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Hintergrund der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Konzept zum Feststellen
einer Beeinträchtigung einer
durch einen Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung, wie
es insbesondere eingesetzt werden kann, um einen Verlust sicherheitsrelevanter Daten
vermeiden zu können.
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In
elektronischen Schaltungen werden im Allgemeinen verschiedene stabile
Spannungen benötigt.
Um diese verschiedenen Spannungsniveaus zur Verfügung stellen zu können, werden
unter anderem Spannungsregler eingesetzt. Durch Freilegung von Metallbahnen
eines internen Spannungsversorgungsnetzes einer elektronischen Schaltung
durch Präparation
und anschließendes
Kontaktieren mit Hilfe einer sogenannten Probe-Nadel und eines sogenannten
Spike-Generators können
Störungen
in Form von Spannungsspitzen bzw. Spikes auf einer internen geregelten
Spannung der elektronischen Schaltung induziert werden. Spannungsspitzen
auf der internen geregelten Spannung können beispielsweise zu Fehlfunktionen
eines mit der elektronischen Schaltung verknüpften Systems führen, wodurch
sicherheitsrelevante Daten verloren gehen können. Beispielsweise können im
Bereich der Kryptographie fehlerhafte Ergebnisse eines Verschlüsselungsalgorithmus
durch äußere Einflüsse ggf.
im Abgleich mit einem korrekten Resultat sicherheitsrelevante Schlüssel offen
legen.
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Eine
Kontaktierung der internen Spannungsversorgung einer elektronischen
Schaltung mit einer Probe-Nadel während eines Spike-Angriffs
auf ein System verlangt das Einprägen einer DC-Spannung VProbe, die der internen geregelten Spannung VDDint entspricht.
Dadurch, dass ein Angreifer in der Regel mit der eingeprägten DC-Spannung
VProbe nicht exakt das Spannungsniveau VDDint
der internen geregelten Spannung trifft, wird in ein Regelsystem
des internen Spannungsreglers eingegriffen, welches daraufhin mit
einem dauerhaften Ist-Wert > Sollwert
bzw. Ist-Wert < Sollwert
reagiert.
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Auswirkungen
einer induzierten Spannungsspitze auf eine interne geregelte Versorgungsspannung
können
detektiert werden, indem beispielsweise zwei aus einer externen
Versorgungsspannung der elektronischen Schaltung abgeleitete Spannungen
verglichen werden. Dabei wird beispielsweise eine Spannung durch
kapazitive Einkopplung von Spannungsspitzen der internen geregelten
Versorgungsspannung beeinflusst. Bei dieser Vorgehensweise ist jedoch
eine eindeutige Unterscheidung zwischen legitimen Lastwechseln,
welche durch das System verursacht werden, und tatsächlich induzierten
Spikes sehr schwer möglich
bzw. nur mit einem großen
Sicherheitsabstand zu realisieren. Damit ist eine Abhängigkeit
der Empfindlichkeit eines Spannungsspitzendetektors von einer internen
Chipkapazität,
einem Floor-Plan und der Applikation gegeben.
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Zusammenfassung der Erfindung
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Gemäß Ausführungsbeispielen
schafft die vorliegende Erfindung eine Vorrichtung zum Feststellen
einer Beeinträchtigung
einer durch einen Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung
mit einer Einrichtung zum Überwachen
einer Stellgröße oder einer
zeitlichen Änderung
der Stellgröße des Regelkreises
und einer Einrichtung zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals,
wenn die Stellgröße oder die
zeitliche Änderung
außerhalb
eines Toleranzbereiches um einen Normalwert liegt.
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Somit
weisen Ausführungsbeispiele
der Erfindung den Vorteil auf, dass ein Spike-Angriff auf eine elektronische
Schaltung durch die Überwachung
einer Stellgröße des Spannungsregel kreises sehr
zuverlässig
detektiert werden kann. Der Spike-Angriff wird durch das Beobachten des
Regelmechanismus erkannt und nicht durch das Beobachten der Auswirkung
auf die interne geregelte Spannung. Somit können fehlerprovozierende Angriffe, die
zum Verlust sicherheitsrelevanter Daten führen können, leichter und zuverlässiger erkannt
werden und somit Schutzmechanismen ausgelöst werden, um den Verlust der
Daten zu verhindern.
