DE102005026022A1 - Coordinate measuring device and method for measuring an object with a coordinate measuring machine - Google Patents
Coordinate measuring device and method for measuring an object with a coordinate measuring machine Download PDFInfo
- Publication number
- DE102005026022A1 DE102005026022A1 DE102005026022A DE102005026022A DE102005026022A1 DE 102005026022 A1 DE102005026022 A1 DE 102005026022A1 DE 102005026022 A DE102005026022 A DE 102005026022A DE 102005026022 A DE102005026022 A DE 102005026022A DE 102005026022 A1 DE102005026022 A1 DE 102005026022A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- sensor
- measuring machine
- coordinate measuring
- coordinate
- interferometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 53
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 22
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 15
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 5
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 claims description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 claims description 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 claims 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 claims 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000002996 emotional effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000010438 granite Substances 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
- G01B11/005—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
- G01B11/007—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/03—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring coordinates of points
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37193—Multicoordinate measuring system, machine, cmm
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37287—Fiber optic interferometer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf ein Koordinatenmessgerät (10) mit zumindest einem ein zu messendes Objekt (16) berührungslos antastenden optischen Sensor (32). Um hochpräzise kleine Dimensionen und Neigungen des Objekts messen zu können, wird vorgeschlagen, dass Austrittswinkel und/oder Winkelposition und/oder Länge des Messstrahlengangs des optischen Sensors (32) zur Erfassung gewünschter Strukturen des Objektes (16) anpassbar ist und dass die Messergebnisse für die unterschiedlichen Austrittswinkel und/oder Winkelpositionen und/oder Längen durch aufeinander Einmessen der optischen Sensoren in Bezug auf die unterschiedlichen Austrittswinkel und/oder Winkelpositionen und/oder Längen in einem einheitlichen Koordinatensystem zur Verfügung stellbar sind.The invention relates to a coordinate measuring machine (10) with at least one object (16) to be measured contactless optical sensor (32). In order to measure high-precision small dimensions and inclinations of the object, it is proposed that the exit angle and / or angular position and / or length of the measuring beam path of the optical sensor (32) for detecting desired structures of the object (16) is adaptable and that the measurement results for the different exit angles and / or angular positions and / or lengths by successive measurement of the optical sensors with respect to the different exit angles and / or angular positions and / or lengths in a uniform coordinate system are available.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Koordinatenmessgerät umfassend ein in zumindest zwei Koordinatenachsrichtungen bewegbares maschinengesteuertes Tastsystem mit einem ein zu messendes Objekt berührungslos antastenden optischen Sensor. Ferner bezieht sich die Erfindung auf ein Verfahren zum Messen eines Objektes mittels eines Koordinatenmessgerätes mit einem Tastsystem, das in zumindest zwei Koordinatenachsrichtungen maschinengesteuert bewegt wird und das Objekt berührungslos antastend optisch misst.The The invention relates to a coordinate measuring machine comprising a machine-controlled one movable in at least two coordinate axis directions Touch probe with an object to be measured non-contact scanning optical Sensor. Furthermore, the invention relates to a method for Measuring an object by means of a coordinate measuring machine with a touch probe, which in at least two coordinate axis directions machine-controlled is moved and the object non-contact probing visually measures.
Koordinatenmessgeräte dienen zum Messen geometrischer Merkmale von Werkstücken wie Länge, Durchmesser, Winkel, Winkligkeit und Parallelität. Fast alle Geräteformen basieren auf kartesisch angeordneten Koordinatenachsen mit linearen Maßstäben. Messschlitten in den Achsen werden dabei entweder manuell oder durch einen Motor bewegt. An einer der Achsen, meist an der senkrechten Z-Achse (Pinole), ist ein Sensor zum Aufnehmen von Messpunkten angebracht. Im Falle eines taktilen Sensors werden bei jeder Berührung des Tasters mit dem Objekt die Position der drei Messschlitten ausgelesen und daraus die Punktkoordinaten auf der Oberfläche des Messobjekts ermittelt. Optoelektronische Sensoren wie z. B. Bildverarbeitungssensoren verfügen üblicherweise über einen eigenen meist zweidimensionalen Messbereich. Mit solchen Sensoren ist es möglich, mehrere Punkte eines Objektmerkmals ohne Bewegung in den Koordinatenachsen gleichzeitig zu messen. Auch sind Multisensorkoordinatenmessgeräte bekannt, die es ermöglichen, mit mehr als einem Sensor ein Objekt zu messen. Als Sensoren kommen grundsätzlich optische, taktile und optotaktile Sensoren in Frage (DE.Z. Christoph, Ralf et. al: Multisensor-Koordinatenmesstechnik, Die Bibliothek der Technik, Band 248).Coordinate measuring devices are used for measuring geometric features of workpieces such as length, diameter, angle, angularity and parallelism. Almost all device forms are based on Cartesian coordinate axes with linear Standards. measuring slide in the axes are doing either manually or by a motor emotional. On one of the axes, usually on the vertical Z-axis (quill), There is a sensor for recording measuring points. In the event of of a tactile sensor will be on each touch of the button with the object the position of the three measuring carriages are read out and from this the point coordinates on the surface of the DUT. Optoelectronic sensors such. B. Image sensors usually have one own usually two-dimensional measuring range. With such sensors Is it possible, multiple points of an object feature without motion in the coordinate axes to measure at the same time. Also, multi-sensor coordinate measuring machines are known, that make it possible with more than one sensor to measure an object. As sensors come in principle optical, tactile and optotactile sensors in question (DE.Z. Christoph, Ralf et. al: multi-sensor coordinate metrology, The Library of Technology, Volume 248).
