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Die
vorliegende Anmeldung ist eine Fortführungsanmeldung der PCT/JP2003/012462,
die am 30. September 2003 angemeldet wurde und die die Priorität der Japanischen
Patentanmeldung Nr. 2002-289284, die am 1. Oktober 2002 eingereicht wurde,
beansprucht, wobei die Inhalte hier durch Bezugnahme eingeschlossen
sind.
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HINTERGRUNG
DER ERFINDUNG
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Gebiet der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Testgerät zum Durchführen eines
Setuptests oder eines Haltetests an einer zu testenden Vorrichtung.
Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf ein Testgerät, das in
der Lage ist, einen Setuptest oder einen Haltetest wirkungsvoll
durchzuführen.
Zusätzlich
bezieht sich die vorliegende Erfindung auf die folgende Japanische
Pa tentanmeldung. Die vorliegende Erfindung beansprucht die Vorteile
und die Priorität
der Japanischen Patentanmeldung Nr. 2002-289284, eingereicht am
1. Oktober 2002, wobei ihr gesamter Inhalt hier durch Bezugnahme
für alle
Zwecke eingeschlossen ist.
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Beschreibung
des betroffenen Standes der Technik
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In
letzter Zeit wird die Notwendigkeit einer großen Operationsgeschwindigkeit
und niedrigen Kosten einer elektronischen Vorrichtung in zunehmendem
Maße aktuell.
Bei der hohen Operationsgeschwindigkeit wird es schwierig, eine
Setupzeit und eine Haltezeit des Datentransfers zwischen elektronischen
Vorrichtungen sicherzustellen.
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Im
Falle des Schreibens von Daten von außen in eine elektronische Vorrichtung
unter Verwendung eines Taktsignals als Referenz, sollten die von außen kommenden
Daten mehr als eine vorbestimmte Zeit vor einer Flanke des Taktsignals
stabilisiert werden, um sicher die Daten von außen in die elektronische Vorrichtung
zu schreiben. Die vorbestimmte Zeit wird als Setupzeit bezeichnet.
Weiterhin sollten die Daten von außen in einem stabilen Zustand sein
bis mehr als eine vorbestimmte Zeit seit einer Flanke des Taktsignals
vergangen ist. Die vorbestimmte Zeit wird als Haltezeit bezeichnet.
Im Fall, dass die Bedingungen der Setupzeit und der Haltezeit nicht
befriedigt sind, kann manchmal die elektronische Vorrichtung nicht
das Halten der Daten korrekt durchführen.
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Es
ist somit ein Test notwendig, ob die elektronische Vorrichtung die
Setupzeit und die Haltezeit sicherstellt oder nicht. Das Testen
wird unter Verwendung eines Testgeräts durchgeführt. In letzter Zeit ist das
Verhältnis
der Testkosten für
die elektronische Vorrichtung zu den Herstellungskosten der elektronischen
Vorrichtung größer geworden.
Um somit die Testkosten zu reduzieren, werden die Verringerung der
Zeit zum Testen und eine Verbesserung der Genauigkeit beim Testen
verlangt.
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Ein übliches
Testgerät
misst eine Setupzeit, die notwendig für das Schreiben von Daten von
außen
auf eine elektronische Vorrichtung ist, durch stufenweises Verschieben
der Phase der Daten von außen
in Bezug auf einen Takt und Bewerten, ob es möglich ist, die Daten von außen korrekt
in die elektronische Vorrichtung zu schreiben oder nicht. Darüber hinaus
wird die Haltezeit in gleicher Weise gemessen. Die Daten von außen werden
der elektronischen Vorrichtung entsprechend einem Zeitverlaufsignal
zugeführt,
das durch das Testgerät
erzeugt wird. Es wird somit verlangt, eine Mehrzahl von Zeitverlaufsignalen
zu erzeugen, deren Phase stufenweise verschoben wird, um die Setupzeit
und die Haltezeit zu messen.
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Das
Testgerät
speichert Zeitverlaufseinstelldaten, die einen Zeitverlauf zeigen,
bei dem das Zeitverlaufsignal oder Zeitimpulssignal erzeugt werden soll,
um den einzuschreibenden Daten von außen zu entsprechen, und erzeugt
das Zeitverlaufsignal entsprechend den Zeitverlaufseinstelldaten.
Mit anderen gesagt, um die Setupzeit und die Haltezeit zu messen,
ist es notwendig, die Zeitverlaufseinstelldaten entsprechend jedem
der Mehrzahl von Zeitverlaufsignalen zu speichern.
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Allerdings
ist es schwierig, alle die Zeiteinstelldaten entsprechend der zu
erzeugenden Mehrzahl der Zeitverlaufsignale zu speichern. Um alle
die Zeitein stelldaten zu speichern, wird ein Speicher großen Volumens
verlangt. Das konventionelle Testgerät umfasst ein Register, das
in der Lage ist, verschiedene Zeitverlaufseinstelldaten zu speichern.
Im Falle der Erzeugung von Zeitverlaufsignalen, deren Phase sich
graduell verschiebt, ist es notwendig sequentiell die in dem Register
gespeicherten Zeitverlaufeinstelldaten zu überschreiben.
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Da
es jedoch notwendig ist, ein von dem Testgerät der elektronischen Vorrichtung
zugeführtes Testmuster
zu stoppen, um neue Zeitverlaufseinstelldaten in das Register zu
schreiben, wird eine Totzeit beim Testen der elektronischen Vorrichtung
erzeugt. Somit wird die Zeit für
das Testen erhöht.
Darüber
hinaus steigen die Herstellungskosten der elektronischen Vorrichtung.
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Es
ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Testgerät und ein
Testverfahren vorzusehen, die in der Lage sind, die obigen, den
Stand der Technik begleitenden Nachteile zu vermeiden. Die obige
Aufgabe kann durch in den unabhängigen Ansprüchen beschriebenen
Kombinationen gelöst werden.
