DE102018132436A1 - Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus - Google Patents
Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- DE102018132436A1 DE102018132436A1 DE102018132436.7A DE102018132436A DE102018132436A1 DE 102018132436 A1 DE102018132436 A1 DE 102018132436A1 DE 102018132436 A DE102018132436 A DE 102018132436A DE 102018132436 A1 DE102018132436 A1 DE 102018132436A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- assembly
- vibration
- optical element
- generating
- mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 37
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 31
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims abstract description 13
- 241000238631 Hexapoda Species 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000009304 pastoral farming Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/18—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
- G02B7/182—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70075—Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70091—Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
- G03F7/70116—Off-axis setting using a programmable means, e.g. liquid crystal display [LCD], digital micromirror device [DMD] or pupil facets
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70825—Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft eine Baugruppe, insbesondere in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, mit einem optischen Element, einer Gelenkanordnung zur mechanischen Lagerung des optischen Elements und einer Dämpfungseinrichtung zur Dämpfung wenigstens einer in der Gelenkanordnung auftretenden Schwingungsanregung durch Erzeugen wenigstens einer Gegenschwingung, welche die Schwingungsanregung wenigstens teilweise kompensiert. The invention relates to an assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus, having an optical element, a hinge arrangement for mechanically supporting the optical element and a damping device for damping at least one vibration excitation occurring in the joint arrangement by generating at least one counter-vibration which at least partially compensates the vibration excitation.
Description
HINTERGRUND DER ERFINDUNGBACKGROUND OF THE INVENTION
Gebiet der ErfindungField of the invention
Die Erfindung betrifft eine Baugruppe, insbesondere in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage.The invention relates to an assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus.
Stand der TechnikState of the art
Mikrolithographie wird zur Herstellung mikrostrukturierter Bauelemente, wie beispielsweise integrierter Schaltkreise oder LCD's, angewendet. Der Mikrolithographieprozess wird in einer sogenannten Projektionsbelichtungsanlage durchgeführt, welche eine Beleuchtungseinrichtung und ein Projektionsobjektiv aufweist. Das Bild einer mittels der Beleuchtungseinrichtung beleuchteten Maske (= Retikel) wird hierbei mittels des Projektionsobjektivs auf ein mit einer lichtempfindlichen Schicht (Photoresist) beschichtetes und in der Bildebene des Projektionsobjektivs angeordnetes Substrat (z.B. ein Siliziumwafer) projiziert, um die Maskenstruktur auf die lichtempfindliche Beschichtung des Substrats zu übertragen.Microlithography is used to fabricate microstructured devices such as integrated circuits or LCDs. The microlithography process is carried out in a so-called projection exposure apparatus which has an illumination device and a projection objective. The image of a mask (= reticle) illuminated by means of the illumination device is hereby projected onto a substrate (eg a silicon wafer) coated with a photosensitive layer (photoresist) and arranged in the image plane of the projection objective in order to apply the mask structure to the photosensitive coating of the Transfer substrate.
In einer für EUV (z.B. für Wellenlängen von z.B. etwa 13nm oder etwa 7nm) ausgelegten Projektionsbelichtungsanlage werden mangels Vorhandenseins lichtdurchlässiger Materialien Spiegel als optische Komponenten für den Abbildungsprozess verwendet. Diese Spiegel können z.B. auf einem Trägerrahmen befestigt und wenigstens teilweise manipulierbar ausgestaltet sein, um eine Bewegung des jeweiligen Spiegels in sechs Freiheitsgraden (d.h. hinsichtlich Verschiebungen in den drei Raumrichtungen x, y und z sowie hinsichtlich Rotationen Rx, Ry und Rz um die entsprechenden Achsen) zu ermöglichen. Hierbei können etwa im Betrieb der Projektionsbelichtungsanlage auftretende Änderungen der optischen Eigenschaften z.B. infolge von thermischen Einflüssen kompensiert werden. Dabei ist es z.B. bekannt, in einem Projektionsobjektiv einer EUV-Projektionsbelichtungsanlage zur Manipulation von optischen Elementen wie Spiegeln in bis zu sechs Freiheitsgraden drei Aktoreinrichtungen einzusetzen, welche jeweils wenigstens zwei Lorentz-Aktoren bzw. zwei aktiv ansteuerbare Bewegungsachsen aufweisen.In a projection exposure apparatus designed for EUV (eg for wavelengths of, for example, about 13 nm or about 7 nm), mirrors are used as optical components for the imaging process due to the lack of light-transmissive materials. These mirrors may for example be mounted on a support frame and at least partially manipulatable configured to a movement of the respective mirror in six degrees of freedom (ie with respect to shifts in the three spatial directions x, y and z and with respect to rotations R x , R y and R z to the corresponding axes). In this case, changes in the optical properties occurring, for example, as a result of thermal influences can be compensated for, for example, during operation of the projection exposure apparatus. It is known, for example, to use three actuator devices in a projection objective of an EUV projection exposure apparatus for manipulating optical elements, such as mirrors, in up to six degrees of freedom, which each have at least two Lorentz actuators or two actively controllable axes of motion.
