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DE102004045871A1 - Verfahren und Schaltungsanordnung zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden - Google Patents

Verfahren und Schaltungsanordnung zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden Download PDF

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DE102004045871A1
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Abstract

Der Erfindung, die ein Verfahren und Schaltungsanordnung zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden (OLED), die aus einer Versorgungsspannung gespeist und über einen Treibertransistor, der im Sättigungsbetrieb betrieben wird, geschaltet werden, betrifft, wobei eine Ansteuerung der OLED unter Berücksichtigung einer Kennliniendifferenz aus aktueller Strom-Spannungs-Kennlinie der entsprechenden Lichtemitterdiode und einer Soll-Strom-Spannungs-Kennlinie vorgenommen wird, liegt die Aufgabe zugrunde, den Aufwand, insbesondere den schaltungstechnischen Aufwand zu minimieren. Dies wird dadurch gelöst, dass zumindest ein bekanntes Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED zu einem Zeitpunkt geringer Alterung der OLED gespeichert wird. Während eines Messzyklus wird der Treibertransistor von dem Sättigungsbetrieb in den Linearbetrieb gebracht. Mittels seiner dann wirksamen Kennlinie wird das aktuelle Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED ermittelt und mit dem bekannten Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED verglichen. Danach wird die Ansteuerung der OLED unter Berücksichtigung der Differenz aus aktuellem Strom-Spannungs-Wertepaar und bekanntem Strom-Spannungs-Wertepaar vorgenommen. Die schaltungstechnische Lösung sieht eine Strommessschaltung in der Verbindung zur Versorgungsspannung vor.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden (OLED), die aus einer Versorgungsspannung gespeist und über einen Treibertransistor, der im Sättigungsbetrieb betrieben wird, geschaltet werden. Dabei wird eine Ansteuerung der OLED unter Berücksichtigung einer Kennliniendifferenz aus aktueller Strom-Spannungs-Kennlinie der entsprechenden Lichtemitterdiode und einer Soll-Strom-Spannungs-Kennlinie vorgenommen.
  • Die Erfindung betrifft auch eine Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens mit einer Schaltung, bestehend aus einer OLED, die gemeinsam mit einer Drain-Source-Strecke eines Treibertransistors, dessen Gate mit einem Ansteuertransistor verbunden ist, in einem Strompfad zwischen einer Versorgungsspannung VDD und Masse geschalten ist und mit einer Ansteuerschaltung, die mit der Schaltung, diese ansteuernd, verbunden ist.
  • Organische Lichtemitterdioden, so genannte OLED, werden im Betrieb in Durchlassrichtung von einem Durchlassstrom durchflossen und zeigen dabei Elektrolumineszenzerscheinungen. Die Stärke der Elektrolumineszenz ist dabei abhängig von der Größe des Durchlassstromes.
  • OLED haben im Allgemeinen den Nachteil einer Alterung, bei der die Stärke der Elektrolumineszenz bei gleichem Durchlassstrom sinkt. Diese Alterung geht einher mit einer Vergrößerung des Durchlasswiderstandes der OLED. Dementsprechend verhält sich eine über der OLED bei gleichem Strom abfallende Durchlassspannung. Diese steigt bei gleichbleibendem Stromfluss mit fortschreitender Alterung der OLED an. Allgemeiner ausgedrückt, verändert sich die Kennlinie einer OLED mit fortschreitender Alterung.
  • Ein Display besteht aus vielen OLEDs, die in Abhängigkeit von der dargestellten Information, ein individuelles Alterungsverhalten aufweisen.
  • In der DE 100 09 204 A1 wird ein Verfahren zur Ansteuerung von aktiv adressierten OLED-Displays beschrieben, bei dem die Strom-Spannungskennlinien der Bildpunkte gemessen werden. Die Daten der Strom-Spannungs-Kennlinie werden in einen Speicher geschrieben. Weichen die Strom-Spannungs-Kennlinien von der Ideal-Kennlinie ab, so wird die im Bildspeicher abgelegte Bildinformation entsprechend manipuliert, damit auf dem Display trotz der Alterung einzelner Bildpunkte die gleiche Helligkeit erscheint.