Aus dem Stand der Technik sind Multisensorkoordinatenmessgeräte bekannt, die einen Videotaster und einen Lasertaster, die beide auf einem gemeinsamen Strahlengang zur Erfassung eines gleichen Messpunktes auf dem Werkstück eingerichtet sind, sowie einen taktil arbeitenden Sensor umfassen (DE-C-38 06 686).Out In the prior art, multisensor coordinate measuring machines are known, a video button and a laser probe, both on one common beam path for detecting a same measuring point on the workpiece and a tactile sensor (DE-C-38 06 686).
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Koordinatenmessgerät sowie ein Verfahren zum Messen eines Objektes der eingangs genannten Art so weiterzubilden, dass ein Einsatz für vielfältige Messaufgaben möglich ist, wobei hochpräzise auch kleine Dimensionen gemessen werden sollen. Dabei sollen die Messungen schnell und genau durchführbar sein.task The present invention is a coordinate measuring machine and a method for measuring an object of the type mentioned so to further develop that a use for a variety of measuring tasks is possible being highly precise even small dimensions should be measured. It should be the Measurements must be fast and accurate.
Zur Lösung des Problems sieht die Erfindung im Wesentlichen vor, dass der optische Sensor ein nach dem Funktionsprinzip eines Interferometers arbeitender punktförmig wirkender Abstandssensor ist.to solution the problem essentially provides that the optical Sensor works according to the principle of operation of an interferometer punctual acting distance sensor is.
Erfindungsgemäß wird in ein Koordinatenmessgerät ein optischer Sensor integriert, bei dem durch interferometrische Auswertung von dem Objekt reflektierte Strahlung ausgewertet wird. Dabei wird insbesondere teilkohärentes Licht verwendet.According to the invention is in a coordinate measuring machine integrated an optical sensor in which by interferometric Evaluation of the object reflected radiation is evaluated. In particular, it becomes partially coherent Light used.
Neben dem nach dem Funktionsprinzip eines Interferometers arbeitenden Sensors – kurz Interferometer-Sensor genannt – können in dem Koordinatenmessgerät weitere Sensoren der Koordinatemesstechnik wie berührende Sensoren und/oder Bildverarbeitung und/oder Laser und/oder taktil-optischer Fasertaster und/oder messender Taster und/oder schaltender Taster und/oder Laserabstandssensor integriert werden. Dabei können die in das Koordinatenmessgerät eingebundenen Sensoren in ihren Positionen aufeinander eingemessen werden und die Messergebnisse in einem einheitlichen Koordinatensystem zur Verfügung gestellt werden.Next the working principle of an interferometer Sensors - in short Interferometer sensor called - can in the coordinate measuring machine Further sensors of the coordinate measuring technique like touching sensors and / or image processing and / or laser and / or tactile-optical Fiber probe and / or measuring probe and / or switching probe and / or laser distance sensor are integrated. The can in the coordinate measuring machine integrated sensors are measured in their positions on each other and the measurement results in a uniform coordinate system to disposal be put.
Um eine optimale Anpassung an die Messaufgaben zu ermöglichen, ist vorgesehen, dass der Interferometer-Sensor auswechselbar gestaltete Lichtleiter aufweist, über die der optische Strahl zum Messort geführt wird. Der optische Leiter kann auch als Messleiter oder Messnadel bezeichnet werden. Dabei können die Austrittswinkel des Sensorstrahlengangs aus den Messleitern unterschiedlich gestaltet werden. Insbesondere ist vorgesehen, dass die Austrittswinkel der Messleiter derart gestaltet sind, dass unter Berücksichtigung der Aperturwinkeln der Sensoren in Frage kommende Oberflächenneigungen der Messobjekte im Bereich von 0° bis 90° oder 0° bis 180° erfasst werden.Around to allow optimal adaptation to the measuring tasks It is envisaged that the interferometer sensor interchangeable fiber optics has, over the optical beam is guided to the measuring location. The optical conductor can also be referred to as a measuring conductor or measuring needle. there can the exit angles of the sensor beam path from the measuring conductors be designed differently. In particular, it is provided that the exit angles of the measuring conductors are designed such that under consideration the aperture angles of the sensors are suitable surface slopes of the measuring objects in the range of 0 ° to 90 ° or 0 ° to 180 ° detected become.
