DE10235482B3 - Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate - Google Patents
Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate Download PDFInfo
- Publication number
- DE10235482B3 DE10235482B3 DE10235482A DE10235482A DE10235482B3 DE 10235482 B3 DE10235482 B3 DE 10235482B3 DE 10235482 A DE10235482 A DE 10235482A DE 10235482 A DE10235482 A DE 10235482A DE 10235482 B3 DE10235482 B3 DE 10235482B3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- grooves
- substrate
- micro
- sucked
- holes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H10P72/78—
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T279/00—Chucks or sockets
- Y10T279/11—Vacuum
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
Abstract
Durch die vorliegende Erfindung wird eine Vorrichtung bzw. ein Chuck zum Fixieren von dünnen und/oder flexiblen Substraten bereitgestellt, der ein gleichmäßiges und vollflächiges Ansaugen der Substrate ohne nachteiliges Verziehen oder Verbiegen ermöglicht. Der Chuck weist Nuten und Bohrungen auf, die mit einer Vielzahl von Mikrorillen, die auf der Auflagefläche angeordnet sind, in Verbindung stehen. Wird über eine Vakuumeinrichtung durch die Bohrungen und die Nuten Luft angesaugt, breitet sich ein Unterdruck in den Mikrorillen aus, wodurch ein sich auf der Auflagefläche befindliches Substrat angesaugt wird.
Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung bzw. einen Chuck oder eine Einspannvorrichtung zum Fixieren dünner und/oder flexibler Substrate, gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Eine derartige Vorrichtung ist beispielsweise aus der
DE 693 22 835 T2 bekannt. Einer der wesentlichen Bestandteile eines Maskaligners ist das Positionieren und vor allem Fixieren der Maske und des Substrates, um einen erfolgreichen Belichtungsprozess durchführen zu können. Die Fixierung des Substrates wird auf einer speziellen Vorrichtung, einem sogenannten Chuck, durchgeführt, der über speziell angeordnete Vakuumkanäle das Substrat, beispielsweise einen Wafer, ansaugt und festhält und somit das anschließende Alignment, also das gegenseitige Ausrichten von Maske zu Substrat ermöglicht. - Ein Beispiel einer Oberfläche eines solchen bekannten Chucks 100 ist in
1 skizziert. Die Vakuumkanäle101 sind in Form von konzentrischen Kreisen ausgebildet, mehrere radiale Kanäle102 verbinden die kreisförmig angeordneten Kanäle101 miteinander. Weiterhin sind in dem Chuck Bohrungen103 bzw. Nuten vorgesehen, die mit einer (nicht dargestellten) Vakuumeinrichtung verbunden sind und durch die Luft abgesaugt werden kann, um so einen Unterdruck in den durch den Wafer abgedeckten Kanälen zu erzeugen. - In der Industrie werden in neuerer Zeit als Substrate neben den üblichen Silizium-Wafern vermehrt andere, dünne und flexible Substrate verwendet, beispielsweise im Bereich des automatischen Folienbondens (tape automatic bonding, TAB) oder zur Anwendung in flexiblen Flachbildschirmen (flat panel displays). Um diese Substrate optimal ansaugen zu können, bedarf es neuer Technologien.
- Die Problematik des Ansaugens von flexiblen Substraten liegt im allgemeinen darin, dass diese Substrate dazu neigen, sich zu verziehen, sich zu verdrehen, und eine gewisse Grundwelligkeit besitzen. Im TAB-Bereich kommt es durch den Einsatz von Schutzfolien, die zwischen den aufgerollten Lagen der zu verarbeitenden Cu-Tapes eingelegt sind, Werden solche Substrate mit Hilfe von herkömmlichen Chucks durch Ansaugen fixiert, besteht die Gefahr, dass die Flächen der Substrate, die über einem Vakuumkanal oder einer Nut liegen, aufgrund ihrer geringen Steifigkeit und Dicke in die Nut gesaugt werden und dadurch eine zusätzliche Welligkeit der Substratoberfläche herbeigeführt wird. Dies bewirkt zum einen einen ungleichmäßigen Alignment- und vor allem Belichtungsabstand, zum anderen besteht die Gefahr, dass die Substrate im Alignment- und/oder Belichtungsabstand die Maske berühren, verschmutzen oder sogar zerstören können. Aus diesen Gründen ist es nicht ratsam, flexible Substrate punktuell über breite Nuten oder Bohrungen mit großem Sog anzusaugen.
- Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung bzw. einen Chuck zum Fixieren von dünnen und/oder flexiblen Substraten bereit zu stellen, der ein gleichmäßiges und vollflächiges Ansaugen der Substrate ohne nachteiliges Verziehen oder Verbiegen ermöglicht.
- Die Aufgabe wird mit den Merkmalen der Patentansprüche gelöst.
- Bei der Lösung geht die Erfindung von dem Grundgedanken aus, auf der Auflagefläche des Chucks eine Vielzahl von Mikrorillen vorzusehen, die mit einem geeigneten Werkzeug hergestellt werden. Weiterhin weist eine erfindungsgemäße Vorrichtung Nuten und/oder Bohrungen auf, die mit den Mikrorillen in Verbindung stehen und über die mittels einer Vakuumeinrichtung Luft abgesaugt wird, um so bei aufliegendem Substrat , einen Unterdruck in den Mikrorillen auszubilden.
- Zusätzlich bieten die Rillen Platz für eventuell auf der Substratunterseite vorhandene Schmutzteilchen, so dass diese Schmutzteilchen nicht die Ebenheit des aufgelegten Substrats verschlechtern.
- Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 schematisch die Oberfläche eines herkömmlichen Chucks, -
2 eine schematische Seitenansicht einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, -
3(a) und(b) schematisch eine Draufsicht der Auflagefläche der Vorrichtung in Richtung des Pfeils A in2 in zwei alternativen Ausführungsformen, und -
4 schematisch einen Querschnitt B-B der Auflagefläche aus3(a) , -
2 zeigt schematisch eine Seitenansicht einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Fixieren eines Substrats3 . Das Substrat3 ist auf der ebenen Auflagefläche2 der Halteeinrichtung1 angeordnet. Die Halteeinrichtung1 weist in ihrer Auflagefläche2 Nuten4 auf, die untereinander und über Bohrungen5 mit einer Vakuumeinrichtung6 , z. B. in Form eines Vakuumkanals, verbunden sind. Eine Ansaugöffnung8 ist beispielsweise mit einer nicht dargestellten Vakuumpumpe verbunden, so dass über den Vakuumkanal6 und durch die Bohrungen5 und die Nuten4 Luft abgesaugt werden kann. Vorzugsweise kann, je nach Größe des anzusaugenden Substrats3 , nur ein Teil der Nuten4 und/oder Bohrungen5 mit der Ansaugöffnung8 verbunden sein. - Weiterhin sind in der Auflagefläche
2 der Halteeinrichtung1 eine Vielzahl von Mikrorillen7 eingraviert. Diese Mikrorillen stehen mit den Nuten4 und/oder Bohrungen5 in Verbindung, die als Vakuumversorgung dienen. Durch Absaugen von Luft über die Vakuumeinrichtung6 wird bei aufgelegtem Substrat3 in den Mikrorillen7 ein Unterdruck erzeugt, der das Substrat3 an die Auflagefläche2 ansaugt. -
3(a) zeigt in Draufsicht schematisch die Auflagefläche2 ohne das zu fixierende Substrat. In der gezeigten Ausführungsform sind die Mikrorillen7 in Form von Kreisabschnitten angeordnet. Der Radius der Kreisabschnitte beträgt z.B. 40 bis 100 mm, bevorzugt 60 bis 80 mm, besonders bevorzugt 70 mm. Die Nuten4 haben die Form von Schlitzen, die quer zu den Mikrorillen verlaufen und eine Länge von z. B. 1,5 cm und eine Breite von z. B. 0,5 mm aufweisen. Durch diese Anordnung stehen im wesentlichen alle Mikrorillen7 mit mindestens einer Nut4 , durch die Luft angesaugt wird, in Verbindung. - In