In der Beleuchtungseinrichtung einer für den Betrieb im EUV ausgelegten mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage ist insbesondere der Einsatz von Facettenspiegeln in Form von Feldfacettenspiegeln und Pupillenfacettenspiegeln als bündelführende Komponenten z.B. aus
Die mechanische Lagerung eines optischen Elements in Form eines Spiegels oder Spiegelmoduls (z.B. eines Facettenspiegels) kann in einer bekannten Hexapod-Anordnung gemäß der lediglich schematischen Darstellung von
Ein in der Praxis auftretendes Problem ist, dass in der zur mechanischen Lagerung eines optischen Elements z.B. in Form eines Spiegels oder Spiegelmoduls vorhandenen Kinematik bzw. Gelenkanordnung Schwingungen angeregt werden können, welche zu einer Schädigung oder sogar Zerstörung der jeweiligen optischen Komponenten führen können. Derartige Schwingungsanregungen können beispielsweise durch Erdbeben oder auch durch während des Transports des betreffenden optischen Systems von außen einwirkende Kräfte verursacht werden. Das vorstehend beschriebene Problem ist umso gravierender, als die etwa in einer für EUV ausgelegten Projektionsbelichtungsanlage typischerweise vorhandenen Vakuumbedingungen eine geringe Dämpfung und bei der Positionsregelung erhebliche Einschränkungen hinsichtlich der möglichen Reglerauslegung zur Folge haben.A problem occurring in practice is that in the mechanical storage of an optical element e.g. in the form of a mirror or mirror module existing kinematics or joint arrangement vibrations can be excited, which can lead to damage or even destruction of the respective optical components. Such vibration excitations can be caused, for example, by earthquakes or by external forces during transport of the optical system in question. The problem described above is all the more serious since the vacuum conditions typically present in an EUV-designed projection exposure system result in low attenuation and in position control considerable restrictions with regard to possible controller design.
Zum Stand der Technik wird lediglich beispielhaft auf
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNGSUMMARY OF THE INVENTION
Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Baugruppe, insbesondere in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, bereitzustellen, welche bei der Aktuierung und/oder Lagerung eines optischen Elements die Minimierung der Einleitung parasitärer Schwingungsanregungen ermöglicht.It is an object of the present invention to provide an assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus, which minimizes the activation and / or storage of an optical element allows the initiation of parasitic vibration excitations.
Diese Aufgabe wird gemäß den Merkmalen des unabhängigen Anspruchs 1 gelöst.This object is achieved according to the features of the
Eine erfindungsgemäße Baugruppe, insbesondere in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, weist auf:
- - ein optisches Element,
- - eine Gelenkanordnung zur mechanischen Lagerung des optischen Elements, und
- - eine Dämpfungseinrichtung zur Dämpfung wenigstens einer in der Gelenkanordnung auftretenden Schwingungsanregung durch Erzeugen wenigstens einer Gegenschwingung, welche die Schwingungsanregung wenigstens teilweise kompensiert.
- an optical element,
- a hinge arrangement for mechanically supporting the optical element, and
- - A damping device for damping at least one vibration excitation occurring in the joint assembly by generating at least one counter-vibration which compensates for the vibration excitation at least partially.
Der Erfindung liegt insbesondere das Konzept zugrunde, eine Dämpfung von unerwünschten, in einer Gelenkanordnung zur Lagerung eines optischen Elements wie z.B. eines Spiegels oder Spiegelmoduls auftretenden Schwingungsanregungen dadurch zu realisieren, dass gezielt eine geeignete kompensierende Gegenschwingung in die Gelenkanordnung eingeleitet wird. Infolge der durch diese Gegenschwingung erzielten Kompensationswirkung wird erreicht, dass die betreffende, unerwünschte bzw. parasitäre Schwingungsanregung erst gar nicht zu dem betreffenden optischen Element gelangt und somit dessen Beschädigung oder Zerstörung vermieden wird.In particular, the invention is based on the concept of damping unwanted elements in a hinge arrangement for supporting an optical element, such as a hinge. a vibrating excitations occurring in a mirror or mirror module can be realized by specifically introducing a suitable compensating counter-vibration into the joint arrangement. As a result of the compensation effect achieved by this counter-vibration is achieved that the relevant, unwanted or parasitic vibration excitation does not even get to the relevant optical element and thus its damage or destruction is avoided.
