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DE102011017696A1 - Microsieve and method of making a microsieve - Google Patents

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DE102011017696A1
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Germany
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microsieve
pores
microns
thin film
mask
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DE102011017696A
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German (de)
Inventor
Friedrich Lupp
Daniel Sickert
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Siemens AG
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens AG
Siemens Corp
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Publication date
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Abstract

Das Verfahren (S1, S2) dient zum Herstellen eines Mikrosiebs (2) und weist die folgenden Schritte auf: zunächst ein Flächiges Heranbringen eines mit einer Durchstrukturierung (3) versehenen fotolithographisch hergestellten Maske (1), insbesondere Siliziumwafers, an eine Dünnschicht (2, 2a) und danach Bestrahlen, insbesondere mit Laserlicht, der Dünnschicht (2, 2a) mit der Maske (1). Das Mikrosieb (2b) ist mittels des Verfahrens (S1, S2) hergestellt worden. Das Mikrosieb kann insbesondere eingesetzt werden zur Anreicherung oder Extraktion bestimmter Zellen aus zellhaltigen Körperflüssigkeiten, z. B. aus Blut, Urin, Biopsieflüssigkeiten, Speichel usw., einschließlich aus Humanblut oder aus natürlichen oder künstlich erzeugten Zellsuspensionen oder Verdünnungen davon.The method (S1, S2) is used to manufacture a microscreen (2) and has the following steps: firstly, a surface-area application of a photolithographically produced mask (1), in particular silicon wafer, provided with a structure (3), to a thin layer (2, 2a) and then irradiating, in particular with laser light, the thin layer (2, 2a) with the mask (1). The microsieve (2b) has been produced by means of the process (S1, S2). The microsieve can be used in particular for the enrichment or extraction of certain cells from cell-containing body fluids, e.g. B. from blood, urine, biopsy fluids, saliva, etc., including from human blood or from natural or artificially generated cell suspensions or dilutions thereof.

Description

Die Erfindung betrifft ein Mikrosieb. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zum Herstellen eines Mikrosiebs.The invention relates to a microsieve. The invention further relates to a method for producing a microsieve.

Mikrosiebe werden vermehrt für anspruchsvolle Trennaufgaben verwendet, z. B. in der Medizintechnik oder Biotechnologie. Beispielsweise. kann die Anreicherung oder Extraktion bestimmter Zellen aus Humanblut mittels Filtration des Bluts durch ein Mikrosieb erfolgen (Mikrofiltration). Mikrosiebe besitzen im Unterschied zu den herkömmlichen Mikrofiltern aus schwammartigen Polymer- oder Keramikmembranen eine definierte Porengeometrie und sind daher deutlich effizienter und besser klassifizierend. Zur Optimierung eines Filtrationsverfahrens sind eine frei wählbare Porengeometrie, Porendichte und Porenverteilung des Mikrosiebs wünschenswert, zur Zeit aber nicht oder nur unter erheblichem Aufwand erreichbar.Micro sieves are increasingly used for demanding separation tasks, eg. B. in medical technology or biotechnology. For example. the enrichment or extraction of certain cells from human blood can be carried out by filtration of the blood through a microsieve (microfiltration). Microsieves, in contrast to the conventional microfilters sponge-like polymer or ceramic membranes have a defined pore geometry and are therefore much more efficient and better classifying. To optimize a filtration process, a freely selectable pore geometry, pore density and pore distribution of the microsieve are desirable, but currently not or only with considerable effort achievable.

Eine Art bekannter Mikrosiebe sind die sog. Tracked-Etched-Membranen. Diese Membranen weisen bedingt durch ihr Herstellungsverfahren eine räumlich unregelmäßige Porenverteilung auf. Je nach Porengröße ist die maximale Anzahl von Poren pro Flächeneinheit erheblich begrenzt. So ist es mit Tracked-Etched-Membranen bei einem Porendurchmesser von 8 Mikrometern beispielsweise nur möglich, einen Porenanteil an der Gesamtfläche der Membran von maximal 5% zu erreichen. Außerdem durchläuft eine Vielzahl von Poren das Grundmaterial der Membran nicht senkrecht, sondern schräg. Ferner treten Doppelporen auf, welche eine gemeinsame Pore mit einem größeren als dem nominellen Durchmesser ergeben.One type of known microsieves are the so-called tracked-etched membranes. These membranes have due to their manufacturing process on a spatially irregular pore distribution. Depending on the pore size, the maximum number of pores per unit area is considerably limited. For example, with a 8 micrometer pore diameter tracked-etched membrane, it is only possible to achieve a maximum void area of the membrane of 5%. In addition, a plurality of pores does not pass through the base material of the membrane perpendicularly, but obliquely. Furthermore, double pores occur which give a common pore with a larger than the nominal diameter.

Eine weitere Möglichkeit, ein Mikrosieb herzustellen, besteht darin, eine Schicht aus Parylene auf einen Silizium-Trägerwafer aufzubringen und die Parylene-Schicht mittels Photolithographie und Trockenätzens zu strukturieren. Mit dieser Methode lassen sich beliebige Porengeometrien und Porenanordnungen erzeugen. Nachteilig ist hingegen, dass hierfür die in der Regel aufwendigen und teuren Methoden der Mikrosystemtechnik bei der Herstellung jedes einzelnen Mikrosiebs genutzt werden müssen. Zudem kann das Mikrosieb allgemein nur mittels eines Materials erzeugt werden, welches sich als dünne Schicht auf ein Wafersubstrat aufbringen und nach der Prozessierung wieder ablösen lässt.Another way to fabricate a microsieve is to apply a layer of parylene onto a silicon carrier wafer and pattern the parylene layer by photolithography and dry etching. With this method, any pore geometries and pore arrangements can be generated. A disadvantage, however, is that this usually expensive and expensive methods of microsystem technology in the production of each microsieve must be used. In addition, the microsieve generally can only be produced by means of a material which is thin Apply layer to a wafer substrate and peel it off again after processing.