3(a) sind ebenso wie in der nachstehend beschriebenen3(b) nur ein Teil der tatsächlich vorhandenen , Mikrorillen7 eingezeichnet, um die Übersichtlichkeit zu erleichtern. Vorzugsweise sind diese Mikrorillen7 auf der gesamten Auflagefläche2 (oder einem großen Teil davon) gleichmäßig verteilt ausgebildet. -
4 zeigt schematisch einen Querschnitt der Auflagefläche2 der erfindungsgemäßen Vorrichtung gemäß dem Schritt B-B in3(a) . Die Mikrorillen7 weisen eine Tiefe von 30 bis 70 μm, vorzugsweise von 40 bis 60 μm, besonders bevorzugt von 50 μm und eine Breite von 80 bis 160 μm, vorzugsweise von. 100 bis 140 μm, besonders bevorzugt von 120 μm auf. Der Abstand der Rillen untereinander beträgt z. B. 0,1 bis 0,2 mm, vorzugsweise 0,15 mm. - Wird nun bei aufgelegtem Substrat
3 durch die Nuten4 und/oder Bohrungen5 Luft angesaugt, so breitet sich ein Unterdruck in den Mikrorillen7 ausgehend von den Versorgungsnuten4 aus. Die Vielzahl der Mikrorillen7 und ihre geringe Rillenbreite ermöglicht es, dass das darauf befindliche Substrat3 quasi ganzflächig angesaugt wird. Das Verhältnis von Auflagefläche zu Ansaugfläche beträgt in einer bevorzugten Ausführungsform etwa 1 : 3 und begründet die sehr gute Ansaugung des Substrats3 . Durch die geringen Breiten der Vertiefungen, also der Nuten4 und der Mikrorillen7 , verformt sich das Substrat3 beim Ansaugen äußerst gering. - Ein weiterer Vorteil des geringen Querschnittes der Mikrorillen
7 ist, dass am Rand des Substrats3 und an eventuellen Aussparungen im Substrat3 nur sehr wenig Luft angesaugt wird, so dass der Leckstrom des Vakuums vernachlässigbar ist. Dadurch wird das Substrat auch im Bereich von am Rand eventuell vorhandenen Löchern aufgrund der großen Zahl und des geringen Querschnittes der Mikrorillen7 optimal angesaugt. -
3(b) zeigt in Draufsicht die Auflagefläche2 in einer alternativen Ausführungsform, die sich von der in3(a) gezeigten Ausführungsform nur durch die Anordnung der Nuten4 unterscheidet. Das zu fixierende Substrat3 ist beispielhaft rechteckig dargestellt, kann aber jede gewünschte Form aufweisen. Das Substrat3 weist eine Nutzfläche31 auf. Die Nutzfläche31 ist der Bereich des Substrats3 , der im späteren Belichtungsprozess belichtet wird. Die Versorgungsnuten4 , sind so angeordnet, dass sie vom Substrat bedeckt werden, um den zum Fixieren nötigen Unterdruck in den Mikrorillen7 erzeugen zu können, sich aber nicht im Bereich der Nutzfläche31 befinden. So kann sichergestellt werden, dass auch dann, wenn das Substrats3 in die im Vergleich zu den Mikrorillen7 breiteren Nuten4 eingesaugt wird, die dadurch entstehende Welligkeit der Substratoberfläche nur außerhalb der Nutzfläche31 auftritt und dadurch ein gleichmäßiger Alignment- und Belichtungsabstand im Bereich der Nutzfläche31 gewährleistet ist. Die Anordnung der Nuten4 kann je nach Form und Größe des Substrats3 so optimiert werden, dass eine möglichst große Nutzfläche31 zur Verfügung steht. - In den dargestellten Ausführungsformen sind die Mikrorillen kreisförmig ausgebildet; sie können im Rahmen der Erfindung auch geradlinig, elliptisch, parabelförmig oder beliebig anders geformt sein, wobei lediglich sichergestellt werden muss; dass bei gegebenem Substrat und den Abmessungen der Mikrorillen (z.B. Breite, Tiefe und Abstand zur benachbarten Mikrorille) das Substrat ohne nachteilige Verbiegung ausreichend angesaugt wird.
