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DE102016105516B3 - Method for monitoring at least two LED chains of different length using programmable voltage dividers - Google Patents

Method for monitoring at least two LED chains of different length using programmable voltage dividers Download PDF

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DE102016105516B3
DE102016105516B3 DE102016105516.6A DE102016105516A DE102016105516B3 DE 102016105516 B3 DE102016105516 B3 DE 102016105516B3 DE 102016105516 A DE102016105516 A DE 102016105516A DE 102016105516 B3 DE102016105516 B3 DE 102016105516B3
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DE
Germany
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tap
led
voltage
voltage divider
leds
Prior art date
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DE102016105516.6A
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German (de)
Inventor
Andre Sudhaus
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Elmos Semiconductor SE
Original Assignee
Elmos Semiconductor SE
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Publication date
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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung der elektrischen Energieversorgung einer ersten LED-Kette (LED1) mit n LEDs aus einer ersten geregelten Stromquelle (I1) mit einem ersten Nennstrom (I10) und einer zweiten LED-Kette (LED2) mit m LEDs aus einer zweiten Stromquelle (I2) mit einem zweiten Nennstrom (I20), wobei n ≠ m gilt. Das Verfahren umfasst als einen ersten Schritt das Einstellen des Spannungsteilerverhältnisses eines programmierbaren Spannungsteilers und das Erzeugen eines ersten Abgriffpotenzials als ersten Fehlererkennungsparameter an einem ersten Abgriff (ERR1) des programmierbaren Spannungsteilers und als zweiten Schritt das Erzeugen eines zweiten Abgriffpotenzials als zweiten Fehlererkennungsparameter an einem zweiten Abgriff (ERR2). Die so erzeigten Abgriffspotenziale werden in einem nächsten Schritt dann mit der Spannungsdifferenz zwischen dem ersten Abgriffpotenzial und dem zweiten Abgriffpotenzial verglichen. Die so ermittelte Spannungsdifferenz wird dann mit einem ersten Schwellwert und einem zweiten Schwellwert, der vom ersten Schwellwert verschieden ist, durch eine Auswerteschaltung (AS) verglichen. Die Auswerteschaltung (AS) signalisiert sodann, ob die Spannungsdifferenz zwischen dem ersten und dem zweiten Schwellwert liegt.The invention relates to a method for monitoring the electrical power supply of a first LED chain (LED1) with n LEDs from a first regulated current source (I1) with a first rated current (I10) and a second LED chain (LED2) with m LEDs from one second current source (I2) with a second rated current (I20), where n ≠ m applies. The method comprises as a first step the setting of the voltage divider ratio of a programmable voltage divider and the generation of a first tap potential as first error detection parameter at a first tap (ERR1) of the programmable voltage divider and as second step generating a second tap potential as second error detection parameter at a second tap ( ERR2). The tap potentials thus displayed are then compared in a next step with the voltage difference between the first tap potential and the second tap potential. The voltage difference thus determined is then compared with a first threshold value and a second threshold value, which is different from the first threshold value, by an evaluation circuit (AS). The evaluation circuit (AS) then signals whether the voltage difference lies between the first and the second threshold value.

Description

Diese Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung mindestens zweier LED-Ketten. Die zugehörige Vorrichtung wird ebenfalls beschrieben. Es stehen bei einer Kette von LEDs, die in der Automobilindustrie verwendet werden sollen, aus Fertigungsgründen meist LED-Träger mit lediglich zwei elektrischen Anschlüssen zur Verfügung. Dadurch sind Teile der Kette in der Regel für eine Zustandsbewertung der LED-Kette nicht erreichbar/messbar. Für eine Sichere Ausfallserkennung ist eine solche Zustandsermittlung jedoch notwendig. Aus der DE 10 2011 120 781 A1 ist eine Vorrichtung zur Überwachung einer LED-Kette bekannt, die mittels einer Temperaturmessung und einem anschließenden Vergleich mit einem Referenzwert einen fehlerhaften Zustand feststellt.This invention relates to a method for monitoring at least two LED strings. The associated device will also be described. For production reasons, a chain of LEDs which are to be used in the automotive industry usually has LED carriers with only two electrical connections. As a result, parts of the chain are usually unachievable / measurable for a status evaluation of the LED string. For a reliable failure detection, however, such a state determination is necessary. From the DE 10 2011 120 781 A1 a device for monitoring an LED chain is known, which detects a faulty state by means of a temperature measurement and a subsequent comparison with a reference value.

Aus dem Stand der Technik ist die US 2006 170 287 A1 bekannt. Dies ist eine der möglichen Lösungen zur Messung des Zustands einer einzelnen LED-Kette. Die Lösung erfordert jedoch je LED-Kette einen weiteren Anschluss. Die US 2006 170 287 A1 offenbart einen Beleuchtungskontrollschaltkreis für eine Kfz-Beleuchtungseinheit, beispielsweise Rückleuchten und Scheinwerfer, der sich dadurch auszeichnet, dass er eine Fehlererkennungsvorrichtung umfasst, die einen relativen Vergleich zwischen einer Spannung, die an allen Halbleiterlichtquellen anliegt und einer Spannung durchführt, die nur an einem Teil der Halbleiterlichtquellen anliegt, um einen Fehler in irgendeiner der Halbleiter-Lichtquellen zu detektieren. Dies ist typischerweise so zu verstehen, dass die US 2006 170 287 A1 Abgriffe in der jeweiligen LED-Kette, immer bezogen auf nur eine Kette, erfordert. Wie oben bereits erwähnt ist dies aber nicht immer möglich und sinnvoll.From the prior art is the US 2006 170 287 A1 known. This is one of the possible solutions for measuring the state of a single LED string. However, the solution requires a further connection per LED chain. The US 2006 170 287 A1 discloses a lighting control circuit for a vehicle lighting unit, such as taillights and headlamps, characterized by comprising an error detecting device that makes a relative comparison between a voltage applied to all the semiconductor light sources and a voltage that is applied to only a part of the semiconductor light sources is applied to detect a fault in any of the semiconductor light sources. This is typically understood to mean that US 2006 170 287 A1 Taps in the respective LED chain, always referring to only one chain, requires. As mentioned above, this is not always possible and useful.

Aus der US 2007 159 750 A1 ist eine Fehlererkennungsvorrichtung für eine Kette von Leuchtdioden bekannt. Dabei umfasst die Kette der Leuchtdioden eine Mehrzahl seriell verbundener LEDSs, also eine einzige Kette. Dabei umfasst diese Fehlererkennungsvorrichtung der US 2007 159 750 A1 eine Spannungsmessvorrichtung, die den Spannungsabfall über mindestens eine LED der LED-Kette erfassen kann. Diese Spannung wird nun mehrfach gemessen und dynamisch über die Zeit bewertet. Es handelt sich also zum einen wieder um eine mögliche Lösung des technischen Problems mit den nicht gewünschten Abgriffen in der LED-Kette für eine einzelne Kette. Zum Zweiten handelt sich um den Versuch, aus transienten Änderungen des Spannungsabfalls über einen Teil der LED-Kette oder der LED-Kette selbst einen Fehlerfall, beispielsweise einen Einzelkurzschluss einer LED, zu erkennen. Die Idee der US 2007 159 750 A1 ist somit, dass die Spannung an der LED-Kette einmalig bei einem Fehler springt. Dieser Spannungssprung kann nach oben – z. B. bei einem ”open” Fehler – oder nach unten – z. B. bei einem partieller Kurzschluss einzelner LEDs der LED-Kette – erfolgen.From the US 2007 159 750 A1 an error detection device for a chain of light-emitting diodes is known. In this case, the chain of light-emitting diodes comprises a plurality of serially connected LEDSs, ie a single chain. In this case, this error detection device comprises US 2007 159 750 A1 a voltage measuring device that can detect the voltage drop across at least one LED of the LED chain. This voltage is now measured several times and evaluated dynamically over time. On the one hand, this is again a possible solution to the technical problem with the unwanted taps in the LED chain for a single chain. Secondly, an attempt is made to detect an error case, for example a single short circuit of an LED, from transient changes in the voltage drop across part of the LED chain or the LED chain itself. The idea of US 2007 159 750 A1 is thus that the voltage on the LED chain jumps once in case of an error. This voltage jump can go upwards - z. B. in an "open" error - or down - z. B. in a partial short circuit of individual LEDs of the LED chain - done.

Diese Methode hat den Nachteil, dass die Bewertung von solchen Einzelereignissen des Spannungsverlaufs des Spannungsabfalls über einen Teil der LED-Kette in automobilen Anwendungen in Anbetracht der bekannten und typischerweise vorhandenen Störpulse extrem kritisch und unzuverlässig zu bewerten ist. Dieses Verfahren der US 2007 159 750 A1 der transienten Bewertung einer Spannung erhöht schlicht die Unzuverlässigkeit im Hinblick auf elektromagnetische Verträglichkeit (passive [MV) im Hinblick auf parasitäre elektromagnetische Einstrahlungen.This method has the disadvantage that the evaluation of such individual events of the voltage drop across a part of the LED chain in automotive applications is extremely critical and unreliable in view of the known and typically existing interference pulses. This method of US 2007 159 750 A1 The transient evaluation of a voltage simply increases the unreliability with regard to electromagnetic compatibility (passive [MV) with regard to parasitic electromagnetic radiation.

Die Vermessung mehrerer Parallele LED-Ketten wird sowohl in der US 2006 170 287 A1 als auch in der US 2007 159 750 A1 nicht behandelt. Daher werden die hieraus resultierenden zusätzlichen Möglichkeiten nicht berücksichtigt.The measurement of several parallel LED chains is both in the US 2006 170 287 A1 as well as in the US 2007 159 750 A1 not treated. Therefore, the resulting additional options are not taken into account.

Auch aus der DE 11 2009 005 227 T5 ist die Überwachung einer einzelnen LED-Kette mittels des Vergleichs mit Spannungsreferenzwerten bekannt.Also from the DE 11 2009 005 227 T5 For example, monitoring of a single LED string is known by comparison with voltage reference values.

Aus der EP 0 955 619 A1 ist die Vermessung der an den LEDs zweier LED-Ketten abfallenden Spannungen bekannt, um fehlerhafte LEDs zu detektieren. Dieses Verfahren ist mit mehreren Nachteilen behaftet. Zum einen wird je LED eine Messleitung benötigt. Zum anderen müssen die Vergleichsspannungen präzise vorgegeben werden.From the EP 0 955 619 A1 the measurement of the voltage drop across the LEDs of two LED strings is known in order to detect faulty LEDs. This method has several disadvantages. On the one hand, one measuring lead per LED is required. On the other hand, the reference voltages must be specified precisely.

Aus der DE 10 2014 107 947 A1 ist die Vermessung einer einzelnen LED-Kette durch Vergleich des Spannungsabfalls über zwei LED-Kettenabschnitte dieser LED Kette bekannt.From the DE 10 2014 107 947 A1 is the measurement of a single LED chain by comparing the voltage drop across two LED chain sections of this LED chain known.

Aus der US 2008 0 204 029 A1 (deren 3) ist die Überwachung gleichlanger LED-Ketten bekannt, wobei die Anzapfungen für den dort beschriebenen Monitorschaltkreis stets an der gleichen Stelle innerhalb einer LED-Kette zu finden sind.From the US 2008 0 204 029 A1 (whose 3 ) Monitoring the same length LED chains is known, the taps for the monitor circuit described therein are always to be found in the same place within an LED chain.

