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DE102013216303A1 - Sputtering target, apparatus for attaching a sputtering target, method for detecting the release of a sputtering material and manufacturing method - Google Patents

Sputtering target, apparatus for attaching a sputtering target, method for detecting the release of a sputtering material and manufacturing method Download PDF

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DE102013216303A1
DE102013216303A1 DE201310216303 DE102013216303A DE102013216303A1 DE 102013216303 A1 DE102013216303 A1 DE 102013216303A1 DE 201310216303 DE201310216303 DE 201310216303 DE 102013216303 A DE102013216303 A DE 102013216303A DE 102013216303 A1 DE102013216303 A1 DE 102013216303A1
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DE
Germany
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hole
sputtering
carrier
sputtering target
back plate
Prior art date
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Withdrawn
Application number
DE201310216303
Other languages
German (de)
Inventor
Thomas Scholl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Heraeus Deutschland GmbH and Co KG
Original Assignee
Heraeus Materials Technology GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Heraeus Materials Technology GmbH and Co KG filed Critical Heraeus Materials Technology GmbH and Co KG
Priority to DE201310216303 priority Critical patent/DE102013216303A1/en
Priority to PCT/EP2014/065927 priority patent/WO2015022166A1/en
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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Sputtertarget (1), insbesondere rundes oder eckiges Planartarget, mit einem Träger, insbesondere mit einer Rückplatte (8), und einem Sputtermaterial (9), wobei der Träger mit dem Sputtermaterial (9) verbunden ist. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass zumindest der Träger zumindest ein durch den Träger vollständig hindurchgehendes Loch (12, 12a) aufweist, so dass mit Hilfe des Loches (12, 12a) ein Lösen der Verbindung zwischen Träger und Sputtermaterial (9) feststellbar ist. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Vorrichtung (2, 2a) zum Befestigen eines Sputtertargets und ein Verfahren zum Erkennen des Lösens eines Sputtermaterials (9) von einem Träger eines Sputtertargets (1) und ein Verfahren zu Herstellung eines Sputtertargets (1).The invention relates to a sputtering target (1), in particular a round or angular planar target, with a carrier, in particular with a back plate (8), and a sputtering material (9), wherein the carrier is connected to the sputtering material (9). According to the invention, it is provided that at least the carrier has at least one hole (12, 12a) passing completely through the carrier so that a release of the connection between carrier and sputtering material (9) can be detected with the aid of the hole (12, 12a). Furthermore, the invention relates to a device (2, 2a) for fixing a sputtering target and a method for detecting the release of a sputtering material (9) from a carrier of a sputtering target (1) and a method for producing a sputtering target (1).

Description

Die Erfindung betrifft ein Sputtertarget, insbesondere rundes oder eckiges Planartarget, mit einem Träger, insbesondere mit einer Rückplatte, und einem Sputtermaterial, wobei der Träger mit dem Sputtermaterial verbunden ist. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Befestigen eines Sputtertargets an einer Halteplatte, vorzugsweise an einer Kühlplatte, wobei die Halteplatte oder das Sputtertarget zumindest zwei Dichtungsnuten aufweist, in denen jeweils ein Dichtungsring positioniert ist. Ferner betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Befestigen eines Sputtertargets an einer Halteplatte, vorzugsweise an einer Kühlplatte, wobei die Halteplatte oder das Sputtertarget zumindest eine Dichtungsnut aufweist, in der ein Dichtungsring positioniert ist. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Erkennen des Lösens eines Sputtermaterials von einem Träger, insbesondere einer Rückplatte, eines Sputtertargets mit Hilfe einer Vorrichtung. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Herstellung eines Sputtertargets zum Erkennen des Lösens eines Sputtermaterials von einem Träger, insbesondere einer Rückplatte, eines Sputtertargets.The invention relates to a sputtering target, in particular round or angular Planar target, with a carrier, in particular with a back plate, and a sputtering material, wherein the carrier is connected to the sputtering material. Furthermore, the invention relates to a device for fastening a sputtering target to a holding plate, preferably to a cooling plate, wherein the holding plate or the sputtering target has at least two sealing grooves, in each of which a sealing ring is positioned. Furthermore, the invention relates to a device for fastening a sputtering target to a holding plate, preferably to a cooling plate, wherein the holding plate or sputtering target has at least one sealing groove in which a sealing ring is positioned. Furthermore, the invention relates to a method for detecting the release of a sputtering material from a carrier, in particular a backplate, of a sputtering target by means of a device. Furthermore, the invention relates to a method for producing a sputtering target for detecting the release of a sputtering material from a carrier, in particular a backplate, of a sputtering target.

Aus der DE 10 2008 046 443 A1 ist ein Sputtertarget mit einem Trägerkörper und einem Sputtermaterial bekannt, wobei das Sputtermaterial mittels mindestens einer Verbindungsschicht auf dem Trägerkörper fixiert ist. Zur Herstellung der festen Verbindungsschicht können flüssige Ausgangsstoffe verwendet werden, beispielsweise Lote, Kleber oder Verfüllmassen. Alternativ ist es gemäß der DE 10 2008 046 443 A1 möglich, dass die Verbindungsschicht als Hauptbestandteil ihrer Bindephase mindestens ein anorganisches Oxid und/oder ein Silikat enthält.From the DE 10 2008 046 443 A1 a sputtering target with a carrier body and a sputtering material is known, wherein the sputtering material is fixed on the carrier body by means of at least one connecting layer. Liquid starting materials, for example solders, adhesives or filling compounds, can be used to produce the solid bonding layer. Alternatively, it is according to the DE 10 2008 046 443 A1 possible that the compound layer contains as the main constituent of its binder phase at least one inorganic oxide and / or a silicate.

Aus der DE 44 26 751 A1 ist eine Vorrichtung zum Befestigen einer erwärmbaren, mindestens zwei miteinander fest verbundene Schichtlagen aufweisende und vorzugsweise zum Einsatz als großflächiges Kathodenzerstäubungstarget dienende Plattenanordnung bekannt. Das Sputtermaterial und der Träger sind dabei an einer Kühlplatte mit Schrauben lösbar verbunden.From the DE 44 26 751 A1 is a device for attaching a heatable, at least two mutually firmly bonded layers containing and preferably serving for use as a large-area cathode sputter target plate assembly known. The sputtering material and the carrier are detachably connected to a cooling plate with screws.

In den Schraubenkopf selbst ist eine umlaufende Nut eingelassen, in der sich ein Dichtring befindet.In the screw head itself, a circumferential groove is recessed, in which a sealing ring is located.

Generell ist aus dem Stand der Technik bekannt, dass in die Rückplatte eines Sputtertargets oder in die Kühlplatte einer Vorrichtung zum Sputtern zumindest eine umlaufende Nut eingelassen ist, in der sich ein Dichtungsring befindet.Generally, it is known from the prior art that in the back plate of a sputtering target or in the cooling plate of a device for sputtering at least one circumferential groove is recessed, in which there is a sealing ring.

Nachteilig bei dem heutzutage bekannten Stand der Technik ist, dass ein Ablösen des Sputtertargets, ausgelöst beispielsweise in Form einer Deformation der Oberfläche des Sputtermaterials durch zu hohen Kühlwasserdruck und/oder falsche Prozessparameter, und/oder ein Abfallen eines Teils des Sputtermaterials oder des gesamten Sputtermaterials von dem Träger nur mit hohem Aufwand festgestellt werden kann. Dieser Aufwand zeigt sich beispielsweise darin, dass messtechnisch aufwendige zusätzliche Vorrichtungen in einer Sputteranlage verwendet werden müssen, die bislang noch nicht existieren. Derzeit wird beispielsweise in der Elektronikindustrie ein solcher Anlagenfehler in Form eines veränderten Sputtertargets erst zeitlich verzögert und bei nachfolgenden Prozessschritten festgestellt, beispielsweise bei zeitlich nachfolgenden Prozessschritten nach der Beschichtung durch Sputtertechnik bei einem Wafer. Dadurch werden eine Vielzahl an Wafern als Ausschuss produziert, bevor die Veränderung des Sputtertargets bemerkt wird.A disadvantage of the prior art known today is that detachment of the sputtering target, triggered for example in the form of deformation of the surface of the sputtering material due to excessive cooling water pressure and / or incorrect process parameters, and / or falling off of a portion of the sputtering material or the entire sputtering of the carrier can be determined only with great effort. This effort is evident, for example, in that metrologically expensive additional devices must be used in a sputtering system that does not yet exist. At present, for example, in the electronics industry, such a system error in the form of a modified sputtering target is only delayed in time and detected in subsequent process steps, for example in temporally subsequent process steps after coating by sputtering on a wafer. As a result, a large number of wafers are produced as scrap before the change in the sputtering target is noticed.

Die Aufgabe der Erfindung ist es daher, oberhalb genannte Nachteile zu verhindern oder zumindest zu reduzieren und des Weiteren eine einfache, kostengünstige und schnelle Möglichkeit zu schaffen, mittels der eine Veränderung der Verbindung von Sputtermaterial zu Träger des Sputtertargets festgestellt werden kann.The object of the invention is therefore to prevent or at least reduce above-mentioned disadvantages and furthermore to provide a simple, cost-effective and rapid possibility by means of which a change in the connection of sputtering material to carrier of the sputtering target can be ascertained.

Die Aufgabe der Erfindung wird zum Einen dadurch gelöst, dass zumindest der Träger zumindest ein durch den Träger vollständig hindurchgehendes Loch aufweist, so dass mit Hilfe des Loches ein Lösen der Verbindung zwischen Träger und Sputtermaterial feststellbar ist. Die Funktion des Loches ist es dabei eine Möglichkeit zu schaffen, dass Gas durch das Loch hindurch austauschbar ist, wobei dieses Merkmal in Form zumindest eines Loches zwingend notwendig ist und die einzige Aufgabe dieses Loches beschreibt, um den Gasaustausch zu ermöglichen, wenn das Loch nicht verschlossen oder abgedeckt ist. Folglich ist mit Hilfe des Loches ein Lösen der Verbindung zwischen Träger und Sputtermaterial feststellbar ist. Eine andere oder weitere Funktion wie Befestigungsfunktion oder dergleichen von Träger mit Sputtermaterial oder von Träger mit Halteplatte hat dieses Loch nicht.The object of the invention is achieved, on the one hand, in that at least the carrier has at least one hole which passes completely through the carrier, so that a detachment of the connection between carrier and sputtering material can be detected with the aid of the hole. The function of the hole is thereby to provide a way of allowing gas to be interchangeable through the hole, this feature being absolutely necessary in the form of at least one hole and describing the sole function of this hole to allow gas exchange if the hole does not closed or covered. Consequently, with the help of the hole, a release of the connection between the carrier and sputtering material can be determined. Another or other function such as attachment function or the like of carrier with sputtering material or carrier with holding plate does not have this hole.

Die Aufgabe der Erfindung wird des Weiteren mit Hilfe einer Vorrichtung dadurch gelöst, dass die Halteplatte zumindest ein durch die Halteplatte vollständig hindurchgehendes Loch aufweist, wobei das Loch zwischen den beiden Dichtungsnuten positioniert ist.The object of the invention is further achieved by means of a device in that the holding plate has at least one hole passing completely through the holding plate, wherein the hole is positioned between the two sealing grooves.

Ferner wird die Aufgabe der Erfindung durch eine alternative Vorrichtung dadurch gelöst, dass die Halteplatte auf der Oberseite der Halteplatte zumindest eine Vertiefung, vorzugsweise eine Senke zur Aufnahme von Gas, vorzugsweise Umgebungsluft, aufweist.Furthermore, the object of the invention by an alternative device is achieved in that the holding plate on the top of the holding plate at least one recess, preferably a recess for receiving gas, preferably ambient air.

Des Weiteren wird die Aufgabe der Erfindung auch mit Hilfe eines erfindungsgemäßen Verfahrens dadurch gelöst, dass beim vollständigen oder teilweisen Lösen des Sputtermaterials von dem Träger zumindest ein Loch in dem Träger freigelegt wird, so dass zwischen Unterseite des Trägers und Oberseite des Trägers durch das Loch hindurch ein Austausch von Gas durchgeführt wird. Furthermore, the object of the invention is also achieved with the aid of a method according to the invention in that at least one hole in the carrier is exposed during complete or partial release of the sputter material from the carrier, so that between the underside of the carrier and the top of the carrier through the hole an exchange of gas is carried out.

Ferner wird die Aufgabe der Erfindung auch mit Hilfe eines erfindungsgemäßens Verfahrens dadurch gelöst, dass der Träger und das Sputtermaterial mittels einer Verbindungsschicht, vorzugsweise mittels einer Verbindungsschicht aufweisend eine Komponente oder aufweisend eine Kombination von unterschiedlichen Komponenten, vorzugsweise aufweisend eine Lotschicht und aufweisend eine Beschichtung jeweils im Bereich des Trägers und des Sputtermaterials, miteinander verbunden werden und anschließend durch zumindest ein Loch im Bereich des Trägers zumindest ein Loch in die Verbindungsschicht oder durch die Verbindungsschicht vollständig hindurch und/oder zumindest eine Höhle in das Sputtermaterial eingebracht wird, vorzugsweise gebohrt wird. Durch zumindest ein Loch im Bereich des Trägers bedeutet, dass durch dieses Loch im Bereich des Trägers hindurch ein anderes Loch, beispielsweise als eine Ausführungsvariante ein Loch nur in die Verbindungsschicht, eingebracht wird. Es ist möglich, dass die Höhle als Ende eines Sacklochs einer Bohrung ausgebildet ist.Furthermore, the object of the invention is also achieved by means of a method according to the invention in that the carrier and the sputtering material by means of a bonding layer, preferably by means of a bonding layer comprising a component or comprising a combination of different components, preferably comprising a solder layer and having a coating in each case Area of the support and the sputtering material are joined together and then at least one hole in the connection layer or through the connection layer completely through and / or at least one cavity is introduced into the sputtering material, preferably by drilling at least one hole in the region of the support. By means of at least one hole in the region of the carrier means that another hole, for example as a variant embodiment, a hole is only introduced into the connecting layer through this hole in the area of the carrier. It is possible that the cavity is formed as the end of a blind hole of a bore.

In den abhängigen Ansprüchen der unabhängigen Patentansprüche sind jeweils bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung beansprucht. Nachfolgend werde diese bevorzugten Ausführungsformen beschrieben.In the dependent claims of the independent claims each preferred embodiments of the invention are claimed. Hereinafter, these preferred embodiments will be described.

