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DE102004054280A1 - Vorrichtung und Verfahren für eine verbesserte Wafertransportumgebung - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren für eine verbesserte Wafertransportumgebung Download PDF

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Publication number
DE102004054280A1
DE102004054280A1 DE102004054280A DE102004054280A DE102004054280A1 DE 102004054280 A1 DE102004054280 A1 DE 102004054280A1 DE 102004054280 A DE102004054280 A DE 102004054280A DE 102004054280 A DE102004054280 A DE 102004054280A DE 102004054280 A1 DE102004054280 A1 DE 102004054280A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
door
container
foup
wafer
wafer transfer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE102004054280A
Other languages
English (en)
Inventor
Hyeog-Ki Kim
Kun-Hyung Suwon Lee
Ok-Sun Suwon Lee
Ki-Doo Kim
Chang-Min Cho
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of DE102004054280A1 publication Critical patent/DE102004054280A1/de
Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10P72/50
    • H10P72/0402
    • H10P72/3406
    • H10P72/3408

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)

Abstract

Es ist ein verbessertes Wafertransfergerät offenbart, welches die Möglichkeit bietet, die Umgebungsatmosphäre innerhalb einer modifizierten, vorne offenen vereinheitlichten Schale (pod) ("FOUP") zu modifizieren, während die FOUP an einer Beladungsstation positioniert ist, die an einem Front-Ende-Modul ("EFEM") der Ausrüstung vorgesehen ist. Speziell enthält das Wafertransfergerät sowohl eine Injektionsanordnung als auch eine Austraganordnung, die in Eingriff oder Angriff gelangt, wenn die Tür der FOUP an einem Türhalter angedockt wird, der an der EFEM vorgesehen ist. Die Injektionsanordnung kann einen Massenströmungscontroller ("MFC") enthalten, um die Injektion eines Spülgases oder von Spülgasen in den Behälter zu steuern. In ähnlicher Weise kann die Austragsanordnnung einen MFC enthalten, um das Entfernen des Strömungsmittels aus dem Behälter zu steuern. Während die Tür an den Türhalter angedockt ist, kann ein Inertgas oder können weniger reaktive Gase in den Behälter eingeleitet werden, um dadurch die Wahrscheinlichkeit einer Oxidation und Verunreinigung der Wafer in demselben zu reduzieren.

Description

  • QUERVERWEIS AUF IN BEZIEHUNG STEHENDE ANMELDUNGEN
  • Diese nicht provisorische US-Patentanmeldung beansprucht die Priorität gemäß 35 U.S.C. § 119 aus der koreanischen Patentanmeldung 2003-79859, die am 12. November 2003 eingereicht wurde, deren Inhalte hier unter Hinweis voll mit einbezogen werden.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren für den Transport von Halbleitersubstraten innerhalb eines reinen Raumes und die Überführung von Wafern zu und den Empfang von Wafern von einer automatisierten Verarbeitungsausrüstung, und betrifft spezieller eine Vorrichtung mit einer Beladungsöffnung zum Öffnen/Schließen einer Tür, die an einem Behälter vorgesehen ist, in welchen Halbleitersubstrate geladen werden, und ein Verfahren zum Füllen des Innenraumes des Behälters mit einem ausgewählten Gas oder einer Gasmischung, um die Umgebung zu verbessern, welcher die Wafer während des Transportes und der Speicherung ausgesetzt werden.
  • Erläuterung des Standes der Technik
  • Es werden herkömmliche Halbleiterherstellungsprozesse in großen reinen Räumen durchgeführt und es werden dabei allgemein offene Waferbehälter verwendet, um die Wafer zu speichern und innerhalb des reinen Raumes zu übertragen. In den letzten Jahren wurden bei einer Anstrengung, um die Kosten bei der Aufrechterhaltung einer Umgebung eines großen reinen Raumes zu reduzieren, Herstellungsausrüstungen entwickelt, bei welchen ein hoher Grad einer Reinheit erforderlich ist, und zwar lediglich bei ausgewählten Bereichen, wie beispielsweise innerhalb der Prozeßausrüstung, und bei zugeordneten Waferhandhabungsoperationen, während ein etwas geringerer Grad an Reinheit bei anderen Abschnitten der Ausrüstungen annehmbar war. Abgedichtete Waferbehälter wurden in typischer Weise dazu verwendet, um die Wafer gegenüber atmosphärischen Fremdsubstanzen oder chemischen Verunreinigungen abzuschirmen, wenn die Wafer durch solche Bereiche hindurch überführt wurden, und zwar unter Aufrechterhaltung eines niedrigen Reinheitsgrades. Ein typisches Beispiel eines abgedichteten Waferbehälters ist eine vorne offene vereinheitlichte Schale oder Behältnis (pod) (im folgenden als "FOUP" bezeichnet).
  • Da der Durchmesser der Wafer fortwährend zunimmt, wie beispielsweise von 200 mm auf 300 mm, werden Halbleiterchips zunehmend unter Verwendung von automatisierten Systemen hergestellt, und zwar zum Teil einfach auf Grund des Gewichtes der Wafer und deren Behälter. Um den Halbleiterherstellungsprozeß zu automatisieren und einen Betrieb in einer reinen Raumumgebung zu erreichen, wurde ein Front-Ende-Modul (im folgenden als "EFEM" bezeichnet) bei der Ausrüstung verwendet. Der EFEM ist mit einem Prozeßgerät verbunden, um die Wafer von einem FOUP zu dem Prozeßgerät und umgekehrt zu transferieren.
  • Eine Beladungsöffnung, die in solch einer EFEM-Ausrüstung verwendet wird, ist in dem US-Patent Nr. 6,473,996 offenbart. Wenn ein FOUP an einer Station an der Beladungsöffnung plaziert wird, so wird die FOUP-Tür durch einen Türöffner geöffnet und es werden die Wafer aus der FOUP entfernt, und zwar für eine Übertragung zu einer Prozeßausrüstung. Nachdem die Verarbeitung vervollständigt worden ist, werden die verarbeiteten Wafer in den FOUP zurückgeführt und es wird die FOUP-Tür verschlossen, um die Wafer innerhalb des FOUP abzudichten, bevor sie von der EFEM-Station entfernt werden, und um sie vor Verunreinigungen in der äußeren Umgebung zu schützen. Obwohl die Luft, die in die EFEM-Ausrüstung einströmt, gefiltert wird, enthält sie dennoch Moleküle und gasförmige Verunreinigungen, wie beispielsweise Sauerstoff, Wasser und Ozon. Somit sind diese Verunreinigungen in dem abgedichteten FOUP vorhanden und können eine Waferoberfläche oxidieren oder sich an der Waferoberfläche in einer Weise binden, daß eine Interferenz mit nachfolgenden Prozessen stattfinden kann oder in anderer Weise der endgültige Durchsatz guter Halbleiterprodukte abgesenkt wird.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Als Beispiel gewählte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung betreffen ein Gerät und ein Verfahren zum Unterdrücken der Ausbildung von ursprünglichen Oxidschichten oder anderen Defekten auf einem Wafer, die aus Verunreinigungen innerhalb des FOUP resultieren. Bei einer beispielhaften Ausführungsform enthält die Vorrichtung eine Beladungsöffnung und einen Behälter zur Aufnahme von Halbleitersubstraten. Der Behälter ist mit einer Tür ausgestattet, in welcher wenigstens eine Einströmöffnung oder eine Einlaßöffnung ausgebildet ist. Die Beladungsöffnung besitzt eine Station, an welcher der Behälter positioniert werden kann, und einen Türöffner zum Öffnen/Schließen der Tür. Der Türöffner enthält einen Türhalter, der mit der Tür verbunden werden kann, wenn der Behälter geöffnet und geschlossen wird. Eine Injektionsanordnung ist an oder innerhalb des Türhalters angeordnet. Die Injektionsanordnung injiziert Gas durch die Einströmöffnung in den Behälter, um die Innenseite des Behälters mit dem Gas zu füllen, während die Tür mit dem Türhalter verbunden ist oder an diesen angedockt ist.
