DE102008048688B4 - Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 25
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims abstract description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims 1
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/484—Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/08—Auxiliary means for directing the radiation beam to a particular spot, e.g. using light beams
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
- A61B6/4429—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
- A61B6/4435—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure
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- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
- G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Röntgen-CT-System (1) mit mindestens einem Quellen/Detektor-System (F, D) zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen, welches auf einer, um eine Systemachse (9) rotierbaren, Gantry angeordnet ist, das Quellen/Detektor-System (F, D) aufweisend:
1.1. eine Röntgenstrahlenquelle mit einer Gitterstruktur (13, G0), welche gitterartig angeordnete Streifen von Emissionsmaxima und Emissionsminima einer erzeugten Röntgenstrahlung mit einer Gitterperiode (p0) emittiert, wobei ein in zwei Ebenen aufgeweiteter Strahlenfächer von Röntgenstrahlen mit einem maximalen Fächerwinkel (2xφmax) in der Rotationsebene der Gantry und einem Z-Winkel (2xζmax) senkrecht zur Rotationsebene der Gantry entsteht,
1.2. eine Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Gitter/Detektor-Modulen, welche jeweils in Strahlrichtung hintereinander angeordnet aufweisen:
1.2.1. mindestens ein Phasengitter (G1i), zur Erzeugung eines Interferenzmusters,
1.2.2. ein Analysengitter (G2i) mit unmittelbar anschließendem Detektor mit einer Vielzahl von Detektorelementen, zur Bestimmung von Phase, mittlerer Strahlungsintensität (Imed) und Amplitude (Iamp) der mittleren Intensität der Strahlung je Detektorelement bei Relativverschiebung einer der vorgelagerten Gitterstrukturen,...
1.1. eine Röntgenstrahlenquelle mit einer Gitterstruktur (13, G0), welche gitterartig angeordnete Streifen von Emissionsmaxima und Emissionsminima einer erzeugten Röntgenstrahlung mit einer Gitterperiode (p0) emittiert, wobei ein in zwei Ebenen aufgeweiteter Strahlenfächer von Röntgenstrahlen mit einem maximalen Fächerwinkel (2xφmax) in der Rotationsebene der Gantry und einem Z-Winkel (2xζmax) senkrecht zur Rotationsebene der Gantry entsteht,
1.2. eine Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Gitter/Detektor-Modulen, welche jeweils in Strahlrichtung hintereinander angeordnet aufweisen:
1.2.1. mindestens ein Phasengitter (G1i), zur Erzeugung eines Interferenzmusters,
1.2.2. ein Analysengitter (G2i) mit unmittelbar anschließendem Detektor mit einer Vielzahl von Detektorelementen, zur Bestimmung von Phase, mittlerer Strahlungsintensität (Imed) und Amplitude (Iamp) der mittleren Intensität der Strahlung je Detektorelement bei Relativverschiebung einer der vorgelagerten Gitterstrukturen,...
Description
- Die Erfindung betrifft ein Röntgen-CT-System mit einem Quellen/Detektor-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen, welches auf einer, um eine Systemachse rotierbaren, Gantry angeordnet ist, aufweisend:
- – eine Röntgenstrahlenquelle mit einer Gitterstruktur, welche gitterartig angeordnete Streifen von Emissionsmaxima und Emissionsminima einer erzeugten Röntgenstrahlung mit einer Gitterperiode emittiert, wobei ein in zwei Ebenen aufgeweiteter Strahlenfächer von Röntgenstrahlen mit einem maximalen Fächerwinkel in der Rotationsebene der Gantry und einem Z-Winkel senkrecht zur Rotationsebene der Gantry entsteht,
- – eine Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Gitter/Detektor-Modulen, welche – jeweils in Strahlrichtung hintereinander angeordnet – aufweisen:
- – mindestens ein Phasengitter, zur Erzeugung eines Interferenzmusters, und
- – ein Analysegitter mit unmittelbar anschließendem Detektor mit einer Vielzahl von Detektorelementen, zur Bestimmung von Phase, mittlerer Strahlungsintensität und Amplitude der mittleren Intensität der Strahlung je Detektorelement bei Relativverschiebung einer der vorgelagerten Gitterstrukturen,
- – wobei die Gitterlinien aller Gitterstrukturen parallel zueinander und parallel zur Systemachse ausgerichtet sind.
- Ein solches Röntgen-CT-System mit modularem Aufbau des Quellen/Detektor-Systems aus einer Vielzahl von Gitter/Detektor-Modulen, die als Talbot-Interferometer betrieben werden, ist aus der Offenlegungsschrift
DE 10 2006 015 358 A1 bekannt. Dort wird auch beschrieben, welche geometrischen Bedingungen für die Anordnung der Gitterstrukturen notwendig sind, um sinnvolle Messergebnisse erreichen zu können. Bezüglich der geometrischen Bedingungen werden hierbei genannt: - Hierbei bedeuten:
- p0
- = Gitterperiode des Quellengitters G0,
- p1
- = Gitterperiode des Phasengitters G1,
- p2
- = Gitterperiode des Analysengitters G2,
- d≡
- = Abstand des Phasengitters G1 zum Analysengitter G2 in Fächerstrahlgeometrie,
- d≡
- = Abstand des Phasengitters G1 zum Analysengitter G2 unter Parallelgeometrie,
- l
- = Abstand des Quellengitters G0 zum Phasengitter G1,
- λ
- = ausgewählte Wellenlänge der Strahlung,
- hl
- = Steghöhe des Phasengitters G1 in Strahlrichtung,
- n
- = Brechungsindex des Gittermaterials des Phasengitters.
- Des Weiteren wird ausgeführt, dass die Linienorientierung der Gitter G0 bis G2 so ausgebildet sein soll, dass die Gitterlinien aller drei Gitter parallel zueinander verlaufen. Vorteilhaft aber nicht notwendig soll es dabei sein, wenn diese Gitterlinien parallel oder senkrecht zur Systemachse S orientiert sind.