Polymer-Mikrosiebe können derzeit auch mittels eines Laserstrahls (Laserablation) erzeugt werden, und zwar auf zwei unterschiedliche Methoden. Bei der ersten Methode werden die Poren durch ein Abrastern einer Polymerfolie mit dem Laserstrahl mit einer hohen Wiederholungsrate erzeugt. Dies ist ein sequentielles Verfahren und entsprechend kostspielig und zeitaufwendig. Zudem sind dabei Variationen in Lochform und Lochgröße nicht auszuschließen. Bei der zweiten Methode wird eine Metallmaske mit entsprechenden Löchern erzeugt und dann als eine Abbildungsmaske für ein nachfolgendes Abtragsverfahren mit dem Laserstrahl verwendet. Jedoch ist dieses Verfahren mittels Maskenprojektion auf kleine Flächen begrenzt, da nur im Mittenbereich die entsprechenden Abbildungsoptiken die notwendige Abbildungsqualität zur Erzeugung von sehr kleinen Lochdurchmessern aufweisen. Folglich ist für eine großflächige Bearbeitung die Polymerfolie entsprechend im Step-and-Repeat-Verfahren zu bearbeiten. Beim Bohren von Leiterplatten ist ein Verfahren bekannt, bei dem eine Proximity-Maske aus Metall für das Bohren von Löchern mit einem Durchmesser von mehr als 80 Mikrometern verwendet wird.Polymer microsieves can currently also be produced by means of a laser beam (laser ablation), using two different methods. In the first method, the pores are produced by scanning a polymer film with the laser beam at a high repetition rate. This is a sequential process and correspondingly expensive and time consuming. In addition, variations in hole shape and hole size can not be ruled out. In the second method, a metal mask with corresponding holes is produced and then used as an imaging mask for a subsequent laser beam ablation process. However, this method is limited by means of mask projection on small areas, since only in the central region, the corresponding imaging optics have the necessary imaging quality to produce very small hole diameters. Consequently, the polymer film is to be processed according to the step-and-repeat method for large-scale processing. When drilling printed circuit boards, a method is known in which a metal proximity mask is used for drilling holes with a diameter of more than 80 microns.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Nachteile des Standes der Technik zumindest teilweise zu überwinden und insbesondere eine verbesserte Möglichkeit zum Herstellen eines Mikrosiebs, insbesondere aus Kunststoff, bereitzustellen.It is the object of the present invention to at least partially overcome the disadvantages of the prior art and in particular to provide an improved possibility for producing a microsieve, in particular of plastic.

Diese Aufgabe wird gemäß den Merkmalen der, unabhängigen Ansprüche gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen sind insbesondere den abhängigen Ansprüchen entnehmbar.This object is achieved according to the features of the independent claims. Preferred embodiments are in particular the dependent claims.

Die Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zum Herstellen eines Mikrosiebs, das mindestens die folgenden. Schritte aufweist: Flächiges Heranbringen einer mit einer Durchstrukturierung versehenen lithografisch hergestellten Maske an eine Dünnschicht; und Bestrahlen der der Dünnschicht abgewandten Seite der lithografisch hergestellten Maske (im Folgenden auch nur ”Maske” genannt) mit einer Strahlung, welche dazu geeignet ist, die Dünnschicht abzutragen.The object is achieved by a method for producing a microsieve which comprises at least the following. Comprising: laminating a patterned lithographic mask to a thin film; and irradiating the side of the lithographically produced mask (hereinafter also referred to as "mask") facing away from the thin layer with a radiation which is suitable for removing the thin layer.

Die Dünnschicht kann insbesondere eine (dünne) Folie sein. Die Folie kann insbesondere eine vorgefertigte, insbesondere kommerziell verfügbare, Folie sein.The thin layer may in particular be a (thin) film. The film may in particular be a prefabricated, in particular commercially available, film.

Das Verfahren macht sich den überraschenden Umstand zu Nutze, dass sich auch lithografisch hergestelltes Material, insbesondere Silizium, als Proximity-Maske oder Abbildungsmaske für eine Strahlungsablation, insbesondere Laserablation eignet. Mittels dieses Verfahrens wird die Dünnschicht dort gezielt lokal abgetragen, wo die Durchstrukturierung (Löcher o. ä.) der lithografisch hergestellten Maske vorhanden ist, durch welche Strahlung hindurchdringen kann. Andere, durch die Maske überdeckte Bereiche werden hingegen nicht oder nicht signifikant abgetragen. Die Bestrahlung bzw. Abtragung wird so lange durchgeführt, bis in der Dünnschicht durchgehende Poren oder Löcher mit gewünschter Größe und/oder Form erzeugt worden sind. Diese porenbehaftete bzw. dürchlöcherte Dünnschicht stellt dann das Mikrosieb oder einen Teil davon dar.The method makes use of the surprising fact that lithographically produced material, in particular silicon, as a proximity mask or imaging mask is also suitable for radiation ablation, in particular laser ablation. By means of this method, the thin layer is selectively removed there locally, where the structuring (holes or the like) of the lithographically produced mask is present, through which radiation can penetrate. Other areas covered by the mask, however, are not or not significantly removed. The irradiation or removal is carried out until continuous pores or holes of desired size and / or shape have been produced in the thin film are. This porous or perforated thin film then represents the microsieve or a part thereof.

Das Verfahren weist den Vorteil auf, dass die Maske bei dem Verfahren nicht zerstört wird und folglich vielfach verwendbar ist. Darüber hinaus braucht die Dünnschicht nicht weiter strukturell prozessiert zu werden, was eine Auswahl an verwendbaren Materialienbreit hält. Das Verfahren kann also hochgenaue Mikrosiebe preiswert erzeugen.The method has the advantage that the mask is not destroyed in the process and thus is widely used. In addition, the thin film does not need to be further structurally processed, which keeps a range of usable materials broad. The method can therefore produce high-precision micro-sieves inexpensively.

Das Heranbringen der Maske an die Dünnschicht, insbesondere Folie, ist allgemein zu verstehen und kann durch ein Heranbewegen der Maske an die Dünnschicht, ein Heranbewegen der Dünnschicht an die Maske, durch ein Bewegen beider Komponenten oder sogar durch ein Erzeugen der Dünnschicht auf der Maske erreicht werden.The bringing of the mask to the thin film, particularly film, is generally understood and can be achieved by moving the mask to the thin film, moving the thin film to the mask, moving both components or even forming the thin film on the mask become.

Das Mikrosieb kann insbesondere zum Trennen fester Stoffe und/oder oder zum Zurückhalten fester Stoffe aus einem Flüssigkeits- und/oder Gasstrom verwendet werden. Unter einem Mikrosieb kann also allgemein auch ein Mikrofilterelement verstanden werden. Das Mikrosieb kann insbesondere eine (Trenn-)Membran sein.The microsieve can be used in particular for separating solids and / or for retaining solids from a liquid and / or gas stream. A micro-sieve can therefore generally also be understood to mean a microfilter element. The microsieve may in particular be a (separating) membrane.