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Kurzbeschreibung der Figuren
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Bevorzugte
Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf
die beiliegenden Zeichnungen näher
erläutert.
Es zeigen:
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1 ein
schematisches Blockdiagramm eines Regelkreises mit einer Vorrichtung
zum Feststellen einer Beeinträchtigung
einer durch den Regelkreis bereitgestellten Regelgröße, gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
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2 ein
Blockdiagramm einer Schaltung zum Bereitstellen einer geregelten
Spannung mit einer Vorrichtung zum Feststellen einer Beeinträchtigung
der durch den Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung, gemäß einem
Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung; und
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3 eine
schematische Darstellung eines zeitlichen Ablaufs eines Spike-Angriffs
mit einer eingeprägten
DC-Spannung VProbe < VDDint und VProbe > VDDint und dem entsprechenden
zeitlichen Verhalten der Stellgrößen des
Regelkreises.
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Detaillierte Beschreibung
der Erfindung
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Bezüglich der
nachfolgenden Beschreibung sollte beachtet werden, dass bei den
unterschiedlichen Ausführungsbeispielen
gleich oder gleich wirkende Funktionselemente gleiche Bezugszeichen aufweisen
und somit die Beschreibungen dieser Funkti onselemente in den verschiedenen,
in den nachfolgend dargestellten Ausführungsbeispielen untereinander
austauschbar sind.
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1 zeigt
ein schematisches Blockdiagramm eines Regelkreises 100,
an dessen Eingang eine Führungsgröße bzw.
ein Sollwert 102 anliegt. Einen Ausgang des Regelkreises 100 bildet
eine Regelgröße bzw.
ein Istwert 104. Die Regelgröße 104 wird mit der
Führungsgröße 102 in
einer Vergleichseinrichtung bzw. einem Komparator 108 verglichen, wodurch
am Ausgang des Komparators 108 eine Stellgröße 110 bewirkt
wird. Die Stellgröße 110 bildet einen
Eingang einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 120 zum
Feststellen einer Beeinträchtigung
der durch den Regelkreis 100 bereitgestellten Regelgröße 104 mit
einer Einrichtung 122 zum Überwachen der Stellgröße 110 des
Regelkreises 100 und einer Einrichtung 124 zur
Erzeugung eines Benachrichtigungssignals 126, wenn die
Stellgröße 110 oder
ein Parameter der Stellgröße 110,
z.B. eine zeitliche Änderung
derselben, außerhalb
eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt. Des Weiteren bildet
die Stellgröße 110 einen
Eingang einer Regelstrecke 130, um die Regelstrecke 130 bzw.
ein Steuerelement der Regelstrecke 130 in geeigneter Weise
zu steuern. Einen weiteren Eingang der Regelstrecke 130 bildet
eine Störgröße 132.
An einem Ausgang liefert die Regelstrecke 130 die Regelgröße bzw.
den Istwert 104.
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Als
Stellgröße 110 kann
dabei jedes in dem Regelkreis 100 auftretende Signal betrachtet
werden, das einen Einfluss auf ein Steuerelement der Regelstrecke 130 bewirkt,
wobei das Steuerelement die zu regelnde Größe 104 ausgibt.
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Ein
Angriff auf die Regelschleife 100 wird durch die Störgröße 132 modelliert.
Der Angriff wird nun erfindungsgemäß durch Beobachten des Regelmechanismus
bzw. durch Beobachten der Stellgröße 110 erkannt. Die
Regelgröße bzw.
der Istwert 104 ist gemäß der vorliegenden
Erfindung eine durch die Regelschleife 100 geregelte Spannung.
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Der
Komparator 108 vergleicht Führungsgröße 102 und Regelgröße 104 und
gibt an seinem Ausgang abhängig
davon ein Signal als Stellgröße 110 aus.
Gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung weist der Komparator 108 einen Differenzverstärker auf.
Die Regelstrecke 130 weist gemäß Ausführungsbeispielen als Steuerelemente eine
Ladungspumpe und einen Regeltransistor auf. Abhängig von der Führungsgröße 102 und
Regelgröße 104 gibt
der Differenzverstärker
wenigstens ein Steuersignal aus, um eine VCO-Frequenz (VCO = Voltage
Controlled Oscillator) der Ladungspumpe entweder zu erniedrigen
oder zu erhöhen,
wobei die VCO-Frequenz wiederum eine Steuerspannung für den Regeltransistor
steuert. Die Einrichtung 122 zum Überwachen überwacht gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung eine zeitliche Änderung bzw. eine Frequenz
des wenigstens einen Steuersignals bzw. der Stellgröße und veranlasst
die Einrichtung 124 zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals 126 ein
Benachrichtigungssignal zu erzeugen, wenn die Frequenz der wenigstens
einen Stellgröße außerhalb
eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt, insbesondere unter
einer unteren Grenzfrequenz liegt.
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Gemäß einem
weiteren Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung kann als Stellgröße die von einer dem Differenzverstärker nachgeschalteten Ladungspumpe
bereitgestellte Steuerspannung des Regeltransistors betrachtet werden.
Die Einrichtung zum Überwachen überwacht
gemäß diesem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung die Steuerspannung bzw. die Stellgröße selbst
und veranlasst die Einrichtung zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals
ein Benachrichtigungssignal zu erzeugen, wenn die Stellgröße selbst
außerhalb
eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt.
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Gemäß einem
weiteren Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung liefert ein von der Vergleichseinrichtung 108 umfasster
Differenzverstärker an
seinem Ausgang direkt eine Steuer spannung als Stellgröße 110 für einen
von der Regelstrecke 130 umfassten Regeltransistor, um
eine geregelte Spannung bereitstellen zu können. Die Einrichtung 122 zum Überwachen überwacht
gemäß diesem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung die Steuerspannung bzw. die Stellgröße 110 selbst
und veranlasst die Einrichtung 124 zur Erzeugung eines
Benachrichtigungssignals 126 ein Benachrichtigungssignal
zu erzeugen, wenn die Stellgröße 110 selbst
außerhalb
eines Toleranzbereichs um einen Normalwert liegt.
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Durch
die Überwachung
der Stellgröße 110 bzw.
einer zeitlichen Änderung
der Stellgröße 110 des
Regelkreises 100 wird also auf den Zustand des Regelkreises 100 geschlossen
und damit festgestellt, ob ein von der durch den Regelkreises 100 intern
geregelten Spannung 104 versorgtes System extern über eine
Probe-Nadel versorgt wird. Gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung kann dazu die Einrichtung 122 zum Überwachen
der Stellgröße 110 einen
digitalen Zähler
umfassen, um beispielsweise eine Frequenz der Stellgröße 110 bestimmen
zu können.
Dadurch wird eine Beobachtung der internen geregelten Spannung bzw.
der Regelgröße 104 selbst überflüssig, womit
man unabhängig von
einer Bewertung einer Änderung
der internen Versorgungsspannung bzw. der Regelgröße 104 wird.
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Ein
bevorzugtes Ausführungsbeispiel
einer Vorrichtung zum Feststellen einer Beeinträchtigung einer durch einen
Regelkreis bereitgestellten geregelten Spannung gemäß einem
Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung soll im Nachfolgenden anhand von 2 näher erläutert werden.
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2 zeigt
eine schematische Darstellung eines ICs (IC = Integrated Circuit)
bzw. eines Chips 200, welcher einen Regelkreis 100 zur
Regelung einer internen geregelten Spannung VDDint aufweist. Der
Regelkreis 100 weist einen NMOS-Transistor 202 auf, dessen
Drain-Anschluss mit einer externen Versorgungsspannung VDDext verbunden
ist. An einem Source- Anschluss
des NMOS-Transistors 202 liegt die interne geregelte Spannung
VDDint an. Weiterhin ist der Source-Anschluss des NMOS-Transistors 202 mit
einem ersten Terminal eines Widerstands 204 verbunden,
dessen zweites Terminal mit einem ersten Terminal eines zweiten
Widerstands 206 verbunden ist, dessen zweites Terminal
auf einem Bezugspotential VSSext liegt. Der Regelkreis 100 weist
einen Differenzverstärker 208 mit
einem ersten Eingang und mit einem zweiten Eingang auf.
