Erfindung liegt in der Möglichkeit, bei Anordnung von zwei oder mehr Prüfstufen die Zahl der notwendigen, hochwertigen Prüfschaltmittel wesentlich, und zwar entsprechend der Zahl der Prüfstufen, zu reduzieren, und dabei mit einem Zeitaufwand zu arbeiten, der lediglich der Anzahl der Prüfstufen entspricht und von der Zahl der innerhalb einer Prüfstufe zu prüfenden Sammel- oder Einzelprüfleitungen unabhängig ist. Die Erfindung gestattet also die Prüfung z. B. relativ großer Leitungsbündel in relativ kurzer Zeit, ohne Erhöhung des Aufwandes an hochwertigen Prüfschaltmitteln.An advantage of the invention is the ability to arrange of two or more test levels, the number of high-quality test switchgear required to reduce significantly, according to the number of test stages, and at the same time to work with an expenditure of time that only corresponds to the number of test stages and on the number of collective or individual test lines to be tested within a test stage is independent. The invention thus allows the examination of z. B. relatively large bundle of lines in a relatively short time, without increasing the cost of high-quality test switchgear.

In. den Fig. 1 bis 3 werden Ausführungsbeispiele der Erfindung gezeigt, in welchen lediglich die zum Verständnis der Erfindung notwendigen Einzelheiten dargestellt sind. Die Verwendung derartiger, zur Einstellung von Koppelfeldern dienender Schaltungen ist bereits vorgeschlagen worden und wird darum hier nicht näher erläutert.In. FIGS. 1 to 3 show exemplary embodiments of the invention, in which only the details necessary to understand the invention are shown. The use of such, for the setting of switching networks serving Circuits have already been proposed and are therefore not explained in more detail here.

Die in Fig. 2 gezeigten siebenundzwanzig Einzelprüfeitungen sind in einer ersten Prüfstufe in drei Untergruppen zu je neun Einzelpräfleitungen über Gleichrichter entkoppelt zusammengeschaltet und mit je einer Sammelprüfleitung 1 Sp 1, 1 Sp 2, 1 Sp 3 verbunden. Die über Relaiskontakte 1r1 ... 1r9, 2r1 ...2r9, 3r1 ...3r9 durchschaltbaren neun Einzelprüfleitungen einer Untergruppe der ersten Prüfstufe sind in der zweiten Prüfstufe in drei weiteren Untergruppen zu je drei Einzelprüfleitungen über Gleichrichter entkoppelt zusammengeschaltet und mit je einer Sammelprüneitung 2 Sp 1, 2 Sp 2, 2Sp3 zusammengeschaltet. Die über Relaiskontakte in der zweiten Prüfstufe durchschaltbaren Einzelprüfleitungen werden in der dritten Prüfstufe einzeln geprüft.The twenty-seven individual test lines shown in FIG. 2 are in a first test stage in three subgroups of nine individual test lines each, decoupled via rectifiers and connected to a collective test line 1 Sp 1, 1 Sp 2, 1 Sp 3. The nine individual test leads of a subgroup of the first test stage, which can be switched through via relay contacts 1r1 ... 1r9, 2r1 ... 2r9, 3r1 ... 3r9, are decoupled in the second test stage in three further subgroups of three individual test leads via rectifiers and each with a collective test lead 2 Sp 1, 2 Sp 2, 2 Sp3 interconnected. The individual test leads, which can be switched through via relay contacts in the second test stage, are individually tested in the third test stage.