Des Weiteren besteht die Möglichkeit, dass die Messleiter um die Messleiterachse rotierbar angeordnet werden.Of There is also the possibility the measuring conductors are rotatable about the measuring conductor axis become.
Die physikalisch wirksame Rotationsachse der Messnadel wird durch Einmessen des Sensors an einem kalibrierten Normal bestimmt und beim Einsatz des Sensors sodann korrigierend berücksichtigt. Als Einmessnormal können kalibrierte Ringe und/oder kalibrierte Kugeln zum Einsatz gelangen.The physically effective axis of rotation of the measuring needle is by measuring the sensor is determined on a calibrated normal and in use then taken into account correcting the sensor. As a calibration standard can calibrated rings and / or calibrated balls are used.
Die Absolutposition der Sensorkennlinie innerhalb des Koordinatenmessgerätes wird bevorzugterweise für jede Winkelstellung durch Messung der Position eines kalibrierten Normals eingemessen.The Absolute position of the sensor characteristic within the coordinate measuring machine preferably for every angular position by measuring the position of a calibrated Calibrated normals.
Für ausgewählte Winkelstellungen wird die Absolutposition der Sensorkennlinie bestimmt, um beim späteren Messen für dazwischen liegende Winkelpositionen die Sensorkennlinien-Position durch Interpolation zu ermitteln.For selected angular positions, the Absolute position of the sensor characteristic curve is determined in order to determine the sensor characteristic position by interpolation during later measuring for intermediate angular positions.
Der Interferometer-Sensor wird bevorzugterweise über ein Dreh- oder Drehschwenkgelenk mit dem Koordinatenmessgerät verbunden, wobei der Schwenkpunkt des Dreh- oder Drehschwenkgelenks nahe am Antastpunkt des Sensors oder im Antastpunkt des Sensors selbst angeordnet werden sollte.Of the Interferometer sensor is preferably via a rotary or rotary pivot with the coordinate measuring machine connected, wherein the pivot point of the rotary or rotary pivot joint close at the touch point of the sensor or in the touch point of the sensor itself should be arranged.
Systematische Messfehler, die in ihrer Größe von der Winkelneigung zwischen Sensor-Messachse (optische Achse) und Materialoberfläche abhängig sind, werden dadurch korrigiert, dass die Abweichung zuvor durch Messung eines Normals im Koordinatenmessgerät bei Bestimmung der Abweichung gespeichert wird, um anschließend beim Messen von Werkstücken mit dem Sensor korrigierend berücksichtigt zu werden. Neigungswinkelab hängige Fehler können durch Messen eines Kugelnormals erfasst werden. Alternativ können Messungen an geneigten Ebenen erfolgen. Auch besteht die Möglichkeit, neigungsabhängige Fehler durch Verkippen einer Messfläche mit einer im Koordinatenmessgerät integrierten Dreh- oder Drehsschwenkachse zu messen.systematic Measuring errors that vary in size from the Angle inclination between sensor measuring axis (optical Axis) and material surface are dependent be corrected by the deviation previously by measurement a normal stored in the coordinate measuring machine in determining the deviation will be to afterwards when measuring workpieces taken into account correcting with the sensor to become. Inclination angle dependent Errors can be detected by measuring a ball standard. Alternatively, measurements done on inclined levels. There is also the possibility of tilt-dependent errors by tilting a measuring surface with one in the coordinate measuring machine integrated rotary or rotary pivot axis to measure.
Als Kalibriernormal kommt auch ein polygonförmiges Objekt mit zugehöriger Kalibrierung in Frage.When Calibration standard also comes a polygonal object with associated calibration in question.
Die Messleiter sind bevorzugterweise über eine Wechselschnittstelle auswechselbar ausgebildet. Dabei können auswechselbare Messleiter über ein Tasterwechselmagazin eines Koordinatenmessgerätes ein- und ausgewechselt werden. Dabei kann die mechanische Schnittstelle des Tasterwechselmagazins anderer verwendeter Sensoren, insbesondere taktiler Sensoren entsprechen, so dass insoweit eine Kompatibilität gegeben ist.The Measuring conductors are preferably via an exchange interface designed exchangeable. Interchangeable measuring conductors can be connected via a Switching magazine of a coordinate measuring machine switched on and off become. The mechanical interface of the probe change magazine can do this correspond to other sensors used, in particular tactile sensors, so that in this respect compatibility is given.
