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DE102024200741A1 - Semiconductor package - Google Patents

Semiconductor package

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Publication number
DE102024200741A1
DE102024200741A1 DE102024200741.2A DE102024200741A DE102024200741A1 DE 102024200741 A1 DE102024200741 A1 DE 102024200741A1 DE 102024200741 A DE102024200741 A DE 102024200741A DE 102024200741 A1 DE102024200741 A1 DE 102024200741A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor package
semiconductor
contact
busbar
wall
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE102024200741.2A
Other languages
German (de)
Inventor
Kevin Böhm
Ivonne Trenz
Martin Mader
Thomas Lannert
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZF Friedrichshafen AG
Original Assignee
ZF Friedrichshafen AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZF Friedrichshafen AG filed Critical ZF Friedrichshafen AG
Priority to DE102024200741.2A priority Critical patent/DE102024200741A1/en
Publication of DE102024200741A1 publication Critical patent/DE102024200741A1/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D80/00Assemblies of multiple devices comprising at least one device covered by this subclass
    • H10D80/20Assemblies of multiple devices comprising at least one device covered by this subclass the at least one device being covered by groups H10D1/00 - H10D48/00, e.g. assemblies comprising capacitors, power FETs or Schottky diodes
    • H10W70/20
    • H10W40/10
    • H10W72/60

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  • Electric Propulsion And Braking For Vehicles (AREA)

Abstract

Bei einem Halbleiter-Paket (1), wobei das Halbleiter-Paket (1) geeignet ist, eine Halbleiterschaltung aufzunehmen, wobei das Halbleiter-Paket (1) geeignet ist, in einen Aufnahmeplatz eines Sammelschienensystems eingesetzt zu werden, wobei das Halbleiter-Paket (1) einen Kontaktbereich umfasst, ist der Kontaktbereich geeignet, eine Mehrzahl elektrischer Verbindungen zwischen dem Sammelschienensystem und der Halbleiterschaltung zu vermitteln, wenn das Halbleiter-Paket (1) in den Aufnahmeplatz eingesetzt ist.In a semiconductor package (1), wherein the semiconductor package (1) is suitable for receiving a semiconductor circuit, wherein the semiconductor package (1) is suitable for being inserted into a receiving location of a busbar system, wherein the semiconductor package (1) comprises a contact region, the contact region is suitable for mediating a plurality of electrical connections between the busbar system and the semiconductor circuit when the semiconductor package (1) is inserted into the receiving location.

Description

Technisches GebietTechnical area

Die Erfindung betrifft ein Halbleiter-Paket nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Die Erfindung betrifft ferner ein Schalterelement, ein Leistungselektroniksystem und ein Fahrzeug nach den nebengeordneten Ansprüchen.The invention relates to a semiconductor package according to the preamble of claim 1. The invention further relates to a switch element, a power electronics system and a vehicle according to the independent claims.

Stand der TechnikState of the art

Elektrische Fahrzeuge verwenden als Energiespeicher häufig Batterien, welche Gleichstrom zur Verfügung stellen. Die Elektromotoren, welche solche elektrischen Fahrzeuge antreiben, sind jedoch typischerweise Wechselstrommotoren, beispielsweise Drehstrommotoren. Aus diesem Grund kommen in elektrischen Fahrzeugen typischerweise leistungselektronische Bauelemente zum Einsatz, mit deren Hilfe der von den Batterien zur Verfügung gestellte Gleichstrom in den von den Motoren benötigten Wechselstrom umgewandelt wird.Electric vehicles often use batteries, which provide direct current, as energy storage. However, the electric motors that power such electric vehicles are typically AC motors, such as three-phase motors. For this reason, electric vehicles typically use power electronic components to convert the direct current provided by the batteries into the alternating current required by the motors.

Hierbei ergeben sich unterschiedliche Herausforderungen. Zum einen soll dieses Umwandeln von Gleichstrom in Wechselstrom so energieeffizient wie möglich ablaufen, beispielsweise sollen Verluste, welche beispielsweise durch Streuinduktivitäten hervorgerufen werden können, minimiert werden. Zudem sind hohe Leistungsdichten wünschenswert, beispielsweise um ein Platzerfordernis für die leistungselektronischen Elemente im Fahrzeug gering zu halten. Ferner sollten solche leistungselektronischen Systeme möglichst einfach aufgebaut sein, um eine möglichst einfache Montage zu ermöglichen und um idealerweise die Systemkomplexität so gering wie möglich zu halten.This presents various challenges. Firstly, this conversion from direct current to alternating current should be as energy-efficient as possible, for example, by minimizing losses caused by stray inductances. Furthermore, high power densities are desirable, for example, to minimize the space required for the power electronic components in the vehicle. Furthermore, such power electronic systems should be as simple as possible to enable easy assembly and, ideally, to keep system complexity as low as possible.

Bei der Verbindung von unterschiedlichen leistungselektronischen Komponenten in Elektrofahrzeugen kommen häufig sogenannte Sammelschienen (auch als Busbars bezeichnet) zum Einsatz, welche die leistungselektronischen Komponenten derart untereinander verbinden, dass zum Beispiel Brückenschaltungen realisiert werden. When connecting different power electronic components in electric vehicles, so-called busbars are often used, which connect the power electronic components to each other in such a way that, for example, bridge circuits are realized.

Solche Brückenschaltungen werden zumeist mit vorgefertigten Halbleiterbauelementen aufgebaut, welche jedoch unterschiedliche Nachteile haben. So erfordern diese vorgefertigten Bauteile zum Beispiel typischerweise eine aufwändige Sammelschienenverschienung oder sie haben seitliche Anschlüsse, was eine Anbindung an die Sammelschienen erschwert. Zudem sind die bekannten Bauteile nicht sehr flexibel hinsichtlich ihrer Einsatzmöglichkeiten.Such bridge circuits are usually constructed using prefabricated semiconductor components, which, however, have various disadvantages. For example, these prefabricated components typically require complex busbar mounting or have side connections, which make connecting to the busbars difficult. Furthermore, the existing components are not very flexible in terms of their possible applications.