Aus der US 2012 0 200 296 A1 (deren 2) ist der Vergleich zweier gleich langer LED-Ketten mittels eines Differenzverstärkers bekannt. Gleich lange LED Ketten lassen sich aber in vielen Anwendungen nicht realisieren.From the US 2012 0 200 296 A1 (whose 2 ) is the comparison of two equal length LED chains by means of a differential amplifier known. Equally long LED chains can not be realized in many applications.

Aus der US 2006 0 170 287 A1 und aus der DE 10 2010 002 707 A1 ist jeweils eine Vorrichtung zur Überwachung einer LED-Kette mit einstellbarem Teilungsverhältnis bekannt. In der technischen Lehre der US 2006 0 170 287 A1 wird eine Referenzspannung mit einer Abgriffsspannung innerhalb der LED-Kette verglichen, die über einen Spannungsteiler erzeugt wird.From the US 2006 0 170 287 A1 and from the DE 10 2010 002 707 A1 In each case a device for monitoring an LED chain with adjustable division ratio is known. In the technical teaching of US 2006 0 170 287 A1 For example, a reference voltage is compared to a tap voltage within the LED string that is generated by a voltage divider.

In der technischen Lehre der DE 10 2010 002 707 A1 wird eine Referenzspannung mit einer Abgriffsspannung innerhalb der LED-Kette verglichen, die eine Widerstandskette als Spannungsteiler erzeugt wird. Die Widerstandsketten der US 2006 0 170 287 A1 und der DE 10 2010 002 707 A1 sollen eingespart werden. In the technical teaching of DE 10 2010 002 707 A1 For example, a reference voltage is compared with a tap voltage within the LED string which creates a resistor string as a voltage divider. The resistor chains of US 2006 0 170 287 A1 and the DE 10 2010 002 707 A1 should be saved.

Aufgabe der ErfindungObject of the invention

Es ist die Aufgabe der Erfindung ein Verfahren anzugeben, das zum einen ohne Abgriffe innerhalb einer LED-Kette und zum anderen mittels einer EMV-robusten statischen Messung eine sichere Erkennung von Kurzschlüssen einzelner LEDs innerhalb von unterschiedlich langen LED-Ketten und/oder von Erniedrigungen des Leitwertes einzelner LEDs innerhalb von mehreren parallelgeschalteten unterschiedlich langen LED-Ketten ermöglicht. Darüber hinaus soll eine Vorrichtung, die das Verfahren ausführt, unterschiedlich lange LED-Ketten überwachen können, ohne wesentlich geändert werden zu können. Diese Aufgabe wird mit einem Verfahren gemäß dem Anspruch 1 gelöst.It is the object of the invention to provide a method which on the one hand without taps within an LED chain and on the other hand by means of an EMC-robust static measurement reliable detection of short circuits of individual LEDs within different lengths of LED chains and / or humiliations of the Conductance of individual LEDs within several parallel-connected different lengths LED chains allows. In addition, a device that performs the method to monitor different lengths LED chains can be changed without significant. This object is achieved by a method according to claim 1.

Beschreibung der ErfindungDescription of the invention

Die erfindungsgemäße Aufgabe wird dadurch gelöst, dass zwei unterschiedlich lange LED-Stränge miteinander verglichen werden. Dabei können auch Teile dieser verschiedenen LED-Ketten als Referenzspannungsquellen genutzt werden. Die Erfindung wird zur Überwachung mindestens zweier verschiedener LED-Stränge eingesetzt. Es werden also im Gegensatz zur US 2006 170 287 A1 nicht Teile einer einzelnen LED-Kette miteinander verglichen, sondern verschiedene LED-Ketten. Dies ermöglicht es, LED-Ketten ohne Abgriffe einzusetzen. Es handelt sich somit in einer ersten Ausprägung um eine Vorrichtung zur Überwachung der elektrischen Energieversorgung mindestens einer ersten LED-Kette (LED1) mit n LEDs aus einer ersten geregelten Stromquelle (I1) mit einem ersten Nennstrom (I10) und mindestens einer zweiten LED-Kette (LED2) mit m LEDs aus einer zweiten Stromquelle (I2) mit einem zweiten Nennstrom (I20). Vorzugsweise werden ähnliche LEDs verwendet. Dies ist im Stand der Technik insbesondere deshalb bereits heute üblich, da gleiche Leuchteigenschaften bevorzugt erzielt werden sollen. Daher fällt dann an jeder LED der ersten LED-Kette (LED1), wenn diese durch den ersten Nennstrom (I10) der ersten Stromquelle (I1) durchströmt wird, eine erste Flussspannung (ULED1) ab. Naturgegeben sind die Flussspannungen der verschiedenen LEDs in der Realität doch leicht verschieden. Als gleich im Sinne dieser Offenbarung sollen daher solche LEDs gelten, die bei Bestromung mit dem gleichen Nennstrom eine Flussspannung aufweisen, die um weniger als 20%, besser weniger als 10%, besser weniger als 5%, besser weniger als 2%, besser weniger als 1% von dem Mittelwert der Flussspannungen der anderen LEDs der ersten und zweiten LED-Kette (LED1, LED2) abweichen. Das gleiche soll für die LEDs der weiteren, zweiten LED-Kette gelten. In Ähnlicher Weise können weitere, über die besagten ersten zwei LED-Ketten hinausgehende LED-Ketten, beispielsweise eine dritte, vierte usw., überwacht werden. Weitere LED-Ketten sind dann vorzugsweise, aber nicht notwendigerweise, von allen anderen LED-Ketten verschieden. Um die LEDs versorgen zu können, sind die erste und die zweite LED-Kette (LED1, LED2) und die erste geregelte Stromquelle (I1) und die zweite geregelte Stromquelle (I2) mit einem gemeinsamen Knoten (GND) verbunden. Sofern sich zwischen diesem gemeinsamen Knoten und dem Anschluss der ersten und/oder zweiten Stromquelle (I1, I2) noch Widerstände oder andere Schaltungsteile befinden sollten, beispielsweise Drosseln und/oder Zuleitungswiderstände, so können diese im Sinne dieser Offenbarung vereinfacht als Teil der ersten bzw. zweiten Stromquelle betrachtet werden. Ggf. muss der Auswerteschaltkreis durch eine gesonderte Bezugspotenzialleitung mit dem gemeinsamen Knoten verbunden werden, um die Potenziale für die Bewertung der LED-Ketten richtig erfassen zu können. Der ersten LED-Kette (LED) ist nun ein erster Spannungsteiler (RS1) mit einem ersten Gesamtwiderstand (R1) und der zweiten LED-Kette ein zweiter Spannungsteiler (RS2) mit einem zweiten Gesamtwiderstand (R2) parallelgeschaltet. Diese Spannungsteiler (RS1, RS2) werden vorzugsweise in eine monolithisch integrierte Schaltung, die die Stromquellen und die Auswerteschaltung (AS) mitumfasst, mit integriert. Da solche monolithisch integrierten Schaltungen typischer Weise in verschiedenen Anwendungen mit unterschiedlichen LED-Kettenlängen zwischen den Anwendungen und auch innerhalb der einzelnen Anwendung eingesetzt werden, ist es sinnvoll, wenn der erste Spannungsteiler (RS1) und der zweite Spannungsteiler (RS2) monolithisch integriert und dann gleichzeitig programmierbar sind. Im Folgenden wird zuerst die Variante mit nicht programmierbarem ersten Spannungsteiler (RS1) und zweiten Spannungsteiler (RS2) beschrieben, die bereits in den deutschen Patentanmeldungen DE 10 2015 008 110.1 und DE 10 2015 008 109.8 beschrieben wurden, die vollständiger Teil dieser Beschreibung sind. Die Programmierung der Spannungsteiler erfolgt dabei typischerweise so, dass über eine Datenschnittstelle der monolithisch integrierten Schaltung, deren Teil die Stromquellen (I1, I2) sind, ein Datenregister innerhalb der monolithisch integrierten Schaltung beschrieben werden kann. Dessen Inhalt legt dann das Teilungsverhältnis des ersten Spannungsteilers (RS1) und das Teilungsverhältnis des zweiten Spannungsteilers (RS2) fest. Der erste Gesamtwiderstand (R1) des ersten Spannungsteilers (RS1) beträgt bei korrekter Programmierung des ersten Spannungsteilers (RS1) und des zweiten Spannungsteilers (RS2) das n-fache des durch m geteilten zweiten Gesamtwiderstands (R2). Vorzugsweise werden diese Spannungsteiler (RS1, RS2) relativ hochohmig ausgeführt, um die Stromquellen nicht zu belasten. Der erste Spannungsteiler (RS1) weist dabei einen ersten Abgriff (ERR1) in der Art auf, dass die Spannung (U1) zwischen diesem ersten Abgriff (ERR1) und dem gemeinsamen Knoten (GND) bei korrekter Programmierung des ersten Spannungsteilers (RS1) und des zweiten Spannungsteilers (RS2) ein k-faches der ersten Flussspannung (ULED1) beträgt, wenn die erste LED-Kette (LED1) vom ersten Nennstrom (I10) durchströmt wird. Der zweite Spannungsteiler (RS2) weist analog einen zweiten Abgriff (ERR2) in der Art auf, dass die Spannung (U2) zwischen diesem zweiten Abgriff (ERR2) und dem gemeinsamen Knoten (GND) bei korrekter Programmierung des ersten Spannungsteilers (RS1) und des zweiten Spannungsteilers (RS2) ebenfalls ein k-faches der zweiten Flussspannung (ULED2) beträgt, wenn die zweite LED-Kette (LED2) vom zweiten Nennstrom (I20) durchströmt wird. Der erste Abgriff (ERR1) und der zweite Abgriff (ERR2) sind nun mit einem Auswerteschaltkreis (AS) verbunden. Eine sinnvolle Dimensionierung ist nun beispielsweise so, dass bei der Durchströmung der ersten LED-Kette mit dem ersten Nennstrom bei korrekter Programmierung des ersten Spannungsteilers (RS1) und des zweiten Spannungsteilers (RS2) der erste Abgriff (ERR1) in etwa, bis auf Fertigungsschwankungen, das gleiche Potenzial hat, wie der zweite Abgriff (ERR2) des zweiten Spannungsteilers (RS2), wenn die zweite LED-Kette (LED2) mit dem zweiten Nennstrom durchströmt wird. Ist diese Differenz kleiner als ein vorgegebenes Toleranzband zwischen zwei Schwellwerten, so sind alle LEDs in Ordnung und nicht defekt. Liegt die Spannungsdifferenz jedoch außerhalb dieses Toleranzbandes, so liegt ein Defekt vor und ein Auswerteschaltkreis kann durch Vergleich mit zwei Schwellwerten dieses erkennen und ein Fehlersignal setzen. Der Auswerteschaltkreis (AS) erzeugt daher in Abhängigkeit von der Spannungsdifferenz zwischen dem ersten Abgriff (ERR1) und zweiten Abgriff (ERR2) ein Fehlersignal (FS). Statt der Ausgabe eines Signals sind natürlich auch andere Signalisierungen denkbar. Beispielsweise ist das Setzen eines Fehler-Flags in einem über einen Datenbus innerhalb des Auswerteschaltkreises möglich.The object according to the invention is achieved by comparing two LED strands of different lengths. Parts of these different LED chains can also be used as reference voltage sources. The invention is used to monitor at least two different LED strands. So it will be in contrast to US 2006 170 287 A1 not parts of a single LED chain compared to each other, but different LED chains. This makes it possible to use LED chains without taps. It is thus in a first embodiment to a device for monitoring the electrical power supply at least a first LED chain (LED1) with n LEDs from a first regulated current source (I1) with a first rated current (I 10 ) and at least one second LED Chain (LED2) with m LEDs from a second current source (I2) with a second rated current (I 20 ). Preferably, similar LEDs are used. This is already common practice in the prior art today, since the same luminous properties should preferably be achieved. Therefore, at each LED of the first LED chain (LED1), when it flows through the first rated current (I 10 ) of the first current source (I1), a first forward voltage (U LED1 ) drops . Of course, the flux voltages of the different LEDs are slightly different in reality. As such in the sense of this disclosure, therefore, such LEDs should apply, which have a forward voltage when energized with the same rated current by less than 20%, better less than 10%, better less than 5%, better less than 2%, better less than 1% of the mean value of the forward voltages of the other LEDs of the first and second LED chain (LED1, LED2). The same should apply to the LEDs of the other, second LED chain. In a similar manner, further LED strings extending beyond said first two LED strings, for example a third, fourth, etc., may be monitored. Other LED chains are then preferably, but not necessarily, different from all other LED chains. In order to power the LEDs, the first and second LED strings (LED1, LED2) and the first regulated current source (I1) and the second regulated current source (I2) are connected to a common node (GND). Insofar as resistors or other circuit parts should still be located between this common node and the connection of the first and / or second current source (I1, I2), for example, chokes and / or lead resistors, they can be simplified as part of the first or second power source are considered. Possibly. the evaluation circuit must be connected to the common node by a separate reference potential line in order to correctly detect the potentials for the evaluation of the LED chains. The first LED chain (LED) is now a first voltage divider (RS1) with a first total resistance (R1) and the second LED chain, a second voltage divider (RS2) with a second total resistance (R2) connected in parallel. These voltage dividers (RS1, RS2) are preferably integrated in a monolithic integrated circuit, which includes the current sources and the evaluation circuit (AS). Since such monolithic integrated circuits are typically used in different applications with different LED chain lengths between applications and also within the individual application, it makes sense if the first voltage divider (RS1) and the second voltage divider (RS2) are monolithically integrated and then simultaneously are programmable. The variant with non-programmable first voltage divider (RS1) and second voltage divider (RS2), which are already described in the German patent applications, will first be described below DE 10 2015 008 110.1 and DE 10 2015 008 109.8 which are the fullest part of this description. The programming of the voltage dividers is typically carried out in such a way that a data register within the monolithic integrated circuit can be described via a data interface of the monolithic integrated circuit, the part of which is the current sources (I1, I2). Its content then sets the division ratio of the first voltage divider (RS1) and the division ratio of the second voltage divider (RS2). The first total resistance (R1) of the first voltage divider (RS1) is the correct programming of the first voltage divider (RS1) and the second voltage divider (RS2) n times the second total resistance (R2) divided by m. Preferably, these voltage dividers (RS1, RS2) are made relatively high impedance, so as not to burden the power sources. The first voltage divider (RS1) in this case has a first tap (ERR1) in such a way that the voltage (U1) between this first tap (ERR1) and the common node (GND) with correct programming of the first voltage divider (RS1) and second voltage divider (RS2) k times the first forward voltage (U LED1 ), when the first LED chain (LED1) from the first rated current (I10) is flowed through. The second voltage divider (RS2) analogously has a second tap (ERR2) in such a way that the voltage (U2) between this second tap (ERR2) and the common node (GND) with correct programming of the first voltage divider (RS1) and the second voltage divider (RS2) is also a k-times the second forward voltage (U LED2 ), when the second LED chain (LED2) from the second rated current (I 20 ) is flowed through. The first tap (ERR1) and the second tap (ERR2) are now connected to an evaluation circuit (AS). A meaningful dimensioning is now, for example, such that during the flow through the first LED chain with the first rated current with correct programming of the first voltage divider (RS1) and the second voltage divider (RS2) of the first tap (ERR1) in about, except for manufacturing variations, has the same potential as the second tap (ERR2) of the second voltage divider (RS2), when the second LED chain (LED2) flows through the second rated current. If this difference is smaller than a specified tolerance band between two threshold values, all LEDs are in order and not defective. However, if the voltage difference is outside this tolerance band, then there is a defect and an evaluation circuit can detect this by comparison with two threshold values and set an error signal. The evaluation circuit (AS) therefore generates an error signal (FS) as a function of the voltage difference between the first tap (ERR1) and the second tap (ERR2). Of course, other signals are conceivable instead of the output of a signal. For example, it is possible to set an error flag in one via a data bus within the evaluation circuit.