Mit verschiedenen Messleitern eingesetzte, mit verschiedenen Winkeln gemessene Punkte im Koordinatenmessgerät werden zu einer Gesamtkontur zusammengeführt, wobei die eingemessenen Positionen des Sensors im Koordinatenmessgerät berücksichtigt werden.With different measuring conductors used, with different angles Measured points in the coordinate measuring machine become an overall contour merged, taking into account the measured positions of the sensor in the coordinate measuring machine become.
Ferner besteht die Möglichkeit, die Konturen durch Messpunkte zu ergänzen, die mit anderen Sensoren des Koordinatenmessgerätes erfasst werden. Mit anderen Worten kann die Gesamtkontur aus Messpunkten ermittelt werden, die von unterschiedlichen Sensoren ermittelt werden.Further it is possible, To complement the contours with measuring points that are compatible with other sensors of the coordinate measuring machine be recorded. In other words, the overall contour can be made up of measuring points determined by different sensors.
In Weiterbildung der Erfindung wird vorgeschlagen, dass mit dem interferometrischen Sensor im Koordinatenmessgerät Konturen nach dem Scanning-Prinzip erfasst werden, indem ein oder mehrere Koordinatenachsen des Koordinatenmessgerätes der durch den Sensor detektierten Auslenkung nachgeregelt werden, so dass sich der angetastete Materialoberflächenpunkt in etwa in der Mitte der Sensorkennlinie befindet.In Further development of the invention is proposed that with the interferometric Sensor in the coordinate measuring machine Contours can be captured by the scanning principle by a or a plurality of coordinate axes of the coordinate measuring device of the detected by the sensor Deflection are readjusted, so that the touched material surface point is located approximately in the middle of the sensor characteristic.
Es besteht auch die Möglichkeit, dass mit verschiedenen Messleitern Teilkonturen gescannt werden, die sodann zu einer Gesamtkontur zusammengefügt werden.It there is also the possibility that partial contours are scanned with different measuring conductors, which are then joined together to form an overall contour.
Des Weiteren kann der gesamte Interferometer-Sensor über eine Sensorwechselschnittstelle gegen andere Sensoren wie taktile Sensoren oder Bildverarbeitungssensoren ausgewechselt werden. Beim Scanning mit dem Interferometer-Sensor kann eine Bewegung in einer zusätzlichen Zustellachse gleichzeitig während des Scanning-Betriebs ausgeführt werden und mit einer weiteren Zustellachse gleichzeitig tangential oder annähernd tangential zur Materialoberfläche bewegt werden, um mehrdimensionale Konturen auf der Materialoberfläche zu scannen. Dabei kann die Zustellbewegung mäanderförmig erfolgen. Andere Verfahrwege wie Schraubenlinie und/oder Spirallinie sind gleichfalls möglich.Of Furthermore, the entire interferometer sensor via a sensor change interface against other sensors such as tactile sensors or image processing sensors be replaced. When scanning with the interferometer sensor can be a movement in an additional Delivery axis simultaneously during of the scanning operation and tangential with another infeed axis at the same time or approximate tangential to the material surface be moved to scan multidimensional contours on the material surface. The delivery movement can be meandering. Other travel paths such as helix and / or spiral line are also possible.
Die Kennlinie des Interferometer-Sensors für verschiedene Werkstückoberflächenarten wird mit den Achsen des Koordinatenmessgerätes eingemessen, wobei die Messwerte bestimmten Verfahrpositionen der Koordinatenachsen zugeordnet werden.The Characteristic curve of the interferometer sensor for different workpiece surface types is measured with the axes of the coordinate measuring machine, wherein the Measured values assigned to certain travel positions of the coordinate axes become.
Die Einstellparameter für den Scanning-Betrieb des Koordinatenmessgerätes werden für verschiedene Werkstückoberflächen abgespeichert und beim Scanning eingesetzt.The Setting parameters for The scanning operation of the coordinate measuring machine will be for various Workpiece surfaces stored and used during scanning.
Die Auswahl der geeigneten Regelparameter für die Scanning-Steuerung wird aus dem Ergebnis des Einmessvorganges der Kennlinie des Sensors an der konkreten Materialoberfläche abgeleitet.The Selection of suitable control parameters for the scanning control will be from the result of the calibration process of the characteristic curve of the sensor on the concrete material surface derived.
