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DE102008041808A1 - Particle sensor i.e. resistive particle sensor, for detecting soot particles in gas stream of vehicle, has electrodes with main surfaces that contact less than hundred percent of main surfaces of adjacent insulation layers - Google Patents

Particle sensor i.e. resistive particle sensor, for detecting soot particles in gas stream of vehicle, has electrodes with main surfaces that contact less than hundred percent of main surfaces of adjacent insulation layers Download PDF

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Publication number
DE102008041808A1
DE102008041808A1 DE200810041808 DE102008041808A DE102008041808A1 DE 102008041808 A1 DE102008041808 A1 DE 102008041808A1 DE 200810041808 DE200810041808 DE 200810041808 DE 102008041808 A DE102008041808 A DE 102008041808A DE 102008041808 A1 DE102008041808 A1 DE 102008041808A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
electrode
layer
electrodes
layer structure
particle sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE200810041808
Other languages
German (de)
Inventor
Hans-Joerg Renz
Bettina Wendling
Jan Thar
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE200810041808 priority Critical patent/DE102008041808A1/en
Publication of DE102008041808A1 publication Critical patent/DE102008041808A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/06Investigating concentration of particle suspensions
    • G01N15/0656Investigating concentration of particle suspensions using electric, e.g. electrostatic methods or magnetic methods

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Abstract

The particle sensor (11) has three insulation layers (14-16), and an electrode system with two electrodes (12, 13). The electrodes are arranged between the two adjacent insulation layers by forming a layer structure. Each electrode has a region accessible from a side surface (S1) of the layer structure. Main surfaces (HE1, HE2) of the electrodes contact less than 100 percent of main surfaces (H1, H2) of the adjacent insulation layers. The side surface of the layer structure has slots and/or a curved structure for increasing the accessible electrode surface. An independent claim is also included for a method for manufacturing a particle sensor.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft einen Partikelsensor, insbesondere zur Detektion von leitfähigen Partikeln in einem Gasstrom, und ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Partikelsensors.The The present invention relates to a particle sensor, in particular for the detection of conductive Particles in a gas stream, and a method for producing a such particle sensor.

Stand der TechnikState of the art

In naher Zukunft muss der Partikelausstoß, insbesondere von Fahrzeugen während des Fahrbetriebes, nach dem Durchlaufen eines Motors beziehungsweise Dieselpartikelfilters (DPF) per gesetzlicher Vorschrift überwacht werden (On Board Diagnosis, OBD). Darüber hinaus ist eine Beladungsprognose von Dieselpartikelfiltern zur Regenerationskontrolle notwendig, um eine hohe Systemsicherheit bei wenigen effizienten, kraftstoffsparenden Regenerationszyklen zu gewährleisten und kostengünstige Filtermaterialien einsetzen zu können.In In the near future, particle emissions, especially of vehicles, have to be addressed while the driving operation, after passing through an engine or Diesel Particulate Filter (DPF) monitored by law (On Board Diagnosis, OBD). In addition, a load forecast of diesel particulate filters necessary for regeneration control, a high system security with few efficient, fuel-efficient To ensure regeneration cycles and cost-effective To be able to use filter materials.

Eine Möglichkeit hierzu bieten resistive Partikelsensoren. Resistive Partikelsensoren weisen ein Elektrodensystem mit mindestens zwei, dem Abgas frei ausgesetzten Elektroden auf. In so genannten Interdigitalelektrodensystemen greifen dabei mindestens zwei Elektroden kammartig ineinander. Resistive Partikelsensoren beruhen auf einem sammelnden Prinzip. Unter dem Einfluss einer an die Elektroden angelegten Spannung und dem resultierenden elektrischen Feld lagern sich die zu detektierenden Partikel, insbesondere Rußpartikel an beziehungsweise zwischen den Elektroden ab und führen zu einer Widerstands- und/oder Impedanzänderung zwischen den Elektroden, welche Rückschlüsse auf die Partikelanlagerung ermöglicht. Die Empfindlichkeit eines Partikelsensors ist dabei abhängig von dem Abstand zwischen den Elektroden und steigt bei Verringerung des Elektrodenabstands.A possibility resistive particle sensors offer this. Resistive particle sensors have an electrode system with at least two, the exhaust gas freely exposed electrodes. In so-called interdigital electrode systems At least two electrodes engage in one another like a comb. resistive Particle sensors are based on a collecting principle. Under the Influence of a voltage applied to the electrodes and the resulting electric field, the particles to be detected are stored, in particular soot at or between the electrodes and lead to a resistance and / or impedance change between the electrodes, which conclusions on the particle attachment allows. The sensitivity of a particle sensor is dependent on the distance between the electrodes and increases with decreasing the Electrode spacing.

Herkömmlicherweise werden Interdigitalelektrodensysteme mittels eines Siebdruckverfahrens auf eine Isolationsschicht aufgedruckt. Mit Siebdruckverfahren kann derzeit jedoch nur ein minimaler Elektrodenabstand und eine minimale Elektrodenbreite von etwa 80 μm realisiert werden.traditionally, Interdigitalelektrodensysteme be by means of a screen printing process an insulation layer printed. With screen printing method can currently, however, only a minimum electrode gap and a minimum Electrode width of about 80 microns will be realized.

Darüber hinaus erfolgt bei planaren, resistiven Partikelsensoren meist eine inhomogene Anlagerung der leitfähigen Partikeln auf dem Elektrodensystem.Furthermore For planar, resistive particle sensors usually an inhomogeneous Addition of the conductive Particles on the electrode system.

Um eine inhomogene Anlagerung zu vermeiden werden häufig Schutzrohre eingesetzt, welche den Gas-Partikel-Strom derart mit einer hohen Strömungsgeschwindigkeit über die schmalen Seitenflächen eines planaren, resistiven Partikelsensors lenken, dass das auf der Hauptfläche des planaren Partikelsensors angeordnete Elektrodensystem zur Detektion der Partikel nur wenig überströmt wird beziehungsweise im Windschatten liegt. Das Elektrodensystem zur Detektion der Partikel ist bei einer derartigen Anordnung somit am Ort der geringsten Überströmung und folglich der geringsten Partikelkonzentration angeordnet, was insbesondere bei Elektrodenabständen von über 80 μm eine geringe Empfindlichkeit des Partikelsensors zur Folge hat.Around To avoid an inhomogeneous deposit protection tubes are often used, which the gas-particle stream so with a high flow velocity over the narrow side surfaces of a planar, resistive particle sensor direct that on the main surface the planar particle sensor arranged electrode system for detection the particle is only slightly overflowed or in the slipstream. The electrode system for Detection of the particles is thus in such an arrangement in the place of the slightest overflow and consequently arranged the lowest particle concentration, which in particular at electrode intervals from above 80 μm one low sensitivity of the particle sensor results.

Offenbarung der ErfindungDisclosure of the invention

Vorteile der ErfindungAdvantages of the invention

Der erfindungsgemäße Partikelsensor nach Anspruch 1, hat den Vorteil, dass unter Verwendung eines herkömmlichen Schutzrohres dessen Elektrodensystem am Ort der höchsten Überströmung und damit der höchsten Partikelkonzentration angeordnet ist, was dem erfindungsgemäßen Partikelsensor zum einen eine verbesserte Empfindlichkeit und bessere Strömungseigenschaften verleiht. Zum anderen ist der Elektrodenabstand eines erfindungsgemäßen Partikelsensors – und damit dessen Empfindlichkeit – nicht durch die minimale Siebdruckbreite und den minimalen Siebdruckabstand von 80 μm limitiert, sondern kann der mittels Siebdruck realisierbaren Dicke beziehungsweise der Dicke einer Isolationsschichtfolie entsprechen, welche bis zu 5 μm dünn sein kann. Dies hat vorteilhafterweise eine deutliche Empfindlichkeitssteigerung zur Folge. Aufgrund der gesteigerten Empfindlichkeit des erfindungsgemäßen Partikelsensors, kann außerdem die Größe des Elektrodensystems und damit die Kosten für das Elektrodenmaterial, welches insbesondere Platin sein kann, verringert werden. Darüber hinaus wird die aktive Sensorfläche, nämlich das Elektrodensystem, erfindungsgemäß vollständig überströmt, was vorteilhafterweise eine homogene Partikelanlagerung zur Folge hat. Ferner sind die Elektroden des erfindungsgemäßen Sensors nur von der/den Seitenflächen des Schichtaufbaus für den Gasstrom zugänglich, wodurch die Menge an Elektrodenmaterial, insbesondere Platin, welches direkt mit dem Gasstrom in Kontakt gerät sehr klein ist und Temperaturalterungseffekte durch häufiges Regenerieren des Partikelsensors minimiert werden.Of the Particle sensor according to the invention according to claim 1, has the advantage that using a conventional Protective tube whose electrode system at the site of the highest flow and thus the highest Particle concentration is arranged, which is the particle sensor according to the invention on the one hand, improved sensitivity and better flow properties gives. On the other hand, the electrode spacing of a particle sensor according to the invention - and thus its sensitivity - not through the minimum screen printing width and the minimum screen printing distance of 80 μm limited, but can be realized by screen printing thickness or correspond to the thickness of an insulating layer film, up to 5 μm thin can. This advantageously has a significant increase in sensitivity result. Due to the increased sensitivity of the particle sensor according to the invention, can also the size of the electrode system and therefore the costs for the electrode material, which may be in particular platinum, reduced become. About that In addition, the active sensor surface, namely the electrode system, according to the invention completely overflowed, which advantageously results in a homogeneous particle accumulation. Furthermore, the Electrodes of the sensor according to the invention only from the side surfaces of the layer structure for access the gas stream, whereby the amount of electrode material, in particular platinum, which directly in contact with the gas stream is very small and temperature aging effects through frequent Regeneration of the particle sensor can be minimized.

Zeichnungendrawings

Weitere Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Gegenstandes werden durch die Zeichnungen veranschaulicht und in der nachfolgenden Beschreibung erläutert. Dabei ist zu beachten, dass die Figuren nur beschreibenden Charakter haben und nicht dazu gedacht sind, die Erfindung in irgendeiner Form einzuschränken. Es zeigen:Further Advantages and advantageous embodiments of the subject invention are illustrated by the drawings and in the following Description explained. It should be noted that the figures are only descriptive in nature and are not meant to be the invention in any way Restrict shape. Show it:

1 eine schematische Draufsicht auf einen herkömmlichen, planaren, resistiven Partikelsensor; 1 a schematic plan view of a conventional, planar, resistive particle sensor;

2 einen Graph zur Veranschaulichung der Abhängigkeit des Messsignals vom Elektrodenabstand; 2 a graph illustrating the dependence of the measuring signal from the electrode spacing;

3 eine schematische, perspektivische Ansicht einer Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Partikelsensors, 3 a schematic, perspective view of an embodiment of a particle sensor according to the invention,

4 ein Schaltbild des in 3 gezeigten, erfindungsgemäßen Partikelsensors; 4 a schematic diagram of the in 3 shown, particle sensor according to the invention;

5a eine schematische, perspektivische Ansicht einer plattenförmigen Schicht; 5a a schematic, perspective view of a plate-shaped layer;

5b eine schematische, perspektivische Ansicht einer scheibenförmigen Schicht; und 5b a schematic, perspective view of a disc-shaped layer; and

6a-e schematische, perspektivische Ansichten zur Veranschaulichung einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens. 6a -e schematic, perspective views illustrating an embodiment of the method according to the invention.

1 zeigt eine schematische Draufsicht auf einen herkömmlichen, planaren, resistiven Partikelsensor 1, welcher ein Elektrodensystem mit einer ersten 2 und einer zweiten 3 Elektrode aufweist, das auf einer Isolationsschicht 4 angeordnet ist. 1 veranschaulicht, das Überströmen 5 eines derartigen Partikelsensors 1 in einem Schutzrohr mit gleichmäßig angeordneten Drallklappen welches eine zirkulare Strömung 5 erzeugt. 1 zeigt, dass die Seitenflächen eines derartigen Partikelsensors 1 den Ort mit der höchsten Überströmung 5 darstellen, wobei das Elektrodensystem 2, 3 zur Detektion der Partikel im Windschatten und damit am Ort der geringsten Überströmung und der geringsten Partikelkonzentration angeordnet ist, was eine geringe Empfindlichkeit des Partikelsensors 1 zur Folge hat. 1 shows a schematic plan view of a conventional, planar, resistive particle sensor 1 , which is an electrode system with a first 2 and a second 3 Having electrode on an insulating layer 4 is arranged. 1 illustrates the overflow 5 such a particle sensor 1 in a protective tube with uniformly arranged swirl flaps which has a circular flow 5 generated. 1 shows that the side surfaces of such a particle sensor 1 the place with the highest overflow 5 represent, wherein the electrode system 2 . 3 is arranged for the detection of the particles in the slipstream and thus at the location of the lowest overflow and the lowest particle concentration, resulting in a low sensitivity of the particle sensor 1 entails.

