[go: up one dir, main page]

DE102007007194A1 - Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer dreidimensionalen ausgedehnten Struktur - Google Patents

Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer dreidimensionalen ausgedehnten Struktur Download PDF

Info

Publication number
DE102007007194A1
DE102007007194A1 DE102007007194A DE102007007194A DE102007007194A1 DE 102007007194 A1 DE102007007194 A1 DE 102007007194A1 DE 102007007194 A DE102007007194 A DE 102007007194A DE 102007007194 A DE102007007194 A DE 102007007194A DE 102007007194 A1 DE102007007194 A1 DE 102007007194A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring
sensor
mirrors
arrangement
mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE102007007194A
Other languages
English (en)
Inventor
Torsten Dipl.-Ing. Stautmeister
Tobias Dr.-Ing. Schüller
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micro Epsilon Optronic GmbH
Original Assignee
Micro Epsilon Optronic GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micro Epsilon Optronic GmbH filed Critical Micro Epsilon Optronic GmbH
Priority to EP07017870.2A priority Critical patent/EP1901031B1/de
Publication of DE102007007194A1 publication Critical patent/DE102007007194A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/46Indirect determination of position data
    • G01S17/48Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

Eine Messanordnung zum Vermessen einer dreidimensional ausgedehnten Struktur mittels eines optischen Sensors (2), wobei der Sensor (2) einen sich quer zur optischen Achse (4) erstreckenden Messbereich (5) ausweist, ist in Hinblick auf eine präzise und relativ schnelle Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur bei einfachem Aufbau der Messanordnung und geringen Kosten derart weitergebildng (3) mit mehreren Spiegeln (9, 12, 13) umfasst, die den Messbereich (5) des Sensors (2) zunächst über einen oder mehrere Spiegel (9) in mindestens zwei divergierende Bereiche (10, 11) aufteilt und die die divergierenden Bereiche (10, 11) über einen oder mehrere weitere Spiegel (12, 13) wieder derart zusammenführt, dass sich die Bereiche (14, 15) in einem Messfeld (16) schneiden, wobei in dem Messfeld (16) eine Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur erfolgt. Ein entsprechendes Verfahren ist angegeben.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Messanordnung zum Vermessen einer dreidimensional ausgedehnten Struktur mittels eines optischen Sensors, wobei der Sensor einen sich quer zur optischen Achse erstreckenden Messbereich ausweist. Die Erfindung betrifft ferner ein entsprechendes Verfahren.
  • Insbesondere in der Qualitätssicherung nimmt die Vermessung von dreidimensional ausgedehnten Strukturen eine wichtige Rolle ein. Eine derartige Struktur kann beispielsweise ein Spalt, der Verlauf einer Oberfläche bei aneinander stoßenden Teilen eines Gegenstands, eine Scheißnaht oder Kleberaupe umfassen. In der Automobilindustrie besteht beispielsweise die Notwendigkeit, einen Türspalt an einem Fahrzeug hinsichtlich eines gleichmäßigen Verlaufs zu untersuchen. Auch Schweißnähte oder auf ein Werkstück aufgebrachte Kleberaupen müssen hinsichtlich ihrer Qualität und Gleichmäßigkeit überprüft werden. Bei aneinander stoßenden Flächen ist beispielsweise von Interesse, ob die Flächen bündig aufeinander treffen.
  • Bei aus der Praxis bekannten Verfahren werden häufig Linientriangulatoren eingesetzt, mit denen die dreidimensional ausgedehnte Struktur erfasst wird. Bei einem Linientriangulator wird eine möglichst schmale und helle Linie, häufig mittels eines Laserstrahls, auf die zu untersuchende Struktur projiziert und das von der Oberfläche reflektierte Licht durch ein Detektorarray detektiert. Aus der Verschiebung der Linie in dem Detektorbild kann auf die dreidimensionale Beschaffenheit der untersuchten Struktur geschlossen werden. Linientriangulatoren weisen den Nachteil auf, dass sie Messergebnisse mit vergleichsweise geringer Präzision liefern und einzelne, beispielsweise sehr steile Nähte oder Kleberaupen nicht oder lediglich sehr schlecht detektierbar sind.
  • Zur Erhöhung der Präzision und der Qualität der gewonnenen Informationen werden Sensorsysteme eingesetzt, die einen Bereich der dreidimensional ausgedehnten Struktur aus unterschiedlichen Richtungen beleuchten bzw. vermessen. Die derart gewonnenen Informationen werden dann zu einem Gesamtbild der Struktur zusammengefügt. Dadurch werden einzelne Details erst sichtbar. So kann beispielsweise ein Spalt oder eine sehr steile Naht erst gut durch schräge Beleuchtung und/oder Erfassung vermessen werden. Problematisch an derartigen Verfahren ist, dass statt eines einzelnen Sensors zwei Sensoren notwendig sind. Da die in diesem Zusammenhang eingesetzten Sensoren meist vergleichsweise teuer sind, ergeben sich erhebliche zusätzliche Kosten für die Sensoranordnung. Zudem muss für jeden Sensor geeignete Hardware zum Ansteuern des Sensors und zur Nachbearbeitung der Sensorsignale einschließlich meist notwendiger Analog-/Digitalwandler zur Verfügung stehen. Dies führt zu einer weiteren Erhöhung der Kosten.
  • Eine Möglichkeit zur Vermeidung der Verwendung eines weiteren Sensors bestünde darin, eine dreidimensional ausgedehnte Struktur zuerst aus einer ersten Richtung zu vermessen, den Sensor dann in eine zweite Position zu verschwenken und von dieser Position aus die Struktur erneut aus einer anderen Richtung zu vermessen. Diese Art der Erfassung weist den entscheidenden Nachteil auf, dass sie erheblich langsamer ist als die Erfassung mit zwei Sensoren gleichzeitig. Zudem muss eine Verschwenkung des Sensors vorgenommen werden, wobei beide Messpositionen eindeutig definiert und bekannt sein müssen.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Messanordnung und ein Verfahren der eingangs genannten Art derart auszugestalten und weiterzubilden, dass eine präzise und vergleichsweise schnelle Vermessung einer dreidimensional ausgedehnten Struktur bei einfachem Aufbau der Messanordnung und geringen Kosten erreichbar ist.
  • Erfindungsgemäß wird die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Danach ist die in Rede stehende Messanordnung dadurch gekennzeichnet, dass die Messanordnung eine Spiegelanordnung mit mehreren Spiegeln umfasst, die den Messbereich des Sensors zunächst über einen oder mehrere Spiegel in mindestens zwei divergierende Bereiche aufteilt und die die divergierenden Bereiche über einen oder mehrere weitere Spiegel wieder derart zusammenführt, dass sich die Bereiche in einem Messfeld schneiden, wobei in dem Messfeld eine Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur erfolgt.
  • In verfahrensmäßiger Hinsicht ist die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 16 gelöst. Danach ist das in Rede stehende Verfahren derart weitergebildet, dass mittels eines oder mehrerer Spiegel einer Spiegelanordnung der Messbereich des Sensors zunächst in mindestens zwei divergierende Bereiche aufgeteilt wird und die divergierenden Bereiche über einen oder mehrere weitere Spiegel der Spiegelanordnung wieder derart zusammengeführt werden, dass sich die Bereiche in einem Messfeld schneiden, wodurch in dem Messfeld eine Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur ermöglicht wird.
  • In erfindungsgemäßer Weise ist zunächst erkannt worden, dass auf die Vorzüge der Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur aus verschiedenen Richtungen nicht zwangsläufig verzichtet werden muss, wenn der Einsatz von zwei Sensoren beispielsweise aus Kostengründen unerwünscht ist. Stattdessen kann erfindungsgemäß der gleiche Effekt erzielt werden, wenn dem Sensor eine geeignete Spiegelanordnung mit mehreren Spiegeln nachgeschaltet ist. Dazu wird mindestens ein Spiegel in den Strahlengang des Sensors eingebracht, der den Messbereich des Sensors über einen oder mehrere Spiegel in mindestens zwei divergierende Bereiche aufteilt. Dadurch wird erreicht, dass die Bereiche von der optischen Achse des Sensors weg nach außen gelenkt werden. In diese divergierenden Bereiche werden ein oder mehrere weitere Spiegel angeordnet, die den Messbereich des Sensors wieder zurück in Richtung optischer Achse des Sensors reflektiert. Die Spiegel sind derart angeordnet, dass sich die Bereiche in einem Messfeld schneiden. Wird die dreidimensional ausgedehnte Struktur in das Messfeld gebracht bzw. die Messanordnung derart bewegt, dass sich die dreidimensional ausgedehnte Struktur in dem Messfeld befindet, so kann mit der erfindungsgemäßen Anordnung die Struktur gleichzeitig aus verschiedenen Richtungen vermessen werden. Allerdings ist zu deren Vermessung lediglich ein Sensor notwendig, wodurch die Kosten und Baugröße der Messanordnung erheblich reduziert werden. Gleichzeitig nimmt die Zahl der lösbaren Messaufgaben zu. Durch den Einsatz der Spiegelanordnung steht zwar quer zu der optischen Achse des Sensors lediglich ein Teil des Messbereichs zur tatsächlichen Vermessung zur Verfügung, dies stellt jedoch in der Praxis häufig keine große Einschränkung dar. In vielen Fällen sind die zu vermessenden Strukturen vergleichsweise schmal und können mit dem reduzierten Messbereich im Allgemeinen problemlos erfasst werden.
  • Im Allgemeinen werden die Spiegel der Spiegelanordnung derart angeordnet sein, dass sich Strahlen vom Sensor zur untersuchten Struktur und von der Struktur zurück zum Sensor jeweils in einer Ebene befinden. Dies muss jedoch nicht notwendigerweise gegeben sein. Die Spiegel können auch – beispielsweise zum Erreichen einer bestimmten Gehäuseform – derart angeordnet sein, dass lediglich einzelne Strahlen in der gleichen Ebene verlaufen. Durch bestimmte Anordnung der Spiegel kann auch erreicht werden, dass sich die auf die dreidimensional ausgedehnte Struktur gelenkten Teile des Messbereichs nicht direkt schneiden, sondern geringfügig versetzt sind. Dies wird dann zu sehr guten Ergebnissen führen, wenn beispielsweise die Messanordnung längs der dreidimensional ausgedehnten Struktur oder umgekehrt bewegt wird. Dann wird die Struktur von den einzelnen Teilen des Messbereichs zeitversetzt erfasst. Dies kann in einer Signalverarbeitung entsprechend kompensiert werden.
  • Vorzugsweise sind die Spiegel der Spiegelanordnung, die den Messbereich in divergierende Bereiche aufteilen, derart angebracht, dass zwei divergierende Bereiche entstehen. Dies stellt im Allgemeinen einen guten Kompromiss zwischen der Vermessbarkeit der Struktur aus verschiedenen Richtungen und einem möglichst großen Messfeld dar. Allerdings sind auch Anwendungen denkbar, in denen die Ausgestaltung von mehr als zwei divergierenden Bereichen sinnvoll und erwünscht ist. Dabei können die Trennlinien zwischen den Bereichen relativ beliebig verlaufen. Die Trennlinien könnten parallel zueinander verlaufen, sie könnten sich aber auch beliebig schneiden oder in sonstiger Art und Weise zueinander angeordnet sein. Auch müssen die Trennlinien nicht zwangsläufig Geraden sein. Eine beispielsweise kreisbogenförmige Ausgestaltung ist ebenso denkbar. Die Lage und Ausgestaltung der Linien wird von dem verwendeten Sensor und dem jeweiligen Anwendungsfall abhängen.
  • Zum Erreichen eines gleich großen Messbereichs bzw. einer gleichen Auflösung in den divergierenden Bereichen sind die Spiegel vorzugsweise derart angeordnet, dass sich gleich große Bereiche ausbilden. Allerdings sind auch hier Anwendungsfälle denkbar, bei denen unterschiedlich große Bereiche sinnvoll sind. So könnten beispielsweise Strukturen untersucht werden, von denen bekannt ist, dass interessante Bereiche von einer Richtung besonders gut beobachtbar sind. In diesem Fall könnte diese Richtung einen größeren Messbereich erhalten als eine andere Richtung.
  • Vorzugsweise handelt es sich bei dem eingesetzten Sensor um einen Abstandssensor, der nach dem Lichtschnittverfahren arbeitet. Dieser kann zur Erfassung von zwei- oder dreidimensionalen Daten ausgebildet sein. Dabei sind prinzipiell die verschiedensten aus der Praxis bekannten Abstandssensoren einsetzbar. Vorzugs weise wird ein Linientriangulator eingesetzt. Allerdings können auch andere Abstandssensoren eingesetzt werden, wovon konfokal oder konfokal-chromatisch messende Systeme oder Autofokussysteme lediglich drei mögliche Sensortechnologien darstellen. Die Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur kann sowohl punktweise als auch entlang einer relativ beliebig gearteten Linie oder Fläche erfolgen. Gleichzeitig kann eine Vermessung mit oder ohne Verschiebung des Sensors bzw. der dreidimensional ausgedehnten Struktur relativ zueinander durchgeführt werden.
  • Durch eine definierte Anordnung der Spiegelanordnung lässt sich ein weiterer Effekt nutzen. Da die Richtungen, aus denen der Sensor bzw. ein Teil des Messbereichs des Sensors die dreidimensional ausgedehnte Struktur vermisst, recht genau bekannt sind, kann dieses Wissen für eine Triangulation genutzt werden. Bei einer Triangulation wird ein Punkt von zwei verschiedenen Positionen aus betrachtet. Aus dem Abstand der beiden Positionen und den Winkeln, unter denen der Punkt bezogen auf die Verbindungslinie der beiden Positionen jeweils von den beiden Positionen aus gesehen wird, kann die Entfernung des Punkts von den beiden Positionen berechnet werden. Dadurch können Entfernungsinformationen über die Struktur gewonnen werden. Diese Triangulation könnte auch bei der Verwendung eines Abstandssensors verwendet werden. Dadurch wird zum einen durch die Erfassung der Struktur aus verschiedenen Richtungen die Messgenauigkeit erhöht, zum anderen entstehen durch die Triangulation weitere Informationen, die zu einer Erhöhung der Messgenauigkeit beitragen können.
  • Der Sensor weist einen optoelektrischen Detektor auf, der als Zeilendetektor oder Matrixdetektor ausgebildet sein kann. Der Detektor kann als einfache Fotodiodenzeile ausgebildet sein, könnte jedoch auch eine CCD- oder CMOS-Kamera umfassen. Prinzipiell sind sämtliche aus der Praxis bekannten optoelektrischen Detektoren einsetzbar.
  • Dem Sensor könnte eine geeignete Optik zugeordnet sein, durch die der Messbereich längs der optischen Achse des Sensors erhöht bzw. der Schärfentiefebereich vergrößert wird. Vorzugsweise kommt hierzu eine telezentrische Optik zum Einsatz. Dies ist beispielsweise dann von Interesse, wenn der Sensor durch eine CCD- oder CMOS-Kamera gebildet ist.
  • Vorzugsweise ist eine Beleuchtungseinrichtung vorhanden, die die zu erfassende Struktur beleuchtet. Die Beleuchtungseinrichtung kann durch die verschiedensten aus der Praxis bekannten Lichtquellen realisiert sein. Lediglich beispielhaft sei auf die Verwendung eines Laserlinienprojektors, eines Punktlasers, einer Halogen- oder Xenonlampe oder von LEDs verwiesen. Im Allgemeinen wird die Beleuchtungsquelle in Abhängigkeit von dem verwendeten Messverfahren ausgewählt werden. Bei einem Linientriangulator umfasst die Beleuchtungseinrichtung beispielsweise einen Linienlaserprojektor und ist integraler Bestandteil des Sensorsystems.
  • Der Sensor könnte bereits von sich aus einen ausreichend sich quer zu seiner optischen Achse erstreckenden Messbereich aufweisen. Allerdings könnte diese Ausdehnung des Messbereichs auch durch geeignete Maßnahmen erreicht oder vergrößert werden. Beispielhaft sei auf die Verwendung von Linsen, Linsensystemen oder einer Umlenkvorrichtung, die beispielsweise einen die Struktur abtastenden Laserlichtstrahl über die Oberfläche der zu erfassenden Struktur führt, verwiesen. Andererseits könnte die Ausdehnung des Messbereichs auch durch Bewegung des Sensors quer zu dessen optischer Achse erzielt werden. In diesem Fall würde die Spiegelanordnung im Wesentlichen ortsfest bleiben.
  • Die eingesetzten Spiegel könnten verschiedenste geometrische Ausgestaltungen aufweisen. In der einfachsten Ausführungsform sind die Oberflächen der Spiegel plan. Dadurch entstehen besonders einfache Verhältnisse bei der Vermessung der Struktur. Allerdings könnten die Spiegel auch gewölbt sein. Sie könnten beispielsweise aus Ausschnitten aus Kegeln, Kugeln, Ellipsoiden, Hyperboloiden oder dergleichen bestehen. Die Wahl einer geeigneten Spiegeloberfläche wird im Allgemeinen von der Anwendungssituation abhängen und kann auf die jeweils zu vermessende Struktur abgestimmt sein. Dabei ist es auch möglich, dass die einzelnen Spiegel der Spiegelanordnung verschieden ausgestaltet sind. So könnte beispielsweise der erste Spiegel der Spiegelanordnung plan ausgebildet sein, während einer der zweiten Spiegel einen Ausschnitt aus einer Kugel umfasst, um diesen Teil des Messbereichs auf die dreidimensionale Struktur zu fokussieren oder aber den Messbereich weiter aufzuweiten.
  • Die Spiegel könnten ebenso durch die verschiedensten Materialien oder Materialkombinationen gebildet sein. Voraussetzung ist lediglich, dass die Materialien über eine ausreichend reflektierende Oberfläche verfügen. Es können metallisierte Glasflächen ebenso Verwendung finden wie hochfein polierte Metalloberflächen. Auch hier ist eine Reihe von Ausgestaltungen in der Praxis bekannt.
  • Zum Erzielen einer möglichst flexiblen Messanordnung könnten die Spiegel bewegbar ausgestaltet sein. Diese Bewegung könnte translatorisch, rotatorisch oder als eine Kombination von beidem erfolgen. Die Achsen der Bewegung bzw. Drehung ist relativ beliebig und wird wieder von der Anwendungssituation abhängen. Durch die Bewegbarkeit der Spiegel kann die Messanordnung an das jeweils zu erfassende Objekt angepasst werden. Die Anpassung könnte auch während des Messvorgangs erfolgen. Die Bewegung der Spiegel ließe sich manuell oder automatisch durchführen. Bei einer automatischen Verstellung der Spiegel könnte die Bewegung durch ein Steuergerät gesteuert oder geregelt werden, um eine besser nachzuvollziehende Veränderung der Spiegellage und -position zu erzielen.
  • Es sind Messsituationen denkbar, bei denen das Messfeld nur einen Teil der zu vermessenden Struktur abdeckt. Für einen solchen Fall könnten die Messanordnung und die zu vermessende Struktur relativ zueinander verschiebbar ausgestaltet sein. Es ist dabei prinzipiell unbedeutend, ob eine Verschiebung der Messanordnung oder des Objekts vorgenommen wird. Es wäre auch eine gleichzeitige Bewegung der Messanordnung und der Struktur denkbar, wobei eine Relativbewegung erhalten bleiben sollte. Die Richtung der Bewegung ist prinzipiell unerheblich. Allerdings wird die Bewegung im Allgemeinen entlang einer Längsausdehnung der dreidimensional ausgedehnten Struktur erfolgen.
  • Zudem wäre es denkbar, dass die Messanordnung an einen Roboterarm angebracht ist und im Bedarfsfall in Richtung der zu vermessenden Struktur geschwenkt wird.
  • Die durch den Sensor gewonnenen Bildinformationen werden durch den erfindungsgemäßen Einsatz einer Spiegelanordnung Anteile enthalten, die von der Vermessung der Struktur aus mindestens zwei verschiedenen Richtungen herrühren. Diese Anteile in dem durch den Sensor gewonnenen Bild müssen auf geeignete Art und Weise getrennt werden. Hier könnte eine relativ einfache Suche nach einem charakteristischen Merkmal angestellt werden. So wird sich beispielsweise die Stelle der Spiegelanordnung, an der die zu den divergierenden Bereichen führenden Spiegelflächen zusammentreffen, charakteristisch in dem Bild abzeichnen. Dies könnte sich beispielsweise in einem besonders hellen Punkt, einem besonders kurzen Abstand oder dergleichen ausdrücken.
  • Zur Trennung der Bereiche könnten auch Informationen über die Spiegelanordnung selbst genutzt werden. In vielen Fällen wird sich die Spiegelanordnung in einem festen oder zumindest definierten Zustand befinden. Hier ist eine Trennung der einzelnen Bereiche ohne größere Berechnungen möglich. Vielmehr könnten die Trennlinien manuell oder automatisch bestimmt werden. Danach bleiben die Trennungen konstant oder werden definiert mit den Spiegeln nachgeführt.
  • Ebenso könnten die Trennlinien durch eine Kombination der genannten Verfahren bestimmt werden. Eine erste Grobeinteilung könnte beispielsweise mit Hilfe der geometrischen Gegebenheiten vorgenommen werden, während eine Feinabstimmung danach anhand der Bildinformationen mittels Erkennungsverfahren durchgeführt werden könnte.
  • Darüber hinaus lassen sich die Trennlinien auf den verschiedensten weiteren Wegen bestimmen. Lediglich beispielhaft sei auf den Einsatz von Korrelationstechniken verwiesen.
  • Jeder der in den Bildinformationen aufgefundenen Bereiche, die die Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur aus einer anderen Richtung repräsentieren, liefert Informationen über die Beschaffenheit der Struktur. Diese einzelnen Anteile könnten zunächst aufbereitet werden. So könnten beispielsweise durch die Spiegelanordnung erzeugte Verzerrungen oder Bildrauschen geeignet kompensiert werden. Danach könnten die einzelnen Bildinformationen zu einer gemeinsamen Information über die dreidimensional ausgedehnte Struktur zusammengeführt werden. Dies könnte beispielsweise bei einem Abstandssensor derart erfolgen, dass die aus verschiedenen Richtungen gewonnenen Abstandsinformationen zu einem gemeinsamen Profil der dreidimensional ausgedehnten Struktur zusammengefasst werden. Entsprechende Verfahren sind aus der Praxis hinlänglich bekannt. Zusätzlich oder alternativ könnten weitere Informationen aus den Teilbildern gewonnen werden. So kann beispielsweise ein Spalt- oder Bündigkeitsmaß bestimmt und mit einem Soll wert verglichen werden. Dem Nutzer könnten dann einfache binäre Werte ausgegeben werden, ob das gewünschte Maß erreicht wird oder nicht. Zudem könnten einzelne Abmessungen der Struktur angegeben werden. Bei einer Kleberaupe könnten beispielsweise die Breite und das Volumen des aufgetragenen Klebstoffs von Interesse sein. Dadurch werden beispielsweise Aussagen ermöglicht, ob ausreichend Klebstoff für eine bestimmte Aufgabe vorhanden ist. Die Ergebnisse der Vermessung und Analyse können dem Nutzer schließlich über ein digitales und/oder ein analoges Anzeigegerät angezeigt werden.
  • Vor einer Verarbeitung müssen die Signale des Sensors gegebenenfalls durch eine Analog-/Digital-Wandlung digitalisiert werden. Hierzu sind aus der Praxis verschiedenste Verfahren bekannt. Die Signalverarbeitung selbst könnte in geeigneten Digitalrechnern vorgenommen werden. Dazu stehen sehr viele aus der Praxis bekannten Rechner zur Verfügung. Lediglich beispielhaft sei auf den Einsatz von DSPs (Digitale Signalprozessor), Mikrocontroller, CPLDs (Complex Programmable Logic Device), FPGAs (Field Programmable Gate Array), ASICs (Application Specific Integrated Circuit) oder Kombinationen dieser Technologien hingewiesen. Allerdings könnte eine Signalverarbeitung auch auf einem PC mit eventuell zusätzlicher Hardware oder einer SPS-Steuerung durchgeführt werden.
  • Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die den Patentansprüchen 1 und 16 jeweils nachgeordneten Patentansprüche und andererseits auf die nachfolgende Erläuterung eines bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung des bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im Allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigt die einzige
  • Fig. eine erfindungsgemäße Messanordnung zum Vermessen einer dreidimensional ausgedehnten Struktur.
  • Die einzige Fig. stellt eine erfindungsgemäße Messanordnung 1 mit einem Sensor 2 und einer Spiegelanordnung 3 dar. Als Sensor 2 kommt ein Linientriangulations scanner zum Einsatz, bei dem ein Linienlaserprojektor eine Linie auf das zu vermessende Objekt projiziert und das am Objekt reflektierte Licht mit einen Detektorarray detektiert wird. Der Sensor 2 weist einen sich quer zu seiner optischen Achse 4 erstreckenden Messbereich 5 auf. Dabei ist die optische Achse 4 die Symmetrieachse der projizierenden Laserstrahlen und der Messbereich der mögliche Versatz der einzelnen die Laserlinie bildenden Laserstrahlen. Als Begrenzung des Messbereichs 5 sind die beiden Randstrahlen 6 und 7 des Linienlaserprojektors in die Fig. eingezeichnet. Zusätzlich zeigt die Fig. einen weiteren Lichtstrahl 8, der zwischen den beiden Randstrahlen 6, 7 angeordnet ist und der in derselben Ebene liegt wie die optische Achse 4 bzw. in der Darstellung der 1 sogar mit der optischen Achse 4 zusammenfällt.
  • Der Messbereich 5 wird durch einen Spiegel 9, der durch zwei dachartig angeordnete plane Spiegelflächen gebildet wird, in zwei gleich große divergierende Bereiche 10 und 11 aufgespaltet. Lichtstrahl 8 fällt auf die Kante des Spiegels 9, an der die beiden Spiegelflächen des Spiegels 9 aneinander stoßen.
  • In Abhängigkeit von der gewünschten Abweichung der Beobachtungsrichtungen voneinander befinden sich in gewissem Abstand zu Spiegel 9 weitere Spiegel im Strahlengang, die die Bereiche 10, 11 wieder in Richtung der optischen Achse 4 reflektieren: Der Bereich 10 wird durch eine plane Spiegelfläche 12, der Bereich 11 durch eine plane Spiegelfläche 13 in Richtung optischer Achse 4 reflektiert. Die beiden an den Spiegelflächen 12 und 13 reflektierten Bereiche 14 und 15 schneiden sich durch die Anordnung der Spiegelflächen in einem Messfeld 16. In diesem Messfeld 16 kann die dreidimensional ausgedehnte Struktur vermessen werden. Die in der Fig. nicht eingezeichnete Struktur wird im Allgemeinen schräg und/oder senkrecht zur Zeichenebene verlaufen.
  • Die Spiegel 9, 12, 13 der Spiegelanordnung 3 sind dabei derart angeordnet, dass die optische Achse 4 nicht nur Symmetrieachse der die Laserlinie erzeugenden Laserstrahlen, sondern auch Symmetrieachse der Spiegelanordnung 3 ist. Zudem verlaufen die einzelnen Lichtstrahlen vom Sensor 2 zum Messbereich 16 durch die besondere Anordnung der Spiegel 9, 12, 13 in einer Ebene. Es sei jedoch angemerkt, dass dies nicht zwangsläufig gegeben sein muss. So kann es wünschenswert sein, dass die durch die Bereiche 14, 15 erzeugten Linien nicht exakt aufein ander fallen, beispielsweise zur Vermeidung gegenseitiger Einstreuungen von Licht aus dem jeweils anderen Bereich. In diesem Fall würde durch leichtes Verdrehen der Spiegel ein Versatz der Linien erreicht werden.
  • In dem Messfeld 16 befindet sich die hier nicht eingezeichnete dreidimensional ausgedehnte Struktur, an der die durch den Linienlaserprojektor erzeugte und durch die Spiegelanordnung aufgeteilte Linie reflektiert wird. Die Lichtstrahlen werden durch die Spiegel 9, 12, 13 der Spiegelanordnung wieder zum Sensor 2 zurückgeführt und treffen dort in einen ebenfalls nicht eingezeichneten Detektor. Da die die Struktur beleuchtende Linie durch einen einzelnen Laserstrahl mittels einer Umlenkvorrichtung beschrieben wird, können im Detektorbild die betreffenden Bestandteile wieder getrennt werden.
  • Die von dem Sensor kommenden Signale werden anschließend digitalisiert und einer Signalverarbeitung zugeführt. Dort können Rauschen unterdrückt, die Trennlinien zwischen der beiden Bereichen des Messbereichs bestimmt, eine Triangulation durchgeführt, ein Gesamtprofil der Struktur berechnet und/oder weitere Informationen über die Struktur extrahiert werden. Die einzelnen extrahierten Informationen können dem Nutzer der Messvorrichtung geeignet dargestellt werden. Eine Anzeigevorrichtung kann beispielsweise das Profil der Struktur darstellen. Alternativ oder zusätzlich können Informationen ausgegeben werden, ob beispielsweise zwei Flächen eines Objekts über eine ausreichende Bündigkeit verfügen.
  • Da ein Linientriangulator prinzipbedingt lediglich zweidimensionale Informationen liefert, kann die Messanordnung relativ zur Struktur bewegt werden. Auch eine Bewegung der Struktur relativ zur Messanordnung ist möglich. Es könnte jedoch auch eine weitere Umlenkvorrichtung vorgesehen sein, die die auf die Struktur projizierte Laserlinie in Richtungen quer zur Laserlinie bewegt.
  • Abschließend sei ausdrücklich darauf hingewiesen, dass das voranstehend beschriebene Ausführungsbeispiel lediglich der Erörterung der beanspruchten Lehre dient, diese jedoch nicht auf das Ausführungsbeispiel einschränkt.