  • Die Injektionsanordnung enthält eine Injektionsöffnung, die so ausgebildet und positioniert ist, daß sie mit dem Einströmloch kooperiert, wenn die Tür mit dem Türhalter verbunden wird oder an diesen angedockt wird. Die Injektionsanordnung enthält auch ein Zuführrohr, welches mit der Injektionsöffnung verbunden ist, um Gas der Injektionsöffnung zuzuführen, und kann einen Massenströmungsregler enthalten, welcher in dem Zuführrohr installiert ist. Die Injektionsöffnung kann auch so konfiguriert sein, daß Gas in einer Richtung injiziert wird oder eine Gasströmung verursacht wird, die allgemein parallel zu den Halbleitersubstraten verläuft, die in den Behälter geladen werden.
  • Es kann in die Einströmöffnung ein Filter eingesetzt werden, der das Einführen von externen Teilchen in den Behälter reduziert oder verhindert, und es kann auch eine Einströmöffnungs-Öffnungs-/Schließanordnung zum Öffnen/Schließen der Einströmöffnung vorgesehen sein. Die Einströmöffnungs-Öffnungs-/Schließanordnung enthält eine Befestigung, die mit der Strömungsöffnung gekoppelt ist und nach innen zu der Einströmöffnung vorragt, und enthält eine Isolierplatte zum Öffnen/Schließen eines Strömungspfades durch die Befestigung hindurch, und einen elastischen Körper, der mit der Isolationsplatte verbunden ist und so angeordnet ist, um auf die Isolationsplatte eine Kraft aufzubringen, die danach strebt, eine geschlossene Position aufrechtzuerhalten. Ein Kanal für das Gas kann am Zentrum der Befestigung ausgebildet sein. Die Isolationsplatte kann innerhalb der Befestigung durch den Druck des Gases entfernt werden, welches von dem Injektionsteil zugeführt wird.
  • Es ist ein Ausströmloch an der Tür vorgesehen und es ist eine Auslaßanordnung an dem Türhalter vorgesehen, um einen Auslaßpfad für das Strömungsmittel zu schaffen, welches in dem Behälter enthalten ist. Das Gas in dem Behälter kann durch die Ausströmöffnung entfernt werden und auch durch die Ausströmanordnung, während die Tür an den Türhalter angedockt ist. Die Auslaßanordnung enthält eine Auslaßöffnung, die aus einem Loch besteht, welches an dem Türhalter ausgebildet ist, einem Auslaßrohr, welches mit der Auslaßöffnung verbunden ist, und aus einer Pumpe oder einer anderen Vakuumquelle, die mit dem Auslaßrohr verbunden ist.
  • Eine Auslaßöffnungs-Öffnungs-/Schließanordnung zum Öffnen/Schließen der Ausströmöffnung oder Ausströmloches ist benachbart dem Ausströmloch vorgesehen. Die Ausströmloch-Öffnungs-/Schließanordnung enthält eine vorragende Platte, die mit der Ausströmöffnung oder dem Ausströmloch verbunden ist und nach innen zu der Ausströmöffnung oder dem Ausströmloch vorragt, eine Isolierplatte zum Öffnen/Schließen einer sich bewegenden Platte der vorspringenden Platte, und einen elastischen Körper, der mit der Isolationsplatte verbunden ist, um eine Kraft aufzubringen, die danach strebt, die Isolationsplatte in einer geschlossenen Position zu halten. Ein Luftkanal kann durch das Zentrum der vorspringenden Platte ausgebildet sein, wenn die Isolationsplatte von der vorspringenden Platte getrennt ist, was mit Hilfe eines Vakuums oder Unterdruckes erreicht wird, der durch die Pumpe oder den Druck innerhalb des Behälters angelegt wird.
  • Die Injektionsöffnung kann an einer Seite des Türhalters ausgebildet sein und die Auslaßöffnung ist in einer anderen Zone versetzt von der Injektionsöffnung ausgebildet. Die Injektionsöffnung kann eine Vielzahl von Injektionsöffnungen umfassen, die in unterschiedlichen Höhen oder in einem ersten Muster angeordnet sind. Der Türbefestigungsteil kann dafür vorgesehen sein, um die Orientierung der Tür zu fixieren und aufrechtzuerhalten und auch von dem Türhalter, während das Gas in den Behälter injiziert wird und/oder aus diesem evakuiert wird. Das Türbefestigungsteil kann Unterdrucklöcher umfassen, die an der Fläche der Tür und/oder dem Türhalter ausgebildet sind, durch die ein Unterdruck aufgebracht werden kann, um die relative Position der Tür und des Türhalters festzuhalten.
  • Bei einer als Beispiel gewählten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung enthält ein Substratverarbeitungsgerät eine Behälter, der Halbleitersubstrate aufnimmt und der eine Tür und ein Handhabungssystem besitzt, welches die Möglichkeit bietet, die Substrate zwischen dem Behälter und einem Verarbeitungsgerät zu transferieren und auch eine Beladungsöffnung aufweist, die eine Station enthält, an der der Behälter positioniert sein kann. Wenigstens ein Einströmloch und wenigstens ein Ausströmloch sind durch die Behältertür hindurch ausgebildet. Die Beladungsöffnung enthält einen Türhalter, der eine Injektionsöffnung vorsieht, um Stickstoffgas und/oder ein anderes Inertgas in den Behälter zu injizieren, und enthält eine Auslaßöffnung zum Auslassen des Strömungsmittels von dem Behälter, die in Eingriff gelangt, wenn der Türhalter an die Tür angedockt ist. Das Stickstoffgas oder Inertgas, welches von der Injektionsöffnung aus injiziert wird, gelangt in den Behälter durch die Einströmöffnung der Tür, während das Strömungsmittel innerhalb des Behälters durch die Ausströmöffnung der Tür und die Auslaßöffnung ausgetragen wird.
  • Bei einer als Beispiel gewählten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfaßt ein Substratverarbeitungsverfahren das Andocken der Tür eines leeren Behälters an eine Beladungsöffnung mit einem Türhalter, der die Tür von dem Behälter trennt, das Überführen der Substrate in den Behälter, zurückstellen der Tür an dem Behälter und das Injizieren von Gas in den Behälter durch eine Einströmöffnung oder Einströmöffnungen, die in der Tür ausgebildet sind, um den Behälter mit einem nichtreaktiven Gas zu füllen.
