DE10351442A9 - Apparatus and method for forming a signature - Google Patents
Apparatus and method for forming a signature Download PDFInfo
- Publication number
- DE10351442A9 DE10351442A9 DE10351442A DE10351442A DE10351442A9 DE 10351442 A9 DE10351442 A9 DE 10351442A9 DE 10351442 A DE10351442 A DE 10351442A DE 10351442 A DE10351442 A DE 10351442A DE 10351442 A9 DE10351442 A9 DE 10351442A9
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signature
- code generator
- code
- additional
- shift register
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 5
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N nobelium Chemical compound [No] ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318566—Comparators; Diagnosing the device under test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Error Detection And Correction (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Supports Or Holders For Household Use (AREA)
Abstract
Vorrichtung und Verfahren zur Bildung einer Signatur, wobei eine vorgegebene Anzahl an Speicherelementen eines Schieberegisters vorgesehen ist, an welche zu prüfenden Eingangsdaten bitweise und parallel als aufeinander folgende Datenwörter angelegt werden und welche die Eingangsdaten in einem vorgebbaren Takt seriell weiter schieben, wobei nach einer bestimmten Anzahl von Datenwörtern und Takten eine Signatur in dem Schieberegister gebildet wird, wobei zusätzlich ein Codegenerator vorgesehen ist, der wenigstens eine zusätzliche Bitstelle in wenigstens einem zusätzlichen Speicherelement aus jedem Datenwort in der Signatur erzeugt.Apparatus and method for forming a signature, wherein a predetermined number of memory elements of a shift register is provided, to which input data to be tested bitwise and parallel applied as consecutive data words and which further push the input data serially in a predetermined clock, wherein after a certain number a signature is formed in the shift register of data words and clocks, wherein additionally a code generator is provided which generates at least one additional bit position in at least one additional memory element from each data word in the signature.
Description
Für die Bildung von Signaturen werden MISR-Schaltungen benutzt (MISR = Multiple Input Signature Register), wie sie beispielsweise in der Veröffentlichung Built-In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques, von Paul H. Bardell, William H. McAnney und Jacob Savir auf Seite 124 f beschrieben sind. Dabei ist eine vorgegebene Anzahl an Schieberegistern vorgesehen, an welche zu prüfende Daten in einer Folge angelegt werden. Dabei werden die parallel anstehenden Daten eingekoppelt und in einem vorgegebenen Takt durch die Schieberegister weitergeschoben. Nach einer genau festgelegten Anzahl von Datenwörtern und Takten liegt in den Schieberegistern dann ein Signaturwert vor, der mit einem vorbekannten Signaturwert vergleich- und überprüfbar ist. Um einen Ablauf und die dabei angelegten Daten auf Fehlerfreiheit zu prüfen, genügt es, den erhaltenen Signaturwert mit dem erwarteten Signaturwert zu vergleichen.For education Signatures use MISR circuits (MISR = Multiple Input Signature Register), as described for example in the publication Built-In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques, by Paul H. Bardell, William H. McAnney and Jacob Savir on page 124 f. there a predetermined number of shift registers is provided to which to be tested Data is created in a sequence. This will be the parallel upcoming Data coupled and in a given clock through the shift registers pushed further. After a specified number of data words and Then there is a signature value in the shift registers, which is comparable and verifiable with a previously known signature value. Around a procedure and the thereby created data for accuracy check, enough it, the obtained signature value with the expected signature value to compare.