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Am
ersten Eingang des Differenzverstärkers 208 liegt eine
stabile Referenzspannung an, die beispielsweise von einer sogenannten
Bandgag-Schaltung geliefert werden kann. Auf den zweiten Eingang des
Differenzverstärkers 208 wird
ein Teil der über den
aus den beiden Widerständen 204 und 206 bestehenden
Spannungsteiler geteilten geregelten internen Spannung VDDint zurückgekoppelt.
Der Differenzverstärker 208 weist
ferner einen ersten und einen zweiten Ausgang auf, wobei an dem
ersten Ausgang ein Up-Signal 210 und an dem zweiten Ausgang
des Differenzverstärkers 208 ein
Down-Signal 212 bereitgestellt wird. Die beiden Ausgänge des
Differenzverstärkers 208 mit
dem Up-Signal 210 und dem Down-Signal 212 bilden
einen ersten und einen zweiten Eingang einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 120 zum
Feststellen einer Beeinträchtigung
der durch den Regelkreis 100 bereitgestellten geregelten Spannung
VDDint.
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In
der Vorrichtung 120 werden das Up-Signal 210 und
das Down- Signal 212 einer
Einrichtung 122 zum Überwachen
der beiden Signale zugeführt.
Die Einrichtung 122 zum Überwachen weist einen ersten Vergleicher 214 für das Up-Signal 210 und
einen zweiten Vergleicher 216 für das Down-Signal 212 auf.
Ein Ausgang des ersten Vergleichers 214 und ein Ausgang
des zweiten Vergleichers 216 bildet jeweils einen Eingang
für eine
Einrichtung 124 zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals 126.
In dem in 2 dargestellten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung umfasst die Einrichtung 124 zur
Erzeugung des Benachrichtigungssignals 126 ein ODER-Gatter 218.
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Das
an dem ersten Ausgang des Differenzverstärkers 208 anliegende
Up-Signal 210 ist ferner mit einem ersten Eingang einer
Ladungspumpe 220 gekoppelt. Das am zweiten Ausgang des
Differenzverstärkers 208 anliegende
Down-Signal 212 ist mit einem zweiten Eingang der Ladungspumpe 220 gekoppelt.
Ein Ausgang der Ladungspumpe 220 ist mit dem Steuer- bzw.
Gate-Anschluss des NMOS-Transistors 202 verbunden.
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Mit
dem Bezugszeichen 230 ist ein Bereich auf dem Chip bzw.
IC 200 gekennzeichnet, bei dem beispielsweise durch Freilegen
einer Metallbahn eines internen Versorgungsnetzes des Chips 200 die interne
geregelte Versorgungsspannung VDDint zugänglich gemacht wird. Das Bezugszeichen 240 kennzeichnet
eine Probe-Nadel eines Spike-Generators 250, mit dem Störungen der
internen geregelten Versorgungsspannung VDDint induziert werden
sollen. Dabei ist der Spike-Generator 250 in 2 durch ein
Ersatzschaltbild dargestellt, das eine Spannungsquelle 252,
einen Innenwandstand 254 und eine Kapazität 256 umfasst.
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Für einen
Spike-Angriff auf die interne geregelte Spannung VDDint ist eine
konstante Spannungsversorgung VProbe im
Bereich der geregelten Spannung VDDint mittels des Spike-Generators 250 nötig. Dieser
Sachverhalt ist schematisch im oberen Teil von 3 gezeigt.
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Der
obere Teil von 3 zeigt die interne geregelte
Spannung VDDint aufgetragen über
der Zeit, wobei die geregelte Spannung VDDint zwei zeitlich sequentiellen
Spike-Angriffen ausgesetzt ist. In einem ersten Zeitraum t1 bis t2 wird eine über die
freigelegte Metallbahn 232 konstante Spannungsversorgung
VProbe angelegt, wobei VProbe leicht
höher als
die Spannung VDDint ist. In einem Bereich von t3 bis
t4 wird umgekehrt eine Spannung VProbe an der freigelegten Metallbahn 232 angelegt,
wobei hier VProbe leicht niedriger als die
Spannung VDDint ist. Die Differenz von VProbe zu
VDDint kann als Störgröße 132 interpretiert
werden.