  • Zur Messung der Strom-Spannungs-Kennlinien sind die Spaltentreiber der Display-Matrix mit Messeinrichtungen versehen. Dabei erhöht sich der Hardware-Aufwand der Anordnung in erheblichem Maße. Wie die Messung der Strom-Spannungs-Kennlinien der Bildpunkte erfolgt, wird nicht beschrieben und ist für den Fachmann nicht offensichtlich.
    •
  • Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und Schaltungsanordnung zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden anzugeben, womit der Aufwand, insbesondere der schaltungstechnische Aufwand minimiert werden kann.
  • Gemäß der Erfindung wird die Aufgabe dadurch gelöst, dass zumindest ein bekanntes Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED zu einem Zeitpunkt geringer Alterung gespeichert wird. Während eines Messzyklus wird der Treibertransistor von dem Sättigungsbetrieb in den Linearbetrieb gebracht. Im Linearbetrieb kann das aktuelle Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED ermittelt und mit dem bekannten Strom-Spannungs-Wertepaar der ungealterten OLED verglichen werden. Danach wird die Ansteuerung der OLED unter Berücksichtigung der Differenz aus aktuellem Strom-Spannungs-Wertepaar und bekanntem Strom-Spannungs-Wertepaar vorgenommen.
  • In einer besonders bevorzugten Variante des Verfahrens ist vorgesehen, dass die OLED mit ihrem Treibertransistor in einer Displaymatrix, in der mehrere OLEDs angeordnet sind und die über eine Displayversorgungsleitung gespeist wird, eingesetzt wird.
  • Mittels der bekannten Kennlinie des Treibertransistors können somit mit einer einzigen Strommessschaltung, welche den Strom durch den Versorgungsspannungsanschluss VDD des Displays misst, für das gesamte Display die aktuellen Parameter jeder einzelnen OLED ermittelt werden. Wird nur eine einzige OLED in der Displaymatrix eingeschaltet, ist der Strom, der durch diese OLED und den dazugehörigen Treibertransistor fließt, gleich dem mit der Strommessschaltung gemessenen Strom abzüglich des Dunkelstroms des Displays, der gemessen wird, wenn alle OLEDs abgeschaltet sind. Dieser Dunkelstrom wird durch die Leckströme der Transistoren der Matrix hervorgerufen. Über den gemessenen OLED-Strom und die berechnete OLED-Spannung ist die dem aktuellen Alterungszustand zugehörige Kennlinie der OLED zu identifizieren und damit der Alterungszustand zu ermitteln.
  • Es ist bekannt, welche Auswirkungen der Alterungszustand auf die Funktion der OLED hat, beispielsweise in welcher Größe eine Leuchtdichteverringerung liegt. Weiterhin sind die Maßnahmen bekannt, die zu einer Kompensation führen. Diese können in einer Tabelle beispielsweise in einem Displaycontroller abgelegt sein und entsprechend abgerufen und eingestellt werden.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren kann weiterhin dadurch ausgeführt werden, dass die Ansteuerparameter, die unter Berücksichtigung der Differenz aus aktuellem Strom-Spannungs-Wertepaar und bekanntem Strom-Spannungs-Wertepaar ermittelt wurden, in einem Speicher bis zu einer erneuten Ermittelung der Alterung gespeichert werden. Grundsätzlich sind verschiedene Lösungen möglich, die kompensierenden Einstellungen zu halten. Die Speicherung der ermittelten Werte stellt dabei jedoch eine wenig aufwändige Variante dar.