  • Der Schritt gemäß dem Füllvorgang des Behälters mit Gas kann sowohl das Injizieren des Gases in den Behälter von der Injektionsöffnung aus durch die Einströmöffnung hindurch als auch gleichzeitig das Auslassen des Strömungsmittels aus dem Behälter durch eine Ausströmöffnung umfassen, die an der Tür ausgebildet ist, und einen zweiten Schritt umfassen gemäß Schließen der Ausströmöffnung und Injizieren eines zusätzlichen Gases in den Behälter von dem Injektionsteil aus durch die Einströmöffnung, um die Innenseite des Behälters mit Gas zu füllen.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden anhand von beispielhaften Ausführungsformen unter Hinweis auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, in welchen ähnliche Bezugszeichen dafür verwendet sind, um ähnliche oder entsprechende Elemente anzugeben, in welchen zeigen:
  • 1 eine Querschnittsansicht eines Substratbehandlungsgerätes gemäß einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 2 eine perspektivische Ansicht eines FOUP, der in 1 gezeigt ist;
  • 3 eine perspektivische Ansicht einer Beladungsöffnung, die in 1 gezeigt ist;
  • 4 eine Frontansicht einer FOUP-Tür;
  • 5 ein schematisches Diagramm eines Türöffners;
  • 6 ist eine Frontansicht eines Türhalters, bei dem ein Unterdruckloch ausgebildet ist;
  • 7 eine Querschnittsansicht eines Abschnitts, bei dem ein Einströmloch oder Einströmöffnung an der FOUP-Tür ausgebildet ist;
  • 8 und 9 Querschnittsansichten, welche Zustände veranschaulichen, bei denen die Einströmöffnung der FOUP-Tür geöffnet bzw. geschlossen ist;
  • 10 eine Querschnittsansicht eines Abschnitts, an welchem eine Ausströmöffnung an der FOUP-Tür ausgebildet ist;
  • 11 und 12 Querschnittsansichten, die jeweils einen Strömungspfad des Gases in dem FOUP darstellen;
  • 13 ein Flußdiagramm eines Substratbehandlungsverfahrens gemäß einer als Beispiel gewählten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 14 bis 16 Querschnittsansichten, welche Schritte gemäß einem Füllvorgang der Innenseite des FOUP mit Gas wiedergeben; und
  • 17 eine Querschnittsansicht, die ein Beispiel zeigt, bei dem ein Substratbehandlungsgerät gemäß der vorliegenden Erfindung mit einer Reinigungseinrichtung verbunden ist.
  • Die Zeichnungen sind zu dem Zweck vorgesehen, das Verständnis der als Beispiel gewählten Ausführungsformen der Erfindung zu unterstützen, die weiter unten mehr in Einzelheiten beschrieben werden und nicht so zu interpretieren sind, daß sie die Erfindung einschränken. Insbesondere sind die relativen Abstände, Positionierungen, Bemessungen und Abmaße der verschiedenen Elemente, die in den Zeichnungen dargestellt sind, nicht maßstabsgetreu gezeichnet und sind zum Teil übertrieben dargestellt, verkleinert dargestellt oder anderweitig modifiziert, und zwar zum Zwecke der Verbesserung der Übersichtlichkeit. Fachleute auf dem vorliegenden Gebiet können jedoch erkennen, daß bestimmte alternative Konstruktionen und Mechanismen allgemein verwendet werden können, und zwar beim Betrieb der FOUP- und der EFEM-Strukturen, die weggelassen wurden, um die Klarheit zu verbessern und um die Zahl der Zeichnungen zu reduzieren.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ALS BEISPIEL GEWÄHLTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Wie in 1 veranschaulicht ist, enthält eine Substratbehandlungs- oder Prozeßvorrichtung 1 einen Behälter 100, ein Waferhandhabungssystem 20 und einen Spülteil (in 5 mit 500 bezeichnet). Der Behälter 100 bildet ein Behältnis, welches so konfiguriert ist, um Halbleitersubstrate, wie z.B. Siliziumwafer, aufzunehmen, und besteht in typischer Weise aus einer vereinheitlichten Schale (pod) mit offener Front (die im folgenden als "FOUP" bezeichnet wird). Die FOUP bildet einen abdichtbaren Waferträger, der zum Abschirmen der Wafer gegenüber der Atmosphäre und/oder gegenüber chemi schen Verunreinigungen verwendet wird, während die Wafer zwischen der Verarbeitungsausrüstung und Speicherbereichen transferiert werden.
  • Wie in 2 veranschaulicht ist, kann die FOUP 100 einen vorne offenen Körper 120 und eine Tür 140 enthalten, um die Front des Körpers 120 zu öffnen/zu schließen. Es sind in typischer Weise parallele Schlitze 160 an den Innenwänden des Körpers 120 ausgebildet, um Wafer innerhalb der FOUP abzustützen und voneinander zu trennen. Die Schlitze 160 können im wesentlichen senkrecht zu einer Ebene verlaufen, die durch die Tür 140 definiert ist.
  • Das Waferhandhabungssystem 20 kann dazu verwendet werden, um Wafer von der FOUP 100 zu der Prozeßausrüstung oder dem Prozeßgerät 700 und umgekehrt zu transferieren. Das Waferhandhabungssystem 20 kann ein Gehäuse 300, eine Beladungsöffnung 200, einen Reinigungsteil 600 und einen oder mehrere Transferroboter 660 enthalten. Das Prozeßgerät 700 kann beispielsweise aus einem chemischen Dampfniederschlagsgerät (CVD), einem Trockenätzgerät, einem Thermalofen, einem Entwicklungsgerät oder einem Reinigungsgerät bestehen. Das Gehäuse 300 enthält in typischer Weise eine Eintrags- oder Durchschiebeöffnung 322, die in einer rückwärtigen Wand zum Transferieren eines Wafers aus dem Gehäuse heraus und in und aus dem Prozeßgerät 700 hinein bzw. heraus ausgebildet ist, und auch eine andere Öffnung, die in der Frontwand 340 ausgebildet ist, um die Wafer in die FOUP 100 zu transferieren und aus dieser heraus zu transferieren.
  • Der Reinigungsteil 600 kann in einem oberen Abschnitt in dem Gehäuse 300 angeordnet sein, um die Innenseite des Gehäuses 300 auf einem gewünschten Reinheitswert zu halten. Der Reinigungsteil 600 kann einen Lüfter 640 und ein Filter 620 enthalten. Der Lüfter 640 ist dafür in typischer Weise ausgebildet, um Luft nach unten durch das Gehäuse 300 in einer laminaren Strömung zu fördern, wobei das Filter 620 Teilchen aus der Luft entfernt, bevor diese in das Gehäuse eintritt. Eine Auslaßöffnung 360 zum Auslassen der Luft kann am Boden des Gehäuses 300 vorgesehen sein. Die Luft kann in natürlicher Weise oder zwangsweise ausgetragen werden, und zwar unter Verwendung einer Pumpe oder eines Gebläses (nicht gezeigt). Ein Transferroboter 660, der zum Extrahieren der Wafer aus der FOUP 100 und zum Zurückführen der Wafer verwendet wird und der die Wafer in das Prozeßgerät 700 hineinbewegt und aus diesem herausbewegt, kann durch einen Controller 680 gesteuert werden.