- Es hat sich allerdings gezeigt, dass bei einer Ausführung eines solchen gitterbestückten Quellen/Detektor-Systems, bei dem die Gitterlinien parallel zur Systemachse ausgerichtet sind und gleichzeitig ein relativbreiter Detektor verwendet wird, also ein großer Fächerwinkel senkrecht zur Systemachse für das verwendete Strahlungsbündel auftritt, unter großen Fächerwinkeln angeordnete Gitter/Detektor-Module unbefriedigende Ergebnisse zeigen.
- Es ist daher Aufgabe der Erfindung solche Röntgen-CT-Systeme zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen bezüglich ihrer Leistung zu verbessern und insbesondere Messungen, die unter großem Fächerwinkel durchgeführt werden, zu verbessern.
- Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des unabhängigen Patentanspruches 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand untergeordneter Ansprüche.
- Die Erfinder haben erkannt, dass bei der Auslegung der Abstandsbedingungen der Gitterstrukturen in dem als Talbot-Interferometer arbeitenden Quellen/Detektor-System die oben beschriebenen geometrischen Bedingungen nicht ausreichen und einer Modifikation bedürfen. Der Grund hierfür liegt in der mit größer werdendem Fächerwinkel immer kleiner werdenden Gitterperiode. Wird eine Gitterfläche, hier die Gitterfläche eines Quellengitters oder die Fläche von mehr und minder stark Röntgenstrahlung emittierenden Streifen auf einer Anode, aus einem zunehmend flacheren Winkel betrachtet, so verringert sich die scheinbare, also die auf den Betrachter projizierte, Gitterperiode immer stärker. Sollen die Interferenzbedingungen des Talbot-Interferometers beibehalten werden, so müssen entsprechend der flacher werdenden Betrachtungswinkel, das heißt im Fall des hier betrachteten CTs entsprechend einem größer Fächerwinkel, auch die geometrischen Bedingungen der Gitteranordnung angepasst werden.
- Im Fall des hier betrachteten CT-Systems bedeutet dies, dass zumindest der Abstand zwischen der quellseitigen Gitterstruktur und dem Phasengitter entsprechend der zum Phasengitter projizierten Gitterperiode verkleinert werden muss. Die scheinbare oder projizierte Gitterperiode p0'(φi) beim Fächerwinkel φi einer Quellgitterstruktur mit der tatsächlichen Gitterperiode p0 folgt der BeziehungEntsprechend muss sich der Abstand l(φi) zwischen der quellseitigen Gitterstruktur und dem Phasengitter mit zunehmendem Fächerwinkel φi gemäß der Beziehung l(φi) = l0cos(φi) verkürzen.
- Betrachtet man unter diesem Gesichtspunkt die sich in Abhängigkeit vom Fächerwinkel verändernden projizierten Gitterperioden, so ergibt sich die folgende geometrische Beziehung für die Gitterperioden der verwendeten Gitter: mit p0 der Gitterperiode der Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle, p1(φi) der Gitterperiode des betrachteten Phasengitters am Fächerwinkel φi und p2 der Gitterperiode des zugeordneten Analysegitters.
- Bezüglich des Abstandes d(φi) zwischen Phasengitter und Analysegitter in Abhängigkeit vom Fächerwinkel φi sollte dann die Bedinung erfüllt werden, mit l0 dem Abstand zwischen der Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle und dem Phasengitter am Fächerwinkel φ0 = 0° und p1 der Gitterperiode des Phasengitters. λ entspricht der Wellenlänge der Röntgenstrahlung, auf welche das Talbot-Interferometer abgestimmt ist.
- Entsprechend dieser Erkenntnis schlagen die Erfinder eine Verbesserung eines Röntgen-CT-System mit mindestens einem Quellen/Detektor-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen, welches auf einer, um eine Systemachse rotierbaren, Gantry angeordnet ist, vor, wobei das bekannte Quellen/Detektor-System aufweist:
- – eine Röntgenstrahlenquelle mit einer Gitterstruktur, welche gitterartig angeordnete Streifen von Emissionsmaxima und Emissionsminima einer erzeugten Röntgenstrahlung mit einer Gitterperiode emittiert, wobei ein in zwei Ebenen aufgeweiteter Strahlenfächer von Röntgenstrahlen mit einem maximalen Fächerwinkel in der Rotationsebene der Gantry und einem Z-Winkel senkrecht zur Rotationsebene der Gantry entsteht,
- – einer Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Gitter/Detektor-Modulen, welche jeweils in Strahlrichtung hintereinander
- – mindestens ein Phasengitter, zur Erzeugung eines Interferenzmusters,
- – ein Analysegitter mit unmittelbar anschließendem Detektor mit einer Vielzahl von Detektorelementen, zur Bestimmung von Phase, mittlerer Strahlungsintensität und Amplitude der mittleren Intensität der Strahlung je Detektorelement bei Relativverschiebung einer der vorgelagerten Gitterstrukturen, wobei die Gitterlinien aller Gitterstrukturen parallel zueinander und parallel zur Systemachse ausgerichtet sind, aufweisen.
- Die erfindungsgemäße Verbesserung liegt darin, dass der Abstand zwischen der Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle und dem Phasengitter der jeweiligen Gitter/Detektor-Module abhängig vom Fächerwinkel entsprechend einer im jeweiligen Fächerwinkel auf das Gitter/Detektor-Modul projizierten Periode der Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle angepasst ist.
