DE10203875A1 - Optischer Empfänger für die leitungsungebundene optische Übertragung - Google Patents
Optischer Empfänger für die leitungsungebundene optische ÜbertragungInfo
- Publication number
- DE10203875A1 DE10203875A1 DE10203875A DE10203875A DE10203875A1 DE 10203875 A1 DE10203875 A1 DE 10203875A1 DE 10203875 A DE10203875 A DE 10203875A DE 10203875 A DE10203875 A DE 10203875A DE 10203875 A1 DE10203875 A1 DE 10203875A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- filter
- absorption filter
- wavelength
- semiconductor
- photodiode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 26
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract description 21
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 abstract description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/40—Optical elements or arrangements
- H10F77/413—Optical elements or arrangements directly associated or integrated with the devices, e.g. back reflectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F30/00—Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors
- H10F30/20—Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors
- H10F30/21—Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors the devices being sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H10F30/22—Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors the devices being sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation the devices having only one potential barrier, e.g. photodiodes
- H10F30/223—Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors the devices being sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation the devices having only one potential barrier, e.g. photodiodes the potential barrier being a PIN barrier
Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
Die erfindungsgemäße Anordnung soll einen möglichst schmalen Empfindlichkeitsbereich aufweisen, welcher den gegebenen Anforderungen angepasst werden kann. Im Spezialfall soll auch die Mittenwellenlänge des optischen Bandpasses an diese Anforderungen angepasst werden können. Der technologische Aufwand ist dabei so gering wie möglich zu halten. DOLLAR A Der erfindungsgemäße optische Empfänger ist aus einem Absorptionsfilter und einer PIN-Diode aufgebaut. Beide Komponenten bestehen aus einem Halbleiter mit direktem Bandübergang, wobei die Grenzwellenlänge des Filters kleiner der Grenzwellenlänge der Diode ist. DOLLAR A Derartige optische Empfänger werden für die leitungsungebundene optische Übertragung von Signalen eingesetzt, da sie aufgrund ihrer niedrigen spektralen Detektionsbreite störendes Umgebungslicht weitgehend unterdrücken.
Description
Die Erfindung betrifft die Realisierung optischer Empfänger
für die leitungsungebundene optische Übertragung von
Signalen, die sich, unabhängig vom Einfallswinkel der
Strahlung, durch eine besonders niedrige spektrale
Detektionsbreite auszeichnen.
Derartige optische Empfänger werden für die
leitungsungebundene optische Übertragung von Signalen
eingesetzt, da sie aufgrund ihrer niedrigen spektralen
Detektionsbreite störendes Umgebungslicht weitgehend
unterdrücken.
In kommerziellen optischen Empfängern für die
leitungsungebundene Übertragung werden aus ökonomischen
Gründen fast ausschließlich Farbglasfilter mit Photodioden
kombiniert.
Die Farbglasfilter gehören zu den Absorptionsfiltern und
stellen einen optischen Langpass dar. Sie realisieren die
untere Grenzwellenlänge des optischen Empfängers.
Die Photodiode besitzt Kurzpassverhalten und realisiert
deshalb die obere Grenzwellenlänge des optischen Empfängers.
Die Kombination aus Diode und Filter hat damit das Verhalten
eines optischen Bandpasses.
Je näher die Filterflanke des Absorptionsfilters an die Kante
der Diode gerückt werden kann, desto geringer ist die
resultierende spektrale Breite des Empfängers.
Aufgrund der relativ flach ansteigenden Absorptionskurve von
Farbglasfiltern liegt die spektrale Breite eines derartigen
optischen Empfängers im Bereich zwischen 200 nm und 300 nm.
Aus dem Stand der Technik ist auch die Kombination einer
Diode mit einem Interferenzfilter, das Bandpasscharakter
besitzt, bekannt. Als optische Bandpässe lassen
Interferenzfilter prinzipiell spektrale Breiten im Bereich
einiger nm zu.