Problematisch wird das Verfahren und die Vorrichtung aus dem Stand der Technik dann, wenn zu einem Zeitpunkt T ein Fehler an einem bestimmten Eingang vorliegt, da dann zunächst ein falscher Wert in das betroffene Schieberegister geschrieben wird. Die berechnete Endsignatur wird deshalb von der erwarteten Signatur abweichen. Tritt jedoch zusätzlich zu einem nachfolgenden Zeitpunkt T+1 an einem nachfolgenden, insbesondere direkt nachfolgenden Eingang ein Fehler auf, so wird der ursprüngliche Fehler am ersten Eingang nach dem Verschieben durch die Schieberegister mit einer Anzahl von Takten, die dem Abstand der Eingänge und Zeitpunkte entspricht, insbesondere mit einem Takt wieder kompensiert. So werden Fehler, die zu solch problematischen Zeitpunkten und Datenwortpositionen auftreten, bei der Signaturbildung nicht bemerkt.Problematic becomes the method and the device of the prior art then if at a time T an error at a particular input is present since then first an incorrect value is written to the affected shift register. The calculated end signature will therefore be of the expected signature differ. Occurs, however, in addition at a subsequent time T + 1 at a subsequent, in particular directly following input an error, then the original Error at the first input after shifting through the shift registers with a number of bars that indicate the distance of the inputs and Times corresponds, in particular compensated with a clock again. Thus, errors that are at such problematic times and data word positions occur when the signature is not noticed.
Eine Möglichkeit, bei der Einspeicherung Vorsorge zu treffen, um diese Problematik auszuschließen, ist die Einspeisung des inversen Datenwortes folgend auf ein Datenwort, so dass ein Fehler in jedem Fall nicht kompensiert, sondern bemerkt wird. Dies verdoppelt aber die Anzahl der notwendigen Operationen und Takte.A Possibility, to make provision for this problem in the storage ruled out is the injection of the inverse data word following a data word, so that a mistake is not compensated in any case, but noticed. But this doubles the number of necessary operations and Bars.
So zeigt sich, dass der Stand der Technik nicht in jeder Hinsicht optimale Ergebnisse zu liefern vermag, und es ergibt sich daraus die Aufgabe, eine verbesserte Vorrichtung und ein verbessertes Verfahren zur Beherrschung der oben genannten Problematik im Rahmen der Bildung von Signaturen zu entwickeln.So shows that the state of the art is not optimal in every respect Results, and the result is the task of an improved device and an improved method for Mastery of the above problem in education to develop signatures.
Vorteile der ErfindungAdvantages of invention
Die Erfindung geht aus von einer Vorrichtung und einem Verfahren zur Bildung einer Signatur, wobei eine vorgegebene Anzahl an Speicherelementen eines Schieberegisters (z.B. Flip-Flops) vorgesehen ist, an welche zu prüfende Eingangsdaten bitweise und parallel als aufeinander folgende Datenwörter insbesondere mit einem vorgebbaren ersten Takt wechselnd angelegt werden und welche die Eingangsdaten in einem zweiten vorgebbaren Takt, der zweckmäßiger Weise gleich dem ersten Takt ist, seriell weiterschieben und nach einer bestimmten Anzahl von Datenwörtern und Takten eine Signatur in dem Schieberegister gebildet wird, wobei vorteilhafter Weise zusätzlich ein Codegenerator vorgesehen ist, der wenigstens eine zusätzliche Bitstelle in dem Schieberegister aus jedem Datenwort in der Signatur erzeugt. D. h. vorteilhafter Weise wird das MISR um wenigstens eine Bitstelle erweitert, wobei diese Bitstelle jeweils aus dem jeweils anliegenden kompletten Datenwort gewonnen wird und in die Signatur mit eingeht. Dadurch kann vorteilhafter Weise die Sicherheit zur Beherrschung oben genannter Problematik erzielt werden, ohne eine Vielzahl von zusätzlichen Operationen und Takten bei der Signaturbildung durchzuführen.The The invention is based on a device and a method for Forming a signature, wherein a predetermined number of memory elements of a Shift register (for example, flip-flops) is provided, to which tested Input data bitwise and in parallel as consecutive data words in particular be created with a predeterminable first clock alternating and which the input data in a second predetermined clock, the expedient manner is equal to the first clock, move on serially and after one certain number of data words and clocking a signature is formed in the shift register, wherein advantageously in addition a code generator is provided, the at least one additional Bit position in the shift register generated from each data word in the signature. Ie. Advantageously, the MISR becomes at least one bit position extended, wherein this bit position in each case from the appended complete data word is obtained and included in the signature. As a result, the safety for control can be advantageous above problem can be achieved without a variety of additional operations and to perform clocking in the signature formation.