- Es wird also bei einer Ausrichtung der Gitterstruktur parallel zur Systemachse und damit senkrecht auf der vom Fächerwinkel des Detektors definierten Ebene die vom Phasengitter tatsächlich gesehene projizierte Gitterperiode des Quellengitters beziehungsweise der streifenförmigen Gitterstruktur des Brennflecks auf der Anode in Abhängigkeit vom jeweils betrachteten Fächerwinkel durch eine Anpassung des Abstandes der Gitterstrukturen berücksichtigt. Hierdurch bleiben über den gesamten genutzten Fächerwinkel eines CT-Systems optimale Interferenzbedingungen erhalten und es ergeben sich wesentlich verbesserte Messergebnisse auch bei großen Fächerwinkeln.
- Vorteilhaft kann die Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle eben ausgebildet sein und die Gitter/Detektor-Module derart angeordnet sein, dass bezüglich des Abstandes li zwischen der
- Röntgenstrahlenquelle und dem Phasengitter je Gitter/Detektor-Modul gilt:
wobei l0 dem Abstand zwischen der Röntgenstrahlenquelle und dem Phasengitter beim Fächerwinkel φ0 = 0° entspricht.li = l0·cos(φi), - Die Erfinder schlagen weiterhin vor, dass je Gitter/Detektor-Modul die Gitterperioden der verwendeten Gitterstrukturen von Phasen- und Analysegitter in Abhängigkeit vom Fächerwinkel angepasst werden und die folgende Bedingung erfüllen: wobei p0 der Gitterperiode der Gitterstruktur G0 der Röntgenstrahlenquelle, p1(φi) der Gitterperiode des i-ten Phasengitters G1,i am i-ten Fächerwinkel φi, und p2 der Gitterperiode des Analysegitters G2 entspricht.
- Vorteilhaft ist es auch, wenn je Gitter/Detektor-Modul der Abstand zwischen Phasengitter und Analysegitter erfindungsgemäß angepasst wird und in Abhängigkeit vom Fächerwinkel die folgende Bedingung erfüllt: wobei l0 dem Abstand zwischen der Gitterstruktur G0 der Röntgenstrahlenquelle und dem Phasengitter G1,0 am Fächerwinkel φ0 = 0°, p1 der Gitterperiode des Phasengitters G1,i und λ der Wellenlänge der Röntgenstrahlung entspricht, auf welche das System abgestimmt ist.
- Des Weiteren kann der Detektor des mindestens einen Quellen/Detektor-Systems vorteilhaft aus einer Vielzahl von in Richtung des Fächerwinkels aneinander gereihten Gitter/Detektor-Modulen oder, insbesondere bei besonders großer Zeilenzahl, aus mindestens zwei Reihen von in Richtung des Fächerwinkels aneinander gereihten Gitter/Detektor-Modulen bestehen.
- Bezüglich der Ausbildung der Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle wird einerseits vorgeschlagen diese durch einen flächig ausgebildeten Brennfleck und ein im Strahlengang angeordnetes Absorptionsgitter zu bilden. Eine solche Ausbildung ist beispielsweise in F. Pfeiffer et al., „Hard-X-ray dark-field imaging using a grating interferometer”, Nature Materials, Vol. 7, Seiten 134 bis 137, 01.02.2008, (siehe insbesondere
1a ) oder in der bereits oben genannten OffenlegungsschriftDE 10 2006 015 358 A1 offenbart. - Alternativ kann die Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle jedoch auch durch eine Vielzahl von streifenförmig ausgebildeten parallel angeordneten Brennflecken ausgebildet werden. Bezüglich einer solchen Ausführung wird auf die Druckschrift
EP 1 803 398 A1 verwiesen. - Bei dieser letztgenannten Ausführungsform der Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle kann es weiterhin vorteilhaft sein, wenn die Anode eine Drehanode mit einer Zylinderfläche als Anodenoberfläche ist, in der eine Vielzahl von Vertiefungen eingebracht sind, wobei der Rotationskörper der Drehanode aus einem ersten Material besteht und die Oberfläche im Bereich der Vertiefungen mit einem zweiten Material belegt ist. Dabei ist es für die Ausbildung möglichst starker streifenförmiger Strahlungsmaxima und -minima besonders günstig, wenn die Materialien starke Unterschiede in der Massenzahl aufweisen, insbesondere, wenn das zweite Material eine höhere Massenzahl aufweist als das erste Material. Vorteilhaft ist dabei die Verwendung von Wolfram für das zweite in den Vertiefungen aufgebrachte Material.
- Ergänzend wird bei einer Verwendung einer Drehanode mit einer Ausrichtung der Vertiefungen mit erhöhter Strahlungsintensität parallel oder zumindest mit einer parallelen Komponente zur Rotationsachse die Abtastung des verwendeten Detektors mit der Rotation der Drehanode derart zu synchronisieren, dass die Abtastung des Detektors, also das Integrationsintervall der Messung, stattfindet, wenn die rotierenden Vertiefungen der Drehanode jeweils in deckungsgleicher Position sind. Beispielsweise kann die Rotation der Drehanode durch einen optischen oder elektromagnetischen Sensor detektiert werden und die Abtastung des Detektors entsprechend getriggert werden.