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Im
ersten Fall bzw. dem ersten Zeitintervall t1 bis
t2 ist VProbe > VDDint, was dazu führt, dass
an dem invertierenden Eingang des Differenzverstärkers 208 eine größere Spannung
als die von der Bandgag-Schaltung zur Verfügung gestellte Referenzspannung
am nicht invertierenden Eingang des Differenzverstärkers 208 anliegt.
Da der Differenzverstärker 208 bestrebt
ist, seine Eingänge über die
Rückkopplungsschleife
stets auf gleichem Potential, also dem Referenzpotential, zu halten,
ist in dem Zeitintervall t1 bis t2 das Down-Signal 212 des Differenzverstärkers 208 dauerhaft
aktiv bzw. das UP-Signal 210 dauerhaft
inaktiv. Dieser Zusammenhang ist in 3 mittig
dargestellt. Umgekehrt ist in dem Fall VProbe < VDDint bzw. in
dem zweiten Zeitintervall t3 bis t4 das Up-Signal 210 des
Differenzverstärkers 208 dauerhaft
aktiv bzw. das Down-Signal 212 dauerhaft inaktiv.
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Die
Aktivität
bzw. Inaktivität
der Steuersignale bzw. der Stellgrößen 210, 212 bedeutet
nun im Frequenzbereich der Stellgröße einen Frequenzanteil, der
unterhalb einer minimalen Grenzfrequenz der Steuersignale liegt,
die bei einem normalen Regelverhalten der Regelschleife 100 nicht
unterschritten wird. Mit dem ersten Vergleicher 214 und
dem zweiten Vergleicher 216 kann nun jeweils die Frequenz
des UP-Signals 210 bzw. des Down-Signals 212 mit
einer jeweils zu tolerierenden unteren Grenzfrequenz fmin verglichen
werden. Im Fall eines Unterschreitens der unteren Grenzfrequenz
fmin geben die beiden Vergleicher 214 und 216 jeweils
eine logische Eins an ihrem Ausgang aus, wobei die beiden Ausgänge die
Eingänge
des Oder-Gatters 218 bilden. Dies ist schematisch im unteren
Teil von 3 dargestellt. Liegt an dem
Ausgang des Oder-Gatters 218 eine logische Eins an, so
bedeutet dies ein Unterschreiten der unteren Grenzfrequenz fmin von einer der beiden Stellgrößen 210 bzw. 212 und
damit einen Spike-Angriff auf die intern geregelte Spannung VDDint.
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Beide
Szenarien VProbe > VDDint bzw. VProbe < VDDint bedeuten
also einen Eingriff in die Regelung des auf dem Chip bzw. IC 200 befindlichen
Spannungsreglers 100, welcher mit Hilfe der an dem ersten
Eingang des Differenzverstärkers 208 anliegenden
Referenzspannung (beispielsweise aus einer Bandgap-Schaltung) die externe
Spannung VDDext auf die interne Chipversorgungsspannung VDDint regelt.
Diese Angriffe werden erfindungsgemäß durch die zeitliche Beobachtung
einer Stellgröße oder
des zeitlichen Verlaufs des Stellgröße des Regelkreises als solche
erkannt. Stellgrößen des
Regelkreises sind in dem in 2 gezeigten
Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung die Signale 210 und 212. Da
eine Dauer solcher in 3 schematisch gezeigter Spike-Angriffe
im Allgemeinen Größenordnungen über einer
Zeitkonstante der Regelschleife 100 liegen, kann durch
dauerhaftes Über-
bzw. Unterschreiten der Stellgröße bzw.
einer Frequenz der Stellgröße ein Angriff
erkannt werden.