Im Übrigen ist dem Fachmann klar, dass ggf. andere Teilerverhältnisse für die programmierbaren Spannungsteiler verwendet werden können, wenn die Flussspannungen der LEDs in den Ketten unterschiedlich sind, was der Fachmann wegen der damit verbundenen Temperaturprobleme typischerweise jedoch vermeiden wird. Somit können je nach Anwendung die Spannungsteiler alle Teilerverhältnisse von 100% bis hinunter zu knapp größer 0% aufweisen. Ganzzahlige Teilerverhältnisse sind aufgrund des Matchings und der einfachen Konstruktion der Programmierbarkeit zu bevorzugen.Incidentally, it is clear to the person skilled in the art that if necessary different divider ratios can be used for the programmable voltage dividers if the forward voltages of the LEDs in the chains are different, which however is typically avoided by the person skilled in the art due to the associated temperature problems. Thus, depending on the application, the voltage dividers can have all divider ratios of 100% down to just over 0%. Integer divider ratios are preferable due to matching and ease of programmability design.

In einer Variante der Vorrichtung fällt an jeder LED der ersten LED-Kette (LED1), wenn diese durch den ersten Nennstrom (I10) durchströmt wird, eine erste Flussspannung (ULED1) ab, die um weniger als 20% und/oder weniger als 10% und/oder weniger als 5% und/oder weniger als 2% und/oder weniger als 1% von dem Mittelwert der Flussspannungen der anderen LEDs der ersten und zweiten LED-Kette (LED1, LED2) abweicht. Dabei fällt an jeder LED der zweiten LED-Kette (LED1), wenn diese durch den zweiten Nennstrom (I20) durchströmt wird, eine zweite Flussspannung (LED2) ab, die um weniger als 20% und/oder weniger als 10% und/oder weniger als 5% und/oder weniger als 2% und/oder weniger als 1% von dem Mittelwert der Flussspannungen der anderen LEDs der ersten und zweiten LED-Kette (LED1, LED2) abweicht. Wieder sind die erste und die zweite LED-Kette (LED1, LED2) und die erste geregelte Stromquelle (I1) und die zweite geregelte Stromquelle (I2) mit einem gemeinsamen Knoten (GND) verbunden. Nun ist jedoch nur der zweiten LED-Kette ein zweiter programmierbarer Spannungsteiler (RS2) mit einem zweiten Gesamtwiderstand (R2) parallelgeschaltet. Die andere LED Kette ist direkt mit der Auswerteschaltung (AS) verbunden. Der besagte zweite Spannungsteiler (RS2) weist wieder einen zweiten Abgriff (ERR2) in der Art auf, dass die Spannung (U2) zwischen diesem zweiten Abgriff (ERR2) und dem gemeinsamen Knoten (GND) ein n-faches der ersten Flussspannung (ULED1) beträgt, wenn die zweite LED-Kette (LED2) vom zweiten Nennstrom (I20) durchströmt wird. Der erste Abgriff (ERR1) und der zweite Abgriff (ERR2) sind wieder mit einem Auswerteschaltkreis (AS) verbunden. Wie zuvor erzeugt der Auswerteschaltkreis (AS) in Abhängigkeit von der Spannungsdifferenz zwischen dem ersten Abgriff (ERR1) als erstem Fehlererkennungsparameter und zweiten Abgriff (ERR2) als zweiten Fehlererkennungsparameter ein Fehlersignal (FS) und/oder setzt ein Fehler-Flag und/oder ändert einen Registerinhalt.In a variant of the device, at each LED of the first LED chain (LED1), when it flows through the first rated current (I10), a first forward voltage (U LED1 ) drops by less than 20% and / or less than 10% and / or less than 5% and / or less than 2% and / or less than 1% of the average of the forward voltages of the other LEDs of the first and second LED chain (LED1, LED2) is different. In this case, falls on each LED of the second LED chain (LED1) when it flows through the second rated current (I 20 ), a second forward voltage (LED2) by less than 20% and / or less than 10% and / or less than 5% and / or less than 2% and / or less than 1% from the average of the forward voltages of the other LEDs of the first and second LED strings (LED1, LED2). Again, the first and second LED strings (LED1, LED2) and the first regulated current source (I1) and the second regulated current source (I2) are connected to a common node (GND). However, only the second LED chain, a second programmable voltage divider (RS2) with a second total resistance (R2) is connected in parallel. The other LED chain is connected directly to the evaluation circuit (AS). Said second voltage divider (RS2) again has a second tap (ERR2) in such a way that the voltage (U 2 ) between this second tap (ERR2) and the common node (GND) is n times the first forward voltage (U LED1 ) is, if the second LED chain (LED2) from the second rated current (I 20 ) flows through. The first tap (ERR1) and the second tap (ERR2) are again connected to an evaluation circuit (AS). As before, the evaluation circuit (AS) generates an error signal (FS) as a function of the voltage difference between the first tap (ERR1) as the first error detection parameter and the second tap (ERR2) as the second error detection parameter and / or sets an error flag and / or changes one content tab.

In einer weiteren Variante der Vorrichtung erzeugt der Auswerteschaltkreis (AS) ein Fehlersignal (FS) und/oder ändert den logischen Inhalt eines Fehler-Flags und/oder ändert einen Registerinhalt, wenn die Spannungsdifferenz zwischen dem ersten Abgriff (ERR1) und zweiten Abgriff (ERR2) um mehr als 1% und/oder um mehr als 2% und/oder um mehr als 5% und/oder um mehr als 10% und/oder um mehr als 25% voneinander abweicht.In a further variant of the device, the evaluation circuit (AS) generates an error signal (FS) and / or changes the logical content of an error flag and / or changes a register content if the voltage difference between the first tap (ERR1) and the second tap (ERR2 ) differs by more than 1% and / or more than 2% and / or more than 5% and / or more than 10% and / or more than 25%.

In einer weiteren Ausprägung der Vorrichtung weist der Auswerteschaltkreis eine zugehörige Teilvorrichtung auf, die diese Erkennung durch Vergleich des Spannungspotenzials des ersten Abgriffs (ERR1) und des Spannungspotenzials des zweiten Abgriffs (ERR2) mit einem ersten und zweiten Schwellwert durchführt. Hierzu weist sie beispielsweise einen ersten Komparator (CMP1) mit einem ersten Eingang und einem dritten Eingang und einem ersten Komparatorausgang auf. Der erste Komparator (CMP1) ist mit dem ersten Eingang mit dem ersten Abgriff (ERR1) verbunden.In a further embodiment of the device, the evaluation circuit has an associated sub-device, which detects this detection by comparing the voltage potential of the first tap (ERR1) and the voltage potential of the second tap (ERR2) with a first and second Threshold is performed. For this purpose, it has, for example, a first comparator (CMP1) with a first input and a third input and a first comparator output. The first comparator (CMP1) is connected to the first input to the first tap (ERR1).