  • Eine Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens dient dazu, in einem zusätzlichen Verfahrensschritt die Schwellspannung der Treibertransistoren zu bestimmen, wenn diese nicht bekannt ist. Dabei ist vorgesehen, dass
    • – in einem Messzyklus alle OLEDs der Matrix abgeschaltet werden und
    • – der Gesamtstrom IDoff der Matrix durch die Displayversorgungsleitung gemessen wird,
    • – nachfolgend außer einem zu messenden Paar aus einer der OLEDs und ihrem zugehörigen Treibertransistor alle anderen entsprechenden Paare abgeschaltet werden,
    • – zwei Messungen des Stromes im Sättigungsbetrieb des Treibertransistors, IDon1 und IDon2, bei zwei verschiedenen Gatespannungen UGS1 und UGS2 durchgeführt werden, und
    • – aus den Strömen IDoff, IDon1 und IDon2 und den Gatespannungen UGS1 und UGS2 die Schwellspannung des Treibertransistors berechnet wird.
  • In einer weiteren Ausführung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Versorgungsspannung VDD des Displays so weit abgesenkt wird, dass die Treibertransistoren nicht mehr im Sättigungsbetrieb sondern im Linearbetrieb arbeiten. Außer der zu messenden OLED werden dann alle anderen OLEDs abgeschaltet und der Source-Drain-Strom ID des Treibertransistors der zu messenden OLED wird durch die Displayversorgungsleitung gemessen. Mittels der Kennlinie des Treibertransistors, der Gatespannung und dem gemessenen Source-Drain-Strom wird dessen Source-Drain-Spannung bestimmt. Aus der Differenz zwischen Versorgungsspannung und der berechneten Source-Drain-Spannung wird ein Durchlassspannungswert der OLED errechnet. Schließlich wird die Kennlinienveränderung aus dem Vergleich des Wertepaars aktueller OLED-Strom und aktueller OLED-Spannung mit einer Soll-Strom-Spannungs-Kennlinie ermittelt.
  • Alternativ ist in einer weiteren Variante des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehen, dass wiederum die Versorgungsspannung VDD so weit abgesenkt wird, dass der Treibertransistor vom Sättigungsbetrieb in den Linearbetrieb gebracht wird. Zunächst werden alle OLEDs der Matrix abgeschaltet und ein Dunkelstrom IDoff durch den Displayversorgungsanschluss gemessen. Nachfolgend wird nur die zu messende OLED angeschaltet und ein Strom IDon gemessen und aus der Differenz von IDon und IDoff der Source-Drain-Strom des Treibertransistors ID berechnet. Mittels der Kennlinie des Treibertransistors, der Gatespannung und dem berechneten Source-Drain-Strom wird dessen Source-Drain-Spannung bestimmt. Aus der Differenz zwischen Versorgungsspannung und der berechneten Source-Drain-Spannung wird ein Durchlassspannungswert der OLED errechnet. Schließlich wird die Kennlinienveränderung aus dem Vergleich des Wertepaars aktueller OLED-Strom und aktueller OLED-Spannung mit einer Soll-Strom-Spannungs-Kennlinie ermittelt.
  • Ein Messzyklus für eine OLED besteht dann typischerweise aus einer ersten Messung des Stromes mit allen OLEDs abgeschaltet und einer zweiten Messung bei der nur die jeweilige OLED eingeschaltet ist. Aus der Differenz erhält man so den Strom, welcher nur durch diese OLED geflossen ist. Leckströme der anderen Pixel spielen keine Rolle mehr.
  • Mittels der Kennlinie des Treibertransistors wird aus dem OLED-Strom und der Gatespannung am Treibertransistor dessen Source- Drain-Spannung errechnet.
  • Aus der Differenz zwischen Versorgungsspannung und Source-Drain-Spannung im eingeschalteten Zustand erhält man die an der OLED anliegende Spannung.
  • Aus dem Wertepaar aus aktuellem OLED-Strom und aktueller OLED-Spannung und der bekannten initialen OLED-Kennlinie lässt sich die Spannungserhöhung und damit der Alterungszustand der OLED bestimmen.
  • In einer Weiterbildung des Verfahrens ist ein mehrfaches Anwenden des Verfahrens vorgesehen, wobei entweder unter Veränderung der Gatespannung des Treibertransistors ein Kennlinienteilstück der OLED-Kennlinie aufgenommen wird und nachfolgend dieses Kennlinienteilstück zur präziseren Kompensation der Alterung herangezogen wird oder unter Veränderung der Versorgungsspannung des Displays VDD ein Kennlinienteilstück der OLED-Kennlinie aufgenommen wird und nachfolgend dieses Kennlinienteilstück zur präziseren Kompensation der Alterung herangezogen wird.
  • Das beschriebene Verfahren kann für jede OLED des Displays ausgeführt und der aktuelle Alterungszustand in einem Speicher abgelegt werden. Dabei wird das Display OLED für OLED gescannt. Dies kann z.B. in Zeitabständen oder auch bei jedem Einschalten erfolgen.
  • Die gespeicherten Alterungszustände werden dann benutzt um, entweder auf analogem Weg, zum Beispiel über eine veränderte Referenzspannung aus der die Steuerspannung für die jeweiligen Helligkeitswerte generiert wird, oder auf digitalem Weg, durch Berechnen eines korrigierten Helligkeitswertes, die Alterung der OLED zu kompensieren. Somit kann eine Helligkeitskompensation der gealterten OLED und/oder eine Gammakorrekturanpassung der Matrix durchgeführt werden.
  • Die anordnungsseitige Lösung der Aufgabe sieht vor, dass eine Strommessschaltung in den Strompfad geschalten ist.
  • Mittels dieser Strommessschaltung kann in einfacher Weise das erfindungsgemäße Verfahren durchgeführt werden.
  • In einer Ausführung der Schaltungsanordnung ist vorgesehen, dass die Strommessschaltung zwischen dem Anschluss der Versorgungsspannung VDD und der OLED angeordnet ist.
  • Die Erfindung kann zur Alterungskompensation in allen möglichen Anwendungen der OLED eingesetzt werden. Eine Einsatzmöglichkeit stellt eine Displaymatrix dar, innerhalb der eine Vielzahl von Leucht- oder Anzeigeelementen angeordnet sind, die durch die Schaltung, bestehend aus OLED, Treiber- und Ansteuerungstransistor gebildet werden. Dabei ist vorgesehen, dass die Schaltung mehrfach in Reihen und Spalten einer Displaymatrix angeordnet ist, wobei alle diese Schaltungen eine gemeinsame Verbindung zu der Versorgungsspannung VDD aufweisen. Zur Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist dabei vorgesehen, dass die Strommessschaltung in der gemeinsamen Verbindung der Schaltungen zur Versorgungsspannung VDD liegt.
  • Zwei zueinander alternative zweckmäßige Ausführungsformen der Schaltungsanordnung bestehen in der räumlichen Anordnung der Strommessschaltung, nämlich zum einen in oder an der Ansteuerschaltung oder auf dem Substrat der Displaymatrix.
    •
  • Die Erfindung soll nachfolgend anhand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert werden. In den zugehörigen Zeichnungen zeigt
  • 1 eine Schaltungsanordnung einer OLED als Pixel in einer Displaymatrix mit einem Treibertransistor,
  • 2 vereinfachte Darstellung einer Pixelmatrix mit Strommessschaltung,
  • 3 eine Kennlinie eines Treibertransistors im Sättigungsbetrieb,
  • 4 eine Darstellung der Veränderung der Leuchtstärke und der Spannung der OLED über die Zeit und
  • 5 eine Kennlinie eines Treibertransistors im linearen Betrieb.
  • Wie in 1 dargestellt, liegt die OLED 1 in einem Strompfad gemeinsam mit der Drain-Source-Strecke eines Treibertransistors 2 zwischen einer Versorgungsspannung VDD und Masse. Das Gate des Treibertransistors 2 ist mit einem Ansteuertransistor 3 verbunden. Bei Auswahl des Pixels in dem Display, das durch die OLED 1 gebildet wird, liegt an der Datenleitung 4 eine Datenspannung VData und an der Reihenauswahlleitung 5 eine Reihenspannung VRow an, wodurch der Treibertransistor 2 eine Gatespannung VGS erhält.
  • 2 stellt einen Ausschnitt aus einer OLED-Displaymatrix dar. Exemplarisch sind zwei mal zwei OLEDs dargestellt, wobei der schraffierte Bereich vereinfacht für eine Schaltung 6 nach 1 steht. Es ist gezeigt, wie die Strommessschaltung 7 in die Versorgungsleitung der Displaymatrix integriert ist und den Gesamtstrom des Displays durch alle Pixel misst.
  • Wie in 3 dargestellt, ist im Normalbetrieb die Versorgungsspannung VDD so gewählt, dass der Treibertransistor 2 im Sättigungsbetrieb arbeitet, also bei Anlegen einer Gatespannung VGS einen von der OLED-Spannung unabhängigen Strom durch diese treibt.
  • In 3 ist auch die Kennlinie 9 der OLED 1 im wenig gealterten Zustand, vorzugsweise im Herstellungszustand, vorstehend auch als bekannter oder Soll-Zustand bezeichnet, sowie die Kennlinie 10 der OLED 1 im gealterten Zustand dargestellt. Dieser Zustand stellt bei der beabsichtigten Alterungskompensation den aktuellen Zustand dar. Bei der Durchsteuerung des Treibertransistors 2 stellt sich nun ein Strom durch die Drain-Source-Strecke des Treibertransistors 2 ein, der gleich dem Strom ID durch die OLED 1 ist. Dieser Strom ist gemäß 3 im gealterten wie im ungealterten Zustand der OLED 1 stets gleich, unabhängig von der Spannung VDS über dem Transistor. Er ist nur von der Spannung VGS abhängig.
  • Wie in 4 dargestellt, hat es sich gezeigt, dass mit zunehmender Alterung der OLED 1 bei gleichem Strom die Helligkeit sinkt und die Spannung über der OLED VOLED steigt. Daraus resultieren die beiden unterschiedlichen Kennlinien 9 und 10. Damit wird es möglich, mit Hilfe der Kennlinien 9 und 10 auf den Alterungszustand der OLED 1 zu schließen.
  • Zur Ermittlung dieses Alterungszustandes wird nunmehr erfindungsgemäß die Versorgungsspannung VDD so eingestellt, dass der Treibertransistor 2 im linearen Bereich arbeitet, das heißt, dass eine Abhängigkeit der Spannung VDS von dem Strom ID besteht, wie dies in 5 dargestellt ist. Es gilt somit VDS = f(VGS; ID). Der lineare Bereich des Transistors wird erreicht, wenn VGS ≥ VDS + Vt gilt, wobei Vt die Schwellspannung des Treibertransistors 2 darstellt. Um sicher im linearen Bereich zu arbeiten, wird VGS entsprechend der schaltungstechnischen Möglichkeiten größtmöglich gewählt, d. h. VGS = VGSmax. Dann wird die Versorgungsspannung VDD so eingestellt, dass der Treibertransistor 2 außerhalb seines Sättigungsbereiches liegt, d. h. VDD < VDSsat + VOLED, wobei VDSsat = VGS – Vt die Sättigungsspannung des Treibertransistors 2 bei gegebener Gatespannung darstellt.
  • Mit der Beziehung VOLED = VDD – VDS lässt sich nunmehr die Spannung über der OLED 1 und damit ihr Alterungszustand bestimmen.