2 zeigt die Abhängigkeit des Signalgradienten und damit des Messsignals von der Partikelkonzentration für vier Partikelsensoren 6, 7, 8, 9, welche sich durch ihren Elektrodenabstand voneinander unterscheiden. Dabei weist der Partikelsensor 6 einen Elektrodenabstand von 40 μm, der Partikelsensor 7 einen Elektrodenabstand von 80 μm, der Partikelsensor 8 einen Elektrodenabstand von 120 μm und der Partikelsensor 9 einen Elektrodenabstand von 160 μm auf. 2 veranschaulicht, dass mit kleiner werdendem Elektrodenabstand der Signalgradient und damit die Empfindlichkeit und Schnelligkeit eines Partikelsensors 6, 7, 8, 9 deutlich ansteigt. Eine Empfindlichkeit, welche mit der des Partikelsensors 7 vergleichbar wäre, kann mit den herkömmlichen Siebdruck-Strukturen jedoch nicht erzielt werden, da diese durch die minimale Siebdruckbreite und den minimalen Siebdruckabstand von 80 μm limitiert sind. 2 shows the dependence of the signal gradient and thus of the measurement signal on the particle concentration for four particle sensors 6 . 7 . 8th . 9 , which differ from each other by their electrode spacing. In this case, the particle sensor 6 an electrode distance of 40 microns, the particle sensor 7 an electrode distance of 80 microns, the particle sensor 8th an electrode spacing of 120 microns and the particle sensor 9 an electrode spacing of 160 microns. 2 illustrates that with decreasing electrode spacing the signal gradient and thus the sensitivity and speed of a particle sensor 6 . 7 . 8th . 9 increases significantly. A sensitivity that matches that of the particle sensor 7 comparable, but can not be achieved with the conventional screen printing structures, since these are limited by the minimum screen printing width and the minimum screen printing distance of 80 microns.

3 zeigt eine Ausführungsform eines erfindungsgemäßen, insbesondere resistiven, Partikelsensors 11, welcher zur Detektion von leitfähigen Partikeln in einem Gasstrom geeignet ist. Unter einem Partikel wird dabei im Rahmen der vorliegenden Erfindung ein Feststoff, insbesondere ein elektrisch leitender oder leitfähiger Feststoff, beispielsweise ein Rußpartikel, verstanden. Insbesondere kann des sich bei dem erfindungsgemäßen Partikelsensor 11 um einen Rußpartikelsensor handeln. 3 shows an embodiment of a particulate sensor according to the invention, in particular resistive 11 , which is suitable for the detection of conductive particles in a gas stream. In the context of the present invention, a particle is understood to be a solid, in particular an electrically conductive or conductive solid, for example a soot particle. In particular, in the case of the particle sensor according to the invention 11 to act as a soot particle sensor.

3 zeigt, dass diese Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Partikelsensors 11 drei Isolationsschichten 14, 15, 16 und ein Elektrodensystem mit einer ersten 12 und einer zweiten 13 Elektrode umfasst. Die Elektroden 12, 13 sind dabei jeweils zwischen zwei angrenzenden Isolationsschichten 14, 15, 16 unter Ausbildung eines Schichtaufbaus 1412151316 angeordnet. 3 veranschaulicht, dass dabei jede Elektrode 12, 13 mindestens einen von einer ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereich aufweist. 3 shows that this embodiment of a particle sensor according to the invention 11 three insulation layers 14 . 15 . 16 and an electrode system having a first one 12 and a second 13 Electrode includes. The electrodes 12 . 13 are each between two adjacent insulation layers 14 . 15 . 16 under formation of a layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 arranged. 3 illustrates that doing each electrode 12 . 13 at least one of a first side surface S1 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 has accessible area.

3 veranschaulicht darüber hinaus, dass die Hauptflächen HE1, HE2, insbesondere die obere und untere Fläche (siehe 3), der Elektroden 12, 13, vorzugsweise jeweils weniger als 100 Prozent, beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche H1, H2 der daran angrenzenden Isolationsschicht 14, 15, 16 kontaktieren. Dies hat den Vorteil, dass eine geringe Menge an Elektrodenmaterial, insbesondere Platin, benötigt wird. Unter den „Hauptflächen einer Elektrode” HE1, HE2 beziehungsweise den „Hauptflächen einer Schicht” H1, H2 werden im Sinn der vorliegenden Erfindung die beiden größten, insbesondere einander gegenüberliegenden, Flächen einer Elektrode 12, 13 beziehungsweise Schicht 14, 15, 16, 19, 20 verstanden. Die weiteren Flächen einer Elektrode 12, 13 beziehungsweise einer Schicht 14, 15, 16, 19, 20 werden im Rahmen der vorliegenden Erfindung als „Seitenflächen der Elektrode” beziehungsweise „Seitenflächen der Schicht” s1, s2, s3, s4 (siehe 5a und 5b) bezeichnet. 3 illustrates, moreover, that the main surfaces HE1, HE2, in particular the upper and lower surface (see 3 ), the electrodes 12 . 13 , preferably in each case less than 100 percent, for example ≦ 50%, in particular ≦ 15%, of the main surface H1, H2 of the insulating layer adjacent thereto 14 . 15 . 16 to contact. This has the advantage that a small amount of electrode material, in particular platinum, is needed. In the context of the present invention, the "largest surfaces of an electrode" HE1, HE2 or the "main surfaces of a layer" H1, H2 are the two largest, in particular opposite, surfaces of an electrode 12 . 13 or layer 14 . 15 . 16 . 19 . 20 Understood. The other surfaces of an electrode 12 . 13 or a layer 14 . 15 . 16 . 19 . 20 are in the context of the present invention as "side surfaces of the electrode" or "side surfaces of the layer" s1, s2, s3, s4 (see 5a and 5b ) designated.

Unter einer „Seitenfläche eines Schichtaufbaus” S1, S2, S3, S4 wird im Rahmen der vorliegenden Erfindung eine Fläche verstanden, welche durch die Seitenflächen s1, s2, s3, s4 mehrere aufeinander angeordneter Schichten 14, 15, 16 ausgebildet wird.In the context of the present invention, a "side surface of a layer structure" S1, S2, S3, S4 is understood to mean a surface which, by means of the side surfaces s1, s2, s3, s4, has a plurality of layers arranged on one another 14 . 15 . 16 is trained.

Im Rahmen einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung weist jede Elektrode 12, 13 weiterhin, das heißt neben dem mindestens einen von einer ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereich, mindestens einen von den beiden angrenzenden Isolationsschichten 14, 15; 15, 16 umschlossen Bereich auf. Dies hat den Vorteil, dass die Elektroden 12, 13 in dem umschlossenen Bereich vor Korrosion geschützt werden.In a preferred embodiment of the present invention, each electrode 12 . 13 Furthermore, that is, in addition to the at least one of a first side surface S1 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 accessible area, at least one of the two adjacent insulating layers 14 . 15 ; 15 . 16 enclosed area on. This has the advantage that the electrodes 12 . 13 be protected from corrosion in the enclosed area.

Unter einem „von zwei angrenzenden Isolationsschichten umschlossen Bereich einer Elektrode” wird im Sinn der vorliegenden Erfindung verstanden, dass die Elektrode 12; 13 in diesem Bereich an mindestens drei, insbesondere drei, Elektrodenflächen an eine oder mehrere Isolationsschichten 14, 15; 15, 16 angrenzt. Beispielsweise grenzt in diesem Bereich die untere Fläche der Elektrode 12 an eine Isolationsschicht 14, die obere Fläche der Elektrode 12 an eine andere Isolationsschicht 15 und eine Seitenfläche der Elektrode 12 teilweise oder vollständig an die eine 14 und/oder die andere 15 Isolationsschicht an. Dies kann beispielsweise durch das Aufbringen, insbesondere Aufdrucken, einer Isolationsschicht 15 mittels eines Siebdruckverfahrens erfolgen, indem die Isolationsschicht 15 auf eine Elektrode 12 und eine darunter angeordnete Isolationsschicht 14 derart aufgedruckt wird, dass sowohl die obere Fläche der Elektrode 12 als auch eine Seitenfläche der Elektrode 12 an die aufgebrachte Isolationsschicht 15 angrenzt. Beim Aufbringen einer Isolationsschichtfolie auf eine Elektrode 12 mittels eines Laminierungsverfahrens kann die aufgebrachte Isolationsschicht 15 unter Anwendung eines erhöhten Drucks und/oder einer erhöhten Temperatur ebenfalls sowohl an die obere Fläche als auch eine Seitenfläche der Elektrode 12 angrenzend aufgebracht werden. Es sei angemerkt, dass im Rahmen dieser Erfindung verwendete Richtungsbegriffe, wie „oben”, „unten”, „darunter”, usw., der Angabe der Reihenfolge von mehreren Bauteilen dienen und die Erfindung nicht hinsichtlich der Ausrichtung im Bezug auf die Gravitationsrichtung einschränken sollen.Under one of two adjacent Isolati Onsschichten enclosed area of an electrode "is understood in the sense of the present invention that the electrode 12 ; 13 in this area at least three, in particular three, electrode surfaces to one or more insulating layers 14 . 15 ; 15 . 16 borders. For example, in this area, the lower surface of the electrode is adjacent 12 to an insulation layer 14 , the upper surface of the electrode 12 to another insulation layer 15 and a side surface of the electrode 12 partially or completely to the one 14 and / or the other 15 Insulation layer on. This can be achieved, for example, by the application, in particular printing, of an insulation layer 15 done by means of a screen printing process by the insulation layer 15 on an electrode 12 and an insulating layer disposed thereunder 14 is printed such that both the upper surface of the electrode 12 as well as a side surface of the electrode 12 to the applied insulation layer 15 borders. When applying an insulation layer foil to an electrode 12 By means of a lamination process, the applied insulating layer 15 also applying an increased pressure and / or an elevated temperature to both the upper surface and a side surface of the electrode 12 be applied adjacent. It should be noted that directional terms used in this invention, such as "top", "bottom", "below", etc., are intended to indicate the order of multiple components and are not intended to limit the invention in orientation with respect to the direction of gravity ,

Im Rahmen der vorliegenden Erfindung ist es möglich, dass sich eine Isolationsschicht 14, 15, 16 aus mehreren sehr dünnen Isolationsschichtfolien zusammensetzt. Auf diese Weise kann auch bei kleineren Defekten in den einzelnen Isolationsschichtfolien eine gute isolierende Wirkung bei gleichzeitig geringer Dicke der gesamten Isolationsschicht 14, 15, 16 erzielt werden.In the context of the present invention, it is possible that an insulating layer 14 . 15 . 16 composed of several very thin insulating film layers. In this way, even with small defects in the individual insulating layer films a good insulating effect at the same time low thickness of the entire insulation layer 14 . 15 . 16 be achieved.

3 veranschaulicht darüber hinaus, dass im Rahmen einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung jede Elektrode 12, 13 weiterhin mindestens einen von einer zweiten Seitenfläche S2 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereich und/oder einen von einer dritten Seitenfläche S3 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereich aufweist. 3 zeigt ferner, dass im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfindung jeweils die von der ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereiche und jeweils die von der zweiten Seitenfläche S2 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereiche und/oder jeweils die von der dritten Seitenfläche S3 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereiche der Elektroden 12, 13 übereinander, insbesondere durch die Isolationsschichten 14, 15, 15 beabstandet zueinander, angeordnet sind. Diese Ausführungsformen haben den Vorteil, dass eine gleichmäßige Partikelanlagerung auf mehreren Seitenflächen S1, S2, S3 des Partikelsensors 11 ermöglicht sowie ein gerichteter Verbau des Partikelsensors 11 in einem Schutzrohr vermieden wird. 3 further illustrates that in a preferred embodiment of the invention, each electrode 12 . 13 at least one of a second side surface S2 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 accessible area and / or one of a third side surface S3 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 has accessible area. 3 further shows that within the scope of a further preferred embodiment of the invention, in each case those of the first side surface S1 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 accessible areas and each of the second side surface S2 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 accessible areas and / or each of the third side surface S3 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 accessible areas of the electrodes 12 . 13 on top of each other, in particular through the insulation layers 14 . 15 . 15 spaced from each other, are arranged. These embodiments have the advantage that a uniform particle accumulation on a plurality of side surfaces S1, S2, S3 of the particle sensor 11 allows as well as a directed shoring of the particle sensor 11 is avoided in a protective tube.