Allgemeine Beschreibung der ErfindungGeneral description of the invention

Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile des Stands der Technik zu beheben oder zumindest zu vermindern.The object of the invention is to eliminate or at least reduce the disadvantages of the prior art.

Die Aufgabe wird gelöst durch ein Halbleiter-Paket, wobei das Halbleiter-Paket geeignet ist, eine Halbleiterschaltung aufzunehmen, wobei das Halbleiter-Paket geeignet ist, in einen Aufnahmeplatz eines Sammelschienensystems eingesetzt zu werden, wobei das Halbleiter-Paket einen Kontaktbereich umfasst, wobei der Kontaktbereich geeignet ist, eine Mehrzahl elektrischer Verbindungen zwischen dem Sammelschienensystem und der Halbleiterschaltung zu vermitteln, wenn das Halbleiter-Paket in den Aufnahmeplatz eingesetzt ist. Mithilfe eines solchen Halbleiter-Pakets, welches in ein Sammelschienensystem einsetzbar ist und welches einen Kontaktbereich zur Vermittlung der nötigen elektrischen Kontakte umfasst, wird eine gute Modularität und eine einfache Anbindung des Halbleiter-Pakets in ein Sammelschienensystem gewährleistet. Unter einem „Halbleiter-Paket“ ist dabei insbesondere eine Struktur zu verstehen, innerhalb derer mehrere Halbleiterbauelemente, welche eine Halbleiterschaltung bilden, angeordnet werden können.The problem is solved by a semiconductor package, wherein the semiconductor package is suitable for accommodating a semiconductor circuit, wherein the semiconductor package is suitable for being inserted into a receiving location of a busbar system, wherein the semiconductor package comprises a contact region, wherein the contact region is suitable for establishing a plurality of electrical connections between the busbar system and the semiconductor circuit when the semiconductor package is inserted into the receiving location. With the aid of such a semiconductor package, which can be inserted into a busbar system and which comprises a contact region for establishing the necessary electrical contacts, good modularity and simple connection of the semiconductor package to a busbar system is ensured. A “semiconductor package” is to be understood in particular as a structure within which a plurality of semiconductor components forming a semiconductor circuit can be arranged.

Bei vorteilhaften Ausführungsformen umfasst das Halbleiter-Paket ein Gehäuse, wobei das Gehäuse den Kontaktbereich umfasst, wobei der Kontaktbereich bevorzugt eine Kontaktwand ist. Eine derartige Ausgestaltung des Halbleiter-Pakets verbessert die Modularität weiter. Die Ausbildung des Kontaktbereichs als Kontaktwand ist deswegen vorteilhaft, weil so in einem vordefinierten Bereich, welcher wie gewünscht angeordnet werden kann, die elektrischen Verbindungen ausgebildet werden können. In advantageous embodiments, the semiconductor package comprises a housing, wherein the housing comprises the contact region, wherein the contact region is preferably a contact wall. Such a configuration of the semiconductor package further improves modularity. Forming the contact region as a contact wall is advantageous because it allows the electrical connections to be formed in a predefined area that can be arranged as desired.

Bei typischen Ausführungsformen ist das Gehäuse im Spritzgussverfahren hergestellt.In typical designs, the housing is manufactured using an injection molding process.

Bei vorteilhaften Ausführungsformen ist das Gehäuse im wesentlichen quaderförmig, wobei das Gehäuse bevorzugt eine Oberseite und eine der Oberseite gegenüberliegende Unterseite und vier Seitenwände umfasst, wobei die Oberseite bevorzugt die Kontaktwand umfasst. Bei einem solchen im Wesentlichen quaderförmigen Gehäuse ist die Oberseite mit der Unterseite indirekt über die vier Seitenwände verbunden. Die Formulierung „im wesentlichen quaderförmig“ ist derart zu verstehen, dass gewisse Abweichungen von einer reinen Quaderform, wie beispielsweise abgerundete Kanten oder Ecken, vorhanden sein dürfen. Alternativ ist es auch möglich, dass das Gehäuse nicht quaderförmig ist, sondern beispielsweise zylinderförmig.In advantageous embodiments, the housing is essentially cuboid-shaped, wherein the housing preferably comprises a top side and a bottom side opposite the top side and four side walls, wherein the top side preferably comprises the contact wall. In such an essentially cuboid-shaped housing, the top side is indirectly connected to the bottom side via the four side walls. The wording "essentially cuboid-shaped" is to be understood such that certain deviations from a pure cuboid shape, such as rounded edges or corners, are permitted. Alternatively, it is also possible for the housing to be not cuboid-shaped, but, for example, cylindrical.

Bei vorteilhaften Ausführungsformen umfasst das Halbleiter-Paket eine Wärmeabfuhrwand, wobei die Unterseite bevorzugt die Wärmeabfuhrwand umfasst, und/oder wobei die Wärmeabfuhrwand geeignet ist, eine bei einem Betrieb der Halbleiterschaltung und/oder bei einem Betrieb des Sammelschienensystems entstehende Wärme aus dem Halbleiter-Paket abzuleiten. Bei vorteilhaften Ausführungsformen umfasst die Wärmeabfuhrwand eine mit Metallisierung. Bei typischen Ausführungsformen ist die Wärmeabfuhrwand elektrisch isoliert oder elektrisch unisoliert mit der Halbleiterschaltung verbunden.In advantageous embodiments, the semiconductor package comprises a heat dissipation wall, wherein the underside preferably comprises the heat dissipation wall, and/or wherein the heat dissipation wall is suitable for dissipating heat generated during operation of the semiconductor circuit and/or during operation of the busbar system from the semiconductor package. In advantageous embodiments, the heat dissipation wall comprises a metallized layer. In typical embodiments, the heat dissipation wall is connected to the semiconductor circuit in an electrically insulated or electrically uninsulated manner.

Bei typischen Ausführungsformen umfasst der Kontaktbereich, bevorzugt die Kontaktwand, eine Mehrzahl an Einzelkontaktflächen, wobei der Kontaktbereich, bevorzugt die Kontaktwand, bevorzugt vier Einzelkontaktflächen umfasst.In typical embodiments, the contact region, preferably the contact wall, comprises a plurality of individual contact surfaces, wherein the contact region, preferably the contact wall, preferably comprises four individual contact surfaces.

