DE102009012163A1 - Monolagen organischer Verbindungen auf Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen und damit hergestelltes Bauelement auf Basis organischer Elektronik - Google Patents
Monolagen organischer Verbindungen auf Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen und damit hergestelltes Bauelement auf Basis organischer Elektronik Download PDFInfo
- Publication number
- DE102009012163A1 DE102009012163A1 DE200910012163 DE102009012163A DE102009012163A1 DE 102009012163 A1 DE102009012163 A1 DE 102009012163A1 DE 200910012163 DE200910012163 DE 200910012163 DE 102009012163 A DE102009012163 A DE 102009012163A DE 102009012163 A1 DE102009012163 A1 DE 102009012163A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- bis
- phenyl
- amino
- naphthalen
- metal oxide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 19
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 title claims abstract description 19
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims description 5
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 title 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 25
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 claims description 17
- -1 methoxy, ethoxy Chemical group 0.000 claims description 14
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 claims description 8
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical group [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 7
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 claims description 6
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 6
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 5
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 4
- ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N trichlorosilane Chemical class Cl[SiH](Cl)Cl ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 claims description 3
- IYZMXHQDXZKNCY-UHFFFAOYSA-N 1-n,1-n-diphenyl-4-n,4-n-bis[4-(n-phenylanilino)phenyl]benzene-1,4-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 IYZMXHQDXZKNCY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000001637 1-naphthyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C(*)=C([H])C([H])=C([H])C2=C1[H] 0.000 claims description 2
- LZHVTCXAXYYCIF-UHFFFAOYSA-N 2-n',2-n',7-n',7-n'-tetrakis(4-methoxyphenyl)-9,9'-spirobi[fluorene]-2',7'-diamine Chemical class C1=CC(OC)=CC=C1N(C=1C=C2C3(C4=CC=CC=C4C4=CC=CC=C43)C3=CC(=CC=C3C2=CC=1)N(C=1C=CC(OC)=CC=1)C=1C=CC(OC)=CC=1)C1=CC=C(OC)C=C1 LZHVTCXAXYYCIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- NFZUWPDINLFCGG-UHFFFAOYSA-N 2-n,7-n-bis(3-methylphenyl)-2-n,7-n,9,9-tetraphenylfluorene-2,7-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C(C4=CC(=CC=C4C3=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 NFZUWPDINLFCGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- YUBXDAMWVRMLOG-UHFFFAOYSA-N 9,9-dimethyl-2-n,7-n-bis(3-methylphenyl)-2-n,7-n-diphenylfluorene-2,7-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C(C)(C)C4=CC(=CC=C4C3=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 YUBXDAMWVRMLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- KJEQVQJWXVHKGT-UHFFFAOYSA-N 9,9-dimethyl-2-n,7-n-dinaphthalen-1-yl-2-n,7-n-diphenylfluorene-2,7-diamine Chemical compound C1=C2C(C)(C)C3=CC(N(C=4C=CC=CC=4)C=4C5=CC=CC=C5C=CC=4)=CC=C3C2=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=CC=C1 KJEQVQJWXVHKGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 2
- ARYZCSRUUPFYMY-UHFFFAOYSA-N methoxysilane Chemical class CO[SiH3] ARYZCSRUUPFYMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 2
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- QZTQQBIGSZWRGI-UHFFFAOYSA-N 2-n',7-n'-bis(3-methylphenyl)-2-n',7-n'-diphenyl-9,9'-spirobi[fluorene]-2',7'-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C4(C5=CC=CC=C5C5=CC=CC=C54)C4=CC(=CC=C4C3=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 QZTQQBIGSZWRGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ZDAWFMCVTXSZTC-UHFFFAOYSA-N 2-n',7-n'-dinaphthalen-1-yl-2-n',7-n'-diphenyl-9,9'-spirobi[fluorene]-2',7'-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C(=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C23C4=CC=CC=C4C4=CC=CC=C43)C2=C1 ZDAWFMCVTXSZTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ZOSISXPKNIMGRP-UHFFFAOYSA-N 2-n,2-n,2-n',2-n'-tetraphenyl-9,9'-spirobi[fluorene]-2,2'-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=C2C3(C4=CC(=CC=C4C4=CC=CC=C43)N(C=3C=CC=CC=3)C=3C=CC=CC=3)C3=CC=CC=C3C2=CC=1)C1=CC=CC=C1 ZOSISXPKNIMGRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 2-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n,2-n-triphenylbenzene-1,2-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- MTUBTKOZCCGPSU-UHFFFAOYSA-N 2-n-naphthalen-1-yl-1-n,1-n,2-n-triphenylbenzene-1,2-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C(=CC=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=CC=C1 MTUBTKOZCCGPSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- XSUNFLLNZQIJJG-UHFFFAOYSA-N 2-n-naphthalen-2-yl-1-n,1-n,2-n-triphenylbenzene-1,2-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C(=CC=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=C2C=CC=CC2=CC=1)C1=CC=CC=C1 XSUNFLLNZQIJJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- WPUSEOSICYGUEW-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(4-methoxy-n-(4-methoxyphenyl)anilino)phenyl]-n,n-bis(4-methoxyphenyl)aniline Chemical class C1=CC(OC)=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC(OC)=CC=1)C=1C=CC(OC)=CC=1)C1=CC=C(OC)C=C1 WPUSEOSICYGUEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- NXVNUSIHWZLMGF-UHFFFAOYSA-N 4-phenyl-N-(4-phenylphenyl)-N-[4-[9-[4-(4-phenyl-N-(4-phenylphenyl)anilino)phenyl]fluoren-9-yl]phenyl]aniline Chemical class C1=CC=CC=C1C1=CC=C(N(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C2(C3=CC=CC=C3C3=CC=CC=C32)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=C1 NXVNUSIHWZLMGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- LFIYMKYMOHCZMO-UHFFFAOYSA-N C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C(=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C23C4=CC(=CC=C4C4=CC=C(C=C42)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C4=CC=CC=C4C=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C4=CC=CC=C4C=CC=2)C3=C1 Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C(=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C23C4=CC(=CC=C4C4=CC=C(C=C42)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C4=CC=CC=C4C=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C4=CC=CC=C4C=CC=2)C3=C1 LFIYMKYMOHCZMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims 1
- CWAFVXWRGIEBPL-UHFFFAOYSA-N ethoxysilane Chemical class CCO[SiH3] CWAFVXWRGIEBPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- QKCGXXHCELUCKW-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(dinaphthalen-2-ylamino)phenyl]phenyl]-n-naphthalen-2-ylnaphthalen-2-amine Chemical class C1=CC=CC2=CC(N(C=3C=CC(=CC=3)C=3C=CC(=CC=3)N(C=3C=C4C=CC=CC4=CC=3)C=3C=C4C=CC=CC4=CC=3)C3=CC4=CC=CC=C4C=C3)=CC=C21 QKCGXXHCELUCKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- POSMSOVYCXWGBM-UHFFFAOYSA-N n-[5,5-dimethyl-4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]cyclohexa-1,3-dien-1-yl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical class CC1(C)CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)=CC=C1C(C=C1)=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=CC=C1 POSMSOVYCXWGBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 abstract description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 16