- Zum Herstellen der Mikrorillen
7 auf der Auflagefläche2 eines Chucks gemäß der vorliegenden Erfindung wird beispielsweise ein Drehmeißel eingesetzt, der z.B. eine Schneide aus Hartmetall aufweist, deren Radius0 ,2 mm beträgt. Die weiteren Kenndaten gemäß DIN 6581 eines Drehmeißels sind beispielsweise: Freiwinkel α = 6°, Keilwinkel β = 80°, Spanwinkel γ = 4°, Eckenwinkel εr = 45°, Einstellwinkel κr = 90°, und Neigungswinkel γr = 1. - Der Drehmeißel wird in einen Vertikalkopf einer Fräsmaschine eingespannt, wodurch der Drehmeißel beim Bearbeiten eine Rotationsbewegung durchführt. Der Radius der Bewegung und somit der eingefrästen Strukturen beträgt vorzugsweise etwa 70 mm. Der Chuck wird dabei so eingespannt, dass die Mikrogravuren 7 senkrecht zur Substrat- Transportrichtung eingefräst werden. Dabei beträgt die Spindeldrehzahl ca. 500 Umdrehungen/Minute und der Vorschub etwa 40 mm/Minute. Nach dem Fräsen wird die Chuckoberfläche vorzugsweise durch Schleifen oder Läppen bearbeitet, um die Ebenheit der Auflagefläche wieder zu erhalten. Abschließend kann die Chuckoberfläche schwarz eloxiert oder mit einer Hart-Coat-Beschichtung versehen werden.
Claims (11)
- Vorrichtung zum Fixieren eines dünnen und/oder flexiblen Substrats (
3 ), mit einer Halteeinrichtung (1 ) zum Auflegen und Halten eines Substrats (3 ) auf ihrer Auflagefläche (2 ), in der untereinander und mit einer Vakuumeinrichtung (6 ,8 ) verbundene Nuten (4 ) und/oder Bohrungen (5 ) ausgebildet sind, dadurch gekennzeichnet, dass in der Auflagefläche (2 ) eine Vielzahl von mit den Nuten (4 ) und/oder Bohrungen (5 ) in Verbindung stehende Mikrorillen (7 ) vorgesehen sind. - Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Mikrorillen (
7 ) eine Breite von 80 bis 160 μm, vorzugsweise von 100 bis 140 μm, besonders bevorzugt eine Breite von 120 μm aufweisen. - Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Mikrorillen (
7 ) eine Tiefe von 30 bis 70 μm, vorzugsweise von 40 bis 60 μm, besonders bevorzugt eine Tiefe von 50 μm aufweisen. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die Mikrorillen (
7 ) in Form von Kreissegmenten auf der Vorrichtung ausgebildet sind, wobei der Radius 40 bis 100 mm, bevorzugt 60 bis 80 mm, besonders bevorzugt 70 mm beträgt. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei der Abstand der Mikrorillen (
7 ) 0,1 bis 0,2 mm, vorzugsweise 0,15 mm, beträgt. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei die Nuten (
4 ) in Form von Schlitzen quer zur Richtung der Mikrorillen (7 ) ausgebildet sind. - Vorrichtung nach Anspruch 6, wobei die Nuten (
4 ) eine Länge von 1 bis 3 cm und eine Breite von 0,2 bis 0,5 mm aufweisen. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei, abhängig von der Größe des anzusaugenden Substrats (
3 ), wahlweise nur ein Teil der Nuten (4 ) und/oder Bohrungen (5 ) mit der Vakuumeinrichtung (6 ) verbindbar sind. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei die Auflagefläche (
2 ) gehärtet ist. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei die Auflagefläche (
2 ) schwarz eloxiert oder mit einer Hard-Coat Beschichtung versehen ist. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei die Halteeinrichtung (
1 ) oder deren Oberfläche (2 ) aus Aluminium besteht.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10235482A DE10235482B3 (de) | 2002-08-02 | 2002-08-02 | Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate |
| TW092120084A TWI244156B (en) | 2002-08-02 | 2003-07-23 | Device for fixing thin and flexible substrates |
| JP2003283892A JP2004072108A (ja) | 2002-08-02 | 2003-07-31 | 薄く可撓性のある基板を固定する装置 |