- Im Folgenden wird die Erfindung mit Hilfe der Figuren näher beschrieben, wobei nur die zum Verständnis der Erfindung notwendigen Merkmale dargestellt sind. Hierbei werden die folgenden Bezugszeichen und Symbole verwendet:
1 : Röntgen-CT-System;2 : Röntgenstrahlenquelle;3 : Detektor;4 : Röntgenstrahlenquelle;5 : Detektor;6 : Gantrygehäuse;7 : Patient;8 : Patientenliege;9 : Systemachse;10 : Steuer- und Rechensystem;11 : Speicher;12 : Drehanode;13 : quellenseitige Gitterstruktur;14 : Vertiefungen;15 : zweites Material;16 : Elektronenemitter;17 : Magnetfeld; d: Abstand des Phasengitters G1 zum Analysengitter G2 in Fächerstrahlgeometrie; d≡: Abstand des Phasengitters G1 zum Analysengitter G2 unter Parallelgeometrie; D: Detektor; e–: Elektronen; F: Fokus/Brennfleck; G0: Quellengitter; G1, G1,i: Phasengitter; G2, G2,i: Analysegitter; hl: Steghöhe des Phasengitters G1 in Strahlrichtung; Imed: mittlere Strahlungsintensität; Iamp: Amplitude; l: Abstand des Quellengitters G0 zum Phasengitter G1; l0: Talbot-Abstand; n: Brechungsindex des Gittermaterials des Phasengitters; p0: Gitterperiode des Quellengitters G0; p0': projizierte Gitterperiode; p1: Gitterperiode des Phasengitters G1; p2: Gitterperiode des Analysengitters G2; Prg1–Prgn: Computerprogramme; S: Strahlenbündel; λ: ausgewählte Wellenlänge der Strahlung; ζ: Z-Winkel; φ: Fächerwinkel. - Es zeigen im Einzelnen:
-
1 : ein Röntgen-CT-System, -
2 : ein Quellen/Detektor-System in 3D-Ansicht, -
3 : ein Quellen/Detektor-System in Seitenansicht senkrecht zur Systemachse, -
4 : ein Quellen/Detektor-System in Seitenansicht parallel zur Systemachse und -
5 : geschlitzte Drehanode. - Die
1 zeigt ein Röntgen-CT-System1 mit erfindungsgemäß ausgestalteten modularen Gitter/Detektor-Systemen, welches sich zur Erzeugung tomographischer Röntgenphasenkontrastaufnahmen, Röntgendunkelfeldaufnahmen und auch einfachen Absorptionsaufnahmen oder Kombinationen hiervon eignet. Das Röntgen-CT-System besteht aus dem Gehäuse6 in dem sich eine Gantry befindet, auf der ein oder optional mehrere Quellen/Detektor-Systeme angeordnet sein können. Im dargestellten Beispiel befinden sich zwei um 90° winkelversetzt angeordnete Röntgenstrahlenquellen2 und4 mit jeweils gegenüberliegend angeordneten Detektorsystemen3 und5 . Die Röntgenstrahlenquellen können jeweils aus einer Kombination einer einfachen Röntgenröhre mit einem im Strahlengang befindlichen Quellengitter bestehen. Das Quellengitter ist daher ein Absorptionsgitter, welches streifenförmig angeordnete Strahlungsminima – hinter den Gitterstegen – und Strahlungsmaxima – hinter den Gitterlücken erzeugt und damit ein quasikohärentes Strahlenbündel mit ausreichender Dosisleistung zur Untersuchung größerer Untersuchungsobjekte, wie beispielsweise einen Patienten, bildet. Alternativ kann die Röntgenstrahlenquelle eine strukturierte Anodenoberfläche aufweisen, auf der streifenförmig angeordnet Strahlungsmaxima und Strahlungsminima, aufgrund der Struktur der Anodenoberfläche, entstehen. Außerdem besteht auch die Möglichkeit, durch entsprechende Ablenkung eines Elektronenstrahls ein streifenförmiges Röntgen-Emissionsmuster zu erzeugen. - Der Detektor ist modular aus einer Vielzahl von Gitter/Detektor-Modulen aufgebaut und weist je Gitter/Detektor-Modul ein Phasengitter und ein im Strahlengang nachgeordnetes Analysegitter auf, wobei zumindest der Abstand zwischen der Gitterstruktur auf der Seite der Strahlungsquelle und dem Phasengitter jedes Gitter/Detektor-Moduls individuell entsprechend der auf das Gitter/Detektor-Modul projizierten Gitterperiode der quellenseitigen Gitterstruktur eingestellt ist.
- Zur Untersuchung kann das Untersuchungsobjekt, hier ein Patient
7 , kontinuierlich oder sequentiell mit Hilfe einer verschiebbaren Patientenliege8 entlang der Systemachse9 , um welche die Gantry rotiert, durch das Messfeld geschoben werden. Die Steuerung, Messung und Rekonstruktion der tomographischen Bilddarstellungen wird hierbei durch ein Steuer- und Rechensystem10 durchgeführt, in dessen Speicher Computerprogramme oder Programm-Module Prg1–Prgn gespeichert sind, die im Betrieb auf bekannte Weise Steuerung, Messung und Rekonstruktion ausführen. - In der
2 ist der modulare Aufbau eines erfindungsgemäßen Gitter/Detektor-Systems eines CT-Systems schematisch mit drei Gitter/Detektor-Modulen G11, G21, D1 bis G13, G23, D3 in Verbindung mit einer beispielhaft gezeigten Röntgenstrahlenquelle2 mit ausgedehntem Fokus F und einem im Strahlengang angeordneten Absorptionsgitter als Quellengitter zur Erzeugung einer quasikohärenten Strahlung, wie sie zur Phasenkontrastmessung oder Dunkelfeldmessung benötigt wird, dargestellt. Das von der Röntgenstrahlenquelle2 ausgestrahlte Strahlenbündel S fächert in zwei senkrecht zueinander stehenden Ebenen, einerseits um den zweifachen Z-Winkel 2xζmax und andererseits den zweifachen Fächerwinkel 2xφmax derart auf, dass der bestrahlte Detektor möglichst genau abgedeckt ist. Das zentrale Gitter/Detektor-Modul G12, G22, D2 ist derart angeordnet, dass es einen klassischen Talbot-Abstand l0 zwischen der gitterartig strukturierten Quelle, hier dem Quellengitter G0, und dem Phasengitter G12 bildet. Die randständig angeordneten Gitter/Detektor-Module G11, G21, D1 und G13, G23, D3 sehen das Quellengitter G0 entsprechend ihrem mittleren Fächerwinkel φ1 beziehungsweise φ3 mit einer kleineren Gitterperiode. Entsprechend sind ihre Abstände mit l(φ1) = l0·cos(φ1) beziehungsweise l(φ3) = l0·cos(φ3) reduziert. Im vorliegenden Beispiel sind auch die Abstände zwischen den Phasengittern G11, G13 und den Analysegittern G21, G23 reduziert, so dass die Bedingung erfüllt ist. - Zum besseren Verständnis ist der modulare Aufbau des Detektors aus Gitter/Detektor-Modulen in den