Es seien im folgenden an Hand eines Beispiels die Schaltvorgänge eines Prüfvorgangs dargestellt. Es sei angenommen, die Einzelprüfleitungen 3, 5, 6, 23 in Fig. 2 seien belegbar. Der Prüfvorgang wird durch Schließen des Kontaktes an in Fig: 1 des nicht dargestellten Relais An eingeleitet. Die Relais E, F und G, durch welche die Prüfvorgänge in den einzelnen Prüfstufen eingeleitet werden, sprechen nacheinander an. Sie sind lediglich zwecks Abfallverzögerung über eine Kurzschlußwicklung gedämpft. Die belegbaren Prüfleitungen in Fig.2 sind gegenüber den belegten durch Minusspannungspotential gekennzeichnet. Dieses Spannungspotential der Prüfleitungen 3, 5, 6 und 23 wird in der ersten Prüfstufe über die Sammelprüfleitungen 1 Sp 1 und 1 Sp 3 auf die Transistoren TrI und Tr3 wirksam, so daß diese durchgesteuert werden, und die Relais 1 R und 3 R in der ersten Prüfstufe ansprechen. Damit ist der Prüfvorgang in der ersten Prüfstufe beendet. Durch Kontakt 1r10 (Arbeitsseite) wird ein Haltestromkreis für das Relais 1 R über seine Haltewicklung 1R (II) gebildet. Gleichzeitig wird über die Ruheseite des gleichen Kontaktes ein Haltestromkreis des Relais 3R aufgetrennt, ebenfalls der Ansprechkreis des Relais E. Relais E fällt verzögert ab und leitet damit den Prüfvorgang in Prüfstufe 2 ein. Die Relaiskontakte 1 r 1... 1r9 hatten in der ersten Prüfstufe die Einzelprüfleitungen zur zweiten Prüfstufe durchgeschaltet. Die Minusspannungspotentiale an den belegbaren Einzelprüfadern werden über die Sammelprüfleitungen2Sp1, 2Sp2 der zweiten Prüfstufe auf die Transistoren Trl und Tr2 wirksam, wodurch die Relais 1S und 2S ansprechen. Das Relais 1S bildet über die Arbeitsseite des Kontaktes 1s4 und Wicklung 1 S (II) einen Haltekreis und trennt mit der Ruheseite des gleichen Kontaktes einen Haltekreis für das Relais 2S und den Ansprechkreis des Relais F auf. Die Relais 2S und F fallen ab. Durch Abfall des Relais F wird der Prüfvorgang in der dritten Prüfstufe eingeleitet. Die Kontakte des Relais 1 S hatten in der zweiten Prüfstufe die Einzelprüfleitungen von der zweiten Prüfstufe zur dritten Prüfstufe durchgeschaltet. Das Minusspannungspotential an d'er Einzelprüfleitung 3 wird nun in der dritten Prüfstufe über die Einzelprüfleitung 3 Ep 3 auf den Transistor Tr 3 wirksam. Dadurch spricht das Relais 3 T an und bildet mit seinem Kontakt 3 t 2 einen Haltestromkreis über seine Haltewicklung 3 T (II). Mit der Ruheseite des gleichen Kontaktes wird der Ansprechstromkreis des Relais G unterbrochen, welches infolgedessen abfällt.The switching processes of a test process are shown below using an example. It is assumed that the individual test lines 3, 5, 6, 23 in FIG. 2 can be assigned. The test process is initiated by closing the contact on in Fig: 1 of the relay (not shown) on. The relays E, F and G, through which the test processes are initiated in the individual test stages, respond one after the other. They are only damped for the purpose of drop-out delay via a short-circuit winding. The test leads that can be used in FIG. 2 are marked with negative voltage potential compared to the ones that can be used. This voltage potential of the test leads 3, 5, 6 and 23 is effective in the first test stage via the collective test leads 1 Sp 1 and 1 Sp 3 on the transistors TrI and Tr3, so that these are turned on, and the relays 1 R and 3 R in the address the first test stage. This ends the test process in the first test stage. Contact 1r10 (working side) forms a holding circuit for relay 1R via its holding winding 1R (II). At the same time, a holding circuit of relay 3R is disconnected via the rest side of the same contact, as is the response circuit of relay E. Relay E drops out with a delay and thus initiates the test process in test stage 2. The relay contacts 1r 1 ... 1r9 had switched through the individual test leads to the second test stage in the first test stage. The negative voltage potentials on the assignable individual test wires are effective on the transistors Trl and Tr2 via the collective test lines 2Sp1, 2Sp2 of the second test stage, whereby the relays 1S and 2S respond. The relay 1S forms a holding circuit over the working side of the contact 1s4 and winding 1S (II) and separates a holding circuit for the relay 2S and the response circuit of the relay F with the rest side of the same contact. The relays 2S and F drop out. When relay F drops out, the test process is initiated in the third test stage. In the second test stage, the contacts of relay 1S had switched through the individual test leads from the second test stage to the third test stage. The negative voltage potential on the individual test line 3 is now effective in the third test stage via the individual test line 3 Ep 3 on the transistor Tr 3. As a result, the relay 3 T responds and, with its contact 3 t 2, forms a holding circuit via its holding winding 3 T (II). With the rest side of the same contact, the response circuit of relay G is interrupted, which consequently drops out.

