DE102022105856B3 - Device and method for measuring soft magnetic properties - Google Patents
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Abstract
Eine Testvorrichtung zur Messung weichmagnetischer Eigenschaften umfasst einen Probenaufnahmeraum (6), in welchem eine zu testende Probe (2) platzierbar ist, sowie einen Leiteraufnahmeraum (7), in welchem Abschnitte von mindestens einer Spule bildende Leiterstücke (3) platzierbar sind, wobei die Spule um einen Teilbereich der Probe (2) zu legen ist, und wobei sich der Probenaufnahmeraum (6) mit dem Leiteraufnahmeraum (7) überlappt. A test device for measuring soft magnetic properties comprises a sample receiving space (6) in which a sample (2) to be tested can be placed, and a conductor receiving space (7) in which conductor pieces (3) forming sections of at least one coil can be placed, the coil is to be placed around a portion of the sample (2), and wherein the sample receiving space (6) overlaps with the conductor receiving space (7).
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung weichmagnetischer Eigenschaften verschiedener Proben, insbesondere zur Messung von Ummagnetisierungsverlusten. Ferner betrifft die Erfindung eine zur Durchführung eines solchen Verfahrens geeignete Testvorrichtung.The invention relates to a method for measuring soft-magnetic properties of various samples, in particular for measuring core losses. Furthermore, the invention relates to a test device suitable for carrying out such a method.
Zur Messung von magnetischen Eigenschaften weichmagnetischer Stähle, speziell zur Messung von Ummagnetisierungsverlusten, sind insbesondere sogenannte Single Sheet Tester (SST) geeignet. In diesem Zusammenhang wird beispielhaft auf die Offenlegungsschrift
Ein gängiges Mittel zur Bestimmung der magnetischen Eigenschaften von Elektroband und -blech stellt ein Epsteinrahmen dar. Messung mit Hilfe von Epsteinrahmen sind in der DIN EN 60404-2 normiert. Nach dieser Norm besteht ein 25-cm-Epsteinrahmen aus einer Primärwicklung, einer Sekundärwicklung und der zu prüfenden Probe als Kern, womit ein Transformator ohne Last gebildet ist. Die Probe liegt in Form von zu prüfenden Streifen vor, welche zu einem Quadrat mit beidseitig überlappenden Enden zusammengefügt werden. Insgesamt umfasst der Epsteinrahmen vier Spulen, in welche die Streifen, die die Probe bilden, eingeschichtet werden. Jede der vier Spulen besteht aus zwei Wicklungen, nämlich einer äußeren Primärwicklung als Magnetisierungswicklung und einer inneren Sekundärwicklung als Spannungswicklung. Zwischen diesen Wicklungen kann ein elektrostatischer Schirm vorgesehen sein. Für die Primärwicklung kann nach der DIN EN 60404-2 beispielsweise Kupferdraht mit einem Nennquerschnitt von 1,8 mm2, für die Sekundärwicklung Kupferdraht mit einem Nennquerschnitt von 0,8 mm2 verwendet werden.An Epstein frame is a common means of determining the magnetic properties of electrical steel and sheet metal. Measurements using Epstein frames are standardized in DIN EN 60404-2. According to this standard, a 25 cm Epstein frame consists of a primary winding, a secondary winding and the sample to be tested as the core, forming an unloaded transformer. The sample is in the form of strips to be tested, which are joined together to form a square with ends overlapping on both sides. In total, the Epstein frame includes four coils into which the strips that make up the sample are layered. Each of the four coils consists of two windings, namely an outer primary winding as a magnetizing winding and an inner secondary winding as a voltage winding. An electrostatic screen can be provided between these windings. According to DIN EN 60404-2, for example, copper wire with a nominal cross section of 1.8 mm 2 can be used for the primary winding and copper wire with a nominal cross section of 0.8 mm 2 can be used for the secondary winding.