Bei vorteilhaften Ausführungsformen umfasst die Mehrzahl an Einzelkontaktflächen zwei Chipkontakte und/oder zwei Schienenkontakte, wobei das Halbleiter-Paket bevorzugt derart ausgebildet ist, dass die Chipkontakte geeignet sind, elektrisch mit einzelnen Halbleiterelementen der Halbleiterschaltung verbunden zu werden und/oder wobei das Halbleiter-Paket bevorzugt derart ausgebildet ist, dass die Schienenkontakte geeignet sind, mit einem flächenförmigen Schienenbereich der Halbleiterschaltung verbunden zu werden, wobei die Halbleiterelemente bevorzugt auf dem flächenförmigen Schienenbereich angeordnet sind. Bei vorteilhaften Ausführungsformen umfasst das Halbleiter-Paket die Halbleiterschaltung und/oder den flächenförmigen Schienenbereich.In advantageous embodiments, the plurality of individual contact surfaces comprises two chip contacts and/or two rail contacts, wherein the semiconductor package is preferably designed such that the chip contacts are suitable for being electrically connected to individual semiconductor elements of the semiconductor circuit and/or wherein the semiconductor package is preferably designed such that the rail contacts are suitable for being connected to a planar rail region of the semiconductor circuit, wherein the semiconductor elements are preferably arranged on the planar rail region. In advantageous embodiments, the semiconductor package comprises the semiconductor circuit and/or the planar rail region.

Die Erfinder haben festgestellt, dass derartige Einzelkontaktflächen vorteilhaft sind, weil auf diese Weise die Halbleiterschaltung innerhalb des Halbleiter-Pakets auf dem Schienenbereich angeordnet werden kann, wobei der Schienenbereich beispielsweise eine Sammelschiene oder ein DBC sein kann, und die Halbleiterelemente in der Halbleiterschaltung einerseits über diesen Schienenbereich und andererseits über die Halbleiterelemente selbst, nämlich über direkte Verbindungen zu den Chipkontakten, mit den stromführenden Elementen des Sammelschienensystems verbunden sein können. Mit anderen Worten wird es dadurch, dass diese Einzelkontaktflächen in der Kontaktwand, welche beispielsweise die Oberseite des Halbleiter-Pakets sein kann, angeordnet sind, ermöglicht, dass die gesamte Halbleiterschaltung innerhalb des Halbleiter-Pakets bei eingesetztem Halbleiter-Paket in den Aufnahmeplatz von oben her an die stromführenden Elemente des Sammelschienensystems angebunden werden kann. Hierdurch vereinfacht sich der Anschluss der Halbleiterschaltung an das Sammelschienensystem, beispielsweise können alle Einzelkontaktflächen in einem einzigen Schweissprozess mit dem Sammelschienensystem verbunden werden. Bei typischen Ausführungsformen sind alle Anschlüsse der Halbleiterschaltung des Halbleiter-Pakets in dem Kontaktbereich, insbesondere in der Kontaktwand, angeordnet.The inventors have found that such individual contact surfaces are advantageous because they allow the semiconductor circuit within the semiconductor package to be arranged on the rail region. The rail region can be, for example, a busbar or a DBC. The semiconductor elements in the semiconductor circuit can be connected to the current-carrying elements of the busbar system via this rail region and via the semiconductor elements themselves, namely via direct connections to the chip contacts. In other words, the fact that these individual contact surfaces are arranged in the contact wall, which can be, for example, the top side of the semiconductor package, enables the entire semiconductor circuit within the semiconductor package to be connected from above to the current-carrying elements of the busbar system when the semiconductor package is inserted into the receiving space. This simplifies the connection of the semiconductor circuit to the busbar system; for example, all individual contact surfaces can be connected to the busbar system in a single welding process. In typical embodiments, all terminals of the semiconductor circuit of the semiconductor package are arranged in the contact region, in particular in the contact wall.

Bei vorteilhaften Ausführungsformen umfasst das Halbleiter-Paket einen Source-Kontaktpin und/oder einen Gate-Kontaktpin, wobei der Source-Kontaktpin und/oder Gate-Kontaktpin bevorzugt mit Steuerungskontakten der Halbleiterschaltung verbunden sind und/oder wobei der Source-Kontaktpin und/oder Gate-Kontaktpin vorzugsweise durch die Kontaktwand hindurch ragen. Auf diese Weise werden die Anschlüsse für die Steuerungselektronik der Halbleiterschaltung ebenfalls im Bereich der Leistungsanschlüsse des Halbleiter-Pakets angeordnet, was den Anschluss des Halbleiter-Pakets an das Sammelschienensystem weiter vereinfacht.In advantageous embodiments, the semiconductor package comprises a source contact pin and/or a gate contact pin, wherein the source contact pin and/or gate contact pin are preferably connected to control contacts of the semiconductor circuit and/or wherein the source contact pin and/or gate contact pin preferably protrude through the contact wall. In this way, the connections for the control electronics of the semiconductor circuit are also arranged in the region of the power connections of the semiconductor package, which further simplifies the connection of the semiconductor package to the busbar system.

Die Aufgabe wird ferner gelöst durch ein Schalterelement, welches zumindest ein, bevorzugt zumindest zwei Halbleiter-Paket(e) gemäss einem der zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiele umfasst. Der Begriff „Schalterelement“ ist insbesondere derart zu verstehen, dass er sich auf einen topologischen Schalter bezieht, welcher mithilfe von Halbleiterbauelementen wie beispielsweise Transistoren realisiert ist.The object is further achieved by a switch element comprising at least one, preferably at least two, semiconductor package(s) according to one of the previously described embodiments. The term "switch element" is to be understood in particular as referring to a topological switch implemented using semiconductor components such as transistors.