Auf diese Weise erfolgt eine Fehlermaskierung bei den genannten Mehrfachfehlern mit geringstem Schaltungsmehraufwand.On In this way, an error masking occurs with the mentioned multiple errors with minimal additional circuit complexity.
Weiterhin von Vorteil ist, dass die einzelnen Speicherelemente des Schieberegisters durch Antivalenzpunkte, also XOR-Verknüpfungen verbunden sind und auch die einzelnen Bitstellen über diese Antivalenzpunkte eingekoppelt werden.Farther It is advantageous that the individual memory elements of the shift register by anti-equivalence points, so XOR links are connected and also the individual bit positions over these antivalence points are coupled.
Ebenso ist es zweckmäßigerweise denkbar, statt einer Antivalenzverknüpfung, also einem Antivalenzpunkt einen Äquivalenzpunkt, also ein negiertes XOR zu verwenden, um einerseits die einzelnen Bitstellen der Datenwörter und andererseits wenigstens eine Bitstelle des Codegenerators in das entsprechende Schieberegister einzukoppeln.As well it is expedient conceivable, instead of an antivalence link, that is, an antivalence point an equivalence point, So to use a negated XOR, on the one hand the individual Bit positions of the data words and on the other hand, at least one bit position of the code generator in to inject the corresponding shift register.
Vorteilhafter Weise ist der Codegenerator derart ausgebildet, dass dieser einen ECC-Code (Error Check and Correction) realisiert, wie beispielsweise einen Hamming-Code, einen Berger-Code oder einen Bose-Lin-Code, usw., um die an dem jeweiligen ECC-Code entsprechende Anzahl an Bitstellen einer entsprechenden Anzahl an zusätzlichen Speicherelementen (z.B. Flip-Flops) in dem Schieberegister zur Signaturbildung vorzugeben. Im allgemeinsten Fall kann eine Codegeneratortabelle (festverdrahtet oder in SW) verwendet werden, um einem bestimmten Eingangsmuster der Datenworte bzw. Bits ein gewünschtes Codemuster beliebiger Länge zuzuordnen. Im einfachsten Fall ist der Codegenerator vorteilhafter Weise derart ausgebildet, dass dieser ein Parity-Bit bildet und dieses einem zusätzlichen Speicherelement des Schieberegisters vorgibt.Advantageously, the code generator is designed such that it realizes an ECC code (Error Check and Correction), such as a Hamming code, a Berger code or a Bose-Lin code, etc., to those at the respective ECC Code corresponding number of bit positions of a corresponding number of additional memory elements (eg flip-flops) in the shift register to specify the signature. In the most general case, a code generator table (hardwired or in SW) can be used to assign a desired code pattern of any length to a particular input pattern of the data words or bits. In the simplest case, the code generator is tor advantageously designed such that it forms a parity bit and this specifies an additional memory element of the shift register.
Weitere Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus der Beschreibung sowie den Merkmalen der Ansprüche.Further Advantages and advantageous embodiments will become apparent from the description and the features of the claims.