| US10/631,330 US6966560B2 (en) | 2002-08-02 | 2003-07-31 | Device for fixing thin and flexible substrates |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10235482A DE10235482B3 (de) | 2002-08-02 | 2002-08-02 | Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10235482B3 true DE10235482B3 (de) | 2004-01-22 |
Family
ID=29762121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10235482A Expired - Fee Related DE10235482B3 (de) | 2002-08-02 | 2002-08-02 | Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6966560B2 (de) |
| JP (1) | JP2004072108A (de) |
| DE (1) | DE10235482B3 (de) |
| TW (1) | TWI244156B (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT522535A3 (de) * | 2019-05-09 | 2023-04-15 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Stempelreplikationsvorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Halteeinrichtung für eine Stempelreplikationsvorrichtung sowie eines Stempels |
Families Citing this family (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1153303B1 (de) * | 1999-02-16 | 2006-09-27 | Applera Corporation | Vorrichtung zur handhabung von kügelchen |
| US7675606B2 (en) * | 2006-05-05 | 2010-03-09 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method |
| KR20080023853A (ko) * | 2006-09-12 | 2008-03-17 | 삼성전자주식회사 | 가요성 표시 장치의 제조 장치 및 이의 제조 방법 |
| US20090031955A1 (en) * | 2007-07-30 | 2009-02-05 | Applied Materials, Inc. | Vacuum chucking heater of axisymmetrical and uniform thermal profile |
| JP2009130008A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Toray Eng Co Ltd | 塗布装置及びその基板保持方法 |
| JP5456440B2 (ja) | 2009-01-30 | 2014-03-26 | 日東電工株式会社 | ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム |
| JP5885325B2 (ja) | 2009-05-29 | 2016-03-15 | 日東電工株式会社 | ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム |
| CN101924056A (zh) | 2009-06-15 | 2010-12-22 | 日东电工株式会社 | 半导体背面用切割带集成膜 |
| US8876867B2 (en) | 2009-06-24 | 2014-11-04 | Zimmer Spine, Inc. | Spinal correction tensioning system |
| JP5580719B2 (ja) | 2009-12-24 | 2014-08-27 | 日東電工株式会社 | ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム |
| JP2011151362A (ja) | 2009-12-24 | 2011-08-04 | Nitto Denko Corp | ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム |
| JP5501938B2 (ja) | 2009-12-24 | 2014-05-28 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム |
| JP5456642B2 (ja) | 2009-12-24 | 2014-04-02 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム |
| US9159595B2 (en) * | 2010-02-09 | 2015-10-13 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Thin wafer carrier |
| CN102947929B (zh) | 2010-04-19 | 2016-05-18 | 日东电工株式会社 | 倒装芯片型半导体背面用膜 |
| JP5439264B2 (ja) | 2010-04-19 | 2014-03-12 | 日東電工株式会社 | ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム |
| JP5681374B2 (ja) | 2010-04-19 | 2015-03-04 | 日東電工株式会社 | ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム |
| WO2011132648A1 (ja) | 2010-04-20 | 2011-10-27 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、半導体装置の製造方法、及び、フリップチップ型半導体装置 |
| JP5356326B2 (ja) | 2010-07-20 | 2013-12-04 | 日東電工株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP5048815B2 (ja) | 2010-07-20 | 2012-10-17 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム、及び、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム |
| JP5249290B2 (ja) | 2010-07-20 | 2013-07-31 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、半導体装置の製造方法、及び、フリップチップ型半導体装置 |
| JP5384443B2 (ja) | 2010-07-28 | 2014-01-08 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、半導体装置の製造方法、及び、フリップチップ型半導体装置 |
| JP5528936B2 (ja) | 2010-07-28 | 2014-06-25 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム |
| JP5546985B2 (ja) | 2010-07-28 | 2014-07-09 | 日東電工株式会社 | 半導体装置製造用フィルム、半導体装置製造用フィルムの製造方法、及び、半導体装置の製造方法。 |
| JP5744434B2 (ja) | 2010-07-29 | 2015-07-08 | 日東電工株式会社 | 加熱剥離シート一体型半導体裏面用フィルム、半導体素子の回収方法、及び半導体装置の製造方法 |
| JP6144868B2 (ja) | 2010-11-18 | 2017-06-07 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、及び、フリップチップ型半導体裏面用フィルムの製造方法 |
| JP6057599B2 (ja) * | 2012-08-09 | 2017-01-11 | タツモ株式会社 | 吸着定盤及びその製造方法 |
| CN102856167B (zh) * | 2012-09-14 | 2015-09-09 | 京东方科技集团股份有限公司 | 柔性基板处理方法和承载基板 |
| EP2927948A1 (de) | 2014-04-04 | 2015-10-07 | Nordson Corporation | Röntgeninspektionsvorrichtung zum Prüfen von Halbleiter-Wafern |
| KR101640743B1 (ko) * | 2014-10-14 | 2016-07-19 | 안성룡 | 자유변형 흡착척 |
| KR101640742B1 (ko) * | 2014-10-14 | 2016-07-19 | 안성룡 | 자유변형 흡착척 |
| JP6661385B2 (ja) * | 2016-01-22 | 2020-03-11 | 株式会社ディスコ | 保持テーブル |
| US10468290B2 (en) * | 2016-11-02 | 2019-11-05 | Ultratech, Inc. | Wafer chuck apparatus with micro-channel regions |
| NL2021859B1 (en) * | 2018-10-23 | 2020-05-13 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Fixation system, support plate and method for production thereof |
| TWM596345U (zh) * | 2020-03-05 | 2020-06-01 | 晶元光電股份有限公司 | 氣體感測器的量測設備 |
| TW202247332A (zh) * | 2021-05-26 | 2022-12-01 | 美商美光科技公司 | 用於帶和卷盤半導體拾取之口袋結構及相關系統及方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69322835T2 (de) * | 1992-10-27 | 1999-06-10 | Sumitomo Electric Industries, Ltd., Osaka | Einrichtung zur Halterung eines Halbleiterplättchens |
Family Cites Families (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3627338A (en) * | 1969-10-09 | 1971-12-14 | Sheldon Thompson | Vacuum chuck |
| JPS5821636Y2 (ja) * | 1978-05-22 | 1983-05-09 | 日立金属株式会社 | 物体支持装置 |
| US4131267A (en) * | 1978-06-02 | 1978-12-26 | Disco Kabushiki Kaisha | Apparatus for holding workpiece by suction |
| JPS5837548Y2 (ja) * | 1979-05-21 | 1983-08-24 | 日本電信電話株式会社 | 真空吸着板 |
| JPS6099538A (ja) * | 1983-11-01 | 1985-06-03 | 横河・ヒュ−レット・パッカ−ド株式会社 | ピンチヤツク |
| JPS6161131U (de) * | 1984-09-26 | 1986-04-24 | ||
| JPS641294A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-05 | Hitachi Ltd | Apparatus for deforming substrate |
| JPH03286549A (ja) * | 1990-04-03 | 1991-12-17 | Hitachi Ltd | 板状体の保持装置 |
| EP0463853B1 (de) * | 1990-06-29 | 1998-11-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Platte zum Arbeiten unter Vakuum |
| JPH0521584A (ja) * | 1991-07-16 | 1993-01-29 | Nikon Corp | 保持装置 |
| JP3258042B2 (ja) * | 1991-08-21 | 2002-02-18 | キヤノン株式会社 | ウエハチャック |
| JPH0582631A (ja) * | 1991-09-20 | 1993-04-02 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体ウエーハ用真空チヤツク |
| JPH07176597A (ja) * | 1994-03-04 | 1995-07-14 | Nikon Corp | 低発塵性部材の製造方法 |
| JP3109558B2 (ja) * | 1994-11-24 | 2000-11-20 | 住友金属工業株式会社 | ウエハ保持具 |
| JPH09252033A (ja) * | 1996-01-12 | 1997-09-22 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体測定装置 |
| JPH1022184A (ja) * | 1996-06-28 | 1998-01-23 | Sony Corp | 基板張り合わせ装置 |
| US6073681A (en) * | 1997-12-31 | 2000-06-13 | Temptronic Corporation | Workpiece chuck |
| US6019164A (en) * | 1997-12-31 | 2000-02-01 | Temptronic Corporation | Workpiece chuck |
| US5989760A (en) * | 1998-03-18 | 1999-11-23 | Motorola, Inc. | Method of processing a substrate utilizing specific chuck |
| KR100668161B1 (ko) * | 1998-10-30 | 2007-01-11 | 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 | 연마용 워크피스 홀더 및 그 제조방법, 워크피스의 연마방법 및 연마장치 |
| US6072157A (en) * | 1998-12-11 | 2000-06-06 | Euv Llc | Thermophoretic vacuum wand |
| US6402594B1 (en) * | 1999-01-18 | 2002-06-11 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Polishing method for wafer and holding plate |
| US6271676B1 (en) * | 1999-03-02 | 2001-08-07 | Tsk America, Inc. | Spiral chuck |
| US6632325B2 (en) * | 2002-02-07 | 2003-10-14 | Applied Materials, Inc. | Article for use in a semiconductor processing chamber and method of fabricating same |
-
2002
- 2002-08-02 DE DE10235482A patent/DE10235482B3/de not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-07-23 TW TW092120084A patent/TWI244156B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-07-31 JP JP2003283892A patent/JP2004072108A/ja active Pending
