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DE10303722A1 - Abstimmdiagramm für zu testende Vorrichtungen - Google Patents

Abstimmdiagramm für zu testende Vorrichtungen

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Publication number
DE10303722A1
DE10303722A1 DE10303722A DE10303722A DE10303722A1 DE 10303722 A1 DE10303722 A1 DE 10303722A1 DE 10303722 A DE10303722 A DE 10303722A DE 10303722 A DE10303722 A DE 10303722A DE 10303722 A1 DE10303722 A1 DE 10303722A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
parameters
dut
unit circle
polygon
values
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10303722A
Other languages
English (en)
Inventor
James Thomas Bachmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agilent Technologies Inc
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agilent Technologies Inc filed Critical Agilent Technologies Inc
Publication of DE10303722A1 publication Critical patent/DE10303722A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/025General constructional details concerning dedicated user interfaces, e.g. GUI, or dedicated keyboards
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2837Characterising or performance testing, e.g. of frequency response

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Eine verbesserte Vorrichtung und ein Verfahren zum Abstimmen einer zu testenden Vorrichtung verwenden ein spinnendiagrammähnliches Diagramm, das der Bedienperson visuelle Meldungen betreffend den Abstimmstatus einer zu testenden Vorrichtung (DUT) liefert. Das Spinnendiagramm kann auf einer graphischen Benutzerschnittstelle (GUI) angezeigt werden, zusammen mit verschiedenen Einstellungspunkten oder Potentiometern. Das Spinnendiagramm umfaßt einen Einheitskreis, der die akzeptablen Grenzen für jeden gemessenen Parameter darstellt. Ein Polygon mit drei oder mehr Seiten überlagert den Einheitskreis, wobei ein Scheitelpunkt jedes Winkels des Polygons einen gemessenen Parameter darstellt. Das Polygon ändert seine Form, wenn die verschiedenen Potentiometer eingestellt werden. Wenn ein gemessener Parameterwert sich im Zentrum von dessen zulässigem Bereich befindet, liegt der Scheitelpunkt des Winkels, der dieser Messung entspricht, in der Nähe des Zentrums des Einheitskreises. Wenn sich ein gemessener Parameter an dessen oberer oder unterer Grenze befindet, liegt der Scheitelpunkt auf dem Einheitskreis. Wenn ein Parameter kleiner ist als dessen Untergrenze oder größer ist als dessen Obergrenze, liegt der Scheitelpunkt außerhalb des Einheitskreises.

Description

  • Das technische Gebiet ist eine Testausrüstung für elektrische und elektronische Testkomponenten.
  • Elektrische und elektronische Testkomponenten, wie zum Beispiel Mehrkanalleistungsverstärker, erfordern eine Abstimmung, um korrekt zu arbeiten. Um eine derartige Komponente ordnungsgemäß abzustimmen, stellt eine Bedienperson üblicherweise einen oder mehrere Potentiometer oder andere Einstellvorrichtungen ein, die an der Komponente installiert sind. Wenn die Komponente eine komplexe Vorrichtung ist, wie zum Beispiel der Mehrkanalleistungsverstärker, kann die Einstellung der Potentiometer und die korrekte Abstimmung der Komponente ein schwieriger und langwieriger Prozeß sein, da die Einstellung eines Parameters das Setzen anderer Parameter beeinflussen kann.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, Vorrichtungen und Verfahren zum verbesserten Abstimmen von zu testenden Vorrichtungen zu schaffen.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung gemäß Anspruch 1 oder 6 und durch ein Verfahren gemäß Anspruch 12 gelöst.