  • Wie in 3 veranschaulicht ist, kann die Beladungsöffnung 200 einen im wesentlichen vertikalen Rahmen 220, einen Sockel 240, eine Station 260 und einen Türöffner (in 1 mit 400 bezeichnet) enthalten. Der vertikale Rahmen 220 kann in eine Öffnung eingeführt werden, die in der Frontwand 340 ausgebildet ist, um die Innenseite des Gehäuses 300 gegenüber der äußeren Umgebung abzudichten. Der Sockel 240 ist mit einer lateralen Seite des vertikalen Rahmens 220 gekoppelt. Ein Durchgangsloch (222 in 1) kann in dem vertikalen Rahmen 220 positioniert sein, um die Tür 140 aufzunehmen, wenn ein FOUP 100 auf den Sockel 240 plaziert wird. Eine Station 260 ist auf dem Sockel 240 vorgesehen, um die FOUP 100 aufzunehmen, und kann eine Vielzahl an kinematischen Stiften 262 enthalten. Wenn die FOUP 100 auf der Station 260 plaziert wird, werden die kinematischen Stifte 262 in entsprechende Nuten oder Ausnehmungen (nicht gezeigt) eingeführt, die am Boden der FOUP 100 ausgebildet sind, die auf die Station 260 positioniert wird.
  • Der Türöffner 400 kann dann dazu verwendet werden, um die Tür 140 der FOUP 100, die auf die Station 260 plaziert wurde, zu öffnen und zu schließen. Wie veranschaulicht ist, kann der Türöffner 400 einen Türhalter 420, einen Arm (440 in 1) und einen Antriebsmechanismus (nicht gezeigt) enthalten. Der Türhalter 420 kann die gleiche allgemeine Konfiguration wie das Durchgangsloch 222 aufweisen und kann in das Durchgangsloch eingeführt werden. Der Arm 440 wird in typischer Weise an eine rückwärtige Seite des Türhalters 420 angeschlossen und wird mit Hilfe eines Antriebsmechanismus angetrieben, der auf dem Sockel 240 montiert ist.
  • Ein Verriegelungsschlüssel 422 und Registrierungsstifte 424 sind an dem Türhalter 420 vorgesehen. Die Registrierungsstifte 424 unterstützen die Präzision bei der Positionierung der FOUP 100, um die Tür 140 mit dem Türhalter 420 auszurichten, und die Verriegelungsschlüssel 422 können auf beiden Seiten des Türhalters 420 vorgesehen sein. Gemäß 4 sind an der Tür 140 Registrierungsstiftlöcher 144 und Verriegelungsschlüssellöcher 142 ausgebildet. Die Registrierungsstifte 424 werden in die entsprechenden Registrierungsstiftlöcher 144 eingeführt und die Verriegelungsschlüssel 422 werden in die entsprechenden Verriegelungsschlüssellöcher 142 eingeführt.
  • Wenn eine FOUP 100 auf der Station 260 plaziert wird und zu dem Türhalter 420 hinbewegt wird, der in dem Durchgangsloch des vertikalen Rahmens 220 frei liegt, so gleiten die Registrierungsstifte 424 in die Registrierungsstiftlöcher 144 hinein und bestimmen die Andockposition zwischen der Tür 140 und dem Türhalter 420. Die Verriegelungsschlüssel 422, die gleichzeitig in die entsprechenden Verriegelungsschlüssellöcher 142 eingeführt werden, werden dann gedreht, um die Tür 140 an den Türhalter 420 anzudocken und an diesem zu sichern. Der Arm 440 wird in typischer Weise mit einer rückwärtigen Seite des Türhalters 420 verbunden und kann in einer Aufwärts- und Abwärtsrichtung und in einer Vorwärts- und Rückwärtsrichtung mit Hilfe des Antriebsteiles bewegt werden, der auf dem Sockel 240 montiert ist. Wenn die Tür 140 geöffnet wird, das heißt entfernt wird, und zwar von der FOUP 100, erlaubt es der Arm 440, daß der Türhalter 420 um eine vorbestimmte Strecke zurückbewegt werden kann und dann nach unten auf eine Höhe, die in typischer Weise unter der Höhe des Durchgangsloches 220 liegt, wobei die Tür 140 von dem Körper 120 der FOUP 100 getrennt wird und wobei Zugang zum Inneren des Behälters ermöglicht wird. Wenn Wafer in der FOUP 100 mit Hilfe des Transferroboters 660 plaziert wurden, kann der Türhalter 420 seine Bewegungen umkehren und sich nach oben hin und nach vorwärts hinbewegen, um die Tür 140 an dem Körper 120 der FOUP zu verbinden oder zurückzustellen.
  • Bevor die Tür 140 geschlossen wird, kann Luft, die in dem Gehäuse 300 vorhanden ist, in typischer Weise in die FOUP 100 eintreten. Obwohl die meisten Teilchen mit Hilfe des Filters 620 entfernt worden sind, kann die Luft in dem Gehäuse 600 dennoch molekulare Verunreinigungen, wie beispielsweise Oxide, Wasser und Ozon, enthalten. Wenn die FOUP 100 abgedichtet wird, während solche molekularen Verunreinigungen in dem Behälter zurückbleiben, so können sich auf den Wafern, die in die FOUP geladen wurden, ursprüngliche Oxidschichten oder andere Defektstellen ausbilden.
  • Um die Ausbildung einer ursprünglichen Oxidschicht zu verhindern, trägt der Reinigungsteil 500 ein Strömungsmittel aus der FOUP 100 aus und füllt die Innenseite der FOUP 100 mit einem ausgewählten Gas, wie beispielsweise Stickstoff, trockene Luft oder Inertgas wie Ar oder Xe. Wie in 5 veranschaulicht ist, kann der Reinigung- oder Spülteil 500 einen Injektionsteil 520 enthalten, um Stickstoff oder ein anderes Gas in die FOUP 100 zu injizieren, und einen Austragteil 540 enthalten, um das Strömungsmittel aus der FOUP auszutragen. Der Injektionsteil 520 und der Austragteil 540 sind an dem Türhalter 420 angeordnet. Der Injektionsteil 520 kann eine Injektionsöffnung 522 und ein Versorgungsrohr 524 enthalten, während der Austragteil 540 eine Austragöffnung 542 und ein Austragrohr 544 enthalten kann.
  • Die Injektionsöffnung 522 kann aus einem Loch bestehen, welches an einem Randabschnitt des Türhalters 420 ausgebildet ist, während die Austragöffnung 542 aus einem Loch bestehen kann, welches in einem anderen Randabschnitt versetzt von der Injektionsöffnung vorgesehen sein kann. Die Injektionsöffnung 522 kann eine Vielzahl von Injektionsöffnungen umfassen, die an unterschiedlichen Höhen positioniert sind. In ähnlicher Weise kann die Auslaßöffnung 542 eine Vielzahl von Auslaßöffnungen umfassen, wobei die Zahl der Auslaßöffnungen dahingehend tendiert, gleich zu sein mit derjenigen Zahl der Injektionsöffnungen, und kann an den gleichen oder an unterschiedlichen Höhen gegenüber den Injektionsöffnungen positioniert sein. Die Positionen der Injektionsöffnung oder Injektionsöffnungen 522 und der Auslaßöffnung oder Auslaßöffnungen 542 können bzw. kann so angeordnet sein, um die Möglichkeit zu schaffen, daß Stickstoffgas oder ein anderes Spülgas in die FOUP 100 einströmt, und zwar unter Bedingungen, die eine turbulente Strömung hervorrufen und/oder eine laminare Strömung innerhalb des Behälters bewirken.