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 9
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 9
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 4
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- QRPMCZNLJXJVSG-UHFFFAOYSA-N trichloro(1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,10,10,10-henicosafluorodecyl)silane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)[Si](Cl)(Cl)Cl QRPMCZNLJXJVSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000005052 trichlorosilane Substances 0.000 description 3
- AZEPJCYDCKVUJI-UHFFFAOYSA-N 1'-phenyl-9,9'-spirobi[fluorene] Chemical class c1ccc(cc1)-c1cccc2-c3ccccc3C3(c4ccccc4-c4ccccc34)c12 AZEPJCYDCKVUJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IXHWGNYCZPISET-UHFFFAOYSA-N 2-[4-(dicyanomethylidene)-2,3,5,6-tetrafluorocyclohexa-2,5-dien-1-ylidene]propanedinitrile Chemical compound FC1=C(F)C(=C(C#N)C#N)C(F)=C(F)C1=C(C#N)C#N IXHWGNYCZPISET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HJIMAFKWSKZMBK-UHFFFAOYSA-N 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,10,10,10-heptadecafluorodecyl(trimethoxy)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F HJIMAFKWSKZMBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 125000005647 linker group Chemical group 0.000 description 2
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000002094 self assembled monolayer Substances 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- PISDRBMXQBSCIP-UHFFFAOYSA-N trichloro(3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-tridecafluorooctyl)silane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)CC[Si](Cl)(Cl)Cl PISDRBMXQBSCIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VIFIHLXNOOCGLJ-UHFFFAOYSA-N trichloro(3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,10,10,10-heptadecafluorodecyl)silane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)CC[Si](Cl)(Cl)Cl VIFIHLXNOOCGLJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XHHTUOVNMZYWFH-UHFFFAOYSA-N trichloro(3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,10,10,11,11,12,12,13,13,14,14,14-pentacosafluorotetradecyl)silane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)CC[Si](Cl)(Cl)Cl XHHTUOVNMZYWFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NYIKUOULKCEZDO-UHFFFAOYSA-N triethoxy(3,3,4,4,5,5,6,6,6-nonafluorohexyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F NYIKUOULKCEZDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AVYKQOAMZCAHRG-UHFFFAOYSA-N triethoxy(3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-tridecafluorooctyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F AVYKQOAMZCAHRG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MLXDKRSDUJLNAB-UHFFFAOYSA-N triethoxy(3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,10,10,10-heptadecafluorodecyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F MLXDKRSDUJLNAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JLGNHOJUQFHYEZ-UHFFFAOYSA-N trimethoxy(3,3,3-trifluoropropyl)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCC(F)(F)F JLGNHOJUQFHYEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YUYCVXFAYWRXLS-UHFFFAOYSA-N trimethoxysilane Chemical compound CO[SiH](OC)OC YUYCVXFAYWRXLS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MQRCTQVBZYBPQE-UHFFFAOYSA-N 189363-47-1 Chemical class C1=CC=CC=C1N(C=1C=C2C3(C4=CC(=CC=C4C2=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC(=CC=C1C1=CC=C(C=C13)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 MQRCTQVBZYBPQE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KSSABTOENVKMLW-UHFFFAOYSA-N 2-N,2-N,2-N',2-N'-tetrakis(4-phenylphenyl)-9,9'-spirobi[fluorene]-2,2'-diamine Chemical class C1=CC=CC=C1C1=CC=C(N(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C4(C5=CC(=CC=C5C5=CC=CC=C54)N(C=4C=CC(=CC=4)C=4C=CC=CC=4)C=4C=CC(=CC=4)C=4C=CC=CC=4)C4=CC=CC=C4C3=CC=2)C=C1 KSSABTOENVKMLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BXSXNLBKCNVUGA-UHFFFAOYSA-N 2-n,2-n,2-n',2-n'-tetrakis(4-methoxyphenyl)-9,9'-spirobi[fluorene]-2,2'-diamine Chemical class C1=CC(OC)=CC=C1N(C=1C=C2C3(C4=CC(=CC=C4C4=CC=CC=C43)N(C=3C=CC(OC)=CC=3)C=3C=CC(OC)=CC=3)C3=CC=CC=C3C2=CC=1)C1=CC=C(OC)C=C1 BXSXNLBKCNVUGA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PQCAURRJHOJJNQ-UHFFFAOYSA-N 2-n,7-n-dinaphthalen-1-yl-2-n,7-n,9,9-tetraphenylfluorene-2,7-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C(=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C2(C=3C=CC=CC=3)C=3C=CC=CC=3)C2=C1 PQCAURRJHOJJNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CCTFMNIEFHGTDU-UHFFFAOYSA-N 3-methoxypropyl acetate Chemical compound COCCCOC(C)=O CCTFMNIEFHGTDU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKIJILZFXPFTO-UHFFFAOYSA-N 4-methyl-n-[4-[1-[4-(4-methyl-n-(4-methylphenyl)anilino)phenyl]cyclohexyl]phenyl]-n-(4-methylphenyl)aniline Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C1(CCCCC1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC(C)=CC=1)C=1C=CC(C)=CC=1)C1=CC=C(C)C=C1 ZOKIJILZFXPFTO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CRHRWHRNQKPUPO-UHFFFAOYSA-N 4-n-naphthalen-1-yl-1-n,1-n-bis[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 CRHRWHRNQKPUPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KDOQMLIRFUVJNT-UHFFFAOYSA-N 4-n-naphthalen-2-yl-1-n,1-n-bis[4-(n-naphthalen-2-ylanilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=C2C=CC=CC2=CC=1)C1=CC=C(N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C=CC=CC3=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C=CC=CC3=CC=2)C=C1 KDOQMLIRFUVJNT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001136792 Alle Species 0.000 description 1
- BDXGIUGWTUGEOB-UHFFFAOYSA-N C1(=CC=CC2=CC=CC=C12)N(C1=CC=2C3(C4=CC(=CC=C4C2C=C1)N(C1=CC=CC2=CC=CC=C12)C1=CC=CC=C1)C1=CC(=CC=C1C=1C=CC(=CC13)N(C1=CC=CC3=CC=CC=C13)C1=CC=CC=C1)N(C1=CC=CC3=CC=CC=C13)C1=CC=CC=C1)C1=CC=CC=C1.C1(=CC=C(C=C1)N(C1=CC=C(C=C1)C1=CC=CC=C1)C1=CC=C(C=C1)C1(C3=CC=CC=C3C=3C=CC=CC13)C1=CC=C(C=C1)N(C1=CC=C(C=C1)C1=CC=CC=C1)C1=CC=C(C=C1)C1=CC=CC=C1)C1=CC=CC=C1 Chemical class C1(=CC=CC2=CC=CC=C12)N(C1=CC=2C3(C4=CC(=CC=C4C2C=C1)N(C1=CC=CC2=CC=CC=C12)C1=CC=CC=C1)C1=CC(=CC=C1C=1C=CC(=CC13)N(C1=CC=CC3=CC=CC=C13)C1=CC=CC=C1)N(C1=CC=CC3=CC=CC=C13)C1=CC=CC=C1)C1=CC=CC=C1.C1(=CC=C(C=C1)N(C1=CC=C(C=C1)C1=CC=CC=C1)C1=CC=C(C=C1)C1(C3=CC=CC=C3C=3C=CC=CC13)C1=CC=C(C=C1)N(C1=CC=C(C=C1)C1=CC=CC=C1)C1=CC=C(C=C1)C1=CC=CC=C1)C1=CC=CC=C1 BDXGIUGWTUGEOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AHVYPIQETPWLSZ-UHFFFAOYSA-N N-methyl-pyrrolidine Natural products CN1CC=CC1 AHVYPIQETPWLSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 238000004873 anchoring Methods 0.000 description 1
- 239000000010 aprotic solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 1