3 und4 nochmals einerseits in einer seitlichen 3D-Ansicht senkrecht zur Systemachse9 mit einer Ansicht eines Gitter/Detektor-Moduls und andererseits in einer Aufsicht in Systemachsenrichtung mit einer Ansicht eines zentral und eines randständig gelegenen Gitter/Detektor-Moduls gezeigt. - In der
3 ist als Strahlenquelle schematisch eine zylinderförmige Drehanode12 dargestellt, auf deren Oberfläche ein Brennfleck mit gitterartigem Streifenmuster mit Emissionsmaxima und -minima ausgebildet ist. In Systemachsenrichtung ist der Strahlenfächer um den Winkel 2xζmax aufgefächert. Diese Auffächerung verläuft in Richtung der Streifen des gitterartig ausgebildeten Brennflecks13 . Eine perspektivische Änderung der Gitterperiode entsteht in diese Richtung kaum, insbesondere ist auch der Winkel relativ klein. Das hier gezeigte Gitter/Detektor-Modul, bestehend aus einem Phasengitter G1,0, einem Analysegitter G2,0 und vier nachgeordneten Detektorelementen, die in einer Detektoreinheit D0 zusammengefasst sind, entstammt einem 4-zeiligen Detektor und entsprechen einer zentral gelegenen Reihe des Detektors. Somit entspricht der Abstand zwischen der Gitterstruktur des Brennflecks13 und dem Phasengitter G1 dem klassischen Talbot-Abstand. d bezeichnet den Abstand zwischen Phasengitter G1,0 und Analysengitter G2,0. - In der Draufsicht der
4 sind sowohl das zentrale Gitter/Detektor-Modul G1,0, G2,0, D0 aus der3 als auch ein n-tes randständiges Gitter/Detektor-Modul G1,n, G2,n, Dn zu erkennen. Zur besseren Übersicht sind die dazwischen liegenden Module nicht gezeichnet. Das zentrale Gitter/Detektor-Modul G1,0, G2,0, D0, bei dem die Gitterstruktur13 nicht perspektivisch verzerrt wird, weist einen Abstand l0 bis zum Phasengitter G1,0 auf. Deutlich ist in dieser Abbildung zu sehen, dass dieser Abstand l(φn) = l0·cos(φn) beim randständigen Gitter/Detektor-Modul G1,n, G2,n, Dn bei einem Fächerwinkel φn von ca. 20° um ca. 6% (hier etwas übertrieben dargestellt) reduziert ist. Hierdurch werden die Interferenzbedingungen des Systems an die in der Perspektive veränderte Periode pn = p0·cos(φn) = p0·cos(20°) in erfindungsgemäßer Weise angepasst. Entsprechend verändert sich auch der Abstand d zwischen Phasengitter und Analysegitter, so dass die unter2 genannten geometrischen Bedingungen erfüllt werden sollten. - In der
5 ist ergänzend noch eine Einzeldarstellung der Drehanode12 aus der3 mit einem Elektronenemitter16 gezeigt, wobei zusätzlich die Struktur der Anode im Bereich des Brennflecks im Detail im Schnitt gezeigt wird. In der Schnittdarstellung sind drei Einkerbungen14 der Anodenoberfläche zu erkennen, wobei die Oberfläche der Einkerbungen14 mit Material mit hoher Kernladungszahl15 belegt sind. Durch diese Ausgestaltung können die benötigten streifenförmigen Emissionsmaxima und -minima auf der Anodenoberfläche erzeugt werden, so dass auf die Verwendung eines Quellengitters verzichtet werden kann. Ergänzend wird noch darauf hingewiesen, dass in der Ausführung der5 ein Magnetfeld17 verwendet wird, um die am Elektronenemitter16 austretenden Elektronen e– von der Emitteroberfläche effektiver zu einem ohnehin aufgrund der Potentialdifferenz bestehenden elektrischen Feld umzulenken. - Insgesamt wird mit der Erfindung also gezeigt, wie bei einem CT-System mit großem Fächerwinkel der Nachteil einer zum Rand des Detektors sich verändernden projizierten Periode durch entsprechende modulare Ausgestaltung des Gitter/Detektor-Systems und Anpassung des Abstandes zwischen quellseitiger Gitterstruktur und Phasengitter einerseits und auch Anpassung der sonstigen geometrischen Bedingungen zum Erhalt der Interferenzbedingungen kompensiert werden kann und damit über einen weiten Winkelbereich gleich bleibend gute Messergebnisse erzielbar sind. Dies wird dadurch erreicht, dass ein Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen, mit mindestens einem Gitter-Interferometer mit drei in Strahlungsrichtung hintereinander angeordneten Gitterstrukturen vorgeschlagen wird, bei dem ein modularer Aufbau der zweiten und dritten Gitterstruktur verwirklicht ist und der Abstand zwischen der ersten Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle und der als Phasengitter ausgebildeten zweiten Gitterstruktur der jeweiligen Gitter/Detektor-Module abhängig vom Fächerwinkel entsprechend einer im jeweiligen Fächerwinkel auf das Gitter/Detektor-Modul projizierten Periode der Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle angepasst ist.
- Es versteht sich, dass die vorstehend genannten Merkmale der Erfindung nicht nur in der jeweils angegebenen Kombination, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen.