  • Ein Versorgungsrohr 524 kann zwischen einer oder mehreren Stickstoffgas- oder anderen Spülgasquellen 528 und der Injektionsöffnung 522 angeschlossen sein, während ein Austragrohr 544 dafür verwendet werden kann, um die Pumpe 548 mit der Austragöffnung 542 zu verbinden. Sowohl das Versorgungsrohr 524 als auch das Austragrohr 544 können aus rostfreiem Stahl, Kunststoff oder einem anderen geeigneten Material bzw. Materialien hergestellt sein, und zwar in solcher Weise, daß der Türhalter 420 durch den Arm 440 zurück positioniert werden kann, während die Gasverbindungen aufrecht erhalten werden. Es können Massenströmungscontroller (MFCs) 526 und 546 an dem Versorgungsrohr 524 bzw. an dem Auslaßrohr 544 vorgesehen sein. Der MFC 526 kann dazu verwendet werden, um die Menge des Stickstoffgases oder anderen Gases oder anderer Gase zu steuern, die der Injektionsöffnung 522 zugeführt werden, und der MFC 546 kann dazu verwendet werden, um die Menge des Gases zu steuern, die aus dem Behälter entfernt wird. Optional können Rohrleitungen in die Injektionsöffnung 522 und/oder Austragöffnung 542 eingeführt werden.
  • Wenn die FOUP-Tür 140 von dem FOUP-Körper 120 getrennt wird, wird der Verriegelungsschlüssel 422 des Türhalters 420 in das Verriegelungsschlüsselloch 142 der Tür 140 eingeführt, wodurch die Tür 140 an den Türhalter 420 angedockt ist. Ein Türbefestigungsteil ist dafür vorgesehen, um zu verhindern, daß die FOUP-Tür 140 schwingt, während Stickstoffgas oder ein anderes Spülgas in die FOUP 100 injiziert wird. Der Türbefestigungsteil kann die FOUP-Tür 140 an dem Türhalter 420 mit Hilfe eines Unterdruckes festhalten. Wie in 6 veranschaulicht ist, können ein oder mehrere Unterdrucklöcher 426 an der Fläche des Türhalters 420 ausgebildet sein. Eine Vakuumpumpe (nicht gezeigt) ist mit dem Unterdruckloch oder Unterdrucklöchern 426 verbunden, um eine Verbindung zu einer Vakuumpumpe (nicht gezeigt) herzustellen, und um die Möglichkeit zu schaffen, einen Unterdruck an der Türfläche 140 benachbart den Unterdrucklöchern aufzubringen.
  • Es kann ein Einströmloch 146 durch die Tür 140 hindurch vorgesehen sein, um die Möglichkeit zu schaffen, Stickstoffgas oder ein anderes Spülgas, welches von der Injektionsöffnung 522 aus injiziert wird, in die FOUP 100 einströmen zu lassen. Das Einströmloch 146 ist so positioniert, daß es mit der Injektionsöffnung 522 ausgerichtet ist und mit dieser zusammenarbeitet, wenn die Tür 140 an den Türhalter 420 angedockt ist.
  • Wie in 7 veranschaulicht ist, kann ein Filter 160 und ein Einströmöffnungs-Schließ-/Öffnungsteil 180 innerhalb der jeweiligen Einströmlöcher 146 angeordnet sein. Der Filter 160 hat die Aufgabe, Teilchen zu reduzieren, oder zu verhindern, daß Teilchen in die FOUP 100 durch die Einströmöffnung bzw. das Einströmloch 146 hineinströmen. Der Einströmloch-Schließ-/Öffnen-Teil 180 öffnet und schließt einen Kanal für das Gas durch die FOUP-Tür 140. Der Einströmloch-Öffnen-/Schließ-Teil 180 öffnet das Einströmloch 146, während das Gas injiziert wird, und verschließt das Einströmloch 146, wenn die Gasinjektion vervollständigt worden ist.
  • Das Einströmloch 146 kann kreisförmig ausgebildet sein, und zwar mit einem Vorsprung 147, der an dem rückwärtigen Ende des Einströmloches 146 ausgebildet ist. Der Einströmloch-Öffnen-/Schließ-Teil 180 kann eine Befestigung 184, eine vorspringende Platte 182, eine Isolierplatte 186 und einen elastischen Körper oder Federelement 188 enthalten. Die vorspringende Platte 182 kann aus einer kreisförmigen Platte mit einem zentralen Durchgangsloch 189b bestehen, die so ausgebildet ist, daß sie mit dem Vorsprung 147 zusammenarbeitet. Die Befestigung 184 kann allgemein zylinderförmig ausgebildet sein und enthält eine Seitenplatte 184a und eine obere und untere Platte 184b. Die Seitenplatte 184a haftet allgemein dicht an einer Seitenwand des Einströmloches 146 an, und zwar konform mit dieser Öffnung und dicht anliegend, und erstreckt sich von dem Rand der vorspringenden Platte 182 zum Frontende des Einströmloches 146. Die obere Platte 184b besitzt ein Durchgangsloch 189c, welches am Zentrum derselben ausgebildet ist. Diese Durchgangslöcher 189a, 189b und 189c arbeiten zusammen, um einen Durchgang für das Gas in den Behälter vorzusehen, und können auch die gleiche allgemeine Größe und Gestalt aufweisen.
  • Die Isolationsplatte 186 ist in typischer Weise so konfiguriert, um das Durchgangsloch 189c zu öffnen/zu verschließen und ist in typischer Weise in einem Raum 183 innerhalb der Befestigung 184 und der vorspringenden Platte 182 angeordnet. Die Isolationsplatte 186 kann aus einer kreisförmigen Platte bestehen, die sowohl weiter oder breiter ist als das Durchgangsloch 189c und schmaler ist als der Innenraum, der durch die Seitenplatte 184a definiert ist. Der elastische Körper oder das Federelement 188 bringen eine Kraft auf die Isolationsplatte 186 auf, die dazu neigt, diese gegen die Innenfläche der oberen Platte 184b zu drücken. Ein Ende des elastischen Körpers 188 kann mit einem feststehenden Stift oder einer anderen Festhaltevorrichtung 187 gekuppelt sein, die an der rückwärtigen Fläche der Isolationsplatte 186 installiert ist, wobei das andere Ende mit einem feststehenden Stift oder einer anderen Festhaltevorrichtung 185 gekuppelt sein kann, die an einer Innenfläche der vorspringenden Platte 182 vorgesehen ist. Alternativ kann der elastische Körper auch so angeordnet sein, daß er innerhalb des Raumes 183 "schwimmt". Der elastische Körper 188 kann Serien von Federn enthalten, die in regulären Intervallen um den Umfang der Isolationsplatte 186 herum angeordnet sind, oder kann aus einer einzelnen Feder oder einem elastomeren Element bestehen. Wenn die Isolationsplatte 186 gegen die obere Platte 184b der Befestigung 184 ansitzt, sollte sich der elastische Körper 188 in einem Gleichgewichtszustand befinden oder sollte geringfügig in einem zusammengedrückten Zustand sein, um die verschlossene Position aufrecht zu erhalten.