Nachteilig bei der Verwendung von Interferenzfiltern wirkt
sich die Abhängigkeit der Filtermittenwellenlänge vom
Einfallswinkel oder der Polarisation des Lichtes aus.
Zur Lösung des Problems werden komplexe Anordnungen aus
Interferenzfilter, Konzentrator und Photodiode vorgeschlagen.
In der amerikanischen Patentschrift US 4,851,664 wird
vorgeschlagen, das Interferenzfilter auf die gekrümmte
Oberfläche des Halbkugelkonzentrators aufzubringen. Dieser
Vorgang ist aber technologisch äußerst aufwendig.
Eine andere Variante, vorgestellt von J. P. Savicki und S. P.
Morgan in "Hemispherical concentrators and spectral filters
for planar sensors in diffuse radiation fields", Applied
Optics, vol. 33, no. 34, pp. 8057-8061, Dec. 1994, sieht zwei
parabolische Konzentratoren vor, zwischen denen das
Interferenzfilter angeordnet wird. Der erste Konzentrator
dient der Winkeltransformation. Auch diese Anordnung ist
technologisch sehr aufwendig.
Für derartige optische Empfänger sind
Interferenzfilterbandbreiten zwischen 30 nm und 50 nm
realistisch.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, eine Anordnung für den
Empfang optischer Signale bei der leitungsungebundenen
optischen Übertragung bereitzustellen, deren möglichst
schmaler Empfindlichkeitsbereich und im Spezialfall auch
deren Mittenwellenlänge den gegebenen Anforderungen angepasst
werden können, wobei der technologische Aufwand so gering
wie möglich gehalten wird.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit der in Anspruch 1
beschriebenen Anordnung und den dazu aufgeführten Merkmalen
gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Anordnung
sind in den Unteransprüchen angegeben.
Ein erfindungsgemäßer optischer Empfänger unterdrückt
aufgrund seiner geringen spektralen Breite störendes
Umgebungslicht, welches zu Empfängerrauschen führt,
wirkungsvoller als bisherige Empfängervarianten für die
leitungsungebundene Übertragung.
Da die Filtercharakteristik eines erfindungsgemäßen
Empfängers unabhängig vom Einfallswinkel des Lichtes ist,
kann das Absorptionsfilter auf der Basis direkter Halbleiter
planar realisiert werden. Der technologische Aufwand hierfür
ist mit dem einer Farbglas-Dioden-Kombination vergleichbar.
Außerdem ermöglicht die vorgeschlagene Empfängervariante eine
Multiplexübertragung im optischen Bereich, d. h.
Wellenlängenmultiplex bzw. Wellenlängenduplex.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand von Zeichnungen
erläutert. In den zugehörigen Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 den prinzipiellen Aufbau des erfindungs
gemäßen Empfängers,
Fig. 2 das Prinzip der spektralen Filterung,
Fig. 3 einen Vergleich der Filtercharakteristik
von Farbglas mit der von GaAs-Wafern mit
verschiedenen Fremdatomdotierungen,
Fig. 4 einen Vergleich der spektralen Empfind
lichkeitscharakteristiken einer Kombi
nation aus Interferenzfilter und idealer
Silizium-Diode und einer Filter-Dioden-
Kombination aus direkten Halbleitern.
In Fig. 1 ist der prinzipielle Aufbau eines
erfindungsgemäßen optischen Empfängers gezeigt. Er setzt sich
aus der eigentlichen Photodiode 1, die vornehmlich aus einem
Halbleitermaterial mit direktem Bandübergang besteht, und
einem vorgeschalteten optischen Absorptionsfilter 2, welches
in jedem Fall aus einer Schicht eines Halbleitermaterials mit
direktem Bandübergang besteht, zusammen. Beide Komponenten
sind im Normalfall mit einer Antireflexionsschicht 3
versehen.