  • Hierzu wird der Strom ID gemessen und aus den bekannten Werten der Versorgungsspannung, der Gatespannung und der Transistorparameter die Spannung VDS berechnet. Dies wiederum wird benutzt um den Spannungswert VOLED zu bestimmen.
  • Die Kenntnis der Spannung über der OLED 1 ist geeignet, das Strom-Spannungs-Wertepaar, d.h. den Arbeitspunkt 11 zu ermitteln, der die ihm zugehörige Kennlinie 10 eindeutig identifiziert und somit die dem Alterungszustand der OLED 1 beschreibt. In 3 und 5 wurde mit der Kennlinie 10 beispielhaft eine Kennlinie gezeigt, die einem bestimmten Alterungszustand entspricht.
  • Um den Einfluss von Leckströmen in der Displaymatrix zu eliminieren, benötigt man zwei Messungen mit der gleichen niedrigen Versorgungsspannung VDD. Einmal wird eine Strommessung des Stromes IDoff vorgenommen, wenn alle Pixel abgeschaltet sind. Dann erfolgt eine Messung des Stromes IDon mit einem Pixel auf VGSmax. Die Differenz ergibt den Strom durch die OLED 1 IDon – IDoff = ID. In einer Aktivmatrix mit sehr niedrigen Off-Strömen kann die Messung des Off-Stromes IDoff auch entfallen. Ein Vergleich des sich einstellenden ID mit dem gespeicherten Wert im ungealterten Zustand der OLED 1 lässt dann den Schluss auf den Alterungszustand zu.
  • Die Messungen können typischerweise nur für jede OLED gesondert durchgeführt werden. In jedem Falle wird nur eine Strommessschaltung 7 für das gesamte Display benötigt, die sich jedoch nicht auf der Matrix befinden muss, so dass sich der schaltungstechnische Aufwand der Matrix nicht erhöht. Es ist jedoch auch möglich, eine Durchschnittsmessung des Stromes für alle Pixel gleichzeitig vorzunehmen, wenn alle Pixel etwa den gleichen Alterungszustand aufweisen und alle Treibertransistoren einer Matrix die gleiche Kennlinie aufweisen. Dann wird mit einer Strommessung für die gesamte Matrix nach dem gleichen Verfahren, wie oben beschrieben, der durchschnittliche Alterungszustand aller OLEDs ermittelt.
  • Die, für die Berechnung der Spannung VDS im Linearbetrieb nötige Schwellspannung des Treibertransistors lässt sich bestimmen, indem der Strom durch die OLED bei zwei verschiedenen Gatespannungen im Sättigungsbetrieb des Transistors gemessen wird. Der Strom im Sättigungsbetrieb berechnet sich nach der Formel:
    Figure 00110001
    Die Messung von IDSat1, dem Strom durch den Treibertransistor mit der Gatespannung VGS1, erfolgt bei VGS1 = VGS und die von IDSat2, dem Strom mit einer zweiten Gatespannung VGS2, bei VGS2 = VGS + ΔVGS. Die Schwellspannung berechnet sich dann zu:
    Figure 00110002
    Damit besteht auch die Möglichkeit der Alterungsbestimmung der OLEDs mit veränderten Schwellspannungen der Treibertransistoren, welche durch Alterung dieser auftreten. Zusätzlich können Parameterschwankungen der Transistoren ausgeglichen werden.
  • Durch Messung eines Strom-Spannungs-Wertepaares pro OLED lässt sich eine einfache und schnelle Bestimmung des Alterungszustandes der OLED durchführen. Wenn eine höhere Genauigkeit benötigt wird, kann dies durch Messung von zwei oder mehr Wertepaaren pro OLED geschehen. Dabei ist entweder die Gatespannung des Treibertransistors oder die Versorgungsspannung VDD zu verändern, wodurch in beiden Fällen der sich einstellende Strom ID mit verändert wird. Mit dem so gemessenen Kennlinienteilstück kann z.B. eine Anpassung der Gammakorrektur vorgenommen werden. Nachteilig wirkt sich der erhöhte Zeitaufwand aus, weswegen dieses Mehrpunktverfahren weniger häufig auszuführen ist. Da sich die Alterung der OLEDs aber stärker auf den Helligkeitseindruck des Displays und die Gleichmäßigkeit von diesem auswirkt als auf den Gammaeindruck, kann das Mehrpunktverfahren zur zusätzlichen Qualitätssteigerung und das simple Einpunktverfahren zur hauptsächlichen Kompensation verwendet werden.