  • Der geöffnete und geschlossene Zustand des Einströmloches 146 der Tür 140 sind jeweils in 8 und 9 veranschaulicht. Wie in 8 veranschaulicht ist, wird dann, wenn Gas mit einem ausreichenden Druck über dem Druck innerhalb des Behälters von der Injektionsöffnung 522 zugeführt wird, der elastische Körper 188 zusammengedrückt und die Isolationsplatte 186 bewegt sich von der oberen Platte 184b der Befestigung 184 zurück oder rückwärts. Das unter Druck stehende Gas strömt dann in das Einströmloch 146, und zwar durch die Öffnung, die zwischen der Isolationsplatte 186 und der oberen Platte 184b der Befestigung 184 ausgebildet ist. Danach strömt das Gas entlang dem Durchgangsloch 189b der vorspringenden Platte 182, durch den Filter 160 und das Durchgangsloch 189a des Vorsprunges 147. Wenn der aufgebrachte Druck des Gases reduziert wird, neigt die Isolationsplatte 186 dazu, sich vorwärts oder nach vorne hin zu bewegen, und zwar als ein Ergebnis der Kraft, die durch die Feder 188 aufgebracht wird. Wenn die Druckdifferenz unter einen bestimmten Wert abfällt, wird die Isolationsplatte erneut gegen die obere Platte 184b in Anlage gebracht, um den Gasdurchgang durch das Einströmloch 146 zu schließen, wie in 9 dargestellt ist.
  • Bevor die Atmosphäre innerhalb der FOUP 100 in eine Stickstoffgasatmosphäre oder Spülgasatmosphäre umgewandelt wird, muß das Strömungsmittel, welches sich ursprünglich in der FOUP 100 befindet (in typischer Weise Luft in der FOUP 100 mit Sauerstoff, Wasser oder anderen Zusammensetzungen, die durch einen Wafer mitgeführt werden), entfernt werden. Das Strömungsmittel in der FOUP 100 kann über den Auslaßteil 540 entfernt werden, der in dem Türhalter 420 vorgesehen ist. Für diesen Zweck ist eine Ausströmöffnung oder Ausströmloch 148 in der Tür 140 ausgebildet. Das Ausströmloch 148 ist so angeordnet, daß es mit der Austragöffnung 424 ausgerichtet ist, wenn die Tür 140 an den Türhalter 420 angedockt ist.
  • Ein Filter 170 und ein Ausströmloch-Öffnen-/Schließ-Teil 190 können in das Ausströmloch 148 eingeführt werden. Der Filter 170 verhindert, daß Verunreinigungen in die FOUP 100 durch den Auslaßteil 540 hineinströmen können. Der Ausströmloch-Öffnen-/Schließ-Teil 190 öffnet und schließt einen Durchgang durch das Ausströmloch 148, durch welches das Strömungsmittel, welches in der FOUP 100 enthalten ist, ausgetragen oder entlüftet werden kann. Der Ausströmloch-Öffnen-/Schließ-Teil 190 öffnet das Ausströmloch 148, während das Strömungsmittel in der FOUP 100 ausgetragen wird, und schließt dann die Ausströmöffnung oder das Ausströmloch 148, um die Umgebung aus Stickstoffgas oder einem anderen Spülgas oder Spülgasen aufrecht zu erhalten, die in die FOUP 100 durch das Einströmloch eingeführt wurden.
  • Wie in 10 veranschaulicht ist, kann das Ausströmloch 148 die gleiche allgemeine Konfiguration wie das Einströmloch 146 aufweisen. Die Gestalt und die Position des Filters 170, welches in das Ausströmloch 148 eingeführt wird, können identisch mit denjenigen des Filters 160 sein, welches in das Einströmloch 146 eingeführt ist. Ferner kann der Ausströmloch-Öffnen-/Schließ-Teil 190 die gleiche Gestalt der Befestigung 194, der vorspringenden Platte 129, der Isolationsplatte 196 und des elastischen Körpers 198 haben wie diejenigen, die weiter oben für den Ausströmloch-Öffnen-/Schließ-Teil 180 beschrieben wurden. Die Anschlußpositionen der Isolationsplatte 196 und des elastischen Körpers 198 sind jedoch gegenüber derjenigen der Isolationsplatte 186 und des elastischen Körpers 188 umgekehrt. Die Isolationsplatte 196 ist so angeordnet, daß sie der vorspringenden Platte 192 gegenüberliegt, wie in 9 dargestellt ist. Ein Ende des elastischen Körpers 198 kann mit einem Befestigungsstift oder einer anderen Festhaltevorrichtung 195 verbunden sein, die an dem Frontrand der Isolationsplatte 196 installiert ist, wobei das andere Ende in ähnlicher Weise mit einem Befestigungsstift oder einer anderen Festhaltevorrichtung 195 verbunden sein kann, die an der oberen Platte 194b der Befestigung 194 installiert ist.
  • Wenn die Pumpe 548 des Austragteiles 540 aktiviert wird und der Druck reduziert wird, der auf die Rückseite der Isolationsplatte 196 aufgebracht wird, und zwar unter denjenigen des Inneren des Behälters 120, neigt die Isolationsplatte dazu, sich nach hinten hin zu bewegen, und zwar als ein Ergebnis dieser Druckdifferenz, so daß sie von der vorspringenden Platte 192 beabstandet wird, wenn der elastische Körper 198 zusammengedrückt wird. Das Strömungsmittel in der FOUP 100 wird dann ausgetragen, entlüftet oder in anderer Weise durch einen Raum 193 entfernt, der zwischen der vorspringenden Platte 192 und der Isolationsplatte 196 gebildet ist, und über ein Durchgangsloch 199c, welches an der oberen Platte 194b der Befestigung 194 ausgebildet ist. Wenn der Betrieb der Pumpe 548 beendet wird, wird die Isolationsplatte 196 nach vorwärts bewegt, und zwar als Ergebnis der elastischen Kraft des elastischen Körpers 198, um erneut in Anlage mit der vorspringenden Platte 192 zu gelangen und um den Strömungsmittelkanal durch das Einströmloch 148 zu schließen.
  • Wie in 11 und in 12 veranschaulicht ist, ist der Injektionsteil 520 an dem Türhalter 420 angeordnet. Das Stickstoffgas oder anderes Spülgas, welches von dem Injektionsteil 520 injiziert wird, kann in die FOUP 100 durch das Einströmloch 146 injiziert werden, welches an der Tür 140 ausgebildet ist, und zwar in einer Richtung parallel zu den Waferhauptoberflächen. Es kann somit Wasser und Sauerstoff, die an den Oberflächen der Wafer anhaften, schneller und vollständiger entfernt werden.
  • Gemäß einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung kann das Innere der FOUP 100 in eine Stickstoffumgebung umgewandelt werden, und zwar bereits unmittelbar nach dem Einladen der Wafer in die FOUP. Dies ist deshalb ratsam, da sich ein ursprüngliches Oxid an dem Wafer ausbilden kann, wenn die Atmosphäreinnerhalb der FOUP 100 nicht in ein Stickstoffgas oder ein anderes Inertgas bzw. Inertgasatmosphäre umgewandelt wird, während die FOUP transportiert oder gespeichert wird, bevor der nächste Verarbeitungsschritt erfolgt.