Das Mikrosieb kann insbesondere eingesetzt werden zur Anreicherung oder Extraktion bestimmter Zellen aus zellhaltigen Körperflüssigkeiten, z. B. aus Blut, Urin, Biopsieflüssigkeiten, Speichel usw., einschließlich aus Humanblut oder aus natürlichen oder künstlich erzeugten Zellsuspensionen oder Verdünnungen davon.The microsieve can be used in particular for the enrichment or extraction of certain cells from cell-containing body fluids, eg. From blood, urine, biopsy fluids, saliva, etc., including from human blood or from natural or engineered cell suspensions or dilutions thereof.

Die lithografisch hergestellte Maske kann insbesondere eine fotolithografisch (d. h., mit fotolithografischen Mitteln) hergestellte Maske sein. Alternativ mag die lithografisch hergestellte Maske eine mittels einer Elektronenstrahl- und Innenlithografie, einer Laserlithografie oder einer Nano-Imprint-Lithografie (NIL) hergestellte Maske sein.In particular, the lithographically produced mask may be a photolithographic (i.e., photolithographic) mask. Alternatively, the lithographic mask may be a mask made by electron beam and internal lithography, laser lithography, or nanoimprint lithography (NIL).

Das Material der Maske kann ein Metall oder ein Nichtmetall sein. Das Nichtmetall kann insbesondere ein Halbmetall, Keramik oder Glas umfassen. Metall lässt sich beispielsweise galvanisch auf einer fotolithographisch erzeugten Masterform abscheiden, welche die gewünschten Löcher in dem Metall freihält. Glas und Keramik lassen sich ebenfalls fotolithografisch strukturieren. Glas kann alternativ mittels Sandstrahlens strukturiert werden.The material of the mask may be a metal or a nonmetal. The non-metal may in particular comprise a semi-metal, ceramic or glass. Metal, for example, can be electrodeposited on a master mold produced by photolithography, which keeps the desired holes in the metal free. Glass and ceramics can also be structured photolithographically. Glass can alternatively be structured by sand blasting.

Es ist eine besonders bevorzugte Ausgestaltung, dass das Halbmetall Silizium ist. Silizium ist insbesondere als Wafer preiswert, gut strukturierbar, umweltverträglich und haltbar. Zudem lässt sich die Durchstrukturierung an Silizium auf einfache Weise großflächig durch übliche Strukturierungsmethoden der Mikrosystemtechnik, insbesondere der Silizium-Technologie, wie Ätzen. (z. B. Trockenätzen, Nassätzen, sog. ”Photo-assisted Electrochemical Etching” usw.) usw erzeugen. Das Bestrahlen mag folglich mit wenigen oder sogar keinen Step-and-Repeat-Schritten auskommen. Ein weiterer Vorteil ist die hochgradig genaue und frei wählbare Formgebung der. Durchstrukturierung, z. B. in Bezug auf eine Form (z. B. zylindrische Poren, Schlitze usw.), eine Größe und eine Position der zugehörigen Poren o. ä.It is a particularly preferred embodiment that the semimetal is silicon. Silicon is particularly inexpensive as wafers, easy to structure, environmentally friendly and durable. In addition, the structuring of silicon in a simple manner over a large area by conventional structuring methods of microsystems technology, especially the silicon technology, such as etching. (eg dry etching, wet etching, so-called "photo-assisted electrochemical etching" etc.). The irradiation may thus do with few or even no step-and-repeat steps. Another advantage is the highly accurate and freely selectable shape of the. Structuring, z. With respect to a shape (e.g., cylindrical pores, slits, etc.), a size and a position of the pores thereof, or the like.

Es ist noch eine weitere Ausgestaltung, dass das Silizium poröses Silizium ist. Dadurch kann auch ein durch ein ”Photoassisted Electrochemical Etching” (PAECE)-Verfahren hergestelltes Silizium o. ä. verwendet werden.It is yet another embodiment that the silicon is porous silicon. As a result, a silicon or the like produced by a "Photoassisted Electrochemical Etching" (PAECE) method can also be used.

Jedoch sind alle Halbmetalle (B, Si, Ge, As, Se, Sb, Te Po) in Reinform und/oder deren Mischungen, Verbindungen und/oder Legierungen verwendbar.However, all semi-metals (B, Si, Ge, As, Se, Sb, Te Po) in pure form and / or their mixtures, compounds and / or alloys are usable.

Insbesondere die Halbmetalle können als Wafer vorliegen, die Nichtmetallmaske kann also insbesondere ein strukturierter Halbmetallwafer sein. Jedoch ist die Nichtmetallmaske nicht auf Wafer beschränkt. Es ist eine Ausgestaltung, dass das flächige Heranbringen ein flächiges Kontaktieren umfasst. So lassen sich besonders präzise Poren in die Dünnschicht, insbesondere Folie, einbringen. Die Querschnittsform dieser Poren entspricht insbesondere an der Kontaktfläche der Form der Durchkontaktierungen der Maske, welche sehr präzise vorgebbar sind.In particular, the semimetals may be present as wafers, that is, the non-metal mask may in particular be a structured half-metal wafer. However, the non-metal mask is not limited to wafers. It is an embodiment that the planar approach comprises a surface contact. This makes it possible to introduce particularly precise pores into the thin film, in particular film. The cross-sectional shape of these pores corresponds in particular to the contact surface of the form of the plated-through holes of the mask, which can be specified very precisely.

Alternativ mag das flächige Heranbringen ein nahes Annähern umfassen. So mag eine die Dünnschicht, insbesondere Folie, ggf. störende oder sogar zerstörende Berührung mit der Maske vermieden werden.Alternatively, the planar approach may involve close approach. Thus, the thin film, in particular film, possibly disturbing or even destructive contact with the mask may be avoided.

Es ist auch eine Weiterbildung, dass die Durchstrukturierung eine Gruppe von kreiszylinderförmigen Löchern aufweist. Folglich würden die Poren des Mikrosiebs zumindest in Draufsicht eine kreisrunde Form aufweisen, insbesondere an der Kontaktfläche zu der Nichtmetallmaske.It is also a development that the structuring has a group of circular cylindrical holes. Consequently, the pores of the microsieve, at least in plan view, would have a circular shape, in particular at the contact surface with the non-metal mask.

Es ist auch eine Ausgestaltung, dass die Löcher ein regelmäßiges Muster bilden. Das, Muster kann beispielsweise ein Matrixmuster oder ein dichtes Flächenmuster sein. Ein dichtes Muster mag beispielsweise eine hexagonale oder kubische Einheitszelle als kleinste Einheit aufweisen. Die Löcher können insbesondere in einer lokal gleichen Dichte vorhanden sein. Folglich würden auch die Poren des Mikrosiebs ein solches Muster bilden.It is also an embodiment that the holes form a regular pattern. The pattern may be, for example, a matrix pattern or a dense area pattern. For example, a dense pattern may have a hexagonal or cubic unit cell as the smallest unit. The holes may in particular be present in a locally same density. Consequently, the pores of the microsieve would also form such a pattern.

