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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung
zum Untersuchen strukturierter Oberflächen. Die vorliegende Erfindung wird
dabei unter Bezugnahme auf die Oberflächen von Fahrzeugkarosserien
beschrieben, es wird jedoch darauf hingewiesen, dass die Vorrichtung
auch für
andere Oberflächen
wie beispielsweise die Oberflächen
von Böden
oder Möbeln
anwendbar ist. Unter strukturierten Oberflächen werden solche Oberflächen verstanden,
welche nicht vollständig
eben sind sondern (regelmäßige oder
auch statistisch verteilte) Unebenheiten bzw. Höhenunterschiede aufweisen. Die
strukturierte Oberfläche
ist damit durch eine Topographie gekennzeichnet, welche neben lateralen Ausdehnung
auch ein Höhenprofil.
Das menschliche Auge kann jedoch derartige Höhenunterschiede im Mikrometerbereich
nicht quantitativ auswerten, sondern nimmt lediglich die Effekte
dieser Struktur wahr.
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Aus
dem Stand der Technik sind diverse Vorrichtungen und Verfahren bekannt,
welche derartige Unebenheiten erfassen. So sind beispielsweise sogenannte
Hommelgeräte
bekannt, welche die Unebenheiten selbst vermessen. Diese Vorrichtungen sind
jedoch relativ aufwendig und erfordern dabei stets einen mechanischen
Kontakt mit der zu untersuchenden Oberfläche. Auch sind andere Arten
von Oberflächenmessgeräten bekannt,
die jedoch ebenfalls die Oberfläche
selbst physisch (insbesondere durch Abtastung) vermessen.
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Weiterhin
sind aus dem Stand der Technik Vorrichtungen und Verfahren zum Untersuchen
von Oberflächen
bekannt, welche diese Oberfläche
zur Untersuchung von Parametern wie beispielsweise der Farbe, dem
Glanz oder der DOI (distinctiveness of image) optisch vermessen.
Derartige Geräte
werden insbesondere im Bereich der Qualitätssicherung eingesetzt, insbesondere,
wenn Unterschiede zwischen zwei zu vergleichenden Oberflächen festgestellt
werden sollen. Jedoch ist auch hier weniger der quantitativ bestehende
Unterschied entscheidend sondern vielmehr die menschliche Wahrnehmung.
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Dabei
tritt das Problem auf, dass die Ergebnisse dieser Untersuchungen
nicht stets eindeutig sind. Weiterhin dienen derartige Geräte zum Untersuchen
von Oberflächen
letztlich dazu, um ein möglichst
objektives Bild der Oberfläche,
so wie sie sich auch einem Betrachter darstellt, zu ermitteln.
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Hierbei
tritt jedoch das Phänomen
auf, dass das Gehirn des menschlichen Betrachters üblicherweise
bei der optischen Erfassung von Gegenständen auf Erfahrungen zurückgreift
die es dann dem Betrachter erlauben, Oberflächen genau zu beurteilen. So
kann der menschliche Betrachter beispielsweise durch Betrachtung
aufgrund seiner Erfahrung einschätzen,
aus welchen Materialien bestimmte Oberflächen bestehen können.
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Der
vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
und eine Vorrichtung zur Verfügung
zu stellen, welche eine objektive Bewertung einer Oberfläche, insbesondere
einer strukturierten Oberfläche
erlauben, ohne dass hierzu eine mechanische Vermessung dieser Oberfläche erfolgen
muss. Dies wird erfindungsgemäß durch
ein Verfahren nach Anspruch 1 und eine Vorrichtung durch Anspruch
11 erreicht. Vorteilhafte Ausführungsformen
und Weiterbildungen sind Gegenstand der Unteransprüche.
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Bei
einem erfindungsgemäßen Verfahren
zur optischen Untersuchung strukturierter Oberflächen wird in einem Verfahrensschritt
Strahlung auf die zu untersuchende Oberfläche eingestrahlt. In einem weiteren
Verfahrensschritt wird ein Bild von wenigstens einem Teil der auf
die Oberfläche
eingestrahlten und von der Oberfläche zurückgeworfenen Strahlung aufgenommen
und in einem weiteren Schritt eine ortsaufgelöste Auswertung des aufgenommenen
Bildes durchgeführt
sowie wenigstens ein für
dieses Bild charakteristischer Kennwert ermittelt.