Während der Prüfvorgänge in den drei Prüfstufen wurden die Relais 1R, 1S und 3T erregt und anschließend über eigene Kontakte gehalten. Durch Abfall des Relais G nach der dritten Prüfstufe wird ein Nachprüfstromkreis für das Relais Ph gebildet: 1. -I-, S g, Ph (I), 3 t 1, 1 s 3, 1 r 3, Einzelprüfleitung 3, . . ., -.During the test processes in the three test stages, the relays 1R, 1S and 3T were energized and then held via their own contacts. When relay G drops after the third test stage, a test circuit for relay Ph is formed: 1. -I-, S g, Ph (I), 3 t 1, 1 s 3, 1 r 3, individual test line 3,. . ., -.

Relais Ph spricht an und schließt mit seinem Kontakt ph 1 über die mit ihm verbundene Kontaktpyramide einen Ansprechstromkreis für die entsprechende Koppelspule: 2. -f-, ph 1, 1 r 11, 1s5, 3t3, . . ., -. Relay Ph responds and with its contact ph 1 closes a response circuit for the corresponding coupling coil via the contact pyramid connected to it: 2. -f-, ph 1, 1 r 11, 1s5, 3t3,. . ., -.

Die entsprechenden Koppelpunkte in der ersten und zweiten Koppelstufe werden über Koppelkontakte durchgeschaltet, welche über hier nicht dargestellte Haltestromkreise während der Verbindung erregt bleiben. Nach Durchschaltung der Verbindung, wie zuvor beschrieben, wird die Einstelleinrichtung durch Öffnen des Kontaktes an wieder ausgelöst und steht zum Aufbau anderer Verbindungen zur Verfügung.The corresponding coupling points in the first and second coupling stage are switched through via coupling contacts, which remain energized during the connection via holding circuits (not shown here). After the connection has been switched through, as described above, the setting device is triggered again by opening the contact on and is available for establishing other connections.

Claims

PATENT CLAIMS 1. Circuit arrangement for telecommunications, in particular telephone systems with switching matrices, some of which are to be set in forced choice and in which the outputs are divided into groups, within which the test lines in possibly multiple grading in subgroups to individual collective test lines and possibly in subgroups of subgroups further, each individual collective test lines are interconnected, which are tested according to the grading in several test stages, characterized by the simultaneous testing of collective and individual test lines in each of the test stages, by successive continued testing of the collective and individual test lines of the different test stages over the same test circuits and by storing the test result in each test stage and controlling the test process in the respective next test stage with respect to the entirety of the test leads e switching means. ''. Circuit arrangement according to Claim 1, characterized by switching means which are assigned to the test circuits and record the test results, e.g. B. Relay, and one by series-connected idle sides and individually connected with holding windings working sides of a chain of individual relay own switching contacts specified order of selection of one of the collective or individual test lines marked as assignable. 3. Circuit arrangement according to claim 2, characterized by switching means, for. B. relays, through which the multiple used test circuits from test stage to test stage to the corresponding collective and individual test lines and to the switching means receiving the test results, z. B. Relays, can be switched on. Publications considered: German Auslegeschrift St 8676 VIIIa / 21 a3 (published on April 19, 1956); German interpretative document No. 1107 727.