Beschreibung der Ausführungsbeispieledescription the embodiments
In
An
welcher Stelle im MISR wenigstens ein zusätzliches Speicherelement bzw.
der wenigstens eine zusätzliche
Einkoppelpunkt, also Antivalenz- bzw. Äquivalenzpunkt eingebracht
wird, ist frei wählbar
und hier nur beispielhaft dargestellt. D. h. auch hier in
Bei Verwendung eines Hamming-Codes ergibt sich beispielsweise also bei ECC für Einzelfehlerkorrektur, bei 4 Bit Nutzdaten 3 Bit Korrekturcode. Bei ECC Ein-Fehler-Korrektur mit 8 Bit Nutzdaten ergeben sich 4 Bit Korrekturcode. Bei 16 Bit Nutzdaten ergeben sich 5 Bit Korrekturcode und bei 32 Bit Nutzdaten 6 Bit Korrekturcode. Also allgemein 2k >= m+k+1, wobei m der Anzahl der Nutzbits als natürliche Zahl größer 0 entspricht und k den Codebits oder Korrekturbits bzw. dem Korrekturcode ebenfalls als natürliche Zahl. Soll zusätzlich eine Zweifach-Fehler-Detektion erfolgen, ist jeweils 1 Bit mehr Korrekturcode vorzusehen.For example, when using a Hamming code, ECC results in single-error correction, in 4-bit user data 3-bit correction code. ECC single-error correction with 8-bit user data results in 4-bit correction code. For 16-bit user data, 5-bit correction code results and for 32-bit user data 6-bit correction code. So in general 2 k > = m + k + 1, where m corresponds to the number of useful bits as a natural number greater than 0 and k the code bits or correction bits or the correction code also as a natural number. If a double-error detection is to be performed additionally, 1 bit more correction code must be provided in each case.
Wird beispielsweise ein Berger-Code verwendet, sind bei 4 Bit-Nutzdaten zusätzlich 3 Codebits für 5 Zustände vorzusehen, bei 8 Bit Nutzdaten zusätzlich 4 Codebits für 9 Zustände. Bei 16 Bit Nutzdaten zusätzlich 5 Codebits für 17 Zustände und bei 32 Bit Nutzdaten zusätzlich 6 Codebits für 33 Zustände. Hier heißt es allgemein 2k >= m+1 bzw. k >= Id(m+1), wobei m der Nutzbitanzahl der Daten entspricht und k der Codebitanzahl bzw. dem Korrekturcode.If, for example, a Berger code is used, an additional 3 code bits for 5 states must be provided for 4-bit user data, and 4 code bits for 9 states for 8-bit user data. For 16-bit user data, additionally 5 code bits for 17 states and for 32-bit user data additionally 6 code bits for 33 states. In general, 2 k > = m + 1 or k> = Id (m + 1), where m is the number of useful bits of the data ent and k is the number of code bits or the correction code.
Auch weitere Codes, wie der Bose-Lin-Code sind hierbei möglich, wobei die Anzahl der Codierungsbits dabei gleich ist wie die des Berger-Codes aber die Prüfbits lediglich Modulo 4 oder Modulo 8 genommen werden.Also other codes, such as the Bose-Lin code are possible here, where the number of coding bits is the same as that of the Berger code but the check bits only modulo 4 or modulo 8 are taken.
Entsprechend der Anzahl dieser Codierungsbits k ist somit auch die Anzahl der Ausgänge des Codegenerators vorzusehen, also zusätzliche Eingänge (inputs) –i, wobei i = 1 bis k ∊ N und eine ebensolche entsprechende Anzahl an Schieberegistern und Verknüpfungspunkten.Corresponding the number of these coding bits k is thus also the number of Outputs of the Provide code generator, ie additional inputs (inputs) -i, where i = 1 to k ∈ N and a corresponding number at shift registers and nodes.
Das
MISR wird somit um mindestens eine Stelle erweitert, indem mindestens
ein Parity- oder anderer
Code aus den ursprünglichen
Daten Input 0 bis Input n – 1
gewonnen wird und in die Signatur, hier im Beispiel in
Mit einem noch höheren Aufwand an Codebits, wie oben erwähnt, kann der Hamming-Abstand beliebig weiter erhöht werden. Denkbar ist auch statt der Antivalenz- eine Äquvalenzverknüpfung zur Einkopplung zu verwenden, was ebenfalls zu einer geringeren Fehlerauslöschungswahrscheinlichkeit als im Stand der Technik führt.With an even higher one Cost of code bits, as mentioned above, the Hamming distance can be arbitrary further increased become. It is also conceivable, instead of the antivalence, an equivalence link to Coupling to use, which also to a lower error cancellation probability as in the prior art leads.