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Erfindungsgemäß wird eine
für die
Oberfläche
charakteristische Größe unter
Verwendung des Kennwertes und unter Verwendung wenigstens einer vorbekannten
oder ermittelten Eigenschaft der Oberfläche durchgeführt. Bei
dem für
das Bild charakteristischen Kennwert kann es sich beispielsweise
um Helligkeitswerte oder Farbwerte der einzelnen Pixel handeln.
Auch kann es sich bei diesem Kennwert um einen statistischen Kennwert,
wie etwa eine Varianz, handeln. Daneben kann sich der Kennwert auch
aus einer Vielzahl von Einzelwerten zusammensetzen, beispielsweise
in Form eines Arrays.
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Bei
der für
die Oberfläche
charakteristischen Kenngröße kann
es sich um eine Kenngröße handeln,
welche für
die Struktur dieser Oberfläche
charakteristisch ist, wobei es sich auch hier wieder um einen qualitativen
Wert, der beispielsweise einen Vergleich zu einer Referenz angeben
kann handeln kann.
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So
kann es sich beispielsweise bei der charakteristischen Kenngröße um einen
Wert handeln, der angibt, ob die zu untersuchende Oberfläche noch innerhalb
eines Toleranzbereichs bezüglich
der Referenzfläche
liegt. Dies ist beispielsweise dann bedeutsam, wenn bei Fahrzeugen
Karosserieteile oder Teile des Fahrzeuginnenraums ausgetauscht werden müssen und
mit Messmethoden festgestellt werden soll, ob die optischen Eindrücke dieser
auszutauschenden Karosserieteile von einem Benutzer noch als optisch
gleich oder bereits als unterschiedlich wahrgenommen werden.
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Die
Verwendung der wenigstens einen weiteren vorbekannten oder ermittelten
Eigenschaft der Oberfläche
berücksichtigt,
dass der Benutzer in der Praxis ebenfalls (zumindest unbewusst)
auf Erfahrungswerte zurückgreifen
würde.
So könnte
beispielsweise ein von der Bildaufnahmeeinrichtung wie beispielsweise
einer Farb- oder Graustufenkamera ausgegebenes Bild eine Vielzahl
von helleren und dunkleren Stellen aufweisen. Diese helleren und dunkleren
Stellen könnten
jedoch mehrere Ursachen haben, sie könnten beispielsweise von mehrfarbigen Abschnitten
dieser Oberfläche
herrühren
oder auch von Effektpigmenten oder sie könnten auch auf einfarbige strukturierte
Oberflächchen
zurückzuführen sein.
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Falls
nun der Vorrichtung von vornherein bekannt ist, dass strukturierte
Oberflächen,
beispielsweise auch mit einer bestimmten Farbe, vermessen werden,
so ist unter Zugrundelegung der vorbekannten Eigenschaft eine realistische
Beurteilung des ausgewerteten Bildes der Kamera möglich. Auf
diese Weise wird im Rahmen der Erfindung erstmalig vorgeschlagen,
dass die Vorgehensweise des menschlichen Gehirns simuliert wird,
welches seine farblichen Eindrücke
auch aufgrund von Erfahrungen auswertet. Es wäre jedoch auch möglich, dass
keine vorbekannte Eigenschaft verwendet wird, sondern mehrere Messungen
durchgeführt
werden. Es wäre
jedoch auch möglich,
weitere Parameter als vorbekannte Eigenschaft hinzu zu ziehen.
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So
könnte
die Oberfläche
von mehreren Seiten aufgenommen werden. Auf diese Weise lässt sich
beispielsweise ebenfalls überprüfen, ob
ein bestimmtes Bild von einer mehrfarbigen Oberfläche herrührt oder
aber von einer strukturierten Oberfläche. Vorzugsweise erfolgt die
Ermittlung der für
die Oberfläche
charakteristischen Kenngröße ohne
Vermessung der strukturierten Oberfläche.