Eine mögliche Ausgestaltung eines Epstein-Apparats zum Bestimmen der magnetischen Eigenschaften von Elektroblech ist in der
Neuere Varianten von Single Sheet Testern sind zum Beispiel in den Dokumenten
Die
Weiterhin ist zur Bestimmung von Materialkenndaten weichmagnetischer Werkstoffe insbesondere das Ringkernmessverfahren geeignet. In diesem Zusammenhang wird auf folgende Dissertation hingewiesen:
- Alexander Stadler: Messtechnische Bestimmung und Simulation der Kernverluste in weichmagnetischen Materialien, Technische Fakultät der Universität Erlangen-Nürnberg, Erlangen 2009
- Alexander Stadler: Metrological determination and simulation of core losses in soft magnetic materials, Technical Faculty of the University of Erlangen-Nuremberg, Erlangen 2009
In dieser Dissertation wird eine Reihenschaltung aus mehreren gleichen Ringkernen vorgeschlagen. Der dabei erzielte Mittelungseffekt soll Streuungen innerhalb einer Charge verringern.In this dissertation, a series connection of several identical ring cores is proposed. The averaging effect achieved in this way is intended to reduce scatter within a batch.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Vorrichtungen und Verfahren zur Messung weichmagnetischer Eigenschaften, insbesondere zur Messung von Ummagnetisierungsverlusten in weichmagnetischen Materialien, anzugeben, welche besonders für die Anwendung bei einer Vielzahl unterschiedlich dimensionierter Proben geeignet sind.The invention is based on the object of specifying devices and methods for measuring soft-magnetic properties, in particular for measuring core losses in soft-magnetic materials, which are particularly suitable for use with a large number of differently dimensioned samples.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch eine zur Messung weichmagnetischer Eigenschaften, insbesondere zur Messung von Ummagnetisierungsverlusten, ausgebildete Testvorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 1. Ebenso wird die Aufgabe gelöst durch ein Verfahren zur Messung weichmagnetischer Eigenschaften gemäß Anspruch 9. Im Folgenden im Zusammenhang mit dem Messverfahren erläuterte Ausgestaltungen und Vorteile der Erfindung gelten sinngemäß auch für die zur Durchführung dieses Messverfahrens geeignete Testvorrichtung und umgekehrt.This object is achieved according to the invention by a test device designed for measuring soft-magnetic properties, in particular for measuring core losses, with the features of
Als mögliche Anwendungen der Testvorrichtung sind neben der Messung von Ummagnetisierungsverlusten beispielhaft auch Messungen der Permeabilität und der Polarisation zu nennen. Auch kann die Testvorrichtung zur Erfassung von Hysteresekurven, das heißt von BH-Kennlinien, die die Abhängigkeit der Flussdichte B von der magnetischen Feldstärke H zeigen, genutzt werden. Insbesondere kann hierbei die magnetische Sättigung erfasst werden. Sofern im Folgenden auf die Messung von Ummagnetisierungsverlusten Bezug genommen wird, gelten die entsprechenden Ausführungen, soweit physikalisch sinnvoll, auch für sonstige Messungen weichmagnetischer Eigenschaften von Proben.Possible applications of the test device are, in addition to the measurement of core losses, measurements of the permeability and polarization. The test device can also be used to record hysteresis curves, that is, BH characteristic curves that show the dependence of the flux density B on the magnetic field strength H. In particular, the magnetic saturation can be detected here. Insofar as reference is made below to the measurement of core losses, the corresponding statements also apply to other measurements of soft magnetic properties of samples, insofar as this is physically reasonable.
Die Testvorrichtung weist einen Probenaufnahmeraum auf in welchem eine zu testende Probe aus weichmagnetischem Material platzierbar ist, sowie einen Leiteraufnahmeraum, in welchem Abschnitte von mindestens eine Spule bildende Leiterstücke platzierbar sind, wobei die Spule um einen Teilbereich der Probe zu legen ist und sich der Probenaufnahmeraum mit dem Leiteraufnahmeraum überlappt.The test device has a sample receiving space in which a sample to be tested made of soft magnetic material can be placed, and a conductor receiving space in which sections of conductor pieces forming at least one coil can be placed, with the coil being placed around a portion of the sample and the sample receiving space being overlaps the conductor receiving space.