  • 13 zeigt ein Flußdiagramm eines als Beispiel gewählten Substratbehandlungsverfahrens gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und die 14 bis 16 zeigen Querschnittsansichten, welche die Schritte gemäß einem Füllen der Innenseite der FOUP mit Stickstoffgas oder einem anderen Spülgas wiedergeben. Eine leere FOUP 100 wird auf einer Station 260 einer Beladungsöffnung plaziert und es wird dann die Tür 140 an einen Türhalter 420 angedockt (Schritt S10). Die Tür 140 wird geöffnet und der Türhalter 420 und die Tür 140 werden aus dem Weg herausbewegt, um Zugang zum Inneren des Körpers 120 der FOUP 100 zu erreichen (Schritt S20). Es werden dann verarbeitete Wafer in die FOUP geladen unter Verwendung eines Überführungsroboters 660 oder einer anderen Vorrichtung (Schritt S30). Wenn die Wafer in die FOUP 100 eingeladen wurden, wird der Türhalter 420 aktiviert, um die Tür 140 zu der FOUP 100 zu schwenken (Schritt S40). Während sich die Tür 140 bewegt, wird Stickstoffgas oder ein anderes Spülgas injiziert und es wird die Pumpe 548 in Betrieb gesetzt, wie in 14 dargestellt ist. Es wird das Einströmloch 146, welches an der Tür 140 ausgebildet ist, durch einen erhöhten externen Gasdruck geöffnet, und es wird die Ausströmöffnung oder das Ausströmloch 148, welches an der Tür 140 ausgebildet ist, durch einen reduzierten äußeren Druck (Unterdruck) geöffnet. Es kann Stickstoffgas in die FOUP 100 in einer Richtung parallel zu den Waferoberflächen injiziert werden, um das Entfernen von anhaftenden Teilchen und/oder Wasser zu unterstützen. Das Strömungsmittel, welches in der FOUP 100 verblieben ist, wird durch das Ausströmloch 148 ausgetragen und ebenso durch das Austragrohr 540 (Schritt S54). Wenn die Tür 140 mit der FOUP 100 verbunden wird, um die FOUP zu schließen, kann der Betrieb der Pumpe 548 angehalten werden und es wird dann das Ausströmloch 148 verschlossen. Alternativ kann nach dem Schließen der Tür 140 zusätzliches Stickstoffgas in die FOUP 100 injiziert werden und das Strömungsmittel in der FOUP kann für eine vorbestimmte Zeit ausgetragen werden. Wie in 16 gezeigt ist, wird die Innenseite der FOUP 100 in eine Stickstoffgas- oder andere allgemeine Inertgasatmosphäre umgewandelt, und zwar durch das Gas, welches durch die Injektionsöffnung 522 zugeführt wird (Schritt S54). Nach dem Verstreichen einer vorbestimmten Zeitdauer kann die Gasinjektion angehalten werden und es wird dann das Einströmloch 146, welches an der Tür 140 ausgebildet ist, geschlossen.
  • Obwohl eine beispielhafte Ausführungsform in Verbindung mit Stickstoffgas beschrieben wurde, welches injiziert wird, während die Tür 140 zu der FOUP 100 bewegt wird, kann auch das Stickstoffgas injiziert werden, nachdem die Tür 140 mit der FOUP 100 verbunden wurde.
  • In 17 zeigt ein Pfeil mit ausgezogener Linie einen Transportpfad der FOUP 100, während ein Pfeil mit strichlierter Linie einen Transportpfad eines Wafers anzeigt. In einem Reinigungsgerät kann ein Reinigungsprozeß in einer Folge von Bädern 860 durchgeführt werden, die in einer Linie angeordnet sind. Ein EFEM 820 ist auf einer Seite der jeweiligen Bäder 860 angeordnet, und ein anderer EFEM 840 ist auf der anderen Seite davon angeordnet. Um die Innenseite der FOUP 100, in die vollständig gereinigte Wafer eingeladen wurden, zu einer Stickstoffumgebung zu machen, kann der EFEM 840, der auf der anderen Seite der jeweiligen Bäder 860 angeordnet ist, den Spülteil 500 enthalten, der oben detailliert erläutert wurde, oder kann eine äquivalente Konstruktion enthalten.
  • Nachdem eine Überführung in das Reinigungsgerät 800 erfolgt ist, wird die Waferbeladungs-FOUP 100 auf die Beladungsöffnung 824 der EFEM 820 geladen, die an der Eintrittsseite der Bäder 860 angeordnet ist, und zwar mit Hilfe eines Transferteiles 882. Mit Hilfe eines Transferroboters werden dann die Wafer in der FOUP 100 zu dem Bad 860 transferiert und eine entleerte FOUP 100 wird zu der Beladungsöffnung 844 des EFEM 840 transportiert, die an der Austrittsseite der Bäder 860 angeordnet ist. Die Wafer werden in den Bädern 860 gereinigt. Die gereinigten Wafer werden dann in die FOUP 100 überführt, die an der Beladungsöffnung 844 der EFEM 840 plaziert ist. Wenn die Wafer in die FOUP 100 geladen werden, wird Stickstoffgas injiziert, um die Innenseite der FOUP 100 zu einer Stickstoffumgebung zu machen. Die Wafer werden dann aus dem Halbleiterherstellungsgerät mit Hilfe eines Transferteiles 866 herausgefördert.
  • Obwohl beispielhafte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung in Einzelheiten dargestellt und beschrieben wurden, dient die vorangegangene Beschreibung lediglich der Veranschaulichung und sollte nicht als Einschränkung des Rahmens der Erfindung interpretiert werden. Es sei daher darauf hingewiesen, daß vielfältige Abwandlungen und Substitutionen vorgenommen werden können, ohne dadurch den Rahmen der Erfindung zu verlassen.

Claims (20)

  1. Wafertransferbehälter, mit: einem Behälter, der so angeordnet und konfiguriert ist, um Halbleiterwafer zu halten; einer Tür, die so angeordnet und konfiguriert ist, um den Behälter abzudichten, um einen geschlossen Behälter zu bilden; einem Einlaß zum Einleiten eines Spülgases in den Behälter; einem Auslaß zum Entfernen des Gases aus dem Behälter.
  2. Wafertransferbehälter nach Anspruch 1, ferner mit: einer Ausrichtkonstruktion, die an dem Behälter vorgesehen ist, um den Behälter mit einer Transferstation auszurichten; und einer Ausrichtkonstruktion, die an der Tür vorgesehen ist, um die Tür mit einem Türhalter auszurichten.
  3. Wafertransferbehälter nach Anspruch 2, ferner mit: einer Andockkonstruktion zum Sichern der Tür an dem Türhalter.
  4. Wafertransferbehälter nach Anspruch 3, bei dem: der Einlaß durch ein Druckdifferential zwischen einem höheren Spülgaseinlaßdruck und einem niedrigeren inneren Druck geöffnet werden kann, um es dem Spülgas zu ermöglichen, in den Behälter zu strömen; und bei dem der Auslaß durch eine Druckdifferenz zwischen einem höheren Innendruck und einem niedrigeren Auslaßdruck geöffnet werden kann, um die Möglichkeit zu schaffen, das Strömungsmittel aus dem Behälter zu entfernen.