Alternativ können die Löcher ein irreguläres Muster bilden, insbesondere mit einer vorbestimmten lokalen Dichte. Folglich. würden auch die Poren des Mikrosiebs ein entsprechendes irreguläres Muster bilden.Alternatively, the holes may form an irregular pattern, particularly at a predetermined local density. Consequently. would also pores of the microsieve form a corresponding irregular pattern.

In noch einer Alternative können die Löcher eine gezielte (z. B. graduelle oder lokal zufällige) Variation ihres Abstands bzw. ihrer lokalen Dichte über die Fläche der Nichtmetallmaske aufweisen. Folglich würden auch die Poren des Mikrosiebs ein solches Muster bilden.In yet another alternative, the holes may have a targeted (eg, gradual or locally random) variation in their spacing or local density over the face of the non-metal mask. Consequently, the pores of the microsieve would also form such a pattern.

Es ist eine bevorzugte Ausgestaltung, dass die Löcher einen, insbesondere gleichförmigen, Durchmesser zwischen ca. 1 Mikrometern und ca. 50 Mikrometern aufweisen. Es ist eine besonders bevorzugte Ausgestaltung, dass die Löcher einen gleich förmigen Durchmesser zwischen 5 Mikrometern und ca. 25 Mikrometern, insbesondere zwischen ca. 7 Mikrometern und ca. 15 Mikrometern, aufweisen.It is a preferred embodiment that the holes have a, in particular uniform, diameter between about 1 micrometer and about 50 micrometers. It is a particularly preferred embodiment that the holes have a uniform diameter between 5 microns and about 25 microns, in particular between about 7 microns and about 15 microns.

Alternativ kann der Durchmesser oder der Strömungsquerschnitt gezielt variiert werden, z. B. in Abhängigkeit von einer Position des jeweiligen Lochs auf der Nichtmetallmaske. Folglich würden auch die Poren des Mikrosiebs einen variierten Durchmesser oder Strömungsquerschnitt aufweisen.Alternatively, the diameter or the flow cross section can be selectively varied, for. B. depending on a position of the respective hole on the non-metal mask. Consequently, the pores of the microsieve would also have a varied diameter or flow area.

Die Form der Löcher (in Draufsicht) ist jedoch nicht beschränkt. So mögen die Löcher auch längliche, z. B. ovale oder rechteckige, Löcher sein, insbesondere mit einer Breite zwischen 5 Mikrometern und 25 Mikrometern und einer Länge zwischen 10 Mikrometern und 200 Mikrometern.However, the shape of the holes (in plan view) is not limited. So like the holes also elongated, z. As oval or rectangular, holes, in particular with a width between 5 microns and 25 microns and a length between 10 microns and 200 microns.

Es ist noch eine Ausgestaltung, dass das Bestrahlen ein Bestrahlen mit Licht, insbesondere Laserlicht, umfasst. Dies kann bevorzugt großflächig über die gesamte Durchstrukturierung der Maske durchgeführt werden. Das Licht kann insbesondere sichtbares Licht und/oder UV-Licht sein. Das Licht kann insbesondere eine Wellenlänge kleiner 400 nm aufweisen.It is yet another embodiment that the irradiation comprises irradiation with light, in particular laser light. This can preferably be carried out over a large area over the entire structure of the mask. The light may, in particular, be visible light and / or UV light. In particular, the light may have a wavelength of less than 400 nm.

Es ist noch eine Ausgestaltung, dass das verwendete Licht, insbesondere Laserlicht, kurze Pulszeiten aufweist, insbesondere Pulszeiten kleiner 1 μs, bevorzugt kleiner 100 ns.It is still an embodiment that the light used, in particular laser light, has short pulse times, in particular pulse times of less than 1 μs, preferably less than 100 ns.

Es ist eine Weiterbildung, dass die in die Dünnschicht eingebrachten Poren eine sich (in Richtung von der Lichteinstrahlfläche zu der Lichtaustrittsfläche) verjüngende Form, insbesondere kegelstumpfartige Form, aufweisen. Dies lässt sich durch das vorliegende Verfahren ohne weitere Hilfsmittel auf einfache Weise erreichen. Die kegelstumpfartige Form der Poren ermöglicht eine Verringerung eines zur Filtration nötigen Drucks oder eine effektivere Partikelrückhaltung. Bei bisher bekannten Mikrosieben sind die Poren zylinderförmig und haben über ihre gesamte Länge und den Verlauf durch das Schichtmaterial den gleichen Durchmesser. Damit wächst der zur Filtration nötige Druck mit der Schichtdicke, so dass herkömmlicherweise nur eine begrenzte Schichtdicke verwendet werden kann, um beispielsweise eine Zerstörung oder Veränderung der zurückgehaltenen Partikeln während des Filtrationsprozesses durch zu hohen Druck zu vermeiden. Mit konisch erweiterten Poren kann dieses Problem umgangen werden.It is a further development that the pores introduced into the thin film have a shape (in particular in the form of a truncated cone) that tapers (in the direction from the light irradiation surface to the light exit surface). This can be achieved by the present method without further aids in a simple manner. The frusto-conical shape of the pores allows a reduction in pressure necessary for filtration or more effective particle retention. In previously known micro-sieves, the pores are cylindrical and have the same diameter over their entire length and the course through the layer material. Thus, the pressure required for filtration increases with the layer thickness, so that conventionally only a limited layer thickness can be used, for example, to avoid destruction or change of the retained particles during the filtration process by excessive pressure. With conically widened pores, this problem can be avoided.

Jedoch sind allgemein auch sich nicht aufweitende Poren herstellbar.However, non-expanding pores are generally produced.

Es ist eine weitere Ausgestaltung, dass eine Bestrahlungsintensität zum Erlangen eines von der Bestrahlungsintensität abhängigen Öffnungswinkels von in die Dünnschicht eingebrachten Poren vorgegeben wird. Diese Ausgestaltung macht sich die überraschende Erkenntnis zu Nutze, dass sich der Öffnungswinkel der in die Dünnschicht eingebrachten (sich verjüngenden) Poren durch ein Vorgebender Strahlungsintensität einstellen lässt. In anderen Worten lässt sich der Öffnungswinkel der Poren in Abhängigkeit von der Strahlungsintensität variieren. Dies ergibt eine einfach implementierbare Möglichkeit zum gezielten Einstellen des Öffnungswinkels.It is a further embodiment that an irradiation intensity for obtaining an irradiation intensity dependent opening angle of introduced into the thin film pores is specified. This embodiment makes use of the surprising finding that the opening angle of the pores (tapered) introduced into the thin film can be adjusted by a predetermining radiation intensity. In other words, the opening angle of the pores can be varied as a function of the radiation intensity. This results in an easily implementable option for the targeted setting of the opening angle.