Zusätzlich zu den Messpunkten, die mit dem Interferometer-Sensor gemessen werden, können Punkte mit einem anderen z. B. taktilen oder Bildverarbeitungssensor gemessen werden, um sodann die mit dem Interferometer-Sensor gemessene Punktwolke durch die mit dem anderen Sensor gemessenen Punkte geometrisch zu korrigieren.In addition to the measurement points measured with the interferometer sensor can score with another z. B. tactile or image processing sensor measured and then the point cloud measured by the interferometer sensor through the measured with the other sensor points geometrically correct.
Die Sensoren können unabhängig voneinander und/oder entlang verschiedener Achsen verstellt werden.The Sensors can independently be adjusted from each other and / or along different axes.
Zum Vermessen kann das Messobjekt durch Dreh- oder Dreh-Schwenkachsen während der Messung zu dem Interferometer-Sensor herumgedreht oder geschwenkt werden, um eine optimale Ausrichtung des optischen Strahls zu erzielen.To the The measuring object can be measured by rotary or rotary swivel axes while the measurement turned to the interferometer sensor or pivoted to achieve optimal alignment of the optical beam.
Insbesondere wird das Messobjekt über eine Dreh- oder Dreh-Schwenkachse während des Scanning-Vorgangs mit dem Interferometer-Sensor automatisch in eine optimale Winkellage für den Scanning-Betrieb eingeschwenkt oder gedreht, wobei typischerweise Messpunktnormale und optische Achse des Messstrahls parallel zueinander verlaufen.Especially the measuring object is over a rotary or rotary pivot axis during the scanning process with the interferometer sensor automatically in an optimal angular position for the Scanning operation pivoted or rotated, being typical Measuring point normal and optical axis of the measuring beam parallel to each other run.
Der Sollwert für das Eindrehen oder Einschwenken des Messobjektes sollte eine 90°-Stellung zwischen der aus benachbarten Messpunkten gebildeten Scanning-Linie und dem Sensorstrahlengang sein. Auch kann der Sollwert für das Eindrehen oder Einschwenken des Messobjekts eine 90°-Stellung zwischen der aus benachbarten Messpunkten gebildeten Scanning-Linie und der optischen Messachse sein. Dabei kann die Richtung der Scanning-Linie durch Ausgleichsrechnung aus zwei oder mehreren Messpunkten erfolgen.Of the Setpoint for screwing in or swiveling in the test object should have a 90 ° position between the scanning line formed from adjacent measuring points and the Be sensor beam path. Also, the setpoint for screwing or Swinging the test object in a 90 ° position between the adjacent ones Measuring points formed scanning line and the optical measuring axis be. In this case, the direction of the scanning line by compensation calculation of two or several measuring points.
Um insbesondere eine optimale Ausrichtung des Interferometer-Sensors bzw. dessen Mess- oder Lichtleiter und damit die optische Achse des Messstrahls zum Objekt bzw. zu messenden Bereich wie Rohr, Loch etc. zu ermöglichen, ist vorgesehen, dass bei der Messung im Zusammenspiel zwischen Sensor und Koordinatenmessgerät Konturlinien am zu messenden Merkmal in zumindest zwei unterschiedlichen Höhen gemessen werden und hieraus die Sollvorgabe für einen durch Dreh- oder Drehschwenkachse ausgeführtes Senkrechtstellen des Messobjektmerkmals zum Sensorstrahlengang und/oder parallel zur Messleiterachse abgeleitet wird.Around in particular an optimal alignment of the interferometer sensor or its measuring or light guide and thus the optical axis of the measuring beam to the object or area to be measured, such as pipe, hole etc. to allow is provided that in the measurement in the interaction between sensor and coordinate measuring machine Contour lines on the feature to be measured in at least two different Heights measured and from this the target specification for a rotary or rotary pivot axis executed Vertical positions of the measurement object feature to the sensor beam path and / or is derived parallel to the measuring conductor axis.
Befindet sich auf dem zu messenden Werkstück eine Verschmutzung wie Ö1, Wasser oder ähnliche Stoffe ist vorgesehen, dass bei der Messung mit dem Interferometer-Sensor entsprechende Verschmutzungen dadurch aus dem Messergebnis ausgeblendet werden, dass bei der Messung von mehr als einer Schicht mit dem Interferometer-Sensor jeweils die vom Sensor am weitesten entfernt liegende Schicht zur Messung berücksichtigt wird.is on the workpiece to be measured a pollution like Ö1, Water or similar Substances are provided that when measured with the interferometer sensor corresponding contaminants thereby faded out of the measurement result be that when measuring more than one layer with the Interferometer sensor farthest from the sensor lying layer considered for measurement becomes.