Die Erfindung ist insbesondere vorteilhaft bei der mechanischen Lagerung des eingangs beschriebenen Facettenspiegels, jedoch auch bei der mechanischen Lagerung eines Einzelspiegels realisierbar, da in der Regel auch insoweit die Vermeidung auftretender Schwingungen eines solchen Einzelspiegels im Betrieb des optischen Systems zu gewährleisten ist.The invention is particularly advantageous in the mechanical storage of the facet mirror described above, but also in the mechanical storage of a single mirror feasible, since in the rule to avoid the occurrence of vibrations occurring in such an individual mirror is to ensure in the operation of the optical system.
Neben der erzielbaren effizienten Schwingungsdämpfung besteht ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Konzepts - etwa im Vergleich zu dem ebenfalls in Betracht kommenden Einsatz von Schwingungstilgern - darin, dass ein mit entsprechenden Tilgermassen einhergehender, vergleichsweise großer Bauraumbedarf entfällt.In addition to the achievable efficient vibration damping, another advantage of the inventive concept - for example, in comparison to the likewise eligible use of vibration absorbers - is that a comparatively large space requirement associated with corresponding absorber masses is eliminated.
Die erfindungsgemäße Erzeugung der kompensierenden Gegenschwingung kann auf unterschiedliche Weise erfolgen, wobei insbesondere wie im Folgenden beschrieben zwischen „aktiven“, d.h. eine zusätzliche Energieversorgung beinhaltenden Ausführungsformen und „passiv“ arbeitenden, d.h. ohne externe Energieversorgung auskommenden Ausführungsformen unterschieden werden kann.The generation of the compensating countervibration according to the invention can be carried out in different ways, in particular as described below between "active", i. an additional power supply embodiments and "passive" working, i. can be distinguished without external power supply emanating embodiments.
Gemäß einer Ausführungsform weist die Dämpfungseinrichtung wenigstes einen Sensor zur Messung einer für die Schwingungsanregung charakteristischen Größe auf.According to one embodiment, the damping device has at least one sensor for measuring a variable which is characteristic of the vibration excitation.
Gemäß einer Ausführungsform weist die Dämpfungseinrichtung wenigstes einen Aktor zur Erzeugung der Gegenschwingung auf.According to one embodiment, the damping device has at least one actuator for generating the countervibration.
Gemäß einer Ausführungsform erzeugt der Aktor die Gegenschwingung in Abhängigkeit von der durch den Sensor durchgeführten Messung.According to one embodiment, the actuator generates the countervibration as a function of the measurement performed by the sensor.
Gemäß einer Ausführungsform weist die Baugruppe eine Komponente auf, welche in einem ersten Betriebsmodus als Sensor zur Messung einer für die Schwingungsanregung charakteristischen Größe und in einem zweiten Betriebsmodus als Aktor zur Erzeugung der Gegenschwingung betreibbar ist. Insbesondere kann etwa ein piezoelektrisches Element zum einen ein Spannungssignal in Reaktion auf die Schwingungsanregung erzeugen und zum anderen auf Basis eines weiteren Spannungssignals (welches z.B. unter Phasenverschiebung aus dem besagten ersten Spannungssignal erhalten werden kann) wiederum die Gegenschwingung generieren.According to one embodiment, the assembly has a component which, in a first operating mode, can be operated as a sensor for measuring a variable that is characteristic of the vibration excitation and in a second operating mode as an actuator for generating the countervibration. In particular, a piezoelectric element, on the one hand, may generate a voltage signal in response to the vibration excitation and, on the other hand, generate the countervibration based on another voltage signal (which may be obtained, for example, with phase shift from said first voltage signal).
Gemäß einer Ausführungsform weist die Baugruppe einen Spannungsspeicher, insbesondere eine Batterie oder einen Kondensator, auf. Hierdurch kann z.B. ein Notbetrieb bei Ausfall einer externen Spannungsversorgung realisiert werden.According to one embodiment, the assembly has a voltage storage device, in particular a battery or a capacitor. As a result, e.g. an emergency operation can be realized in case of failure of an external power supply.
