HINTERGRUNDBACKGROUND
1. TECHNISCHES GEBIET1. TECHNICAL AREA
Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf Identifizierungsgerät
für eine determinierte Komponente, ein Bestimmungsverfahren,
ein Aufzeichnungsmedium, ein Prüfsystem und eine elektronische
Vorrichtung.The
The present invention relates to identification apparatus
for a deterministic component, a method of determination,
a recording medium, a test system and an electronic
Contraption.
STAND DER TECHNIKSTATE OF THE ART
Elektronische
Schaltungen, Kommunikationssystem und dergleichen werden herkömmlich
geprüft durch Messen von charakteristischen Werten eines
elektrischen Signals. Beispielsweise enthält die Auswertung
einer seriellen Übertragung die Bewertung eines Kommunikati onssystems
durch Messen von Jitter in einem Sendesignal oder einem Empfangssignal.electronic
Circuits, communication system and the like become conventional
checked by measuring characteristic values of a
electrical signal. For example, the evaluation contains
a serial transmission the rating of a communication system
by measuring jitter in a transmission signal or a reception signal.
Der
charakteristische Wert des Jitters enthält (i) eine determinierte
Komponente, die determiniert durch Charakteristiken wie das Signalmuster
und den Übertragungspfad bewirkt wird, und (ii) eine Zufallskomponente,
die zufällig auftritt. Bei einer gründlicheren
Bewertung ist es wünschenswert, die determinierte Komponente
und die Zufallskomponente getrennt auszuwerten. Wenn die determinierte
Komponente und die Zufallskomponente gemessen werden, wird ein charakteristischer
Wert mehrere Male gemessen, um eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
zu erhalten. Die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion kann gedacht
werden als eine Faltung der determinierten Komponente und der Zufallskomponente,
und daher können die determinierte Komponente und die Zufallskomponente
getrennt werden durch Entfalten der determinierten Komponente von der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, wie beispielsweise in der internationalen Veröffentlichung
Nr. 2007/108492 gezeigt ist.The characteristic value of the jitter contains (i) a deterministic component determined by characteristics such as the signal pattern and the transmission path, and (ii) a random component that occurs at random. In a more thorough evaluation, it is desirable to separately evaluate the deterministic component and the random component. When the deterministic component and the random component are measured, a characteristic value is measured several times to obtain a probability density function. The probability density function may be thought of as a convolution of the deterministic component and the random component, and therefore, the deterministic component and the random component may be separated by unfolding the deterministic component from the probability density function, as in FIG International Publication No. 2007/108492 is shown.
Die
in der vorgenannten Veröffentlichung offenbarte Erfindung
berechnet die determinierte Komponente auf der Grundlage einer ersten
Nullfrequenz in dem Spektrum der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion.
Zu dieser Zeit ist das Modell der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltenen determinierten Komponente bereits bekannt.The
Invention disclosed in the aforementioned publication
calculates the deterministic component based on a first one
Null frequency in the spectrum of the probability density function.
At this time, the model is in the probability density function
Contained deterministic component already known.
Aber
da es mehrere Typen von Modellen für die determinierte
Komponente gibt, kann die determinierte Komponente nicht genau berechnet
werden, wenn nicht ein genaues Modell für die determinierte
Komponente in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion bestimmt wird.But
because there are several types of models for the deterministic
Component, the deterministic component can not be calculated accurately
if not an accurate model for the deterministic
Component in the probability density function is determined.
Wenn
die determinierte Komponente einer trapezförmigen Verteilung
folgt, ändert sich die Form der Verteilung gemäß dem
trapezförmigen Verhältnis, und es ist daher erwünscht,
dass das trapezförmige Verhältnis genau gemessen
werden kann.If
the deterministic component of a trapezoidal distribution
follows, the shape of the distribution changes according to the
trapezoidal ratio, and it is therefore desirable
that the trapezoidal ratio is measured accurately
can be.
ZUSAMMENFASSUNGSUMMARY
Es
ist daher eine Aufgabe eines Aspekts der vorliegenden Erfindung,
ein Identifizierungsgerät für eine determinierte
Komponente, ein Bestimmungsverfahren, ein Speichermedium, ein Prüfsystem
und eine elektronische Vorrichtung vorzusehen, die in der Lage sind,
die vorgenannten, den Stand der Technik begleitenden Nachteile zu überwinden.
Die vorgenannte und andere Aufgaben können durch in den
unabhängigen Ansprüchen beschriebene Kombinationen
gelöst werden. Die abhängigen Ansprüche
definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen
der vorliegenden Erfindung.It
is therefore an object of one aspect of the present invention,
an identifying device for a deterministic one
Component, a method of determination, a storage medium, a test system
and to provide an electronic device that is capable of
to overcome the aforementioned, the prior art accompanying disadvantages.
The above and other tasks can be performed in the
independent claims described combinations
be solved. The dependent claims
define further advantageous and exemplary combinations
of the present invention.
Gemäß einem
ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung kann ein beispielhaftes
Identifizierungsgerät für eine determinierte Komponente
ein Identifizierungsgerät für eine determinierte
Komponente enthalten, das eine Verteilungsform einer determinierten
Komponente, die in einer zu diesem gelieferten Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthalten ist, identifiziert, welches aufweist:
Eine Standardabweichungs-Berechnungsschaltung,
die ein Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
berechnet; eine Spektrumberechnungsschaltung, die ein Spektrum der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion berechnet; eine Nullfrequenz-Erfassungsschaltung,
die eine Nullfrequenz des Spektrums er fasst; und eine Verhältnisberechnungsschaltung,
die ein Verhältnis zwischen einem oberen Bereich und einem unteren
Bereich einer Verteilung der determinierten Komponente auf der Grundlage
der Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und
der Nullfrequenz des Spektrums berechnet.According to a first aspect of the present invention, an exemplary deterministic component identifying apparatus may include a deterministic component identifying apparatus that identifies a distribution form of a deterministic component contained in a probability density function supplied thereto, which comprises:
A standard deviation calculating section that calculates a standard deviation of the probability density function; a spectrum calculation circuit that calculates a spectrum of the probability density function; a zero frequency detection circuit which detects a zero frequency of the spectrum; and a ratio calculation circuit that calculates a ratio between an upper range and a lower range of a deterministic component distribution based on the standard deviation of the probability density function and the null frequency of the spectrum.
Gemäß einem
zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung kann ein beispielhaftes
Identifizierungsverfahren für eine determinierte Komponente
ein Verfahren zum Identifizieren einer Verteilungsform einer in
einer zugeführten Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthaltenen
determinierten Komponente enthalten, welches aufweist: Berechnen
einer Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion;
Berechnen eines Spektrums der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion;
Erfassen einer Nullfrequenz des Spektrums; und Berechnen eines Verhältnisses
zwischen einem oberen Bereich und einem unteren Bereich einer Verteilung
der determinierten Komponente auf der Grundlage der Standardabweichung
der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und der Nullfrequenz des Spektrums.According to one
second aspect of the present invention may be exemplified
Identification method for a deterministic component
a method of identifying a distribution form of a
a supplied probability density function contained
containing a deterministic component comprising: calculating
a standard deviation of the probability density function;
Calculating a spectrum of the probability density function;
Detecting a null frequency of the spectrum; and calculating a ratio
between an upper area and a lower area of a distribution
the deterministic component based on the standard deviation
the probability density function and the null frequency of the spectrum.
Gemäß einem
dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung können ein beispielhaftes
Speichermedium und Programm ein Speichermedium enthalten, das ein
Programm speichert, das bewirkt, dass ein Computer als ein Identifizierungsgerät
für eine determinierte Komponente arbeitet, das eine Verteilungsform
einer determinierten Komponente, die in einer zu diesem gelieferten
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthalten ist, identifiziert,
wobei bewirkt wird, dass der Computer arbeitet als: eine Standardabweichungs-Berechnungsschaltung,
die eine Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
berechnet; eine Spektrumberechnungsschaltung, die ein Spektrum der
Wahrscheinlich keitsdichtefunktion berechnet; eine Nullfrequenz-Erfassungsschaltung,
die eine Nullfrequenz des Spektrums erfasst; und eine Verhältnisberechnungsschaltung, die
ein Verhältnis zwischen einem oberen Bereich und einem
unteren Bereich einer Verteilung der determinieren Komponente auf
der Grundlage der Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
und der Nullfrequenz des Spektrums berechnet.According to one
Third aspect of the present invention may be exemplified
Storage medium and program contain a storage medium containing a
Program saves, which causes a computer as an identification device
works for a deterministic component, which is a distribution form
a deterministic component that in a delivered to this
Probability density function is included, identified,
causing the computer to operate as: a standard deviation calculating circuit,
the one standard deviation of the probability density function
calculated; a spectrum calculating circuit which is a spectrum of
Probability density function calculated; a zero-frequency detection circuit,
which detects a zero frequency of the spectrum; and a ratio calculation circuit, which
a ratio between an upper range and a
lower range of a distribution of the determinate component
the basis of the standard deviation of the probability density function
and the zero frequency of the spectrum is calculated.
Gemäß einem
vierten Aspekt der vorliegenden Erfindung kann ein beispielhaftes
Prüfsystem ein Prüfsystem enthalten, das eine
geprüfte Vorrichtung prüft, welches aufweist:
eine Messschaltung, die eine vorgeschriebene Charakteristik der
geprüften Vorrichtung mehrere Male misst; ein Identifizierungsgerät
für eine determinierte Komponente, das eine Verteilungsform
einer determinierten Komponente, die in einer Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
von durch die Messschaltung gemessenen charakteristischen Werten
enthalten ist, identifiziert und die determinierte Komponente berechnet;
und eine Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung, die die Annehmbarkeit
der geprüften Vorrichtung auf der Grundlage der von dem
Identifizierungsgerät für eine determinierte Komponente
berechneten determinierten Komponente beurteilt. Das Identifizierungsgerät
für eine determinierte Komponente enthält: eine
Standardabweichungs-Berechnungsschaltung, die eine Standardabweichung
der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion berechnet; eine Spektrumberechnungsschaltung,
die ein Spektrum der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion berechnet;
eine Nullfrequenz-Erfassungsschaltung, die eine Nullfrequenz des
Spektrums erfasst; und eine Verhältnisberechnungsschaltung,
die ein Verhältnis zwischen einem oberen Bereich und einem
unteren Bereich einer Verteilung der determinierten Komponente auf
der Grundlage der Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
und der Nullfrequenz des Spektrums berechnet.According to one
Fourth aspect of the present invention may be exemplified
Test system included a test system that has a
tested device which has:
a measuring circuit having a prescribed characteristic of
tested device several times; an identification device
for a deterministic component that is a distribution form
a deterministic component that is in a probability density function
of characteristic values measured by the measuring circuit
is included, identifies and calculates the deterministic component;
and an acceptability judging circuit that determines the acceptability
the device tested on the basis of the
Identification device for a deterministic component
calculated deterministic component. The identification device
for a deterministic component contains: a
Standard deviation calculation circuit, which is a standard deviation
the probability density function is calculated; a spectrum calculation circuit,
which computes a spectrum of the probability density function;
a zero frequency detection circuit having a zero frequency of
Spectrum recorded; and a ratio calculation circuit,
which is a ratio between an upper range and a
lower range of a distribution of the deterministic component
the basis of the standard deviation of the probability density function
and the zero frequency of the spectrum is calculated.
Gemäß einem
fünften Aspekt der vorliegenden Erfindung kann eine beispielhafte
elektronische Vorrichtung eine elektronische Vorrichtung, die ein
vorgeschriebenes Signal erzeugt, enthalten, welche aufweist: eine
Operationsschaltung, die das vorgeschriebene Signal erzeugt und
ausgibt; eine Messschaltung, die eine vorgeschriebene Charakteristik
des vorgeschriebenen Signals mehrere Male misst; und ein Identifizierungsgerät
für eine determinierte Komponente, das eine Verteilungsform
einer determinierten Komponente, die in einer Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
von von der Messschaltung gemessenen charakteristischen Werten enthalten
ist, identifiziert und die determinierte Komponente berechnet. Das
Identifizierungsgerät für eine determinierte Komponente
enthält: eine Standardabweichungs-Berechnungsschaltung,
die eine Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
berechnet; eine Spektrumberechnungsschaltung, die ein Spektrum der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion berechnet; eine Nullfrequenz-Erfassungsschaltung,
die eine Nullfrequenz des Spektrums erfasst; und eine Verhältnisberechnungsschaltung,
die ein Verhältnis zwischen einem oberen Bereich und einem
unteren Bereich einer Verteilung der determinierten Komponente auf
der Grundlage der Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
und der Nullfrequenz des Spektrums berechnet.According to one
Fifth aspect of the present invention may be exemplary
electronic device an electronic device containing a
generated prescribed signal, comprising: a
Operation circuit that generates the prescribed signal and
outputs; a measuring circuit that has a prescribed characteristic
the prescribed signal several times; and an identification device
for a deterministic component that is a distribution form
a deterministic component that is in a probability density function
of characteristic values measured by the measuring circuit
is identified and calculated the deterministic component. The
Identification device for a deterministic component
contains: a standard deviation calculating circuit,
the one standard deviation of the probability density function
calculated; a spectrum calculating circuit which is a spectrum of
Probability density function calculated; a zero-frequency detection circuit,
which detects a zero frequency of the spectrum; and a ratio calculation circuit,
which is a ratio between an upper range and a
lower range of a distribution of the deterministic component
the basis of the standard deviation of the probability density function
and the zero frequency of the spectrum is calculated.