In Fig. 2 ist das Prinzip der spektralen Filterung
dargestellt. Die Grenzwellenlänge des Filters 2 wird mit λFi
und die der Photodiode 1 mit λPD bezeichnet. Die
Grenzwellenlänge λFi des vorgeschalteten Halbleiterfilters
liegt unterhalb der Grenzwellenlänge λPD der Photodiode. Es
gilt λFi < λPD.
Das Filter absorbiert Strahlung mit Wellenlängen λ < λFi. Für
Wellenlängen λ < λFi ist das Filter hingegen transparent.
Diese Strahlung trifft auf die Photodiode. Es wird aber nur
der Teil der Strahlung von der Diode absorbiert, dessen
Wellenlänge kleiner als die der Grenzwellenlänge der Diode
λPD ist. Nur dieser Anteil der Strahlung trägt zum Photostrom
bei.
Damit realisiert die Filter-Dioden-Kombination einen
optischen Bandpass, dessen spektrale Breite mit Δλ = λPD - λFi
definiert ist.
Bei der Anwendung von direkten Halbleitern ist Dλ geringer
als bei herkömmlichen Farbglaslösungen für die
leitungsungebundene Übertragung, besonders wenn beide
Komponenten aus einem Halbleiter mit direktem Bandübergang
bestehen.
Halbleiter mit direktem Bandübergang zeichnen sich durch
einen besonders abrupten Übergang vom Absorptions- in den
Transmissionsbereich aus. Fig. 3 zeigt, dass ihre
Absorptionskante im Vergleich zur Absorptionskante von
Farbglasfiltern steiler verläuft.
Durch den abrupten Verlauf der Absorptionskante genügen schon
geringe Schichtdicken (10-100 µm), um praktisch die gesamte
Störstrahlung zu absorbieren, deren Wellenlänge geringer als
die der Grenzwellenlänge des Halbleiters ist. So wird die
Filtercharakteristik bezüglich der niedrigen Wellenlängen
optimiert.
Wird für das Filtermaterial ein ternärer Mischhalbleiter mit
direktem Bandübergang verwendet, kann die Absorptionskante
bzw. die untere Grenzwellenlänge des Systems Filter-Diode in
einem weiten Bereich über das Mischungsverhältnis der
Halbleiterkomponenten verändert werden. Bei Verwendung von
InGaAs kann sie beispielsweise zwischen der von GaAs (870 nm)
und der von InAs (3440 nm) variieren.
Aber auch binäre Halbleiter, wie GaAs, lassen eine Anpassung
der Absorptionskante, wenn auch in geringerem Umfang, durch
Fremdatomdotierung zu.
In Fig. 3 ist die gemessene Filtercharakteristik von GaAs-
Wafern mit verschiedenen "Beimischungen" dargestellt. Reines
GaAs besitzt eine Grenzwellenlänge von ca. 870 nm. Durch
entsprechende Dotierung verschiebt sich die Grenzwellenlänge
in Richtung größerer Wellenlängen. Der spektrale Verlauf der
Absorptionskante wird dabei zwar etwas flacher - im Vergleich
zu dem von Farbglas ist er aber trotzdem noch weit günstiger.
Durch die Kombination eines Halbleiterfilters mit einer PIN-
Diode, die ihrerseits aus einem direkten Halbleiter besteht
und deren Grenzwellenlänge nur geringfügig oberhalb der des
Filters liegt, kann eine nahezu perfekte spektrale
Charakteristik erreicht werden, da dabei auch der
Empfindlichkeitsverlauf der Diode nach oben hin sehr abrupt
verläuft.
Für den direkten Halbleiter können binäre Halbleiter wie GaAS
oder InP zum Einsatz kommen. Beispielsweise kann eine InP-
Diode mit einem Filter aus GaAs kombiniert werden. Die
spektrale Breite dieser Kombination beträgt bei einer
Mittenwellenlänge von etwa 890 nm unabhängig vom
Einfallswinkel der Strahlung rund 50 nm.
