DE10225465C1 - Verfahren zur Bereitstellung einer Kontaktierung hoher Qualität zwischen elektrischen Leitern - Google Patents
Verfahren zur Bereitstellung einer Kontaktierung hoher Qualität zwischen elektrischen LeiternInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bereitstellung einer Kontaktierung zwischen elektrischen Leitern, insbesondere zwischen den Adern (1) eines Flachkabels (2) und den Adern (1) zugeordneten Lötfahnen (3), wobei auf die Lötfahnen (3) zumindest auf ihrer den Adern (1) zugerichteten Oberfläche ein bei Erwärmung schmelzendes Lot (6) aufgebracht ist, das nach dem Schmelzvorgang die Kontaktierung zwischen den Lötfahnen (3) und den Adern (1) des Flachkabels (2) herstellt. DOLLAR A Es ist vorgesehen, dass während und/oder nach Beendigung der Erwärmung beziehungsweise während und/oder nach Abschluss des Schmelzvorganges die Kontaktierung einer optischen Prozesskontrolle unterzogen wird.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bereitstel
lung einer Kontaktierung hoher Qualität zwischen
elektrischen Leitern mit den im Oberbegriff des
Anspruchs 1 genannten Merkmalen.
Zur leitenden Verbindung von elektrischen Bauteilen
sowohl in der Elektrotechnik als auch in der Elektro
nik, beispielsweise zur Herstellung einer leitenden
Verbindung zwischen einem Kontakt eines Steckergehäu
ses und einem elektrischen Leiter, sind eine Vielzahl
von Verbindungsmitteln bekannt. Dabei können zur Her
stellung der leitenden Verbindung Lötpins, Flachkon
takte, Stecker etc. zur Anwendung kommen. Um der For
derung nach verringertem Platzbedarf, hoher Flexibi
lität und Gewichtsersparnis nachzukommen, kommen ins
besondere bei Kraftfahrzeugen im verstärkten Maße
Flachkabel zur Bordnetzverdrahtung zur Anwendung,
wobei Lötverbindungen einen breiten Raum der zur Ver
fügung stehenden Verbindungsmittel einnehmen. Ein
Problem der leitenden Verbindung zwischen den elek
trischen Leitern durch Lötverbindungen besteht jedoch
stets darin, dass eine hohe Qualität der Kontaktie
rung der hergestellten leitenden Verbindung gewähr
leistet werden muss, um ein störungsfreies Arbeiten,
beispielsweise der Schaltkreise einer Leiterplatte,
zu ermöglichen.
Nach der DE 695 04 932 T2 ist beispielsweise ein Ver
binder bekannt, bei dem als Lötfahnen dienende Fah
nenabschnitte mit einer zugeordneten gedruckten
Schaltungsplatine verlötet werden, nachdem sie in
Bohrungen der Schaltungsplatine eingeführt sind. Um
bei diesem Verbinder eine Kontaktierung zwischen den
Lötfahnen und der Schaltungsplatine über die Bohrun
gen zu gewährleisten, wird durch eine spezielle Aus
bildung der Lötfahnen darauf Einfluss genommen, dass
vor dem Einführen der Lötfahnen in die Bohrungen der
Schaltungsplatine die Lötfahnen zu den Bohrungen aus
gerichtet sind. Unabhängig von der speziellen Ausbil
dung der Lötfahnen wird bei diesem Verbinder weiter
hin durch die Vornahme einer optischen Messung ermit
telt, ob eine Fehlpositionierung zwischen den Lötfah
nen und den Bohrungen der Schaltungsplatine vorliegt.
Ist eine Verlötung zwischen den Lötfahnen und der
Schaltungsplatine vorgenommen worden, so ist es
jedoch nicht möglich, eine Aussage darüber zu tref
fen, ob eine Kontaktierung hoher Qualität zwischen
den Lötfahnen und der Schaltungsplatine erreicht
worden ist.