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Dies
bedeutet, dass die Kenngröße nicht
unmittelbar dadurch ermittelt wird, dass die Oberfläche beispielsweise
mechanisch durch ein Hommelgerät oder
auch durch Schichtdickenmessung oder dergleichen vermessen wird
sondern indirekt mittels der erfindungsgemäß beanspruchten optischen Untersuchung.
Auch werden insbesondere Höhenunterschiede
der betreffenden Oberfläche
vorzugsweise nicht gemessen, sondern es wird vorteilhaft lediglich ein
Bild unter Verwendung von Erfahrungswerten ausgewertet.
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Bei
einem weiteren vorteilhaften Verfahren werden Ergebnisse der Auswertung
des aufgenommen Bildes mit Referenzdaten verglichen. So wäre es beispielsweise
möglich,
dass für
die Bildauswertung ein bestimmter Kennwert, beispielsweise ein statistischer
Kennwert gebildet wird und dieser mit einem Referenzwert verglichen
wird. Ein Ergebnis dieses Vergleiches kann dem Benutzer ausgegeben werden,
beispielsweise eine Aussage darüber
ob eine bestimmte Oberfläche
optisch von einem Benutzer gegenüber
der Referenzfläche
unterscheidbar ist.
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Bei
einem weiteren vorteilhaften Verfahren erfolgt eine qualitative
Untersuchung der Oberfläche. Dies
bedeutet, dass keine genauen quantitativen Angaben über die
Oberfläche
vorgenommen werden sondern diese lediglich qualitativ mit einer
Referenz verglichen wird und die Schlüsse aus eben diesem qualitativen
Vergleich gezogen werden.
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Bei
einem weiteren vorteilhaften Verfahren erfolgt wenigstens die Einstrahlung
und/oder die Aufnahme des Bildes aus wenigstens zwei unterschiedlichen
Winkeln. So wäre
es möglich,
dass zwei Strahlungsquellen das Licht unter zwei unterschiedlichen Winkeln
auf die Oberfläche
einstrahlen und die Bildaufnahmeeinrichtung das von beiden Lichtquellen eingestrahlte Licht
vorzugsweise zeitversetzt aufnimmt. Durch diese Beleuchtung unter
unterschiedlichen Winkeln stehen ebenfalls zwei verschiedene Messungen
zur Verfügung,
aus deren Ergebnissen auf die Struktur der Oberfläche geschlossen
werden kann. Ebenfalls könnte
jedoch auch nur eine Lichtquelle und dafür zwei Bildaufnahmeeinrichtungen verwendet
werden um auf diese Weise mehrere Winkel zu realisieren. In diesem
Fall könnte
die Lichtquelle zweimal für
die beiden unterschiedlichen Messungen aktiviert werden. Auch könnten mehrere
Lichtquellen und mehrere Bildaufnahmeeinrichtungen vorgesehen sein.
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Bei
einem weiteren vorteilhaften Verfahren wird zur Bestrahlung der
Oberfläche
Normlicht verwendet. Vorzugsweise wird eine Lichtquelle verwendet,
welche eine sogenannte D65-Beleuchtung
zur Verfügung
stellt.
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Bei
einem weiteren vorteilhaften Verfahren ist die weitere Eigenschaft
der Oberfläche
aus einer Gruppe von Eigenschaften ausgewählt, welche ein Material der
Oberfläche,
eine Reflektivität
der Oberfläche,
Farbeigenschaften der Oberfläche,
Textureigenschaften der Oberfläche,
Helligkeitskontraste der Oberfläche,
Kombinationen hieraus oder dergleichen enthält. Diese weitere Eigenschaft
berücksichtigt
die Erfahrung eines menschlichen Betrachters, der eben auf Grundlage
dieser Erfahrung seine optischen Eindrücke einer Oberfläche gewinnt.
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Bei
einem weiteren vorteilhaften Verfahren wird diffuse bzw. ungerichtete
Strahlung auf die Oberfläche
eingestrahlt. Bei einem anderen Verfahren könnte auch eine gerichtete Strahlung
verwendet werden, je nachdem, welche Art natürlichen Lichts simuliert werden
soll.
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Vorteilhaft
handelt es sich bei dem charakteristischen Kennwert um eine statistische
Größe. Dabei
kann es sich beispielsweise um eine Normalverteilung, arithmetische
oder geometrische Mittelwerte, um Varianzen, um die Entropie, fraktale
Elemente, oder eine Grauwertematrix oder andere mathematische Methoden
zur Auswertung ein oder zweidimensionaler Bilder handeln.
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Vorzugsweise
wird der charakteristische Kennwert aus einer Auswertung aus einer
Vielzahl von Einzelwerten des ortsaufgelösten Bildes ermittelt. So können beispielsweise
eine Vielzahl von Pixelwerten verwendet werden, die unterschiedliche Helligkeitsstufen
repräsentieren.
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Als
Beleuchtung kann sowohl diffuse als auch gerichtete Strahlung eingesetzt,
wobei während eines
Messprozesses auch diese beiden Strahlungsarten kombiniert werden
können.
Daneben kann auch mehrseitige Beleuchtung beispielsweise von ringsegmentartigen
Lichtquellen, vorgenommen werden. Weiterhin wäre es möglich, konvergente oder divergente
Strahlung einzusetzen oder ggfs. eine sog. Ullbricht'sche Kugel zu verwenden.
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Bei
einem weiteren vorteilhaften Verfahren wird ein Bildauswerteverfahren
des menschlichen Auges simuliert.
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Die
vorliegende Erfindung ist weiterhin auf eine Vorrichtung zu optischen
Untersuchung strukturierter Oberflächen gerichtet welche wenigstens
eine Strahlungseinrichtung aufweist, welche Strahlung unter einem
vorgegebenen Winkel auf die zu untersuchende Oberfläche einstrahlt
sowie wenigstens eine Bildaufnahmeeinrichtung aufweist, welche wenigstens
einen Teil von der Strahlungseinrichtung auf die Oberfläche eingestrahlten
und von der Oberfläche
zurückgeworfenen
Strahlung aufnimmt. Dabei ist die Bildaufnahmeeinrichtung zur Aufnahme
eines ortsaufgelösten
Bildes geeignet und es ist weiterhin eine Prozessoreinrichtung vorgesehen,
welche wenigstens einen für
dieses Bild charakteristischen Wert ermittelt.
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Erfindungsgemäß ist die
Prozesseinrichtung derart gestaltet, dass sie eine für die Oberfläche charakteristische
Kenngröße unter
Verwendung des Kennwertes und unter Verwendung wenigstens einer weiteren
vorbekannten oder ermittelten Eigenschaft der Oberfläche ermittelt.
Bei der Bildaufnahmeeinrichtung handelt es sich vorteilhaft um eine
Farbbildkamera oder eine Schwarz-Weiß-Bild-Kamera.
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Dies
bedeutet, dass auch die erfindungsgemäße Prozessoreinrichtung ein
Ergebnis nicht nur auf Basis der Bilddaten ausgibt, sondern hierzu
die oben erwähnte
zusätzliche
Eigenschaft verwendet. Es wäre
jedoch auch möglich,
dass es sich bei dieser vorbekannten Eigenschaft um das Ergebnis
einer weiteren Messung handelt, welche an der Oberfläche vorgenommen
wird. Dabei wird diese weitere Messung vorteilhaft in dem gleichen
Bereich der Oberfläche
durchgeführt
wie die zu beurteilende Messung. Vorteilhaft weist die Vorrichtung
eine Speichereinrichtung zur Speicherung wenigstens eines Kennwerts
oder eines für
die vorbekannte oder ermittelte Eigenschaft charakteristischen Wertes
auf.
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Weiterhin
ist vorteilhaft in der Speichereinrichtung wenigstens ein und bevorzugt
eine Vielzahl von Kennwerten für
die zu untersuchende Oberfläche
abgelegt. Bei den Kennwerten kann es sich um Werte handeln, welche
optische Eigenschaften der Oberfläche beschreiben, wie etwa Farbeigenschaften
oder dergleichen.