Vorteilhaft ist, dass mit Hilfe des zumindest einen Loches jeweils in der Halteplatte und der Rückplatte und einem Teil des Sputtermaterials es einfach, kostengünstig und schnell feststellbar ist, dass sich das Sputtermaterial von dem Träger des Sputtertargets teilweise oder vollständig gelöst hat, wobei die Höhle dabei einen Teil des Loches bildet. Das Loch oder die Löcher sind einfach während der Herstellung des Sputtertargets in die Rückplatte, die Verbindungsschicht und/oder das Sputtermaterial oder, wenn die Rückplatte ein Loch oder mehrere Löcher schon aufweist, nur in die Verbindungsschicht und/oder das Sputtermaterial einfach einbringbar. Es ist somit möglich, jeweils neue Sputtertargets herzustellen und schon verwendete Rückplatten wiederzuverwerten und anschließend erneut zu verwenden. Bei den wiederverwendeten Rückplatten weist in der Regel die Rückplatte schon zumindest ein Loch auf, so dass in die Verbindungsschicht und/oder in das ausgetauschte Sputtermaterial auf der Rückplatte ein Loch in Form einer Höhle eingebracht wird. Bei einem neuen Sputtertarget wird bevorzugt in einem Verfahrensschritt in den Träger ein vollständig durchgehendes Loch eingebracht und in die Verbindungsschicht wird ein Loch und/oder in das Sputtermaterial wird ein Loch in Form einer Höhle eingebracht. Es ist somit möglich, einfach neue Sputtertargets herzustellen und schon verwendete Rückplatte wiederzuverwerten. Des Weiteren tritt keine Qualitätsminderung während des Sputtern durch die geometrische Veränderung in Form des Lochs oder der Löcher bei der Verwendung des Sputtertargets auf, so dass kontinuierlich während des Sputterns gleichbleibende Prozessqualität gewährleistet wird. Ferner sind auch keine messtechnisch aufwendigen Einheiten in einer Sputtervorrichtung, die vorzugsweise im Vakuum betrieben wird, notwendig, da bei einer Änderung des Zustandes des Sputtertargets, insbesondere in Form des Lösens von Sputtermaterial vom Träger, der Kammerzustand der Sputtervorrichtung in der Art geändert wird, dass ein Austausch von Gas zwischen Umgebung und Sputterkammer stattfindet. Diese ist einfach, kostengünstig und in der Regel ohne zusätzliche Messeinrichtung mit den schon vorhandenen Anlagenkomponenten einer Sputteranlage feststellbar. Es ist somit auch vorteilhaft möglich, schon verwendete Sputtervorrichtungen mit dem in der Anmeldung beanspruchten Sputtertarget zu verwenden, wobei die Anlagenkomponenten gegebenenfalls auf die Feststellung eines Druckabfalls in der Kammer der Vorrichtung angepasst werden.It is advantageous that with the help of at least one hole in each case in the holding plate and the back plate and a part of the sputtering material, it is easy, inexpensive and quickly detectable that the sputtering material has partially or completely detached from the carrier of the sputtering target, the cave thereby forms part of the hole. The hole or holes are easily insertable into the backing plate, the tie layer, and / or the sputtering material during manufacture of the sputtering target or, if the back plate already has one or more holes, into the tie layer and / or the sputtering material. It is thus possible to produce new sputtering targets in each case and to recycle used backplates and then reuse them. In the reused back plates usually has the back plate already at least one hole, so that in the connection layer and / or in the exchanged sputtering material on the back plate, a hole is introduced in the form of a cave. In a new sputtering target, a completely continuous hole is preferably introduced into the support in a method step, and a hole is made in the connection layer and / or a hole in the form of a cavity is introduced into the sputtering material. It is thus possible to easily produce new sputtering targets and to recycle used backplates. Furthermore, there is no deterioration during sputtering due to the geometrical change in the shape of the hole or holes in the use of the sputtering target, so that consistent process quality is ensured continuously during sputtering. Furthermore, no metrologically complex units in a sputtering device, which is preferably operated in a vacuum, are necessary because when changing the state of the sputtering target, in particular in the form of dissolution of sputtering material from the carrier, the chamber state of the sputtering device is changed in such a way that an exchange of gas takes place between the environment and the sputtering chamber. This is simple, inexpensive and usually detectable without additional measuring device with the already existing system components of a sputtering system. It is thus also advantageously possible to use already used sputtering devices with the sputtering target claimed in the application, wherein the system components are optionally adapted to the detection of a pressure drop in the chamber of the device.

Nachfolgend wird ein Loch beschrieben, außer dieses ist anderweitig oder notwendigerweise im Plural als Löcher beschrieben, wenn es beispielsweise auf die Verwendung von mehreren Löchern, beispielsweise 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11 oder 12 Löchern, ankommt. Es ist somit möglich, dass zumindest die Rückplatte des Sputtertargets ein Loch oder mehrere Löcher aufweist.Hereinafter, a hole will be described unless otherwise or necessarily described in the plural as holes, for example, when using multiple holes such as 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11 or 12 Holes, arrives. It is thus possible that at least the back plate of the sputtering target has one or more holes.

Es ist bekannt, im Sinne der Erfindung statt dem Wort „Loch” das Wort „Öffnung” zu verwenden.It is known to use the word "opening" for the purposes of the invention instead of the word "hole".

In einer bevorzugten Ausgestaltung des Sputtertargets ist das Loch eine Bohrung. Eine solche Bohrung ist beispielsweise mittels bekannter Fertigungsverfahren wie Drehen, Fräsen oder Bohren herstellbar.In a preferred embodiment of the sputtering target, the hole is a bore. Such a bore can be produced for example by means of known production methods such as turning, milling or drilling.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist das Loch in dem Träger senkrecht zur Fläche der Trägerunterseite positioniert oder mit einem Winkel zwischen 0° und 90°, vorzugsweise von 30° bis 60°, bezogen auf die Fläche der Trägerunterseite positioniert. Je nach geometrischer Ausgestaltung des Sputtertargets und/oder der Vorrichtung zum Befestigen eines Sputtertargets ist es vorteilhaft, das Loch entweder senkrecht oder mit einem bestimmten Winkel, beispielsweise 45°, anzuordnen. Die Trägerunterseite ist die Seite des Trägers, die in Richtung Halteplatte angeordnet ist.In a further advantageous embodiment, the hole in the carrier is positioned perpendicular to the surface of the carrier underside or positioned at an angle between 0 ° and 90 °, preferably from 30 ° to 60 °, based on the surface of the carrier base. Depending on the geometric configuration of the sputtering target and / or the device for fastening a sputtering target, it is advantageous to arrange the hole either vertically or at a specific angle, for example 45 °. The underside of the carrier is the side of the carrier which is arranged in the direction of the holding plate.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist das Loch eine runde, ovale, elipsenförmige, rechteckige, quadratische Form oder eine Kombination aus vorhergehenden Formen, beispielsweise ein Loch mit teilweise runder und teilweiser eckiger geometrischer Form, auf. Alternativ oder Ergänzend sind auch eine schlauchförmige, streifenförmige, längliche oder schlitzförmige Form oder eine Kombination aus vorhergehend genannten Formen möglich. Die jeweilige Form ist bei Sichtweise in Richtung Mittelachse des Loches erkennbar. In a further advantageous embodiment, the hole has a round, oval, elliptical, rectangular, square shape or a combination of previous shapes, for example a hole with a partially round and partially angular geometric shape. Alternatively or additionally, a tubular, strip-shaped, elongated or slot-shaped form or a combination of the aforementioned forms is also possible. The respective shape can be seen in the direction of the central axis of the hole.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung geht das Loch mit gleichen Abmessungen durch den Träger hindurch. Dadurch ist eine besonders einfache und kostengünstige Herstellung des Loches mittels eines spanenden Fertigungsverfahren wie Bohren oder dergleichen möglich.In a further advantageous embodiment, the hole passes through the carrier with the same dimensions. As a result, a particularly simple and cost-effective production of the hole by means of a machining production method such as drilling or the like is possible.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist das Loch einen Durchmesser von 0,1 mm bis 30 mm, vorzugsweise von 0,5 mm bis 1,5 mm, insbesondere von etwa 1 mm, auf.In a further advantageous embodiment, the hole has a diameter of 0.1 mm to 30 mm, preferably from 0.5 mm to 1.5 mm, in particular from about 1 mm.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist der Träger vier bis zwölf Löcher, vorzugsweise acht Löcher, auf. Alternativ ist es möglich, dass der Träger nur ein Loch oder zwei oder drei Löcher aufweist. Alternativ ist es auch möglich, dass der Träger mehr als zwölf Löcher aufweist. Besonders bevorzugt ragt das Loch in dem Träger in einem kleinen Bereich auch in das Sputtermaterial hinein, wobei beim jeweiligen Loch das Hineinreichen vorliegt. Dadurch ist es möglich, dass bei einem teilweise oder vollständigen Ablösen des Sputtermaterials von dem Träger Gas zwischen Trägerunterseite und Trägeroberseite ausgetauscht werden kann, wobei besonders bevorzugt das Gas auf der Trägeroberseite zwischen dem Bereich zwischen teilabgelösten oder vollständig abgelösten Sputtermaterial und Trägeroberseite nach einem teilweise oder vollständigen Lösen vorbeiströmt. Bei einem Ablösen tritt somit Gas in die Kammer einer Sputteranlage ein, da in dieser ein Unterdruck zum Sputtern vorhanden ist, so dass Umgebungsluft von außen in die Kammer durch zumindest ein freigelegtes Loch in die Kammer einströmt, wenn beispielsweise ein Teilablösen stattfand.In a further advantageous embodiment, the carrier has four to twelve holes, preferably eight holes. Alternatively, it is possible that the carrier has only one hole or two or three holes. Alternatively, it is also possible that the carrier has more than twelve holes. Particularly preferably, the hole in the carrier protrudes in a small area into the sputtering material, wherein there is an entry into the respective hole. This makes it possible that in a partial or complete detachment of the sputtering material from the carrier gas between the carrier base and carrier top can be replaced, more preferably the gas on the carrier top between the area between teilabgelösten or completely detached sputtering material and carrier top after a partial or complete Solve flown by. In a peel gas thus enters the chamber of a sputtering, as in this a negative pressure for sputtering is present, so that ambient air flows from the outside into the chamber through at least one exposed hole in the chamber, for example, when a Teilablösen took place.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist zwischen Träger und Sputtermaterial zusätzlich eine Verbindungsschicht aufgebracht, wobei die Verbindungsschicht eine Komponente oder eine Kombination von unterschiedlichen Komponenten aufweist, vorzugsweise eine Lotschicht und eine Beschichtung jeweils im Bereich des Trägers und des Sputtermaterials aufweist, wobei die Beschichtung an die einzige Lotschicht jeweils angrenzt.In a further advantageous embodiment, a bonding layer is additionally applied between the substrate and the sputtering material, wherein the bonding layer comprises a component or a combination of different components, preferably a solder layer and a coating respectively in the region of the substrate and the sputtering material, wherein the coating on the only Lotschicht each adjacent.

Als Lotschicht ist es möglich einen elastomer Kleber, der elektrisch leitfähig ist, Silber, eine Silberlegierung, Indium, eine Indiumlegierung, Zinn, eine Zinnlegierung oder einen elektrisch leitfähigen Zwei-Komponenten-Kleber zu verwenden. Die Legierungen, das heißt die Silberlegierung, die Zinnlegierung oder die Indiumlegierung, sind allgemein auch als Lotlegierung bezeichnet.As the solder layer, it is possible to use an elastomeric adhesive that is electrically conductive, silver, a silver alloy, indium, an indium alloy, tin, a tin alloy or an electrically conductive two-component adhesive. The alloys, that is, the silver alloy, the tin alloy, or the indium alloy are also commonly referred to as solder alloys.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist das Loch von einer Trägerseitenkante mit einem Abstand von 0,3 cm bis 40 cm, vorzugsweise von 0,5 cm bis 2 cm, insbesondere von etwa 0,8 cm, positioniert. Je nach Abmessungen des Sputtertargets variiert der bevorzugte Abstand, da insbesondere größere Sputtertargets mit einer größer dimensionierten Befestigung in einer Sputtervorrichtung befestigt werden müssen, so dass der Abstand bei einem größeren Sputtertarget, insbesondere von der Seitenkante des Trägers zu größeren Abstandswerten tendiert. Alternativ ist es möglich, dass bei besonders großen Sputtertargets der Abstand größer als 40 cm ist.In a further advantageous embodiment, the hole from a support side edge with a distance of 0.3 cm to 40 cm, preferably from 0.5 cm to 2 cm, in particular about 0.8 cm, positioned. Depending on the dimensions of the sputtering target, the preferred spacing varies since, in particular, larger sputtering targets with a larger dimensioned attachment must be fastened in a sputtering apparatus, so that the spacing with a larger sputtering target, in particular from the lateral edge of the carrier, tends to be greater distance values. Alternatively, it is possible that with particularly large sputtering targets, the distance is greater than 40 cm.

Bei einer Halteplatte, beispielsweise einer Kühlplatte in einer Sputtervorrichtung, oder einem Träger des Sputtertargets, wobei die Halteplatte oder der Träger zumindest zwei Dichtungsnuten aufweisen, ist bevorzugt der Abstand des Lochs zur Seitenkante des Trägers zu kleinen Werten, das heißt 0,5 cm bis 2 cm, tendierend.In the case of a holding plate, for example a cooling plate in a sputtering apparatus, or a carrier of the sputtering target, wherein the holding plate or the carrier has at least two sealing grooves, the distance of the hole from the side edge of the carrier is preferably to small values, ie 0.5 cm to 2 cm, tending.

Alternativ ist es bei einer Halteplatte, beispielsweise einer Kühlplatte in einer Sputtervorrichtung, oder einem Träger des Sputtertargets, wobei die Halteplatte oder der Träger zumindest eine Dichtungsnut aufweisen, möglich, dass der Abstand des Lochs zur Seitenkante zwischen Werten von etwa 0,3 cm bis zu einem Wert, der dem Abstand von Seitenkante zu Trägermitte entspricht, liegt.Alternatively, in a holding plate, such as a cooling plate in a sputtering apparatus, or a carrier of the sputtering target, wherein the holding plate or carrier has at least one sealing groove, it is possible for the distance of the hole to the side edge to be between about 0.3 cm a value corresponding to the distance from side edge to center of the carrier lies.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weisen das Sputtermaterial und/oder die Verbindungsschicht auch das Loch auf. Die Verbindungsschicht weist dabei bevorzugt das Loch oder die Löcher vollständig auf, so dass das Loch oder die Löcher durch die Verbindungsschicht vollständig hindurchgehen. Das Sputtermaterial weist das Loch oder die Löcher nur in einem Teilbereich des gesamten Sputtermaterials auf, so dass das Loch oder die Löcher nicht vollständig durch das Sputtermaterial hindurchgehen. Es bildet sich eine Art Höhle aus, so dass das Loch in dem Sputtermaterial somit nicht durch das Sputtermaterial hindurchgeht. Das Sputtermaterial dichet somit das jeweilige Loch in Form der zugehörigen Höhle ab.In a further advantageous embodiment, the sputtering material and / or the connecting layer also have the hole. In this case, the connection layer preferably has the hole or the holes completely, so that the hole or the holes pass completely through the connection layer. The sputtering material has the hole or holes only in a portion of the entire sputtering material so that the hole or holes does not pass completely through the sputtering material. It forms a kind of cave, so that the hole in the sputtering material thus does not pass through the sputtering material. The sputtering material thus seals the respective hole in the form of the associated cavity.

In einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung ist das Loch oder sind die Löcher dabei so gestaltet, dass diese durch den Träger und die Verbindungsschicht, wobei die Verbindungsschicht eine Komponente oder eine Kombination von unterschiedlichen Komponenten aufweist, vollständig hindurchreichen und in einen Teil des Sputtermaterials hineinreichen.In a further preferred embodiment, the hole or the holes are designed such that they pass through the carrier and the connecting layer, wherein the connecting layer is a component or a combination of different ones Has components, completely pass through and extend into a portion of the sputtering material.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist das runde Planartarget einen Durchmesser von 100 mm bis 500 mm, vorzugsweise von etwa 310 mm auf. Alternativ sind auch kleinere Durchmesser, das heißt kleiner als 100 mm, oder größere Durchmesser, das heißt größer als 500 mm, möglich. Alternativ ist es möglich, ein eckiges Planartarget gemäß der Erfindung zu verwenden, in dem die Abmessungen des Planartargets an der jeweiligen Außenkante gemessen von Ecke zu Ecke zwischen 100 mm und 500 mm, vorzugsweise etwa zwischen 200 mm und 400 mm, liegen. Es ist dabei möglich, quadratische, rechteckige oder eckige Form oder auch eine Kombination von eckiger Form mit runder, ovaler oder ellipsenförmiger Formen bei einem Planartarget zu verwenden. Es ist möglich, dass die Ecken eines eckigen Planartargets abgerundet sind.In a further advantageous embodiment, the round planar target has a diameter of 100 mm to 500 mm, preferably of about 310 mm. Alternatively, smaller diameter, that is smaller than 100 mm, or larger diameter, that is greater than 500 mm, possible. Alternatively, it is possible to use a square planar target according to the invention in which the dimensions of the planar target at the respective outer edge measured from corner to corner are between 100 mm and 500 mm, preferably between approximately 200 mm and 400 mm. It is possible to use square, rectangular or angular shape or even a combination of angular shape with round, oval or elliptical shapes in a planar target. It is possible that the corners of a square planarget are rounded.

Es ist möglich, dass in der Vorrichtung zum Befestigen eines Sputtertargets mit zumindest zwei Dichtungsnuten das Loch in der Halteplatte mit dem Loch in dem Träger nicht formschlüssig oder formschlüssig positioniert ist. Formschlüssig bedeutet im Sinne der Erfindung korrespondierend zueinander. Es ist jedoch unabhängig von der Lage des Lochs oder der Löcher in dem Träger und der Halteplatte möglich, dass Gas durch den Bereich zwischen Träger und Halteplatte in Form eines Spaltes hindurchströmen kann. In der Regel tritt jedoch bei korrespondierend übereinanderliegendem Loch des Trägers zu Loch der Halteplatte keine Gasströmung im Spalt auf.It is possible that in the device for fixing a sputtering target with at least two sealing grooves, the hole in the holding plate with the hole in the carrier is not positioned positively or positively. Form-fitting means according to the invention corresponding to each other. However, regardless of the position of the hole or holes in the carrier and the holding plate, it is possible for gas to flow through the gap between the carrier and the holding plate in the form of a gap. As a rule, however, there is no gas flow in the gap when the carrier hole corresponds to the hole of the holding plate, corresponding to one another.

Nach einem Ablösen eines Teils eines Sputtermaterial ist es nämlich möglich, dass Gas aus der Umgebungsluft, die sich außerhalb der Vorrichtung befindet, durch das zumindest eine Loch in der Halteplatte in den Bereich zwischen Halteplatte und Träger durch zumindest ein freigelegtes Loch in dem Träger in das Innere der Vorrichtung einströmt. Dadurch ist es möglich, dass Gas besonders einfach zwischen dem Inneren der Vorrichtung, in dem Bereich gesputtert wird, vorzugsweise im Bereich der Kammer einer Vorrichtung, und der Umgebung ausgetauscht werden kann. Ein Austausch von Gas wird somit gemäß vorhergehenden Ausführungen durch ein zumindest freigelegtes Loch in dem Träger ermöglicht, in dem sich das Sputtermaterial von dem Träger in diesem Bereich abgelöst hat.Namely, after peeling off a part of a sputtering material, it is possible for gas from the ambient air, which is located outside the device, to pass through the at least one hole in the holding plate into the area between holding plate and carrier through at least one exposed hole in the carrier Inside the device flows. This makes it possible for gas to be exchanged particularly easily between the interior of the device in which the area is sputtered, preferably in the region of the chamber of a device, and the environment. An exchange of gas is thus made possible in accordance with the foregoing by an at least exposed hole in the carrier in which the sputtering material has detached from the carrier in this area.

Das Gas, beispielsweise Umgebungsluft, strömt im Falle des Vorliegens von versetzten Löchern, das heißt Löchern die nicht korrespondieren, zwischen den versetzten Löchern in Halteplatte und Träger durch den Spalt zwischen Halteplatte und Träger hindurch, so dass zwischen dem zumindest einem Loch in Halteplatte und dem zumindest einen freigelegtem Loch nach dem Ablösen von Sputtermaterial ein Gasaustausch stattfinden kann oder stattfindet.The gas, for example, ambient air, flows in the case of the presence of offset holes, that is, holes that do not correspond between the staggered holes in the holding plate and the carrier through the gap between the holding plate and the carrier, so that between the at least one hole in the holding plate and the At least one exposed hole after the detachment of sputtering material can take place or takes place a gas exchange.

Bei einer Montage eines Sputtertargets in einer Vorrichtung zum Sputtern, die eine Kammer, vorzugsweise eine Vakuumkammer, aufweist, wird besonders bevorzugt das Sputtertarget an der Halteplatte so montiert, dass das zumindest eine Loch des Sputtertargets nicht mit dem zumindest einen Loch in der Halteplatte korrespondiert, da dieses einfacher und kostengüntiger ist, als eine aufwendige Ausrichtung der beiden Löcher zueinander. Aufwendig ist, wenn diese lagegenau übereinander liegen.When mounting a sputtering target in a sputtering apparatus having a chamber, preferably a vacuum chamber, it is particularly preferred to mount the sputtering target to the holding plate such that the at least one sputtering target hole does not correspond to the at least one hole in the holding plate. because this is easier and kostengüntiger, as a complex alignment of the two holes to each other. Complex is when these are precisely aligned.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Vorrichtung weist die Halteplatte auf der Oberseite der Halteplatte zumindest eine Vertiefung, vorzugsweise eine Vertiefung zur Aufnahme von Kühlflüssigkeit, vorzugsweise Kühlwasser, auf. Vorzugsweise zirkuliert Kühlwasser in der Vertiefung während des Sputterprozesses, um das Sputtertarget zu kühlen.In a further advantageous embodiment of the device, the holding plate on the top of the holding plate at least one recess, preferably a recess for receiving coolant, preferably cooling water, on. Preferably, cooling water circulates in the recess during the sputtering process to cool the sputtering target.

In der jeweiligen Vorrichtung gemäß der Erfindung ist in einer bevorzugten Ausgestaltung der Vorrichtung der Träger unabhängig von dem Sputtermaterial befestigbar, vorzugsweise der Träger mit Hilfe zumindest einer Pratzbefestigung oder zumindest einer Schraubenverbindung an der Halteplatte unabhängig von dem Sputtermaterial befestigbar. Alternativ oder ergänzend ist auch jede andere Form der Befestigung, beispielsweise eine lösbare Nietverbindung oder dergleichen, möglich.In the respective device according to the invention, in a preferred embodiment of the device, the carrier can be fastened independently of the sputtering material, preferably the carrier can be fastened to the holding plate independently of the sputtering material by means of at least one premount attachment or at least one screw connection. Alternatively or additionally, any other form of attachment, for example a detachable rivet connection or the like, is possible.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der jeweiligen Vorrichtung ist in der Vorrichtung eine Druckdifferenz gegenüber einem Umgebungsdruck, vorzugsweise ein Vakuum in der Kammer der Vorrichtung, erzeugbar, wobei das Sputtertarget mit Hilfe des einen Dichtungsringes gegenüber der Umgebung und dem dort vorherrschenden Umgebungsdruck abgedichtet ist, wenn die Druckdifferenz gegenüber dem Umgebungsdruck, vorzugsweise das Vakuum in der Kammer, in der Vorrichtung erzeugt ist. Ein solches Vakuum lässt sich beispielsweise mittels einer Pumpe, vorzugsweiser einer Turbopumpe, in der Vorrichtung erzeugen. Übliche Werte für ein Vakuum zum Sputtern in einer Kammer einer Vorrichtung sind vor und nach dem Sputtern etwa 10–5 bar und während des Sputtern etwa 10–3 bar in der Kammer. Ein bekanntes Sputtergas, das aus dem Sputtermaterial die Material-Ionen herauslöst und in der Kammer neben dem Vakuum vorhanden ist, ist beispielsweise das Edelgas Argon.In a further advantageous embodiment of the respective device in the device, a pressure difference relative to an ambient pressure, preferably a vacuum in the chamber of the device can be generated, wherein the sputtering target with the aid of a sealing ring against the environment and the prevailing ambient pressure is sealed there, if the Pressure difference from the ambient pressure, preferably the vacuum in the chamber is generated in the device. Such a vacuum can be generated in the device, for example, by means of a pump, preferably a turbo-pump. Typical values for a vacuum for sputtering in a chamber of a device are about 10 -5 bar before and after sputtering and about 10 -3 bar in the chamber during sputtering. A known sputtering gas, which dissolves the material ions from the sputtering material and is present in the chamber next to the vacuum, is, for example, the noble gas argon.

Es ist möglich, dass das Sputtermaterial aus einem Edelmetall und dessen Legierungen besteht. Generell ist bekannt für das Sputtermaterial jede Form von Metall oder Nichtmetall zu verwenden. Beispielsweise ist es möglich, Silber, Platin, Gold, Nickel oder eine Legierung aus Silber, Platin, Gold und/oder Nickel für ein Sputtermaterial zu verwenden. Der Träger, insbesondere die Rückplatte, ist bevorzugt aus Kupfer oder dessen Legierungen hergestellt. Alternativ ist es möglich Aluminium, Titan, Molybdän oder eine Legierung aus Aluminium, Titan und/oder Molybdän zu verwenden. Als Gase zum Sputtern wird bevorzugt in einer Sputtervorrichtung zumindest ein Edelgas, inbesondere Argon, verwendet.It is possible that the sputtering material is made of a noble metal and its alloys. Generally, it is known to use any form of metal or nonmetal for the sputtering material. For example, it is possible silver, platinum, gold, nickel or to use an alloy of silver, platinum, gold and / or nickel for a sputtering material. The carrier, in particular the back plate, is preferably made of copper or its alloys. Alternatively, it is possible to use aluminum, titanium, molybdenum or an alloy of aluminum, titanium and / or molybdenum. At least one inert gas, in particular argon, is preferably used in a sputtering apparatus as gases for sputtering.

Bevorzugt wird bei der Herstellung eines Sputtertargets vor dem Einbringen des Loches in die Verbindungsschicht oder durch die Verbindungsschicht vollständig hindurch und/oder vor dem Einbringen der Höhle in den Träger, vorzugsweise in die Rückplatte, zunächst zumindest ein vollständig durch den Träger hindurchgehendes Loch eingebracht wird, vorzugsweise gebohrt wird, wobei dieses eingebrachte Loch in das nachfolgend eingebrachte Loch und/oder in die nachfolgend einbrachte Höhle hineinreicht. Der Träger weist somit in dieser Ausführungsvariante zur Herstellung eines Sputtertargets zunächst kein Loch auf. Nachdem dieses Loch in den Träger eingebracht worden ist, wird bevorzugt während des Einbringens dieses Loches in den Träger direkt anschließen das Loch in der Verbindungsschicht und/oder die Höhle in das Sputtermaterial mit eingebracht.In the production of a sputtering target, before the hole is introduced into the connecting layer or through the connecting layer completely and / or prior to the introduction of the cavity into the carrier, preferably into the back plate, at least one hole is first introduced through the carrier, is preferably drilled, with this introduced hole extends into the subsequently introduced hole and / or in the subsequently introduced cave. The carrier thus initially has no hole in this embodiment for producing a sputtering target. After this hole has been introduced into the carrier, preferably during the introduction of this hole into the carrier, the hole in the connecting layer and / or the cavity is introduced into the sputtering material.

Es ist folglich möglich, in einen Träger ein neues Loch einzubringen, dass während des Einbringens auch zeitlich nachfolgend in die Verbindungsschicht und/oder das Sputtermaterial eingebracht wird.It is therefore possible to introduce a new hole in a carrier, which is also introduced later in the joining layer and / or the sputtering material during the introduction.

Alternativ ist es möglich, ein schon vorhandenes Loch in dem Träger für das Einbringen eines Loches in die Verbindungsschicht und/oder einer Höhle in das Sputtermaterial zu verwenden.Alternatively, it is possible to use an existing hole in the support for inserting a hole in the bonding layer and / or a cavity in the sputtering material.

Alternativ ist es möglich, ein neues Loch in den Träger einzubringen, wobei der Träger schon zumindest ein Loch aufweist.Alternatively, it is possible to introduce a new hole in the carrier, wherein the carrier already has at least one hole.

Bevorzugt wird das Loch in dem Träger, vorzugsweise in der Rückplatte, mittels eines Aufklebers vor dem Verbinden mittels Verbindungsschicht verschlossen, insbesondere abgedeckt. Alternativ ist es möglich ein Gummistück, ein Wachs oder dergleichen zum Verschließen zu verwenden. Ein Verschließen oder Abdecken mittels eines Aufklebers ist bespielsweise durch Bohren durch den Aufkleber hindurch wieder öffnenbar, so dass das Loch nach dem Bohren wieder offen ist.Preferably, the hole in the carrier, preferably in the back plate, closed by means of a sticker before joining by means of connecting layer, in particular covered. Alternatively, it is possible to use a rubber piece, a wax or the like for closing. A closing or covering by means of a sticker can be opened, for example, by drilling through the sticker, so that the hole is open again after drilling.

