DE102009034646A1 - Spray head for emitting electrons for physical sterilization of e.g. bottle, has transformer connected to source, where operating parameter of head is detected by monitoring device, and failure prediction value is derived from parameter - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen Strahlkopf mit einem Vakuumgehäuse (1), in dem eine Elektronenquelle (2) angeordnet ist, mit einem Strahlfinger (3), der mit dem Vakuumgehäuse (1) verbunden ist und an einem distalen Ende (4) ein Austrittsfenster (5) aufweist, und mit einem Transformatorgehäuse (16), in dem ein an die Elektronenquelle (2) geschalteter Transformator (15) angeordnet ist. Erfindungsgemäß ist eine Überwachungseinrichtung (25) vorgesehen, durch die wenigstens ein Betriebsparameter des Strahlkopfes erfassbar und daraus durch Vergleich mit wenigstens einem Referenzwert wenigstens ein Ausfallvorhersage-Wert ableitbar ist. Dadurch ist ein Strahlkopfsystem mit geringen Stillstandszeiten realisierbar.The invention relates to a jet head with a vacuum housing (1), in which an electron source (2) is arranged, with a jet finger (3) which is connected to the vacuum housing (1) and at an distal end (4) has an exit window (5 ), and with a transformer housing (16) in which a to the electron source (2) connected to the transformer (15) is arranged. According to the invention, a monitoring device (25) is provided by which at least one operating parameter of the jet head can be detected and from which at least one failure prediction value can be derived by comparison with at least one reference value. As a result, a jet head system with low downtime can be realized.
Description
Die Erfindung betrifft einen Strahlkopf mit einem Vakuumgehäuse, in dem eine Elektronenquelle angeordnet ist, mit einem Strahlfinger, der mit dem Vakuumgehäuse verbunden ist und an einem distalen Ende ein Austrittsfenster aufweist und mit einem Transformatorgehäuse, in dem ein an die Elektronenquelle geschalteter Transformator angeordnet ist.The The invention relates to a jet head with a vacuum housing, in an electron source is arranged, with a beam finger, the one with the vacuum housing is connected and has an exit window at a distal end and with a transformer housing, in which a transformer connected to the electron source is arranged is.
Die von einem Strahlkopf emittierten Elektronen dienen z. B. zur physikalischen Sterilisation von Verpackungsmaterialien und Behältnissen, beispielsweise von Flaschen. Die Elektronen werden in einer Elektronenquelle erzeugt und mittels einer angelegten Hochspannung auf eine definierte kinetische Energie beschleunigt. Die Elektronen driften nach ihrer Beschleunigung durch einen so genannten Strahlfinger und treffen nach dem Durchtritt durch das Austrittsfenster auf den zu sterilisierenden Bereich. Die für die Elektronenerzeugung und für die Elektronenbeschleunigung notwendige Hochspannung wird für jeden Strahlkopf in einem separaten Transformator (so genannter ”Hochspannungserzeuger”) erzeugt, der jeweils in einem eigenen Transformatorgehäuse angeordnet ist. Mittels eines Hochspannungskabels und einer entsprechenden Hochspannungssteckverbindung wird die erzeugte Hochspannung zum betreffenden Stahlkopf geführt. Alternativ dazu kann das Transformatorgehäuse auch unmittelbar an dem Vakuumgehäuse des Strahlkopfes angeordnet sein. Sind die Strahlköpfe auf einem Karussell (Sterilisationsvorrichtung, Strahlkopfsystem) angeordnet, dann können die Elektronenquellen der Strahlköpfe jeweils über ein Hochspannungskabel und ein Schaltelement an einen gemeinsamen, auf dem Karussell angeordneten Transformator geschaltet sein. Die Betriebszeiten der Strahlköpfe betragen bis zu 20 Stunden pro Tag, so dass jeder Strahlkopf einer hohen thermischen Belastung ausgesetzt ist. Durch den daraus resultierenden betriebsbedingten Verschleiß der Strahlkopf-Komponenten treten zwangsläufig Defekte auf, deren Zeitpunkt momentan nicht bestimmt wird. Dies führt, unabhängig vom Aufbau des Strahlkopfes, zu nicht vorhersehbaren ausfällen einzelner Strahlköpfe und damit zum Stillstand des gesamten Strahlkopfsystems sowie – daraus resultierend – zu einem entsprechenden Lieferungsverzug. Häufig auftretende Fehlerquellen sind beispielsweise Undichtigkeiten des Vakuumgehäuses oder des Strahlfingers, insbesondere im Bereich des Austrittsfensters. Auch übermäßiger Verschleiß der Elektronenquelle kann zu einem Ausfall des Strahlkopfes bzw. des gesamten Strahlkopfsystems führen.The emitted by a jet head electrons serve z. B. for physical Sterilization of packaging materials and containers, for example from Bottles. The electrons are generated in an electron source and by means of an applied high voltage to a defined kinetic Energy accelerates. The electrons drift after their acceleration through a so-called beam finger and hit after passing through through the exit window onto the area to be sterilized. The for the electron generation and for The electron acceleration necessary high voltage will be for everyone Beam head in a separate transformer (so-called "high voltage generator") generated, the each is arranged in a separate transformer housing. through a high voltage cable and a corresponding high voltage connector The generated high voltage is passed to the relevant steel head. alternative this may be the transformer housing also arranged directly on the vacuum housing of the jet head be. Are the jet heads on a carousel (sterilization device, jet head system) arranged, then you can the electron sources of the beam heads in each case via a High voltage cable and a switching element to a common, on be arranged connected to the carousel transformer. The operating times the jet heads amount up to 20 hours a day, making each blasting head one exposed to high thermal stress. By the resulting operational wear of the Beamhead components inevitably experience defects, their timing currently not determined. This leads, regardless of the structure of the jet head, unpredictable outages individual beam heads and thus to the standstill of the entire jet head system and - from it as a result - too a corresponding delivery delay. Common sources of error For example, leaks in the vacuum housing or the beam finger, in particular in the region of the exit window. Also excessive wear of the electron source can cause a failure of the jet head or the entire jet head system to lead.
Ein einfaches Austauschen jedes Strahlkopfes nach einer gewissen Standardlebensdauer (z. B. mittlere Lebensdauer) kann das genannte Problem ebenfalls nicht lösen. Zum einen gibt es immer wieder Fälle, in denen die Lebensdauer eines Strahlkopfes sehr viel kleiner ist als die Standardlebensdauer, so dass in solchen Fällen wiederum der vorstehend geschilderte nachteilige plötzliche Ausfall des Strahlkopfes auftritt. Zum anderen müsste, um die Anzahl dieser Fälle möglichst gering zu halten, stets ein erheblicher Abstand zur Standardlebensdauer eingehalten werden und bereits rechtzeitig vorher ein Austausch des Strahlkopfes stattfinden, was aber die Nutzungsdauer des betreffenden Strahlkopfes entsprechend verringern und die Kosten seines Einsatzes entsprechend erhöhen würde.One easy replacement of each jet head after a certain standard lifetime (eg, average life), the problem mentioned can also be not solve. For one thing, there are always cases in which the life of a jet head is much smaller as the standard life, so again in such cases the above-described adverse sudden failure of the jet head occurs. On the other hand, by the number of these cases preferably low, always a significant distance from the standard life be complied with and in good time before an exchange take the jet head, but what the useful life of the relevant Reduce beam head accordingly and the cost of its use increase accordingly would.
Wie stark die Lebensdauer, die ein Strahlkopfes tatsächlich erreicht, von der Standardlebensdauer abweicht, hängt stark von den Umständen ab, unter denen der Strahlkopf betrieben wurde, wobei der von der Elektronenquelle ausgehende Elektronenstrom (Emissionsstrom) von besonderer Bedeutung ist. Ist die Elektronenquelle als thermischer Emitter (Flachemitter, Glühwendel) ausgeführt, dann fallen Strahlköpfe häufig wegen Durchbrennens oder Bruchs des Emitters aus. Bei hohem Röhrenstrom ist die Temperatur des Emitters und damit auch die Abdampfrate, mit der Material von dem Emitter abdampft, höher als bei einem niedrigen Emissionsstrom. Dies gilt insbesondere für solche Emitter, die aus dünnem, z. B. nur 75 μm starkem Blech, z. B. aus Wolfram, bestehen, da bei solchen Emittern bereits die im Bereich der Emissionstemperatur (2.350°C für Wolfram) auftretenden thermomechanische Spannungen ausreichen, um den Emitter brechen zu lassen, wenn er durch den Abdampfprozess entsprechend dünn geworden ist.As greatly the lifetime that a jet head actually reaches from the standard life deviates, hangs strong on the circumstances from, under which the jet head was operated, wherein the of the Electron source outgoing electron current (emission current) of is of particular importance. Is the electron source as a thermal emitter (Flat emitter, incandescent filament) executed then ray heads fall often due to burnout or breakage of the emitter. At high tube current is the temperature of the emitter and thus the evaporation rate, with the material evaporating from the emitter, higher than at a low one Emission current. This is especially true for those emitters made of thin, z. B. only 75 microns strong sheet, z. As tungsten, exist as in such emitters already in the range of the emission temperature (2,350 ° C for tungsten) occurring thermo-mechanical stresses are sufficient to the emitter to break if it through the Abdampfprozess accordingly become thin is.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, einen Strahlkopf zu schaffen, der die Realisierung eines Strahlkopfsystems mit geringen Stillstandszeiten ermöglicht.task The invention is therefore to provide a jet head, the the realization of a jet head system with low downtimes allows.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen Strahlkopf mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Strahlkopfes sind jeweils Gegenstand von weiteren Ansprüchen.The Task is achieved by a jet head with the features of claim 1 solved. advantageous Embodiments of the jet head according to the invention are respectively Subject of further claims.
Der erfindungsgemäße Strahlkopf umfasst ein Vakuumgehäuse, in dem eine Elektronenquelle angeordnet ist, einen Strahlfinger, der mit dem Vakuumgehäuse verbunden ist und an einem distalen Ende ein Austrittsfenster aufweist, und ein Transformatorgehäuse, in dem ein an die Elektronenquelle geschalteter Transformator angeordnet ist. Erfindungsgemäß ist eine Überwachungseinrichtung vorgesehen, durch die wenigstens ein Betriebsparameter des Strahlkopfes erfassbar und daraus durch Vergleich mit wenigstens einem Referenzwert wenigstens ein Ausfallvorhersage-Wert ableitbar ist.Of the Blasting head according to the invention includes a vacuum housing, in which an electron source is arranged, a beam finger, the one with the vacuum housing is connected and has an exit window at a distal end, and a transformer housing, in which a transformer connected to the electron source is arranged is. According to the invention, a monitoring device provided by the at least one operating parameter of the jet head detectable and therefrom by comparison with at least one reference value at least one default prediction value can be derived.
Bei dem Strahlkopf gemäß Anspruch 1 kann das Transformatorgehäuse, in dem ein an die Elektronenquelle geschalteter Transformator angeordnet ist, unmittelbar an dem Vakuumgehäuse angeordnet sein. Die erfindungsgemäße Lösung ist jedoch auch für Strahlköpfe geeignet, die auf einem Karussell angeordnet sind (Strahlkopfsystem, Sterilisationsvorrichtung). Die Strahlköpfe weisen dann entweder jeweils ein unmittelbar an dem Vakuumgehäuse angeordnetes Transformatorgehäuse auf, oder die Elektronenquellen der Strahlköpfe sind jeweils über ein Hochspannungskabel und ein Schaltelement an einen gemeinsamen, auf dem Karussell angeordneten Transformator geschaltet.In the jet head according to claim 1, the transformer housing, in which a to the Elek Tronenquelle switched transformer is disposed directly on the vacuum housing. However, the solution according to the invention is also suitable for jet heads which are arranged on a carousel (jet head system, sterilization device). The jet heads then either each have a transformer housing arranged directly on the vacuum housing, or the electron sources of the jet heads are respectively connected via a high-voltage cable and a switching element to a common transformer arranged on the carousel.
Bei dem Strahlkopf nach Anspruch 1 ist sowohl eine Erfassung einer vorgebbaren Anzahl von Betriebsparametern in vorgebbaren Zeitabständen oder über einen vorgebbaren Zeitraum durchführbar. Eine permanente Erfassung der gewünschten Betriebsparameter ist bei dem Strahlkopf gemäß Anspruch 1 ebenfalls realisierbar. Auch eine Kombination einer permanenten Erfassung bestimmter Betriebsparameter und eine nur zeitweise Erfassung von anderen Betriebsparametern sind im Rahmen der Erfindung möglich.at The jet head according to claim 1 is both a detection of a predeterminable Number of operating parameters at predeterminable time intervals or over one definable period feasible. A permanent capture of the desired Operating parameters can also be realized in the jet head according to claim 1. Also a combination of a permanent detection of certain operating parameters and a temporary capture of other operating parameters are possible within the scope of the invention.
Durch die Erfassung wenigstens eines Betriebsparameters und dem sich daran anschließenden Vergleich mit wenigstens einem Referenzwert ist wenigstens ein Ausfallvorhersage-Wert zuverlässig ableitbar. Damit kann die Restlebensdauer eines jeden Strahlkopfes in einem Strahlkopfsystem gezielt vorherbestimmt werden, so dass eine sichere Benutzung des Strahlkopfes bis kurz vor seinem Ausfall möglich ist.By the detection of at least one operating parameter and the thereto subsequent A comparison with at least one reference value is at least one default prediction value reliable derivable. Thus, the remaining life of each jet head in a Radiation head system can be specifically predetermined, so that a safe Use of the blasting head is possible until shortly before its failure.
Die Erzeugung des Signals erfolgt also nicht auf Basis der Registrierung von Betriebsparametern des Strahlkopfes, sondern auf Grundlage einer Bewertung von erfassten Betriebsparametern, so dass eine exakte Aussage über den Alterungszustand des Strahlkopfes bzw. seiner Komponenten möglich ist und somit problemloser Betrieb des Strahlkopfes bis kurz vor dem Ende der Lebensdauer der Komponenten möglich ist.The Generation of the signal is thus not based on the registration of operating parameters of the jet head, but based on a Evaluation of recorded operating parameters, so that an exact Statement about the aging state of the jet head or its components is possible and thus trouble-free operation of the blasting head until shortly before the end the life of the components is possible.
Bei dem erfindungsgemäßen Strahlkopf liegt die Vakuumhülle, die von dem Vakuumgehäuse und dem Strahlfinger gebildet ist, beispielsweise auf Massepotential, wohingegen die im Vakuumgehäuse angeordnete Elektronenquelle z. B. auf einem Potential zwischen –50 keV und –200 keV liegt. Beim Anlegen einer entsprechenden Hochspannung werden die von der Elektronenquelle emittierten Elektronen somit in Richtung des ebenfalls auf Massepotential liegenden Austrittsfensters beschleunigt. Nach dem Austritt der Elektronen aus dem Strahlfinger (über das Austrittsfenster) treffen diese auf der Oberfläche des Verpackungsmaterials oder auf der Oberfläche des Behältnisses auf. Die Oberflächen, die mit den aus dem Strahlfinger austreten den und nunmehr unfokussierten Elektronen beschossen werden, werden dadurch sterilisiert.at the blasting head according to the invention lies the vacuum envelope, that of the vacuum housing and the beam finger is formed, for example at ground potential, whereas those arranged in the vacuum housing Electron source z. B. at a potential between -50 keV and -200 keV lies. When creating a corresponding high voltage, the electrons emitted by the electron source thus in the direction accelerated also at ground potential exit window. After the exit of the electrons from the beam finger (over the Exit window) meet these on the surface of the packaging material or on the surface of the container on. The surfaces, with the exiting from the beam finger and now unfocused Be bombarded with electrons, thereby sterilized.
Gemäß vorteilhaften Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Strahlkopfes sind die folgenden Betriebsparameter alternativ oder in Kombination erfassbar:
- • Das Vakuum im Strahlkopf und/oder der zeitliche Verlauf einer Änderung des Vakuums im Strahlkopf,
- • die Heizcharakteristik der Elektronenquelle, insbesondere der Temperaturverlauf in der Elektronenquelle,
- • die Dosis der emittierten Elektronen,
- • der die Elektronenquelle speisende Heizstrom und/oder die an der Elektronenquelle anliegende Heizspannung,
- • eine Widerstandsänderung der Elektronenquelle,
- • die Beschleunigungsspannung der Elektronen,
- • der sich beim Anlegen der Heizspannung einstellende Einschaltemissionsstrom und der sich im Anschluss an den Einschaltvorgang einstellende kleinere Gleichgewichtsemissionsstrom.