Des Weiteren weist sie einen zweiten Komparator (CMP2) mit einem zweiten Eingang und einem vierten Eingang und einem zweiten Komparatorausgang auf. Der zweite Komparator (CMP2) ist mit dem zweiten Eingang mit dem zweiten Abgriff (ERR2) verbunden. Um den ersten Schwellwert einzustellen ist beispielsweise eine erste Offsetspannungsquelle (VERR1), die Teil der Teilvorrichtung ist, auf der einen Seite mit dem ersten Abgriff (ERR1) und auf der anderen Seite mit dem vierten Eingang des zweiten Komparators (CMP2) verbunden. Andere Konstruktionen, die auf einen festen Spannungsversatz zwischen erstem Abgriff (ERR1) und dem vierten Eingang des zweiten Komparators (CMP2) hinauslaufen, sind denkbar und im Sinne dieser Offenbarung als erste Offsetspannungsquelle (VERR1) zu betrachten.Furthermore, it has a second comparator (CMP2) with a second input and a fourth input and a second comparator output. The second comparator (CMP2) is connected to the second input to the second tap (ERR2). To set the first threshold, for example, a first offset voltage source (V ERR1 ) that is part of the subdevice is connected on one side to the first tap (ERR1) and on the other side to the fourth input of the second comparator (CMP2). Other constructions that result in a fixed voltage offset between the first tap (ERR1) and the fourth input of the second comparator (CMP2) are conceivable and considered to be the first offset voltage source (V ERR1 ) in the sense of this disclosure.

Des Weiteren verfügt sie über eine zweite Offsetspannungsquelle (VERR2), die auf der einen Seite mit dem zweiten Abgriff (ERR2) und auf der anderen Seite mit dem dritten Eingang verbunden ist. Andere Konstruktionen, die auf einen festen Spannungsversatz zwischen zweiten Abgriff (ERR2) und dem drittem Eingang des ersten Komparators (CMP1) hinauslaufen, sind denkbar und im Sinne dieser Offenbarung als zweite Offsetspannungsquelle (VERR2) zu betrachten.Furthermore, it has a second offset voltage source (V ERR2 ) connected on one side to the second tap (ERR2) and on the other side to the third input. Other constructions that result in a fixed voltage offset between the second tap (ERR2) and the third input of the first comparator (CMP1) are conceivable and regarded as a second offset voltage source (V ERR2 ) in the sense of this disclosure.

Um nun das Fehlersignal (FS) zu generieren, wird eine Logikschaltung (LG), vorzugsweise ein ODER-Gatter vorgesehen. Diese Logikschaltung (LG) verknüpft den ersten und zweiten Komparatorausgang der beiden Komparatoren (CMP1, CMP2) verknüpft, um daraus ein Fehlersignal (FS) zu erzeugen und/oder ein Fehler-Flag zusetzen und/oder einen Registerinhalt zu ändern.In order to generate the error signal (FS), a logic circuit (LG), preferably an OR gate, is provided. This logic circuit (LG) combines the first and second comparator output of the two comparators (CMP1, CMP2) linked to generate an error signal (FS) and / or set an error flag and / or change a register contents.

In einer weiteren Ausprägung weist die Vorrichtung eine Teilvorrichtung mit einem ersten Komparator (CMP1) mit einem ersten Eingang und einem dritten Eingang und einem ersten Komparatorausgang auf, der mit dem ersten Eingang mit dem ersten Abgriff (ERR1) verbunden ist. Des Weiteren weist sie einen zweiten Komparator (CMP2) mit einem zweiten Eingang und einem vierten Eingang und einem zweiten Komparatorausgang auf, der mit dem zweiten Eingang mit dem zweiten Abgriff (ERR2) verbunden ist. Wie zuvor weist sie eine erste Offsetspannungsquelle (VERR1) auf, die auf der einen Seite mit dem ersten Abgriff (ERR1) und auf der anderen Seite mit dem vierten Eingang verbunden ist. Diese erste Offsetspannungsquelle (VERR1) dient wie zuvor der Darstellung eines ersten Schwellwertes mit dem das Potenzial am ersten Eingang des ersten Komparators durch den ersten Komparator (CMP1) verglichen wird. Hierdurch wird der erste Abgriff (ERR1) mit diesem ersten Schwellwert verglichen. Darüber hinaus weist sie eine zweite Offsetspannungsquelle (VERR2) auf, die auf der einen Seite mit dem zweiten Abgriff (ERR2) und auf der anderen Seite mit dem dritten Eingang verbunden ist. Diese zweite Offsetspannungsquelle (VERR2) dient wie zuvor der Darstellung eines zweiten Schwellwertes mit dem das Potenzial am zweiten Eingang des zweiten Komparators durch den zweiten Komparator (CMP2) verglichen wird. Hierdurch wird der zweite Abgriff (ERR2) mit diesem zweiten Schwellwert verglichen. Andere Realisierungen sind selbstverständlich möglich. Um das notwendige Ausgangssignal zu erzeugen verknüpft eine Logikschaltung den ersten und zweiten Komparatorausgang, um daraus ein Fehlersignal zu erzeugen und/oder ein Fehler-Flag zusetzen und/oder einen Registerinhalt zu ändern.In a further embodiment, the device has a sub-device with a first comparator (CMP1) having a first input and a third input and a first comparator output, which is connected to the first input with the first tap (ERR1). Furthermore, it has a second comparator (CMP2) with a second input and a fourth input and a second comparator output which is connected to the second input with the second tap (ERR2). As before, it has a first offset voltage source (V ERR1 ) connected on one side to the first tap (ERR1) and on the other side to the fourth input. As before, this first offset voltage source (V ERR1 ) serves to display a first threshold value with which the potential at the first input of the first comparator is compared by the first comparator (CMP1). This compares the first tap (ERR1) with this first threshold. In addition, it has a second offset voltage source (V ERR2 ) which is connected on one side to the second tap (ERR2) and on the other side to the third input. As before, this second offset voltage source (V ERR2 ) serves to represent a second threshold value with which the potential at the second input of the second comparator is compared by the second comparator (CMP2). This compares the second tap (ERR2) with this second threshold. Other implementations are of course possible. To generate the necessary output signal, a logic circuit couples the first and second comparator outputs to produce an error signal and / or set an error flag and / or change register contents.

Neben dieser Vorrichtung umfasst daher die Erfindung auch ein Verfahren zur Überwachung der elektrischen Energieversorgung mindestens einer ersten LED-Kette (LED1) mit n LEDs aus einer ersten geregelten Stromquelle (I1) mit einem ersten Nennstrom (I10) und mindestens einer zweiten LED-Kette (LED2) mit m LEDs aus einer zweiten Stromquelle (I2) mit einem zweiten Nennstrom (I20). Dieses Verfahren wird hier beansprucht. Das erfindungsgemäße Verfahren beginnt mit dem Erzeugen eines ersten Abgriffpotenzials als ersten Fehlererkennungsparameter an einem ersten Abgriff (ERR1). Vorzugsweise ist das Abgriffpotenzial proportional von dem Spannungsabfall über die erste LED-Kette (LED1) abhängig. Zumindest sollte diese Abhängigkeit jedoch streng monoton sein. Hierzu dient erfindungsgemäß der bevorzugte erste Spannungsteiler (RS1), wobei der erste Abgriff (ERR1) ggf. auch am Anfang der ersten LED-Kette (LED1) erfolgen kann. Zweiter Teil des Verfahrens ist das Einstellen des Spannungsteilerverhältnisses des ersten Spannungsteilers (RS1) in Abhängigkeit von einem Signal und/oder einem Datenwort. Als Drittes wird analog dazu ein zweites Abgriffpotenzial als zweiter Fehlererkennungsparameter an einem zweiten Abgriff (ERR2) erzeugt. Auch hier wird wieder Proportionalität bevorzugt. Mindestens jedoch sollte dieses zweite Abgriffpotenzial das streng monoton von dem Spannungsabfall über die zweite LED-Kette (LED2) abhängen. Wieder ist ein Spannungsteiler, hier der zweite Spannungsteilers (RS2) die bevorzugte Realisierung. Auch hier kann der zweite Abgriff (ERR2) ggf. auch am Anfang der zweiten LED-Kette (LED2) erfolgen. In einem dritten Schritt folgt der Vergleich der Spannungsdifferenz zwischen dem ersten Abgriffpotenzial und dem zweiten Abgriffpotenzial, insbesondere durch eine Auswerteschaltung (AS) und insbesondere unter Bildung eines Spannungsdifferenzsignals, In einem vierten Schritt folgt das Vergleichen der so ermittelten Spannungsdifferenz zwischen dem ersten Abgriffpotenzial und dem zweiten Abgriffpotenzial, insbesondere in Form des Spannungsdifferenzsignals, mit einem ersten Schwellwert und einem zweiten Schwellwert. Letzterer sollte, um ein Toleranzfenster bilden zu können, vom ersten Schwellwert verschieden sein. Dieser Vergleich erfolgt bevorzugt wieder durch die Auswerteschaltung (AS). In einem fünften Schritt erfolgt die Nutzbarmachung des Vergleichsergebnisses durch die Auswerteschaltung (AS). Diese signalisiert, ob die Spannungsdifferenz zwischen dem ersten und dem zweiten Schwellwert liegt, wobei die Signalisierung insbesondere durch ein Fehlersignal (FS) und/oder das Setzen eines Fehler-Flags und/oder das Ändern eines einen Registerinhalts erfolgen kann.In addition to this device, therefore, the invention also includes a method for monitoring the electrical power supply of at least one first LED chain (LED1) with n LEDs from a first regulated current source (I1) with a first rated current (I 10 ) and at least one second LED chain (LED2) with m LEDs from a second current source (I2) with a second rated current (I 20 ). This method is claimed here. The method according to the invention begins with the generation of a first tap potential as the first error detection parameter at a first tap (ERR1). Preferably, the tap potential is proportional to the voltage drop across the first LED string (LED1). At the very least, this dependency should be strictly monotone. According to the invention, the preferred first voltage divider (RS1) is used for this purpose, with the first tap (ERR1) possibly also being able to be made at the beginning of the first LED chain (LED1). The second part of the method is the setting of the voltage divider ratio of the first voltage divider (RS1) as a function of a signal and / or a data word. Third, analogously, a second tap potential is generated as a second error detection parameter at a second tap (ERR2). Again, proportionality is preferred again. However, at least this second tap potential should depend strictly monotone on the voltage drop across the second LED string (LED2). Again a voltage divider, here the second voltage divider (RS2) is the preferred realization. Here, too, the second tap (ERR2) may also take place at the beginning of the second LED chain (LED2). In a third step, the comparison of the voltage difference between the first tap potential and the second tap potential, in particular by an evaluation circuit (AS) and in particular with the formation of a voltage difference signal, follows in one The fourth step is followed by comparing the thus determined voltage difference between the first tap potential and the second tap potential, in particular in the form of the voltage difference signal, with a first threshold value and a second threshold value. The latter should be different from the first threshold in order to form a tolerance window. This comparison is preferably carried out again by the evaluation circuit (AS). In a fifth step, the utilization of the comparison result by the evaluation circuit (AS) takes place. This signals whether the voltage difference lies between the first and the second threshold value, wherein the signaling can be effected in particular by an error signal (FS) and / or the setting of an error flag and / or the changing of a register content.