Die
Zusammenfassung beschreibt nicht notwendigerweise alle erforderlichen
Merkmale der Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung.
Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorgeschriebenen Merkmale
sein. Die vorgenannten und andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden
Erfindung werden augenscheinlicher anhand der folgenden Beschreibung
der Ausführungsbeispiele, die in Verbindung mit den begleitenden
Zeichnungen gegeben wird.The
Summary does not necessarily describe all required
Features of the embodiments of the present invention.
The present invention may also be a sub-combination of the prescribed features
be. The foregoing and other features and advantages of the present invention
The invention will become more apparent from the following description
the embodiments, in conjunction with the accompanying
Drawings is given.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGENBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
1 zeigt
eine beispielhafte funktionelle Konfiguration eines Identifizierungsgeräts 100 für
eine determinierte Komponente gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. 1 shows an exemplary functional configuration of an identification device 100 for a deterministic component according to an embodiment of the present invention.
2 zeigt
eine beispielhafte Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, die zu dem
Identifizierungsgerät 100 für eine determinierte
Komponente geführt wird. 2 shows an exemplary probability density function associated with the identification device 100 for a deterministic component.
3A zeigt
eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion einer determinierten Komponente,
die einer gleichförmigen Verteilung folgt. 3A shows a probability density function of a deterministic component following a uniform distribution.
3B zeigt
eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion einer determinierten Komponente,
die einer trapezförmigen Verteilung folgt. 3B shows a probability density function of a deterministic component following a trapezoidal distribution.
4A zeigt
eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion einer determinierten Komponente,
die einer dualen Dirac-Verteilung folgt. 4A shows a probability density function of a deterministic component following a dual Dirac distribution.
4B zeigt
eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion einer determinierten Komponente,
die einer einzelnen Dirac-Verteilung folgt. 4B shows a probability density function of a deterministic component following a single Dirac distribution.
5A zeigt
die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und das Spektrum einer determinierten
Komponente, die einem sinusförmigen Verteilungsmodell folgt. 5A shows the probability density function and the spectrum of a deterministic component that follows a sinusoidal distribution model.
5B zeigt
die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und das Spektrum einer determinierten
Komponente, die einem gleichförmigen Verteilungsmodell
folgt. 5B shows the probability density function and the spectrum of a deterministic component following a uniform distribution model.
6 zeigt
ein beispielhaftes Spektrum, das von der Spektrumberechnungsschaltung 120 berechnet wurde. 6 FIG. 12 shows an exemplary spectrum obtained by the spectrum calculation circuit 120 was calculated.
7 zeigt
ein Diagramm, das ein Zeitdomänenmodell, ein Frequenzdomänenmodell,
eine Beziehung zwischen der ersten Nullfrequenz fzero und
dem Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P, und die
Beziehung zwischen dem Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P und
einem Effektivwert DJRMS für jeden
Typ von determinierter Komponente zeigt. 7 shows a diagram D a time-domain model, a frequency domain model, a relationship between the first null frequency f zero and the peak-to-peak value DJ PP, and the relationship between the peak-to-peak value DJ PP and an effective value JRMS for each type of deterministic component.
8 zeigt
Beispiele für theoretische Werte von verschiedenen Typen
von Spektren Y(x) determinierter Komponenten, die durch die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert berechnet wurden, und einen gemessenen
Wert des Spektrums Y(x) der determinierten Komponente, der von der
Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnet wurde. 8th shows examples of theoretical values of different types of spectra Y (x) of deterministic components determined by the computing circuit 140 for a theoretical value, and a measured value of the spectrum Y (x) of the deterministic component obtained from the measured value calculating circuit 150 was calculated.
9 zeigt
eine beispielhafte Operation der Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130. 9 shows an exemplary operation of the zero-frequency detection circuit 130 ,
10 zeigt
eine andere beispielhafte Konfiguration des Identifizierungsgeräts 100 für
ei ne determinierte Komponente. 10 shows another exemplary configuration of the identification device 100 for a deterministic component.
11 ist
ein Flussdiagramm, das die von dem Identifizierungsgerät 100 für
eine determinierte Komponente durchgeführte Operation zeigt. 11 Figure 3 is a flow chart showing that of the identification device 100 for a deterministic component performed operation shows.
12 zeigt
eine andere beispielhafte Konfiguration für das Identifizierungsgerät 100 für
eine determinierte Komponente. 12 shows another exemplary configuration for the identification device 100 for a deterministic component.
13 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation des mit Bezug
auf 12 beschriebenen Identifizierungsgerät 100 für
eine determinierte Komponente zeigt. 13 FIG. 10 is a flowchart illustrating an exemplary operation of FIG 12 described identification device 100 for a deterministic component.
14 zeigt
eine andere beispielhafte Konfiguration des Identifizierungsgeräts 100 für
eine determinierte Komponente. 14 shows another exemplary configuration of the identification device 100 for a deterministic component.
15 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation des in 14 gezeigten
Identifizierungsgeräts 100 für eine determinierte
Komponente zeigt. 15 FIG. 10 is a flowchart illustrating an exemplary operation of the in 14 shown identification device 100 for a deterministic component.
16 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration eines Prüfsystems 300 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. 16 shows an exemplary configuration of a test system 300 according to an embodiment of the present invention.
17 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration einer elektronischen Vorrichtung 400 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. 17 shows an exemplary configuration of an electronic device 400 according to an embodiment of the present invention.
18 zeigt
ein Beispiel für eine Hardwarekonfiguration eines Computers 1900 gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. 18 shows an example of a hardware configuration of a computer 1900 according to an embodiment of the present invention.
BESCHREIBUNG VON AUSFÜHRUNGSBEISPIELENDESCRIPTION OF EMBODIMENTS
Nachfolgend
werden einige Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
beschrieben. Die Ausführungsbeispiele beschränken
die Erfindung gemäß den Ansprüchen nicht,
und alle Kombinationen der in den Ausführungsbeispielen
beschriebenen Merkmale sind nicht notwendigerweise wesentlich für
durch Aspekte der Erfindung vorgesehene Mittel.following
become some embodiments of the present invention
described. Restrict the embodiments
not the invention according to the claims,
and all combinations of those in the embodiments
described features are not necessarily essential to
means provided by aspects of the invention.
1 zeigt
eine beispielhafte funktionelle Konfiguration eines Identifizierungsgeräts 100 für
eine determinierte Komponente gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. Das Identifizierungsgerät 100 für
eine determinierte Komponente bestimmt die Verteilungsform einer
determinierten Komponente, die in einer zu diesem gelieferten Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthalten ist. Insbesondere bestimmt das Identifizierungsgerät 100 für
eine determinierte Komponente den Typ oder das Modell der determinierten
Komponente. Das Identifizierungsgerät 100 für
eine determinierte Komponente enthält eine Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110,
eine Spektrumberechnungsschaltung 120, eine Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130,
eine Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert, eine Messwert-Berechnungsschaltung 150 und eine Modellbestimmungsschaltung 160. 1 shows an exemplary functional configuration of an identification device 100 for a deterministic component according to an embodiment of the present invention. The identification device 100 for a deterministic component, the distribution form determines a deterministic component contained in a probability density function provided thereto. In particular, the identification device determines 100 for a deterministic component, the type or model of the deterministic component. The identification device 100 for a deterministic component includes a standard deviation calculation circuit 110 , a spectrum calculation circuit 120 , a zero-frequency detection circuit 130 , a calculation circuit 140 for a theoretical value, a measured value calculating circuit 150 and a model determination circuit 160 ,
Zuerst
werden eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, eine determinierte
Komponente und eine Zufallskomponente beschrieben. Wenn die determinierte
Komponente und die Zufallskomponente, die in der Wahrscheinlich keitsdichtefunktion
enthalten sind, voneinander unabhängig sind, kann die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
auf der Zeitachse berechnet werden als eine Faltung der determinierten
Komponente und der Zufallskomponente auf der Zeitachse. Daher kann
das Spektrum H(f) der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion als ein
Produkt des Spektrums D(f) der determinierten Komponente des Spektrums
R(f) der Zufallskomponente berechnet werden, wie nachfolgend gezeigt
ist. H(f) = D(f)·R(f) First, a probability density function, a deterministic component and a random component will be described. When the deterministic component and the random component included in the probability density function are independent of each other, the probability density function on the time axis can be calculated as a convolution of the deterministic component and the random component on the time axis. Therefore, the spectrum H (f) of the probability density function can be calculated as a product of the spectrum D (f) of the deterministic component of the random component spectrum R (f), as shown below. H (f) = D (f) * R (f)
Die
Zufallskomponente folgt gewöhnlich einer gaußschen
Verteilung, und daher kann das Spektrum R(f) unter Verwendung des
nachfolgenden Ausdrucks gefunden werden. R(f)
= exp(–2π2σ2RJ,RMS f2) The random component usually follows a Gaussian distribution, and therefore the spectrum R (f) can be found using the following expression. R (f) = exp (-2π 2 σ 2 RJ, RMS f 2 )
Hier
stellt σRJ,RMS die Standardabweichung
der Zufallskomponente dar. Daher kann die Zufallskomponente bestimmt
werden, wenn die Standardabweichung der Zufallskomponente gemessen
werden kann. Die determinierte Komponente kann dann durch Subtrahieren
der Zufallskomponente von der erhaltenen Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
bestimmt werden.Here, σ RJ, RMS represents the standard deviation of the random component. Therefore, the random component can be determined when the standard deviation of the random component can be measured. The deterministic component may then be determined by subtracting the random component from the obtained probability density function.
Die
erhaltene Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthält jedoch
die determinierte Komponente und die Zufallskomponente, und daher
ist es schwierig, die Standardabweichung von nur der Zufallskomponente
anhand der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion zu messen. Aber wenn
die determinierte Komponente und die Zufallskomponente voneinander
unabhängig sind, kann die Standardabweichung σTJ,RMS der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
anhand der Standardabweichung σRJ,RMS der Zufallskomponente
und der Standardweichung DJRMS der determinierten
Komponente berechnet werden, wie durch den nachfolgenden Ausdruck
gezeigt ist. σ2TJ,RMS = σ2RJ,RMS + DJ2RMS However, the obtained probability density function contains the deterministic component and the random component, and therefore it is difficult to measure the standard deviation of only the random component by the probability density function. But when the deterministic component and the random component are independent, the standard deviation σ TJ, RMS of the probability density function can be calculated from the standard deviation σ RJ, RMS of the random component and the standard deviation DJ RMS of the deterministic component, as shown by the following expression. σ 2 TJ, RMS = σ 2 RJ, RMS + DJ 2 RMS
Demgemäß kann
das Spektrum der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion durch den nachfolgenden
Ausdruck 1 berechnet werden.Accordingly, can
the spectrum of the probability density function by the following
Expression 1 can be calculated.
Ausdruck 1:Expression 1:
-
H(f) = D(f)·exp(–2π2σ2TJ,RMS f2)·exp(–2π2DJ2RMS f2)H (f) = D (f) * exp (-2π 2 σ 2 TJ, RMS f 2 ) * Exp (-2π 2 DJ 2 RMS f 2 )
Die
Standardabweichung DJRMS der determinierten
Komponente kann anhand des Spitze-zu-Spitze-Werts DJP-P der
determinierten Komponente berechnet werden. Mit anderen Worten,
der Ausdruck 1 kann verwendet werden, um die determinierte Komponente
D(f) von der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion H(f) zu trennen,
wenn die Standardabweichung σTJ,RMS der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und der Spitze-zu-Spitze-Wert
DJP-P der determinierten Komponente gemessen
werden können.The standard deviation DJ RMS of the deterministic component can be calculated from the peak-to-peak value DJ PP of the deterministic component. In other words, the expression 1 can be used to separate the deterministic component D (f) from the probability density function H (f) when the standard deviation σ TJ, RMS of the probability density function and the peak-to-peak value DJ PP of the deterministic component can be measured.
Die
Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 berechnet
die Standardabweichung σRJ,RMS der erhaltenen
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion. Die Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 kann die
Standardabweichung σTJ,RMS der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion auf der Zeitachse unter Verwendung des
Ausdrucks 2 berechnen. Ausdruck
2: The standard deviation calculation circuit 110 calculates the standard deviation σ RJ, RMS of the obtained probability density function. The standard deviation calculation circuit 110 can calculate the standard deviation σ TJ, RMS of the probability density function on the time axis using Expression 2. Expression 2:
Hier
ist xi der mittlere Wert des i-ten Fachs
der er haltenen Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, yi ist
die Anzahl von Ereignissen des i-ten Fachs, und N ist die Gesamtzahl
der Fächer. Weiterhin werden pi und μ wie nachfolgend
erhalten.Here, x i is the mean value of the ith bin of the obtained probability density function, y i is the number of events of the ith bin, and N is the total number of bins. Furthermore, p i and μ are obtained as follows.