- 2003-07-31 US US10/631,330 patent/US6966560B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69322835T2 (de) * | 1992-10-27 | 1999-06-10 | Sumitomo Electric Industries, Ltd., Osaka | Einrichtung zur Halterung eines Halbleiterplättchens |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT522535A3 (de) * | 2019-05-09 | 2023-04-15 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Stempelreplikationsvorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Halteeinrichtung für eine Stempelreplikationsvorrichtung sowie eines Stempels |
| AT522535B1 (de) * | 2019-05-09 | 2023-07-15 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Stempelreplikationsvorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Halteeinrichtung für eine Stempelreplikationsvorrichtung sowie eines Stempels |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200408039A (en) | 2004-05-16 |
| JP2004072108A (ja) | 2004-03-04 |
| US20040104326A1 (en) | 2004-06-03 |
| US6966560B2 (en) | 2005-11-22 |
| TWI244156B (en) | 2005-11-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE10235482B3 (de) | Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate | |
| DE19715460C2 (de) | Haltevorrichtung und Halteringvorrichtung zum Polieren eines Werkstücks | |
| DE102006018644B4 (de) | Bearbeitungsverfahren für einen Halbleiterwafer | |
| DE102004025707B4 (de) | Verfahren zum Teilen eines nicht-metallischen Substrats | |
| DE69419479T2 (de) | Verfahren zum Schleifen von Halbleiterwafern und Gerät dafür | |
| DE69518202T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Oberflächenschleifen eines Werkstücks | |
| DE3120477A1 (de) | Vorrichtung zum aufspannen und fixieren von halbleiter-plaettchen | |
| DE10295893T5 (de) | Verfahren zur Herstellung von Halbleiterchips | |
| DE102018207497A1 (de) | Waferbearbeitungsverfahren | |
| DE2061135A1 (de) | Praezisionssaegevorrichtung | |
| DE102016203320A1 (de) | Schneidevorrichtung und Waferschneideverfahren | |
| DE2901968C2 (de) | ||
| DE69930068T2 (de) | Anordnung zum Tragen eines Substrates während eines angepassten Schneidverfahrens | |
| DE102021202316A1 (de) | Schleifverfahren | |
| DE102006035031B4 (de) | Verfahren zum Bearbeiten eines Halbleiterwafers | |
| DE10057998B4 (de) | Poliergerät und Polierverfahren | |
| DE102012215909B4 (de) | Werkzeug zum chemisch-mechanischen Planarisieren mit mehreren Spindeln | |
| DE102004017836B4 (de) | Flip-Chip-Bondgerät | |
| DE102019128479A1 (de) | Befestigungssystem, Halteplatte und Verfahren zu deren Herstellung | |
| DE2422527A1 (de) | Vorrichtung zum gleichzeitigen, beiderseitigen beschichten mehrerer halbleiterscheiben mit einem schutzlack | |
| DE10010865A1 (de) | Verfahren zum Schneiden eines laminierten Werkstücks | |
| DE19756486C1 (de) | Trägertisch für eine Photomaske in einer Vorrichtung zur Mikrochip-Herstellung | |
| DE102022202492B4 (de) | Bearbeitungsverfahren für gestapelte wafer | |
| DE60210910T2 (de) | Verfahren zur Bearbeitung einer Halbleiterscheibe, in dem ein laminiertes Substrat als Stütze für diese Scheibe verwendet wird | |
| DE10054166C2 (de) | Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8100 | Publication of patent without earlier publication of application | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: PRINZ & PARTNER MBB PATENTANWAELTE RECHTSANWAE, DE |
|
| R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: SUSS MICROTEC LITHOGRAPHY GMBH, DE Free format text: FORMER OWNER: SUESS MICROTEC LITHOGRAPHY GMBH, 85748 GARCHING, DE |
|
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: PRINZ & PARTNER MBB PATENTANWAELTE RECHTSANWAE, DE |
|
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |