[go: up one dir, main page]

DE102007046430A1 - Holding device for use in wafer arrangement, has coupling area that is formed such that holding device is attached at wafer frame, where electronic components are provided directly on wafer - Google Patents

Holding device for use in wafer arrangement, has coupling area that is formed such that holding device is attached at wafer frame, where electronic components are provided directly on wafer Download PDF

Info

Publication number
DE102007046430A1
DE102007046430A1 DE102007046430A DE102007046430A DE102007046430A1 DE 102007046430 A1 DE102007046430 A1 DE 102007046430A1 DE 102007046430 A DE102007046430 A DE 102007046430A DE 102007046430 A DE102007046430 A DE 102007046430A DE 102007046430 A1 DE102007046430 A1 DE 102007046430A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
wafer
holding device
expansion device
holding
carrier film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE102007046430A
Other languages
German (de)
Inventor
Martin Neusser
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DE102007046430A priority Critical patent/DE102007046430A1/en
Publication of DE102007046430A1 publication Critical patent/DE102007046430A1/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H10P72/0442
    • H10P72/18

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

The device has a coupling area that is formed in such a manner that the holding device is attached at a wafer frame (110). A support area is designed in such a manner that a portion of an expansion device is set up. A lowered height level is defined with respect to the height level that is defined by the wafer frame of the support area. The coupling area is a longitudinal recess into which the wafer frame is guided. A projection is formed above the support area. The electronic components are provided directly on the wafer. Independent claims are also included for the following: (1) a wafer arrangement with wafer frame (2) a method for holding an elastic carrier foil.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft das Gebiet der Handhabung von elektronischen Bauelementen, welche nach einem Wafer-Vereinzelungsprozess an einer elastischen Trägerfolie anhaften. Die vorliegende Erfindung betrifft insbesondere eine Haltevorrichtung für eine durch eine Expansionseinrichtung aufgeweitete elastische Trägerfolie, an welcher eine Mehrzahl von aus einem Wafer vereinzelten Halbleiter-Chips anhaftet. Die vorliegende Erfindung betrifft ferner eine Wafer-Anordnung, welche einen Wafer-Rahmen, der oben genannten Haltevorrichtungen und eine Expansionseinrichtung mit einer aufgeweiteten Trägerfolie aufweist. Außerdem betrifft die vorliegende Erfindung ein Verfahren zum Halten von einer durch eine Expansionseinrichtung aufgeweitete elastische Trägerfolie, an welcher mehrere aus einem Wafer vereinzelte Halbleiter-Chips anhaften.The The present invention relates to the field of electronic handling Components, which after a wafer dicing process on a adhere elastic carrier film. The present invention particularly relates to a holding device for a through an expansion device expanded elastic carrier film, at which a plurality of semiconductor chips separated from a wafer adheres. The present invention further relates to a wafer arrangement, a wafer frame, the above-mentioned holding devices and an expansion device with a widened carrier film having. Moreover, the present invention relates to a Method of holding one by an expander expanded elastic carrier film on which several Adhesive from a wafer scattered semiconductor chips.

Aufgrund der zunehmenden Miniaturisierung von elektronischen Bauelementen wird es bereits in naher Zukunft nicht mehr wirtschaftlich sein, elektronische Bauelemente, welche auf ein elektronisches Schaltungssubstrat bzw. einen Bauelementeträger bestückt werden sollen, zum Zwecke einer sicheren Bauelement-Zuführung für einen Bestückprozess umzupacken. Ein derartiges Umpacken in spezielle Bauelement-Zuführgurte wird häufig angewendet, um die Bauelemente einzeln dem Bestückprozess zuzuführen. Von modernen Surface Mount Technology (SMT) Bestücksystemen wird vielmehr schon bald verlangt werden, dass sie die zu bestückenden Bauelemente bzw. Halbleiter-Chip unmittelbar von einem Wafer einzeln entnehmen und auf entsprechende Stellen eines elektronischen Schaltungssubstrats aufsetzen.by virtue of the increasing miniaturization of electronic components it will not be economical in the near future, electronic components applied to an electronic circuit substrate or a component carrier to be populated, for the purpose of a secure component feeder for to repack a placement process. Such a repackaging in special component feeding belts becomes common applied to the components individually to the placement process. From modern Surface Mount Technology (SMT) placement systems Rather, it will soon be demanded that they be equipped Components or semiconductor chip directly from a wafer individually remove and place on appropriate points of an electronic circuit substrate.

Um die Handhabung von elektronischen Bauelementen, welche als so genannte Dies unmittelbar aus einem vereinzelten Wafer entnommen werden sollen, zu vereinfachen, wird der gesamte Wafer vor der Vereinzelung auf einer klebrigen Trägerfolie aufgebracht. Die Vereinzelung erfolgt beispielsweise durch einen hochpräzisen mechanischen Säge- und/oder durch einen chemischen Ätzvorgang. Der Vereinzelung schließt sich typischerweise zumindest ein Reinigungsvorgang an, mit dem Rückstände bzw. Verschmutzungen des Vereinzelungsprozesses von der gesamten Wafer-Anordnung zuverlässig entfernt werden.Around the handling of electronic components, which as so-called To be taken directly from a single wafer, To simplify, the entire wafer before singulation on applied to a sticky carrier film. The isolation for example, by a high-precision mechanical Sawing and / or by a chemical etching process. The singulation typically closes at least a cleaning process, with the residues or Dirt of the dicing process of the entire wafer arrangement reliable be removed.

Die gereinigten elektronischen Bauelemente werden dann unter Verwendung eines Bauelement-Aufnahmewerkzeuges wie beispielsweise einem Sauggreifer bzw. einer Saugpipette von der Trägerfolie entnommen und einem Bestückprozess zugeführt.The cleaned electronic components are then used a component pick-up tool such as a suction pad or a suction pipette removed from the carrier film and fed to a placement process.

Um den Ablösevorgang der elektronischen Bauelemente von der klebrigen Trägerfolie zu erleichtern, ist aus der EP 565781 A1 eine Ausstoßvorrichtung zum Abtrennen eines Chips von einem klebrigen Träger bekannt. Die Ausstoßvorrichtung weist eine spitze Ausstoßnadel auf, welche die Trägerfolie durchdringt und ein Ablösen des jeweiligen Bauelements mittels eines Sauggreifers unterstützt.To facilitate the detachment process of the electronic components of the sticky carrier film is from the EP 565781 A1 an ejector for separating a chip from a sticky carrier. The ejection device has a pointed ejection needle, which penetrates the carrier film and supports detachment of the respective component by means of a suction gripper.

Im Zusammenhang mit der Entnahme der Bauelemente mittels eines Sauggreifers ist es ferner bekannt, die Trägerfolie zu dehnen, um gezielt den Abstand zwischen den einzelnen Bauelementen zu vergrößern. Auf diese Weise kann die Gefahr reduziert werden, dass ein Sauggreifer gleichzeitig an zwei benachbarten Bauelementen angreift. Damit erhöht sich die Prozesssicherheit bei der Bauelement-Entnahme. So ist beispielsweise aus der DE 100 31 983 A1 ein Expandierring zum Dehnen einer Trägerfolie bekannt, an der eine Mehrzahl von ungehäusten elektronischen Bauelementen befestigt ist. Der Expandierring umfasst nach außen gerichtete Rastnasen, die nach erfolgter Dehnung der Folie in einen Halterahmen der Folie eingreifen.In connection with the removal of the components by means of a suction gripper, it is also known to stretch the carrier film to selectively increase the distance between the individual components. In this way, the risk can be reduced that a suction gripper acts simultaneously on two adjacent components. This increases process reliability during component removal. For example, from the DE 100 31 983 A1 an expanding ring for stretching a carrier film is known, to which a plurality of unhoused electronic components is attached. The expanding ring comprises outwardly directed latching lugs which engage in a holding frame of the film after the film has been stretched.

Die Expansion einer Trägerfolie mittels eines Expandierrings hat jedoch zur Folge dass sich das Höhenniveau der expandierten Trägerfolie und damit das Höhenniveau der an der Trägerfolie anhaftenden Halbleiter-Chips verändert. Bei einem Abholvorgang der Halbleiter-Chips muss deshalb die Bewegung eines Bestück- oder Transportkopfes, welcher ein Halbleiter-Chip oder alternativ auch mehrere Halbleiter-Chips aufnehmen kann, an das neue Höhenniveau angepasst werden. Diese Anpassung ist jedoch durch die Veränderung der Höhenlage in der Praxis mit erheblichen Umbauarbeiten belastet. Dies hat zur Folge, dass auf der entsprechenden Halbleiter-Chip Handhabungsmaschine keine "unexpandierten" Wafer mehr verarbeitet werden können.The Expansion of a carrier foil by means of an expanding ring However, the result is that the height level of the expanded Carrier film and thus the height level at the Carrier film adhering semiconductor chips changed. In a pick-up operation of the semiconductor chips therefore the movement a placement or transport head, which is a semiconductor chip or alternatively can also accommodate a plurality of semiconductor chips on the new height level will be adjusted. This adaptation is however by the change of the altitude burdened in practice with considerable alterations. As a consequence, that on the corresponding semiconductor chip handling machine no "unexpanded" wafers can be processed anymore.

Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Bereitstellung von elektronischen Bauelementen direkt von einem Wafer im Hinblick auf eine erhöhte Prozesssicherheit beim Abholen der Bauelemente zu verbessern.Of the The present invention is based on the object of providing of electronic components directly from a wafer in view on increased process reliability when picking up the components to improve.

Diese Aufgabe wird gelöst durch die Gegenstände der unabhängigen Patentansprüche. Vorteilhafte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen beschrieben.These Task is solved by the objects of independent claims. Advantageous embodiments The present invention is defined in the dependent claims described.

Mit dem unabhängigen Patentanspruch 1 wird eine Haltevorrichtung für eine durch eine Expansionseinrichtung aufgeweitete elastische Trägerfolie für eine Mehrzahl von aus einem Wafer vereinzelten Halbleiter-Chips beschrieben. Die beschriebene Haltevorrichtung weist auf (a) einen Ankoppelbereich, welcher derart ausgebildet ist, dass die Haltevorrichtung an einem Wafer-Rahmen anbringbar ist, und (b) einen Auflagebereich, welcher derart ausgebildet ist, dass zumindest ein Teil der Expansionseinrichtung auflegbar ist. Erfindungsgemäß wird durch den Auflagebereich in Bezug auf ein durch den Wafer-Rahmen definiertes Höhenniveau ein abgesenktes Höhenniveau definiert.Independent claim 1 describes a holding device for an elastic carrier film expanded by an expansion device for a plurality of semiconductor chips separated from a wafer. The holding device described has (a) a coupling region, which is designed in such a way that the holding device can be attached to a wafer frame, and (b) a support region, which is designed in such a way at least part of the expansion device can be placed on. According to the invention, a lowered height level is defined by the support area with respect to a height level defined by the wafer frame.

Der beschriebenen Haltevorrichtung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass die Expansionseinrichtung zusammen mit der elastischen Trägerfolie und den daran anhaftenden vereinzelten Halbleiter-Chips in Bezug zu dem Wafer-Rahmen durch einen einfachen Absenkmechanismus auf die gleiche Höhe abgesenkt die ein Wafer ohne Expansionseinrichtung hat um eine vordefinierte Höhendifferenz abgesenkt werden kann. Diese Höhendifferenz kann bevorzugt gerade der Höhe bzw. dem Höhenversatz der Trägerfolie durch die Expansionseinrichtung entsprechen. Dies bedeutet, dass das Höhenniveau der Halbleiter-Chips auf der aufgeweiteten Trägerfolie genau dem Höhenniveau der Halbleiter-Chips entspricht, welche sich vor dem Anbringen der Expansionseinrichtung auf der Trägerfolie befinden, solange diese in einem ursprünglich nicht aufgeweiteten Zustand vorliegt. Auf diese Weise können die Halbleiter-Chips nach dem Aufweiten der Trägerfolie auf demselben Abarbeitungsniveau gehalten werden. Die Halbleiter-Chips können somit unabhängig von einer Aufweitung der Trägerfolie von einer Bauelement-Entnahmevorrichtung, welche eine oder mehrere beispielsweise als Sauggreifer ausgebildete Bauelement-Haltevorrichtungen aufweist, unter den selben Bedingungen insbesondere in Bezug auf das Höhenniveau der jeweiligen Abholposition für die Halbleiter-Chip aufgenommen werden.Of the described holding device is based on the finding that the expansion device together with the elastic carrier film and the isolated semiconductor chips attached thereto to the wafer frame by a simple lowering mechanism lowered the same height that a wafer without expansion device has can be lowered by a predefined height difference. This height difference may preferably be just the height or the height offset of the carrier film by the Expansion device correspond. This means that the height level the semiconductor chips on the expanded carrier film exactly corresponds to the height level of the semiconductor chips, which before attaching the expansion device on the carrier film as long as they are not originally expanded Condition exists. In this way, the semiconductor chips can after the widening of the carrier film at the same processing level being held. The semiconductor chips can thus be independent a widening of the carrier foil from a component removal device, which one or more, for example, trained as a suction pad Having component-holding devices, under the same conditions especially with regard to the height level of the respective Pick-up position for the semiconductor chip to be added.

Das Absenken der expandierten Trägerfolie erfolgt bevorzugt nach einem Trennen der Trägerfolie von dem ursprünglichen Wafer-Rahmen. Auf diese Weise kann die Expansionseinrichtung zusammen mit der expandierten Trägerfolie ohne großen Kraftaufwand auf das gewünschte Niveau abgesenkt werden.The Lowering of the expanded carrier film is preferably carried out after separating the carrier film from the original one Wafer frame. In this way, the expansion device together with the expanded carrier film without much effort be lowered to the desired level.

Die beschriebene Haltevorrichtung hat den Vorteil, dass sämtliche Komponenten, die im Zusammenhang mit einem Expansionsvorgang einer Trägerfolie benötigt werden, auch nach dem definierten Absenken der expandierten Trägerfolie auf das ursprüngliche Höhenniveau verwendet werden können. Dies gilt insbesondere für den Wafer-Rahmen. Dieser kann nämlich Informationen über die Eigenschaften von sämtlichen oder von zumindest einigen der Halbleiter-Chips enthalte, die beispielsweise vor dem Expandieren der Trägerfolie im Rahmen eines bekannten sog. Wafer-Mapping Verfahrens ermittelt wurden.The described holding device has the advantage that all Components associated with an expansion process Carrier film needed, even after the defined lowering the expanded carrier film on the original Height level can be used. this applies especially for the wafer frame. This can namely Information about the properties of all or at least some of the semiconductor chips containing, for example before expanding the carrier film in the context of a known so-called wafer mapping method were determined.

Bei einem Wafer-Mapping Verfahren werden zumindest einige der an der Trägerfolie anhaftenden Halbleiter-Chips vor der Weiterverarbeitung getestet und die dadurch gewonnenen Daten in einem entsprechenden Datensatz gespeichert. Falls die Halbleiter-Chips beispielsweise Leuchtdioden aufweisen, kann in dem Datensatz zum Beispiel die zu erwartende oder die tatsächliche Helligkeit des jeweiligen Bauelements bzw. Halbleiter-Chips gespeichert werden. Bei einer Weiterverarbeitung können dann selektiv gerade die Halbleiter-Chips verwendet werden, deren optische Spezifikation gerade den jeweiligen Anforderungen genügt.at a wafer mapping process will be at least some of those at the Carrier film adhering semiconductor chips before further processing tested and the data obtained in a corresponding Record saved. For example, if the semiconductor chips Light emitting diodes, in the record, for example, the expected or the actual brightness of the respective component or semiconductor chips are stored. In a further processing can then be used selectively just the semiconductor chips whose optical specifications are currently meeting the respective requirements enough.

Um die Mehrzahl von Halbleiter-Chips fest einem bestimmten Datensatz zuordnen zu können, können Markierungen an dem jeweiligen Wafer-Rahmen angebracht werden, die eine eindeutige Zuordnung gewährleisten. Die Markierungen können beispielsweise Strichcodes oder Matrixcodes sein. Infolge der Tatsache, dass durch die erfindungsgemäße Haltevorrichtung, wie oben bereits erläutert, der ursprüngliche Wafer-Rahmen verwendet werden kann, können Fehler bei der Zuordnung der Mehrzahl von Halbleiter-Chip zu einem entsprechenden Datensatz auf einfache Weise vermieden werden. Dadurch erhöht sich die Prozesssicherheit bei der weiteren Verarbeitung und/oder der weiteren Handhabung der Halbleiter-Chips.Around the majority of semiconductor chips stuck to a particular record To be able to assign marks to the respective wafer frames are attached, providing a unique assignment guarantee. The markers can be, for example Be barcodes or matrix codes. As a result of the fact that through the holding device according to the invention, as above already explained, the original wafer frame can be used, errors in the assignment the plurality of semiconductor chip to a corresponding record easy way to avoid it. This increases the Process reliability during further processing and / or the other Handling of semiconductor chips.

Gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung nach Anspruch 2 ist der Ankoppelbereich eine längliche Aussparung, in welche der Wafer-Rahmen einführbar ist.According to one Embodiment of the invention according to claim 2 is the Ankoppelbereich an elongated recess, in which the Wafer frame is insertable.

Die längliche Aussparung kann beispielsweise ein Schlitz oder eine längliche Nut sein. Ferner kann die längliche Aussparung derart dimensioniert sein, dass der Wafer-Rahmen geringfügig festgeklemmt wird, so dass zwar ein einfaches Anbringen der Haltevorrichtung möglich ist, dass aber ein unerwünschtes Verschieben der Haltevorrichtung auf dem Wafer-Rahmen auch dann verhindert wird, wenn der Wafer-Rahmen vor einem Einsetzen der Expansionseinrichtung verkippt oder durch eine unsanft Handhabung ruckartig bewegt wird.The elongated recess, for example, a slot or be an elongated groove. Furthermore, the elongated Recess be dimensioned such that the wafer frame slightly is clamped, so that although a simple attachment of the holding device possible, but that is an undesirable move the holding device on the wafer frame is prevented even if the wafer frame is tilted prior to insertion of the expander or being jerked by a rough handling.

Die Verwendung einer länglichen Aussparung zum Ankoppeln der Haltevorrichtung an einen Wafer-Rahmen hat den Vorteil, dass die Haltevorrichtung von einer Bedienperson auf einfache Weise ohne die Verwendung eines Werkzeuges an den Wafer-Rahmen angebracht werden kann. Damit wird die Handhabung der beschriebenen Haltevorrichtung für eine Bedienperson besonders komfortabel, da ein spezielles Werkzeug zum Einlegen einer Expansionseinrichtung nicht erforderlich ist.The Use of an elongated recess for coupling the Holding device to a wafer frame has the advantage that the Holding device by an operator in a simple way without the use of a tool can be attached to the wafer frame can. This will handle the described holding device particularly comfortable for an operator, as a special Tool for inserting an expansion device is not required is.

Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung nach Anspruch 3 ist der Auflagebereich eine Auflageebene. Dies hat den Vorteil, dass die Expansionseinrichtung zuverlässig auf dem Auflagebereich aufliegen und so eine sichere Halterung der Expansionseinrichtung gewährleistet werden kann.According to a further embodiment of the invention according to claim 3, the support area is a support plane. This has the advantage that the expansion device reliably rest on the support area and so a secure mounting of Ex Pansionseinrichtung can be ensured.

Die Auflageebene kann beispielsweise durch die Oberseite eines im Wesentlichen planparallelen Vorsprungs realisiert sein, welcher Vorsprung an der dem Ankoppelbereich gegenüberliegenden Seite der Haltevorrichtung ausgebildet ist. Der Vorsprung sollte dabei so dick sein, dass ein versehentliches Verbiegen des Vorsprungs auch bei einem etwas unsanften Einlegen der Expansionseinrichtung ausgeschlossen wird. Ein versehentliches Verbiegen des Vorsprungs hätte nämlich eine unerwünschte Niveauänderung der gehaltenen aufgeweiteten Trägerfolie zur Folge.The Support level, for example, through the top of a substantially be realized plan-parallel projection, which projection on the Ankoppelbereich opposite side of the holding device is trained. The projection should be so thick that one accidental bending of the projection even with a slightly rough insertion the expander is excluded. An accidental Bending the projection would have an undesirable Level change of the held expanded carrier film result.

Die beschriebe Haltevorrichtung kann als ein einfach und preiswert herzustellender Adapter angesehen werden, der an die Form und Größe des jeweiligen Wafer-Rahmens und an die Höhe der Expansionseinrichtung angepasst ist. Somit kann für verschiedene Dimensionierungen von Wafer-Rahmen und Expansionseinrichtung jeweils ein geeigneter Adapter bereit gehalten werden. Die Anpassung an den Wafer-Rahmen erfolg dabei durch die spezielle Ausgestaltung des Ankoppelbereiches. Die Anpassung an die Expansionseinrichtung und damit an die erforderliche Absenktiefe erfolgt durch den vertikalen Abstand zwischen der Auflageebene und dem Ankoppelbereich.The described holding device can be manufactured as a simple and inexpensive Adapters are considered, which conform to the shape and size of the respective wafer frame and the height of the expansion device is adjusted. Thus, for different sizing wafer frame and expander each a suitable adapter be kept ready. The adaptation to the wafer frame is successful thereby by the special design of the Ankoppelbereiches. The Adaptation to the expansion device and thus to the required Lowering depth is achieved by the vertical distance between the support plane and the coupling area.

Die einen Adapter darstellende Haltevorrichtung kann auf verschiedene Arten hergestellt werden. So eignet sich, insbesondere wenn kleinere Stückzahlen hergestellt werden, ein bekanntes Drahterodierverfahren. Größere Stückzahlen können auf effektive Weise durch eine entsprechend geformtes Strangpressprofil hergestellt werden, wobei eine Haltevorrichtung einfach durch ein Abschneiden eines kurzen Teilabschnitts des jeweiligen Strangpressprofils hergestellt werden kann.The an adapter performing holding device can be different Species are produced. So is suitable, especially if smaller quantities be prepared, a well-known wire EDM. larger Quantities can be effectively through a be produced correspondingly shaped extruded profile, wherein a holding device simply by cutting off a short Part of the respective extruded profile are produced can.

Gemäß Anspruch 4 weist die Haltevorrichtung zusätzlich eine Ausbuchtung auf, welche oberhalb des Auflagebereichs ausgebildet ist.According to claim 4, the holding device additionally has a bulge on, which is formed above the support area.

Die beschriebene Ausbuchtung kann derart dimensioniert sein, dass beim Einlegen einer Expansionseinrichtung die Ausbuchtung nur durch einen geringfügig erhöhten Kraftaufwand passiert werden kann. Dies hat den Vorteil, dass die Expansionseinrichtung mittels einer einschnappenden Bewegung eingelegt wird, so dass die Ausbuchtung die Funktion eines Niederhalters hat. Damit verbleibt die Expansionseinrichtung nach einem Einlegen in die Haltevorrichtung in ihrer Position. Das Einlegen der Expansionseinrichtung ist damit für eine Bedienperson insbesondere in dem Fall erheblich erleichtert, wenn zum Halten der Expansionseinrichtung mehrere Haltevorrichtungen verwendet werden.The described bulge can be dimensioned such that during Inserting an expansion device the bulge only slightly increased effort can be passed. This has the Advantage that the expansion device by means of a snap Movement is engaged, so that the bulge has the function of a Niederhalter has. This leaves the expansion device after an insertion into the holding device in its position. The insertion the expansion device is thus for an operator especially in the case greatly facilitated when to hold the expansion device several holding devices are used.

Gemäß Anspruch 5 weist die Haltevorrichtung zusätzlich ein Anti-Rutsch Element auf, welches derart angeordnet ist, dass es an einer eingelegten Expansionseinrichtung anliegt.According to claim 5, the holding device additionally has an anti-slip Element, which is arranged such that it is connected to an inserted expansion device is applied.

Das Anti-Rutsch Element kann beispielsweise ein Gummielement sein, welches auf vorteilhafte Weise ein versehentliches Verdrehen der Expansionseinrichtung und damit der von der Expansionseinrichtung gehaltenen Mehrzahl von Halbleiter-Chips relativ zu der Haltevorrichtung verhindert. Somit kann auf einfache Weise eine verdrehsichere Halterung der Expansionseinrichtung innerhalb des Wafer-Rahmens gewährleistet werden.The Anti-slip element may for example be a rubber element, which advantageously an accidental rotation of the expansion device and thus the plurality held by the expansion device prevents semiconductor chips relative to the holding device. Thus, in a simple manner, a torsion-resistant holder Ensures expansion device within the wafer frame become.

Das Anti-Rutsch Element kann sich an einer Seitenwand bevorzugt in einer kleinen Aussparung, die in der Seitenwand der Haltevorrichtung ausgebildet ist, befinden. Eine Fixierung des Anti-Rutsch Elements beispielsweise mittels Klebstoff ist möglich. Das Anti-Rutsch Element kann ferner parallel zur Ebene eines Wafer-Rahmens in eine bauchförmige Nut eingeschoben und ebenfalls beispielsweise mittels Klebstoff fixiert sein.The Anti-slip element may be preferred on a sidewall in one small recess formed in the side wall of the holding device is, are. A fixation of the anti-slip element, for example by means of adhesive is possible. The anti-slip element may also be parallel to the plane of a wafer frame in a bulbous groove inserted and also fixed, for example by means of adhesive be.

Mit dem Anspruch 6 wird eine Wafer-Anordnung beschrieben. Die Wafer-Anordnung weist auf (a) einen Wafer-Rahmen, (b) zumindest drei Haltevorrichtungen des oben beschriebenen Typs, welche Haltevorrichtungen an einer Innenseite des Wafer-Rahmens angebracht sind, und (c) eine Expansionseinrichtung, an der sich eine expandierte Trägerfolie mit einer Mehrzahl von anhaftenden Halbleiter-Chips befindet. Die Expansionseinrichtung liegt an den Auflagebereichen der zumindest drei Haltevorrichtungen auf.With The claim 6, a wafer arrangement is described. The wafer arrangement has (a) a wafer frame, (b) at least three fixtures of the type described above, which holding devices on a Inside the wafer frame, and (c) an expansion device, at which an expanded carrier film with a plurality is located by adhering semiconductor chips. The expansion device lies at the contact areas of the at least three holding devices on.

Der beschriebenen Wafer-Anordnung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass durch die Verwendung der oben beschriebenen Haltevorrichtungen, welche Adapterstücke zum definierten Absenken der Expansionseinrichtung in Bezug auf die ursprüng liche Wafer-Ebene darstellen, die Halbleiter-Chips auch im gedehnten Zustand der Trägerfolie in der ursprünglichen Wafer-Ebene bereit gestellt werden können. Damit können die Halbleiter-Chips beispielsweise für einen Bestückvorgang eines Bestückautomaten unabhängig von einem eventuellen Dehnen und unabhängig von dem Grad des Dehnens stets in der gleichen Abholebene bereit gestellt werden. Dies hat den Vorteil, dass der Abholvorgang der Halbleiter-Chips, welcher in bekannter Weise durch einen Einfach- oder einen Mehrfach-Bestückkopf durchgeführt werden kann, nicht an unterschiedliche Bauelement-Abholebenen angepasst muss und so die Prozesssicherheit erheblich erhöht ist.Of the described wafer arrangement is based on the finding that by the use of the holding devices described above, which Adapter pieces for defined lowering of the expansion device in relation to the original wafer level, the semiconductor chips even in the stretched state of the carrier film can be provided in the original wafer level. Thus, the semiconductor chips, for example, for an assembly process of a placement machine independently from a possible stretching and regardless of the degree of stretching are always provided in the same picking level. This has the advantage that the collection process of the semiconductor chips, which in a known manner by a single or a multiple placement head can be performed, not to different component-Abholebenen adapted and thus significantly increases process reliability is.

Ein weiterer Vorteil der beschriebenen Wafer-Anordnung besteht darin, dass das Absenken der Expansionseinrichtung innerhalb des ursprünglichen Wafer-Rahmens erfolgt. Damit kann die abgesenkte Expansionseinrichtung zusammen mit den an der entsprechenden Trägerfolie anhaftenden Halbleiter-Chips in herkömmlichen Bestückautomaten zum Zwecke einer direkten Bestückung der Halbleiter-Chips von der Trägerfolie auf einen zu bestückenden Bauelementeträger verwendet werden. Eine versehentliche Kollision durch einen aufwendig modifizierten Wafer-Rahmen mit Klemm- oder Greifeinrichtungen der entsprechenden Wafer-Zuführvorrichtung des Bestückautomaten ist dann auf vorteilhafte Weise nicht zu besorgen.A further advantage of the described wafer arrangement is that the lowering of the expansion device takes place within the original wafer frame. This can be the lowered Expansion device together with the adhering to the corresponding carrier film semiconductor chips in conventional placement machines for the purpose of direct placement of the semiconductor chips of the carrier film can be used on a component carrier to be loaded. An accidental collision by a complex modified wafer frame with clamping or gripping devices of the corresponding wafer feeding device of the placement is then not to get an advantageous way.

Die Expansionseinrichtung ist insbesondere ein zweiteiliger Expansionsring, wobei die beiden Teile konzentrisch zueinander ausgebildet und angeordnet sind. Die Trägerfolie kann dann zwischen die beiden Teilringe eingeklemmt werden. Dabei kann durch die Wahl von Material und Abmessung der beiden Teilringe die Spannwirkung zwischen den beiden Teilringen so dimensioniert sein, dass nach einem konzentrischen Anordnen der beiden Teilringe mit dazwischen geklemmter Trägerfolie ein versehentliches Verrutschen der Trägerfolie verhindert wird.The Expansion device is in particular a two-part expansion ring, wherein the two parts are concentric with each other and arranged are. The carrier film can then between the two partial rings be trapped. It can by the choice of material and dimensions the two partial rings, the clamping effect between the two partial rings be dimensioned so that after concentric arranging the two partial rings with carrier foil clamped in between prevents accidental slippage of the carrier film becomes.

Ein versehentliches Verrutschen der eingespannten Trägerfolie kann auch durch eine an der Außenwand des inneren Teilrings ausgebildete umlaufende Kontur und durch eine dazu komplementäre Kontur an der Innenwand des äußeren Teilrings verhindert werden. Dabei können die beiden Konturen in geeigneter Weise ineinander greifen und so die Trägerfolie fest einklemmen.One accidental slipping of the clamped carrier foil can also by a on the outer wall of the inner part ring trained circumferential contour and by a complementary contour prevented on the inner wall of the outer part ring become. Here, the two contours in appropriate Interlock manner and so firmly clamp the carrier film.

Es wird darauf hingewiesen, dass die Haltevorrichtungen bzw. die Adapter zum definierten Absenken der Expansionseinrichtung an verschiedene Dimensionierungen von Wafer-Rahmen und Expansionseinrichtung angepasst werden können. In Anbetracht der einfachen und preiswerten Fertigungsmöglichkeit der Haltevorrichtungen kann somit einem Kunden ein ganzer Satz von verschieden dimensionierten Adaptern angeboten werden, aus welchem Satz dann der Kunde den jeweils geeigneten Adapter auswählen kann.It It should be noted that the holding devices or the adapter for defined lowering of the expansion device to different dimensions can be adjusted by wafer frame and expander. In view of the simple and inexpensive production possibility the holding devices can thus provide a customer with a whole set of different sized adapters are offered, from which sentence then the customer select the appropriate adapter can.

Es wird ferner darauf hingewiesen, dass die Haltevorrichtungen jeweils unabhängig von dem Durchmesser einer Wafer-Scheibe verwendet werden können, aus der die einzelnen Halbleiter-Chips in bekannter Weise durch einen Vereinzelungsprozess erzeugt wurden.It is also noted that the holding devices respectively regardless of the diameter of a wafer disk used from which the individual semiconductor chips in known Were produced by a singulation process.

Mit dem Anspruch 7 wird ein Verfahren zum Halten von einer durch eine Expansionseinrichtung aufgeweitete elastische Trägerfolie beschrieben, an welcher mehrere aus einem Wafer vereinzelte Halbleiter-Chips anhaften. Das beschriebene Verfahren weist auf (a) ein Anbringen von zumindest drei Haltevorrichtungen des oben beschriebenen Typs an der Innenseite eines Wafer Rahmens, und (b) ein Einlegen der Expansionseinrichtung, an der sich eine expandierte Trägerfolie mit einer Mehrzahl von anhaftenden Halbleiter-Chips befindet, in eine durch die Auflagebereiche der drei Haltevorrichtungen definierte Auflageebene.With to claim 7, a method for holding one by a Expansion device expanded elastic carrier film described on which several separated from a wafer semiconductor chips adhere. The described method comprises (a) attachment at least three fixtures of the type described above on the inside of a wafer frame, and (b) inserting the Expansion device, in which an expanded carrier film is located with a plurality of adherent semiconductor chips, in one defined by the bearing areas of the three holders Support plane.

Dem beschriebenen Verfahren zum Halten von einer durch eine Expansionseinrichtung aufgeweitete elastische Trägerfolie liegt die Erkenntnis zugrunde, dass durch die Verwendung der oben beschriebenen Haltevorrichtungen bzw. Adapterstücke zum definierten Absenken der Expansionseinrichtung in Bezug auf die ursprüngliche Wafer-Ebene die Halbleiter-Chips auch im gedehnten Zustand der Trägerfolie in der ursprünglichen Wafer-Ebene bereit gestellt werden können. Bei einem Abholvorgang der Halbleiter-Chips direkt von der Trägerfolie verändert sich somit die Abholebene nicht. Die Abholung der Halbleiter-Chips kann somit unabhängig von dem Dehnungszustand der Trägerfolie immer aus der gleichen Abholebene heraus erfolgen und der Abholvorgang der Halbleiter-Chips muss somit nicht an unterschiedliche Bauelement-Abholebenen angepasst werden.the described method for holding one by an expansion device expanded elastic carrier film is the finding based on that by the use of the holding devices described above or adapter pieces for defined lowering of the expansion device in terms of the original wafer level the semiconductor chips even in the stretched state of the carrier film in the original Wafer level can be provided. In a pickup the semiconductor chips directly from the carrier film changes thus the picking level is not. The pickup of the semiconductor chips can thus independent of the strain state of the carrier film always from the same picking level out and the pickup Thus, the semiconductor chip does not have to go to different device repositioning levels be adjusted.

Weitere Vorteile und Merkmale der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der folgenden beispielhaften Beschreibung derzeit bevorzugter Ausführungsformen. Die einzelnen Figuren der Zeichnung dieser Anmeldung sind lediglich als schematisch und als nicht maßstabsgetreu anzusehen.Further Advantages and features of the present invention will become apparent the following exemplary description of presently preferred embodiments. The individual figures of the drawing of this application are merely to be regarded as schematic and not to scale.

1a zeigt in einer Draufsicht eine Wafer-Anordnung, welche einen Wafer-Rahmen, vier an dem Wafer-Rahmen befestigte Haltevorrichtungen und eine auf den Haltevorrichtungen aufliegende Expansionseinrichtung mit einer aufgeweiteten Trägerfolie aufweist. 1a shows in a plan view of a wafer arrangement, which has a wafer frame, four fixed to the wafer frame holding devices and an expansion device resting on the holding means with a widened carrier film.

1b zeigt die in 1a dargestellte Wafer-Anordnung in einer Querschnittsansicht. 1b shows the in 1a illustrated wafer arrangement in a cross-sectional view.

2a zeigt eine Haltevorrichtung für eine mittels einer Expansionseinrichtung aufgeweitete elastische Trägerfolie gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel. 2a shows a holding device for an expanded by means of an expansion device elastic carrier film according to a first embodiment.

2b zeigt eine Haltevorrichtung gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel. 2 B shows a holding device according to a second embodiment.

2c zeigt eine Haltevorrichtung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel. 2c shows a holding device according to a third embodiment.

An dieser Stelle bleibt anzumerken, dass sich in der Zeichnung die Bezugszeichen von gleichen oder von einander entsprechenden Komponenten lediglich in ihrer ersten Ziffer und/oder durch einen angehängten Buchstaben unterscheiden.At It should be noted that in the drawing the Reference signs of identical or corresponding components only in its first digit and / or by an appended one Distinguish letters.

Nachfolgend wird ein derzeit bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung mit Bezug auf die 1a und 1b näher erläutert. Dabei zeigt die 1a eine Wafer-Anordnung 100 in einer Draufsicht, 1b zeigt die Wafer-Anordnung 100 in einer Querschnittsansicht. Die Wafer-Anordnung 100 weist einen Wafer-Rahmen 110 auf, an dem insgesamt vier Haltevorrichtungen 150 angebracht sind. Wie aus 1b ersichtlich, sind die Haltevorrichtungen 150 derart ausgeformt, dass eine Expansionseinrichtung, welche einen äußeren Ring 121 und einen inneren Ring 122 aufweist, so aufgenommen werden kann, dass die Oberseite der Expansionseinrichtung 121, 122 mit der ursprünglichen Ebene des Wafer-Rahmens 110 zusammenfällt. Somit befindet sich eine durch die Expansionseinrichtung 121, 122 aufgeweitete Trägerfolie 130 im Vergleich zu einer nicht gedehnten Trägerfolie in der gleichen Ebene bzw. der gleichen Höhenlage.Below is a currently preferred Embodiment of the invention with reference to the 1a and 1b explained in more detail. It shows the 1a a wafer arrangement 100 in a plan view, 1b shows the wafer arrangement 100 in a cross-sectional view. The wafer arrangement 100 has a wafer frame 110 on, on the total of four holding devices 150 are attached. How out 1b As can be seen, the holding devices 150 formed such that an expansion device, which an outer ring 121 and an inner ring 122 has, so can be included that the top of the expansion device 121 . 122 with the original plane of the wafer frame 110 coincides. Thus, there is one through the expansion device 121 . 122 expanded carrier film 130 compared to a non-stretched carrier film in the same plane or the same altitude.

Die Haltevorrichtungen 150 können somit jeweils als ein Adapter 150 angesehen werden, der an die Form und Größe des jeweiligen Wafer-Rahmens 110 und an die Höhe der Expansionseinrichtung 121, 122 angepasst ist. Die Adapter 150 ermöglichen dann eine Bereitstellung der Halbleiter-Chips 132 unabhängig von dem Grad der Dehnung der Trägerfolie 130 bzw. von der Höhe der Expansionseinrichtung 121, 122 in Bezug zu dem Wafer-Rahmen 110 stets in derselben Ebene.The holding devices 150 can thus each as an adapter 150 to be considered, which conforms to the shape and size of the respective wafer frame 110 and to the height of the expansion device 121 . 122 is adjusted. The adapters 150 then allow provision of the semiconductor chips 132 regardless of the degree of stretching of the carrier film 130 or from the height of the expansion device 121 . 122 in relation to the wafer frame 110 always in the same plane.

Es wird darauf hingewiesen, dass dieselben Adapter 150 für verschieden große Wafer-Scheiben verwendet werden können. Der Durchmesser der Wafer-Scheiben hat auf die beschriebene gezielte Absenkung des Höhenniveaus der Expansionseinrichtung 121, 122 bzw. der aufgeweiteten Trägerfolie 130 keinen Einfluss.It should be noted that the same adapters 150 can be used for different sized wafer slices. The diameter of the wafer slices has the described targeted lowering of the height level of the expansion device 121 . 122 or the expanded carrier film 130 no influence.

Die Adapter 150 können in den Wafer-Rahmen 110 eingeklemmt werden, wobei die Adapter 150 erst nach dem Einlegen der Expansionseinrichtung 121, 122 fest gegen den Wafer-Rahmen 110 gedrückt werden. Wie aus 1b ersichtlich, drückt dabei die eingelegte Expansionseinrichtung 121, 122 die Adapter 150 nach außen gegen den Wafer-Rahmen 110.The adapters 150 can in the wafer frame 110 be trapped, with the adapters 150 only after inserting the expansion device 121 . 122 firmly against the wafer frame 110 be pressed. How out 1b can be seen, presses the inserted expansion device 121 . 122 the adapters 150 outward against the wafer frame 110 ,

Der Wafer-Rahmen weist an seiner Oberseite zwei Bereiche 112 auf, die für Markierungen genutzt werden können. Diese Markierungen können einen Identifizierungs-Code umfassen. Gemäß dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel der Erfindung ist der Identifizierungs-Code ein Strichcode 113.The wafer frame has two areas at its top 112 on, which can be used for markings. These markers may include an identification code. According to the embodiment of the invention illustrated here, the identification code is a bar code 113 ,

Der Strichcode 113 kann in bekannter Weise in Verbindung mit einem sog. Wafer-Mapping Verfahren genutzt werden. Dabei werden die Halbleiter-Chips 132 vor der Weiterverarbeitung getestet und die dadurch gewonnenen Daten in einem entsprechenden Datensatz gespeichert. Diese Daten können dann bei einer Weiterverarbeitung genutzt werden, um einzelne Halbleiter-Chips 132 entsprechend ihren individuellen Spezifikationen weiter zu verwenden. Insbesondere im Rahmen einer größeren Chip-Fertigung und Chip-Weiterverarbeitung, wobei eine Mehrzahl von Wafer-Anordnungen gleichzeitig gehandhabt werden müssen, kann der Strichcode dazu verwendet werden, stets die jeweilige Wafer-Anordnung und den entsprechenden Datensatz aus dem Wafer-Mapping Verfahren eindeutig zu identifizieren und einander zuzuordnen.The barcode 113 can be used in a known manner in conjunction with a so-called. Wafer-mapping method. This will be the semiconductor chips 132 tested before further processing and the resulting data stored in a corresponding record. These data can then be used in a further processing to individual semiconductor chips 132 according to their individual specifications. In particular, in the context of a larger chip production and chip processing, wherein a plurality of wafer arrangements must be handled simultaneously, the bar code can be used to always uniquely the respective wafer arrangement and the corresponding data set from the wafer mapping process identify and associate with each other.

Bei Verwendung der beschriebenen Adapter 150 zur Höhenanpassung der Trägerfolie 130 kann auch nach dem Aufweiten der Trägerfolie 130 durch die Expansionseinrichtung 121, 122 der ursprüngliche Wafer-Rahmen 110 verwendet werden. Dadurch können auf einfache Weise Fehler bei der Zuordnung der Halbleiter-Chips 132 zu einem entsprechenden Datensatz vermieden werden. Damit kann eine hohe Prozesssicherheit bei der weiteren Verarbeitung und/oder der weiteren Handhabung der Halbleiter-Chips 132 gewährleistet werden.When using the described adapter 150 for height adjustment of the carrier film 130 can also after the widening of the carrier film 130 through the expansion device 121 . 122 the original wafer frame 110 be used. This can easily errors in the assignment of semiconductor chips 132 be avoided to a corresponding record. This can be a high process reliability in the further processing and / or further handling of the semiconductor chips 132 be guaranteed.

2a zeigt eine Haltevorrichtung 250a für eine mittels einer Expansionseinrichtung aufgeweitete elastische Trägerfolie gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel. Die Haltevorrichtung 250a ist einstückig aus einem metallischen Material, beispielsweise Aluminium, ausgebildet. Die Haltevorrichtung 250 weist einen als längliche Aussparung bzw. als länglichen Schlitz ausgebildeten Ankoppelbereich 252 auf, in dem ein in 2a nicht dargestellten Wafer-Rahmen eingeschoben werden kann. 2a shows a holding device 250a for an expanded by means of an expansion device elastic carrier film according to a first embodiment. The holding device 250a is integrally formed of a metallic material, such as aluminum. The holding device 250 has a coupling area formed as an elongated recess or as an elongate slot 252 in which a in 2a not shown wafer frame can be inserted.

An der gegenüberliegenden Seite weist die Haltevorrichtung 250a einen längliche Steg 253 auf, der sich im Vergleich zu der Aussparung 252 auf einem niedrigeren Höhenniveau in horizontaler Richtung nach außen erstreckt. Die Oberseite des Stegs 253 stellt eine Auflageebene 254 dar, auf welche eine in 2a ebenfalls nicht dargestellte Expansionseinrichtung aufgelegt werden kann, so dass bei Verwendung von zumindest drei Adaptern 250a die Lage der Expansionseinrichtung und damit die Ebene der Trägerfolie eindeutig festgelegt ist.On the opposite side, the holding device 250a an elongated footbridge 253 on, which is compared to the recess 252 extends at a lower height level in a horizontal outward direction. The top of the dock 253 represents a support level 254 which an in 2a also not shown expansion device can be placed so that when using at least three adapters 250a the position of the expansion device and thus the plane of the carrier film is clearly defined.

Oberhalb des Steges 253 weist der Adapter 250a eine nach außen gerichtete Ausbuchtung 256 auf, welche für eine eingelegte Expansionseinrichtung als Niederhalter dient. Dabei muss, wie aus 1b ersichtlich, beim Einlegen der Expansionseinrichtung 121, 122 die Ausbuchtung 256 durch einen etwas erhöhten Kraftaufwand überwunden werden. Auf diese Weise kann ein Herausrutschen einer korrekt eingelegten Expansionseinrichtung zuverlässig verhindert werden.Above the jetty 253 points the adapter 250a an outward bulge 256 on, which serves as a hold-down for an inserted expansion device. It must, as from 1b seen when inserting the expansion device 121 . 122 the bulge 256 be overcome by a slightly increased effort. In this way, slipping out of a correctly inserted expansion device can be reliably prevented.

2b zeigt gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel eine Haltevorrichtung 250b, welche sich von der in 2a darge stellten Haltevorrichtung 250a durch ein als Gummischeibe ausgebildetes Anti-Rutsch Element 258b unterscheidet. Das Anti-Rutsch Element 258b liegt an einer eingelegten Expansionseinrichtung von außen an, so dass ein versehentliches Verdrehen der Expansionseinrichtung und damit der von der Expansionseinrichtung gehaltenen Halbleiter-Chips relativ zu der Haltevorrichtung 250b bzw. relativ zu dem Wafer-Rahmen verhindert wird. 2 B shows a holding device according to a second embodiment 250b , Which away from the in 2a Darge presented holding device 250a by a trained as a rubber disc anti-slip element 258b different. The anti-slip element 258b is located on an inserted expansion device from the outside, so that an inadvertent rotation of the expansion device and thus held by the expansion device semiconductor chips relative to the holding device 250b or relative to the wafer frame is prevented.

Wie aus 2b ersichtlich, befindet sich das Anti-Rutsch Element 258b an einer Seitenwand des Adapters 250b in einer kleinen Aussparung 259b. Dabei kann das Anti-Rutsch Element 258b mittels eines geeigneten Klebstoffs in der Aussparung 259b fixiert werden.How out 2 B can be seen, there is the anti-slip element 258b on a side wall of the adapter 250b in a small recess 259b , This can be the anti-slip element 258b by means of a suitable adhesive in the recess 259b be fixed.

2c zeigt eine Haltevorrichtung 250c gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel, welche Haltevorrichtung 250c sich von der in 2b dargestellten Haltevorrichtung 250b lediglich durch das spezielle Design des Anti-Rutsch Elements unterscheidet. Gemäß dem in 2c dargestellten Ausführungsbeispiel ist das Anti-Rutsch Element 258c ein kurzer Abschnitt eines Gummischlauches bzw. einer Gummischnur 258c, welche sich in einer bauchartigen Aussparung 259c befindet. Die bauchartige Aussparung 259c ist ebenfalls in einer Seitenwand des Adapters 250c ausgebildet. Die Gummischnur 258c kann senkrecht zu der Zeichenebene der 2c in die bauchförmige Aussparung 259c eingeschoben und ebenfalls mittels eines geeigneten Klebstoffs fixiert werden. 2c shows a holding device 250c according to a third embodiment, which holding device 250c away from the in 2 B shown holding device 250b only distinguished by the special design of the anti-slip element. According to the in 2c illustrated embodiment is the anti-slip element 258c a short section of a rubber hose or a rubber cord 258c , which are in a belly-like recess 259c located. The belly-like recess 259c is also in a side wall of the adapter 250c educated. The rubber cord 258c can be perpendicular to the plane of the drawing 2c in the bulbous recess 259c inserted and also fixed by means of a suitable adhesive.

Es wird darauf hingewiesen, dass die hier beschriebenen Ausführungsformen lediglich eine beschränkte Auswahl an möglichen Ausführungsvarianten der Erfindung darstellen. So ist es möglich, die Merkmale einzelner Ausführungsformen in geeigneter Weise miteinander zu kombinieren, so dass für den Fachmann mit den hier expliziten Ausführungsvarianten eine Mehrzahl von verschiedenen Ausführungsformen als offensichtlich offenbart anzusehen sind.It It should be noted that the embodiments described herein only a limited selection of possible Represent variants of the invention. That's the way it is possible, the features of individual embodiments suitably combine with each other, so for the Professional with the explicit embodiments here an Plurality of different embodiments as obvious to be disclosed.

100100
Wafer-AnordnungWafer arrangement
110110
Wafer-RahmenWafer frame
112112
Markierungsbereichmarking region
113113
Strichcodebarcode
121121
Expansionseinrichtung, äußerer RingExpansion device, outer ring
122122
Expansionseinrichtung, innerer RingExpansion means, inner ring
130130
Trägerfoliesupport film
132132
Halbleiter-ChipSemiconductor chip
150150
Haltevorrichtung/AdapterHolder / Adapter
250a250a
Haltevorrichtung/AdapterHolder / Adapter
250b250b
Haltevorrichtung/AdapterHolder / Adapter
250c250c
Haltevorrichtung/AdapterHolder / Adapter
252252
Ankoppelbereich/längliche AussparungCoupling area / longitudinal recess
253253
Stegweb
254254
Auflagebereich/AuflageebeneSupport area / support plane
256256
Ausbuchtung/NiederhalterBulge / down device
258b258b
Anti-Rutsch Element/GummischeibeAnti-slip Element / rubber disc
258c258c
Anti-Rutsch Element/GummischlauchAnti-slip Element / rubber hose
259b259b
Aussparungrecess
259c259c
bauchartige Aussparungbelly like recess

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list The documents listed by the applicant have been automated generated and is solely for better information recorded by the reader. The list is not part of the German Patent or utility model application. The DPMA takes over no liability for any errors or omissions.

Zitierte PatentliteraturCited patent literature

  • - EP 565781 A1 [0005] - EP 565781 A1 [0005]
  • - DE 10031983 A1 [0006] - DE 10031983 A1 [0006]

Claims (7)

Haltevorrichtung für eine mittels einer Expansionseinrichtung (121, 122) aufgeweitete elastische Trägerfolie (130) für eine Mehrzahl von aus einem Wafer vereinzelten Halbleiter-Chips (132), die Haltevorrichtung (150, 250a, 250b, 250c) aufweisend • einen Ankoppelbereich (252), welcher derart ausgebildet ist, dass die Haltevorrichtung (150, 250a, 250b, 250c) an einem Wafer-Rahmen (110) anbringbar ist, und • einen Auflagebereich (254), welcher derart ausgebildet ist, dass zumindest ein Teil der Expansionseinrichtung (121, 122) auflegbar ist, wobei in Bezug auf ein durch den Wafer-Rahmen (110) definiertes Höhenniveau der Auflagebereich (254) ein abgesenktes Höhenniveau definiert.Holding device for a device by means of an expansion device ( 121 . 122 ) expanded elastic carrier film ( 130 ) for a plurality of semiconductor chips isolated from a wafer ( 132 ), the holding device ( 150 . 250a . 250b . 250c ) comprising • a coupling area ( 252 ), which is designed such that the holding device ( 150 . 250a . 250b . 250c ) on a wafer frame ( 110 ), and • a circulation area ( 254 ), which is designed such that at least a part of the expansion device ( 121 . 122 ), wherein with respect to a through the wafer frame ( 110 ) defined height level of the support area ( 254 ) Defines a lowered height level. Haltevorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Ankoppelbereich eine längliche Aussparung (252) ist, in welche der Wafer-Rahmen (110) einführbar ist.Holding device according to Claim 1, in which the coupling region has an elongated recess ( 252 ) into which the wafer frame ( 110 ) is insertable. Haltevorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 2, bei der der Auflagebereich eine Auflageebene (254) ist.Holding device according to one of claims 1 to 2, wherein the support area a support plane ( 254 ). Haltevorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, zusätzlich aufweisend eine Ausbuchtung (256), welche oberhalb des Auflagebereichs (254) ausgebildet ist.Holding device according to one of claims 1 to 3, additionally comprising a bulge ( 256 ), which above the contact area ( 254 ) is trained. Haltevorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, zusätzlich aufweisend ein Anti-Rutsch Element (258b, 258c), welches derart angeordnet ist, dass es an einer eingelegten Expansionseinrichtung (121, 122) anliegt.Holding device according to one of claims 1 to 3, additionally comprising an anti-slip element ( 258b . 258c ), which is arranged such that it is connected to an inserted expansion device ( 121 . 122 ) is present. Wafer-Anordnung (100), aufweisend • einen Wafer-Rahmen (110), • zumindest drei Haltevorrichtungen (150, 250a, 250b, 250c) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, welche an einer Innenseite des Wafer-Rahmens (110) angebracht sind, und • eine Expansionseinrichtung (121, 122), an der sich eine expandierte Trägerfolie (130) mit einer Mehrzahl von anhaftenden Halbleiter-Chips (132) befindet, wobei die Expansionseinrichtung (121, 122) an den Auflagebereichen (254) der zumindest drei Haltevorrichtungen (150, 250a, 250b, 250c) aufliegt.Wafer arrangement ( 100 ), comprising • a wafer frame ( 110 ), At least three holding devices ( 150 . 250a . 250b . 250c ) according to one of claims 1 to 5, which on an inner side of the wafer frame ( 110 ), and • an expansion device ( 121 . 122 ), at which an expanded carrier film ( 130 ) with a plurality of adhering semiconductor chips ( 132 ), wherein the expansion device ( 121 . 122 ) at the support areas ( 254 ) of the at least three holding devices ( 150 . 250a . 250b . 250c ) rests. Verfahren zum Halten von einer durch eine Expansionseinrichtung (121, 122) aufgeweitete elastische Trägerfolie (130), an welcher mehrere aus einem Wafer vereinzelte Halbleiter-Chips (132) anhaften, das Verfahren aufweisend • Anbringen von zumindest drei Haltevorrichtungen (150, 250a, 250b, 250c) nach einem der Ansprüche 1 bis 5 an der Innenseite eines Wafer Rahmens (110), und • Einlegen der Expansionseinrichtung (121, 122), an der sich eine expandierte Trägerfolie (130) mit einer Mehrzahl von anhaftenden Halbleiter-Chips (132) befindet, in eine durch die Auflagebereiche (254) der drei Haltevorrichtungen (150, 250a, 250b, 250c) definierte Auflageebene.Method for holding one by an expansion device ( 121 . 122 ) expanded elastic carrier film ( 130 ), at which a plurality of semiconductor chips isolated from a wafer ( 132 ), the method comprising • attaching at least three holding devices ( 150 . 250a . 250b . 250c ) according to one of claims 1 to 5 on the inside of a wafer frame ( 110 ), and • inserting the expansion device ( 121 . 122 ), at which an expanded carrier film ( 130 ) with a plurality of adhering semiconductor chips ( 132 ), into one through the support areas ( 254 ) of the three holding devices ( 150 . 250a . 250b . 250c ) defined support level.
DE102007046430A 2007-09-28 2007-09-28 Holding device for use in wafer arrangement, has coupling area that is formed such that holding device is attached at wafer frame, where electronic components are provided directly on wafer Ceased DE102007046430A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007046430A DE102007046430A1 (en) 2007-09-28 2007-09-28 Holding device for use in wafer arrangement, has coupling area that is formed such that holding device is attached at wafer frame, where electronic components are provided directly on wafer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007046430A DE102007046430A1 (en) 2007-09-28 2007-09-28 Holding device for use in wafer arrangement, has coupling area that is formed such that holding device is attached at wafer frame, where electronic components are provided directly on wafer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102007046430A1 true DE102007046430A1 (en) 2008-12-11

Family

ID=39942255

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102007046430A Ceased DE102007046430A1 (en) 2007-09-28 2007-09-28 Holding device for use in wafer arrangement, has coupling area that is formed such that holding device is attached at wafer frame, where electronic components are provided directly on wafer

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102007046430A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016034124A1 (en) * 2014-09-05 2016-03-10 恩智浦有限公司 Die extension tool and method using same to extend wafer
CN113066718A (en) * 2021-03-22 2021-07-02 重庆鹰谷光电股份有限公司 Method for cutting octagonal photosensitive chip

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0565781A1 (en) 1992-04-13 1993-10-20 Tresky Dr.Ing. Miroslav Ejecting device for separating a chip from an adhesive tape
EP0975008A1 (en) * 1998-07-20 2000-01-26 Alphasem AG Method and device for treating a flat workpiece, in particular a semiconductor wafer
DE10031983A1 (en) 2000-06-30 2002-01-10 Bosch Gmbh Robert Expansion ring for film to be glued to semiconductor wafer comprises outer frame with aperture over which film fits, and outwardly-facing clips fitting into sprung apertures around frame to stretch film

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0565781A1 (en) 1992-04-13 1993-10-20 Tresky Dr.Ing. Miroslav Ejecting device for separating a chip from an adhesive tape
EP0975008A1 (en) * 1998-07-20 2000-01-26 Alphasem AG Method and device for treating a flat workpiece, in particular a semiconductor wafer
DE10031983A1 (en) 2000-06-30 2002-01-10 Bosch Gmbh Robert Expansion ring for film to be glued to semiconductor wafer comprises outer frame with aperture over which film fits, and outwardly-facing clips fitting into sprung apertures around frame to stretch film

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016034124A1 (en) * 2014-09-05 2016-03-10 恩智浦有限公司 Die extension tool and method using same to extend wafer
CN107078095A (en) * 2014-09-05 2017-08-18 安世有限公司 Die expansion tool and method of expanding wafer using the tool
CN107078095B (en) * 2014-09-05 2019-03-08 安世有限公司 Die expansion tool and method of using the same to expand wafers
CN113066718A (en) * 2021-03-22 2021-07-02 重庆鹰谷光电股份有限公司 Method for cutting octagonal photosensitive chip

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69208183T2 (en) Holder for an optical membrane cover
DE202007007721U1 (en) Gripper, in particular Bernoulli gripper
DE102017213961A1 (en) REMOVAL PROCEDURE AND REMOVAL DEVICE
AT513202A2 (en) Chip ejector and method for chip removal
DE102019211426A1 (en) Training device for a protective element
DE69926137T2 (en) METHOD AND DEVICE FOR FIXING A COMPONENT
DE19947015B4 (en) Method for cutting and separating a bent CSP plate with considerable bending into individual small parts
EP3416774A1 (en) Device for securing a data carrier to a tool holder, tool holder and tool system
DE102007046430A1 (en) Holding device for use in wafer arrangement, has coupling area that is formed such that holding device is attached at wafer frame, where electronic components are provided directly on wafer
WO2007014880A1 (en) Method for transferring and device for handling electronic components
DE102018115042A1 (en) Surface suction cup and method for removing molded parts from a scrap skeleton
DE102018131785A1 (en) Process and stacking element for automated handling of workpieces
DE102013018196A1 (en) Device for gripping and transporting a label set
DE202009017138U1 (en) Device for longitudinally strapping an object
DE102019134093A1 (en) Exchange station for replacing used work equipment with unused work equipment
DE202015106225U1 (en) Device for the automated separation, singulation and sorting of assembled and unpopulated printed circuit boards
DE102016215891A1 (en) chuck
DE102022205179A1 (en) SHEET ATTACHMENT DEVICE
DE102020128441A1 (en) Beam spacer and method of making a semiconductor device
DE102007046432A1 (en) Carrier foil fixing device for unpacked semiconductor chip, has tensioning device between outer regions of carrier foil for tightening foil, and tension unit angularly movable on surface of foil
DE112014001440T5 (en) Flexible handling system for semiconductor substrates
DE10241997B4 (en) Magazine with holders for pipettes for mounting substrates with electrical components
DE102007046429A1 (en) Device for simultaneous supporting electronic elements, particularly for simultaneous support of semiconductor chip from wafer arrangement, has multiple element-support modules for support of electronic element in each case
DE102018208881B4 (en) Method and device for equipping a carrier with a component
DE3719742A1 (en) Arrangement and method for separation of the semiconductor chips contained in a wafer whilst maintaining their order

Legal Events

Date Code Title Description
OAV Publication of unexamined application with consent of applicant
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8131 Rejection