Die
Spektrumberechnungsschaltung 120 gibt ein Spektrum der
erhaltenen Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion aus. Die Standardabweichungsberechnungsschaltung 110 und
die Spektrumberechnungsschaltung 120 können parallel
mit der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion auf der Zeitachse vorgesehen
sein.The spectrum calculation circuit 120 outputs a spectrum of the obtained probability density function. The standard deviation calculation circuit 110 and the spectrum calculation circuit 120 may be provided in parallel with the probability density function on the time axis.
Die
Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 erfasst eine Nullfrequenz
des von der Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten
Spektrums. Die Nullfrequenz ist eine Frequenz, bei der die Energie
des Spektrums im Wesentlichen null oder ein sehr kleiner Wert ist.
Wie vorstehend beschrieben ist, kann der Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P der determinierten Komponente anhand
der Nullfrequenz des Spektrums der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
berechnet werden.The zero frequency detection circuit 130 detects a zero frequency of the spectrum calculation circuit 120 calculated spectrum. The zero frequency is a frequency at which the energy of the spectrum is substantially zero or a very small value. As described above, the peak-to-peak value DJ PP of the deterministic component can be calculated from the null frequency of the spectrum of the probability density function.
2 zeigt
eine beispielhafte Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, die zu dem
Identifizierungsgerät 100 für eine determinierte
Komponente geführt wird. Die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
kann eine Verteilung von gemessenen Werten, die durch mehrfaches
Messen einer vorgeschriebenen Charakteristik einer elektronischen
Schaltung erhalten wurden, zeigen. Die vorgeschriebene Charakteristik
kann ein Jitterbetrag, ein Amplitudenwert oder ein Gleichwert eines
beispielsweise von einer elektronischen Schaltung oder einer optischen Schaltung
ausgegebenen Signals sein. 2 shows an exemplary probability density function associated with the identification device 100 for a deterministic component. The probability density function may show a distribution of measured values obtained by multiplying a prescribed characteristic of an electronic circuit. The prescribed characteristic may be a jitter amount, an amplitude value, or an equivalent value of a signal output from, for example, an electronic circuit or an optical circuit.
Beispielsweise
kann der Jitterbetrag die Phasenstörungen des Signals anzeigen.
Genauer gesagt, der Jitterbetrag kann eine Differenz zwischen dem
Flankenzeitpunkt des Signals und einem idealen Flankenzeitpunkt
anzeigen. In diesem Fall kann die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
die Verteilung des gemessenen Werts darstellen, d. h. die Auftrittsrate,
wenn der Jitterwert jeder Flanke des Signals gemessen wird. Der
Amplitudenwert kann die Amplitude von Spannung, Strom, optischer
Intensität oder dergleichen des Signals darstellen. Der
Gleichstromwert kann den Gleichpegel von Spannung, Strom, optischer
Intensität oder dergleichen des Signals darstellen.For example
The jitter amount can indicate the phase noise of the signal.
More precisely, the jitter amount can be a difference between the
Edge time of the signal and an ideal edge time
Show. In this case, the probability density function
represent the distribution of the measured value, d. H. the occurrence rate,
when the jitter value of each edge of the signal is measured. Of the
Amplitude value can be the amplitude of voltage, current, optical
Represent intensity or the like of the signal. Of the
DC value can be the DC level of voltage, current, optical
Represent intensity or the like of the signal.
Im
Allgemeinen enthält die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
derartiger Charakteristiken eine determinierte Komponente und eine
Zufallskomponente. Beispielsweise enthält die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
des Jitterbetrags eine Zufallskomponente, die zufällig
auftritt, und eine determinierte Komponente, die periodisch auftritt
aufgrund der Charakteristiken oder dergleichen der Übertragungsleitung.in the
General contains the probability density function
of such characteristics a deterministic component and a
Random component. For example, the probability density function contains
of the jitter amount a random component that happens to be random
occurs, and a deterministic component that occurs periodically
due to the characteristics or the like of the transmission line.
Die
Zufallskomponente der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion folgt einer
gaußschen Verteilung, wie in 2 gezeigt.
ist. Die determinierte Komponente folgt verschiedenen unterschiedlichen
Modellen, die davon abhängen, wodurch die determinierte
Komponente bewirkt wird. In 2 ist beispielsweise
das Modell der determinierten Komponente eine sinusförmige
Verteilung, aber kann stattdessen eine gleichförmige Verteilung, eine
trapezförmige Verteilung, eine duale Dirac-Verteilung,
eine einzelne Dirac-Verteilung oder dergleichen sein.The random component of the probability density function follows a Gaussian distribution, as in FIG 2 shown. is. The deterministic component follows different different models, which depend on what causes the deterministic component. In 2 For example, the model of de In the case of the terminated component, it may be a sinusoidal distribution, but may instead be a uniform distribution, a trapezoidal distribution, a dual Dirac distribution, a single Dirac distribution, or the like.
Die 3A, 3B, 4A und 4B zeigten
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktionen mit determinierten Komponenten
die verschiedenen Modellen folgen. 3A zeigt
eine determinierte Komponente, die einer gleichförmigen
Verteilung folgt. 3B zeigt eine determinierte
Komponente, die einer trapezförmigen Verteilung folgt. 4A zeigt
eine determinierte Komponente, die einer dualen Dirac-Verteilung
folgt. 4B zeigt eine determinierte
Komponente, die einer einzelnen Dirac-Verteilung folgt.The 3A . 3B . 4A and 4B showed probability density functions with deterministic components that follow different models. 3A shows a deterministic component that follows a uniform distribution. 3B shows a deterministic component that follows a trapezoidal distribution. 4A shows a deterministic component that follows a dual Dirac distribution. 4B shows a deterministic component that follows a single Dirac distribution.
Wie
in den 2 bis 4B gezeigt ist, kann die Verteilung
der determinierten Komponente gewöhnlich für eine
Bestimmtheit bestimmt werden, wenn der Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P in dem entsprechenden Modell bestimmt
wird. Jedoch ist es wünschenswert, dass ein Verhältnis
zwischen einem oberen Bereich und einem unteren Bereich weiterhin
für die determinierte Komponente, die der trapezförmigen
Verteilung folgt, erhalten wird. Weiterhin wird die determinierte
Komponente, die der einzelnen Dirac-Verteilung folgt, als eine determinierte
Komponente mit einem Spitze-zu-Spitze-Wert von im Wesentlichen null
erhalten.As in the 2 to 4B is shown, the distribution of the deterministic component can usually be determined for a certainty when the peak-to-peak value DJ PP in the corresponding model is determined. However, it is desirable that a ratio between an upper portion and a lower portion be further obtained for the deterministic component following the trapezoidal distribution. Furthermore, the deterministic component following the single Dirac distribution is obtained as a deterministic component with a peak-to-peak value of substantially zero.
Das
Identifizierungsgerät 100 für eine determinierte
Komponente nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel berechnet
den Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P der determinierten
Komponente auf der Grundlage der Nullfrequenz des Spektrums der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion. Im Folgenden wird ein Beispiel
beschrieben, bei dem die kleinste Frequenz unter den Nullfrequenzen
des Sektrums als eine erste Nullfrequenz verwendet wird.The identification device 100 for a deterministic component according to the present embodiment calculates the peak-to-peak value DJ PP of the deterministic component based on the null frequency of the spectrum of the probability density function. The following describes an example in which the smallest frequency among the zero frequencies of the spectrum is used as a first null frequency.
Die 5A und 5B zeigen
die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und das Spektrum von determinierten Komponenten,
die vorgeschriebenen Modellen folgen. 5A zeigt
die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und das Spektrum einer determinierten
Komponente, die einem sinusförmigen Verteilungsmodell folgt. 5B zeigt
die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und das Spektrum einer determinierten
Komponente, die einem gleichförmigen Verteilungsmodell
folgt. In den 5A und 5B stellt
die Wellenform auf der linken Seite die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
in der Zeitdomäne dar, und die Wellenform auf der rechten Seite
stellt das Spektrum der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion dar. Weiterhin
stellt die DJP-P den Spitze-zu-Spitze-Wert
der determinierten Komponente in der Zeitdomäne dar.The 5A and 5B show the probability density function and the spectrum of deterministic components that follow prescribed models. 5A shows the probability density function and the spectrum of a deterministic component that follows a sinusoidal distribution model. 5B shows the probability density function and the spectrum of a deterministic component following a uniform distribution model. In the 5A and 5B For example, the left side waveform represents the probability density function in the time domain, and the right side waveform represents the spectrum of the probability density function. Further, the DJ PP represents the peak-to-peak value of the deterministic component in the time domain.
Wie
in 5A gezeigt ist, wird die erste Nullfrequenz des
Spektrums, das durch eine Fourier-Transformation der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
der der sinusförmigen Verteilung folgenden determinierten Komponente
erhalten wurde, berechnet als 0,765/DJP-P.
Mit anderen Worten, der Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P der
determinierten Komponente kann berechnet werden durch Multiplizieren
des inversen Werts der ersten Nullfrequenz mit dem Koeffizienten
0,7 tr. Es ist festzustellen, dass dieser Koeffizient ein angenäherter
Wert ist, und mehr oder weniger genaue Werte können stattdessen
verwendet werden, wie Koeffizienten, die auf mehr oder weniger Dezimalstellen
genau sind.As in 5A is shown, the first null frequency of the spectrum obtained by a Fourier transform of the probability density function of the deterministic component following the sinusoidal distribution is calculated as 0.765 / DJ PP . In other words, the deterministic component peak-to-peak value DJ PP can be calculated by multiplying the inverse value of the first null frequency by the coefficient 0.7 tr. It should be noted that this coefficient is an approximate value, and more or less accurate values may be used instead, such as coefficients that are accurate to more or less decimal places.
Wie
in 5B gezeigt ist, wird die erste Nullfrequenz des
Spektrums, das durch eine Fourier-Transformation der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
der determinierten Komponente, die der gleichförmigen Verteilung
folgt, erhalten wurde, berechnet als 1/DJP-P.
Mit anderen Worten, der Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P der determinierten
Komponente kann berechnet werden als der inverse Wert der ersten
Nullfrequenz.As in 5B is shown, the first null frequency of the spectrum obtained by a Fourier transform of the probability density function of the deterministic component following the uniform distribution is calculated as 1 / DJ PP . In other words, the peak-to-peak value DJ PP of the deterministic component can be calculated as the inverse of the first null frequency.
Die
Spitze-zu-Spitze-Werte der determinierten Komponenten, die anderen
Verteilungen folgen, z. B. der trapezförmigen Verteilung
und der einzelnen Dirac-Verteilung, können in derselben
Weise anhand der ersten Nullfrequenz berechnet werden. Jedoch ist
es erforderlich, das Modell zu bestimmen, um die determinierte Komponente
genau zu berechnen, da die Beziehung zwischen der ersten Nullfrequenz
und dem Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P in Abhängigkeit
von dem der determinierten Komponente unterschiedlich ist, wie in den 5A und 5B gezeigt
ist.The peak-to-peak values of the deterministic components that follow other distributions, e.g. As the trapezoidal distribution and the individual Dirac distribution, can be calculated in the same way on the basis of the first null frequency. However, it is necessary to determine the model to accurately calculate the deterministic component, since the relationship between the first null frequency and the peak-to-peak value DJ PP is different depending on the deterministic component, as in FIGS 5A and 5B is shown.
6 zeigt
ein beispielhaftes Spektrum, das durch die Spektrumberechnungsschaltung 120 berechnet
wurde. Die Spektrumberechnungsschaltung 120 berechnet das
Spektrum der erhaltenen Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion. Die Spektrumberechnungsschaltung 120 kann
das Spektrum durch eine Fourier-Transformation der erhaltenen Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
berechnen. Das durch die Spektrumberechnungsschaltung 120 berechnete
Spektrum enthält ein Spektrum der determinierten Komponente
und ein Spektrum der Zufallskomponente, wie in 6 gezeigt
ist. 6 FIG. 12 shows an exemplary spectrum generated by the spectrum calculation circuit 120 was calculated. The spectrum calculation circuit 120 Computes the spectrum of the obtained probability density function. The spectrum calculation circuit 120 can calculate the spectrum by a Fourier transform of the obtained probability density function. This through the spectrum calculation circuit 120 calculated spectrum contains a spectrum of the deterministic component and a spectrum of the random component, as in 6 is shown.
Die
Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 erfasst die Nullfrequenz
des durch die Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten
Spektrums. Die Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel erfasst die erste
Nullfrequenz, die die kleinste Frequenz unter den Nullfrequenzen des
Spektrums ist.The zero frequency detection circuit 130 captures the null frequency of the through the spectral computation voltage circuit 120 calculated spectrum. The zero frequency detection circuit 130 According to the present embodiment, the first zero frequency, which is the smallest frequency below the zero frequencies of the spectrum, is detected.
In
der vorbeschriebenen Weise entspricht die erste Nullfrequenz des
Spektrums der determinierten Kompo nente dem Spitze-zu-Spitze-Wert
der determinierten Komponente auf der Zeitachse. Wie in 6 gezeigt
ist, ist die erste Nullfrequenz des kombinierten Spektrums aus der
determinierten Komponente und der Zufallskomponente nahezu identisch
mit der ersten Nullfrequenz des Spektrums der determinierten Komponente.In the manner described above, the first null frequency of the spectrum of the deterministic component corresponds to the peak-to-peak value of the deterministic component on the time axis. As in 6 1, the first null frequency of the combined spectrum of the deterministic component and the random component is nearly identical to the first null frequency of the spectrum of the deterministic component.