  5. Wafertransferbehälter nach Anspruch 4, ferner mit: einem ersten Filterelement, welches innerhalb von dem Einlaß angeordnet ist; und einem zweiten Filterelement, welches innerhalb des Auslasses angeordnet ist.
  6. Wafertransferbehälter nach Anspruch 4, bei dem: der Einlaß durch die Tür hindurch vorgesehen ist; und der Auslaß durch die Tür hindurch vorgesehen ist und von dem Einlaß versetzt angeordnet ist.
  7. Wafertransfergerät, mit: einem Wafertransferbehälter nach Anspruch 1; einer Beladungsöffnung, die so angeordnet und kofiguriert ist, um den Wafertransferbehälter aufzunehmen und diesen relativ zu einem Gehäuse auszurichten; einem Türhalter, der so angeordnet und konfiguriert ist, daß dieser mit der Tür ausgerichtet werden kann und an der Tür gesichert werden kann; einem Türöffner, der so angeordnet und konfiguriert ist, um den Türhalter neu zu positionieren und um dadurch die Tür zu entfernen und das Innere des Behälters freizugeben; einer Injektionsanordnung, die so angeordnet und konfiguriert ist, um selektiv ein unter Druck stehendes Spülgas in den Einlaß anzulegen; und einer Auslaßanordnung, die so angeordnet und konfiguriert ist, um selektiv ein Teilvakuum an dem Auslaß zu erzeugen.
  8. Wafertransfergerät nach Anspruch 7, ferner mit: einem Wafertransfermechanismus, der innerhalb von dem Gehäuse vorgesehen ist und so angeordnet und konfiguriert ist, um selektiv Wafer in den Behälter einzuführen und aus diesem zu entfernen, während die Tür entfernt ist.
  9. Wafertransfergerät nach Anspruch 7, ferner mit: einer Andockkonstruktion zum Sichern der Tür an dem Türhalter, wobei die Andockkonstruktion wenigstens eine Vorrichtung enthält, die aus einer Gruppe ausgewählt ist, bestehend aus Unterdrucköffnungen, Nocken, verschiebbaren Verriegelungsvorrichtungen und drehbaren Verriegelungsvorrichtungen.
  10. Wafertransfergerät nach Anspruch 7, bei dem: die Injektionsanordnung einen Massenströmungscontroller enthält, der zwischen einer Gaszuführung und dem Einlaß angeordnet ist.
  11. Wafertransfergerät nach Anspruch 7, ferner mit: einer Injektionsöffnung, die mit dem Einlass zusammenarbeitet, um Gas in einer Richtung zu injizieren, die allgemein parallel zu einer Hauptfläche der Halbleiterwafer verläuft, die in den Behälter geladen sind.
  12. Wafertransfergerät nach Anspruch 7, bei dem: der Einlaß eine Ventilanordnung enthält, wobei die Ventilanordnung eine äußere Platte mit einer darin ausgebildeten Öffnung enthält; eine Isolationsplatte, die so angeordnet und konfiguriert ist, um die Öffnung abzudichten; und ein nachgiebiges Teil enthält, welches so angeordnet und konfiguriert ist, um die Isolationsplatte gegen die äußere Platte zu drücken.
  13. Wafertransfergerät nach Anspruch, bei dem: der Auslaß eine Ventilanordnung enthält, wobei die Ventilanordnung eine innere Platte mit einer darin ausgebildeten Öffnung enthält; eine Isolationsplatte, die so angeordnet und konfiguriert ist, um die Öffnung abzudichten; und ein nachgiebiges Teil, welches so angeordnet und konfiguriert ist, um die Isolationsplatte gegen die innere Platte zu drücken.
  14. Wafertransfergerät nach Anspruch 12, ferner mit: einer ersten Anzahl von Einlässen, die in einem ersten Muster angeordnet sind.
  15. Wafertransfergerät nach Anspruch 7, bei dem: das Spülgas wenigstens ein Gas umfaßt, welches aus einer Gruppe ausgewählt ist, bestehend aus Stickstoff, Helium, Neon, Argon, Krypton, Xenon und trockener Luft.
  16. Verfahren zum Überführen eines Wafers, mit den folgenden Schritten: Positionieren eines Transferbehälters an einer Beladungsöffnung; Entfernen einer Tür zum Öffnen des Transferbehälters; Einführen eines Wafers in den Transferbehälter unter einer ersten Atmosphäre; Modifizieren der ersten Atmosphäre zur Ausbildung einer zweiten Atmosphäre, wobei die zweite Atmosphäre relativ zu der ersten Atmosphäre inert ist; Schließen des Transferbehälters; und Entfernen des Transferbehälters von der Beladungsöffnung unter Aufrechterhaltung der zweiten Atmosphäre innerhalb des Transferbehälters.
  17. Verfahren zum Überführen eines Wafers nach Anspruch 16, ferner mit den folgenden Schritten: Schließen des Behälters vor der Modifizierung der ersten Atmosphäre.
  18. Verfahren zum Überführen eines Wafers nach Anspruch 16, bei dem das Modifizieren der ersten Atmosphäre folgendes umfasst: Evakuieren eines Teiles der ersten Atmosphäre durch eine Auslaßöffnung; und Einleiten eines Inertgases in den Behälter durch einen Einlaß.
  19. Verfahren zum Überführen eines Wafers nach Anspruch 16, bei dem das Modifizieren der ersten Atmosphäre folgendes umfaßt: Einleiten eines Inertgases in den Behälter durch einen Einlaß; und Entlüften des Strömungsmittels innerhalb des Behälters durch einen Auslaß.
  20. Verfahren zum Überführen eines Wafers nach Anspruch 16, bei dem das Positionieren eines Transferbehälters zu einer Beladungsöffnung folgendes umfasst: in Eingriff oder Angriff bringen von entsprechenden Ausrichtkonstruktionen, die an der Beladungsöffnung von dem Transferbehälter vorgesehen sind; und in Eingriff oder Angriff bringen eines Andockmechanismus, um eine sichere aufhebbare Befestigung zwischen der Tür und einem Türhalter herzustellen, wobei eine Injektionsvorrichtung, die an dem Türhalter vorgesehen ist, strömungsmäßig mit einem Einlaß gekoppelt wird, der an der Tür vorgesehen ist, und wobei eine Austragsvorrichtung, die an dem Türhalter vorgesehen ist, strömungsmäßig mit einem Auslaß gekoppelt wird, der an der Tür vorgesehen ist; das Entfernen der Tür das Aktivieren eines Mechanismus umfaßt, um die Positionierung des Türhalters zu ändern, um das Innere des Transferbehälters freizugeben; und wobei das Modifizieren der ersten Atmosphäre zur Ausbildung einer zweiten Atmosphäre das Injizieren eines Spülgases von der Injektionsvorrichtung durch den Einlaß und in das Innere des Transferbehälters umfaßt, und Entfernen des Strömungsmittels aus dem Inneren des Transferbehälters durch den Auslaß und vermittels der Austragsvorrichtung.
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