Gemäß der DE 694 22 116 T2 ist weiterhin ein Verbin
der bekannt, bei dem es darum geht, die Zusammen
fügung zwischen seinem Steckergehäuse und seinem
Buchsengehäuse zu erkennen. Um dieses zu erreichen,
sind unabhängig von den Stiftkontakten des Stecker
gehäuses und den Kontaktaussparungen des Buchsen
gehäuses zwei parallele Anschlussstifte vorgesehen,
die mit einem Detektorschaltkreis in Wirkverbindung
stehen, derart, dass dieser abtastet, ob die Stecker-
und Buchsenteile gekuppelt sind. In Abhängigkeit vom
Ergebnis wird dabei ein Licht- oder ein anderes Sig
nal erzeugt. Damit wird zwar die Zusammenführung zwi
schen einem Steckergehäuse und einem Buchsengehäuse
erkannt, aber trotz der Verwendung eines Detektor
schaltkreises ist auch dieser Verbinder nicht dazu
geeignet, eine Aussage über das Vorliegen einer Kon
taktierung hoher Qualität zu treffen, wenn zwischen
den zu verbindenden elektrischen Leitern eine Kontak
tierung durch Verlötung vorgenommen wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfah
ren zur Bereitstellung einer Kontaktierung hoher Qua
lität zwischen elektrischen Leitern entsprechend dem
Oberbegriff von Anspruch 1 zu schaffen, durch das mit
geringem Aufwand und reduzierten Kosten die Kontak
tierung zwischen den elektrischen Leitern erkannt
wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfah
ren mit den in dem Anspruch 1 genannten Merkmalen
gelöst. Dadurch, dass der Verlauf des Lotes zwischen
den zu kontaktierenden Kontaktelementen, insbesondere
den Adern des Flachkabels und den Lötfahnen eines
Steckergehäuses, nach Beendigung der Wärmestrahlung
und damit nach Abschluss des Schmelzvorganges einer
optischen Prozesskontrolle unterzogen wird, wird
erreicht, dass eine Kontaktierung hoher Qualität zwi
schen den elektrischen Leitern bereitgestellt wird.
Insbesondere dadurch, dass der Verlauf des Lotes nach
Beendigung der Wärmestrahlung und damit nach Ab
schluss des Schmelzvorganges einer optischen Prozess
kontrolle unterzogen wird, kann eine qualitative Aus
sage über die hergestellte Lötverbindung getroffen
werden.
Insbesondere erfolgt die optische Prozesskontrolle
bei der Durchführung des Verfahrens, indem nach Been
digung der Wärmestrahlung und damit nach Abschluss
des Schmelzvorganges ein dabei entstandener Lötzinn
rand zwischen den zu kontaktierenden Kontaktelemen
ten, insbesondere den Adern des Flachkabels und den
Lötfahnen, optisch abgefragt wird. Dabei erfolgt die
optische Abfragung des zwischen den Adern des Flach
kabels und den Lötfahnen entstandenen Lötzinnrandes
vorteilhafterweise über mindestens eine in jeder Löt
fahne vorgesehene Durchgangsöffnung, die eine Boh
rung, Ausstanzung oder dergleichen ist. Zur optischen
Abfragung über die in den Lötfahnen vorgesehenen
Durchgangsöffnungen kommt ein an sich bekanntes Kame
raprüfsystem zur Anwendung. Hierbei wird der Umstand
ausgenutzt, dass zuerst durch die Durchgangsöffnung
der kupferfarbene Leiter zu sehen ist, dann fließt
das Zinn in die Bohrung und reduziert den kupferfar
benen Anteil in der Durchgangsöffnung. Der Lötzinn
rand und/oder die Reduzierung der freien Kupferfläche
kann optisch ausgewertet werden.
In weiterer bevorzugter Ausgestaltung der Erfindung
wird die nach Abschluss des Schmelzvorganges optisch
vorgenommene Prozesskontrolle über den Verlauf des
Lotes zwischen den Adern des Flachkabels und den Löt
fahnen über die in den Lötfahnen vorgesehenen Durch
gangsöffnungen auch am Ende der Kontaktierung, also
am Ende des Lötkontaktes zwischen den Adern des
Flachkabels und den Lötfahnen, hinsichtlich eines
entstandenen Lötzinnüberganges vorgenommen.
Wesentlich bei der Durchführung des erfindungsgemäßen
Verfahrens ist, dass bei der optischen Abfragung des
entstandenen Lötzinnrandes im Bereich der Durchgangs
öffnungen und/oder des entstandenen Lötzinnüberganges
am Ende der Kontaktierung, also am Ende des Lötkon
taktes zwischen den Adern des Flachkabels und den
Lötfahnen, eine optische Abfragung hinsichtlich eines
entstandenen Lötzinnrandes beziehungsweise eines ent
standenen Lötzinnüberganges erfolgt. Daraus resul
tiert, dass dann, wenn die optische Abfragung ergibt,
dass der Lötzinnrand vorhanden ist, auch eine Kontak
tierung hoher Qualität bereitgestellt wird. Dabei
wird diese Aussage noch verstärkt, wenn die optische
Abfragung ergeben hat, dass auch der Lötzinnübergang
vorhanden ist.
Bei der Durchführung des Verfahrens kann die den
Schmelzvorgang herbeiführende Wärmestrahlung auf die
unterschiedlichste Art vorgenommen werden. Vorteil
haft sollte die Wärmestrahlung jedoch durch Laser
strahlung erfolgen oder aber auf der Grundlage von
Induktionsströmen.
Die durch die Erfindung beabsichtigte Bereitstellung
einer Kontaktierung hoher Qualität zwischen elektri
schen Leitern ist selbstverständlich nicht auf die
Kontaktierung zwischen den Adern eines Flachkabels
- es kann in Abhängigkeit vom Einsatzort der Kontak
tierung auch ein Koaxialkabel sein - und den den
Adern zugeordneten Lötfahnen begrenzt. Vielmehr wird
die Bereitstellung einer Kontaktierung hoher Qualität
auch dann erreicht, wenn beispielsweise die Lötfahnen
als Kontaktstifte ausgebildet sind, die einer
Anschlussklemme zugeordnet sein können und nach ihrem
Einführen in Kontaktbuchsen oder Kontaktöffnungen,
beispielsweise einer Schaltungsplatine, durch das Lot
mit den Kontaktbuchsen oder über die Kontaktöffnungen
mit der Schaltungsplatine kontaktiert werden. Ist der
Schmelzvorgang abgeschlossen, so erfolgt bei dieser
Ausbildung die optische Prozesskontrolle über den
Verlauf des Lotes über in den Kotaktbuchsen oder in
der Schaltungsplatine vorgesehene Bohrungen oder
dergleichen.
Weitere bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung
ergeben sich aus den übrigen, in den Unteransprüchen
genannten Merkmalen.
Die Erfindung wird nachfolgend an zwei Ausführungs
beispielen anhand der zugehörigen Zeichnungen näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Draufsicht auf den Bereich einer
Kontaktierung zwischen den Adern eines
Flachkabels und den den Adern zugeordne
ten Lötfahnen,
Fig. 2 den Schnitt A-B nach Fig. 1 in vergrö
ßerter Darstellung,
Fig. 3 die Draufsicht auf den Bereich der
Kontaktierung zwischen als Kontaktstifte
ausgebildeten Lötfahnen und einer Schal
tungsplatine und
Fig. 4 den Schnitt C-D nach Fig. 3 ebenfalls
in vergrößerter Darstellung.
Die Fig. 1 zeigt ein aus drei aus Kupfer bestehenden
Adern 1 gebildetes Flachkabel 2, wobei die Adern 1 im
Bereich von Lötfahnen 3, die den Adern 1 zugeordnet
sind, zwecks Kontaktierung mit den Lötfahnen 3 abiso
liert sind. Die Lötfahnen 3 gehören beispielsweise zu
einem Steckergehäuse 4 und stehen mit nicht weiter
dargestellten Steckkontakten des Steckergehäuses 4
über die Verbinder 5 leitend in Verbindung. Auf die
Lötfahnen 3 ist, wie aus Fig. 2 hervorgeht, ein bei
Erwärmung schmelzendes Lot 6 aufgebracht und zwar auf
der den Adern 1 zugerichteten Oberfläche, das nach
dem Schmelzvorgang, bewirkt durch beispielsweise aus
Laserstrahlung resultierender Wärmestrahlung, die
Kontaktierung zwischen den Lötfahnen 3 und den Adern
1 des Flachkabels 2 herstellt.