Claims (13)
- Röntgen-CT-System (
1 ) mit mindestens einem Quellen/Detektor-System (F, D) zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen, welches auf einer, um eine Systemachse (9 ) rotierbaren, Gantry angeordnet ist, das Quellen/Detektor-System (F, D) aufweisend: 1.1. eine Röntgenstrahlenquelle mit einer Gitterstruktur (13 , G0), welche gitterartig angeordnete Streifen von Emissionsmaxima und Emissionsminima einer erzeugten Röntgenstrahlung mit einer Gitterperiode (p0) emittiert, wobei ein in zwei Ebenen aufgeweiteter Strahlenfächer von Röntgenstrahlen mit einem maximalen Fächerwinkel (2xφmax) in der Rotationsebene der Gantry und einem Z-Winkel (2xζmax) senkrecht zur Rotationsebene der Gantry entsteht, 1.2. eine Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Gitter/Detektor-Modulen, welche jeweils in Strahlrichtung hintereinander angeordnet aufweisen: 1.2.1. mindestens ein Phasengitter (G1i), zur Erzeugung eines Interferenzmusters, 1.2.2. ein Analysengitter (G2i) mit unmittelbar anschließendem Detektor mit einer Vielzahl von Detektorelementen, zur Bestimmung von Phase, mittlerer Strahlungsintensität (Imed) und Amplitude (Iamp) der mittleren Intensität der Strahlung je Detektorelement bei Relativverschiebung einer der vorgelagerten Gitterstrukturen, 1.2.3. wobei die Gitterlinien aller Gitterstrukturen (13 , G0, G1i, G2i) parallel zueinander und parallel zur Systemachse ausgerichtet sind, dadurch gekennzeichnet, dass 1.3. der Abstand (1 ) zwischen der Gitterstruktur (13 , G0) der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ) und dem Phasengitter (G1,i) der jeweiligen Gitter/Detektor-Module abhängig vom Fächerwinkel entsprechend einer im jeweiligen Fächerwinkel (φi) auf das Gitter/Detektor-Modul projizierten Periode (p0i') der Gitterstruktur (13 , G0) der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ) angepasst ist. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß dem voranstehenden Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Gitterstruktur (13 , G0) der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ) eben ausgebildet ist und die Gitter/-Detektor-Module derart angeordnet sind, dass bezüglich des Abstandes (li) zwischen der Gitterstruktur (13 , G0) der Röntgenstrahlenquelle (G0) und dem Phasengitter (G1i) am i-ten Fächerwinkel φi jeweils gilt: wobei l0 dem Abstand zwischen der Gitterstruktur (li = l0·cos(φi), 13 , G0) der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ) und dem Phasengitter (G10) beim Fächerwinkel φ0 = 0° entspricht. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß einem der voranstehenden Patentansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass je Gitter/Detektor-Modul die Gitterperioden der verwendeten Gitterstrukturen (G1, G2) in Abhängigkeit vom Fächerwinkel (φi) die folgende Bedingung erfüllen: wobei p0 der Gitterperiode der Gitterstruktur (13 , G0) der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ), p1(φi) der Gitterperiode des i-ten Phasengitters (G1,i) am i-ten Fächerwinkel φi, und p2 der Gitterperiode des Analysengitters (G2) entspricht. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß einem der voranstehenden Patentansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass je Gitter/Detektor-Modul der Abstand (d(φi)) zwischen Phasengitter (G1,i) und Analysengitter (G2,i) in Abhängigkeit vom Fächerwinkel die folgende Bedingung erfüllt: wobei l0 dem Abstand zwischen der Gitterstruktur (13 , G0) der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ) und dem Phasengitter (G1,0) am Fächerwinkel φ0 = 0°, p1 der Gitterperiode des Phasengitters (G1,i) und λ der Wellenlänge der Röntgenstrahlung entspricht, auf welche das System abgestimmt ist. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß einem der voranstehenden Patentansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor (D) des mindestens einen Quellen/Detektor-Systems (F, D) aus einer Reihe von in Richtung des Fächerwinkels aneinander gereihten Gitter/Detektor-Modulen besteht. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß einem der voranstehenden Patentansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor (D) des mindestens einen Quellen/Detektor-Systems (F, D) aus mindestens zwei Reihen von in Richtung des Fächerwinkels aneinander gereihten Gitter/Detektor-Modulen besteht. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß einem der voranstehenden Patentansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ) durch einen flächig ausgebildeten Brennfleck (F) und ein im Strahlengang angeordnetes Absorptionsgitter (G0) gebildet wird. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß einem der voranstehenden Patentansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Gitterstruktur der Röntgenstrahlenquelle (2 ,4 ) durch eine Vielzahl von streifenförmig ausgebildeten und parallel zueinander angeordneten Brennflecken (13 ) gebildet wird. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß dem voranstehenden Patentanspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Anode eine Drehanode (12 ) mit einer Zylinderfläche als Anodenoberfläche ist, in der eine Vielzahl von Vertiefungen (14 ) eingebracht sind, wobei der Rotationskörper der Drehanode (12 ) aus einem ersten Material besteht und die Oberfläche im Bereich der Vertiefungen (14 ) mit einem zweiten Material (15 ) belegt ist. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß dem voranstehenden Patentanspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (15 ) eine höhere Massenzahl aufweist als das erste Material. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß dem voranstehenden Patentanspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material Wolfram ist. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß einem der voranstehenden Patentansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass bei einer Ausrichtung der Vertiefungen (14 ) parallel oder zumindest mit einer parallelen Komponente zur Rotationsachse der Drehanode (12 ) ein Synchronisationsmittel vorgesehen ist, welches die Abtastung des verwendeten Detektors mit der Rotation der Drehanode (12 ) derart synchronisiert, dass die Abtastung des Detektors, also das Integrationsintervall der Messung, stattfindet, wenn die rotierenden Vertiefungen (14 ) der Drehanode (12 ) jeweils in deckungsgleicher Position sind. - Röntgen-CT-System (