Daher
kann die erste Nullfrequenz des Spektrums der determinierten Komponente
erfasst werden durch Erfassen der ersten Nullfrequenz des Spektrums
der erhaltenen Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion. Wie vorstehend
beschrieben ist, kann der Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P der
determinierten Komponente anhand der ersten Nullfrequenz des Spektrums
der determinierten Komponente berechnet werden. Es ist festzustellen, dass
der berechnete Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P für
jeden Typ von determinierter Komponente verschieden ist.Therefore, the first null frequency of the spectrum of the deterministic component can be detected by detecting the first null frequency of the spectrum of the obtained probability density function. As described above, the peak-to-peak value DJ PP of the deterministic component may be calculated from the first null frequency of the deterministic component spectrum. It should be noted that the calculated peak-to-peak value DJ PP is different for each type of deterministic component.
7 ist
ein Diagramm, das ein Zeitdomänenmodell, ein Frequenzdomänenmodell,
eine Beziehung zwischen der ersten Nullfrequenz fzero und
dem Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P und die
Beziehung zwischen dem Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P und
einem Effektivwert DJRMS für jeden
Typ von determinierter Komponente zeigt. In 7 stellt
I0 eine Bessel-Funktion der ersten Art mit
einer Ordnung 0 dar. 7 FIG. 15 is a diagram illustrating a time domain model, a frequency domain model, a relationship between the first null frequency f zero and the peak-to-peak value DJ PP, and the relationship between the peak-to-peak value DJ PP and an effective value DJ RMS shows each type of deterministic component. In 7 I 0 represents a Bessel function of the first kind with an order of 0.
In 7 stellt α das
Verhältnis des oberen Bereichs zu dem unteren Bereich in
der trapezförmigen Verteilung dar. Mit anderen Worten, α =
1 entspricht einer gleichförmigen Verteilung, und α =
0 entspricht einer dreieckförmigen Verteilung. Die Typen
von determinierten Komponenten, die durch das Identifizierungsgerät 100 für
eine determinierte Komponente gehandhabt werden können,
sind nicht auf die vorbeschriebe nen Typen beschränkt. Das
Identifizierungsgerät 100 für eine determinierte
Komponente kann Modelle für jede determinierte Komponente
bestimmen, deren Spitze-zu-Spitze-Wert anhand der ersten Nullfrequenz
des Spektrums berechnet werden kann.In 7 α represents the ratio of the upper region to the lower region in the trapezoidal distribution. In other words, α = 1 corresponds to a uniform distribution, and α = 0 corresponds to a triangular distribution. The types of deterministic components used by the identification device 100 can be handled for a deterministic component, are not limited to the vorbeschriebe nen types. The identification device 100 for a deterministic component, models can be determined for each deterministic component whose peak-to-peak value can be calculated from the first null frequency of the spectrum.
Hier
wird das Modell für jeden Typ von Spektrum der determinierten
Komponente durch die erste Nullfrequenz fzero und
die Standardabweichung σTJ,RMS,
die anhand der erhaltenen Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion berechnet
werden kann, ausgedrückt. Das Modell des Spektrums einer
determinierten Komponente, die einer sinusförmigen Verteilung
folgt, wird anhand des Ausdrucks 1 und der 7 erhalten,
und ist nachfolgend im Ausdruck 3 gezeigt. Ausdruck
3: Here, the model for each type of spectrum of the deterministic component is expressed by the first null frequency f zero and the standard deviation σ TJ, RMS , which can be calculated from the obtained probability density function. The model of the spectrum of a deterministic component following a sinusoidal distribution is given by the expression 1 and the 7 and is shown below in Expression 3. Expression 3:
Das
Modell des Spektrums einer determinierten Komponente, die einer
trapezförmigen Verteilung folgt, ist in Ausdruck 4 gegeben. Ausdruck
4: The model of the spectrum of a deterministic component following a trapezoidal distribution is given in Expression 4. Expression 4:
Das
Modell des Spektrums einer determinierten Komponente, die einer
dualen Dirac-Verteilung folgt, ist im Ausdruck 5 gegeben. Ausdruck
5: The model of the spectrum of a deterministic component following a dual Dirac distribution is given in Expression 5. Expression 5:
Das
Modell des Spektrums einer determinierten Komponente, die einer
einzelnen Dira-Verteilung folgt, ist im Ausdruck 6 gegeben.The model of the spectrum of a deterministic component that follows a single Dira distribution, is given in expression 6.
Ausdruck 6:Expression 6:
-
HDirac(f) = exp(–2π2f2σ2TJ,RMS )H Dirac (f) = exp (-2π 2 f 2 σ 2 TJ, RMS )
Die
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert berechnet die theoretischen Werte des Spektrums für
jeden von mehreren Typen von vorbestimmten determinierten Komponenten
auf der Grundlage der von der Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 berechneten
Standardabweichung σTJ,RMS und der
von der Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 erfassten
ersten Nullfrequenz fzero. Beispielsweise
berechnet die Berechnungsschaltung 140 für einen
theoretischen Wert die theoretischen Werte jedes Typs von determinierter
Komponente auf der Grundlage der Ausdrücke 3 bis 6. Die
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert kann vorher die Ausdrücke 3 bis 6 erhalten.The calculation circuit 140 for a theoretical value calculates the theoretical values of the spectrum for each of several types of predetermined deterministic components based on that of the standard deviation calculating circuit 110 calculated standard deviation σ TJ, RMS and that of the zero-frequency detection circuit 130 detected first zero frequency f zero . For example, the calculation circuit calculates 140 for a theoretical value, the theoretical values of each type of deterministic component based on the expressions 3 to 6. The calculation circuit 140 for a theoretical value, expressions 3 to 6 may be obtained in advance.
Die
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert kann stattdessen die theoretischen Werte der Spektren, die
durch ein gaußsches Verteilungsspektrum normiert wurden,
mit der durch die Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 berechneten
Standardabweichung σTJ,RMS berechnen.
Beispielsweise kann die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert Y(x) in den Ausdrücken 3 bis 6
unter Verwendung des Ausdrucks 7 berechnen.The calculation circuit 140 for a theoretical value, instead, the theoretical values of the spectra normalized by a Gaussian distribution spectrum may be compared with those obtained by the standard deviation calculation circuit 110 calculated standard deviation σ TJ, RMS . For example, the calculation circuit 140 for a theoretical value Y (x) in expressions 3 to 6 using expression 7.
Ausdruck 7:Expression 7:
-
Y(x) = H(X)/exp(–2π2f2σ2TJ,RMS )Y (x) = H (X) / exp (-2π 2 f 2 σ 2 TJ, RMS )
Die
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert kann stattdessen die theoretischen Werte der Spektren mit einer
Frequenz f, die mit der ersten Nullfrequenz fzero normiert
ist, berechnen. Beispielsweise kann die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert die theoretischen Werte in den Ausdrücken 3
bis 6 mit x = f/fzero berechnen.The calculation circuit 140 for a theoretical value, the theoretical values of the spectra with a frequency f normalized with the first zero frequency f zero can instead be calculated. For example, the calculation circuit 140 for a theoretical value calculate the theoretical values in expressions 3 to 6 with x = f / f zero .
Wenn
derartige Normierungen durchgeführt werden, werden die
Ausdrücke 3 bis 6 in die nachfolgenden Ausdrücke
transformiert. Ausdruck
3': Ausdruck
4': Ausdruck
5': When such normalizations are performed, expressions 3 through 6 are transformed into the following expressions. Expression 3 ': Expression 4 ': Expression 5 ':
Ausdruck 6':Expression 6 ':
-
YDirac(X) = 1Y Dirac (X) = 1
Die
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert kann vorher die Ausdrücke 3' bis 6' erhalten. In diesem
Fall kann die Berechnungsschaltung 140 für einen
theoretischen Wert die theoretischen Werte der Spektren der verschiedenen
Typen von determinierten Komponenten berechnen durch Einsetzen der von
der Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 erfassten ersten
Nullfrequenz in die Ausdrücke 3' bis 6'.The calculation circuit 140 for a theoretical value, the expressions 3 'to 6' may be previously obtained. In this case, the calculation circuit 140 for a theoretical value the theoretical who of the spectrums of the various types of deterministic components by substituting the zero frequency detection circuit 130 detected first zero frequency in the expressions 3 'to 6'.
Die
Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnet gemessene Werte
des Spektrums der determinierten Komponente in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
PDF auf der Grundlage der von der Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 berechneten
Standardabweichung σTJ,RMS und
des von der Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten
Spektrums. Die Messwert-Berechnungsschaltung 150 kann das Spektrum
H(x) verwenden, das durch Normieren der Frequenz des durch die Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten
Spektrums H(f) mit der ersten Nullfrequenz fzero erhalten
wurde.The measured value calculation circuit 150 calculates measured values of the spectrum of the deterministic component in the probability density function PDF on the basis of the standard deviation calculating circuit 110 calculated standard deviation σ TJ, RMS and that of the spectrum calculation circuit 120 calculated spectrum. The measured value calculation circuit 150 can use the spectrum H (x) by normalizing the frequency of the signal through the spectral computation circuit 120 calculated spectrum H (f) was obtained with the first zero frequency f zero .
Die
Messwert-Berechnungsschaltung 150 kann die gemessenen Werte
des Spektrums der determinierten Komponente berechnen durch Teilen
des Spektrums H(x) durch ein gaußsches Verteilungsspektrum mit
der Standardabweichung σTJ,RMS.
In diesem Fall können die gemessenen Werte des Spektrums
Y(x) der determinierten Komponente wie nachfolgend gezeigt anhand
des Ausdrucks 7 erhalten werden.The measured value calculation circuit 150 can calculate the measured values of the spectrum of the deterministic component by dividing the spectrum H (x) by a Gaussian distribution spectrum with the standard deviation σ TJ, RMS . In this case, the measured values of the spectrum Y (x) of the deterministic component can be obtained from Expression 7 as shown below.
Ausdruck 8:Expression 8:
-
Y(x) = H(x)/exp(–2π2f2zero x2σ2TJ,RMS )Y (x) = H (x) / exp (-2π 2 f 2 zero x 2 σ 2 TJ, RMS )
8 zeigt
Beispiele für theoretische Werte für verschiedene
Typen von Spektren Y(x) deterministischer Komponenten, die durch
die Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert berechnet wurden, und einen gemessenen Wert für das
Spektrum Y(x) der determinierten Komponente, der durch die Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnet
wurde. Wie in 8 gezeigt ist, ist die folgende
Beziehung innerhalb eines Bereichs von 0 < x < 1
gesehen. YDirac(x) > YDD(x) > Ysin(x) > YTra(x, α) 8th shows examples of theoretical values for different types of spectra Y (x) of deterministic components generated by the computing circuit 140 for a theoretical value, and a measured value for the spectrum Y (x) of the deterministic component determined by the measured value calculating circuit 150 was calculated. As in 8th is shown, the following relationship is seen within a range of 0 <x <1. Y Dirac (x)> Y DD (x)> Y sin (x)> Y tra (x, α)
Je
größer der Wert von α ist, der das Verhältnis
des oberen Bereichs zu dem unteren Bereich der trapezförmigen
Verteilung ist, desto größer ist der Wert von
YTra(x, α), wie durch den nachfolgenden
Ausdruck gezeigt ist. YTra(x,
1) > YTra(x,
0.5) > YTra(x,
0.2) > YTra(x,
0) The larger the value of α which is the ratio of the upper region to the lower region of the trapezoidal distribution, the larger the value of Y Tra (x, α), as shown by the following expression. Y tra (x, 1)> Y tra (x, 0.5)> Y tra (x, 0.2)> Y tra (x, 0)
Die
Modellbestimmungsschaltung 160 bestimmt den Typ von determinierter
Komponente, die in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthalten
ist, als den Typ entsprechend den theoretischen Werten, die dem von
der Messwert-Berechnungsschaltung 150 gemessenen Wert am
nächsten sind, aus den von der Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert für jeden Typ von determinierter
Komponente berechneten theoretischen Werten. Die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert und die Messwert-Berechnungsschaltung 150 können
den Wert des Spektrums bei derselben vorbestimmten Frequenz, z.
B. der Frequenz f/fzero = xa in 8 als
den theoretischen Wert und den gemessenen Wert berechnen.The model determination circuit 160 determines the type of deterministic component included in the probability density function as the type corresponding to the theoretical values obtained from the measured value calculating circuit 150 measured value closest to that from the calculation circuit 140 for a theoretical value calculated for each type of deterministic component theoretical values. The calculation circuit 140 for a theoretical value and the measured value calculating circuit 150 may determine the value of the spectrum at the same predetermined frequency, e.g. B. the frequency f / f zero = xa in 8th calculate as the theoretical value and the measured value.