  • Eine verbesserte Vorrichtung und ein Verfahren zum Abstimmen einer zu testenden Vorrichtung (DUT = device under test) verwendet ein spinnendiagrammähnliches Diagramm, das der Bedienperson visuelle Meldungen über den Abstimmstatus der DUT liefert. Das Spinnendiagramm kann auf einer graphischen Benutzerschnittstelle (GUI) angezeigt werden, zusammen mit visuellen Darstellungen der verschiedenen Einstellpunkte oder Potentiometer. Das Spinnendiagramm umfaßt einen Einheitskreis, der die akzeptablen Grenzen für jeden gemessenen Parameter darstellt. Ein Polygon von drei oder mehr Seiten überlagert den Einheitskreis, wobei ein Scheitelpunkt jedes Winkels des Polygons einen gemessenen Parameter darstellt. Eine Achse kann jeden Scheitelpunkt halbieren, die den Bereich der gemessenen Werte darstellt, die dem entsprechenden Parameter zugeordnet sind. Der Schnittpunkt der Achse und des Scheitelpunkts kann den aktuell gemessenen Wert des Parameters darstellen. Das Polygon ändert seine Form wenn die verschiedenen Potentiometer eingestellt werden. Wenn ein gemessener Parameterwert im Zentrum des zulässigen Bereichs ist, liegt der Scheitelpunkt des Winkels, der dieser Messung entspricht, in der Nähe des Zentrums des Einheitskreises. Wenn ein gemessener Parameter an dessen oberer oder unterer Grenze liegt, liegt der Scheitelpunkt auf dem Einheitskreis. Wenn ein gemessener Parameter kleiner ist als die untere Grenze oder größer ist als die obere Grenze, dann liegt der Scheitelpunkt außerhalb des Einheitskreises.
  • Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend bezugnehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
  • Fig. 1 ein Diagramm eines Systems, das zum Abstimmen einer zu testenden Vorrichtung verwendet wird;
  • Fig. 2 ein Spinnendiagramm wie auf der graphischen Benutzerschnittstelle angezeigt ist, wobei das Diagramm verwendet werden kann, um die zu testende Vorrichtung abzustimmen;
  • Fig. 3 eine weitere Ansicht des Diagramms aus Fig. 2, bei dem alle Messungen innerhalb der Spezifikation liegen;
  • Fig. 4 eine wiederum andere Ansicht des Diagramms aus Fig. 2, bei der eine Messung weit außerhalb der Spezifikation liegt;
  • Fig. 5 einen Graph, der eine mögliche Skalierungsmethode zur Verwendung mit dem Diagramm aus Fig. 2 darstellt; und
  • Fig. 6 ein Flußdiagramm, das den Abstimmprozeß unter Verwendung des Spinnendiagramms aus Fig. 2 darstellt.
  • Fig. 1 ist ein Blockdiagramm, das ein System 10 darstellt, das zum Abstimmen einer zu testenden Vorrichtung (DUT) 20 verwendet wird. Die DUT 20 kann eine elektronische oder elektrische Komponente oder ein System sein, bei dem Einstellungsvorrichtungen verfügbar sind, um Betriebsparameter der DUT 20 zu variieren, um die DUT 20 ordnungsgemäß abzustimmen. Beispielsweise kann die DUT 20 ein Mehrkanalleistungsverstärker sein. Die Einstellvorrichtungen können kleine Potentiometer (POTs) sein. Die Einstellung der POTs beeinflußt verschiedene Messungen der DUT 20. Welcher Parameter variiert ändert und die Richtung und die Stärke dieser Variation ist jedoch vielleicht für die Bedienperson vor der Einstellung nicht offensichtlich. Wichtiger ist, wenn die Bedienperson versucht, einen Parameter zu variieren kann sich ein anderer Parameter ändern, da mehr als ein Parameter der DUT 20 durch die POT-Einstellung beeinträchtigt werden kann (das heißt, die Parameter sind konkurrierend). Die Auswirkung der POT-Einstellungen kann auf einer graphischen Benutzerschnittstelle (GUI) 100 gezeigt werden.
  • Typische Parameter, die von der DUT 20 gemessen werden sollen, wie sie in einem Mehrkanalleistungsverstärker verkörpert ist, umfassen S-Parameter, benachbarte Kanalleistungsverhältnisse und eine Spektrumemissionsmaske.
  • Das System 10 kann ein Meßmodul 30 umfassen, das mit der DUT 20 gekoppelt ist. Das Meßmodul 30 wird verwendet, um spezifizierte Parameter von der DUT 20 zu messen. Die Parameter, die aus der DUT 20 genommen werden sollen, können in einem Testplan 51 n spezifiziert sein. Der Testplan 51 n kann in einer Datenbank 50 gespeichert sein. Der Testplan 51 n kann ferner eine obere und eine untere zulässige Grenze für die gemessenen Parameter, Skalierungsfaktoren, die an die gemessenen Werte angewendet werden sollen und skalierten Bereiche für die obere und die untere Grenze umfassen. Der Testplan 51 n kann zusätzliche Informationen umfassen, die sich auf die gemessenen Parameter beziehen, die benötigt werden, um eine visuelle Anzeige des Abstimmens an eine Bedienperson zu liefern. Ein Skalierungsmodul 60 kann die gemessenen Parameter neu skalieren oder normalisieren, um das Anzeigen derselben an der GUI 100 zu ermöglichen. Ein Aufbereitungsmodul 70 kann verschiedene visuelle Merkmale erzeugen, die an der GUI 100 angezeigt werden sollen, einschließlich POT-Emulatoren, die zeigen, welcher POT eingestellt wird, und den relativen Punkt der Einstellung jedes POT und die Auswirkung der POT-Einstellungen auf die konkurrierenden, gemessenen Parameter. Die visuellen Merkmale werden später beschrieben. Ein Steuerungsmodul 80 kann die Operation der verschiedenen Komponenten des Systems 10 steuern und kann eine Logik umfassen, um zu bestimmen, wann sich alle gemessenen Parameter innerhalb einer Spezifikation befinden. Schließlich kann das System 10 eine Anzeige 90 umfassen, auf der die GUI 100 gezeigt ist.
  • Das System 10 kann in einer rahmenbefestigbaren Konfiguration realisiert sein, wobei das Meßmodul 30 eine separate Komponente in einem Rahmen ist und die Datenbank 50, das Skalierungsmodul 60, das Aufbereitungsmodul 70 und das Steuerungsmodul 80 in einem einzelnen Gehäuse realisiert sind, wie zum Beispiel in einem Personalcomputer. Die Anzeige 90 kann ferner rahmenbefestigt sein und kann als eine CRT, eine Flachbildanzeige oder eine andere Anzeige realisiert sein, die in der Lage ist, die GUI 100 zu zeigen. Das derart realisierte System 10 kann mit der DUT 20 unter Verwendung einer normalen Einrichtung zum Erfassen von Messungen verbunden sein.
  • Fig. 2 stellt die GUI 100 dar, an der ein spinnendiagrammähnliches Diagramm 110 angezeigt ist, das wiederum verwendet wird, um eine visuelle Darstellung der Messungen zu liefern, die an der DUT 20 gemacht werden (siehe Fig. 1). Das Diagramm 110 umfaßt einen Einheitskreis 120 und ein Polygon 130. Ferner ist an der GUI 100 ein Steuerungsabschnitt 150 gezeigt, der die Einstellungen darstellt, die verfügbar sind, um die DUT 20 abzustimmen.
  • Messungen von der DUT 20 können normalisiert oder skaliert werden, so daß ein maximaler und ein minimaler zulässiger Wert von jedem Parameter durch einen Punkt an dem Einheitskreis dargestellt werden kann. Der Bereich der zulässigen Werte für jeden Parameter der DUT 20 kann zum Beispiel auf Einheit (1) normalisiert werden. Andere Skala- oder Normierungs-Werte können ferner mit dem Diagramm 110 verwendet werden. Ein Zentrum 125 des Einheitskreises 120 stellt einen Mittelpunkt zwischen der oberen und der unteren Grenze der zulässigen Werte des Parameters dar. Um für die Bedienperson visuell Klarheit zu liefern, kann jedoch jeder gemessene Parameter, der sich im Mittelpunkt des zulässigen Bereichs befindet mit einem leichten Versatz von dem Zentrum 125 angezeigt werden. Wenn die obere oder die untere Grenze des Parameters überschritten werden, wird der gemessene Wert durch einen Punkt dargestellt, der außerhalb des Einheitskreises 120 gezeichnet ist. Je weiter der gemessene Wert von den zulässigen Werten entfernt ist, desto weiter entfernt ist der gezeichnete Punkt von dem Zentrum 125 des Einheitskreises 120. Die gemessenen Parameter können als Punkte auf Achsen angezeigt werden, die den Einheitskreis schneiden.
  • In Fig. 2 umfaßt das Diagramm 110 dass Polygon 130 als ein Fünfeck, was impliziert, daß fünf Parameter von der DUT 20 gemessen werden. Jeder der fünf Parameter kann durch einen der Scheitelpunkt 131-135 des Polygons 130 dargestellt sein. Eine entsprechende Achse 141-195 schneidet jeden der Scheitelpunkt 131-135, was die gemessene Werte der Parameter darstellt.
  • Wie in Fig. 2 gezeigt ist, zeigt das Polygon 130 fünf konkurrierende Messungen mit einem gemessenen Wert (bei dem Beispiel an dem Scheitelpunkt 131) außerhalb der Spezifizierung. Das heißt, der Scheitelpunkt 131 liegt außerhalb des Einheitskreises 120. Eine Einstellung von einem oder mehreren der POTs ist dann erforderlich, um den Scheitelpunkt 131 an der Achse 141 nach unten und auf oder innerhalb den Einheitskreis 120 zu bewegen. Optional kann sich ein sichtbares Merkmal des Diagramms 110 ändern, wenn alle Messungen in die Spezifizierung kommen. Der Einheitskreis 120 kann z. B. grün werden, wenn alle Messungen in der Spezifikation liegen (siehe Fig. 3). Bei einem alternativen Ausführungsbeispiel kann das Diagramm 110 eine Textmeldung 127 anzeigen, wenn alle Messungen in der Spezifikation liegen.
  • Der Steuerungsabschnitt 150 kann verwendet werden, um die POTs an der DUT 20 zu emulieren. Tatsächliche Einstellungen der POTs können an dem Diagramm 110 gezeigt werden, während POT-Emulatoren 151-153 von links nach rechts und zurück gleiten. Der spezifische POT, der eingestellt wird, kann wie gezeigt hervorgehoben werden.
  • Das Diagramm 110, das in den Fig. 2 und 3 gezeigt ist, zeigt das Polygon 130, das fünf Messungen darstellt. Das Diagramm 110 kann für mehr oder weniger als fünf Messungen verwendet werden. Üblicherweise kann das Diagramm 110 verwendet werden, um zumindest drei Messungen darzustellen. Wenn drei Messungen dargestellt werden, ist das Diagramm 110 ein Dreieck. Eine DUT mit nur zwei Messungen kann ebenfalls das Diagramm 110 verwenden. Bei diesem Szenario wird einer der zwei gemessenen Parameter dupliziert, um das Dreieck zu bilden.
  • Fig. 4 zeigt das Diagramm 110, wobei die Messung an dem Scheitelpunkt 131 weit außerhalb der Spezifikation ist. In dieser Situation liegt der gemessene Wert in der Nähe des Endes der Achse 141 und außerhalb des Einheitskreises 120. Da es nicht möglich ist, darzustellen, wie weit außerhalb des Einheitskreises 120 die Messung außerhalb der Spezifikation sein kann, kann ein Pfeil 161 an dem Diagramm 110 umfaßt sein, um anzuzeigen, ob sich die Messung nach innen oder nach außen bewegt, ansprechend auf eine Einstellung der POTs.
  • Bei den Beispielen des Diagramms 110, die in den Fig. 2-4 gezeigt sind, muß die Bedienperson keine Kenntnis der tatsächlichen Bedeutung und der Einheiten von jeder der Messungen haben. Statt dessen muß sich die Bedienperson nur auf das Plazieren des Polygons 130 innerhalb des Einheitskreises 120 konzentrieren.