Unter einem Öffnungswinkel kann insbesondere ein Winkel zwischen einer Langsachse der Pore und einer zu der Längsachse koplanaren Linie auf der Mantelfläche der Pore verstanden werden. Alternativ kann unter einem Öffnungswinkel insbesondere ein Winkel zwischen zwei gegenüberliegenden, zu einer Längsachse der Pore koplanaren Linien auf der Mantelfläche der Pore verstanden werden.An opening angle may, in particular, be understood as meaning an angle between a longitudinal axis of the pore and a line coplanar with the longitudinal axis on the lateral surface of the pore. Alternatively, by an opening angle, in particular an angle between two opposite lines coplanar to a longitudinal axis of the pore on the lateral surface of the pore can be understood.

Es ist noch eine Ausgestaltung, dass eine Bestrahlungshäufigkeit, zum Erlangen eines von der Bestrahlungshäufigkeit abhängigen Öffnungswinkels von in die Dünnschicht eingebrachten, sich verjüngenden, insbesondere kegelstumpfförmigen, Poren vorgegeben wird. Diese Ausgestaltung macht sich die ebenfalls überraschende Erkenntnis zu Nutze, dass sich der Öffnungswinkel der in die Dünnschicht eingebrachten (sich verjüngenden) Poren durch ein Vorgeben einer Bestrahlungshäufigkeit (oder Strahlungsdauer) einstellen lässt. In anderen Worten lässt sich der Öffnungswinkel der Poren in Abhängigkeit von der Bestrahlungshäufigkeit variieren. Dies ergibt eine weitere einfach implementierbare Möglichkeit zum gezielten Einstellen des Öffnungswinkels.It is still an embodiment that an irradiation frequency, for obtaining an opening angle dependent on the frequency of irradiation, of tapered, in particular frusto-conical, pores introduced into the thin layer is specified. This embodiment makes use of the equally surprising finding that the opening angle of the in the Thin-layered (tapered) pores can be adjusted by predetermining an irradiation frequency (or radiation duration). In other words, the opening angle of the pores can be varied depending on the frequency of irradiation. This results in a further easily implementable option for the targeted setting of the opening angle.

Es ist ferner eine Ausgestaltung, dass ein Divergenzwinkel der zur Lithographie verwendeten Strahlung, insbesondere Lichts, insbesondere Laserlichts, zum Erlangen eines von dem Divergenzwinkel abhängigen Öffnungswinkels von in die Dünnschicht eingebrachten, sich verjüngenden, insbesondere kegelstumpfförmigen, Poren vorgegeben wird. Diese Ausgestaltung macht sich also die Erkenntnis zu Nutze, dass sich der Öffnungswinkel der in die Dünnschicht eingebrachten (sich verjüngenden) Poren durch ein Vorgeben des Divergenzwinkels der Strahlung einstellen lässt. In anderen Worten lässt sich der Öffnungswinkel der Poren in Abhängigkeit von dem Divergenzwinkel variieren. Dies ergibt eine weitere einfach implementierbare Möglichkeit zum gezielten Einstellen des Öffnungswinkels.It is also an embodiment that a divergence angle of the radiation used for lithography, in particular light, in particular laser light, for obtaining a dependent of the divergence angle opening angle of introduced into the thin film, tapered, in particular frustoconical, pores is specified. This refinement thus makes use of the knowledge that the opening angle of the pores (tapering) introduced into the thin film can be set by predetermining the divergence angle of the radiation. In other words, the opening angle of the pores can be varied depending on the divergence angle. This results in a further easily implementable option for the targeted setting of the opening angle.

Insgesamt lässt sich also durch eine Vorgabe einer Bestrahlungsintensität, einer Bestrahlungshäufigkeit und/oder eines Divergenzwinkels des eingestrahlten Lichts ein Öffnungswinkel (phi) von in die Dünnschicht einzubringenden Poren einstellen.Overall, therefore, by specifying an irradiation intensity, an irradiation frequency and / or a divergence angle of the incident light, an opening angle (phi) of pores to be introduced into the thin film can be set.

Es ist noch eine weitere Ausgestaltung, dass eine Schichtdicke der Dünnschicht, insbesondere Folie, zum Erlangen kleineren Durchmessers von in die Dünnschicht, insbesondere Folie, eingebrachten sich verjüngenden, insbesondere kegelstumpfförmigen, Poren vorgegeben wird. Diese Ausgestaltung macht sich die Erkenntnis zu Nutze, dass sich der kleinere Durchmesser der in die Dünnschicht eingebrachten (sich verjüngenden) Poren durch ein Vorgeben einer Schichtdicke einstellen lässt. In anderen Worten lässt sich der kleinere Durchmesser der Pore in Abhängigkeit von der Schichtdicke der Dünnschicht variieren. Dies ergibt noch eine weitere einfach implementierbare Möglichkeit zum gezielten Einstellen des kleineren Durchmessers der Pore.It is still a further embodiment that a layer thickness of the thin film, in particular film, for obtaining smaller diameter of in the thin film, in particular film, introduced tapered, in particular frusto-conical, pores is given. This refinement makes use of the knowledge that the smaller diameter of the pores (tapering) introduced into the thin layer can be set by specifying a layer thickness. In other words, the smaller diameter of the pore can be varied depending on the layer thickness of the thin film. This provides yet another easy-to-implement way to selectively set the smaller diameter of the pore.

Die Bestrahlungsintensität, die Bestrahlungshäufigkeit, der Divergenzwinkel und/oder die Schichtdicke können in beliebiger Kombination eingestellt werden.The irradiation intensity, the frequency of irradiation, the divergence angle and / or the layer thickness can be set in any combination.

Es ist ferner eine weitere Ausgestaltung, dass ein Durchmesser einer größeren Öffnung einer in die Dünnschicht eingebrachten kegelstumpfförmigen Pore zwischen 5 Mikrometern und 25 Mikrometern liegt und/oder ein Durchmesser einer kleineren Öffnung einer in die Dünnschicht eingebrachten kegelstumpfförmigen Pore zwischen 5 Mikrometern und 20 Mikrometern liegt.It is a further embodiment that a diameter of a larger opening of a frusto-conical pore inserted into the thin film is between 5 micrometers and 25 micrometers and / or a diameter of a smaller opening of a frustoconical pore inserted between the thin layer is between 5 micrometers and 20 micrometers.