Gemäß einer Ausführungsform ist die Gegenschwingung ohne externe Energieversorgung auf Basis eines durch die Schwingungsanregung induzierten und gegenüber dieser Schwingungsanregung phasenverschobenen Spannungssignals erzeugbar.According to one embodiment, the countervibration can be generated without an external power supply on the basis of a voltage signal induced by the vibration excitation and phase-shifted with respect to this vibration excitation.
Gemäß einer Ausführungsform weist die Baugruppe zur Erzeugung des phasenverschobenen Spannungssignals einen Schwingkreis auf. Der Schwingkreis kann insbesondere zur Erzeugung unterschiedlicher Schwingungsmoden der Gegenschwingung ausgestaltet sein.According to one embodiment, the module for generating the phase-shifted voltage signal has a resonant circuit. The resonant circuit can in particular be designed to generate different oscillation modes of the countervibration.
Gemäß einer Ausführungsform weist die Gelenkanordnung wenigstens drei, insbesondere wenigstens vier, weiter insbesondere wenigstens sechs an dem optischen Element festgelegten Verbindungselementen auf.According to one embodiment, the joint arrangement has at least three, in particular at least four, more particularly at least six connecting elements fixed to the optical element.
Die Verbindungselemente können insbesondere eine Hexapod-Anordnung bilden.The connecting elements can in particular form a hexapod arrangement.
Gemäß einer Ausführungsform ist jedem der Verbindungselemente ein Aktor zur Erzeugung einer Gegenschwingung zugeordnet.According to one embodiment, an actuator for generating a countervibration is assigned to each of the connecting elements.
Gemäß einer Ausführungsform ist das optische Element ein Spiegelmodul. Insbesondere kann dieses Spiegelmodul auch als Facettenspiegel mit einer Mehrzahl von Spiegelfacetten ausgestaltet sein. According to one embodiment, the optical element is a mirror module. In particular, this mirror module can also be designed as a facet mirror with a plurality of mirror facets.
Gemäß einer Ausführungsform ist das optische Element für eine Arbeitswellenlänge von weniger als 30nm, insbesondere von weniger als 15nm, ausgelegt.According to one embodiment, the optical element is designed for a working wavelength of less than 30 nm, in particular less than 15 nm.
Die Erfindung betrifft weiter ein optisches System einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, welches wenigstens eine Baugruppe mit den vorstehend beschriebenen Merkmalen aufweist.The invention further relates to an optical system of a microlithographic projection exposure apparatus, which has at least one assembly with the features described above.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind der Beschreibung sowie den Unteransprüchen zu entnehmen.Further embodiments of the invention are described in the description and the dependent claims.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von in den beigefügten Abbildungen dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert.The invention will be explained in more detail with reference to embodiments shown in the accompanying drawings.
Figurenlistelist of figures
Es zeigen:
-
1-4 schematische Darstellungen zur Erläuterung möglicher Ausführungsformen einer erfindungsgemäßen Baugruppe; -
5 eine schematische Darstellung zur Erläuterung des möglichen Aufbaus einer für den Betrieb im EUV ausgelegten mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage; und -
6 eine schematische Darstellung eines bekannten Hexapod-Aufbaus zur Erläuterung einer möglichen Anwendung der Erfindung.
-
1-4 schematic representations for explaining possible embodiments of an assembly according to the invention; -
5 a schematic representation for explaining the possible structure of a designed for operation in the EUV microlithographic projection exposure apparatus; and -
6 a schematic representation of a known hexapod structure for explaining a possible application of the invention.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG BEVORZUGTER AUSFÜHRUNGSFORMENDETAILED DESCRIPTION OF PREFERRED EMBODIMENTS
Gemäß
Die erfindungsgemäße Baugruppe dient zur mechanischen Lagerung und/oder Aktuierung eines optischen Elements, bei welchem es sich lediglich beispielhaft um einen Spiegel oder ein Spiegelmodul einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage (z.B. der Projektionsbelichtungsanlage
Den im Weiteren beschriebenen Ausführungsformen ist gemeinsam, dass zur Dämpfung einer in der jeweiligen Gelenkanordnung zur mechanischen Lagerung des betreffenden optischen Elements auftretenden Schwingungsanregung wenigstens eine Gegenschwingung erzeugt wird, welche die besagte Schwingungsanregung wenigstens teilweise kompensiert.The embodiments described below have in common that for damping a vibration excitation occurring in the respective joint arrangement for the mechanical mounting of the respective optical element, at least one countervibration is generated which at least partially compensates said vibration excitation.
Gemäß
Mit „
Im Ausführungsbeispiel von
Das vom Sensor
Der Aktor
Die vorstehend anhand von
Zur Realisierung der vorstehend genannten passiven Erzeugung der Gegenschwingung kann ein durch die jeweilige Schwingungsanregung induziertes und gegenüber dieser Schwingungsanregung phasenverschobenes Spannungssignal genutzt werden, welches z.B. wie in
Die Induktivität des betreffenden Schwingkreises
Wenn die Erfindung auch anhand spezieller Ausführungsformen beschrieben wurde, erschließen sich für den Fachmann zahlreiche Variationen und alternative Ausführungsformen, z.B. durch Kombination und/oder Austausch von Merkmalen einzelner Ausführungsformen. Dementsprechend versteht es sich für den Fachmann, dass derartige Variationen und alternative Ausführungsformen von der vorliegenden Erfindung mit umfasst sind, und die Reichweite der Erfindung nur im Sinne der beigefügten Patentansprüche und deren Äquivalente beschränkt ist.Although the invention has also been described with reference to specific embodiments, numerous variations and alternative embodiments will be apparent to those skilled in the art, eg, by combining and / or replacing features of individual embodiments. Accordingly, it will be understood by those skilled in the art that such variations and alternative embodiments of the present invention are included, and the scope of the invention is limited only in terms of the appended claims and their equivalents.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list of the documents listed by the applicant has been generated automatically and is included solely for the better information of the reader. The list is not part of the German patent or utility model application. The DPMA assumes no liability for any errors or omissions.
Zitierte PatentliteraturCited patent literature
- DE 102008009600 A1 [0004]DE 102008009600 A1 [0004]
- WO 2005/026801 A2 [0007]WO 2005/026801 A2 [0007]
- WO 2008/012336 A1 [0007]WO 2008/012336 A1 [0007]
- WO 2012/084675 A1 [0007]WO 2012/084675 A1 [0007]
Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature
- Paul R. Yoda: „Opto-Mechanical Systems Design“, Third Edition, ISBN 081946091-5 [0036]Paul R. Yoda: "Opto-Mechanical Systems Design", Third Edition, ISBN 081946091-5 [0036]
Claims (15)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102018132436.7A DE102018132436A1 (en) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102018132436.7A DE102018132436A1 (en) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102018132436A1 true DE102018132436A1 (en) | 2019-10-31 |
Family
ID=68205479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE102018132436.7A Ceased DE102018132436A1 (en) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE102018132436A1 (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102019218305A1 (en) * | 2019-11-26 | 2020-12-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Device for mounting a component of a projection exposure system |
| DE102020213112A1 (en) | 2020-08-07 | 2022-02-10 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Arrangement and method for measuring a measurement object |
| WO2022183635A1 (en) * | 2021-03-04 | 2022-09-09 | 长鑫存储技术有限公司 | Vibration attenuation structure and exposure apparatus |
| DE102024205284A1 (en) | 2024-06-07 | 2024-08-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Shock isolation assembly for shock isolation of at least one component of an optical system for analyzing lithography masks |
| DE102023210779A1 (en) | 2023-02-08 | 2024-08-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Storage device for storing an optical module on a support frame |
| US12105434B2 (en) | 2020-04-27 | 2024-10-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10062786A1 (en) * | 2000-12-15 | 2002-06-20 | Zeiss Carl | System for damping vibrations |
| US20070284502A1 (en) * | 2006-06-13 | 2007-12-13 | Nikon Corporation | Hexapod kinematic mountings for optical elements, and optical systems comprising same |
| US20130299669A1 (en) * | 2010-11-23 | 2013-11-14 | Philippe Laurens | Vibration isolating device |
-
2018
- 2018-12-17 DE DE102018132436.7A patent/DE102018132436A1/en not_active Ceased
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10062786A1 (en) * | 2000-12-15 | 2002-06-20 | Zeiss Carl | System for damping vibrations |
| US20070284502A1 (en) * | 2006-06-13 | 2007-12-13 | Nikon Corporation | Hexapod kinematic mountings for optical elements, and optical systems comprising same |
| US20130299669A1 (en) * | 2010-11-23 | 2013-11-14 | Philippe Laurens | Vibration isolating device |
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| Hollkamp, J.J.: "Multimodal Passive Vibration Suppression with Piezoelectric Materials and Resonant Shunts", Journal of Intelligent Materials and Structures Vol.5, Seiten 49 57 (1994) * |