Im Rahmen der in 3 gezeigten Ausführungsform sind die zugänglichen Bereiche der Elektroden 12, 13 auf aneinander angrenzenden Seitenflächen S1, S2, S3 angeordnet. 3 zeigt darüber hinaus, dass die Elektroden 12, 13 im Rahmen einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mindestens einen Bereich aufweisen, der sich über die volle Breite einer Seitenfläche S2 erstreckt. 3 zeigt insbesondere, dass sich die Elektroden 12, 13 im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung einen ersten, sich über die volle Breite einer Seitenfläche S2 erstreckenden Bereich und einen zweiten und dritten, sich zumindest teilweise über die Breite einer Seitenfläche S1, S3 erstreckenden Bereich aufweisen, wobei der zweite und dritte Bereich an den ersten Bereich angrenzt.As part of the in 3 The embodiments shown are the accessible areas of the electrodes 12 . 13 arranged on adjoining side surfaces S1, S2, S3. 3 moreover shows that the electrodes 12 . 13 in the context of a preferred embodiment of the present invention, have at least one region which extends over the full width of a side surface S2. 3 shows in particular that the electrodes 12 . 13 in the context of a further preferred embodiment of the present invention, a first, over the full width of a side surface S2 extending region and a second and third, at least partially over the width of a side surface S1, S3 extending region, wherein the second and third region of the first area is adjacent.

3 zeigt darüber hinaus, dass im Rahmen einer Ausführungsform die Seitenflächen S1, S2, S3, S4 des Schichtaufbaus 1412151316 eine geringere Fläche aufweisen als die Deckflächen D1, D2 des Schichtaufbaus 1412151316, wobei die Bereiche der Elektroden 12, 13 von den kleineren Seitenflächen S1, S2, S3, S4 des Schichtaufbaus 1412151316 aus zugänglich sind. Durch die bereits erläuterte höhere Überströmung der Seitenflächen eines Partikelsensors 11 in einem herkömmlichen Schutzrohr können die Partikel bei einer derartigen Anordnung besser gesammelt werden. Eine Verringerung der absoluten Fläche des Elektrodensystems kann dabei vorteilhafterweise durch den geringeren Elektrodenabstand und die höhere Überströmung kompensiert werden. 3 shows, moreover, that in one embodiment, the side surfaces S1, S2, S3, S4 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 have a smaller area than the top surfaces D1, D2 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 , wherein the areas of the electrodes 12 . 13 from the smaller side surfaces S1, S2, S3, S4 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 are accessible from. By already explained higher flow over the side surfaces of a particle sensor 11 in a conventional protective tube, the particles can be collected better in such an arrangement. A reduction in the absolute area of the electrode system can be compensated advantageously by the smaller electrode spacing and the higher overflow.

Bei beispielsweise einer sehr großen Schichtdicke oder großen Anzahl von aufeinander angeordneten Schichten 12, 13, 14, 15, 16 können im Rahmen der vorliegenden Erfindung die Seitenflächen S1, S2, S3, S4 eines Schichtaufbaus 1412151316 jedoch auch eine größere Fläche aufweisen als die Deckflächen D1, D2 des Schichtaufbaus 1412151316. Im Rahmen einer anderen, nicht dargestellten Ausführungsform weisen die Seitenflächen S1, S2, S3, S4 des Schichtaufbaus 1412151316 eine größere Fläche auf als die Deckflächen D1, D2 des Schichtaufbaus 1412151316, wobei die Bereiche der Elektroden 12, 13 von den größeren Seitenflächen S1, S2, S3, S4 des Schichtaufbaus 1412151316 aus zugänglich sind.For example, a very large layer thickness or large number of layers arranged on top of each other 12 . 13 . 14 . 15 . 16 can in the context of the present invention, the side surfaces S1, S2, S3, S4 of a layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 However, also have a larger area than the top surfaces D1, D2 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 , In the context of another, not shown embodiment, the side surfaces S1, S2, S3, S4 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 a larger area than the top surfaces D1, D2 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 , wherein the areas of the electrodes 12 . 13 from the larger side surfaces S1, S2, S3, S4 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 are accessible from.

Dies kann insbesondere im Rahmen einer weiteren, nicht dargestellten, bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung der Fall sein, in der der Partikelsensor 11 eine Vielzahl von Elektroden 12, 13 und Isolationsschichten 14, 15, 16 und/oder gegebenenfalls Trägerschichten 19, 20 umfasst, wobei die Elektroden 12, 13 jeweils zwischen zwei angrenzenden Isolationsschichten 14, 15, 16 unter Ausbildung eines Schichtaufbaus 1412151316 angeordnet sind. Durch Zusammenschalten jeweils der n-ten und jeweils der (n + 1)-ten Elektroden 12, 13 kann auf diese Weise ein Elektrodensystem geschaffen werden, welches herkömmlichen Interdigitalelektrodensystemen ähnelt, diese aufgrund des bereits erläuterten geringeren Abstands zwischen den Elektroden in der Sensibilität jedoch deutlich übertrifft.This can be done in particular as part of a further, not shown, preferred embodiment of the present invention be the case in which the particle sensor 11 a variety of electrodes 12 . 13 and insulation layers 14 . 15 . 16 and / or optionally carrier layers 19 . 20 includes, wherein the electrodes 12 . 13 each between two adjacent insulation layers 14 . 15 . 16 under formation of a layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 are arranged. By interconnecting the nth and respectively the (n + 1) th electrodes 12 . 13 In this way, an electrode system can be created that is similar to conventional interdigital electrode systems, but significantly exceeds them in terms of sensitivity due to the already explained smaller distance between the electrodes.

Im Rahmen einer weiteren, nicht dargestellten, bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist auf mindestens einer der Deckflächen D1, D2 des Schichtaufbaus 1412151316 ein Interdigitalelektrodensystem angeordnet. Dies hat den Vorteil, dass eine gleichmäßige Partikelanlagerung auf mehreren Seitenflächen S1, S2, S3 und beiden Deckflächen D1, D2 des Partikelsensors 11 ermöglicht und ein gerichteter Verbau des Partikelsensors 11 in einem Schutzrohr vermieden wird.In another, not shown, preferred embodiment of the present invention is on at least one of the top surfaces D1, D2 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 arranged an interdigital electrode system. This has the advantage that a uniform particle accumulation on a plurality of side surfaces S1, S2, S3 and two cover surfaces D1, D2 of the particle sensor 11 allows and a directed shoring of the particle sensor 11 is avoided in a protective tube.

Im Rahmen einer weiteren, nicht dargestellten, bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung weisen die Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen S1, S2, S3 des Schichtaufbaus 1412151316 Schlitze und/oder eine gewellte Struktur auf. Dies hat den Vorteil, dass hierdurch die für den Gas-Partikel-Strom zugängliche Elektrodenfläche vergrößert wird.In the context of a further, not shown, preferred embodiment of the present invention, the electrode areas having side surfaces S1, S2, S3 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 Slits and / or a wavy structure. This has the advantage that it increases the area of the electrode accessible to the gas-particle stream.

3 zeigt, dass ein erfindungsgemäßer Partikelsensor 11 vorzugsweise Zuleitungen 17a, 17b, 18a, 18b und/oder Durchkontaktierungen 21a, 21b; 22a, 22b und/oder Kontakte 23a, 23b, 24a, 24b zum Kontaktieren der Elektroden 12, 13 aufweist. Im Rahmen einer weiteren, bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung sind die Zuleitungen 17a, 17b, 18a, 18b im Inneren des Schichtaufbaus 1412151316 angeordnet. Dadurch werden die Zuleitungen 17a, 17b, 18a, 18b vorteilhafterweise vor Korrosion geschützt. Vorzugsweise kontaktieren die Hauptflächen HZ1, HZ2 der Zuleitungen 17a, 17b, 18a, 18b zusammen mit den entsprechenden Hauptflächen HE1, HE2 der Elektroden 12, 13, wie in 3 gezeigt, jeweils weniger als 100 Prozent, beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche H1, H2 der daran angrenzenden Isolationsschicht 14, 15, 16. 3 shows that a particle sensor according to the invention 11 preferably leads 17a . 17b . 18a . 18b and / or vias 21a . 21b ; 22a . 22b and / or contacts 23a . 23b . 24a . 24b for contacting the electrodes 12 . 13 having. Within the scope of a further, preferred embodiment of the present invention, the supply lines 17a . 17b . 18a . 18b inside the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 arranged. This will cause the leads 17a . 17b . 18a . 18b advantageously protected against corrosion. Preferably, the main surfaces HZ1, HZ2 contact the leads 17a . 17b . 18a . 18b together with the corresponding main surfaces HE1, HE2 of the electrodes 12 . 13 , as in 3 in each case less than 100 percent, for example ≦ 50%, in particular ≦ 15%, of the main surface H1, H2 of the insulating layer adjacent thereto 14 . 15 . 16 ,

3 zeigt darüber hinaus, dass der Schichtaufbau 1412151316 eines erfindungsgemäßen Partikelsensors 11 mindestens eine Trägerschicht 19, 20 aufweisen kann. Beispielsweise kann, wie in 3 gezeigt, jeweils eine Trägerschicht 19, 20 auf den Deckflächen D1, D2 des Schichtaufbaus 1412151316 angeordnet sein. Die Trägerschichten 19, 20 können beispielsweise Zirkoniumoxid, Aluminiumoxid und/oder Low Temperature cofired ceramic (LTCC), insbesondere Zirkoniumoxid, umfassen, oder aus Zirkoniumoxid, Aluminiumoxid und/oder Low Temperature cofired ceramic (LTCC), insbesondere Zirkoniumoxid, ausgebildet sein. Insofern die Trägerschicht 19, 20 Zirkoniumoxid umfasst und ein Interdigitalelektrodensystem auf einer oder beiden Deckflächen D1, D2 vorgesehen ist, weist der erfindungsgemäße Partikelsensor 11 mindestens eine Isolationsschicht zwischen dem Interdigitalelektrodensystem und der Trägerschicht auf. Die Trägerschichten 19, 20 können im Rahmen der vorliegenden Erfindung beispielsweise eine Schichtdicke dT von ≥ 5 μm bis ≤ 200 μm, insbesondere von ≥ 5 μm bis ≤ 80 μm, aufweisen. Dabei können die Trägerschichten 19, 20 eine oder mehrere Trägerschichtfolien und/oder Trägerdruckschichten mit einer Schichtdicke von ≥ 5 μm bis ≤ 100 μm, beispielsweise von ≥ 5 μm bis ≤ 40 μm, umfassen. Die Hauptflächen der Trägerschichten 19, 20 können beispielsweise ≥ 20 mm2 bis ≤ 800 mm2, insbesondere ≥ 20 mm2 bis ≤ 500 mm2, betragen. Insbesondere können die Trägerschichten 19, 20 gleich große Hauptflächen H1, H2 aufweisen. Vorzugsweise weisen die Trägerschichten 19, 20 gleich große Hauptflächen H1, H2 wie die Isolationsschichten 14, 15, 16 auf. 3 moreover shows that the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 a particle sensor according to the invention 11 at least one carrier layer 19 . 20 can have. For example, as in 3 each shown a carrier layer 19 . 20 on the top surfaces D1, D2 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 be arranged. The carrier layers 19 . 20 For example, zirconia, alumina, and / or low temperature cofired ceramic (LTCC), particularly zirconia, may comprise or may be formed of zirconia, alumina, and / or low temperature cofired ceramic (LTCC), particularly zirconia. In this respect, the carrier layer 19 . 20 Includes zirconium oxide and an interdigital electrode system is provided on one or both top surfaces D1, D2, has the particle sensor according to the invention 11 at least one insulating layer between the interdigital electrode system and the carrier layer. The carrier layers 19 . 20 For example, in the context of the present invention, they may have a layer thickness d T of ≥ 5 μm to ≦ 200 μm, in particular of ≥ 5 μm to ≦ 80 μm. In this case, the carrier layers 19 . 20 one or more carrier layer films and / or carrier printing layers having a layer thickness of ≥ 5 microns to ≤ 100 microns, for example, from ≥ 5 microns to ≤ 40 microns include. The main surfaces of the carrier layers 19 . 20 For example, they can be ≥ 20 mm 2 to ≦ 800 mm 2 , in particular ≥ 20 mm 2 to ≦ 500 mm 2 . In particular, the carrier layers 19 . 20 have the same size major surfaces H1, H2. Preferably, the carrier layers 19 . 20 equal major surfaces H1, H2 as the insulation layers 14 . 15 . 16 on.

