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Verweis auf
verbundene Anmeldungen
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Diese
Anmeldung stützt
sich auf die koreanische Patentanmeldung Nr. 2005-0075165, die am 17.
August 2005 beim Koreanischen Amt für geistiges Eigentum eingereicht
wurde, und deren Offenbarung durch Bezugnahme mit eingebunden ist.
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Hintergrund der Erfindung
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Technisches Gebiet
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine differenzierende Superpositionsschaltung
zur Linearisierung, bei der Transistoren mit verschiedenen Gatelängen, die
durch ein gewöhnliches CMOS-Verfahren
hergestellt werden, verwendet werden, so dass eine stabile Linearisierung
ohne Feineinstellung ermöglicht
wird und eine Mehrzahl von Transistoren nur durch eine einzige Vorspannung
betrieben werden kann, so dass eine Vorspannungsschaltung in einfacher
Weise entworfen werden kann und die Gesamtausmaße der Schaltung dadurch verringert
werden können.
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In
jüngster
Zeit werden durch Standardisierung drahtlose Kommunikationssysteme
mit unterschiedlichen Einsatzzwecken allgemein verwendet. Dementsprechend
kommt es vermehrt dazu, dass unerwünschte Signalanteile miteinander
interferieren.
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Des
Weiteren verwenden diese Kommunikationssysteme unterschiedliche
Frequenzbereiche. Aus diesem Grund können die betreffenden Systeme ohne
Interferenz miteinander kommunizieren, sofern alle Systeme perfekt
linearisiert sind. Jedoch bestehen Sender und Empfänger der
meisten real existierenden Kommunikationssysteme aus nichtlinearen Schaltkreisen,
so dass diese Probleme auftreten, die durch ein Mischen und Modulieren
von Signalen hervorgerufen werden, wenn die Signale die nichtlinearen
Systeme durchlaufen. Insbesondere Intermodulationsverzerrungen dritten
Grades (nachfolgend als IMD3 bezeichnet), die dadurch entstehen,
dass zwei starke Signale benachbarter Frequenzbereiche miteinander
gemischt werden, während
sie ein nichtlineares System durchlaufen, stören ein gewünschtes Signal im operativen
Frequenzbereich des Systems. Aus diesem Grund wird ein Schnittpunkt
dritter Ordnung definiert (nachfolgend als IP3 bezeichnet), der einen
Index für
die Linearisierung des Systems darstellt.
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Davon
ausgehend wurden verschiedene Studien zur Verbesserung solcher Linearisierungen durchgeführt, bei
denen der Schwerpunkt auf die Linearisierung des Systems gelegt
wurde. In jüngster Zeit
wurde häufig
ein differenzierendes Superpositionsverfahren verwendet, das eine
Verbesserung des IP3 eines rauscharmen CMOS-Verstärkers bewirken kann.
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1 zeigt in einem Schaltplan
eine differenzierende Superpositionsschaltung 100 entsprechend
dem Stand der Technik. Wie in 1 dargestellt,
umfasst die differenzierende Superpositionsschaltung 100 einen ersten
MOSFET 101 und einen zweiten MOSFET 102, der eine
komplementäre
Charakteristik zum ersten MOSFET 101 aufweist.
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Die
Gates des ersten und zweiten MOSFETs 101 und 102 sind
mit einer Eingangsklemme IN über eine
erste Impedanz 10 verbunden, die Drains des ersten und
zweiten MOSFETs 101 und 102 sind mit einer Ausgangsklemme
verbunden, und die Sources der ersten und zweiten MOSFETs 101 und 102 sind mit
einer Masse 105 über
eine dritte Impendanz 108 verbunden.
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Auf
dem Gate des ersten MOSFETs 101 wird eine vorbestimmte
operative Vorspannung durch eine Gate-Source-Spannung (VGS) 103 aufrechterhalten, und eine
Masseversorgung 105 wird über einen ersten Widerstand 106a der
ersten Impedanz 106 geliefert. Auf dem Gate des zweiten
MOSFETs 102 wird eine vorbestimmte operative Vorspannung durch
eine Gate-Source-Spannung (VGS) 103 aufrechterhalten,
und eine Offset-Spannung
(Voff) 105 wird über einen
zweiten Widerstand 106b der ersten Impedanz 106 bereitgestellt.