Mit
anderen Worten, die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert und die Messwert-Berechnungsschaltung 150 brauchen
nicht die theoretischen Werte und die gemessenen Werte des Spektrums über
alle Bereiche zu berechnen. Es ist jedoch wünschenswert,
dass die Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert und die Messwert-Berechnungsschaltung 150 den Wert
des Spektrums innerhalb eines Frequenzbereichs zwischen 0 und der
ersten Nullfrequenz berechnen. Mit anderen Worten, es ist wünschenswert,
dass die Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert und die Messwert-Berechnungsschaltung 150 den Wert
des Spektrums in einem Bereich von 0 < xa < 1 berechnen.In other words, the calculation circuit 140 for a theoretical value and the measured value calculating circuit 150 do not need to calculate the theoretical values and the measured values of the spectrum over all ranges. However, it is desirable that the computing circuit 140 for a theoretical value and the measured value calculating circuit 150 calculate the value of the spectrum within a frequency range between 0 and the first zero frequency. In other words, it is desirable that the computing circuit 140 for a theoretical value and the measured value calculating circuit 150 calculate the value of the spectrum in a range of 0 <xa <1.
In
dem Beispiel nach 8 ist der gemessene Wert dem
theoretischen Wert der trapezförmigen Verteilung (α =
0,2) am nächsten, und daher kann die Modellbestimmungsschaltung 160 bestimmen,
dass der Typ der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthaltenen
determinierten Komponente eine trapezförmige Verteilung
ist. Wenn die Modellbestimmungsschaltung 160 bestimmt,
dass der von der Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnete
Messwert zwischen dem theoretischen Wert der gleichförmigen
Verteilung und dem theoretischen Wert der dreieckförmigen
Verteilung ist, kann ein neues trapezförmiges Verhältnis α berechnet werden,
um den theoretischen Wert näher an den gemessenen Wert
heranzubringen. Die Modellbestimmungsschaltung 160 kann
bestimmen, dass das Modell der determinierten Komponente die trapezförmige Verteilung
mit dem berechneten Trapezverhältnis α ist.In the example below 8th For example, the measured value is closest to the theoretical value of the trapezoidal distribution (α = 0.2), and hence the model determining circuit 160 determine that the type of deterministic component contained in the probability density function is a trapezoidal distribution. When the model determination circuit 160 determines that of the measured value calculation circuit 150 If the calculated value is between the theoretical value of the uniform distribution and the theoretical value of the triangular distribution, a new trapezoidal ratio α can be calculated to bring the theoretical value closer to the measured value. The model determination circuit 160 can determine that the model of the deterministic component is the trapezoidal distribution with the calculated trapezoidal ratio α.
Als
ein Ergebnis des vorstehenden Prozesses kann die Modellbestimmungsschaltung 160 genau
das Modell der determinierten Komponente, die in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthalten ist, bestimmen. Daher können die Zufallskomponente
und die determinierte Komponente in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
genau berechnet werden.As a result of the above process, the model determining circuit 160 exactly Determine the model of the deterministic component contained in the probability density function. Therefore, the random component and the deterministic component in the probability density function can be calculated accurately.
9 zeigt
eine beispielhafte Operation der Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130.
Die Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 nach dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel erfasst die erste Nullfrequenz des
Spektrums auf der Grundlage der Spitze einer Wellenform, die erhalten
wurde, indem eine Differentiation zweiter Ordnung mit Bezug auf
die Frequenz bei dem durch die Spektrumberechnungsschaltung 120 berechne ten
Spektrum durchgeführt wurde. 9 shows an exemplary operation of the zero-frequency detection circuit 130 , The zero frequency detection circuit 130 According to the present embodiment, the first zero frequency of the spectrum is detected on the basis of the peak of a waveform obtained by second order differentiation with respect to the frequency at which the spectrum calculation circuit 120 calculated spectrum was performed.
Bei
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel stellt f1 die erste
Nullfrequenz des Spektrums dar. Wenn die erhaltene Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
einen kleinen Störungsbetrag enthält, kann die
erste Nullfrequenz des Spektrums genau erfasst werden. Wenn jedoch
die erhaltene Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion einen wesentlichen
Störungsbetrag enthält, wie durch das Spektrum
g(f) in 9 gezeigt ist, kann die erste
Nullfrequenz nicht wie beabsichtigt bei der Frequenz f1 erfasst
werden.In the present embodiment, f1 represents the first null frequency of the spectrum. If the obtained probability density function contains a small amount of perturbation, the first null frequency of the spectrum can be accurately detected. However, if the obtained probability density function contains a substantial amount of perturbation, as represented by the spectrum g (f) in FIG 9 is shown, the first null frequency can not be detected as intended at the frequency f1.
In
diesem Fall kann die erste Nullfrequenz genau erfasst werden durch
Differenzieren des Spektrums mit Bezug auf die Frequenz, wie in 9 gezeigt
ist. Die Spitze der Wellenform g''(f) des zweifach differenzierten
Spektrums entspricht der Nullfrequenz des Spektrums g(f). Daher
kann die Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 eine Ableitung
zweiter Ordnung des Spektrums der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
durchführen und die erste Nullfrequenz auf der Grundlage
der Spitzenfrequenz des abgeleiteten Spektrums erfassen.In this case, the first null frequency can be accurately detected by differentiating the spectrum with respect to the frequency as in 9 is shown. The peak of the waveform g '' (f) of the doubly differentiated spectrum corresponds to the zero frequency of the spectrum g (f). Therefore, the null frequency detection circuit 130 perform a second order derivative of the spectrum of the probability density function and detect the first null frequency based on the peak frequency of the derived spectrum.
10 zeigt
eine andere beispielhafte Konfiguration des Identifizierungsgeräts 100 für
die determinierte Komponente. Das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
ist weiterhin mit einer Berechnungsschaltung 170 für
die determinierte Komponente und einer Berechnungsschaltung 180 für
die Zufallskomponente zusätzlich zu der Konfiguration des
mit Bezug auf 1 beschriebenen Identifizierungsgeräts 100 für
die determinierte Komponente versehen. Andere Elemente können
dieselben wie die mit Bezug auf 1 beschriebenen
Elemente sein. 10 shows another exemplary configuration of the identification device 100 for the deterministic component. The identification device 100 for the deterministic component of the present embodiment is further provided with a calculation circuit 170 for the deterministic component and a calculation circuit 180 for the random component in addition to the configuration of with reference to 1 described identification device 100 provided for the deterministic component. Other elements may be the same as those with reference to 1 be described elements.
Die
Berechnungsschaltung 170 für die determinierte
Komponente berechnet die in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltene determinierte Komponente auf der Grundlage des von der
Modellbestimmungsschaltung 160 bestimmten Typs der determinierten
Komponente und der von der Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 erfassten
ersten Nullfrequenz. Wie in 7 gezeigt
ist, kann die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion der determinierten
Komponente in der Frequenzdomäne oder der Zeitdomäne
anhand des Typs der determinierten Komponente und des Spitze-zu-Spitze-Werts
DJP-P bestimmt werden.The calculation circuit 170 for the deterministic component calculates the deterministic component included in the probability density function based on the model determination circuit 160 certain type of deterministic component and that of the null frequency detection circuit 130 detected first zero frequency. As in 7 1, the probability density function of the deterministic component in the frequency domain or the time domain may be determined from the type of the deterministic component and the peak-to-peak value DJ PP .
Die
Berechnungsschaltung 170 für die determinierte
Komponente kann die Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion der determinierten
Komponente durch Berechnen des Spitze-zu-Spitze-Werts DJP-P anhand der ersten Nullfrequenz berechnen.
Die Berechnungsschaltung 170 für die determinierte
Komponente kann mit einer Tabelle versehen werden, die für
jeden Typ von determinierter Komponente ein Zeitdomänenmodell,
ein Frequenzdomänenmodell, eine Beziehung zwischen der
ersten Nullfrequenz fzero und dem Spitze-zu-Spitze-Wert DJP-P und die Beziehung zwischen dem Spitze-zu-Spitze-Wert
DJP-P und einem Effektivwert DJRMS zeigt,
wie in 7 gezeigt ist.The calculation circuit 170 for the deterministic component, the probability density function of the deterministic component may be calculated by calculating the peak-to-peak value DJ PP from the first null frequency. The calculation circuit 170 for the deterministic component, a table can be provided which, for each type of deterministic component, includes a time domain model, a frequency domain model, a relationship between the first null frequency f zero and the peak-to-peak value DJ PP, and the relationship between the peak to-peak value DJ PP and a rms DJ RMS shows as in 7 is shown.
Die
Zufallskomponenten-Berechnungsschaltung 180 berechnet die
in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion PDF enthaltene Zufallskomponente
durch Eliminieren der von der Berechnungsschaltung 170 für
die determinierte Komponente berechneten determinierten Komponente
aus der zu dem Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente gelieferten Wahrschein lichkeitsdichtefunktion
PDF. Beispielsweise kann die Zufallskomponenten-Berechnungsschaltung 180 die
Zufallskomponente in der Zeitdomäne berechnen durch Entfaltung
der determinierten Komponente in der Zeitdomäne aus der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion PDF in der Zeitdomäne.
Die Zufallskomponenten-Berechnungsschaltung 180 kann die
Zufallskomponente in der Frequenzdomäne durch Eliminieren
der determinierten Komponente in der Zeitdomäne aus der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion PDF in der Zeitdomäne
berechnen. Die Zufallskomponenten-Berechnungsschaltung 180 kann
weiterhin die Standardabweichung der berechneten Zufallskomponente
berechnen.The random component calculation circuit 180 calculates the random component contained in the probability density function PDF by eliminating the from the calculation circuit 170 for the deterministic component calculated determinant component from the to the identification device 100 the probability density function PDF provided for the deterministic component. For example, the random component calculation circuit 180 calculate the random component in the time domain by unfolding the deterministic component in the time domain from the probability density function PDF in the time domain. The random component calculation circuit 180 can compute the random component in the frequency domain by eliminating the deterministic component in the time domain from the probability density function PDF in the time domain. The random component calculation circuit 180 can continue to calculate the standard deviation of the calculated random component.
Die
Verwendung der vorbeschriebenen Konfiguration ermöglicht,
dass die Zufallskomponente und die determinierte Komponente in der
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion genau voneinander getrennt werden
können. Daher kann, wenn beispielsweise Jitter gemessen
wird, das Target genau bewertet werden, da das Zufallsjitter und
das determinierte Jitter genau voneinander getrennt werden.The
Using the above configuration allows
that the random component and the deterministic component in the
Probability density function are separated exactly
can. Therefore, if, for example, jitter measured
the target will be accurately evaluated, as the random jitter and
the determined jitter are separated exactly.
11 ist
ein Flussdiagramm, das die von dem Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente durchgeführten Prozesse zum
Bestimmen des Modells der determinierten Komponente zeigt. Zuerst berechnet
die Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 die Standardabweichung
der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion (S200). Die Spektrumberechnungsschaltung 120 berechnet
dann das Spektrum der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion (S202).
Als Nächstes berechnet die Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 die
erste Nullfrequenz des von der Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten
Spektrums (S204). Die Prozesse nach S202 und S204 können
parallel zu dem Prozess nach S200 durchgeführt werden. 11 Figure 3 is a flow chart showing that of the identification device 100 for the deterministic component performed processes for determining the model of the deterministic component. First, the standard deviation calculating circuit calculates 110 the standard deviation of the probability density function (S200). The spectrum calculation circuit 120 then calculates the spectrum of the probability density function (S202). Next, the null frequency detection circuit calculates 130 the first zero frequency of the spectrum calculating circuit 120 calculated spectrum (S204). The processes after S202 and S204 may be performed in parallel with the process after S200.
Die
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert berechnet die theoretischen Werte für jeden Typ von
determinierter Komponente auf der Grundlage der von der Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 erfassten
ersten Nullfrequenz (S206). Die Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnet
dann den gemessenen Wert der determinierten Komponente auf der Grundlage
der von der Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 berechneten
Standardabweichung und des von der Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten
Spektrums (S208). Der Prozess nach S208 kann parallel zu dem Prozess
nach S206 durchgeführt werden.The calculation circuit 140 for a theoretical value calculates the theoretical values for each type of deterministic component based on that from the null frequency detection circuit 130 detected first zero frequency (S206). The measured value calculation circuit 150 then calculates the measured value of the deterministic component based on that from the standard deviation calculating circuit 110 calculated standard deviation and that of the spectrum calculation circuit 120 calculated spectrum (S208). The process after S208 may be performed in parallel with the process after S206.
Die
Modellbestimmungsschaltung 160 vergleicht jeden von der
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert berechneten theoretischen Wert mit dem von der Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechneten
gemessenen Wert, um den Typ der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltenen determinierten Komponente zu bestimmen (S210). Die vorstehend
beschriebenen Prozesse ermöglichen, dass das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente den Typ der determinierten Komponente
genau bestimmt.The model determination circuit 160 compares each of the calculation circuit 140 for a theoretical value calculated theoretical value with that of the measured value calculating circuit 150 calculated measured value to determine the type of the deterministic component contained in the probability density function (S210). The processes described above allow the identification device 100 for the deterministic component, exactly determines the type of deterministic component.
12 zeigt
eine andere beispielhafte Konfiguration des Identifizierungsgeräts 100 für
die determinierte Komponente. Das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
berechnet das Trapezverhältnis α einer trapezförmigen
Verteilung folgenden determinierten Komponente. Das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
hat dieselbe Konfiguration wie das mit Bezug auf 1 beschriebene
Identifizierungsgerät 100 für die determinierte
Komponente, mit der Ausnahme, dass die Modellbestimmungsschaltung 160 durch eine
Verhältnisberechnungsschaltung 190 ersetzt ist.