Der Überlapp zwischen dem Probenaufnahmeraum und dem Leiteraufnahmeraum kann insbesondere bedeuten, dass der Probenaufnahmeraum vollständig in dem Leiteraufnahmeraum liegt. In der Draufsicht, das heißt in typischem Prüfaufbau mit Blickrichtung in Längsrichtung der Leiterstücke, können die genannten Räume insbesondere eine kreisrunde oder quadratische Grundform haben.The overlap between the sample receiving space and the conductor receiving space can mean in particular that the sample receiving space lies completely in the conductor receiving space. When viewed from above, that is to say in a typical test setup looking in the longitudinal direction of the conductor sections, the spaces mentioned can in particular have a circular or square basic shape.
Die Erfindung geht von der Überlegung aus, dass herkömmliche Ringkerntester eine feste Probengeometrie voraussetzen. Weiterhin müssen im Fall herkömmlicher Ringkerntester Wicklungen, welche um die Probe gelegt werden, aufwändig per Hand oder maschinell hergestellt werden. Eine stattdessen denkbare Verwendung von Schnellspannkabeln hat die Bildung nicht genau definierter Luftspalte zur Folge, was zu erheblichen Messfehlern führen kann.The invention is based on the consideration that conventional ring core testers require a fixed sample geometry. Furthermore, in the case of conventional toroidal core testers, windings that are placed around the sample must be laboriously produced by hand or by machine. A conceivable use of quick-release cables instead results in the formation of air gaps that are not precisely defined, which can lead to significant measurement errors.
Im Fall der anmeldungsgemäßen Testvorrichtung hat die flexible Positionierbarkeit von Leiterstücken zum einen den Vorteil, dass exakt definierte geometrische Verhältnisse gegeben sind, wobei die Testvorrichtung zum anderen auf einfachste Weise auf verschiedene Probengeometrien umrüstbar ist. Die einzelnen Leiterstücke können beispielsweise einen kreisrunden oder einen rechteckigen, insbesondere quadratischen Querschnitt haben. Hierbei können unterschiedliche Leiterstücke, welche im Einzelfall auch streifenförmig sein können, jedoch in aller Regel nicht oder nur in einem vernachlässigbaren Maße beim Einbau in die Testvorrichtung verformt werden, einerseits zur Bildung von Primärwicklungen und andererseits zur Bildung von Sekundärwicklungen verwendet werden.In the case of the test device according to the application, the flexible positioning of conductor sections has the advantage on the one hand that there are precisely defined geometric relationships, with the test device on the other being easily convertible to different sample geometries. The individual conductor pieces can, for example, have a circular or a rectangular, in particular square, cross section. Different conductor pieces, which can also be strip-shaped in individual cases, but are generally not deformed or only deformed to a negligible extent when installed in the test device, can be used on the one hand to form primary windings and on the other hand to form secondary windings.
Das anmeldungsgemäße Messverfahren ist allgemein zur Anwendung bei unterschiedlich dimensionierten Proben vorgesehen, wobei diese nacheinander in einem Probenaufnahmeraum platziert werden, und wobei bolzenförmige Leiterstücke, die Abschnitte von Spulen darstellen, bei der Untersuchung der verschiedenen Proben in unterschiedlicher Anzahl und Anordnung in den Probenaufnahmeraum eingefügt werden, indem sie in Einzelaufnahmen eines Aufnahmerasters eingesteckt werden. Unter bolzenförmigen Leiterstücken sind auch dünne langgestreckte Leiterstücke, beispielsweise mit einem Durchmesser von nur einem Millimeter oder einigen Millimetern, zu verstehen.The measurement method according to the application is generally intended for use with samples of different dimensions, these being placed one after the other in a sample receiving space, and bolt-shaped conductor pieces, which represent sections of coils, being inserted into the sample receiving space in different numbers and arrangements when the various samples are examined. by inserting them into individual recordings of a recording grid. Bolt-shaped conductor pieces are also to be understood as meaning thin, elongated conductor pieces, for example with a diameter of only one millimeter or a few millimeters.
Das Aufnahmeraster kann beispielsweise matrixförmig, das heißt in Form von Spalten und Zeilen, oder in Form konzentrischer Kreise aufgebaut sein. Die letztgenannte Variante kommt insbesondere für die Untersuchung ringförmiger Proben mit kreisrunder Grundform in Betracht.The recording grid can, for example, be constructed in the form of a matrix, ie in the form of columns and rows, or in the form of concentric circles. The latter variant is particularly suitable for examining ring-shaped samples with a circular basic shape.
