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Die
Erfindung betrifft ein Bauteil für
die Nano- und Molekularelektronik sowie ein Verfahren zur Herstellung
derselben.
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Stand
der Technik
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Ein
Halbleiterbauelement besteht aus einem Substrat, auf das signalverarbeitende
halbleitende Strukturen aufgebracht sind. Diese signalverarbeitenden
Strukturen sind durch metallische Leiterbahnen miteinander verbunden.
In der Molekularelektronik treten einzelne Moleküle an die Stelle halbleitender
Strukturen. Damit durch Umwelteinflüsse weder die verarbeiteten
Signale verfälscht
noch die empfindlichen Leiterbahnen beim Aufbringen der Moleküle zerstört werden,
wird das Bauelement mit einer Schutzschicht versehen. In der Molekularelektronik muss
sichergestellt sein, dass das Lösungsmittel,
mit dessen Hilfe Moleküle
vielfach in elektronische Bauelemente eingefügt werden, keine Kurzschlüsse der Leiterbahnen
verursacht.
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Typischerweise
wird die Schutzschicht mittels PECVD (plasmaenhanced chemical vapour
deposition) oder LPCVD (low pressure chemical vapour deposition)
hergestellt. Dieser Prozess ist sehr aufwändig und erfordert Reaktionstemperaturen
zwischen 150°C
und 600°C,
was das Einsatzfeld drastisch einschränkt. Zudem sind die entstehenden Schichten
nicht beständig
gegen aggressive Gase oder Flüssigkeiten,
wie beispielsweise Schwefelsäure
oder Salzsäure.
Das nachträgliche
Entfernen eines Teils der Beschichtung, beispielsweise um definierte
elektrische Kontakte mit der Außenwelt
herzustellen, ist nur schwer möglich
und erfordert den Einsatz zusätzlicher
Strukturierungsverfahren. Hierfür wird
beispielsweise Elektronenstrahllithographie verwendet.
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Durch
Spin-Coating herstellbare Schichten sind zwar schneller und einfacher
herzustellen, weisen aber häufig
unter mechanischer, elektrischer oder chemischer Beanspruchung nach
kurzer Zeit Risse auf. Gasartige oder flüssige Substanzen können so
unkontrolliert auf die Bauteiloberfläche vordringen und die Signalverarbeitung
stören.
Im Bereich der Nano- und Molekularelektronik können die Störungen in der Größenordnung
des verarbeiteten Signals oder sogar darüber liegen.
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Aufgabe
und Lösung
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Es
ist daher die Aufgabe der Erfindung, ein Bauteil mit einer Beschichtung
zur Verfügung
zu stellen, die einfach herzustellen ist und die Bauteiloberfläche dennoch
auch unter mechanischer, elektrischer oder chemischer Beanspruchung
dauerhaft vor Umwelteinflüssen
schützt.
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Diese
Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch
ein Bauteil gemäß Hauptanspruch
sowie durch ein Verfahren gemäß Nebenanspruch.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich jeweils aus den
darauf rückbezogenen
Unteransprüchen.
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Gegenstand
der Erfindung
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Im
Rahmen der Erfindung wurde ein Bauteil entwickelt, das ein Substrat,
eine darauf aufgebrachte Struktur und eine Substrat und Struktur
bedeckende polymerhaltige Schicht, bestehend aus Grundschicht und
Schutzschicht, umfasst. Das Substrat kann beispielsweise ein Siliziumwafer
sein, dessen oberflächennaher
Bereich durch Oxidation in elektrisch isolierendes Siliziumdioxid
umgewandelt wurde. Die Struktur kann beispielsweise eine metallische Leiterbahn
eines integrierten Schaltkreises sein.
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Erfindungsgemäß ist auf
der Grundschicht mindestens eine Schutzschicht aus einem anderen polymerhaltigen
Material angeordnet, wobei die Kettenlänge der Polymeranteile in der
Schutzschicht mindestens doppelt so groß, insbesondere mindestens
fünfmal
so groß,
ist wie in der Grundschicht. Es wurde erkannt, dass die Schutzschicht
wesentlich härter
ist als die Grundschicht und sich durch diese Kombination überraschenderweise
eine Rissbildung in der Grundschicht unterdrücken lässt: Ursache für die Rissbildung
ist mechanischer Stress. Dieser entsteht beispielsweise beim Anlegen
elektrischer Spannungen an die signalverarbeitenden Bauelemente,
insbesondere an Kanten der metallischen Strukturen, die das lokale
elektrische Feld deutlich verstärken.