Die Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110, die Spektrumberechnungsschaltung 120,
die Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130, die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert und die Messwert-Berechnungsschaltung 150 können
dieselbe Funktion und Konfiguration wie die Elemente mit denselben
Bezugszahlen in den 1 bis 11 haben. 12 shows another exemplary configuration of the identification device 100 for the deterministic component. The identification device 100 for the deterministic component according to the present embodiment, the trapezoidal ratio α of a trapezoidal distribution calculates the following deterministic component. The identification device 100 for the deterministic component of the present embodiment has the same configuration as that with reference to FIG 1 described identification device 100 for the deterministic component, except that the model determination circuit 160 by a ratio calculation circuit 190 is replaced. The standard deviation calculation circuit 110 , the spectrum calculation circuit 120 , the zero-frequency detection circuit 130 , the calculation circuit 140 for a theoretical value and the measured value calculating circuit 150 can have the same function and configuration as the elements with the same reference numbers in the 1 to 11 to have.
Die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 berechnet das
Trapezverhältnis α auf der Grundlage der von der
Standardabweichungs-Berechnungsschaltung 110 berechneten
Standardabweichung der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, des von
der Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten Spektrums
der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion und der von der Nullfrequenz-Erfassungsschaltung 130 erfassten
Nullfrequenz. Wie in den Ausdrücken 4 und 4' gezeigt ist,
wird das Spektrum der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, die erhalten
wird, wenn die in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthaltene
determinierte Komponente einer trapezförmigen Verteilung
folgt, bestimmt gemäß der ersten Nullfrequenz
fzero, der Standardabweichung σTJ,RMS der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
und dem Trapezverhältnis α. Daher kann das Trapezverhältnis
anhand des Spektrums der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion, der
ersten Nullfrequenz fzero und der Standardabweichung σTJ,RMS der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
berechnet werden.The ratio calculation circuit 190 calculates the trapezoid ratio α on the basis of the standard deviation calculating circuit 110 calculated standard deviation of the probability density function, that of the spectrum calculation circuit 120 calculated spectrum of the probability density function and that of the zero-frequency detection circuit 130 detected zero frequency. As shown in expressions 4 and 4 ', the spectrum of the probability density function obtained when the deterministic component contained in the probability density function follows a trapezoidal distribution determined according to the first null frequency f zero , the standard deviation σ TJ, RMS of the probability density function and the trapezoid ratio α. Therefore, the trapezoid ratio can be calculated from the spectrum of the probability density function, the first null frequency f zero, and the standard deviation σ TJ, RMS of the probability density function.
Die
Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnet den gemessenen
Wert des Spektrums der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltenen determinierten Komponente auf der Grundlage der von
der Standardab weichungs-Berechnungsschaltung 110 berechneten
Standardabweichung σTJ,RMS und
des von der Spektrumberechnungsschaltung 120 berechneten
Spektrums H(x). Beispielsweise berechnet die Messwert-Berechnungsschaltung 150 den
gemessenen Wert des Spektrums unter Verwendung des Ausdrucks 8. Die
Messwert-Berechnungsschaltung 150 kann stattdessen den
gemessen Wert Y(x1) des Spektrums bei einer voreingestellten Frequenz
x1, berechnen, wobei x1 = f1/fzero ist.The measured value calculation circuit 150 calculates the measured value of the spectrum of the deterministic component included in the probability density function on the basis of the standard deviation calculating circuit 110 calculated standard deviation σ TJ, RMS and that of the spectrum calculation circuit 120 calculated spectrum H (x). For example, the measured value calculating circuit calculates 150 the measured value of the spectrum using the expression 8. The measured value calculating circuit 150 may instead calculate the measured value Y (x1) of the spectrum at a preset frequency x1, where x1 = f1 / fzero .
Die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 berechnet das
Trapezverhältnis α derart, dass der theoretische
Wert des Spektrums der durch das Trapezverhältnis α bestimmten
determinierten Komponente und die erste Nullfrequenz fzero nahe
dem gemessenen Wert des Spektrums sind. Beispielsweise ist die Verhältnisberechnungsschaltung 190 mit
den theoretischen Werten der Spektren der determinierten Komponente
entsprechend mehreren unterschiedlichen eingestellten Trapezverhältnissen α versehen
und wählt das Trapezverhältnis α aus,
das dem theoretischen Wert entspricht, das dem von der Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechneten
gemessenen Wert am nächsten ist.The ratio calculation circuit 190 calculates the trapezoidal ratio α such that the theoretical value of the spectrum of the deterministic component determined by the trapezoidal ratio α and the first null frequency f zero are close to the measured value of the spectrum. For example, the ratio calculation circuit is 190 is provided with the theoretical values of the spectrums of the deterministic component corresponding to a plurality of different set trapezoid ratios α, and selects the trapezoidal ratio α corresponding to the theoretical value corresponding to that of the measured value calculating circuit 150 closest to the calculated measured value.
Die
Berechnungsschaltung 140 für den theoretischen
Wert kann den theoretischen Wert des Spektrums jeder determinierten
Komponente entsprechend den mehreren Trapezverhältnissen α berechnen.
Zu dieser Zeit kann die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert den theoretischen Wert bei der voreingestellten
Frequenz x1 berechnen. Die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert kann den theoretischen Wert für
jedes Trapezverhältnis α unter Verwendung des
Ausdrucks 4' berechnen.The calculation circuit 140 for the theoretical value, the theoretical value of the spectrum of each deterministic component corresponding to the plurality of trapezoidal ratios α can be calculated. At this time, the calculation circuit 140 for a theoretical value, calculate the theoretical value at the preset frequency x1. The calculation circuit 140 for a theoretical value, the theoretical value for each trapezoid ratio α can be calculated using the expression 4 '.
Die
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen Wert
teilt der Verhältnisberechnungsschaltung 190 die
theoretischen Werte entsprechend den mehreren Trapezverhältnissen α mit.
Wie vorstehend beschrieben ist, kann die Verhältnisberechnungsschaltung 190 diese
theoretischen Werte mit dem von der Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechneten
gemessenen Wert vergleichen und das Trapezverhältnis α auswählen,
das dem dem gemessenen Wert nächsten theoretischen Wert
entspricht. Die Verhältnisberechnungsschaltung 190 kann
ein Trapezverhältnis berechnen, das einem theoretischen
Wert entspricht, der im Wesentlichen gleich dem gemessenen Wert
ist, durch Interpolieren eines theoretischen Werts zwischen den
Trapezverhältnissen α, die von der Berechnungsschaltung 140 für
den theoretischen Wert verwendet werden. Zu dieser Zeit kann die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 bekannte Interpolationstechniken
wie lineare Interpolation oder Splineinterpolation verwenden.The calculation circuit 140 for a theoretical value, the ratio calculation circuit divides 190 the theoretical values corresponding to the multiple trapezoid ratios α. As described above, the ratio calculation circuit 190 these theoretical values with that of the measured value calculating circuit 150 Compare the calculated measured value and select the trapezoidal ratio α corresponding to the theoretical value closest to the measured value. The ratio calculation circuit 190 may calculate a trapezoidal ratio corresponding to a theoretical value substantially equal to the measured value by interpolating a theoretical value between the trapezoidal ratios α generated by the calculating circuit 140 be used for the theoretical value. At this time, the ratio calculation circuit 190 use known interpolation techniques such as linear interpolation or spline interpolation.
Ein
anderes Verfahren zum Bestimmen des Trapezverhältnisses α enthält
die Verhältnisberechnungsschaltung 190, die einen
Ausdruck zum Erhalten des Trapezverhältnisses α erzeugt
auf der Grundlage der mehreren theoretischen Werte entsprechend
den Trapezverhältnissen α, die von der Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert geliefert werden, mit dem gemessenen Wert
H(x1) des Spektrums der determinierten Komponente bei der vorgeschriebenen
Frequenz x1 als einer Variablen. Beispielsweise kann die Verhältnisberechnungsschaltung 190 eine
Kombination aus N Gruppen von Trapezverhältnissen α und
theoretischen Werten Hideal(x1) von der
Berechnungsschaltung 140 für einen theoretischen
Wert empfangen.Another method for determining the trapezoid ratio α includes the ratio calculation circuit 190 which produces an expression for obtaining the trapezoidal ratio α on the basis of the plural theoretical values corresponding to the trapezoidal ratios α given by the calculating circuit 140 for a theoretical value, with the measured value H (x1) of the spectrum of the deterministic component at the prescribed frequency x1 as a variable. For example, the ratio calculation circuit 190 a combination of N sets of trapezium ratios α and theoretical values H ideal (x1) from the calculation circuit 140 received for a theoretical value.
Die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 kann dann einen
Ausdruck erzeugen, der α angenähert ist, mit ei nem
Polynom N-1-ter Ordnung der theoretischen Werte Hideal(x1).
Hier kann, wenn der theoretische Wert Hideal(x1)
= m ist, der Annäherungsausdruck N-1-ter Ordnung anhand
des nachfolgenden Ausdrucks 9 erhalten werden. Es ist zu beachten,
dass ki einen Koeffizienten i-ter Ordnung
darstellt. Ausdruck
9: The ratio calculation circuit 190 can then produce an expression approximating α with an N-1 order polynomial of theoretical values H ideal (x1). Here, when the theoretical value H ideal (x1) = m, the approximate expression N-1th order can be obtained from the following expression 9. It should be noted that k i represents an i-th order coefficient. Expression 9:
Die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 kann das Trapezverhältnis α berechnen
durch Einsetzen des gemessenen Wertes H(x) des Spektrums der determinierten
Komponente, der durch die Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnet
wurde, für x im Ausdruck 9. Diese Technik kann ebenfalls
verwendet werden, um das Trapezverhältnis α zu
bestimmen.The ratio calculation circuit 190 For example, the trapezoid ratio α can be calculated by substituting the measured value H (x) of the spectrum of the deterministic component determined by the measured value calculating circuit 150 for x in expression 9. This technique can also be used to determine the trapezoid ratio α.
Die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 enthält
noch ein anderes Verfahren zum Bestimmen des Trapezverhältnisses α,
bei dem eine Schalttechnik wie eine Halbierung angewendet wird,
um ein Trapezverhältnis α zu erfassen, das bewirkt,
dass die Differenz zwischen (i) dem theoretischen Wert, der erhalten
wird, wenn ein vorgeschriebenes Trapezverhältnis α in
den Ausdruck 4 eingesetzt wird, und (ii) dem gemessenen Wert, der
von der Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnet wird,
in einen vorgeschriebenen annehmbaren Bereich fällt. Diese
Technik kann ebenfalls angewendet werden, um das Trapezverhältnis α zu
bestimmen.The ratio calculation circuit 190 Still another method for determining the trapezoidal ratio α, in which a switching technique such as halving is applied to detect a trapezoidal ratio α, causes the difference between (i) the theoretical value obtained when a prescribed trapezoid ratio α is inserted into the expression 4, and (ii) the measured value obtained from the measured value calculating circuit 150 calculated falls within a prescribed acceptable range. This technique can also be used to determine the trapezoid ratio α.
13 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation des mit Bezug
auf 12 beschriebenen Identifizierungsgeräts 100 für
die determinierte Komponente zeigt. Bei dem vorliegenden Ausführungsbei spiel
können die Prozesse von S200 bis S208 dieselben wie die
mit Bezug auf 11 beschriebenen Prozesse von
S200 bis S2008 sein. Nach dem Prozess von S208 berechnet die Verhältnisberechnungsschaltung 190 das
Trapezverhältnis α, das das Verhältnis
zwischen dem oberen Bereich und dem unteren Bereich in der Verteilung
der determinierten Komponente (S212) ist. Als ein Ergebnis der vorbeschriebenen
Prozesse kann das Trapezverhältnis der determinierten Komponente,
die einer in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthaltenen trapezförmigen
Verteilung folgt, berechnet werden. 13 FIG. 10 is a flowchart illustrating an exemplary operation of FIG 12 described identification device 100 for the deterministic component. In the present embodiment, the processes from S200 to S208 may be the same as those described with reference to FIGS 11 be described processes from S200 to S2008. After the process of S208, the ratio calculation circuit calculates 190 the trapezoidal ratio α, which is the ratio between the upper region and the lower region in the distribution of the deterministic component (S212). As a result of the above-described processes, the trapezoidal ratio of the deterministic component following a trapezoidal distribution included in the probability density function can be calculated.
14 zeigt
eine andere beispielhafte Konfiguration des Identifizierungsgeräts 100 für
die determinierte Komponente. Das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
ist weiterhin mit der Verhältnisberechnungsschaltung 190 zusätzlich
zu der Konfiguration des mit Bezug auf 1 beschriebenen
Identifizierungsgeräts 100 für die determinierte
Komponente versehen. Die Verhältnisberechnungsschaltung 190 kann
dieselbe wie die mit Bezug auf 12 beschriebene
Verhältnisberechnungsschaltung 190 sein. 14 shows another exemplary configuration of the identification device 100 for the deterministic component. The identification device 100 for the deterministic component according to the present Embodiment is further with the ratio calculation circuit 190 in addition to the configuration of with reference to 1 described identification device 100 provided for the deterministic component. The ratio calculation circuit 190 can be the same as the ones related to 12 described ratio calculation circuit 190 be.