  • Fig. 5 ist ein Graph 180, der eine mögliche Einrichtung zum Skalieren der Parameter von der DUT 20 darstellt, so daß die gemessenen Werte einfach auf dem Diagramm 110 angezeigt werden können. Andere Skalierungsmethoden können ebenfalls verwendet werden. Zusätzlich dazu kann das Diagramm 110 ohne eine Skalierung verwendet werden. In Fig. 5 kann ein Parameter T einen minimalen Wert Tmin von Null und einen maximalen Wert Tmax von 20 aufweisen. Die Untergrenze T1 kann 6,0 sein und die Obergrenze Tu kann 10,0 sein. Das zulässige Intervall ist somit 4,0. Um diesen Bereich an dem Diagramm 110 anzuzeigen, kann ein Skalierungsfaktor von 4 verwendet werden, wodurch das zulässige Intervall auf 1,0, die Untergrenze auf 1,5 und die Obergrenze auf 2,5 reduziert werden. Ein gemessener Wert des Parameters T wird dann durch das Skalierungsmodul 60 skaliert, durch Teilen des gemessenen Werts durch 4. Der somit skalierte Wert des Parameters T (Ts) kann an dem Diagramm 110 angezeigt werden. Wenn der skalierte Wert Ts bei 1,5 oder 2,5 liegt, liegt der entsprechende Scheitelpunkt des Polygons 130 auf dem Einheitskreis 120. Wenn der skalierte Wert Ts zwischen 1,5 und 2,5 liegt, nähert sich der entsprechende Scheitelpunkt des Polygons 130 dem Zentrum 125 des Einheitskreises 120. Für eine visuelle Klarheit kann der tatsächlich gezeichnete Punkt des Scheitelpunkts um einen geringen Wert von dem Zentrum 125 des Einheitskreises 120 versetzt sein. Wenn der skalierte Wert Ts kleiner als 1,5 oder größer als 2,5 ist, liegt der Scheitelpunkt des Polygons außerhalb des Einheitskreises 120. Wenn der skalierte Wert Ts ausreichend von dem Einheitskreis 120 entfernt ist (zum Beispiel Ts ist 5), kann der Pfeil 161 angezeigt werden, um die Richtung der Bewegung von Ts zu zeigen.
  • Fig. 6 ist ein Flußdiagramm, das eine mögliche Abstimmoperation 200 unter Verwendung des Diagramms 110 aus Fig. 2 darstellt. Die Operation 200 beginnt bei Block 205, wobei die DUT 20 konfiguriert ist, um Messungen an das Meßmodul 30 zu liefern. Bei Block 210 wird der Testplan 51 n für die DUT von der Datenbank 50 empfangen und das Meßmodul 30 ist konfiguriert, um die Parameter der DUT 20 zu messen, die in dem Testplan 51 n spezifiziert sind.
  • Bei Block 220 erzeugt das Aufbereitungsmodul 70 das Diagramm 110 und zeigt das Diagramm 110 bei der GUI 100 an. Da an diesem Punkt keine Messungen von der DUT 20 erhalten wurden, kann das Diagramm 110 den Einheitskreis 120, die Achsen 141-145 und die POT-Emulatoren 151-153 umfassen.
  • Bei Block 225 stellt die Bedienperson einen POT an der DUT 20 ein, und die resultierende Auswirkung auf die gemessenen Parameter wird bestimmt. Das Skalierungsmodul 70 skaliert die gemessenen Parameterwerte zum Anzeigen auf dem Diagramm 110 und liefert die Skalierungsinformationen zu dem Aufbereitungsmodul 70 bei Block 230. Das Aufbereitungsmodul 70 bereitet das Polygon 130 auf, wobei die Scheitelpunkte 131-135 des Polygons 130 die entsprechenden Achsen 141-145 bei Block 240 an einem bestimmten Punkt schneiden. Das Aufbereitungsmodul 70 kann ferner die relative Position des angepaßten POT an dem Steuerungsabschnitt 50 aufbereiten. Das Steuerungsmodul 80 bestimmt bei Block 245, ob ein gemessener Parameterwert ausreichend außerhalb des Einheitskreises 120 liegt. Wenn ein gemessener Parameter ausreichend weit außerhalb des Einheitskreises 120 liegt, kann das Aufbereitungsmodul 70 den Pfeil 161 zusätzlich anzeigen, der die Richtung der Bewegung des gemessenen Parameterwerts bei Block 250 anzeigt. Das Steuerungsmodul 80 bestimmt bei Block 255, ob sich alle gemessenen Parameterwerte in der Spezifikation befinden (das heißt auf oder innerhalb des Einheitskreises). Wenn alle gemessenen Parameterwerte innerhalb der Spezifikation liegen, ändert das Aufbereitungsmodul 70 die Einheitskreisfarbe bei Block 260 auf grün. Wenn einer oder mehrere gemessene Parameterwerte außerhalb der Spezifikation liegen kehrt die Operation zurück zu Block 225 und das System 10 wartet auf weitere Einstellungen der POTs an der DUT 20. Nach Block 260 endet die Operation 200 bei Block 265.