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Bei
einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform weist die Vorrichtung
wenigstens eine weitere Strahlungseinrichtung oder wenigstens eine
weitere Bildaufnahmeeinrichtung auf. Dabei sind vorteilhaft die
Strahlungseinrichtung und die Bildaufnahmeeinrichtung in einem Gehäuse vorgesehen,
wobei dieses Gehäuse
vorzugsweise eine Öffnung
zur Beleuchtung der zu untersuchenden Oberfläche aufweist und vorteilhaft
im Übrigen
geschlossen ist.
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Bei
einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform ist die Bildaufnahmeeinrichtung
unter einem Winkel von 90° gegenüber der
Oberfläche
angeordnet.
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Bei
einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform weist die Vorrichtung
eine Vergleichseinrichtung auf, welche wenigstens einen ermittelten Kennwert
mit einem Referenzwert vergleicht. Bei der von der Vorrichtung ausgegebenen
Größe handelt
es sich vorteilhaft um eine Relativgröße, wie eine Differenz oder
ein Verhältnis,
wobei jedoch auch gewichtete Koeffizienten zur Anwendung kommen
können.
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Weitere
vorteilhafte Ausführungsformen
ergeben sich auch der beigefügten
Zeichnung. Darin zeigen:
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1 eine
erfindungsgemäße Vorrichtung zum
Untersuchen einer Ober-Fläche.
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1 zeigt
eine erfindungsgemäße Vorrichtung 1 zum
Untersuchen einer Oberfläche 10.
Diese Oberfläche 10 ist
dabei insbesondere strukturiert d. h. insbesondere nicht eben ausgebildet.
Das Bezugszeichen 22 bezieht sich auf ein Gehäuse, in
dessen Inneren eine erste Strahlungseinrichtung 2 sowie eine
Bildaufnahmeeinrichtung 4 angeordnet sind. Das Gehäuse 22 ist
dabei lichtdicht ausgebildet, und weist nur eine Öffnung 14,
durch welche hindurch die Oberfläche 10 beleuchtet
und ein Bild der Oberfläche aufgenommen
werden kann. Die Strahlungseinrichtung 2 beleuchtet die
Oberfläche 10 (vgl.
Strahl S2).
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Die
von der Oberfläche 10 zurückgeworfene bzw.
gestreute Strahlung wird von der Bildaufnahmeeinrichtung 4 aufgenommen
d. h. die Bildaufnahmeeinrichtung 4 nimmt ein Bild der
beleuchteten Oberfläche 10 auf.
Das Gehäuse
ist bevorzugt an seiner Innenseite lichtabsorbierend ausgestaltet,
so dass die Messungen nicht durch Fremdreflexe verfälscht werden.
Je nach durchzuführender
Messung könnte jedoch
die Innenoberfläche
des Gehäuses
auch reflektierend ausgestaltet sein, so dass die Innenoberfläche des
Gehäuses
eine sog. Ulbricht'sche
Kugel ausbildet.
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Die
Strahlungseinrichtung 2 kann dabei als Lichtquelle eine
oder mehrere Leuchtdioden aufweisen. So könnten Weißlicht-LED's zum Einsatz kommen, es wäre jedoch
auch möglich,
dass mehrere LED's
unterschiedlicher Farbe eingesetzt werden, um die Farbeigenschaften
des eingestrahltes Lichts variabel zu halten oder um Normlicht,
wie beispielsweise D65-Licht
zu erzeugen. Daneben könnten
zur Beleuchtung auch andere Lichtquellen wie Halogenlampen, Xenon(blitz)lampen,
Glühlampen,
Laser oder dergleichen Anwendung finden.
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Weiterhin
können
in dem Strahlengang zwischen der Lichtquelle und der Oberfläche 10 (nicht gezeigte)
refraktive Elemente wie Linsen oder dergleichen oder auch Blenden
vorgesehen sein.