Um nun nach Beendigung der Wärmestrahlung und damit
nach Abschluss des Schmelzvorganges die Qualität der
Kontaktierung zwischen den Adern 1 des Flachkabels 2
und den Lötfahnen 3 festzustellen, wird nach Ab
schluss des Schmelzvorganges der Verlauf des Lotes 6
zwischen den Adern 1 des Flachkabels 2 und den Löt
fahnen 3 einer optischen Prozesskontrolle unterzogen.
Daher besitzt jede Lötfahne 3 zumindest eine Durch
gangsöffnung 7, über die der zwischen den Adern 1 und
den Lötfahnen 3 entstandene Lötzinnrand 8 - siehe
auch Fig. 2 - durch ein Kameraprüfsystem 9 optisch
abgefragt wird. Ergibt diese Abfragung, dass der Löt
zinnrand 8 vorhanden ist, so ist die Bereitstellung
einer Kontaktierung hoher Qualität gewährleistet.
Diese Aussage kann noch dadurch unterstützt werden,
indem zusätzlich, wie ebenfalls aus Fig. 2 hervor
geht, auch der entstandene Lötzinnübergang 10 am Ende
der Kontaktierung, also am Ende 11 des Lötkontaktes
zwischen den Adern 1 und den Lötfahnen 3 optisch über
das Kameraprüfsystem 9 abgefragt wird. Ist auch der
Lötzinnübergang 10 vorhanden, sind die von der Kon
taktierung geforderten Bedingungen zweifelsfrei
erfüllt.
Es kann hier auch entweder oder zusätzlich die durch
die freie Querschnittsfläche der Durchgangsöffnung 7
sichtbare Kupferfläche der Adern 1 auf ihre Größe hin
untersucht werden. Die sichtbare Kupferfläche bildet
hierbei ein Maß für die Qualität der Lötverbindung.
Hierbei ergibt sich folgende Situation vor dem Löten:
- - Sicht durch die Durchgangsöffnung 7 auf den Kup ferleiter (Ader 1); in Größe der Bohrung ist ein kupferfarbener Bereich der darunter liegenden Ader 1 sichtbar.
Nach dem Löten ergibt sich die Situation:
- - Zinn ist auf die Ader 1 im Bereich der Durchgangs öffnung 7 geflossen; der sichtbare kupferfarbene Bereich der Ader 1 ist reduziert; das kann in ein facher Weise optisch abgefragt werden.
Gemäß den Fig. 3 und 4 wird von einer Kontaktie
rung ausgegangen, die zwischen Kontaktstiften 12, die
zu einer nicht weiter dargestellten Anschlussklemme
gehören können, und einer Schaltungsplatine 13 vorge
nommen wird. Dabei ist auf die Kontaktstifte 12, die
rechteckförmig ausgebildet sind, ebenfalls ein Lot 6
aufgebracht und die Kontaktierung der Kontaktstifte
12 mit der Schaltungsplatine 13 erfolgt über die in
die Schaltungsplatine 13 eingebrachten, die Kontakt
stifte 12 aufnehmenden Kotaktöffnungen 14. Ist der
Schmelzvorgang abgeschlossen, so wird auch hier eine
optische Abfragung zumindest des entstandenen Löt
zinnrandes 8 zwischen den Kontaktstiften 12 und der
Schaltungsplatine 13 durch ein Kameraprüfsystem 9
vorgenommen, wozu in der Schaltungsplatine 13 Bohrun
gen 15 vorgesehen sind, die mit den Kontaktöffnungen
14 korrespondieren. Ergibt die optische Abfragung,
dass der entstandene Lötzinnrand 8 vorhanden ist, so
ist auch hier die Bereitstellung einer Kontaktierung
hoher Qualität gegeben.