Claims (20)

1. System (10) zum Abstimmen einer zu testenden Vorrichtung (DUT) (20), das folgende Merkmale aufweist:
eine Einrichtung (51 n, 30) zum Bestimmen einer Konfiguration der DUT, wobei die Konfiguration einen aktuellen gemessenen Wert von zwei oder mehreren konkurrierenden Parametern aufweist, die der DUT zugeordnet sind;
eine Einrichtung (70), die mit der Konfigurationsbestimmungseinrichtung gekoppelt ist, zum dynamischen Aufbereiten einer visuellen Darstellung der relativen Werte der zwei oder mehr konkurrierenden Parameter;
eine Einrichtung (90), die mit der Aufbereitungseinrichtung gekoppelt ist, zum Anzeigen der visuellen Darstellung; und
eine Einrichtung (180), die mit der Aufbereitungseinrichtung gekoppelt ist, zum Bestimmen, wann die zwei oder mehr konkurrierenden Parameter sich in der Spezifikation befinden.
2. System gemäß Anspruch 1, das ferner eine Einrichtung (60) aufweist, die mit der Konfigurationsbestimmungseinrichtung gekoppelt ist, zum Skalieren der zwei oder mehr konkurrierenden Parameter.
3. System gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem zulässige Werte der zwei oder mehr Parameter spezifiziert sind, das ferner eine Einrichtung zum Speichern der spezifizierten zulässigen Werte aufweist.
4. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, das ferner eine Einrichtung zum Anzeigen aufweist, wann die zwei oder mehr konkurrierenden Parameter sich in der Spezifikation befinden.
5. System gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, das ferner eine Einrichtung zum Anzeigen einer Richtung der Einstellung für den einen oder die mehreren der zwei oder mehreren konkurrierenden Parameter aufweist.
6. System (10) zum Abstimmen einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) (20), das folgende Merkmale aufweist:
ein Meßmodul (31), das eine Konfiguration der DUT bestimmt, wobei die Konfiguration zwei oder mehr konkurrierende Parameter der DUT und zulässige Werte für die zwei oder mehr konkurrierenden Parameter umfaßt;
ein oder mehrere Potentiometer, die einstellbar sind, um gemessene Werte der zwei oder mehr konkurrierenden Parameter dynamisch zu variieren;
ein Aufbereitungsmodul (70), das die skalierten, gemessenen Werte der zwei oder mehr konkurrierenden Parameter dynamisch aufbereitet; und
eine Anzeige (90), die die aufbereiteten Parameter und die zulässigen Werte anzeigt.
7. System (10) gemäß Anspruch 6, das ferner ein Skalierungsmodul (60) aufweist, das die gemessenen Werte der zwei oder mehr konkurrierenden Parameter dynamisch skaliert und die zulässigen Werte skaliert.
8. System gemäß Anspruch 6 oder 7, bei dem das Meßmodul eine Verbindung zu einer Konfigurationsdatenbank (50) aufweist, wobei die Konfigurationsdatenbank einen oder mehrere Testpläne (51 n) aufweist, wobei ein Testplan Konfigurationsinformationen für die DUT speichert.