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Die
entsprechenden von der Bildaufnahmeeinrichtung ausgegebenen Bilddaten
k werden an eine ihrer Gesamtheit mit 8 bezeichnete Prozessoreinrichtung
weitergegeben. Dabei repräsentieren diese
Daten K lediglich das von der Bildaufnahmeeinrichtung 4 aufgenommene
Bild bzw. ein Farbbild oder Graustufenbild. Die Prozessoreinrichtung 8 wertet wiederum
dieses aufgenommene Bild aus, wobei die Prozessoreinrichtung 8 hierzu
weitere Daten E verwendet. Diese weiteren Daten E stammen dabei
insbesondere nicht von der konkreten Messung, von welcher die Daten
K stammen. Damit sind die Daten E unabhängig von den Daten K und insbesondere auch
unabhängig
von diesen gewonnen.
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So
wäre es
beispielsweise möglich,
dass die weiteren Daten E von einer Speichereinrichtung 24 stammen,
in der vorbekannte charakteristische Daten der Oberfläche 10 gespeichert
sind, beispielsweise Daten über
die Farbe und das Material der Oberfläche. Weiterhin kann auch eine
Speichereinrichtung 26 vorgesehen sein, in der frühere Messdaten
der besagten Oberfläche
gespeichert sind oder auch Referenzdaten einer entsprechenden Referenzoberfläche, oder
auch in einem anderen Bereich der Oberfläche und/oder zu einem anderen
Zeitpunkt und/oder unter einem anderen Winkel aufgenommene Daten.
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Das
Bezugszeichen 18 bezieht sich auf eine Vergleichseinrichtung,
welche die ermittelten Kennwerte mit abgespeicherten Referenzwerten
vergleicht und Ergebnisse dieses Vergleichs ausgibt.
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Die
Prozessoreinrichtung 8 berücksichtigt die besagten Daten
e und gibt einen Ergebniswert G an eine Anzeigeeinrichtung 16 aus.
Bei diesen Ergebnisdaten g kann es sich beispielsweise um einen rein
qualitativen Wert handeln, der Information darüber ausgibt, ob die untersuchende
Oberfläche
innerhalb eines bestimmten Normbereichs liegt.
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Das
Bezugszeichen 12 bezieht sich auf eine weitere Strahlungseinrichtung,
die unter einem weiteren Winkel bezüglich der Oberfläche 10 angeordnet ist
und Licht entlang der Strahlrichtung S2 auf die Oberfläche einstrahlt.
So wäre
es auch möglich,
dass entsprechende qualitative Bild der Oberfläche durch zwei Messungen zu
gewinnen, wobei eine Messung durch Beleuchtung mit der Strahlungseinrichtung 2 und
eine weitere Messung durch Beleuchtung mit der Strahlungseinrichtung 12 gewonnen
wird. Vorteilhaft liegen diese beiden Strahlrichtungen S1 und S2
und die Strahlrichtung S3, welche sich von der Oberfläche 10 in
Richtung der Bildaufnahmeeinrichtung 4 erstreckt, in einer
Ebene. Es wäre
jedoch auch möglich, beispielsweise
Detektoren oder Strahlungsquellen außerhalb der Messebene anzuordnen.
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Die
Strahlungseinrichtungen 2 und 12 geben bevorzugt
normiertes Licht wie beispielsweise D65 Licht ab. Dabei ist es möglich, dass
die beiden Strahlungseinrichtungen simultan aktiviert werden, es wäre jedoch
auch eine sukzessive Aktivierung möglich. Es wäre dadurch möglich, dass
die Strahlungseinrichtungen jeweils in der Lage sind, Licht unterschiedlicher
Farben auf die Oberflächen
zu senden. Weiterhin können
in den Strahlengängen
S1, S2 bzw. S3 auch Blenden und Filtereinrichtungen 28 angeordnet
sein, um die Oberfläche
zu untersuchen. Die Bezugszeichen 29 und 30 beziehen
sich auf weitere Blenden und/oder Filtereinrichtungen, die in den
jeweiligen Strahlengängen
zwischen den Strahlungseinrichtungen 2 und 12 und
der Oberfläche
angeordnet sind.