    • 1
    OLED
    2
    Treibertransistor
    3
    Ansteuertransistor
    4
    Datenleitung
    5
    Reihenauswahlleitung
    6
    Schaltung
    7
    Strommessschaltung
    8
    Transistorkennlinie
    9
    Kennlinie der OLED im wenig gealterten Zustand
    10
    Kennlinie der OLED im aktuellen gealterten Zustand
    11
    Arbeitspunkt (Strom-Spannungs-Wertepaar)

Claims (17)

  1. Verfahren zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden (OLED), die aus einer Versorgungsspannung gespeist und über einen Treibertransistor, der im Sättigungsbetrieb betrieben wird, geschaltet werden, wobei eine Ansteuerung der OLED unter Berücksichtigung einer Kennliniendifferenz aus aktueller Strom-Spannungs-Kennlinie der entsprechenden Lichtemitterdiode und einer Soll-Strom-Spannungs-Kennlinie vorgenommen wird, dadurch gekennzeichnet, dass – zumindest ein bekanntes Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED zu einem Zeitpunkt geringer Alterung der OLED gespeichert wird, – der Treibertransistor während eines Messzyklus von dem Sättigungsbetrieb in den Linearbetrieb gebracht wird, – mittels seiner dann wirksamen Kennlinie das aktuelle Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED ermittelt wird, – mit dem bekannten Strom-Spannungs-Wertepaar der OLED verglichen wird und – die Ansteuerung der OLED unter Berücksichtigung der Differenz aus aktuellem Strom-Spannungs-Wertepaar und bekanntem Strom-Spannungs-Wertepaar vorgenommen wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die OLED mit ihrem Treibertransistor in einer Displaymatrix, in der mehrere OLEDs angeordnet sind und die über eine Displayversorgungsleitung gespeist wird, eingesetzt wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Ansteuerparameter, die unter Berücksichtigung der Differenz aus aktuellem Strom-Spannungs-Wertepaar und bekanntem Strom-Spannungs-Wertepaar ermittelt wurden, in einem Speicher bis zu einer erneuten Ermittelung der Alterung gespeichert werden.
  4. Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass – in einem Messzyklus alle OLEDs der Matrix abgeschaltet werden und – der Gesamtstrom IDoff der Matrix durch die Displayversorgungsleitung gemessen wird, – nachfolgend außer einem zu messenden Paar aus einer der OLEDs und ihrem zugehörigen Treibertransistor alle anderen entsprechenden Paare abgeschaltet werden, – zwei Messungen des Stromes im Sättigungsbetrieb des Treibertransistors, IDon1 und IDon2 bei zwei verschiedenen Gatespannungen UGS1 und UGS2 durchgeführt werden, und – aus den Strömen IDoff, IDon1 und IDon2 und den Gatespannungen UGS1 und UGS2 die Schwellspannung des Treibertransistors berechnet wird.