Ein Verfahren zum Messen eines Objekts mittels eines Koordinatenmessgerätes unter Verwendung eines in zumindest zwei Koordinatenachsrichtungen vorzugsweise automatisch bewegbaren Tastsystems mit einem ein zu messendes Objekt berührungslos antastenden optischen Sensor zeichnet sich dadurch aus, dass als Sensor ein punktförmig wirkender Abstandssensor nach dem Funktionsprinzip eines Interferometers in das Koordinatenmess gerät integriert wird. Dabei ist insbesondere vorgesehen, dass der nach dem Funktionsprinzip des Interferometers arbeitende optische Sensor (Interferometer-Sensor) unter Verwendung von teilkohärentem Licht eingesetzt wird.One Method for measuring an object using a coordinate measuring machine at Use of a in at least two coordinate axis directions preferably automatically movable probe system with an object to be measured contactless scanning optical sensor is characterized in that as Sensor a punctiform acting Distance sensor according to the principle of operation of an interferometer in the coordinate measuring device is integrated. It is provided in particular that the after the functional principle of the interferometer working optical sensor (Interferometer sensor) using partially coherent light is used.
Insbesondere sieht die Erfindung vor, dass neben dem Interferometer-Sensor weitere Sensoren der Koordinatenmesstechnik, wie berührende Sensoren und/oder Bildverarbeitung und/oder Laser und/oder taktil-optischer Fasertaster und/oder messende Taster und/oder schaltende Taster und/oder Laserabstandssensoren in das Koordinatenmessgerät integriert werden.Especially the invention provides that in addition to the interferometer sensor more Coordinate metrology sensors, such as contacting sensors and / or image processing and / or laser and / or tactile-optical fiber probe and / or measuring Pushbuttons and / or switching pushbuttons and / or laser distance sensors in the coordinate measuring machine to get integrated.
Losgelöst hiervon sollten die Sensoren unabhängig voneinander und/oder entlang verschiedener Achsen verstellt werden.Detached from this the sensors should be independent be adjusted from each other and / or along different axes.
Weiterbildungen ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.further developments arise from the dependent ones Claims.
Weitere Einzelheiten, Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich nicht nur aus den Ansprüchen, den diesen zu entnehmenden Merkmalen – für sich und/oder in Kombination –, sondern auch aus der nachfolgenden Beschreibung eines der Zeichnung zu entnehmenden bevorzugten Ausführungsbeispiels.Further Details, advantages and features of the invention do not arise only from the claims, the characteristics to be taken from these - alone and / or in combination - but also to be taken from the following description of one of the drawing preferred embodiment.
In
der einzigen Figur ist rein prinzipiell ein Koordinatenmessgerät
Entlang
dem Grundrahmen
Die
Pinole oder Säule
Ist
in der Darstellung der Lichtleiter
Claims (80)
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102005026022A DE102005026022A1 (en) | 2005-06-03 | 2005-06-03 | Coordinate measuring device and method for measuring an object with a coordinate measuring machine |
| PCT/EP2006/005355 WO2006128733A2 (en) | 2005-06-03 | 2006-06-06 | Coordinate measuring unit and method for measuring an object with a coordinate measuring unit |
| DE112006001423.4T DE112006001423B4 (en) | 2005-06-03 | 2006-06-06 | Coordinate measuring machine and method for measuring an object with a coordinate measuring machine |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102005026022A DE102005026022A1 (en) | 2005-06-03 | 2005-06-03 | Coordinate measuring device and method for measuring an object with a coordinate measuring machine |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102005026022A1 true DE102005026022A1 (en) | 2006-12-07 |
Family
ID=37198451
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE102005026022A Withdrawn DE102005026022A1 (en) | 2005-06-03 | 2005-06-03 | Coordinate measuring device and method for measuring an object with a coordinate measuring machine |
| DE112006001423.4T Expired - Fee Related DE112006001423B4 (en) | 2005-06-03 | 2006-06-06 | Coordinate measuring machine and method for measuring an object with a coordinate measuring machine |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE112006001423.4T Expired - Fee Related DE112006001423B4 (en) | 2005-06-03 | 2006-06-06 | Coordinate measuring machine and method for measuring an object with a coordinate measuring machine |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (2) | DE102005026022A1 (en) |
| WO (1) | WO2006128733A2 (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2037214A1 (en) * | 2007-09-14 | 2009-03-18 | Leica Geosystems AG | Method and measuring device for measuring surfaces |
| DE102010046902A1 (en) * | 2010-09-29 | 2012-03-29 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Operation method of particle beam microscope e.g. electron microscope, involves determining surface model of microscope structure depending on light beams emanating from structure, and position and orientation of surface model |
| CN102543640A (en) * | 2010-09-29 | 2012-07-04 | 卡尔蔡司Nts有限责任公司 | Particle beam microscope and method for operating the particle beam microscope |
| US8227752B1 (en) | 2011-02-17 | 2012-07-24 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Method of operating a scanning electron microscope |
| US8487252B2 (en) | 2010-09-29 | 2013-07-16 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Particle beam microscope and method for operating the particle beam microscope |
| WO2014191016A1 (en) | 2013-05-27 | 2014-12-04 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Device and method for calibrating a coordinate-measuring device |
| CN110057338A (en) * | 2019-05-24 | 2019-07-26 | 福建工程学院 | A kind of adaptive setting method of Workpiece zero point based on duplex measurement |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102007003059A1 (en) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Technische Universität Ilmenau | Objective focusing method for optical length measuring technology |
| DE102007024197B4 (en) | 2007-05-24 | 2017-01-05 | Robert Bosch Gmbh | Device and method for measuring the shape of free-form surfaces |
| WO2010108365A1 (en) * | 2009-03-24 | 2010-09-30 | Harbin Institute Of Technology | Micro focal-length collimation based micro-cavity measuring method and detecting equipment thereof |
| US8817240B2 (en) | 2012-05-25 | 2014-08-26 | Mitutoyo Corporation | Interchangeable optics configuration for a chromatic range sensor optical pen |
| US11159784B2 (en) | 2014-10-23 | 2021-10-26 | Cognex Corporation | System and method for calibrating a vision system with respect to a touch probe |
| GB201702391D0 (en) | 2017-02-14 | 2017-03-29 | Renishaw Plc | Surface sensing device |
| CN114667432A (en) * | 2019-09-18 | 2022-06-24 | 德弗里茨自动化公司 | Non-contact optical measuring device and interchangeable optical probe |
| DE102020208835B4 (en) * | 2020-07-15 | 2024-07-25 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Probing operations on a coordinate measuring machine with distance determination |
| CN112848822B (en) * | 2021-02-25 | 2022-12-09 | 清华大学 | Wire drawing device for measuring included angle between trailer head and container and measuring method thereof |
| CN115568063B (en) * | 2021-07-02 | 2025-11-28 | 北京天地融物联技术有限公司 | Intelligent lamp control pairing system and method |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8624191D0 (en) * | 1986-10-08 | 1986-11-12 | Renishaw Plc | Datuming of analogue measurement probes |
| DE3806686A1 (en) * | 1988-03-02 | 1989-09-14 | Wegu Messtechnik | MULTICOORDINATE MEASURING AND TESTING DEVICE |
| JP2001515236A (en) * | 1997-09-04 | 2001-09-18 | ダイナログ インコーポレイテッド | Method for calibrating a robot inspection system |
| US6441910B1 (en) * | 1998-05-29 | 2002-08-27 | Werth Messtechnik Gmbh | System for measuring structures of an object |
| DE20008721U1 (en) * | 2000-05-16 | 2000-08-17 | Werth Messtechnik GmbH, 35394 Gießen | Optical coordinate measuring device |
| DE10131779B4 (en) * | 2000-07-07 | 2006-05-11 | Robert Bosch Gmbh | Interferometric short coherent shape measuring device for valve seat surfaces has beam splitter to form object beam guided over optical path to object and reference beam guided to reference plane |
| DE10131780A1 (en) * | 2000-07-07 | 2002-03-07 | Bosch Gmbh Robert | Interferometric measuring device |
| WO2002027269A1 (en) * | 2000-09-28 | 2002-04-04 | Carl Zeiss | Calibration of a measuring sensor on an appliance for measuring co-ordinates by means of a ball and two parameter fields |
| DE10240292A1 (en) * | 2002-08-31 | 2004-03-18 | Carl Mahr Holding Gmbh | Combination feeler for metrology and surface coordinate measurement of workpieces, wherein a feeler carrier is positioned by a drive motor and supports a number of different mechanical or non-contact feeler elements |
| DE10260256B9 (en) * | 2002-12-20 | 2007-03-01 | Carl Zeiss | Interferometer system and measuring / machining tool |
| DE10331966A1 (en) * | 2003-07-15 | 2005-02-03 | Robert Bosch Gmbh | Optical measuring device |
-
2005
- 2005-06-03 DE DE102005026022A patent/DE102005026022A1/en not_active Withdrawn
-
2006
- 2006-06-06 DE DE112006001423.4T patent/DE112006001423B4/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-06-06 WO PCT/EP2006/005355 patent/WO2006128733A2/en not_active Ceased
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101802542B (en) * | 2007-09-14 | 2012-07-04 | 莱卡地球系统公开股份有限公司 | Method and measuring device for gauging surfaces |
| WO2009036861A1 (en) * | 2007-09-14 | 2009-03-26 | Leica Geosystems Ag | Method and measuring device for gauging surfaces |
| AU2008300962B2 (en) * | 2007-09-14 | 2011-04-28 | Leica Geosystems Ag | Method and measuring device for gauging surfaces |
| EP2037214A1 (en) * | 2007-09-14 | 2009-03-18 | Leica Geosystems AG | Method and measuring device for measuring surfaces |
| US9127929B2 (en) | 2007-09-14 | 2015-09-08 | Leica Geosystems Ag | Method and measuring device for gauging surfaces |
| DE102010046902A1 (en) * | 2010-09-29 | 2012-03-29 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Operation method of particle beam microscope e.g. electron microscope, involves determining surface model of microscope structure depending on light beams emanating from structure, and position and orientation of surface model |
| US8487252B2 (en) | 2010-09-29 | 2013-07-16 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Particle beam microscope and method for operating the particle beam microscope |
| CN102543640A (en) * | 2010-09-29 | 2012-07-04 | 卡尔蔡司Nts有限责任公司 | Particle beam microscope and method for operating the particle beam microscope |
| DE102010046902B4 (en) * | 2010-09-29 | 2015-09-17 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Particle beam microscope and method for operating this |
| CN102543640B (en) * | 2010-09-29 | 2016-09-28 | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 | Particle beam microscopy and the method for operation particle beam microscopy |
| US8227752B1 (en) | 2011-02-17 | 2012-07-24 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Method of operating a scanning electron microscope |
| WO2014191016A1 (en) | 2013-05-27 | 2014-12-04 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Device and method for calibrating a coordinate-measuring device |
| US10345101B2 (en) | 2013-05-27 | 2019-07-09 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Device and method for calibrating a coordinate-measuring device |
| CN110057338A (en) * | 2019-05-24 | 2019-07-26 | 福建工程学院 | A kind of adaptive setting method of Workpiece zero point based on duplex measurement |
| CN110057338B (en) * | 2019-05-24 | 2021-04-20 | 福建工程学院 | An adaptive setting method of workpiece origin based on compound measurement |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE112006001423B4 (en) | 2021-06-24 |
| DE112006001423A5 (en) | 2008-04-10 |
| WO2006128733A2 (en) | 2006-12-07 |
| WO2006128733A3 (en) | 2007-01-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1407224B1 (en) | Method for measuring surface properties and co-ordinate measuring device | |
| DE102005026022A1 (en) | Coordinate measuring device and method for measuring an object with a coordinate measuring machine | |
| EP2844953B1 (en) | Method for determining the axis of a turntable of a coordinate measuring device | |
| DE102015217637B4 (en) | Operation of a confocal white light sensor on a coordinate measuring machine and arrangement | |
| EP2762832B1 (en) | Optical single-point measurement | |
| EP1846729A1 (en) | Coordinate measuring device and method for measuring with a coordinate measuring device | |
| DE102008024444B4 (en) | Method and device for calibrating a coordinate measuring machine | |
| WO2015036026A1 (en) | Method and apparatus for measuring internal threads of a workpiece having an optical sensor | |
| DE102014112396B4 (en) | Procedure for single-point probing of a workpiece and coordinate measuring machine | |
| DE102017126198B4 (en) | Method and system for gaugeless measurement of a thread | |
| WO2004055475A2 (en) | Method for measuring a contour of a workpiece by scanning | |
| DE19639780A1 (en) | Combined optical and mechanical measuring instrument for workpieces | |
| EP3314203A1 (en) | Adapter element for assembling a rotational apparatus in the measurement space of a coordinate measuring machine | |
| DE4421302C1 (en) | Measurement of roll angle of axis in coordinate measurement machine | |
| EP3435032A1 (en) | Optical roughness sensor for a coordinate measuring machine | |
| EP0771406B1 (en) | Device and process for measuring and calculating geometrical parameters of an object | |
| DE102013208397B4 (en) | Coordinate measuring machine with an additional, non-contact measuring surface measuring device | |
| EP1528354B1 (en) | Method and apparatus for measuring of an object by using a coordinate measuring machine | |
| DE102017205519A1 (en) | Measuring probe and measuring probe system | |
| DE102015205569A1 (en) | Calibration of a moving part of a CMM or a tactile button attached to it | |
| EP1512940A2 (en) | Apparatus and method for measuring components | |
| DE102020103500A1 (en) | Method and device for measuring the roughness and waviness of a surface of a workpiece | |
| DE102015205566A1 (en) | Calibration of a tactile button attached to a moving part of a CMM | |
| AT398246B (en) | DEVICE FOR CONTROLLING THE GEOMETRIC AND DYNAMIC ACCURACY OF AN NC CONTROLLED WORK HEAD | |
| DE10319711A1 (en) | High accuracy interferometric object measurement procedure uses rotary table and additional adjustment on coordinate measuring machine to align measurement and laser axes |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8143 | Withdrawn due to claiming internal priority |