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2 zeigt in einem Graphen
Simulationsergebnisse einer zweiten Ableitung gm'' einer
Transkonduktanz in Bezug auf die Gate-Source-Spannung VGS entsprechend
dem Stand der Technik.
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Sofern
eine Offsetspannung an das Gate des zweiten MOSFETs angelegt wird,
um die operative Vorspannung des zweiten MOSFETs einzustellen, zeigen
der Maximalwertebereich der zweiten Ableitung gmA'' der Transkonduktanz des ersten MOSFETs
und der Minimalwertebereich der zweiten Ableitung gmB'' der Transkonduktanz des zweiten MOSFETs,
wie in 2 dargestellt,
entgegengesetzte Vorzeichen. Folglich weisen die von den beiden MOSFETs
erzeugten IMD3-Signale einen Offset in der Größe von ungefähr der Schwellspannung
der ersten und zweiten MOSFETs auf, der es ermöglicht, eine zweite Ableitung
gm'' der Transkonduktanz
zu erreichen, die weitestgehend linearisiert ist.
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3 zeigt in einem Schaltplan
eine differenzierende Superpositionsschaltung entsprechend einem
anderen Stand der Technik. Die 4A bis 4C sind Graphen, die Simulationsergebnisse
der zweiten Ableitung gm'' der Transkonduktanz
im Hinblick auf die Gate-Source-Spannung VGS entsprechend dem
Stand der Technik darstellen.
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3A zeigt eine differenzierende Superpositionsschaltung,
die einen ersten MOSFET M1 umfasst, der durch eine konstante Gate-Source-Spannung VGS betrieben wird, und eine differenzierende Superpositionsschaltung,
die einen zweiten MOSFET M2 umfasst, der von einer Vorspannung (VGS – VB1) betrieben wird, bei der eine vorbestimme
Spannung VB1 (= 0,3 Volt) von der Gate-Source-Vorspannung
VGS subtrahiert wird. 3B zeigt
eine differenzierende Superpositionsschaltung, bei der die üblicherweise
mit einer Signaleingangsklemme verbundenen ersten und zweiten MOSFETs
miteinander verbunden sind, und eine differenzierende Superpositionsschaltung,
die einen dritten MOSFET M3 umfasst, der von einer Vorspannung (VGS – VB2) betrieben wird, bei der eine voreingestellte
Spannung VGS (=0,53 Volt) von einer Gate-Source-Vorspannung VGS subtrahiert wird. 3C zeigt
eine differenzierende Superpositionsschaltung, bei der der erste,
zweite und dritte MOSFET, die üblicherweise
mit einer Signaleingangsklemme verbunden sind, miteinander verbunden
sind.
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Wenn
der Spitzenwert der zweiten Ableitung der Transkonduktanz wie in
den 4A und 4B dargestellt,
positiv ist, wird ein negativer Wert der zweiten Ableitung der Transkonduktanz
der Ableitungsschaltung, die den ersten MOSFET M1 umfasst, oder der
Ableitungsschaltung, bei der der erste und zweite MOSFET M1 und
M2 miteinander verbunden sind, durch einen positiven Wert der zweiten
Ableitung der Transkonduktanz des zweiten MOSFETs M2 oder des dritten
MOSFETs M3 ausgeglichen. Falls ein MOSFET entsprechender Größe und Vorspannung hinzugefügt wird,
wird der Linearisierungsbereich zunehmend ausgeweitet, wie in 4C dargestellt.
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In
den oben beschriebenen, differenzierenden Superpositionsschaltungen
entsprechend dem Stand der Technik sollten die Offset-Spannung Voff der 1,
oder die voreingestellten Spannungen VB1 und
VB2 der 3 allerdings
durch eine Feinabstimmung eingestellt werden, um eine stabile Linearisierung
durchzuführen.