  5. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass – die Versorgungsspannung VDD so weit abgesenkt wird, dass die Treibertransistoren vom Sättigungsbetrieb in den Linearbetrieb gebracht werden, – dass außer der zu messenden OLED alle anderen OLEDs abgeschaltet werden und der Source-Drain-Strom ID des Treibertransistors durch die Displayversorgungsleitung gemessen wird, – dass mittels der Kennlinie des Treibertransistors, der Gatespannung und dem gemessenen Source-Drain-Strom dessen Source-Drain-Spannung bestimmt wird, – dass aus der Differenz zwischen Versorgungsspannung und der berechneten Source-Drain-Spannung ein Durchlassspannungswert der OLED errechnet wird, – dass die Kennlinienveränderung aus dem Vergleich des Wertepaars aktueller OLED-Strom und aktuelle OLED-Spannung mit einer Soll-Strom-Spannungs-Kennlinie ermittelt wird.
  6. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass – die Versorgungsspannung VDD so weit abgesenkt wird, dass der Treibertransistor vom Sättigungsbetrieb in den Linearbetrieb gebracht wird, – dass zunächst alle OLEDs der Matrix abgeschaltet werden und ein Dunkelstrom IDoff durch den Displayversorgungsanschluss gemessen wird, – dass nachfolgend nur die zu messende OLED angeschaltet wird und ein Strom IDon gemessen wird und aus der Differenz von IDon und IDoff der Source-Drain-Strom des Treibertransistors ID berechnet wird, – dass mittels der Kennlinie des Treibertransistors, der Gatespannung und dem berechneten Source-Drain-Strom dessen Source-Drain-Spannung bestimmt wird, – dass aus der Differenz zwischen Versorgungsspannung und der berechneten Source-Drain-Spannung ein Durchlassspannungswert der OLED errechnet wird, – dass die Kennlinienveränderung aus dem Vergleich des Wertepaars aktueller OLED-Strom und aktueller OLED-Spannung mit einer Soll-Strom-Spannungs-Kennlinie ermittelt wird.
  7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass durch mehrfaches Anwenden des Verfahrens unter Veränderung der Gatespannung des Treibertransistors ein Kennlinienteilstück der OLED-Kennlinie aufgenommen wird und nachfolgend dieses Kennlinienteilstück zur präziseren Kompensation der Alterung herangezogen wird.
  8. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass durch mehrfaches Anwenden des Verfahrens unter Veränderung der Versorgungsspannung des Displays VDD ein Kennlinienteilstück der OLED-Kennlinie aufgenommen wird und nachfolgend dieses Kennlinienteilstück zur präziseren Kompensation der Alterung herangezogen wird.
  9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren nach Zeitabständen durchgeführt wird.
  10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren bei jedem Einschalten durchgeführt wird.
  11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass mit Hilfe des Verfahrens eine Helligkeitskompensation der gealterten OLED durchgeführt wird.
  12. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass mit Hilfe des Verfahrens eine Gammakorrekturanpassung der Matrix durchgeführt wird.
  13. Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 12 mit einer Schaltung, bestehend aus einer OLED, die gemeinsam mit einer Drain-Source-Strecke eines Treibertransistors, dessen Gate mit einem Ansteuertransistor verbunden ist, in einem Strompfad zwischen einer Versorgungsspannung VDD und Masse geschalten ist und mit einer Ansteuerschaltung, die mit der Schaltung, diese ansteuernd, verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass eine Strommessschaltung (7) in den Strompfad geschalten ist.
  14. Schaltungsanordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Strommessschaltung zwischen dem Anschluss der Versorgungsspannung VDD und der OLED (1) angeordnet ist.
  15. Schaltungsanordnung nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Schaltung (6) mehrfach in Reihen und Spalten einer Displaymatrix angeordnet ist, wobei alle Schaltungen (6) eine gemeinsame Verbindung zu der Versorgungsspannung VDD aufweisen und dass die Strommessschaltung (7) in der gemeinsamen Verbindung der Schaltungen (6) zur Versorgungsspannung VDD liegt.
  16. Schaltungsanordnung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Strommessschaltung räumlich in oder an der Ansteuerschaltung angeordnet ist.
  17. Schaltungsanordnung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Strommessschaltung räumlich auf dem Substrat der Displaymatrix angeordnet ist.
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