Die Isolationsschichten 14, 15, 16 und/oder Trägerschichten 19, 20 können im Rahmen der vorliegenden Erfindung plattenförmig oder im wesentlichen scheibenfömig sein und einen platten/blockförmigen beziehungsweise im wesentlichen zylindrischen Schichtaufbau 1412151316 ausbilden. Unter dem Begriff „im wesentlichen scheibenförmig” wird im Rahmen der vorliegenden Erfindung verstanden, dass neben Schichten mit kreisförmigen Hauptflächen (Isolationsschichtscheiben) auch Isolationsschichten mit im wesentlichen runden, insbesondere ovalen oder elliptischen, Hauptflächen umfasst sind.The insulation layers 14 . 15 . 16 and / or carrier layers 19 . 20 For the purposes of the present invention, they may be plate-shaped or substantially disk-shaped and may have a plate-like / block-shaped or essentially cylindrical layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 form. In the context of the present invention, the term "substantially disk-shaped" is understood to mean that, in addition to layers having circular main surfaces (insulation layer disks), insulating layers having substantially round, in particular oval or elliptical, main surfaces are included.

Die Isolationsschichten 14, 15, 16 können im Rahmen der vorliegenden Erfindung Aluminiumoxid und/oder Magnesiumoxid und/oder Ca-dotierten Zirkoniumoxid, insbesondere Aluminiumoxid, umfassen, oder aus Aluminiumoxid und/oder Magnesiumoxid und/oder Ca-dotierten Zirkoniumoxid, insbesondere Aluminiumoxid, ausgebildet sein. Die Isolationsschichten 14, 15, 16 können im Rahmen der vorliegenden Erfindung eine Schichtdicke dI von ≥ 5 μm bis ≤ 200 μm, beispielsweise von ≥ 5 μm bis ≤ 80 μm oder von ≥ 5 μm bis ≤ 60 μm, insbesondere von ≥ 5 μm bis ≤ 40 μm, aufweisen. Dabei können die Isolationsschichten 14, 15, 16 eine oder mehrere Isolationsschichtfolien und/oder Isolationsdruckschichten mit einer Schichtdicke von ≥ 5 μm bis ≤ 100 μm, beispielsweise von ≥ 5 μm bis ≤ 40 μm oder von ≥ 5 μm bis ≤ 30 μm, insbesondere von ≥ 5 μm bis ≤ 20 μm, umfassen. Die Hauptflächen der Isolationsschichten 14, 15, 16 können beispielsweise ≥ 20 mm2 bis ≤ 800 mm2, insbesondere ≥ 20 mm2 bis ≤ 500 mm2, betragen. Insbesondere können die Isolationsschichten 14, 15, 16 gleich große Hauptflächen H1, H2 aufweisen.The insulation layers 14 . 15 . 16 For the purposes of the present invention, they may comprise aluminum oxide and / or magnesium oxide and / or Ca-doped zirconium oxide, in particular aluminum oxide, or may be formed from aluminum oxide and / or magnesium oxide and / or Ca-doped zirconium oxide, in particular aluminum oxide. The insulation layers 14 . 15 . 16 In the context of the present invention, they can have a layer thickness d I of ≥ 5 μm to ≦ 200 μm, for example of ≥ 5 μm to ≦ 80 μm or of ≥ 5 μm to ≦ 60 μm, in particular of ≥ 5 μm to ≦ 40 μm. The insulation layers can 14 . 15 . 16 one or more insulating layer films and / or insulation printing layers having a layer thickness of ≥ 5 μm to ≤ 100 μm, for example from ≥ 5 μm to ≤ 40 μm or of ≥ 5 μm to ≤ 30 μm, in particular from ≥ 5 μm to ≤ 20 μm. The main surfaces of the insulation layers 14 . 15 . 16 For example, they can be ≥ 20 mm 2 to ≦ 800 mm 2 , in particular ≥ 20 mm 2 to ≦ 500 mm 2 . In particular, the insulation layers 14 . 15 . 16 have the same size major surfaces H1, H2.

Im Rahmen der vorliegenden Erfindung kann der Abstand dEE zwischen den Elektroden 12, 13 der Isolationsschichtdicke dI entsprechen. So kann der Abstand dEE zwischen den Elektroden 12, 13 von ≥ 5 μm bis ≤ 200 μm, beispielsweise von ≥ 5 μm bis ≤ 80 μm oder von ≥ 5 μm bis ≤ 60 μm, insbesondere von ≥ 5 μm bis ≤ 40 μm, betragen. Insbesondere kann der Abstand dEE zwischen den Elektroden 12, 13 ≤ 60 μm oder ≤ 40 μm oder ≤ 20 μm, beispielsweise 5 μm, betragen.In the context of the present invention, the distance d EE between the electrodes 12 . 13 the insulation layer thickness d I correspond. So can the distance d EE between the electrodes 12 . 13 from ≥ 5 μm to ≤ 200 μm, for example from ≥ 5 μm to ≤ 80 μm or from ≥ 5 μm to ≤ 60 μm, in particular from ≥ 5 μm to ≤ 40 μm. In particular, the distance d EE between the electrodes 12 . 13 ≤ 60 μm or ≤ 40 μm or ≤ 20 μm, for example 5 μm.

Zweckmäßigerweise sind die Elektroden 12, 13 im Rahmen der vorliegenden Erfindung aus einem leitfähigen Material ausgebildet. Beispielsweise können die Elektroden 12, 13 Platin umfassen oder aus Platin ausgebildet sein. Die Elektroden 12, 13 können im Rahmender vorliegenden Erfindung beispielsweise eine Elektrodendicke dE von ≥ 5 μm bis ≤ 200 μm, insbesondere von ≥ 5 μm bis ≤ 80 μm, aufweisen. Im Rahmender vorliegenden Erfindung können die Elektroden 12, 13 beispielsweise eine Elektrodenbreite bE von ≥ 10 μm bis ≤ 80 μm, insbesondere von ≥ 10 μm bis ≤ 20 μm, aufweisen. Im Rahmender vorliegenden Erfindung können die Elektroden 12, 13 beispielsweise eine Elektrodenlänge von ≥ 5 mm bis ≤ 90 mm, insbesondere von ≥ 20 mm bis ≤ 75 mm, aufweisen. Da die Elektroden 12, 13 auf mehreren Seitenflächen S1, S2, S3 zugängliche Bereiche aufweisen können, wird unter der Elektrodenlänge insbesondere die Summe der Längen der von den Seitenflächen S1, S2, S3 zugänglichen Elektrodenbereichen verstanden, wobei die Längen parallel zu den Isolationsschichten 14, 15, 16 gemessen werden.Conveniently, the electrodes 12 . 13 formed in the context of the present invention from a conductive material. For example, the electrodes 12 . 13 Platinum or be formed of platinum. The electrodes 12 . 13 In the context of the present invention, for example, they may have an electrode thickness d E of ≥ 5 μm to ≦ 200 μm, in particular of ≥ 5 μm to ≦ 80 μm. In the context of the present invention, the electrodes 12 . 13 For example, have an electrode width b E of ≥ 10 microns to ≤ 80 microns, in particular from ≥ 10 microns to ≤ 20 microns, have. In the context of the present invention, the electrodes 12 . 13 For example, have an electrode length of ≥ 5 mm to ≤ 90 mm, in particular from ≥ 20 mm to ≤ 75 mm. Because the electrodes 12 . 13 In particular, the sum of the lengths of the electrode regions accessible from the side surfaces S1, S2, S3 can be understood as meaning the electrode regions accessible on a plurality of side surfaces S1, S2, S3, the lengths being parallel to the insulating layers 14 . 15 . 16 be measured.

Im Rahmen einer besonders bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dient die erste Elektrode 12 als Heizvorrichtung. Die Funktion der ersten Elektrode 12 als Heizvorrichtung hat den Vorteil, dass der Partikelsensor 11 nur lokal an den Seitenflächen S1, S2, S3 des Schichtaufbaus 1412151316 mittels einer einzigen Kontaktschleife erwärmt wird, wobei der Heizleistungsbedarf sehr stark reduziert, eine gleichmäßige Erwärmung des Sensorfläche gewährleistet und lokale Hotspots vermieden werden, wodurch Temperaturalterungsprobleme zusätzlich vermindert werden.In a particularly preferred embodiment of the present invention, the first electrode is used 12 as a heater. The function of the first electrode 12 as a heater has the advantage that the particle sensor 11 only locally on the side surfaces S1, S2, S3 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 is heated by a single contact loop, the heating power requirement is greatly reduced, ensures uniform heating of the sensor surface and local hot spots are avoided, whereby temperature aging problems are further reduced.

Aufgrund der verminderten Temperaturalterungsprobleme ist eine Temperaturmessvorrichtung grundsätzlich nicht notwendig. Es ist im Rahmen der vorliegenden Erfindung jedoch möglich, dass der erfindungsgemäße Partikelsensor 11 eine Temperaturmessvorrichtung umfasst.Due to the reduced temperature aging problems, a temperature measuring device is basically not necessary. However, it is possible within the scope of the present invention that the particle sensor according to the invention 11 a temperature measuring device comprises.

Im Rahmen einer besonders bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dient die zweite Elektrode 13 als Temperaturmessvorrichtung. Die zweite Elektrode 13 kann darüber hinaus als Funktionsdiagnosevorrichtung dienen.In a particularly preferred embodiment of the present invention, the second electrode is used 13 as a temperature measuring device. The second electrode 13 can also serve as a function diagnostic device.

4 zeigt ein Schaltbild eines erfindungsgemäßen Partikelsensors 11 bei dem die erste Elektrode 12 als Heizvorrichtung und die zweite Elektrode 13 als Temperaturmessvorrichtung dient. 4 veranschaulicht. Im Rahmen der vorliegenden Erfindung hat es sich als vorteilhaft heraus gestellt die als Heizvorrichtung dienende erste Elektrode 12, wie in 4 gezeigt, über eine, insbesondere anodenseitige Spannungsregelung anzuschließen. Dies liegt darin begründet, dass durch die Spannungsregelung gegebenenfalls auftretende Leckströme eines Heizvorrichtungsschalters kompensiert werden können. Die als Temperaturmessvorrichtung dienende zweite Elektrode 13 ist vorteilhafterweise, wie in 4 gezeigt, kathodenseitig angeschlossen. Dies hat den Vorteil, dass eine Messung des Temperatursignals während der Partikel-Detektion stattfinden kann und zudem ein gegebenenfalls auftretender Fehlerstrom durch die Messung des Offsetstroms während der Blindzeit des Partikelsensors kompensiert werden kann. 4 shows a circuit diagram of a particle sensor according to the invention 11 where the first electrode 12 as a heater and the second electrode 13 serves as a temperature measuring device. 4 illustrated. In the context of the present invention, it has turned out to be advantageous the first electrode serving as a heating device 12 , as in 4 shown to connect via a, in particular anode-side voltage regulation. This is due to the fact that possibly occurring leakage currents of a heater switch can be compensated by the voltage control. The serving as a temperature measuring device second electrode 13 is advantageously, as in 4 shown, connected on the cathode side. This has the advantage that a measurement of the temperature signal can take place during the particle detection and, in addition, an optionally occurring fault current can be compensated by the measurement of the offset current during the blanking time of the particle sensor.

Ein weiterer Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung eines, insbesondere erfindungsgemäßen, Partikelsensors 11, insbesondere eines resistiven Partikelsensors 11 zur Detektion von leitfähigen Partikeln in einem Gasstrom, umfassend die Verfahrensschritte:

  • a) Aufbringen einer ersten Elektrode 12 auf eine erste Isolationsschicht 14 mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens, wobei die erste Elektrode 12 zumindest auf einen Teil eines Randbereiches R1, R2, R3 einer der Hauptflächen H1 der ersten Isolationsschicht 14 aufgebracht wird, wobei die erste Elektrode 12 weniger als 100 Prozent, beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche H1 der ersten Isolationsschicht 14 bedeckt,
  • b) Aufbringen mindestens einer zweiten Isolationsschicht 15 auf die erste Elektrode 12 und die erste Isolationsschicht 14 unter Ausbildung eines Schichtaufbaus 141215, wobei die erste Elektrode 12 mindestens einen von einer ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 141215 zugänglichen Bereich aufweist,
  • c) Aufbringen einer zweiten Elektrode 13 auf die zweite Isolationsschicht 15 mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens, wobei die zweite Elektrode 13 zumindest auf einen Teil des Randbereiches R1, R2, R3 der, insbesondere äußeren, Hauptfläche H1 der zweiten Isolationsschicht 15 aufgebracht wird, welcher im Schichtaufbau 141215 über der ersten Elektrode 12 angeordnet ist, wobei die zweite Elektrode 13 weniger als 100 Prozent, beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche der zweiten Isolationsschicht 15 bedeckt, und
  • d) Aufbringen mindestens einer dritte Isolationsschicht 16 auf die zweite Elektrode 13 und die zweite Isolationsschicht 15 unter Erweiterung des Schichtaufbaus 1412151316, wobei die zweite Elektrode 13 mindestens einen von der ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereich aufweist.
Another object of the present invention is a process for the preparation of a particular particle sensor according to the invention 11 , in particular a resistive particle sensor 11 for the detection of conductive particles in a gas stream, comprising the method steps:
  • a) applying a first electrode 12 on a first insulation layer 14 by a screen printing or lamination method, wherein the first electrode 12 at least on a part of an edge region R1, R2, R3 of one of the main surfaces H1 of the first insulation layer 14 is applied, wherein the first electrode 12 less than 100 percent, for example ≦ 50%, in particular ≦ 15%, of the main surface H1 of the first insulating layer 14 covered,
  • b) applying at least one second insulating layer 15 on the first electrode 12 and the first insulation layer 14 under formation of a layer structure 14 - 12 - 15 , wherein the first electrode 12 at least one of a first side surface S1 of the layer structure 14 - 12 - 15 has an accessible area,
  • c) applying a second electrode 13 on the second insulation layer 15 by a screen printing or lamination method, wherein the second electrode 13 at least on a part of the edge region R1, R2, R3 of the, in particular outer, main surface H1 of the second insulation layer 15 is applied, which in layer structure 14 - 12 - 15 above the first electrode 12 is arranged, wherein the second electrode 13 less than 100 percent, for example ≤ 50%, in particular ≤ 15%, of the main surface of the second insulation layer 15 covered, and
  • d) applying at least a third insulation layer 16 on the second electrode 13 and the second insulation layer 15 under extension of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 , wherein the second electrode 13 at least one of the first side surface S1 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 has accessible area.