Claims (20)

  1. Messanordnung zum Vermessen einer dreidimensional ausgedehnten Struktur mittels eines optischen Sensors (2), wobei der Sensor (2) einen sich quer zur optischen Achse (4) erstreckenden Messbereich (5) ausweist, dadurch gekennzeichnet, dass die Messanordnung (1) eine Spiegelanordnung (3) mit mehreren Spiegeln (9, 12, 13) umfasst, die den Messbereich (5) des Sensors (2) zunächst über einen oder mehrere Spiegel (9) in mindestens zwei divergierende Bereiche (10, 11) aufteilt und die die divergierenden Bereiche (10, 11) über einen oder mehrere weitere Spiegel (12, 13) wieder derart zusammenführt, dass sich die Bereiche (14, 15) in einem Messfeld (16) schneiden, wobei in dem Messfeld (16) eine Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur erfolgt.
  2. Messanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der/die Spiegel (9) derart angeordnet ist/sind, dass der Messbereich (5) des Sensors (2) in zwei Bereiche (10, 11) geteilt wird, wobei die beiden Bereiche (10, 11) vorzugsweise gleich groß sind.
  3. Messanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor (2) einen Abstandssensor umfasst.
  4. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Messfeld (16) eine Vermessung mittels Triangulation erfolgt.
  5. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor (2) nach den Linienschnittverfahren arbeitet.
  6. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass dem Sensor (2) eine telezentrische Optik zugeordnet ist.
  7. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor (2) einen optoelektrischen Detektor umfasst.
  8. Messanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor als Linien- oder Matrixdetektor ausgestaltet ist.
  9. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Messanordnung eine Beleuchtungseinrichtung umfasst.
  10. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erzeugung oder Vergrößerung des Messbereichs (5) quer zur optischen Achse (4) des Sensors (2) eine Umlenkvorrichtung vorgesehen ist und/oder der Sensor (2) quer zur optischen Achse (4) bewegbar ist.
  11. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Spiegel (9, 12, 13) plan oder als Ausschnitt einer Kugel, eines Zylinders, eines Ellipsoiden oder eines Hyperboloiden ausgebildet sind.
  12. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass einer oder mehrere der Spiegel (9, 12, 13) der Spiegelanordnung (3) bewegbar und/oder drehbar ausgestaltet sind.
  13. Messanordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Position und die Lage der Spiegel (9, 12, 13) der Spiegelanordnung (3) in Abhängigkeit der zu erfassenden Struktur einstellbar sind.
  14. Messanordnung nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Bewegung des/der Spiegel (9, 12, 13) durch eine Steuereinheit steuerbar ist.
  15. Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass eine Signalverarbeitung vorgesehen ist, die aus den durch den Sensor (2) gewonnenen Bildinformationen die aufgeteilten Bereiche (10, 11) des Messbereichs (5) extrahiert und/oder Informationen über die dreidimensional ausgedehnte Struktur aus den durch den Sensor (2) gewonnenen Informationen gewinnt.
  16. Verfahren zum Vermessen einer dreidimensional ausgedehnten Struktur mittels einer Messanordnung, insbesondere einer Messanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, wobei die Messanordnung (1) einen optischen Sensor (2) mit einen sich quer zur optischen Achse (4) erstreckenden Messbereich (5) ausweist, dadurch gekennzeichnet, dass mittels eines oder mehrerer Spiegel (9) einer Spiegelanordnung (3) der Messbereich (5) des Sensors (2) zunächst in mindestens zwei divergierende Bereiche (10, 11) aufgeteilt wird und die divergierenden Bereiche (10, 11) über einen oder mehrere weitere Spiegel (12, 13) der Spiegelanordnung (3) wieder derart zusammengeführt werden, dass sich die Bereiche (14, 15) in einem Messfeld (16) schneiden, wodurch in dem Messfeld (16) eine Vermessung der dreidimensional ausgedehnten Struktur ermöglicht wird.
  17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass durch den Sensor (2) gewonnene Bildinformationen digitalisiert werden.
  18. Verfahren nach Anspruch 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, dass durch den Sensor (2) gewonnene Bildinformationen in einer Verarbeitungseinheit einer Signalverarbeitung unterzogen werden.
  19. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass durch die Signalverarbeitung die aufgeteilten Bereiche (10, 11) des Messbereichs (5) aus den Bildinformationen extrahiert wird.
  20. Verfahren nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekennzeichnet, dass durch die Signalverarbeitung das Profil der dreidimensional ausgedehnten Struktur rekonstruiert wird.
DE102007007194A 2006-09-13 2007-02-09 Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer dreidimensionalen ausgedehnten Struktur Ceased DE102007007194A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP07017870.2A EP1901031B1 (de) 2006-09-13 2007-09-12 Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer dreidimensional ausgedehnten Struktur