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 125000000040 m-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C(=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- BLFVVZKSHYCRDR-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-2-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-2-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=C2C=CC=CC2=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C=CC=CC3=CC=2)C=C1 BLFVVZKSHYCRDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PKQHEBAYOGHIPX-UHFFFAOYSA-N n-[4-[9-[4-(dinaphthalen-2-ylamino)phenyl]fluoren-9-yl]phenyl]-n-naphthalen-2-ylnaphthalen-2-amine Chemical compound C1=CC=CC2=CC(N(C=3C=C4C=CC=CC4=CC=3)C3=CC=C(C=C3)C3(C=4C=CC(=CC=4)N(C=4C=C5C=CC=CC5=CC=4)C=4C=C5C=CC=CC5=CC=4)C4=CC=CC=C4C=4C3=CC=CC=4)=CC=C21 PKQHEBAYOGHIPX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LKFCORSLOUZJMB-UHFFFAOYSA-N n-[4-[9-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]fluoren-9-yl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C2(C3=CC=CC=C3C3=CC=CC=C32)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 LKFCORSLOUZJMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- DYIZHKNUQPHNJY-UHFFFAOYSA-N oxorhenium Chemical class [Re]=O DYIZHKNUQPHNJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003009 phosphonic acids Chemical class 0.000 description 1
- VVOPUZNLRVJDJQ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine copper Chemical compound [Cu].C12=CC=CC=C2C(N=C2NC(C3=CC=CC=C32)=N2)=NC1=NC([C]1C=CC=CC1=1)=NC=1N=C1[C]3C=CC=CC3=C2N1 VVOPUZNLRVJDJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910003449 rhenium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013545 self-assembled monolayer Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- ZCVOUFBEEYGNOL-UHFFFAOYSA-N trichloro(3,3,4,4,5,5,6,6,6-nonafluorohexyl)silane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)CC[Si](Cl)(Cl)Cl ZCVOUFBEEYGNOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/17—Carrier injection layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/81—Anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/60—Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31504—Composite [nonstructural laminate]
- Y10T428/31652—Of asbestos
- Y10T428/31663—As siloxane, silicone or silane
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft eine neuartige Auswahl für Monolagen organischer dielektrischer Verbindungen auf transparenten leitfähigen Metalloxidoberflächen, wie sie beispielsweise bei der Herstellung organisch basierter elektronischer Bauelemente eingesetzt werden. Durch die Auswahl gemäß der Erfindung werden völlig neue Größenordnungen an Lebensdauer der damit hergestellten Geräte erreicht.
Description
- Die Erfindung betrifft eine neuartige Auswahl für Monolagen organischer dielektrischer Verbindungen auf insbesondere transparenten leitfähigen Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen, wie sie beispielsweise bei der Herstellung organisch basierter elektronischer Bauelemente eingesetzt werden.
- Im Sinne der Markteinführung von OLEDs ist es besonders vorteilhaft, Monolagen, mit genau angepasster Funktionalität in elektronischen Bauelementen zur Erhöhung der Lebensdauer, insbesondere auch in organischen elektronischen Bauelementen, einzusetzen. Damit Moleküle in Monolagen sich selbst organisieren und damit höchste Funktionalität und Funktionsdichte zeigen, empfiehlt es sich, sie an den jeweiligen Elektroden durch Kopf- oder Ankergruppen festzumachen, wodurch eine Ausrichtung der Linkergruppen, also der die beiden Enden verbindenden Gruppen, automatisch erfolgt. Die Anbindung an das Substrat findet spontan statt, sofern das Substrat entsprechend vorbereitet wurde.
- Die spezifische Funktionalität wird durch die Linker und Kopfgruppen bestimmt. Der Anker bestimmt die Selbstorganisation.
- Dazu bekannt ist beispielsweise aus der
DE 10 2004 005 082 eine aromatische, chemisch aufwändig einzuführende Kopfgruppe mit π-π-Wechselwirkung, die eine selbstorganisierende Dielektrikumschicht an eine Elektrode bindet. Als Anbindung an die Gegenelektrode, als so genannte Ankergruppe der organische dielektrische Verbindung, die als Monolage in einem Kondensator einsetzbar ist, dient gemäß derDE 10 2004 005 082 eine Silanverbindung, die über eine Oxidschicht, gebildet aus einem Nicht-Kupferoxid an die Elektrode anbindbar ist. - Aus Asha Sharma, Bernard Kippelen, Peter J. Hotchkiss, and Seth R. Marder, "Stabilization of the work function of indium tin oxide using organic surface modifiers in organic lightemitting diodes", Applied Physics Letters 93 (2008) 163308, ist bekannt, dass über Phosphonsäuren stark fluorhaltige SAM-Monolagen aus flüssiger Phase erzeugbar sind.
- Dort wird gezeigt, dass zumindest teil-fluorierte Verbindungen eine stabilisierende Wirkung auf die ITO-Grenzfläche ausübt. Beispielsweise wird dort auch die stabilisierende Wirkung von spezifischen SAM-Molekülen für die Lebensdauererhöhung in effizienten organischen Leuchtdioden graphisch nachgewiesen.
- Nachteilig an dem bekannten Stand der Technik ist, dass die Elektrodenoberfläche bevorzugt zur Aufbringung der selbst organisierenden Monolage (SAM) entweder funktionalisiert wird oder zumindest mit einem erheblichen Materialüberfluss aus flüssiger Phase gearbeitet wird, um die erwünschte Effektivität zu erzielen.
- Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, die Nachteile des Standes der Technik zu überwinden und eine ebenfalls die Lebensdauer der organischen elektronischen, organischen Licht emittierenden Zellen, bevorzugt selbstemittierende Bauelemente erhöhende Schicht aus SAM-Molekülen zu schaffen, die jedoch mit geringen Mengen auf der Elektrode herstellbar ist.
- Gegenstand der Erfindung ist daher die Verwendung von fluorierten Silanen auf transparenten leitfähigen Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen, wobei die Anbindung an die Metalloxidoberfläche über die Silangruppe erfolgt. Außerdem ist Gegenstand der Erfindung ein Verfahren zur Herstellung einer Monolage auf einer transparenten leit fähigen Metalloxidschicht, wobei aus der Gasphase eine fluorierte geradkettige Silanverbindung abgeschieden wird, die mit dem Silanende an die Metalloxidschicht anbindet. Schließlich ist Gegenstand der Erfindung eine aus fluorierten Silanen hergestellte SAM Schicht auf einer transparenten leitfähigen Metalloxidschicht, wobei die Anbindung der Silane aus der Gasphase an die Metalloxidoberfläche erfolgt.
- Allgemeine Erkenntnis der Erfindung ist, dass nicht nur ITO-Oberflächen, sondern auch ganz allgemein transparente-Conductive-MetalOxide-(TCO)-Oberflächen durch fluorierte Verbindungen optimiert werden können. Zudem ist es Erkenntnis der Erfindung, dass über Silane diese fluorierten Verbindungen kostensparend an die Oberflächen angebunden werden können. Im Gegensatz zu den bekannten, über Phosphor ankernden Verbindungen können die Silane auch ohne Flüssigphase abgeschieden werden, was sowohl materialschonend (die meisten Abscheidungen aus Flüssigkeiten werden über dip coating durchgeführt, wobei die fertige ITO-Schicht eingetaucht wird) als auch materialsparend ist.