Durch das erfindungsgemäße Verfahren können vorteilhafterweise, wie bereits erläutert, Partikelsensoren 11 mit sehr geringen Elektrodenabständen hergestellt werden. Darüber hinaus lassen sich durch das Aufbringen der Elektroden 12, 13 auf den Randbereichen R1, R2, R3 die Kosten für das Elektrodenmaterial, insbesondere Platin, verringern.By the method according to the invention can advantageously, as already explained, particulate sensors 11 be made with very small electrode gaps. In addition, can be by the application of the electrodes 12 . 13 on the edge regions R1, R2, R3 reduce the cost of the electrode material, in particular platinum.

Die 5a und 5b sind schematische, perspektivische Ansicht einer plattenförmigen beziehungsweise scheibenförmigen Schicht 14 und Veranschaulichen die Hauptflächen H1, H2, die Randbereiche R1, R2; R3, R4 einer Hauptflächen H1, den Innenbereich I einer Hauptflächen H1, die Seitenflächen s1, s2, s3, s4 einer Schicht 14 sowie die erfindungsgemäße Anordnung der Elektrode 12. Unter einem „Randbereich” R1, R2, R3, R4 einer Hauptfläche H1 einer Schicht 14 wird im Sinn der vorliegenden Erfindung der Bereich einer Hauptfläche H1 einer Schicht 14 verstanden, welcher an eine mit einer Seitenfläche s1, s2, s3, s4 der Schicht 14 gebildeten Kante angrenzt. Im Rahmen der vorliegenden Erfindung kann die Summe der Randbereichflächen einer Hauptfläche H1 beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche H1 betragen. Eine polygone, beispielsweise wie in 5a gezeigte rechteckige, Hauptfläche H1 kann im Rahmen der vorliegenden Erfindung mehrere, beispielsweise vier, Randbereiche R1, R2, R3, R4 aufweisen. Eine im Wesentlichen runde, beispielsweise kreisförmige oder ovale oder ellipsenförmige, Hauptfläche H1 kann hingegen nur einen Randbereich R1 aufweisen. Unter dem „Innenbereich” I der Hauptfläche H1 wird insbesondere der Bereich der Hauptfläche H1 verstanden, welcher kein Randbereich R1, R2, R3, R4 ist.The 5a and 5b are schematic, perspective view of a plate-shaped or disc-shaped layer 14 and illustrate the major surfaces H1, H2, the edge regions R1, R2; R3, R4 of a main surface H1, the inner region I of a main surface H1, the side surfaces s1, s2, s3, s4 of a layer 14 and the arrangement of the electrode according to the invention 12 , Below a "border area" R1, R2, R3, R4 of a major surface H1 of a layer 14 In the context of the present invention, the area of a main surface H1 of a layer is determined 14 which is connected to one having a side surface s1, s2, s3, s4 of the layer 14 formed edge adjacent. In the context of the present invention, the sum of the edge area areas of a main area H1 can be, for example, ≦ 50%, in particular ≦ 15%, of the main area H1. A polygone, for example as in 5a In the context of the present invention, the rectangular main surface H1 shown can have several, for example four, edge regions R1, R2, R3, R4. By contrast, a substantially round, for example circular or oval or elliptical, main surface H1 can have only one edge region R1. The "inner region" I of the main surface H1 is to be understood as meaning, in particular, the region of the main surface H1 which is not an edge region R1, R2, R3, R4.

Im Rahmen einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst das erfindungsgemäße Verfahren nach dem Verfahrensschritt d) einfach oder mehrfach die Verfahrensschrittsequenz:

  • e1) Aufbringen einer weiteren Elektrode auf eine vorherige Isolationsschicht 16 mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens, wobei die weitere Elektrode zumindest auf einen Teil eines Randbereiches der, insbesondere äußeren, Hauptflächen der vorherigen Isolationsschicht 16 aufgebracht wird, welcher im Schichtaufbau 1412151316 über der vorherigen Elektrode 13 angeordnet ist, wobei die weitere Elektrode weniger als 100 Prozent, beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche der vorherigen Isolationsschicht 16 bedeckt, und
  • e2) Aufbringen mindestens einer weiteren Isolationsschicht auf die weitere Elektrode und die vorherige Isolationsschicht 16 unter Erweiterung des Schichtaufbaus 1412151316, wobei die weitere Elektrode mindestens einen von der ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1613141215 zugänglichen Bereich aufweist.
Within the scope of a preferred embodiment of the process according to the invention, the process according to the invention after process step d) comprises simply or multiply the process step sequence:
  • e1) applying a further electrode to a previous insulation layer 16 by means of a screen printing or laminating method, wherein the further electrode at least on a part of an edge region of, in particular outer, major surfaces of the previous insulating layer 16 is applied, which in the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 over the previous electrode 13 is arranged, wherein the further electrode less than 100 percent, for example ≤ 50%, in particular ≤ 15%, of the main surface of the previous insulating layer 16 covered, and
  • e2) applying at least one further insulating layer to the further electrode and the previous insulating layer 16 under extension of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 wherein the further electrode is at least one of the first side surface S1 of the layer structure 16 - 13 - 14 - 12 - 15 has accessible area.

Wie bereits im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Partikelsensor erläutert, kann durch Zusammenschalten jeweils der n-ten und jeweils der (n + 1)-ten Elektroden ein Elektrodensystem mit einer sehr hohen Sensibilität geschaffen werden.As already explained in connection with the particle sensor according to the invention, can by Connecting together the nth and respectively the (n + 1) th electrodes created an electrode system with a very high sensitivity become.

Im Rahmen einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens erfolgen die Verfahrensschritte b), d), e2) und/oder der später erläuterte Verfahrensschritt z) in der Form, dass die jeweiligen Elektroden 12; 13, 12', 12'', 12''', 12'''', 13', 13'', 13''', 13'''' weiterhin, das heißt neben dem mindestens einen von einer ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1412151316 zugänglichen Bereich, mindestens einen von den beiden angrenzenden Isolationsschichten 14, 15; 15, 16; 14', 14'', 14''', 14'''', 15', 15'', 15''', 15''''; 15', 15'', 15''', 15'''', 16', 16'', 16''', 16'''' umschlossen Bereich aufweisen.Within the scope of a preferred embodiment of the method according to the invention, the method steps b), d), e2) and / or the later explained method step z) take place in the form that the respective electrodes 12 ; 13 . 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' . 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' Furthermore, that is, in addition to the at least one of a first side surface S1 of the layer structure 14 - 12 - 15 - 13 - 16 accessible area, at least one of the two adjacent insulating layers 14 . 15 ; 15 . 16 ; 14 ' . 14 '' . 14 ''' . 14 '''' . 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 ''''; 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 '''' . 16 ' . 16 '' . 16 ''' . 16 '''' enclosed area.

Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens werden die Elektroden 12, 13 zumindest teilweise auf mindestens zwei, insbesondere mindestens drei, Randbereiche R1, R2, R3, R4 der Hauptfläche H1 der jeweiligen Isolationsschicht 14, 15, 16 aufgebracht werden. Beispielsweise können die Elektroden 12, 13 zumindest teilweise auf mindestens zwei, insbesondere mindestens drei, aneinander angrenzende Randbereiche R1, R2, R3, R4 der Hauptfläche H1 der jeweiligen Isolationsschicht 14, 15, 16 aufgebracht werden.In a further preferred embodiment of the method according to the invention, the electrodes 12 . 13 at least partially on at least two, in particular at least three, edge regions R1, R2, R3, R4 of the main surface H1 of the respective insulation layer 14 . 15 . 16 be applied. For example, the electrodes 12 . 13 at least partially on at least two, in particular at least three, adjoining edge regions R1, R2, R3, R4 of the main surface H1 of the respective insulation layer 14 . 15 . 16 be applied.

Im Rahmen einer besonders bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens werden die Elektroden 12, 13 in der Form zumindest teilweise auf mindestens zwei Randbereiche R1, R2, R3, R4 der Hauptfläche H1 der jeweiligen Isolationsschicht 14, 15, 16 aufgebracht, dass jede Elektrode 12, 13 einen von einer ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1613141215 zugänglichen Bereich und einen von einer zweiten Seitenfläche S2 des Schichtaufbaus 1613141215 zugänglichen Bereich und/oder einen von einer dritten Seitenfläche S3 des Schichtaufbaus 1613141215 zugänglichen Bereich aufweist, wobei jeweils die von der ersten Seitenfläche S1 zugänglichen Bereiche und jeweils die von der zweiten Seitenfläche S2 zugänglichen Bereiche und jeweils die von der dritten Seitenfläche S2 zugänglichen Bereiche der Elektroden 12, 13 übereinander, insbesondere durch die Isolationsschichten 14, 15, 16 beabstandet zueinander, angeordnet sind.In a particularly preferred embodiment of the method according to the invention, the electrodes 12 . 13 in the form at least partially on at least two edge regions R1, R2, R3, R4 of the main surface H1 of the respective insulation layer 14 . 15 . 16 applied to each electrode 12 . 13 one of a first side surface S1 of the layer structure 16 - 13 - 14 - 12 - 15 accessible area and one of a second side surface S2 of the layer structure 16 - 13 - 14 - 12 - 15 accessible area and / or one of a third side surface S3 of the layer structure 16 - 13 - 14 - 12 - 15 has an accessible area where in each case the areas accessible from the first side area S1 and in each case the areas accessible from the second side area S2 and in each case the areas of the electrodes accessible from the third side area S2 12 . 13 on top of each other, in particular through the insulation layers 14 . 15 . 16 spaced from each other, are arranged.

Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens werden die Elektroden 12, 13 vollständig auf einen Randbereich R2 und zumindest teilweise auf zwei an diesen Randbereich angrenzende Randbereiche R1, R2 der Hauptfläche H1 der jeweiligen Isolationsschicht 14, 15, 16 aufgebracht werden.In a further preferred embodiment of the method according to the invention, the electrodes 12 . 13 completely on an edge region R2 and at least partially on two adjacent to this edge region edge regions R1, R2 of the main surface H1 of the respective insulating layer 14 . 15 . 16 be applied.

Vorteilhafterweise werden im Verfahrensschritt a) auch die Zuleitungen 17a, 17b der ersten Elektrode 12 auf die erste Isolationsschicht 14 und/oder im Verfahrensschritt c) auch die Zuleitungen 18a, 18b der zweiten Elektrode 13 auf die zweite Isolationsschicht 15 und/oder im Verfahrensschritt e1) auch die Zuleitungen der weiteren Elektrode auf die vorherige Isolationsschicht 16 aufgebracht. Vorzugsweise werden die Zuleitungen 17a, 17b, 18a, 18b auf den Innenbereich I der Hauptfläche H1 der jeweiligen Isolationsschicht 14, 15, 16 aufgebracht. Vorteilhafterweise werden die Zuleitungen 17a, 17b, 18a, 18b dadurch von Isolationsschichten 14, 15, 16 umschlossen und somit vor Korrosion geschützt.Advantageously, in process step a), the supply lines 17a . 17b the first electrode 12 on the first insulation layer 14 and / or in process step c) also the supply lines 18a . 18b the second electrode 13 on the second insulation layer 15 and / or in process step e1), the leads of the further electrode to the previous insulation layer 16 applied. Preferably, the supply lines 17a . 17b . 18a . 18b on the inner region I of the main surface H1 of the respective insulation layer 14 . 15 . 16 applied. Advantageously, the supply lines 17a . 17b . 18a . 18b thereby of insulation layers 14 . 15 . 16 enclosed and thus protected against corrosion.

Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst das Verfahren weiterhin vor dem Verfahrensschritt a) den Verfahrensschritt 0): Aufbringen der ersten Isolationsschicht 14 auf mindestens eine erste Trägerschicht 19; und/oder nach dem Verfahrensschritt d) oder e2) den Verfahrensschritt f): Aufbringen mindestens einer zweiten Trägerschicht 20 auf die dritte 16 beziehungsweise weitere Isolationsschicht.Within the scope of a further preferred embodiment of the method according to the invention, the method further comprises, prior to method step a), method step 0): applying the first insulation layer 14 on at least a first carrier layer 19 ; and / or after process step d) or e2) the process step f): applying at least one second carrier layer 20 to the third 16 or further insulation layer.

Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens, weisen eine oder mehrere der Isolationsschichten 14, 16 und/oder eine oder mehrere der Trägerschichten 19, 20 Aussparungen auf, durch welche Durchkontaktierungen 21a, 21b; 22a, 22b zwischen äußeren Kontakten 23a, 23b; 24a, 24b und den Zuleitungen 17a, 17b; 18a, 18b der Elektroden 12, 13 ausgebildet werden können.Within the scope of a further preferred embodiment of the method according to the invention, one or more of the insulation layers 14 . 16 and / or one or more of the carrier layers 19 . 20 Recesses on, through which vias 21a . 21b ; 22a . 22b between external contacts 23a . 23b ; 24a . 24b and the supply lines 17a . 17b ; 18a . 18b the electrodes 12 . 13 can be trained.

Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst das Verfahren weiterhin den Verfahrensschritt g): Ausbilden von Schlitzen in den zugängliche Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen S1, S2, S3 des Schichtaufbaus 1613141215 und/oder einer gewellten Struktur der zugängliche Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen S1, S2, S3 des Schichtaufbaus 1613141215 zur Vergrößerung der zugänglichen Elektrodenfläche.Within the scope of a further preferred embodiment of the method according to the invention, the method further comprises the method step g): forming slots in the side surfaces S1, S2, S3 of the layer structure having accessible electrode areas 16 - 13 - 14 - 12 - 15 and / or a corrugated structure of the accessible electrode areas having side surfaces S1, S2, S3 of the layer structure 16 - 13 - 14 - 12 - 15 to increase the accessible electrode area.

Das Ausbilden der Schlitze beziehungsweise der gewellten Struktur kann dabei mittels Schneiden, insbesondere Mikrotontechnik oder Abstempeln erfolgen. Gegebenfalls wird anschließen ein Schleif- und/oder Politurverfahren eingesetzt um durch das Zerteilen möglicherweise entstandene Kurzschlüsse zwischen den Elektroden 12, 13 zu entfernen.The formation of the slots or the corrugated structure can be effected by means of cutting, in particular microtone technology or stamping. If necessary, a grinding and / or polishing process is then used to break up any short circuits between the electrodes that may have occurred during the cutting process 12 . 13 to remove.

Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst das Verfahren weiterhin den Verfahrensschritt h): Aufbringen mindestens eines Interdigitalelektrodensystems auf die Hauptfläche H1 einer äußeren Isolationsschicht 16 oder Aufbringen einer weiteren Isolationsschicht auf eine Trägerschichten 19, 20 und zusätzliches Aufbringen mindestens eines Interdigitalelektrodensystems auf die Hauptfläche der weiteren Isolationsschicht. Unter einem Interdigitalelektrodensystem wird dabei insbesondere ein Elektrodensystem mit mindestens zwei kammartig ineinander greifenden Elektroden verstanden. Das Aufbringen eines oder mehrerer Interdigitalelektrodensysteme hat den Vorteil, dass eine Messung in einer weiteren Raumrichtung ermöglicht wird.Within the scope of a further preferred embodiment of the method according to the invention, the method furthermore comprises the method step h): applying at least one interdigital electrode system to the main surface H1 of an outer insulation layer 16 or applying a further insulating layer on a carrier layers 19 . 20 and additionally applying at least one interdigital electrode system to the main surface of the further insulation layer. In this context, an interdigital electrode system is understood as meaning, in particular, an electrode system having at least two electrodes which engage in one another like a comb. The application of one or more interdigital electrode systems has the advantage that a measurement in a further spatial direction is made possible.

Das Aufbringen der Isolationsschichten 14, 15, 16 und/oder Trägerschichten 19, 20 und/oder der Interdigitalelektrodensysteme kann im Rahmen der vorliegenden Erfindung mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens erfolgen. Vorzugsweise erfolgt das Aufbringen der Elektroden 12, 13 und/oder der Isolationsschichten 14, 15, 16 und/oder Trägerschichten 19, 20 und/oder der Interdigitalelektrodensysteme im Rahmen der vorliegenden Erfindung mittels eines Siebdruckverfahrens. Vorzugsweise wird der Schichtaufbau 1613141215, insbesondere anschließend, gesintert. Falls die Isolationsschichten 14, 15, 16 über die zugänglichen Elektrodenbereiche hinausragen kann ein Abschleifen der Seitenflächen S1, S2, S3 unter Umständen entfallen.The application of the insulation layers 14 . 15 . 16 and / or carrier layers 19 . 20 and / or the interdigital electrode systems can be carried out in the context of the present invention by means of a screen printing or lamination process. Preferably, the application of the electrodes takes place 12 . 13 and / or the insulation layers 14 . 15 . 16 and / or carrier layers 19 . 20 and / or the interdigital electrode systems in the context of the present invention by means of a screen printing process. Preferably, the layer structure 16 - 13 - 14 - 12 - 15 , in particular subsequently, sintered. If the insulation layers 14 . 15 . 16 A protrusion of the side surfaces S1, S2, S3 may possibly be omitted beyond the accessible electrode regions.

Hinsichtlich der im Rahmen des erfindungsgemäßen Verfahrens für die Isolationsschichten 14, 15, 16, Trägerschichten 19, 20 und Elektroden 12, 13 einsetzbarer Materialien sowie deren Dimensionen und Abstände, wird hiermit explizit auf die Erläuterungen im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Partikelsensor 11 verwiesen.With regard to in the context of the method according to the invention for the insulating layers 14 . 15 . 16 , Backing layers 19 . 20 and electrodes 12 . 13 usable materials and their dimensions and distances, is hereby explicitly to the explanations in connection with the particle sensor according to the invention 11 directed.

Die 6a bis 6e veranschaulichen eine besonders bevorzugte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens, in dem eine Vielzahl von Partikelsensoren 11', 11'', 11''', 11'''' hergestellt wird anhand von schematischen, perspektivischen Ansichten.The 6a to 6e illustrate a particularly preferred embodiment of the method according to the invention, in which a plurality of particle sensors 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' is produced by means of schematic, perspective views.

6a zeigt, dass im Rahmen dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens im Verfahrensschritt a) eine Vielzahl von ersten Elektroden 12', 12'', 12''', 12'''' auf eine erste Isolationsschicht 14 mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens aufgebracht wird. Die ersten Elektroden 12', 12'', 12''', 12'''' werden dabei jeweils zumindest auf einen Teil eines Randbereiches R1', R2', R3', ..., R1'''', R2'''', R3'''' der Hauptfläche H1', H1'', H1''', H1'''' der ersten Isolationsschicht 14', 14'', 14''', 14'''' des jeweiligen herzustellen Partikelsensors 11', 11'', 11''', 11'''' aufgebracht. Dabei bedecken die ersten Elektroden 12', 12'', 12''', 12'''' weniger als 100 Prozent, beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche H1', H1'', H1''', H1'''' der ersten Isolationsschicht 14', 14'', 14''', 14'''' des jeweiligen herzustellen Partikelsensors 11', 11'', 11''', 11''''. 6a shows that under this aus Guidance form of the method according to the invention in step a) a plurality of first electrodes 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' on a first insulation layer 14 is applied by means of a screen printing or lamination process. The first electrodes 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' are in each case at least part of an edge region R1 ', R2', R3 ', ..., R1'''',R2'''',R3''''of the main surface H1', H1 '', H1 ''', H1 '''' of the first insulation layer 14 ' . 14 '' . 14 ''' . 14 '''' of the respective produce particle sensor 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' applied. The first electrodes cover 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' less than 100 percent, for example ≦ 50%, in particular ≦ 15%, of the main surface H1 ', H1 ", H1"', H1 "'of the first insulation layer 14 ' . 14 '' . 14 ''' . 14 '''' of the respective produce particle sensor 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ,

6b zeigt, dass im Rahmen dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens im Verfahrenschritt b) mindestens einer zweiten Isolationsschicht 15 auf die ersten Elektroden 12', 12'', 12''', 12'''' und die erste Isolationsschicht 14 unter Ausbildung eines Schichtaufbaus 1412', 12'', 12''', 12''''15 aufgebracht wird. 6b shows that in the context of this embodiment of the method according to the invention in process step b) at least one second insulating layer 15 on the first electrodes 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' and the first insulation layer 14 under formation of a layer structure 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 is applied.

6c zeigt, dass im Rahmen dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens im Verfahrensschritt c) einer Vielzahl von zweiten Elektroden 13', 13'', 13''', 13'''' auf die zweite Isolationsschicht 15 mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens aufgebracht wird. Die zweiten Elektrode 13', 13'', 13''', 13'''' werden dabei zumindest auf einen Teil des Randbereiches R1' R2', R3', ..., R1'''', R2'''', R3'''' der, insbesondere äußeren Hauptfläche H1', H1'', H1''', H1'''' der zweiten Isolationsschicht 15', 15'', 15''', 15'''' des jeweiligen herzustellen Partikelsensors 11', 11'', 11''', 11'''' aufgebracht, welcher im Schichtaufbau 1412', 12'', 12''', 12''''15) über der ersten Elektrode 12', 12'', 12''', 12'''' des jeweiligen herzustellen Partikelsensors 11', 11'', 11''', 11'''' angeordnet ist. Die die zweiten Elektroden 13', 13'', 13''', 13'''' bedecken dabei weniger als 100 Prozent, beispielsweise ≤ 50%, insbesondere ≤ 15%, der Hauptfläche H1', H1'', H1''', H1'''' der zweiten Isolationsschicht 15', 15'', 15''', 15'''' des jeweiligen herzustellen Partikelsensors 11', 11'', 11''', 11''''. 6c shows that in the context of this embodiment of the method according to the invention in method step c) of a plurality of second electrodes 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' on the second insulation layer 15 is applied by means of a screen printing or lamination process. The second electrode 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' In this case, at least part of the edge region R1 'R2', R3 ', ..., R1'''',R2'''',R3''''of the, in particular outer major surface H1', H1 '', H1 ''',H1''''of the second insulation layer 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 '''' of the respective produce particle sensor 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' applied, which in the layer structure 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 ) above the first electrode 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' of the respective produce particle sensor 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' is arranged. The second electrodes 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' cover less than 100 percent, for example ≤ 50%, in particular ≤ 15%, the major surface H1 ', H1'',H1''', H1 '''' of the second insulating layer 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 '''' of the respective produce particle sensor 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ,

6d zeigt, dass im Rahmen dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens im Verfahrensschritt d) mindestens einer dritte Isolationsschicht 16 auf die zweiten Elektroden 13', 13'', 13''', 13'''' und die zweite Isolationsschicht 15 unter Erweiterung des Schichtaufbaus 1412', 12'', 12''', 12'''1513', 13'', 13''', 13''''16 aufgebracht wird. 6d shows that in the context of this embodiment of the method according to the invention in method step d) at least one third insulating layer 16 on the second electrodes 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' and the second insulation layer 15 under extension of the layer structure 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 ''' - 15 - 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' - 16 is applied.

6e zeigt, dass im Rahmen dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens weiterhin im Verfahrensschritt z) der Schichtaufbau 1412', 12'', 12''', 12''''1513', 13'', 13''', 13''''16 in eine Vielzahl von Partikelsensoren 11', 11'', 11''', 11'''' zerteilt wird. 6d zeigt, dass die Elektroden 12', 12'', 12''', 12'''', 13', 13'', 13''', 13'''' dabei jeweils mindestens einen von einer ersten Seitenfläche S1 des Schichtaufbaus 1412', 12'', 12''', 12''''1513', 13'', 13''', 13''''16 des Partikelsensors 11', 11'', 11''', 11'''' zugänglichen Bereich aufweisen. 6e shows that in the context of this embodiment of the method according to the invention further in step z) of the layer structure 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 - 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' - 16 into a variety of particle sensors 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' is divided. 6d shows that the electrodes 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' . 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' in each case at least one of a first side surface S1 of the layer structure 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 - 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' - 16 of the particle sensor 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' have accessible area.