Es wird besonders bevorzugt, dass der Durchmesser der kleineren Öffnung einer Pore zwischen 5 und 10, insbesondere zwischen 6 und 8 Mikrometern liegt und der Durchmesser der größeren Öffnung der Pore zwischen 7 und 15 Mikrometern, insbesondere ca. 10 Mikrometer, beträgt. Jedoch sind die Größen, insbesondere Durchmesser, der Poren grundsätzlich nicht beschränkt.It is particularly preferred that the diameter of the smaller opening of a pore is between 5 and 10, in particular between 6 and 8 micrometers, and the diameter of the larger opening of the pore is between 7 and 15 micrometers, in particular approximately 10 micrometers. However, the sizes, in particular diameter, of the pores are basically not limited.

Allgemein sind aber auch andere als sich verjüngende Poren einbringbar, z. B. zylinderförmige, insbesondere kreiszylinderförmige, Poren.In general, however, other than tapered pores are introduced, z. B. cylindrical, in particular circular cylindrical, pores.

Die Aufgabe wird auch gelöst durch ein Mikrosieb, wobei das Mikrosieb aus einer Dünnschicht mittels eines Verfahrens wie oben beschrieben hergestellt worden ist.The object is also achieved by a microsieve, wherein the microsieve has been produced from a thin layer by means of a method as described above.

Es ist eine Ausgestaltung, dass die Dünnschicht, insbesondere Folie, aus Polymer besteht. Es ist eine spezielle Ausgestaltung, dass die Dünnschicht bzw. das Mikrosieb Polycarbonat und/oder Polyarylat aufweist bzw. daraus besteht. Unter Polyarylaten können insbesondere rein aromatische Polyester (APE) und Polyestercarbonate (PEC) verstanden werden. Weitere Polymere können beispielsweise Polyimide oder Polyvinylfluoride sein.It is an embodiment that the thin film, in particular film, consists of polymer. It is a special embodiment that the thin layer or the microsieve comprises or consists of polycarbonate and / or polyarylate. Under polyarylates, in particular pure aromatic polyester (APE) and polyester carbonates (PEC) can be understood. Other polymers may be, for example, polyimides or polyvinyl fluorides.

Es ist noch eine Ausgestaltung, dass das Mikrosieb sich aufweitende, insbesondere kegelstumpfförmig aufweitende, Poren mit einem im Wesentlichen gleichen Öffnungswinkel aufweist. Dies ergibt den Vorteil, dass sich ein in Abhängigkeit von einem Differenzdruck zumindest im Wesentlichen gleiches Durchströmverhalten (Volumenfluss, Geschwindigkeit usw.) und/oder Rückhaltungsverhalten durch die durchgehenden Poren ergibt.It is still an embodiment that the microsieve has widening, in particular frusto-conically widening, pores with an essentially identical opening angle. This results in the advantage that, depending on a differential pressure, at least substantially the same flow-through behavior (volume flow, speed, etc.) and / or retention behavior results from the continuous pores.

Das Mikrosieb kann zum Filtern so in Strömungsrichtung angeordnet sein, dass sich seine Poren aufweiten (Filtration von kleinem Porendurchmesser zu großem Porendurchmesser). Dies unterdrückt ein Verstopfen der Poren und verringert einen Strömungswiderstand und folglich den benötigten Druck bei der Filtration unter Beibehaltung des Porendurchmessers und der Porendichte.The microsieve can be arranged in the flow direction for filtering so that its pores widen (filtration of small pore diameter to large pore diameter). This suppresses clogging of the pores and reduces a flow resistance and consequently the required pressure in the filtration while maintaining the pore diameter and the pore density.

Das Mikrosieb kann zum Filtern aber auch so in Strömungsrichtung angeordnet sein, dass sich seine Poren verengen (Filtration von großem Porendurchmesser zu kleinem Porendurchmesser), beispielsweise zum effektiveren Fangen von Partikeln, z. B. Zellen, und zur lokalisierten Anordnung der Partikel während der Filtration. Dies ermöglicht z. B. ein vereinfachtes automatisiertes Wiederfinden und Weiterverwenden der Zellen.The microsieve can be arranged for filtering but also in the flow direction that narrow its pores (filtration of large pore diameter to small pore diameter), for example, for more effective capture of particles, eg. As cells, and for the localized arrangement of the particles during filtration. This allows z. B. a simplified automated recovery and reuse of the cells.

Es ist eine Weiterbildung, dass eine Schichtdicke der Dünnschicht, insbesondere Folie, zwischen 5 und 50 Mikrometern beträgt, insbesondere ca. 10 Mikrometer.It is a development that a layer thickness of the thin film, in particular film, is between 5 and 50 micrometers, in particular about 10 micrometers.

Allgemein können die Merkmale des beschriebenen Verfahrens auch als Merkmale der beschriebenen Vorrichtung verwendet werden, und umgekehrt.In general, the features of the described method can also be used as features of the device described, and vice versa.

In den folgenden Figuren wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels schematisch genauer beschrieben. Dabei können zur Übersichtlichkeit gleiche oder gleichwirkende Elemente mit gleichen Bezugszeichen versehen sein.In the following figures, the invention will be described schematically with reference to an embodiment schematically. In this case, the same or equivalent elements may be provided with the same reference numerals for clarity.

1 zeigt als Schnittdarstellung in Seitenansicht eine mit einer Durchstrukturierung versehene Maske, welcher auf einer Dünnschicht flächig aufliegt; 1 shows a sectional view in side view one with a structuring provided mask, which rests flat on a thin film;

2 zeigt als Schnittdarstellung in Seitenansicht die Maske mit der Polymerfolie aus 1 während eines Bestrahlungsvorgangs mit einem vergrößernden Ausschnitt; und 2 shows a sectional view in side view of the mask with the polymer film 1 during an irradiation process with a magnifying section; and

3 zeigt als Schnittdarstellung in Seitenansicht die als Mikrosieb fertiggestellte Polymerfolie während einer Filtrierung mit einem vergrößernden Ausschnitt. 3 shows a sectional side view of the finished as a microsieve polymer film during filtration with a magnifying section.

1 zeigt eine mit einer Durchstrukturierung versehene Maske in Form eines Siliziumwafers 1, welcher auf einer Dünnschicht in Form einer dünnen, noch nicht behandelten Polymerfolie 2, 2a flächig aufliegt und mit dieser eine Kontaktfläche 6 bildet. 1 shows a provided with a structuring mask in the form of a silicon wafer 1 which is on a thin film in the form of a thin, untreated polymer film 2 . 2a flat rests and with this a contact surface 6 forms.

Der Siliziumwafer 1 weist eine Durchstrukturierung auf, welche eine Gruppe von in der Fläche in einem regelmäßigen Muster angeordneten, senkrecht eingebrachten, kreiszylinderförmigen Löchern 3 aufweist. Ein Durchmesser der Löcher 3 beträgt ca. 8 Mikrometer.The silicon wafer 1 has a Durchstrukturierung, which is a group of arranged in the surface in a regular pattern, vertically introduced circular cylindrical holes 3 having. A diameter of the holes 3 is about 8 microns.

Die Polymerfolie 2 besteht aus einem beliebigen Polymer, beispielsweise Polycarbonat oder Polyarylat, mit einer Schichtdicke d von ca. 10 Mikrometern.The polymer film 2 consists of any polymer, for example polycarbonate or polyarylate, with a layer thickness d of about 10 micrometers.

1 kann insbesondere einem ersten Schritt S1 eines Verfahrens zum Herstellen eines Mikrosiebs entsprechen. 1 may in particular correspond to a first step S1 of a method for producing a microsieve.

2 zeigt den Siliziumwafer 1 mit der Polymerfolie 2 während eines Bestrahlungsvorgangs. Die Polymerfolie 2 ist hier eine am Ende des Bestrahlungsvorgangs vorliegende, im Wesentlichen fertiggestellte Polymerfolie 2b. 2 shows the silicon wafer 1 with the polymer film 2 during an irradiation process. The polymer film 2 Here is a present at the end of the irradiation process, substantially finished polymer film 2 B ,

Bei dem Bestrahlungsvorgang wird die der Polymerfolie 2 abgewandte Seite 4 des Siliziumwafers 1 mit Laserlicht P großflächig bestrahlt. Das Laserlicht P ist dazu geeignet, das Material der Polymerfolie 2 abzutragen (sog. Laserablation). Das Laserlicht P dringt durch die Löcher 3 auf die Polymerfolie 2 und wird sonst abgeschattet. Der Siliziumwafer 1 dient folglich als eine Maske bei der Laserablation.In the irradiation process, that of the polymer film 2 opposite side 4 of the silicon wafer 1 irradiated with laser light P over a large area. The laser light P is suitable for the material of the polymer film 2 ablate (so-called laser ablation). The laser light P penetrates through the holes 3 on the polymer film 2 and is otherwise shaded. The silicon wafer 1 thus serves as a mask during laser ablation.

Der Bestrahlungsvorgang wird so lange durchgeführt, bis lokal durch die Löcher 3 des Siliziumwafers vorgegeben durchgehende Poren 5 in der Polymerfolie 2 entstanden sind. Die Poren 5 weisen an der Kontaktfläche 6 die gleiche Form und Größe, hier: den gleichen Durchmesser, auf wie das angrenzende Loch 3 in dem Siliziumwafer 1. Die Poren 5 weisen an der Kontaktfläche folglich ebenfalls einen Durchmesser a von ca. 8 Mikrometer auf. Da die Löcher 3 mit einer sehr hohen Präzision und freier Formgebung und Position bereitstellbar sind, können auch die Poren 5 entsprechend genau, frei formbar und anordenbar erzeugt worden.The irradiation process is carried out until locally through the holes 3 the silicon wafer predetermined pores 5 in the polymer film 2 have arisen. The pores 5 show at the contact surface 6 the same shape and size, here: the same diameter, as the adjacent hole 3 in the silicon wafer 1 , The pores 5 Consequently, at the contact surface also have a diameter a of about 8 microns. Because the holes 3 The pores can also be provided with a very high precision and free shaping and position 5 according exactly, freely mouldable and can be generated.

Durch das Bestrahlen werden keine Poren 5 geschaffen, die eine über ihre Länge gleiche Form aufweisen. Vielmehr hat es sich überraschenderweise gezeigt, dass sich die Poren 5 in. Strahlungsrichtung je nach eingestelltem Prozessparameter verjüngen, also einen kleineren Strömungsquerschnitt aufweisen, wie in dem vergrößerten Ausschnitt A gezeigt. Bei den vorliegenden in Draufsicht runden Poren 5 bedeutet dies, dass sie eine Grundform eines Kegelstumpfs aufweisen, dessen größerer Durchmesser a sich an der Kontaktfläche 6 und dessen kleinerer Durchmesser b sich an der freien Oberfläche 7 der Polymerfolie 2 befindet. Die Durchmesser a und b ergeben zusammen mit der Schichtdicke d der Polymerfolie 2, 2b einem Öffnungswinkel phi einer Mantelfläche des Kegelstumpfs in Bezug auf seine Längsachse L.By irradiating, no pores 5 created that have a same shape over their length. Rather, it has surprisingly been found that the pores 5 in the direction of radiation taper depending on the adjusted process parameters, ie have a smaller flow cross section, as shown in the enlarged section A. In the present in plan view round pores 5 This means that they have a basic shape of a truncated cone whose larger diameter a is at the contact surface 6 and its smaller diameter b at the free surface 7 the polymer film 2 located. The diameters a and b, together with the layer thickness d of the polymer film 2 . 2 B an opening angle phi of a lateral surface of the truncated cone with respect to its longitudinal axis L.

Es hat sich ebenfalls überraschenderweise gezeigt, dass eine Bestrahlungsintensität, eine Bestrahlungshäufigkeit oder Bestrahlungsdauer sowie die Schichtdicke d den Öffnungswinkel phi und den kleineren Durchmesser einer Pore 5 gezielt beeinflussen können und so durch eine entsprechende Einstellung dieser Parameter der Öffnungswinkel phi auf einfache Weise gezielt einstellbar ist. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel beträgt der kleinere Durchmesser b bevorzugt 5 bis 7 Mikrometer.It has also surprisingly been found that an irradiation intensity, an irradiation frequency or irradiation duration and the layer thickness d are the opening angle phi and the smaller diameter of a pore 5 can specifically influence and so by a corresponding adjustment of these parameters, the opening angle phi is easily adjustable in a simple manner. In the exemplary embodiment shown, the smaller diameter b is preferably 5 to 7 micrometers.

2 kann insbesondere einem zweiten Schritt S2 eines Verfahrens zum Herstellen eines Mikrosiebs entsprechen. 2 may in particular correspond to a second step S2 of a method for producing a microsieve.

3 zeigt die fertiggestellte Polymerfolie 2, 2b während einer Filtrierung, und zwar in einem Ausschnitt B vergrößert. 3 shows the finished polymer film 2 . 2 B during filtration, in a section B increases.

Die als Mikrosieb dienende Polymerfolie 2, 2b ist in Strömungsrichtung S so angeordnet, dass sich ihre Poren 5 aufweiten (Filtration von dem kleinem Porendurchmesser b zu dem großem Porendurchmesser a). Dies unterdrückt ein Verstopfen der Poren 5, verringert einen Strömungswiderstand und folglich den benötigten Druck bei der Filtration.The microsieve serving polymer film 2 . 2 B is arranged in the flow direction S so that its pores 5 widening (filtration from the small pore diameter b to the large pore diameter a). This suppresses clogging of the pores 5 , reduces flow resistance and consequently the pressure required during filtration.

Die gleiche Polymerfolie 2, 2b kann alternativ in Strömungsrichtung S aber auch so angeordnet sein, dass sich ihre Löcher verengen (Filtration von großem Porendurchmesser a zu kleinem Porendurchmesser b). Dies verbessert eine lokal gezielte Rückhaltung von Partikeln.The same polymer film 2 . 2 B Alternatively, however, in the flow direction S, it may also be arranged so that its holes narrow (filtration of large pore diameter a to small pore diameter b). This improves locally targeted retention of particles.

Selbstverständlich ist die vorliegende Erfindung nicht auf das gezeigte Ausführungsbeispiel beschränkt.Of course, the present invention is not limited to the embodiment shown.

Claims (14)

Verfahren (S1, S2) zum Herstellen eines Mikrosiebs (2), aufweisend mindestens die folgenden Schritte: – Flächiges Heranbringen einer mit einer Durchstrukturierung (3) versehenen lithografisch hergestellten Maske (1) an eine Dünnschicht (2, 2a); – Bestrahlen der der Dünnschicht (2, 2a, 2b) abgewandten Seite der Maske (1) mit einer Strahlung (P), welche dazu geeignet ist, die Dünnschicht (2, 2a, 2b) abzutragen.Method (S1, S2) for producing a microsieve ( 2 ), comprising at least the following steps: - surface bringing one with a structuring ( 3 ) provided lithographically prepared mask ( 1 ) to a thin layer ( 2 . 2a ); - irradiation of the thin film ( 2 . 2a . 2 B ) facing away from the mask ( 1 ) with a radiation (P), which is suitable, the thin film ( 2 . 2a . 2 B ). Verfahren (S1, S2) nach Anspruch 1, wobei das flächige Heranbringen ein flächiges Kontaktieren umfasst.A method (S1, S2) according to claim 1, wherein the planar approach comprises a surface contacting. Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Nichtmetallmaske aus Silizium besteht.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein the non-metal mask consists of silicon. Verfahren (S1, S2) nach Anspruch 3, wobei das Silizium poröses Silizium ist.The method (S1, S2) of claim 3, wherein the silicon is porous silicon. Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Durchstrukturierung eine Gruppe von regelmäßig angeordneten Löchern (3) aufweist.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein the structuring comprises a group of regularly arranged holes ( 3 ) having. Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die die Durchstrukturierung Löcher (3) mit einem Durchmesser (a) zwischen ca. 5 Mikrometern und ca. 25 Mikrometern aufweist.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein the structuring holes ( 3 ) having a diameter (a) between about 5 microns and about 25 microns. Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Durchstrukturierung längliche Löcher (3) aufweist insbesondere mit einer Breite zwischen 5 Mikrometern und 25 Mikrometern und einer Länge zwischen 10 Mikrometern und 200 Mikrometern.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein the structuring comprises oblong holes ( 3 ), in particular with a width between 5 microns and 25 microns and a length between 10 microns and 200 microns. Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Bestrahlen ein Bestrahlen mit Licht, insbesondere Laserlicht (P), umfasst.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein the irradiation comprises an irradiation with light, in particular laser light (P). Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei eine Bestrahlungsintensität, eine Bestrahlungshäufigkeit und/oder ein Divergenzwinkel des eingestrahlten Lichts zum Einstellen eines Öffnungswinkels (phi) von in die Dünnschicht (2, 2a, 2b) einzubringenden Poren (5) vorgegeben wird.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein an irradiation intensity, an irradiation frequency and / or a divergence angle of the irradiated light for setting an opening angle (phi) of into the thin film ( 2 . 2a . 2 B ) pores to be introduced ( 5 ) is given. Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei eine Schichtdicke (d) der Dünnschicht (2, 2a, 2b) zum Erlangen eines gezielten Wertes eines kleineren Durchmessers (b) von in die Dünnschicht (2, 2a, 2b) einzubringenden kegelstumpfförmigen Poren (5) vorgegeben wird.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein a layer thickness (d) of the thin layer ( 2 . 2a . 2 B ) for obtaining a targeted value of a smaller diameter (b) from into the thin film ( 2 . 2a . 2 B ) to be introduced frusto-conical pores ( 5 ) is given. Verfahren (S1, S2) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei ein Durchmesser (b) einer größeren Öffnung einer in die Dünnschicht (2, 2b) eingebrachten kegelstumpfförmigen Pore (5) zwischen 5 und 25, insbesondere zwischen 7 und 15, Mikrometern aufweist und/oder ein Durchmesser (a) einer kleineren Öffnung einer in die Dünnschicht eingebrachten kegelstumpfförmigen Pore zwischen 5 und 10, insbesondere zwischen 6 und 8, Mikrometern aufweist.Method (S1, S2) according to one of the preceding claims, wherein a diameter (b) of a larger opening in the thin film ( 2 . 2 B ) introduced frusto-conical pore ( 5 ) between 5 and 25, in particular between 7 and 15, micrometers and / or a diameter (a) of a smaller opening of a introduced into the thin-film frustoconical pore between 5 and 10, in particular between 6 and 8, micrometers. Mikrosieb (2b), wobei das Mikrosieb (2b) aus einer Dünnschicht (2a) mittels eines Verfahrens (S1, S2) nach eifern der vorhergehenden Ansprüche hergestellt worden ist.Microsieve ( 2 B ), whereby the microsieve ( 2 B ) from a thin layer ( 2a ) has been prepared by a method (S1, S2) after Eifern the preceding claims. Mikrosieb (2b) nach Anspruch 12, wobei das Mikrosieb (2b) Polycarbonat, Polyimid und/oder Polyarylat aufweist.Microsieve ( 2 B ) according to claim 12, wherein the microsieve ( 2 B ) Polycarbonate, polyimide and / or polyarylate. Mikrosieb (2b) nach einem der Ansprüche 12 bis 13, wobei das Mikrosieb (2b) sich aufweitende, insbesondere kegelstumpfförmig aufweitende, Poren (5) mit einem im Wesentlichen gleichen Öffnungswinkel (phi) aufweist.Microsieve ( 2 B ) according to any one of claims 12 to 13, wherein the microsieve ( 2 B ) widening, in particular frustoconical widening, pores ( 5 ) having a substantially same opening angle (phi).
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