- Die Materialklasse der fluorierten Silane haftet, wie experimentell gezeigt, gut auf TCOs, insbesondere ITO. Diese Materialien sind kommerziell erhältlich und vergleichsweise kostengünstig (Tabelle 1). Bei Abnahme von größeren Gebinden können die Kosten durchaus noch um den Faktor 10 gesenkt werden.
Tabelle 1: Bevorzugte Materialien zur Ausbildung der selbstorganisierenden Monolage gemäß vorliegender Erfindung, die gleichzeitig die Lochinjektion erhöht und die Lebensdauer der Bauelemente verbessert.Trichlorosilane AB110562 (3,3,3-Trifluor-opropyl)trichlorosilane; 97% 10 g 41.60 EUR [592-09-6] C3H4Cl3F3Si AB182091 Nonafluorohexyltrichloro-silane; 95% 10 g 35.10 EUR [78560-47-1] C6H4Cl3F9Si AB111444 (Tridecafluoro-1,1,2,2-tetrahydrooctyl)trichlorosilane; 97% 10 g 36.40 EUR [78560-45-9] C8H4Cl3F13Si AB103609 1H,1H,2H,2H-Perfluorodecyltrichlorosilane; 97% 5 g 46.20 EUR [78560-44-8] C10H4Cl3F17Si AB231951 1H,1H,2H,2H-Perfluorotetradecyltrichlorosilane; 97% 1 g 64.80 EUR [102488-50-6] C14H4Cl3F25Si Ethoxysilane AB252596 Nonafluorohexyltriethoxysilane 25 g 72.80 EUR [102390-98-7] C12H19F9O3Si AB104055 1H,1H,2H,2H-Perfluorooctyltriethoxysilane; 97% 5 g 45.20 EUR [51851-37-7] C14H19F13O3Si AB172273 1H,1H,2H,2H-Perfluorodecyltriethoxysilane; 97% 5 g 46.00 EUR [101947-16-4] C16H19F17O3Si Methoxysilane AB111473 (3,3,3-Trifluoropropyl)trimethoxysilane; 97% 5 g 24.70 EUR [429-60-7] C6H13F3O3Si AB153265 (Tridecafluoro-1,1,2,2,-tetrahydrooc-tyl)trimethoxysilane; 95% packaged over copper powder 10 g 48.10 EUR [85857-16-5] C11H13F13O3Si AB153340 (Heptadecafluoro-1,1,2,2-tetrahydrode-cyl)trimethoxysilane; 95% 5 g 54.60 EUR [83048-65-1] C13H13F17O3Si -
- X kann O, S, NH bzw. nicht vorhanden sein; n liegt im Bereich zwischen 0 und 5 und ist bevorzugt 0; m liegt zwischen 0 und 20, insbesondere zwischen 5 und 10.
- Formel 1 kann wie unten gezeigt erweitert werden, dass sich Ethereinheiten zwischen den einzelnen Bestandteilen der Molekülkette liegen, insbesondere wäre dann bevorzugt h und f 2 oder liegt im allgemeinen zwischen 1 und 4; X1, X2 und X3 kann unabhängig voneinander O, S, NH, ein Halogen(F) oder gar nicht vorhanden sein; n liegt im Bereich zwischen 0 und 2 und ist bevorzugt 0; m liegt zwischen 0 und 15, insbesondere zwischen 2 und 5. Die CF3-Gruppe am Ende der Molekülkette kann auch weggelassen werden. In diesem Fall ist dann X3 = F.
- Bevorzugt werden diese Verbindungen, materialsparend, aus der Gasphase verarbeitet, was im einfachsten Fall nur eine temperierte Vakuumkammer erfordert. Die Substrate werden bevorzugt nicht durch eine RIE-Behandlung mit Sauerstoff mit Sputtereigenschaften aktiviert, da eine Sättigung des Kristallgitters mit Sauerstoff vermieden werden sollte. Eine entsprechende sanfte Behandlung soll nur organische Verunreinigungen entfernen. Es genügt meist eine Reinigung mit gängigen Lösemitteln (Wasser, Alkohole wie Ethanol bzw. organische Lösungsmittel NMP, Dimethylformamid, Dimethylsulfoxid, Toluol, chlorierte Lösemittel wie Chloroform, Chlorbenzol, Dichlormethan, Ether wie Diethylether, Tetrahydrofuran, Dioxan oder Ester wie Essigsäureethylester, Methoxypropylacetat etc.). Optional ist ein Argonrücksputterprozess. Die TCO-OSi Bindung ist so stark, dass sie auch geringe Verschmutzungen im Submonolagenbereich unterkriecht. Diese können im Anschluss an die Deposition optional mit den genannten Lösemitteln abgespült werden. Die Verarbeitung der SAM ohne solvatisierende Lösungsmittel ergibt sehr stabile und gut haftende Monolagen.
- Folgende, nicht einschränkend genannte Verfahren sind möglich:
- a. In Batchprozessen, die eine hohe Parallelität erlauben. Eine anschließende Handhabung der Substrate an Luft schadet der Beschichtung nicht.
- b. In Produktionsanlagen gibt es Rücksputtereinheiten, die genutzt werden können, um die Silane im Anschluss an die Reinigung aus der Gasphase zu applizieren.
- c. Alle CVD (Chemical Vapor Deposition) und ALD (Atomic Layer Deposition) Anlagen.
- Eine Bevorzugung der Abscheidung aus der Gasphase schließt eine Abscheidung aus Flüssigphase nicht aus. Die hochreaktiven Silane müssen dann aber bevorzugt aus getrockneten, aprotischen Lösungsmitteln verarbeitet werden. Da diese hygroskopisch sind, sind die Lösungen an Luft nicht langzeitstabil.
- Im Sinne der Erfindung sind nicht nur transparente leitfähige Elektroden auf der Basis von Indiumzinnoxid sondern auch andere leitfähige Elektroden wie beispielweise aluminiumdotiertes Zinkoxid. Bei invertiert ausgebauten Dioden kann die Anode auch aus nicht transparenten Metallen mit einer nativen Oxidoberfläche bestehen. Beispiele wären hier Titan, Aluminium, Nickel usw.
- Auf die Monolage gemäß der Erfindung folgt im Stack-Aufbau des organischen elektronischen Bauelements wie beispielsweise der OLED eine Lochleiterschicht.