- The vacuum in the jet head and / or the time course of a change in the vacuum in the jet head,
- The heating characteristic of the electron source, in particular the temperature profile in the electron source,
- The dose of emitted electrons,
- The heating current supplying the electron source and / or the heating voltage applied to the electron source,
- A resistance change of the electron source,
- The acceleration voltage of the electrons,
- • the turn-on emission current that occurs when the heating voltage is applied, and the smaller equilibrium emission current that occurs following the switch-on process.
Die Widerstandsänderung der als Emitter ausgebildeten Elektronenquelle ist deshalb ein bevorzugter Betriebsparameter, weil während der Alterung eines thermionischen Emitters ein Teil seiner emittierenden Substanz von der Oberfläche verdampft. Hierdurch reduziert sich der Leitungsquerschnitt mit der Folge, dass der Widerstand des Emitters sich erhöht. Dieser Effekt lässt sich bei direkt geheizten Emittern durch Überwachung der Betriebsparameter Heizstrom und/oder Heizspannung des Emitters nachweisen. Aus dem Verlauf der Widerstandsänderung des Emitters als Funktion der Betriebsdauer ergeben sich zwei unterschiedliche Möglichkeiten, über auftretende Widerstandsänderungen einen bevorstehenden Ausfall des Emitters abzuleiten.The resistance change the electron source formed as an emitter is therefore more preferable Operating parameters because during the aging of a thermionic emitter is part of its emitting Substance from the surface evaporated. This reduces the cable cross-section with the consequence that the resistance of the emitter increases. This Leaves effect in directly heated emitters by monitoring the operating parameters Demonstrate heating current and / or heating voltage of the emitter. From the Course of resistance change the emitter as a function of the operating time, there are two different Possibilities over occurring Resistance changes one Derive impending failure of the emitter.
Die erste Möglichkeit beruht darauf, dass der Widerstand des Emitters, wie erwähnt, während der Betriebsdauer steigt. Ursache hierfür ist das stetige Abdampfen von Material während des Betriebs (typischerweise 10–8 g/(cm2·sec) für Wolfram bei 2.350°C). Dadurch reduziert sich der Leitungsquerschnitt und der Widerstand erhöht sich. Bei vorgegebener Heizspannung nimmt der Heizstrom proportional ab. Die Überwachungseinrichtung lässt sich somit derart ausgestalten, dass hieraus ein Ausfallvorhersage-Wert ableitbar ist, beispielsweise einer Änderung des Widerstands um etwa 10% gegenüber dem Widerstand eines neuen Emitters.The first possibility is based on the fact that the resistance of the emitter, as mentioned, increases during the operating period. This is due to the steady evaporation of material during operation (typically 10 -8 g / (cm 2. Sec) for tungsten at 2350 ° C). This reduces the cable cross-section and the resistance increases. For a given heating voltage, the heating current decreases proportionally. The monitoring device can thus be configured in such a way that a failure prediction value can be derived therefrom, for example a change of the resistance of approximately 10% in relation to the resistance of a new emitter.
Die Temperaturverteilung eines thermionischen Emitters ist niemals vollkommen homogen. Es gibt immer Stellen, die etwas heißer sind als die Umgebung und an diesen heißen Stellen dampft mehr Material ab. Der dort stärker reduzierte Leitungsquerschnitt führt über eine lokal verstärkte Aufheizung zu einer verstärkten Abdampfung und letztlich zum Schmelzen des Materials des Emitters. Diese mit dem Schmelzen verbundene Abdampfung führt bei dem betroffenen Emitter zu einem stark überproportionalen Anstieg des Widerstandes im Verhältnis zur Brenndauer gegen Ende seiner Lebensdauer.The temperature distribution of a thermionic emitter is never perfectly homogeneous. There are always places that are a little hotter than the surrounding area and steaming in these hot spots more Material off. The more strongly reduced cross-section of the duct leads via a locally increased heating to increased evaporation and ultimately to melting of the material of the emitter. This evaporation associated with melting results in the affected emitter to a strong disproportionate increase in resistance in relation to the burning time towards the end of its life.
Dieser physikalische Zusammenhang bietet eine weitere Möglichkeit einen bevorstehenden Ausfall des Emitters und damit des Strahlkopfes aufgrund eines vorgebbaren Gradienten der zeitlichen Widerstandszunahme vorherzusagen. Der vorstehend erläuterte, nochmalige starke Anstieg des Widerstandes zum Ende der Betriebsdauer (vor einem Ausfall des Emitters) um nochmals etwa 8% gegenüber der sehr langsamen Widerstandszunahme über die Gesamtlebensdauer um 10% lässt es zu, den Strahlkopf bis wenige Stunden vor dem endgültigen Ausfall des Emitters (Elektronenquelle) zu benutzen. Der starke Gradient der Widerstandsänderung in den letzten Betriebsstunden durch die unsymmetrischen Abdampfungen lässt sich messtechnisch erfassen und zur Erzeugung eines Ausfallvorhersage-Wertes ausnutzen.This physical connection provides another way an upcoming one Failure of the emitter and thus the jet head due to a predetermined Predict gradients of temporal resistance increase. Of the explained above, repeated strong increase in resistance at the end of the operating period (before a failure of the emitter) again by about 8% compared to the very slow increase in resistance over the total lifespan is around 10% Close it up to a few hours before the final failure to use the emitter (electron source). The strong gradient the resistance change in the last hours of operation due to the asymmetrical evaporations let yourself metrologically record and to generate a default prediction value exploit.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Strahlkopfes ist aus dem Einschaltemissionsstrom und aus dem Gleichgewichtsemissionsstrom ein Quotient als Funktion der Betriebsdauer der Elektronenquelle (Kathode) ermittelbar.According to one another preferred embodiment the jet head according to the invention is from the turn-on emission stream and from the equilibrium emission stream a quotient as a function of the operating time of the electron source (cathode) determined.
Bei einer zweiten Variante der Erfindung ermittelt die Überwachungseinrichtung einen Quotienten des Einschaltemissionsstroms beim Anlegen der Röhrenhochspannung zu dem sich einstellenden kleineren Gleichgewichtsemissionsstrom. Aus einer Änderung dieses Quotienten während der Emitterbetriebszeit wird ein auf den bevorstehenden Ausfall des Emitters hinweisender Ausfallvorhersage-Wert gebildet.at A second variant of the invention determines the monitoring device a quotient of the turn-on emission current when applying the tube high voltage to the resulting smaller equilibrium emission stream. From a change this quotient during The emitter operating time will be an imminent failure of the Emitter's indicative default prediction value formed.
Die Änderung des vorgenannten Quotienten eignet sich deshalb als Kriterium für die Ableitung eines Ausfallvorhersage-Wertes, weil sich dieser Quotient während der Betriebsdauer des Strahlkopfes zunächst nur in geringem Umfang ändert, jedoch kurz vor dem Ende der Lebensdauer des Emitters sehr stark ansteigt.The change of the aforementioned quotient is therefore suitable as a criterion for the derivation a failure prediction value, because this quotient is during the operating time of the jet head initially only slightly changes, however rises very high shortly before the end of the life of the emitter.
Wenn der Emitter vor dem Einschalten der Hochspannung auf eine konstante Emissionstemperatur gebracht wird, ergibt sich die charakteristische Abnahme des Emissionsstroms innerhalb von ca. 200 ms infolge eines Abkühlungseffektes, bedingt durch den Abtransport von thermischer Energie (entsprechend der Emissionstemperatur) durch die emittierten Elektronen.If the emitter before switching the high voltage to a constant Emission temperature is brought, resulting in the characteristic decrease the emission current within about 200 ms due to a cooling effect, conditioned by the removal of thermal energy (corresponding the emission temperature) by the emitted electrons.
Im Laufe der Lebensdauer des Emitters wird dieser wie beschrieben durch Abdampfen dünner. Dadurch wird die Wärmekapazität und durch die veränderte Wärmeleitung auch die Wärmeleitfähigkeit vom Inneren des Emitters zu der durch Elektronenemission gekühlten Oberfläche des Emitters kleiner, so dass sich die Oberflächentemperatur entsprechend verringert und damit der Gleichgewichtsemissionsstrom absinkt, der sich einstellt, wenn der Emitter aufgeheizt wurde und die Röhrenspannung über eine gewisse Zeit anliegt.in the Over the life of the emitter, this is as described by Evaporate thinner. Thereby is the heat capacity and through the changed one heat conduction also the thermal conductivity of Inside the emitter to the electron-cooled surface of the Emitters smaller, so that the surface temperature accordingly decreases and thus the equilibrium emission current decreases, the occurs when the emitter has been heated and the tube voltage across a certain time.
Nach einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Strahlkopfes ist zusätzlich zu wenigstens einem ermittelten Betriebsparameter die Störhäufigkeit erfassbar.To a further advantageous embodiment of the jet head according to the invention is additional for at least one determined operating parameter, the frequency of interference detectable.
Nachfolgend wird anhand einer einzigen Figur in der Zeichnung ein Ausführungsbeispiel der Erfindung näher erläutert, ohne jedoch auf dieses Ausführungsbeispiel beschränkt zu sein.following is an exemplary embodiment with reference to a single figure in the drawing closer to the invention explains but without this embodiment limited to be.
Der
in der Zeichnung dargestellte Strahlkopf umfasst ein Vakuumgehäuse
Bei
dem dargestellten Ausführungsbeispiel liegt
die Vakuumhülle,
die von dem Vakuumgehäuse
Prinzipiell
können
bei dem erfindungsgemäßen Strahlkopf
die Elektronen
Der
Transformator
Das
Vakuumgehäuse
Bei
dem erfindungsgemäßen Strahlkopf kann – wie in
der einzigen Figur dargestellt – das Transformatorgehäuse
Die
Kathode
Die
Kathode
Der Übergang
vom Vakuumgehäuse
Weiterhin
wird durch den Koronaring
Bei
dem in der einzigen Figur gezeigten Strahlkopf weist der Strahlfinger
Bei
der in der Zeichnung dargestellten Ausführungsform des Strahlkopfs
besteht das Austrittsfenster
Unabhängig von
der Anzahl und dem Aufbau der Strahlköpfe ist erfindungsgemäß eine Überwachungseinrichtung
Die
elektrische Verbindung (Verbindung zum Hochspannungsanschluss
Bei
dem beschriebenen Ausführungsbeispiel umfasst
die Überwachungseinrichtung
Durch
die Überwachungseinrichtung
- • Das Vakuum im Strahlkopf und/oder der zeitliche Verlauf einer Änderung des Vakuums im Strahlkopf,
- • die Heizcharakteristik der Elektronenquelle, insbesondere der Temperaturverlauf in der Elektronenquelle,
- • die Dosis der emittierten Elektronen,
- • der die Elektronenquelle speisende Heizstrom und/oder die an der Elektronenquelle anliegende Heizspannung,
- • eine Widerstandsänderung der Elektronenquelle,
- • die Beschleunigungsspannung der Elektronen,
- • der sich beim Anlegen der Heizspannung einstellende Einschaltemissionsstrom und der sich im Anschluss an den Einschaltvorgang einstellende kleinere Gleichgewichtsemissionsstrom.
- The vacuum in the jet head and / or the time course of a change in the vacuum in the jet head,
- The heating characteristic of the electron source, in particular the temperature profile in the electron source,
- The dose of emitted electrons,
- The heating current supplying the electron source and / or the heating voltage applied to the electron source,
- A resistance change of the electron source,
- The acceleration voltage of the electrons,
- • the turn-on emission current that occurs when the heating voltage is applied, and the smaller equilibrium emission current that occurs following the switch-on process.
Durch die Erfassung wenigstens eines Betriebsparameters des Strahlkopfes und durch Vergleich zumindest eines erfassten Betriebsparameters mit wenigstens einem Referenzwert ist zumindest ein Ausfallvorhersage-Wert ableitbar.By the detection of at least one operating parameter of the jet head and by comparing at least one detected operating parameter with at least one reference value is at least one default prediction value derivable.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102009034646A DE102009034646A1 (en) | 2009-07-24 | 2009-07-24 | Spray head for emitting electrons for physical sterilization of e.g. bottle, has transformer connected to source, where operating parameter of head is detected by monitoring device, and failure prediction value is derived from parameter |
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| DE102009034646A1 true DE102009034646A1 (en) | 2010-09-16 |
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