| Reza Moheimani, S.O.: "A Survey of Recent Innovations in Vibration Damping and Control Using Shunted Piezoelectric Transducers", IEEE TRANSACTIONS ON CONTROL SYSTEMS TECHNOLOGY, Vol.11, No.4, Seiten 482-494 (2003) * |
| Wu, S.-Y.: "Method for Multiple Mode Piezoelectric Shunting with Single PZT Transducer for Vibration Control", Journal of Intelligent Materials and Structures Vol.9, Seiten 991 998 (1998) * |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102019218305A1 (en) * | 2019-11-26 | 2020-12-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Device for mounting a component of a projection exposure system |
| DE102019218305B4 (en) | 2019-11-26 | 2022-02-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method for compensating for excitations when storing a component of a projection exposure system |
| US12105434B2 (en) | 2020-04-27 | 2024-10-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus |
| DE102020213112A1 (en) | 2020-08-07 | 2022-02-10 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Arrangement and method for measuring a measurement object |
| WO2022183635A1 (en) * | 2021-03-04 | 2022-09-09 | 长鑫存储技术有限公司 | Vibration attenuation structure and exposure apparatus |
| US12072639B2 (en) | 2021-03-04 | 2024-08-27 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Vibration attenuation structure and exposure device |
| DE102023210779A1 (en) | 2023-02-08 | 2024-08-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Storage device for storing an optical module on a support frame |
| DE102024205284A1 (en) | 2024-06-07 | 2024-08-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Shock isolation assembly for shock isolation of at least one component of an optical system for analyzing lithography masks |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102018132436A1 (en) | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus | |
| DE102013201082A1 (en) | Arrangement for actuation of optical element e.g. mirror in microlithography projection exposure system, has actuators that are arranged in natural vibration mode of the optical element | |
| WO2016203020A1 (en) | Optical system | |
| DE102014218969A1 (en) | Optical arrangement of a microlithographic projection exposure apparatus | |
| DE102015201870A1 (en) | Arrangement for position manipulation of an element, in particular in an optical system | |
| DE102022211799A1 (en) | MANIPULATOR, OPTICAL SYSTEM, PROJECTION EXPOSURE EQUIPMENT AND PROCESS | |
| DE102023208854A1 (en) | COOLING DEVICE FOR COOLING A POSITION-SENSITIVE COMPONENT OF A LITHOGRAPHY SYSTEM | |
| DE102017214441A1 (en) | Assembly of an optical system, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus | |
| DE102017200793A1 (en) | Mirror system and projection exposure system | |
| DE102020200693A1 (en) | OPTICAL SYSTEM AND LITHOGRAPH SYSTEM | |
| DE102018216934A1 (en) | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus | |
| DE102018207949A1 (en) | Assembly in a microlithographic Projektionsbelichtungsanalge | |
| DE102013204305A1 (en) | Arrangement for the actuation of at least one element in an optical system | |
| WO2025229021A1 (en) | Optical system, lithography installation and method for producing an optical system | |
| DE102024204660A1 (en) | Optical assembly, method for integrating the optical assembly and projection exposure system | |
| DE102021202893A1 (en) | BEARING FOR A LITHOGRAPHY PLANT AND LITHOGRAPHY PLANT | |
| DE102023116893A1 (en) | Device and method for compensating pendulum forces | |
| DE102023208851A1 (en) | OPTICAL SYSTEM AND PROJECTION EXPOSURE SYSTEM | |
| DE102018219375A1 (en) | Load-bearing support structure | |
| DE102023200336A1 (en) | Projection exposure system for semiconductor lithography with a connecting element | |
| DE102023206041A1 (en) | assembly in a microlithographic projection exposure system | |
| DE102018202694A1 (en) | Assembly, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus | |
| DE102017207763A1 (en) | Joint arrangement for an optical element, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus | |
| DE102023116892A1 (en) | Method for controlling an optical module, optical module and control for an assembly of a projection exposure system for semiconductor lithography | |
| DE102012224022A1 (en) | Arrangement for actuation of optical element in optical system, has actuator for exerting force on optical element, where actuator is arranged within vacuum-tight housing, and optical element is arranged outside the housing |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R012 | Request for examination validly filed | ||
| R230 | Request for early publication | ||
| R002 | Refusal decision in examination/registration proceedings | ||
| R003 | Refusal decision now final |