- Für die Lochleiterschicht sind folgende Materialien beispielhaft, aber nicht einschränkend genannt:
N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-dimethylfluorene
N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-diphenylfluorene
N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-diphenylfluorene
N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-2,2-dimethylbenzidine
N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-spirobifluorene
2,2',7,7'-Tetrakis(N,N-diphenylamino)-9,9'-spirobifluorene
N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine
N,N'-Bis(naphthalen-2-yl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine
N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine
N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-dimethylfluorene
N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-spirobifluorene
Di-[4-(N,N-ditolyl-amino)-phenyl]cyclohexane
2,2',7,7'-tetra(N,N-di-tolyl)amino-spiro-bifluorene
9,9-Bis[4-(N,N-bis-biphenyl-4-yl-amino)phenyl]-9H-fluorene
2,2',7,7'-Tetrakis[N-naphthalenyl(phenyl)-amino]-9,9-spirobifluorene
2,7-Bis[N,N-bis(9,9-spiro-bifluorene-2-yl)-amino]-9,9-spirobifluorene
2,2'-Bis[N,N-bis(biphenyl-4-yl)amino]-9,9-spirobifluorene
N,N'-bis(phenanthren-9-yl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine
N,N,N',N'-tetra-naphthalen-2-yl-benzidine
2,2'-Bis(N,N-di-phenyl-amino)-9,9-spirobifluorene
9,9-Bis[4-(N,N-bis-naphthalen-2-yl-amino)phenyl]-9H-fluorene
9,9-Bis[4-(N,N'-bis-naphthalen-2-yl-N,N'-bis-phenylamino)-phenyl]-9H-fluorene
Titanium Oxide phthalocyanine
Copper phthalocyanine
2,3,5,6-Tetrafluoro-7,7,8,8,-tetracyano-quinodimethane
4,4',4''-Tris(N-3-methylphenyl-N-phenylamino)triphenylamine
4,4',4''-Tris(N-(2-naphthyl)-N-phenyl-amino)triphenylamine
4,4',4''-Tris(N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino)triphenylamine
4,4',4''-Tris(N,N-diphenyl-amino)triphenylamine
Pyrazino[2,3-f][1,10]phenanthroline-2,3-dicarbonitrile
N,N,N',N'-Tetrakis(4-methoxyphenyl)benzidine
2,7-Bis[N,N-bis(4-methoxy-phenyl)amino]-9,9-spirobifluorene
2,2'-Bis[N,N-bis(4-methoxy-phenyl)amino]-9,9-spirobifluorene
N,N'-di(naphthalen-2-yl)-N,N'-diphenylbenzene-1,4-diamine
N,N'-di-phenyl-N,N'-di-[4-(N,N-di-tolylamino)phenyl]benzidine
N,N'-di-phenyl-N,N'-di-[4-(N,N-di-phenylamino)phenyl]benzidine
Tri(Diphenylbenzimidazoyl)iridium(III)DPBIC - Diese Lochtransportschichten können dotiert oder undotiert sein. Als Dopanden dienen starke Akzeptoren, wie Kupfersalze, F4-TCNQs (Tetrafluoro-tetracyanoquinodimethane) bzw dessen Derivate. Ebenso geeignet sind Oxide wie Molybdän-, Wolfram- oder Rheniumoxide.
- Experimentell wurde demonstriert, dass die Ursache des anfänglichen Lebensdauerabfalls in einer organischen Leuchtdiode die Degradation der Grenzfläche zwischen der sauerstoffbeladenen Indiumzinnoxidelektrode und des Lochtransportmaterials ist. Die Sauerstoffbeladung dient zur Einstellung der Austrittsarbeit der Anode. Gegenüber dem Stand der Technik bieten die erfindungsgemäßen selbstorganisierenden Monolagen folgende Vorteile:
- – Hohe Austrittsarbeiten ohne RIE-Vorbehandlung
- – Kostengünstige Materialien
- – Verarbeitung aus der Gasphase
- – Erhöhung der Lebensdauer des organischen Bauelements und vollständige Vermeidung des anfänglichen Lebensdauerabfalls in Leuchtdichte und Spannungsanstieg und Leistungseffizienz. Im Gegensatz zum Stand der Technik werden hier alle Vorteile gleichzeitig erfüllt. Wie in den Beispielen gezeigt, ist die Auswahl möglicher Molekülklassen sehr begrenzt. Untersucht wurde auch eine Variation in den Ankergruppen. Die hier verwendete Silan-Ankergruppe scheint ideal für die Verwendung von Indiumzinnoxidoberflächen.
- Beispiel 1: Vorbehandlung der ITO-Anode.
- Als Referenz dient die Standard-Vorbehandlung. Dazu wird eine mit 150 nm Indiumzinnoxid beschichtete Glasplatte für 10 min einem Sauerstoff-Plasma ausgesetzt. Das Plasma mit einer 500 W HF-Leistung bei einem Sauerstoffdruck von 0,6 mbar brennt direkt über dem Substrat. Die Kennlinien einer Diode, deren Substrat so behandelt wurde, sind in untenstehenden Graphen rot gekennzeichnet. Diese Vorbehandlung ist notwendig, damit die erfindungsgemäße Diode und die Referenzdiode ungefähr gleiche Leistungsdaten besitzen, um sie besser miteinander vergleichen zu können.
- Beispiel 2:
- Ein Substrat analog Beispiel 1 wird in einem Reaktor mit Zweikammersystem für 10 min einem sanften Reinigungsschritt bei 250 W HF-Power ausgesetzt. Dabei brennt das Plasma in der einen Kammer und das Substrat liegt in der zweiten nicht mit Plasma durchfluteten Kammer. Der Druck in der Substratkammer beträgt 0,5 mbar. Auf diese Weise können sehr schonend organische Verunreinigungen entfernt werden. Sputtereffekte und Einbau von Sauerstoff in das Kristallgitter tritt nicht auf. Normalerweise ist eine derartige Vorbehandlung nicht ausreichend für effiziente organische Leuchtdioden. Im Anschluss daran wurde eine selbstorganisierende Monolage mit dem Reagenz Perfluorodecyltrichlorsilane abgeschieden.
- Hierfür wurde eine kommerzielle Anlage zur Molecular-Vapour-Deposition verwendet, die schon weltweit in Firmen und Forschungszentren eingesetzt wird, das MVD100-System von Applied MST (http://www.appliedmst.com/products mvd100.htm pdf „Overview” und „Features”). Diese besteht aus einer Vakuumkammer, in der die Substrate positioniert werden können, die mit einer zweiten Kammer verbunden ist, in der das Sauerstoffplasma gezündet wird. Das heißt die Ionen werden nicht direkt auf das Substrat beschleunigt. Dauer, HF-Leistung und Gasfluss können variiert werden. Über drei Gaszuleitungen werden die abzuscheidenden Substanzen und ein Katalysator, in diesem Fall Wasserdampf, in die Hauptkammer geleitet. In drei Vorkammern kann der notwendige Druck erzeugt und die notwendige Temperatur eingestellt werden um die Substanzen in die Gasphase zu bringen. Für die Abscheidung einer Lage Perfluorodecyltrichlorsilane wird ein Kammerdruck von 0.6 mbar eingestellt. Die Reaktionszeit beträgt 900 sec. Anschließend wird bei 8 mbar mit Wasserdampf die Anbindung und Quervernetzung katalysiert. Nach dieser Methode der Abscheidung bedarf es keiner weiteren Nachbehandlung, die Diode kann direkt auf das SAM-Substrat aufgebracht werden.
- Die Kennlinie für eine Diode, die auf dieses Substrat aufgebaut wurde, ist schwarz gekennzeichnet.
- Beispiel 3:
- Eine seit langem bekannte Diode besteht aus Lochleiter NPB (N,N'-Bis(naphthalen-2-yl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine) und dem Elektronenleiter Alq (Tris(8-Hydroxyquinolinolato)aluminium). Dazu werden aus der Gasphase 40 nm NPB und 40 nm Alq abgeschieden. Die Kathode bildet eine Schicht aus 0,7 nm Lithiumfluorid und 200 nm Aluminium.
- Im Folgenden wird noch anhand exemplarischer Messungen gezeigt, wie gemäß der vorliegenden Erfindung wiederum exemplarisch die Lebensdauer der OLED erhöht werden könnte.