Das
Identifizierungsgerät 100 für die determinierte
Komponente nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel verwendet
die Modellbestimmungsschaltung 160, um zu bestimmen, ob
die in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthaltene determinierte
Komponente einer trapezförmigen Verteilung folgt. Die Modellbestimmungsschaltung 160 kann
bestimmen, ob das Modell der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltenen determinierten Komponente eines Sinusverteilung, eine
gleichförmige Verteilung, eine duale Dirac-Verteilung,
eine trapezförmige Verteilung oder dergleichen ist. Wenn
die Modellbestimmungsschaltung 160 bestimmt, dass die in
der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthaltende determinierte
Komponente einer trapezförmigen Verteilung folgt, berechnet
die Verhältnisberechnungsschaltung 190 das Trapezverhältnis α der
determinierten Komponente.The identification device 100 for the deterministic component according to the present embodiment uses the model determination circuit 160 to determine if the deterministic component contained in the probability density function follows a trapezoidal distribution. The model determination circuit 160 may determine whether the model of the deterministic component of a sine distribution included in the probability density function is a uniform distribution, a dual Dirac distribution, a trapezoidal distribution, or the like. When the model determination circuit 160 determines that the deterministic component contained in the probability density function follows a trapezoidal distribution, calculates the ratio calculation circuit 190 the trapezoidal ratio α of the deterministic component.
Bei
dem in 8 beschriebenen Beispiel wird das Modell der determinierten
Komponente als eine trapezförmige Verteilung bestimmt,
wenn der gemessene Wert nahe dem theoretischen Wert einer trapezförmigen
Verteilung mit einem Trapezverhältnis α = 0,2
ist. Jedoch kann das Trapezverhältnis α einer
trapezförmigen Verteilung jeder Wert zwischen 0 und 1 sein.
Wenn daher der von der Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechnete
gemessene Wert zwischen dem theoretischen Wert einer dreieckförmigen
Verteilung, die ein Trapezverhältnis von α = 0
hat, und dem theoretischen Wert einer gleichförmigen Verteilung,
die ein Trapezverhältnis von α = 1 hat, ist, bestimmt
die Modellbestimmungsschaltung 160, dass das Modell der
determinierten Komponente eine trapezförmige Verteilung
ist.At the in 8th described example, the model of the deterministic component is determined as a trapezoidal distribution when the measured value is close to the theoretical value of a trapezoidal distribution with a trapezoidal ratio α = 0.2. However, the trapezoidal ratio α of a trapezoidal distribution may be any value between 0 and 1. Therefore, if that of the measured value calculation circuit 150 calculated measured value between the theoretical value of a triangular distribution having a trapezoid ratio of α = 0 and the theoretical value of a uniform distribution having a trapezoid ratio of α = 1 is determined by the model determining circuit 160 in that the model of the deterministic component is a trapezoidal distribution.
Als
ein anderes Beispiel bestimmt die Modellbestimmungsschaltung 160 das
Modell der determinierten Komponente als eine trapezförmige
Verteilung, wenn der gemessene Wert nahe dem theoretischen Wert einer
trapezförmigen Verteilung mit einem vorgeschriebenen Trapezverhältnis
wie α = 0,5 ist. Als ein Ergebnis der vorbeschriebenen
Prozesse kann das Modell der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltenen determinierten Komponente bestimmt werden und, wenn
das Modell der determinierten Komponente eine trapezförmige
Verteilung ist, das Trapezverhältnis α der trapezförmigen
Verteilung berechnet werden. Daher kann die Form der Verteilung
der determinierten Komponente genau identifiziert werden.As another example, the model determination circuit determines 160 the model of the deterministic component as a trapezoidal distribution when the measured value is close to the theoretical value of a trapezoidal distribution having a prescribed trapezoid ratio such as α = 0.5. As a result of the processes described above, the model of the deterministic component contained in the probability density function can be determined, and if the model of the deterministic component is a trapezoidal distribution, the trapezoidal ratio α of the trapezoidal distribution is calculated. Therefore, the shape of the distribution of the deterministic component can be accurately identified.
Das
Identifizierungsgerät 100 für die determinierte
Komponente nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel kann
auch mit der Berechnungsschaltung 170 für die
determinierte Komponente und der Zufallskomponenten-Berechnungsschaltung 180,
die mit Bezug auf 10 beschrieben sind, versehen
sein. In diesem Fall kann die Berechnungsschaltung 170 für
die determinierte Komponente weiterhin das von der Verhältnisberechnungsschaltung 1790 berechnete
Trapezverhältnis α empfangen. Die Berechnungsschaltung 170 für die
determinierte Komponente kann die mit Bezug auf 7 beschriebenen
Ausdrücke verwenden, um die determinierte Komponente auf
der Grundlage des Typs der determinierten Komponente, der ersten
Nullfrequenz fzero und der trapezförmigen
Verteilung α berechnen.The identification device 100 for the deterministic component according to the present embodiment can also be used with the calculation circuit 170 for the deterministic component and the random component calculation circuit 180 related to 10 Be described, be provided. In this case, the calculation circuit 170 for the deterministic component, that of the ratio calculation circuit 1790 calculated trapezoid ratio α received. The calculation circuit 170 for the deterministic component, the with reference to 7 Use the expressions described to calculate the deterministic component based on the type of deterministic component, the first null frequency f zero and the trapezoidal distribution α.
15 ist
ein Flussdiagramm, das eine beispielhafte Operation des in 14 gezeigten
Identifizierungsgeräts für die determinierte Komponente
zeigt. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel können
die Prozesse von S200 bis S210 dieselben wie die mit Bezug auf 11 beschriebenen
Prozesse von S200 bis S210 sein. Nach dem Prozess von S210 bestimmt
die Modellbestimmungsschaltung 160, ob das Modell der determinierten
Komponente eine trapezförmige Verteilung ist (S211). Wenn
das Modell der determinierten Komponente eine trapezförmige
Verteilung ist, informiert die Modellbestimmungsschaltung 160 die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 über
diesen Umstand. Wenn das Modell der determinierten Komponente nicht
eine trapezförmige Verteilung ist, kann das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente die Reihe von Prozessen beenden. 15 FIG. 10 is a flowchart illustrating an exemplary operation of the in 14 shows the identification device for the deterministic component shown. In the present embodiment, the processes from S200 to S210 may be the same as those described with reference to FIG 11 be described processes from S200 to S210. After the process of S210, the model determination circuit determines 160 whether the model of the deterministic component is a trapezoidal distribution (S211). If the model of the deterministic component is a trapezoidal distribution, the model determination circuit informs 160 the ratio calculation circuit 190 about this circumstance. If the model of the deterministic component is not a trapezoidal distribution, the identification device may 100 terminate the set of processes for the deterministic component.
Bei
Empfang der Mitteilung von der Modellbestimmungsschaltung 160 berechnet
die Verhältnisberechnungsschaltung 190 das Trapezverhältnis α (S212).
Zu dieser Zeit kann die Berechnungsschaltung 140 für
einen theoretischen Wert jeden in Bezug auf 12 beschriebenen
theoretischen Wert berechnen und diese theoretischen Werte zu der
Verhältnisberechnungsschaltung 190 liefern. Die
Verhältnisberechnungsschaltung 190 berechnet das
Trapezverhältnis α durch Vergleichen des von der
Messwert-Berechnungsschaltung 150 berechneten Messwerts
mit den von der Berechnungsschaltung 140 für einen
theoretischen Wert berechneten theoretischen Werten. Als ein Ergebnis
der vorbeschriebenen Prozesse kann das Modell der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltenen determinierten Komponente bestimmt werden und, wenn
das Modell der determinierten Komponente eine trapezförmige
Verteilung ist, das Trapezverhältnis α der trapezförmigen
Verteilung berechnet werden.Upon receipt of the message from the model determination circuit 160 calculates the ratio calculation circuit 190 the trapezoidal ratio α (S212). At this time, the calculation circuit 140 for a theoretical value everyone in terms of 12 calculated theoretical value and these theoretical values to the ratio calculation circuit 190 deliver. The ratio calculation circuit 190 calculates the trapezoidal ratio α by comparing that from the measured value calculating circuit 150 calculated value with that of the calculation circuit 140 theoretical values calculated for a theoretical value. As a result of the processes described above, the model of the deterministic component contained in the probability density function can be determined and, if the model of the deterministic component is a trapezoidal distribution, the trapezoidal ratio α is the trapezoidal calculated distribution.
16 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration eines Prüfsystems 300 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Das Prüfsystem 300 prüft
eine geprüfte Vorrichtung wie eine Halbleiterschaltung
oder eine Kommunikationsvorrichtung. Das Prüfsystem 300 enthält
eine Messschaltung 320, das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente und eine Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330. Die
Messschaltung 320 misst mehrere Male eine vorgeschriebene
Charakteristik der geprüften Vorrichtung 310,
um eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion der gemessenen Werte der
Charakteristik zu erzeugen. Beispielsweise misst die Messschaltung 320 das
Jitter, die Spannung, den Strom oder dergleichen eines von der geprüften
Vorrichtung 310 ausgegebenen Signals. 16 shows an exemplary configuration of a test system 300 according to an embodiment of the present invention. The test system 300 checks a device under test such as a semiconductor circuit or a communication device. The test system 300 contains a measuring circuit 320 , the identification device 100 for the deterministic component and an acceptability judgment circuit 330 , The measuring circuit 320 measures several times a prescribed characteristic of the tested device 310 to generate a probability density function of the measured values of the characteristic. For example, the measuring circuit measures 320 the jitter, voltage, current or the like of one of the device under test 310 output signal.
Das
Identifizierungsgerät 100 für die determinierte
Komponente bestimmte den Typ der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthaltenen determinierten Komponente der von der Messschaltung 320 gemessenen
Charakteristikwerte. Das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente berechnet zumindest eine von der determinierten
Komponente und der Zufallskomponente, die in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
enthalten sind. Das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente kann dasselbe sein wie das mit Bezug
auf 10 beschriebene Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente.The identification device 100 for the deterministic component, determines the type of deterministic component of the measurement circuit included in the probability density function 320 measured characteristic values. The identification device 100 for the deterministic component, calculates at least one of the deterministic component and the random component included in the probability density function. The identification device 100 for the deterministic component may be the same as that with reference to 10 described identification device 100 for the deterministic component.
Die
Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330 beurteilt die Annehmbarkeit
der geprüften Vorrichtung 310 auf der Grundlage
der von dem Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente berechneten determinierten Komponente
oder Zufallskomponente. Beispielsweise kann die Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330 beurteilen,
ob die von dem Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente berechnete determinierte Komponente
oder Zufallskomponente eine vorgeschriebene Bedingung erfüllt.
Die vorstehend beschriebene Konfiguration ermöglicht, dass
das Prüfsystem 300 die Annehmbarkeit der geprüften
Vorrichtung 310 genau beurteilt.The acceptability judgment circuit 330 assesses the acceptability of the device under test 310 on the basis of that of the identification device 100 calculated deterministic component or random component for the deterministic component. For example, the acceptability judgment circuit 330 judge whether that of the identification device 100 deterministic component calculated for the deterministic component or random component satisfies a prescribed condition. The configuration described above allows the test system 300 the acceptability of the tested device 310 accurately judged.
17 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration einer elektronischen Vorrichtung 400 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Die elektronische
Vorrichtung 400 nach dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
arbeitet gemäß einem von einem Eingangsstift 402 zugeführten
Signal, um ein vorgeschriebenes erzeugtes Signal von einem Ausgangsstift 404 auszugeben.
Die elektronische Vorrichtung 400 enthält eine
Operationsschaltung 410, die Messschaltung 320,
das Identifizierungsgerät 100 für die
determinierte Komponente und die Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltungsschaltung 330. 17 shows an exemplary configuration of an electronic device 400 according to an embodiment of the present invention. The electronic device 400 according to the present embodiment operates in accordance with one of an input pin 402 supplied signal to a prescribed generated signal from an output pin 404 issue. The electronic device 400 contains an operational circuit 410 , the measuring circuit 320 , the identification device 100 for the deterministic component and the acceptability judgment circuit 330 ,
Die
Operationsschaltung 410 arbeitet gemäß einem
zu dieser gelieferten Signal. Die Operationsschaltung 410 kann
ein vorgeschriebenes Signal gemäß einem Ergebnis
der Operation erzeugen. Die Messschaltung 320, das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente und die Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330 können
als eine BIST-Schaltung arbeiten, die prüft, ob die Operationsschaltung 410 ordnungsgemäß arbeitet.The operation circuit 410 operates according to a signal supplied to this. The operation circuit 410 may generate a prescribed signal according to a result of the operation. The measuring circuit 320 , the identification device 100 for the deterministic component and the acceptability judgment circuit 330 can work as a BIST circuit, which checks if the operation circuit 410 works properly.