Die Aufgabe wird ferner gelöst durch ein Leistungselektroniksystem, welches zumindest ein Halbleiter-Paket gemäss eines der zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiele und/oder zumindest eines der zuvor beschriebenen Schalterelemente umfasst. Unter einem derartigen „Leistungselektroniksystem“ ist dabei insbesondere eine elektronische Brückenschaltung zu verstehen, beispielsweise eine B6-Brücke mit einem erfindungsgemässen Halbleiter-Paket pro Schalter oder eine B2-Brücke mit zwei erfindungsgemässen Halbleiter-Paketen pro Schalter oder eine B6-Brücke mit zwei erfindungsgemässen Halbleiter-Paketen pro Schalter. Auch kann das Leistungselektroniksystem eine Einzelhalbbrücke sein, welche zwei topologische Schalter umfasst, wobei jeder topologische Schalter von einem erfindungsgemässen Halbleiter-Paket gebildet wird.The object is further achieved by a power electronics system comprising at least one semiconductor package according to one of the previously described embodiments and/or at least one of the previously described switching elements. Such a "power electronics system" is understood to mean, in particular, an electronic bridge circuit, for example a B6 bridge with one semiconductor package according to the invention per switch, or a B2 bridge with two semiconductor packages according to the invention per switch, or a B6 bridge with two semiconductor packages according to the invention per switch. The power electronics system can also be a single half-bridge comprising two topological switches, each topological switch being formed by a semiconductor package according to the invention.

Die Aufgabe wird ferner gelöst durch ein Fahrzeug, umfassend ein erfindungsgemässes Halbleiter-Paket und/oder ein erfindungsgemässes Schalterelement und/oder ein erfindungsgemässes Leistungselektroniksystem.The object is further achieved by a vehicle comprising a semiconductor package according to the invention and/or a switch element according to the invention and/or a power electronics system according to the invention.

Kurze Beschreibung der ZeichnungenShort description of the drawings

Im Folgenden wird die Erfindung anhand von Zeichnungen kurz erläutert, wobei zeigen:

  • 1: eine schematische perspektivische Ansicht eines erfindungsgemässen Halbleiter-Pakets (schräge Draufsicht);
  • 2: eine andere schematische perspektivische Ansicht des Halbleiter-Pakets aus 1 (schräge Unteransicht);
  • 3: eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems (Draufsicht);
  • 4: eine schematische Seitenansicht Leistungselektroniksystems aus 3;
  • 5: eine schematische perspektivische Ansicht des Leistungselektroniksystems aus 3 (schräge Unteransicht);
  • 6: eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems in einer zweiten Ausführungsform (Draufsicht);
  • 7: eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems in einer dritten Ausführungsform (Draufsicht); und
  • 8: eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems in einer vierten Ausführungsform (Draufsicht).
In the following, the invention is briefly explained with reference to drawings, in which:
  • 1 : a schematic perspective view of a semiconductor package according to the invention (oblique top view);
  • 2 : another schematic perspective view of the semiconductor package from 1 (oblique bottom view);
  • 3 : a schematic view of a power electronics system according to the invention (top view);
  • 4 : a schematic side view of the power electronics system from 3 ;
  • 5 : a schematic perspective view of the power electronics system from 3 (oblique bottom view);
  • 6 : a schematic view of a power electronics system according to the invention in a second embodiment (top view);
  • 7 : a schematic view of a power electronics system according to the invention in a third embodiment (top view); and
  • 8 : a schematic view of a power electronics system according to the invention in a fourth embodiment (top view).

Beschreibung bevorzugter AusführungsbeispieleDescription of preferred embodiments

1 zeigt eine schematische perspektivische Ansicht eines erfindungsgemässen Halbleiter-Pakets 1 in einer ersten Ausführungsform. Das Halbleiter-Paket 1 umfasst ein Gehäuse 2. Von dem Gehäuse 2 ist eine Oberseite gezeigt, welche zwei Schienenkontakte 3.1, 3.2 und zwei Chipkontakte 4.1, 4.2 umfasst. Ferner umfasst das Halbleiter-Paket 1 einen Source-Kontaktpin 5 und einem Gate-Kontaktpin 6. Die in 1 in schräger Draufsicht gezeigte Oberseite des Gehäuses 2 zeigt somit einen Kontaktbereich des Halbleiter-Pakets 1, wobei dieser Kontaktbereich als Kontaktwand ausgebildet ist und eine Mehrzahl elektrischer Verbindungen, nämlich die Schienenkontakte 3.1, 3.2, die Chipkontakte 4.1, 4.2, den Source-Kontaktpin 5 und den Gate-Kontaktpin 6 umfasst. Ein Inneres des Halbleiter-Pakets ist in 1 nicht zu erkennen. Man kann sich vorstellen, dass die Schienenkontakte 3.1, 3.2 im Inneren des Gehäuses 2 leitend mit einem flächenförmigen Schienenbereich an einem Boden des Gehäuses 2 verbunden sein können. Auf diesen Schienenbereich, welcher somit über die Schienenkontakte 3.1, 3.2 mit einem ausserhalb des Gehäuses liegenden Leitersystem, beispielsweise einem Sammelschienensystem, verbunden werden kann, können dann verschiedene Halbleiterelemente aufgesetzt werden, welche in ihrer Gesamtheit die Halbleiterschaltung bilden können, welche in dem Halbleiter-Paket 1, insbesondere im Inneren des Gehäuses 2 angeordnet werden kann. Diese Halbleiterelemente der Halbleiterschaltung können dann direkt, d. h. ohne den Umweg über den flächenförmigen Schienenbereich, mithilfe der Chipkontakte 4.1, 4.2 kontaktiert werden. Mit anderen Worten sind die Chipkontakte 4.1, 4.2 geeignet, elektrisch mit einzelnen Halbleiterelementen der Halbleiterschaltung verbunden zu werden, insbesondere direkt und/oder ohne Umwege über andere Bauteile. 1 shows a schematic perspective view of a semiconductor package 1 according to the invention in a first embodiment. The semiconductor package 1 comprises a housing 2. A top side of the housing 2 is shown, which comprises two rail contacts 3.1, 3.2 and two chip contacts 4.1, 4.2. Furthermore, the semiconductor package 1 comprises a source contact pin 5 and a gate contact pin 6. The 1 The top side of the housing 2 shown in an oblique plan view thus shows a contact area of the semiconductor package 1, wherein this contact area is designed as a contact wall and comprises a plurality of electrical connections, namely the rail contacts 3.1, 3.2, the chip contacts 4.1, 4.2, the source contact pin 5 and the gate contact pin 6. An interior of the semiconductor package is shown in 1 not visible. It can be imagined that the rail contacts 3.1, 3.2 inside the housing 2 can be conductively connected to a planar rail region on a base of the housing 2. Various semiconductor elements can then be placed onto this rail region, which can thus be connected via the rail contacts 3.1, 3.2 to a conductor system located outside the housing, for example a busbar system, which can then be connected via the rail contacts 3.1, 3.2. These semiconductor elements as a whole can form the semiconductor circuit, which can be arranged in the semiconductor package 1, in particular inside the housing 2. These semiconductor elements of the semiconductor circuit can then be contacted directly, i.e. without the detour via the planar rail region, using the chip contacts 4.1, 4.2. In other words, the chip contacts 4.1, 4.2 are suitable for being electrically connected to individual semiconductor elements of the semiconductor circuit, in particular directly and/or without detours via other components.

Der Source-Kontaktpin 5 und der Gate-Kontaktpin 6 ragen von einem Inneren des Gehäuses 2 her durch die Kontaktwand des Gehäuses 2 hindurch. Auf der Innenseite des Gehäuses 2 sind die Kontaktpins 5, 6 typischerweise mit Steuerungskontakten der Halbleiterschaltung verbunden. Im in 1 gezeigten Ausführungsbeispiel sind die Kontaktpins 5, 6 räumlich getrennt voneinander angeordnet. Alternativ ist es auch möglich, die Kontaktpins 5, 6 nebeneinander anzuordnen, beispielsweise in einem Abstand von höchstens 12 mm, bevorzugt höchstens 8 mm, vorteilhafterweise höchstens 4 mm.The source contact pin 5 and the gate contact pin 6 protrude from the interior of the housing 2 through the contact wall of the housing 2. On the inside of the housing 2, the contact pins 5, 6 are typically connected to control contacts of the semiconductor circuit. 1 In the embodiment shown, the contact pins 5, 6 are arranged spatially separated from one another. Alternatively, it is also possible to arrange the contact pins 5, 6 next to one another, for example, at a distance of at most 12 mm, preferably at most 8 mm, advantageously at most 4 mm.

2 zeigt eine andere schematische perspektivische Ansicht des Halbleiter-Pakets 1 aus 1, nämlich eine schräge Unteransicht. Das in 1 von oben gezeigte Gehäuse 2 ist in 2 also von unten zu sehen. Es lässt sich erkennen, dass das Gehäuse 2 an seiner äusseren Unterseite eine Metallisierung 7 umfasst. Mithilfe der Metallisierung 7 kann Wärme, welche innerhalb des Halbleiter-Pakets 1 entsteht, auf vorteilhafte Weise an ein in 2 nicht gezeigtes Kühlelement abgeleitet werden. Die Unterseite des Gehäuses 2, auf welchem die Metallisierung 7 angeordnet ist, kann auch als Wärmeabfuhrwand bezeichnet werden. Die in 2 gezeigte Metallisierung 7 ist rechteckförmlich und kann beispielsweise aus Kupfer oder aus einer Kupferlegierung oder aus einer Kupferkeramik oder aus einem anderen Metall bestehen. Ferner sind in 2 noch die Kontaktpins 5, 6 zu erkennen, welche durch die Oberseite des Gehäuses 2 hindurchragen und somit in der in 2 gezeigten Ansicht nach unten zeigen. 2 shows another schematic perspective view of the semiconductor package 1 from 1 , namely an oblique bottom view. The 1 Housing 2 shown from above is in 2 i.e. seen from below. It can be seen that the housing 2 comprises a metallization 7 on its outer underside. With the help of the metallization 7, heat that arises within the semiconductor package 1 can be advantageously transferred to a 2 The underside of the housing 2, on which the metallization 7 is arranged, can also be referred to as a heat dissipation wall. 2 The metallization 7 shown is rectangular and can be made of copper, a copper alloy, a copper ceramic, or another metal. 2 the contact pins 5, 6 can still be seen, which protrude through the top of the housing 2 and thus in the 2 shown view pointing downwards.