Mechanischer Stress und damit Risse entstehen aber auch bei thermischer
Beanspruchung durch unterschiedliche Ausdehnungskoeffizienten der
verwendeten Materialien. Durch die erfindungsgemäße Kopplung an die harte Schutzschicht
absorbiert nun die vergleichsweise elastische Grundschicht den mechanischen
Stress unabhängig
von seiner Quelle deutlich besser als dies die Schutzschicht als
Einzelschicht könnte.
Im Ergebnis wird die Rissbildung in der Grundschicht unterdrückt, während zugleich
die Schutzschicht die Grundschicht vor aggressiven Umwelteinflüssen schützt.
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Da
die Rissbildung unterdrückt
wird, werden Störsignale,
die durch das Eindringen flüssiger
oder gasförmiger
chemischer Substanzen auf die Bauteiloberfläche oder auch durch elektrischen
Kurzschluss der Leiterbahnen bewirkt werden können, vollständig unterbunden.
Dies ist Voraussetzung dafür,
dass das Bauteil mit integrierten Biomolekülen, organischen Molekülen oder
anorganischen Clustern zur Signalverarbeitung verwendet werden kann. Nach
dem Stand der Technik wird eine Rissbildung in der Grundschicht
und damit ein entsprechendes Störsignal
schlichtweg hingenommen, da die Stärke des Störsignals weit unterhalb der
Signalstärke
heutiger technischer Anwendungen liegt. Eine Rissbildung tritt bei
einem nur mit einer Schutzschicht ausgestatteten Bauteil nach dem
Stand der Technik regelmäßig auf
und lässt
sich insbesondere durch die nahe liegende Vergrößerung der Schichtdicke nicht verhindern.
Nano- oder molekularelektronische Bauelemente, wobei Moleküle oder
Nanopartikel durch Selbstorganisation aus der Lösung in die Bauelemente integriert
werden, mit wesentlich schwächeren Signalen
als in der heutigen Elektronik sind mit Bauteilen nach dem Stand
der Technik daher nicht möglich,
da sich die Signale von Molekülen
grundsätzlich mit
den Signalen aus Rissen überlagern.
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Die
Schutzschicht verbessert darüber
hinaus die Lebensdauer des Bauteils. Langkettige Polymere sind wesentlich
widerstandsfähiger
gegen aggressive Gase oder Flüssigkeiten,
wie beispielsweise Schwefelsäure
oder Salzsäure,
als kurzkettige Polymere. Zugleich decken gerade die kurzkettigen
Polymere in der Grundschicht kleinste Strukturen im Nanometerbereich
ideal dicht ab, wodurch die Haftung der Grundschicht verbessert
wird. Die erfindungsgemäße Kombination
zweier Polymere mit verschiedenen Kettenlängen vereint somit die guten
Haft- und Deckungseigenschaften kurzkettiger Polymere mit der Beständigkeit
langkettiger Polymere. Nach dem Stand der Technik gab es nur eine
Schutzschicht, für deren
Kettenlänge
ein Kompromiss gefunden werden musste.
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Die
Kettenlänge
der Polymeranteile lässt sich
beispielsweise mittels UV-Photospektrometrie am fertigen Bauteil überprüfen. Damit
ist auch in der Massenfertigung eine kostengünstige und effektive, ja sogar
berührungsfreie
Qualitätskontrolle
möglich.
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Vorteilhaft
besteht die Grundschicht aus einem Polymethylmethacrylat, während die
Schutzschicht aus einem anderen Polymethylmethacrylat besteht. Polymethylmethacrylate
(PMMA) sind in einer Vielzahl von Ausführungsformen als Fotolacke (Photoresists)
verfügbar.