Die abhängigen
Ansprüche
definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen
der vorliegenden Erfindung.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Um
die obigen Probleme zu lösen,
wird entsprechend einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung
ein Testgerät
zum Durchführen
eines Setuptests oder eines Haltetests an einer zu testenden Vorrichtung
("DUT"), die ein gegebenes
Datensignal entsprechend einem gegebenen Taktsignal speichert, vorgeschlagen,
wobei das Testgerät
umfasst: eine Zeitgebereinheit zum aufeinander folgenden Erzeugen
einer Mehrzahl von Zeitimpulssignalen mit unterschiedlichen Zeitverläufen während des
Setuptestens oder des Haltetestens auf der Grundlage eines ersten
Offsetwertes, der vor dem Start des Setuptestens oder des Haltetestens
gegeben wird; eine Mustererzeugungseinheit zum Erzeugen eines Taktsignals
und eines Datensignals; eine Musterformatiereinheit zum aufeinander
folgenden Verschieben der Phasen der Datensignals in Bezug auf das
Taktsignal entsprechend den aufeinander folgend erzeugten Zeitimpulssignalen
und zum Versorgen der DUT aufeinander folgend mit dem Taktsignal
und phasenverschobenen Datensignal; und ein Bestimmungsmodul zum
Erwerben einer Setupzeit oder einer Haltezeit der DUT auf der Grundlage
von Speicherdaten, die die von der DUT gespeicherten Datensignale
sind.
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Die
Zeitgebereinheit kann die unterschiedlichen Zeitverläufe zeigenden
Impulssignale zu jeder Zeit, bei der die Musterformatiereinheit
die DUT mit dem Datensignal versorgt, erzeugen. Die Zeitgebereinheit
kann die Mehrzahl von Zeitimpulssignalen aufeinander folgend auf
der Grundlage des ersten Offsetwertes erzeugen und eine Größe oder
einen Wert einer Phasenverschiebung jedes der Mehrzahl von Zeitimpulssignalen
wird durch den ersten Offsetwert erhöht.
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Die
Zeitgebereinheit kann einen Offsetspeicher zum Speichern des ersten
Offsetwertes enthalten; ein Berechnungsmodul zum Berechnen von addierten
Werten, die aufeinander folgend durch den ersten Offsetwert auf
der Grundlage des in dem Offsetspeicher gespeicherten ersten Offsetwertes
erhöht
wird; und ein Signalerzeugungsmodul zum aufeinander folgenden Erzeugen
der Zeitimpulssignale, die entsprechend den addierten Werten phasenverschoben
sind.
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Das
Bestimmungsmodul kann einen Analysespeicher zum Auslesen der von
der DUT gespeicherten Speicherdaten zu jedem Zeitpunkt, an dem die
Musterformatiereinheit die DUT mit dem Taktsignal und dem Datensignal
versorgt, und zum Speichern jede der ausgelesenen Speicherdaten
und die Größe bzw.
den Wert der Phasenverschiebung, derart, dass sie einander korrespondieren,
umfassen.
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Der
Analysespeicher kann eine Reihenfolge speichern, in der die korrespondierenden
Speicherdaten als die Größe bzw.
den Wert der Phasenverschiebung, an die DUT während des Setuptestens oder
des Haltetestens geliefert werden.
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Das
Bestimmungsmodul kann jede der Speicherdaten mit einem Erwartungssignal
vergleichen, das aus der DUT wiedergewonnen werden soll, speichern
und eine Setup- oder
Haltezeit erwerben, die für
das Speichern des Datensignals durch die DUT auf der Grundlage des
Vergleichsergebnisses der Speicherdaten und des Erwartungswertsignals
und der korrespondierenden Größe der Phasenverschiebung
notwendig ist.
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Das
Berechnungsmodul kann einen Zeitspeicher zum Speichern eines Ausgangswertes
des addierten Wertes; eine Verschiebungswertbeschaffungseinheit
zum Beschaffung von Verschiebungswerten, die sequentiell durch den
ersten Offsetwert erhöht
werden; und eine Addiereinheit zum Addieren des Ausgangswertes zu
dem Verschiebungswert und zum aufeinander folgenden Beschaffen der
addierten Werte umfassen.
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Die
Verschiebungswertbeschaffungseinheit kann umfas sen: eine erste Ausgabeeinheit
zum Empfangen des ersten Offsetwertes und Ausgeben des ersten empfangenen
Offsetwertes entsprechend einem gegebenen Referenztaktsignal als
ein erstes Ausgangssignal; eine erste Beschaffungseinheit zum Beschaffen
eines zweiten Offsetwertes, der einen doppelt so großen Wert
wie der erste Offsetwert aufweist; eine zweite Ausgabeeinheit zum
Empfangen des zweiten Offsetwertes und Ausgeben des empfangenen
Offsetwertes entsprechend einem gegebenen Referenztaktsignal als
ein zweites Ausgangssignal; eine zweite Beschaffungseinheit zum
Addieren des in dem Offsetspeicher gespeicherten ersten Offsetwertes
zu dem zweiten Ausgangssignal und Liefern des Ergebnisses als einen
neuen ersten Offsetwert an die erste Ausgabeeinheit; und eine dritte
Beschaffungseinheit zum Addieren des zweiten, von der ersten Beschaffungseinheit
beschafften Offsetwertes zu dem zweiten Ausgangssignal und Liefern
des Ergebnisses als einen neuen zweiten Offsetwert an die zweite
Ausgabeeinheit, wobei sequentiell das erste Ausgangssignal und das
zweite Ausgangssignal als die addierten Werte ausgegeben werden.
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Der
Analysespeicher kann einen Wert speichern, der zeigt, wie oft der
erste Offsetwert addiert wird, um den korrespondierenden addierten
Wert als die Größe bzw.
den Wert der Phasenverschiebung zu beschaffen.
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Entsprechend
einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung, wird ein Testverfahren
zum Durchführen
eines Setuptests oder eines Haltetests an einer zu testenden Vorrichtung
("DUT"), die ein gegebenes
Datensignal entsprechend einem gegebenen Taktsignal speichert, vorgeschlagen,
wobei das Testverfahren umfasst: einen Zeitimpulserzeugungsschritt
zum aufeinander folgenden Erzeugen einer Mehrzahl von Zeitim pulssignalen
mit unterschiedlichen Zeitverläufen
während
des Setuptestens oder des Haltetestens auf der Grundlage eines ersten,
vor dem Starten des Setuptests oder des Haltetests gegebenen Offsetwertes;
einen Mustererzeugungsschritt zum Erzeugen des Taktsignals und des Datensignals;
einen Musterformatierungsschritt zum Verschieben der Phase des Datensignals
in Bezug auf das Taktsignal aufeinander folgend entsprechend den
aufeinander folgend erzeugten Zeitimpulssignalen und aufeinander
folgendes Versorgen der DUT mit dem Taktsignal und dem phasenverschobenen Datensignal;
und einen Bestimmungsschritt zum Beschaffen einer Setupzeit oder
einer Haltezeit der DUT auf der Grundlage von Speicherdaten, die
die in der DUT gespeicherten Datensignale sind.
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Die
Zusammenfassung der Erfindung beschreibt nicht notwendigerweise
alle für
die Erfindung notwendigen Merkmale. Die vorliegende Erfindung kann
auch eine Unterkombination der oben beschriebenen Merkmale sein.
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KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus eines Testgerätes 100 entsprechend
einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
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2 beschreibt
ein Beispiel eines Setuptests.
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3 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus eines Bestimmungsmoduls 30.
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4 ist
ein Flussdiagramm, das ein Beispiel der Funktionsweise des Testgerätes 100 beschreibt.
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5 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus einer Zeitgebereinheit 40.
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6 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus eines Berechnungsmoduls 44.
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7 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus einer Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70.
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8 ist
ein Zeitverlaufsdiagramm, das ein Beispiel der Funktionsweise der
Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 zeigt, die in 7 beschrieben
ist.
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DETAILLIERTE
BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
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Die
Erfindung wird nun auf der Grundlage von bevorzugten Ausführungsbeispielen,
die nicht den Schutzbereich der vorliegenden Erfindung beschränken sollen,
sondern die Erfindung beispielhaft darstellen sollen. Alle die Merkmale
und Kombinationen davon, die in dem Ausführungsbeispiel beschrieben
sind, sind nicht unbedingt wesentlich für die Erfindung.
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1 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus eines Testgerätes 100 entsprechend
einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. Das Testgerät 100 führt einen
Setuptest oder einen Haltetest an einer zu testenden Vorrichtung
("DUT") 200, die
ein gegebenes Datensignal entsprechend einem gegebenen Taktsignal
speichert. Weiterhin umfasst das Testgerät 100 eine Zeitverlaufserzeugungseinheit
bzw. Zeitgebereinheit 40, eine Mustererzeugungseinheit 10,
eine Musterformatierungseinheit 20 und ein Bestimmungsmodul 30.
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Die
Zeitgebereinheit 40 erzeugt aufeinander folgend eine Mehrzahl
von Zeitimpulssignalen (Zeitverlaufssignalen), die unterschiedliche
Zeitverläufe aufweisen,
während
des Setuptestens oder des Haltetestens auf der Grundlage eines ersten
Offsetwertes, der vorgegeben ist, bevor der Setuptest oder der Haltetest
startet. Beispielsweise erzeugt die Zeitgebereinheit aufeinander
folgend die Mehrzahl von Zeitimpulssignalen durch Berechnung auf
der Grundlage des ersten Offsetwertes. Entsprechend dem vorliegenden
Beispiel erzeugt die Zeitgebereinheit 40 eine Mehrzahl
von Zeitimpulssignalen auf der Grundlage des ersten Offsetwertes,
wobei eine Größe bzw. ein
Wert der Phasenverschiebung jedes Zeitimpulssignals um den ersten
Offsetwert steigt.
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Hier
die Bezeichnung "bevor
der Setuptest oder der Haltetest startet" heißt bevor begonnen wird, die
DUT 200 mit einem Taktsignal und einem Datensignal zu beliefern,
um eine Setupzeit oder eine Haltezeit zu messen. Außerdem bedeutet
die Bezeichnung "während des
Setuptestens oder des Haltetestens", dass vom Start zum Ende die DUT 200 mit
allen Taktsignalen und Datensignalen versorgt wird, die für das Messen
der Setupzeit oder der Haltezeit notwendig sind.
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Die
Mustererzeugungseinheit 10 erzeugt das Taktsignal und das
Datensignal, die an die DUT 200 zu liefern sind. Die Musterformatiereinheit 20 verschiebt
aufeinander folgend die Phase der Datensignale in Bezug auf die
Taktsignale entsprechend den Zeitimpulssignalen, die sequentiell
von der Zeitgebereinheit 40 erzeugt werden und versorgt
die DUT 200 mit den Taktsignalen und den phasenverschobenen Datensignalen
in aufeinander folgender Weise.
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Die
DUT 200 speichert die gegebenen Datensignale entsprechend
den gegebenen Taktsignalen in aufeinander folgender Weise. Das Bestimmungsmodul 30 beschafft
bzw. gewinnt die Setupzeit oder die Haltezeit, die für das Schreiben
der Datensignale in die DUT notwendig ist, auf der Grundlage der
Speicherdaten, die die aufeinander folgend in der DUT 200 gespeicherten
Datensignale sind. Mit anderen Worten gesagt, bestimmt das Bestimmungsmodul 30 ob
die Datensignale für
jedes der Taktsignale und der phasenverschobenen Datensignale korrekt in
der DUT gespeichert sind oder nicht und gewinnt die Setupzeit und
die Haltezeit auf der Grundlage des Bestimmungsergebnisses.