Das Ausbilden von Schlitzen in den zugängliche Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen S1, S2, S3 des Schichtaufbaus und/oder einer gewellten Struktur der zugängliche Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen S1, S2, S3 des Schichtaufbaus kann dabei, beispielsweise mittels Schneiden, insbesondere Mikrotontechnik, oder Abstempeln, im Verfahrensschritt z) erfolgen.The Forming slots in the accessible electrode areas having side surfaces S1, S2, S3 of the layer structure and / or a corrugated structure the accessible one Side regions S1, S2, S3 of the layer structure having electrode regions can, for example by means of cutting, in particular microtone technology, or stamping, in method step z).

Claims (18)

Partikelsensor (11), insbesondere resistiver Partikelsensor zur Detektion von leitfähigen Partikeln, umfassend – mindestens drei Isolationsschichten (14, 15, 16), und – ein Elektrodensystem mit mindestens einer ersten (12) und einer zweiten (13) Elektrode, wobei die Elektroden (12, 13) jeweils zwischen zwei angrenzenden Isolationsschichten (14, 15, 16) unter Ausbildung eines Schichtaufbaus (1412151316) angeordnet sind, wobei jede Elektrode (12, 13) mindestens einen von einer ersten Seitenfläche (S1) des Schichtaufbaus (1412151316) zugänglichen Bereich aufweist, wobei die Hauptflächen (HE1, HE2) der Elektroden (12, 13) weniger als 100 Prozent der Hauptfläche (H1, H2) der daran angrenzenden Isolationsschicht (14, 15, 16) kontaktieren.Particle sensor ( 11 ), in particular a resistive particle sensor for the detection of conductive particles, comprising - at least three insulating layers ( 14 . 15 . 16 ), and - an electrode system with at least one first ( 12 ) and a second ( 13 ) Electrode, wherein the electrodes ( 12 . 13 ) in each case between two adjacent insulation layers ( 14 . 15 . 16 ) to form a layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) are arranged, each electrode ( 12 . 13 ) at least one of a first side surface (S1) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ), the main surfaces (HE1, HE2) of the electrodes ( 12 . 13 ) less than 100 percent of the major surface (H1, H2) of the adjacent insulating layer ( 14 . 15 . 16 ) to contact. Partikelsensor (11) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jede Elektrode (12, 13) weiterhin mindestens einen von den beiden angrenzenden Isolationsschichten (14, 15; 15, 16) umschlossen Bereich aufweist.Particle sensor ( 11 ) according to claim 1, characterized in that each electrode ( 12 . 13 ) at least one of the two adjacent insulating layers ( 14 . 15 ; 15 . 16 ) enclosed area. Partikelsensor (11) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass jede Elektrode (12, 13) weiterhin mindestens einen von einer zweiten Seitenfläche (S2) des Schichtaufbaus (1412151316) zugänglichen Bereich und/oder einen von einer dritten Seitenfläche (S3) des Schichtaufbaus (1412151316) zugänglichen Bereich aufweist, wobei jeweils die von der ersten Seitenfläche (S1) des Schichtaufbaus (1412151316) zugänglichen Bereiche und jeweils die von der zweiten Seitenfläche (S2) des Schichtaufbaus (1412151316) zugänglichen Bereiche und/oder jeweils die von der dritten Seitenfläche (S3) des Schichtaufbaus (1412151316) zugänglichen Bereiche der Elektroden (12, 13) übereinander angeordnet sind.Particle sensor ( 11 ) according to claim 1 or 2, characterized in that each electrode ( 12 . 13 ) further at least one of a second side surface (S2) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) accessible area and / or one of a third side surface (S3) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ), wherein in each case that of the first side surface (S1) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) accessible areas and in each case of the second side surface (S2) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) accessible areas and / or in each case from the third side surface (S3) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) accessible areas of the electrodes ( 12 . 13 ) are arranged one above the other. Partikelsensor (11) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen (S1, S2, S3) des Schichtaufbaus (1412151316) Schlitze und/oder eine gewellte Struktur zur Vergrößerung der zugänglichen Elektrodenfläche aufweisen.Particle sensor ( 11 ) according to one of claims 1 to 3, characterized in that the electrode areas having side surfaces (S1, S2, S3) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) Have slots and / or a corrugated structure to increase the accessible electrode area. Partikelsensor (11) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Abstand (dEE) zwischen den Elektroden (12, 13) ≤ 60 μm beträgt.Particle sensor ( 11 ) according to one of claims 1 to 4, characterized in that the distance (d EE ) between the electrodes ( 12 . 13 ) ≤ 60 μm. Partikelsensor (11) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Elektrode (12) als Heizvorrichtung und/oder die zweite Elektrode (13) als Temperaturmessvorrichtung und/oder Funktionsdiagnosevorrichtung dient.Particle sensor ( 11 ) according to one of claims 1 to 5, characterized in that the first electrode ( 12 ) as a heating device and / or the second electrode ( 13 ) serves as a temperature measuring device and / or functional diagnostic device. Partikelsensor (11) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Schichtaufbau (1412151316) mindestens eine Trägerschicht (19, 20) aufweist.Particle sensor ( 11 ) according to one of claims 1 to 6, characterized in that the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) at least one carrier layer ( 19 . 20 ) having. Partikelsensor (11) nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass auf mindestens einer der Deckflächen (D1, D2) des Schichtaufbaus (1412151316) ein Interdigitalelektrodensystem angeordnet ist.Particle sensor ( 11 ) according to one of claims 1 to 7, characterized in that on at least one of the cover surfaces (D1, D2) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) an interdigital electrode system is arranged. Partikelsensor (11) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Partikelsensor (11) eine Vielzahl von Elektroden (12, 13) und Isolationsschichten (14, 15, 16) umfasst, wobei die Elektroden (12, 13) jeweils zwischen zwei angrenzenden Isolationsschichten (14, 15, 16) unter Ausbildung eines Schichtaufbaus (1412151316) angeordnet sind.Particle sensor ( 11 ) according to one of claims 1 to 8, characterized in that the particle sensor ( 11 ) a plurality of electrodes ( 12 . 13 ) and insulation layers ( 14 . 15 . 16 ), wherein the electrodes ( 12 . 13 ) in each case between two adjacent insulation layers ( 14 . 15 . 16 ) to form a layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) are arranged. Verfahren zur Herstellung eines Partikelsensors, insbesondere eines resistiven Partikelsensors zur Detektion von leitfähigen Partikeln in einem Gasstrom, umfassend die Verfahrensschritte: a) Aufbringen einer ersten Elektrode (12) auf eine erste Isolationsschicht (14) mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens, wobei die erste Elektrode (12) zumindest auf einen Teil eines Randbereiches (R1, R2, R3) einer der Hauptflächen (H1) der ersten Isolationsschicht (14) aufgebracht wird, wobei die erste Elektrode (12) weniger als 100 Prozent der Hauptfläche (H1) der ersten Isolationsschicht (14) bedeckt, b) Aufbringen mindestens einer zweiten Isolationsschicht (15) auf die erste Elektrode (12) und die erste Isolationsschicht (14) unter Ausbildung eines Schichtaufbaus (141215), wobei die erste Elektrode (12) mindestens einen von einer ersten Seitenfläche (S1) des Schichtaufbaus (141215) zugänglichen Bereich aufweist, c) Aufbringen einer zweiten Elektrode (13) auf die zweite Isolationsschicht (15) mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens, wobei die zweite Elektrode (13) zumindest auf einen Teil des Randbereiches (R1, R2, R3) der Hauptfläche (H1) der zweiten Isolationsschicht (15) aufgebracht wird, welcher im Schichtaufbau (141215) über der ersten Elektrode (12) angeordnet ist, wobei die zweite Elektrode (13) weniger als 100 Prozent der Hauptfläche der zweiten Isolationsschicht (15) bedeckt, und d) Aufbringen mindestens einer dritte Isolationsschicht (16) auf die zweite Elektrode (13) und die zweite Isolationsschicht (15) unter Erweiterung des Schichtaufbaus (1412151316), wobei die zweite Elektrode (13) mindestens einen von der ersten Seitenfläche (S1) des Schichtaufbaus (1412151316) zugänglichen Bereich aufweist.Method for producing a particle sensor, in particular a resistive particle sensor for detecting conductive particles in a gas stream, comprising the method steps: a) applying a first electrode ( 12 ) to a first insulation layer ( 14 ) by means of a screen-printing or lamination process, wherein the first electrode ( 12 ) at least on a part of an edge region (R1, R2, R3) of one of the main surfaces (H1) of the first insulation layer ( 14 ), wherein the first electrode ( 12 ) less than 100 percent of the major surface (H1) of the first insulation layer ( 14 b) applying at least one second insulating layer ( 15 ) on the first electrode ( 12 ) and the first insulation layer ( 14 ) to form a layer structure ( 14 - 12 - 15 ), the first electrode ( 12 ) at least one of a first side surface (S1) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 ), c) applying a second electrode ( 13 ) to the second insulation layer ( 15 ) by means of a screen-printing or lamination process, wherein the second electrode ( 13 ) at least on a part of the edge region (R1, R2, R3) of the main surface (H1) of the second insulation layer ( 15 ) is applied, which in the layer structure ( 14 - 12 - 15 ) over the first electrode ( 12 ), wherein the second electrode ( 13 ) less than 100 percent of the major surface of the second insulation layer ( 15 ), and d) applying at least one third insulating layer ( 16 ) to the second electrode ( 13 ) and the second insulation layer ( 15 ) under extension of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ), the second electrode ( 13 ) at least one of the first side surface (S1) of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ). Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren nach dem Verfahrensschritt d) die Verfahrensschrittsequenz: e1) Aufbringen einer weiteren Elektrode auf eine vorherige Isolationsschicht (16) mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens, wobei die weitere Elektrode zumindest auf einen Teil eines Randbereiches der Hauptflächen der vorherigen Isolationsschicht (16) aufgebracht wird, welcher im Schichtaufbau (1412151316) über der vorherigen Elektrode (13) angeordnet ist, wobei die weitere Elektrode weniger als 100 Prozent der Hauptfläche der vorherigen Isolationsschicht (16) bedeckt und e2) Aufbringen mindestens einer weiteren Isolationsschicht auf die weitere Elektrode und die vorherige Isolationsschicht (16) unter Erweiterung des Schichtaufbaus (1412151316), wobei die weitere Elektrode mindestens einen von der ersten Seitenfläche (S1) des Schichtaufbaus (1613141215) zugänglichen Bereich aufweist, einfach oder mehrfach umfasst.A method according to claim 10, characterized in that the method after the method step d) the method step sequence: e1) applying a further electrode to a previous insulation layer ( 16 ) by means of a screen-printing or lamination method, the further electrode being applied to at least a part of an edge region of the main surfaces of the previous insulation layer ( 16 ) is applied, which in the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ) over the previous electrode ( 13 ), wherein the further electrode less than 100 percent of the main surface of the previous insulating layer ( 16 ) and e2) applying at least one further insulation layer to the further electrode and the previous insulation layer ( 16 ) under extension of the layer structure ( 14 - 12 - 15 - 13 - 16 ), wherein the further electrode at least one of the first side surface (S1) of the layer structure ( 16 - 13 - 14 - 12 - 15 ) has accessible area, one or more times. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Elektroden (12, 13) in der Form zumindest teilweise auf mindestens zwei Randbereiche (R1, R2, R3, R4) der Hauptfläche (H1) der jeweiligen Isolationsschicht (14, 15, 16) aufgebracht werden, dass jede Elektrode (12, 13) einen von einer ersten Seitenfläche (S1) des Schichtaufbaus (1613141215) zugänglichen Bereich und einen von einer zweiten Seitenfläche (S2) des Schichtaufbaus (1613141215) zugänglichen Bereich und/oder einen von einer dritten Seitenfläche (S3) des Schichtaufbaus (1613141215) zugänglichen Bereich aufweist, wobei jeweils die von der ersten Seitenfläche (S1) zugänglichen Bereiche und jeweils die von der zweiten Seitenfläche (S2) zugänglichen Bereiche und jeweils die von der dritten Seitenfläche (S2) zugänglichen Bereiche der Elektroden (12, 13) übereinander angeordnet sind.Method according to claim 10 or 11, characterized in that the electrodes ( 12 . 13 ) in the mold at least partially on at least two edge regions (R1, R2, R3, R4) of the main surface (H1) of the respective insulating layer ( 14 . 15 . 16 ), that each electrode ( 12 . 13 ) one of a first side surface (S1) of the layer structure ( 16 - 13 - 14 - 12 - 15 ) accessible area and one of a second side surface (S2) of the layer structure ( 16 - 13 - 14 - 12 - 15 ) accessible area and / or one of a third side surface (S3) of the layer structure ( 16 - 13 - 14 - 12 - 15 ), wherein in each case the areas accessible from the first side area (S1) and the areas accessible from the second side area (S2) and the areas of the electrodes accessible from the third side area (S2) 12 . 13 ) are arranged one above the other. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren weiterhin – vor dem Verfahrensschritt a) den Verfahrensschritt 0): Aufbringen der ersten Isolationsschicht (14) auf mindestens eine erste Trägerschicht (19); und/oder – nach dem Verfahrensschritt d) oder e2) den Verfahrensschritt f): Aufbringen mindestens einer zweiten Trägerschicht (20) auf die dritte (16) beziehungsweise weitere Isolationsschicht umfasst.Method according to one of claims 10 to 12, characterized in that the method furthermore - before process step a) process step 0): application of the first insulation layer ( 14 ) on at least one first carrier layer ( 19 ); and / or - after process step d) or e2), process step f): applying at least one second carrier layer ( 20 ) to the third ( 16 ) or further insulation layer. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren weiterhin – den Verfahrensschritt g): Ausbilden von Schlitzen in den zugängliche Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen (S1, S2, S3) des Schichtaufbaus (1613141215) und/oder einer gewellten Struktur der zugängliche Elektrodenbereiche aufweisenden Seitenflächen (S1, S2, S3) des Schichtaufbaus (1613141215) zur Vergrößerung der zugänglichen Elektrodenfläche, umfasst.Method according to one of claims 10 to 13, characterized in that the method further - the method step g): forming slots in the accessible electrode areas having side surfaces (S1, S2, S3) of the layer structure ( 16 - 13 - 14 - 12 - 15 ) and / or a corrugated structure of the accessible electrode areas having side surfaces (S1, S2, S3) of the layer structure ( 16 - 13 - 14 - 12 - 15 ) to increase the accessible electrode area. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren weiterhin – den Verfahrensschritt h): Aufbringen mindestens eines Interdigitalelektrodensystems auf die Hauptfläche (H1) einer äußeren Isolationsschicht (16) oder Aufbringen einer weiteren Isolationsschicht auf eine Trägerschichten (19, 20) und zusätzliches Aufbringen mindestens eines Interdigitalelektrodensystems auf die Hauptfläche der weiteren Isolationsschicht, umfasst.Method according to one of claims 10 to 14, characterized in that the method further - the process step h): applying at least one interdigital electrode system on the main surface (H1) of an outer insulating layer ( 16 ) or applying a further insulating layer to a carrier layer ( 19 . 20 ) and additionally applying at least one interdigital electrode system to the main surface of the further insulation layer. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass das Aufbringen der Elektroden (12, 13) und/oder der Isolationsschichten (14, 15, 16) und/oder Trägerschichten (19, 20) und/oder der Interdigitalelektrodensysteme mittels eines Siebdruckverfahrens erfolgt.Method according to one of claims 10 to 15, characterized in that the application of the electrodes ( 12 . 13 ) and / or the insulation layers ( 14 . 15 . 16 ) and / or carrier layers ( 19 . 20 ) and / or the interdigital electrode systems by means of a screen printing process. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass eine Vielzahl von Partikelsensoren (11', 11'', 11''', 11'''') hergestellt wird, in dem: – im Verfahrensschritt a) eine Vielzahl von ersten Elektroden (12', 12'', 12''', 12'''') auf eine erste Isolationsschicht (14) mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens aufgebracht wird, wobei die ersten Elektroden (12', 12'', 12''', 12'''') jeweils zumindest auf einen Teil eines Randbereiches (R1', R2', R3', ..., R1'''', R2'''', R3'''') der Hauptfläche (H1', H1'', H1''', H1'''') der ersten Isolationsschicht (14', 14'', 14''', 14'''') des jeweiligen herzustellen Partikelsensors (11', 11'', 11''', 11'''') aufgebracht werden, wobei die ersten Elektroden (12', 12'', 12''', 12'''') weniger als 100 Prozent der Hauptfläche (H1', H1'', H1''', H1'''') der ersten Isolationsschicht (14', 14'', 14''', 14'''') des jeweiligen herzustellen Partikelsensors (11', 11'', 11''', 11'''') bedecken, – im Verfahrenschritt b) mindestens einer zweiten Isolationsschicht (15) auf die ersten Elektroden (12', 12'', 12''', 12'''') und die erste Isolationsschicht (14) unter Ausbildung eines Schichtaufbaus (1412', 12'', 12''', 12''''15) aufgebracht wird, – im Verfahrensschritt c) einer Vielzahl von zweiten Elektroden (13', 13'', 13''', 13'''') auf die zweite Isolationsschicht (15) mittels eines Siebdruck- oder Laminierungsverfahrens aufgebracht wird, wobei die zweiten Elektrode (13', 13'', 13''', 13'''') zumindest auf einen Teil des Randbereiches (R1', R2', R3', ..., R1'''', R2'''', R3'''') der Hauptfläche (H1', H1'', H1''', H1'''') der zweiten Isolationsschicht (15', 15'', 15''', 15'''') des jeweiligen herzustellen Partikelsensors (11', 11'', 11''', 11'''') aufgebracht werden, welcher im Schichtaufbau (1412', 12'', 12''', 12''''15) über der ersten Elektrode (12', 12'', 12''', 12'''') des jeweiligen herzustellen Partikelsensors (11', 11'', 11''', 11'''') angeordnet ist, wobei die zweiten Elektroden (13', 13'', 13''', 13'''') weniger als 100 Prozent der Hauptfläche (H1', H1'', H1''', H1'''') der zweiten Isolationsschicht (15', 15'', 15''', 15'''') des jeweiligen herzustellen Partikelsensors (11', 11'', 11''', 11'''') bedecken, – im Verfahrensschritt d) mindestens einer dritte Isolationsschicht (16) auf die zweiten Elektroden (13', 13'', 13''', 13'''') und die zweite Isolationsschicht (15) unter Erweiterung des Schichtaufbaus (1412', 12'', 12''', 12''''1513', 13'', 13''', 13''''16) aufgebracht wird, und – weiterhin im Verfahrensschritt z) der Schichtaufbau (1412', 12'', 12''', 12''''1513', 13'', 13''', 13''''16) in eine Vielzahl von Partikelsensoren (11', 11'', 11''', 11'''') zerteilt wird, wobei die Elektroden (12', 12'', 12''', 12'''', 13', 13'', 13''', 13'''') jeweils mindestens einen von einer ersten Seitenfläche (S1) des Schichtaufbaus (1412', 12'', 12''', 12''''1513', 13'', 13''', 13''''16) des Partikelsensors (11', 11'', 11''', 11'''') zugänglichen Bereich aufweisen.Method according to one of claims 10 to 16, characterized in that a plurality of particle sensors ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ), in which: - in method step a) a multiplicity of first electrodes ( 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' ) to a first insulation layer ( 14 ) is applied by means of a screen-printing or lamination process, the first electrodes ( 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' ) in each case at least to a part of an edge region (R1 ', R2', R3 ', ..., R1'''',R2'''',R3'''') of the main surface (H1', H1 '', H1 ''',H1'''') of the first insulation layer ( 14 ' . 14 '' . 14 ''' . 14 '''' ) of the particular particle sensor ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ), the first electrodes ( 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' ) less than 100 percent of the main surface (H1 ', H1'',H1''', H1 '''') of the first insulation layer ( 14 ' . 14 '' . 14 ''' . 14 '''' ) of the particular particle sensor ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ), - in process step b) at least one second insulation layer ( 15 ) on the first electrodes ( 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' ) and the first insulation layer ( 14 ) to form a layer structure ( 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 ) is applied, - in process step c) a plurality of second electrodes ( 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' ) to the second insulation layer ( 15 ) is applied by means of a screen-printing or lamination process, the second electrode ( 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' ) at least to a part of the edge region (R1 ', R2', R3 ', ..., R1'''',R2'''',R3'''') of the main surface (H1', H1 '', H1 ''',H1'''') of the second isolation layer ( 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 '''' ) of the particular particle sensor ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ) are applied, which in the layer structure ( 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 ) over the first electrode ( 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' ) of the particular particle sensor ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ), the second electrodes ( 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' ) less than 100 percent of the major surface (H1 ', H1'',H1''', H1 '''') of the second insulation layer ( 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 '''' ) of the particular particle sensor ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ), - in process step d) at least one third insulation layer ( 16 ) to the second electrodes ( 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' ) and the second insulation layer ( 15 ) under extension of the layer structure ( 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 - 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' - 16 ), and - furthermore in process step z) the layer structure ( 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 - 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' - 16 ) into a plurality of particle sensors ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ), whereby the electrodes ( 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' . 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' ) each at least one of a first side surface (S1) of the layer structure ( 14 - 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' - 15 - 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' - 16 ) of the particle sensor ( 11 ' . 11 '' . 11 ''' . 11 '''' ) have accessible area. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Verfahrensschritte b), d), e2) und/oder Verfahrensschritt z) in der Form erfolgen, dass die jeweiligen Elektroden (12; 13, 12', 12'', 12''', 12'''', 13', 13'', 13''', 13'''') weiterhin mindestens einen von den beiden angrenzenden Isolationsschichten (14, 15; 15, 16; 14', 14'', 14''', 14'''', 15', 15'', 15''', 15''''; 15', 15'', 15''', 15'''', 16', 16'', 16''', 16'''') umschlossen Bereich aufweisen.Method according to one of claims 10 to 17, characterized in that the method steps b), d), e2) and / or method step z) take place in the form that the respective electrodes ( 12 ; 13 . 12 ' . 12 '' . 12 ''' . 12 '''' . 13 ' . 13 '' . 13 ''' . 13 '''' ) at least one of the two adjacent insulating layers ( 14 . 15 ; 15 . 16 ; 14 ' . 14 '' . 14 ''' . 14 '''' . 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 ''''; 15 ' . 15 '' . 15 ''' . 15 '''' . 16 ' . 16 '' . 16 ''' . 16 '''' ) enclosed area.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016102635A1 (en) * 2014-12-23 2016-06-30 Heraeus Sensor Technology Gmbh Sensor for detecting electrically conductive and/or polarizable particles, sensor system, method for operating a sensor, method for producing a sensor of this type and use of a sensor of this type
DE102016107888A1 (en) * 2016-04-28 2017-11-02 Heraeus Sensor Technology Gmbh Sensor for detecting electrically conductive and / or polarisable particles, sensor system, method for operating a sensor and use of such a sensor
DE112015005740B4 (en) * 2014-12-23 2021-04-01 Denso Corporation Fine dust collection element
DE112015004769B4 (en) 2014-10-20 2022-02-17 Denso Corporation particle detection sensor