Es ist möglich, dass die Halteplatte, vorzugsweise die Kühlplatte, zumindest ein Loch oder zumindest eine Öffnung aufweist, die eine runde, ovale, ellipsenförmige, schlauchförmige, streifenförmige, schlitzförmige, längliche, eckige, quadratische, rechteckige Form oder eine Kombination aus vorhergehenden Formen aufweist. Alternativ ist auch ein ringförmiger Umlauf des Loches in der Halteplatte bezogen auf den Mittelpunkt der Halteplatte möglich. Die jeweilige Form ist bei Sichtweise in Richtung Mittelachse des Loches erkennbar. Die Lage des Loches bezogen auf eine Fläche kann zu dieser Fläche senkrecht oder mit einem Winkel, vorzugsweise einem Winkel zwischen 0° und 90°, angeordnet sein.It is possible that the holding plate, preferably the cooling plate, has at least one hole or at least one opening which has a round, oval, elliptical, tubular, strip-shaped, slot-shaped, elongated, angular, square, rectangular shape or a combination of preceding shapes , Alternatively, an annular circulation of the hole in the holding plate relative to the center of the holding plate is possible. The respective shape can be seen in the direction of the central axis of the hole. The position of the hole with respect to a surface can be arranged perpendicular or at an angle to this surface, preferably an angle between 0 ° and 90 °.

In den Figuren sind bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung näher erläutert.In the figures, preferred embodiments of the invention are explained in more detail.

Es zeigen:Show it:

1 einen Ausschnitt aus einer Vorrichtung zum Befestigen eines Sputtertargets, 1 a section of a device for fixing a sputtering target,

2 eine Detailansicht des Sputtertargets aus 1, 2 a detailed view of the sputtering target 1 .

3 eine alternative Ausgestaltung einer Vorrichtung zum Befestigen eines Sputtertargets und 3 an alternative embodiment of a device for fixing a sputtering target and

4 eine vereinfacht dargestellte Vorrichtung zum Befestigen eines Sputtertargets in einer bevorzugten Ausführungsform. 4 a simplified illustrated device for attaching a sputtering target in a preferred embodiment.

In den nachfolgenden Figurenbeschreibungen sind gleiche Bauteile mit gleichen Bezugsziffern versehen und neue Bauteile mit neuen Bezugsziffern versehen.In the following figure descriptions the same components are provided with the same reference numerals and new components provided with new reference numerals.

In 1 ist ein Ausschnitt eines Sputtertargets 1 dargestellt, dass in einer ausschnittsweise dargestellten Vorrichtung 2 befestigt ist. In dieser Vorrichtung 2 ist es möglich, Bauteile zu besputtern und folglich zu beschichten.In 1 is a section of a sputtering target 1 illustrated that in a fragmentary illustrated device 2 is attached. In this device 2 it is possible to sputter components and thus to coat.

Das Sputtertarget 1 ist in der Vorrichtung 2 an einer Halteplatte, die im Ausführungsbeispiel gemäß 1 eine Kühlplatte 3 ist, befestigt. Die Kühlplatte 3 weist zwei Dichtungsnuten 4a, 4b auf, in denen jeweils ein Dichtungsring 5a, 5b positioniert ist. Die beiden Dichtungsnuten 4a, 4b verlaufen radial durch die Kühlplatte 3 hindurch, so dass sich eine Kreisform um den Mittelpunkt der Kühlplatte 3 ergibt. Die jeweiligen Dichtringe 5a, 5b sind jeweils als O-Ring ausgestaltet. In dem Bereich zwischen den beiden Dichtungsringen 5a, 5b gemäß 1 liegt Umgebungsdruck vor, unabhängig davon, ob das Sputtertarget 1 zum Sputtern verwendet wird oder nicht.The sputtering target 1 is in the device 2 on a holding plate, which in the embodiment according to 1 a cooling plate 3 is attached. The cooling plate 3 has two sealing grooves 4a . 4b on, in each of which a sealing ring 5a . 5b is positioned. The two sealing grooves 4a . 4b run radially through the cooling plate 3 through, giving a circular shape around the center of the cooling plate 3 results. The respective sealing rings 5a . 5b are each designed as an O-ring. In the area between the two sealing rings 5a . 5b according to 1 ambient pressure, regardless of whether the sputtering target 1 used for sputtering or not.

Die Kühlplatte 3 weist auf der Oberseite 17 der Kühlplatte 3 zumindest eine Vertiefung 6 auf. Im Ausführungsbeispiel ist die Vertiefung 6 so gestaltet, dass diese Kühlwasser 7 aufnehmen kann. Das Kühlwasser 7 ist beispielhaft in 1 zwischen Sputtertarget 1 und Kühlplatte 3 dargestellt.The cooling plate 3 points to the top 17 the cooling plate 3 at least one depression 6 on. In the embodiment, the recess 6 designed so that this cooling water 7 can record. The cooling water 7 is exemplary in 1 between sputtering target 1 and cooling plate 3 shown.

Gemäß 1 weist im Ausführungsbeispiel das Sputtertarget 1 einen Träger in Form einer Rückplatte 8 auf, wobei die Rückplatte 8 teilweise an die Kühlplatte 3 direkt gemäß 1 angrenzt. Zwischen Rückplatte 8 und Kühlplatte 3 liegt ein Spalt 26 vor, durch den Umgebungsluft oder ein anderes Gas, beispielsweise Helium, strömen kann. Der Spalt 26 läuft im Ausführungsbeispiel zumindest in Form einer Ringform um den Mittelpunkt der Kühlplatte 3 im Bereich zwischen den beiden Dichtnuten 4a, 4b radial herum. According to 1 has the sputtering target in the exemplary embodiment 1 a carrier in the form of a back plate 8th on, with the back plate 8th partly to the cooling plate 3 directly according to 1 borders. Between back plate 8th and cooling plate 3 there is a gap 26 through which ambient air or other gas, such as helium, can flow. The gap 26 runs in the embodiment at least in the form of a ring shape around the center of the cooling plate 3 in the area between the two sealing grooves 4a . 4b radially around.

Auf der Rückplatte 8 ist ein Sputtermaterial 9 positioniert, wobei die Rückplatte 8 mit dem Sputtermaterial 9 verbunden ist. Das Sputtermaterial 9 ist beispielsweise ein Material aus Nickel, einer Nickellegierung, Silber oder einer Silberlegierung und die Rückplatte 8 ist beispielsweise aus Kupfer oder einer Kupferlegierung. Es wird beispielhaft angenommen, dass das Sputtermaterial 9 aus Nickel und die Rückplatte 8 aus Kupfer bestehen.On the back plate 8th is a sputtering material 9 positioned, with the back plate 8th with the sputtering material 9 connected is. The sputtering material 9 For example, a material of nickel, a nickel alloy, silver or a silver alloy and the back plate 8th is for example made of copper or a copper alloy. It is assumed by way of example that the sputtering material 9 made of nickel and the back plate 8th consist of copper.

Das Sputtertarget 1 gemäß 1 ist als rundes Planartarget nach Art einer flachen, runden Scheibe ausgeführt, das im Ausführungsbeispiel im Bereich der Rückplatte 8 einen Durchmesser von etwa 310 mm und im Bereich des Sputtermaterials 9 einen Durchmesser von 300 mm aufweist. Es bildet sich somit ein umlaufender, flacher Rand durch die Rückplatte 8 um das Sputtermaterial 9 gemäß 1 herum aus. Der Rand bildet eine Auflagefläche für eine Befestigung, beispielsweise eine nachfolgend beschriebene Pratzbefestigung oder alternativ eine Schraubenverbindung. Die Schraubenverbindung ist in 1 nicht dargestellt.The sputtering target 1 according to 1 is designed as a round Planar target in the manner of a flat, round disc, which in the embodiment in the region of the back plate 8th a diameter of about 310 mm and in the area of the sputtering material 9 has a diameter of 300 mm. It thus forms a circumferential, flat edge through the back plate 8th around the sputtering material 9 according to 1 around. The edge forms a support surface for attachment, for example, a Pratzbefestigung described below or alternatively a screw connection. The screw connection is in 1 not shown.

Die Dicke der Rückplatte 8 ist im Ausführungsbeispiel beispielsweise etwa 6 mm und die Dicke des noch nicht gesputterten Sputtermaterials 9 ist beispielsweise etwa 5 mm. Während und nach dem Sputtern verringert sich die Dicke des Sputtermaterials 9.The thickness of the back plate 8th in the exemplary embodiment, for example, about 6 mm and the thickness of sputtering material not yet sputtered 9 is for example about 5 mm. During and after sputtering, the thickness of the sputtering material decreases 9 ,

Zwischen Rückplatte 8 und Sputtermaterial 9 ist zusätzlich eine Verbindungsschicht aufgebracht. In 2 ist im Detail die Verbindungsschicht dargestellt, wobei 2 vergrößert das Detail A aus 1 darstellt.Between back plate 8th and sputtering material 9 In addition, a bonding layer is applied. In 2 is shown in detail the connection layer, wherein 2 enlarges detail A 1 represents.

Im Ausführungsbeispiel besteht die Verbindungsschicht aus unterschiedlichen Komponenten, nämlich einer Lotschicht 10 und zwei Beschichtungen 11a, 11b, wobei die jeweilige Beschichtung 11a, 11b an die einzige Lotschicht 10 jeweils angrenzt und diese gemäß 2 jeweils umgibt.In the exemplary embodiment, the connecting layer consists of different components, namely a solder layer 10 and two coatings 11a . 11b , wherein the respective coating 11a . 11b to the only layer of solder 10 each adjacent and these according to 2 each surrounds.

Gemäß vorhergehenden Ausführungen ist zwischen Sputtermaterial 9 und Rückplatte 8 die Verbindungsschicht gemäß 2 aufgebracht, die derart aufgebaut ist, dass auf der Rückplatte 8 zunächst eine Beschichtung 11a räumlich gesehen folgt, darauf eine Lotschicht 10 aus Indium oder aus einer Indiumlegierung folgt und darauf eine weitere Beschichtung 11b folgt, wobei auf diese weitere Beschichtung 11b das Sputtermaterial 9 folgt. Indium oder eine Indiumlegierung sind flexibel, so dass diese Werkstoffe besonders gut verwendet werden können.According to previous embodiments is between sputtering material 9 and back plate 8th the connection layer according to 2 applied, which is constructed such that on the back plate 8th first a coating 11a spatially follows, then a Lotschicht 10 made of indium or an indium alloy followed by another coating 11b follows, taking on this further coating 11b the sputtering material 9 follows. Indium or an indium alloy are flexible, so that these materials can be used particularly well.

In den 1 und 2 ist des Weiteren dargestellt, dass die Rückplatte 8 des Sputtertargets 1 ein durch die Rückplatte 8 vollständig hindurchgehendes Loch 12a aufweist. Das Loch 12a ist als Bohrung ausgeführt und weist somit eine runde Form auf. Das Loch 12a in der Rückplatte 8 ist als schräge Bohrung ausgeführt, wobei der Winkel zwischen Unterseite 14 der Rückplatte 8 und Mittelachse des Loches 12a etwa 45° beträgt.In the 1 and 2 is further shown that the back plate 8th of the sputtering target 1 one through the back plate 8th completely through hole 12a having. The hole 12a is designed as a bore and thus has a round shape. The hole 12a in the back plate 8th is designed as an oblique hole, with the angle between the bottom 14 the back plate 8th and center axis of the hole 12a is about 45 °.

Das Sputtertarget 1 weist im Ausführungsbeispiel mehrere Löcher 12a auf, von denen in 1 nur ein einziges beispielhaft dargestellt ist. Alternativ ist es möglich, dass das Sputtertarget 1 nur ein einziges Loch 12a aufweist.The sputtering target 1 has several holes in the embodiment 12a on, of which in 1 only a single example is shown. Alternatively it is possible that the sputtering target 1 only a single hole 12a having.

Gemäß 1 weist die Kühlplatte 3 jeweils im Bereich der Löcher 12a korrespondierende Löcher 12b auf. Folglich weist auch die Kühlplatte 3 mehrere Löcher 12b auf, die der Anzahl der Löcher 12a in dem Sputtertarget 1 im Ausführungsbeispiel entsprechen. Das jeweilige Loch 12a des Sputtertargets 1 und das zugehörige, jeweilige Loch 12b der Kühlplatte 3 bilden zusammen ein gemeinsames Loch 12, wobei das Loch 12 durchgehend durch Kühlplatte 3 und Sputtertarget 1 ist, jedoch einen Knick gemäß 1 im Bereich des jeweiligen Übergangs Loch 12a der Rückplatte 8 zu Loch 12b der Kühlplatte 3 aufweist.According to 1 has the cooling plate 3 each in the area of the holes 12a corresponding holes 12b on. Consequently, the cooling plate also points 3 several holes 12b on that the number of holes 12a in the sputtering target 1 correspond in the embodiment. The respective hole 12a of the sputtering target 1 and the associated, respective hole 12b the cooling plate 3 together form a common hole 12 where the hole 12 continuously through cooling plate 3 and sputtering target 1 is, however, a bend according to 1 in the area of the respective transition hole 12a the back plate 8th to hole 12b the cooling plate 3 having.

Die nachfolgende Beschreibung bezüglich des in 1 dargestellten einzelnen Loches 12 ist auf die anderen, nicht dargestellten Löcher 12 im Ausführungsbeispiel gemäß 1 und 2 zu übertragen.The following description with respect to in 1 illustrated single hole 12 is on the other, not shown holes 12 in the embodiment according to 1 and 2 transferred to.

Im Ausführungsbeispiel gemäß 1 und 2 weist somit die Rückplatte 8 bezogen auf die scheibenförmige Ausführungsform symmetrisch und mit gleichem Abstand bezogen auf einen umlaufenden Radius angeordnete, schräge Löcher 12a auf.In the embodiment according to 1 and 2 thus has the back plate 8th related to the disc-shaped embodiment symmetrically and with the same distance relative to a circumferential radius arranged oblique holes 12a on.