Die Elastizitäten
zweier fester Substanzen dieser Klasse verhalten sich genauso wie
die Vis kositäten
dieser Substanzen im flüssigen Zustand
vor der Verarbeitung.
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Fotolacke
auf der Basis von Polymethylmethacrylat bieten darüber hinaus
den Vorteil, dass die Schichten in besonders einfacher Weise an
definierten Stellen durchbrochen werden können, um beispielsweise eine
metallische Struktur mit der Außenwelt
zu kontaktieren. Je nachdem, ob es sich um einen positiven oder
negativen Fotolack handelt, werden hierfür die Stellen belichtet, an
denen die Schicht erhalten bleiben beziehungsweise entfernt werden soll.
Durch Entwickeln des Fotolacks werden die durch die Belichtung als überflüssig gekennzeichneten
Stellen entfernt.
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Vorteilhaft
beträgt
die Dicke der Grundschicht mindestens das 1,3-fache der Höhe der Struktur.
Vorteilhaft ist die Schutzschicht mindestens doppelt so dick wie
die Grundschicht. Wie sich experimentell herausgestellt hat, bewirken
diese Maßnahmen
einzeln oder auch in Kombination, dass die Rissbildung besonders
zuverlässig
verhindert wird.
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In
einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist das Substrat
Silizium. Dieses kann zwecks elektrischer Isolation einen 100 nm
dicken, insbesondere einen mindestens 400 nm dicken Oberflächenbereich
aus Siliziumdioxid SiO2 aufweisen. Auf Silizium
beziehungsweise Siliziumdioxid haften sowohl die Grundschicht als
auch typische metallische Strukturen besonders gut.
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Um
den Einsatz für
zahlreiche andere Substrate zu eröffnen, kann die Adhesion zwischen
dem Substrat und der Grundschicht z.B. durch Haftvermittler (HMDS
= Hexamethyldisiloxan) verbessert werden. Somit ist die Anwendung
der hier beschriebenen Grund- und Schutzschichten ebenfalls z.B.
auf Indiumzinnoxid (ITO), Saphir, Galliumarsenid (GaAs) etc. möglich.
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In
einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung weist die
Struktur auf der dem Substrat zugewandten Seite eine Titanschicht
und auf der der Schutzschicht zugewandeten Seite eine Goldschicht auf.
Das Titan haftet besonders gut auf gängigen Substraten wie beispielsweise
Silizium. Gold ist dagegen ein sehr guter elektrischer Leiter, und
es ist ein Metall, das zum Kontaktieren von thiolgruppenhaltigen
Molekülen
geeignet ist. Zusätzlich
kann zwischen Titan- und Goldschicht eine Diffusionsbarriere aus
Platin angeordnet sein, die eine Diffusion des Goldes durch das
Titan in das Substrat verhindert.
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Im
Rahmen der Erfindung wurde ein Verfahren zum Aufbringen einer Anordnung
aus einer Grundschicht und einer Schutzschicht auf ein Bauteil entwickelt.
Bei diesem Verfahren werden sowohl das Material für die Grundschicht
als auch das Material für
die Schutzschicht nacheinander jeweils durch Spin-Coating aufgebracht
und verfestigt. Es wurde erkannt, dass dadurch ein Verbund der beiden
Materialien hergestellt werden kann, in dem sich vorteilhafte Eigenschaften
der Materialien miteinander kombinieren lassen. Beispielsweise kann
das Material der Grundschicht besonders gut auf dem Bauteil haften,
während
das Material der Schutzschicht besonders widerstandsfähig gegen
Umwelteinflüsse, wie
etwa aggressive Chemikalien, ist.
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Vorteilhaft
werden zwei Materialien gewählt, die
sich im flüssigen
Zustand in ihren Viskositäten
um einen Faktor von mindestens 2, insbesondere um einen Faktor von
mindestens 5, unterscheiden. Es wurde erkannt, dass Eigenschaften
der festen Phase von Beschichtungsmaterialien, wie beispielsweise
dichte Bedeckung auch kleinster Strukturen, mechanische Härte oder
Widerstandsfähigkeit
gegen Umwelteinflüsse,
häufig
mit deren Viskosität
im flüssigen
Zustand korrelieren. Gewünschte
unterschiedliche Eigenschaften innerhalb des Materialverbundes lassen sich
so besonders definiert und einfach herstellen.
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In
einer besonders vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung werden
zwei polymerhaltige Materialien und hier insbesondere zwei Materialien
aus der Klasse der Polymethylmethacrylate als Beschichtungsmaterialien
gewählt.
Diese Materialien sind in Form von Fotolacken (Photoresists) mit
einer großen Bandbreite
an Materialeigenschaften verfügbar.
Vorteilhaft ist speziell die Kombination dieser Materialien mit
der Wahl unterschiedlicher Viskositäten im flüssigen Zustand, da die Elastizität der Polymere
im festen Zustand mit der – Kettenlänge im flüssigen Zustand
korreliert ist. Herstellbar ist mit diesem Verfahren beispielsweise
ein Verbund aus einer gummiartigen Grundschicht, die gut mechanischen
Stress durch thermische oder elektrische Beanspruchung aufnimmt,
und einer harten Schutzschicht, die gegen Umwelteinflüsse resistent
ist. Eine solche Verbundschicht hat für Bauteile der Nano- und Molekularelektronik
den Vorteil, dass die verarbeiteten Signale nicht mehr durch Störsignale
beeinflusst werden, die durch an die Bauteiloberfläche gelangende
chemische Substanzen oder elektrische Kurzschlüsse ausgelöst werden. Die Grundschicht
deckt dabei auch kleinste Strukturen auf der Bauteiloberfläche dicht ab.
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Fotolacke
auf der Basis von Polymethylmethacrylat bieten darüber hinaus
den Vorteil, dass die Schichten in besonders einfacher Weise an
definierten Stellen durchbrochen werden können, um beispielsweise eine
metallische Struktur mit der Außenwelt
zu kontaktieren. Je nachdem, ob es sich um einen positiven oder
negativen Fotolack handelt, werden hierfür die Stellen belichtet, an
denen die Schicht erhalten bleiben beziehungsweise entfernt werden soll.
Durch Entwickeln des Fotolacks werden die durch die Belichtung als überflüssig gekennzeichneten
Stellen entfernt.
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Vorteilhaft
wird die Schutzschicht durch Ausbacken bei einer Temperatur von
200°C oder
mehr, insbesondere bei einer Temperatur von 250°C oder mehr, verfestigt. Diese
Temperatur liegt außerhalb des
Bereichs, den die Hersteller von Fotolacken auf Basis von Polymethylmethacrylat
für das
Ausbacken vorgeben. Sie bewirkt aber, dass die Schutzschicht besonders
widerstandsfähig
gegen aggressive Chemikalien wird.
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Spezieller
Beschreibungsteil
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Nachfolgend
wird der Gegenstand der Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels
näher erläutert, ohne
dass der Gegenstand der Erfindung dadurch beschränkt wird.
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Das
Substrat ist ein Silizium-Wafer, an dessen Oberfläche ein
400 nm dicker Bereich zwecks elektrischer Isolation zu Siliziumdioxid
SiO2 oxidiert ist.
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Auf
diesem Substrat werden Strukturen aufgebracht. Diese Strukturen
bestehen jeweils aus einer Schicht aus Titan, Platin und Gold. Titan
dient als Haftvermittler zum Silizium. Gold ist die eigentliche technische
Funktionsschicht. Platin dient als Diffusionsbarriere, damit das
Gold nicht durch das Titan in das Silizium diffundiert. Die Strukturen
sind insgesamt etwa 60 nm hoch.
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Zur
Beschichtung werden zwei Fotolacke der Firma Allresist GmbH verwendet.
Für die
Grundschicht wird der Fotolack AR-P 631.01 durch Spin-Coating mit
einer Umdrehungszahl von 5000 min–1 aufgeschleudert
und anschließend
zum Verfestigen für
eine Minute einer Temperatur von 100°C ausgesetzt. Für die Schutzschicht
wird der Fotolack AR-P 661.04 durch Spin-Coating mit einer Umdrehungszahl von
4000 min–1 aufgeschleudert
und anschließend
zum Verfestigen für
10 Minuten einer Temperatur von 250°C ausgesetzt.