3 zeigt eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems 8 in Draufsicht. Das Leistungselektroniksystem 8 umfasst zwei erfindungsgemässe Halbleiter-Pakete 1, welche im in 3 gezeigten Ausführungsbeispiel identisch sind, weswegen sie mit gleichem Bezugszeichen, nämlich dem Bezugszeichen „1", bezeichnet sind. Die Halbleiter-Pakete 1 entsprechen in typischen Ausführungsformen dem in 1 und 2 gezeigten Halbleiter-Paket 1. Die Halbleiter-Pakete 1 sind in Aufnahmeplätzen eines Sammelschienensystems angeordnet. Das Sammelschienensystem umfasst eine Wechselstrom-Sammelschiene 9, eine positive Gleichstrom-Sammelschiene 10 und eine negative Gleichstrom-Sammelschiene 11. Die positive Gleichstrom-Sammelschiene 10 ist typischerweise mit dem Pluspol einer in 3 nicht gezeigten Batterie verbunden. Die negative Gleichstrom-Sammelschiene 11 ist typischerweise mit dem Minuspol eben dieser Batterie verbunden. Die Wechselstrom-Sammelschiene 9 ist beispielsweise mit einem Elektromotor verbunden, welcher ein Fahrzeug antreiben kann. Die Aufgabe der Halbleiter-Pakete 1 ist es in dieser Konfiguration, den von der Batterie zur Verfügung gestellten Gleichstrom in einen Wechselstrom umzuwandeln und diesen in der Wechselstrom-Sammelschiene 9 zur Verfügung zu stellen. Die Kontakte zwischen den Halbleiter-Paketen 1 und der Wechselstrom-Sammelschiene 9 werden dabei über die Kontaktclips 12.1, 12.2, 12.3 und über die Wechselstrom-Sammelschiene 9 selbst hergestellt. Mit anderen Worten kontaktiert die Wechselstrom-Sammelschiene 9 den Schienenkontakt des in 3 unteren Halbleiter-Pakets 1, der Kontaktclip 12.1 kontaktiert den oberen Schienenkontakt dieses Halbleiter-Pakets 1, und die Kontaktclips 12.2, 12.3 kontaktieren die Chipkontakte des oberen Halbleiter-Pakets 1. Zudem umfasst das Sammelschienensystem in 3 und insbesondere die negative Gleichstrom-Sammelschiene 11 ebenfalls zwei Kontaktclips 13.1, 13.2. Diese Kontaktclips 13.1, 13.2 kontaktieren die Chipkontakte des unteren Halbleiter-Pakets 1 von links und von rechts. Die positive Gleichstrom-Sammelschiene 10 ist direkt leitend mit einem der Schienenkontakte des Halbleiter-Pakets 1, welches in 3 oben liegt, verbunden. Die Kombination aus den beiden Halbleiter-Paketen 1 und dem Sammelschienensystem ist auf einem Kühlelement 14 angeordnet. An dieses Kühlelement 14 wird Abwärme, welche innerhalb der Halbleiter-Pakete 1 entsteht, abgeleitet. Da auch das Sammelschienensystem über die großflächigen Kontaktclips beziehungsweise die Sammelschienen selbst mit der Halbleiterschaltung im Inneren der Halbleiter-Pakete 1 verbunden ist, wird auch dieses Sammelschienensystem von dem Kühlelement 14 gekühlt. 3 shows a schematic view of a power electronics system 8 according to the invention in plan view. The power electronics system 8 comprises two semiconductor packages 1 according to the invention, which are arranged in 3 shown embodiment are identical, which is why they are designated by the same reference numeral, namely the reference numeral "1". The semiconductor packages 1 correspond in typical embodiments to the 1 and 2 shown semiconductor package 1. The semiconductor packages 1 are arranged in receiving locations of a busbar system. The busbar system comprises an AC busbar 9, a positive DC busbar 10 and a negative DC busbar 11. The positive DC busbar 10 is typically connected to the positive pole of a 3 not shown Battery. The negative DC busbar 11 is typically connected to the negative terminal of this battery. The AC busbar 9 is connected, for example, to an electric motor that can drive a vehicle. The task of the semiconductor packages 1 in this configuration is to convert the direct current provided by the battery into an alternating current and to make this available in the AC busbar 9. The contacts between the semiconductor packages 1 and the AC busbar 9 are established via the contact clips 12.1, 12.2, 12.3 and via the AC busbar 9 itself. In other words, the AC busbar 9 contacts the rail contact of the 3 lower semiconductor package 1, the contact clip 12.1 contacts the upper rail contact of this semiconductor package 1, and the contact clips 12.2, 12.3 contact the chip contacts of the upper semiconductor package 1. In addition, the busbar system in 3 and in particular, the negative DC busbar 11 also has two contact clips 13.1, 13.2. These contact clips 13.1, 13.2 contact the chip contacts of the lower semiconductor package 1 from the left and right. The positive DC busbar 10 is directly conductive with one of the rail contacts of the semiconductor package 1, which is in 3 The combination of the two semiconductor packages 1 and the busbar system is arranged on a cooling element 14. Waste heat generated within the semiconductor packages 1 is dissipated to this cooling element 14. Since the busbar system is also connected to the semiconductor circuit inside the semiconductor packages 1 via the large-area contact clips or the busbars themselves, this busbar system is also cooled by the cooling element 14.

4 zeigt eine schematische Seitenansicht des Leistungselektroniksystems 8 aus 3. In 4 sind wiederum die zwei Halbleiter-Pakete 1 dargestellt. Es lässt sich erkennen, dass beide Halbleiter-Pakete 1 auf dem quaderförmigen Kühlelement 14 angeordnet sind, so dass die Rückseitenmetallisierungen der Halbleiter-Pakete 1 mit dem Kühlelement 14 in Kontakt sind. Dies ist in 4 jedoch nicht zu erkennen. In 4 ist zudem das Sammelschienensystem gezeigt, welches insbesondere die Wechselstrom-Sammelschiene 9, die positive Gleichstrom-Sammelschiene 10 und die negative Gleichstrom-Sammelschiene 11 umfasst. Was die anderen in 4 gezeigten Komponenten des Leistungselektroniksystems 8 angeht, so wird auf die vorhergehenden Figuren, insbesondere 3, verwiesen. 4 shows a schematic side view of the power electronics system 8 from 3 . In 4 The two semiconductor packages 1 are again shown. It can be seen that both semiconductor packages 1 are arranged on the cuboid-shaped cooling element 14, so that the rear-side metallizations of the semiconductor packages 1 are in contact with the cooling element 14. This is shown in 4 However, it is not recognizable. In 4 The busbar system is also shown, which includes in particular the AC busbar 9, the positive DC busbar 10 and the negative DC busbar 11. As for the other 4 As regards the components of the power electronics system 8 shown, reference is made to the preceding figures, in particular 3 , referred to.

5 zeigt eine schematische perspektivische Ansicht des Leistungselektroniksystems 8 aus 3 in einer schrägen Unteransicht. In 5 sind wiederum die beiden Halbleiter-Pakete 1 gezeigt. Das Kühlelement 14 ist in 5 nicht dargestellt. Dadurch ist erkennbar, dass jedes Halbleiter-Paket 1 eine Metallisierung 7 auf seiner jeweiligen Unterseite umfasst. Von dem Sammelschienensystem, unterhalb welches die beiden Halbleiter-Pakete 1 angeordnet sind, sind in 5 wiederum die Wechselstrom-Sammelschiene 9, die positive Gleichstrom-Sammelschiene 10 sowie die negative Gleichstrom-Sammelschiene 11 dargestellt. Zudem sind in 5 eine erste Isolationsfolie 15 und eine zweite Isolationsfolie 16 dargestellt. Die erste Isolationsfolie 15 isoliert die Halbleiter-Pakete 1 elektrisch von den Sammelschienen 9, 10, 11. Die zweite Isolationsfolie 16 isoliert die negative Gleichstrom-Sammelschiene 11 von der Wechselstrom-Sammelschiene 9. 5 shows a schematic perspective view of the power electronics system 8 from 3 in an oblique view from below. In 5 The two semiconductor packages 1 are shown again. The cooling element 14 is in 5 not shown. This shows that each semiconductor package 1 comprises a metallization 7 on its respective underside. Of the busbar system, below which the two semiconductor packages 1 are arranged, 5 The AC busbar 9, the positive DC busbar 10 and the negative DC busbar 11 are shown. In addition, 5 a first insulation film 15 and a second insulation film 16 are shown. The first insulation film 15 electrically insulates the semiconductor packages 1 from the busbars 9, 10, 11. The second insulation film 16 insulates the negative DC busbar 11 from the AC busbar 9.