Ferner weist die Kühlplatte 3 im Ausführungsbeispiel somit mehrere Löcher 12b auf. Das jeweilige Loch 12b der Kühlplatte 3 ist dabei auch in der Kühlplatte 3 so angeordnet, dass die zum jeweiligen, korrespondierenden Loch 12a der Rückplatte 8 korrespondiert und vollständig durch die Kühlplatte 3 hindurchgeht, wobei im Ausführungsbeispiel gemäß 1 das Loch 12b zwischen den beiden Dichtungsnuten 4a, 4b jeweils positioniert ist. Durch die geometrische Ausgestaltung eines durchgehenden Loches 12 durch Kühlplatte 3 und Rückplatte 8 ist das jeweilige, schräge Loch 12a in der Rückplatte 8 und das jeweilige Loch 12b der Kühlplatte 3 folglich formschlüssig positioniert, da die Durchmesser des Loches 12a in Rückplatte 8 und des Loches 12b der Kühlplatte 3 im Ausführungsbeispiel gleich sind und ferner sich schneidende Mittelachsen aufweisen.Furthermore, the cooling plate 3 in the embodiment thus several holes 12b on. The respective hole 12b the cooling plate 3 is also in the cooling plate 3 arranged so that the respective, corresponding hole 12a the back plate 8th corresponds and completely through the cooling plate 3 goes through, wherein in the embodiment according to 1 the hole 12b between the two sealing grooves 4a . 4b is positioned in each case. Due to the geometric design of a through hole 12 through cooling plate 3 and back plate 8th is the respective, oblique hole 12a in the back plate 8th and the respective hole 12b the cooling plate 3 consequently, positively positioned as the diameter of the hole 12a in back plate 8th and the hole 12b the cooling plate 3 in the embodiment are the same and further having intersecting central axes.

Von der Seitenkante 13 der Rückplatte 8 ist das Loch 12 mit einem Abstand von etwa 0,8 cm im Ausführungsbeispiel positioniert, wobei der Abstand zwischen Seitenkante 13 und Mittellinie des Lochs 12 im Bereich einer noch nachfolgend beschriebenen Höhle 15 gemessen wird. Im Ausführungsbeispiel ist der Lochabstand A1 von etwa 8 mm beispielhaft eingezeichnet. Der Durchmesser des Lochs 12 ist im Ausführungsbeispiel etwa 1 mm. Das Loch 12 geht im Ausführungsbeispiel mit gleichen Abmessungen, das heißt mit einem Durchmesser von etwa 1 mm, durch die Rückplatte 8 und die Kühlplatte 3 vollständig hindurch.From the side edge 13 the back plate 8th is the hole 12 positioned at a distance of about 0.8 cm in the embodiment, wherein the distance between side edge 13 and centerline of the hole 12 in the area of a cave described below 15 is measured. In the exemplary embodiment, the hole spacing A1 of approximately 8 mm is shown by way of example. The diameter of the hole 12 is about 1 mm in the embodiment. The hole 12 goes in the embodiment with the same dimensions, that is with a diameter of about 1 mm, through the back plate 8th and the cooling plate 3 completely through.

Das Loch 12 gemäß 1 ist im Bereich der Kühlplatte 3 senkrecht zur Fläche der Unterseite 14 der Rückplatte 8 positioniert. An die Unterseite 14 der Rückplatte 8 grenzt gemäß vorhergehenden Ausführungen in Teilbereichen das Kühlwasser 7 an, das sich in der Vertiefung 6 befindet. Die Vertiefung 6 bildet somit eine Art schalenförmiges Becken, das um den Mittelpunkt des Sputtertargets 1 herum flächig unterhalb der Rückplatte 8 ausgebildet ist.The hole 12 according to 1 is in the area of the cooling plate 3 perpendicular to the surface of the underside 14 the back plate 8th positioned. To the bottom 14 the back plate 8th borders according to the previous statements in partial areas the cooling water 7 that is in the depression 6 located. The depression 6 thus forms a kind of bowl-shaped basin, which is around the center of the sputtering target 1 around flat below the back plate 8th is trained.

Gemäß 1 und 2 ist das Loch 12 dabei so ausgestaltet, dass das Loch 12 auch durch die Verbindungsschicht, bestehend aus der Lotschicht 10 und den beiden Beschichtungen 11a, 11b, vollständig als Loch 12c hindurchgeht und in einem Teil des Sputtermaterials 9 hineinreicht. Das Loch 12c im Bereich der Verbindungsschicht ist im Ausführungsbeispiel noch als Teil des Loches 12a definiert. Das Hineinreichen ist als Höhle 15 in 1 und 2 angedeutet, wobei das Loch 12 in dieser Höhle 15 endet.According to 1 and 2 is the hole 12 doing so designed that the hole 12 also by the bonding layer, consisting of the solder layer 10 and the two coatings 11a . 11b completely as a hole 12c goes through and in a part of the sputtering material 9 extends. The hole 12c in the region of the connecting layer is in the embodiment still as part of the hole 12a Are defined. The submit is as a cave 15 in 1 and 2 indicated, with the hole 12 in this cave 15 ends.

Alternativ ist es möglich, dass die beiden Löcher 12a, 12b nicht räumlich korrespondieren, indem die Rückplatte 8 so auf die Kühlplatte 3 montiert worden ist, dass sich die jeweiligen Mittelachsen der Löcher 12a, 12b nicht schneiden können. Sie sind somit jeweils versetzt zueinander angeordnet. In einem solchen, häufig auftretenden Fall, ist es auch möglich, dass Gas zwischen dem Loch 12a der Rückplatte 8 und dem Loch 12b der Kühlplatte 3 ausgetauscht werden kann, indem die Verbindung von Loch 12a und Loch 12b jeweils mit Hilfe des Spaltes 26 zwischen Kühlplatte 3 und Rückplatte 8 ermöglicht ist. Diese versetzte Anordnung von den Löchern 12a, 12b tritt besonders bevorzugt auf, da die Rückplatte 8 und das Sputtermaterial 9 einfach aufeinander positioniert werden können, ohne auf die Ausrichtung der Löcher 12a, 12b beim Positionieren und Verbinden von Rückplatte 8 und Sputtermaterial 9 achten zu müssen.Alternatively it is possible that the two holes 12a . 12b do not correspond spatially by the back plate 8th so on the cooling plate 3 has been mounted that the respective central axes of the holes 12a . 12b can not cut. They are thus each offset from one another. In such a common case, it is also possible for gas to get in between the hole 12a the back plate 8th and the hole 12b the cooling plate 3 can be exchanged by connecting the hole 12a and hole 12b each with the help of the gap 26 between cooling plate 3 and back plate 8th is possible. This staggered arrangement of the holes 12a . 12b Particularly preferably, since the back plate 8th and the sputtering material 9 can be easily positioned on top of each other without affecting the orientation of the holes 12a . 12b when positioning and connecting backplate 8th and sputtering material 9 to pay attention.

Im Ausführungsbeispiel ist ein solcher häufig auftretender Fall des Versatzes der Löcher 12a, 12b nicht dargestellt, um die Verbindung von Loch 12a und Loch 12b ohne Spalt 26 beschreiben zu können. Der Spalt 26 in 1 wird somit nicht im Ausführungsbeispiel verwendet, da Gas direkt durch die Löcher 12a, 12b ohne Umweg durch den Spalt 26 strömen kann. Bei einem Versatz der Löcher 12a, 12b würde das Gas noch über den Umweg durch den Spalt 26 hindurch strömen.In the embodiment, such a frequently occurring case of the offset of the holes 12a . 12b not shown to the connection of hole 12a and hole 12b without a gap 26 to be able to describe. The gap 26 in 1 is therefore not used in the embodiment, as gas directly through the holes 12a . 12b without going through the gap 26 can flow. At an offset of the holes 12a . 12b the gas would still be detoured through the gap 26 flow through it.

Gemäß 1 ist im Ausführungsbeispiel das Sputtertarget 1 mit der Kühlplatte 3 mit Hilfe zumindest einer Pratzbefestigung 16 an der Kühlplatte 3 befestigt, wobei durch die geometrische Ausgestaltung des Sputtertargets 1 die Pratzbefestigung 16 ausschließlich die Rückplatte 8 gemäß 1 fest einklemmt. Dabei befindet sich die Pratzbefestigung 16 im Bereich des umlaufenden Randes der Rückplatte 8, die gemäß vorhergehenden Ausführungen gegenüber dem Sputtermaterial 9 hervorsteht.According to 1 is the sputtering target in the embodiment 1 with the cooling plate 3 with the help of at least one Pratzbefestigung 16 on the cooling plate 3 attached, wherein the geometric design of the sputtering target 1 the Pratzbefestigung 16 only the back plate 8th according to 1 firmly clamped. Here is the Pratzbefestigung 16 in the area of the peripheral edge of the back plate 8th , in accordance with the preceding statements with respect to the sputtering material 9 protrudes.

Im Rahmen der Herstellung des Sputtertargets 1 wird auf der Oberseite der Rückplatte 8 im Bereich des jeweiligen Loches 12a jeweils ein Aufkleber positioniert. Es handelt sich somit um eine widerverwendete Rückplatte 8, wobei nur das Sputtermaterial 9 ausgetauscht wird. Die wiederverwendete Rückplatte 8 weist somit schon Löcher 12a auf, die zur Herstellung mittels des jeweiligen Aufklebers abgeklebt werden.As part of the production of the sputtering target 1 is on the top of the back plate 8th in the area of the respective hole 12a each one sticker positioned. It is thus a reused back plate 8th where only the sputtering material 9 is exchanged. The reused back plate 8th thus already has holes 12a which are masked for production by means of the respective sticker.

Anschließend wird bei dem Sputtertarget 1, das nachfolgend ein wiederverwendetes Sputtertarget 1 ist, auf die Oberseite der Rückplatte 8 und die Unterseite des Sputtermaterials 9 jeweils eine eigene Beschichtung 11a, 11b aufgebracht. Gemäß 2 wurde beispielsweise auf die Rückplatte 8 die Beschichtung 11a und auf das Sputtermaterial 9 die Beschichtung 11b aufgebracht. Anschließend wird auf das Sputtermaterial 9 und/oder die Rückplatte 8 die Lotschicht 10 aus Indium oder einer Indiumlegierung aufgebracht. Nachfolgend werden die beiden Flächen der jeweiligen die zugehörige Beschichtung 11a, 11b aufweisende Seite zusammengeführt, so dass sich eine Anordnung nach 2 ergibt. Die Oberseite der Rückplatte 8 weist dabei zumindest die Beschichtung 11a nach dem Verbinden mit dem Sputtermaterial 9 auf.Subsequently, at the sputtering target 1 , which subsequently is a reused sputtering target 1 is on the top of the back panel 8th and the bottom of the sputtering material 9 each with its own coating 11a . 11b applied. According to 2 for example, on the back plate 8th the coating 11a and on the sputtering material 9 the coating 11b applied. Subsequently, on the sputtering material 9 and / or the back plate 8th the solder layer 10 made of indium or an indium alloy. Subsequently, the two surfaces of the respective the corresponding coating 11a . 11b merging side, so that an arrangement after 2 results. The top of the back plate 8th has at least the coating 11a after bonding with the sputtering material 9 on.

Der jeweilige Aufkleber an einem Loch 12a ist in 2 nicht dargestellt. Mittels der Aufkleber wird verhindert, dass die flüssige Lotschicht 10 und die Beschichtungen 11a, 11b in das jeweilige Loch 12a eindringen und den durch das jeweilige Loch 12a schon vorhandenen Lochkanal mittels Lot und/oder Beschichtungsmaterial verschließen.The respective sticker on a hole 12a is in 2 not shown. By means of the sticker prevents the liquid solder layer 10 and the coatings 11a . 11b into the respective hole 12a penetrate and through the respective hole 12a already existing hole channel by means of solder and / or coating material close.

Anschließend wird das Loch 12a der Rückplatte 8 beispielsweise durchbohrt, wobei der Bohrer durch das Loch 12a der Rückplatte 8 hindurch in das Sputtermaterial 9 mit Hilfe eines Bohrwerkzeugs bohrt. Es bildet sich dabei eine Höhle 15 aus. Dabei wird auch der jeweilige Aufkleber im Bereich eines jeweiligen Loches 12a mit durchbohrt. Subsequently, the hole 12a the back plate 8th for example, pierced, with the drill through the hole 12a the back plate 8th through into the sputtering material 9 drills with the help of a drilling tool. It forms a cave 15 out. The respective sticker will also be in the area of a respective hole 12a with pierced.

Alternativ ist bei einem neuen, noch nicht verwendeten Sputtertarget 1, das aus einer neuen Rückplatte 8 und einem neuen Sputtermaterial 9 besteht, kein Aufkleber notwendig, da die Löcher 12a in der Rückplatte 8 bevorzugt erst nach dem Verbinden mittels zumindest Lot oder dergleichen von Sputtermaterial 9 und Rückplatte 8 eingebracht, vorzugsweise gebohrt, werden. Dieses hergestellte Sputtertarget 1 kann dann wiederverwendet werden, indem nur das Sputtermaterial 9 gemäß vorhergehenden Ausführungen erneuert wird.Alternatively, with a new, not yet used sputtering target 1 that's from a new backplate 8th and a new sputtering material 9 There is no sticker necessary because the holes 12a in the back plate 8th preferably only after bonding by means of at least solder or the like of sputtering material 9 and back plate 8th introduced, preferably drilled, be. This sputtering target made 1 can then be reused by only the sputtering material 9 is renewed in accordance with the foregoing.

Im Ausführungsbeispiel wird vollständig durch die Verbindungsschicht hindurch gebohrt und ferner in das Sputtermaterial 9, so dass sich die Höhle 15 am Loch 12 ausbildet. Dadurch ist es besonders bevorzugt möglich, eine Gasströmung durch das freigelegte Loch 12 hindurch zu ermöglichen, wenn zumindest eine Teil des Sputtermaterials 9 von der Rückplatte 8 zumindest abgelöst worden ist.In the embodiment, drilling is made completely through the bonding layer and further into the sputtering material 9 so that the cave 15 at the hole 12 formed. Thereby, it is particularly preferably possible, a gas flow through the exposed hole 12 through when at least a portion of the sputtering material 9 from the back plate 8th at least has been replaced.

