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DE10225028B3 - Kugelgelenk-Führungsstifte mit Einrastung-Modularer, haubenloser, höhenselbsteinstellender, von oben genau kontaktierbarer Vakuum-Prüfadapter - Google Patents

Kugelgelenk-Führungsstifte mit Einrastung-Modularer, haubenloser, höhenselbsteinstellender, von oben genau kontaktierbarer Vakuum-Prüfadapter Download PDF

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DE10225028B3 DE2002125028 DE10225028A DE10225028B3 DE 10225028 B3 DE10225028 B3 DE 10225028B3 DE 2002125028 DE2002125028 DE 2002125028 DE 10225028 A DE10225028 A DE 10225028A DE 10225028 B3 DE10225028 B3 DE 10225028B3
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    • G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers

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Abstract

Modularer, haubenloser, höhenselbsteinstellender, zusätzlich von oben genau kontaktierbarer Vakuum-Prüfadapter zum Testen von elektronischen Schaltgruppen mit integrierter Niederhalterplatte unter Anwendung der Kugelgelenk-Führungsstifte mit Einrastung. DOLLAR A Der Prüfling (21) wird unter die Niederhalterplatte (11) gelegt und über Niederhalter (22) beim Ansaugen nach unten gedrückt. Zwei Kugelgelenk-Führungsstifte (17, 18) im hinteren Bereich sowie zwei Führungsstifte im vorderen Bereich erlauben das Hochklappen der Niederhalterplatte (11) und Einlegen des Prüflings (21). Die Niederhalterplatte (11) arbeitet innerhalb der Dichtung (19). Durch Führungsstifte (17) ist eine genaue Kontaktierung des Prüflings (21) von oben gegeben. Die Niederhalterplatte (11) mit Niederhalter (22) fährt den Prüfling (21) beim Ansaugen soweit herunter, bis der Prüfling (21) die unteren Distanzstücke (20) erreicht. Die Modularität wird durch Einlegen von mehreren Plate7 (7) realisiert.

Description

  • Modularer, haubenloser, höhenselbsteinstellender, zusätzlich von oben genau kontaktierbarer Vakuum-Prüfadapter zum Testen von elektronischen Schaltgruppen mit integrierter Niederhalterplatte unter Anwendung der Kugelgelenk-Führungsstifte mit Einrastung.
  • Aus dem Stand der Technik ist nicht bekannt, dass der Prüfling mit dem Einsatz einer integrierten Niederhalterplatte (1: (11) im Vakuum-Prüfadapter, die direkt in der Dichtung (1: (19) verläuft beim Ansaugen nach unten gedrückt wird. Auch ist nicht bekannt, dass ein Adapter modular durch Einlegen von weiteren Plate 7 (1: (7)) der Prüflingshöhe einfach angepasst werden kann und dass die Höhenfeineinstellung der Niederhalter entfällt.
  • Im Stand der Technik, insbesondere in den Druckschriften JP 07-146336 AA , DE 3637406 C1 und US 5894225 A wird das Anziehen des Prüflings unter Vakuum folgendermassen realisiert:
    • – über Vakuum-Dichtung (Dichtung wird hierfür prüflingsspezifisch angefertigt und auf die Druckplatte (Pressure-Plate) vakuumdicht aufgebracht
    • – über Vakuum-Haube mit Niederhalter, die entsprechend der Prüflingshöhe genau eingestellt werden müssen (Nachteil: grosser mechanischer Aufbau)
    • – durch mechanische aufwendige Hebelvorrichtungen, die Grösse der Mechanik ist hier entsprechend groß und die Anzahl der möglichen Pins ist durch den Gegendruck der Prüffederkontakt auf ungefähr 300 Pins limitiert
  • Alle oben genannten Methoden beinhalten nicht die einfache Anpassung der Prüflingshöhe und die Adaptiergenauigkeit von oben und erlauben keine kleine Adaptergrösse von z.B. Doppel-Europa-Format.
    •
  • Die Aufgabe der Erfindung besteht darin teure prüflingsspezifische Abdichtungen wie Vakuum-Dichtung, Vakuum-Haube zu vermeiden, die Adaptiergenauigkeit (durch Führung der Niederhalterplatte über Führungsstifte) von oben zu verbessern und die Herstellungszeit eines Vakuum-Prüfadapters erheblich zu reduzieren.
  • Diese Aufgabe wird mit einem Vakuum-Prüfadapter nach Anspruch 1 gelöst. Die Unteransprüche geben vorteilhafte Ausführungsformen an.
  • Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, dass nur nach dem Setzen der Abstandshalter (1: 22), bzw. durch Einlegen von weiteren Plate 7 (1: (7)) die Vakuumdichtigkeit und somit das Anziehen des Prüflings erzielt wird. Genaue Kontaktierungen von oben können nun einfach realisiert werden. Auch erlaubt das neue Verfahren kleine Adaptergrössen wie z.B. Doppel-Europa-Format ohne einen riesigen mechanischen Aufbau zu realisieren.
  • Dieses neue Verfahren für den Prüfadapterbau zur Erzielung der Vakuumdichtigkeit und somit das Anziehen des Prüflings besteht also nur noch durch Setzen der Abstandshalter, bzw. durch Einlegen von weiteren Plate 7 (1: (7)).
    •
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben.
  • Es zeigen: 1 Aufbau Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte. Ansicht: Schnitt 1, Prüfling ist eingelegt, Adapter ist nicht angezogen. Die Schnittansicht wird in 6 dargestellt.
  • 2 Aufbau Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte. Ansicht: Schnitt 1, Prüfling ist eingelegt, Adapter ist angezogen. Die Schnittansicht wird in 6 dargestellt.
  • 3 Aufbau Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte. Ansicht: Schnitt 2, Prüfling ist eingelegt, Adapter ist nicht angezogen. Die Schnittansicht wird in 6 dargestellt.
  • 4 Aufbau Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte. Ansicht: Schnitt 2, Prüfling ist eingelegt, Adapter ist angezogen. Die Schnittansicht wird in 6 dargestellt.
  • 5 Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter: Übersicht von Plate 1-Plate 11, Ansicht von oben.
  • 6 Draufsicht Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte mit Angabe von Schnitt 1 und Schnitt 2.
  • 7 Kugelgelenkführungsstift mit Einrastung
  • Bitte beachten
  • In 1–7 wurden die gleichen Positionsbezeichnungen verwendet. Der genaue Verlauf von Schnitt 1 und Schnitt 2 ist in 6 ersichtlich.
  • Erklärung zu 1
  • In 1: Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte Ansicht: Prüfling ist eingelegt, Adapter ist nicht angezogen.
  • Wie aus 1 hervorgeht ist der Vakuum-Prüfadapter aus diversen Plates (1–11) aufgebaut. Ist die Prüflingshöhe sehr hoch, so kann die innere Vakuumskammerhöhe (25) sehr einfach durch Einlegen von weiteren Plate 7 (7) angepasst werden. Der obere Aufbau, hochgehend von Plate 8 (8), Plate 9 (9), Plate 10 (l0), Plate 11 (11), Dichtung aus Naftoflex (19), Niederhalter (22), Kugelgelenk-Führungsstift (17,18), Rändelschraube (16), Schraube M4 (28), DU-Buchse (29), Federgehäuse (23), Feder mit einstellbarer Höhe (24) ist immer gleich und wandert beim Einlegen von weiteren Plate7 (7) zusammen nach oben. Es muss hierbei keine Feineinstellung der Niederhalter (22) erfolgen. Der Prüfling (21) wird unter die Niederhalterplatte (11) gelegt und über Niederhalter (22) beim Ansaugen nach unten gedrückt. Zwei Kugelgelenk-Führungsstifte (17, 18) im hinteren Bereich (1: Schnitt 1) sowie zwei Führungsstifte (3: (30)) im vorderen Bereich (3: Schnitt 2) erlauben das Hochklappen der Niederhalterplatte (6: (11) und Einlegen des Prüflings (21). Der Drehpunkt von Plate 11 (6: (11) befindet sich hierbei auf dem hinteren Teil der Naftoflex-Dichtung (6: (19), d. h. Plate 11 (6: (11)) liegt voll auf der Naftoflex-Dichtung (6: (19)) auf und benutzt diese als Auflagefläche um Plate 11 (6: (11)) hochzuklappen. Die Niederhalterplatte (11) mit Niederhalter (22) fährt den Prüfling (21) beim Ansaugen des Vakuums soweit herunter, bis der Prüfling (21) die unteren Distanzstücke (20) erreicht. Somit erfolgt eine optimale Anpassung. Der aktive Arbeitsbereich der Niederhalterplatte (11) befindet sich innerhalb der Dichtung (19). Durch Führungsstifte (17), 3: (30) die in den DU-Buchsen (29), 3 (29) gleiten ist eine genaue Kontaktierung des Prüflings (21) auch von oben gegeben.
  • Die Federn (24) mit einstellbarer Höhe sorgen dafür, dass sich die Niederhalterplatte (11) beim Auschalten des Vakuums in der Dichtung wieder nach oben bewegt und die Niederhalterplatte (11) wieder nach oben geklappt werden kann. Die Federn (24) mit einstellbarer Höhe erlauben das exakte Einstellen der optimalen Öffnungsposition der Niederhalterplatte (11). Beim Einschalten des Vakuums fahren die Führungsstifte (17, 18) nach unten. Hierfür wird, aufgrund der Länge der Führungsstifte (17, 18), die für das Hochklappen der Niederhalterplatte (11) benötigt wird, jeweils ein Loch in Plate 5 (5) benötigt, das über eine Vakuum-Dichtkappe (15) wieder vakuumdicht gemacht wird. Die Führungsstifte 3 (30) bleiben fest in Ihrer Position auf Plate 8 (3: (8)) Die Rändelschraube (16) sorgt dafür, dass beim vorne nach oben Klappen der Niederhalterplatte (11), die Niederhalterplatte (11) im hinteren Bereich (1: Schnitt 1) nicht aus der DU-Buchsen-Führung (29) herausgehoben wird. Das Vakuum des Testsystems wird über Vakuum-Verbindungsstücke (26) in die Vakuumkammer geleitet. Die Drahtverbindungen (13 ) vom Kontaktteil (12) zur Hülse (14) werden in der vakuumfreien Verdrahtungskammer (27) realisiert.
  • Erklärung zu 2
  • In 2: Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte.
  • Ansicht: Schnitt 1, Prüfling ist eingelegt, Adapter ist angezogen. Wie ersichtlich hat beim Einschalten des Vakuums, die Niederhalterplatte (2: (11)), die im Bereich der Dichtung (19) arbeitet, den Prüfling (21) über Niederhalter (22) nach unten bis zu den Distanzstücken (20) gedrückt. Somit ist der Kontakt vom Prüfling zum Testsystem gegeben.
  • Erklärung zu 3
  • In 3: Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte.
  • Ansicht: Schnitt 2, Prüfling ist eingelegt, Adapter ist nicht angezogen.
  • Wie ersichtlich kann durch die Form der Führungsstifte (30) die Niederhalterplatte (11) nach oben herausgekippt werden. Die DU-Buchsen (29) in der Niederhalterplatte (11) dienen zum Gleiten der Führungsstifte (30).
  • Erklärung zu 4
  • In 4: Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte.
  • Ansicht: Schnitt 2, Prüfling ist eingelegt, Adapter ist angezogen. Wie ersichtlich hat beim Einschalten des Vakuums, die Niederhalterplatte (4: (11)) die im Bereich der Dichtung (19) arbeitet, den Prüfling (21) über Niederhalter (22) nach unten bis zu den Distanzstücken (20) gedrückt. Somit ist der Kontakt vom Prüfling zum Testsystem gegeben. Die Führungsstifte (30) sorgen für die genaue Führung der Niederhalterplatte (11). Die DU-Buchsen (29) in der Niederhalterplatte (11) dienen zum Gleiten der Führungsstifte (30).
  • Erklärung zu 5
  • In 5: Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter; Übersicht von Plate 1-Plate 11, Ansicht von oben gegeben.
  • Hierbei handelt es sich um massenvorgefertigte, entsprechend bearbeitete CEM1-Einzelplatten, die entsprechend Ihrer Anordnung aufeinander gesetzt werden.
  • Erklärung zu 6
  • In 6: Draufsicht Modularer, haubenloser Vakuum-Prüfadapter mit integrierter Niederhalterplatte mit Angabe von Schnitt 1 und Schnitt 2.
  • Wie ersichtlich liegt die Niederhalterplatte (11) voll auf der Vakuumdichtung (19) auf. Diese Vakuumdichtung (19) bildet auch den Drehpunkt der Niederhalterplatte (11). Die diversen Platten Platel-Plate 10 (5) des modularen Prüfadapters werden mit Zylinderstiften (33) d = 3.00 fixiert zusammengebaut und mit M3-Schrauben (34) verschraubt.
  • Erklärung zu 7
  • In 7: Ansicht Kugelgelenk-Führungsstift mit Einrastung. Die Kugelgelenk-Führungsstifte (17, 18) mit Einrastung bestehen aus Führungsstiften, die durch ein Kugelgelenk um 85 Grad gekippt werden können. Bei 80 Grad Neigung erfolgt bereits die Einrastung. Durch dieses Einrasten bleibt die Niederhalterplatte (6 (11) geöffnet . Durch leichten manuellen Druck nach vorne wird die Einrastung wieder beseitigt und die Niederhalterplatte(6 (11) in Richtung Dichtung (6 (11) bewegt.