Die Einzelaufnahmen für die Leiterstücke sind in allen Fällen insbesondere derart gestaltet und angeordnet, dass sich eine parallele Ausrichtung sämtlicher nach Bedarf einzusetzender Leiterstücke ergibt. Hierbei kann jedes der bolzenförmigen Leiterstücke längs einer Flächennormalen zur Ebene, in der die ringförmige Probe liegt, ausgerichtet sein.In all cases, the individual receptacles for the conductor sections are designed and arranged in such a way that all conductor sections to be used as required are aligned in parallel. In this case, each of the bolt-shaped conductor pieces can be aligned along a surface normal to the plane in which the ring-shaped sample lies.
Unabhängig von der genauen Form der Probe stellt eine Teilmenge der Leiterstücke, welche im Leiteraufnahmeraum zu platzieren sind, einen Teil einer Primärwicklung dar, wogegen andere Leiterstücke, die sich ebenfalls im Leiteraufnahmeraum befinden, Abschnitte einer sekundären Wicklung bilden. Die primärseitigen und die sekundärseitigen Leiterstücke können prinzipiell gleichartig oder unterschiedlich geformt sein. Elektrische Anschlüsse an den Leiterstücken können in allen Fällen zum Beispiel durch übliche Steckverbindungen hergestellt werden. Auch können probenspezifische Adapter bereitgestellt werden. Solche Adapter können insbesondere eine flächige, an die Abmessungen der Proben sowie des Leiteraufnahmeraums angepasste Gestalt haben, wobei die Probe sandwichartig zwischen den Adaptern zu positionieren ist und die flexibel einsetzbaren Leiterstücke die beiden Adapter miteinander verbinden.Regardless of the exact shape of the sample, a subset of the conductor pieces to be placed in the conductor receiving space constitute part of a primary winding, while other conductor pieces also located in the conductor receiving space form sections of a secondary winding. In principle, the conductor pieces on the primary side and the conductor pieces on the secondary side can be of the same type or have different shapes. In all cases, electrical connections to the conductor sections can be made, for example, by conventional plug-in connections. Sample-specific adapters can also be provided. Such adapters can in particular have a flat shape adapted to the dimensions of the samples and the conductor receiving space, with the sample being positioned in a sandwich-like manner between the adapters and the flexibly insertable conductor sections connecting the two adapters to one another.
Der Vorteil der Testvorrichtung liegt insbesondere darin, dass sie auf einfachste Weise an die Abmessungen verschiedener, jeweils ringförmiger Proben anpassbar ist. Bei den Proben handelt es sich typischerweise um Zwischenprodukte, die im Laufe der weiteren Fertigung zu Endprodukten verarbeitet werden. Eine gesonderte Herstellung von Prüfkörpern ist nicht erforderlich. Die Proben, das heißt Zwischenprodukte, sind insbesondere aus einem SMC-Komposit-Material (SMC = soft magnetic composite) gefertigt. Hinsichtlich SMC-Materialien wird beispielhaft auf die
Nachfolgend werden mehrere Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand einer Zeichnung näher erläutert. Hierin zeigen:
-
1 bis3 jeweils in einer schematischen Draufsicht einen Prüfaufbau zum Testen verschiedener ringförmiger Prüfkörper, -
4 einen weiteren Prüfaufbau in einer schematischen Draufsicht, -
5 und6 ausschnittsweise jeweils einen Prüfaufbau in Seitenansicht.
-
1 until3 in each case a schematic top view of a test setup for testing various ring-shaped test bodies, -
4 another test setup in a schematic plan view, -
5 and6 each part of a test setup in a side view.
Die folgenden Erläuterungen beziehen sich, soweit nicht anders angegeben, auf sämtliche Ausführungsbeispiele. Einander entsprechende oder prinzipiell gleichwirkende Teile sind in allen Figuren mit den gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet.Unless otherwise stated, the following explanations relate to all exemplary embodiments. Parts that correspond to one another or have the same effect in principle are marked with the same reference symbols in all figures.