1 ) gemäß dem voranstehenden Patentanspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass ein Drehratensensor an der Drehanode (12 ) angebracht ist, welcher die Abtastung des Detektors triggert.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102008048688A DE102008048688B4 (de) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen |
| US12/566,053 US8009796B2 (en) | 2008-09-24 | 2009-09-24 | X-ray CT system to generate tomographic phase contrast or dark field exposures |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102008048688A DE102008048688B4 (de) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102008048688A1 DE102008048688A1 (de) | 2010-03-25 |
| DE102008048688B4 true DE102008048688B4 (de) | 2011-08-25 |
Family
ID=41693878
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE102008048688A Expired - Fee Related DE102008048688B4 (de) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8009796B2 (de) |
| DE (1) | DE102008048688B4 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11298089B2 (en) | 2019-02-22 | 2022-04-12 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | X-ray examination arrangement and method for operating an x-ray examination arrangement |
Families Citing this family (64)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5339975B2 (ja) * | 2008-03-13 | 2013-11-13 | キヤノン株式会社 | X線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたx線位相コントラスト像の撮像装置、x線コンピューター断層撮影システム |
| EP2168488B1 (de) * | 2008-09-30 | 2013-02-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgen-CT-System zur Röntgen-Phasenkontrast-und/oder Röntgen-Dunkelfeld-Bildgebung |
| DE102009004702B4 (de) * | 2009-01-15 | 2019-01-31 | Paul Scherer Institut | Anordnung und Verfahren zur projektiven und/oder tomographischen Phasenkontrastbildgebung mit Röntgenstrahlung |
| US8644451B2 (en) * | 2009-03-27 | 2014-02-04 | Shozo Aoki | X-ray generating apparatus and inspection apparatus using the same therein |
| JP2010236986A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Fujifilm Corp | 放射線位相画像撮影装置 |
| DE102010017425A1 (de) | 2010-06-17 | 2011-12-22 | Karlsruher Institut für Technologie | Geneigte Phasengitterstrukturen |
| US9031201B2 (en) * | 2010-07-05 | 2015-05-12 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray source, X-ray imaging apparatus, and X-ray computed tomography imaging system |
| EP2630477B1 (de) * | 2010-10-19 | 2020-03-18 | Koninklijke Philips N.V. | Differenzielle phasenkontrastbildgebung |
| RU2572644C2 (ru) * | 2010-10-19 | 2016-01-20 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений |
| JP2012095865A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置、放射線撮影システム |
| US9841388B2 (en) * | 2011-06-01 | 2017-12-12 | Total Sa | X-ray tomography device |
| BR112013030648B1 (pt) | 2011-06-01 | 2021-08-10 | Total Sa | Dispositivo de tomografia de raio x |
| US20150117599A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
| RU2624513C2 (ru) * | 2012-01-24 | 2017-07-04 | Конинклейке Филипс Н.В. | Мультинаправленная фазоконтрастная рентгеновская визуализация |
| US20150055743A1 (en) * | 2012-02-24 | 2015-02-26 | University Of Massachusetts Medical School | Apparatus and method for x-ray phase contrast imaging |
| WO2014137318A1 (en) * | 2012-03-05 | 2014-09-12 | University Of Rochester | Methods and apparatus for differential phase-contrast cone-beam ct and hybrid cone-beam ct |
| KR101378757B1 (ko) * | 2012-08-30 | 2014-03-27 | 한국원자력연구원 | 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치 |
| US8989347B2 (en) | 2012-12-19 | 2015-03-24 | General Electric Company | Image reconstruction method for differential phase contrast X-ray imaging |
| US9014333B2 (en) | 2012-12-31 | 2015-04-21 | General Electric Company | Image reconstruction methods for differential phase contrast X-ray imaging |
| JP2014178130A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-25 | Canon Inc | X線撮像装置及びx線撮像システム |
| DE102013205406A1 (de) * | 2013-03-27 | 2014-10-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmesystem zur Röntgenbildgebung bei hohen Bildfrequenzen eines Untersuchungsobjekts mittels direkter Messung des Interferenzmusters |
| US9412554B2 (en) | 2013-07-23 | 2016-08-09 | Koninklijke Philips N.V. | Anode for an X-ray tube of a differential phase contrast imaging apparatus |
| JP6362103B2 (ja) * | 2013-09-04 | 2018-07-25 | キヤノン株式会社 | 遮蔽格子及びトールボット干渉計 |
| US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
| US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
| US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
| US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
| USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
| JP2015166676A (ja) * | 2014-03-03 | 2015-09-24 | キヤノン株式会社 | X線撮像システム |
| US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
| EP3217879B1 (de) * | 2014-11-11 | 2020-01-08 | Koninklijke Philips N.V. | Quellenerkennungsanordnung |
| US10061038B2 (en) * | 2015-04-07 | 2018-08-28 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Semiconductor X-ray detector |
| US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
| WO2017019782A1 (en) * | 2015-07-27 | 2017-02-02 | Rensselaer Polytechnic Institute | Combination of an x-ray tube and a source grating with electron beam manipulation |
| US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
| US11116465B2 (en) | 2015-09-16 | 2021-09-14 | Koninklijke Philips N.V. | Dark-field enhanced virtual x-ray colonoscopy |