6 zeigt eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems 8.1 in einer zweiten Ausführungsform in Draufsicht. Das Leistungselektroniksystems 8.1 in 6 kann als B2-Brücke mit zwei Halbleiter-Paketen 1 pro Schalter bezeichnet werden. Mit anderen Worten bilden jeweils zwei Halbleiter-Pakete 1 einen topologischen Schalter, welcher auch als Schalterelement bezeichnet werden kann. 6 shows a schematic view of a power electronics system 8.1 according to the invention in a second embodiment in plan view. The power electronics system 8.1 in 6 can be described as a B2 bridge with two semiconductor packages 1 per switch. In other words, two semiconductor packages 1 form a topological switch, which can also be referred to as a switching element.

7 zeigt eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems 8.2 in einer dritten Ausführungsform in Draufsicht. Insbesondere ist in 7 eine B6-Brücke mit jeweils einem Halbleiter-Paket 1 pro Schalter gezeigt. 7 shows a schematic view of a power electronics system 8.2 according to the invention in a third embodiment in plan view. In particular, 7 a B6 bridge with one semiconductor package 1 per switch is shown.

8 zeigt eine schematische Ansicht eines erfindungsgemässen Leistungselektroniksystems 8.3 in einer vierten Ausführungsform. Insbesondere ist in 8 ein Leistungselektroniksystem 8.3 mit insgesamt zwölf identischen Halbleiter-Paketen 1 gezeigt. Von diesen zwölf identischen Halbleiter-Paketen 1 ist der besseren Übersicht halber nur eines, nämlich das rechts unten liegende, mit dem Bezugszeichen „1“ bezeichnet. Die in 8 gezeigte Ausführungsform des Leistungselektroniksystems 8.3 kann als B6-Brücke mit jeweils zwei Halbleiter-Paketen 1 pro Schalterelement bezeichnet werden. Insbesondere entspricht die Ausführungsform in 8 einem Vollbrückenmodul mit drei Phasen, welches zwei Halbleiter-Pakete 1 pro Schalter umfasst und welches beispielsweise geeignet ist, einen Drehstrommotor anzutreiben. 8 shows a schematic view of a power electronics system 8.3 according to the invention in a fourth embodiment. In particular, 8 a power electronics system 8.3 with a total of twelve identical semiconductor packages 1 is shown. For the sake of clarity, only one of these twelve identical semiconductor packages 1, namely the one located at the bottom right, is designated with the reference symbol "1". 8 The embodiment of the power electronics system 8.3 shown can be described as a B6 bridge with two semiconductor packages 1 per switching element. In particular, the embodiment in 8 a full-bridge module with three phases, which comprises two semiconductor packages 1 per switch and which is suitable, for example, to drive a three-phase motor.

Die Erfindung ist nicht auf die beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt. Der Schutzumfang wird durch die Patentansprüche definiert.The invention is not limited to the described embodiments. The scope of protection is defined by the patent claims.

BezugszeichenReference symbol

11
Halbleiter-PaketSemiconductor package
22
GehäuseHousing
3.1, 3.23.1, 3.2
SchienenkontakteRail contacts
4.1, 4.24.1, 4.2
ChipkontakteChip contacts
55
Source-KontaktpinSource contact pin
66
Gate-KontaktpinGate contact pin
77
Metallisierung (der Wärmeabfuhrwand)Metallization (of the heat dissipation wall)
8, 8.1, 8.2, 8.38, 8.1, 8.2, 8.3
LeistungselektroniksystemPower electronics system
99
Wechselstrom-SammelschieneAC busbar
1010
positive Gleichstrom-Sammelschienepositive DC busbar
1111
negative Gleichstrom-Sammelschienenegative DC busbar
12.1, 12.2, 12.312.1, 12.2, 12.3
Kontaktclips (der Wechselstrom-Sammelschiene)Contact clips (of the AC busbar)
13.1, 13.213.1, 13.2
Kontaktclips (der negativen Gleichstrom-Sammelschiene)Contact clips (of the negative DC busbar)
1414
KühlelementCooling element
1515
erste Isolationsfoliefirst insulation film
1616
zweite Isolationsfoliesecond insulation film

Claims (10)