Mittels dieses Herstellungsverfahrens ist es somit möglich, dass verbrauchtes Sputtermaterial 9 auf einer Rückplatte 8 ausgetauscht werden kann, indem das verbrauchte Sputtermaterial 9 durch ein neues Sputtermaterial 9 ersetzt wird. Dazu wird gemäß vorhergehenden Ausführungen eine neue Lotschicht 10 und neue Beschichtungen 11a, 11b auf der jeweiligen Seite von Rückplatte 8 und von neuem Sputtermaterial 9 aufgebracht, diese verbunden und anschließen das jeweilige Loch 12a nachgebohrt, so dass sich im Endbereich des jeweiligen Loches 12 jeweils eine Höhle 15 in dem neuen Sputtermaterial 9 ausbildet, wobei die Rückplatte 8 wiederverwendet wird und schon Löcher 12a aufwies. Das in 3 dargestellte Loch 12c ist durch die Verbindungsschicht gebohrt, wobei dieser Bereich sich im Rahmen des Nachbohrens ergibt. Das Loch 12c ist im Ausführungsbeispiel als Teil des Loches 12a definiert. Die Seite, auf die die Beschichtung 11a aufgebracht wird, ist als Oberseite der Rückplatte 8 im Ausführungsbeispiel bezeichnet. Die Seite, auf die die Beschichtung 11b aufgebracht wird, wird im Ausführungsbeispiel als Unterseite des Sputtermaterials 9 bezeichnet.By means of this production method, it is thus possible that spent sputtering material 9 on a back plate 8th can be replaced by the spent sputtering material 9 through a new sputtering material 9 is replaced. For this purpose, according to the preceding embodiments, a new solder layer 10 and new coatings 11a . 11b on the respective side of back plate 8th and new sputter material 9 applied, these connected and connect the respective hole 12a drilled, so that in the end of each hole 12 one cave each 15 in the new sputtering material 9 forms, with the back plate 8th is reused and already holes 12a had. This in 3 illustrated hole 12c is drilled through the bonding layer, this area being in the context of re-drilling. The hole 12c is in the embodiment as part of the hole 12a Are defined. The side on which the coating 11a is applied as the top of the back plate 8th referred to in the embodiment. The side on which the coating 11b is applied is in the embodiment as the bottom of the sputtering material 9 designated.

In 3 ist eine alternative Ausgestaltung einer Vorrichtung 2a zum Befestigen eines Sputtertargets 1 dargestellt. Nachfolgend werden ausschließlich die Unterschiede beschrieben, wobei das Sputtertarget 1 sich gemäß 3 sowohl in seinen Abmessungen als auch in seiner Zusammensetzung nicht von dem Sputtertarget 1 aus 1 und 2 unterscheidet.In 3 is an alternative embodiment of a device 2a for attaching a sputtering target 1 shown. In the following, only the differences are described, with the sputtering target 1 according to 3 both in its dimensions and in its composition not from the sputtering target 1 out 1 and 2 different.

Die in der Vorrichtung 2a verwendete Kühlplatte 3a weist nur eine einzige Dichtungsnut 4c auf, in der ein Dichtungsring 5c in Form eines O-Ringes positioniert ist. Die Dichtungsnut 4c und der Dichtungsring 5c sind radial mit gleichem Abstand zur Mittelachse der Kühlplatte 3a umlaufend um den Mittelpunkt der Kühlplatte 3a angeordnet. Ferner weist die Kühlplatte 3a auf ihrer Oberseite 17 eine Senke 18 in Form einer Vertiefung 6 zur Aufnahme von Gas auf, die sich zwischen Rückplatte 8 und Kühlpatte 3a in der Senke 18 einschließt, wenn die Rückplatte 8 mit der Kühlplatte 3a beispielsweise mit Hilfe zumindest einer Schraubenverbindung 19 fest verbunden wird. Im Ausführungsbeispiel gemäß 1 ist nur eine Schraubenverbindung 19 beispielhaft dargestellt. Es ist möglich, dass zur Befestigung des Sputtertargets 1 an der Kühlplatte 3a beispielsweise 2, 3, 4, 5 oder mehr Schraubenverbindungen 19 verwendet werden, die sich bevorzugt symmetrisch und mit gleichen Abstand zum Mittelpunkt des runden Planartargets auf einem umlaufenden Radius passend im Randbereich der Rückplatte 8 verteilen.The in the device 2a used cooling plate 3a has only a single sealing groove 4c on, in which a sealing ring 5c is positioned in the form of an O-ring. The sealing groove 4c and the sealing ring 5c are radially equidistant from the central axis of the cooling plate 3a circulating around the center of the cooling plate 3a arranged. Furthermore, the cooling plate 3a on their top 17 a valley 18 in the form of a depression 6 for receiving gas, which is located between back plate 8th and cooling plate 3a in the valley 18 includes, if the back plate 8th with the cooling plate 3a for example, with the help of at least one screw connection 19 firmly connected. In the embodiment according to 1 is only a screw connection 19 exemplified. It is possible that for fixing the sputtering target 1 on the cooling plate 3a For example, 2, 3, 4, 5 or more screw connections 19 are used, which are preferably symmetrical and equidistant from the center of the round Planar target on a circumferential radius suitable in the edge region of the back plate 8th to distribute.

Die Senke 18 selbst bildet somit zwischen Rückplatte 8 und Kühlplatte 3a ein flaches Becken nach Art eines Luftspaltes um den Mittelpunkt des Sputtertargets 1 aus, das nach der Befestigung von Rückplatte 8 und Kühlplatte 3a in sich selbst gegenüber der Umgebung räumlich abgeschlossen ist. In dieser Senke 18 ist beispielsweise Umgebungsluft eingeschlossen.The valley 18 itself thus forms between back plate 8th and cooling plate 3a a shallow basin in the manner of an air gap around the center of the sputtering target 1 out after fixing the back plate 8th and cooling plate 3a is spatially completed in itself to the environment. In this valley 18 For example, ambient air is trapped.

Das Loch 12a in der Rückplatte 8 ist im Ausführungsbeispiel gemäß 3 derart ausgestaltet, dass das Loch 12a in die Senke 18 reicht, wobei sich das Loch 12a ausschließlich in der Rückplatte 8 befindet, das heißt durch die Rückplatte 8 vollständig hindurchgeht und schräg zur Unterseite 14 der Rückplatte 8 mit einem Winkel von etwa 45° angeordnet ist. Auch geht gemäß vorhergehenden Ausführungen dieses Loch 12a durch die Verbindungsschicht als Loch 12c als Teil des Lochs 12a vollständig hindurch. Das Loch 12a endet in der vorhergehend beschriebenen Höhle 15 im Bereich des Sputtermaterials 9. Wie vorhergehend beschrieben, weist das Sputtertarget 1 bevorzugt mehrere Löcher 12a auf. Die Kühlplatte 3 weist im Ausführungsbeispiel nach 3 keine Löcher auf.The hole 12a in the back plate 8th is in the embodiment according to 3 designed so that the hole 12a into the valley 18 enough, leaving the hole 12a only in the back plate 8th located, that is through the back plate 8th passes completely and diagonally to the bottom 14 the back plate 8th is arranged at an angle of about 45 °. Also goes according to previous comments this hole 12a through the tie layer as a hole 12c as part of the hole 12a completely through. The hole 12a ends in the previously described cave 15 in the area of the sputtering material 9 , As previously described, the sputtering target 1 prefers several holes 12a on. The cooling plate 3 points in the exemplary embodiment 3 no holes on.

Gemäß 3 weist das in 3 dargestellte Loch 12a einen Abstand, der im Ausführungsbeispiel nach 3 als Lochabstand A2 dargestellt ist, von etwa 0,8 cm von dem Rand des Sputtertargets 1 auf, so dass sich das Loch 12a an einer Seite im Bereich der Senke 18 befindet. Der Lochabstand A2 wird zwischen Seitenkante 13 und Ende des Loches 12a, das heißt im Bereich der Höhle 15, gemessen.According to 3 has the in 3 illustrated hole 12a a distance, according to the embodiment 3 is shown as hole spacing A2, from about 0.8 cm from the edge of the sputtering target 1 on, so that the hole 12a on one side in the area of the sink 18 located. The hole spacing A2 is between side edge 13 and end of the hole 12a that is in the area of the cave 15 , measured.

In 4 ist eine vereinfacht dargestellte Vorrichtung 2 dargestellt, in der ein Sputtertarget 1 gemäß den 1 und 2 befestigt war, so dass gesputtert werden konnte. In 4 is a simplified illustrated device 2 shown in which a sputtering target 1 according to the 1 and 2 was attached so that sputtering could be done.

Zunächst wird die Vorrichtung 2 und deren in 4 dargestellten neuen Bauteile im Detail beschrieben. Es wird bezüglicher des Sputtertargets 1 und der Vorrichtung 2 auf die Ausführungen zu 1 und 2 verwiesen.First, the device 2 and their in 4 illustrated new components described in detail. It will be relative to the sputtering target 1 and the device 2 on the comments too 1 and 2 directed.

Die im Ausführungsbeispiel gemäß 1 verwendete runde Kühlplatte 3 grenzt jeweils an ihre Außenseite an einen Isolator 20 an, der eine Ringform dadurch bildet. Der Isolator 20 ist an seiner Außenseite bezogen auf den Mittelpunkt der Kühlplatte 3 von einem ersten Schild 21 umgeben, das somit den Isolator 20 und die Kühlplatte 3 gemäß 4 auch ringförmig umgibt. Das erste Schild 21 bettet sozusagen im Detail den Isolator 20 und die Kühlplatte 3 ein. Gemäß vorhergehenden Ausführungen zu 1 und zu 2 ist an der Kühlplatte 3 das Sputtertarget 1 befestigt. Die Kühlplatte 3 ist Teil der Vorrichtung 2 und verbleibt in dieser. Nur das verwendete Sputtertarget 1 wird in der Vorrichtung 2 in bestimmten Zeitabständen ausgetauscht und durch ein Sputtertarget 1 mit zumindest neuem Sputtermaterial 9 ausgetauscht. Alternativ wird ein neues, unverbrauchtes Sputtertarget 1 mit neuer Rückplatte 8 und neuem Sputtermaterial 9 verwendet und in der Vorrichtung 2 ausgetauscht.In the embodiment according to 1 used round cooling plate 3 each adjacent to its outside to an insulator 20 which forms a ring shape by. The insulator 20 is on its outside relative to the center of the cooling plate 3 from a first sign 21 surrounded, thus the insulator 20 and the cooling plate 3 according to 4 also surrounds annular. The first sign 21 so to speak, it embeds the insulator in detail 20 and the cooling plate 3 one. According to previous comments 1 and to 2 is on the cooling plate 3 the sputtering target 1 attached. The cooling plate 3 is part of the device 2 and stays in this one. Only the sputtering target used 1 is in the device 2 exchanged at certain intervals and by a sputtering target 1 with at least new sputtering material 9 replaced. Alternatively, a new, unused sputtering target 1 with new backplate 8th and new sputter material 9 used and in the device 2 replaced.

Es wird zur geometrischen Ausgestaltung des Sputtertargets 1 an der Kühlplatte 3 auf die Ausführungen zu 1 und 2 verwiesen. In 4 sind zwei Löcher 12 und zwei Höhlen 15 bespielhaft dargestellt.It becomes the geometric design of the sputtering target 1 on the cooling plate 3 on the comments too 1 and 2 directed. In 4 are two holes 12 and two caves 15 presented as an example.

Zwischen Rückplatte 8 und Kühlplatte 3 befindet sich gemäß vorhergehenden Ausführungen Kühlwasser 7, das kontinuierlich während des Betriebes der Vorrichtung 2 durch die Vertiefung 6 hindurchfließt und ausgetauscht wird, so dass eine Kühlung des Sputtertargets 1 möglich ist.Between back plate 8th and cooling plate 3 is located according to the previous versions of cooling water 7 continuously during the operation of the device 2 through the depression 6 flows through and is replaced, so that a cooling of the sputtering target 1 is possible.

Das Sputtermaterial 9 ist in 4 vor dem Lösen von der Rückplatte 8 an der Rückplatte 8 gestrichelt angedeutet. Auch während der Montage und im optimalen Betrieb befindet sich das Sputtermaterial 9 an dieser gestrichelt angedeuteten Position. Das Sputtermaterial 9, das zum Sputtern verwendet wird, befindet sich somit in der gestrichelt angedeuteten Position in einer Lage, in der das Sputtertarget 1 zum Sputtern verwendet werden kann.The sputtering material 9 is in 4 before loosening from the back plate 8th on the back plate 8th indicated by dashed lines. Also during assembly and in optimal operation is the sputtering material 9 at this dashed line indicated position. The sputtering material 9 , which is used for sputtering, thus located in the dashed line indicated position in a position in which the sputtering target 1 can be used for sputtering.

Zur Erläuterung der Erfindungsidee ist ein von der Rückplatte 8 vollständig abgelöstes Sputtermaterial 9 beispielhaft dargestellt, das aufgrund des vollständigen Ablösens von der Rückplatte 8 folglich abgefallen ist, da ausschließlich die Rückplatte 8 mit Hilfe zweier beispielhaft dargestellter Pratzbefestigungen 16 an der Kühlplatte 3 befestigt worden war. Das abgefallene Sputtermaterial 9 kann nicht mehr zum Sputtern in der Anordnung nach 4 verwendet werden.To explain the idea of the invention is one of the back plate 8th completely detached sputtering material 9 exemplified, due to the complete detachment from the back plate 8th Consequently, since only the back plate 8th with the help of two exemplified Pratzbefestigungen 16 on the cooling plate 3 had been attached. The fallen sputtering material 9 can not after sputtering in the arrangement after 4 be used.

An das erste Schild 21 grenzt ein weiteres zweites Schild 22 an, wobei das zweite Schild 22 aufgrund seiner geometrischen Gestaltung gemäß 4 in der Vorrichtung 2 eine Trichterform erzeugt, in die das abgefallene Sputtermaterial 9 hineingefallen ist. Dieses Schild 22 läuft auch ringförmig um den Mittelpunkt der Kühlplatte 3 gemäß 4.At the first sign 21 adjoins another second sign 22 with the second sign 22 due to its geometric design according to 4 in the device 2 creates a funnel shape into which the fallen sputtering material 9 fallen into it. This sign 22 Also runs annular around the center of the cooling plate 3 according to 4 ,

Auf der engeren, durch das zweite Schild 22 gebildeten Trichterseite befindet sich ein zu besputterndes Produkt, beispielsweise ein Wafer 23. Der Wafer 23 ist beispielsweise aus Silizium und soll in der Vorrichtung 2 mittels Nickel beschichtet werden.On the closer, by the second shield 22 formed hopper side is a product to be sputtered, for example, a wafer 23 , The wafer 23 is for example made of silicon and is intended in the device 2 be coated by nickel.