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Des
Weiteren sollte eine Vorspannungsschaltung hinzugefügt werden,
um die Offset-Spannung VOff der 1 oder die voreingestellten
Spannungen VB1 und VB2 der 3 zu steuern, so dass sich
der Entwurf einer solchen Schaltung nicht nur einfach gestaltet,
sondern auch die gesamte Schaltung erweitert wird.
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Kurzbeschreibung
der Erfindung
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Ein
Vorteil der vorliegenden Erfindung ist es, eine differenzierende
Superpositionsschaltung zur Linearisierung bereitzustellen, bei
der Transistoren, die unterschiedliche Gatelängen aufweisen und durch einen
gewöhnlichen
CMOS-Prozess hergestellt werden, zur Ermöglichung einer stabilen Linearisierung
verwendet werden, ohne eine Feinabstimmung vorzunehmen und eine
Mehrzahl von Transistoren durch eine einzige Vorspannung betrieben
werden kann, so dass eine Vorspannungsschaltung in einfacher Weise
entworfen werden kann und die Gesamtfläche der Schaltung verringert
werden kann.
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Weitere
Aspekte und Vorteile des vorliegenden allgemeinen erfinderischen
Konzepts werden zum Teil in der folgenden Beschreibung erläutert und sind
teilweise durch die Beschreibung offensichtlich oder können durch
Anwendung des allgemeinen erfinderischen Konzepts aufgefunden werden.
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Entsprechend
einem weiteren Aspekt der Erfindung umfasst die differenzierende
Superpositionsschaltung zur Linearisierung ein erstes aktives Element
mit Anschlüssen
1 bis 3, wobei die Größe und Richtung
des Stromflusses des zweiten zum dritten Anschlusses in Abhängigkeit
der Spannung zwischen erstem und zweitem Anschluss variiert; und ein
zweites aktives Element mit Anschlüssen 1 bis 3, das zum ersten
aktiven Element komplementäre
Eigenschaften aufweist. Die ersten Anschlüsse des ersten und zweiten
aktiven Elements sind miteinander verbunden, so dass eine vorbestimmte
operative Vorspannung durch eine erste und zweite Spannungsversorgung über eine
erste Impedanz aufrecht erhalten wird, und die ersten Anschlüsse sind über eine
zweite Impedanz mit einer Eingangsklemme verbunden. Die dritten
Anschlüsse
des ersten und zweiten aktiven Elements sind mit einer Ausgangsklemme
verbunden, und die zweiten Anschlüsse des ersten und zweiten
aktiven Elements sind mit einer zweiten Spannungsversorgung über eine
dritte Impedanz verbunden.
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Die
erste Spannungsversorgung ist eine Spannungsversorgung, die eine
vorbestimmte positive Spannung zwischen den ersten und zweiten Anschlüssen anlegt,
und die zweite Spannungsversorgung stellt eine Masse dar.
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Die
ersten, zweiten und dritten Anschlüsse des ersten und zweiten
aktiven Elements sind jeweils Gate, Source und Drain.
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Die
Längen
der Gates des ersten und zweiten aktiven Elements sind unterschiedlich,
und die Gatelänge
des ersten aktiven Elements ist kürzer als die Gatelänge des
zweiten aktiven Elements.
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Die
zweite Ableitung der Transkonduktanz des vom Drain zur Source fließenden Stroms
in Bezug auf die erste Spannungsversorgung nimmt ihren Maximalwert
im ersten aktiven Element an, die zweite Ableitung der Transkonduktanz
des vom Drain zur Source fließenden
Stroms in Bezug auf die erste Spannungsversorgung nimmt ihren Minimalwert
im zweiten aktiven Element an, und der Maximalwertebereich des ersten
aktiven Elements und der Minimalwertebereich des zweiten aktiven
Elements fallen so zusammen, dass die beiden sich gegenseitig ausgleichen.
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Die
erste Impedanz ist ein Widerstand.
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Die
zweite Impedanz ist eine Kapazität.
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Die
dritte Impedanz ist eine Induktivität.
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Die
ersten und zweiten aktiven Elemente sind MOSFETs.
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Kurze Beschreibungen
der Zeichnungen
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Diese
und/oder weitere Aspekte und Vorteile des vorliegenden allgemeinen
erfinderischen Konzepts werden offensichtlich und können aus
der folgenden Beschreibung der Ausführungsformen in Verbindung
mit den beiliegenden Zeichnungen besser erkannt werden, wobei:
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1 eine
Schaltung einer differenzierenden Superpositionsschaltung entsprechend
dem Stand der Technik darstellt;
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2 einen
Graphen zur Veranschaulichung der Simulationsergebnisse einer zweiten
Ableitung einer Transkonduktanz in Bezug auf die Gate-Source-Spannung entsprechend
dem Stand der Technik darstellt;
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3 eine
Schaltung einer differenzierenden Superpositionsschaltung entsprechend
einem weiteren Stand der Technik darstellt;
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die 4A bis 4C Graphen
der Simulationsergebnisse einer zweiten Ableitung einer Transkonduktanz
in Bezug auf die Gate-Source-Spannung entsprechend
dem Stand der Technik darstellen;
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5 eine
Schaltung einer differenzierenden Superpositionsschaltung entsprechend
der vorliegenden Erfindung darstellt; und
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6 einen
Graphen der Simulationsergebnisse einer zweiten Ableitung der Transkonduktanz
in Bezug auf die Gate-Source-Spannung entsprechend der Erfindung
zeigt.
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Detaillierte
Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen
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Im
Detail wird nun auf die Ausführungsformen
der vorliegenden allgemeinen erfinderischen Idee Bezug genommen,
wobei Beispiele durch die beiliegenden Zeichnungen dargestellt sind,
und identische Bezugszeichen durchgängig identische Elemente bezeichnen.
Die Ausführungsformen
werden nachfolgend nacheinander erläutert, um das vorliegende allgemeine
erfinderische Konzept unter Bezugnahme auf die Figuren zu erläutern.
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Nachfolgend
wird eine bevorzugte Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung im Detail unter Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen erläutert.
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5 zeigt
eine Schaltung einer differenzierenden Superpositionsschaltung 500 entsprechend der
vorliegenden Erfindung. Wie in 5 dargestellt, umfasst
die differenzierende Superpositionsschaltung 500 ein erstes
aktives Element 501 und eine zweites aktives Element 502,
das komplementäre Charakteristiken
hinsichtlich des ersten aktiven Elements 501 besitzt.
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Das
erste aktive Element 501 weist ein Gate, eine Source und
einen Drain auf. Entsprechend der Größe und Polarität der zwischen
Gate und Source anliegenden Spannung wird die Richtung und die Größe des von
der Source zum Drain oder vom Drain zur Source fließenden Stromes
bestimmt. Des Weiteren ist das zweite aktive Element 502 ebenso
mit einem Gate, einer Source und einem Drain ausgestattet. In Abhängigkeit
der Größe und der
Polarität
der Gate-Source-Spannung wird die Größe und Richtung des Stroms,
der von der Source zum Drain oder vom Drain zur Source fließt, bestimmt.
In diesem Fall wird die Größe und Richtung
des im zweiten aktiven Elements 502 fließenden Stroms
komplementär
hinsichtlich des ersten Elements 501 bestimmt.
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Mit
anderen Worten, wenn sich die Größe des Stroms
vom Drain zur Source proportional zur Größe der Gate-Source-Spannung
des ersten aktiven Elements 501 ändert, ändert sich die Größe des Stroms
von der Source zum Drain im Verhältnis
zur Größe der Gate-Source-Spannung
des zweiten aktiven Elements 502.
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Als
solche aktiven Elemente können
Bipolar-Transistoren (BJT), Sperrschicht-Feldeffekt-Transistoren
(JFET), Metalloxid-Feldeffekt-Transistoren (MOSFET),
Metall-Halbleiter-Feldeffekt-Transistoren (MESFET) und Ähnliches
verwendet werden.