| WO2018087195A1 (en) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | Koninklijke Philips N.V. | Grating-based phase contrast imaging |
| US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
| EP3551077A1 (de) | 2016-12-09 | 2019-10-16 | Koninklijke Philips N.V. | Projektionsdatenerfassungsvorrichtung und subjektunterstützungsvorrichtung |
| WO2018175570A1 (en) | 2017-03-22 | 2018-09-27 | Sigray, Inc. | Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system |
| EP3494885A1 (de) * | 2017-12-07 | 2019-06-12 | Koninklijke Philips N.V. | Vorrichtung zur präsentation von dunkelfeld-röntgenbildinformationen |
| US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
| DE112019002822T5 (de) | 2018-06-04 | 2021-02-18 | Sigray, Inc. | Wellenlängendispersives röntgenspektrometer |
| GB2591630B (en) | 2018-07-26 | 2023-05-24 | Sigray Inc | High brightness x-ray reflection source |
| EP3603515A1 (de) * | 2018-08-01 | 2020-02-05 | Koninklijke Philips N.V. | Vorrichtung zur erzeugung von röntgenbildgebungsdaten |
| US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
| DE112019004433B4 (de) | 2018-09-04 | 2024-09-12 | Sigray, Inc. | System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung |
| CN112823280B (zh) | 2018-09-07 | 2024-11-05 | 斯格瑞公司 | 用于深度可选x射线分析的系统和方法 |
| DE112020004169T5 (de) | 2019-09-03 | 2022-05-25 | Sigray, Inc. | System und verfahren zur computergestützten laminografieröntgenfluoreszenz-bildgebung |
| US11175243B1 (en) | 2020-02-06 | 2021-11-16 | Sigray, Inc. | X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples |
| DE112021002841T5 (de) | 2020-05-18 | 2023-03-23 | Sigray, Inc. | System und Verfahren für Röntgenabsorptionsspektroskopie unter Verwendung eines Kristallanalysators und mehrerer Detektorelemente |
| US11844641B2 (en) * | 2020-07-06 | 2023-12-19 | Michael Keith Fuller | Method and device for producing and using multiple origins of x-radiation |
| DE112021004828T5 (de) | 2020-09-17 | 2023-08-03 | Sigray, Inc. | System und verfahren unter verwendung von röntgenstrahlen für tiefenauflösende messtechnik und analyse |
| US12480892B2 (en) | 2020-12-07 | 2025-11-25 | Sigray, Inc. | High throughput 3D x-ray imaging system using a transmission x-ray source |
| DE112021006348T5 (de) | 2020-12-07 | 2023-09-21 | Sigray, Inc. | 3d-röntgenbildgebungssystem mit hohem durchsatz, das eine transmissionsröntgenquelle verwendet |
| US12360067B2 (en) | 2022-03-02 | 2025-07-15 | Sigray, Inc. | X-ray fluorescence system and x-ray source with electrically insulative target material |
| US11992350B2 (en) | 2022-03-15 | 2024-05-28 | Sigray, Inc. | System and method for compact laminography utilizing microfocus transmission x-ray source and variable magnification x-ray detector |
| CN119173759A (zh) | 2022-05-02 | 2024-12-20 | 斯格瑞公司 | X射线顺序阵列波长色散光谱仪 |
| CN121013975A (zh) | 2023-02-16 | 2025-11-25 | 斯格瑞公司 | 具有至少两个堆叠的平面布拉格衍射器的x射线探测器系统 |
| US12181423B1 (en) | 2023-09-07 | 2024-12-31 | Sigray, Inc. | Secondary image removal using high resolution x-ray transmission sources |
| US12429437B2 (en) | 2023-11-07 | 2025-09-30 | Sigray, Inc. | System and method for x-ray absorption spectroscopy using spectral information from two orthogonal planes |
| US12429436B2 (en) | 2024-01-08 | 2025-09-30 | Sigray, Inc. | X-ray analysis system with focused x-ray beam and non-x-ray microscope |
| WO2025155719A1 (en) | 2024-01-18 | 2025-07-24 | Sigray, Inc. | Sequential array of x-ray imaging detectors |
| WO2025174966A1 (en) | 2024-02-15 | 2025-08-21 | Sigray, Inc. | System and method for generating a focused x‑ray beam |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1803398A1 (de) * | 2005-12-27 | 2007-07-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung von Phasenkontrast-Röntgenaufnahmen und Verfahren hierzu |
| DE102006015358A1 (de) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Siemens Ag | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1731099A1 (de) | 2005-06-06 | 2006-12-13 | Paul Scherrer Institut | Interferometer zur quantitativen Phasenkontrastbildgebung und -tomographie mit einer inkohärenten polychromatischen Röntgenquelle |
| DE102005062447A1 (de) | 2005-12-27 | 2007-07-05 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Erzeugung eines Röntgenbilds |
| WO2007074029A1 (de) | 2005-12-27 | 2007-07-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Fokus- detektor- anordnung zur erzeugung von phasenkontrast-röntgenaufnahmen und verfahren hierzu |
| DE102006037256B4 (de) * | 2006-02-01 | 2017-03-30 | Paul Scherer Institut | Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System |
-
2008
- 2008-09-24 DE DE102008048688A patent/DE102008048688B4/de not_active Expired - Fee Related
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2009
- 2009-09-24 US US12/566,053 patent/US8009796B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1803398A1 (de) * | 2005-12-27 | 2007-07-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung von Phasenkontrast-Röntgenaufnahmen und Verfahren hierzu |
| DE102006015358A1 (de) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Siemens Ag | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| PFEIFFER,F. [u.a.]: Hard-X-ray dark-field imaging using a grating interferometer. In: Nature Materials, Vol.7, 2008, S.134-137 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11298089B2 (en) | 2019-02-22 | 2022-04-12 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | X-ray examination arrangement and method for operating an x-ray examination arrangement |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20100080341A1 (en) | 2010-04-01 |
| US8009796B2 (en) | 2011-08-30 |
| DE102008048688A1 (de) | 2010-03-25 |
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| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
| R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20111126 |
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| R081 | Change of applicant/patentee |
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