Die Anwendung eines ternären Halbleiters wie InGaAs oder
InGaP hat den Vorteil, dass sowohl die obere
Empfindlichkeitsgrenze der Diode λPD als auch die
Absorptionskante des Halbleiterfilters λFi in einem weiten
Spektralbereich entsprechend den gegebenen Anforderungen
eingestellt werden kann und damit eine individuelle Anpassung
der Mittenwellenlänge und der spektralen Breite der
Kombination möglich wird. Es sind spektrale Breiten im
Bereich von 10 nm und weniger denkbar.
Damit ist der Aufbau drahtloser Wellenlängenmultiplex- bzw.
Wellenlängenduplex-Systeme möglich.
In Fig. 4 werden die spektralen
Empfindlichkeitscharakteristiken einer Kombination eines
idealen Interferenzfilters mit einer idealen Si-Diode und
einer Kombination aus einem GaAs-Filters mit einer fiktiven
Diode, welche eine Absorptionscharakteristik wie das GaAs-
Filter besitzt, die um 50 nm zur größeren Wellenlänge hin
verschoben ist, verglichen.
Spektrale Breiten von 50 nm und weniger ermöglichen zum einen
eine effektive Unterdrückung von Störquellen wie das
Sonnenlicht, künstliche Beleuchtung oder andere Infrarot-
Systeme und zum anderen Wellenlängenmultiplex oder -duplex.
Im Spezialfall ist es auch möglich, die Filterschicht direkt
mit der Diode zu kombinieren.
1
Photodiode
2
Absorptionsfilter
3
Antireflexionsschichten
λFi
λFi
Grenzwellenlänge des Absorptionsfilters
λPD
λPD
Grenzwellenlänge der Photodiode
Δλ spektrale Breite des optischen Bandpasses aus Absorptionsfilter und Photodiode
Δλ spektrale Breite des optischen Bandpasses aus Absorptionsfilter und Photodiode
Claims (5)
1. Anordnung für den leitungsungebundenen, ungerichteten,
störungsarmen Empfang optischer Signale bestehend aus
einer Kombination einer PIN-Diode mit einer
Grenzwellenlänge λPD und einem Absorptionsfilter mit
einer Grenzwellenlänge λFi, dadurch gekennzeichnet, dass
die Photodiode 1 und das Absorptionsfilter 2 aus einem
Halbleiter mit direktem Bandübergang bestehen und die
Grenzwellenlänge des Absorptionsfilter 2 λFi kleiner der
Grenzwellenlänge der Photodiode 1 λPD ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
die Photodiode und/oder das Absorptionsfilter aus einem
binären direkten Halbleiter bestehen.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
die Photodiode und/oder das Absorptionsfilter aus einem
ternären direkten Halbleiter bestehen.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet dass die Photodiode 1 und das
Absorptionsfilter 2 mit einer Antireflexionsschicht
versehen sind.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, dass das Absorptionsfilter direkt mit
der Photodiode kombiniert wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10203875A DE10203875A1 (de) | 2001-02-05 | 2002-01-31 | Optischer Empfänger für die leitungsungebundene optische Übertragung |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10105359 | 2001-02-05 | ||
| DE10203875A DE10203875A1 (de) | 2001-02-05 | 2002-01-31 | Optischer Empfänger für die leitungsungebundene optische Übertragung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10203875A1 true DE10203875A1 (de) | 2002-10-31 |
Family
ID=7673043
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10203875A Withdrawn DE10203875A1 (de) | 2001-02-05 | 2002-01-31 | Optischer Empfänger für die leitungsungebundene optische Übertragung |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE10203875A1 (de) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10341086A1 (de) * | 2003-07-31 | 2005-03-03 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsempfangender Halbleiterkörper mit einer integrierten Filterschicht |
| US7075124B2 (en) | 2003-07-31 | 2006-07-11 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Radiation-sensitive semiconductor body having an integrated filter layer |