Claims (3)

  1. Modularer Vakuum-Prüfadapter mit einer Vakuum-Kammer und einer Verdrahtungskammer, zum Testen von elektronischen Schaltgruppen, dadurch gekennzeichnet, dass die Verdrahtungskammer (27) und die Vakuumkammer (25) übereinander angeordnet sind, die Verdrahtungskammer (27) aus einer ersten Platte (1) mit Kontaktteilen (12) zu einem Testsystem und aus einer zweiten Platte (5) mit Prüffederkontakten (14) und aus zwischen der ersten und der zweiten Platte liegenden dritten Platten (2–4) besteht, die Vakuumkammer (25) durch die zweite Platte (5) und einen oberen Aufbau (8–11, 16– 19, 22–24, 28, 29) und aus zwischen der zweiten Platte (5) und dem oberen Aufbau zur Einstellung der Kammerhöhe liegenden vierten Platten (6, 7), gebildet wird, und wobei zum Einlegen und Herausnehmen der zu testenden elektronischen Schaltgruppe (21), im oberen Aufbau und die Niederhalterplatte (11) klappbar ist.
  2. Vakuum-Prüfadapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass im oberen Aufbau zusätzlich zu der Niederhalterplatte (11) eine fünfte Platte (8) mit DU-Buchsen (29) und höhenverstellbaren Federn (24) in Federgehäusen (23) und eine sechste (9) und eine siebte (10) Platte und eine Dichtung (19) enthalten sind.
  3. Vakuum-Prüfadapter nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass im oberen Aufbau das Klappen und Positionieren der Niederhalterplatte (11) ermöglicht wird durch Führungsstifte (30), die an der fünften Platte (8) befestigt sind, und durch Gelenk-Führungsstifte (17, 18), die an der Niederhalterplattte (11) befestigt sind, wobei die Führungsstifte (30) in DU-Buchsen (29) in der Niederhalterplattte (11) und die Gelenk-Führungsstifte (17; 18) in DU-Buchsen (29) in der fünften Platte (8) gleiten und dadurch eine genaue Führung der Niederhalterplatte (11) erzielt wird.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202013101614U1 (de) 2013-04-16 2014-07-18 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten oder Auflegen einer zu prüfenden Platine in einer Prüfanordnung
DE202015104330U1 (de) 2015-08-17 2016-08-19 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung
DE102015215634A1 (de) 2015-08-17 2017-02-23 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung
DE202018104826U1 (de) * 2018-08-22 2019-08-22 Ingun Prüfmittelbau Gmbh Niederhalterelement

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3637406C1 (en) * 1986-11-03 1988-05-05 Genrad Gmbh Test device for circuit boards
JPH07146336A (ja) * 1993-11-19 1995-06-06 Cosmo Tec Kk インサーキットテスタ用検査治具
US5894225A (en) * 1996-10-31 1999-04-13 Coffin; Harry S. Test fixture

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4912400A (en) * 1988-09-13 1990-03-27 Design And Manufacturing Specialties, Inc. Apparatus for testing circuit boards
US5436567A (en) * 1993-02-08 1995-07-25 Automated Test Engineering, Inc. Double-sided automatic test equipment probe clamshell with vacuum-actuated bottom probe contacts and mechanical-actuated top probe contacts
US5450017A (en) * 1993-12-03 1995-09-12 Everett Charles Technologies, Inc. Test fixture having translator for grid interface
US6570399B2 (en) * 2000-05-18 2003-05-27 Qa Technology Company, Inc. Test probe and separable mating connector assembly

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3637406C1 (en) * 1986-11-03 1988-05-05 Genrad Gmbh Test device for circuit boards
JPH07146336A (ja) * 1993-11-19 1995-06-06 Cosmo Tec Kk インサーキットテスタ用検査治具
US5894225A (en) * 1996-10-31 1999-04-13 Coffin; Harry S. Test fixture

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202013101614U1 (de) 2013-04-16 2014-07-18 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten oder Auflegen einer zu prüfenden Platine in einer Prüfanordnung
DE202015104330U1 (de) 2015-08-17 2016-08-19 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung
DE102015215634A1 (de) 2015-08-17 2017-02-23 Atx Hardware Gmbh Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung
DE202018104826U1 (de) * 2018-08-22 2019-08-22 Ingun Prüfmittelbau Gmbh Niederhalterelement

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