9. System (10) gemäß einem der Ansprüche 6 bis 8, bei dem das Aufbereitungsmodul (70) einen Einheitskreis (120) aufbereitet und die zwei oder mehr konkurrierenden Parameter als ein Polygon (130), das den Einheitskreis überlagert, und eine Mehrzahl von Achsen (141-145) aufbereitet, wobei jeder Scheitelpunkt (131-135) des Polygons von einer der Mehrzahl von Achsen geschnitten wird, und wobei ein gemessener Wert der DUT (20) entlang einer Achse liegt.
10. System gemäß Anspruch 9, bei dem der gemessene Wert der DUT (20) sich in dem zulässigen Bereich befindet, wobei ein Scheitelpunkt des Polygons auf oder innerhalb des Einheitskreises liegt.
11. System gemäß einem der Ansprüche 6 bis 10, das ferner ein Steuerungsmodul aufweist, das bestimmt, wenn jeder der zwei oder mehr konkurrierenden Parameter innerhalb eines entsprechenden zulässigen Bereichs liegt.
12. Verfahren zum Abstimmen einer zu testenden Vorrichtung (20), das folgende Schritte aufweist:
Erzeugen eines Spinnendiagramms (110) für die zu testende Vorrichtung;
Durchführen von Einstellungen an der zu testenden Vorrichtung;
automatisches Aktualisieren des Spinnendiagramms basierend auf den Einstellungen; und
Bereitstellen einer Anzeige, wenn alle Parameter der zu testenden Vorrichtung innerhalb der Spezifikation liegen.
13. Verfahren gemäß Anspruch 12, das ferner das Wiedergewinnen eines Testplans (51 n) für die zu testende Vorrichtung (20) aufweist, wobei der Testplan Parameter bereitstellt, um Werte für die Parameter zu messen und zu spezifizieren.
14. Verfahren gemäß Anspruch 12 oder 13, bei dem das Spinnendiagramm drei oder mehr Achsen (141-145), wobei eine Achse einen Bereich von möglichen gemessenen Werten für einen Parameter darstellt, wobei ein Polygon (130) die drei oder mehr Achsen verbindet, und einen Einheitskreis aufweist, wobei das Polygon den Einheitskreis überlagert und wobei jede der Achsen zu einem Zentrum (125) des Einheitskreises hin zeigt.
15. Verfahren gemäß Anspruch 14, bei dem die Anzeige von innerhalb der Spezifikation das Polygon aufweist, das auf oder innerhalb des Einheitskreises liegt.
16. Verfahren gemäß Anspruch 15, bei dem die Anzeige ferner eine visuelle Anzeige auf einer graphischen Benutzerschnittstelle (100) aufweist, wobei die Anzeige entweder eine Farbänderung oder eine Textmeldung (127) umfaßt.
17. Verfahren gemäß einem der Anspräche 14 bis 16, das ferner folgende Schritte aufweist:
Bestimmen, ob einer oder mehrere der Parameter weit außerhalb der Spezifikationen liegen, wobei ein Parameter weit außerhalb der Spezifikation liegt, wenn ein Meßwert der Spezifikation zu einem Punkt auf oder in der Nähe eines Endes einer Achse gegenüber dem Zentrum des Einheitskreises (120) führt; und
Anzeigen eines Richtungspfeils (161), der einer Richtung der Einstellung für einen gemessenen Parameter entspricht, wenn der gemessene Parameter weit außerhalb der Spezifikation liegt.
18. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 12 bis 17, das ferner das Skalieren von einem oder mehreren der Parameter für eine Anzeige auf dem Spinnendiagramm aufweist.
19. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 12 bis 18, das ferner das Bereitstellen einer Emulation der Einstellungen der zu testenden Vorrichtung aufweist, wobei die Emulation mit dem Spinnendiagramm angezeigt wird und wobei die Emulation Veränderungen der Einstellungen zeigt.
20. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 12 bis 19, bei dem das Spinnendiagramm dynamisch als eine graphische Benutzerschnittstelle angezeigt wird und bei dem die Anpassungen dynamisch auf der graphischen Benutzerschnittstelle angezeigt werden.
DE10303722A 2002-04-02 2003-01-30 Abstimmdiagramm für zu testende Vorrichtungen Withdrawn DE10303722A1 (de)

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