In einer Variante des Verfahrens weichen der erste Schwellwert und der zweite Schwellwert um nicht mehr als 1% und/oder schlechter um nicht mehr als 2% und/oder schlechter um nicht mehr als 5% und/oder schlechter um nicht mehr als 10% und/oder schlechter um nicht mehr als 25% und/oder schlechter um nicht mehr als 50% voneinander ab. Hierbei hängt die Wahl der Breite des Toleranzfensters von der Fertigungsstreuung der Flussspannungen der LEDs ab.In a variant of the method, the first threshold value and the second threshold value do not differ by more than 1% and / or inferior by not more than 2% and / or worse by not more than 5% and / or worse by not more than 10% and / or worse by not more than 25% and / or worse by not more than 50%. In this case, the choice of the width of the tolerance window depends on the production spread of the forward voltages of the LEDs.

In einer weiteren Variante des Verfahrens wird mindestens ein weiterer Fehlererkennungsparameterdurch eine Fehlererkennungsparametermessvorrichtung erfasst. Dies ist bevorzugt eine Temperatur (ϑ1), die durch eine Temperaturmessvorrichtung (TM1) gemessen wird und an den Auswerteschaltkreis (AS) gegeben wird. Dabei wird zumindest ein Schwellwertes in Abhängigkeit von mindestens diesem einem weiteren Fehlererkennungsparameter, insbesondere durch zumindest einen Teil der Auswerteschaltung (AS), geändert.In a further variant of the method, at least one further error detection parameter is detected by an error detection parameter measuring device. This is preferably a temperature (θ 1 ) which is measured by a temperature measuring device (TM1) and sent to the evaluation circuit (AS). In this case, at least one threshold value is changed as a function of at least one further error detection parameter, in particular by at least one part of the evaluation circuit (AS).

In einer weiteren Variante des Verfahrens erfolgt eine Bewertung der Fehlererkennungsparameter, insbesondere durch die Auswerteschaltung, in festen zeitlichem Zusammenhang mit einem Ein- oder Ausschaltsignal für die Stromquellen (I1, I2). Dies hat den Vorteil, dass Probleme mit der Versorgungsstabilität insbesondere in der Einschalt- und Ausschaltphase nicht zu fehlerhaften Fehlererkennungen führen.In a further variant of the method, an evaluation of the error detection parameters, in particular by the evaluation circuit, takes place in a fixed temporal relationship with an on or off signal for the current sources (I1, I2). This has the advantage that problems with the supply stability, especially in the switch-on and switch-off do not lead to erroneous error detection.

In einer weiteren Variante des Verfahrens erfolgt ein Erfassen mindestens einer eine Temperatur (ϑ1, ϑ2), die in einem thermischen Wirkzusammenhang mit mindestens einer der LED-Ketten (LED1, LED2) steht, mittels einer Temperaturmessvorrichtung (TM1, TM2) als weiteren Fehlererkennungsparameter.In a further variant of the method, detection of at least one temperature (θ 1 , θ 2 ) which is in thermal operative connection with at least one of the LED chains (LED1, LED2) is carried out by means of a temperature measuring device (TM1, TM2) as another error detection parameters.

In einer weiteren Variante des Verfahrens wird mindestens ein abgeleiteter weiterer Fehlererkennungsparameter, insbesondere durch die Auswerteschaltung (AS), aus mindestens einem ersten und/oder zweiten und/oder anderen weiteren Fehlererkennungsparameter abgeleitet. Das Ergebnis dieser Ableitung kann dabei einer der folgenden abgeleiteten weiteren Fehlererkennungsparameter sein kann:

  • a. eine erste und/oder höhere zeitliche Ableitung eines ersten und/oder zweiten und/oder weiteren Fehlererkennungsparameters und/oder
  • b. eine erste und/oder höhere zeitliche Integration eines ersten und/oder zweiten und/oder weiteren Fehlererkennungsparameters und/oder
  • c. eine Differenz und/oder mit reellen Faktoren gewichtete Summe mindestens zweier Fehlererkennungsparameter, insbesondere eine Temperaturdifferenz einer ersten Temperatur (ϑ1) und einer zweiten Temperatur (ϑ2).
In a further variant of the method, at least one derived further error detection parameter, in particular by the evaluation circuit (AS), is derived from at least one first and / or second and / or other further error detection parameter. The result of this derivation can be one of the following derived further error detection parameters:
  • a. a first and / or higher temporal derivative of a first and / or second and / or further error detection parameter and / or
  • b. a first and / or higher temporal integration of a first and / or second and / or further error detection parameter and / or
  • c. a difference and / or weighted with real factors sum of at least two fault detection parameters, in particular a temperature difference of a first temperature (θ 1 ) and a second temperature (θ 2 ).

Beschreibung der FigurenDescription of the figures

1 zeigt beispielhaft die grundlegende Struktur einer Vorrichtung mit einer ersten LED-Kette mit 4 LEDs und einer zweiten LED-Kette mit 6 LEDs, 1 shows by way of example the basic structure of a device with a first LED chain with 4 LEDs and a second LED chain with 6 LEDs,

2 zeigt beispielhaft die grundlegende Struktur einer Vorrichtung mit einer ersten LED-Kette mit 2 LEDs und einer zweiten LED-Kette mit 4 LEDs. 2 shows by way of example the basic structure of a device with a first LED chain with 2 LEDs and a second LED chain with 4 LEDs.

3 zeigt beispielhaft die grundlegende Struktur einer Vorrichtung mit einer ersten LED-Kette mit 4 LEDs und einer zweiten LED-Kette mit 6 LEDs und einer dritten LED-Kette mit 5 LEDs. 3 shows by way of example the basic structure of a device with a first LED chain with 4 LEDs and a second LED chain with 6 LEDs and a third LED chain with 5 LEDs.

4 zeigt beispielhaft die grundlegende Struktur einer Vorrichtung mit einer ersten LED-Kette mit 2 LEDs und einer zweiten LED-Kette mit 4 LEDs, wobei nun auch weitere Spannungen der LED-Ketten als Referenzen benutzt werden. 4 shows by way of example the basic structure of a device with a first LED chain with 2 LEDs and a second LED chain with 4 LEDs, now also other voltages of the LED chains are used as references.

5 zeigt die 1 mit zusätzlichen Temperaturmessvorrichtungen. 5 show the 1 with additional temperature measuring devices.

6 zeigt eine beispielhafte Komparatorschaltung 6 shows an exemplary comparator circuit

7 zeigt eine beispielhafte Komparatorschaltung für die kreuzweise Auswertung zweier Ketten mit Innenabgriffen. 7 shows an exemplary comparator circuit for the cross-evaluation of two chains with internal taps.

8 zeigt 5 mit dem Unterschied, dass der erste Abgriff (ERR1) nicht über einen Spannungsteiler erfolgt, sondern direkt am Anfang der ersten LED-Kette (LED1). 8th shows 5 with the difference that the first tap (ERR1) does not take place via a voltage divider, but directly at the beginning of the first LED chain (LED1).

9 zeigt 2 mit dem Unterschied, dass der erste und zweite Spannungsteiler (RS1, RS2) durch eine jeweils parallel geschaltete Schalterkette programmierbare Spannungsteiler sind. 9 shows 2 with the difference that the first and second voltage divider (RS1, RS2) are programmable voltage dividers by a parallel-connected switch chain.

9 zeigt 9 mit dem Unterschied, dass der erste und zweite Spannungsteiler (RS1, RS2) durch jeweils einen analogen Multiplexer als programmierbare Spannungsteiler ausgelegt sind. 9 shows 9 with the difference that the first and second voltage divider (RS1, RS2) are each designed by an analog multiplexer as a programmable voltage divider.