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Entsprechend
dem Testgerät 100 der
vorliegenden Erfindung ist es nicht notwendig, eine Vielzahl von
zu erzeugenden Zeitimpulssignalen zu speichern, da die Vielzahl
von Zeitimpulssignalen auf der Grundlage des ersten Offsetwertes
erzeugt werden. Folglich ist es möglich, das Speichervolumen
im Vergleich dem Testgerät
nach dem Stand der Technik zu reduzieren. Da es darüber hinaus
nicht notwendig ist, die Zeitverlaufseinstelldaten während des
Testens zu überschreiben,
kann der Setuptest und der Haltetest wirkungsvoll durchgeführt werden.
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2 beschreibt
ein Beispiel des Setuptestens. Für
das Setuptesten liefert das Testgerät 100 das Testsignal
und das Datensignal, dessen Phase graduell in Bezug auf das Taktsignal
verschoben wird, an die DUT 200. Die DUT 200 speichert
einen Wert des Datensignals entsprechend einer Flanke des Taktsignals.
Wie in 2 gezeigt wird, liest das Testgerät 100 die
in der DUT 200 gespeicherten Speicherdaten entsprechend
jedem der Taktsignale und der phasenverschobenen Datensignale aus
und misst die Setupzeit, die für die
DUT notwendig ist, um das Datensignal zu speichern, auf der Grundlage
der ausgelesenen bzw. gewonnenen Speicherdaten.
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Das
Testgerät 100 bestimmt,
ob die ausgelesenen Speicherdaten die gleichen Werte wie die des gelieferten
Datensignals haben oder nicht und schiebt die Phase des Datensignals
bis die Speicherdaten und das Datensignal unterschiedliche Werte haben.
Beispielsweise verschiebt das Testgerät 100 die Phase des
Datensignals, so dass ein Zeitraum von der Ausgabe des Datensignals
zu einem Ansteigen des Taktsignals kürzer wird. Im Falle, dass die Speicherdaten
und das Datensignal unterschiedliche Werte haben, ist es somit möglich, die
Setupzeit aus einer Größe der Phasenverschiebung
des Datensignals, das gerade zugeführt wurde, bevor die Speicherdaten
und das Datensignal unterschiedliche Werte haben, zu messen.
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3 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus des Bestimmungsmoduls 30. Das
Bestimmungsmodul 30 umfasst eine Pegelvergleichseinheit 32,
eine Logikvergleichseinheit 34, einen Analysespeicher 36,
einen Ausfallspeicher 28 und einen Zähler 38.
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Die
Pegelvergleichseinheit 32 empfängt die Speicherdaten der DUT
in sequentieller Weise und erkennt die Werte der Speicherdaten.
Beispielsweise wird die Pegelvergleichseinheit 32 mit einem
Abtastsignal beliefert und es wird detektiert, ob der Wert der Speicherdaten
einen H-Pegel oder einen L-Pegel zum Zeitpunkt des Abtastsignals
aufweist.
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Die
logische Vergleichseinheit 34 vergleicht den von der Pegelvergleichseinheit 32 detektierten Wert
der Speicherdaten mit einem Erwartungswertsignal, um zu entscheiden,
ob der Wert der Speicherdaten und das Erwartungswertsignal gleich
sind. Das Erwartungswertsignal kann das der DUT 200 zugeführte Datensignal
sein.
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Der
Ausfallspeicher 28 speichert das Vergleichsergebnis der
logischen Vergleichseinheit 34. Außerdem liest das Bestimmungsmodul 30 die
in der DUT 200 gespeicherten Speicherdaten zu jedem Zeitpunkt
aus, zu dem die Musterformatiereinheit 20 die DUT 200 mit
dem Taktsignal und dem Datensignal beliefert. Der Analysespeicher 36 speichert
jede der ausgelesenen Speicherdaten und die Größe der Phasenverschiebung des
gelieferten Datensignals, so dass sie einander entsprechen. Weiterhin
kann im Falle, dass das Vergleichsergebnis sich von dem Zustand,
dass die Speicherdaten dieselben sind wie das Erwartungswertsignal
zu dem Zustand, dass die Speicherdaten nicht die gleichen sind wie
das Erwartungswertsignal, der Analysespeicher 36 die Größe der Phasenverschiebung
des korrespondierenden Datensignals speichern.
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Der
Zähler 38 wird
zu jedem Zeitpunkt, zu dem die Phase des Datensignals verschoben
wird, mit einem Signal beliefert und zählt, wie oft die Phase des
Datensignals verschoben wird. Der Analysespeicher 36 speichert
die gezählte
Anzahl der Signale als eine Größe der Phasenverschiebung.
Es ist möglich, die
Größe der Phasenverschiebung
des Datensignals durch Multiplizieren der Anzahl von Malen, bei der
die Phase verschoben wird, mit dem ersten Offsetwert zu beschaffen.
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Weiterhin
kann der Zähler 38 eine
Reihenfolge, in der das korrespondierende Datensignal für das Setuptesten
oder das Haltetesten zu der DUT 200 geliefert wird, zählen. In
diesem Fall speichert der Analysespeicher 36 die Reihenfolgen,
in der das korrespondierende Datensignal für das Setuptesten oder das
Haltetesten an die DUT geliefert wird, als Größe der Phasenverschiebung.
Das Bestimmungsmodul 30 kann weiterhin Mittel zur Beschaffung
der Setupzeit oder der Haltezeit auf der Grundlage der Größe der Phasenverschiebung,
die in dem Analysespeicher 36 gespeichert ist, umfassen.
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4 ist
ein Flussdiagramm, das ein Beispiel der Funktionsweise des Testgerätes 100 beschreibt.
Zuerst wird der erste Offsetwert in Schritt S300 erhalten. Dann
wird der Setuptest oder der Haltetest in Schritt S302 gestartet.
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Dann
beschafft in Schritt S304 die Zeitgebereinheit 14 die Größe der Phasenverschiebung
des Datensignals, das an die DUT 200 geliefert werden soll.
Dann verschiebt in Schritt S306 die Musterformatiereinheit 20 die
Phase des Datensignals auf der Grundlage der Größe der Phasenverschiebung,
die in Schritt S304 gewonnen wurde. Dann wird die DUT 200 mit
dem Taktsignal und dem phasenverschobenen Datensignal beliefert.
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Dann
werden im Schritt S308 die in der DUT 200 gespeicherten
Speicherdaten ausgelesen und dem Bestimmungsmodul 30 zugeführt. Dann
bestimmt im Schritt S310 das Bestimmungsmodul 30 ob die
ausgelesenen Speicherdaten verändert
sind oder nicht. Mit anderen Worten gesagt, bestimmt das Bestimmungsmodul 30 ob
die ausgelesenen Speicherdaten zu einem Zustand geändert sind,
bei dem die ausgelesenen Speicherdaten die gleichen sind wie ein
Erwartungswert, um festzustellen, wenn die ausgelesenen Speicherdaten
nicht die gleichen sind wie ein Erwartungswert. Dann beschafft im
Falle, dass die ausgelesenen Speicherdaten verän dert sind, so dass sie nicht
die gleichen sind wie der Erwartungswert, das Bestimmungsmodul 30 die
Setupzeit oder die Haltezeit auf der Grundlage der Größe der Phasenverschiebung
des korrespondierenden Datensignals in Schritt S312.
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Im
Falle, dass die ausgelesenen Speicherdaten die gleichen sind, wie
der Erwartungswert, wird eine Größe der Phasenverschiebung
eines Datensignals, das als nächstes
an die DUT 200 geliefert werden soll, beschafft und die
oben erwähnten
Prozeduren werden wiederholt, bis die Speicherdaten sich ändern.
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5 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus der Zeitgebereinheit 40. Die Zeitgebereinheit 40 umfasst einen
Offsetspeicher 42, ein Berechnungsmodul 44, ein
Signalerzeugungsmodul 46 und ein Set/Reset(Setzen/Rücksetzen)-Latch 56.
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Der
Offsetspeicher 46 speichert den ersten Offsetwert. Das
Berechnungsmodul 44 beschafft addierte Werte, die sequentiell
um den ersten Offsetwert steigen, auf der Grundlage des Wertes des
ersten Offsetwertes, der in dem Offsetspeicher 42 gespeichert
ist. Das Signalerzeugungsmodul 46 und das Setz/Rücksetzlatch 56 erzeugen
in aufeinander folgender Weise die Zeitimpulssignale, die entsprechend
den addierten Werten phasenverschoben sind, die wiederum in aufeinander
folgender Weise durch das Berechnungsmodul 44 gewonnen
sind. Entsprechend dem vorliegenden Beispiel verzögern das
Signalerzeugungsmodul 46 und das Setz/Rücksetzlatch 56 einen
Referenztakt entsprechend dem addierten Wert und erzeugen das Zeitimpulssignal.
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Das
Signalerzeugungsmodul 46 erzeugt ein Setzsignal und ein
Rücksetzsignal
zum Erzeugen einer ansteigen den Flanke des Zeitimpulssignals. Das Setz/Rücksetzlatch 56 erzeugt
das Zeitimpulssignal auf der Grundlage des Setzsignals und des Rücksetzsignals.
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Weiterhin
erzeugt das Berechnungsmodul 44 einen addierten Wert für das Setzsignal
und einen addierten Wert für
das Rücksetzsignal,
um das Signalerzeugungsmodul 46 zu veranlassen, das Setzsignal
und das Rücksetzsignal
zu erzeugen. Das Signalerzeugungsmodul 46 umfasst einen
Zähler 48-1, einen
Linearisierungsspeicher 54-1, einen UND-Kreis 50-1 und
einen variablen Verzögerungskreis 52-1 zum
Erzeugen des Setzsignals.
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Das
Berechnungsmodul 44 gibt einen addierten Wert aus, der
als digitale Daten mit einer Mehrzahl von Bits ausgebildet ist.
Der Zähler 48-1 empfängt das
höchstwertige
Bit des addierten Wertes und das Referenztaktsignal, zählt die
ansteigende Flanke oder die fallende Flanke und im Falle, dass die
Flanke des Referenztaktsignals in dem höchstwertigen Bit des addierten
Wertes erscheint, gibt er eine Eins (1) and den UND-Kreis 50-1 aus.
Der UND-Kreis 50-1 liefert ein vorbestimmtes Signal an den
variablen Verzögerungskreis 52-1 zu
jedem Zeitpunkt, an dem der UND-Kreis 50-1 eine
Eins (1) von dem Zähler 48-1 empfängt. Nach
dem vorliegenden Beispiel liefert der UND-Kreis 50-1 ein
Referenztaktsignal an den variablen Verzögerungskreis 52-1.
Daher erzeugen der Zähler 48-1 und
der UND-Kreis 50-1 eine Verzögerung, die eine ganze Zahl
mal der Größe des Zeitraums
des Referenztaktsignals ist.
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Der
Linearspeicher 54-1 empfängt das niedrigstwertige Bit
(LSB) des addierten Wertes und steuert eine Größe der Verzögerung des variablen Verzögerungskreises 52-1 auf
der Grundlage des niedrigstwertigen Bits des addierten Wertes. Somit erzeugen
der Linearspeicher 54-1 und der variable Verzögerungskreis 54-1 eine
kleine Verzögerung, kleiner
als die Periode des Referenztaktsignals aus den Größen der
Verzögerung,
die in den addierten Werten gezeigt sind. Der variable Verzögerungskreis 52-1 liefert
an den Setzanschluss des Setz/Rücksetzlatch 56 mit
dem verzögerten
Signal.
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Außerdem umfasst
das Signalerzeugungsmodul 46 einen Zähler 42-2, einen Linearspeicher 54-2,
einen UND-Kreis 50-2 und
einen variablen Verzögerungskreis 52-2 zum
Erzeugen des Rücksetzsignals.
Somit wird in gleicher Weise wie das Setzsignal das Rücksetzsignal
erzeugt und wird an den Rücksetzanschluss
des Setz/Rücksetzlatches 56 geliefert.
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Entsprechend
der Zeitgebereinheit 40 nach dem vorliegenden Beispiel
gewinnt das Berechnungsmodul 44 die graduell steigenden
addierten Werte auf der Grundlage des ersten, in dem Offsetspeicher 42 gespeicherten
Offsetwertes, und das Signalerzeugungsmodul 46 und das
Setz/Rücksetzlatch 56 erzeugen
das Zeitimpulssignal auf der Grundlage des addierten Wertes. Somit
ist es möglich,
leicht das Zeitimpulssignal zu erzeugen, dessen Phase graduell sich
verschiebt. Da außerdem
das Zeitimpulssignal erzeugt wird und es ausreichend ist, nur den
ersten Offsetwert zu speichern, ist es möglich, das Speichervolumen
im Vergleich mit dem Fall zu reduzieren, bei dem alle Zeitverläufe des
Zeitimpulssignals gespeichert werden. Da außerdem es nicht notwendig ist,
den ersten, in dem Offsetspeicher 42 gespeicherten Wert
zu überschreiben,
ist es möglich,
die Zeitimpulssignale in aufeinander folgender Weise zu erzeugen.
Daher ist es möglich,
den Haltetest oder den Resettest ohne Anhalten durchzufüh ren.
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6 zeigt
ein Beispiel des Aufbaus des Berechnungsmoduls 44. Das
Berechnungsmodul 44 umfasst ein Berechnungsmodul für ein Setzsignal 58-1 zum
Berechnen des addierten Wertes für
das Setzsignal und ein Berechnungsmodul für ein Rücksetzsignal 58-2 zum
Berechnen des addierten Wertes für
das Rücksetzmodul.
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Das
Berechnungsmodul für
das Setzsignal 58-1 umfasst einen Zeitverlaufspeicher 60,
eine Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70, ein Flipflop 62,
eine Addiereinheit 66, ein Flipflop 68 und eine Addiereinheit 64.
Der Zeitverlaufspeicher 60 speichert einen Ausgangswert
des addierten Wertes für ein
Setzsignal, das erzeugt werden soll. Weiterhin beschafft die Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 einen
graduell steigenden Verschiebungswert auf der Grundlage des Wertes
des ersten Offsetwertes, der von dem Offsetspeicher 42 gespeichert
ist.
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Die
Addiereinheit 66 addiert einen Wert eines gegebenen Ratendatensignals
zu dem Verschiebungswert, der von der Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 gewonnen
wird und liefert das Ergebnis an das Flipflop 68. Außerdem liefert
der Zeitverlaufsspeicher 60 dem Flipflop 62 den
gespeicherten Ausgangswert. Beispielsweise speichert, im Fall dass
der addierte Wert für
ein Setzsignal als digitales Signal von 18 Bit ausgegeben wird,
der Zeitverlaufsspeicher 60 einen Ausgangswert von 18 Bit
und die Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 gibt einen Verschiebungswert
aus, der ein digitales Signal von neun (9) Bit ist.
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Das
Flipflop 62 und das Flipflop 68 liefern an die
Addiereinheit 64 synchron die empfangenen Daten. Die Addiereinheit 64 addiert
den Verschiebungswert zu dem niedrigstwertigen Bit des Ausgangswertes
und gibt den Ausgangswert aus. Beispielsweise addiert die Addiereinheit 64 den
Verschiebungswert zu den niedrigwertigen 9 Bits des Ausgangswertes und
gibt den Ausgangswert als den addierten Wert für ein Setzsignal aus.
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Weiterhin
weist das Berechnungsmodul für ein
Rücksetzsignal 58-2 den
gleichen Aufbau wie den des Berechnungsmodul für ein Setzsignal 58-1 auf. Entsprechend
dem vorliegenden Beispiel werden die Zeitablaufspeicher 60 des
Berechnungsmoduls für ein
Setzsignal 58-1 und des Berechnungsmoduls für Ein Rücksetzsignal 58-2 mit
den gleichen Ausgangswerten beliefert und jede der Verschiebungswertbeschaffungseinheiten 70 gewinnt
im Wesentlichen den gleichen Verschiebungswert wie der jeweils andere. Weiterhin
wird die Addiereinheit 66 des Berechnungsmoduls für ein Rücksetzsignal 58-2 mit
einem Ratendatensignal beliefert, das um eine Pulsbreite des zu
erzeugenden Zeitimpulssignals größer ist,
als das Ratendatensignal, das der Addiereinheit 66 des Berechnungsmoduls
für ein
Setzsignal 58-1 zugeführt
wird. Somit ist es möglich,
dass das Setz/Rücksetzlatch 56 ein
Zeitimpulssignal erzeugt, das eine gewünschte Pulsbreite aufweist.
In diesem Fall weisen das Berechnungsmodul für ein Setzsignal 58-1 und
das Berechnungsmodul für
ein Rücksetzsignal 58-2 einen
gemeinsamen Zeitverlaufsspeicher und eine gemeinsame Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 auf.
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Weiterhin
kann entsprechend einem anderen Ausführungsbeispiel das Berechnungsmodul 44 kein
Berechnungsmodul für
ein Rücksetzsignal 58-2 aufweisen.
In diesem Fall wird das höchstwertige
Bit des addierten Wertes, der von dem Berechnungsmodul für ein Setzsig nal 58-1 gewonnen
wird, an die Zähler 48-1 und 48-2 geliefert
und das niedrigstwertige Bit wird an die Linearisierungsspeicher 54-1 und 54-2 geliefert.
Beispielsweise ist es im Falle, dass die Linearisierungsspeicher 54-1 und 54-2 mit
den gleichen Werten beliefert werden, möglich, ein Zeitimpulssignal
mit einer Pulsbreite einer vorbestimmten Zeit durch Initialisierung
oder Einstellung jedes Linearisierungsspeichers 54 im Vorhinein
zu erzeugen, so dass der variable Verzögerungskreis 52-2 eine
um eine vorbestimmte Zeit größere Verzögerung erzeugt als
der variable Verzögerungskreis 52-1.
Entsprechend dem Berechnungsmodul 44, das in Bezug auf 6 beschrieben
ist, ist es möglich,
wirksam die graduell steigenden addierten Werte zu beschaffen. Es
ist beispielsweise möglich,
Speichervolumen im Vergleich mit dem Fall des vorhergehenden Speicherns
aller zu beschaffenden addierten Werte in dem Zeitverlaufsspeicher 60 zu
reduzieren. Obwohl außerdem
das Berechnungsmodul 44 entsprechend dem vorliegenden Beispiel
ein Berechnungsmodul für
ein Setzsignal 58-1 zum Erzeugen des Setzsignals und ein
Berechnungsmodul für
ein Rücksetzsignal 58-2 zum
Erzeugen des Rücksetzsignals
aufweist, kann das Berechnungsmodul 44 entsprechend einem
anderen Ausführungsbeispiel
zwei Berechnungseinheiten für
ein Setzsignal 58-1 und zwei Berechnungseinheit für ein Rücksetzsignal 58-2 aufweisen.
In diesem Falle kann das Berechnungsmodul 44 mit einer
höheren
Geschwindigkeit arbeiten, indem die zwei Berechnungseinheit für ein Setzsignal 58-1 Gegenstand
einer verschachtelten Operation und die zwei Berechnungseinheiten
für ein
Rücksetzsignal 58-2 Gegenstand
einer verschachtelten Operation gemacht werden.
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7 zeigt
ein Beispiel eines Aufbaus der Verschie bungswertbeschaffungseinheit 70.
Die Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 umfasst eine
Mehrzahl von UND-Kreisen 72, 74, 76, 80, 88 und 90,
eine Mehrzahl von Addiereinheiten 78, 86 und 92 und
eine Mehrzahl von Flipflops 82, 84, 94 und 96.
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Der
UND-Kreis 72 empfängt
den ersten Offsetwert von dem Offsetspeicher 42 und gibt
ihn an den UND-Kreis 76 und die Addiereinheit 78 aus.
Weiterhin wird der UND-Kreis 72 mit einem Befehlssignal 1-1
versehen, um zu steuern, ob das empfangende erste Offsetsignal ausgegeben
wird oder nicht. Im Fall des Nichtausgebens des empfangenen ersten Offsetsignals
wird der UND-Kreis 72 mit null (0) als Befehlssignal 1-1
beliefert.
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Der
UND-Kreis 74 empfängt
den ersten Offsetwert von dem Offsetspeicher 42 und gibt
ihn an die Addiereinheit 78 aus. Außerdem wird ein Befehlssignal
1-2 an den UND-Kreis 74 geliefert, um zu steuern, ob der
empfangene erste Offsetwert auszugeben ist oder nicht.
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Die
Addiereinheit 78, die ein Beispiel einer ersten Addiereinheit
entsprechend der vorliegenden Erfindung ist, addiert das von dem
UND-Kreis 74 ausgegebene Signal zu dem Signal hinzu, das
von dem UND-Kreis 72 ausgegeben wird und liefert das Ergebnis
an den UND-Kreis 80.
Daher gibt die Addiereinheit 78 im Falle, dass die Befehlssignale
1-1 und 1-2 eins (1) sind, einen zweiten Offsetwert aus, der zweimal
so groß ist
wie der erste Offsetwert.
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Der
UND-Kreis 76 gibt das empfangene Signal an das Flipflop 82 aus.
Außerdem
wird der UND-Kreis 76 mit einem Befehlssignal 2-1 beliefert, um
zu steuern, ob das empfangene Signal an das Flipflop 82 auszugeben
ist oder nicht. Weiterhin liefert der UND-Kreis 80 das
empfangene Signal an das Flipflop 84. Der UND-Kreis 80 empfängt ein
Befehlssignal 2-2, um zu steuern, ob das empfangene Signal an das
Flipflop 84 auszugeben ist oder nicht. Entsprechend dem
vorliegenden Beispiel sind die Befehlssignale 2-1 und 2-2 eine Null
(0).
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Die
Flipflops 82 und 84 halten und synchronisieren
die empfangenen Signale und geben sie aus. Entsprechend dem vorliegenden
Beispiel hält das
Flipflop 82 den ersten Offsetwert und das Flipflop 84 den
zweiten Offsetwert.
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Das
Flipflop 94, das ein Beispiel einer ersten Ausgabeeinheit
entsprechend der vorliegenden Erfindung ist, empfängt den
ersten Offsetwert und gibt den ersten Offsetwert als erstes Ausgangssignal
entsprechend dem Referenztaktsignal aus. Das Flipflop 96,
das ein Beispiel einer zweiten Ausgabeeinheit entsprechend der vorliegenden
Erfindung ist, empfängt
den zweiten Offsetwert und gibt den zweiten Offsetwert als zweites
Ausgangssignal entsprechend dem Referenztaktsignal aus.
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Der
UND-Kreis 88 empfängt
das zweite Ausgangssignal und gibt es and die Addiereinheit 86 aus. Weiterhin
wird der UND-Kreis 88 mit einem Befehlssignal 3-1 beliefert,
um zu steuern, ob das empfangene zweite Ausgangssignal auszugeben
ist oder nicht. Zusätzlich
empfängt
der UND-Kreis 90 das zweite Ausgangssignal und gibt es
an die Addiereinheit 92 aus. Der UND-Kreis 90 wird mit dem Befehlssignal 3-1
und einem Befehlssignal 3-2 beliefert, um zu steuern, ob das empfangene
zweite Ausgangssignal auszugeben ist oder nicht.