Bei einem insgesamt mit dem Bezugszeichen 1 gekennzeichneten Prüfaufbau handelt es sich um einen Ringkerntester, welcher insbesondere zur Messung von Ummagnetisierungsverlusten bei verschiedenen ringförmigen Prüfkörpern 2 aus weichmagnetischem Material nutzbar ist. Hinsichtlich der prinzipiellen Funktion von Ringkerntestern wird auf den eingangs zitierten Stand der Technik verwiesen.A test setup identified overall by the
Mit dem in den Prüfaufbau 1 eingelegten Prüfkörper 2 wird ein Transformator hergestellt, wobei in den schematischen Ansichten nach den
Die Pins 3 sind in allen Ausführungsbeispielen in Normalrichtung der Ebene, in welcher der ringförmige Prüfkörper 2 als Probe liegt, das heißt senkrecht zur Bildebene, ausgerichtet. Elektrische Verbindungen zwischen den einzelnen Pins 3 sind in den Figuren nicht dargestellt. Leiterbahnen, welche elektrisch an die Pins 3 angeschlossen sind, sind in den
Durch den Prüfaufbau 1 wird in allen Fällen ein Probenaufnahmeraum 6, in welchen der Prüfkörper 2 einlegbar ist, bereitgestellt. Im vorliegenden Fall ist der Probenaufnahmeraum 6 derart dimensioniert, dass wahlweise unterschiedlich große Prüfkörper 2, wie in den
Die Mittelachse des Prüfkörpers 2 sowie des gesamten Prüfaufbaus 1 ist mit MA bezeichnet. Die einzelnen Pins 3 können auf zur Mittelachse MA konzentrischen Kreisen K1, K2, K3, K4, K5 platziert werden. Zu diesem Zweck sind Einzelaufnahmen 5 für jeweils einen Pin 3 vorgesehen. Der Durchmesser eines Pins 3 ist mit D3 bezeichnet. Zwischen dem Pindurchmesser D3 und den Abmessungen des Prüfkörpers 2 können verschiedene Relationen bestehen. Im Fall von
Wie aus den Figuren hervorgeht, wird durch den Prüfkörper 2 je nach dessen Abmessungen eine mehr oder weniger große Anzahl an Einzelaufnahmen 5 komplett oder teilweise abgedeckt. Die betreffenden Einzelaufnahmen 5 sind nicht mehr zum Einstecken eines Pins 3 nutzbar und werden dementsprechend als Leerstellen 4 bezeichnet. Die Leerstellen 4 befinden sich in dem Probenaufnahmeraum 6 variabler Abmessung. Der ringförmige Probenaufnahmeraum 6 liegt vollständig innerhalb des mit 7 bezeichneten Leiteraufnahmeraums, in welchem die Pins 3, das heißt Leiterstücke, platzierbar sind.As can be seen from the figures, a more or less large number of
Insgesamt sind die die in den Figuren sichtbaren Pins 3 jeweils einer Spule zuzurechnen, die die Form eines liegenden Hohlzylinders beschreibt. Mehrere derartige Hohlzylinder können ineinandergelegt werden, um Primär- und Sekundärwicklungen zu erzeugen. In den vorliegenden Fällen sind die Pins 3 als Hohlzylinder aus Kupfer oder einem anderen elektrisch gut leitenden Material ausgebildet. Alternativ könnte es sich bei den Pins 3 um massive zylindrische Leiterstücke handeln.Overall, the
BezugszeichenlisteReference List
- 11
- Prüfaufbau, RingkerntesterTest setup, ring core tester
- 22
- Prüfkörper, Probespecimen, sample
- 33
- Pin, LeiterstückPin, piece of ladder
- 44
- Leerstelleblank space
- 55
- Einzelaufnahmesingle shot
- 66
- Probenaufnahmeraumsample receiving room
- 77
- Leiteraufnahmeraumladder pickup room
- 88th
- Blendecover
- 99
- Leiterbahn trace
- DATHERE
- Außendurchmesser des PrüfkörpersOutside diameter of the specimen
- DITUE
- Innendurchmesser des PrüfkörpersInner diameter of the specimen
- D3D3
- Durchmesser eines Pinsdiameter of a pin
- K1, ... K5K1, ... K5
- Kreisecircles
- MAMA
- Mittelachsecentral axis
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- 2022-03-14 DE DE102022105856.5A patent/DE102022105856B3/en active Active
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| R020 | Patent grant now final |