Fig. 1Fig. 1

1 zeigt beispielhaft die grundlegende Struktur einer Vorrichtung mit einer ersten LED-Kette mit 4 LEDs und einer zweiten LED-Kette mit sechs LEDs. Die erste geregelte Stromquelle (I1) spiest den ersten Nennstrom (I10) in die erste LED-Kette aus hier beispielhaft sechs seriell hintereinander geschalteten LEDs ein. Die zweite geregelte Stromquelle (I2) spiest den zweiten Nennstrom (I120) in die zweite LED-Kette aus hier beispielhaft sechs seriell hintereinander geschalteten LEDs ein. Die einzelnen LEDs einer LED-Kette sollen sich dabei vorzugsweise jeweils gleichen. Sofern dies nicht der Fall ist, muss der Auswerteschaltkreis (AS) diese Ungleichheit durch Messung weiterer Parameter (z. B. der LED-Temperatur mittels einer Temperaturmessvorrichtung) berücksichtigen. Es kann sich bei den in Serie geschalteten LEDs einer einzelnen LED-Kette der Vorrichtung statt um eine einzelne LED auch um je ein Modul parallelgeschalteter LEDs handeln, die hier wie eine LED in der Kette betrachtet werden. Wichtig ist nur, dass die LEDs in etwa die gleiche Flussspannung beim ersten und zweiten Nennstrom (I10, I20) zeigen. Da der erste und zweite Spannungsteiler (RS1, RS2) jeweils typischerweise möglichst hochohmig gewählt werden, fließt der Strom der ersten Stromquelle (I1) fast komplett durch die erste LED-Kette (LED1) und der Strom der zweiten Stromquelle (I2) fast komplett durch die zweite LED-Kette (LED2). In diesem Beispiel teilt der erste Spannungsteiler (RS1) die Spannung, die über die erste LED-Kette (LED1) abfällt im Verhältnis 1:4 herunter. Demgegenüber teilt der zweite Spannungsteiler (RS2) die Spannung, die über die zweite LED-Kette (LED2) abfällt im Verhältnis 1:6 herunter. Damit entspricht die Spannung am ersten Abgriff (ERR1) des ersten Spannungsteilers (RS1) in etwa der Flussspannung (ULED1), die über eine LED innerhalb der ersten LED-Kette (LED1) abfällt. Die Spannung am zweiten Abgriff (ERR2) des zweiten Spannungsteilers (RS2) entspricht in diesem Beispiel ebenfalls in etwa der Flussspannung (ULED2), die über eine LED innerhalb der zweiten LED-Kette (LED2) abfällt. Der Auswerteschaltkreis (AS) vergleicht in dieser beispielhaften Vorrichtung die Potenziale des ersten Abgriffs (ERR1) und des zweiten Abgriffs (ERR2) miteinander und erzeigt hieraus das vorzugsweise digitale Fehlersignal (FS). Wie bereits erwähnt ist es ggf. sinnvoll, wenn der Auswerteschaltkreis (AS) hierbei eine erste Temperatur (ϑ1) in der Nähe der ersten LED-Kette (LED1) erfasst und/oder eine zweite Temperatur (ϑ2) in der Nähe der zweiten LED-Kette (LED2) erfasst. Dies zeigt die 5. Typischerweise sollten die Flussspannungen (ULED1, ULED2) bei den jeweiligen Nennströmen (I10, I20) der LEDs in den mindestens zwei LED-Ketten (LED1, LED2) in etwa gleich sein. In dem Fall sollten die Potenziale des ersten Abgriffs (ERR1) und des zweiten Abgriffs (ERR2) somit in etwa gleich sein. Der Auswerteschaltkreis (AS) führt somit ein statisches Verfahren durch. Unterschiede in den Potenzialen an den beiden Abgriffen sind dann entweder auf Fertigungsschwankungen und/oder Temperaturunterschiede zurückzuführen. Letztere können durch Korrekturverfahren in dem Auswerteschaltkreis kompensiert werden. Der Fachmann wird bei der Auslegung der mindestens zwei Schwellwerte innerhalb der Auswerteschaltung (AS) dies durch geeignete Berechnung berücksichtigen, um falsche Fehlermeldungen bzw. eine Nichtauslösung von Fehlermeldungen zu vermeiden. Insbesondere werden die im Auswerteschaltkreis verwendeten Schwellwerte, die für die Entscheidung, das ein Fehlerfall vorliegt, vorzugsweise in Abhängigkeit von einer oder mehreren Temperaturen (ϑ1, ϑ2), die in der Nähe der jeweiligen LED-Kette (LED1, LED2) gemessen worden sind, und/oder in Abhängigkeit von deren Temperaturdifferenzen modifiziert/angepasst. Typischerweise geschieht dies durch eine analoge und/oder digitale Polynomapproximation. 1 shows by way of example the basic structure of a device with a first LED chain with 4 LEDs and a second LED chain with six LEDs. The first regulated current source (I1) spits the first rated current (I 10 ) into the first LED chain from here, by way of example, six LEDs connected in series one after the other. The second regulated current source (I2) spits the second nominal current (I1 20 ) into the second LED chain from here, for example, six LEDs connected in series one after the other. The individual LEDs of an LED chain should preferably be the same in each case. If this is not the case, the evaluation circuit (AS) must take this inequality into account by measuring further parameters (eg the LED temperature by means of a temperature measuring device). The LEDs connected in series of a single LED chain of the device may also be a module of parallel-connected LEDs instead of a single LED, which are here regarded as an LED in the chain. It is only important that the LEDs show approximately the same forward voltage at the first and second rated current (I 10 , I 20 ). Since the first and second voltage divider (RS1, RS2) are each typically selected as high impedance as possible, the current of the first current source (I1) flows almost completely through the first LED chain (LED1) and the current of the second current source (I2) almost completely the second LED chain (LED2). In this example, the first voltage divider (RS1) divides the voltage falling across the first LED string (LED1) by a ratio of 1: 4. In contrast, the second voltage divider (RS2) divides the voltage that drops across the second LED chain (LED2) in a ratio of 1: 6. Thus, the voltage at the first tap (ERR1) of the first voltage divider (RS1) corresponds approximately to the forward voltage (U LED1 ), which drops via an LED within the first LED chain (LED1). The voltage at the second tap (ERR2) of the second voltage divider (RS2) in this example also corresponds approximately to the forward voltage (U LED2 ), which drops via an LED within the second LED chain (LED2). The evaluation circuit (AS) compares the potentials of the first tap (ERR1) and the second tap (ERR2) with each other in this exemplary device and produces therefrom the preferably digital error signal (FS). As already mentioned, it may be useful if the evaluation circuit (AS) detects a first temperature (θ 1 ) in the vicinity of the first LED chain (LED1) and / or a second temperature (θ 2 ) in the vicinity of the second one LED chain (LED2) detected. This shows the 5 , Typically, the flux voltages (U LED1 , U LED2 ) at the respective nominal currents (I 10 , I 20 ) of the LEDs in the at least two LED chains (LED1, LED2) should be approximately the same. In that case, the potentials of the first tap (ERR1) and the second tap (ERR2) should thus be approximately equal. The evaluation circuit (AS) thus performs a static procedure. Differences in the potentials at the two taps are then either due to manufacturing fluctuations and / or temperature differences. The latter can be compensated by correction methods in the evaluation circuit. When designing the at least two threshold values within the evaluation circuit (AS), the person skilled in the art will take this into account by suitable calculation in order to avoid false error messages or non-triggering of error messages. In particular, the threshold values used in the evaluation circuit, which are for the decision that an error occurs, preferably in response to one or more temperatures (θ 1 , θ 2 ), which have been measured in the vicinity of the respective LED chain (LED1, LED2) are, and / or modified / adjusted depending on their temperature differences. Typically this is done by an analog and / or digital polynomial approximation.

Fig. 2Fig. 2

2 entspricht im Wesentlichen 1 mit dem Unterschied, dass die erste LED-Kette nur zwei LEDs umfasst und der zugehörige erste Spannungsteiler demzufolge nur eine Reduktion der Spannung, die über die erste LED-Kette (LED1) abfällt um den Faktor 1:2 vornimmt. Die zweite LED-Kette (LED2) umfasst vier LEDs. Der zweite Spannungsteiler reduziert entsprechend die Spannung, die über die zweite LED-Kette (LED2) abfällt, um einen Faktor 1:6. 2 essentially corresponds 1 with the difference that the first LED chain comprises only two LEDs and the associated first voltage divider therefore only makes a reduction of the voltage that drops across the first LED chain (LED1) by a factor of 1: 2. The second LED chain (LED2) comprises four LEDs. The second voltage divider accordingly reduces the voltage drop across the second LED string (LED2) by a factor of 1: 6.

Fig. 3Fig. 3

3 zeigt eine beispielhafte Vorrichtung mit drei LED-Ketten. Während die erste und die zweite LED-Kette der 1 entsprechen, wird die dritte LED-Kette (LED3) durch eine geregelte dritte Stromquelle (I3) mit einem dritten Nennstrom (I30) versorgt. Ein dritter Spannungsteiler reduziert die Spannung, die über die dritte LED-Kette (LED3) abfällt um den Faktor 1:5. Damit sollte das Potenzial des dritten Abgriffs (ERR3) dem des ersten Abgriffs (ERR1) und des zweiten Abgriffs (ERR2) entsprechen. Der Auswerteschaltkreis vergleicht diese drei Potenziale der drei Abgriffe (ERR1, ERR2, ERR3) mit mindestens zwei Schwellwerten und signalisiert über das Fehlersignal (FS) nach außen, wenn mindestens eine der drei Potenzialdifferenzen zwischen diesen drei Potenzialen der drei Abgriffe (ERR1, ERR2, ERR3) außerhalb des durch die beiden Schwellwerte vorgegebenen Toleranzbereiches liegt. 3 shows an exemplary device with three LED chains. While the first and the second LED chain the 1 corresponding to the third LED chain (LED3) through a controlled third current source (I3) having a third nominal current (I 30) is supplied. A third voltage divider reduces the voltage that drops across the third LED chain (LED3) by a factor of 1: 5. Thus, the potential of the third tap (ERR3) should correspond to that of the first tap (ERR1) and the second tap (ERR2). The evaluation circuit compares these three potentials of the three taps (ERR1, ERR2, ERR3) with at least two threshold values and signals outwards via the error signal (FS) if at least one of the three potential differences between these three potentials of the three taps (ERR1, ERR2, ERR3 ) is outside the tolerance range given by the two thresholds.

Fig. 4Fig. 4

4 entspricht 2 mit dem Unterschied, dass ein dritter Abgriff (ERR3) eines dritten Potenzials direkt in der ersten LED-Kette (LED1) erfolgt und dass ein vierter Abgriff (ERR4) eines vierten Potenzials direkt in der zweiten LED-Kette (LED1) erfolgt. Der Auswerteschaltkreis vergleicht diese vier Potenziale der vier Abgriffe (ERR1, ERR2, ERR3, ERR4) mit mindestens zwei Schwellwerten und signalisiert über das Fehlersignal (FS) nach außen, wenn mindestens eine der vier Potenzialdifferenzen zwischen diesen vier Potenzialen der vier Abgriffe (ERR1, ERR2, ERR3, ERR4) außerhalb des durch die beiden Schwellwerte vorgegebenen Toleranzbereiches liegt. 4 corresponds to 2 with the difference that a third tap (ERR3) of a third potential occurs directly in the first LED string (LED1) and a fourth tap (ERR4) of a fourth potential occurs directly in the second LED string (LED1). The evaluation circuit compares these four potentials of the four taps (ERR1, ERR2, ERR3, ERR4) with at least two thresholds and signals outwards via the error signal (FS) if at least one of the four potential differences between these four potentials of the four taps (ERR1, ERR2 , ERR3, ERR4) is outside the tolerance range specified by the two thresholds.

Fig. 5Fig. 5

5 entspricht der 1 mit dem Unterschied, dass sie eine erste und deine zweite Temperaturmessvorrichtung (TM1, TM2) aufweist. Diese erfassen hier beispielhaft als weitere Fehlererkennungsparameter eine erste Temperatur (ϑ1) der ersten LED-Kette (LED1) und eine zweite Temperatur (ϑ2) der zweiten LED-Kette (LED2). Die Schwellwerte für die Erkennung eines Fehlerfalls hängen hier nun vorzugsweise von diesen zusätzlichen Fehlererkennungsparametern und/oder daraus abgeleiteten Fehlererkennungsparameter, beispielsweise deren Differenz und/oder erster und/oder weiterer zeitlicher Ableitungen ab. 5 equals to 1 with the difference that it has a first and your second temperature measuring device (TM1, TM2). By way of example, these detect, as further error detection parameters, a first temperature (θ 1 ) of the first LED chain (LED1) and a second temperature (θ 2 ) of the second LED chain (LED2). The threshold values for the detection of an error case depend here now preferably on these additional error detection parameters and / or derived therefrom error detection parameters, such as their difference and / or first and / or other time derivatives.

Fig. 6Fig. 6

6 zeigt die beispielhafte Komparatorschaltung, wie zuvor erläutert. 6 shows the exemplary comparator circuit, as previously explained.

Diese beispielhafte Teilvorrichtung verfügt beispielhaft über einem ersten Komparator (CMP1) mit einem ersten Eingang und einem dritten Eingang und einem ersten Komparatorausgang, der mit dem ersten Eingang mit dem ersten Abgriff (ERR1) verbunden ist.By way of example, this exemplary sub-device has a first comparator (CMP1) with a first input and a third input and a first comparator output which is connected to the first input with the first tap (ERR1).

Des Weiteren weist sie einen zweiten Komparator (CMP2) mit einem zweiten Eingang und einem vierten Eingang und einem zweiten Komparatorausgang auf, der mit dem zweiten Eingang mit dem zweiten Abgriff (ERR2) verbunden ist.Furthermore, it has a second comparator (CMP2) with a second input and a fourth input and a second comparator output which is connected to the second input with the second tap (ERR2).

Sie weist eine erste Offsetspannungsquelle (VERR1) auf, die auf der einen Seite mit dem ersten Abgriff (ERR1) und auf der anderen Seite mit dem vierten Eingang verbunden ist. Diese erste Offsetspannungsquelle (VERR1) dient wie zuvor der Darstellung eines ersten Schwellwertes mit dem das Potenzial am ersten Eingang des ersten Komparators durch den ersten Komparator (CMP1) verglichen wird. Hierdurch wird der erste Abgriff (ERR1) mit diesem ersten Schwellwert verglichen. Darüber hinaus weist sie eine zweite Offsetspannungsquelle (VERR2) auf, die auf der einen Seite mit dem zweiten Abgriff (ERR2) und auf der anderen Seite mit dem dritten Eingang verbunden ist. Diese zweite Offsetspannungsquelle (VERR2) dient wie zuvor der Darstellung eines zweiten Schwellwertes mit dem das Potenzial am zweiten Eingang des zweiten Komparators durch den zweiten Komparator (CMP2) verglichen wird. Hierdurch wird der zweite Abgriff (ERR2) mit diesem zweiten Schwellwert verglichen. Andere Realisierungen sind selbstverständlich möglich. Um das notwendige Ausgangssignal zu erzeugen verknüpft eine Logikschaltung den ersten und zweiten Komparatorausgang, um daraus ein Fehlersignal zu erzeugen und/oder ein Fehler-Flag zusetzen und/oder einen Registerinhalt zu ändern.It has a first offset voltage source (V ERR1 ) which is connected on one side to the first tap (ERR1) and on the other side to the fourth input. As before, this first offset voltage source (V ERR1 ) serves to display a first threshold value with which the potential at the first input of the first comparator is compared by the first comparator (CMP1). This compares the first tap (ERR1) with this first threshold. In addition, it has a second offset voltage source (V ERR2 ) which is connected on one side to the second tap (ERR2) and on the other side to the third input. As before, this second offset voltage source (V ERR2 ) serves to represent a second threshold value with which the potential at the second input of the second comparator is compared by the second comparator (CMP2). This compares the second tap (ERR2) with this second threshold. Other implementations are of course possible. To generate the necessary output signal, a logic circuit couples the first and second comparator outputs to produce an error signal and / or set an error flag and / or change register contents.

Fig. 7Fig. 7

7 entspricht 6 mit dem beispielhaften Unterschied, dass die Schaltung zusätzlich Abgriffe innerhalb der Ketten über Kreuz auswertet. Die entsprechende externe Verschaltung ist beispielhaft in 4 Dargestellt. 7 corresponds to 6 with the exemplary difference that the circuit additionally evaluates taps within the chains crosswise. The corresponding external interconnection is exemplary in 4 Shown.

Fig. 8Fig. 8

8 zeigt 5 mit dem Unterschied, dass der erste Abgriff (ERR1) nicht über einen Spannungsteiler erfolgt, sondern direkt am Anfang der ersten LED-Kette (LED1). 8th shows 5 with the difference that the first tap (ERR1) does not take place via a voltage divider, but directly at the beginning of the first LED chain (LED1).

Fig. 9Fig. 9

9 entspricht im Wesentlichen 2 mit dem Unterschied, dass der erste Spannungsteiler (RS1) als Widerstandskette von hier beispielhaft sechs Widerständen (R) ausgeführt ist. Die oberen widerstände können durch sechs Schalter (S1,1 bis S1,5) überbrückt werden. Diese Schalter (S1,1 bis S1,5) werden dabei typischerweise durch Signalleitungen gesteuert die entweder aus einem Datenregister der monolithisch integrierten Schaltung oder aus einer Logik derselben gespeist werden. Die Schalter (S1,1 bis S1,5) und die Widerstandskette können gut in eine monolithisch integrierte Schaltung, die beispielsweise schon die Stromquellen (I1, I2) und die Auswerteschaltung (AS) umfasst, mitintegriert werden. Das für den ersten Spannungsteiler bezüglich 9 gesagte gilt analog auch für den zweiten Spannungsteiler (RS2). In dem Beispiel ist an die beispielhafte monolithisch integrierte Schaltung eine erste LED-Kette mit zwei LEDs und eine zweite LED-Kette mit vier LEDs angeschlossen. Daher sind in dem Beispiel die oberen vier Schalter (S1,5, S1,4, S1,3 S1,4) des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1) geschlossen und die oberen zwei Schalter (S2,5, S2,4) des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2) geschlossen. Damit ergibt sich die gleiche Wirkung wie bei einer festen Verdrahtung entsprechend 2. 9 essentially corresponds 2 with the difference that the first voltage divider (RS1) is designed as a resistor chain of here by way of example six resistors (R). The upper resistors can be bridged by six switches (S 1,1 to S 1,5 ). These switches (S 1,1 to S 1,5 ) are typically controlled by signal lines which are fed either from a data register of the monolithic integrated circuit or from a logic thereof. The switches (S 1.1 to S 1.5 ) and the resistor chain can be well integrated in a monolithic integrated circuit, which already includes, for example, the current sources (I1, I2) and the evaluation circuit (AS). That for the first voltage divider regarding 9 the same applies analogously to the second voltage divider (RS2). In the example, a first LED string having two LEDs and a second LED string having four LEDs are connected to the exemplary monolithic integrated circuit. Therefore, in the example, the upper four switches (S 1.5 , S 1.4 , S 1.3 S 1.4 ) of the first programmable Voltage divider (RS1) is closed and the upper two switches (S 2.5 , S 2.4 ) of the second programmable voltage divider (RS2) closed. This results in the same effect as in a fixed wiring accordingly 2 ,

Fig. 10Fig. 10

10 entspricht im Wesentlichen der 9 mit dem Unterschied, dass der erste Spannungsteiler (RS1) der wieder als Widerstandskette von hier beispielhaft sechs Widerständen (R) ausgeführt ist, nun jedoch nicht teilweise in Abhängigkeit von der Programmierung kurzgeschlossen wird, sondern nun durch einen ersten Analogmultiplexer (MUX1) entsprechend dem Programmierten Wert abgegriffen wird. Die Widerstände (R) werden in diesem Beispiel der 10 im Gegensatz zu den vorhergehenden Beispielen vorzugsweise nicht gleich ausgeführt, sondern in Ihrer Größe jeweils so angepasst, dass sich die richtigen Teilerverhältnisse ergeben. Der erste Analogmultiplexer (MUX1) wird dabei typischerweise durch Signalleitungen gesteuert die entweder aus einem Datenregister der monolithisch integrierten Schaltung oder aus einer Logik derselben gespeist werden. Der erste Analogmultiplexer (MUX1) und die Widerstandskette können gut in eine monolithisch integrierte Schaltung, die beispielsweise schon die Stromquellen (I1, I2) und die Auswerteschaltung (AS) umfasst, mitintegriert werden. Das für den ersten Spannungsteiler (RS1) bezüglich 10 gesagte gilt analog auch für den zweiten Spannungsteiler (RS2). 10 essentially corresponds to the 9 with the difference that the first voltage divider (RS1) is again designed as a resistor chain of here six exemplary resistors (R), but now not partially shorted depending on the programming, but now by a first analog multiplexer (MUX1) according to the programmed Value is tapped. The resistors (R) are in this example the 10 in contrast to the previous examples preferably not executed the same, but each adjusted in size so that the correct divider ratios arise. The first analog multiplexer (MUX1) is typically controlled by signal lines fed either from a data register of the monolithic integrated circuit or from a logic thereof. The first analog multiplexer (MUX1) and the resistor chain can be well integrated in a monolithic integrated circuit, which already includes, for example, the current sources (I1, I2) and the evaluation circuit (AS). That for the first voltage divider (RS1) with respect to 10 the same applies analogously to the second voltage divider (RS2).

Vorteile der ErfindungAdvantages of the invention

Die Erfindung ermöglicht die Überwachung der Funktion der in verschieden langen, frei konfigurierbaren LED-Ketten angeordneten LEDs in automobilen Anwendungen wie beispielsweise Bremsleuchten, Blinkern und Rückleuchten etc.The invention enables the monitoring of the function of the arranged in different lengths, freely configurable LED chains LEDs in automotive applications such as brake lights, indicators and taillights, etc.