Halbleiter-Paket (1), wobei das Halbleiter-Paket (1) geeignet ist, eine Halbleiterschaltung aufzunehmen, wobei das Halbleiter-Paket (1) geeignet ist, in einen Aufnahmeplatz eines Sammelschienensystems eingesetzt zu werden, wobei das Halbleiter-Paket (1) einen Kontaktbereich umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass der Kontaktbereich geeignet ist, eine Mehrzahl elektrischer Verbindungen zwischen dem Sammelschienensystem und der Halbleiterschaltung zu vermitteln, wenn das Halbleiter-Paket (1) in den Aufnahmeplatz eingesetzt ist.Semiconductor package (1), wherein the semiconductor package (1) is suitable for receiving a semiconductor circuit, wherein the semiconductor package (1) is suitable for being inserted into a receiving location of a busbar system, wherein the semiconductor package (1) comprises a contact region, characterized in that the contact region is suitable for mediating a plurality of electrical connections between the busbar system and the semiconductor circuit when the semiconductor package (1) is inserted into the receiving location. Halbleiter-Paket (1) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Halbleiter-Paket (1) ein Gehäuse (2) umfasst, wobei das Gehäuse den Kontaktbereich umfasst, wobei der Kontaktbereich bevorzugt eine Kontaktwand ist.Semiconductor package (1) to Claim 1 , characterized in that the semiconductor package (1) comprises a housing (2), wherein the housing comprises the contact region, wherein the contact region is preferably a contact wall. Halbleiter-Paket (1) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2) im Wesentlichen quaderförmig ist, wobei das Gehäuse (2) bevorzugt eine Oberseite und eine der Oberseite gegenüberliegende Unterseite und vier Seitenwände umfasst, wobei die Oberseite bevorzugt die Kontaktwand umfasst.Semiconductor package (1) to Claim 2 , characterized in that the housing (2) is substantially cuboid-shaped, wherein the housing (2) preferably comprises an upper side and a lower side opposite the upper side and four side walls, wherein the upper side preferably comprises the contact wall. Halbleiter-Paket (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Halbleiter-Paket (1) eine Wärmeabfuhrwand umfasst, - wobei die Unterseite bevorzugt die Wärmeabfuhrwand umfasst, und/oder - wobei die Wärmeabfuhrwand geeignet ist, eine bei einem Betrieb der Halbleiterschaltung und/oder bei einem Betrieb des Sammelschienensystems entstehende Wärme aus dem Halbleiter-Paket (1) abzuleiten.Semiconductor package (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the semiconductor package (1) comprises a heat dissipation wall, - wherein the underside preferably comprises the heat dissipation wall, and/or - wherein the heat dissipation wall is suitable for dissipating heat generated during operation of the semiconductor circuit and/or during operation of the busbar system from the semiconductor package (1). Halbleiter-Paket (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Kontaktbereich, bevorzugt die Kontaktwand, eine Mehrzahl an Einzelkontaktflächen (3.1, 3.2, 4.1, 4.2) umfasst, wobei der Kontaktbereich, bevorzugt die Kontaktwand, bevorzugt vier Einzelkontaktflächen (3.1, 3.2, 4.1, 4.2) umfasst.Semiconductor package (1) according to one of the preceding claims, characterized in that the contact region, preferably the contact wall, comprises a plurality of individual contact surfaces (3.1, 3.2, 4.1, 4.2), wherein the contact region, preferably the contact wall, preferably comprises four individual contact surfaces (3.1, 3.2, 4.1, 4.2). Halbleiter-Paket (1) nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Mehrzahl an Einzelkontaktflächen (3.1, 3.2, 4.1, 4.2) zwei Chipkontakte (4.1, 4.2) und/oder zwei Schienenkontakte (3.1, 3.2) umfasst, wobei das Halbleiter-Paket (1) bevorzugt derart ausgebildet ist, dass die Chipkontakte (4.1, 4.2) geeignet sind, elektrisch mit einzelnen Halbleiterelementen der Halbleiterschaltung verbunden zu werden und/oder wobei das Halbleiter-Paket (1) bevorzugt derart ausgebildet ist, dass die Schienenkontakte (3.1, 3.2) geeignet sind, mit einem flächenförmigen Schienenbereich der Halbleiterschaltung verbunden zu werden, wobei die Halbleiterelemente bevorzugt auf dem flächenförmigen Schienenbereich angeordnet sind.Semiconductor package (1) to Claim 5 , characterized in that the plurality of individual contact surfaces (3.1, 3.2, 4.1, 4.2) comprises two chip contacts (4.1, 4.2) and/or two rail contacts (3.1, 3.2), wherein the semiconductor package (1) is preferably designed such that the chip contacts (4.1, 4.2) are suitable for being electrically connected to individual semiconductor elements of the semiconductor circuit and/or wherein the semiconductor package (1) is preferably designed such that the rail contacts (3.1, 3.2) are suitable for being connected to a planar rail region of the semiconductor circuit, wherein the semiconductor elements are preferably arranged on the planar rail region. Halbleiter-Paket (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass - das Halbleiter-Paket (1) einen Source-Kontaktpin (5) und/oder einen Gate-Kontaktpin (6) umfasst, - wobei der Source-Kontaktpin (5) und/oder der Gate-Kontaktpin (6) bevorzugt mit Steuerungskontakten der Halbleiterschaltung verbunden sind, und/oder - wobei der Source-Kontaktpin (5) und/oder der Gate-Kontaktpin (6) vorzugsweise durch die Kontaktwand hindurchragen.Semiconductor package (1) according to one of the preceding claims, characterized in that - the semiconductor package (1) comprises a source contact pin (5) and/or a gate contact pin (6), - wherein the source contact pin (5) and/or the gate contact pin (6) are preferably connected to control contacts of the semiconductor circuit, and/or - wherein the source contact pin (5) and/or the gate contact pin (6) preferably protrude through the contact wall. Schalterelement, umfassend zumindest ein, bevorzugt zumindest zwei Halbleiter-Paket(e) (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche.Switch element comprising at least one, preferably at least two semiconductor packages (1) according to one of the preceding claims. Leistungselektroniksystem (8), umfassend zumindest ein Schalterelement nach Anspruch 8 und/oder zumindest ein Halbleiter-Paket (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 7.Power electronics system (8), comprising at least one switch element according to Claim 8 and/or at least one semiconductor package (1) according to one of the Claims 1 until 7 . Fahrzeug, umfassend eine Mehrzahl an Halbleiter-Paketen (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 7 und/oder eine Mehrzahl an Schalterelementen nach Anspruch 8 und/oder ein Leistungselektroniksystem (8) nach Anspruch 9.Vehicle comprising a plurality of semiconductor packages (1) according to one of the Claims 1 until 7 and/or a plurality of switch elements according to Claim 8 and/or a power electronics system (8) according to Claim 9 .
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP4084587A1 (en) * 2021-04-30 2022-11-02 STMicroelectronics Pte Ltd. Method of manufacturing electronic devices and corresponding electronic device
DE102021006617A1 (en) * 2021-07-01 2023-01-05 Vitesco Technologies Germany Gmbh Method for producing a power half-bridge module, power half-bridge module, power inverter with a power half-bridge module

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