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112015004769B4 (en) 2014-10-20 2022-02-17 Denso Corporation particle detection sensor
WO2016102635A1 (en) * 2014-12-23 2016-06-30 Heraeus Sensor Technology Gmbh Sensor for detecting electrically conductive and/or polarizable particles, sensor system, method for operating a sensor, method for producing a sensor of this type and use of a sensor of this type
WO2016102178A1 (en) * 2014-12-23 2016-06-30 Heraeus Sensor Technology Gmbh Sensor for detecting electrically conductive and/or polarizable particles and method for adjusting such a sensor
WO2016102636A1 (en) * 2014-12-23 2016-06-30 Heraeus Sensor Technology Gmbh Sensor for detecting electrically conductive and/or polarizable particles, sensor system, method for operating a sensor, method for producing a sensor of this type and use of a sensor of this type
CN107407624A (en) * 2014-12-23 2017-11-28 贺利氏传感器技术有限责任公司 For detecting sensor, sensing system, the method for operating sensor, the manufacture method of this type sensor and this type sensor applications of conductive and/or polarizable particle
CN107430053A (en) * 2014-12-23 2017-12-01 贺利氏传感器技术有限责任公司 For detecting sensor, sensing system, the method for operating sensor, the manufacture method of this type sensor and this type sensor applications of conductive and/or polarizable particle
TWI621841B (en) * 2014-12-23 2018-04-21 赫拉爾斯感測科技有限責任公司 Sensor for detecting electrically conductive and/or polarisable particles and method for manufacturing such a sensor
US10705002B2 (en) 2014-12-23 2020-07-07 Heraeus Nexensos Gmbh Sensor for detecting electrically conductive and/or polarizable particles and method for adjusting such a sensor
DE112015005740B4 (en) * 2014-12-23 2021-04-01 Denso Corporation Fine dust collection element
DE112015005740B8 (en) * 2014-12-23 2021-05-27 Denso Corporation Particulate matter collection element
DE102016107888A1 (en) * 2016-04-28 2017-11-02 Heraeus Sensor Technology Gmbh Sensor for detecting electrically conductive and / or polarisable particles, sensor system, method for operating a sensor and use of such a sensor

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