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006043741 2006-09-13
DE102006043741.1 2006-09-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102007007194A1 true DE102007007194A1 (de) 2008-03-27

Family

ID=39105178

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102007007194A Ceased DE102007007194A1 (de) 2006-09-13 2007-02-09 Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer dreidimensionalen ausgedehnten Struktur

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102007007194A1 (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016205219A1 (de) * 2016-03-30 2017-10-05 Siemens Aktiengesellschaft Mehr-Richtungs-Triangulations-Messsystem mit Verfahren
DE102016205245A1 (de) * 2016-03-30 2017-10-05 Siemens Aktiengesellschaft Mehr-Richtungs-Triangulations-Messsystem mit Vorrichtung
DE102017007189A1 (de) * 2017-07-27 2019-01-31 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren zur 3D-Vermessung von Objekten durch kohärente Beleuchtung
DE102017007590A1 (de) * 2017-08-11 2019-02-14 Baumer Inspection Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von dreidimensionalen Objekten auf Basis des Lichtschnittverfahrens
DE102021127192A1 (de) 2021-10-20 2023-04-20 Sascha Kühl Binokularer 3D-Scanner

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016205219A1 (de) * 2016-03-30 2017-10-05 Siemens Aktiengesellschaft Mehr-Richtungs-Triangulations-Messsystem mit Verfahren
DE102016205245A1 (de) * 2016-03-30 2017-10-05 Siemens Aktiengesellschaft Mehr-Richtungs-Triangulations-Messsystem mit Vorrichtung
DE102017007189A1 (de) * 2017-07-27 2019-01-31 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren zur 3D-Vermessung von Objekten durch kohärente Beleuchtung
DE102017007590A1 (de) * 2017-08-11 2019-02-14 Baumer Inspection Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von dreidimensionalen Objekten auf Basis des Lichtschnittverfahrens
DE102017007590B4 (de) 2017-08-11 2019-06-06 Baumer Inspection Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von dreidimensionalen Objekten auf Basis des Lichtschnittverfahrens
DE102021127192A1 (de) 2021-10-20 2023-04-20 Sascha Kühl Binokularer 3D-Scanner
DE102021127192B4 (de) 2021-10-20 2024-02-08 Sascha Kühl Binokularer 3D-Scanner und Verfahren zum Scannen einer äußeren Kontur eines dreidimensionalen Objektes

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2753896B1 (de) Verfahren zur bilderfassung einer vorzugsweise strukturierten oberfläche eines objekts und vorrichtung zur bilderfassung
EP2411787B1 (de) Vorrichtung zum bestimmen von partikelngrössen
EP3912127B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur inspektion schwer erreichbarer komponenten
DE102016202928B4 (de) Verbessertes Autofokusverfahren für ein Koordinatenmessgerät
WO2007121953A1 (de) Vorrichtung zum automatischen aufbringen oder erzeugen und überwachen einer auf einem substrat aufgebrachten struktur mit ermittlung von geometrischen abmessungen sowie ein entsprechendes verfahren hierfür
DE1623456A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur kontaktlosen Abstandsmessung
EP1901031B1 (de) Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer dreidimensional ausgedehnten Struktur
DE102007007194A1 (de) Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer dreidimensionalen ausgedehnten Struktur
EP1188035A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur objektabtastung
DE102016007586A1 (de) Neuartige Vorrichtung/en zum automatischen Aufbringen oder Erzeugen und Überwachen einer auf einem Substrat aufgebrachten Struktur mit Ermittlung von geometrischen Abmessungen sowie ein entsprechendes Verfahren
EP2589926A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur optischen Formerfassung von bewegten Gegenständen
DE102010049401A1 (de) Vorrichtung zum Erfassen von Messinformationen von einer inneren Oberfläche eines Hohlkörpers, insbesondere einer Bohrung eines ein- oder zweiwelligen Extruderzylinders
DE102007007192A1 (de) Messanordnung und Verfahren zum Erfassen der Oberfläche von Objekten
EP1728045A1 (de) Niederkohärenz-interferometrisches verfahren und gerät zur lichtoptischen abtastung von oberflächen
DE102007038785A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Geometriedaten eines Messobjekts
DE10340803A1 (de) Meßverfahren und Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts
DE102014119436B4 (de) Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Bestimmen von geometrischen Eigenschaften eines Messobjekts unter Verwendung einer Lichtfeldkamera
DE102017122627A1 (de) Optisches Messsystem und Messverfahren
EP3575741A1 (de) Verfahren zum berührungsfreien vermessen einer werkstückkante
EP3899423A1 (de) Vorrichtung, vermessungssystem und verfahren zur erfassung einer zumindest teilweise spiegelnden oberfläche unter verwendung zweier spiegelungsmuster
DE102017111819B4 (de) Bohrungsinspektionsvorrichtung
DE102006048954A1 (de) Verfahren und Messvorrichtung zur Erfassung des Querschnitts eines Strangprofils im Inline-Betrieb
DE102004046752B4 (de) Verfahren zur dreidimensionalen Erfassung von Messobjekten
EP2382493B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur berührungslosen messung eines abstands und/oder eines profils
DE102011101509C5 (de) Verfahren zur optischen Vermessung einer Welle

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R016 Response to examination communication
R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R003 Refusal decision now final

Effective date: 20140501