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Abhängig von
der Regelarchitektur können unterschiedliche
Stellgrößen überwacht
werden. Für einen
einfachen P-Regler (Proportional-Regler) lässt sich beispielsweise die
Steuer- bzw. Gate-Spannung des
Regeltransistors 202 der Regelstrecke 130 durch das
dauerhafte Unterschreiten einer minimalen oder das dauerhafte Überschreiten
einer maximalen Spannung überwachen.
Für einen
in 2 gezeigten N-Regler mit eigener Ladungspumpe
kann beispielsweise auch die VCO-Frequenz (VCO = voltage controlled
oscillator) der Ladungspumpe mit einer minimalen Frequenz verglichen
werden.
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Wie
im Vorhergehenden bereits beschrieben wurde, bildet für die in 2 dargestellte
Regelschaltung sowohl das UP-Signal 210 als
auch das Down-Signal 212 jeweils eine Stellgröße der Regelschleife.
Somit werden für
das in 2 dargestellte Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung die UP- und Down-Signale 210 und 212 des
Differenzverstärkers 208 bzw.
ihre Frequenzen beobachtet.
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Zusammenfassend
kann durch das erfindungsgemäße Konzept
also ein Spike-Angriff durch das Beobachten eines Regelmechanismus erkannt werden.
Durch die Überwachung
einer unteren Grenzfrequenz einer Stellgröße des Regelverstärkers, welche
die interne Spannung VDDint mit einer Referenzspannung vergleicht,
kann auf den Zustand des Regelkreises geschlossen werden und damit festgestellt
werden, ob das System extern über
eine Nadel und eine Spannungsquelle versorgt wird. Dadurch wird
die Beobachtung der internen geregelten Spannung selbst überflüssig, womit
man unabhängig von
der Bewertung der internen geregelten Spannungsänderung werden kann.
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Das
erfindungsgemäße Konzept
bietet den Vorteil, dass eine eindeutige Unterscheidung zwischen
Lastwechseln, welche durch das System verursacht werden, und tatsächlich induzierten
Spikes leichter möglich
ist. Damit ist die Empfindlichkeit einer erfindungsgemäßen Schaltung
zur Detektion eines Spike-Angriffs
unabhängig
von der internen Chip-Kapazität,
der Floor-Plan und der Applikation.
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Insbesondere
wird darauf hingewiesen, dass abhängig von den Gegebenheiten
das erfindungsgemäße Schema
auch in Software implementiert sein kann. Die Implementierung kann
auf einem digitalen Speichermedium, insbesondere einer Diskette
oder einer CD mit elektronisch auslesbaren Steuersignalen erfolgen,
die so mit einem programmierbaren Computersystem und/oder Mikrocontroller
zusammenwirken können,
dass das entsprechende Verfahren ausgeführt wird. Allgemein besteht
die Erfindung somit auch in einem Computerprogrammprodukt mit auf
einem maschinenlesbaren Träger
gespeicherten Programmcode zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
wenn das Computerprogrammprodukt auf einem Rechner und/oder Mikrocontroller abläuft. In
anderen Worten ausgedrückt
kann die Erfindung somit als ein Computerprogramm mit einem Programmcode
zur Durchführung
des Verfahrens realisiert werden, wenn das Computerprogramm auf einem
Computer und/oder Mikrocontroller abläuft.
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- 100
- Regelkreis
- 102
- Führungsgröße bzw.
Sollwert
- 104
- Regelgröße bzw.
Istwert
- 108
- Komparator
- 110
- Stellgröße
- 120
- erfindungsgemäße Vorrichtung
zum Feststellen einer Beeinträchtigung
- 122
- Einrichtung
zum Überwachen
der Stellgröße
- 124
- Einrichtung
zur Erzeugung eines Benachrichtigungssignals
- 126
- Benachrichtigungssignal
- 130
- Regelstrecke
- 132
- Störgröße
- 200
- Integrierte
Schaltung
- 202
- NMOS-Transistor
- 204
- erster
Widerstand
- 206
- zweiter
Widerstand
- 208
- Differenzverstärker
- 210
- UP-Signal
- 212
- DOWN-Signal
- 214
- erster
Vergeicher
- 216
- zweiter
Vergleicher
- 218
- ODER-Gatter
- 220
- Ladungspumpe