1
Adern
2
Flachkabel
3
Lötfahnen
4
Steckergehäuse
5
Verbinder
6
Lot
7
Durchgangsöffnungen
8
Lötzinnrand
9
Kameraprüfsystem
10
Lötzinnübergang
11
Ende des Lötkontaktes
12
Kontaktstifte
13
Schaltungsplatine
14
Kontaktöffnungen
15
Bohrungen/Ausstanzungen
Claims (11)
1. Verfahren zur Bereitstellung einer Kontaktierung
zwischen elektrischen Leitern, insbesondere zwischen
den Adern (1) eines Flachkabels (2) und den Adern (1)
zugeordneten Lötfahnen (3), wobei auf die Lötfahnen
(3) zumindest auf ihrer den Adern (1) zugerichteten
Oberfläche ein bei Erwärmung schmelzendes Lot (6)
aufgebracht ist, das nach dem Schmelzvorgang die Kon
taktierung zwischen den Lötfahnen (3) und den Adern
(1) des Flachkabels (2) herstellt, dadurch gekenn
zeichnet, dass während und/oder nach Beendigung der
Erwärmung beziehungsweise während und/oder nach Ab
schluss des Schmelzvorganges die Kontaktierung einer
optischen Prozesskontrolle unterzogen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
dass nach Beendigung der Erwärmung und damit nach Ab
schluss des Schmelzvorganges der dabei entstandene
Lötzinnrand (8) zwischen den Adern (1) des Flach
kabels (2) und den Lötfahnen (3) optisch abgefragt
wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
dass die optische Abfragung des zwischen den Adern
(1) des Flachkabels (2) und den Lötfahnen (3) ent
standenen Lötzinnrandes (8) über mindestens eine in
jeder Lötfahne (3) vorgesehene Durchgangsöffnung (7)
vorgenommen wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass nach Beendigung der Er
wärmung und damit nach Abschluss des Schmelzvorganges
die durch die mindestens eine Durchgangsöffnung (7)
verbleibende sichtbare Kupferfläche der Adern (1)
optisch abgefragt wird.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die optisch abgefragte
verbleibende Kupferfläche mit der der freien Quer
schnittsfläche der wenigstens einen Durchgangsöffnung
(7) entsprechenden maximalen sichtbaren Kupferfläche
der Adern (1) ins Verhältnis gesetzt wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die optische Abfragung
durch ein Kameraprüfsystem (9) erfolgt.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die nach Abschluss des
Schmelzvorganges optisch vorgenommene Prozesskontrol
le über den Verlauf des Lotes (6) zwischen den Adern
(1) des Flachkabels (2) und den Lötfahnen (3) über
die in den Lötfahnen (3) vorgesehenen Durchgangs
öffnungen (7) auch am Ende der Kontaktierung, also am
Ende (11) des Lötkontaktes zwischen den Adern (1) des
Flachkabels (2) und den Lötfahnen (3) hinsichtlich
eines entstandenen Lötzinnüberganges (10) vorgenommen
wird.
8. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass bei der optischen
Abfragung des entstandenen Lötzinnrandes (8) im Be
reich der Durchgangsöffnungen (7) und/der des ent
standenen Lötzinnüberganges (10) am Ende der Kontak
tierung, also am Ende (11) des Lötkontaktes zwischen
den Adern (1) des Flachkabels (2) und den Lötfahnen
(3) eine optische Abfragung hinsichtlich eines ent
standenen Lötzinnrandes (8) beziehungsweise eines
entstandenen Lötzinnüberganges (10) erfolgt.
9. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1
bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die den Schmelz
vorgang bewirkende Wärmestrahlung durch Laserstrahlen
erfolgt.
10. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche
1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die den
Schmelzvorgang bewirkende Wärmestrahlung auf der
Grundlage von Induktionsströmen vorgenommen wird.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprü
che, dadurch gekennzeichnet, dass bei Ausbildung der
Lötfahnen (3) als Kontaktstifte (12), die vorzugs
weise einer Anschlussklemme zugeordnet sind und die
nach ihrem Einführen in Kontaktbuchsen oder Kontakt
öffnungen (14), beispielsweise einer Schaltungspla
tine (13), durch das die Wärmestrahlung mit den Kon
taktbuchsen oder über die Kontaktöffnungen (14) mit
der Schaltungsplatine (13) kontaktiert werden, nach
Abschluss des Schmelzvorganges die optische Prozess
kontrolle über den Verlauf des Lotes (6) über in den
Kontaktbuchsen oder in der Schaltungsplatine (13)
vorgesehene Bohrungen (15) vorgenommen wird.
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| DE2002125465 DE10225465C1 (de) | 2002-06-04 | 2002-06-04 | Verfahren zur Bereitstellung einer Kontaktierung hoher Qualität zwischen elektrischen Leitern |
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2002
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