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

  • ASAS
    Auswerteschaltkreisevaluation circuit
    CMP1CMP 1
    erster Komparatorfirst comparator
    CMP2CMP2
    zweiter Komparatorsecond comparator
    CMP3CMP 3
    dritter Komparatorthird comparator
    CMP4CMP 4
    vierter Komparatorfourth comparator
    ERR1ERR1
    erste Abgrifffirst tap
    ERR2ERR2
    zweiter Abgriffsecond tap
    ERR3ERR3
    dritter Abgriffthird tap
    ERR4ERR4
    vierter Abgrifffourth tap
    ESIT
    Fehlersignalerror signal
    GNDGND
    gemeinsamer Knoten (Bezugspotenzial)common node (reference potential)
    I1I1
    erste geregelte Stromquellefirst regulated power source
    I10 I 10
    erster Nennstrom, die die erste Stromquelle (I1) für die erste LED-Kette (LED1) bereitstellt.first rated current that provides the first current source (I1) for the first LED string (LED1).
    I2I2
    zweite geregelte Stromquellesecond regulated power source
    I20 I 20
    zweiter Nennstrom, die die zweite Stromquelle (I2) für die zweite LED-Kette (LED2) bereitstellt.second rated current that provides the second current source (I2) for the second LED string (LED2).
    I3I3
    dritte geregelte Stromquellethird regulated power source
    I30 I 30
    dritter Nennstrom, die die dritte Stromquelle (I3) für die dritte LED-Kette (LED3) bereitstellt. third rated current, which provides the third current source (I3) for the third LED chain (LED3).
    LED1LED1
    erste LED-Kettefirst LED chain
    LED2LED2
    zweite LED-Kettesecond LED chain
    LED3LED3
    dritte LED-Kettethird LED chain
    LGLG
    Logikschaltunglogic circuit
    MUX1MUX1
    erster Analogmultiplexer des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1). Der erste Analogmultiplexer greift in diesem Beispiel in Abhängigkeit vom Inhalt eines Datenregisters und/oder in Abhängigkeit von einer Logik der monolithisch integrierten Schaltung das Potenzial eines Knotens der Widerstandskette des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1) aus Widerständen (R) als ersten Abgriff (ERR1) ab.first analog multiplexer of the first programmable voltage divider (RS1). The first analog multiplexer in this example, depending on the contents of a data register and / or depending on a logic of the monolithic integrated circuit, the potential of a node of the resistor chain of the first programmable voltage divider (RS1) of resistors (R) as a first tap (ERR1) from ,
    MUX2MUX2
    zweiter Analogmultiplexer des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2). Der zweite Analogmultiplexer greift in diesem Beispiel in Abhängigkeit vom Inhalt eines Datenregisters und/oder in Abhängigkeit von einer Logik der monolithisch integrierten Schaltung das Potenzial eines Knotens der Widerstandskette des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2) aus Widerständen (R) als zweiten Abgriff (ERR1) ab.second analog multiplexer of the second programmable voltage divider (RS2). The second analog multiplexer in this example, depending on the contents of a data register and / or depending on a logic of the monolithic integrated circuit, the potential of a node of the resistor chain of the second programmable voltage divider (RS2) from resistors (R) as a second tap (ERR1) from ,
    RR
    Grundwiderstandground resistance
    R1R1
    erster Gesamtwiderstand des ersten Spannungsteilers (RS1)first total resistance of the first voltage divider (RS1)
    RS1RS1
    erster Spannungsteiler mit erstem Gesamtwiderstand (R1)first voltage divider with first total resistance (R1)
    R2R2
    zweiter Gesamtwiderstand des zweiten Spannungsteilers (RS2)second total resistance of the second voltage divider (RS2)
    RS2RS2
    zweiter Spannungsteiler mit zweitem Gesamtwiderstand (R2)second voltage divider with second total resistance (R2)
    R3R3
    dritter Gesamtwiderstand des dritten Spannungsteilers (RS3)third total resistance of the third voltage divider (RS3)
    RS3RS3
    dritter Spannungsteiler mit drittem Gesamtwiderstand (R3) in der Nähe der ersten LED-Kette (LED1) gemessene erste Temperatur bzw. erstes Temperaturmesssignal, dass diese erste Temperatur repräsentiert. in der Nähe der zweiten LED-Kette (LED2) gemessene zweite Temperatur bzw. zweites Temperaturmesssignal, dass diese zweite Temperatur repräsentiert.third voltage divider with third total resistance (R3) in the vicinity of the first LED chain (LED1) measured first temperature or first temperature measurement signal that represents this first temperature. measured in the vicinity of the second LED chain (LED2) second temperature or second temperature measurement signal that represents this second temperature.
    S1,1 S 1,1
    erster Schalter des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.first switch of the first programmable voltage divider (RS1). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S1,2 S 1,2
    zweiter Schalter des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.second switch of the first programmable voltage divider (RS1). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S1,3 S 1,3
    dritter Schalter des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.third switch of the first programmable voltage divider (RS1). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S1,4 S 1.4
    vierter Schalter des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.fourth switch of the first programmable voltage divider (RS1). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S1,5 S 1.5
    fünfter Schalter des ersten programmierbaren Spannungsteilers (RS1). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.fifth switch of the first programmable voltage divider (RS1). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S2,1 S 2.1
    erster Schalter des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.first switch of the second programmable voltage divider (RS2). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S2,2 S 2,2
    zweiter Schalter des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen. second switch of the second programmable voltage divider (RS2). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S2,3 S 2,3
    dritter Schalter des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.third switch of the second programmable voltage divider (RS2). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S2,4 S 2,4
    vierter Schalter des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.fourth switch of the second programmable voltage divider (RS2). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    S2,5 S 2,5
    fünfter Schalter des zweiten programmierbaren Spannungsteilers (RS2). Der Schalter wird typischerweise in Abhängigkeit von einem Datenregister und/oder einer Logik der monolithisch integrieren Schaltung geöffnet oder geschlossen.fifth switch of the second programmable voltage divider (RS2). The switch is typically opened or closed in response to a data register and / or logic of the monolithic integrated circuit.
    TM1TM1
    erste Temperaurmessvorrichtung zur Messung der ersten Temperatur (ϑ1)first temperature measuring device for measuring the first temperature (θ 1 )
    TM2TM2
    zweite Temperaurmessvorrichtung zur Messung der zweiten Temperatur (ϑ2)second temperature measuring device for measuring the second temperature (θ 2 )
    U1U1
    Spannung (U1) zwischen diesem ersten Abgriff (ERR1) und dem gemeinsamen Knoten (GND)Voltage (U1) between this first tap (ERR1) and the common node (GND)
    U2U2
    Spannung (U2) zwischen diesem zweiten Abgriff (ERR2) und dem gemeinsamen Knoten (GND)Voltage (U2) between this second tap (ERR2) and the common node (GND)
    U3U3
    Spannung (U3) zwischen diesem drittem Abgriff (ERR3) und dem gemeinsamen Knoten (GND)Voltage (U3) between this third tap (ERR3) and the common node (GND)
    ULED1 U LED1
    erste Flussspannung der LEDs der ersten LED-Kette (LED1)first forward voltage of the LEDs of the first LED chain (LED1)
    ULED2 U LED2
    zweite Flussspannung der LEDs der zweiten LED-Kette (LED2)second forward voltage of the LEDs of the second LED chain (LED2)
    ULED3 U LED3
    dritte Flussspannung der LEDs der dritten LED-Kette (LED3)third forward voltage of the LEDs of the third LED chain (LED3)
    VERR1 V ERR1
    erste Offsetspannungsquellefirst offset voltage source
    VERR2 V ERR2
    zweite Offsetspannungsquellesecond offset voltage source
    VERR3 V ERR3
    dritte Offsetspannungsquelle third offset voltage source
    VERR4 V ERR4
    vierte Offsetspannungsquellefourth offset voltage source

Claims (1)

Verfahren zur Überwachung der elektrischen Energieversorgung mindestens einer ersten LED-Kette (LED1) mit n LEDs aus einer ersten geregelten Stromquelle (I1) mit einem ersten Nennstrom (I10) und mindestens einer zweiten LED-Kette (LED2) mit m LEDs aus einer zweiten Stromquelle (I2) mit einem zweiten Nennstrom (I20), wobei min ist, mit den Schritten, – Erzeugen eines ersten Abgriffpotenzials als ersten Fehlererkennungsparameter an einem ersten Abgriff (ERR1), das streng monoton von dem Spannungsabfall über die erste LED-Kette (LED1) abhängt, mittels eines ersten Spannungsteilers (RS1), wobei der erste Abgriff (ERR1) nicht am Anfang der ersten LED-Kette (LED1) erfolgt und – Einstellen des Spannungsteilerverhältnisses des ersten Spannungsteilers (RS1) in Abhängigkeit von einem Signal oder einem Datenwort; – Erzeugen eines zweiten Abgriffpotenzials als zweiten Fehlererkennungsparameter an einem zweiten Abgriff (ERR2), das streng monoton von dem Spannungsabfall über die zweite LED-Kette (LED2) abhängt, wobei der zweite Abgriff (ERR2) auch am Anfang der zweiten LED-Kette (LED2) erfolgen kann; – Vergleichen der Spannungsdifferenz zwischen dem ersten Abgriffpotenzial und dem zweiten Abgriffpotenzial, mit einem ersten Schwellwert und einem zweiten Schwellwert, der vom ersten Schwellwert verschieden ist; – Signalisierung, ob die Spannungsdifferenz zwischen dem ersten und dem zweiten Schwellwert liegt.Method for monitoring the electrical power supply of at least one first LED chain (LED1) with n LEDs from a first regulated current source (I1) with a first rated current (I 10 ) and at least one second LED chain (LED2) with m LEDs from a second one Current source (I2) having a second rated current (I 20 ), wherein min is, with the steps, - generating a first tap potential as a first fault detection parameter at a first tap (ERR1) strictly monotone from the voltage drop across the first LED string ( LED1), by means of a first voltage divider (RS1), wherein the first tap (ERR1) is not at the beginning of the first LED chain (LED1) and - adjusting the voltage divider ratio of the first voltage divider (RS1) in response to a signal or a data word ; Generating a second tap potential as a second fault detection parameter at a second tap (ERR2) which strictly monotonically depends on the voltage drop across the second LED string (LED2), the second tap (ERR2) also at the beginning of the second LED string (LED2 ) can take place; - comparing the voltage difference between the first tap potential and the second tap potential, with a first threshold and a second threshold different from the first threshold; Signaling whether the voltage difference lies between the first and the second threshold value.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018110982A1 (en) 2017-05-22 2018-11-22 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Method for optical function monitoring of the light emission of LED lamps in luminaires
DE102017111089A1 (en) 2017-05-22 2018-11-22 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Method for optical function monitoring of the light emission of at least three differently colored LED lamps in luminaires
DE102017111087A1 (en) 2017-05-22 2018-11-22 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Method for optical function monitoring of the light emission of at least three LED lamps in luminaires
EP3407681A1 (en) 2017-05-22 2018-11-28 ELMOS Semiconductor Aktiengesellschaft Method and device for performing a functional check for an illuminant for lighting or indicating purposes

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0955619A1 (en) * 1998-05-05 1999-11-10 Sagem Sa Management method of a traffic light source
US20060170287A1 (en) * 2005-01-31 2006-08-03 Koito Manufacturing Co., Ltd. Lighting control circuit for vehicle lighting fixture
US20070159750A1 (en) * 2006-01-09 2007-07-12 Powerdsine, Ltd. Fault Detection Mechanism for LED Backlighting
US20080204029A1 (en) * 2007-02-27 2008-08-28 Dan Mihai Led chain failure detection
DE102010002707A1 (en) * 2009-04-20 2010-11-11 Infineon Technologies Ag Error detection for a series connection of electrical loads
DE112009005227T5 (en) * 2009-09-10 2012-07-05 Mitsubishi Electric Corporation Headlight LED lighting device and vehicle headlight lighting system
US20120200296A1 (en) * 2011-02-09 2012-08-09 National Semiconductor Corporation Technique for identifying at least one faulty light emitting diode in multiple strings of light emitting diodes
DE102011120781A1 (en) * 2011-12-09 2013-06-13 Volkswagen Aktiengesellschaft Method for detecting error in illumination device e.g. LED headlight of vehicle, involves detecting error condition of illumination device, when actual temperature around preset threshold value is lower than target temperature of LED
DE102014107947A1 (en) * 2014-06-05 2015-12-17 Pintsch Bamag Antriebs- Und Verkehrstechnik Gmbh LED unit with voltage monitoring, use of such a LED unit and LED light with such a LED unit

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0955619A1 (en) * 1998-05-05 1999-11-10 Sagem Sa Management method of a traffic light source
US20060170287A1 (en) * 2005-01-31 2006-08-03 Koito Manufacturing Co., Ltd. Lighting control circuit for vehicle lighting fixture
US20070159750A1 (en) * 2006-01-09 2007-07-12 Powerdsine, Ltd. Fault Detection Mechanism for LED Backlighting
US20080204029A1 (en) * 2007-02-27 2008-08-28 Dan Mihai Led chain failure detection
DE102010002707A1 (en) * 2009-04-20 2010-11-11 Infineon Technologies Ag Error detection for a series connection of electrical loads
DE112009005227T5 (en) * 2009-09-10 2012-07-05 Mitsubishi Electric Corporation Headlight LED lighting device and vehicle headlight lighting system
US20120200296A1 (en) * 2011-02-09 2012-08-09 National Semiconductor Corporation Technique for identifying at least one faulty light emitting diode in multiple strings of light emitting diodes
DE102011120781A1 (en) * 2011-12-09 2013-06-13 Volkswagen Aktiengesellschaft Method for detecting error in illumination device e.g. LED headlight of vehicle, involves detecting error condition of illumination device, when actual temperature around preset threshold value is lower than target temperature of LED
DE102014107947A1 (en) * 2014-06-05 2015-12-17 Pintsch Bamag Antriebs- Und Verkehrstechnik Gmbh LED unit with voltage monitoring, use of such a LED unit and LED light with such a LED unit

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018110982A1 (en) 2017-05-22 2018-11-22 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Method for optical function monitoring of the light emission of LED lamps in luminaires
DE102017111089A1 (en) 2017-05-22 2018-11-22 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Method for optical function monitoring of the light emission of at least three differently colored LED lamps in luminaires
DE102017111087A1 (en) 2017-05-22 2018-11-22 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Method for optical function monitoring of the light emission of at least three LED lamps in luminaires
EP3407681A1 (en) 2017-05-22 2018-11-28 ELMOS Semiconductor Aktiengesellschaft Method and device for performing a functional check for an illuminant for lighting or indicating purposes
DE102018110982B4 (en) 2017-05-22 2021-08-26 Elmos Semiconductor Se Process for the optical function monitoring of the light emission of LED lamps in luminaires

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