Bevorzugt werden bei einer Besputterung mit Nickel die jeweiligen Wafer 23 in den Trichterbereich des zweiten Schildes 22 gemäß 4 beispielsweise getaktet geführt. Das Schild 22 ist jeweils von einer Kammerwand 24 umgeben, so dass es möglich ist, den beispielshaft dargestellten Wafer 23 im Vakuum zu besputtern, das innerhalb der Kammerwand 24 gegenüber der Umgebung gebildet wird. Der Bereich, in dem keine Kammerwand 24 vorhanden ist, wird durch das erste Schild 21, den Isolator 20, die Kühlplatte 3, das Sputtermaterial 9 und die Rückplatte 8 von der Umgebung abgegrenzt. Das erste Schild 21 und das zweite Schild 22 bestehen beispielsweise aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung. Die Begriffe „Schild” sind auch unter dem englischen Begriff „Shield” bekannt.In a sputtering with nickel, the respective wafers are preferred 23 into the funnel area of the second shield 22 according to 4 for example, clocked led. The shield 22 each is from a chamber wall 24 surrounded, so that it is possible, the exemplary illustrated wafer 23 sputtering in a vacuum inside the chamber wall 24 is formed opposite the environment. The area where no chamber wall 24 is present is through the first sign 21 , the insulator 20 , the cooling plate 3 , the sputtering material 9 and the back plate 8th demarcated from the environment. The first sign 21 and the second sign 22 consist for example of aluminum or an aluminum alloy. The terms "shield" are also known by the English term "shield".

Die Kammerwand 24 und das erste Schild 21, der Isolator 20, die Kühlplatte 3, das Sputtermaterial 9 und die Rückplatte 8 bilden eine geschlossene Kammer 25 in der Vorrichtung 2.The chamber wall 24 and the first sign 21 , the insulator 20 , the cooling plate 3 , the sputtering material 9 and the back plate 8th form a closed chamber 25 in the device 2 ,

Es ist somit möglich, in der Vorrichtung 2 eine Druckdifferenz gegenüber dem außerhalb der Vorrichtung 2 vorherrschenden Umgebungsdruck in einer außerhalb der Kammer 25 liegenden Umgebung zu erzeugen, im Ausführungsbeispiel ein Vakuum in der Kammer 25 der Vorrichtung 2, wobei das Sputtertarget 1 mit Hilfe des Dichtungsringes 5a in der Dichtungsnut 4a gegenüber der Umgebung außerhalb der Vorrichtung 2 und dem dort vorherrschenden Umgebungsdruck abgedichtet ist, wenn beispielsweise mit Hilfe einer Vakuumpumpe die Druckdifferenz gegenüber dem Umgebungsdruck in Form eines erzeugten Vakuums in der Kammer 25 der Vorrichtung 2 erzeugt worden ist.It is thus possible in the device 2 a pressure difference over the outside of the device 2 prevailing ambient pressure in one outside the chamber 25 lying environment to produce, in the embodiment, a vacuum in the chamber 25 the device 2 , where the sputtering target 1 with the help of the sealing ring 5a in the sealing groove 4a towards the environment outside the device 2 and the ambient pressure prevailing there is sealed when, for example by means of a vacuum pump, the pressure difference from the ambient pressure in the form of a generated vacuum in the chamber 25 the device 2 has been generated.

Der in 4 dargestellte weitere Dichtungsring 5b in der Dichtungsnut 4b sorgt dafür, dass das Kühlwasser 7 nicht in die Vorrichtung 2 eindringen kann, in dem der Dichtungsring 5b die Vertiefung 6 mit dem Kühlwasser 7 abdichtet.The in 4 shown further sealing ring 5b in the sealing groove 4b ensures that the cooling water 7 not in the device 2 penetration can, in which the sealing ring 5b the depression 6 with the cooling water 7 seals.

Das Sputtermaterial 9 bildet des Weiteren auch eine Art Dichtung aus, die das jeweilige Loch 12 in dem Sputtertarget 1 abdichtet, so dass beim erzeugten Vakuum in der Kammer 25 der Vorrichtung 2 kein Gas in die Kammer 25 durch das Loch 12 oder die Löcher 12 eintreten kann, wenn das Sputtermaterial 9 gemäß 1 an der Rückplatte 8 mittels der Verbindung aus Lotschicht 10 und Beschichtung 11a, 11b verbunden ist, das heißt nicht abgelöst ist.The sputtering material 9 Furthermore, also forms a kind of seal that the respective hole 12 in the sputtering target 1 seals so that at the generated vacuum in the chamber 25 the device 2 no gas in the chamber 25 through the hole 12 or the holes 12 can occur when the sputtering material 9 according to 1 on the back plate 8th by means of the compound of solder layer 10 and coating 11a . 11b is connected, that is not detached.

Mittels der Löcher 12b in der Kühlplatte 3 lässt sich feststellen, ob das in der Vorrichtung 2 positionierte Sputtertarget 1 gasdicht in der Vorrichtung 2 befestigt ist. Es ist beispielsweise aus dem Stand der Technik hinreichend bekannt, dass mittels Helium eine Lecksuche im Bereich der jeweiligen Löcher 12 nach Montage des Sputtertargets 1 in der Vorrichtung 2 gemäß 4 durchführbar ist.By means of the holes 12b in the cooling plate 3 can determine if that in the device 2 positioned sputtering target 1 gas-tight in the device 2 is attached. For example, it is well known from the prior art that by means of helium a leak detection in the region of the respective holes 12 after mounting the sputtering target 1 in the device 2 according to 4 is feasible.

Nachfolgend wird die Beschichtung eines Wafers 23 beispielhaft beschrieben, wobei in diesem Zustand das Sputtermaterial 9 zunächst noch nicht von der Rückplatte 8 abgefallen ist.The following is the coating of a wafer 23 described by way of example, in which state the sputtering material 9 not yet from the back plate 8th has fallen off.

In der Vorrichtung 2 ist zunächst ein Sputtertarget 1 gemäß 1 an die Rückplatte 8 befestigt worden. Das befestigte Sputtermaterial 9 im Sputtertarget 1 ist gestrichelt dargestellt.In the device 2 is initially a sputtering target 1 according to 1 to the back plate 8th attached. The attached sputtering material 9 in the sputtering target 1 is shown in dashed lines.

Nachdem die Rückplatte 8 zwischen den Isolator 20 eingesetzt worden ist und anschließend ein Vakuum in der geschlossenen Vorrichtung 2 erzeugt worden ist, wird zwischen Wafer 23 und Sputtertarget 1 ein Spannungspotential erzeugt, so dass das Nickel-Ionen, die aus dem gestrichelt angedeuteten Sputtermaterial 9 erzeugt werden, auf den Wafer 23, insbesondere die dem Sputtermaterial 9 gegenüberliegende Oberfläche des Wafers 23, aufgesputtert werden.After the back plate 8th between the insulator 20 has been used and then a vacuum in the closed device 2 is generated between wafers 23 and sputtering target 1 generates a voltage potential, so that the nickel ions from the sputtering material indicated by dashed lines 9 be generated on the wafer 23 , in particular the sputtering material 9 opposite surface of the wafer 23 to be sputtered.

Es ist hinreichend bekannt, dass als Vakuum zum Sputtern etwa 10–3 bar verwendet werden, wobei die Ionen zum Herauslösen der Nickel-Ionen aus dem gestrichelt angedeuteten Sputtermaterial 9 mit Hilfe eines Gases in der Kammer, beispielsweise Argon, erzeugt werden.It is well known that about 10 -3 bar are used as a vacuum for sputtering, wherein the ions for dissolving out the nickel ions from the sputtering material indicated by dashed lines 9 be generated by means of a gas in the chamber, such as argon.

Diese Ionen lösen aus dem gestrichelt angedeuteten Sputtermaterial 9 Nickel-Ionen nach dem aus dem Stand der Technik hinreichend bekannten Sputterverfahren heraus, die dann aufgrund des Spannungspotentials zwischen Wafer 23 und Sputtertarget 1 auf den Wafer 23 beschleunigt werden und diesen beschichten. Vor und nach dem Sputtern weist die Kammer 25 im Ausführungsbeispiel einen Vakuumdruck von etwa 10–5 bar auf.These ions dissolve from the sputtered material indicated by dashed lines 9 Nickel ions according to the well-known from the prior art sputtering method, which then due to the voltage potential between wafer 23 and sputtering target 1 on the wafer 23 be accelerated and coat this. Before and after sputtering, the chamber points 25 in the embodiment, a vacuum pressure of about 10 -5 bar.

Aufgrund technischer Vorkommnisse, beispielsweise einer Überhitzung des Sputtermaterials 9, fällt während des Prozesses das gestrichelt angedeutete Sputtermaterial 9 von der Rückplatte 8 in Richtung Wafer 23 und wird durch das trichterförmige zweite Schild 22 abgefangen, so dass es auf dem zweiten Schild 22 gemäß 4 aufliegt. Ein Sputtern des Wafers 23 ist derzeit nicht mehr in der Vorrichtung 2 möglich. Der oben beschriebene Zustand aufgrund des Abfallens des Sputtermaterials 9 wird in der Regel in den Anlagenparametern und mittels der Sensoren der Anlage bzw. Vorrichtung 2 nicht erkannt. Folge ist, dass weiterhin Wafer 23 in die Anlage taktweise eingeschleust werden, wobei diese nicht mehr besputtert werden können, da das Sputtermaterial 9 abgefallen ist und keine Spannung mehr an diesem Sputtermaterial 9 anliegt. Die Erfindungsidee ist es, vorhergehend beschriebenes zu verhindern, indem der nachfolgend beschriebene Wirkungszusammenhang durchgeführt wird:
Durch die jeweiligen Löcher 12, 12a, 12b in der Kühlplatte 3 und der Rückplatte 8 tritt in dem Moment, wo ein Ablösen des Sputtermaterials 9 von der Rückplatte 8 stattfindet, ein Gaseintritt von der außerhalb der Umgebung befindlichen Umgebungsluft in das Innere der Vorrichtung 2 ein. Diese Druckänderung wird beispielsweise durch ein in der Vorrichtung 2 vorhandenes Messgerät zur Messung des Vakuumdruckes gemessen, da ein rascher Druckanstieg beispielsweise von 10–3 bar auf 10–2 bar aufgrund der zugeführten Umgebungsluft durch das zumindest eine freigelegte Loch 12 entsteht. Im Endzustand wird sich Umgebungsdruck von etwa 1 bar in der Kammer 25 einstellen, da die Kammer 25 und die Umgebung durch den Gasaustausch im Gleichgewicht sind. Es ist im Ausführungsbeispiel davon auszugehen, dass die Vakuumpumpe den Druckanstieg nicht ausgleicht. Durch die beiden Pfeile in 4 im Bereich der Löcher 12 wird beispielhaft der Gaseintritt am jeweiligen Loch 12 in die Kammer 25 dargestellt.
Due to technical events, such as overheating of the sputtering material 9 , falls during the process indicated by dashed lines sputter material 9 from the back plate 8th in the direction of wafers 23 and gets through the funnel-shaped second shield 22 intercepted, leaving it on the second shield 22 according to 4 rests. A sputtering of the wafer 23 is currently no longer in the device 2 possible. The above-described condition due to the dropping of the sputtering material 9 is usually in the system parameters and by means of the sensors of the system or device 2 not recognized. Consequence is that continue to wafer 23 be introduced in the system intermittently, and these can not be sputtered, since the sputtering material 9 has fallen off and no tension on this sputtering material 9 is applied. The idea of the invention is to prevent the previously described by carrying out the effect described below:
Through the respective holes 12 . 12a . 12b in the cooling plate 3 and the back plate 8th occurs at the moment where a detachment of the sputtering material 9 from the back plate 8th takes place, a gas inlet from the ambient air located outside the environment in the interior of the device 2 one. This pressure change is for example by a in the device 2 existing measuring device for measuring the vacuum pressure measured as a rapid increase in pressure, for example, from 10 -3 bar to 10 -2 bar due to the supplied ambient air through the at least one exposed hole 12 arises. In the final state, the ambient pressure will be about 1 bar in the chamber 25 set as the chamber 25 and the environment is in equilibrium by gas exchange. It can be assumed in the exemplary embodiment that the vacuum pump does not compensate for the pressure increase. Through the two arrows in 4 in the area of the holes 12 is exemplified by the gas inlet at each hole 12 in the chamber 25 shown.

Es ist somit gemäß der beispielhaft in 4 dargestellten Vorrichtung 2 möglich, das Lösen eines Sputtermaterials 9 von einer Rückplatte 8 zu erkennen, in dem das zumindest eine Loch 12a in der Rückplatte 3 freigelegt worden ist, so dass zwischen Unterseite der Rückplatte 8 und Oberseite der Rückplatte 8 durch das jeweilige Loch 12 hindurch ein Austausch von Gas aufgrund des Unterdrucks in der Kammer 25 durchgeführt wird. Dadurch ist ein Lösen der Verbindung zwischen Rückplatte 8 und Sputtermaterial 9 mit Hilfe des zumindest einen freigelegten Loches 12 feststellbar.It is thus according to the example in 4 illustrated device 2 possible, releasing a sputtering material 9 from a back plate 8th to recognize, in which the at least one hole 12a in the back plate 3 has been exposed so that between bottom of the back plate 8th and top of the back plate 8th through the respective hole 12 through an exchange of gas due to the negative pressure in the chamber 25 is carried out. This is a release of the connection between the back plate 8th and sputtering material 9 with the help of at least one exposed hole 12 ascertainable.

Nicht dargestellt in 4 ist ein Sputtertarget 1 gemäß 3. Falls bei einem solchen Sputtertarget 1 gemäß 3 in einer Vorrichtung gemäß 4 das Sputtermaterial 9 sich ablöst, wird mit Hilfe des Gases in der Senke 18 eine Druckveränderung in der Kammer 25 ausgelöst, da das Gas in der Senke 18 durch das zumindest eine Loch 12a in die Kammer 25 der Vorrichtung 2 gemäß 4 strömt, wenn das Sputtermaterial 9 sich vollständig oder teilweise von der Rückplatte 8 ablöst. Bei einem vollständigen Ablösen fällt das Sputtermaterial 9 in Richtung zweitem Schild 22.Not shown in 4 is a sputtering target 1 according to 3 , If such a sputtering target 1 according to 3 in a device according to 4 the sputtering material 9 it dissolves, with the help of the gas in the sink 18 a pressure change in the chamber 25 triggered as the gas in the sink 18 through the at least one hole 12a in the chamber 25 the device 2 according to 4 flows when the sputtering material 9 completely or partially from the back plate 8th replaces. If completely detached, the sputter material will fall 9 in the direction of the second sign 22 ,

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

11
Sputtertargetsputtering Target
2, 2a2, 2a
Vorrichtungcontraption
3, 3a3, 3a
Kühlplattecooling plate
4a, 4b, 4c4a, 4b, 4c
Dichtungsnutseal groove
5a, 5b, 5c5a, 5b, 5c
Dichtungsringsealing ring
66
Vertiefungdeepening
77
Kühlwassercooling water
88th
Rückplattebackplate
99
Sputtermaterialsputter
1010
Lotschichtsolder layer
11a, 11b11a, 11b
Beschichtungcoating
1212
Lochhole
12a (im Bereich der Rückplatte)12a (in the area of the back plate)
Lochhole
12b (im Bereich der Kühlplatte)12b (near the cooling plate)
Lochhole
12c (im Bereich der Verbindungsschicht als Teil des Lochs 12a)12c (in the region of the connecting layer as part of the hole 12a)
Lochhole
1313
Seitenkanteside edge
14 (der Rückplatte)14 (the back plate)
Unterseitebottom
1515
Höhlecave
1616
PratzbefestigungPratzbefestigung
17 (der Kühlplatte)17 (the cooling plate)
Oberseitetop
1818
Senkedepression
1919
Schraubenverbindungscrew connection
2020
Isolatorinsulator
2121
Erstes SchildFirst sign
2222
Zweites SchildSecond sign
2323
Waferwafer
2424
Kammerwandchamber wall
2525
Kammerchamber
2626
Spaltgap
A1, A2A1, A2
Lochabstandhole spacing

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

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  • DE 4426751 A1 [0003] DE 4426751 A1 [0003]

Claims (20)

Sputtertarget (1), insbesondere rundes oder eckiges Planartarget, mit einem Träger, insbesondere mit einer Rückplatte (8), und einem Sputtermaterial (9), wobei der Träger mit dem Sputtermaterial (9) verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest der Träger zumindest ein durch den Träger vollständig hindurchgehendes Loch (12, 12a) aufweist, so dass mit Hilfe des Loches (12, 12a) ein Lösen der Verbindung zwischen Träger und Sputtermaterial (9) feststellbar ist.Sputtering target ( 1 ), in particular round or angular Planar target, with a carrier, in particular with a back plate ( 8th ), and a sputtering material ( 9 ), wherein the carrier with the sputtering material ( 9 ), characterized in that at least the support at least one through the support completely passing hole ( 12 . 12a ), so that by means of the hole ( 12 . 12a ) a release of the connection between carrier and sputtering material ( 9 ) is detectable. Sputtertarget (1) gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Loch (12) eine Bohrung ist.Sputtering target ( 1 ) according to claim 1, characterized in that the hole ( 12 ) is a bore. Sputtertarget (1) gemäß Anspruch 1 oder Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Loch (12, 12a) in dem Träger senkrecht zur Fläche der Trägerunterseite positioniert ist oder mit einem Winkel zwischen 0° und 90°, vorzugsweise von 30° bis 60°, bezogen auf die Fläche der Trägerunterseite positioniert ist.Sputtering target ( 1 ) according to claim 1 or claim 2, characterized in that the hole ( 12 . 12a ) is positioned in the carrier perpendicular to the surface of the carrier base or is positioned at an angle between 0 ° and 90 °, preferably from 30 ° to 60 °, relative to the surface of the carrier base. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Loch (12, 12a) eine runde, ovale, ellipsenförmige, rechteckige, quadratische Form oder eine Kombination aus vorhergehenden Formen aufweist.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the hole ( 12 . 12a ) has a round, oval, elliptical, rectangular, square shape or a combination of previous shapes. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Loch (12, 12a) mit gleichen Abmessungen durch den Träger hindurchgeht.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the hole ( 12 . 12a ) passes through the carrier with the same dimensions. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Loch (12, 12a) einen Durchmesser von 0,1 mm bis 30 mm, vorzugsweise von 0,5 mm bis 1,5 mm, insbesondere von etwa 1 mm, aufweist.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the hole ( 12 . 12a ) has a diameter of 0.1 mm to 30 mm, preferably of 0.5 mm to 1.5 mm, in particular of about 1 mm. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger vier bis zwölf Löcher, vorzugsweise acht Löcher, aufweist.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the carrier has four to twelve holes, preferably eight holes. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen Träger und Sputtermaterial (9) zusätzlich eine Verbindungsschicht aufgebracht ist, wobei die Verbindungsschicht eine Komponente oder eine Kombination von unterschiedlichen Komponenten, vorzugsweise eine Lotschicht (10) und eine Beschichtung (11a, 11b) jeweils im Bereich des Trägers und des Sputtermaterials (9), aufweist, wobei die Beschichtung (11a, 11b) an die Lotschicht (10) jeweils angrenzt.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that between carrier and sputtering material ( 9 ) is additionally applied a bonding layer, wherein the bonding layer, a component or a combination of different components, preferably a solder layer ( 10 ) and a coating ( 11a . 11b ) in each case in the region of the carrier and the sputtering material ( 9 ), wherein the coating ( 11a . 11b ) to the solder layer ( 10 ) each adjacent. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Loch (12, 12a) von einer Trägerseitenkante mit einem Abstand von 0,3 cm bis 40 cm, vorzugsweise von 0,5 cm bis 2 cm, insbesondere von etwa 0,8 cm, positioniert ist.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the hole ( 12 . 12a ) is positioned from a support side edge at a distance of 0.3 cm to 40 cm, preferably 0.5 cm to 2 cm, in particular about 0.8 cm. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Sputtermaterial (9) und/oder die Verbindungsschicht auch das Loch (12, 12a) aufweisen.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the sputtering material ( 9 ) and / or the connecting layer also the hole ( 12 . 12a ) exhibit. Sputtertarget (1) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das runde Planartarget einen Durchmesser von 100 mm bis 500 mm, vorzugsweise von etwa 310 mm, aufweist.Sputtering target ( 1 ) according to one of the preceding claims, characterized in that the round planar target has a diameter of 100 mm to 500 mm, preferably of about 310 mm. Vorrichtung (2) zum Befestigen eines Sputtertargets (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 11 an einer Halteplatte, vorzugsweise an einer Kühlplatte (3), wobei die Halteplatte oder das Sputtertarget (1) zumindest zwei Dichtungsnuten (4a, 4b) aufweist, in denen jeweils ein Dichtungsring (5a, 5b) positioniert ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Halteplatte zumindest ein durch die Halteplatte vollständig hindurchgehendes Loch (12, 12b) aufweist, wobei das Loch (12, 12b) zwischen den beiden Dichtungsnuten (5a, 5b) positioniert ist.Contraption ( 2 ) for attaching a sputtering target ( 1 ) according to one of claims 1 to 11 on a holding plate, preferably on a cooling plate ( 3 ), wherein the holding plate or the sputtering target ( 1 ) at least two sealing grooves ( 4a . 4b ), in each of which a sealing ring ( 5a . 5b ), characterized in that the retaining plate at least one through the retaining plate completely through hole ( 12 . 12b ), wherein the hole ( 12 . 12b ) between the two sealing grooves ( 5a . 5b ) is positioned. Vorrichtung (2) gemäß Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Halteplatte auf der Oberseite (17) der Halteplatte zumindest eine Vertiefung (6), vorzugsweise eine Vertiefung (6) zur Aufnahme von Kühlflüssigkeit, vorzugsweise Kühlwasser (7), aufweist.Contraption ( 2 ) according to claim 12, characterized in that the retaining plate on the top ( 17 ) of the holding plate at least one recess ( 6 ), preferably a depression ( 6 ) for receiving coolant, preferably cooling water ( 7 ), having. Vorrichtung (2a) zum Befestigen eines Sputtertargets (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 11 an einer Halteplatte, vorzugsweise an einer Kühlplatte (3a), wobei die Halteplatte oder das Sputtertarget (1) zumindest eine Dichtungsnut (4c) aufweist, in der ein Dichtungsring (5c) positioniert ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Halteplatte auf der Oberseite (17) der Halteplatte zumindest eine Vertiefung (6), vorzugsweise einen Senke (18) zur Aufnahme von Gas, vorzugsweise Umgebungsluft, aufweist.Contraption ( 2a ) for attaching a sputtering target ( 1 ) according to one of claims 1 to 11 on a holding plate, preferably on a cooling plate ( 3a ), wherein the holding plate or the sputtering target ( 1 ) at least one sealing groove ( 4c ), in which a sealing ring ( 5c ), characterized in that the retaining plate on the upper side ( 17 ) of the holding plate at least one recess ( 6 ), preferably a sink ( 18 ) for receiving gas, preferably ambient air. Vorrichtung (2, 2a) gemäß einem der Ansprüche 11 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass in der Vorrichtung (2, 2a) der Träger unabhängig von dem Sputtermaterial (9) befestigbar ist, vorzugsweise der Träger mit Hilfe zumindest einer Pratzbefestigung (16) oder zumindest einer Schraubenverbindung (19) an der Halteplatte unabhängig von dem Sputtermaterial (9) befestigbar ist.Contraption ( 2 . 2a ) according to any one of claims 11 to 14, characterized in that in the device ( 2 . 2a ) the carrier independently of the sputtering material ( 9 ) is fastened, preferably the carrier by means of at least one Pratzbefestigung ( 16 ) or at least one screw connection ( 19 ) on the holding plate independently of the sputtering material ( 9 ) is attachable. Vorrichtung (2, 2a) gemäß einem der Ansprüche 11 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass in der Vorrichtung (2, 2a) eine Druckdifferenz gegenüber einem Umgebungsdruck, vorzugsweise ein Vakuum, erzeugbar ist, wobei das Sputtertarget (1) mit Hilfe des einen Dichtungsringes (5a, 5c) gegenüber einer Umgebung und dem dort vorherrschenden Umgebungsdruck abgedichtet ist, wenn die Druckdifferenz gegenüber dem Umgebungsdruck, vorzugsweise das Vakuum, in der Vorrichtung (2, 2a) erzeugt ist.Contraption ( 2 . 2a ) according to any one of claims 11 to 15, characterized in that in the device ( 2 . 2a ) a pressure difference relative to an ambient pressure, preferably a vacuum, can be generated, wherein the sputtering target ( 1 ) by means of a sealing ring ( 5a . 5c ) is sealed against an environment and the prevailing ambient pressure there, when the pressure difference with respect to the ambient pressure, preferably the vacuum, in the device ( 2 . 2a ) is generated. Verfahren zum Erkennen des Lösens eines Sputtermaterials (9) von einem Träger, insbesondere einer Rückplatte (8), eines Sputtertargets (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 11 mit Hilfe einer Vorrichtung (2, 2a) nach einem der Ansprüche 12 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass beim vollständigen oder teilweisen Lösen des Sputtermaterials (9) von dem Träger zumindest ein Loch (12, 12a) in dem Träger freigelegt wird, so dass zwischen Unterseite (14) des Trägers und Oberseite des Trägers durch das Loch (12, 12a) hindurch ein Austausch von Gas durchgeführt wird.Method for detecting the detachment of a sputtering material ( 9 ) of a carrier, in particular a back plate ( 8th ), a sputtering target ( 1 ) according to one of claims 1 to 11 with the aid of a device ( 2 . 2a ) according to any one of claims 12 to 16, characterized in that when completely or partially releasing the sputtering material ( 9 ) from the support at least one hole ( 12 . 12a ) is exposed in the carrier, so that between underside ( 14 ) of the carrier and top of the carrier through the hole ( 12 . 12a ) is carried out through an exchange of gas. Verfahren zur Herstellung eines Sputtertargets (1) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 11 zum Erkennen des Lösens eines Sputtermaterials (9) von einem Träger, insbesondere einer Rückplatte (8), eines Sputtertargets (1), dadurch gekennzeichnet, dass der Träger und das Sputtermaterial (9) mittels einer Verbindungsschicht, vorzugsweise mittels einer Verbindungsschicht aufweisend eine Komponente oder aufweisend eine Kombination von unterschiedlichen Komponenten, vorzugsweise aufweisend eine Lotschicht (10) und aufweisend eine Beschichtung (11a, 11b) jeweils im Bereich des Trägers und des Sputtermaterials (9), miteinander verbunden werden und anschließend durch zumindest ein Loch (12, 12a) im Bereich des Trägers zumindest ein Loch (12, 12c) in die Verbindungsschicht oder durch die Verbindungsschicht vollständig hindurch und/oder zumindest eine Höhle (15) in das Sputtermaterial (9) eingebracht wird, vorzugsweise gebohrt wird.Method for producing a sputtering target ( 1 ) according to one of claims 1 to 11 for detecting the release of a sputtering material ( 9 ) of a carrier, in particular a back plate ( 8th ), a sputtering target ( 1 ), characterized in that the carrier and the sputtering material ( 9 ) by means of a bonding layer, preferably by means of a bonding layer comprising a component or comprising a combination of different components, preferably comprising a solder layer ( 10 ) and having a coating ( 11a . 11b ) in each case in the region of the carrier and the sputtering material ( 9 ), and then through at least one hole ( 12 . 12a ) in the area of the support at least one hole ( 12 . 12c ) into the tie layer or through the tie layer completely therethrough and / or at least one cavity ( 15 ) into the sputtering material ( 9 ) is introduced, is preferably drilled. Verfahren zur Herstellung eines Sputtertargets (1) gemäß Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass vor dem Einbringen des Loches (12, 12c) in die Verbindungsschicht oder durch die Verbindungsschicht vollständig hindurch und/oder der Höhle (15) in den Träger, vorzugsweise in die Rückplatte (8), zunächst zumindest ein vollständig durch den Träger hindurchgehendes Loch (12, 12a) eingebracht wird, vorzugsweise gebohrt wird, wobei dieses eingebrachte Loch (12, 12a) in das nachfolgend eingebrachte Loch (12, 12c) und/oder in die nachfolgend einbrachte Höhle (15) hineinreicht.Method for producing a sputtering target ( 1 ) according to claim 18, characterized in that before the introduction of the hole ( 12 . 12c ) in the tie layer or through the tie layer completely therethrough and / or the cavity ( 15 ) in the carrier, preferably in the back plate ( 8th ), first at least one hole completely through the support ( 12 . 12a ), is preferably drilled, this introduced hole ( 12 . 12a ) into the subsequently inserted hole ( 12 . 12c ) and / or in the subsequently introduced cave ( 15 ). Verfahren zur Herstellung eines Sputtertargets (1) gemäß Anspruch 18 oder gemäß Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass das Loch (12, 12a) in dem Träger, vorzugsweise in der Rückplatte (8), mittels eines Aufklebers vor dem Verbinden mittels Verbindungsschicht verschlossen wird, insbesondere abgedeckt wird.Method for producing a sputtering target ( 1 ) according to claim 18 or claim 19, characterized in that the hole ( 12 . 12a ) in the carrier, preferably in the back plate ( 8th ) is closed by means of a sticker before joining by means of connecting layer, in particular is covered.
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