Die
Messschaltung 320 führt mehrere Messungen einer
vorgeschriebenen Charakteristik eines von der Operationsschaltung 410 erzeugten
vorgeschriebenen Signals durch, um eine Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion
zu erzeugen. Das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente berechnet die determinierte Komponente
und die Zufallskomponente, die in der von der Messschaltung 320 erzeugten
Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthalten sind. Die Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330 beurteilt
die Annehmbarkeit der Operationsschaltung 410 auf der Grundlage
der von dem Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente berechneten determinierten Komponente
und Zufallskomponente. Die Messschaltung 320, das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente und die Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330 können
dieselben wie die Messschaltung 320, das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente und die Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330,
die mit Bezug auf 16 beschrieben wurden, sein.The measuring circuit 320 performs several measurements of a prescribed characteristic of one of the operational circuit 410 generated prescribed signal to produce a probability density function. The identification device 100 for the deterministic component calculates the deterministic component and the random component that in the of the measurement circuit 320 generated probability density function are included. The acceptability judgment circuit 330 judges the acceptability of the operation circuit 410 on the basis of that of the identification device 100 deterministic component and random component calculated for the deterministic component. The measuring circuit 320 , the identification device 100 for the deterministic component and the acceptability judgment circuit 330 can be the same as the measurement circuit 320 , the identification device 100 for the deterministic component and the acceptability judgment circuit 330 related to 16 be described.
Die
Annehmbarkeitsbeurteilungsschaltung 330 kann stattdessen
das Annehmbarkeitsbeurteilungsergebnis über einen Prüfstift 406 nach
außen ausgeben. Die vorbeschriebene Konfiguration sieht
eine elektronische Vorrichtung 400 vor, die eine interne
Operationsschaltung 410 genau bewerten kann.The acceptability judgment circuit 330 Instead, the acceptability judgment result can be via a test pin 406 spend to the outside. The above configuration sees an electronic device 400 ago, which is an internal operation circuit 410 can accurately evaluate.
18 zeigt
ein Beispiel für eine Hardwarekonfiguration eines Computers 1900 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Der Computer 1900 arbeitet
als das mit Bezug auf die 1 bis 15 beschriebene
Identifizierungsgerät 100 für die determinierte
Komponente auf der Grundlage eines diesem zugeführten Programms.
Das Programm kann bewirken, dass der Computer 1900 als
jedes Element des mit Bezug auf die 1 bis 15 beschriebenen
Identifizierungsgeräts 100 für die determinierte
Komponente arbeitet. 18 shows an example of a hardware configuration of a computer 1900 according to an embodiment of the present invention. The computer 1900 works as that with respect to the 1 to 15 described identification device 100 for the deterministic component based on a program supplied thereto. The program can cause the computer 1900 as any element of the respect to the 1 to 15 described identification device 100 works for the deterministic component.
Der
Computer 1900 gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel ist versehen mit CPU-Peripheriegeräten
enthaltend eine CPU 2000, einen RAM 2020, eine
Grafiksteuervorrichtung 2075 und ein Anzeigegerät 2080,
die sämtlich durch eine Hoststeuervorrichtung miteinander
verbunden sind; einer Eingangs-/Ausgangsschaltung enthaltend eine
Kommunikationsschnittstelle 2030, ein Plattenlaufwerk 2040 und
eine CD-ROM-Laufwerk 2060, die sämtlich durch
eine Eingangs-/Ausgangs-Steuervorrichtung 2084 mit der
Hoststeuervorrichtung 2082 verbunden sind; und eine Vermächtnis-Eingangs/Ausgangs-Schaltung
enthaltend einen ROM 2010, ein Diskettenlaufwerk 2050 und
ein Eingangs/Ausgangs-Chip 2070, die sämtlich
mit der Eingangs/Ausgangs-Steuervorrichtung 2084 verbunden
sind.The computer 1900 According to the present embodiment, it is provided with CPU peripherals including a CPU 2000 , a ram 2020 , a graphics controller 2075 and a display device 2080 all interconnected by a host controller; an input / output circuit containing a communication interface 2030 , a disk drive 2040 and a CD-ROM drive 2060 all through an input / output control device 2084 with the host controller 2082 are connected; and a legacy input / output circuit including a ROM 2010 , a floppy drive 2050 and an input / output chip 2070 all with the input / output control device 2084 are connected.
Die
Hoststeuervorrichtung 2082 ist mit dem RAM 2020 verbunden
und auch mit der CPU 2000 und der Grafiksteuervorrichtung 2075,
die mit einer hohen Übertragungsgeschwindigkeit zu dem
RAM 2020 zugreifen, verbunden. Die CPU 2000 arbeitet,
um jede Schaltung auf der Grundlage von in dem ROM 2010 und
dem RAM 2020 gespeicherten Programmen zu steuern. Die Grafiksteuervorrichtung 2075 erwirbt
durch die CPU 2000 oder dergleichen erzeugte Bilddaten
in einem Rahmenpuffer, der innerhalb des RAM 2020 angeordnet
ist, und zeigt die Bilddaten auf dem Anzeigegerät 2080 an.
Zusätzlich kann die Grafiksteuervorrichtung 2075 intern
den Rahmenpuffer enthalten, der die durch die CPU 2000 oder
dergleichen erzeugten Bilddaten speichert.The host controller 2082 is with the ram 2020 connected and also with the CPU 2000 and the graphics controller 2075 that with a high transfer rate to the RAM 2020 access, connected. The CPU 2000 works to any circuit based on in the ROM 2010 and the RAM 2020 to control stored programs. The graphics controller 2075 acquired by the CPU 2000 or the like generated image data in a frame buffer stored within the RAM 2020 is arranged, and displays the image data on the display device 2080 at. Additionally, the graphics controller may 2075 internally contain the frame buffer that is being used by the CPU 2000 or the like stored image data stores.
Die
Eingangs/Ausgangs-Steuervorrichtung 2084 verbindet die
Kommunikationsschnittstelle 2030, die als ein Eingangs-/Ausgangsgerät
mit relativ hoher Geschwindigkeit dient, das Plattenlaufwerk 2040 und
das CD-ROM-Laufwerk 2060 mit der Hoststeuervorrichtung 2082.
Die Kommunikationsschnittstelle 2030 kommuniziert über
ein Netzwerk mit anderen Geräten. Das Plattenlaufwerk 2040 speichert
die Programme und Daten, die von der in dem Computer 1900 aufgenommene
CPU 2000 verwendet werden. Das CD-ROM-Laufwerk 2060 liest
die Programme und Daten von einem CD-ROM 2095 und liefert
die gelesenen Informationen über den ROM 2020 zu
dem Plattenlaufwerk 2040.The input / output control device 2084 connects the communication interface 2030 serving as a relatively high speed input / output device, the disk drive 2040 and the CD-ROM drive 2060 with the host controller 2082 , The communication interface 2030 communicates with other devices over a network. The disk drive 2040 stores the programs and data that are stored in the computer 1900 recorded CPU 2000 be used. The CD-ROM drive 2060 reads the programs and data from a CD-ROM 2095 and provides the read information about the ROM 2020 to the disk drive 2040 ,
Weiterhin
ist die Eingangs/Ausgangs-Steuervorrichtung 2084 mit dem
ROM 210 verbunden und auch mit dem Diskettenlaufwerk 2050 und
dem Eingangs/Ausgangs-Chip 2070 verbunden, das als ein
Eingangs/Ausgangs-Gerät mit relativ hoher Geschwindigkeit
dient. Der ROM 2010 speichert ein Startprogramm, das ausgeführt
wird, wenn der Computer 1900 startet, ein Programm das
sich auf die Hardware des Computers 1900 stützt,
und der gleichen. Das Diskettenlaufwerk 2050 liest Programme
oder Daten von einer Diskette 2090 und liefert die gelesenen
Informationen über den RAM 2020 zu dem Plattenlaufwerk 2040.
Das Eingangs/Ausgangs-Chip 2070 verbindet das Diskettenlaufwerk 2050 über
beispielsweise ein paralleles Tor, ein serielles Tor, ein Tastaturtor,
ein Maustor oder dergleichen mit jedem der Eingangs/Ausgangs-Geräte.Furthermore, the input / output control device 2084 with the ROM 210 connected and also with the floppy disk drive 2050 and the input / output chip 2070 connected, which serves as a relatively high-speed input / output device. The ROM 2010 saves a launcher that runs when the computer is running 1900 starts a program that affects the hardware of the computer 1900 supports, and the same. The floppy disk drive 2050 reads programs or data from a floppy disk 2090 and provides the read information about the RAM 2020 to the disk drive 2040 , The input / output chip 2070 connects the floppy disk drive 2050 for example, a parallel port, a serial port, a keyboard gate, a mouse gate or the like with each of the input / output devices.
Die über
den RAM 2020 zu dem Plattenlaufwerk 2040 gelieferten
Programme werden in einem Speichermedium gespeichert, wie der Diskette 2090,
dem CD-ROM 2095 oder einer IC-Karte, und durch einen Benutzer
geliefert. Die Programme werden von dem Speichermedium gelesen,
in dem Plattenlaufwerk 2040 innerhalb des Computers 1900 über
den RAM 2020 installiert und durch die CPU 2000 ausgeführt.
Diese Programme sind in dem Computer 1900 installiert.
Diese Programme bewirken, dass die CPU 2000 oder dergleichen
bewirken, dass der Computer 1900 als das Identifizierungsgerät 100 für
die determinierte Komponente arbeitet.The over the RAM 2020 to the disk drive 2040 delivered programs are stored in a storage medium, such as the floppy disk 2090 , the CD-ROM 2095 or an IC card, and supplied by a user. The programs are read from the storage medium in the disk drive 2040 inside the computer 1900 over the RAM 2020 installed and through the CPU 2000 executed. These programs are in the computer 1900 Installed. These programs cause the CPU 2000 or the like cause the computer 1900 as the identification device 100 works for the deterministic component.
Die
vorgenannten Programme können auch in einem externen Speichermedium
gespeichert sein. Die Diskette 2090, der CD-ROM 2095,
ein optisches Speichermedium wie eine DVD oder CD, ein magnetooptisches
Speichermedium, ein Bandmedium, ein Halbleiterspeicher wie eine
IC-Karte oder dergleichen können als das Speichermedium
verwendet werden. Weiterhin kann ein Speichergerät wie
eine Platte oder ein RAM, das mit einem mit dem Internet verbundenen
Serversystem vorgesehen ist, oder ein spezialisiertes Kommunikationsnetzwerk
verwendet werden, um über das Netzwerk die Programme zu
dem Computer 1900 zu liefern.The aforementioned programs can also be stored in an external storage medium. The disk 2090 , the CD-ROM 2095 An optical storage medium such as a DVD or CD, a magneto-optical storage medium, a tape medium, a semiconductor memory such as an IC card or the like can be used as the storage medium. Furthermore, a storage device such as a disk or a RAM provided with a server system connected to the Internet or a specialized communication network may be used to transfer the programs to the computer through the network 1900 to deliver.
Während
die Ausführungsbeispiele der Erfindung be schrieben wurden,
ist der technische Bereich der Erfindung nicht auf die vorbeschriebenen
Ausführungsbeispiele beschränkt. Es ist für
den Fachmann augenscheinlich, dass verschiedene Änderungen
und Verbesserungen zu den vorbeschriebenen Ausführungsbeisielen
hinzugefügt werden können. Es ist auch anhand
des Bereichs der Ansprüche ersichtlich, dass die Ausführungsbeispiele,
denen derartige Änderungen und Verbesserungen hinzugefügt
sind, in den technischen Bereich der Erfindung einbezogen werden
können.While
the embodiments of the invention were described be,
the technical scope of the invention is not limited to those described above
Embodiments limited. It is for
the expert evident that various changes
and improvements to the above-described embodiments
can be added. It is also based
the scope of the claims that the embodiments,
which added such changes and improvements
are included in the technical scope of the invention
can.
Die
Operationen, Verfahren, Schritte und Stufen jedes durch ein Gerät,
System, Programm durchgeführt wird, und in den Ansprüchen,
Ausführungsbeispielen oder Diagrammen gezeigte Verfahren
können in jeder Reihenfolge durchgeführt werden,
solange wie die Reihenfolge nicht durch ”früher”, ”vorher”,
oder dergleichen angezeigt wird, und solange wie das Ausgangssignal
von einem vorhergehenden Prozess nicht in einem späteren
Prozess verwendet wird. Selbst wenn der Prozessfluss unter Verwendung
von Ausdrücken wie ”erster” oder ”nächster” in
den Ansprüchen, Ausführungsbeispielen oder Diagrammen
beschrieben ist, bedeutet dies nicht notwendigerweise, dass der
Prozess in dieser Reihenfolge ausgeführt werden muss.The operations, procedures, steps, and stages of each process performed by a device, system, program, and methods shown in the claims, embodiments, or diagrams may be performed in any order as long as the order is not preceded by "earlier,""before," or the like, and as long as the output from a previous process is not in one later process is used. Even if the process flow is described using terms such as "first" or "next" in the claims, embodiments, or diagrams, it does not necessarily mean that the process must be performed in that order.
Wie
aus dem Vorstehenden ersichtlich ist, können die Ausführungsbeispiele
nach der vorliegenden Erfindung verwendet werden, um ein Identifizierungsgerät
für die determinierte Komponente zu realisieren, das den
Typ der in der Wahrscheinlichkeitsdichtefunktion enthaltenen determinierten
Komponente genau bestimmen kann.As
From the foregoing, the embodiments
used according to the present invention to an identification device
for the deterministic component to realize that
Type of deterministic contained in the probability density function
Determine component precisely.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Zitierte PatentliteraturCited patent literature
-
- WO 2007/108492 [0003] WO 2007/108492 [0003]