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Die
Strahlungsquellen können
im kontinuierlichen Modus betrieben werden, es wäre jedoch auch ein gepulster
bzw. gechoppter Betrieb möglich.
Dieser gepulste Betrieb ermöglicht
eine Kompensation des Umgebungslichtes. Diese Kompensation kann dabei
durch einen Vergleich zwischen einem Bild, welches nur bei Umgebungslicht
aufgenommen wurde und einem weiteren Bild, welches bei (durch dieses
Umgebungslicht überlagerter)
Beleuchtung aufgenommen wurde, erreicht werden.
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Weiterhin
kann auch die gesamte Anordnung, welche sich aus der Strahlungseinrichtung, den
Filtern und der Strahlungsdetektoreinrichtung zusammensetzt spektral
derart angepasst werden, dass sie einer vorgegebenen spektralen
Empfindlichkeitsverteilung gehorcht, wie z. B. der Vλ-Kurve.
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Die
einzelnen Prozessoreinrichtungen und Speichereinrichtungen 24, 26 und 8 sind
dabei, anders als in 1 gezeichnet, außerhalb
des Gehäuses 22 angeordnet
sondern bevorzugt innerhalb des Gehäuses bzw. in einem hierfür vorgesehenen
Elektronikabschnitt. Die erwähnten
Blenden können
dabei zur Bestimmung von Glanzeffekten der Oberfläche verwendet
werden. Es wäre
jedoch auch möglich,
die Blenden durch die Bildauswertung, d. h. als „Softwareblenden” zu realisieren,
etwa, in dem nur bestimmte Bereiche eines Bildes ausgewertet werden.
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Das
Bezugszeichen 30 bezieht sich auf eine Steuerungseinrichtung,
um beispielsweise die Strahlungseinrichtungen 2 und 12 gegebenenfalls
aber auch die Bildaufnahmeeinrichtung anzusteuern. So wäre es möglich, dass
im Rahmen eines bestimmten Messmodus hintereinander die Oberfläche durch
die beiden Beleuchtungseinrichtungen S1 und S2 beleuchtet wird und
anschließend
die beiden Bilder von der Prozessoreinrichtung 12 ausgewertet
werden.
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Das
Bezugszeichen 34 bezieht sich auf eine Rolleinrichtung
bzw. ein Rad, welches eine Bewegung der Vorrichtung 1 gegenüber der
Oberfläche entlang
des Pfeils P1 ermöglicht.
Das Bezugszeichen K1 bezieht sich auf weitere von den Bildaufnahmeeinrichtungen
ausgegebene Werte, welche auch anstelle oder neben dem Wert E zur
Auswertung des Bildes verwendet werden können.
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Daneben
weist die Vorrichtung 1 eine (nicht gezeigte) Entfernungsmesseinrichtung
auf, welche Strecken, welche die Vorrichtung gegenüber der Oberfläche 10 zurücklegt,
bestimmt. Auf diese Weise kann die Oberfläche mit jeweils geometrischer
Zuordnung vermessen werden. Eine derartige Entfernungsmesseinrichtung
könnte
dabei an die Räder 34 gekoppelt
sein. Es wäre
jedoch auch möglich,
dass die Vorrichtung 1 an einem Gestell angeordnet ist und
auf diese Weise in definierter Weise gegenüber der Oberfläche 10 bewegt
wird.
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Sämtliche
in den Anmeldungsunterlagen offenbarten Merkmale werden als erfindungswesentlich
beansprucht, sofern sie einzeln oder in Kombination gegenüber dem
Stand der Technik neu sind.
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Bezugszeichenliste
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- 1
- Vorrichtung
- 2
- Strahlungseinrichtung
- 4
- Bildaufnahmeeinrichtung,
Detektoreinrichtung
- 8
- Prozessoreinrichtung
- 10
- Oberfläche
- 14
- Öffnung
- 16
- Anzeigeeinrichtung
- 18
- Vergleichseinrichtung
- 22
- Gehäuse
- 24
- Speichereinrichtung
- 26
- Speichereinrichtung
- 28
- Blende
- 30
- Steuerungseinrichtung
- 34
- Rad
- S1,
S2, S3
- Richtungen