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Ein
bestimmtes aktives Element kann des Weiteren mit einem Gehäuseanschluss
zusätzlich zum
Gate, Source und Drain ausgerüstet
sein. Bei solch einem aktiven Element wird die Größe und Richtung
des Stroms, der von der Source zum Drain oder vom Drain zur Source
fließt,
durch die Größe und Polarität der Spannung,
die zwischen Gate und Gehäuse
anliegt, bestimmt.
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In
diesem Fall kann als aktives Element ein Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekt-Transistor
(MOSFET) verwendet werden.
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Im
Nachfolgenden wird bei der Beschreibung des aktiven Elements ein
MOSFET betrachtet. Jedoch kann die technische Idee der vorliegenden
Erfindung gleichwohl auf alle aktiven Elemente angewendet werden,
die als Verstärker
genauso wie ein MOSFET eingesetzt werden können. Aus diesem Grund sind,
obwohl die Beschreibung sich auf einen MOSFET beschränkt, das
Konzept und die Tragweite der Erfindung nicht auf MOSFETs beschränkt.
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Die
Gates der ersten und zweiten aktiven Elemente 501 und 502 sind
miteinander so verbunden, dass eine vorbestimmte Betriebsvorspannung durch
eine erste und zweite Spannungsversorgung 503 und 504 über eine
erste Impedanz 505 geliefert wird, und sie sind mit einem
Eingangsanschluss IN über
eine zweite Impedanz 506 verbunden.
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Entsprechend
einer bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung ist die erste Spannungsversorgung 503 eine
Spannungsversorgung, die eine vorbestimmte positive Spannung zwischen
Gate und Source anlegt, so dass eine Spannungsversorgung, die eine
positive Spannung der gleichen Größe wie die Gate-Source-Spannung
aufweist, bereitgestellt wird, und die zweite Spannungsversorgung 504 entspricht
einer Masse. Des Weiteren, da die Impedanz 505 eine vorbestimmte
Betriebsvorspannung im ersten aktiven Element 501 bereitstellt,
wird bevorzugt ein Widerstand verwendet. Da die zweite Impedanz 506 mit
dem Eingangsanschluss IN verbunden ist, wird bevorzugt eine Kapazität verwendet.
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Da
die Gates der ersten und zweiten aktiven Elemente 501 und 502 miteinander
verbunden sind, wird nur eine Gatevorspannung benötigt, da
dieselbe operative Vorspannung durch die erste und zweite Spannungsversorgung 503 und 504 bereitgestellt wird.
Aus diesem Grund ist der Entwurf der Vorspannungsschaltung sehr
einfach, und die Gesamtgröße der Schaltung
kann verringert werden.
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Die
Drains der ersten und zweiten aktiven Elemente 501 und 502 sind
mit einem Ausgangsanschluss OUT verbunden, und die Sources der ersten und
zweiten aktiven Elemente 501 und 502 sind mit der
zweiten Spannungsversorgung 504 über eine dritte Impedanz 507 verbunden.
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Als
dritte Impedanz 507, die die zweite Spannungsversorgung 504 mit
den Sources der ersten und zweiten aktiven Elemente 501 und 502 verbindet,
wird bevorzugt eine Induktivität
verwendet.
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6 zeigt
in einem Graphen Simulationsergebnisse der zweiten Ableitung der
Transkonduktanz bezogen auf die Gate-Source-Spannung entsprechend
der vorliegenden Erfindung.
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Die
ersten und zweiten aktiven Elemente werden durch ein gewöhnliches
CMOS-Verfahren hergestellt. Die entsprechenden Gatelängen der
Elemente unterscheiden sich voneinander, und die Gatelänge des
ersten aktiven Elements ist kürzer
als die Gatelänge
des zweiten aktiven Elements. Typischerweise wird als erstes aktives
Element ein Element verwendet, dessen Gatelänge 0,18 μm beträgt. Als zweites aktives Element
wird ein aktives Element mit einer bestimmten Charakteristik unter
allen aktiven Elementen ausgewählt,
bei denen die Gatelänge größer als
die des ersten aktiven Elements ist.
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Da
die ersten und zweiten aktiven Elemente, die durch verschiedene
CMOS-Verfahren hergestellt werden, prinzipiell eine unterschiedliche
Dicke der Oxide aufweisen, unterscheiden sich die Gatelängen der
Elemente. Dementsprechend weisen die ersten und zweiten aktiven
Elemente unterschiedliche Charakteristiken in verschiedenen Aspekten,
wie beispielsweise der Schwellspannung, auf.
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Aus
diesem Grund wird bei dem in dieser Erfindung vorgeschlagenen Verfahren
zur Verbesserung der Linerarität
eine komplementäre
Charakteristik zwischen den aktiven Elementen, bei denen die Gatelänge voneinander
abweicht, verwendet. Beispielsweise besitzen die aktiven Elemente
unterschiedliche Schwellspannungen.
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Falls
die Gates der ersten und zweiten aktiven Elemente, die komplementär zueinander
sind, miteinander verbunden werden, indem Transistoren verwendet
werden, deren Gatelängen
unterschiedlich sind, und eine Vorspannung zwischen Gate und Source
geeignet eingestellt wird, so dass dasselbe Eingangssignal an den
Gates anliegt, können
der Bereich der Maximalwerte der zweiten Ableitungen gmA'' der Transkonduktanz des ersten aktiven
Elements und der Bereich der Minimalwerte der zweiten Ableitung
gmB'' der Transkonduktanz
des zweiten aktiven Elements so eingestellt werden, dass sie in etwa
um eine Schwellspannung des ersten und zweiten aktiven Elements
zusammenfallen, wie in 6 dargestellt.
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Der
Maximalwertebereich der zweiten Ableitung gmA'' der Transkonduktanz des ersten aktiven Elements
und der Minimalwertebereich der zweiten Ableitung gmB'' der Transkonduktanz des zweiten aktiven
Elements sind so ausgewählt,
dass sie gegensätzliche
Vorzeichen aufweisen. Dies kann auch umgekehrt möglich sein.
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Aus
diesem Grund sind IMD3-Signale, die von zwei der aktiven Elemente
erzeugt werden, mit einem Offset behaftet, um somit eine Linearisierung der
zweiten Ableitung gm'' der Transkonduktanz
zu erreichen, bei der die IP3-Charakteristiken verbessert sind.
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Des
Weiteren, da die operative Vorspannung der ersten und zweiten aktiven
Elemente durch Verwendung von Transistoren mit unterschiedlichen Gatelängen eingestellt
wird, kann eine zusätzliche Vorspannungsschaltung,
wie beispielsweise zur Erzeugung einer Offest-Spannung VOff oder Ähnlichem, im
Gegensatz zum Stand der Technik vermieden werden. Aus diesem Grund
ist eine stabile Linearisierung ohne Feineinstellung möglich, und
eine Vorspannungsschaltung kann in einfacher Weise entworfen werden.
Des Weiteren werden die Gesamtmaße der Schaltung verringert.
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Entsprechend
der differenzierenden Superpositionsschaltung der vorliegenden Erfindung
werden Transistoren, die durch ein gewöhnliches CMOS-Verfahren bereitgestellt
werden und bei denen sich die Gatelängen unterscheiden, verwendet, so
dass eine stabile Linearisierung ohne Feineinstellung ermöglicht wird.
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Des
Weiteren, da eine Vielzahl von Transistoren durch eine einzige Vorspannung
betrieben werden kann, kann die Vorspannungsschaltung in einfacher
Weise entworfen und die Gesamtfläche
der Schaltung reduziert werden.
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Obwohl
einige Ausführungsformen
des vorliegenden allgemeinen erfinderischen Konzepts dargestellt
und erläutert
wurden, können
vom Fach mann Änderungen
in diesen Ausführungsformen
gemacht werden, ohne von den Prinzipien und dem Boden des allgemeinen
erfinderischen Konzepts abzuweichen, dessen Umfang in den beigefügten Ansprüchen und ihren
Entsprechungen dargelegt ist.