| US7157686B2 (en) | 2002-12-06 | 2007-01-02 | Delta Electronics, Inc. | Optical receiver |
| AT505303B1 (de) * | 2007-08-02 | 2008-12-15 | Piezocryst Advanced Sensorics | Kraftsensor |
-
2002
- 2002-01-31 DE DE10203875A patent/DE10203875A1/de not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7157686B2 (en) | 2002-12-06 | 2007-01-02 | Delta Electronics, Inc. | Optical receiver |
| DE10341086A1 (de) * | 2003-07-31 | 2005-03-03 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsempfangender Halbleiterkörper mit einer integrierten Filterschicht |
| US7075124B2 (en) | 2003-07-31 | 2006-07-11 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Radiation-sensitive semiconductor body having an integrated filter layer |
| DE10341086B4 (de) * | 2003-07-31 | 2007-06-06 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsempfangender Halbleiterkörper mit einer Filterschicht |
| AT505303B1 (de) * | 2007-08-02 | 2008-12-15 | Piezocryst Advanced Sensorics | Kraftsensor |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE10301665B4 (de) | Optische Vorrichtung mit Sperrschicht, optisches System und Projektor | |
| DE2517939C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer für Infrarotstrahlung empfindlichen Photodiode | |
| EP0335056A1 (de) | Lichtfilter mit selbsttätiger Regelung der optischen Transmission | |
| DE69609361T2 (de) | Verbindungshalbleiterphotodetektor und Verfahren zu dessen Herstellung | |
| DE4128717C2 (de) | Blendschutz an Fahrzeugscheiben | |
| DE4219740A1 (de) | Anzeigevorrichtung | |
| DE2929484C2 (de) | Monolithische Halbleiteranordnung zur Umwandlung von in unterschiedlichen Wellenlängenbereichen liegenden Lichtsignalen in elektrische Signale | |
| DE4424454C2 (de) | Optoelektronische Sensoreinrichtung zur Erfassung des Benetzungsgrades einer transparenten Kraftfahrzeugscheibe mit Niederschlag | |
| DE102015210343B4 (de) | Halbleiterfotodiode und Verfahren | |
| DE10203875A1 (de) | Optischer Empfänger für die leitungsungebundene optische Übertragung | |
| WO2005096394A1 (de) | Strahlungsdetektor | |
| DE102017201139A1 (de) | Bauelement zum Begrenzen eines Einfallswinkels von Licht, Verfahren zum Herstellen desselben und Mikrospektrometer | |
| DE69838045T2 (de) | Optischer Empfänger mit Schutzvorrichtungen gegen elektromagnetisches Rauschen | |
| DE3206312A1 (de) | Demultiplexer-photodiode | |
| WO2009117977A1 (de) | Optoelektronischer strahlungsdetektor und verfahren zur herstellung einer mehrzahl von detektorelementen | |
| DE3135945A1 (de) | "fototransistor" | |
| DE102004037020B4 (de) | Strahlungsdetektor zur Detektion von Strahlung gemäß einer vorgegebenen spektralen Empfindlichkeitsverteilung | |
| DE60016914T2 (de) | Feuchtigkeitssensor mit vor der demodulationsstufe angeordneter signalverstärkung und filterung hoher ordnung | |
| DE10341086B4 (de) | Strahlungsempfangender Halbleiterkörper mit einer Filterschicht | |
| WO2020234046A1 (de) | Optoelektronische messvorrichtung zur messung einer intensität einer elektromagnetischen strahlung | |
| DE69328579T2 (de) | Halbleiter-Lichtdetektorvorrichtung | |
| DE897962C (de) | Anlage zur UEbertragung von Signalen mittels modulierter Lichtstrahlung (Lichtsprechgeraet) | |
| DE2927126A1 (de) | Photodiode | |
| DE69418870T2 (de) | Halbleiter-Fotodetektor | |
| WO2001078155A2 (de) | Wellenlängenselektive pn-übergangs-photodiode |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OR8 | Request for search as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
| 8105 | Search report available | ||
| 8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |