DE102007022218A1 - Objektivanordnung für eine Bildverarbeitung und Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern bei dieser Objektivanordnung - Google Patents
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Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE200710022218 DE102007022218A1 (de) | 2007-05-11 | 2007-05-11 | Objektivanordnung für eine Bildverarbeitung und Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern bei dieser Objektivanordnung |
| PCT/EP2008/054131 WO2008138687A1 (fr) | 2007-05-11 | 2008-04-07 | Système d'objectif pour le traitement d'images et procédé pour réduire les aberrations optiques d'un tel système d'objectif |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE200710022218 DE102007022218A1 (de) | 2007-05-11 | 2007-05-11 | Objektivanordnung für eine Bildverarbeitung und Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern bei dieser Objektivanordnung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102007022218A1 true DE102007022218A1 (de) | 2008-11-13 |
Family
ID=39666031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE200710022218 Withdrawn DE102007022218A1 (de) | 2007-05-11 | 2007-05-11 | Objektivanordnung für eine Bildverarbeitung und Verfahren zur Reduzierung von Bildfehlern bei dieser Objektivanordnung |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE102007022218A1 (fr) |
| WO (1) | WO2008138687A1 (fr) |
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| DE102021118327A1 (de) | 2021-07-15 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Messkamera und Verfahren zur zweidimensionalen Vermessung von Gegenständen |
| DE102021118429A1 (de) | 2021-07-16 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Gerät zur 3D-Koordinatenmessung nach dem Autofokusverfahren |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104422395B (zh) * | 2013-09-11 | 2017-02-08 | 中国石油大学(华东) | 一种小孔光阑定标的方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE19644662C2 (de) * | 1996-10-25 | 2000-04-13 | Leica Microsystems | Beleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop |
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2007
- 2007-05-11 DE DE200710022218 patent/DE102007022218A1/de not_active Withdrawn
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2008
- 2008-04-07 WO PCT/EP2008/054131 patent/WO2008138687A1/fr not_active Ceased
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| DE102021118327A1 (de) | 2021-07-15 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Messkamera und Verfahren zur zweidimensionalen Vermessung von Gegenständen |
| DE102021118327B4 (de) | 2021-07-15 | 2023-03-30 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Messkamera zur zweidimensionalen Vermessung von Gegenständen |
| DE102021118429A1 (de) | 2021-07-16 | 2023-01-19 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Gerät zur 3D-Koordinatenmessung nach dem Autofokusverfahren |
| DE102021118429B4 (de) | 2021-07-16 | 2023-06-01 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Gerät zur 3D-Koordinatenmessung nach dem Autofokusverfahren |
| CN114279360A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-05 | 天津大学 | 基于远心成像系统的多目相位偏折测量方法及装置 |
| CN114279360B (zh) * | 2021-12-27 | 2023-08-11 | 天津大学 | 基于远心成像系统的多目相位偏折测量方法及装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2008138687A1 (fr) | 2008-11-20 |
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