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Die
Addiereinheit 86, die ein Beispiel einer zweiten Addiereinheit
nach der vorliegenden Erfindung ist, addiert den ersten, von dem
Flipflop 82 gehaltenen Wert zu dem zweiten Ausgangssignal
und gibt das Ergebnis an das Flipflop 94 als neuen ersten Offsetwert
aus. Weiterhin addiert die Addiereinheit 92 den zweiten,
von dem Flipflop 84 gehaltenen Offsetwert zu dem zweiten
Ausgangssignal und gibt das Ergebnis an das Flipflop 96 als
neuen zweiten Offsetwert aus.
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Die
Flipflops 94 und 96 geben in aufeinander folgender
Weise den empfangenen ersten Offsetwert und den empfangenen zweiten
Offsetwert als erstes Ausgangssignal und als zweites Ausgangssignal
in jeweiliger Weise aus. Die Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 gibt
jedes der ersten und zweiten Ausgangssignale, die jeweils von dem
Flipflop 94 und dem Flipflop 96 ausgegeben werden
als einen addierten Wert jeweils aus. Weiterhin wird jedes der Flipflops
der Verschiebewertbeschaffungseinheit mit einem Steuersignal zum
Steuern, ob der gehaltene Wert zurückzusetzen ist oder nicht,
versorgt.
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Entsprechend
der Verschiebungswertbeschaffungseinheit des vorliegenden Beispiels
ist es möglich,
in einfacher Weise die graduell steigenden addierten Werte zu erzeugen.
Außerdem
ist es durch Steuern jedes der Steuersignale möglich, verschiedene addierte
Werte zu erzeugen. Weiterhin ist es möglich, zu entscheiden, wie
oft jeder der addierten Werte durch Addieren des ersten Offsetwertes
durch die Kombination jedes der Befehlssignale erzeugt wird. Somit
ist es möglich,
die Größe der Phasenverschiebung
des erzeugten Zeitimpulssignals durch Zählen zu gewinnen, wie oft null (0)
oder eins (1) als jedes der Impulssignale eingegeben wird. Daher kann
der unter Bezugnahme auf 3 beschriebene Zähler zählen, wie
oft eins (1) als jedes Befehlssignal eingegeben wird.
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Obwohl
die Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 des vorliegenden
Beispiels die addierten Wert graduell steigend erzeugt, kann die Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 entsprechend
einem anderen Ausführungsbeispiel
addierte Werte erzeugen, die graduell fallen. Es ist möglich, die
graduell fallenden addierten Werten mit dem gleichen Aufbau, wie
dem der Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 des vorliegenden
Beispiels zu erzeugen.
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8 ist
eine Zeitablaufdarstellung, die ein Beispiel der Funktionsweise
der in 7 beschriebenen Verschiebungswertbeschaffungseinheit 70 zeigt. Nach
dem vorliegenden Beispiel ist als erster Offsetwert 125 ps
in dem Offsetspeicher 42 gespeichert. Wie in 8 gezeigt
wird, variiert das Testgerät 100 den
von dem Flipflop 82 gehaltenen ersten Offsetwert und dem
von dem Flipflop 84 gehaltenen zweiten Offsetwert durch
Kombination der Befehlssignale 1-1, 1-2, 2-1 und 2-2.
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Die
Flipflops 94 und 96 geben das erste Ausgangssignal
und das zweite Ausgangssignal auf der Grundlage des in dem Flipflop 82 gehaltenen
ersten Offsetwerts, des zweiten von dem Flipflop 84 gehaltenen
Offsetwerts und der Befehlssignale 3-1 und 3-2 aus.
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Wie
oben beschrieben wurde, ist es entsprechend der Verschiebungswertbeschaffungseinheit der
vorliegenden Erfindung möglich,
in einfacher Weise die addierten Werte in graduell steigender Weise
zu erzeugen.
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Wie
es aus der obigen Beschreibung offensichtlich ist, ist es entsprechende
dem Testgerät
der vorliegenden Erfindung möglich,
das Setuptesten oder das Haltetesten wirkungsvoll durchzuführen.
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Obwohl
die vorliegende Erfindung mit Hilfe von beispielhaften Ausführungsbeispielen
beschrieben wurde, sei verstanden, dass die Fachleute viele Änderungen
und Ersetzungen machen können,
ohne den Geist und den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung zu
verlassen, der nur durch die beigefügten Ansprüche definiert ist.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER OFFENBARUNG
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Es
wird ein Testgerät
zum Durchführen
eines Setuptests oder eines Haltetests an einer zu testenden Vorrichtung
("DUT"), die ein gegebenes
Datensignal entsprechend einem gegebenen Taktsignal speichert, vorgeschlagen,
wobei das Testgerät
umfasst: eine Zeitgebereinheit zum Erzeugen einer Mehrzahl von Zeitimpulssignalen
mit unterschiedlichen Zeitverläufen
in sequentieller Weise während des
Setuptestens oder des Haltetestens auf der Grundlage eines ersten
Offsetwertes, der vor dem Start des Setuptests oder des Haltetests
gegeben wird; eine Mustererzeugungseinheit zum Erzeugen eines Taktsignals
und eines Datensignals; eine Musterformatiereinheit zum Verschieben
der Phase des Datensignals in Bezug auf das Taktsignal in aufeinander
folgender Weise entsprechend den aufeinander folgend erzeugten Zeitimpulssignalen
und zum Versorgen der DUT aufeinander folgend mit Taktsignal und
dem verschobenen Datensignal; und ein Bestimmungsmodul zum Erwerben
einer Setupzeit oder einer Haltezeit der DUT auf der Grundlage von
Speicherdaten, die die von der DUT gespeicherten Datensignale sind.
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