Als
weitere Möglichkeit
ergibt sich für
den Codegenerator
Zum
Auslesen der gebildeten Signatur aus dem MISR ist im seriellen Fall
ein Schaltmittel S vorgesehen, welches die Rückkoppelleitung unterbricht und
ein Auslesen der Register seriell ermöglicht. Zusätzlich dazu kann die Rückkopplungsleitung
zweckmäßigerweise
auf low gelegt werden, damit die Signatur beim Auslesen nicht verfälscht wird.
Dies ist in
Die Erfindung stellt also einen deutlich höheren Sicherheitsfaktor dar als eine gewöhnliche MISR und dies bei deutlich geringerem Aufwand als eine ständig notwendige Inversion der Datenwörter zum Ausgleich einer Fehlermaskierung.The Thus, the invention represents a significantly higher safety factor as an ordinary one MISR and this at a significantly lower cost than a constantly necessary Inversion of the data words to compensate for an error masking.
Damit ist die Erfindung bei allen sicherheitskritischen Anwendungen, insbesondere im Fahrzeugbereich wie bei Bremsensteuerungen (ABS, ASR, ESP, usw.), steer-by-wire, break-by-wire, also allgemein x-by-wire, Airbag, Motorsteuerung, Getriebesteuerung, usw. einsetzbar. Ebenso Einsatz finden kann die Erfindung bei Mikrocontrollern oder anderen Halbleiterstrukturen im Rahmen eines Tests sowie bei allen BIST-Strukturen (built-in self-test) und auch zur Optimierung von Produktionstests.In order to The invention is in all safety-critical applications, in particular in the vehicle sector as with brake controls (ABS, ASR, ESP, etc.), steer-by-wire, break-by-wire, generally x-by-wire, airbag, Motor control, transmission control, etc. can be used. Likewise use The invention can be found in microcontrollers or other semiconductor structures as part of a test and in all BIST structures (built-in self-test) and also to optimize production tests.
Claims (10)
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10351442A DE10351442A1 (en) | 2002-12-20 | 2003-11-04 | Device and method for forming a signature |
| PCT/DE2003/004177 WO2004057356A1 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | Device and method for creating a signature |
| JP2005502519A JP4520407B2 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | Apparatus and method for forming an electronic signature |
| ES03795761T ES2262019T3 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | DEVICE AND PROCEDURE TO CREATE A SIGNATURE. |
| AU2003298070A AU2003298070A1 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | Device and method for creating a signature |
| EP03795761A EP1579230B1 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | Device and method for creating a signature |
| US10/539,495 US7461311B2 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | Device and method for creating a signature |
| AT03795761T ATE325347T1 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | DEVICE AND METHOD FOR FORMING A SIGNATURE |
| DE50303260T DE50303260D1 (en) | 2002-12-20 | 2003-12-18 | DEVICE AND METHOD FOR FORMING A SIGNATURE |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10261250 | 2002-12-20 | ||
| DE10261250.1 | 2002-12-20 | ||
| DE10351442A DE10351442A1 (en) | 2002-12-20 | 2003-11-04 | Device and method for forming a signature |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10351442A1 DE10351442A1 (en) | 2004-07-01 |
| DE10351442A9 true DE10351442A9 (en) | 2005-01-05 |
Family
ID=32404336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10351442A Withdrawn DE10351442A1 (en) | 2002-12-20 | 2003-11-04 | Device and method for forming a signature |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN100492042C (en) |
| DE (1) | DE10351442A1 (en) |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3784907A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-08 | Ibm | Method of propagation delay testing a functional logic system |
| US4513418A (en) * | 1982-11-08 | 1985-04-23 | International Business Machines Corporation | Simultaneous self-testing system |
| US4503537A (en) * | 1982-11-08 | 1985-03-05 | International Business Machines Corporation | Parallel path self-testing system |
| US4571724A (en) * | 1983-03-23 | 1986-02-18 | Data I/O Corporation | System for testing digital logic devices |
| FR2611052B1 (en) * | 1987-02-17 | 1989-05-26 | Thomson Csf | ELECTRICAL CIRCUIT TEST DEVICE AND CIRCUIT COMPRISING SAID DEVICE |
| US4847839A (en) * | 1987-08-26 | 1989-07-11 | Honeywell Inc. | Digital registers with serial accessed mode control bit |
| US5321705A (en) * | 1990-11-21 | 1994-06-14 | Motorola, Inc. | Error detection system |
| US5258985A (en) * | 1991-11-12 | 1993-11-02 | Motorola, Inc. | Combinational data generator and analyzer for built-in self test |
| US20020194565A1 (en) * | 2001-06-18 | 2002-12-19 | Karim Arabi | Simultaneous built-in self-testing of multiple identical blocks of integrated circuitry |
-
2003
- 2003-11-04 DE DE10351442A patent/DE10351442A1/en not_active Withdrawn
- 2003-12-18 CN CNB2003801068603A patent/CN100492042C/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE10351442A1 (en) | 2004-07-01 |
| CN1729402A (en) | 2006-02-01 |
| CN100492042C (en) | 2009-05-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102013215055B4 (en) | Circuit arrangement, device, method and computer program with modified error syndrome for error detection of permanent errors in memories | |
| DE2357233C2 (en) | Address converter | |
| DE3787900T2 (en) | Method and device for generating test bytes for error detection for a data block. | |
| DE102011085602A1 (en) | Apparatus and method for correcting at least one bit error in a coded bit sequence | |
| DE2256135B2 (en) | Method and arrangement for testing monolithically integrated semiconductor circuits | |
| EP0400179B1 (en) | Semi-conductor memory internal parallel test method and apparatus | |
| EP0003480B1 (en) | Circuit for converting binary information by means of check bits | |
| DE102010029345A1 (en) | Method for detecting error of flash analog-to-digital converter of electronic circuit, involves determining parities for output data bits of digital output signal, and detecting error in converter when both parities are identical | |
| DE102020110787B3 (en) | CIRCUIT AND PROCEDURE FOR ENCODING OR DECODING A DATA WORD | |
| DE102016104012A1 (en) | Processing a data word | |
| DE102015102363A1 (en) | ARRANGEMENT AND METHOD FOR CHECKING THE ENTROPY OF A QUOTA NUMBER | |
| EP1579230B1 (en) | Device and method for creating a signature | |
| DE102013220749A1 (en) | Position measuring system | |
| DE2235802C2 (en) | Method and device for testing non-linear circuits | |
| DE10351475A1 (en) | Front page inconsistent with disclosure, abstract based on front page. Patent office notified. - Letter box | |
| DE10351442A9 (en) | Apparatus and method for forming a signature | |
| DE102005046588B4 (en) | Apparatus and method for testing and diagnosing digital circuits | |
| DE3786748T2 (en) | Programmable logical arrangement. | |
| EP1676141B1 (en) | Evaluation circuit for detecting and/or locating faulty data words in a data stream | |
| DE102011080659B4 (en) | DEVICE AND METHOD FOR TESTING A CIRCUIT TO BE TESTED | |
| DE10261810B4 (en) | Error detection method for cryptographic transformation of binary data and circuit arrangement | |
| DE102015121646A1 (en) | ERROR CORRECTION | |
| EP0046963B1 (en) | Circuit configuration for the recognition and correction of error bursts | |
| DE102024203549A1 (en) | Error processing | |
| DE10309255B4 (en) | Methods and circuits for detecting unidirectional errors |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8197 | Reprint of an erroneous patent document | ||
| 8141 | Disposal/no request for examination |