-
1 zeigt die Luminanz (rechte Achse) und die Stromcharakteristik (linke Achse) zweier identisch hergestellter NPB-Alq OLEDs. Der Unterschied liegt lediglich in der Vorbehandlung der TCO, hier einer ITO-Schicht, wobei rot (rund) die herkömmlich mit Sauerstoff-Plasma behandelte Schicht zeigt und schwarz (eckig) die gemäß der Erfindung mit Perfluorodecyltrichlorosilan vorbehandelte Schicht. - Die I-V und Luminanz Kennlinie der Dioden mit Substraten aus den Beispielen 1 und 2 sind in
1 abgebildet. Die Dunkelströme der Diode mit SAM-beschichtetem Substrat sind etwas höher, verglichen mit der Referenzdiode. Im Durchlassbereich sind beide organischen Leuchtdioden nahezu identisch. -
2 zeigt die Spannungskurve einer NPB-Alq Diode bei längerem Betrieb unter konstanten Strom. Hier ist geradezu dramatisch zu erkennen, wie die Lebensdauer der unten schwarz und eckig gezeichneten Linie der gemäß der Erfindung behandelten ITO-Schicht erhöht ist. - Unter den in
2 genannten Bedingungen wurden die Dioden unter Konstantstrom 150 Stunden betrieben. Der Konstantstrom richtet sich danach, dass beide Dioden gleich hell mit größenordnungsmäßig gleicher Leuchtdichte leuchten. Die Referenzdiode hatte eine Anfangsleuchtdichte von 1000 cd/m2, die SAM-Diode eine Anfangsleuchtdichte von 670 cd/m2. Während die Spannung in der Referenzdiode um mehr als 60% ansteigt, um den Konstantstrom zu erhalten, bleibt diese im erfindungsgemäßen Bauelement trotz höheren Gesamtladungsflusses nahezu konstant. -
3 zeigt die den Leuchtdichteabfall beider Bauelemente bei erhöhter Betriebsdauer unter konstantem Strom:
In der Referenz-OLED (wieder rot und rund, die gleich zu Beginn stark abfallende Kurve) ist anfangs ein starker Luminanzeinbruch von ca. 10% zu beobachten, der auf die Degradation der Anoden-Lochleitergrenzfläche zurück zu führen ist. Im Anschluss daran stabilisiert sich das Bauelement und der „normale” Degradationsprozess des Emitters wird sichtbar. Bei der erfindungsgemäßen OLED wird der anfängliche Leuchtdichteabfall nicht beobachtet. Der etwas steilere Abfall nach längerer Betriebsdauer rührt von der insgesamt höheren Strombelastung her. Durch die ITO-Vorbehandlung mit der aus der Gasphase abgeschiedenen selbstorganisierenden Monolage wird die Leuchteffizienz der Diode wesentlich länger erhalten, was die LT70-Lebensdauer (LT70: Abfall der Anfangsleuchtdichte auf 70%) signifikant verlängert. -
4 zeigt die Leistungseffizienz der verglichenen OLEDs über längere Zeit. Auch hier brilliert wieder die OLED nach der Erfindung, wo ein mit der unbehandelten OLED vergleichbarer Rekordwert am Anfang praktisch über den gesamten gemessenen Zeitraum erhalten bleibt. - Die Auswahl an funktionierenden Molekülen für die SAM mit positiven Eigenschaften auf Lebensdauer und Effizienz ist sehr begrenzt, wie eindrucksvoll in der Literatur und in eigenen Tests nachgewiesen werden konnte:
So wurde nachgewiesen, dass anstelle des Trichlorosilans beispielsweise auch das Trimethoxysilan verwendet werden kann. - Die Erfindung betrifft eine neuartige Auswahl für Monolagen organischer dielektrischer Verbindungen auf transparenten leitfähigen Metalloxidoberflächen, wie sie beispielsweise bei der Herstellung organisch basierter elektronischer Bauelemente eingesetzt werden. Durch die Auswahl gemäß der Erfindung werden völlig neue Größenordnungen an Lebensdauer der damit hergestellten Geräte erreicht. Des weiteren lassen sich noch viele vorteilhafte Einsatzgebiete dieser Monolagen nennen, beispielsweise ein Einsatz für den Korrosionsschutz, für Lithographie etc.
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- - DE 102004005082 [0004, 0004]
- Zitierte Nicht-Patentliteratur
-
- - Asha Sharma, Bernard Kippelen, Peter J. Hotchkiss, and Seth R. Marder, ”Stabilization of the work function of indium tin oxide using organic surface modifiers in organic lightemitting diodes”, Applied Physics Letters 93 (2008) 163308, [0005]
- - http://www.appliedmst.com/products mvd100.htm pdf [0025]
Claims (12)
- Verwendung von fluorierten Silanen auf Metalloxidoberflächen, wobei die Anbindung an die Metalloxidoberfläche über die Silangruppe erfolgt.
- Verwendung nach Anspruch 1, wobei die Metalloxidoberflächen transparent sind.
- Verwendung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei die Metalloberflächen leitfähig sind.
- Verwendung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Silane ausgewählt sind aus der Gruppe der folgenden Silane:
- Verwendung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Silane ausgewählt sind aus der Gruppe folgender Silane: h und f haben einen Wert zwischen 1 und 4; X1, X2 und X3 kann unabhängig voneinander O, S, Hal, NH oder nicht vor handen sein; n liegt im Bereich zwischen 0 und 2; m liegt zwischen 0 und 15.
- Verfahren zur Herstellung einer Monolage auf einer transparenten leitfähigen Metalloxidschicht, wobei aus der Gasphase eine fluorierte geradkettige Silanverbindung abgeschieden wird, die mit dem Silanende an die Metalloxidschicht anbindet.
- Verfahren nach Anspruch 6, das in einer temperierten Vakuumkammer durchführbar ist.
- Verfahren nach einem der Ansprüche 6 oder 7, das als CVD (Chemical Vapor Deposition) und/oder ALD (Atomic Layer Deposition) Verfahren durchgeführt wird.
- SAM-Schicht aus fluorierten Silanen auf einer Metalloxidschicht, wobei die Anbindung der Silane auf der Oxidoberfläche aus der Gasphase erfolgt.
- SAM-Schicht auf einer Metalloxidoberfläche, wobei das Silan ausgewählt ist aus der Gruppe der in Anspruch 4 oder 5 genannten Silane, insbesondere folgender Silane: Trichlorosilane, Ethoxysilane und/oder Methoxysilane.
- SAM Schicht auf einer transparenten leitfähigen Metalloxidoberfläche, wobei die Ankergruppe der SAM-Schicht auf der Oxidoberfläche anknüpft und die Kopfgruppe auf einer Schicht aus einer Verbindung ausgewählt aus der folgenden Gruppe von lochleitenden Verbindungen: N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-dimethylfluorene N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-diphenylfluorene N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-diphenylfluorene N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-2,2-dimethylbenzidine N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-spirobifluorene 2,2',7,7'-Tetrakis(N,N-diphenylamino)-9,9'-spirobifluorene N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine N,N'-Bis(naphthalen-2-yl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine N,N'-Bis(3-methylphenyl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-dimethylfluorene N,N'-Bis(naphthalen-1-yl)-N,N'-bis(phenyl)-9,9-spirobifluorene Di-[4-(N,N-ditolyl-amino)-phenyl]cyclohexane 2,2',7,7'-tetra(N,N-di-tolyl)amino-spiro-bifluorene 9,9-Bis[4-(N,N-bis-biphenyl-4-yl-amino)phenyl]-9H-fluorene 2,2',7,7'-Tetrakis[N-naphthalenyl(phenyl)-amino]-9,9-spirobifluorene 2,7-Bis[N,N-bis(9,9-spiro-bifluorene-2-yl)-amino]-9,9-spirobifluorene 2,2'-Bis[N,N-bis(biphenyl-4-yl)amino]-9,9-spirobifluorene N,N'-bis(phenanthren-9-yl)-N,N'-bis(phenyl)-benzidine N,N,N',N'-tetra-naphthalen-2-yl-benzidine 2,2'-Bis(N,N-di-phenyl-amino)-9,9-spirobifluorene 9,9-Bis[4-(N,N-bis-naphthalen-2-yl-amino)phenyl]-9H-fluorene 9,9-Bis[4-(N,N'-bis-naphthalen-2-yl-N,N'-bis-phenylamino)-phenyl]-9H-fluorene Titanium oxide phthalocyanine Copper phthalocyanine 2,3,5,6-Tetrafluoro-7,7,8,8,-tetracyano-quinodimethane 4,4',4''-Tris(N-3-methylphenyl-N-phenylamino)triphenylamine 4,4',4''-Tris(N-(2-naphthyl)-N-phenyl-amino)triphenylamine 4,4',4''-Tris(N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino)triphenylamine 4,4',4''-Tris(N,N-diphenyl-amino)triphenylamine Pyrazino[2,3-f][1,10]phenanthroline-2,3-dicarbonitrile N,N,N',N'-Tetrakis(4-methoxyphenyl)benzidine 2,7-Bis[N,N-bis(4-methoxy-phenyl)amino]-9,9-spirobifluorene 2,2'-Bis[N,N-bis(4-methoxy-phenyl)amino]-9,9-spirobifluorene N,N'-di(naphthalen-2-yl)-N,N'-diphenylbenzene-1,4-diamine N,N'-di-phenyl-N,N'-di-[4-(N,N-di-tolylamino)phenyl]benzidine N,N'-di-phenyl-N,N'-di-[4-(N,N-di-phenylamino)phenyl]benzidine Tri(Diphenylbenzimidazoyl)iridium(III)DPBIC.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE200910012163 DE102009012163A1 (de) | 2009-03-06 | 2009-03-06 | Monolagen organischer Verbindungen auf Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen und damit hergestelltes Bauelement auf Basis organischer Elektronik |
| US13/138,563 US20120003485A1 (en) | 2009-03-06 | 2010-03-03 | Monolayers of organic compounds on metal oxide surfaces or metal surfaces containing oxide and component produced therewith based on organic electronics |
| PCT/EP2010/052700 WO2010100194A1 (de) | 2009-03-06 | 2010-03-03 | Monolagen organischer verbindungen auf metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen metalloberflächen und damit hergestelltes bauelement auf basis organischer elektronik |
| JP2011552433A JP2012519930A (ja) | 2009-03-06 | 2010-03-03 | 金属酸化物表面又は酸化物含有金属表面上の有機化合物単分子層、及びこれを用いて製造された有機エレクトロニクス素子 |
| EP10708175A EP2404334A1 (de) | 2009-03-06 | 2010-03-03 | Monolagen organischer verbindungen auf metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen metalloberflächen und damit hergestelltes bauelement auf basis organischer elektronik |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE200910012163 DE102009012163A1 (de) | 2009-03-06 | 2009-03-06 | Monolagen organischer Verbindungen auf Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen und damit hergestelltes Bauelement auf Basis organischer Elektronik |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102009012163A1 true DE102009012163A1 (de) | 2010-09-09 |
Family
ID=42246106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE200910012163 Withdrawn DE102009012163A1 (de) | 2009-03-06 | 2009-03-06 | Monolagen organischer Verbindungen auf Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen und damit hergestelltes Bauelement auf Basis organischer Elektronik |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20120003485A1 (de) |
| EP (1) | EP2404334A1 (de) |
| JP (1) | JP2012519930A (de) |
| DE (1) | DE102009012163A1 (de) |
| WO (1) | WO2010100194A1 (de) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012087930A3 (en) * | 2010-12-20 | 2012-10-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Electroactive materials |
| DE102011018480A1 (de) | 2011-04-21 | 2012-10-25 | Heraeus Precious Metals Gmbh & Co. Kg | Fluorierte Amine als SAM in OLEDs |
| WO2012175505A1 (de) * | 2011-06-22 | 2012-12-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Schwachlichtdetektion mit organischem fotosensitivem bauteil |
| DE102014110978A1 (de) * | 2014-08-01 | 2016-02-04 | Osram Oled Gmbh | Organisches Licht emittierendes Bauelement |
| WO2020114742A1 (en) * | 2018-12-04 | 2020-06-11 | Merck Patent Gmbh | Self-assembled monolayer for electrode modification and device comprising such self-assembled monolayer |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5670329B2 (ja) | 2008-07-18 | 2015-02-18 | ジョージア・テック・リサーチ・コーポレーション | 有機電子デバイス用の、修飾された仕事関数を有する安定した電極および方法 |
| WO2010115854A1 (en) | 2009-04-06 | 2010-10-14 | Georgia Tech Research Corporation | Electronic devices comprising novel phosphonic acid surface modifiers |
| KR102357439B1 (ko) * | 2012-02-14 | 2022-02-08 | 메르크 파텐트 게엠베하 | 유기 전계발광 소자용 스피로비플루오렌 화합물 |
| US8853070B2 (en) * | 2012-04-13 | 2014-10-07 | Oti Lumionics Inc. | Functionalization of a substrate |
| US9698386B2 (en) | 2012-04-13 | 2017-07-04 | Oti Lumionics Inc. | Functionalization of a substrate |
| JP6151158B2 (ja) * | 2012-11-28 | 2017-06-21 | 信越化学工業株式会社 | 透明酸化物電極用表面修飾剤、表面修飾された透明酸化物電極、及び表面修飾された透明酸化物電極の製造方法 |
| WO2014120093A1 (en) * | 2013-01-31 | 2014-08-07 | Agency For Science, Technology And Research | Electrically conductive ink composition and method of preparation thereof |
| DE102015103335A1 (de) * | 2015-03-06 | 2016-09-08 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer optoelektronischen Vorrichtung |
| DE102016102964B4 (de) | 2016-02-19 | 2025-05-15 | Pictiva Displays International Limited | Organisches lichtemittierendes Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines organischen lichtemittierenden Bauelements |
| KR102546316B1 (ko) * | 2016-08-09 | 2023-06-21 | 삼성전자주식회사 | 금속-반도체 접합을 가지는 반도체 소자 |
| EP3774679B1 (de) * | 2018-04-06 | 2023-11-01 | CB Nanoshield, LLC | Mehrzwecklösung zur verstärkung und oberflächenmodifizierung von glassubstraten |
| KR102738451B1 (ko) | 2019-01-21 | 2024-12-03 | 삼성전자주식회사 | 코팅액, 필름, 박막 트랜지스터 및 전자 장치 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999006490A1 (en) * | 1997-07-30 | 1999-02-11 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Antisoiling coatings for antireflective surfaces and methods of preparation |
| DE102004005082A1 (de) | 2004-02-02 | 2005-08-18 | Infineon Technologies Ag | Kondensator mit einem Dielektrikum aus einer selbstorganisierten Monoschicht einer organischen Verbindung |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6387544B1 (en) * | 1998-04-10 | 2002-05-14 | The Trustees Of Princeton University | OLEDS containing thermally stable glassy organic hole transporting materials |
| GB2371248A (en) * | 2000-12-04 | 2002-07-24 | Seiko Epson Corp | Fabrication of self-assembled monolayers |
| KR100438888B1 (ko) * | 2001-09-07 | 2004-07-02 | 한국전자통신연구원 | 정공 수송/주입 능력이 있는 화합물과 이를 포함하는분자자기조립막을 갖춘 유기 전기발광 소자 |
| JP2004047176A (ja) * | 2002-07-09 | 2004-02-12 | Sharp Corp | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| US7746600B2 (en) * | 2003-04-08 | 2010-06-29 | Seagate Technology Llc | Encapsulant for a disc drive component |
| JP4289936B2 (ja) * | 2003-06-19 | 2009-07-01 | 三井化学株式会社 | 複合多層膜およびその製造方法および電子部品 |
| JP2005062356A (ja) * | 2003-08-08 | 2005-03-10 | Seiko Epson Corp | パターンの形成方法及び配線パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器 |
| US8501277B2 (en) * | 2004-06-04 | 2013-08-06 | Applied Microstructures, Inc. | Durable, heat-resistant multi-layer coatings and coated articles |
| WO2006116584A2 (en) * | 2005-04-27 | 2006-11-02 | Dynamic Organic Light, Inc. | Light emitting polymer devices using self-assembled monolayer structures |
| JP2007140019A (ja) * | 2005-11-17 | 2007-06-07 | Seiko Epson Corp | 液晶装置の製造方法、液晶装置 |
| JP5248910B2 (ja) * | 2007-05-30 | 2013-07-31 | 住友化学株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子および該素子を用いた表示装置 |
| JP5670329B2 (ja) * | 2008-07-18 | 2015-02-18 | ジョージア・テック・リサーチ・コーポレーション | 有機電子デバイス用の、修飾された仕事関数を有する安定した電極および方法 |
-
2009
- 2009-03-06 DE DE200910012163 patent/DE102009012163A1/de not_active Withdrawn
-
2010
- 2010-03-03 JP JP2011552433A patent/JP2012519930A/ja active Pending
- 2010-03-03 WO PCT/EP2010/052700 patent/WO2010100194A1/de not_active Ceased
- 2010-03-03 US US13/138,563 patent/US20120003485A1/en not_active Abandoned
- 2010-03-03 EP EP10708175A patent/EP2404334A1/de not_active Ceased
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999006490A1 (en) * | 1997-07-30 | 1999-02-11 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Antisoiling coatings for antireflective surfaces and methods of preparation |
| DE102004005082A1 (de) | 2004-02-02 | 2005-08-18 | Infineon Technologies Ag | Kondensator mit einem Dielektrikum aus einer selbstorganisierten Monoschicht einer organischen Verbindung |
| DE102004005082B4 (de) * | 2004-02-02 | 2006-03-02 | Infineon Technologies Ag | Kondensator mit einem Dielektrikum aus einer selbstorganisierten Monoschicht einer organischen Verbindung und Verfahren zu dessen Herstellung |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Asha Sharma, Bernard Kippelen, Peter J. Hotchkiss, and Seth R. Marder, "Stabilization of the work function of indium tin oxide using organic surface modifiers in organic lightemitting diodes", Applied Physics Letters 93 (2008) 163308, |
| http://www.appliedmst.com/products mvd100.htm pdf |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012087930A3 (en) * | 2010-12-20 | 2012-10-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Electroactive materials |
| US9685613B2 (en) | 2010-12-20 | 2017-06-20 | E I Du Pont De Nemours And Company | Electroactive materials |
| DE102011018480A1 (de) | 2011-04-21 | 2012-10-25 | Heraeus Precious Metals Gmbh & Co. Kg | Fluorierte Amine als SAM in OLEDs |
| WO2012143109A1 (en) | 2011-04-21 | 2012-10-26 | Heraeus Precious Metals Gmbh & Co. Kg | Fluorinated amines as sam in oleds |
| WO2012175505A1 (de) * | 2011-06-22 | 2012-12-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Schwachlichtdetektion mit organischem fotosensitivem bauteil |
| US9496512B2 (en) | 2011-06-22 | 2016-11-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Weak light detection using an organic, photosensitive component |
| DE102014110978A1 (de) * | 2014-08-01 | 2016-02-04 | Osram Oled Gmbh | Organisches Licht emittierendes Bauelement |
| WO2020114742A1 (en) * | 2018-12-04 | 2020-06-11 | Merck Patent Gmbh | Self-assembled monolayer for electrode modification and device comprising such self-assembled monolayer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012519930A (ja) | 2012-08-30 |
| US20120003485A1 (en) | 2012-01-05 |
| EP2404334A1 (de) | 2012-01-11 |
| WO2010100194A1 (de) | 2010-09-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102009012163A1 (de) | Monolagen organischer Verbindungen auf Metalloxidoberflächen oder oxidhaltigen Metalloberflächen und damit hergestelltes Bauelement auf Basis organischer Elektronik | |
| EP2553047B1 (de) | Dotierstoff für eine lochleiterschicht für organische halbleiterbauelemente und verwendung dazu | |
| DE102008051737B4 (de) | Quadratisch planare Übergangsmetallkomplexe, organische halbleitende Materialien sowie elektronische oder optoelektronische Bauelemente, die diese umfassen und Verwendung derselben | |
| DE102011003192B4 (de) | Halbleiterbauelement und Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE102013109451B9 (de) | Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements | |
| EP2158625B1 (de) | Verwendung eines metallkomplexes als p-dotand für ein organisches halbleitendes matrixmaterial, organisches halbleitermaterial und organische leuchtdioden | |
| WO2005036667A1 (de) | N- dotierung von organischen halbleitern | |
| EP1806795B1 (de) | Organisches Bauelement | |
| DE10333232A1 (de) | Organisches Elektrolumineszenzelement | |
| WO2011032624A1 (de) | Organische elektrolumineszenzvorrichtung | |
| DE102012208142B4 (de) | Organisches licht emittierendes bauelement und verfahren zur herstellung eines organischen licht emittierenden bauelements | |
| EP3201959B1 (de) | Organisches elektronisches bauteil | |
| DE102011052509A1 (de) | Wasser-Aufnahmemittel und eine organoelektrische Vorrichtung, die das Wasser-Aufnahmemittel darin enthält | |
| Yuan et al. | Targeted design of surface configuration on CsPbI3 perovskite nanocrystals for high-efficiency photovoltaics | |
| DE102017111425A1 (de) | Organisches elektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines organischen elektronischen Bauelements | |
| DE102012112999B4 (de) | Verfahren zum Herstellen eines organischen lichtemittierenden Bauelementes | |
| DE102004031071B4 (de) | Verfahren zur Behandlung einer organischen Leuchtdiode (OLED) zur Verlängerung der Lebensdauer | |
| DE102014117096B4 (de) | Fotolithografieverfahren zum Herstellen organischer Leuchtdioden | |
| DE102013226998B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Nanodrahtelektrode für optoelektronische Bauelemente sowie deren Verwendung | |
| DE102015112132A1 (de) | Metallkomplexverbindung und organisches lichtemittierendes Bauelement | |
| DE112013005382B4 (de) | Element zur Stabilisierung eines optoelektronischen Bauelements, Verfahren zur Herstellung eines Elements und optoelektronisches Bauelement | |
| DE102016101710A1 (de) | OLED und Verfahren zur Herstellung einer OLED | |
| DE102024001802A1 (de) | Nickelmonoxid als lochleitendes Material, Perowskit-Solarzelle und Verfahren zur Herstellung von Nickelmonoxid als lochleitendes Material | |
| DE102007059887B4 (de) | Lichtemittierendes organisches Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung | |
| DE102013112200A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines elektrooptischen organischen Bauelementes und elektrooptisches organisches Bauelement |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |